JP2013019865A - Contact type probe, and manufacturing method of the same - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a contact type probe which is capable of measuring shapes inside minute pores and avoiding interference of bent portions, and a manufacturing method of the same.SOLUTION: The contact type probe 10 used for measuring shapes and the like inside the minute pores having diameters less of 100 μm includes a rod-like stem 11, a chip 12 extending in a crossing direction with respect to the stem 11, and a joining section 13 for joining the chip 12 and the stem 11. A contained angle α between the stem 11 and the chip 12 is 90 degrees or less.

Description

本発明は、接触式プローブおよびその製造方法に関し、特に直径100μm未満の微細孔内の形状等を測定するために用いられるプローブに関する。   The present invention relates to a contact-type probe and a method for manufacturing the same, and more particularly to a probe used for measuring a shape or the like in a micropore having a diameter of less than 100 μm.

従来、高精度が求められる機械部品の製造工程では、加工後に製品の形状測定を行って加工結果を確認することが行われている。このような形状測定では、例えば高精度な座標測定機に接触式プローブを装着し、このプローブを製品表面に接触させている。このような測定に用いられる接触式プローブとしては、棒状のステムの先端に球状のチップを形成したものが多用されている(特許文献1参照)。   2. Description of the Related Art Conventionally, in a manufacturing process of a machine part that requires high accuracy, a shape of a product is measured after processing and a processing result is confirmed. In such shape measurement, for example, a contact type probe is attached to a high-precision coordinate measuring machine, and this probe is brought into contact with the product surface. As a contact probe used for such measurement, a probe having a spherical tip formed at the tip of a rod-like stem is often used (see Patent Document 1).

近年、例えば内燃機関の燃料噴射装置やインクジェット式プリンタ装置など、非常に微少な液体粒子の噴射を行う機器が製造されており、これらの噴射ノズルは孔径が100ミクロン未満とされる。
このような微細形状の測定においても同様な形状をそのまま微少化したプローブが用いられている(特許文献2参照)。
また、ねじ孔内の形状を測定するために、ステムがL字型に形成されたプローブも用いられている(特許文献3参照)。
In recent years, for example, devices for injecting very small liquid particles such as a fuel injection device for an internal combustion engine and an ink jet printer device have been manufactured. These injection nozzles have a hole diameter of less than 100 microns.
In the measurement of such a fine shape, a probe in which the same shape is miniaturized as it is is used (see Patent Document 2).
Moreover, in order to measure the shape in a screw hole, the probe in which the stem was formed in the L shape is also used (refer patent document 3).

特開2006−201105号公報JP 2006-201105 A 特開2004−325159号公報JP 2004-325159 A 特開2007−248295号公報JP 2007-248295 A

ところで、前述した燃料噴射装置やインクジェット式プリンタ装置の噴射ノズルにおいては、ノズル孔の奥に流体通路等が形成されていることがあり、ノズル孔の奥が拡がったいわばアンダーカット形状となることがある。
このような場合、一般的なチップが球状のプローブでは十分な形状測定が行えないことがある。
By the way, in the injection nozzle of the fuel injection device or the ink jet printer device described above, a fluid passage or the like may be formed in the back of the nozzle hole, and the nozzle hole may be in an undercut shape. is there.
In such a case, it may be impossible to perform sufficient shape measurement with a probe having a general tip having a spherical shape.

図8において、ワーク80は微細なノズル孔81およびこれに連通するキャビティ82を有する。一例として、ノズル孔81は内径約60μmであり、キャビティ82は幅約150μm、高さ約80μmである。ノズル孔81とキャビティ82の内壁との間には各々と滑らかに連続するベルマウス形状83が形成され、その断面曲率半径は約40μmである。   In FIG. 8, a work 80 has a fine nozzle hole 81 and a cavity 82 communicating therewith. As an example, the nozzle hole 81 has an inner diameter of about 60 μm, and the cavity 82 has a width of about 150 μm and a height of about 80 μm. Between the nozzle hole 81 and the inner wall of the cavity 82, a bell mouth shape 83 that is smoothly continuous with each other is formed, and its cross-sectional radius of curvature is about 40 μm.

このようなワーク80の形状測定を行うための接触式プローブ89としては、例えば直径約30μmのステム88に半径20μmのチップ87を有するものが利用される。
しかし、このようなプローブ89で測定できるのは、ノズル孔81の内面とベルマウス形状83の一部である。これよりも奥の部分にチップ87を接触させようとしても、ステム88がノズル孔81と干渉してしまうためである。
As the contact-type probe 89 for measuring the shape of the workpiece 80, for example, a probe having a stem 87 having a diameter of about 30 μm and a tip 87 having a radius of 20 μm is used.
However, the probe 89 can measure the inner surface of the nozzle hole 81 and a part of the bell mouth shape 83. This is because the stem 88 interferes with the nozzle hole 81 even if the tip 87 is to be brought into contact with a portion deeper than this.

図9に示すように、チップ87の半径を大きくすることで、ベルマウス形状83のやや奥までチップ87を送り込むことができるが、ノズル孔81からの出し入れを行うために、チップ87を大きくする際にはノズル孔81の内径を超えることはできず、十分な測定ができないという問題があった。
ここで、特許文献3に記載のL字形ステムを有するプローブを用いれば、前述した図8の形状においても、キャビティ82のかなり奥まで測定できると期待される。
しかし、特許文献3のプローブでも、次のような問題があった。
As shown in FIG. 9, by increasing the radius of the tip 87, the tip 87 can be sent to the back of the bell mouth shape 83, but the tip 87 is enlarged in order to insert and remove from the nozzle hole 81. In some cases, the inner diameter of the nozzle hole 81 cannot be exceeded and sufficient measurement cannot be performed.
Here, if the probe having the L-shaped stem described in Patent Document 3 is used, it can be expected that the cavity 82 can be measured to the far depth even in the shape of FIG.
However, the probe of Patent Document 3 also has the following problems.

