JP2012248531A - Conductive particulate and anisotropic conductive material using the same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、比較的粒子径の大きい導電性微粒子に関するものであり、特に、経時的な抵抗値の上昇を抑制し、長期にわたり良好な接続信頼性を維持しうる導電性微粒子に関する。 The present invention relates to conductive fine particles having a relatively large particle diameter, and particularly relates to conductive fine particles that can suppress an increase in resistance value over time and maintain good connection reliability over a long period of time.
従来、電子機器の組み立てにおいて、対向する多数の電極や配線間の電気的接続を行うために、異方性導電材料による接続方式が採用されている。異方性導電材料は、導電性微粒子をバインダー樹脂等に混合した材料であり、例えば異方性導電ペースト(ACP)、異方性導電フィルム(ACF)、異方性導電インク、異方性導電シート等がある。ここで異方性導電材料に用いられる導電性微粒子としては、金属粒子や基材とする樹脂粒子の表面を導電性金属層で被覆したものが使用されている。 2. Description of the Related Art Conventionally, in assembling electronic devices, a connection method using an anisotropic conductive material has been adopted to make electrical connection between a large number of opposing electrodes and wirings. An anisotropic conductive material is a material in which conductive fine particles are mixed with a binder resin, for example, anisotropic conductive paste (ACP), anisotropic conductive film (ACF), anisotropic conductive ink, anisotropic conductive. There are sheets. Here, as the conductive fine particles used for the anisotropic conductive material, those obtained by coating the surfaces of the metal particles and the resin particles as the base material with a conductive metal layer are used.
ところで、近年、電子機器の小型化、高機能化が益々進展している。それに伴い、電子機器に搭載される電子部品の小型化、高密度実装化が進んでおり、接続抵抗に伴う発熱(ジュール熱)の低減の観点から、接続抵抗値が低く、しかも抵抗値が低く維持された異方導電接続が要求される。 By the way, in recent years, electronic devices have been increasingly reduced in size and functionality. Along with this, electronic components mounted on electronic devices are becoming smaller and more densely mounted, and the connection resistance value is low and the resistance value is low from the viewpoint of reducing heat generation (Joule heat) due to connection resistance. A maintained anisotropic conductive connection is required.
異方導電接続に用いられる導電性微粒子としては、圧縮変形性に優れるという理由から、一般に、樹脂粒子を芯材とし該芯材の表面にニッケルなどの導電層が形成されたものが使用され、用途に応じて粒子径が異なる種々の粒子が用いられる。さらに接続安定性の点で優れた異方性導電材料とするためには、柔軟性が高く回復率の高い粒子が求められてきた。 As the conductive fine particles used for anisotropic conductive connection, generally, a resin particle is used as a core material, and a conductive layer such as nickel is formed on the surface of the core material, because it is excellent in compressive deformability. Various particles having different particle diameters are used depending on the application. Furthermore, in order to obtain an anisotropic conductive material excellent in terms of connection stability, particles having high flexibility and a high recovery rate have been demanded.
例えば、電極間を接続した場合に接続抵抗を低く接続信頼性を高くできる導電性粒子の提供を目的として、所定のアクリル系モノマーからなる樹脂粒子および該樹脂粒子とその表面を被覆する導電層からなる導電性粒子が開示されている(特許文献1)。特許文献1では、樹脂粒子の好適な形態として圧縮変形回復率が80%以上であること、実施例では平均粒子径5μm程度で圧縮変形回復率が80%以上の樹脂粒子が開示されている。 For example, for the purpose of providing conductive particles capable of reducing connection resistance and increasing connection reliability when electrodes are connected, resin particles made of a predetermined acrylic monomer and a conductive layer covering the resin particles and the surface thereof are used. The electroconductive particle which becomes is disclosed (patent document 1). Patent Document 1 discloses a resin particle having a compression deformation recovery rate of 80% or more as a preferred form of the resin particles, and in the examples, resin particles having an average particle diameter of about 5 μm and a compression deformation recovery rate of 80% or more.
また、柔軟性および圧縮変形後の回復性の高められた重合体粒子の提供を目的として、所定の組成からなり10%圧縮弾性率が0.5〜2.2GPa、圧縮変形後の回復率が70〜100%である重合体粒子が提案されている(特許文献2)。特許文献2では、発明の効果の一つとして、平均粒子径が10〜200μmの範囲でありCV値が10%以下の範囲とした場合、例えば液晶表示装置スペーサ、EL表示装置スペーサ、タッチパネル用スペーサ、各種基板の基板間の距離を均一に保持するためのスペーサ、導電性粒子のコア材等として、柔軟性及び圧縮変形後の回復性を十分に発揮させることができることが記載されており(段落0052)、さらに実施例においては、平均粒子径39.4μm、圧縮変形回復率が88.8%の重合体粒子が開示されている。 In addition, for the purpose of providing polymer particles with improved flexibility and recoverability after compression deformation, it has a predetermined composition, 10% compression modulus is 0.5 to 2.2 GPa, and recovery rate after compression deformation is A polymer particle of 70 to 100% has been proposed (Patent Document 2). In Patent Document 2, as one of the effects of the invention, when the average particle diameter is in the range of 10 to 200 μm and the CV value is in the range of 10% or less, for example, a liquid crystal display device spacer, an EL display device spacer, a touch panel spacer In addition, as a spacer for maintaining a uniform distance between substrates of various substrates, a core material of conductive particles, etc., it is described that flexibility and recoverability after compression deformation can be sufficiently exhibited (paragraph Further, in the examples, polymer particles having an average particle diameter of 39.4 μm and a compression deformation recovery rate of 88.8% are disclosed.
さらに、柔軟性と変形回復性とを有し、温度変化等により電気回路の電極間の接続部に発生する応力を緩和し、高い接続信頼性を持つ導電性微粒子及び接続構造体を提供することを目的として、粒子径の10%が変位したときの圧縮弾性率が100〜1000MPa、圧縮変形回復率が80〜100%かつ粒子径が50μm以上である基材微粒子を用いた導電性微粒子が提案されている(特許文献3)。特許文献3の実施例においては、1,6−ヘキサンジオールジアクリレート50重量%とジビニルベンゼン50重量%とを用い懸濁重合により得られた、平均粒子径が100μmで粒子径の10%が変位したときの圧縮弾性率が500MPa、圧縮変形回復率が95%である基材微粒子に導電層を形成してなる導電性微粒子が開示されている。 Furthermore, the present invention provides a conductive fine particle and a connection structure that have flexibility and deformation recovery properties, relieve stress generated at a connection portion between electrodes of an electric circuit due to a temperature change or the like, and have high connection reliability. For the purpose of the above, a conductive fine particle using a base particle having a compression elastic modulus of 100 to 1000 MPa, a compression deformation recovery rate of 80 to 100% and a particle diameter of 50 μm or more when 10% of the particle diameter is displaced is proposed. (Patent Document 3). In the examples of Patent Document 3, the average particle size obtained by suspension polymerization using 50% by weight of 1,6-hexanediol diacrylate and 50% by weight of divinylbenzene was displaced by 10% of the particle size. A conductive fine particle is disclosed in which a conductive layer is formed on a substrate fine particle having a compression elastic modulus of 500 MPa and a compression deformation recovery rate of 95%.
しかしながら、従来のように例えば80%以上の高い圧縮変形回復率を有する樹脂粒子を基材とした導電性微粒子を電気的接続に供した場合、実装直後の初期の接続抵抗値は充分に低くなっていても、経時的に抵抗値が上昇することがあり、長期にわたり接続信頼性を維持できない場合があった。 However, when conductive fine particles based on resin particles having a high compression deformation recovery rate of, for example, 80% or more are used for electrical connection as in the past, the initial connection resistance value immediately after mounting is sufficiently low. However, the resistance value may increase over time, and connection reliability may not be maintained for a long time.
そこで、本発明は、電気的接続に供した際に、初期の接続抵抗値が低いだけでなく、経時的な抵抗値の上昇も抑制され、長期にわたり良好な接続信頼性を維持しうる導電性微粒子と、これを用いた異方性導電材料を提供することを目的とする。 Therefore, the present invention provides not only a low initial connection resistance value, but also an increase in resistance value over time when subjected to electrical connection, and conductivity that can maintain good connection reliability over a long period of time. An object is to provide fine particles and an anisotropic conductive material using the same.
本発明者は、圧縮弾性特性(特に圧縮変形回復率)と接続抵抗値の経時安定性の関係に関し詳細に検討した結果、回復率と抵抗値の経時安定性との間には粒子径依存性があり、抵抗値の経時安定性を維持するうえで適正な回復率の範囲は、粒子径によって異なることを知見した。つまり、異方性導電材料に通常用いられる導電性微粒子のように粒子径が小さい(例えば12.5μm未満)ときには、圧縮変形回復率を高く(例えば65%以上)すれば抵抗値の経時安定性が高くなるが、粒子径が大きいときには、逆に、圧縮変形回復率を小さくすることが、抵抗値の経時安定性の点で重要であることを知見した。 As a result of detailed investigations on the relationship between the compression elastic characteristics (particularly compression deformation recovery rate) and the stability of connection resistance over time, the present inventor has found that there is a particle size dependency between the recovery rate and the resistance stability over time. It was found that the range of the appropriate recovery rate for maintaining the resistance value stability with time varies depending on the particle diameter. In other words, when the particle diameter is small (eg, less than 12.5 μm) as in the case of conductive fine particles that are usually used for anisotropic conductive materials, the resistance stability over time can be improved by increasing the compression deformation recovery rate (eg, 65% or more). However, when the particle size is large, it has been found that, on the contrary, reducing the compression deformation recovery rate is important in terms of the stability of the resistance value with time.
