JP2013069961A - Manufacturing method of hollow sealed structure and hollow sealed structure - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of a hollow sealed structure and the hollow sealed structure which form highly reliable hollow sealing of an element part provided on a substrate and enable hollow sealing at low cost.SOLUTION: A manufacturing method of a hollow sealed structure 150 includes: a first process where a first mold 151 is disposed on the other surface of a substrate 110 which is the opposite side of one surface of the substrate 110 where an element part 120 is disposed; a second process where molds are closed after a cap 130 is disposed on the one surface of the substrate 110 so as to cover the element part 120 and a second mold 152 is disposed on the one surface of the substrate 110 so as to cover the cap 130; and a third process where a resin is injected into the interior of the second mold 152 from a gate 153 provided at the second mold.

Description

本発明は、基板上に設けられた素子部を中空封止する中空封止構造の製造方法および中空封止構造に関するものである。   The present invention relates to a method for manufacturing a hollow sealing structure for hollow-sealing an element portion provided on a substrate, and a hollow sealing structure.

近年、BS・CS放送、マイクロ波通信機、レーダー装置など、高周波帯域で使用される通信機器の利用が増加している。一般的に、周波数が高くなると、誘電率の高い物質中を伝播するときに、電磁波のエネルギーの減衰が大きくなり、通信性能が劣化する問題が生じる。そのため、通信機器の電子部品において、高周波特性を十分に引き出すために、電子部品の素子部の周囲に、誘電率の低い空気層を形成して中空封止した気密封止構造が採用されている。   In recent years, the use of communication devices used in a high frequency band, such as BS / CS broadcasting, microwave communication devices, and radar devices, has been increasing. In general, when the frequency is increased, the energy of the electromagnetic wave is greatly attenuated when propagating through a substance having a high dielectric constant, which causes a problem of deterioration in communication performance. For this reason, an airtight sealing structure in which an air layer having a low dielectric constant is formed around the element part of the electronic component and is hermetically sealed is employed in the electronic component of the communication device in order to sufficiently extract high-frequency characteristics. .

電子部品には、高性能化、良好な信頼性、小型化、低コスト化など、多様な特性が求められ、素子部自体の改良に加えて、素子を中空封止するパッケージ(中空封止構造)の改良も必要となってきている。中空封止構造への要求としては、良好な気密性、低コスト化、十分な実装面積の確保などが挙げられる。   Electronic components are required to have a variety of characteristics such as high performance, good reliability, miniaturization, and low cost. In addition to improving the element itself, a package for hollow sealing the element (hollow sealing structure) ) Is also needed. The requirements for the hollow sealing structure include good hermeticity, low cost, and securing a sufficient mounting area.

素子部が中空封止された中空封止構造の製造方法として、例えば、特許文献1では、基板上に配置された素子部を樹脂キャップで覆い、樹脂キャップに備えられた固定用フィルムと接着剤で固定する方法を提案している。   As a manufacturing method of a hollow sealing structure in which an element part is hollow-sealed, for example, in Patent Document 1, an element part arranged on a substrate is covered with a resin cap, and a fixing film and an adhesive provided in the resin cap The method of fixing with is proposed.

また、特許文献2では、凹部が形成された第一の金型と、第一の金型の凹部と対抗する位置に第二の金型、第三の金型、および第四の金型と、を備える中空樹脂パッケージの形成装置を提案している。この中空樹脂パッケージの形成装置では、第三の金型の上に、素子部が設けられた基板が配置され、金型を用いた樹脂の射出成形により、素子部を覆うようにキャップが形成される。そして、第一の金型でキャップの上面を抑えながら、キャップの周囲にさらに樹脂を充填し、キャップと基板とを密着させて中空封止構造を形成している。   Moreover, in patent document 2, the 2nd metal mold | die, the 3rd metal mold | die, and the 4th metal mold | die in the position which opposes the recessed part of a 1st metal mold | die with the 1st metal mold | die, , A hollow resin package forming apparatus is proposed. In this hollow resin package forming apparatus, a substrate provided with an element portion is disposed on a third mold, and a cap is formed so as to cover the element portion by injection molding of resin using the mold. The And while suppressing the upper surface of a cap with a 1st metal mold | die, resin is further filled into the circumference | surroundings of a cap and the cap and a board | substrate are closely_contact | adhered and the hollow sealing structure is formed.

特開2009−283553号公報JP 2009-283553 A 特開2011−100825号公報JP 2011-1000082 A

特許文献1のように、はんだや接着剤などでキャップを固定する場合、中空封止したキャップ内部の基板上に、はんだや接着剤が侵入するため、中空封止される基板上の素子部や配線などの実装面積が低下するという問題があった。また、高価なフィルム樹脂によってキャップを固定する構成となっているため、コストが高くなる問題があった。   When the cap is fixed with solder or adhesive as in Patent Document 1, since the solder or adhesive enters the substrate inside the hollow sealed cap, the element portion on the substrate to be hollow sealed or There was a problem that the mounting area of wiring and the like was reduced. Further, since the cap is fixed with an expensive film resin, there is a problem that the cost is increased.

低コストで中空封止構造を形成する方法として、射出成型を用いることも考えられるが、キャップは射出時の圧力によって位置がずれることがある。この場合、外気が中空封止されるキャップ内部へ侵入することがあり、中空封止構造の気密性を保つことができず、高周波特性が劣化する問題がある。さらに、キャップが位置ずれした場合、基板上の配線に損傷が生じたり、位置がずれたことによる素子部周囲の誘電率の変動が生じたりするなどの、高周波特性への悪影響が生じることがある。   As a method for forming a hollow sealing structure at a low cost, it is conceivable to use injection molding, but the position of the cap may be shifted due to pressure during injection. In this case, there is a problem that outside air may enter the inside of the cap that is hollow-sealed, the airtightness of the hollow sealing structure cannot be maintained, and the high-frequency characteristics deteriorate. Furthermore, when the cap is displaced, the wiring on the substrate may be damaged, or the dielectric constant may vary around the element due to the displacement, which may adversely affect the high frequency characteristics. .

また、樹脂フィルムによって、キャップを固定する場合、樹脂フィルムが硬化する際の樹脂の流動や収縮によって、外形の精度を高くすることが困難である。そのため、外形精度を保つために治具を用いて平坦化させるなどの工程が必要となり、作業効率が悪く、コストが高くなる問題があった。   Moreover, when fixing a cap with a resin film, it is difficult to raise the precision of an external shape by the flow and shrinkage | contraction of resin when a resin film hardens | cures. For this reason, a process such as flattening using a jig is required to maintain the outer shape accuracy, and there is a problem that work efficiency is poor and cost is increased.

特許文献2の方法では、キャップの上面を金型で抑えながら、樹脂をキャップの周囲に形成する構成としているので、キャップが位置ずれを起こすことがなく中空封止がされる。しかし、金型に抑えられるキャップの上面には、樹脂層が形成されないので、強度が弱く、外部からの圧力が加わった場合に、クラックなどが発生し、外気が中空封止内部へと侵入する問題があった。また、複数の金型を用いる構成となっているので、コストが高くなる問題あった。   In the method of Patent Document 2, since the resin is formed around the cap while holding the upper surface of the cap with a mold, the cap is hollow-sealed without causing a positional shift. However, since the resin layer is not formed on the upper surface of the cap held by the mold, the strength is weak, and when external pressure is applied, cracks and the like occur, and the outside air enters the inside of the hollow seal There was a problem. In addition, since the configuration uses a plurality of molds, there is a problem that the cost is increased.

