JP2013065646A - System and method for manufacturing light emitting element, and system and method for manufacturing light emitting element package - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide: a system and method for manufacturing a light emitting element, capable of improving production yield and area productivity by making light emission characteristics uniform; and a system and method for manufacturing a light emitting element package including the light emitting element mounted on a substrate.SOLUTION: A light emitting element package includes an LED element having a top face coated with a resin including a phosphor. When, in manufacturing the light emitting element package, resin supply for discharging a resin to supply to an LED element which is taken out from an LED wafer to be rearranged in a predetermined alignment on an element holding face is performed, a translucent member to which the resin is supplied on trial for use in measurement of light emission characteristics is irradiated with excitation light from a light source to measure light emission characteristics of light emitted from the resin, and a proper resin supply amount is corrected on the basis of the measurement result and previously specified light emission characteristics to derive the proper resin supply amount of a resin to be supplied to the LED element for actual production.

Description

本発明は、LED素子を蛍光体を含む樹脂によって被覆してなる発光素子およびこの発光素子を基板に実装して構成された発光素子パッケージを製造する発光素子の製造システムおよび製造方法ならびに発光素子パッケージの製造システムおよび製造方法に関するものである。   The present invention relates to a light emitting element obtained by coating an LED element with a resin containing a phosphor, a light emitting element manufacturing system and a manufacturing method for manufacturing a light emitting element package configured by mounting the light emitting element on a substrate, and a light emitting element package. The present invention relates to a manufacturing system and a manufacturing method.

近年、各種の照明装置の光源として、消費電力が少なく長寿命であるという優れた特性を有するLED(発光ダイオード)が、広範囲で用いられるようになっている。LED素子が発する基本光は、現在のところ赤、緑、青の3つに限られているため、一般的な照明用途として好適な白色光を得るためには、上述の3つの基本光を加色混合することによって白色光を得る方法や、青色LEDと青色と補色関係にある黄色の蛍光を発する蛍光体とを組み合わせることにより疑似白色光を得る方法などが用いられる。近年は後者の方法が広く用いられるようになっており、青色LEDとYAG蛍光体を組み合わせたLEDパッケージを用いた照明装置が、液晶パネルのバックライトなどに用いられるようになっている(例えば特許文献1参照)。   In recent years, LEDs (light emitting diodes) having excellent characteristics of low power consumption and long life have been widely used as light sources for various lighting devices. Since the basic light emitted from the LED element is currently limited to three colors of red, green, and blue, in order to obtain white light suitable for general lighting applications, the above three basic lights are added. A method of obtaining white light by color mixing, a method of obtaining pseudo white light by combining a blue LED and a phosphor emitting yellow fluorescence having a complementary color relationship with blue are used. In recent years, the latter method has been widely used, and an illumination device using an LED package in which a blue LED and a YAG phosphor are combined has been used for a backlight of a liquid crystal panel (for example, a patent). Reference 1).

この特許文献例においては、側壁に反射面が形成された凹状の実装部の底面にLED素子を実装した後、実装部内にYAG系蛍光体粒子が分散された実装部内にYAG系蛍光体粒子が分散されたシリコーン樹脂やエポキシ樹脂などを注入して樹脂包装部を形成することにより、LEDパッケージを構成するようにしている。そして、樹脂注入後の実装部内における樹脂包装部の高さを均一にすることを目的として、規定量以上に注入された剰余樹脂を実装部から排出して貯留するための剰余樹脂貯蔵部を形成する例が記載されている。これにより、樹脂注入時にディスペンサからの吐出量がばらついている場合にあっても、LED素子上には一定の樹脂量を有し規定高さの樹脂包装部が形成される。   In this patent document example, after mounting an LED element on the bottom surface of a concave mounting portion having a reflective surface formed on a side wall, YAG phosphor particles are placed in a mounting portion in which YAG phosphor particles are dispersed in the mounting portion. An LED package is configured by injecting dispersed silicone resin, epoxy resin, or the like to form a resin packaging portion. And, for the purpose of uniforming the height of the resin packaging part in the mounting part after the resin injection, a residual resin storage part for discharging and storing the surplus resin injected more than a specified amount from the mounting part is formed. An example is given. As a result, even when the discharge amount from the dispenser varies at the time of resin injection, a resin packaging portion having a certain resin amount and a specified height is formed on the LED element.

特開2007−66969号公報JP 2007-66969 A

しかしながら上述の先行技術例においては、個々のLED素子における発光波長のばらつきに起因して、製品となるLEDパッケージの発光特性がばらつくという問題があった。すなわちLED素子は複数の素子をウェハ上に一括して作り込む製造過程を経ており、この製造過程における種々の誤差要因、例えばウェハにおける膜形成時の組成の不均一などに起因して、ウェハ状態から個片に分割されたLED素子には、発光波長のばらつきが生じることが避けられない。そして上述例では、LED素子を覆う樹脂包装部の高さは均一に設定されていることから、個片のLED素子における発光波長のばらつきは、そのまま製品としてのLEDパッケージの発光特性のばらつきに反映され、結果として品質許容範囲から逸脱する不良品の増加を余儀なくされていた。   However, in the above-described prior art examples, there is a problem that the light emission characteristics of the LED package as a product vary due to variations in light emission wavelengths of individual LED elements. In other words, the LED element has undergone a manufacturing process in which a plurality of elements are formed on the wafer at the same time, and due to various error factors in this manufacturing process, such as non-uniform composition during film formation on the wafer, the wafer state Inevitably, variations in emission wavelength occur in the LED elements divided into individual pieces. And in the above-mentioned example, since the height of the resin wrapping part covering the LED element is set uniformly, the variation in the emission wavelength in the individual LED element is directly reflected in the variation in the emission characteristic of the LED package as a product. As a result, the number of defective products deviating from the acceptable quality range has been inevitably increased.

さらに上述例を含め従来後述においては、蛍光体を含む樹脂の塗布は個片のLED素子をパッケージ基板に実装した後に行われていたことから、樹脂の塗布形態は各パッケージ基板毎に樹脂を吐出するようにしていた。このため樹脂塗布装置においてはパッケージ基板の集合体を作業対象とすることとなり、装置専有面積が増大して面積生産性が低下するとともに、樹脂塗布用のノズルの移動に時間を要し、生産効率の低下を招く結果となっていた。   Further, in the following description, including the above-described example, since the application of the resin containing the phosphor is performed after the individual LED elements are mounted on the package substrate, the resin application form is a resin discharge for each package substrate. I was trying to do it. For this reason, in the resin coating device, the assembly of package substrates will be the target of work, the area occupied by the device will increase, the area productivity will decrease, and it will take time to move the nozzle for resin coating, resulting in production efficiency. It was a result that caused the decline of.

そこで本発明は、発光特性を均一にして生産歩留まりおよび面積生産性を向上させることができる発光素子の製造システムおよび製造方法ならびにこの発光素子を基板に実装して構成された発光素子パッケージの製造システムおよび製造方法を提供することを目的とする。   Accordingly, the present invention provides a light emitting device manufacturing system and manufacturing method capable of improving the production yield and area productivity by making the light emitting characteristics uniform, and a light emitting device package manufacturing system configured by mounting the light emitting device on a substrate. And it aims at providing a manufacturing method.

本発明の発光素子の製造システムは、LED素子の上面を蛍光体を含む樹脂で被覆してなる発光素子を製造する発光素子の製造システムであって、前記LED素子が複数作り込まれダイシングシートに貼着された状態のLEDウェハをLED素子毎に分割するダイシング装置と、前記ダイシングシートに貼着保持された状態で個片に分割された前記LED素子の発光特性を個別に測定して、各LED素子の発光特性を示す素子特性情報を求める素子特性測定部と、前記分割されたLED素子の前記LEDウェハにおける位置を示す素子位置情報と当該LED素子についての前記素子特性情報とを関連付けたマップデータを前記LEDウェハ毎に作成するマップデータ作成部と、前記LED素子を素子保持面に前記マップデータに基づいて所定の配列で並び替える素子再配列部と、規定の発光特性を具備したLED素子を得るための前記樹脂の適正樹脂供給量と前記素子特性情報とを対応させた情報を樹脂供給情報として提供する樹脂情報提供手段と、前記素子再配列部による並び替え後のLED素子の配列を示す素子配列情報と前記樹脂供給情報に基づき、規定の発光特性を具備するための適正樹脂供給量の前記樹脂を、前記素子保持面に保持された各LED素子に供給する樹脂供給装置と、前記LED素子に供給された前記樹脂を硬化させるキュア装置とを備え、前記樹脂供給装置は、前記樹脂を供給量を可変に吐出して任意の供給対象位置に供給する樹脂供給部と、前記樹脂供給部を制御することにより、前記樹脂を発光特性測定用として透光部材に試し供給する測定用供給処理および実生産用として前記LED素子に供給する生産用供給処理を実行させる供給制御部と、前記蛍光体を励起する励起光を発光する光源部と、前記測定用供給処理において前記樹脂が試し供給された透光部材が載置される透光部材載置部と、前記光源部から発光された励起光を前記透光部材に供給された樹脂に照射することによりこの樹脂が発する光の発光特性を測定する発光特性測定部と、前記発光特性測定部の測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて前記適正樹脂供給量を補正することにより、前記LED素子に供給されるべき実生産用の適正樹脂供給量を導出する供給量導出処理部と、前記導出された適正樹脂供給量を前記供給制御部に指令することにより、この適正樹脂供給量の樹脂をLED素子に供給する生産用供給処理を実行させる生産実行処理部とを備えた。   The light emitting device manufacturing system of the present invention is a light emitting device manufacturing system for manufacturing a light emitting device in which an upper surface of an LED device is coated with a resin containing a phosphor, and a plurality of the LED devices are formed into a dicing sheet. A dicing device that divides the LED wafer in a state of being attached for each LED element, and individually measures the light emission characteristics of the LED elements that are divided into pieces while being attached to the dicing sheet. An element characteristic measuring unit for obtaining element characteristic information indicating the light emission characteristic of the LED element, a map in which element position information indicating the position of the divided LED element on the LED wafer and the element characteristic information on the LED element are associated with each other A map data creation unit that creates data for each LED wafer, and a predetermined element based on the map data on the element holding surface of the LED element Resin information that provides information as the resin supply information, in which the element rearrangement unit that rearranges the array and the appropriate resin supply amount of the resin for obtaining the LED element having the prescribed light emission characteristics and the element characteristic information are associated with each other Based on element arrangement information indicating the arrangement of the LED elements after rearrangement by the element rearrangement unit and the resin supply information, the resin having an appropriate resin supply amount for providing a predetermined light emission characteristic, A resin supply device that supplies the LED elements held on the element holding surface, and a curing device that cures the resin supplied to the LED elements. The resin supply device can vary the supply amount of the resin. A resin supply unit that discharges and supplies the resin to an arbitrary supply target position, and a measurement supply process that controls the resin supply unit to supply the resin to the translucent member for light emission characteristic measurement. In addition, the supply control unit that executes the supply process for production to be supplied to the LED element for actual production, the light source unit that emits the excitation light that excites the phosphor, and the resin is trial-supplied in the supply process for measurement. The translucent member mounting portion on which the translucent member is placed, and the light emission characteristics of the light emitted by the resin by irradiating the resin supplied to the translucent member with the excitation light emitted from the light source unit By correcting the appropriate resin supply amount on the basis of the light emission characteristic measurement unit to be measured, the measurement result of the light emission characteristic measurement unit, and the light emission characteristic defined in advance, for the actual production to be supplied to the LED element A supply amount deriving processing unit for deriving an appropriate resin supply amount, and a production supply process for supplying the LED with the appropriate resin supply amount to the LED element by instructing the derived control resin supply amount to the supply control unit. And a production execution processing unit for executing the processing.

本発明の発光素子の製造方法は、LED素子の上面を蛍光体を含む樹脂で被覆してなる発光素子を製造する発光素子の製造方法であって、前記LED素子が複数作り込まれダイシングシートに貼着された状態のLEDウェハをLED素子毎に分割するダイシング工程と、前記ダイシングシートに貼着保持された状態で個片に分割された前記LED素子の発光特性を個別に測定して、各LED素子の発光特性を示す素子特性情報を求める素子特性測定工程と、前記分割されたLED素子の前記LEDウェハにおける位置を示す素子位置情報と当該LED素子についての前記素子特性情報とを関連付けたマップデータを、前記LEDウェハ毎に作成するマップデータ作成工程と、前記LED素子を素子保持面に前記マップデータに基づいて所定の配列で並び替える素子再配列工程と、規定の発光特性を具備したLED素子を得るための前記樹脂の適正樹脂供給量と前記素子特性情報とを対応させた情報を樹脂供給情報として入手する樹脂情報入手工程と、前記素子再配列工程による並び替え後のLED素子の配列を示す素子配列情報と前記樹脂供給情報に基づき、規定の発光特性を具備するための適正樹脂供給量の前記樹脂を、前記素子保持面に保持された各LED素子に供給する樹脂供給工程と、前記LED素子に供給された前記樹脂を硬化させるキュア工程とを含み、さらに前記樹脂供給工程は、前記樹脂を供給量を可変に吐出する樹脂供給部によって、前記樹脂を発光特性測定用として透光部材に試し供給する測定用供給ステップと、前記樹脂が試し供給された透光部材を透光部材載置部に載置する透光部材載置ステップと、前記蛍光体を励起する励起光を発光する光源部から発光された励起光を前記透光部材に供給された樹脂に照射することによりこの樹脂が発する光の発光特性を測定する発光特性測定ステップと、前記発光特性測定ステップにおける測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて前記適正樹脂供給量を補正することにより、前記LED素子に供給されるべき実生産用の適正樹脂供給量を導出する供給量導出処理ステップと、前記導出された適正樹脂供給量を前記樹脂供給部を制御する供給制御部に指令することにより、この適正樹脂供給量の樹脂をLED素子に供給する生産用供給処理を実行させる生産実行ステップとを含む。   The light emitting device manufacturing method of the present invention is a light emitting device manufacturing method for manufacturing a light emitting device in which an upper surface of an LED device is coated with a resin containing a phosphor, and a plurality of the LED devices are formed into a dicing sheet. A dicing step of dividing the LED wafer in the stuck state for each LED element, and individually measuring the light emission characteristics of the LED elements divided into pieces while being stuck to the dicing sheet, A map in which element characteristic measurement step for obtaining element characteristic information indicating the light emission characteristic of the LED element, element position information indicating the position of the divided LED element on the LED wafer, and the element characteristic information for the LED element are associated with each other. A map data creation step for creating data for each LED wafer, and a predetermined holding based on the map data on the element holding surface of the LED element Resin information for obtaining, as resin supply information, an element rearrangement step that rearranges the elements in a row, and information that associates the appropriate resin supply amount of the resin and the element characteristic information for obtaining an LED element having a prescribed light emission characteristic Based on the element arrangement information indicating the arrangement of the LED elements after rearrangement by the element rearrangement process and the resin supply information, the resin with an appropriate resin supply amount for providing a predetermined light emission characteristic, A resin supply step for supplying each LED element held on the element holding surface; and a curing step for curing the resin supplied to the LED element. The resin supply step further varies the supply amount of the resin. A measurement supplying step for supplying the resin to the translucent member as a light emission characteristic measurement by a resin supply unit that discharges the liquid to the translucent member; By irradiating the resin supplied to the translucent member with the translucent member mounting step for mounting on the mounting unit and the excitation light emitted from the light source unit that emits the excitation light for exciting the phosphor. A light emission characteristic measuring step for measuring light emission characteristics of light emitted by the resin, and correcting the appropriate resin supply amount based on a measurement result in the light emission characteristic measurement step and a predetermined light emission characteristic, thereby allowing the LED element to A supply amount deriving processing step for deriving an appropriate resin supply amount for actual production to be supplied, and instructing the derived appropriate resin supply amount to a supply control unit that controls the resin supply unit A production execution step for executing a production supply process for supplying a supply amount of resin to the LED element.

本発明の発光素子パッケージの製造システムは、LED素子の上面を蛍光体を含む樹脂で予め被覆してなる発光素子を基板に実装して構成された発光素子パッケージを製造する発光素子パッケージ製造システムであって、前記LED素子が複数作り込まれダイシングシートに貼着された状態のLEDウェハをLED素子毎に分割するダイシング装置と、前記ダイシングシートに貼着保持された状態で個片に分割された前記LED素子の発光特性を個別に測定して、各LED素子の発光特性を示す素子特性情報を求める素子特性測定部と、前記分割されたLED素子の前記LEDウェハにおける位置を示す素子位置情報と当該LED素子についての前記素子特性情報とを関連付けたマップデータを、前記LEDウェハ毎に作成するマップデータ作成部と、前記LED素子を素子保持面に前記マップデータに基づいて所定の配列で並び替える素子再配列部と、規定の発光特性を具備したLED素子を得るための前記樹脂の適正樹脂供給量と前記素子特性情報とを対応させた情報を樹脂供給情報として提供する樹脂情報提供手段と、前記素子再配列部による並び替え後のLED素子の配列を示す素子配列情報と前記樹脂供給情報に基づき、規定の発光特性を具備するための適正樹脂供給量の前記樹脂を、前記素子保持面に保持された各LED素子に供給する樹脂供給装置と、前記LED素子に供給された前記樹脂を硬化させて前記発光素子を完成させるキュア装置と、前記発光素子を基板に実装する部品実装装置とを備え、前記樹脂供給装置は、前記樹脂を供給量を可変に吐出して任意の供給対象位置に供給する樹脂供給部と、前記樹脂供給部を制御することにより、前記樹脂を発光特性測定用として透光部材に試し供給する測定用供給処理および実生産用として前記LED素子に供給する生産用供給処理を実行させる供給制御部と、前記蛍光体を励起する励起光を発光する光源部と、前記測定用供給処理において前記樹脂が試し供給された透光部材が載置される透光部材載置部と、前記光源部から発光された励起光を前記透光部材に供給された樹脂に照射することによりこの樹脂が発する光の発光特性を測定する発光特性測定部と、前記発光特性測定部の測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて前記適正樹脂供給量を補正することにより、前記LED素子に供給されるべき実生産用の適正樹脂供給量を導出する供給量導出処理部と、前記導出された適正樹脂供給量を前記供給制御部に指令することにより、この適正樹脂供給量の樹脂をLED素子に供給する生産用供給処理を実行させる生産実行処理部とを備えた。   The light emitting device package manufacturing system of the present invention is a light emitting device package manufacturing system for manufacturing a light emitting device package configured by mounting on a substrate a light emitting device in which an upper surface of an LED device is previously coated with a resin containing a phosphor. In addition, a dicing apparatus that divides the LED wafer in a state where a plurality of the LED elements are formed and adhered to the dicing sheet for each LED element, and the LED wafer that is adhered and held on the dicing sheet is divided into pieces. An element characteristic measurement unit that individually measures the light emission characteristics of the LED elements and obtains element characteristic information indicating the light emission characteristics of each LED element; element position information indicating the position of the divided LED elements on the LED wafer; Map data for creating, for each LED wafer, map data associated with the element characteristic information of the LED element An appropriate resin supply amount of the resin for obtaining an LED element having a predetermined light emitting characteristic, and an element rearrangement part that rearranges the LED element in a predetermined arrangement based on the map data on the element holding surface. Based on the resin supply information, resin information providing means for providing information associating the element characteristic information with the element characteristic information, element arrangement information indicating the arrangement of the LED elements rearranged by the element rearrangement unit, and the resin supply information A resin supply device that supplies an appropriate resin supply amount of the resin for providing the prescribed light emission characteristics to each LED element held on the element holding surface; and the resin supplied to the LED element is cured. A curing device that completes the light emitting element, and a component mounting device that mounts the light emitting element on a substrate, wherein the resin supply device discharges the resin in a variable amount so as to arbitrarily discharge the resin. By supplying a resin supply unit to be supplied to the supply target position and controlling the resin supply unit, the resin is supplied to the translucent member as a test light emission characteristic measurement and supplied to the LED element for actual production. A supply control unit that executes a supply process for production, a light source unit that emits excitation light that excites the phosphor, and a translucent member on which the resin is trial-supplied in the measurement supply process. An optical member mounting unit; an emission characteristic measuring unit that measures an emission characteristic of light emitted by the resin by irradiating the resin supplied to the translucent member with excitation light emitted from the light source unit; By correcting the appropriate resin supply amount based on the measurement result of the characteristic measurement unit and the predetermined light emission characteristics, a supply amount guide for deriving an appropriate resin supply amount for actual production to be supplied to the LED element is obtained. An output processing unit, and a production execution processing unit for executing a production supply process for supplying the resin of the appropriate resin supply amount to the LED element by instructing the derived control resin supply amount to the supply control unit. Prepared.