すなわち、本発明に係る導電性微粒子は、樹脂粒子からなる基材と、該基材の表面に形成された少なくとも一層の導電性金属層とを有する導電性微粒子であって、前記樹脂粒子の平均粒子径が12.5μm〜50μmであり、圧縮荷重値49mNを負荷した後の圧縮変形回復率が5〜65%である、ことを特徴とする。かかる本発明の導電性微粒子においては、前記樹脂粒子の直径が20%変位したときの圧縮弾性率(20%K値)が1000N/mm2以上、14000N/mm2以下であることが好ましい。
本発明に係る異方性導電材料は、上記本発明の導電性微粒子がバインダー樹脂に分散してなることを特徴とする。
That is, the conductive fine particles according to the present invention are conductive fine particles having a base material composed of resin particles and at least one conductive metal layer formed on the surface of the base material, and the average of the resin particles The particle diameter is 12.5 μm to 50 μm, and the compression deformation recovery rate after applying a compression load value of 49 mN is 5 to 65%. In the conductive particles of such present invention, the compression modulus when the diameter is displaced 20% of the resin particles (20% K value) is 1000 N / mm 2 or more, it is preferable that 14000N / mm 2 or less.
The anisotropic conductive material according to the present invention is characterized in that the conductive fine particles of the present invention are dispersed in a binder resin.
本発明によれば、基材とする樹脂粒子の圧縮変形回復率が粒子径に応じて設定された適正な範囲に制御されているので、電気的接続に供した際に、初期の接続抵抗値が低いだけでなく、経時的な抵抗値の上昇も抑制され、長期にわたり良好な接続信頼性を維持することが可能になる。かかる導電性微粒子は、粒子径が比較的大きいので、例えばタッチパネルやLEDなどに用いる半導体実装における電気接続に好適に利用できる。 According to the present invention, since the compression deformation recovery rate of the resin particles as the base material is controlled within an appropriate range set in accordance with the particle diameter, the initial connection resistance value when subjected to electrical connection In addition to being low, an increase in resistance value with time is also suppressed, and good connection reliability can be maintained over a long period of time. Since such conductive fine particles have a relatively large particle size, they can be suitably used for electrical connection in semiconductor mounting used in, for example, touch panels and LEDs.
本発明の導電性微粒子は、基材としての樹脂粒子と、該基材の表面に形成された少なくとも一層の導電性金属層とから構成される。 The conductive fine particles of the present invention are composed of resin particles as a base material and at least one conductive metal layer formed on the surface of the base material.
1.樹脂粒子(基材)
前記樹脂粒子の平均粒子径は、個数基準の平均分散粒子径で、12.5μm以上、好ましくは13μm以上、より好ましくは15μm以上、さらに好ましくは17μm以上であり、50μm以下、好ましくは45μm以下、より好ましくは40μm以下、さらに好ましくは35μm以下である。樹脂粒子(基材)の平均粒子径が前記範囲内であれば、タッチパネル用、LED用などに用いる半導体実装において、電極や配線の電気接続に対して、好適に使用できる。
1. Resin particles (base material)
The average particle diameter of the resin particles is a number-based average dispersed particle diameter of 12.5 μm or more, preferably 13 μm or more, more preferably 15 μm or more, still more preferably 17 μm or more, 50 μm or less, preferably 45 μm or less. More preferably, it is 40 micrometers or less, More preferably, it is 35 micrometers or less. If the average particle diameter of the resin particles (base material) is within the above range, it can be suitably used for electrical connection of electrodes and wiring in semiconductor mounting used for touch panels, LEDs and the like.
前記樹脂粒子の粒子径の個数基準の変動係数(CV値)は、10.0%以下であることが好ましく、より好ましくは8.0%以下、さらに好ましくは5.0%以下、一層好ましくは4.0%以下、特に好ましくは3.0%以下である。このように粒子径の変動係数が小さい樹脂粒子は、単に一次粒子径の大きさが揃っているだけでなく、一次粒子径の単一分散性が極めて高い。そのため、このような樹脂粒子を基材として用いることにより、粒子径が揃っており、かつ凝集が抑制された導電性微粒子が得られる。前記樹脂粒子のCV値の下限は、通常0.5%以上である。なお、本発明においては、変動係数を上述のように比較的低い範囲に制御したとしても、粒子径が大きいので、粒子間の粒子径の差そのものは大きくなる。粒子径の差が大きくなると、CV値を小さくするだけでは、接続後の抵抗値は経時的に上昇しやすくなる。したがって、CV値を小さくするときでも、本発明のように圧縮変形回復率を65%以下にすることが重要である。
なお、本発明でいう樹脂粒子の個数基準の平均粒子径や粒子径の変動係数は、コールターカウンターにより測定した値であり、測定方法については実施例において後述する。
The number-based variation coefficient (CV value) of the resin particles is preferably 10.0% or less, more preferably 8.0% or less, still more preferably 5.0% or less, and still more preferably. It is 4.0% or less, particularly preferably 3.0% or less. As described above, the resin particles having a small variation coefficient of the particle diameter not only have the same primary particle diameter, but also have a very high monodispersibility of the primary particle diameter. Therefore, by using such resin particles as a base material, conductive fine particles having a uniform particle diameter and suppressed aggregation can be obtained. The lower limit of the CV value of the resin particles is usually 0.5% or more. In the present invention, even if the coefficient of variation is controlled to a relatively low range as described above, the particle diameter is large, so the difference in particle diameter between the particles itself becomes large. As the difference in particle diameter increases, the resistance value after connection tends to increase with time only by reducing the CV value. Therefore, even when the CV value is reduced, it is important to set the compression deformation recovery rate to 65% or less as in the present invention.
The average particle diameter based on the number of resin particles and the coefficient of variation of the particle diameter in the present invention are values measured by a Coulter counter, and the measurement method will be described later in Examples.
前記樹脂粒子は、圧縮荷重値49mNを負荷した後の圧縮変形回復率(本明細書では単に「回復率」と称することもある)が5〜65%であることが重要である。これにより、適度な反発性を保持することとなり、接続初期の抵抗値を十分に低くできるとともに、接続後の経時的な抵抗値の上昇を効率よく抑制することが可能になる。圧縮変形回復率は、好ましくは10%以上、より好ましくは20%以上、さらに好ましくは25%以上である。一方、上限は、50%以下が好ましく、より好ましくは40%以下である。樹脂粒子の回復率が5%未満であると、該樹脂粒子を基材とする導電性微粒子を異方導電材料に用いた場合、接続状態での反発力が小さすぎて、使用環境における僅かな温度変化等によって接続間距離が変動した場合に追随できず、その結果、抵抗値が上昇することになる。一方、樹脂粒子の回復率が65%を超えると、該樹脂粒子を基材とする導電性微粒子を異方導電材料に用いた場合、接続抵抗値が徐々に上昇する。この原因は明らかではないが、以下のように考えられる。すなわち、粒子径には必ずばらつきがあり、たとえ変動係数を小さく制御したとしても、粒子径が大きい(例えば平均粒子径が12.5μm以上の)樹脂粒子は、微細な(例えば平均粒子径が12.5μm未満の)樹脂粒子に比べ、粒子径の差そのものは大きくなる。このように粒子径の差が大きく、かつ回復率が65%を超えるような反発力の大きい樹脂粒子であると、接続後に徐々に接続間距離が変化して、接続不充分な部分が生じ易くなるのではないか、と考えられる。
特に、前記樹脂粒子の回復率が30%以上65%以下であると、回復率が比較的高く、実装時のバインダー排除性が高くなるため、初期抵抗値が低く抑えられる。一方、前記樹脂粒子の回復率が5%以上30%未満であると、回復率が30%以上65%以下である粒子よりも初期抵抗値は高くなるものの、実装後の経時変化が少ないため、抵抗値上昇が抑えられる。
It is important that the resin particles have a compression deformation recovery rate (sometimes referred to simply as “recovery rate” in the present specification) of 5 to 65% after applying a compression load value of 49 mN. As a result, moderate resilience is maintained, the resistance value at the initial stage of connection can be sufficiently reduced, and the increase in resistance value over time after connection can be efficiently suppressed. The compression deformation recovery rate is preferably 10% or more, more preferably 20% or more, and further preferably 25% or more. On the other hand, the upper limit is preferably 50% or less, more preferably 40% or less. When the recovery rate of the resin particles is less than 5%, when the conductive fine particles based on the resin particles are used for the anisotropic conductive material, the repulsive force in the connected state is too small, and the slight amount in the use environment is small. When the distance between connections varies due to a temperature change or the like, it cannot follow, and as a result, the resistance value increases. On the other hand, when the recovery rate of the resin particles exceeds 65%, when conductive fine particles based on the resin particles are used as the anisotropic conductive material, the connection resistance value gradually increases. The cause of this is not clear, but is considered as follows. That is, the particle diameter always varies, and even if the coefficient of variation is controlled to be small, resin particles having a large particle diameter (for example, an average particle diameter of 12.5 μm or more) are fine (for example, an average particle diameter of 12). Compared to resin particles (less than .5 μm), the difference in particle size itself is large. In this way, if the particle size difference is large and the resin particles have a large repulsive force such that the recovery rate exceeds 65%, the distance between connections gradually changes after connection, and an insufficiently connected part is likely to occur. It is thought that it will become.