この発明は前述した事情に鑑みてなされたものであって、基板に設けられた素子部の中空封止の信頼性が高く、かつ、低コストで中空封止することができる中空封止構造の製造方法および中空封止構造を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the circumstances described above, and has a hollow sealing structure in which the hollow sealing of the element portion provided on the substrate is highly reliable and can be hollow sealed at a low cost. It aims at providing a manufacturing method and a hollow sealing structure.

前述の課題を解決するために、一面に素子部が配置された基板の前記一面と反対側となる他面に、第一の金型を配置する第一の工程と、前記素子部を覆うように前記基板の一面にキャップを配置するとともに、前記キャップを覆うように第二の金型を前記基板の一面に配置し型締めする第二の工程と、前記第二の金型に設けられたゲートより該第二の金型の内部に、樹脂を注入する第三の工程と、を備えることを特徴としている。   In order to solve the above-described problem, a first step of arranging a first mold on the other surface opposite to the one surface of the substrate having the element portion disposed on one surface, and covering the element portion A second step of disposing a cap on one surface of the substrate and placing a second mold on the one surface of the substrate so as to cover the cap, and clamping the mold. And a third step of injecting resin into the second mold from the gate.

本発明の中空封止構造の製造方法によれば、金型を用いて、キャップの外面に樹脂層を形成する構成としているので、外部からの圧力に強い中空封止構造を形成することができる。また、金型の部品の数を抑えて樹脂層を形成するので、コストを減少させることができる。   According to the method for manufacturing a hollow sealing structure of the present invention, since the resin layer is formed on the outer surface of the cap using a mold, a hollow sealing structure that is resistant to external pressure can be formed. . In addition, since the resin layer is formed with a reduced number of mold parts, the cost can be reduced.

第一の実施形態に係る中空封止構造の断面図である。It is sectional drawing of the hollow sealing structure which concerns on 1st embodiment. 第一の実施形態で用いられる金型の断面図である。It is sectional drawing of the metal mold | die used by 1st embodiment. 第一の実施形態に係る金型の配置を示す概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing which shows arrangement | positioning of the metal mold | die which concerns on 1st embodiment. 第二の実施形態に係る中空封止構造の断面図である。It is sectional drawing of the hollow sealing structure which concerns on 2nd embodiment. 第二の実施形態に係る金型の配置を示す概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing which shows arrangement | positioning of the metal mold | die which concerns on 2nd embodiment. 第三の実施形態に係る中空封止構造の断面図である。It is sectional drawing of the hollow sealing structure which concerns on 3rd embodiment. 第三の実施形態に係る金型の配置を示す概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing which shows arrangement | positioning of the metal mold | die which concerns on 3rd embodiment. 第三の実施形態の変形例1のキャップと第二の金型の配置方法を説明する図である。It is a figure explaining the arrangement | positioning method of the cap and 2nd metal mold | die of the modification 1 of 3rd embodiment. 第四の実施形態を説明する図である。It is a figure explaining 4th embodiment.

以下に、本発明の実施の形態について添付した図面を参照して説明する。
本発明の実施形態は、基板上に設けられた素子部をキャップと樹脂層により封止する中空封止構造の製造方法に関するものである。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
Embodiments of the present invention relate to a method for manufacturing a hollow sealing structure in which an element portion provided on a substrate is sealed with a cap and a resin layer.

まず本発明の実施形態で作製される中空封止構造100について説明する。
本発明の実施形態の中空封止構造100は、図1で示すように、基板110と、基板110の上面(一面)に設けられた素子部120と、素子部120を覆うように配置されたキャップ130と、キャップ130を覆う樹脂層140と、を備えている。
First, the hollow sealing structure 100 produced in the embodiment of the present invention will be described.
As shown in FIG. 1, the hollow sealing structure 100 according to the embodiment of the present invention is disposed so as to cover the substrate 110, the element portion 120 provided on the upper surface (one surface) of the substrate 110, and the element portion 120. A cap 130 and a resin layer 140 covering the cap 130 are provided.

基板110は、基板110表面に素子部120や電子部品が固定され、それらの間が基板110上の配線で接続されて電子回路を形成する板形状の部品である。基板110としては、例えば、ガラスエポキシのような樹脂材料や柔軟性に優れるフレキシブル基板などを使用すればよい。   The substrate 110 is a plate-shaped component in which the element unit 120 and the electronic component are fixed on the surface of the substrate 110 and connected between them by wiring on the substrate 110 to form an electronic circuit. As the substrate 110, for example, a resin material such as glass epoxy or a flexible substrate having excellent flexibility may be used.

素子部120は、半導体の素子であり、基板110の上に設けられている。素子部120は、例えば、銀フィラーや絶縁フィラーなどを含む接着剤などで固定される。本実施形態では、ワイヤボンディングで基板110の配線と電気的に接続されている。   The element unit 120 is a semiconductor element and is provided on the substrate 110. The element unit 120 is fixed with, for example, an adhesive containing a silver filler or an insulating filler. In this embodiment, it is electrically connected to the wiring of the substrate 110 by wire bonding.

キャップ130は、図1で示すように、下方に向けて開口した箱型の形状をしており、素子部120を覆うように基板110の上面に配置されている。
キャップ130は、素子部120を覆う際に、素子部120やワイヤボンディングと物理的に接触しないように十分に大きな箱型の形状をしている。キャップ130は、例えば、樹脂材料、金属材料、セラミック材料などで構成されている。特に、耐熱性や密着性に優れるエポキシ系の材料を用いることが望ましい。また、キャップ130を樹脂層140と同一の材料で構成した場合には、キャップ130と樹脂層140の熱膨張係数の差がなくなるため、キャップ130と樹脂層140の熱膨張係数の差により生じる界面の剥離が抑制される。
As shown in FIG. 1, the cap 130 has a box shape opened downward, and is disposed on the upper surface of the substrate 110 so as to cover the element portion 120.
The cap 130 has a sufficiently large box shape so as not to come into physical contact with the element part 120 or wire bonding when covering the element part 120. The cap 130 is made of, for example, a resin material, a metal material, a ceramic material, or the like. In particular, it is desirable to use an epoxy material having excellent heat resistance and adhesion. Further, when the cap 130 is made of the same material as that of the resin layer 140, the difference in thermal expansion coefficient between the cap 130 and the resin layer 140 is eliminated. Is prevented from peeling.

樹脂層140は、キャップ130を覆うように配置されている。樹脂層140は、例えば、熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂などで構成されている。樹脂層140は、基板110と密着し、素子部120を中空封止するためのものであり、キャップ130と樹脂層140により素子部120を中空封止した空間に外気が流入しないようになっている。外気が中空封止した空間に流入した場合、外気の湿気などにより素子部120や配線の劣化が生じ、電子部品の性能の低下を引き起こし、本来の性能が得られなくなる。   The resin layer 140 is disposed so as to cover the cap 130. The resin layer 140 is made of, for example, a thermosetting resin or a thermoplastic resin. The resin layer 140 is in close contact with the substrate 110 and is used for hollow-sealing the element portion 120, so that outside air does not flow into the space where the element portion 120 is hollow-sealed by the cap 130 and the resin layer 140. Yes. When the outside air flows into the hollow sealed space, the element portion 120 and the wiring are deteriorated due to the humidity of the outside air, and the performance of the electronic component is lowered, and the original performance cannot be obtained.