本発明の発光素子パッケージの製造方法は、LED素子の上面を蛍光体を含む樹脂で予め被覆してなる発光素子を基板に実装して構成された発光素子パッケージを製造する発光素子パッケージ製造方法であって、前記LED素子が複数作り込まれダイシングシートに貼着された状態のLEDウェハをLED素子毎に分割するダイシング工程と、前記ダイシングシートに貼着保持された状態で個片に分割された前記LED素子の発光特性を個別に測定して、各LED素子の発光特性を示す素子特性情報を求める素子特性測定工程と、前記分割されたLED素子の前記LEDウェハにおける位置を示す素子位置情報と当該LED素子についての前記素子特性情報とを関連付けたマップデータを、前記LEDウェハ毎に作成するマップデータ作成工程と、前記LED素子を素子保持面に前記マップデータに基づいて所定の配列で並び替える素子再配列工程と、規定の発光特性を具備したLED素子を得るための前記樹脂の適正樹脂供給量と前記素子特性情報とを対応させた情報を樹脂供給情報として入手する樹脂情報入手工程と、前記素子再配列工程による並び替え後のLED素子の配列を示す素子配列情報と前記樹脂供給情報に基づき、規定の発光特性を具備するための適正樹脂供給量の前記樹脂を、前記素子保持面に保持された各LED素子に供給する樹脂供給工程と、前記LED素子に供給された前記樹脂を硬化させるキュア工程と、前記発光素子を基板に実装する部品実装工程とを含み、さらに前記樹脂供給工程は、前記樹脂を供給量を可変に吐出する樹脂供給部によって、前記樹脂を発光特性測定用として透光部材に試し供給する測定用供給ステップと、前記樹脂が試し供給された透光部材を透光部材載置部に載置する透光部材載置ステップと、前記蛍光体を励起する励起光を発光する光源部から発光された励起光を前記透光部材に供給された樹脂に照射することによりこの樹脂が発する光の発光特性を測定する発光特性測定ステップと、前記発光特性測定ステップにおける測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて前記適正樹脂供給量を補正することにより、前記LED素子に供給されるべき実生産用の適正樹脂供給量を導出する供給量導出処理ステップと、前記導出された適正樹脂供給量を前記樹脂供給部を制御する供給制御部に指令することにより、この適正樹脂供給量の樹脂をLED素子に供給する生産用供給処理を実行させる生産実行ステップとを含む。   The light emitting device package manufacturing method of the present invention is a light emitting device package manufacturing method for manufacturing a light emitting device package configured by mounting a light emitting device in which an upper surface of an LED device is previously coated with a resin containing a phosphor on a substrate. A dicing step of dividing the LED wafer in a state in which a plurality of the LED elements are formed and adhered to the dicing sheet, and the LED wafer is divided into pieces in a state of being adhered and held on the dicing sheet. An element characteristic measuring step for individually measuring the light emission characteristics of the LED elements to obtain element characteristic information indicating the light emission characteristics of each LED element; element position information indicating a position of the divided LED elements on the LED wafer; Map data creation process for creating, for each LED wafer, map data associated with the element characteristic information of the LED element And an element rearrangement step of rearranging the LED elements on the element holding surface in a predetermined arrangement based on the map data, an appropriate resin supply amount of the resin for obtaining an LED element having a prescribed light emission characteristic, and the Based on the resin information acquisition step for obtaining information corresponding to the element characteristic information as the resin supply information, the element arrangement information indicating the arrangement of the LED elements after the rearrangement in the element rearrangement step, and the resin supply information. A resin supply step of supplying the resin with an appropriate resin supply amount for providing the light emission characteristics to each LED element held on the element holding surface, and a curing step of curing the resin supplied to the LED element And a component mounting step of mounting the light emitting element on a substrate, and the resin supply step includes a resin supply unit that variably discharges the supply amount of the resin. A measurement supply step for supplying fat to the light transmissive member as a light emission characteristic measurement; a light transmissive member placement step for placing the light transmissive member on which the resin is trial-fed on the light transmissive member placement portion; and A light emission characteristic measuring step for measuring the light emission characteristic of the light emitted by the resin by irradiating the resin supplied to the light transmitting member with the excitation light emitted from the light source unit that emits the excitation light for exciting the phosphor; Supply for deriving an appropriate resin supply amount for actual production to be supplied to the LED element by correcting the appropriate resin supply amount based on a measurement result in the light emission characteristic measurement step and a predetermined light emission characteristic A quantity deriving process step and a production of supplying the resin of the proper resin supply amount to the LED element by instructing the derived control resin supply amount to the supply control unit that controls the resin supply unit. A production execution step for executing the supply process.

本発明によれば、LED素子の上面を蛍光体を含む樹脂で被覆してなる発光素子の製造において、LEDウェハから取り出されて素子保持面に所定の配列で並び替えられたLED素子に樹脂を吐出して供給する樹脂供給に際し、樹脂を発光特性測定用として試し供給した透光部材に光源部から励起光を照射してこの樹脂が発する光の発光特性を測定し、この測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて適正樹脂供給量を補正して実生産用としてLED素子に供給されるべき樹脂の適正樹脂供給量を導出することにより、個片のLED素子の発光波長がばらつく場合にあっても、発光素子の発光特性を均一にして生産歩留まりおよび面積生産性を向上させることができる。   According to the present invention, in the manufacture of a light-emitting element in which the upper surface of an LED element is coated with a resin containing a phosphor, resin is applied to the LED elements taken out from the LED wafer and rearranged in a predetermined arrangement on the element holding surface. When supplying resin to be discharged and supplied, the light-emitting characteristics of the light emitted from the resin are measured by irradiating the light-transmitting member, which has been trial-supplied with the resin for light emission characteristics measurement, from the light source unit, and the measurement result and the pre-defined The emission wavelength of individual LED elements varies by deriving the appropriate resin supply amount to be supplied to the LED element for actual production by correcting the appropriate resin supply quantity based on the emitted light emission characteristics Even in this case, the light emitting characteristics of the light emitting element can be made uniform to improve the production yield and the area productivity.

本発明の一実施の形態の発光素子の製造システムの構成を示すブロック図The block diagram which shows the structure of the manufacturing system of the light emitting element of one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態の発光素子の製造システムの対象となるLEDウェハの構成説明図Structure explanatory drawing of the LED wafer used as the object of the manufacturing system of the light emitting element of one embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の発光素子の製造システムにおけるダイシング装置と素子特性測定装置の機能説明図Functional explanatory drawing of the dicing apparatus and the element characteristic measuring apparatus in the light emitting element manufacturing system of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の発光素子の製造システムにおいて用いられるマップデータの説明図Explanatory drawing of the map data used in the manufacturing system of the light emitting element of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の発光素子の製造システムにおいて用いられる樹脂供給情報の説明図Explanatory drawing of the resin supply information used in the manufacturing system of the light emitting element of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の発光素子の製造システムにおける素子再配列装置の機能説明図Functional explanatory drawing of the element rearrangement apparatus in the light emitting element manufacturing system of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の発光素子の製造システムにおける樹脂供給装置の構成説明図Structure explanatory drawing of the resin supply apparatus in the manufacturing system of the light emitting element of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の発光素子の製造システムにおける樹脂供給装置の機能説明図Functional explanatory drawing of the resin supply apparatus in the manufacturing system of the light emitting element of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の発光素子の製造システムにおける樹脂供給装置に備えられた発光特性検査機能の説明図Explanatory drawing of the light emission characteristic test | inspection function with which the resin supply apparatus in the manufacturing system of the light emitting element of one embodiment of this invention was equipped. 本発明の一実施の形態の発光素子の製造システムにおける樹脂供給装置に備えられた発光特性検査機能の説明図Explanatory drawing of the light emission characteristic test | inspection function with which the resin supply apparatus in the manufacturing system of the light emitting element of one embodiment of this invention was equipped. 本発明の一実施の形態の発光素子の製造システムにおけるキュア装置およびソーティング装置の機能説明図Functional explanatory diagram of the curing device and the sorting device in the light emitting element manufacturing system of one embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の発光素子の製造システムの制御系の構成を示すブロック図The block diagram which shows the structure of the control system of the manufacturing system of the light emitting element of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の発光素子パッケージの製造システムの構成を示すブロック図The block diagram which shows the structure of the manufacturing system of the light emitting element package of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の発光素子パッケージの製造システムによって製造される発光素子パッケージの構成説明図Structure explanatory drawing of the light emitting element package manufactured by the manufacturing system of the light emitting element package of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の発光素子パッケージの製造システムにおける部品実装装置の構成および機能の説明図Explanatory drawing of a structure and function of the component mounting apparatus in the manufacturing system of the light emitting element package of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の発光素子パッケージの製造システムによる発光素子パッケージ製造のフロー図FIG. 4 is a flowchart of manufacturing a light emitting device package by the light emitting device package manufacturing system according to the embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態の発光素子パッケージの製造システムにおける良品判定用のしきい値データ作成処理のフロー図FIG. 3 is a flow chart of threshold data creation processing for non-defective product determination in the light emitting device package manufacturing system according to the embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態の発光素子パッケージの製造システムにおける良品判定用のしきい値データの説明図Explanatory drawing of the threshold value data for good quality determination in the light emitting element package manufacturing system of one embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の発光素子パッケージの製造システムにおける良品判定用のしきい値データを説明する色度図Chromaticity diagram for explaining threshold data for non-defective product determination in a light emitting device package manufacturing system according to an embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の発光素子パッケージの製造システムによる発光素子パッケージ製造過程における樹脂供給作業処理のフロー図FIG. 3 is a flowchart of a resin supply work process in a light emitting element package manufacturing process by the light emitting element package manufacturing system according to the embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態の発光素子パッケージの製造システムによる発光素子パッケージ製造過程における樹脂供給作業処理の説明図Explanatory drawing of the resin supply work process in the light emitting element package manufacturing process by the light emitting element package manufacturing system of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の発光素子パッケージの製造システムによる発光素子パッケージ製造過程を示す工程説明図Process explanatory drawing which shows the light emitting element package manufacturing process by the light emitting element package manufacturing system of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の発光素子パッケージの製造システムによる発光素子パッケージ製造過程を示す工程説明図Process explanatory drawing which shows the light emitting element package manufacturing process by the light emitting element package manufacturing system of one embodiment of this invention

次に本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。まず図1を参照して、発光素子の製造システム1の構成を説明する。発光素子の製造システム1は、青色光を発光するLED素子の上面を、青色と補色関係にある黄色の励起光を発する蛍光体を含む樹脂で被覆してなる白色照明用の発光素子を製造する機能を有するものである。本実施の形態においては、図1に示すように、ダイシング装置M1、素子特性測定装置M2、素子再配列装置M3、樹脂供給装置M4、キュア装置M5およびソーティング装置M6の各装置をLANシステム2によって接続し、管理コンピュータ3によってこれらの各装置を統括して制御する構成となっている。   Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. First, with reference to FIG. 1, the structure of the manufacturing system 1 of a light emitting element is demonstrated. The light-emitting element manufacturing system 1 manufactures a light-emitting element for white illumination, in which the upper surface of an LED element that emits blue light is coated with a resin containing a phosphor that emits yellow excitation light that is complementary to blue. It has a function. In the present embodiment, as shown in FIG. 1, the dicing device M1, the element characteristic measuring device M2, the element rearranging device M3, the resin supply device M4, the curing device M5, and the sorting device M6 are connected by the LAN system 2. These devices are connected and controlled by the management computer 3 in an integrated manner.

ダイシング装置M1は、LED素子が複数作り込まれダイシングシートに貼着された状態のLEDウェハをLED素子毎に分割する。素子特性測定装置M2は素子特性測定部であり、ダイシングシートに貼着保持された状態で半導体層のみを個片に分割されたハーフカット状態のLED素子の発光特性を個別に測定して、各LED素子の発光特性を示す素子特性情報を求めるとともに、分割されたLED素子のLEDウェハにおける位置を示す素子位置情報と当該LED素子についての素子特性情報とを関連付けたマップデータをLEDウェハ毎に作成する処理を行う。   The dicing apparatus M1 divides the LED wafer in a state where a plurality of LED elements are formed and adhered to the dicing sheet for each LED element. The element characteristic measuring device M2 is an element characteristic measuring unit that individually measures the light emission characteristic of the LED element in a half-cut state in which only the semiconductor layer is divided into pieces while being stuck to the dicing sheet. While obtaining element characteristic information indicating the light emission characteristic of the LED element, map data that associates element position information indicating the position of the divided LED element on the LED wafer and element characteristic information about the LED element is created for each LED wafer. Perform the process.

素子再配列装置M3は素子再配列部であり、LEDウェハからLED素子を取り出して、素子保持面にマップデータに基づいて所定の配列で並び替える素子再配列処理を行う。樹脂供給装置M4は、素子再配列装置M3による並び替え後のLED素子の配列を示す素子配列情報と管理コンピュータ3からLANシステム2を介して伝達される樹脂供給情報、すなわち規定の発光特性を具備したLED素子を得るための蛍光体を含む樹脂の適正樹脂供給量と素子特性情報とを対応させた情報とに基づき、規定の発光特性を具備するための適正樹脂供給量の樹脂を、素子保持面に保持された各LED素子に供給する。   The element rearrangement device M3 is an element rearrangement unit, and performs an element rearrangement process in which LED elements are taken out from the LED wafer and rearranged in a predetermined arrangement on the element holding surface based on the map data. The resin supply device M4 has element arrangement information indicating the arrangement of the LED elements after rearrangement by the element rearrangement device M3 and resin supply information transmitted from the management computer 3 via the LAN system 2, that is, prescribed light emission characteristics. Based on the information that matches the appropriate resin supply amount of the resin containing the phosphor for obtaining the LED element and the element characteristic information, the element holding the resin of the appropriate resin supply amount for providing the prescribed light emission characteristics It supplies to each LED element hold | maintained on the surface.

キュア装置M5は、樹脂が供給されたLED素子を加熱することにより樹脂を硬化させる。これによりLED素子を蛍光体を含む樹脂の樹脂膜によって覆った構成の発光素子が形成される。なお、キュア装置M5としては、樹脂を加熱硬化させる替わりに、UV(紫外線)を照射することによって硬化を促進させる構成や、そのまま放置して自然硬化させる構成でもよい。ソーティング装置M6は、素子保持面に保持された複数の発光素子の発光特性を再度測定し、測定結果に基づいて複数の発光素子を所定の特性範囲毎にランク分けして、素子保持シートに分別移載する。   The curing device M5 cures the resin by heating the LED element supplied with the resin. Thereby, the light emitting element of the structure which covered the LED element with the resin film of resin containing fluorescent substance is formed. The curing device M5 may be configured to accelerate curing by irradiating UV (ultraviolet light) instead of heat curing the resin, or may be allowed to stand for natural curing. Sorting device M6 measures again the light emission characteristics of the plurality of light emitting elements held on the element holding surface, ranks the plurality of light emitting elements for each predetermined characteristic range based on the measurement results, and sorts them into element holding sheets. Transfer.

なお図1においては、ダイシング装置M1〜ソーティング装置M6の各装置を直列に配置して製造ラインを構成した例を示しているが、発光素子の製造システム1としては必ずしもこのようなライン構成を採用する必要はなく、以下の説明において述べる情報伝達が適切になされる限りにおいては、分散配置された各装置によってそれぞれの工程作業を順次実行する構成であってもよい。   Although FIG. 1 shows an example in which a manufacturing line is configured by arranging each of the dicing apparatus M1 to the sorting apparatus M6 in series, the light emitting element manufacturing system 1 does not necessarily adopt such a line configuration. However, as long as the information transmission described in the following description is appropriately performed, the configuration may be such that each process operation is sequentially executed by each of the distributed devices.

ここで図2を参照して、発光素子の製造システム1における作業対象となるLEDウェハ10、LED素子5について説明する。図2(a)に示すように、LEDウェハ10にはLED素子5が格子配列で複数作り込まれており、LEDウェハ10の下面はダイシングシート10aが貼着されている。LEDウェハ10には各LED素子5を区画するスクライブライン10bが設定されており、スクライブライン10bに沿ってLEDウェハ10を切断することにより、各個片のLED素子5がダイシングシート10aによって保持されたウェハ状態のLED素子5の集合体が形成される。なお発光素子の製造システム1におけるダイシング工程〜素子再配列工程では、LEDウェハ10はウェハホルダ4(図6参照)に保持された状態で、各作業や搬送が行われる。   Here, with reference to FIG. 2, the LED wafer 10 and the LED element 5 used as the operation | work object in the manufacturing system 1 of a light emitting element are demonstrated. As shown in FIG. 2A, a plurality of LED elements 5 are formed in a lattice arrangement on the LED wafer 10, and a dicing sheet 10 a is attached to the lower surface of the LED wafer 10. A scribe line 10b that partitions each LED element 5 is set on the LED wafer 10, and each LED element 5 is held by the dicing sheet 10a by cutting the LED wafer 10 along the scribe line 10b. An aggregate of the LED elements 5 in a wafer state is formed. In the dicing process to the element rearrangement process in the light emitting element manufacturing system 1, each operation and conveyance are performed while the LED wafer 10 is held by the wafer holder 4 (see FIG. 6).

図2(a)に示すように、LED素子5は、サファイア基板5a上にN型半導体5b、P型半導体5cを積層し、さらにP型半導体5cの表面を透明電極5dで覆って構成され、N型半導体5b、P型半導体5cにはそれぞれ外部接続用のN型部電極6a、P型部電極6bが形成されている。LED素子5は青色LEDであり、青色と補色関係にある黄色の蛍光を発する蛍光体を含んだ樹脂8(図7(b)参照)と組み合わせることにより、擬似白色光を得るようになっている。本実施の形態においては、前述のようにウェハ状態のLED素子5に対して樹脂供給装置M4によって樹脂8を供給するようにしている。   As shown in FIG. 2A, the LED element 5 is configured by stacking an N-type semiconductor 5b and a P-type semiconductor 5c on a sapphire substrate 5a, and further covering the surface of the P-type semiconductor 5c with a transparent electrode 5d. An N-type part electrode 6a and a P-type part electrode 6b for external connection are formed on the N-type semiconductor 5b and the P-type semiconductor 5c, respectively. The LED element 5 is a blue LED, and is combined with a resin 8 (see FIG. 7B) containing a fluorescent substance that emits yellow fluorescence that is complementary to blue, thereby obtaining pseudo white light. . In the present embodiment, as described above, the resin 8 is supplied to the LED element 5 in the wafer state by the resin supply device M4.

LED素子5は、製造過程における種々の誤差要因、例えばウェハにおける膜形成時の組成の不均一などに起因して、ウェハ状態から個片に分割されたLED素子5には、発光波長など発光特性にばらつきが生じることが避けられない。そしてこのようなLED素子5をそのまま照明用の発光素子として用いると、製品としての発光特性がばらつくこととなる。このような発光特性のばらつきに起因する品質不良を防止するため、本実施の形態においては、複数のLED素子5の発光特性をウェハ状態において素子特性測定装置M2によって測定し、各LED素子5と当該LED素子5の発光特性を示すデータとを対応させた素子特性情報を作成し、樹脂供給において各LED素子5の発光特性に応じた適正量の樹脂8を供給するようにしている。そして適正量の樹脂8を供給するために、後述する樹脂供給情報が予め準備される。   The LED element 5 is divided into individual pieces from the wafer state due to various error factors in the manufacturing process, for example, non-uniform composition during film formation on the wafer. It is inevitable that variations occur in the case. If such an LED element 5 is used as it is as a light emitting element for illumination, the light emission characteristics as a product will vary. In the present embodiment, in order to prevent such quality defects caused by variations in the light emission characteristics, the light emission characteristics of the plurality of LED elements 5 are measured by the element characteristic measuring device M2 in the wafer state, and each LED element 5 Element characteristic information corresponding to the data indicating the light emission characteristics of the LED elements 5 is created, and an appropriate amount of resin 8 corresponding to the light emission characteristics of each LED element 5 is supplied in resin supply. In order to supply an appropriate amount of resin 8, resin supply information described later is prepared in advance.

以下、発光素子の製造システム1を構成する各装置の構成および機能について、工程順に説明する。まずLEDウェハ10は、図3(a)に示すようにダイシング装置M1に送られる。そしてここで、レーザ切断機7によってLEDウェハ10にスクライブライン10bに沿ってダイシングシート10aまで到達するダイシング溝10cを形成することにより、LEDウェハ10は透明電極5d、P型半導体5c、N型半導体5b、サファイア基板5aが個片毎に積層されたLED素子5に分割される。なお、ダイシングの手法としては各種の方法を用いることができる。例えばダイシングソーによって機械的に切断する方法や、レーザ光によって除去する厚み領域を透明電極5d、P型半導体5c、N型半導体5bまでに止め、サファイア基板5aについてはレーザ光によって形成された脆化領域を折損させるフレーキングによって分割し、個片のLED素子5を得るようにしてもよい。   Hereinafter, the configuration and function of each device constituting the light emitting element manufacturing system 1 will be described in the order of steps. First, the LED wafer 10 is sent to the dicing apparatus M1 as shown in FIG. Then, by forming a dicing groove 10c reaching the dicing sheet 10a along the scribe line 10b on the LED wafer 10 by the laser cutting machine 7, the LED wafer 10 is made of the transparent electrode 5d, the P-type semiconductor 5c, and the N-type semiconductor. 5b, the sapphire substrate 5a is divided into the LED elements 5 stacked for each piece. Various methods can be used as the dicing method. For example, a method of mechanically cutting with a dicing saw, or a thickness region to be removed by laser light is stopped by the transparent electrode 5d, the P-type semiconductor 5c, and the N-type semiconductor 5b, and the sapphire substrate 5a is embrittled formed by laser light. The LED element 5 may be obtained by dividing the region by flaking that breaks the region.