図10において、L字形プローブ89Aは、ステム88Aが屈曲部88BでL字形に屈曲されている。微少なL字形プローブ89Aでは、屈曲部88Bは効率的な曲げ加工によることが望ましい。このような曲げ加工による屈曲部88Bは一般に内側に迫り出しており、ノズル孔81の辺縁81Aが角張っている場合(図8のようなベルマウス形状83ではないか、あっても曲率が小さい場合)に干渉する可能性があった。
また、チップ87Aが球状であるため、キャビティ82の入隅部分82Aなど、その形状を十分に測定できない可能性があった。
In FIG. 10, an L-shaped probe 89A has a stem 88A bent in an L shape at a bent portion 88B. In the small L-shaped probe 89A, it is desirable that the bent portion 88B is formed by an efficient bending process. The bent portion 88B formed by such a bending process generally protrudes inward, and when the edge 81A of the nozzle hole 81 is angular (the bell mouth shape 83 as shown in FIG. Case).
Further, since the tip 87A is spherical, there is a possibility that the shape such as the corner portion 82A of the cavity 82 cannot be measured sufficiently.

本発明の目的は、微細な孔内の形状測定が行えるとともに屈曲部分の干渉が回避できる接触式プローブおよびその製造方法を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a contact type probe capable of measuring a shape in a minute hole and avoiding interference of a bent portion, and a manufacturing method thereof.

本発明の接触式プローブは、棒状のステムと、前記ステムに対して交叉方向へ延びるチップと、前記チップと前記ステムとを接合する接合部とを有し、前記ステムと前記チップとの間の挟み角が90度以下であることを特徴とする。
このような本発明では、別体のステムとチップとを接合することで、接合部の内側に張り出す屈曲部等が生じない。そして、ステムとチップとの挟み角が90度以下であるため、例えばノズル孔の辺縁が断面直角の出隅あるいは曲率半径の小さいベルマウス形状であっても、ステムおよびチップがノズル孔と干渉することが回避できる。
The contact-type probe of the present invention has a rod-shaped stem, a tip extending in a crossing direction with respect to the stem, and a joint portion that joins the tip and the stem, and is provided between the stem and the tip. The sandwiching angle is 90 degrees or less.
In the present invention as described above, by joining the separate stem and the chip, a bent portion or the like that protrudes to the inside of the joint portion does not occur. Since the angle between the stem and the tip is 90 degrees or less, for example, the stem and tip interfere with the nozzle hole even if the edge of the nozzle hole has a perpendicular corner or a bell mouth shape with a small curvature radius. Can be avoided.

本発明の接触式プローブにおいて、前記ステムの前記チップが延びる方向の側面、および前記チップの前記ステムが接合された面は、それぞれ直線的に延びていることが望ましい。
このような本発明では、構造が簡素化できるとともに、90度以下とした挟み角の効果がステムおよびチップの全長にわたって得られることになる。
In the contact probe according to the aspect of the invention, it is preferable that a side surface of the stem in a direction in which the tip extends and a surface of the tip to which the stem is joined extend linearly.
In the present invention, the structure can be simplified and the effect of the included angle of 90 degrees or less can be obtained over the entire length of the stem and the tip.

本発明の接触式プローブにおいて、前記接合部は、前記チップと前記ステムとの溶接部分であり、前記ステムはその端部の前記チップの延びる方向とは反対側に開先が形成され、前記溶接部分は前記開先が形成された側に偏って形成されていることが望ましい。
このような本発明では、溶接を用いることで、チップとステムとを確実かつ迅速に接合することができる。さらに、溶接にあたって、開先側から溶接を行うことで、溶接による接合部を前記チップの延びる方向とは反対側に偏位させることができる。これにより、チップとステムとで挟まれる部分に接合部が迫り出すことを回避し、ステムおよびチップのノズル孔との干渉の回避を確実なものにできる。
In the contact-type probe of the present invention, the joint is a welded portion between the tip and the stem, and a groove is formed on the stem on the side opposite to the extending direction of the tip. It is desirable that the portion is formed so as to be biased toward the side on which the groove is formed.
In such this invention, a chip | tip and a stem can be reliably and rapidly joined by using welding. Furthermore, in welding, by performing welding from the groove side, the joint portion by welding can be displaced to the side opposite to the extending direction of the tip. Thereby, it can avoid that a junction part protrudes to the part pinched by a chip | tip and a stem, and can avoid the interference with the nozzle hole of a stem and a chip | tip reliably.