次に、樹脂層140を形成するために用いる射出成型用のモールド金型150について説明する。
モールド金型150は、図2で示すように、第一の金型151と、第一の金型151と対向配置され第一の金型151に向けて開口した第二の金型152を備えている。
第一の金型151は、図示しない台座などの上に設けられ、支持されている。第二の金型152には、第二の金型152の内部に充填される樹脂の注入口のゲート153が設けられている。本実施形態では、第二の金型152の中央部にゲートが設けられている。
第一の金型151と第二の金型152の間に基板110が配置され、型締めできるようになっている。
Next, an injection molding mold 150 used for forming the resin layer 140 will be described.
As shown in FIG. 2, the mold 150 includes a first mold 151 and a second mold 152 that is disposed to face the first mold 151 and opens toward the first mold 151. ing.
The first mold 151 is provided and supported on a pedestal (not shown) or the like. The second mold 152 is provided with a gate 153 serving as a resin inlet filled in the second mold 152. In the present embodiment, a gate is provided at the center of the second mold 152.
A substrate 110 is disposed between the first mold 151 and the second mold 152 so that the mold can be clamped.

このように構成された本実施形態の中空封止構造100の製造方法について、以下に説明する。
まず、銀フィラーや絶縁フィラーなどを含む接着剤を用いて素子部120を基板110の上面(一面)に固定し、ワイヤボンディングにより電気的に接続する。
A method for manufacturing the hollow sealing structure 100 of the present embodiment configured as described above will be described below.
First, the element part 120 is fixed to the upper surface (one surface) of the substrate 110 using an adhesive containing a silver filler or an insulating filler, and is electrically connected by wire bonding.

次に、図3で示すように、素子部120が設けられた基板110の下面(他面)に、第一の金型151を配置する。そして、素子部120およびワイヤボンディングを覆うようにキャップ130を所定の箇所に位置決めして配置する。さらにキャップ130を覆うように第二の金型152を基板110の上に配置して、第一の金型151と第二の金型152で型締めをする(図3参照)。   Next, as shown in FIG. 3, the first mold 151 is disposed on the lower surface (other surface) of the substrate 110 provided with the element portion 120. Then, the cap 130 is positioned and arranged at a predetermined location so as to cover the element portion 120 and the wire bonding. Further, the second mold 152 is disposed on the substrate 110 so as to cover the cap 130, and the mold is clamped by the first mold 151 and the second mold 152 (see FIG. 3).

次に、キャップ130および基板110と第二の金型152で囲まれる領域に、ゲート153から樹脂が射出される。軟化温度に加熱された樹脂は、注入口であるゲート153から所定の圧力が加えられて注入される。樹脂は流動性が高い状態で、キャップ130の上方中央部から充填されるので、キャップ130が位置ずれを生じることがなく、樹脂を充填することができるようになっている。その後、常温まで冷却されて、キャップ130の上部に樹脂層140が形成され、基板110の上の素子部を中空封止した中空封止構造100が得られる。   Next, resin is injected from the gate 153 into a region surrounded by the cap 130, the substrate 110, and the second mold 152. The resin heated to the softening temperature is injected by applying a predetermined pressure from the gate 153 which is an injection port. Since the resin is filled from the upper center part of the cap 130 in a state of high fluidity, the cap 130 can be filled without causing positional displacement. Then, it cools to normal temperature, the resin layer 140 is formed in the upper part of the cap 130, and the hollow sealing structure 100 which carried out the hollow sealing of the element part on the board | substrate 110 is obtained.

本発明の実施形態に係る中空封止構造100の製造方法によれば、第二の金型152の中央部から樹脂が充填される構成となっているので、樹脂をキャップ130の上に充填する際に、キャップ130が位置ずれを生じることがなく樹脂層140を形成でき、信頼性の高い中空封止構造100とすることができる。   According to the method for manufacturing the hollow sealing structure 100 according to the embodiment of the present invention, since the resin is filled from the center of the second mold 152, the resin is filled on the cap 130. At this time, the resin layer 140 can be formed without causing the displacement of the cap 130, and the highly reliable hollow sealing structure 100 can be obtained.

また、モールド金型150を用いてキャップ130の外面の全体にわたって樹脂層140を形成するので、樹脂層140の外部から圧力が加えられた場合でも、キャップ130にクラックが生じることを抑制でき、中空封止を維持することが可能である。   In addition, since the resin layer 140 is formed over the entire outer surface of the cap 130 using the mold 150, even when pressure is applied from the outside of the resin layer 140, it is possible to prevent the cap 130 from cracking and It is possible to maintain the seal.

また、第一の金型151と第二の金型152を用いて樹脂層140を形成する簡素な構成としているので、必要なモールド金型150を少なくすることができ、製造にかかるコストを低減することができる。   In addition, since the resin layer 140 is formed using the first mold 151 and the second mold 152, the required mold mold 150 can be reduced and the manufacturing cost can be reduced. can do.

また、はんだや接着剤を使用しない構成としているので、中空封止された空間の基板151上にはんだや接着剤が侵入することがなく、配線や素子部の実装面積を十分に確保することが可能である。   In addition, since solder or an adhesive is not used, the solder or adhesive does not enter the substrate 151 in the hollow sealed space, and a sufficient mounting area for the wiring and the element portion can be secured. Is possible.

次に、本発明の第二の実施形態の中空封止構造の製造方法および中空封止構造について説明する。
なお、第一の金型151、基板110、素子部120、キャップ130については、第一の実施形態と同様の構成であるので、同一の符号で記載して、詳細な記載を省略する。
Next, the manufacturing method and hollow sealing structure of the hollow sealing structure of 2nd embodiment of this invention are demonstrated.
Note that the first mold 151, the substrate 110, the element unit 120, and the cap 130 have the same configuration as in the first embodiment, and therefore, the same reference numerals are used and detailed description thereof is omitted.

第二の実施形態の中空封止構造200は、図4で示すように、基板110と、基板110の上面(一面)に設けられた素子部120と、素子部120を覆うように配置されたキャップ130と、キャップ130を覆う樹脂層240と、を備えている。   As shown in FIG. 4, the hollow sealing structure 200 of the second embodiment is disposed so as to cover the substrate 110, the element portion 120 provided on the upper surface (one surface) of the substrate 110, and the element portion 120. A cap 130 and a resin layer 240 covering the cap 130 are provided.

樹脂層240は、キャップ130を覆うように配置されている。樹脂層240は、例えば、熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂などで構成されている。樹脂層240は、基板110と密着し、素子部120を中空封止するためのものであり、キャップ130と樹脂層240により素子部120を中空封止された空間に外気が流入しないようになっている。外気が中空封止された空間に流入した場合、外気の湿気などにより素子部120や配線の劣化が生じ、電子部品の性能の低下を引き起こし、本来の性能が得られなくなる。第二の実施形態では、樹脂層240は、上面(表面)の中央部に穴部241が形成されている。   The resin layer 240 is disposed so as to cover the cap 130. The resin layer 240 is made of, for example, a thermosetting resin or a thermoplastic resin. The resin layer 240 is in close contact with the substrate 110 and is used to hollow-seal the element part 120, so that outside air does not flow into the space in which the element part 120 is hollow-sealed by the cap 130 and the resin layer 240. ing. When the outside air flows into the hollow sealed space, the element portion 120 and the wiring are deteriorated due to the humidity of the outside air, and the performance of the electronic component is lowered, and the original performance cannot be obtained. In the second embodiment, the resin layer 240 has a hole 241 formed at the center of the upper surface (surface).