次にダイシング後のLEDウェハ10は、図3(b)に示すように素子特性測定装置M2に送られ、ここでLED素子5の発光特性を示す素子特性が測定される。すなわち分光器11aをダイシングシート10aに貼着保持されたウェハ状態の複数のLED素子5のうち測定対象となるLED素子5の直上に位置させるとともに、電源装置9のプローブを当該LED素子5のN型部電極6a、P型部電極6bに接触させて、N型半導体5b、P型半導体5cに通電して発光させる。次いでこの光を分光分析して発光波長や発光強度などの所定項目について測定し、この測定結果を特性測定処理部11によって処理することにより、当該LED素子5の発光特性を示す素子特性情報が求められる。そしてこの素子特性測定は、LEDウェハ10を構成する全てのLED素子5について順次実行される。   Next, the LED wafer 10 after dicing is sent to the element characteristic measuring device M2 as shown in FIG. 3B, where the element characteristic indicating the light emission characteristic of the LED element 5 is measured. That is, the spectroscope 11a is positioned directly above the LED element 5 to be measured among the plurality of LED elements 5 in a wafer state that is adhered and held on the dicing sheet 10a, and the probe of the power supply device 9 is set to N of the LED element 5. The N-type semiconductor 5b and the P-type semiconductor 5c are energized to emit light in contact with the mold-type electrode 6a and the P-type electrode 6b. Subsequently, the light is spectrally analyzed to measure predetermined items such as emission wavelength and emission intensity, and the measurement result is processed by the characteristic measurement processing unit 11 to obtain element characteristic information indicating the emission characteristic of the LED element 5. It is done. And this element characteristic measurement is sequentially performed about all the LED elements 5 which comprise the LED wafer 10. FIG.

次に図4を参照して素子特性情報について説明する。図4(a)は、測定対象となるLED素子5について、予め参照データとして準備された発光波長の標準的な分布を示すものである。そしてこの分布における標準範囲に該当する波長範囲を複数の波長域に区分することにより、測定対象となった複数のLED素子5を、発光波長によってランク分けする。ここでは、波長範囲を5つに区分することにより設定されたランクのそれぞれに対応して、低波長側から順に、Binコード[1]、[2]、[3]、[4]、[5]が付与されている。そして素子特性測定装置M2による測定結果により、個別のLED素子5に対してBinコードが付与され、素子特性情報12として記憶部71(図12)に記憶される。   Next, element characteristic information will be described with reference to FIG. FIG. 4A shows a standard distribution of emission wavelengths prepared as reference data in advance for the LED element 5 to be measured. Then, by dividing the wavelength range corresponding to the standard range in this distribution into a plurality of wavelength ranges, the plurality of LED elements 5 to be measured are ranked according to the emission wavelength. Here, Bin codes [1], [2], [3], [4], [5] are assigned in order from the low wavelength side corresponding to each of the ranks set by dividing the wavelength range into five. ] Is given. And according to the measurement result by the element characteristic measuring apparatus M2, a Bin code | cord | chord is provided with respect to each LED element 5, and it memorize | stores in the memory | storage part 71 (FIG. 12) as element characteristic information 12.

図4(b)は、分割されたLED素子5のLEDウェハ10における位置を示す素子位置情報と当該LED素子5についての素子特性情報12とを関連付けたマップデータ18を示している。ここでは、素子位置情報としてLEDウェハ10におけるLED素子5のマトリクス配列におけるXセル座標18X、Yセル座標18Yを用いている。すなわち、マップデータ18はこの素子位置情報によって特定される個別のLED素子5に、素子特性測定装置M2の測定結果によって当該LED素子5に対して付与されたBinコード[1]、[2]、[3]、[4]、[5]のいずれかを対応させた構成となっており、ウェハ1D18aを指定することにより、個別のLEDウェハ10毎のマップデータ18を読み出すことができる。   FIG. 4B shows map data 18 in which element position information indicating the positions of the divided LED elements 5 on the LED wafer 10 and element characteristic information 12 about the LED elements 5 are associated with each other. Here, the X cell coordinates 18X and the Y cell coordinates 18Y in the matrix arrangement of the LED elements 5 on the LED wafer 10 are used as the element position information. That is, the map data 18 includes Bin codes [1], [2], which are assigned to the individual LED elements 5 specified by the element position information according to the measurement results of the element characteristic measuring device M2. [3], [4], and [5] are associated with each other, and the map data 18 for each individual LED wafer 10 can be read by designating the wafer 1D18a.

次に、上述の素子特性情報12に対応して予め準備される樹脂供給情報について、図5を参照して説明する。青色LEDとYAG系の蛍光体を組み合わせることにより白色光を得る構成の発光素子では、LED素子5が発光する青色光とこの青色光によって蛍光体が励起されて発光する黄色光との加色混合が行われることから、LED素子5の上面を覆う樹脂膜における蛍光体粒子の量が、製品の発光素子の正規の発光特性を確保する上で重要な要素となる。   Next, resin supply information prepared in advance corresponding to the element characteristic information 12 will be described with reference to FIG. In a light-emitting element configured to obtain white light by combining a blue LED and a YAG phosphor, additive color mixing of blue light emitted from the LED element 5 and yellow light emitted by the phosphor being excited by the blue light Therefore, the amount of the phosphor particles in the resin film covering the upper surface of the LED element 5 is an important factor in securing the normal light emission characteristics of the light emitting element of the product.

上述のように、同時に作業対象となる複数のLED素子5の発光波長には、Binコード[1]、[2]、[3]、[4]、[5]によって分類されるばらつきが存在することから、LED素子5を覆って供給される樹脂8中の蛍光体粒子の適正量は、Binコード[1]、[2]、[3]、[4]、[5]に応じて異なったものとなる。本実施の形態において準備される樹脂供給情報19では、図5に示すように、シリコーン樹脂やエポキシ樹脂などにYAG系の蛍光体粒子を含有させた樹脂8のBin分類別適正樹脂供給量を、nl(ナノリットル)単位で、Binコード区分17に応じて予め規定している。すなわち、LED素子5を覆って樹脂8を樹脂供給情報19に示される適正樹脂供給量だけ正確に供給すると、LED素子5を覆う樹脂中の蛍光体粒子の量は適正な蛍光体粒子供給量となり、これにより樹脂8が熱硬化した後に完成品に求められる正規の発光波長が確保される。   As described above, there are variations classified by the Bin codes [1], [2], [3], [4], and [5] in the emission wavelengths of the plurality of LED elements 5 that are simultaneously operated. Therefore, the appropriate amount of the phosphor particles in the resin 8 supplied to cover the LED element 5 differs depending on the Bin codes [1], [2], [3], [4], and [5]. It will be a thing. In the resin supply information 19 prepared in the present embodiment, as shown in FIG. 5, the appropriate resin supply amount for each Bin classification of the resin 8 in which YAG phosphor particles are contained in a silicone resin or an epoxy resin, It is defined in advance according to the Bin code section 17 in units of nl (nanoliter). That is, when the LED 8 is covered and the resin 8 is accurately supplied by the appropriate resin supply amount indicated by the resin supply information 19, the amount of the phosphor particles in the resin covering the LED element 5 becomes an appropriate phosphor particle supply amount. Thus, the regular emission wavelength required for the finished product after the resin 8 is thermally cured is ensured.

ここでは、蛍光体濃度欄16に示すように、樹脂8中の蛍光体粒子の濃度を示す蛍光体濃度を複数通り(ここではD1(5%),D2(10%),D3(15%)の3通り)に設定し、適正樹脂供給量も使用する樹脂8の蛍光体濃度に応じて異なる数値を用いるようにしている。すなわち、蛍光体濃度D1の樹脂8を供給する場合には、Binコード[1]、[2]、[3]、[4]、[5]のそれぞれについて、適正樹脂供給量VA0、VB0,VC0,VD0,VE0(適正樹脂供給量15(1))の樹脂8を供給する。同様に、蛍光体濃度D2の樹脂8を供給する場合には、Binコード[1]、[2]、[3]、[4]、[5]のそれぞれについて、適正樹脂供給量VF0、VG0,VH0,VJ0,VK0(適正樹脂供給量15(2))の樹脂8を供給する。また蛍光体濃度D3の樹脂8を供給する場合には、Binコード[1]、[2]、[3]、[4]、[5]のそれぞれについて、適正樹脂供給量VL0、VM0,VN0,VP0,VR0(適正樹脂供給量15(3))の樹脂8を供給する。このように異なった複数の蛍光体濃度毎にそれぞれ適正樹脂供給量を設定するのは、発光波長のばらつきの程度に応じて最適の蛍光体濃度の樹脂8を供給するのが品質確保の上で、より好ましいからである。   Here, as shown in the phosphor concentration column 16, there are a plurality of phosphor concentrations indicating the concentration of the phosphor particles in the resin 8 (here, D1 (5%), D2 (10%), D3 (15%)). 3), and an appropriate resin supply amount is also used depending on the phosphor concentration of the resin 8 to be used. That is, when the resin 8 having the phosphor concentration D1 is supplied, the appropriate resin supply amounts VA0, VB0, and VC0 for the bin codes [1], [2], [3], [4], and [5], respectively. , VD0, VE0 (appropriate resin supply amount 15 (1)) of resin 8 is supplied. Similarly, when the resin 8 having the phosphor concentration D2 is supplied, the appropriate resin supply amounts VF0, VG0, VG0, Bin code [1], [2], [3], [4], and [5], respectively. Resin 8 of VH0, VJ0, VK0 (appropriate resin supply amount 15 (2)) is supplied. When the resin 8 having the phosphor concentration D3 is supplied, the appropriate resin supply amounts VL0, VM0, VN0, and Bin codes [1], [2], [3], [4], and [5], respectively. Resin 8 of VP0, VR0 (appropriate resin supply amount 15 (3)) is supplied. In order to ensure quality, the appropriate resin supply amount is set for each of the plurality of different phosphor concentrations as described above in order to ensure quality by supplying the resin 8 having the optimum phosphor concentration according to the degree of variation in the emission wavelength. This is because it is more preferable.

次に図6を参照して、素子再配列装置M3の機能および素子再配列装置M3によって生成される素子配列情報について説明する。図6(a)に示すように、素子再配列装置M3は、ウェハホルダ4に保持されたLEDウェハ10から、発光特性測定後のLED素子5を素子移載機構94(図12参照)によって取り出して、素子保持部材20の上面に形成された素子保持面20aに、マップデータ18および予め設定された配列パターンデータ91a(図12参照)に基づいて、所定の配列で並び替える機能を有している。   Next, the function of the element rearrangement device M3 and the element arrangement information generated by the element rearrangement device M3 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 6A, the element rearrangement device M3 takes out the LED element 5 after measuring the light emission characteristics from the LED wafer 10 held by the wafer holder 4 by the element transfer mechanism 94 (see FIG. 12). The element holding surface 20a formed on the upper surface of the element holding member 20 has a function of rearranging in a predetermined arrangement based on the map data 18 and preset arrangement pattern data 91a (see FIG. 12). .

本実施の形態においては、LED素子5への樹脂8の供給は、LED素子5をLEDウェハ10から取り出して、素子保持部材20の素子保持面20aに保持させた状態で行うようにしている。これにより、ウェハ状態においては位置が固定された各LED素子5を、樹脂供給装置M4による樹脂供給作業を効率よく実行するための望ましい配列に再配列して素子保持部材20に保持させことができる。なお図6(a)では、1つのLEDウェハ10に対して1つの素子保持部材20のみを対応させた例を示しているが、必要に応じて複数の素子保持部材20を対応させるようにしてもよい。   In the present embodiment, the supply of the resin 8 to the LED element 5 is performed in a state where the LED element 5 is taken out from the LED wafer 10 and held on the element holding surface 20 a of the element holding member 20. Thereby, in the wafer state, the LED elements 5 whose positions are fixed can be rearranged in a desirable arrangement for efficiently performing the resin supply operation by the resin supply device M4 and can be held by the element holding member 20. . FIG. 6A shows an example in which only one element holding member 20 is associated with one LED wafer 10, but a plurality of element holding members 20 are associated with each other as necessary. Also good.

図6(b)に示す素子配列情報118は、配列パターンデータ91aの一パターン例によって再配列された素子配列を示している。素子配列情報118においては、素子保持部材20に設定されるLED素子5の配列位置を特定するXセル座標118X、Yセル座標118Yに対応して、それぞれの配列位置に移載されるLED素子5のBinコードの種別が規定される。すなわち、ここに示すパターン例では、1つの素子保持部材20に同一のBinコード(ここでは[1])に対応するLED素子5のみを配列するようにしている。なお配列パターンの設定は任意であり、同一の素子保持部材20に複数種別のBinコードを組み合わせるようにしてもよく、またBinコードの組み合わせのほか、配列方向や配列ピッチなどを樹脂供給装置M4の特性に応じて任意に設定することができる。   The element array information 118 shown in FIG. 6B indicates the element array rearranged according to one pattern example of the array pattern data 91a. In the element array information 118, the LED elements 5 transferred to the respective array positions corresponding to the X cell coordinates 118X and the Y cell coordinates 118Y that specify the array positions of the LED elements 5 set in the element holding member 20 are used. The type of Bin code is defined. That is, in the pattern example shown here, only one LED element 5 corresponding to the same Bin code (here, [1]) is arranged on one element holding member 20. The setting of the arrangement pattern is arbitrary, and a plurality of types of Bin codes may be combined with the same element holding member 20. In addition to the combination of Bin codes, the arrangement direction and arrangement pitch of the resin supply device M4 It can be set arbitrarily according to the characteristics.

次に図7、図8を参照して、樹脂供給装置M4の構成および機能について説明する。樹脂供給装置M4は、素子再配列装置M3による並び替え後のLED素子5の配列を示す素子配列情報118と樹脂供給情報19に基づき、規定の発光特性を具備するための適正樹脂供給量の樹脂8を、素子保持部材20の素子保持面20aに保持された各LED素子5に供給する機能を有するものである。図7(a)の平面図に示すように、樹脂供給装置M4は作業対象のLED素子5を保持する素子保持部材20を搬送する搬送機構31に、図7(b)にA−A断面にて示す樹脂供給部Aを配設した構成となっている。   Next, the configuration and function of the resin supply device M4 will be described with reference to FIGS. The resin supply device M4 is a resin having an appropriate resin supply amount for providing prescribed light emission characteristics based on the element arrangement information 118 indicating the arrangement of the LED elements 5 after the rearrangement by the element rearrangement device M3 and the resin supply information 19. 8 is supplied to each LED element 5 held on the element holding surface 20 a of the element holding member 20. As shown in the plan view of FIG. 7A, the resin supply device M4 is connected to the transport mechanism 31 that transports the element holding member 20 that holds the LED element 5 to be worked. The resin supply unit A shown in FIG.

本実施の形態においては、樹脂供給部Aとして樹脂8をインクジェット方式によって吐出させる樹脂吐出装置が用いられている。すなわち樹脂供給部Aには、印刷ヘッド32が長手方向をX方向(搬送機構31における搬送方向)に向けて設けられている。図8に示すように、印刷ヘッド32は樹脂8の微細液滴8aを下方に吐出量自在に吐出して供給する印刷ノズルユニット32aを内蔵しており、印刷ヘッド駆動部35によって印刷ヘッド32を駆動することにより、印刷ヘッド32はLED素子5が配列された素子保持部材20の上方でY方向に移動し(矢印a)、印刷ノズルユニット32aは印刷ヘッド32内でX方向に移動する(矢印b)。供給制御部36によって印刷ヘッド駆動部35を制御することにより、印刷ノズルユニット32aをX方向、Y方向の任意位置に移動させるとともに、印刷ノズルユニット32aからの微細液滴8aの吐出量を制御することができる。   In the present embodiment, a resin discharge device that discharges the resin 8 by an ink jet method is used as the resin supply unit A. That is, the print head 32 is provided in the resin supply unit A with the longitudinal direction directed in the X direction (conveying direction in the conveying mechanism 31). As shown in FIG. 8, the print head 32 has a built-in print nozzle unit 32 a that discharges and supplies fine droplets 8 a of the resin 8 freely in a downward discharge amount. By driving, the print head 32 moves in the Y direction above the element holding member 20 in which the LED elements 5 are arranged (arrow a), and the print nozzle unit 32a moves in the X direction within the print head 32 (arrow). b). By controlling the print head drive unit 35 by the supply control unit 36, the print nozzle unit 32a is moved to an arbitrary position in the X direction and the Y direction, and the ejection amount of the fine droplets 8a from the print nozzle unit 32a is controlled. be able to.

印刷ヘッド32の側方には、カメラ34aおよび高さ計測ユニット33aを備えた計測ヘッド30が、XY方向に移動自在(矢印c)に配設されている。LED素子5が配列された素子保持部材20の上方に計測ヘッド30を移動させ、カメラ34aによって素子保持部材20を撮像して取得した画像を、位置認識部34によって認識処理することにより、素子保持部材20における個別のLED素子5の位置が認識される。位置認識結果は供給制御部36に伝達される。   On the side of the print head 32, a measurement head 30 including a camera 34a and a height measurement unit 33a is disposed so as to be movable in the XY directions (arrow c). The measurement head 30 is moved above the element holding member 20 in which the LED elements 5 are arranged, and the image obtained by imaging the element holding member 20 with the camera 34a is subjected to recognition processing by the position recognition unit 34, thereby holding the element. The position of the individual LED element 5 on the member 20 is recognized. The position recognition result is transmitted to the supply control unit 36.

また高さ計測ユニット33aを計測対象面に位置合わせしてレーザ光による測距動作を行わせることにより、計測対象面の高さが計測される。ここでは、印刷ノズルユニット32aによって微細液滴8aが供給される前のLED素子5の上面が計測対象面となっており、高さ計測部33による高さ計測結果は供給制御部36に伝達される。印刷ノズルユニット32aによる微細液滴8aの供給に際しては、供給制御部36は高さ計測部33によってLED素子5の上面の高さ計測を行う。このようにして供給制御部36が印刷ヘッド32を制御することにより、図8(b)に示すように、印刷ノズルユニット32aから微細液滴8aが吐出され、素子保持部材20に配列された各LED素子5の上面に対して、樹脂供給情報19に規定される適正樹脂供給量の樹脂8が供給される。すなわち樹脂供給部Aは、樹脂8を供給量を可変に吐出して、任意の供給対象位置に供給する機能を有している。   The height of the measurement target surface is measured by aligning the height measurement unit 33a with the measurement target surface and performing a distance measuring operation using laser light. Here, the upper surface of the LED element 5 before the fine droplet 8a is supplied by the printing nozzle unit 32a is the measurement target surface, and the height measurement result by the height measurement unit 33 is transmitted to the supply control unit 36. The When supplying the fine droplets 8 a by the printing nozzle unit 32 a, the supply control unit 36 measures the height of the upper surface of the LED element 5 by the height measuring unit 33. As the supply control unit 36 controls the print head 32 in this way, the fine droplets 8a are ejected from the print nozzle unit 32a and are arranged on the element holding member 20, as shown in FIG. An appropriate amount of resin 8 specified by the resin supply information 19 is supplied to the upper surface of the LED element 5. That is, the resin supply unit A has a function of discharging the resin 8 in a variable supply amount and supplying the resin 8 to an arbitrary supply target position.

搬送機構31の側方には、印刷ヘッド32の移動範囲内に位置して、試し供給・測定ユニット40が配置されている。試し供給・測定ユニット40は、樹脂8を素子保持部材20に配列された各LED素子5に供給する実生産用供給作業に先立って、樹脂8の供給量が適正であるか否かを、試し供給した樹脂8の発光特性を測定することにより判定する機能を有するものである。すなわち、樹脂供給部Aによって樹脂8を試し供給した透光部材43に測定用の光源部45が発する光を照射したときの発光特性を、分光器42および発光特性測定処理部39を備えた発光特性測定部によって測定し、測定結果を予め設定されたしきい値と比較することにより、図5に示す樹脂供給情報19にて規定される既設定の樹脂供給量の適否を判定する。   A test supply / measurement unit 40 is disposed on the side of the transport mechanism 31 so as to be positioned within the movement range of the print head 32. The trial supply / measurement unit 40 tests whether the supply amount of the resin 8 is appropriate prior to the actual production supply operation for supplying the resin 8 to each LED element 5 arranged on the element holding member 20. It has a function of determining by measuring the light emission characteristics of the supplied resin 8. That is, the light emission characteristic when the light emitted from the measurement light source unit 45 is irradiated to the translucent member 43 to which the resin 8 has been trial-supplied by the resin supply unit A is the light emission provided with the spectroscope 42 and the light emission characteristic measurement processing unit 39. By measuring with the characteristic measuring unit and comparing the measurement result with a preset threshold value, the suitability of the preset resin supply amount defined by the resin supply information 19 shown in FIG. 5 is determined.

蛍光体粒子を含有する樹脂8は、その組成・性状は必ずしも安定的ではなく、予め樹脂供給情報19にて適正樹脂供給量を設定していても、時間の経過によって蛍光体の濃度や樹脂粘度が変動することが避けられない。このため予め設定された適正樹脂供給量に対応する吐出パラメータで樹脂8を吐出しても、樹脂供給量そのものが既設定の適正値からばらつく場合や、さらには樹脂供給量自体は適正であっても濃度変化によって本来供給されるべき蛍光体粒子の供給量がばらつく結果となる。   The composition and properties of the resin 8 containing the phosphor particles are not necessarily stable, and even if an appropriate resin supply amount is set in advance in the resin supply information 19, the concentration of the phosphor and the resin viscosity over time. Inevitable fluctuations. For this reason, even if the resin 8 is discharged with the discharge parameters corresponding to the preset appropriate resin supply amount, the resin supply amount itself varies from the preset appropriate value, or the resin supply amount itself is appropriate. However, the amount of the phosphor particles to be originally supplied varies depending on the concentration change.