In particular, when the recovery rate of the resin particles is 30% or more and 65% or less, the recovery rate is relatively high and the binder removal property at the time of mounting becomes high, so that the initial resistance value can be kept low. On the other hand, when the recovery rate of the resin particles is 5% or more and less than 30%, the initial resistance value is higher than particles having a recovery rate of 30% or more and 65% or less. Increase in resistance can be suppressed.
なお本発明において圧縮変形回復率は、例えば、公知の微小圧縮試験機(例えば、島津製作所製「MCT−W500」など)を用いて粒子の中心方向へ荷重をかけていく圧縮試験において、まず一定の荷重負荷速度で最大荷重まで圧縮したときの変位量を最大変位量L1として求め、次いで、上記荷重負荷速度と同程度の除荷重負荷速度で最小荷重まで荷重を減らしていったときの最大荷重から最小荷重までの間の変位量を回復変位量L2として求め、下記式に基づき算出される値である。具体的には、後述する実施例に記載のように荷重負荷速度(除荷重負荷速度)を2.23mN/秒程度とし、最大荷重を49mN程度、最小荷重を0.49mN程度として測定することができる。
圧縮変形回復率(%)=(L2/L1)×100
In the present invention, the compression deformation recovery rate is first constant in, for example, a compression test in which a load is applied in the center direction of particles using a known micro-compression tester (for example, “MCT-W500” manufactured by Shimadzu Corporation). The maximum load when the load is reduced to the minimum load at the same load load speed as the maximum load L1, and then the maximum load when the load is reduced to the minimum load at the same load removal speed as the above load load speed. Is a value calculated based on the following equation, with the amount of displacement between the first load and the minimum load being determined as the recovery displacement amount L2. Specifically, as described in the examples to be described later, the load load speed (unloading load speed) is about 2.23 mN / sec, the maximum load is about 49 mN, and the minimum load is about 0.49 mN. it can.
Compression deformation recovery rate (%) = (L2 / L1) × 100
前記樹脂粒子は、その直径を20%変位させたときの圧縮弾性率(20%K値)が1,000N/mm2以上、14,000N/mm2以下であることが好ましい。樹脂粒子の20%K値が14,000N/mm2を超えると、粒子の変形量を大きくするためには接続時の圧力を高くする必要があるため、低圧接続では接続面積が不充分となり、接続初期の抵抗値が高くなる虞がある。逆に、樹脂粒子の20%K値が1,000N/mm2未満であると、接続時にバインダーの排除能が低下するため接続初期の抵抗値が高くなる虞がある。20%K値を上述した範囲とすることにより、低圧接続でも初期抵抗値が十分に低い接続が可能となり、膜厚の薄いガラスや樹脂フィルムなどを被接続媒体とする場合にも良好に接続することができる。樹脂粒子の20%K値は、好ましくは10,000N/mm2以下、より好ましくは8,000N/mm2以下、さらに好ましくは6,000N/mm2以下、最も好ましくは4,000N/mm2以下であり、好ましくは1,500N/mm2以上、より好ましくは2,000N/mm2以上である。 The resin particles preferably have a compression elastic modulus (20% K value) of 1,000 N / mm 2 or more and 14,000 N / mm 2 or less when the diameter of the resin particles is displaced by 20%. If the 20% K value of the resin particles exceeds 14,000 N / mm 2 , it is necessary to increase the pressure at the time of connection in order to increase the amount of deformation of the particles. There is a possibility that the resistance value at the initial stage of connection becomes high. On the other hand, if the 20% K value of the resin particles is less than 1,000 N / mm 2 , the resistance of the binder at the time of connection is lowered and the resistance value at the initial stage of connection may be increased. By setting the 20% K value in the above-described range, a connection with a sufficiently low initial resistance is possible even with a low-voltage connection, and a good connection can be obtained even when a thin glass or resin film is used as a connected medium. be able to. The 20% K value of the resin particles is preferably 10,000 N / mm 2 or less, more preferably 8,000 N / mm 2 or less, further preferably 6,000 N / mm 2 or less, and most preferably 4,000 N / mm 2. Or less, preferably 1,500 N / mm 2 or more, more preferably 2,000 N / mm 2 or more.
前記樹脂粒子の20%K値は、公知の微小圧縮試験機を用いた圧縮試験にて測定することができ、例えば、公知の微小圧縮試験機(例えば、島津製作所製「MCT−W500」など)を用い、室温で粒子の中心方向へ荷重負荷速度19.37mN/secで荷重をかける圧縮試験において、粒子の直径が20%変位するまで粒子を変形させたときの圧縮荷重(N)と圧縮変位(mm)を測定し、下記式に基づき求めることができる。 The 20% K value of the resin particles can be measured by a compression test using a known fine compression tester, for example, a known fine compression tester (for example, “MCT-W500” manufactured by Shimadzu Corporation). In a compression test in which a load is applied at room temperature at a load loading speed of 19.37 mN / sec at room temperature, the compression load (N) and the compression displacement when the particle is deformed until the particle diameter is displaced by 20% (Mm) can be measured and determined based on the following formula.
なお、本発明において樹脂粒子の20%K値は、実際の接続における影響を見積もる上で重要な指標である。なぜなら、本発明における樹脂粒子は平均粒子径が12.5μm以上であるが、このような大きな粒子径においては、粒子径分布の一般的な尺度である粒子径の変動係数がたとえ小さくても、粒子間の粒径の差は大きくなる。そのため、電気的接続に供する際には、接続状態において粒子径の分布による影響が小さくなるよう、少なくとも20%程度の変形が必要とされる。したがって、実際の接続における影響を見積もる上では、樹脂粒子を20%変形させたときの状態を見るのが有用であると考えられる。 In the present invention, the 20% K value of the resin particles is an important index for estimating the influence in actual connection. This is because the resin particles in the present invention have an average particle size of 12.5 μm or more, but in such a large particle size, even if the coefficient of variation of the particle size, which is a general measure of particle size distribution, is small, The difference in particle size between particles increases. Therefore, when it is used for electrical connection, at least about 20% of deformation is required so that the influence of particle size distribution in the connected state is reduced. Therefore, in estimating the influence in actual connection, it is considered useful to see the state when the resin particles are deformed by 20%.
前記樹脂粒子はまた、その直径を10%変位させたときの圧縮弾性率(10%K値)が2000N/mm2以上、15000N/mm2以下であることが、低い初期抵抗値を実現し易い点で好ましい。樹脂粒子の10%K値は、より好ましくは3000N/mm2以上、さらに好ましくは3500N/mm2以上、一層好ましくは4000N/mm2以上であり、より好ましくは10000N/mm2以下、さらに好ましくは8000N/mm2以下である。なお、樹脂粒子の10%K値は、上述した20%K値と同様にして求めることができる。 The resin particles also its compression modulus when the diameter was allowed to 10% displacement (10% K value) of 2000N / mm 2 or more, that is 15000 N / mm 2 or less, it is easy to achieve a low initial resistance value This is preferable. 10% K value of the resin particles, more preferably 3000N / mm 2 or more, more preferably 3500 N / mm 2 or more, more preferably 4000 N / mm 2 or more, more preferably 10000 N / mm 2 or less, more preferably 8000 N / mm 2 or less. The 10% K value of the resin particles can be obtained in the same manner as the 20% K value described above.
前記樹脂粒子においては、低圧接続に適した導電性微粒子とする上で、前記20%K値に対する前記10%K値の比(10%K値/20%K値)が1.5以上であることが好ましく、より好ましくは1.6以上、さらに好ましくは1.7以上である。また前記20%K値に対する前記10%K値の比の上限は、特に限定されないが、通常3.0以下であり、好ましくは、2.5以下である。 In the resin particles, the ratio of the 10% K value to the 20% K value (10% K value / 20% K value) is 1.5 or more in order to obtain conductive fine particles suitable for low-pressure connection. More preferably, it is 1.6 or more, More preferably, it is 1.7 or more. The upper limit of the ratio of the 10% K value to the 20% K value is not particularly limited, but is usually 3.0 or less, and preferably 2.5 or less.