モールド金型250は、第一の金型151と第一の金型151に向けて開口した第二の金型252を備えている。
第二の実施形態では、図5で示すように、第二の金型252の内部の中央部に凸部253が設けられている。凸部253は、基板110に配置されたキャップ130を係止し、キャップ130を支持するようになっている。
また、モールド金型252には、下方にゲート254が設けられている。ゲート254は、樹脂層240を形成する際の、樹脂の注入口となる。第二の実施形態は、ゲート254がモールド金型253のサイドに設けられたサイドゲート構造であるが、この場合、キャップ130が基板110と平行方向(図5の左右方向)にずれやすい。
The mold 250 includes a first mold 151 and a second mold 252 that opens toward the first mold 151.
In 2nd embodiment, as shown in FIG. 5, the convex part 253 is provided in the center part inside the 2nd metal mold | die 252. As shown in FIG. The convex portion 253 locks the cap 130 disposed on the substrate 110 and supports the cap 130.
The mold 252 is provided with a gate 254 below. The gate 254 serves as a resin injection port when the resin layer 240 is formed. The second embodiment is a side gate structure in which the gate 254 is provided on the side of the mold 253, but in this case, the cap 130 is likely to be displaced in a direction parallel to the substrate 110 (left and right direction in FIG. 5).

このように構成された第二の実施形態の中空封止構造200の製造方法について、以下に説明する。
まず、基板110の上面(図5の基板110の一面)に素子部120が設けられる。次に、基板110の他面(図5の基板110の下面)に第一の金型151を配置する。そして、素子部120およびワイヤボンディングを覆うようにキャップ130を所定の箇所に位置決めして配置する。さらに、キャップ130を覆い、キャップ130の上部に凸部253が当たるようにモールド金型252を配置する。第一の金型151とモールド金型252で型締めするとともに、凸部253がキャップ130を下方向に押圧し、キャップ130を固定するようになっている(図5参照)。
The manufacturing method of the hollow sealing structure 200 of 2nd embodiment comprised in this way is demonstrated below.
First, the element portion 120 is provided on the upper surface of the substrate 110 (one surface of the substrate 110 in FIG. 5). Next, the first mold 151 is disposed on the other surface of the substrate 110 (the lower surface of the substrate 110 in FIG. 5). Then, the cap 130 is positioned and arranged at a predetermined location so as to cover the element portion 120 and the wire bonding. Further, the mold mold 252 is disposed so as to cover the cap 130 so that the convex portion 253 contacts the upper portion of the cap 130. The first mold 151 and the mold 252 are clamped, and the convex portion 253 presses the cap 130 downward to fix the cap 130 (see FIG. 5).

次に、キャップ130および基板110と第二の金型252で囲まれる領域に樹脂を射出する。軟化温度に加熱された樹脂は、所定の圧力が加えられて、注入口であるゲート254から注入される。キャップ130は凸部253に固定されているので、側面(図5の左右方向)から樹脂が注入されても、位置ずれを起こすことがなく、樹脂が充填されるようになっている。その後、常温まで冷却されて上面(表面)に穴部241を有する樹脂層240が形成され、基板110の上の素子部120を中空封止した中空封止構造200が得られる。   Next, resin is injected into a region surrounded by the cap 130, the substrate 110, and the second mold 252. The resin heated to the softening temperature is injected from a gate 254 which is an injection port under a predetermined pressure. Since the cap 130 is fixed to the convex portion 253, even if resin is injected from the side surface (left and right direction in FIG. 5), the resin is filled without causing positional displacement. Thereafter, the resin layer 240 having the hole 241 is formed on the upper surface (surface) by being cooled to room temperature, and the hollow sealing structure 200 in which the element portion 120 on the substrate 110 is hollow-sealed is obtained.

第二の実施形態に係る中空封止構造200の製造方法によれば、キャップ130が第二の金型252の凸部253に押圧され、支持された状態で樹脂が注入される構成となっている。そのため、キャップ130が位置ずれを生じることがなく、樹脂層240を形成できるので、より信頼性の高い中空封止構造200を形成することができる。   According to the method for manufacturing the hollow sealing structure 200 according to the second embodiment, the cap 130 is pressed against the convex portion 253 of the second mold 252 and the resin is injected in a supported state. Yes. Therefore, the cap 130 is not displaced and the resin layer 240 can be formed, so that the more reliable hollow sealing structure 200 can be formed.

また、上面に穴部241を有した中空封止構造200を製造できる。この穴部241は、パッケージの向きやパッケージの位置決めマーカーとして使用することができ、次工程の作業性を改善することが可能である。   Moreover, the hollow sealing structure 200 which has the hole part 241 on the upper surface can be manufactured. The hole 241 can be used as a package orientation or a package positioning marker, and can improve the workability of the next process.

なお、さらに信頼性を高めるために、樹脂層240の穴部241に、樹脂層240と同種の樹脂を充填してもよい。また、位置決めマーカーなどにも利用する場合には、穴部241を異なる種類の樹脂などで充填してもよい。   In order to further improve the reliability, the hole 241 of the resin layer 240 may be filled with the same type of resin as the resin layer 240. Moreover, when using also for a positioning marker etc., you may fill the hole part 241 with a different kind of resin.

また、第二の実施形態では、穴部241が樹脂層240の上面の中央部に設けられるものとしたが、上面であればいずれの場所でも良く、中央からずれた位置に穴部を形成することで、パッケージの向きを容易に識別できるようになる。
また、穴部の形状を非対称な形状とすることで、パッケージの向きを識別することも可能となる。
In the second embodiment, the hole 241 is provided at the center of the upper surface of the resin layer 240. However, the hole 241 may be provided at any position on the upper surface, and the hole is formed at a position shifted from the center. As a result, the orientation of the package can be easily identified.
In addition, the direction of the package can be identified by making the shape of the hole asymmetrical.

次に、第三の実施形態の中空封止構造300の製造方法について説明する。
なお、第三の実施形態では、第一の金型151、基板110、素子部120については、第一の実施形態と同様の構成であるので、同一の符号で記載して、詳細な記載を省略する。
Next, the manufacturing method of the hollow sealing structure 300 of 3rd embodiment is demonstrated.
In the third embodiment, the first mold 151, the substrate 110, and the element unit 120 have the same configuration as in the first embodiment, and therefore, the same reference numerals are used for detailed description. Omitted.

第三の実施形態は、図6で示すように、基板110と、基板110の上面(一面)に設けられた素子部120と、素子部120を覆うように配置されたキャップ330と、キャップ330を覆う樹脂層340と、を備えている。   In the third embodiment, as shown in FIG. 6, a substrate 110, an element portion 120 provided on the upper surface (one surface) of the substrate 110, a cap 330 disposed so as to cover the element portion 120, and a cap 330 And a resin layer 340 covering the.