このような不都合を排除するため、本実施の形態では、所定のインターバルにて適正供給量の蛍光体粒子が供給されているか否かを検査するための試し供給を樹脂供給装置M4にて実行し、さらに試し供給された樹脂を対象として発光特性の測定を実行することにより、本来あるべき発光特性に則して蛍光体粒子の供給量を安定させるようにしている。そして本実施の形態に示す樹脂供給装置M4に備えられた樹脂供給部Aは、樹脂8を上述の発光特性測定用として透光部材43に試し供給する測定用供給処理と、実生産用として素子保持部材20の素子保持面20aに並び替えられた再配列後の複数のLED素子5に供給する生産用供給処理とを併せて実行する機能を有している。これらの測定用供給処理および生産用供給処理は、いずれも供給制御部36が樹脂供給部Aを制御することにより実行される。   In order to eliminate such inconvenience, in the present embodiment, trial supply for inspecting whether or not an appropriate supply amount of phosphor particles is supplied at a predetermined interval is executed by the resin supply device M4. In addition, by measuring the emission characteristics of the resin supplied as a trial, the supply amount of the phosphor particles is stabilized in accordance with the emission characteristics that should be originally provided. The resin supply unit A provided in the resin supply device M4 shown in the present embodiment includes a measurement supply process for supplying the resin 8 to the translucent member 43 for the above-described light emission characteristic measurement, and an element for actual production. It has a function of executing together with the supply process for production to be supplied to the plurality of rearranged LED elements 5 rearranged on the element holding surface 20a of the holding member 20. These measurement supply process and production supply process are both executed by the supply control unit 36 controlling the resin supply unit A.

図9を参照して試し供給・測定ユニット40の詳細構成を説明する。図9(a)に示すように、透光部材43は供給リール47に卷回収納されて供給され、試し供給ステージ40aの上面に沿って送られた後、透光部材載置部41と照射部46との間を経由して、巻き取りモータ49によって駆動される回収リール48に巻き取られる。なお、透光部材43を回収する機構としては、回収リール48に卷回して回収する方式以外にも、回収ボックス内に透光部材43を送り機構によって送り込む方式など、各種の方式を採用することができる。   The detailed configuration of the trial supply / measurement unit 40 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 9A, the translucent member 43 is wound and supplied on the supply reel 47 and fed along the upper surface of the trial supply stage 40a, and then irradiated with the translucent member mounting portion 41. It is wound around a collection reel 48 driven by a take-up motor 49 via a portion 46. As a mechanism for collecting the translucent member 43, various methods such as a method of feeding the translucent member 43 into the collection box by a feeding mechanism in addition to the method of collecting the translucent member by winding it on the collection reel 48 are adopted. Can do.

照射部46は光源部45によって発光された測定光を透光部材43に対して照射する機能を有しており、簡易暗箱機能を有する遮光ボックス46a内に、光源部45が発光する測定光がファイバケーブルによって導光される光集束ツール46bを配設した構成となっている。光源部45は樹脂8に含まれる蛍光体を励起する励起光を発光する機能を有しており、本実施の形態においては透光部材載置部41の上方に配置されて、測定光を透光部材43に対して光集束ツール46bを介して上方から照射する形態となっている。   The irradiation unit 46 has a function of irradiating the translucent member 43 with measurement light emitted from the light source unit 45, and the measurement light emitted from the light source unit 45 is contained in a light shielding box 46a having a simple dark box function. A light focusing tool 46b guided by a fiber cable is provided. The light source unit 45 has a function of emitting excitation light that excites the phosphor contained in the resin 8. In the present embodiment, the light source unit 45 is disposed above the translucent member mounting unit 41 and transmits measurement light. The light member 43 is irradiated from above via the light focusing tool 46b.

ここで透光部材43としては、透明樹脂製の平面シート状部材を所定幅のテープ材としたものや、同様のテープ材にエンボス部43aが下面に凸設されたエンボスタイプのものなどが用いられる(図9(b)参照)。透光部材43が試し供給・測定ユニット40上を送られる過程において、透光部材43に対して印刷ヘッド32によって樹脂8が試し供給される。この試し供給は、下面側を試し供給ステージ40aによって支持された透光部材43に対して、図9(b)に示すように、印刷ノズルユニット32aによって規定供給量の樹脂8を微細液滴8aの形で透光部材43に対して吐出して印刷することによって行われる。   Here, as the translucent member 43, a flat sheet-like member made of a transparent resin is used as a tape material having a predetermined width, or an embossed type in which an embossed portion 43a is provided on the lower surface of a similar tape material. (See FIG. 9B). In the process in which the translucent member 43 is sent on the trial supply / measurement unit 40, the resin 8 is trial-supplied to the translucent member 43 by the print head 32. In this trial supply, as shown in FIG. 9 (b), the lower surface side is supported by the trial supply stage 40a. As shown in FIG. This is performed by discharging and printing on the translucent member 43.

図9(b)(イ)は、前述のテープ材よりなる透光部材43に樹脂供給情報19にて規定される既設定の適正吐出量の樹脂8を供給した状態を示している。また図9(b)(ロ)は、前述のエンボスタイプの透光部材43のエンボス部43a内に、同様に既設定の適正吐出量の樹脂8を供給した状態を示している。なお、後述するように、試し供給ステージ40aにて供給された樹脂8は、対象となるLED素子5に対して蛍光体供給量が適正であるか否かを実証的に判定するための試し供給であることから、印刷ヘッド32による同一試し供給動作で複数点に樹脂8を連続的に透光部材43上に供給する場合には、発光特性測定値と供給量との相関関係を示す既知のデータに基づいて供給量を段階的に異ならせて供給しておく。   FIGS. 9B and 9A show a state in which the preset appropriate discharge amount of the resin 8 specified by the resin supply information 19 is supplied to the translucent member 43 made of the tape material described above. FIGS. 9B and 9B show a state in which the resin 8 having a preset appropriate discharge amount is similarly supplied into the embossed portion 43a of the embossed type translucent member 43 described above. Note that, as will be described later, the resin 8 supplied at the test supply stage 40a is used for empirical determination for empirically determining whether or not the phosphor supply amount is appropriate for the target LED element 5. Therefore, when the resin 8 is continuously supplied onto the transparent member 43 at a plurality of points by the same trial supply operation by the print head 32, a known relationship indicating the correlation between the measured emission characteristic value and the supply amount is known. Based on the data, the supply amount is changed in stages.

このようにして樹脂8が試し供給された後に遮光ボックス46a内に導かれた透光部材43に対して、光源部45によって発光された白色光を光集束ツール46bを介して上方から照射する。そして透光部材43に供給された樹脂8を透過した光は、透光部材載置部41に設けられた光透過開口部41aを介して、透光部材載置部41の下方に配設された積分球44によって受光される。図9(c)は、透光部材載置部41、積分球44の構造を示している。透光部材載置部41は、透光部材43の下面を支持する下部支持部材41bの上面に、透光部材43の両端面をガイドする機能を有する上部ガイド部材41cを装着した構造となっている。   In this way, the white light emitted from the light source unit 45 is irradiated from above through the light focusing tool 46b to the light transmitting member 43 guided into the light shielding box 46a after the resin 8 is trial-supplied. The light transmitted through the resin 8 supplied to the translucent member 43 is disposed below the translucent member mounting portion 41 via the light transmitting opening 41 a provided in the translucent member mounting portion 41. The light is received by the integrating sphere 44. FIG. 9C shows the structure of the translucent member mounting portion 41 and the integrating sphere 44. The translucent member mounting portion 41 has a structure in which an upper guide member 41 c having a function of guiding both end surfaces of the translucent member 43 is mounted on the upper surface of the lower support member 41 b that supports the lower surface of the translucent member 43. Yes.

透光部材載置部41は試し供給・測定ユニット40における搬送時に透光部材43をガイドするとともに、測定用供給処理において樹脂8が試し供給された透光部材43を載置して位置を保持する機能を有している。積分球44は光集束ツール46bから照射されて(矢印h)樹脂8を透過した透過光を集光し、分光器42に導く機能を有している。すなわち積分球44は内部に球面状の球状反射面44cを有しており、光透過開口部41aの直下に位置する開口部44aから入光した透過光(矢印i)は、積分球44の頂部に設けられた開口部44aから反射空間44b内に入射し、球状反射面44cによる全反射(矢印j)を反復する過程で出力部44dから測定光(矢印k)として取り出され、分光器42によって受光される。   The translucent member placement section 41 guides the translucent member 43 during transport in the trial supply / measurement unit 40, and places the translucent member 43, to which the resin 8 has been trial-supplied in the measurement supply process, to hold the position. It has a function to do. The integrating sphere 44 has a function of collecting the transmitted light that has been irradiated from the light focusing tool 46 b (arrow h) and transmitted through the resin 8 and led to the spectroscope 42. That is, the integrating sphere 44 has a spherical spherical reflecting surface 44 c inside, and transmitted light (arrow i) incident from the opening 44 a located immediately below the light transmitting opening 41 a is the top of the integrating sphere 44. In the process of entering into the reflection space 44b from the opening 44a provided in the light source and repeating the total reflection (arrow j) by the spherical reflecting surface 44c, it is taken out as measurement light (arrow k) from the output part 44d and is sent by the spectroscope 42. Received light.

上述構成では、光源部45に用いられる発光素子パッケージによって発光された白色光が透光部材43に試し供給された樹脂8に照射される。この過程において、白色光中に含まれる青色光成分が樹脂8中の蛍光体を励起させて黄色光を発光させる。そしてこの黄色光と青色光が加色混合した白色光が樹脂8から上方に照射され、上述の積分球44を介して分光器42によって受光される。   In the above-described configuration, the white light emitted by the light emitting element package used in the light source unit 45 is applied to the resin 8 that has been trial-supplied to the translucent member 43. In this process, the blue light component contained in the white light excites the phosphor in the resin 8 to emit yellow light. White light obtained by adding and mixing yellow light and blue light is irradiated upward from the resin 8 and is received by the spectroscope 42 via the integrating sphere 44 described above.

そして受光された白色光は、発光特性測定処理部39(図7(b))によって分析されて発光特性が測定される。ここでは、白色光の色調ランクや光束などの発光特性が検査され、検査結果として、規定の発光特性との偏差が検出される。積分球44、分光器42および発光特性測定処理部39は、励起光を透光部材43に供給された樹脂8に光源部45によって発光された励起光(ここでは白色LEDにより発光された白色光)を上方から照射することによりこの樹脂8が発する光を透光部材43の下方から受光して、樹脂8が発する光の発光特性を測定する発光特性測定部を構成する。そして本実施の形態においては、発光特性測定部は積分球44を透光部材43の下方に配置して成り、樹脂8が発する光を積分球44の開口部44aを介して受光するように構成されている。   The received white light is analyzed by the light emission characteristic measurement processing unit 39 (FIG. 7B), and the light emission characteristic is measured. Here, the light emission characteristics such as the color tone rank of white light and the luminous flux are inspected, and a deviation from the prescribed light emission characteristics is detected as the inspection result. The integrating sphere 44, the spectroscope 42, and the light emission characteristic measurement processing unit 39 emit excitation light emitted from the light source unit 45 to the resin 8 supplied to the translucent member 43 (here, white light emitted from the white LED). ) From above, the light emitted from the resin 8 is received from below the translucent member 43, and a light emission characteristic measuring unit for measuring the light emission characteristic of the light emitted from the resin 8 is configured. In the present embodiment, the light emission characteristic measuring unit is configured by disposing the integrating sphere 44 below the translucent member 43, and configured to receive light emitted from the resin 8 through the opening 44a of the integrating sphere 44. Has been.

発光特性測定部を上述のような構成とすることにより、以下に述べるような効果を得る。すなわち、図9(b)に示す透光部材43に試し供給される樹脂8の供給形状において、下面側は常に透光部材43の上面またはエンボス部43aの底面に接触していることから、樹脂8の下面は常に透光部材43によって規定される基準高さにある。したがって、樹脂8の下面と積分球44の開口部44aとの高さ差は常に一定に保たれる。これに対し、樹脂8の上面は印刷ノズルユニット32aによる供給条件などの外乱によって、必ずしも同一の液面形状・高さが実現されるとは限らず、樹脂8の上面と光集束ツール46bとの間の間隔はばらつくこととなる。   By configuring the light emission characteristic measuring unit as described above, the following effects can be obtained. That is, in the supply shape of the resin 8 that is trial-supplied to the translucent member 43 shown in FIG. 9B, the lower surface side is always in contact with the upper surface of the translucent member 43 or the bottom surface of the embossed portion 43a. The lower surface of 8 is always at a reference height defined by the translucent member 43. Therefore, the height difference between the lower surface of the resin 8 and the opening 44a of the integrating sphere 44 is always kept constant. On the other hand, the upper surface of the resin 8 does not necessarily realize the same liquid surface shape and height due to disturbances such as the supply conditions by the printing nozzle unit 32a, and the upper surface of the resin 8 and the light focusing tool 46b are not necessarily realized. The interval between them will vary.

ここで樹脂8の上面に対して照射される照射光と樹脂8の下面からの透過光とを比較した場合の安定度合いを考えると、樹脂8に対して照射される照射光は光集束ツール46bを介して照射されることから集束度が高く、樹脂8の上面と光集束ツール46bとの間の間隔のばらつきが光伝達に対して与える影響は無視できる。これに対し、樹脂8を透過した透過光は樹脂8の内部で蛍光体が励起された励起光であることから散乱の度合いが高く、樹脂8の下面と開口部44aとの間の距離のばらつきが積分球44によって光が取り込まれる度合いに与える影響は無視できない。   Here, considering the degree of stability when the irradiation light irradiated on the upper surface of the resin 8 is compared with the transmitted light from the lower surface of the resin 8, the irradiation light irradiated on the resin 8 is the light focusing tool 46b. Therefore, the degree of focusing is high, and the influence of the variation in the distance between the upper surface of the resin 8 and the light focusing tool 46b on the light transmission can be ignored. On the other hand, the transmitted light that has passed through the resin 8 is excitation light in which the phosphor is excited inside the resin 8, so that the degree of scattering is high, and the distance between the lower surface of the resin 8 and the opening 44 a varies. Has an influence on the degree of light being taken in by the integrating sphere 44.

本実施の形態に示す試し供給・測定ユニット40においては、前述構成のように光源部45によって発光された励起光を、樹脂8に対して上方から照射することによりこの樹脂8が発する光を透光部材43の下方から積分球44によって受光する構成を採用していることから、安定した発光特性の判定を行うことが可能となっている。さらに、積分球44を用いることにより受光部分に暗室構造を別途設ける必要がなく、装置のコンパクト化と設備費用の削減が可能となっている。   In the trial supply / measurement unit 40 shown in the present embodiment, the light emitted from the resin 8 is transmitted by irradiating the resin 8 with the excitation light emitted from the light source unit 45 as described above. Since the configuration in which light is received by the integrating sphere 44 from below the optical member 43 is employed, it is possible to determine stable light emission characteristics. Further, by using the integrating sphere 44, it is not necessary to separately provide a dark room structure in the light receiving portion, so that the apparatus can be made compact and the equipment cost can be reduced.

図7(b)に示すように、発光特性測定処理部39の測定結果は供給量導出処理部38に送られ、供給量導出処理部38は、発光特性測定処理部39の測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて樹脂8の適正樹脂供給量を補正し、実生産用としてLED素子5に供給されるべき樹脂8の適正樹脂供給量を導出する処理を行う。供給量導出処理部38によって導出された新たな適正吐出量は生産実行処理部37に送られ、生産実行処理部37は新たに導出された適正樹脂供給量を供給制御部36に指令する。これにより供給制御部36は、印刷ヘッド32を制御して、適正樹脂供給量の樹脂8を基板14に実装されたLED素子5に供給する生産用供給処理を印刷ヘッド32に実行させる。   As shown in FIG. 7B, the measurement result of the light emission characteristic measurement processing unit 39 is sent to the supply amount derivation processing unit 38, and the supply amount derivation processing unit 38 defines the measurement result of the light emission characteristic measurement processing unit 39 in advance. Based on the light emission characteristics, the appropriate resin supply amount of the resin 8 is corrected, and processing for deriving the appropriate resin supply amount of the resin 8 to be supplied to the LED element 5 for actual production is performed. The new appropriate discharge amount derived by the supply amount deriving processing unit 38 is sent to the production execution processing unit 37, and the production execution processing unit 37 commands the newly derived appropriate resin supply amount to the supply control unit 36. Accordingly, the supply control unit 36 controls the print head 32 to cause the print head 32 to execute a production supply process for supplying the resin 8 having an appropriate resin supply amount to the LED elements 5 mounted on the substrate 14.

この生産用供給処理においては、まず樹脂供給情報19に規定される適正樹脂供給量の樹脂8を実際に供給し、樹脂8が未硬化の状態で発光特性の測定を行う。そして得られた測定結果に基づき、生産用供給において供給された樹脂8を対象として発光特性を測定した場合における発光特性測定値の良品範囲を設定し、この良品範囲を生産用供給における良否判定のしきい値(図12に示すしきい値データ81a参照)として用いるようにしている。   In this production supply process, first, an appropriate amount of resin 8 specified by the resin supply information 19 is actually supplied, and the light emission characteristics are measured while the resin 8 is uncured. Then, based on the obtained measurement results, a non-defective range of emission characteristic measurement values when the emission characteristics are measured for the resin 8 supplied in the production supply is set, and the non-defective range is determined for the quality determination in the supply for production. It is used as a threshold value (see threshold value data 81a shown in FIG. 12).

すなわち本実施の形態に示す発光素子の製造システムにおける樹脂供給方法では、発光特性測定用の光源部45として白色LEDを用いるとともに、生産用供給における良否判定のしきい値設定の基となる予め規定された発光特性として、LED素子5に供給された樹脂8が硬化した状態の完成製品について求められる正規の発光特性を、樹脂8が未硬化の状態であることによる発光特性の相違分だけ偏らせた発光特性を用いるようにしている。これにより、LED素子5への樹脂供給過程における樹脂供給量の制御を完成製品についての正規の発光特性に基づいて行うことが可能となっている。   That is, in the resin supply method in the light emitting element manufacturing system shown in the present embodiment, a white LED is used as the light source unit 45 for measuring the light emission characteristics, and a pre-specified condition is used as a basis for setting a good / bad determination threshold in production supply. As the light emission characteristics, the normal light emission characteristics required for the finished product in which the resin 8 supplied to the LED element 5 is cured are biased by the difference in the light emission characteristics due to the resin 8 being in an uncured state. Emission characteristics are used. Thereby, it is possible to control the resin supply amount in the process of supplying the resin to the LED element 5 based on the normal light emission characteristics of the finished product.

なお本実施の形態においては、光源部45として白色光を発する発光素子パッケージ50(図14参照)を用いている。これにより、試し供給された樹脂8の発光特性測定を、完成品の発光素子パッケージ50において発光される励起光と同一特性の光によって行うことができ、より信頼性の高い検査結果を得ることができる。なお完成品に用いられるものと同一の発光素子パッケージ50を用いることは必ずしも必須要件ではない。発光特性測定には、一定波長の青色光を安定的に発光することが可能な光源装置(例えば青色光を発光する青色LEDや、青色レーザ光源など)であれば、検査用の光源部として用いることができる。但し、青色LEDを用いた白色光を発する発光素子パッケージ50を用いることにより、安定的な品質の光源装置を低コストで選定することができるという利点を有する。ここでバンドパスフィルタを用いて、所定の波長の青色光を取り出すようにしてもよい。   In the present embodiment, a light emitting element package 50 (see FIG. 14) that emits white light is used as the light source unit 45. As a result, the emission characteristics of the resin 8 that has been trial-supplied can be measured with light having the same characteristics as the excitation light emitted from the finished light emitting device package 50, and a more reliable test result can be obtained. it can. Note that it is not always necessary to use the same light emitting element package 50 as that used for the finished product. For light emission characteristics measurement, a light source device that can stably emit blue light having a constant wavelength (for example, a blue LED that emits blue light or a blue laser light source) is used as a light source unit for inspection. be able to. However, by using the light emitting element package 50 that emits white light using a blue LED, there is an advantage that a light source device with stable quality can be selected at low cost. Here, blue light having a predetermined wavelength may be extracted using a band-pass filter.

なお上述構成の試し供給・測定ユニット40の替わりに、図10に示す構成の試し供給・測定ユニット140を用いるようにしてもよい.すなわち、図10(a)に示すように、試し供給・測定ユニット140は細長形状の水平な基部140aの上方に、カバー部140bを配設した外部構造となっている。カバー部140bには開口部140cが設けられており、開口部140cはスライド自在(矢印l)な供給用スライド窓140dによって開閉自在となっている。試し供給・測定ユニット140の内部には、透光部材43を下面側から支持する試し供給ステージ145a、透光部材43が載置される透光部材載置部141および透光部材載置部141の上方に配設された分光器42が設けられている。   Instead of the trial supply / measurement unit 40 having the above-described configuration, a trial supply / measurement unit 140 having the configuration shown in FIG. 10 may be used. That is, as shown in FIG. 10A, the test supply / measurement unit 140 has an external structure in which a cover portion 140b is disposed above an elongated horizontal base portion 140a. The cover 140b is provided with an opening 140c. The opening 140c can be opened and closed by a sliding slide window 140d that can be slid (arrow l). Inside the trial supply / measurement unit 140, a trial supply stage 145a for supporting the translucent member 43 from the lower surface side, a translucent member mounting unit 141 on which the translucent member 43 is mounted, and a translucent member mounting unit 141. A spectroscope 42 is provided above.