前記樹脂粒子はまた、圧縮試験において、粒子が破壊するまで、もしくは粒子の直径が50%変位するまで粒子を変形させても粒子が破壊しない場合には圧縮変位が粒子径の50%になるまで、粒子を変位させ、各変位量における圧縮弾性率の値(K値)を縦軸に、変位量を横軸にプロットしたときに、K値が極小となる値(K値極小値)が、100N/mm2以上、2800N/mm2以下であることが好ましい。K値極小値がこの範囲であると、電極などの被接続体に対して大きい接触面積を確保し易くなる。樹脂粒子のK値極小値は、好ましくは2600N/mm2以下、より好ましくは2400N/mm2以下、さらに好ましくは2200N/mm2以下、最も好ましくは2000N/mm2以下であり、好ましくは500N/mm2以上、より好ましくは1000N/mm2以上である。
なお、各変位量における圧縮弾性率の各値(K値)は、上述した20%K値、10%K値と同様の圧縮試験を行い、圧縮荷重(N)と圧縮変位(mm)の測定結果より算出することができる。
In the compression test, the resin particles are also subjected to a compression test until 50% of the particle diameter when the particles are not destroyed even if the particles are deformed until the particles are broken or until the particle diameter is displaced by 50%. When the particle is displaced and the value of the compression elastic modulus (K value) at each displacement amount is plotted on the vertical axis and the displacement amount is plotted on the horizontal axis, the value at which the K value is minimized (K value minimal value) is 100 N / mm 2 or more, preferably 2800N / mm 2 or less. When the K value minimum value is within this range, it becomes easy to ensure a large contact area with respect to the connected body such as an electrode. K value minimum value of the resin particles is preferably 2600N / mm 2 or less, more preferably 2400 N / mm 2 or less, more preferably 2200N / mm 2 or less, and most preferably less 2000N / mm 2, preferably 500 N / mm 2 or more, more preferably 1000 N / mm 2 or more.
In addition, each value (K value) of the compression elastic modulus in each displacement amount performs the compression test similar to the 20% K value and the 10% K value described above, and measures the compression load (N) and the compression displacement (mm). It can be calculated from the result.
前記樹脂粒子はまた、上述したようにK値極小値を測定した際に求められる該K値極小値を示すときの変位量(K値極小値での直径に対する変位量)を用い、下記式
K値極小値を示す圧縮率(%)=[K値極小値での直径に対する変位量の平均値(μm)/個数平均粒子径(μm)]×100
により算出される、K値極小値を示す圧縮率(粒子の直径に対する変位量の割合(%))が10%以上、50%以下であることが、電極などの被接続体に対して大きい接触面積を確保し易くなる点で好ましい。K値極小値を示す圧縮率は、より好ましくは20%以上であり、さらに好ましくは30%以上であり、より好ましくは40%以下であり、さらに好ましくは35%以下である。
The resin particles also use a displacement amount (displacement amount with respect to the diameter at the K value minimum value) obtained when the K value minimum value is obtained as described above, and the following formula K Compression ratio (%) indicating minimum value = [average value of displacement with respect to diameter at minimum K value (μm) / number average particle diameter (μm)] × 100
The compression ratio (the ratio of the displacement amount to the particle diameter (%)) indicating the minimum value of K calculated by the formula (1) is 10% or more and 50% or less, which is a large contact with the connected body such as an electrode. This is preferable in that the area can be easily secured. The compression ratio showing the K value minimum value is more preferably 20% or more, further preferably 30% or more, more preferably 40% or less, and further preferably 35% or less.
以下、前記樹脂粒子の構成成分について説明する。まず前記樹脂粒子は、例えばビニル重合体のような有機材料のみから構成される粒子であってもよいし、例えばビニル重合体とポリシロキサン骨格とを含む材料(複合化材料など)のような有機無機複合材料で構成される粒子であってもよい。例えば、ビニル重合体を含む材料で構成された樹脂粒子は、ビニル基が重合して形成された有機系骨格を有し、加圧接続時の弾性変形に優れる。一方、ポリシロキサン骨格を含む材料で構成された樹脂粒子は、加圧接続時において被接続体に対する接触圧に優れる。そのため、ポリシロキサン骨格とビニル重合体を複合化した材料で構成された樹脂粒子は、弾性変形性及び接触圧に優れ、得られる導電性微粒子の接続信頼性がより優れたものとなる。 Hereinafter, the components of the resin particles will be described. First, the resin particles may be particles composed only of an organic material such as a vinyl polymer, or an organic material such as a material (a composite material or the like) including a vinyl polymer and a polysiloxane skeleton. The particle | grains comprised with an inorganic composite material may be sufficient. For example, a resin particle composed of a material containing a vinyl polymer has an organic skeleton formed by polymerizing vinyl groups, and is excellent in elastic deformation during pressure connection. On the other hand, resin particles made of a material containing a polysiloxane skeleton are excellent in contact pressure with respect to the connected body during pressure connection. Therefore, resin particles composed of a material in which a polysiloxane skeleton and a vinyl polymer are combined are excellent in elastic deformation and contact pressure, and the connection reliability of the obtained conductive fine particles is further improved.
前記樹脂粒子を構成する単量体成分としては、有機系骨格を形成するにはビニル系単量体を用い、ポリシロキサン骨格を形成するにはシラン系単量体を用いればよい。ここで、ビニル系単量体はビニル系架橋性単量体とビニル系非架橋性単量体とに分けられ、シラン系単量体はシラン系架橋性単量体とシラン系非架橋性単量体とに分けられる。 As the monomer component constituting the resin particles, a vinyl monomer may be used to form an organic skeleton, and a silane monomer may be used to form a polysiloxane skeleton. Here, vinyl monomers are classified into vinyl crosslinkable monomers and vinyl noncrosslinkable monomers, and silane monomers are silane crosslinkable monomers and silane noncrosslinkable monomers. Divided into masses.
前記ビニル系架橋性単量体とは、ビニル基を有し架橋構造を形成しうるものであり、具体的には、1分子中に2個以上のビニル基を有する単量体(単量体(1))、または、1分子中に一個のビニル基とビニル基以外の官能基(カルボキシル基、ヒドロキシ基等のプロトン性水素含有基、アルコキシ基等の末端官能基等)を有する単量体(単量体(2))が挙げられる。ただし、単量体(2)の場合、ビニル系架橋性単量体として架橋構造を形成させるには、当該単量体(2)が有するカルボキシル基、ヒドロキシ基、アルコキシ基等の反応(結合)相手となる基が他の単量体に存在することが必要となる。 The vinyl-based crosslinkable monomer has a vinyl group and can form a crosslinked structure, and specifically, a monomer (monomer having two or more vinyl groups in one molecule). (1)), or a monomer having one vinyl group and a functional group other than a vinyl group in one molecule (such as a carboxyl group, a protonic hydrogen-containing group such as a hydroxy group, or a terminal functional group such as an alkoxy group). (Monomer (2)). However, in the case of the monomer (2), in order to form a crosslinked structure as a vinyl-based crosslinkable monomer, the reaction (bonding) of the carboxyl group, hydroxy group, alkoxy group, etc. of the monomer (2) The partner group must be present in the other monomer.
なお、本発明において「ビニル基」とは、炭素−炭素二重結合のみならず、(メタ)アクリロイル基、アリル基、イソプロペニル基、ビニルフェニル基、イソプロペニルフェニル基のような重合性炭素−炭素二重結合を有する置換基も含むものとする。また、本明細書において「(メタ)アクリロイル基」、「(メタ)アクリレート」や「(メタ)アクリル」は、「アクリロイル基及び/又はメタクリロイル基」、「アクリレート及び/又はメタクリレート」や「アクリル及び/又はメタクリル」を各々示すものとする。 In the present invention, the “vinyl group” means not only a carbon-carbon double bond but also a polymerizable carbon-like (meth) acryloyl group, allyl group, isopropenyl group, vinylphenyl group, isopropenylphenyl group. A substituent having a carbon double bond is also included. In the present specification, “(meth) acryloyl group”, “(meth) acrylate” and “(meth) acryl” are “acryloyl group and / or methacryloyl group”, “acrylate and / or methacrylate” and “acryl and "/ Or methacryl".
前記ビニル系架橋性単量体のうち前記単量体(1)の例として、例えば、アリル(メタ)アクリレート等のアリル(メタ)アクリレート類;エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、1,9−ノナンジオールジ(メタ)アクリレート、1,10−デカンジオールジ(メタ)アクリレート、1,3−ブチレンジ(メタ)アクリレート等のアルカンジオールジ(メタ)アクリレート;ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、デカエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタデカエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタコンタヘクタエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリテトラメチレングリコールジ(メタ)アクリレート等のポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレート等のジ(メタ)アクリレート類;トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート等のトリ(メタ)アクリレート類;ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート等のテトラ(メタ)アクリレート類;ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート等のヘキサ(メタ)アクリレート類;ジビニルベンゼン、ジビニルナフタレン、及びこれらの誘導体等の芳香族炭化水素系架橋剤(好ましくはジビニルベンゼン等のスチレン系多官能モノマー);N,N−ジビニルアニリン、ジビニルエーテル、ジビニルサルファイド、ジビニルスルホン酸等のヘテロ原子含有架橋剤;等が挙げられる。これらの中でも、1分子中に2個以上の(メタ)アクリロイル基を有する(メタ)アクリレート類(多官能(メタ)アクリレート)やスチレン系多官能モノマーが好ましく、多官能(メタ)アクリレートがより好ましい。前記多官能(メタ)アクリレートの中でも、1分子中に2個以上の(メタ)アクリロイル基を有する(メタ)アクリレート類が好ましく、さらにその中でも、1分子中に2個の(メタ)アクリロイル基を有するジ(メタ)アクリレートが好ましく、さらに、アルカンジオールジ(メタ)アクリレートが好ましい。
前記スチレン系多官能モノマーの中では、ジビニルベンゼンのように1分子中に2個のビニル基を有する単量体が好ましい。単量体(1)は単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
Examples of the monomer (1) among the vinyl-based crosslinkable monomers include, for example, allyl (meth) acrylates such as allyl (meth) acrylate; ethylene glycol di (meth) acrylate, 1,4-butane Diol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, 1,9-nonanediol di (meth) acrylate, 1,10-decanediol di (meth) acrylate, 1,3-butylene di (meth) ) Alkanediol di (meth) acrylate such as acrylate; diethylene glycol di (meth) acrylate, triethylene glycol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, decaethylene glycol di (Meta) Acrelay , Pentadecaethylene glycol di (meth) acrylate, pentacontactor ethylene glycol di (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, polytetramethylene glycol di (meth) acrylate, etc. Di (meth) acrylates such as alkylene glycol di (meth) acrylate; Tri (meth) acrylates such as trimethylolpropane tri (meth) acrylate; Tetra (meth) acrylates such as pentaerythritol tetra (meth) acrylate; Hexa (meth) acrylates such as pentaerythritol hexa (meth) acrylate; aromatic hydrocarbon crosslinking agents such as divinylbenzene, divinylnaphthalene, and derivatives thereof (preferably Properly styrene polyfunctional monomers such as divinylbenzene); N, N-divinyl aniline, divinyl ether, divinyl sulfide, hetero atom-containing crosslinking agents such as divinyl sulfonic acid; and the like. Among these, (meth) acrylates (polyfunctional (meth) acrylate) and styrene polyfunctional monomers having two or more (meth) acryloyl groups in one molecule are preferable, and polyfunctional (meth) acrylate is more preferable. . Among the polyfunctional (meth) acrylates, (meth) acrylates having two or more (meth) acryloyl groups in one molecule are preferable, and among them, two (meth) acryloyl groups in one molecule are preferable. The di (meth) acrylate is preferably an alkanediol di (meth) acrylate.