本発明の接触式プローブの製造方法は、棒状のステムと、前記ステムに対して交叉方向へ延びるチップと、前記チップと前記ステムとを接合する接合部とを有する接触式プローブの製造方法であって、前記チップとなるべきチップ材料に先端側と基端側とを設定し、前記チップ材料の基端側の側方から前記ステムとなるべきステム材料の先端を当接させ、前記ステム材料の先端と前記チップ材料の基端側とを、前記チップ材料の基端側から溶接して接合部を形成する、ことを特徴とする。
このような本発明では、別体のステムとチップとを溶接により接合することで、前述した本発明の接触式プローブを効率よくかつ確実に製造することができる。
この際、溶接する前にステムとチップとを挟み角が90度以下に配置しておくことが望ましい。
The contact probe manufacturing method of the present invention is a contact probe manufacturing method having a rod-shaped stem, a tip extending in a crossing direction with respect to the stem, and a joint for joining the tip and the stem. A tip end side and a base end side are set to the tip material to be the tip, and a tip end of the stem material to be the stem is brought into contact with a side of the tip end side of the tip material, The tip and the base end side of the tip material are welded from the base end side of the tip material to form a joint.
In the present invention, the above-described contact probe of the present invention can be efficiently and reliably manufactured by joining the separate stem and the tip by welding.
At this time, it is desirable that the angle between the stem and the tip is 90 ° or less before welding.

本発明の接触式プローブの製造方法において、前記ステムの先端に予め開先を形成しておき、この開先を前記チップ材料の基端側に向けて配置し、この開先の側から溶接を行うことが望ましい。
このような本発明では、溶接にあたって、開先側から溶接を行うことで、溶接による接合部を前記チップの延びる方向とは反対側に偏位させることができる。これにより、チップとステムとで挟まれる部分に接合部が迫り出すことを回避し、ステムおよびチップのノズル孔との干渉の回避を確実なものにできる。
In the contact probe manufacturing method of the present invention, a groove is formed in advance at the distal end of the stem, the groove is disposed toward the proximal end side of the tip material, and welding is performed from the groove side. It is desirable to do.
In the present invention, when welding is performed from the groove side, the welded joint can be displaced to the side opposite to the extending direction of the tip. Thereby, it can avoid that a junction part protrudes to the part pinched by a chip | tip and a stem, and can avoid the interference with the nozzle hole of a stem and a chip | tip reliably.

本発明の接触式プローブの製造方法において、前記溶接を行ったのち、前記ステム材料の基端、前記チップ材料の先端側および基端側をそれぞれ切断して仕上げることが望ましい。
この際、ステム材料の基端およびチップ材料の基端側については、通常の端面つまり材料の連続方向に直交する面となるように仕上げればよい。チップ材料の先端側は、測定対象の入隅にも確実に入り込めるように尖った形状であることが望ましい。
このような尖った形状としては、両側面および底面側を斜めに削って角錐状に尖らしたり、円錐状に削ったりしてもよい。これとは別に、チップ材料をその連続方向に大きく傾斜した断面で切断することで、先端が円弧状であるが側面形状は尖った状態とすることができる。このような斜め断面によれば、角錐状あるいは円錐状に尖らせる場合に比べて、加工を著しく簡略化することができる。
In the method for manufacturing a contact type probe according to the present invention, it is preferable that after the welding is performed, the proximal end of the stem material, the distal end side and the proximal end side of the tip material are respectively cut and finished.
At this time, the base end of the stem material and the base end side of the chip material may be finished so as to be a normal end surface, that is, a surface orthogonal to the continuous direction of the material. It is desirable that the tip side of the chip material has a sharp shape so as to be surely able to enter the corner of the measurement target.
As such a pointed shape, both side surfaces and the bottom surface side may be cut obliquely so as to have a pyramid shape, or may be cut into a cone shape. Apart from this, the tip material is cut in a cross section that is greatly inclined in the continuous direction, so that the tip is arcuate but the side shape is sharp. According to such an oblique cross section, the processing can be remarkably simplified as compared with the case of sharpening in a pyramid shape or a conical shape.

本発明の接触式プローブの製造方法において、前記ステム材料および前記チップ材料として同じ棒材を用い、前記溶接を行ったのち、前記ステム材料の基端、前記チップ材料の先端側および基端側をそれぞれ切断して仕上げたのち、前記ステム材料の基端側を前記チップ材料として配置し、このチップ材料の基端側に新たな前記ステム材料の先端を当接させ、この後、前記溶接による前記接合部の形成を繰り返してゆく、としてもよい。
ここで、ステム材料の基端、チップ材料の先端側および基端側に対する仕上げ形状については、前項で説明した通りである。
このような本発明では、ステム材料およびチップ材料として同じ棒材を用い、溶接されたステムおよびチップをプローブとして切り離した後、移動させてステムの基端側を次のプローブのチップとして順次利用してゆくことで、製造工程の効率化が図れるとともに、材料の共用化により材料コストの低減が図れ、かつ材料供給のための装置構成を簡略化することもできる。
In the method for manufacturing a contact probe according to the present invention, the same rod is used as the stem material and the tip material, and after welding, the proximal end of the stem material, the distal end side and the proximal end side of the tip material are After each cutting and finishing, the base end side of the stem material is disposed as the tip material, and the tip end of the new stem material is brought into contact with the base end side of the tip material. The formation of the joint portion may be repeated.
Here, the finished shape for the proximal end of the stem material, the distal end side and the proximal end side of the chip material is as described in the previous section.
In the present invention, the same rod is used as the stem material and the tip material, and the welded stem and tip are separated as a probe, and then moved so that the proximal end side of the stem is sequentially used as the tip of the next probe. As a result, the efficiency of the manufacturing process can be improved, the material cost can be reduced by sharing the material, and the device configuration for supplying the material can be simplified.