透光部材載置部141は、図7に示す光源部45と同様に蛍光体を励起する励起光を発光する光源装置を備えており、測定用供給処理において樹脂8が試し供給された透光部材43に対して、この光源装置より下面側から励起光が照射される。透光部材43は、図9に示す例と同様に供給リール47に卷回収納されて供給され、試し供給ステージ145aの上面に沿って送られた後(矢印m)、透光部材載置部141と分光器42との間を経由して巻き取りモータ49によって駆動される回収リール48に巻き取られる。   The translucent member mounting unit 141 includes a light source device that emits excitation light that excites the phosphor, similarly to the light source unit 45 illustrated in FIG. 7. The member 43 is irradiated with excitation light from the lower surface side of the light source device. Similarly to the example shown in FIG. 9, the translucent member 43 is wound and supplied on the supply reel 47 and supplied along the upper surface of the test supply stage 145a (arrow m), and then the translucent member mounting portion. It is wound up on a collection reel 48 driven by a winding motor 49 via between 141 and the spectroscope 42.

供給用スライド窓140dをスライドさせて開放した状態では、試し供給ステージ145a上面は上方に露呈され、上面に載置された透光部材43に対して印刷ヘッド32によって樹脂8を試し供給することが可能となる。この試し供給は、下面側を試し供給ステージ145aによって支持された透光部材43に対して、印刷ノズルユニット32aによって規定供給量の微細液滴8aを吐出することによって行われる。   In a state where the supply sliding window 140d is slid and opened, the upper surface of the test supply stage 145a is exposed upward, and the resin 8 is supplied to the light transmitting member 43 placed on the upper surface by the print head 32 as a test. It becomes possible. This trial supply is performed by ejecting a specified supply amount of fine droplets 8a to the translucent member 43 whose lower surface is supported by the trial supply stage 145a by the print nozzle unit 32a.

図10(b)は、試し供給ステージ145aにて樹脂8が試し供給された透光部材43を移動させて、樹脂8を透光部材載置部141の上方に位置させ、さらにカバー部140bを下降させて基部140aとの間に発光特性測定用の暗室を形成した状態を示している。透光部材載置部141には、光源装置として白色光を発する発光素子パッケージ50が用いられている。発光素子パッケージ50においてLED素子5と接続された配線層14e、14dは電源装置142と接続されており、電源装置142をONすることにより、LED素子5には発光用の電力が供給され、これにより発光素子パッケージ50は白色光を発光する。   In FIG. 10B, the translucent member 43 to which the resin 8 has been trial-supplied at the trial supply stage 145a is moved to position the resin 8 above the translucent member mounting portion 141, and the cover portion 140b is further moved. A state in which a darkroom for measuring light emission characteristics is formed between the base 140a and the base 140a is shown. A light emitting element package 50 that emits white light is used as the light source device for the translucent member mounting portion 141. The wiring layers 14e and 14d connected to the LED element 5 in the light emitting element package 50 are connected to the power supply device 142. When the power supply device 142 is turned on, the LED element 5 is supplied with power for light emission. Accordingly, the light emitting device package 50 emits white light.

そしてこの白色光が樹脂8を透過した後に透光部材43に試し供給された樹脂8に照射される過程において、白色光に含まれる青色光によって樹脂8中の蛍光体が励起して発光した黄色光と青色光が加色混合した白色光が、樹脂8から上方に照射される。試し供給・測定ユニット140の上方には分光器42が配置されており、樹脂8から照射された白色光は分光器42によって受光され、受光された白色光は発光特性測定処理部39によって分析されて発光特性が測定される。ここでは、白色光の色調ランクや光束などの発光特性が検査され、検査結果として、規定の発光特性との偏差が検出される。すなわち発光特性測定処理部39は、光源部であるLED素子5から発光された励起光を透光部材43に供給された樹脂8に照射することによりこの樹脂8が発する光の発光特性を測定する。そして発光特性測定処理部39の測定結果は供給量導出処理部38に送られ、図7に示す例と同様の処理が実行される。   Then, in the process in which the white light passes through the resin 8 and is irradiated to the resin 8 that is trial-supplied to the translucent member 43, the phosphor in the resin 8 is excited by the blue light contained in the white light and emitted yellow. White light in which light and blue light are added and mixed is irradiated upward from the resin 8. A spectroscope 42 is arranged above the trial supply / measurement unit 140, and the white light emitted from the resin 8 is received by the spectroscope 42, and the received white light is analyzed by the emission characteristic measurement processing unit 39. The emission characteristics are measured. Here, the light emission characteristics such as the color tone rank of white light and the luminous flux are inspected, and a deviation from the prescribed light emission characteristics is detected as the inspection result. That is, the light emission characteristic measurement processing unit 39 measures the light emission characteristic of the light emitted from the resin 8 by irradiating the resin 8 supplied to the light transmitting member 43 with the excitation light emitted from the LED element 5 as the light source unit. . Then, the measurement result of the light emission characteristic measurement processing unit 39 is sent to the supply amount derivation processing unit 38, and the same processing as in the example shown in FIG. 7 is executed.

このようにして樹脂が供給されたLED素子5は素子保持部材20に保持された状態でキュア装置M5に送られる。そして、図11(a)に示すように、各LED素子5を加熱することにより樹脂8を硬化させる。これによりLED素子5の上面は、蛍光体を含む樹脂8が硬化した樹脂膜8*によって覆われ、発光素子5*が形成される。この後発光素子5*を保持した素子保持部材20はソーティング装置M6に送られ、ここで複数の発光素子5*の発光特性が再度測定される。そして測定結果に基づいて、図11(b)に示すように、素子保持部材20に保持された複数の発光素子5*を所定の特性範囲毎にランク分けして、複数の素子保持シート13A、13B、13C・・に分別移載する。なお、発光素子の製造システム1におけるソーティング装置M6の要否は、完成品に求められる発光特性の精度や、樹脂供給装置M4による樹脂供給量補正精度などを勘案して決定されるものであり、必ずしも必須のプロセスではない。   The LED element 5 thus supplied with the resin is sent to the curing device M5 while being held by the element holding member 20. Then, as shown in FIG. 11A, the resin 8 is cured by heating each LED element 5. As a result, the upper surface of the LED element 5 is covered with the resin film 8 * obtained by curing the resin 8 containing the phosphor, thereby forming the light emitting element 5 *. Thereafter, the element holding member 20 holding the light emitting element 5 * is sent to the sorting device M6, where the light emission characteristics of the plurality of light emitting elements 5 * are measured again. Based on the measurement results, as shown in FIG. 11B, the plurality of light emitting elements 5 * held by the element holding member 20 are ranked for each predetermined characteristic range, and a plurality of element holding sheets 13A, Separately transferred to 13B, 13C. The necessity of the sorting device M6 in the light emitting element manufacturing system 1 is determined in consideration of the accuracy of the light emission characteristics required for the finished product, the accuracy of the resin supply amount correction by the resin supply device M4, and the like. It is not necessarily an essential process.

次に図12を参照して、発光素子の製造システム1の制御系の構成について説明する。なお、ここでは発光素子の製造システム1を構成する各装置の構成要素のうち、管理コンピュータ3、素子特性測定装置M2、素子再配列装置M3、樹脂供給装置M4において、素子特性情報12、樹脂供給情報19、マップデータ18、素子配列情報118およびしきい値データ81aの送受信および更新処理に関連する構成要素を示すものである。   Next, the configuration of the control system of the light emitting device manufacturing system 1 will be described with reference to FIG. Here, among the components of each device constituting the light emitting element manufacturing system 1, in the management computer 3, the element characteristic measuring device M2, the element rearrangement device M3, and the resin supply device M4, the element characteristic information 12, the resin supply The components related to the transmission / reception and update processing of the information 19, the map data 18, the element array information 118, and the threshold data 81a are shown.

図12において、管理コンピュータ3は、システム制御部60、記憶部61、通信部62を備えている。システム制御部60は、発光素子の製造システム1による発光素子パッケージ製造作業を統括して制御する。記憶部61には、システム制御部60による制御処理に必要なプログラムやデータのほか、素子特性情報12、樹脂供給情報19、さらには必要に応じてマップデータ18、しきい値データ81a、素子配列情報118が記憶されている。通信部62はLANシステム2を介して他装置と接続されており、制御信号やデータの授受を行う。樹脂供給情報19は、LANシステム2および通信部62を介して、またはCDロム、USBメモリストレージ、SDカードなど単独の記憶媒体を介して、外部から伝達され記憶部61に記憶される。   In FIG. 12, the management computer 3 includes a system control unit 60, a storage unit 61, and a communication unit 62. The system control unit 60 controls the light emitting device package manufacturing work by the light emitting device manufacturing system 1 in an integrated manner. In the storage unit 61, in addition to programs and data necessary for control processing by the system control unit 60, element characteristic information 12, resin supply information 19, and map data 18, threshold value data 81a, element arrangement as necessary. Information 118 is stored. The communication unit 62 is connected to other devices via the LAN system 2 and exchanges control signals and data. The resin supply information 19 is transmitted from the outside via the LAN system 2 and the communication unit 62 or via a single storage medium such as a CD ROM, USB memory storage, SD card, etc., and stored in the storage unit 61.

素子特性測定装置M2は、測定制御部70、記憶部71、通信部72、特性測定処理部11およびマップ作成処理部74を備えている。測定制御部70は、素子特性測定装置M2による素子特性測定作業を実行するために、記憶部71に記憶された各種のプログラムやデータに基づいて、以下に説明する各部を制御する。記憶部71には、測定制御部70による制御処理に必要なプログラムやデータのほか、素子位置情報71aや素子特性情報12を記憶する。素子位置情報71aは、LEDウェハ10におけるLED素子5の配列位置を示すデータである。素子特性情報12は、特性測定処理部11による測定結果のデータである。   The element characteristic measuring apparatus M2 includes a measurement control unit 70, a storage unit 71, a communication unit 72, a characteristic measurement processing unit 11, and a map creation processing unit 74. The measurement control unit 70 controls each unit described below based on various programs and data stored in the storage unit 71 in order to execute the element characteristic measurement work by the element characteristic measurement device M2. The storage unit 71 stores element position information 71 a and element characteristic information 12 in addition to programs and data necessary for control processing by the measurement control unit 70. The element position information 71 a is data indicating the arrangement position of the LED elements 5 on the LED wafer 10. The element characteristic information 12 is data of a measurement result obtained by the characteristic measurement processing unit 11.

通信部72は、LANシステム2を介して他装置と接続されており、制御信号やデータの授受を行う。マップ作成処理部74(マップデータ作成部)は、記憶部71に記憶された素子位置情報71aと当該LED素子5についての素子特性情報12とを関連付けたマップデータ18を、LEDウェハ10毎に作成する処理を行う。そして作成されたマップデータ18は、LANシステム2を介して素子再配列装置M3に対してフィードフォワードデータとして送信される。なお、マップデータ18を管理コンピュータ3経由で素子特性測定装置M2から素子再配列装置M3に送信するようにしてもよい。この場合には、マップデータ18は、図11に示すように、管理コンピュータ3の記憶部61にも記憶される。   The communication unit 72 is connected to other devices via the LAN system 2 and exchanges control signals and data. The map creation processing unit 74 (map data creation unit) creates, for each LED wafer 10, map data 18 that associates the element position information 71 a stored in the storage unit 71 with the element characteristic information 12 about the LED element 5. Perform the process. The generated map data 18 is transmitted as feedforward data to the element rearrangement device M3 via the LAN system 2. The map data 18 may be transmitted from the element characteristic measurement device M2 to the element rearrangement device M3 via the management computer 3. In this case, the map data 18 is also stored in the storage unit 61 of the management computer 3 as shown in FIG.

素子再配列装置M3は、再配列制御部93,記憶部91、素子移載機構94,通信部92を備えている。再配列制御部93は、素子移載機構94を制御することにより、LEDウェハ10からLED素子5を取り出して素子保持部材20に並び替える素子再配列処理を実行させる。このとき、記憶部91に記憶された配列パターンデータ91a、マップデータ18が参照される。またこの素子再配列処理に際しては、図6(b)に示す素子配列情報118が再配列制御部93によって作成され、記憶部91に記憶される。   The element rearrangement device M3 includes a rearrangement control unit 93, a storage unit 91, an element transfer mechanism 94, and a communication unit 92. The rearrangement control unit 93 controls the element transfer mechanism 94 to execute an element rearrangement process in which the LED elements 5 are taken out from the LED wafer 10 and rearranged on the element holding member 20. At this time, the array pattern data 91a and the map data 18 stored in the storage unit 91 are referred to. In the element rearrangement process, the element arrangement information 118 shown in FIG. 6B is created by the rearrangement control unit 93 and stored in the storage unit 91.

樹脂供給装置M4は、供給制御部36、記憶部81、通信部82、生産実行処理部37、供給量導出処理部38、発光特性測定処理部39を備えている。供給制御部36は、樹脂供給部Aを構成する印刷ヘッド駆動部35、位置認識部34、高さ計測部33および試し供給・測定ユニット40を制御することにより、樹脂8を発光特性測定用として透光部材43に試し供給する測定用供給処理および実生産用としてLED素子5に供給する生産用供給処理を実行させる処理を行う。   The resin supply device M4 includes a supply control unit 36, a storage unit 81, a communication unit 82, a production execution processing unit 37, a supply amount derivation processing unit 38, and a light emission characteristic measurement processing unit 39. The supply control unit 36 controls the print head drive unit 35, the position recognition unit 34, the height measurement unit 33, and the trial supply / measurement unit 40 that constitute the resin supply unit A, so that the resin 8 is used for light emission characteristic measurement. A measurement supply process for trial supply to the translucent member 43 and a production supply process for supplying to the LED element 5 for actual production are performed.

記憶部81には、供給制御部36による制御処理に必要なプログラムやデータのほか、樹脂供給情報19や素子配列情報118、しきい値データ81a、実生産用供給量81bを記憶する。樹脂供給情報19はLANシステム2を介して管理コンピュータ3から送信され、素子配列情報118は同様にLANシステム2を介して素子再配列装置M3から送信される。通信部82はLANシステム2を介して他装置と接続されており、制御信号やデータの授受を行う。   The storage unit 81 stores the resin supply information 19, element arrangement information 118, threshold data 81 a, and actual production supply amount 81 b, in addition to programs and data necessary for control processing by the supply control unit 36. The resin supply information 19 is transmitted from the management computer 3 via the LAN system 2, and the element arrangement information 118 is similarly transmitted from the element rearrangement device M3 via the LAN system 2. The communication unit 82 is connected to other devices via the LAN system 2 and exchanges control signals and data.

発光特性測定処理部39は、光源部45から発光された励起光を透光部材43に供給された樹脂8に照射することによりこの樹脂が発する光の発光特性を測定する処理を行う。供給量導出処理部38は、発光特性測定処理部39の測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて適正樹脂供給量を補正することにより、実生産用としてLED素子5に供給されるべき樹脂8の適正樹脂供給量を導出する演算処理を行う。そして生産実行処理部37は、供給量導出処理部38により導出された適正樹脂供給量を供給制御部36に指令することにより、この適正樹脂供給量の樹脂をLED素子5に供給する生産用供給処理を実行させる。   The light emission characteristic measurement processing unit 39 performs a process of measuring the light emission characteristic of light emitted from the resin by irradiating the resin 8 supplied to the translucent member 43 with the excitation light emitted from the light source unit 45. The supply amount derivation processing unit 38 should be supplied to the LED element 5 for actual production by correcting the appropriate resin supply amount based on the measurement result of the light emission characteristic measurement processing unit 39 and the predetermined light emission characteristics. An arithmetic process for deriving an appropriate resin supply amount of the resin 8 is performed. Then, the production execution processing unit 37 instructs the supply control unit 36 to supply the appropriate resin supply amount derived by the supply amount deriving processing unit 38, thereby supplying the LED element 5 with the resin having the appropriate resin supply amount. Execute the process.

なお、図12に示す構成において、各装置固有の作業動作を実行するための機能以外の処理機能、例えば素子特性測定装置M2に設けられているマップ作成処理部74の機能、樹脂供給装置M4に設けられている供給量導出処理部38の機能は、必ずしも当該装置に付属させる必要はない。例えば、マップ作成処理部74、供給量導出処理部38の機能を管理コンピュータ3のシステム制御部60が有する演算処理機能によってカバーするようにし、必要な信号授受をLANシステム2を介して行うように構成してもよい。   In the configuration shown in FIG. 12, the processing function other than the function for executing the work operation unique to each device, for example, the function of the map creation processing unit 74 provided in the element characteristic measuring device M2, the resin supply device M4 The function of the supply amount derivation processing unit 38 provided is not necessarily attached to the apparatus. For example, the functions of the map creation processing unit 74 and the supply amount derivation processing unit 38 are covered by the arithmetic processing function of the system control unit 60 of the management computer 3, and necessary signal exchange is performed via the LAN system 2. It may be configured.

上述の発光素子の製造システム1の構成において、素子特性測定装置M2、素子再配列装置M3,樹脂供給装置M4はいずれもLANシステム2に接続されている。そして記憶部61に樹脂供給情報19が記憶された管理コンピュータ3およびLANシステム2は、規定の発光特性を具備した発光素子を得るための樹脂8の適正樹脂供給量と素子特性情報とを対応させた情報を樹脂供給情報19として樹脂供給装置M4に提供する樹脂情報提供手段となっている。   In the configuration of the light emitting element manufacturing system 1 described above, the element characteristic measurement device M2, the element rearrangement device M3, and the resin supply device M4 are all connected to the LAN system 2. Then, the management computer 3 and the LAN system 2 in which the resin supply information 19 is stored in the storage unit 61 associate the appropriate resin supply amount of the resin 8 and the element characteristic information for obtaining the light emitting element having the prescribed light emission characteristic. This information serves as a resin information providing means for providing the information as resin supply information 19 to the resin supply device M4.

次に図13を参照して、発光素子の製造システム1によって製造された発光素子を用いた発光素子パッケージを製造する発光素子パッケージの製造システム101の構成について説明する。発光素子パッケージの製造システム101は、図1に示す構成の発光素子の製造システム1に、部品実装装置M7、キュア装置M8、ワイヤボンディング装置M9、樹脂塗布装置M10、キュア装置M11および個片切断装置M12を組み合わせた構成となっている。   Next, a configuration of a light emitting device package manufacturing system 101 for manufacturing a light emitting device package using the light emitting devices manufactured by the light emitting device manufacturing system 1 will be described with reference to FIG. The light emitting element package manufacturing system 101 is similar to the light emitting element manufacturing system 1 having the configuration shown in FIG. 1 except that a component mounting apparatus M7, a curing apparatus M8, a wire bonding apparatus M9, a resin coating apparatus M10, a curing apparatus M11, and an individual piece cutting apparatus. The configuration is a combination of M12.

部品実装装置M7は発光素子パッケージのベースとなる基板14(図14参照)に発光素子の製造システム1によって製造された発光素子5*を樹脂接着剤によって接合して実装する。キュア装置M8は発光素子5*が実装された後の基板14を加熱することにより、実装時の接合に用いられた樹脂接着剤を硬化させる。ワイヤボンディング装置M9は基板14の電極と発光素子5*の電極とをボンディングワイヤによって接続する。樹脂塗布装置M10はワイヤボンディング後の基板14において、各発光素子5*毎に封止用の透明の樹脂を塗布する。キュア装置M11は透明樹脂塗布後の基板14を加熱することにより、発光素子5*を覆って塗布された樹脂を硬化させる。個片切断装置M12は、樹脂が硬化した後の基板14を各個別の発光素子5*毎に切断して、個片の発光素子パッケージに分割する。これにより、個片に分割された発光素子パッケージが完成する。   The component mounting apparatus M7 mounts the light emitting element 5 * manufactured by the light emitting element manufacturing system 1 on the substrate 14 (see FIG. 14) serving as the base of the light emitting element package by bonding with a resin adhesive. The curing device M8 cures the resin adhesive used for bonding during mounting by heating the substrate 14 on which the light emitting element 5 * is mounted. The wire bonding apparatus M9 connects the electrode of the substrate 14 and the electrode of the light emitting element 5 * by a bonding wire. The resin coating device M10 applies a transparent resin for sealing for each light emitting element 5 * on the substrate 14 after wire bonding. The curing device M11 cures the resin applied to cover the light emitting element 5 * by heating the substrate 14 after the application of the transparent resin. The piece cutting device M12 cuts the substrate 14 after the resin is cured into each individual light emitting element 5 * and divides it into individual light emitting element packages. Thereby, the light emitting device package divided into individual pieces is completed.