キャップ330は、図6に示すように、下方に向けて開口した箱型の形状をしており、素子部120を覆うように配置されている。第三の実施形態では、キャップ330には、上面の中央部に凹部331が設けられている。
キャップ330は、例えば、樹脂材料、金属材料、セラミック材料などで構成されている。特に、耐熱性や密着性に優れるエポキシ系の材料を用いることが望ましい。また、キャップを後述する樹脂層340と同一の材料で構成した場合には、キャップ330と樹脂層340の熱膨張係数の差がなくなるため、キャップ330と樹脂層340の熱膨張係数の差により生じる界面の剥離が抑制される。
As shown in FIG. 6, the cap 330 has a box shape that opens downward, and is arranged so as to cover the element portion 120. In the third embodiment, the cap 330 is provided with a recess 331 at the center of the upper surface.
The cap 330 is made of, for example, a resin material, a metal material, a ceramic material, or the like. In particular, it is desirable to use an epoxy material having excellent heat resistance and adhesion. Further, when the cap is made of the same material as the resin layer 340 described later, the difference in thermal expansion coefficient between the cap 330 and the resin layer 340 is eliminated, and thus the difference is caused by the difference in thermal expansion coefficient between the cap 330 and the resin layer 340. Separation of the interface is suppressed.

樹脂層340は、キャップ330を覆うように配置されている。樹脂層340は、例えば、熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂などで構成されている。樹脂層340は、基板110と密着し、素子部120を中空封止するためのものであり、キャップ330と樹脂層340により素子部120を中空封止した空間の内部に外気が流入しないようになっている。外気が中空封止した空間に流入した場合、外気の湿気などにより素子部120や配線の劣化が生じ、電子部品の性能の低下を引き起こし、本来の性能が得られなくなる。第三の実施形態では、樹脂層340は、上面(表面)の中央部に穴部341が形成されている。   The resin layer 340 is disposed so as to cover the cap 330. The resin layer 340 is made of, for example, a thermosetting resin or a thermoplastic resin. The resin layer 340 is in close contact with the substrate 110 and is used to hollow-seal the element part 120, so that outside air does not flow into the space where the element part 120 is hollow-sealed by the cap 330 and the resin layer 340. It has become. When the outside air flows into the hollow sealed space, the element portion 120 and the wiring are deteriorated due to the humidity of the outside air, and the performance of the electronic component is lowered, and the original performance cannot be obtained. In the third embodiment, the resin layer 340 has a hole 341 formed at the center of the upper surface (surface).

モールド金型350は、第一の金型151と第一の金型151に向けて開口した第二の金型352を備えている。
第三の実施形態では、図7で示すように、第二の金型352の内部の中央部に凸部353が設けられている。凸部353は、基板110に配置されたキャップ330の凹部331と係合し、キャップ330を支持するようになっている。
また、第二の金型352には、下方にゲート354が設けられている。ゲート354は、樹脂層340を形成する際の、樹脂の注入口となる。
The mold 350 includes a first mold 151 and a second mold 352 that opens toward the first mold 151.
In the third embodiment, as shown in FIG. 7, a convex portion 353 is provided at the center inside the second mold 352. The convex portion 353 engages with the concave portion 331 of the cap 330 disposed on the substrate 110 and supports the cap 330.
The second mold 352 is provided with a gate 354 below. The gate 354 serves as a resin injection port when the resin layer 340 is formed.

このように構成された第三の実施形態の中空封止構造300の製造方法について説明する。
まず、基板110の上面(図7の基板基板110の一面)に素子部120が設けられる。次に、基板110の下面(図7の基板110の他面)に第一の金型151を配置する。そして、素子部120およびワイヤボンディングを覆うようにキャップ330を所定の箇所に位置決めして配置する。さらに、キャップ330を覆い、キャップ330の凹部331に凸部353が係合するように第二の金型352を配置する。第一の金型151と第二の金型352で型締めするとともに、凸部353がキャップ330を基板110の一面に向けて押圧し、キャップ330を基板110上に固定するようになっている(図7参照)。
The manufacturing method of the hollow sealing structure 300 of 3rd embodiment comprised in this way is demonstrated.
First, the element portion 120 is provided on the upper surface of the substrate 110 (one surface of the substrate substrate 110 in FIG. 7). Next, the first mold 151 is disposed on the lower surface of the substrate 110 (the other surface of the substrate 110 in FIG. 7). Then, the cap 330 is positioned and arranged at a predetermined location so as to cover the element portion 120 and the wire bonding. Further, the second mold 352 is disposed so as to cover the cap 330 and the convex portion 353 engages with the concave portion 331 of the cap 330. The first mold 151 and the second mold 352 are clamped, and the convex portion 353 presses the cap 330 toward one surface of the substrate 110 to fix the cap 330 on the substrate 110. (See FIG. 7).

次に、キャップ330および基板110と第二の金型352で囲まれる領域に樹脂を注入する。軟化温度に加熱された樹脂は、注入口であるゲートから所定の圧力が加えられて注入される。キャップ330の凹部331は第二の金型352の凸部353と係合し、固定されているので、位置ずれを起こすことがなく、樹脂が充填されるようになっている。その後、常温まで冷却されて、上面(表面)に穴部341を有する樹脂層340が形成され、基板110上の素子部120を中空封止した中空封止構造300が得られる。   Next, resin is injected into a region surrounded by the cap 330 and the substrate 110 and the second mold 352. The resin heated to the softening temperature is injected by applying a predetermined pressure from the gate serving as the injection port. Since the concave portion 331 of the cap 330 is engaged with and fixed to the convex portion 353 of the second mold 352, the resin is filled without causing positional displacement. Then, it cools to normal temperature, the resin layer 340 which has the hole part 341 in the upper surface (surface) is formed, and the hollow sealing structure 300 which carried out the hollow sealing of the element part 120 on the board | substrate 110 is obtained.

第三の実施形態に係る中空封止構造300の製造方法によれば、キャップ330の凹部331が第二の金型352の凸部353と係合し、キャップ330が基板110上に支持されるようになっている。そのため、キャップ330を正確な位置に配置し、キャップ330を所定の位置から位置ずれを起こすことがなく樹脂層340を形成できるので、より信頼性の高い中空封止構造300を形成することができる。   According to the method for manufacturing the hollow sealing structure 300 according to the third embodiment, the concave portion 331 of the cap 330 is engaged with the convex portion 353 of the second mold 352, and the cap 330 is supported on the substrate 110. It is like that. Therefore, the cap 330 is disposed at an accurate position, and the resin layer 340 can be formed without causing the positional displacement of the cap 330 from a predetermined position. Therefore, a more reliable hollow sealing structure 300 can be formed. .

また、本実施形態に係る中空封止構造300によれば、樹脂層340の上面(表面)に穴部341を有している。この穴部341は、パッケージの向きやパッケージの位置決めマーカーとして使用することができ、次工程の作業性を改善することが可能である。   Moreover, according to the hollow sealing structure 300 which concerns on this embodiment, it has the hole part 341 in the upper surface (surface) of the resin layer 340. FIG. This hole 341 can be used as a package orientation or a package positioning marker, and can improve the workability of the next process.

なお、さらに信頼性を高めるために、樹脂層340の穴部341に、樹脂層340と同種の樹脂を充填してもよい。また、位置決めマーカーなどにも利用する場合には、異なる種類の樹脂などで充填してもよい。   In order to further improve the reliability, the hole 341 of the resin layer 340 may be filled with the same kind of resin as the resin layer 340. Moreover, when using also for a positioning marker etc., you may fill with a different kind of resin.