本発明の第1実施形態を示す側面図。The side view which shows 1st Embodiment of this invention. 前記第1実施形態を示す底面図。The bottom view which shows the said 1st Embodiment. 本発明の第2実施形態の変形を示す側面図。The side view which shows the deformation | transformation of 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態を示す側面図。The side view which shows 3rd Embodiment of this invention. 前記第3実施形態の製造手順を示す側面図。The side view which shows the manufacture procedure of the said 3rd Embodiment. 前記第3実施形態の製造手順を示す側面図。The side view which shows the manufacture procedure of the said 3rd Embodiment. 前記第3実施形態の製造手順を示す側面図。The side view which shows the manufacture procedure of the said 3rd Embodiment. 従来例を示す断面図。Sectional drawing which shows a prior art example. 従来例を示す断面図。Sectional drawing which shows a prior art example. 従来例を示す断面図。Sectional drawing which shows a prior art example.

〔第1実施形態〕
図1および図2には、本発明の第1実施形態が示されている。
図1および図2において、接触式プローブ10は、内径数十μm程度の微細なノズル孔およびその奥に拡がるキャビティの内面の形状測定を行うための微細プローブである。
接触式プローブ10は、棒状のステム11と、このステム11に対して交叉方向へ延びるチップ12と、チップ12とステム11とを接合する接合部13とを有する。
[First Embodiment]
1 and 2 show a first embodiment of the present invention.
1 and 2, a contact probe 10 is a fine probe for measuring the shape of a fine nozzle hole having an inner diameter of about several tens of μm and the inner surface of a cavity extending in the depth thereof.
The contact probe 10 includes a rod-shaped stem 11, a tip 12 extending in a crossing direction with respect to the stem 11, and a joint portion 13 that joins the tip 12 and the stem 11.

ステム11は、外径約30μmの丸棒材で形成され、測定に利用される適宜な長さに形成される。
ステム11の材質としては、既存の接触式プローブと同様な金属材料が使用される。ステム11の端面111にはチップ12が接続される。
The stem 11 is formed of a round bar having an outer diameter of about 30 μm, and has an appropriate length used for measurement.
As the material of the stem 11, the same metal material as that of the existing contact probe is used. The chip 12 is connected to the end surface 111 of the stem 11.

チップ12は、全長約70μm、幅約30μm(ステム11の外径に同じ)、厚さ約15μmの直方体状のブロックを用い、その両側面および下面側を斜めに切削して先端121を尖らせたものである。
チップ12の材質としては、ステム11と同じ材料が使用される。チップ12において微細な先端121を形成するための切削には、例えば放電加工あるいはレーザ溶断が利用される。
チップ12においては、前述した先端121が先端側とされ、その反対側が基端側とされる。
The tip 12 uses a rectangular parallelepiped block having a total length of about 70 μm, a width of about 30 μm (same as the outer diameter of the stem 11), and a thickness of about 15 μm, and its both sides and lower surface are cut obliquely to sharpen the tip 121. It is a thing.
As the material of the chip 12, the same material as that of the stem 11 is used. For cutting to form a fine tip 121 in the chip 12, for example, electric discharge machining or laser cutting is used.
In the chip 12, the above-mentioned distal end 121 is the distal end side, and the opposite side is the proximal end side.

接合部13は、チップ12の上面122の基端端に、前述したステム11の端面111を接合するものである。接合部13としては、ステム11およびチップ12の間の溶接が利用できる。
接合部13は、ステム11とチップ12との間の挟み角αが90度となるように形成されている。このために、ステム11の端面111をその軸線に直角となるように形成しておき、かつチップ12の上面122を平坦に形成しておき、両者を互いに密接させた状態で溶接することで、挟み角αが90度の状態とすることができる。
The joint portion 13 joins the end surface 111 of the stem 11 described above to the proximal end of the upper surface 122 of the chip 12. As the joint portion 13, welding between the stem 11 and the tip 12 can be used.
The joint portion 13 is formed so that the sandwiching angle α between the stem 11 and the chip 12 is 90 degrees. For this purpose, the end surface 111 of the stem 11 is formed so as to be perpendicular to the axis thereof, and the upper surface 122 of the tip 12 is formed flat, and the two are welded in close contact with each other, The sandwich angle α can be 90 degrees.

接合部13の溶接を適切に行うために、ステム11の端面111は、チップ12の基端側に対応する側が斜めに切り取られ、これにより溶接用の開先112が形成されている。なお、開先112は端面111よりも面積比率で小さく形成され、前述した挟み角αを規定するための端面111の面積が確保されている。
接合部13の溶接の後、ステム11の基端を切断して端面を仕上げ、チップ12の先端側および基端側の各端面もそれぞれ仕上げることが望ましい。
In order to appropriately weld the joint portion 13, the end surface 111 of the stem 11 is cut obliquely on the side corresponding to the proximal end side of the tip 12, thereby forming a groove 112 for welding. The groove 112 is formed to have a smaller area ratio than the end surface 111, and the area of the end surface 111 for defining the above-described sandwich angle α is secured.
After welding the joint portion 13, it is desirable to cut the proximal end of the stem 11 to finish the end face, and finish the end faces on the distal end side and the proximal end side of the tip 12.