なお図13においては、部品実装装置M7〜個片切断装置M12の各装置を直列に配置して製造ラインを構成した例を示しているが、発光素子パッケージの製造システム101としては必ずしもこのようなライン構成を採用する必要はなく、分散配置された各装置によってそれぞれの工程作業を順次実行する構成であってもよい。また、ワイヤボンディング装置M9の前後に、ワイヤボンディングに先立って電極のクリーニングを目的としたプラズマ処理を行うプラズマ処理装置、ワイヤボンディング後に、樹脂塗布に先立って樹脂の密着性を向上させるための表面改質を目的としたプラズマ処理を行うプラズマ処理装置を介在させるようにしてもよい。   FIG. 13 shows an example in which the production line is configured by arranging the components mounting device M7 to the piece cutting device M12 in series. However, the light emitting element package manufacturing system 101 is not necessarily limited to this. It is not necessary to adopt a line configuration, and a configuration in which each process operation is sequentially executed by each of the devices arranged in a distributed manner may be employed. Also, a plasma processing apparatus that performs plasma processing for electrode cleaning prior to wire bonding before and after the wire bonding apparatus M9, and a surface modification for improving resin adhesion prior to resin application after wire bonding. You may make it interpose the plasma processing apparatus which performs the plasma processing for the purpose of quality.

ここで図14を参照して、発光素子パッケージの製造システム101における作業対象となる基板14、発光素子5*および完成品としての発光素子パッケージ50について説明する。図14(a)に示すように、基板14は、完成品において1つの発光素子パッケージ50のベースとなる個片基板14aが複数個作り込まれた多連型基板であり、各個片基板14aには、それぞれ発光素子5*が実装される1つのLED実装部14bが形成されている。各個片基板14a毎においてLED実装部14b内に発光素子5*を実装し、その後LED実装部14b内に発光素子5*を覆って封止用の透明の樹脂28を塗布し、さらに樹脂28の硬化後に工程完了済みの基板14を個片基板14a毎に切断することにより、図14(b)に示す発光素子パッケージ50が完成する。   Here, with reference to FIG. 14, the substrate 14, the light emitting element 5 *, and the light emitting element package 50 as a finished product, which are work targets in the light emitting element package manufacturing system 101, will be described. As shown in FIG. 14A, the substrate 14 is a multiple substrate in which a plurality of individual substrates 14a serving as a base of one light emitting device package 50 in a finished product are formed. Each of the LED mounting portions 14b on which the light emitting elements 5 * are mounted is formed. For each individual substrate 14a, the light emitting element 5 * is mounted in the LED mounting portion 14b, and then the LED mounting portion 14b is covered with a transparent resin 28 for covering and covering the light emitting element 5 *. After the curing, the substrate 14 that has been processed is cut into individual substrates 14a, whereby the light emitting device package 50 shown in FIG. 14B is completed.

図14(b)に示すように、個片基板14aにはLED実装部14bを形成する例えば円形や楕円形の環状堤を有するキャビティ形状の反射部14cが設けられている。反射部14cの内側に搭載された発光素子5*のN型部電極6a、P型部電極6bは、個片基板14aの上面に形成された配線層14e、14dと、それぞれボンディングワイヤ27によって接続される。そして樹脂28はこの状態の発光素子5*を覆って反射部14cの内側に所定厚みで塗布され、発光素子5*から発光された白色光が透明の樹脂28を透過して照射される。   As shown in FIG. 14 (b), the individual substrate 14a is provided with a cavity-shaped reflecting portion 14c having, for example, a circular or elliptical annular bank that forms the LED mounting portion 14b. The N-type part electrode 6a and the P-type part electrode 6b of the light emitting element 5 * mounted inside the reflecting part 14c are connected to the wiring layers 14e and 14d formed on the upper surface of the individual substrate 14a by bonding wires 27, respectively. Is done. The resin 28 covers the light emitting element 5 * in this state and is applied to the inside of the reflecting portion 14c with a predetermined thickness, and the white light emitted from the light emitting element 5 * is irradiated through the transparent resin 28.

次に図15を参照して、部品実装装置M7の構成および機能を説明する。図15(a)の平面図に示すように、部品実装装置M7は、上流側から供給された作業対象の基板14を基板搬送方向(矢印a)に搬送する基板搬送機構21を備えている。基板搬送機構21には、上流側から順に、図15(b)にB−B断面にて示す接着剤供給部B、図15(c)にC−C断面にて示す部品実装部Cが配設されている。接着剤供給部Bは、基板搬送機構21の側方に配置され樹脂接着剤23を所定の膜厚の塗膜の形で供給する接着剤供給部22および基板搬送機構21と接着剤供給部22の上方で水平方向(矢印b)に移動自在な接着剤転写機構24を備えている。また部品実装部Cは、基板搬送機構21の側方に配置され、図11(b)に示す素子保持シート13A、13B、13C・・を保持する部品供給機構25および基板搬送機構21と部品供給機構25の上方で水平方向(矢印c)に移動自在な部品実装機構26を備えている。   Next, the configuration and function of the component mounting apparatus M7 will be described with reference to FIG. As shown in the plan view of FIG. 15A, the component mounting apparatus M7 includes a substrate transport mechanism 21 that transports the work target substrate 14 supplied from the upstream side in the substrate transport direction (arrow a). In order from the upstream side, the substrate transport mechanism 21 is provided with an adhesive supply section B shown in the section BB in FIG. 15B and a component mounting section C shown in the section CC in FIG. It is installed. The adhesive supply unit B is disposed on the side of the substrate transport mechanism 21 and supplies the resin adhesive 23 in the form of a coating film having a predetermined film thickness, and the substrate transport mechanism 21 and the adhesive supply unit 22. Is provided with an adhesive transfer mechanism 24 that is movable in the horizontal direction (arrow b). Further, the component mounting portion C is disposed on the side of the board transport mechanism 21, and the parts supply mechanism 25 and the board transport mechanism 21 for holding the element holding sheets 13A, 13B, 13C,... Shown in FIG. A component mounting mechanism 26 that is movable in the horizontal direction (arrow c) above the mechanism 25 is provided.

基板搬送機構21に搬入された基板14は、図15(b)に示すように、接着剤供給部Bにて位置決めされ、各個片基板14aに形成されたLED実装部14bを対象として、樹脂接着剤23の供給が行われる。すなわちまず接着剤転写機構24を接着剤供給部22の上方に移動させて転写ピン24aを転写面22aに形成された樹脂接着剤23の塗膜に接触させ、樹脂接着剤23を付着させる。次いで接着剤転写機構24を基板14の上方に移動させて、転写ピン24aをLED実装部14bに下降させることにより(矢印d)、転写ピン24aに付着した樹脂接着剤23をLED実装部14b内の素子実装位置に転写により供給する。   As shown in FIG. 15B, the substrate 14 carried into the substrate transport mechanism 21 is positioned by the adhesive supply unit B, and is bonded to the LED mounting unit 14b formed on each individual substrate 14a. The agent 23 is supplied. That is, first, the adhesive transfer mechanism 24 is moved above the adhesive supply unit 22 so that the transfer pin 24a is brought into contact with the coating film of the resin adhesive 23 formed on the transfer surface 22a, and the resin adhesive 23 is adhered. Next, the adhesive transfer mechanism 24 is moved above the substrate 14 and the transfer pin 24a is lowered to the LED mounting portion 14b (arrow d), whereby the resin adhesive 23 attached to the transfer pin 24a is moved into the LED mounting portion 14b. Supplied by transfer to the element mounting position.

次いで接着剤供給後の基板14は下流側へ搬送されて、図15(c)に示すように部品実装部Cにて位置決めされ、接着剤供給後の各LED実装部14bを対象として、発光素子5*の実装が行われる。すなわちまず部品実装機構26を部品供給機構25の上方に移動させて実装ノズル26aを部品供給機構25に保持された素子保持シート13A、13B、13C・・のいずれかに対して下降させ、実装ノズル26aによって発光素子5*を保持して取り出す。次いで部品実装機構26を基板14のLED実装部14bの上方に移動させて実装ノズル26aを下降させることにより(矢印e)、実装ノズル26aに保持した発光素子5*をLED実装部14b内において接着剤が供給された素子実装位置に実装する。   Next, the substrate 14 after the supply of the adhesive is transported to the downstream side, positioned at the component mounting portion C as shown in FIG. 15C, and the LED mounting portion 14b after the supply of the adhesive is targeted. Implementation of 5 * is performed. That is, first, the component mounting mechanism 26 is moved above the component supply mechanism 25, and the mounting nozzle 26a is lowered with respect to one of the element holding sheets 13A, 13B, 13C,. The light emitting element 5 * is held and taken out by 26a. Next, the component mounting mechanism 26 is moved above the LED mounting portion 14b of the substrate 14 to lower the mounting nozzle 26a (arrow e), whereby the light emitting element 5 * held by the mounting nozzle 26a is bonded within the LED mounting portion 14b. It is mounted at the element mounting position where the agent is supplied.

次に発光素子パッケージの製造システム101によって実行される発光素子パッケージ製造過程について、図16のフローに沿って、各図を参照しながら説明する。ここでは、LED素子5の上面を蛍光体を含む樹脂8で予め被覆してなる発光素子5*を基板14に実装して構成された発光素子パッケージ50を製造する。   Next, a light emitting device package manufacturing process executed by the light emitting device package manufacturing system 101 will be described along the flow of FIG. 16 with reference to the drawings. Here, a light emitting device package 50 is manufactured, which is configured by mounting on the substrate 14 a light emitting device 5 * obtained by previously covering the upper surface of the LED device 5 with a resin 8 containing a phosphor.

まず、作業対象となるLEDウェハ10をダイシング装置M1に搬入し、図3(a)に示すように、LED素子5が複数作り込まれダイシングシート10aに貼着された状態のLEDウェハ10をLED素子5毎に分割する(ST1)(ダイシング工程)。この後、LEDウェハ10は素子特性測定装置M2に搬入され、図3(b)に示すように、素子特性測定が行われる。すなわちダイシングシート10aに貼着保持された状態で個片に分割されたLED素子5の発光特性を個別に測定して、各LED素子5の発光特性を示す素子特性情報を求める(ST2)(素子特性測定工程)。   First, the LED wafer 10 to be worked is carried into the dicing apparatus M1, and as shown in FIG. 3 (a), the LED wafer 10 in a state where a plurality of LED elements 5 are formed and adhered to the dicing sheet 10a is LED. Each element 5 is divided (ST1) (dicing step). Thereafter, the LED wafer 10 is carried into the element characteristic measuring apparatus M2, and the element characteristic is measured as shown in FIG. That is, the light emission characteristics of the LED elements 5 divided into pieces while being stuck to the dicing sheet 10a are individually measured to obtain element characteristic information indicating the light emission characteristics of each LED element 5 (ST2) (element Characteristic measurement step).

次いで素子特性測定装置M2のマップ作成処理部74によって、マップデータ18が作成される。すなわち、個片に分割されたLED素子5のLEDウェハ10における位置を示す素子位置情報と当該LED素子5についての素子特性情報とを関連付けたマップデータ18(図4参照)をLEDウェハ10毎に作成する(ST3)(マップデータ作成工程)。次いで、LEDウェハ10を素子再配列装置M3に搬送し、ここでLED素子5をLEDウェハ10から取り出して、素子保持面20aに配列パターンデータ91aおよびマップデータ18に基づいて所定の配列で並び替える(ST4)(素子再配列工程)。そして、規定の発光特性を具備した発光素子5*を得るための樹脂8の適正樹脂供給量と素子特性情報とを対応させた情報を、樹脂供給情報19(図5参照)としてLANシステム2を介して管理コンピュータ3から入手する(ST5)(樹脂情報入手工程)。   Next, the map data 18 is created by the map creation processing unit 74 of the element characteristic measuring apparatus M2. That is, the map data 18 (see FIG. 4) in which the element position information indicating the position of the LED element 5 divided into pieces on the LED wafer 10 and the element characteristic information about the LED element 5 are associated is shown for each LED wafer 10. Create (ST3) (map data creation step). Next, the LED wafer 10 is transferred to the element rearrangement device M3, where the LED elements 5 are taken out from the LED wafer 10 and rearranged in a predetermined arrangement on the element holding surface 20a based on the arrangement pattern data 91a and the map data 18. (ST4) (Element rearrangement step). Then, the LAN system 2 is used as the resin supply information 19 (see FIG. 5), which is obtained by associating the appropriate resin supply amount of the resin 8 for obtaining the light emitting element 5 * having the prescribed light emission characteristics with the element characteristic information. Through the management computer 3 (ST5) (resin information acquisition step).

次いで、良品判定用のしきい値データ作成処理が実行される(ST6)。この処理は、生産用供給における良否判定のしきい値(図12に示すしきい値データ81a参照)を設定するために実行されるものであり、Binコード[1]、[2]、[3]、[4]、[5]に対応する生産用供給のそれぞれについて反復して実行される。このしきい値データ作成処理の詳細について、図17,図18,図19を参照して説明する。図17において、まず樹脂供給情報19に規定する蛍光体を純正濃度で含む樹脂8を準備する(ST21)。   Next, threshold data creation processing for non-defective product determination is executed (ST6). This process is executed to set a pass / fail judgment threshold value in production supply (see threshold value data 81a shown in FIG. 12). Bin codes [1], [2], [3 ], [4], and [5] are repeatedly executed for each of the production supplies. Details of the threshold data creation processing will be described with reference to FIGS. 17, 18, and 19. FIG. In FIG. 17, first, a resin 8 containing a phosphor specified in the resin supply information 19 at a genuine concentration is prepared (ST21).

そしてこの樹脂8を印刷ヘッド32にセットした後、印刷ノズルユニット32aを試し供給・測定ユニット40の試し供給ステージ40aに移動させて樹脂8を樹脂供給情報19に示す規定供給量(適正樹脂供給量)で透光部材43に供給する(ST22)。次いで透光部材43に供給された樹脂8を透光部材載置部41上に移動させ、LED素子5を発光させて樹脂8が未硬化の状態における発光特性を前述構成の発光特性測定部によって測定する(ST23)。そして発光特性測定部によって測定された発光特性の測定結果である発光特性測定値39aに基づき、発光特性が良品と判定されるための測定値の良品判定範囲を設定し(ST24)、設定された良品判定範囲をしきい値データ81aとして、記憶部81に記憶させるとともに管理コンピュータ3に転送して記憶部61に記憶させる(ST25)。   After the resin 8 is set on the print head 32, the print nozzle unit 32a is moved to the test supply stage 40a of the test supply / measurement unit 40, and the resin 8 is supplied to the specified supply amount (appropriate resin supply amount) shown in the resin supply information 19. ) To the translucent member 43 (ST22). Next, the resin 8 supplied to the translucent member 43 is moved onto the translucent member mounting portion 41, the LED element 5 is caused to emit light, and the light emission characteristic in the uncured state of the resin 8 is measured by the light emission characteristic measuring unit having the above-described configuration. Measure (ST23). Then, based on the light emission characteristic measurement value 39a, which is a measurement result of the light emission characteristic measured by the light emission characteristic measurement unit, a non-defective product determination range of the measurement value for determining the light emission characteristic is determined to be non-defective (ST24). The non-defective product determination range is stored as threshold data 81a in the storage unit 81, transferred to the management computer 3 and stored in the storage unit 61 (ST25).

図18はこのようにして作成されたしきい値データ、すなわち純正含有量の蛍光体を含有した樹脂8を供給した後、樹脂未硬化状態において求められた発光特性測定値および発光特性が良品と判定されるための測定値の良品判定範囲(しきい値)を示している。図18(a)、(b)、(c)は、樹脂8における蛍光体濃度がそれぞれ5%。10%、15%である場合の、Binコード[1]、[2]、[3]、[4]、[5]に対応したしきい値を示すものである。   FIG. 18 shows that the threshold data created in this way, that is, the measured emission characteristics and emission characteristics obtained in the uncured state of the resin 8 after supplying the resin 8 containing the phosphor with the genuine content are non-defective products. The non-defective product judgment range (threshold value) of the measured value for judgment is shown. 18A, 18B, and 18C, the phosphor concentration in the resin 8 is 5%, respectively. The threshold values corresponding to the Bin codes [1], [2], [3], [4], and [5] in the case of 10% and 15% are shown.

例えば図18(a)に示すように、樹脂8の蛍光体濃度が5%である場合において、Binコード12bのそれぞれには適正樹脂供給量15(1)のそれぞれに示す供給量が対応しており、それぞれの供給量で供給した樹脂8にLED素子5の青色光を照射することにより樹脂8が発する光の発光特性を発光特性測定部によって測定した測定結果が、発光特性測定値39a(1)に示されている。そしてそれぞれの発光特性測定値39a(1)に基づいて、しきい値データ81a(1)が設定される。   For example, as shown in FIG. 18A, when the phosphor concentration of the resin 8 is 5%, the supply amount shown in each of the appropriate resin supply amounts 15 (1) corresponds to each of the Bin codes 12b. The light emission characteristic measurement unit 39 measured the light emission characteristic of the light emitted from the resin 8 by irradiating the resin 8 supplied at the respective supply amounts with the blue light of the LED element 5. ). Then, threshold data 81a (1) is set based on the respective emission characteristic measurement values 39a (1).

例えばBinコード[1]に対応して適正樹脂供給量VA0で供給した樹脂8対象として発光特性を測定した測定結果は、図19に示す色度表上の色度座標ZA0(XA0、YA0)によって表される。そしてこの色度座標ZA0を中心として、色度表上におけるX座標、Y座標についての所定範囲(例えば±10%)が良品判定範囲(しきい値)として設定される。他のBinコード[2]〜[5]に対応した適正樹脂供給量についても同様に、発光特性測定結果に基づいて良品判定範囲(しきい値)が設定される(図19に示す色度表上の色度座標ZB0〜ZE0参照)。ここで、しきい値として設定される所定範囲は、製品としての発光素子パッケージ50に求められる発光特性の精度レベルに応じて適宜設定される。 For example, the measurement result of measuring the light emission characteristics of the resin 8 object supplied with the appropriate resin supply amount VA0 corresponding to the Bin code [1] is the chromaticity coordinate ZA0 (X A0 , Y A0 on the chromaticity table shown in FIG. ). With this chromaticity coordinate ZA0 as the center, a predetermined range (for example, ± 10%) for the X coordinate and Y coordinate on the chromaticity table is set as a non-defective product determination range (threshold value). Similarly, for the appropriate resin supply amounts corresponding to the other Bin codes [2] to [5], a non-defective product determination range (threshold value) is set based on the light emission characteristic measurement results (chromaticity table shown in FIG. 19). (See chromaticity coordinates ZB0-ZE0 above). Here, the predetermined range set as the threshold value is appropriately set according to the accuracy level of the light emission characteristics required for the light emitting element package 50 as a product.

そして図18(b)、(c)は、同様に樹脂8の蛍光体濃度がそれぞれ10%、15%である場合の、発光特性測定値および良品判定範囲(しきい値)を示している。図18(b)、(c)において、適正樹脂供給量15(2)、適正樹脂供給量15(3)はそれぞれ蛍光体濃度がそれぞれ10%、15%である場合の適正樹脂供給量を示しており、発光特性測定値39a(2)、発光特性測定値39a(3)は、それぞれ蛍光体濃度がそれぞれ10%、15%である場合の発光特定測定値を、またしきい値データ81a(2)、しきい値データ81a(3)はそれぞれの場合の良品判定範囲(しきい値)を示している。   18B and 18C show the emission characteristic measurement values and the non-defective product determination range (threshold value) when the phosphor concentrations of the resin 8 are 10% and 15%, respectively. In FIGS. 18B and 18C, the proper resin supply amount 15 (2) and the proper resin supply amount 15 (3) indicate the proper resin supply amounts when the phosphor concentrations are 10% and 15%, respectively. The emission characteristic measurement value 39a (2) and the emission characteristic measurement value 39a (3) are emission specific measurement values when the phosphor concentrations are 10% and 15%, respectively, and threshold data 81a ( 2) The threshold value data 81a (3) indicates a non-defective product determination range (threshold value) in each case.

このようにして作成されたしきい値データは、生産用供給作業において、対象となるLED素子5の属するBinコード12bに応じて使い分けられる。なお、(ST6)に示すしきい値データ作成処理は、発光素子パッケージの製造システム101とは別に設けられた単独の検査装置によってオフライン作業として実行し、管理コンピュータ3に予めしきい値データ81aとして記憶させたものをLANシステム2経由で樹脂供給装置M4に送信して用いるようにしてもよい。   The threshold data created in this way is selectively used according to the Bin code 12b to which the target LED element 5 belongs in the production supply operation. The threshold data creation process shown in (ST6) is executed as an off-line operation by a single inspection device provided separately from the light emitting element package manufacturing system 101, and is previously stored in the management computer 3 as threshold data 81a. The stored data may be transmitted to the resin supply device M4 via the LAN system 2 and used.

このようにして樹脂供給が可能な状態となった後、LED素子5を保持した素子保持部材20を樹脂供給装置M4に搬送する(ST7)。そして樹脂供給情報19と並び替え後の素子配列情報118とに基づき、規定の発光特性を具備するための適正樹脂供給量の樹脂8を、素子保持部材20の素子保持面20aに保持された各LED素子5に供給する(ST8)(樹脂供給工程)。この樹脂供給作業処理の詳細について、図20,図21を参照して説明する。   After the resin can be supplied in this manner, the element holding member 20 holding the LED element 5 is conveyed to the resin supply device M4 (ST7). Then, based on the resin supply information 19 and the rearranged element arrangement information 118, each resin held in the element holding surface 20a of the element holding member 20 is supplied with an appropriate resin supply amount of resin 8 for providing specified light emission characteristics. Supply to the LED element 5 (ST8) (resin supply process). Details of this resin supply work process will be described with reference to FIGS.