また、第三の実施形態では、穴部341が樹脂層340の上面の中央部に設けられるものとしたが、上面(表面)であればいずれの場所でも良く、中央部からずらした位置に穴部を形成することで、パッケージの向きを識別できるようになる。また、穴部の形状を非対称な形状とすることで、パッケージの向きを識別することも可能である。   In the third embodiment, the hole 341 is provided at the center of the upper surface of the resin layer 340. However, the hole 341 may be located anywhere on the upper surface (surface), and the hole is shifted from the center. By forming the portion, the orientation of the package can be identified. Further, the direction of the package can be identified by making the shape of the hole portion asymmetric.

(変形例1)
次に、第三の実施形態の変形例1について説明する。なお、変形例1は、第三の実施形態と同様の構成であるので、同一の符号で記載して、詳細な記載を省略する。
変形例1では、図8で示すように、第二の金型352の凸部353とキャップ330の凹部331をあらかじめ係合させて、基板110の上に配置する。上述した第三の実施形態では、キャップ330と第二の金型352を別々に配置していたが、変形例1では、キャップ330と第二の金型352が一体とされた構成で基板110上に配置することができる。そして、キャップ330を基板110上に位置決めする工程を省略し、製造の自動化を図ることができるので、コストを低減可能となる。
(Modification 1)
Next, Modification 1 of the third embodiment will be described. In addition, since the modification 1 is the structure similar to 3rd embodiment, it describes with the same code | symbol and abbreviate | omits detailed description.
In Modification 1, as shown in FIG. 8, the convex portion 353 of the second mold 352 and the concave portion 331 of the cap 330 are engaged with each other in advance and arranged on the substrate 110. In the third embodiment described above, the cap 330 and the second mold 352 are separately arranged. However, in the first modification, the substrate 110 has a configuration in which the cap 330 and the second mold 352 are integrated. Can be placed on top. Further, since the process of positioning the cap 330 on the substrate 110 can be omitted and the manufacturing can be automated, the cost can be reduced.

なお、第二の実施形態および第三の実施形態において、凸部および第二の金型に孔を設けておき、樹脂充填完了後に第二の金型を所定量上昇させたところで、孔から樹脂を所定量充填することとしてもよい。この場合、充填する樹脂は、樹脂層と同様の樹脂でも、異なる樹脂でもよい。   In the second embodiment and the third embodiment, a hole is provided in the convex portion and the second mold, and when the second mold is raised by a predetermined amount after the resin filling is completed, the resin is removed from the hole. It is good also as filling predetermined amount. In this case, the resin to be filled may be the same resin as the resin layer or a different resin.

次に、第四の実施形態の中空封止構造400の製造方法について説明する。なお、第一の金型151、基板110、素子部120については、第一の実施形態と同様の構成であるので、同一の符号で記載して、詳細な記載を省略する。また、キャップ330については第三の実施形態と同様の構成であるので同一の符号で記載して、詳細な記載を省略する。   Next, the manufacturing method of the hollow sealing structure 400 of 4th embodiment is demonstrated. Since the first mold 151, the substrate 110, and the element unit 120 have the same configuration as that of the first embodiment, they are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof is omitted. Further, since the cap 330 has the same configuration as that of the third embodiment, the cap 330 is denoted by the same reference numeral, and detailed description thereof is omitted.

第四の実施形態は、図9(a)で示すように、基板110と、基板上に設けられた素子部120と、素子部120を覆うように配置されたキャップ330と、キャップ330を覆う樹脂層440と、を備えている。中空封止構造400の構成は、樹脂層440を除き、第一の実施形態と同様である。   In the fourth embodiment, as illustrated in FIG. 9A, the substrate 110, the element unit 120 provided on the substrate, the cap 330 disposed so as to cover the element unit 120, and the cap 330 are covered. And a resin layer 440. The configuration of the hollow sealing structure 400 is the same as that of the first embodiment except for the resin layer 440.

樹脂層440は、キャップ330を覆うように配置されている。樹脂層440は、例えば、熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂などで構成されている。樹脂層440は、基板110と密着し、素子部120を中空封止するためのものであり、キャップ330と樹脂層440により素子部120を中空封止した空間の内部に外気が流入しないようになっている。外気が中空封止した空間に流入した場合、外気の湿気などにより素子部120や配線の劣化が生じ、電子部品の性能の低下を引き起こし、本来の性能が得られなくなる。   The resin layer 440 is disposed so as to cover the cap 330. The resin layer 440 is made of, for example, a thermosetting resin or a thermoplastic resin. The resin layer 440 is in close contact with the substrate 110 and is used to hollow-seal the element part 120, so that outside air does not flow into the space where the element part 120 is hollow-sealed by the cap 330 and the resin layer 440. It has become. When the outside air flows into the hollow sealed space, the element portion 120 and the wiring are deteriorated due to the humidity of the outside air, and the performance of the electronic component is lowered, and the original performance cannot be obtained.

モールド金型450は、第一の金型151と、第一の金型151と対向配置され第一の金型151に向けて開口した第二の金型452を備えている。
第四の実施形態では、第二の金型452の内部の中央部に凸部453が設けられている。凸部453は、キャップの凹部331と係合し、キャップ330を支持するようになっている。また、凸部453は進退可能に設けられ、突出量が可変できるようになっている。
また、第二の金型452には、下方にゲート454が設けられている。ゲート454は、樹脂層440を形成するときの注入口である。
The mold die 450 includes a first die 151 and a second die 452 that is disposed to face the first die 151 and opens toward the first die 151.
In the fourth embodiment, a convex portion 453 is provided at the center inside the second mold 452. The convex portion 453 engages with the concave portion 331 of the cap and supports the cap 330. Further, the convex portion 453 is provided so as to be able to advance and retract, and the amount of protrusion can be varied.
The second mold 452 is provided with a gate 454 below. The gate 454 is an injection port when the resin layer 440 is formed.

このように構成された第四の実施形態の中空封止構造400の製造方法について説明する。
まず、第一の金型151の上に素子部120が設けられた基板110を配置する。そして、キャップ330の凹部331に凸部453が係合された第二の金型452を基板110の上に配置する(図9(b)参照)。第一の金型151と第二の金型452で型締めするとともに、凸部453がキャップを下方向に押圧し、キャップ330を基板110の上に固定するようになっている。
The manufacturing method of the hollow sealing structure 400 of 4th Embodiment comprised in this way is demonstrated.
First, the substrate 110 provided with the element portion 120 is disposed on the first mold 151. And the 2nd metal mold | die 452 by which the convex part 453 was engaged with the recessed part 331 of the cap 330 is arrange | positioned on the board | substrate 110 (refer FIG.9 (b)). The first mold 151 and the second mold 452 are clamped, and the convex portion 453 presses the cap downward to fix the cap 330 on the substrate 110.

次に、キャップ330および基板110と第二の金型452で囲まれる領域に樹脂を射出する(図9(c)参照)。軟化温度に加熱された樹脂は、注入口であるゲート454から所定の圧力が加えられて注入される。キャップ330の凹部331は第二の金型452の凸部453と係合し、固定されているので、位置ずれを起こすことがなく、樹脂が充填されるようになっている。   Next, the resin is injected into a region surrounded by the cap 330, the substrate 110, and the second mold 452 (see FIG. 9C). The resin heated to the softening temperature is injected by applying a predetermined pressure from the gate 454 which is an injection port. Since the concave portion 331 of the cap 330 is engaged with and fixed to the convex portion 453 of the second mold 452, the resin is filled without causing positional displacement.