このような本実施形態においては、別体のステム11とチップ12とを接合することで、接合部13の内側に張り出す屈曲部等が生じない。そして、ステム11とチップ12との挟み角が90度であるため、例えばノズル孔の辺縁が断面直角の出隅あるいは曲率半径の小さいベルマウス形状であっても、ステム11およびチップ12がノズル孔と干渉することが回避できる。
また、ステム11のチップ12が延びる方向の側面、およびチップ12のステム11が接合された上面122は、それぞれ直線的に延びているため、構造が簡素にできるとともに、90度とした挟み角αの効果がステム11およびチップ12の全長にわたって得られる。
In such an embodiment, by bending the stem 11 and the chip 12 separately, a bent portion or the like that protrudes to the inside of the joint portion 13 does not occur. Since the sandwich angle between the stem 11 and the tip 12 is 90 degrees, for example, the stem 11 and the tip 12 are connected to the nozzle even if the edge of the nozzle hole has a right-angle cross section or a bell mouth shape with a small curvature radius. Interference with the hole can be avoided.
Further, since the side surface of the stem 11 in the direction in which the chip 12 extends and the upper surface 122 to which the stem 11 of the chip 12 is joined extend linearly, the structure can be simplified and the sandwiching angle α is 90 degrees. Is obtained over the entire length of the stem 11 and the tip 12.

接合部13として溶接を用いたため、ステム11とチップ12と接合が強固にできる。この際、開先112を形成することで溶接が容易かつ確実にでき、この開先112を基端側つまり先端121とは反対側に形成したため、溶接による接合部13をチップ12の基端側に偏位させることができる。これにより、接合部13の溶接材が先端側つまりチップ12とステム11とで挟まれる部分に迫り出すことを回避し、ステム11およびチップ12と測定するノズル孔との干渉の回避を確実なものにできる。   Since welding is used as the joint portion 13, the stem 11 and the tip 12 can be firmly joined. At this time, since the groove 112 is formed, welding can be performed easily and reliably. Since the groove 112 is formed on the base end side, that is, on the side opposite to the tip 121, the joint portion 13 by welding is connected to the base end side of the tip 12. Can be displaced. This prevents the welding material of the joint 13 from approaching the tip side, that is, the portion sandwiched between the tip 12 and the stem 11, and ensures avoidance of interference between the stem 11 and the tip 12 and the nozzle hole to be measured. Can be.

〔第2実施形態〕
図3には、本発明の第2実施形態が示されている。
図3において、本実施形態の接触式プローブ10Aは、基本的に前述した第1実施形態と同様な構成を備えている。このため共通の部分については説明を省略し、相違する部分について以下に説明する。
[Second Embodiment]
FIG. 3 shows a second embodiment of the present invention.
In FIG. 3, the contact probe 10 </ b> A of the present embodiment basically has the same configuration as that of the first embodiment described above. For this reason, description of common parts is omitted, and different parts are described below.

ステム11の端面には、その全面にわたって開先112Aが形成されている。
チップ12の上面122には、ステム11に対向する領域に開先122Aが形成されている。
接合部13Aは、これらの開先112Aおよび開先122Aの間に溶接を行って形成されている。
A groove 112A is formed on the end surface of the stem 11 over the entire surface.
On the upper surface 122 of the chip 12, a groove 122 </ b> A is formed in a region facing the stem 11.
The joint 13A is formed by welding between the groove 112A and the groove 122A.

本実施形態では、溶接の際にステム11とチップ12とが接触しておらず、互いの角度出しを別途行う必要がある。このため、ステム11およびチップ12を別途の治具により所定の挟み角αで配置し、この状態で双方の開先112Aおよび開先122Aの間に溶接を行い、これにより接合部13Aを形成する。   In the present embodiment, the stem 11 and the tip 12 are not in contact with each other during welding, and it is necessary to separately angle each other. For this reason, the stem 11 and the tip 12 are arranged at a predetermined sandwich angle α by a separate jig, and welding is performed between both the grooves 112A and the grooves 122A in this state, thereby forming the joint portion 13A. .

このような本実施形態によれば、前述した第1実施形態と同様な効果が得られるほか、溶接にあたってのステム11とチップ12との配置を微調整することで、ステム11とチップ12との間の挟み角αを任意の角度に設定することができる。   According to the present embodiment, the same effects as those of the first embodiment described above can be obtained, and the arrangement of the stem 11 and the tip 12 during welding can be finely adjusted to The sandwich angle α can be set to an arbitrary angle.

〔第3実施形態〕
図4ないし図7には、本発明の第3実施形態が示されている。
図4において、接触式プローブ30は、内径数十μm程度の微細なノズル孔およびその奥に拡がるキャビティの内面の形状測定を行うための微細プローブである。
接触式プローブ30は、棒状のステム31と、このステム31に対して交叉方向へ延びるチップ32と、チップ32とステム31とを接合する接合部33とを有する。
[Third Embodiment]
4 to 7 show a third embodiment of the present invention.
In FIG. 4, a contact probe 30 is a fine probe for measuring the shape of a fine nozzle hole having an inner diameter of several tens of μm and the inner surface of a cavity extending in the back thereof.
The contact probe 30 includes a rod-shaped stem 31, a tip 32 extending in the crossing direction with respect to the stem 31, and a joint portion 33 that joins the tip 32 and the stem 31.

ステム31は、外径約30μmの丸棒材で形成され、測定に利用される適宜な長さに形成される。
ステム31の材質としては、既存の接触式と同様な金属材料が使用される。ステム31の端面311にはチップ32が接続される。
The stem 31 is formed of a round bar having an outer diameter of about 30 μm, and is formed to have an appropriate length used for measurement.
As the material of the stem 31, the same metal material as that of the existing contact type is used. A chip 32 is connected to the end surface 311 of the stem 31.