まず樹脂供給作業の開始に際しては、必要に応じて樹脂収納容器の交換が行われる(ST31)。すなわち印刷ヘッド32に装着される樹脂カートリッジを、LED素子5の特性に応じて選択された蛍光体濃度の樹脂8を収納したものに交換する。次いで樹脂8を供給量を可変に吐出する樹脂供給部Aによって、樹脂8を発光特性測定用として透光部材43に試し供給する(測定用供給ステップ)(ST32)。すなわち、試し供給・測定ユニット40にて試し供給ステージ40aに引き出された透光部材43上に、図5に示す樹脂供給情報19にて規定される各Binコード12b毎の適正樹脂供給量(VA0〜VE0)の樹脂8を供給する。このとき適正樹脂供給量(VA0〜VE0)に対応する吐出動作パラメータを印刷ヘッド32に指令しても、印刷ノズルユニット32aから吐出されて透光部材43に供給される実際の樹脂供給量は樹脂8の性状の経時変化などによって必ずしも上述の適正樹脂供給量とはならず、図20(a)に示すように、実際樹脂供給量はVA0〜VE0とは幾分異なるVA1〜VE1となる。   First, at the start of the resin supply operation, the resin container is exchanged as necessary (ST31). That is, the resin cartridge mounted on the print head 32 is replaced with one containing a resin 8 having a phosphor concentration selected according to the characteristics of the LED element 5. Next, the resin 8 is supplied to the translucent member 43 for measurement of light emission characteristics by the resin supply unit A that discharges the resin 8 in a variable amount (measurement supply step) (ST32). That is, the appropriate resin supply amount (VA0) for each Bin code 12b defined by the resin supply information 19 shown in FIG. 5 is placed on the translucent member 43 drawn to the test supply stage 40a by the test supply / measurement unit 40. -VE0) resin 8 is supplied. At this time, even if the ejection operation parameter corresponding to the appropriate resin supply amount (VA0 to VE0) is commanded to the print head 32, the actual resin supply amount discharged from the print nozzle unit 32a and supplied to the translucent member 43 is resin. However, the actual resin supply amount is VA1 to VE1, which is slightly different from VA0 to VE0, as shown in FIG. 20 (a).

次いで試し供給・測定ユニット40において透光部材43を送ることにより、樹脂8が試し供給された透光部材43を送り、透光部材載置部41に載置する(透光部材載置ステップ)。そして透光部材載置部41の上方に配置された光源部45から、蛍光体を励起する励起光を発光する。そしてこの励起光を透光部材43に供給された樹脂8に上方から照射することにより、この樹脂8が発する光を透光部材43の下方から積分球44を介して分光器42によって受光し、発光特性測定処理部39によってこの光の発光特性測定を行う(発光特性測定ステップ)(ST33)。   Next, by transmitting the translucent member 43 in the trial supply / measurement unit 40, the translucent member 43 on which the resin 8 has been trial-supplied is sent and placed on the translucent member mounting portion 41 (translucent member mounting step). . And the excitation light which excites fluorescent substance is light-emitted from the light source part 45 arrange | positioned above the translucent member mounting part 41. FIG. The excitation light is irradiated onto the resin 8 supplied to the translucent member 43 from above, so that the light emitted by the resin 8 is received by the spectroscope 42 from below the translucent member 43 via the integrating sphere 44, The light emission characteristic measurement processing unit 39 measures the light emission characteristic (light emission characteristic measurement step) (ST33).

これにより、図21(b)に示すように、色度座標Z(図19参照)で表される発光特性測定値が得られる。この測定結果は、上述の供給量の誤差および樹脂8中の蛍光体粒子の濃度変化などによって、必ずしも予め規定された発光特性、すなわち図18(a)に示す適正樹脂供給時における標準的な色度座標ZA0〜ZE0とは一致しない。このため、得られた色度座標ZA1〜ZE1と、図18(a)に示す適正樹脂供給時における標準的な色度座標ZA0〜ZE0との、X,Y座標における隔たりを示す偏差(ΔX、ΔY)〜(ΔX、ΔY)を求め、所望の発光特性を得るための補正の要否を判定する。 As a result, as shown in FIG. 21B, a light emission characteristic measurement value represented by the chromaticity coordinate Z (see FIG. 19) is obtained. This measurement result is not necessarily based on the above-described error in the supply amount and the change in the concentration of the phosphor particles in the resin 8, for example, the light emission characteristics defined in advance, that is, the standard color when supplying the appropriate resin shown in FIG. It does not coincide with the degree coordinates ZA0 to ZE0. For this reason, the deviation (ΔX A) indicating the separation in the X and Y coordinates between the obtained chromaticity coordinates ZA1 to ZE1 and the standard chromaticity coordinates ZA0 to ZE0 at the time of supplying the appropriate resin shown in FIG. , ΔY A ) to (ΔX E , ΔY E ) are determined to determine whether correction is necessary to obtain desired light emission characteristics.

ここでは測定結果はしきい値以内であるか否かの判定が行われ(ST34)、図21(c)に示すように、(ST33)にて求められた偏差としきい値とを比較することにより、偏差(ΔX、ΔY)〜(ΔX、ΔY)がZA0〜ZE0に対して±10%の範囲内にあるか否かを判断する。ここで、偏差がしきい値以内であれば、既設定の適正樹脂供給量VA0〜VE0に対応する吐出動作パラメータをそのまま維持する。これに対し、偏差がしきい値を超えている場合には、供給量の補正を行う(ST35)。 Here, it is determined whether or not the measurement result is within the threshold value (ST34), and the deviation obtained in (ST33) is compared with the threshold value as shown in FIG. 21 (c). Thus, it is determined whether the deviations (ΔX A , ΔY A ) to (ΔX E , ΔY E ) are within ± 10% of ZA0 to ZE0. If the deviation is within the threshold value, the discharge operation parameters corresponding to the preset appropriate resin supply amounts VA0 to VE0 are maintained as they are. On the other hand, when the deviation exceeds the threshold value, the supply amount is corrected (ST35).

すなわち発光特性測定工程における測定結果と予め規定された発光特性との偏差を求め、図20(d)に示すように、求められた偏差に基づいて、LED素子5に供給されるべき実生産用の新たな適正樹脂供給量(VA2〜VE2)を導出する処理を、供給量導出処理部38によって実行する(供給量導出処理ステップ)。換言すれば、発光特性測定ステップにおける測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて適正樹脂供給量を補正することにより、実生産用の新たな適正樹脂供給量を導出する。   That is, the deviation between the measurement result in the light emission characteristic measuring step and the predetermined light emission characteristic is obtained, and as shown in FIG. 20 (d), the actual production to be supplied to the LED element 5 based on the obtained deviation. The process of deriving the new appropriate resin supply amount (VA2 to VE2) is executed by the supply amount deriving processing unit 38 (supply amount deriving process step). In other words, a new appropriate resin supply amount for actual production is derived by correcting the appropriate resin supply amount based on the measurement result in the light emission characteristic measurement step and the predetermined light emission characteristic.

ここで、補正後の適正樹脂供給量(VA2〜VE2)は、既設定の適正樹脂供給量VA0〜VE0に、それぞれの偏差に応じた補正分を加えた更新値である。偏差と補正分との関係は、予め既知の付随データとして樹脂供給情報19に記録されている。そして補正後の適正樹脂供給量(VA2〜VE2)に基づいて(ST32)、(ST33)、(ST34)、(ST35)の処理が反復実行され、(ST34)にて測定結果と予め規定された発光特性との偏差がしきい値以内であることが確認されることにより、実生産用の適正樹脂供給量が確定する。すなわち上述の樹脂供給方法においては、測定用供給工程、透光部材載置工程、励起光発光工程、発光特性測定工程および供給量導出工程を反復実行することにより、適正樹脂供給量を確定的に導出するようにしている。そして確定した適正樹脂供給量は、記憶部81に実生産用供給量81bとして記憶される。   Here, the corrected appropriate resin supply amounts (VA2 to VE2) are updated values obtained by adding correction amounts corresponding to the respective deviations to the preset appropriate resin supply amounts VA0 to VE0. The relationship between the deviation and the correction amount is recorded in advance in the resin supply information 19 as known accompanying data. Then, based on the corrected proper resin supply amount (VA2 to VE2), the processes of (ST32), (ST33), (ST34), and (ST35) are repeatedly executed, and the measurement result is defined in advance in (ST34). By confirming that the deviation from the light emission characteristic is within the threshold value, the appropriate resin supply amount for actual production is determined. That is, in the above-described resin supply method, the appropriate resin supply amount is determined by repeatedly executing the measurement supply step, the translucent member placement step, the excitation light emission step, the light emission characteristic measurement step, and the supply amount derivation step. I try to derive. The determined proper resin supply amount is stored in the storage unit 81 as the actual production supply amount 81b.

そしてこの後、次のステップに移行して捨て打ちが実行される(ST36)。ここでは、所定量の樹脂8を印刷ノズルユニット32aから吐出させることにより、樹脂吐出経路内の樹脂流動状態を改善して、印刷ヘッド32の動作を安定させる。なお図20にて破線枠によって示す(S37)、(ST38)、(ST39)、(ST40)の処理は、(ST32)、(ST33)、(ST34)、(ST35)に示す処理内容と同様であり、所望の発光特性が完全に確保されていることを入念的に確認する必要がある場合に実行されるものであり、必ずしも必須実行事項ではない。   After that, the process moves to the next step, and discarding is executed (ST36). Here, by discharging a predetermined amount of the resin 8 from the print nozzle unit 32a, the resin flow state in the resin discharge path is improved, and the operation of the print head 32 is stabilized. Note that the processing of (S37), (ST38), (ST39), and (ST40) indicated by the broken line frame in FIG. 20 is the same as the processing content shown in (ST32), (ST33), (ST34), and (ST35). It is executed when it is necessary to carefully check that the desired light emission characteristics are completely secured, and is not necessarily an essential execution item.

このようにして、所望の発光特性を与える適正樹脂供給量が確定したならば、生産用供給が実行される(ST41)。すなわち、供給量導出処理部38によって導出され実生産用供給量81bとして記憶されたた適正樹脂供給量を、印刷ヘッド32を制御する供給制御部36に生産実行処理部37が指令することにより、この適正樹脂供給量の樹脂8を、ウェハ状態のLED素子5に個別に供給する生産用供給処理を実行させる(生産実行ステップ)。   If the proper resin supply amount that gives the desired light emission characteristics is determined in this way, supply for production is executed (ST41). That is, the production execution processing unit 37 instructs the supply control unit 36 that controls the print head 32 to supply the appropriate resin supply amount derived by the supply amount derivation processing unit 38 and stored as the actual production supply amount 81b. A production supply process for individually supplying the resin 8 having the appropriate resin supply amount to the LED elements 5 in the wafer state is executed (production execution step).

そしてこの生産用供給処理を反復実行する過程においては、印刷ヘッド32による供給回数をカウントしており、供給回数が予め設定された所定回数を経過したか否かが監視される(ST42)。すなわちこの所定回数に到達するまでは、樹脂8の性状や蛍光体濃度の変化は少ないと判断して、同一の実生産用供給量81bを維持したまま生産用供給実行(ST41)を反復する。そして(ST42)にて所定回数の経過が確認されたならば、樹脂8の性状や蛍光体濃度が変化している可能性有りと判断して(ST32)に戻り、以下同様の発光特性の測定とその測定結果に基づく供給量補正処理が反復して実行される。   In the process of repeatedly executing this production supply process, the number of times of supply by the print head 32 is counted, and it is monitored whether or not the number of times of supply has passed a predetermined number of times (ST42). That is, until the predetermined number of times is reached, it is determined that changes in the properties of the resin 8 and the phosphor concentration are small, and the production supply execution (ST41) is repeated while maintaining the same actual production supply amount 81b. If the predetermined number of times has been confirmed in (ST42), it is determined that there is a possibility that the property of the resin 8 or the phosphor concentration has changed, and the process returns to (ST32), and the same measurement of light emission characteristics is performed thereafter. The supply amount correction process based on the measurement result is repeatedly executed.

次に図16のフローに戻り、LED素子5を保持した素子保持部材20はキュア装置M5に搬送され、図11(a)に示すように、ここで樹脂8が供給されたLED素子5を加熱することにより樹脂8を硬化させる(ST8)(キュア工程)。これにより、LED素子5の上面は樹脂8が熱硬化した樹脂膜8*で覆われる。なお、キュア工程において、樹脂8を加熱硬化させる替わりに、UV(紫外線)を照射することによって硬化を促進させる方法や、そのまま放置して自然硬化させる方法を用いてもよい。そしてこの後、発光素子5*を保持した素子保持部材20はソーティング装置M6に搬送されて、ここで各発光素子5*の発光特性が検査され、図11(b)に示すように、検査結果に基づいて発光素子5*を素子保持シート13A、13B・・に分別するソーティングが行われる(ST10)。   Next, returning to the flow of FIG. 16, the element holding member 20 holding the LED element 5 is transported to the curing device M <b> 5, and as shown in FIG. 11A, the LED element 5 supplied with the resin 8 is heated here. By doing so, the resin 8 is cured (ST8) (curing step). Thereby, the upper surface of the LED element 5 is covered with the resin film 8 * obtained by thermosetting the resin 8. In the curing step, instead of curing the resin 8 by heating, a method of accelerating curing by irradiating UV (ultraviolet light) or a method of allowing it to stand for natural curing may be used. After that, the element holding member 20 holding the light emitting element 5 * is transported to the sorting device M6, where the light emission characteristics of each light emitting element 5 * are inspected, and as shown in FIG. Based on the above, sorting for separating the light emitting elements 5 * into the element holding sheets 13A, 13B,... Is performed (ST10).

この後、このようにして製造された発光素子5*を基板14に実装する(ST11)(部品実装工程)。すなわち発光特性に応じて分別された発光素子5*は、素子保持シート13A、13B・・に貼着された状態で部品実装装置M7に送られる。そして図22(a)に示すように、接着剤転写機構24の転写ピン24aを昇降させることにより(矢印n)、LED実装部14b内の素子実装位置に樹脂接着剤23を供給した後、図22(b)に示すように、部品実装機構26の実装ノズル26aに保持した発光素子5*を下降させ(矢印o)、樹脂接着剤23を介して基板14のLED実装部14b内に実装する。   Thereafter, the light emitting element 5 * manufactured in this way is mounted on the substrate 14 (ST11) (component mounting process). That is, the light emitting elements 5 * sorted according to the light emission characteristics are sent to the component mounting apparatus M7 in a state of being attached to the element holding sheets 13A, 13B,. Then, as shown in FIG. 22A, the resin adhesive 23 is supplied to the element mounting position in the LED mounting portion 14b by moving the transfer pin 24a of the adhesive transfer mechanism 24 up and down (arrow n). 22 (b), the light emitting element 5 * held by the mounting nozzle 26a of the component mounting mechanism 26 is lowered (arrow o) and mounted in the LED mounting portion 14b of the substrate 14 via the resin adhesive 23. .

次いで、部品実装後の基板14はキュア装置M8に送られ、ここで加熱されることにより、図22(c)に示すように、樹脂接着剤23が熱硬化して樹脂接着剤23*となり、発光素子5*は個片基板14aに固着される。次いで樹脂キュア後の基板14はワイヤボンディング装置M9に送られ、図22(d)に示すように、個片基板14aの配線層14e、14dを、それぞれ発光素子5*のN型部電極6a、P型部電極6bとボンディングワイヤ27によって接続する。   Next, the substrate 14 after component mounting is sent to the curing device M8, where it is heated, whereby the resin adhesive 23 is thermally cured to become a resin adhesive 23 * as shown in FIG. The light emitting element 5 * is fixed to the individual substrate 14a. Next, the substrate 14 after resin curing is sent to the wire bonding apparatus M9, and as shown in FIG. 22 (d), the wiring layers 14e and 14d of the individual substrate 14a are respectively connected to the N-type electrode 6a of the light emitting element 5 *, The P-type part electrode 6 b is connected to the bonding wire 27.

この後、ワイヤボンディング後の基板14は樹脂塗布装置M10に搬送され樹脂封止が行われる(ST12)。すなわち図23(a)に示すように、反射部14cで囲まれるLED実装部14bの内部に、発光素子5*を覆って吐出ノズル90から封止用の透明の樹脂28を吐出させる。このようにして1枚の基板14を対象とする樹脂供給が終了すると、基板14はキュア装置M11に送られ、基板14を加熱することにより樹脂28を硬化させる。これにより、図23(c)に示すように、発光素子5*を覆って供給された樹脂28は熱硬化して固形の樹脂28*となり、LED実装部14b内で固着状態となって発光素子5*を封止する。   Thereafter, the substrate 14 after wire bonding is transferred to the resin coating apparatus M10 and resin sealing is performed (ST12). That is, as shown in FIG. 23A, the transparent resin 28 for sealing is discharged from the discharge nozzle 90 while covering the light emitting element 5 * inside the LED mounting portion 14b surrounded by the reflection portion 14c. When the resin supply for one substrate 14 is thus completed, the substrate 14 is sent to the curing device M11, and the resin 28 is cured by heating the substrate 14. As a result, as shown in FIG. 23C, the resin 28 supplied to cover the light emitting element 5 * is thermoset to become a solid resin 28 *, which is in a fixed state in the LED mounting portion 14b. Seal 5 *.

次いで、樹脂キュア後の基板14は個片切断装置M12に送られ、ここで基板14を個片基板14a毎に切断することにより、図23(d)に示すように、個片の発光素子パッケージ50に分割する(ST13)。これにより、LED素子5を樹脂8で覆って成る発光素子5*を個片基板14aに実装した発光素子パッケージ50が完成する。   Next, the substrate 14 after the resin curing is sent to the individual piece cutting device M12, where the substrate 14 is cut into individual piece substrates 14a, whereby individual light emitting element packages are obtained as shown in FIG. It is divided into 50 (ST13). Thereby, the light emitting element package 50 in which the light emitting element 5 * formed by covering the LED element 5 with the resin 8 is mounted on the individual substrate 14a is completed.

上記説明したように、本実施の形態に示す発光素子の製造システム1および発光素子パッケージの製造システム101では、LED素子5の上面を蛍光体を含む樹脂8で被覆してなる発光素子5*の製造において、LEDウェハ10から取り出されて素子保持部材20の素子保持面20aに所定の配列で並び替えられたLED素子5に樹脂8を吐出して供給する樹脂供給に際し、樹脂8を発光特性測定用として試し供給した透光部材43に光源部45から励起光を照射してこの樹脂8が発する光の発光特性を測定し、この測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて適正樹脂供給量を補正して、実生産用としてLED素子に供給されるべき樹脂8の適正樹脂供給量を導出するようにしている。これにより、個片のLED素子5の発光波長がばらつく場合にあっても、発光素子5*の発光特性を均一にして生産歩留まりを向上させることができる。   As described above, in the light-emitting element manufacturing system 1 and the light-emitting element package manufacturing system 101 shown in the present embodiment, the light-emitting element 5 * formed by coating the upper surface of the LED element 5 with the resin 8 containing a phosphor. During manufacturing, when the resin 8 is discharged and supplied to the LED elements 5 taken out from the LED wafer 10 and rearranged in a predetermined arrangement on the element holding surface 20a of the element holding member 20, the resin 8 is measured for light emission characteristics. The light-emitting characteristic of the light emitted from the resin 8 is measured by irradiating the light-transmitting member 43, which is supplied as a trial, with the excitation light from the light source unit 45, and an appropriate resin supply is performed based on the measurement result and the predetermined light-emitting characteristics. By correcting the amount, an appropriate resin supply amount of the resin 8 to be supplied to the LED element for actual production is derived. As a result, even when the emission wavelengths of the individual LED elements 5 vary, the light emission characteristics of the light emitting elements 5 * can be made uniform to improve the production yield.

また樹脂8の供給をLEDウェハ10から取り出されて素子保持部材20の素子保持面20aに所定の配列で並び替えられたLED素子5を対象として行うようにしていることから、樹脂供給対象エリアを局限することが可能となっている。これにより、複数の個片基板より成る基板に実装した後に樹脂を供給する従来方法と比較して、樹脂供給設備の専有面積を減少させることができ、製造設備の面積生産性を向上させることができる。さらに、ウェハ状態においては位置が固定された各LED素子5を樹脂供給のために望ましい配列に再配列することができ、樹脂供給装置M4による樹脂供給作業を効率よく実行することができる。   In addition, since the resin 8 is supplied from the LED wafer 10 and rearranged in a predetermined arrangement on the element holding surface 20a of the element holding member 20, the resin supply target area is set as the target. It is possible to localize. As a result, compared to the conventional method of supplying resin after mounting on a substrate composed of a plurality of individual substrates, the exclusive area of the resin supply equipment can be reduced, and the area productivity of the manufacturing equipment can be improved. it can. Furthermore, in the wafer state, the LED elements 5 whose positions are fixed can be rearranged in a desired arrangement for resin supply, and the resin supply operation by the resin supply device M4 can be executed efficiently.