Among the styrenic polyfunctional monomers, monomers having two vinyl groups in one molecule such as divinylbenzene are preferable. A monomer (1) may be used independently and may use 2 or more types together.
前記ビニル系架橋性単量体のうち前記単量体(2)の例としては、例えば、(メタ)アクリル酸等のカルボキシル基を有する単量体;2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート等のヒドロキシ基含有(メタ)アクリレート類、p−ヒドロキシスチレン等のヒドロキシ基含有スチレン類等のヒドロキシ基を有する単量体;2−メトキシエチル(メタ)アクリレート、3−メトキシブチル(メタ)アクリレート、2−ブトキシエチル(メタ)アクリレート等のアルコキシ基含有(メタ)アクリレート類、p−メトキシスチレン等のアルコキシスチレン類等のアルコキシ基を有する単量体;等が挙げられる。単量体(2)は単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。 Examples of the monomer (2) among the vinyl-based crosslinkable monomers include, for example, monomers having a carboxyl group such as (meth) acrylic acid; 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2- Monomers having hydroxy groups such as hydroxy group-containing (meth) acrylates such as hydroxypropyl (meth) acrylate and 2-hydroxybutyl (meth) acrylate, hydroxy group-containing styrenes such as p-hydroxystyrene; 2-methoxy A single group having an alkoxy group such as an alkoxy group-containing (meth) acrylate such as ethyl (meth) acrylate, 3-methoxybutyl (meth) acrylate, 2-butoxyethyl (meth) acrylate, or an alkoxystyrene such as p-methoxystyrene. And the like. A monomer (2) may be used independently and may use 2 or more types together.
前記ビニル系非架橋性単量体としては、1分子中に1個のビニル基を有する単量体(単量体(3))か、もしくは前記単量体(2)が有するビニル基以外の官能基と反応する基を有する他の単量体が単量体成分に存在しない場合の単量体(2)が挙げられる。
前記ビニル系非架橋性単量体のうち前記単量体(3)の例としては、例えば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、プロピル(メタ)アクリレート、n−ブチル(メタ)アクリレート、イソブチル(メタ)アクリレート、ペンチル(メタ)アクリレート、ヘキシル(メタ)アクリレート、ヘプチル(メタ)アクリレート、オクチル(メタ)アクリレート、ノニル(メタ)アクリレート、デシル(メタ)アクリレート、ドデシル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート等のアルキル(メタ)アクリレート類;シクロプロピル(メタ)アクリレート、シクロペンチル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、シクロオクチル(メタ)アクリレート、シクロウンデシル(メタ)アクリレート、シクロドデシル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、4−t−ブチルシクロヘキシル(メタ)アクリレート等のシクロアルキル(メタ)アクリレート類;フェニル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、トリル(メタ)アクリレート、フェネチル(メタ)アクリレート等の芳香環含有(メタ)アクリレート類;スチレン、o−メチルスチレン、m−メチルスチレン、p−メチルスチレン、α−メチルスチレン、p−t−ブチルスチレン等のアルキルスチレン類、o−クロロスチレン、m−クロロスチレン、p−クロロスチレン等のハロゲン基含有スチレン類等のスチレン系単官能モノマー;等が挙げられる。これらの中でも、メタアクリレート系単官能モノマーを用いることが好ましく、メチルメタクリレートがより好ましい。単量体(3)は単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
The vinyl non-crosslinkable monomer is a monomer having one vinyl group in one molecule (monomer (3)) or other than the vinyl group possessed by the monomer (2). The monomer (2) when the other monomer which has a group which reacts with a functional group does not exist in a monomer component is mentioned.
Examples of the monomer (3) among the vinyl non-crosslinkable monomers include, for example, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, and n-butyl (meth) acrylate. , Isobutyl (meth) acrylate, pentyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, nonyl (meth) acrylate, decyl (meth) acrylate, dodecyl (meth) acrylate, stearyl Alkyl (meth) acrylates such as (meth) acrylate and 2-ethylhexyl (meth) acrylate; cyclopropyl (meth) acrylate, cyclopentyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, cyclooctyl (meth) acrylate Cycloalkyl (meth) acrylates such as rate, cycloundecyl (meth) acrylate, cyclododecyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, 4-t-butylcyclohexyl (meth) acrylate; phenyl (meth) acrylate, benzyl Aromatic ring-containing (meth) acrylates such as (meth) acrylate, tolyl (meth) acrylate, phenethyl (meth) acrylate; styrene, o-methylstyrene, m-methylstyrene, p-methylstyrene, α-methylstyrene, p Styrene monofunctional monomers such as alkyl styrenes such as -t-butylstyrene, halogen group-containing styrenes such as o-chlorostyrene, m-chlorostyrene, and p-chlorostyrene; Among these, it is preferable to use a methacrylate monofunctional monomer, and methyl methacrylate is more preferable. A monomer (3) may be used independently and may use 2 or more types together.
前記ビニル重合体としては、構成成分として、前記ビニル系架橋性単量体(1)を含む態様が好ましく、中でも前記ビニル系非架橋性単量体(3)と前記ビニル系架橋性単量体(1)とを含む態様が好ましい。具体的には、構成成分として、1分子中に2個以上の(メタ)アクリロイル基を有する単量体を含む態様が好ましく、さらに、1分子中に1個の(メタ)アクリロイル基を有する単量体と1分子中に2個以上の(メタ)アクリロイル基を有する単量体とを含む態様が好ましい。 The vinyl polymer preferably includes the vinyl crosslinkable monomer (1) as a constituent component. Among them, the vinyl noncrosslinkable monomer (3) and the vinyl crosslinkable monomer are preferable. The aspect containing (1) is preferable. Specifically, an embodiment containing a monomer having two or more (meth) acryloyl groups in one molecule as a constituent component is preferable, and a single component having one (meth) acryloyl group in one molecule is preferable. An embodiment including a monomer and a monomer having two or more (meth) acryloyl groups in one molecule is preferable.
前記ポリシロキサン骨格は、シラン系単量体を加水分解し縮合反応によりシロキサン結合を生じさせることで形成され、特にシラン系単量体としてシラン系架橋性単量体を用いると、架橋構造を形成し得る。シラン系架橋性単量体により形成される架橋構造としては、有機重合体骨格(例えば、ビニル系重合体骨格)と有機重合体骨格とを架橋するもの(第一の形態);ポリシロキサン骨格とポリシロキサン骨格とを架橋するもの(第二の形態);有機重合体骨格とポリシロキサン骨格とを架橋するもの(第三の形態);が挙げられる。 The polysiloxane skeleton is formed by hydrolyzing a silane monomer and generating a siloxane bond by a condensation reaction. In particular, when a silane crosslinkable monomer is used as a silane monomer, a crosslinked structure is formed. Can do. Examples of the crosslinked structure formed by the silane-based crosslinking monomer include those that crosslink an organic polymer skeleton (for example, a vinyl polymer skeleton) and an organic polymer skeleton (first form); a polysiloxane skeleton; One that crosslinks a polysiloxane skeleton (second form); one that crosslinks an organic polymer skeleton and a polysiloxane skeleton (third form).