チップ32は、ステム31と同じ外径約30μmの丸棒材で形成される。チップ32には先端側および基端側が設定される。
チップ32の先端側の端面323は、チップ32の軸線方向に対して斜めに形成され、その先端321は平面から見て円弧状であるが、側面から見ると尖った形状とされる。
チップ32の基端側の端面324は、チップ32の軸線方向に対して直交方向に形成される。
The tip 32 is formed of a round bar having the same outer diameter as the stem 31 and about 30 μm. The tip 32 is set with a distal end side and a proximal end side.
An end surface 323 on the tip side of the chip 32 is formed obliquely with respect to the axial direction of the chip 32, and the tip 321 has an arc shape when viewed from the plane, but has a sharp shape when viewed from the side surface.
The end face 324 on the base end side of the chip 32 is formed in a direction orthogonal to the axial direction of the chip 32.

前述したチップ32の端面323,324の形成およびステム31の端面311の切断および仕上げには、例えば放電加工あるいはレーザ溶断が利用される。以下の説明において、チップ32およびステム31の切削等を行う場合、同様な放電加工あるいはレーザ溶断が用いられる。   For example, electric discharge machining or laser fusing is used for forming the end faces 323 and 324 of the chip 32 and cutting and finishing the end face 311 of the stem 31 described above. In the following description, when cutting the tip 32 and the stem 31, etc., similar electric discharge machining or laser fusing is used.

接合部33は、チップ32の上面の基端側端に、前述したステム31の端面311を接合するものである。接合部33としては、ステム31およびチップ32の間の溶接が利用できる。
接合部33は、ステム31とチップ32との間の挟み角αが90度となるように形成される。
The joint portion 33 joins the end surface 311 of the stem 31 described above to the proximal end on the upper surface of the chip 32. As the joint portion 33, welding between the stem 31 and the tip 32 can be used.
The joint portion 33 is formed such that the sandwich angle α between the stem 31 and the chip 32 is 90 degrees.

接合部33の形成にあたり、ステム31の端面311は、チップ32の基端側が斜めに切り取られ、これにより溶接用の開先312が形成されている。
溶接は、開先312の側から端面311にかけて、チップ32の上面との間で行われる。チップ32の上面は円筒面であり、端面311とは密接することはないため、別途の治具を用いてステム31とチップ32とを挟み角αが90度となる状態で保持し、この状態で溶接を行って接合部33を形成する。
In forming the joint portion 33, the end surface 311 of the stem 31 is obliquely cut off from the proximal end side of the tip 32, thereby forming a groove 312 for welding.
The welding is performed from the groove 312 side to the end surface 311 and the upper surface of the tip 32. Since the upper surface of the chip 32 is a cylindrical surface and does not come into close contact with the end surface 311, the stem 31 and the chip 32 are held with a separate jig and held at a state where the angle α is 90 degrees. The joint 33 is formed by performing welding.

より詳細には、次のような手順でステム31とチップ32との接合を行う。
図5において、ステム31となる材料の先端に端面311および開先312を形成し、この先端をチップ32となる材料の基端側の上面に近接させる。
このとき、ステム31となる材料は図中上方へ連続する棒材であり、チップ32となる材料は図中右方へ連続する棒材であればよい。
More specifically, the stem 31 and the chip 32 are joined by the following procedure.
In FIG. 5, an end surface 311 and a groove 312 are formed at the distal end of the material to be the stem 31, and the distal end is brought close to the upper surface on the proximal end side of the material to be the chip 32.
At this time, the material that becomes the stem 31 is a bar that continues upward in the figure, and the material that becomes the chip 32 may be a bar that continues to the right in the figure.

図6において、互いに近接されたステム31となる材料の先端とチップ32となる材料の基端側とを治具で保持し、各々の間の挟み角αが90度となるように調整したのち、ステム31側の開先312側から溶接を行い、端面311および開先312とチップ32側の上面との間に接合部33を形成する。
この際、接合部33の溶接材は開先312側から端面311の部分まで入り込むが、ステム31とチップ32とで挟まれた入隅331までは到達しないようにする。
In FIG. 6, the tip of the material that will become the stem 31 and the base end side of the material that will become the tip 32 are held by a jig and adjusted so that the sandwiching angle α between them is 90 degrees. Then, welding is performed from the side of the groove 312 on the stem 31 side, and the joining portion 33 is formed between the end surface 311 and the groove 312 and the upper surface on the tip 32 side.
At this time, the welding material of the joint portion 33 enters from the groove 312 side to the end surface 311, but does not reach the corner 331 sandwiched between the stem 31 and the tip 32.

接合部33の溶接ができたら、チップ32の材料の先端側を斜めに切断して端面323を形成し、表面を仕上げる。また、チップ32の材料の基端側を軸線方向に直角に切断して端面324を形成し、表面を仕上げる。さらに、ステム31の材料の基端を切断して端面314を形成し、表面を仕上げる。
これらの切断および仕上げは、同じ放電加工ワイヤ34によって順次行う。
以上の工程により、図4に示す接触式プローブ30が得られる。
When the joint 33 is welded, the tip end side of the material of the tip 32 is cut obliquely to form the end face 323, and the surface is finished. Further, the base end side of the material of the chip 32 is cut at right angles to the axial direction to form the end face 324, and the surface is finished. Further, the base end of the material of the stem 31 is cut to form an end face 314, and the surface is finished.
These cutting and finishing are sequentially performed by the same electric discharge machining wire 34.
Through the above steps, the contact probe 30 shown in FIG. 4 is obtained.