本発明の発光素子の製造システムおよび製造方法ならびにこの発光素子を基板に実装して構成された発光素子パッケージの製造システムおよび製造方法は、個片のLED素子の発光波長がばらつく場合にあっても、発光素子パッケージの発光特性を均一にして、生産歩留まりを向上させるとともに製造設備の面積生産性を向上させることができるという効果を有し、LED素子を蛍光体を含む樹脂で覆った構成の発光素子パッケージを製造する分野において利用可能である。   The light emitting device manufacturing system and manufacturing method and the light emitting device package manufacturing system and manufacturing method configured by mounting the light emitting device on a substrate, even when the light emitting wavelengths of individual LED devices vary. The light emitting device package has the effect that the light emitting characteristics of the light emitting device package can be made uniform, the production yield can be improved and the area productivity of the manufacturing equipment can be improved, and the LED device is covered with a resin containing a phosphor. It can be used in the field of manufacturing device packages.

1 発光素子の製造システム
2 LANシステム
5 LED素子
5* 発光素子
8 樹脂
10 LEDウェハ
10a ダイシングシート
12 素子特性情報
14 基板
14a 個片基板
14b LED実装部
14c 反射部
18 マップデータ
19 樹脂供給情報
20 素子保持部材
20a 素子保持面
23 樹脂接着剤
24 接着剤転写機構
25 部品供給機構
26 部品実装機構
28 樹脂
32 印刷ヘッド
32a 印刷ノズルユニット
40、140 試し供給・測定ユニット
40a 試し供給ステージ
41、141 透光部材載置部
42 分光器
43 透光部材
44 積分球
46 照射部
50 発光素子パッケージ
101 発光素子パッケージの製造システム
118 素子配列情報
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light emitting element manufacturing system 2 LAN system 5 LED element 5 * Light emitting element 8 Resin 10 LED wafer 10a Dicing sheet 12 Element characteristic information 14 Substrate 14a Single piece substrate 14b LED mounting part 14c Reflector 18 Map data 19 Resin supply information 20 Element Holding member 20a Element holding surface 23 Resin adhesive 24 Adhesive transfer mechanism 25 Component supply mechanism 26 Component mounting mechanism 28 Resin 32 Print head 32a Print nozzle unit 40, 140 Test supply / measurement unit 40a Test supply stage 41, 141 Translucent member Placement part 42 Spectroscope 43 Translucent member 44 Integrating sphere 46 Irradiation part 50 Light emitting element package 101 Light emitting element package manufacturing system 118 Element arrangement information

Claims (6)

LED素子の上面を蛍光体を含む樹脂で被覆してなる発光素子を製造する発光素子の製造システムであって、
前記LED素子が複数作り込まれダイシングシートに貼着された状態のLEDウェハをLED素子毎に分割するダイシング装置と、
前記ダイシングシートに貼着保持された状態で個片に分割された前記LED素子の発光特性を個別に測定して、各LED素子の発光特性を示す素子特性情報を求める素子特性測定部と、
前記分割されたLED素子の前記LEDウェハにおける位置を示す素子位置情報と当該LED素子についての前記素子特性情報とを関連付けたマップデータを前記LEDウェハ毎に作成するマップデータ作成部と、
前記LED素子を素子保持面に前記マップデータに基づいて所定の配列で並び替える素子再配列部と、
規定の発光特性を具備したLED素子を得るための前記樹脂の適正樹脂供給量と前記素子特性情報とを対応させた情報を樹脂供給情報として提供する樹脂情報提供手段と、
前記素子再配列部による並び替え後のLED素子の配列を示す素子配列情報と前記樹脂供給情報に基づき、規定の発光特性を具備するための適正樹脂供給量の前記樹脂を、前記素子保持面に保持された各LED素子に供給する樹脂供給装置と、
前記LED素子に供給された前記樹脂を硬化させるキュア装置とを備え、
前記樹脂供給装置は、前記樹脂を供給量を可変に吐出して任意の供給対象位置に供給する樹脂供給部と、
前記樹脂供給部を制御することにより、前記樹脂を発光特性測定用として透光部材に試し供給する測定用供給処理および実生産用として前記LED素子に供給する生産用供給処理を実行させる供給制御部と、
前記蛍光体を励起する励起光を発光する光源部と、前記測定用供給処理において前記樹脂が試し供給された透光部材が載置される透光部材載置部と、
前記光源部から発光された励起光を前記透光部材に供給された樹脂に照射することによりこの樹脂が発する光の発光特性を測定する発光特性測定部と、
前記発光特性測定部の測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて前記適正樹脂供給量を補正することにより、前記LED素子に供給されるべき実生産用の適正樹脂供給量を導出する供給量導出処理部と、
前記導出された適正樹脂供給量を前記供給制御部に指令することにより、この適正樹脂供給量の樹脂をLED素子に供給する生産用供給処理を実行させる生産実行処理部とを備えたことを特徴とする発光素子の製造システム。
A light-emitting element manufacturing system for manufacturing a light-emitting element formed by coating the upper surface of an LED element with a resin containing a phosphor,
A dicing apparatus that divides the LED wafer in a state in which a plurality of the LED elements are built and adhered to a dicing sheet for each LED element;
An element characteristic measurement unit that individually measures the light emission characteristics of the LED elements divided into pieces in a state of being stuck and held on the dicing sheet, and obtains element characteristic information indicating the light emission characteristics of each LED element;
A map data creation unit that creates, for each LED wafer, map data that associates element position information indicating the position of the divided LED elements on the LED wafer and the element characteristic information on the LED elements;
An element rearrangement unit for rearranging the LED elements on an element holding surface in a predetermined arrangement based on the map data;
Resin information providing means for providing, as resin supply information, information corresponding to an appropriate resin supply amount of the resin for obtaining an LED element having a prescribed light emission characteristic and the element characteristic information;
Based on the element arrangement information indicating the arrangement of the LED elements rearranged by the element rearrangement unit and the resin supply information, the resin having an appropriate resin supply amount for providing a predetermined light emission characteristic is provided on the element holding surface. A resin supply device for supplying each LED element held;
A curing device for curing the resin supplied to the LED element,
The resin supply device includes a resin supply unit that discharges the resin in a variable amount and supplies the resin to an arbitrary supply target position;
By controlling the resin supply unit, a supply control unit that executes a supply process for measurement for supplying the resin to the translucent member for light emission characteristic measurement and a supply process for production for supplying to the LED element for actual production When,
A light source unit that emits excitation light that excites the phosphor, and a translucent member mounting unit on which the translucent member on which the resin has been trial-supplied in the measurement supply process is mounted,
A light emission characteristic measuring unit that measures the light emission characteristic of the light emitted by the resin by irradiating the resin supplied to the translucent member with the excitation light emitted from the light source unit;
Supply for deriving an appropriate resin supply amount for actual production to be supplied to the LED element by correcting the appropriate resin supply amount based on a measurement result of the light emission characteristic measuring unit and a predetermined light emission characteristic A quantity derivation processing unit;
And a production execution processing unit that executes a supply process for production for supplying the resin of the proper resin supply amount to the LED element by instructing the derived appropriate resin supply amount to the supply control unit. A light emitting device manufacturing system.
前記樹脂供給部は、前記樹脂をインクジェット方式によって吐出させる樹脂吐出装置であることを特徴とする請求項1記載の発光素子の製造システム。   The light emitting element manufacturing system according to claim 1, wherein the resin supply unit is a resin discharge device that discharges the resin by an ink jet method. LED素子の上面を蛍光体を含む樹脂で被覆してなる発光素子を製造する発光素子の製造方法であって、
前記LED素子が複数作り込まれダイシングシートに貼着された状態のLEDウェハをLED素子毎に分割するダイシング工程と、
前記ダイシングシートに貼着保持された状態で個片に分割された前記LED素子の発光特性を個別に測定して、各LED素子の発光特性を示す素子特性情報を求める素子特性測定工程と、
前記分割されたLED素子の前記LEDウェハにおける位置を示す素子位置情報と当該LED素子についての前記素子特性情報とを関連付けたマップデータを、前記LEDウェハ毎に作成するマップデータ作成工程と、
前記LED素子を素子保持面に前記マップデータに基づいて所定の配列で並び替える素子再配列工程と、
規定の発光特性を具備したLED素子を得るための前記樹脂の適正樹脂供給量と前記素子特性情報とを対応させた情報を樹脂供給情報として入手する樹脂情報入手工程と、
前記素子再配列工程による並び替え後のLED素子の配列を示す素子配列情報と前記樹脂供給情報に基づき、規定の発光特性を具備するための適正樹脂供給量の前記樹脂を、前記素子保持面に保持された各LED素子に供給する樹脂供給工程と、
前記LED素子に供給された前記樹脂を硬化させるキュア工程とを含み、
さらに前記樹脂供給工程は、前記樹脂を供給量を可変に吐出する樹脂供給部によって、前記樹脂を発光特性測定用として透光部材に試し供給する測定用供給ステップと、
前記樹脂が試し供給された透光部材を透光部材載置部に載置する透光部材載置ステップと、
前記蛍光体を励起する励起光を発光する光源部から発光された励起光を前記透光部材に供給された樹脂に照射することによりこの樹脂が発する光の発光特性を測定する発光特性測定ステップと、
前記発光特性測定ステップにおける測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて前記適正樹脂供給量を補正することにより、前記LED素子に供給されるべき実生産用の適正樹脂供給量を導出する供給量導出処理ステップと
前記導出された適正樹脂供給量を前記樹脂供給部を制御する供給制御部に指令することにより、この適正樹脂供給量の樹脂をLED素子に供給する生産用供給処理を実行させる生産実行ステップとを含むことを特徴とする発光素子の製造方法。
A method of manufacturing a light-emitting element for manufacturing a light-emitting element formed by coating the upper surface of an LED element with a resin containing a phosphor,
A dicing step of dividing the LED wafer in a state where a plurality of the LED elements are built and attached to the dicing sheet for each LED element;
An element characteristic measurement step for obtaining element characteristic information indicating the light emission characteristics of each LED element by separately measuring the light emission characteristics of the LED elements divided into pieces in a state of being stuck and held on the dicing sheet;
A map data creation step for creating map data for each LED wafer, associating element position information indicating the position of the divided LED elements on the LED wafer and the element characteristic information on the LED elements;
An element rearrangement step of rearranging the LED elements on the element holding surface in a predetermined arrangement based on the map data;
A resin information obtaining step for obtaining, as resin supply information, information corresponding to an appropriate resin supply amount of the resin for obtaining an LED element having prescribed light emission characteristics and the element characteristic information;
Based on the element arrangement information indicating the arrangement of the LED elements after rearrangement in the element rearrangement step and the resin supply information, the resin having an appropriate resin supply amount for providing a predetermined light emission characteristic is provided on the element holding surface. A resin supply step for supplying each LED element held;
Curing the resin supplied to the LED element,
Furthermore, the resin supply step includes a measurement supply step for supplying the resin to the light-transmissive member as a light emission characteristic measurement by a resin supply unit that discharges the resin in a variable amount.
A translucent member placement step of placing the translucent member on which the resin has been trial-supplied on the translucent member placement section;
A light emission characteristic measuring step for measuring the light emission characteristic of light emitted from the resin by irradiating the resin supplied to the translucent member with the excitation light emitted from the light source unit that emits the excitation light for exciting the phosphor; ,
Supply for deriving an appropriate resin supply amount for actual production to be supplied to the LED element by correcting the appropriate resin supply amount based on a measurement result in the light emission characteristic measurement step and a predetermined light emission characteristic An amount derivation process step and an instruction for the derived appropriate resin supply amount to a supply control unit that controls the resin supply unit, thereby executing a production supply process for supplying the resin of the appropriate resin supply amount to the LED element. A method for manufacturing a light emitting device, comprising: a production execution step.
前記樹脂供給工程において、前記樹脂をインクジェット方式によって吐出させることを特徴とする請求項3記載の発光素子の製造方法。   The method for manufacturing a light emitting element according to claim 3, wherein in the resin supplying step, the resin is ejected by an ink jet method. LED素子の上面を蛍光体を含む樹脂で予め被覆してなる発光素子を基板に実装して構成された発光素子パッケージを製造する発光素子パッケージ製造システムであって、
前記LED素子が複数作り込まれダイシングシートに貼着された状態のLEDウェハをLED素子毎に分割するダイシング装置と、
前記ダイシングシートに貼着保持された状態で個片に分割された前記LED素子の発光特性を個別に測定して、各LED素子の発光特性を示す素子特性情報を求める素子特性測定部と、
前記分割されたLED素子の前記LEDウェハにおける位置を示す素子位置情報と当該LED素子についての前記素子特性情報とを関連付けたマップデータを、前記LEDウェハ毎に作成するマップデータ作成部と、
前記LED素子を素子保持面に前記マップデータに基づいて所定の配列で並び替える素子再配列部と、
規定の発光特性を具備したLED素子を得るための前記樹脂の適正樹脂供給量と前記素子特性情報とを対応させた情報を樹脂供給情報として提供する樹脂情報提供手段と、
前記素子再配列部による並び替え後のLED素子の配列を示す素子配列情報と前記樹脂供給情報に基づき、規定の発光特性を具備するための適正樹脂供給量の前記樹脂を、前記素子保持面に保持された各LED素子に供給する樹脂供給装置と、
前記LED素子に供給された前記樹脂を硬化させて前記発光素子を完成させるキュア装置と、
前記発光素子を基板に実装する部品実装装置とを備え、
前記樹脂供給装置は、前記樹脂を供給量を可変に吐出して任意の供給対象位置に供給する樹脂供給部と、
前記樹脂供給部を制御することにより、前記樹脂を発光特性測定用として透光部材に試し供給する測定用供給処理および実生産用として前記LED素子に供給する生産用供給処理を実行させる供給制御部と、
前記蛍光体を励起する励起光を発光する光源部と、前記測定用供給処理において前記樹脂が試し供給された透光部材が載置される透光部材載置部と、
前記光源部から発光された励起光を前記透光部材に供給された樹脂に照射することによりこの樹脂が発する光の発光特性を測定する発光特性測定部と、
前記発光特性測定部の測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて前記適正樹脂供給量を補正することにより、前記LED素子に供給されるべき実生産用の適正樹脂供給量を導出する供給量導出処理部と、
前記導出された適正樹脂供給量を前記供給制御部に指令することにより、この適正樹脂供給量の樹脂をLED素子に供給する生産用供給処理を実行させる生産実行処理部とを備えたことを特徴とする発光素子パッケージの製造システム。
A light-emitting element package manufacturing system for manufacturing a light-emitting element package configured by mounting a light-emitting element formed by previously covering the upper surface of an LED element with a resin containing a phosphor on a substrate,
A dicing apparatus that divides the LED wafer in a state in which a plurality of the LED elements are built and adhered to a dicing sheet for each LED element;
An element characteristic measurement unit that individually measures the light emission characteristics of the LED elements divided into pieces in a state of being stuck and held on the dicing sheet, and obtains element characteristic information indicating the light emission characteristics of each LED element;
A map data creation unit that creates, for each LED wafer, map data in which element position information indicating the position of the divided LED elements in the LED wafer and the element characteristic information about the LED elements are associated;
An element rearrangement unit for rearranging the LED elements on an element holding surface in a predetermined arrangement based on the map data;
Resin information providing means for providing, as resin supply information, information corresponding to an appropriate resin supply amount of the resin for obtaining an LED element having a prescribed light emission characteristic and the element characteristic information;
Based on the element arrangement information indicating the arrangement of the LED elements rearranged by the element rearrangement unit and the resin supply information, the resin having an appropriate resin supply amount for providing a predetermined light emission characteristic is provided on the element holding surface. A resin supply device for supplying each LED element held;
A curing device for completing the light emitting element by curing the resin supplied to the LED element;
A component mounting apparatus for mounting the light emitting element on a substrate;
The resin supply device includes a resin supply unit that discharges the resin in a variable amount and supplies the resin to an arbitrary supply target position;
By controlling the resin supply unit, a supply control unit that executes a supply process for measurement for supplying the resin to the translucent member for light emission characteristic measurement and a supply process for production for supplying to the LED element for actual production When,
A light source unit that emits excitation light that excites the phosphor, and a translucent member mounting unit on which the translucent member on which the resin has been trial-supplied in the measurement supply process is mounted,
A light emission characteristic measuring unit that measures the light emission characteristic of the light emitted by the resin by irradiating the resin supplied to the translucent member with the excitation light emitted from the light source unit;
Supply for deriving an appropriate resin supply amount for actual production to be supplied to the LED element by correcting the appropriate resin supply amount based on a measurement result of the light emission characteristic measuring unit and a predetermined light emission characteristic A quantity derivation processing unit;
And a production execution processing unit that executes a supply process for production for supplying the resin of the proper resin supply amount to the LED element by instructing the derived appropriate resin supply amount to the supply control unit. A light emitting device package manufacturing system.
LED素子の上面を蛍光体を含む樹脂で予め被覆してなる発光素子を基板に実装して構成された発光素子パッケージを製造する発光素子パッケージ製造方法であって、
前記LED素子が複数作り込まれダイシングシートに貼着された状態のLEDウェハをLED素子毎に分割するダイシング工程と、
前記ダイシングシートに貼着保持された状態で個片に分割された前記LED素子の発光特性を個別に測定して、各LED素子の発光特性を示す素子特性情報を求める素子特性測定工程と、
前記分割されたLED素子の前記LEDウェハにおける位置を示す素子位置情報と当該LED素子についての前記素子特性情報とを関連付けたマップデータを、前記LEDウェハ毎に作成するマップデータ作成工程と、
前記LED素子を素子保持面に前記マップデータに基づいて所定の配列で並び替える素子再配列工程と、
規定の発光特性を具備したLED素子を得るための前記樹脂の適正樹脂供給量と前記素子特性情報とを対応させた情報を樹脂供給情報として入手する樹脂情報入手工程と、
前記素子再配列工程による並び替え後のLED素子の配列を示す素子配列情報と前記樹脂供給情報に基づき、規定の発光特性を具備するための適正樹脂供給量の前記樹脂を、前記素子保持面に保持された各LED素子に供給する樹脂供給工程と、
前記LED素子に供給された前記樹脂を硬化させるキュア工程と、
前記発光素子を基板に実装する部品実装工程とを含み、
さらに前記樹脂供給工程は、前記樹脂を供給量を可変に吐出する樹脂供給部によって、前記樹脂を発光特性測定用として透光部材に試し供給する測定用供給ステップと、
前記樹脂が試し供給された透光部材を透光部材載置部に載置する透光部材載置ステップと、
前記蛍光体を励起する励起光を発光する光源部から発光された励起光を前記透光部材に供給された樹脂に照射することによりこの樹脂が発する光の発光特性を測定する発光特性測定ステップと、
前記発光特性測定ステップにおける測定結果と予め規定された発光特性とに基づいて前記適正樹脂供給量を補正することにより、前記LED素子に供給されるべき実生産用の適正樹脂供給量を導出する供給量導出処理ステップと、
前記導出された適正樹脂供給量を前記樹脂供給部を制御する供給制御部に指令することにより、この適正樹脂供給量の樹脂をLED素子に供給する生産用供給処理を実行させる生産実行ステップとを含むことを特徴とする発光素子パッケージの製造方法。
A light-emitting element package manufacturing method for manufacturing a light-emitting element package configured by mounting a light-emitting element, in which a top surface of an LED element is pre-coated with a resin containing a phosphor, on a substrate,
A dicing step of dividing the LED wafer in a state where a plurality of the LED elements are built and attached to the dicing sheet for each LED element;
An element characteristic measurement step for obtaining element characteristic information indicating the light emission characteristics of each LED element by separately measuring the light emission characteristics of the LED elements divided into pieces in a state of being stuck and held on the dicing sheet;
A map data creation step for creating map data for each LED wafer, associating element position information indicating the position of the divided LED elements on the LED wafer and the element characteristic information on the LED elements;
An element rearrangement step of rearranging the LED elements on the element holding surface in a predetermined arrangement based on the map data;
A resin information obtaining step for obtaining, as resin supply information, information corresponding to an appropriate resin supply amount of the resin for obtaining an LED element having prescribed light emission characteristics and the element characteristic information;
Based on the element arrangement information indicating the arrangement of the LED elements after rearrangement in the element rearrangement step and the resin supply information, the resin having an appropriate resin supply amount for providing a predetermined light emission characteristic is provided on the element holding surface. A resin supply step for supplying each LED element held;
A curing step of curing the resin supplied to the LED element;
A component mounting step of mounting the light emitting element on a substrate,
Furthermore, the resin supply step includes a measurement supply step for supplying the resin to the light-transmissive member as a light emission characteristic measurement by a resin supply unit that discharges the resin in a variable amount.
A translucent member placement step of placing the translucent member on which the resin has been trial-supplied on the translucent member placement section;
A light emission characteristic measuring step for measuring the light emission characteristic of light emitted from the resin by irradiating the resin supplied to the translucent member with the excitation light emitted from the light source unit that emits the excitation light for exciting the phosphor; ,
Supply for deriving an appropriate resin supply amount for actual production to be supplied to the LED element by correcting the appropriate resin supply amount based on a measurement result in the light emission characteristic measurement step and a predetermined light emission characteristic A quantity derivation processing step;
A production execution step of executing a production supply process for supplying the resin of the proper resin supply amount to the LED element by instructing the derived control resin supply amount to a supply control unit that controls the resin supply unit. A method for manufacturing a light emitting device package, comprising:
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