第一の形態を形成し得るシラン系架橋性単量体としては、例えば、ジメチルジビニルシラン、メチルトリビニルシラン、テトラビニルシラン等が挙げられる。第二の形態を形成し得るシラン系架橋性単量体としては、例えば、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトライソプロポキシシラン、テトラブトキシシラン等の4官能性シラン系単量体;メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン等の3官能性シラン系単量体等が挙げられる。第三の形態を形成し得るシラン系架橋性単量体としては、例えば、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−アクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3−メタクリロキシエトキシプロピルトリメトキシシラン等の(メタ)アクリロイル基を有するもの;ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、p−スチリルトリメトキシシラン等のビニル基を有するもの;3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン等のエポキシ基を有するもの;3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン等のアミノ基を有するもの;が挙げられる。これらのシラン系架橋性単量体は単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。 Examples of the silane-based crosslinkable monomer that can form the first form include dimethyldivinylsilane, methyltrivinylsilane, and tetravinylsilane. Examples of the silane crosslinkable monomer that can form the second form include tetrafunctional silane monomers such as tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetraisopropoxysilane, and tetrabutoxysilane; methyltrimethoxy Examples thereof include trifunctional silane monomers such as silane, methyltriethoxysilane, ethyltrimethoxysilane, and ethyltriethoxysilane. Examples of silane-based crosslinkable monomers that can form the third form include 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltriethoxysilane, 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, and 3-methacrylic monomer. Having a (meth) acryloyl group such as loxypropylmethyldimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane, 3-acryloxypropyltriethoxysilane, 3-methacryloxyethoxypropyltrimethoxysilane; vinyltrimethoxysilane, Those having a vinyl group such as vinyltriethoxysilane and p-styryltrimethoxysilane; 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltriethoxysilane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) Those having an epoxy group such as trimethoxysilane; 3-aminopropyltrimethoxysilane, those having an amino group such as 3-aminopropyltriethoxysilane; and the like. These silane crosslinking monomers may be used alone or in combination of two or more.
前記シラン系非架橋性単量体として、例えば、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン等のジアルキルシラン等の2官能性シラン系単量体;トリメチルメトキシシラン、トリメチルエトキシシラン等のトリアルキルシラン等の1官能性シラン系単量体等が挙げられる。これらのシラン系非架橋性単量体は単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
特に前記ポリシロキサン骨格は、ラジカル重合可能な炭素−炭素二重結合(例えば、(メタ)アクリロイル基等のビニル基)を有する重合性ポリシロキサン由来の骨格であることが好ましい。つまり、ポリシロキサン骨格は、構成成分として、少なくとも前記第三の形態の架橋構造を形成し得るシラン系架橋性単量体(好ましくは(メタ)アクリロイル基を有するもの、より好ましくは3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン)を加水分解及び縮合することにより形成されたポリシロキサン骨格であることが好ましい。
Examples of the silane-based non-crosslinkable monomer include bifunctional silane-based monomers such as dimethyldimethoxysilane and dialkylsilane such as dimethyldiethoxysilane; and trialkylsilanes such as trimethylmethoxysilane and trimethylethoxysilane. And monofunctional silane-based monomers. These silane non-crosslinkable monomers may be used alone or in combination of two or more.
In particular, the polysiloxane skeleton is preferably a skeleton derived from a polymerizable polysiloxane having a radical-polymerizable carbon-carbon double bond (for example, a vinyl group such as a (meth) acryloyl group). That is, the polysiloxane skeleton has, as a constituent component, a silane-based crosslinkable monomer (preferably having a (meth) acryloyl group, more preferably 3-methacryloxy) capable of forming the crosslinked structure of the third form. A polysiloxane skeleton formed by hydrolysis and condensation of propyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, and vinyltrimethoxysilane) is preferable.
さらに前記樹脂粒子は、上述した有機材料、有機無機複合材料のほかに、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリテトラフルオロエチレン、ポリイソブチレン、ポリブタジエン等のポリオレフィン系のビニル重合体;ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル;ポリカーボネート;ポリアミド;ポリイミド;フェノールホルムアルデヒド樹脂;メラミンホルムアルデヒド樹脂;メラミンベンゾグアナミンホルムアルデヒド樹脂;尿素ホルムアルデヒド樹脂;シリコーン樹脂等で構成されていてもよい。 In addition to the organic materials and organic-inorganic composite materials described above, the resin particles include, for example, polyolefin-based vinyl polymers such as polyethylene, polypropylene, polyvinyl chloride, polytetrafluoroethylene, polyisobutylene, and polybutadiene; polyethylene terephthalate, Polyester such as polyethylene naphthalate; polycarbonate; polyamide; polyimide; phenol formaldehyde resin; melamine formaldehyde resin; melamine benzoguanamine formaldehyde resin; urea formaldehyde resin;
前記樹脂粒子の回復率が上述した範囲となるよう制御するには、例えば、前記樹脂粒子を構成する単量体成分が、単量体成分総量100質量%中、上述した架橋性単量体(前記ビニル系架橋性単量体および前記シラン系架橋性単量体)を5質量%以上60質量%以下含有するとともに、単量体成分総量100質量%中、芳香環を有しない単量体を5質量%以上含有するものとすることが好ましい。単量体成分総量100質量%に対する架橋性単量体の割合は10質量%以上であることがより好ましく、さらに好ましくは15質量%以上であり、55質量%以下であることがより好ましく、さらに好ましくは48質量%以下、一層より好ましくは42質量%以下である。単量体成分総量100質量%に対する芳香環を有しない単量体の割合は10質量%以上であることがより好ましい。芳香環を有しない単量体が5質量%未満であると(換言すれば芳香環を有する単量体が95質量%以上を占めると)、10%K値/20%K値の比が低くなり、接触面積を有効に大きくできないといった虞がある。
なお、芳香環を有しない単量体は、上述した単量体成分のうち、芳香環を有しないものであれば、ビニル系単量体であってもよいし、シラン系単量体であってもよい。また芳香環を有しない単量体は架橋性であってもよいし、非架橋性であってもよいが、好ましくは架橋性であるのがよい。
In order to control the recovery rate of the resin particles to be in the above-described range, for example, the monomer component constituting the resin particles is the above-described crosslinkable monomer (100% by mass) in the total amount of monomer components (100% by mass). The vinyl-based crosslinkable monomer and the silane-based crosslinkable monomer) are contained in an amount of 5% by mass to 60% by mass, and a monomer having no aromatic ring in 100% by mass of the total amount of monomer components. It is preferable to contain 5 mass% or more. The ratio of the crosslinkable monomer to the total amount of the monomer components of 100% by mass is more preferably 10% by mass or more, further preferably 15% by mass or more, and more preferably 55% by mass or less. Preferably it is 48 mass% or less, More preferably, it is 42 mass% or less. The ratio of the monomer having no aromatic ring to the total amount of the monomer components of 100% by mass is more preferably 10% by mass or more. When the monomer having no aromatic ring is less than 5% by mass (in other words, the monomer having an aromatic ring accounts for 95% by mass or more), the ratio of 10% K value / 20% K value is low. Therefore, there is a possibility that the contact area cannot be increased effectively.
The monomer having no aromatic ring may be a vinyl monomer or a silane monomer as long as it does not have an aromatic ring among the monomer components described above. May be. The monomer having no aromatic ring may be crosslinkable or non-crosslinkable, but is preferably crosslinkable.
さらに、前記樹脂粒子の圧縮変形回復率を上述した範囲により確実に制御するためには、前記架橋性単量体として、下記特定架橋性単量体(a)または下記特定架橋性単量体(b)(以下、単に「特定架橋性単量体」と称することもある)の少なくとも1種を含むことが好ましい。
特定架橋性単量体(a):1分子中に2個のビニル基を有し、且つこの両ビニル基の炭素−炭素二重結合(C=C)間に、14個以下の原子が連なってなる主鎖部を有する鎖状単位が介在しているビニル系架橋性単量体。
特定架橋性単量体(b):1分子中に1個のビニル基と、2個の縮合性基が結合したケイ素原子とを有し、且つこのビニル基の炭素−炭素二重結合(C=C)とケイ素原子(Si)との間に、14個以下の原子が連なってなる主鎖部を有する鎖状単位が介在しているシラン系架橋性単量体。
Furthermore, in order to reliably control the compression deformation recovery rate of the resin particles within the above-described range, as the crosslinkable monomer, the following specific crosslinkable monomer (a) or the following specific crosslinkable monomer ( It is preferable that it contains at least one of b) (hereinafter sometimes simply referred to as “specific crosslinking monomer”).
Specific crosslinkable monomer (a): It has two vinyl groups in one molecule, and 14 or less atoms are connected between carbon-carbon double bonds (C = C) of both vinyl groups. A vinyl-based crosslinkable monomer in which a chain unit having a main chain portion is interposed.
Specific cross-linkable monomer (b): one molecule having one vinyl group and a silicon atom to which two condensable groups are bonded, and a carbon-carbon double bond (C = C) and a silane-based crosslinkable monomer in which a chain unit having a main chain part in which 14 or less atoms are connected is interposed between silicon atoms (Si).
かかる特定架橋性単量体は、ビニル基などの架橋点と架橋点との間の原子数(架橋点間原子数ともいう)が14個以下であるものであり、この架橋点間原子数が14個を超えると、樹脂粒子が軟らかくなりすぎ、20%K値が小さくなりすぎる傾向がある。特定架橋性単量体において、架橋点間原子数(すなわち、連なって主鎖部を構成する原子の数)は、好ましくは12個以下であり、その下限は4個以上が好ましく、6個以上がより好ましい。なお、連なって主鎖部を構成する原子の数には、炭素−炭素二重結合(C=C)自身の炭素原子およびケイ素原子自身はカウントしないものとする。
なお、14個以下の原子が連なってなる主鎖部には、他の分岐鎖が結合していてもよく(換言すれば、環は形成されない)、好ましくは、主鎖部は炭素原子および/または酸素原子が連なって構成されたものである。
Such a specific crosslinkable monomer has 14 or less atoms between the crosslinking points such as vinyl groups (also referred to as the number of atoms between the crosslinking points). If it exceeds 14, the resin particles tend to be too soft and the 20% K value tends to be too small. In the specific crosslinkable monomer, the number of atoms between crosslink points (that is, the number of atoms constituting the main chain part) is preferably 12 or less, and the lower limit thereof is preferably 4 or more, and 6 or more. Is more preferable. Note that the number of atoms constituting the main chain portion does not count the carbon atom of the carbon-carbon double bond (C = C) itself and the silicon atom itself.