樹脂の充填が開始された当初は、凸部453でキャップ330を基板に向かう方向(図9(c)の下方)に押さえつけているが、樹脂の充填が進み、樹脂の流動性が残る充填完了の直前に、凸部453は上方に(突出量が小さくなる方向に)移動される。そして、凸部453があった箇所にも樹脂が充填されるように、射出の圧力を加える。   At the beginning of filling of the resin, the cap 330 is pressed in the direction toward the substrate by the convex portion 453 (downward in FIG. 9C), but the filling of the resin proceeds and the filling with the resin fluidity remaining is completed. Immediately before, the convex portion 453 is moved upward (in a direction in which the protrusion amount decreases). Then, an injection pressure is applied so that the resin is also filled in the portion where the convex portion 453 is present.

このようにして、キャップ330の凹部331や樹脂層440の凹部にも樹脂が充填された中空封止構造400を形成することができる。その後、常温まで冷却されて、基板110の上の素子部120を中空封止した中空封止構造400が得られる。   In this manner, the hollow sealing structure 400 in which the recess 331 of the cap 330 and the recess of the resin layer 440 are filled with the resin can be formed. Then, it cools to normal temperature and the hollow sealing structure 400 which carried out the hollow sealing of the element part 120 on the board | substrate 110 is obtained.

第四の実施形態に係る中空封止構造400の製造方法によれば、キャップ330の凹部331が第二の金型452の凸部453と係合し、キャップ330が基板110の上に支持されるようになっているので、キャップ330を所定の位置から位置ずれを起こすことがなく第二の金型452を配置し、樹脂層440が形成できるので、より信頼性の高い中空封止構造400とすることができる。   According to the method for manufacturing the hollow sealing structure 400 according to the fourth embodiment, the concave portion 331 of the cap 330 is engaged with the convex portion 453 of the second mold 452, and the cap 330 is supported on the substrate 110. Since the second mold 452 can be disposed without causing the cap 330 to be displaced from a predetermined position and the resin layer 440 can be formed, the hollow sealing structure 400 with higher reliability can be formed. It can be.

また、モールド金型450を用いてキャップ330の外面の全体にわたって樹脂層440を形成するので、樹脂層440の外部から圧力が加えられた場合でも、キャップ330にクラックが生じることを抑制でき、中空封止を維持することが可能である。   In addition, since the resin layer 440 is formed over the entire outer surface of the cap 330 using the mold 450, even when pressure is applied from the outside of the resin layer 440, the cap 330 can be prevented from cracking, and the hollow It is possible to maintain the seal.

なお、凸部453の移動量を適宜変更することによって、上面(表面)に穴部が設けられた樹脂層を形成することが可能である。この穴部は、パッケージの位置決めマーカーやパッケージの向きを識別するマーカーとして利用することができる。   In addition, it is possible to form the resin layer in which the hole part was provided in the upper surface (surface) by changing the movement amount of the convex part 453 suitably. This hole can be used as a positioning marker for the package or a marker for identifying the orientation of the package.

また、第四の実施形態では、キャップ330には、凹部331が設けられている場合について説明したが、キャップに凹部が設けられていなくてもよい。この場合には、キャップを基板上の所定の位置に配置するようにすればよい。   Further, in the fourth embodiment, the case where the cap 330 is provided with the recess 331 has been described, but the cap may not be provided with the recess. In this case, the cap may be arranged at a predetermined position on the substrate.

また、凸部および第二の金型に孔を設けておき、凸部を所定量後退させた後に、凸部から樹脂を所定量充填することとしてもよい。この場合、充填する樹脂は、樹脂層と同じ樹脂でも異なる樹脂でもよい。   Alternatively, a hole may be provided in the convex portion and the second mold, and after the convex portion is retracted by a predetermined amount, a predetermined amount of resin may be filled from the convex portion. In this case, the resin to be filled may be the same resin as the resin layer or a different resin.

以上、本発明の実施形態である中空封止構造の製造方法について説明したが、本発明はこれに限定されることはなく、その発明の技術的思想を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。   The method for manufacturing the hollow sealing structure according to the embodiment of the present invention has been described above, but the present invention is not limited to this and can be appropriately changed without departing from the technical idea of the present invention.

なお、第二の実施形態、第三の実施形態および第四の実施形態において、凸部および第二の金型の内部に孔を設け、孔は吸着手段と接続されている構成としてもよい。この場合には、キャップを第二の金型の凸部に吸着して固定し、キャップと第二の金型を一体のものとして、基板上に配置することが可能である。樹脂を充填する際には、吸着をオフにする。また、樹脂のカス詰まりを排除可能な摺動ピンを備えていることが望ましい。   In the second embodiment, the third embodiment, and the fourth embodiment, holes may be provided in the convex portions and the second mold, and the holes may be connected to the suction means. In this case, the cap can be adsorbed and fixed to the convex portion of the second mold, and the cap and the second mold can be integrated and disposed on the substrate. When filling the resin, the adsorption is turned off. In addition, it is desirable to have a sliding pin that can eliminate clogging of resin.

上記実施の形態では、基板の上面に第二の金型が配置され、基板の下面に第一の金型が配置される構成について説明したが、基板の上面に第一の金型が配置され、基板の下面に第二の金型が配置される構成としてもよい。また基板は、水平方向と平行に配置される場合について説明したが、鉛直方向と平行に基板が配置されてもよい。   In the above embodiment, the configuration in which the second mold is disposed on the upper surface of the substrate and the first mold is disposed on the lower surface of the substrate has been described. However, the first mold is disposed on the upper surface of the substrate. The second mold may be arranged on the lower surface of the substrate. Moreover, although the case where the board | substrate is arrange | positioned in parallel with a horizontal direction was demonstrated, a board | substrate may be arrange | positioned in parallel with a perpendicular direction.

上記実施の形態では、樹脂の射出条件は、キャップの強度や素子部の耐熱温度などに応じて、適宜最適な条件を選択すればよい。   In the above embodiment, the resin injection conditions may be appropriately selected according to the strength of the cap, the heat resistant temperature of the element portion, and the like.

上記実施の形態では、素子部が半導体素子の場合について説明したが、MEMSデバイス、表面弾性波デバイス、赤外線センサなどの各種センサや圧電素子などの機能素子であってもよい。   In the above embodiment, the case where the element portion is a semiconductor element has been described. However, various sensors such as a MEMS device, a surface acoustic wave device, an infrared sensor, and a functional element such as a piezoelectric element may be used.