なお、図6で切り取られる接触式プローブ30のステム31は、次工程のため、チップ32の長さ以上に余裕をもって形成されている。
図7において、図6の工程で得られた接触式プローブ30は90度回転され、ステム31の基端側がチップ32の材料として配置される。
この状態で、前述した図5ないし図6の各工程を繰り返すことで、接触式プローブ30が順次製造される。
Note that the stem 31 of the contact probe 30 cut out in FIG. 6 is formed with a margin more than the length of the tip 32 for the next process.
In FIG. 7, the contact probe 30 obtained in the process of FIG. 6 is rotated 90 degrees, and the proximal end side of the stem 31 is disposed as the material of the tip 32.
In this state, the contact type probe 30 is sequentially manufactured by repeating the steps shown in FIGS. 5 to 6 described above.

このような本発明では、ステム31の材料およびチップ32の材料として同じ棒材を用いるため、材料の共用化により材料コストの低減が図れ、かつ材料供給のための装置構成を簡略化することもできる。
特に、溶接されたステム31およびチップ32を接触式プローブ30として切り離した後、移動させてステム31の基端側を次のプローブのチップ32として順次利用してゆくことで、製造工程の効率化が図れるとともに、棒状の材料を供給する装置はステム31側の一系統で済ますことができる。
In the present invention, since the same bar is used as the material of the stem 31 and the material of the chip 32, the material cost can be reduced by sharing the material, and the configuration of the apparatus for supplying the material can be simplified. it can.
In particular, after cutting the welded stem 31 and tip 32 as the contact probe 30, they are moved, and the base end side of the stem 31 is sequentially used as the tip 32 of the next probe, thereby improving the efficiency of the manufacturing process. In addition, the apparatus for supplying the rod-shaped material can be completed with one system on the stem 31 side.

さらに、本実施形態においては、前述した第1実施形態と同様の効果が得られるが、簡略化のため重複する記載は省略する。この際、第1実施形態のステム11、チップ12、接合部13は、それぞれ本実施形態のステム31、チップ32、接合部33に対応するものである。   Furthermore, in the present embodiment, the same effect as that of the first embodiment described above can be obtained, but redundant description is omitted for the sake of simplicity. At this time, the stem 11, the chip 12, and the joint 13 in the first embodiment correspond to the stem 31, the chip 32, and the joint 33 in the present embodiment, respectively.

〔他の実施形態〕
本発明は、前述した各実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲内の変形等は本発明に含まれるものである。
前記実施形態では、それぞれ挟み角αを90度としたが、挟み角αは90度以下であればよい。ただし、ノズル孔内のキャビティの測定に適した形態としては、90度以下かつ70度以上であることが望ましい。
挟み角αが90度より大きいと、キャビティ内の測定時にノズル孔の出隅部分が干渉することがある。70度より小さいとチップの高さ(ステムの軸線方向の長さ)が大きくなり、導入できるノズル孔あるいはキャビティが限定される。
[Other Embodiments]
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and modifications and the like within the scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.
In the embodiment, the sandwiching angle α is 90 degrees, but the sandwiching angle α may be 90 degrees or less. However, it is desirable that the form suitable for the measurement of the cavity in the nozzle hole is 90 degrees or less and 70 degrees or more.
If the sandwiching angle α is greater than 90 degrees, the protruding corner portion of the nozzle hole may interfere during measurement in the cavity. If the angle is less than 70 degrees, the height of the tip (the length in the axial direction of the stem) increases, and the nozzle holes or cavities that can be introduced are limited.

接合部13,33において、開先112,112A,122A,312は適宜省略してもよい。この場合でも、溶接はステム11,31の側面のうちチップ12,32の基端側つまり先端121,321とは反対側から行うことが好ましい。
接合部13,33としては、溶接以外にもろう付あるいは接着剤が利用できる。
In the joint portions 13 and 33, the grooves 112, 112A, 122A, and 312 may be omitted as appropriate. Even in this case, the welding is preferably performed from the side of the stems 11 and 31 from the base end side of the tips 12 and 32, that is, the side opposite to the tip ends 121 and 321.
As the joint portions 13 and 33, brazing or an adhesive can be used in addition to welding.

第1実施形態および第2実施形態において、ステム11は角棒材を用いてもよい。チップ12は丸棒材などを用いてもよい。この場合、ステム11の端面を接合するために、上面側に平坦面を予め削りだしておくことが望ましい。
第3実施形態において、先に形成された接触式プローブ30のステム31の一部を、次の工程のチップ32として用いることは必須ではなく、ステム31の材料およびチップ32の材料をそれぞれ導入し、接合部33が形成できるつど分離して製品としてもよい。
In the first embodiment and the second embodiment, the stem 11 may be a square bar. The chip 12 may be a round bar. In this case, in order to join the end surfaces of the stem 11, it is desirable to cut out a flat surface on the upper surface side in advance.
In the third embodiment, it is not indispensable to use a part of the stem 31 of the contact probe 30 formed in advance as the chip 32 in the next process. The material of the stem 31 and the material of the chip 32 are introduced respectively. Each time the joint portion 33 can be formed, it may be separated into a product.