In addition, other branched chains may be bonded to the main chain portion in which 14 or less atoms are connected (in other words, no ring is formed). Preferably, the main chain portion is a carbon atom and / Alternatively, the oxygen atoms are connected to each other.
前記特定架橋性単量体(a)としては、上述したビニル系架橋性単量体のうち前記単量体(1)として例示したジ(メタ)アクリレート類が好ましく、その中でも、アルカンジオールジ(メタ)アクリレート(例えば、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、1,9−ノナンジオールジ(メタ)アクリレート、1,10−デカンジオールジ(メタ)アクリレート、1,3−ブチレンジ(メタ)アクリレート等)や、ポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレート(例えば、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート等)が好ましく、特にアルカンジオールジ(メタ)アクリレートが好ましい。好ましい具体例としては、架橋点間原子数が6個であるエチレングリコールジ(メタ)アクリレートや、架橋点間原子数が14個である1,10−デカンジオールジ(メタ)アクリレートなどが挙げられる。 As the specific crosslinkable monomer (a), di (meth) acrylates exemplified as the monomer (1) among the vinyl-based crosslinkable monomers described above are preferable, and among them, alkanediol di ( (Meth) acrylate (for example, ethylene glycol di (meth) acrylate, 1,4-butanediol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, 1,9-nonanediol di (meth) acrylate, 1,10-decanediol di (meth) acrylate, 1,3-butylene di (meth) acrylate, etc.) and polyalkylene glycol di (meth) acrylate (for example, diethylene glycol di (meth) acrylate, triethylene glycol di (meth)) Acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, Polypropylene glycol di (meth) acrylate) are preferable, alkanediol di (meth) acrylate. Preferable specific examples include ethylene glycol di (meth) acrylate having 6 inter-crosslinking atoms and 1,10-decanediol di (meth) acrylate having 14 inter-crosslinking atoms. .
前記特定架橋性単量体(b)としては、上述したシラン系架橋性単量体のうち前記第三の形態を形成し得るシラン系架橋性単量体として例示した3−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシランや3−メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシランの如き、3−メタクリロキシプロピルアルキルジアルコキシシランが好ましく挙げられる。 As the specific crosslinkable monomer (b), 3-methacryloxypropylmethyldimethoxy exemplified as the silane crosslinkable monomer capable of forming the third form among the silane crosslinkable monomers described above. Preferable examples include 3-methacryloxypropylalkyldialkoxysilane such as silane and 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane.
したがって、樹脂粒子を構成する単量体成分の好ましい形態としては、単量体成分総量100質量%中、架橋性単量体を5質量%以上60質量%以下含有し、該架橋性単量体が前記特定架橋性単量体(a)および/または前記特定架橋性単量体(b)を必須として含み、少なくとも単量体成分の全てが芳香環を有する単量体であることはなく、芳香環を有する単量体は、含有していても単量体成分総量100質量%中、95質量%未満である形態である。 Therefore, as a preferable form of the monomer component constituting the resin particle, the crosslinkable monomer is contained in an amount of 5% by mass or more and 60% by mass or less in the total amount of the monomer component of 100% by mass. Includes the specific crosslinkable monomer (a) and / or the specific crosslinkable monomer (b) as an essential component, and at least all of the monomer components are not monomers having an aromatic ring, Even if the monomer which has an aromatic ring is contained, it is a form which is less than 95 mass% in 100 mass% of monomer component total amount.
さらに、前記樹脂粒子が無機質粒子に由来するポリシロキサン骨格を有する(有機無機複合材料の)場合に、樹脂粒子の圧縮変形回復率を上述した範囲により確実に制御するためには、樹脂粒子におけるケイ素含有量は樹脂粒子100質量%に対するSi換算量で表して、20質量%以下であることが好ましい。より好ましくは15質量%以下、さらに好ましくは10質量%以下、一層好ましくは6質量%以下、特に好ましくは3質量%以下である。ケイ素含有量が20質量%を超えると、樹脂粒子の回復率が高くなり過ぎて、接続信頼性が低下する虞がある。なお、前記ケイ素含有量は、樹脂粒子を空気などの酸化性雰囲気中、1000℃で焼成したときの灰分質量(これをSiO2量とする)からSi分に相当する質量を算出し、該Si量を焼成処理に供した樹脂粒子の質量で除すことにより求めることができる。灰分質量からSi分に相当する質量を算出するには、灰分質量に0.4672(Si原子量/SiO2式量)を乗じることによって求めることができる。 Further, when the resin particles have a polysiloxane skeleton derived from inorganic particles (organic-inorganic composite material), in order to reliably control the compression deformation recovery rate of the resin particles within the above range, silicon in the resin particles is used. The content is preferably 20% by mass or less when expressed in terms of Si relative to 100% by mass of the resin particles. More preferably, it is 15 mass% or less, More preferably, it is 10 mass% or less, More preferably, it is 6 mass% or less, Most preferably, it is 3 mass% or less. If the silicon content exceeds 20% by mass, the recovery rate of the resin particles becomes too high, and the connection reliability may be lowered. Incidentally, the silicon content, the resin particles were calculated mass corresponding in an oxidizing atmosphere such as air, from the ash mass when fired at 1000 ° C. (which is referred to as SiO 2 amount) in Si content, the Si It can be determined by dividing the amount by the mass of the resin particles subjected to the firing treatment. The mass corresponding to the Si content can be calculated from the ash mass by multiplying the ash mass by 0.4672 (Si atomic weight / SiO 2 formula weight).
前記樹脂粒子(基材)の形状は、特に限定されるものではなく、例えば、球状、回転楕円体状、金平糖状、薄板状、針状、まゆ状等のいずれでも良いが、球状が好ましく、特に真球状が好ましい。 The shape of the resin particles (base material) is not particularly limited, and may be any of a spherical shape, a spheroid shape, a confetti shape, a thin plate shape, a needle shape, an eyebrow shape, etc., and a spherical shape is preferable. A true spherical shape is particularly preferable.
2.導電性微粒子
本発明の導電性微粒子は、前記基材(樹脂粒子)表面に少なくとも一層の導電性金属層が形成されている。導電性金属層を構成する金属としては特に限定されないが、例えば、金、銀、銅、白金、鉄、鉛、アルミニウム、クロム、パラジウム、ニッケル、ロジウム、ルテニウム、アンチモン、ビスマス、ゲルマニウム、スズ、コバルト、インジウム及びニッケル−リン、ニッケル−ホウ素等の金属や金属化合物、及び、これらの合金等が挙げられる。これらの中でも、金、ニッケル、パラジウム、銀、銅、錫が導電性に優れた導電性微粒子となることから好ましい。また、安価な点で、ニッケル、ニッケル合金(Ni−Au、Ni−Pd、Ni−Pd−Au、Ni−Ag、Ni−P、Ni−B、Ni−Zn、Ni−Sn、Ni−W、Ni−Co、Ni−W、Ni−Ti);銅、銅合金(CuとFe、Co、Ni、Zn、Sn、In、Ga、Tl、Zr、W、Mo、Rh、Ru、Ir、Ag、Au、Bi、Al、Mn、Mg、P、Bからなる群から選択される少なくとも1種の金属元素との合金、好ましくはAg、Ni、Sn、Znとの合金);銀、銀合金(AgとFe、Co、Ni、Zn、Sn、In、Ga、Tl、Zr、W、Mo、Rh、Ru、Ir、Au、Bi、Al、Mn、Mg、P、Bからなる群から選択される少なくとも1種の金属元素との合金、好ましくはAg−Ni、Ag−Sn、Ag−Zn);錫、錫合金(たとえばSn−Ag、Sn−Cu、Sn−Cu−Ag、Sn−Zn、Sn−Sb、Sn−Bi−Ag、Sn−Bi−In、Sn−Au、Sn−Pb等)等が好ましい。中でもニッケル、ニッケル合金が好ましい。また、導電性金属層は、単層でもよいし複層であってもよく、複層の場合には、例えば、ニッケル−金、ニッケル−パラジウム、ニッケル−パラジウム−金、ニッケル−銀等の組合せが好ましく挙げられる。
2. Conductive fine particles In the conductive fine particles of the present invention, at least one conductive metal layer is formed on the surface of the substrate (resin particles). The metal constituting the conductive metal layer is not particularly limited. For example, gold, silver, copper, platinum, iron, lead, aluminum, chromium, palladium, nickel, rhodium, ruthenium, antimony, bismuth, germanium, tin, cobalt Indium, nickel-phosphorous, nickel-boron and other metals and metal compounds, and alloys thereof. Among these, gold, nickel, palladium, silver, copper, and tin are preferable because they become conductive fine particles having excellent conductivity. Further, in terms of inexpensiveness, nickel, nickel alloy (Ni-Au, Ni-Pd, Ni-Pd-Au, Ni-Ag, Ni-P, Ni-B, Ni-Zn, Ni-Sn, Ni-W, Ni—Co, Ni—W, Ni—Ti); copper, copper alloy (Cu and Fe, Co, Ni, Zn, Sn, In, Ga, Tl, Zr, W, Mo, Rh, Ru, Ir, Ag, Alloy with at least one metal element selected from the group consisting of Au, Bi, Al, Mn, Mg, P, B, preferably an alloy with Ag, Ni, Sn, Zn); Silver, silver alloy (Ag And Fe, Co, Ni, Zn, Sn, In, Ga, Tl, Zr, W, Mo, Rh, Ru, Ir, Au, Bi, Al, Mn, Mg, P, B Alloy with one metal element, preferably Ag-Ni, Ag-Sn, Ag-Z ); Tin, tin alloy (for example, Sn—Ag, Sn—Cu, Sn—Cu—Ag, Sn—Zn, Sn—Sb, Sn—Bi—Ag, Sn—Bi—In, Sn—Au, Sn—Pb, etc.) Etc.) are preferred. Of these, nickel and nickel alloys are preferred. The conductive metal layer may be a single layer or multiple layers. In the case of multiple layers, for example, a combination of nickel-gold, nickel-palladium, nickel-palladium-gold, nickel-silver, etc. Is preferred.