100、200、300、400 中空封止構造
110 基板
120 素子部
130、330 キャップ
140、240、340、440 樹脂層
151 第一の金型
152 第二の金型
153、254、354、454 ゲート
241、341 穴部
253、353、453 凸部
331 凹部
100, 200, 300, 400 Hollow sealing structure 110 Substrate 120 Element portion 130, 330 Cap 140, 240, 340, 440 Resin layer 151 First mold 152 Second mold 153, 254, 354, 454 Gate 241 , 341 Hole 253, 353, 453 Protrusion 331 Concavity

Claims (10)

一面に素子部が配置された基板の前記一面と反対側となる他面に、第一の金型を配置する第一の工程と、
前記素子部を覆うように前記基板の一面にキャップを配置するとともに、前記キャップを覆うように第二の金型を前記基板の一面に配置し型締めする第二の工程と、
前記第二の金型に設けられたゲートより該第二の金型の内部に、樹脂を注入する第三の工程と、を備えることを特徴とする中空封止構造の製造方法。
A first step of disposing a first mold on the other surface opposite to the one surface of the substrate having the element portion disposed on the one surface;
A second step of disposing a cap on one surface of the substrate so as to cover the element portion and disposing a mold on the one surface of the substrate so as to cover the cap;
And a third step of injecting a resin into the second mold from a gate provided in the second mold.
前記第二の工程は、前記素子部を覆うように前記基板の一面に前記キャップを配置する工程と、
前記基板の一面に配置された前記キャップを覆うように前記第二の金型を前記基板の一面に配置し型締めする工程と、を備えることを特徴とする請求項1に記載の中空封止構造の製造方法。
The second step is a step of disposing the cap on one surface of the substrate so as to cover the element portion;
The hollow sealing according to claim 1, further comprising a step of placing and clamping the second mold on one surface of the substrate so as to cover the cap disposed on the one surface of the substrate. Structure manufacturing method.
前記第二の工程は、前記キャップと前記第二の金型を一体とする工程と、前記素子部を覆うように前記キャップと前記第二の金型を同時に配置し型締めする工程と、を備えることを特徴とする請求項1に記載の中空封止構造の製造方法。   The second step includes a step of integrating the cap and the second mold, and a step of simultaneously placing and clamping the cap and the second mold so as to cover the element portion. The manufacturing method of the hollow sealing structure of Claim 1 characterized by the above-mentioned. 前記第二の工程において、前記第二の金型に設けられた凸部により、前記キャップが前記基板の一面に向けて押圧されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の中空封止構造の製造方法。   The said 2nd process WHEREIN: The said cap is pressed toward the one surface of the said board | substrate by the convex part provided in said 2nd metal mold | die, The any one of Claim 1 to 3 characterized by the above-mentioned. The manufacturing method of the hollow sealing structure of claim | item. 前記第二の工程において、前記第二の金型に設けられた凸部と前記キャップに形成された凹部が係合されることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の中空封止構造の製造方法。   The said 2nd process WHEREIN: The convex part provided in the said 2nd metal mold | die and the recessed part formed in the said cap are engaged, The Claim 1 characterized by the above-mentioned. The manufacturing method of the hollow sealing structure of description. 前記第二の工程において、前記第二の金型に設けられた凸部に前記キャップが吸着されることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の中空封止構造の製造方法。   The hollow sealing structure according to any one of claims 1 to 5, wherein, in the second step, the cap is adsorbed to a convex portion provided in the second mold. Manufacturing method. 前記第二の金型の凸部は進退可能に設けられ、
前記第三の工程において、樹脂を注入しながら、突出してキャップを押圧した状態の前記凸部を後退させ、キャップから離間させることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の中空封止構造の製造方法。
The convex part of the second mold is provided so as to be able to advance and retreat,
7. The method according to claim 1, wherein in the third step, while the resin is injected, the convex portion that protrudes and presses the cap is retracted and separated from the cap. 8. The manufacturing method of the hollow sealing structure of description.
前記第二の金型の凸部は進退可能に設けられるとともに樹脂注入孔が設けられ、
前記第三の工程において、突出してキャップを押圧した状態で、樹脂層を形成した後に前記凸部を後退させてキャップから離間させ、前記樹脂注入孔から樹脂が注入されることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の中空封止構造の製造方法。
The convex part of the second mold is provided so as to be able to advance and retract, and a resin injection hole is provided,
In the third step, the resin layer is formed in a state of protruding and pressing the cap, and then the convex portion is retracted to be separated from the cap, and the resin is injected from the resin injection hole. The manufacturing method of the hollow sealing structure as described in any one of Claims 1-6.
基板と、前記基板上に設けられた素子部と、前記素子部を覆うキャップと、前記キャップを覆う樹脂層と、を備えた中空封止構造であって、
前記樹脂層は、表面に開口し、キャップをへて基板の一面に向かうように延出された穴部を有することを特徴とする中空封止構造。
A hollow sealing structure comprising a substrate, an element portion provided on the substrate, a cap covering the element portion, and a resin layer covering the cap,
The said resin layer has a hole part opened to the surface and extended so that it might go to one surface of a board | substrate through a cap, The hollow sealing structure characterized by the above-mentioned.
基板と、前記基板上に設けられた素子部と、前記素子部を覆うキャップと、前記キャップを覆う樹脂層と、を備えた中空封止構造であって、
前記キャップは、凹部を有することを特徴とする中空封止構造。
A hollow sealing structure comprising a substrate, an element portion provided on the substrate, a cap covering the element portion, and a resin layer covering the cap,
The said cap has a recessed part, The hollow sealing structure characterized by the above-mentioned.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140166352A1 (en) * 2011-09-26 2014-06-19 Nec Corporation Hollow sealing structure
JP2018142617A (en) * 2017-02-28 2018-09-13 三菱電機株式会社 Semiconductor device and manufacturing method for the same

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01228152A (en) * 1988-03-09 1989-09-12 Hitachi Chem Co Ltd Manufacture of semiconductor device
JPH0714651U (en) * 1993-05-10 1995-03-10 クラリオン株式会社 Hollow sealed package
JPH0766331A (en) * 1993-08-02 1995-03-10 Motorola Inc Manufacture of semiconductor device package
JPH09304211A (en) * 1996-05-15 1997-11-28 Omron Corp Structure and method for packaging of capacitive pressure sensor
JP2002231843A (en) * 2001-02-01 2002-08-16 Tdk Corp Cap for use in electronic part protection, its manufacturing method, electronic device and its manufacturing method
US6654248B1 (en) * 2002-10-25 2003-11-25 Lsi Logic Corporation Top gated heat dissipation
JP2007019154A (en) * 2005-07-06 2007-01-25 Yamaha Corp Semiconductor device and its manufacturing method
JP2007258343A (en) * 2006-03-22 2007-10-04 Denso Corp Mold package

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01228152A (en) * 1988-03-09 1989-09-12 Hitachi Chem Co Ltd Manufacture of semiconductor device
JPH0714651U (en) * 1993-05-10 1995-03-10 クラリオン株式会社 Hollow sealed package
JPH0766331A (en) * 1993-08-02 1995-03-10 Motorola Inc Manufacture of semiconductor device package
JPH09304211A (en) * 1996-05-15 1997-11-28 Omron Corp Structure and method for packaging of capacitive pressure sensor
JP2002231843A (en) * 2001-02-01 2002-08-16 Tdk Corp Cap for use in electronic part protection, its manufacturing method, electronic device and its manufacturing method
US6654248B1 (en) * 2002-10-25 2003-11-25 Lsi Logic Corporation Top gated heat dissipation
JP2007019154A (en) * 2005-07-06 2007-01-25 Yamaha Corp Semiconductor device and its manufacturing method
JP2007258343A (en) * 2006-03-22 2007-10-04 Denso Corp Mold package

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140166352A1 (en) * 2011-09-26 2014-06-19 Nec Corporation Hollow sealing structure
US9125311B2 (en) * 2011-09-26 2015-09-01 Nec Corporation Hollow sealing structure
JP2018142617A (en) * 2017-02-28 2018-09-13 三菱電機株式会社 Semiconductor device and manufacturing method for the same

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