前述した各実施形態では、それぞれステム11,31とチップ12,32とを別体としておき、互いに溶接等の接合を行って一体化する方法を採用したが、他の方法によって各実施形態の接触式プローブ10,10A,30を製造してもよい。
例えば、溶接に替えてろう付け、接着剤を採用してもよく、完全な直角の入隅が形成できるのであればステム11,31の先端側を屈曲させたうえ先端を尖らせてチップ12,32としてもよい。
In each of the above-described embodiments, the stems 11 and 31 and the chips 12 and 32 are separately provided and integrated by welding or the like, but the contact of each embodiment is performed by other methods. The expression probes 10, 10A, 30 may be manufactured.
For example, instead of welding, brazing and an adhesive may be employed. If a completely perpendicular corner can be formed, the tip end of the stem 11, 31 is bent and the tip is sharpened. It may be 32.

10,10A,30…接触式プローブ
11,31…ステム
111,311,314,323,324…端面
112,112A,122A,312…開先
12,32…チップ
121,321…先端
13,13A…接合部
32…チップ
33…接合部
α…ステムとチップとの間の挟み角
10, 10A, 30 ... contact type probe 11, 31 ... stem 111, 311, 314, 323, 324 ... end face 112, 112A, 122A, 312 ... groove 12, 32 ... tip 121, 321 ... tip 13, 13A ... bonding Part 32 ... Chip 33 ... Junction part α ... An angle between the stem and the chip

Claims (7)

棒状のステムと、前記ステムに対して交叉方向へ延びるチップと、前記チップと前記ステムとを接合する接合部とを有し、前記ステムと前記チップとの間の挟み角が90度以下であることを特徴とする接触式プローブ。   It has a rod-shaped stem, a tip extending in a crossing direction with respect to the stem, and a joint portion for joining the tip and the stem, and a sandwich angle between the stem and the tip is 90 degrees or less. A contact probe characterized by the above. 請求項1に記載の接触式プローブにおいて、
前記ステムの前記チップが延びる方向の側面、および前記チップの前記ステムが接合された面は、それぞれ直線的に延びていることを特徴とする接触式プローブ。
The contact probe according to claim 1,
The contact probe according to claim 1, wherein a side surface of the stem in a direction in which the tip extends and a surface to which the stem of the tip is joined extend linearly.
請求項1または請求項2に記載の接触式プローブにおいて、
前記接合部は、前記チップと前記ステムとの溶接部分であり、前記ステムはその端部の前記チップの延びる方向とは反対側に開先が形成され、前記溶接部分は前記開先が形成された側に偏って形成されていることを特徴とする接触式プローブ。
The contact probe according to claim 1 or 2,
The joint is a welded portion between the tip and the stem, and a groove is formed on an end of the stem opposite to the extending direction of the tip, and the groove is formed on the welded portion. A contact probe characterized in that it is formed to be biased toward the side.
棒状のステムと、前記ステムに対して交叉方向へ延びるチップと、前記チップと前記ステムとを接合する接合部とを有する接触式プローブの製造方法であって、
前記チップとなるべきチップ材料に先端側と基端側とを設定し、
前記チップ材料の基端側の側方から前記ステムとなるべきステム材料の先端を当接させ、
前記ステム材料の先端と前記チップ材料の基端側とを、前記チップ材料の基端側から溶接して接合部を形成することを特徴とする接触式プローブの製造方法。
A method of manufacturing a contact-type probe having a rod-shaped stem, a tip extending in a crossing direction with respect to the stem, and a joint for joining the tip and the stem,
Set the tip side and the base end side to the chip material to be the chip,
Abutting the tip of the stem material to be the stem from the side of the base end side of the chip material;
A method of manufacturing a contact-type probe, comprising welding a tip end of the stem material and a base end side of the tip material from the base end side of the tip material to form a joint portion.
請求項4に記載の接触式プローブの製造方法において、
前記ステムの先端に予め開先を形成しておき、この開先を前記チップ材料の基端側に向けて配置し、この開先の側から溶接を行うことを特徴とする接触式プローブの製造方法。
In the manufacturing method of the contact type probe according to claim 4,
Producing a contact probe characterized in that a groove is formed in advance at the tip of the stem, the groove is arranged toward the base end side of the tip material, and welding is performed from the groove side. Method.
請求項4または請求項5に記載の接触式プローブの製造方法において、
前記溶接を行ったのち、前記ステム材料の基端、前記チップ材料の先端側および基端側をそれぞれ切断して仕上げることを特徴とする接触式プローブの製造方法。
In the manufacturing method of the contact-type probe according to claim 4 or 5,
After the welding is performed, a proximal probe of the stem material, a distal end side and a proximal end side of the tip material are cut and finished, respectively.
請求項4または請求項5に記載の接触式プローブの製造方法において、
前記ステム材料および前記チップ材料として同じ棒材を用い、
前記溶接を行ったのち、前記ステム材料の基端、前記チップ材料の先端側および基端側をそれぞれ切断して仕上げたのち、前記ステム材料の基端側を前記チップ材料として配置し、このチップ材料の基端側に新たな前記ステム材料の先端を当接させ、
この後、前記溶接による前記接合部の形成を繰り返してゆくことを特徴とする接触式プローブの製造方法。
In the manufacturing method of the contact-type probe according to claim 4 or 5,
Using the same bar as the stem material and the tip material,
After the welding, the base end of the stem material, the tip end side and the base end side of the tip material are respectively cut and finished, and then the base end side of the stem material is disposed as the tip material. Abutting the tip of the new stem material on the base end side of the material,
Thereafter, the method of manufacturing a contact probe is characterized by repeating the formation of the joint by welding.
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