前記導電性金属層の厚さは、0.010μm以上が好ましく、より好ましくは0.030μm以上、さらに好ましくは0.050μm以上であり、0.30μm以下が好ましく、より好ましくは0.25μm以下、さらに好ましくは0.20μm以下、一層好ましくは、0.15μm以下である。基材とする樹脂粒子が微細な粒子径である本発明の導電性微粒子においては、導電性金属層の厚さが上記範囲内であれば、導電性微粒子を異方性導電材料として用いる際に、安定した電気的接続が維持できる。
なお、前記導電性金属層は、樹脂粒子表面の少なくとも一部を被覆していればよいが、導電性金属層の表面には、実質的な割れや、導電性金属層が形成されていない面が存在しないことが好ましい。ここで、「実質的な割れや、導電性金属層が形成されていない面」とは、電子顕微鏡(倍率1000倍)を用いて任意の10000個の導電性微粒子の表面を観察したときに、導電性金属層の割れ、および、樹脂粒子表面の露出が、実質的に目視で観察されないことを意味する。
The thickness of the conductive metal layer is preferably 0.010 μm or more, more preferably 0.030 μm or more, still more preferably 0.050 μm or more, preferably 0.30 μm or less, more preferably 0.25 μm or less, More preferably, it is 0.20 micrometer or less, More preferably, it is 0.15 micrometer or less. In the conductive fine particles of the present invention in which the resin particles as the base material have a fine particle diameter, when the conductive metal layer has a thickness within the above range, the conductive fine particles are used as an anisotropic conductive material. Stable electrical connection can be maintained.
The conductive metal layer only needs to cover at least a part of the surface of the resin particles, but the surface of the conductive metal layer has no substantial cracks or conductive metal layer. Is preferably absent. Here, “substantially cracked or a surface on which no conductive metal layer is formed” means that when the surface of any 10,000 conductive fine particles is observed using an electron microscope (magnification 1000 times), It means that the crack of the conductive metal layer and the exposure on the surface of the resin particles are not substantially visually observed.
本発明の導電性微粒子の個数平均粒子径は、13.5μm以上が好ましく、より好ましくは14μm以上、さらに好ましくは15μm以上、特に好ましくは16μm以上であり、51μm以下が好ましく、より好ましくは46μm以下、さらに好ましくは41μm以下、さらに好ましくは36μm以下である。個数平均粒子径がこの範囲内であれば、微細化、狭小化された電極や配線の電気接続に対して、好適に使用できる。
なお、導電性微粒子の個数平均粒子径としては、フロー式粒子像解析装置(シスメックス社製「FPIA(登録商標)−3000」)を用いて求めた、3000個の粒子の個数基準の平均粒子径を採用することが好ましい。
The number average particle diameter of the conductive fine particles of the present invention is preferably 13.5 μm or more, more preferably 14 μm or more, further preferably 15 μm or more, particularly preferably 16 μm or more, preferably 51 μm or less, more preferably 46 μm or less. More preferably, it is 41 μm or less, and more preferably 36 μm or less. If the number average particle diameter is within this range, it can be suitably used for electrical connection of miniaturized and narrowed electrodes and wirings.
The number average particle size of the conductive fine particles was determined using a flow type particle image analyzer (“FPIA (registered trademark) -3000” manufactured by Sysmex Corporation), and was based on the number average particle size of 3000 particles. Is preferably adopted.
本発明の導電性微粒子は、圧縮荷重値49mNを負荷した後の圧縮変形回復率が5〜65%であることが好ましい。これにより、適度な反発性を保持することとなり、接続初期の抵抗値を十分に低くできるとともに、接続後の経時的な抵抗値の上昇を効率よく抑制することが可能になる。圧縮変形回復率は、好ましくは10%以上、より好ましくは20%以上、さらに好ましくは30%以上である。一方、上限は、50%以下が好ましく、より好ましくは40%以下である。 The conductive fine particles of the present invention preferably have a compression deformation recovery rate of 5 to 65% after applying a compression load value of 49 mN. As a result, moderate resilience is maintained, the resistance value at the initial stage of connection can be sufficiently reduced, and the increase in resistance value over time after connection can be efficiently suppressed. The compression deformation recovery rate is preferably 10% or more, more preferably 20% or more, and further preferably 30% or more. On the other hand, the upper limit is preferably 50% or less, more preferably 40% or less.
本発明の導電性微粒子は、その直径を20%変位させたときの圧縮弾性率(20%K値)が1,000N/mm2以上、15,000N/mm2以下であることが好ましい。導電性微粒子の20%K値が15,000N/mm2を超えると、粒子の変形量を大きくするためには接続時の圧力を高くする必要があるため、低圧接続では接続面積が不充分となり、接続初期の抵抗値が高くなり易い。逆に、樹脂粒子の20%K値が1,000N/mm2未満であると、接続時にバインダーの排除能が低下するため接続初期の抵抗値が高くなる虞がある。20%K値を上述した範囲とすることにより、低圧接続でも初期抵抗値が低い接続が可能となり、膜厚の薄いガラスや樹脂フィルムなどの被接続媒体に対しても低抵抗の接続が可能となる。 Conductive fine particles of the present invention, the compression modulus when the diameter was 20% displacement (20% K value) of 1,000 N / mm 2 or more, it is preferable that the 15,000N / mm 2 or less. If the 20% K value of the conductive fine particles exceeds 15,000 N / mm 2 , it is necessary to increase the pressure at the time of connection in order to increase the amount of deformation of the particles. The resistance value at the initial stage of connection tends to be high. On the other hand, if the 20% K value of the resin particles is less than 1,000 N / mm 2 , the resistance of the binder at the time of connection is lowered and the resistance value at the initial stage of connection may be increased. By setting the 20% K value in the above-described range, it is possible to connect with a low initial resistance value even with a low-voltage connection, and it is possible to connect with a low resistance even to a connected medium such as a thin glass or resin film. Become.
本発明の導電性微粒子は、その直径を20%変位させたときの圧縮弾性率(導電性微粒子の20%K値)は、好ましくは11,000N/mm2以下、より好ましくは9,000N/mm2以下、さらに好ましくは7,000N/mm2以下、最も好ましくは5,000N/mm2以下であり、好ましくは1,500N/mm2以上、より好ましくは2,000N/mm2以上である。
また本発明の導電性微粒子は、その直径を10%変位させたときの圧縮弾性率(導電性微粒子の10%K値)の、上述した導電性微粒子の20%K値に対する比(導電性微粒子の10%K値/導電性微粒子の20%K値)が1.5以上であることが好ましい。1.5以上であることにより、低圧接続に適した導電性微粒子となり、さらに被接続体に対する接触面積を有効に大きくすることができるといった効果も得られる。上記比は、より好ましくは1.6以上、さらに好ましくは1.7以上であり、その上限は特に限定されないが、通常3.0以下であり、好ましくは、2.5以下である。
The conductive fine particles of the present invention have a compressive modulus (20% K value of the conductive fine particles) when the diameter is displaced by 20%, preferably 11,000 N / mm 2 or less, more preferably 9,000 N / mm 2 or less, more preferably 7,000 N / mm 2 or less, most preferably 5,000 N / mm 2 or less, preferably 1,500 N / mm 2 or more, more preferably 2,000 N / mm 2 or more. .
Further, the conductive fine particles of the present invention have a ratio of the compressive modulus (10% K value of the conductive fine particles) when the diameter is displaced by 10% to the 20% K value of the conductive fine particles described above (conductive fine particles). 10% K value / 20% K value of conductive fine particles) is preferably 1.5 or more. By being 1.5 or more, it becomes the electroconductive fine particle suitable for a low voltage | pressure connection, and also the effect that the contact area with respect to a to-be-connected body can be enlarged effectively is acquired. The ratio is more preferably 1.6 or more, and even more preferably 1.7 or more, and the upper limit is not particularly limited, but is usually 3.0 or less, and preferably 2.5 or less.
なお、導電性微粒子の圧縮変形回復率、20%K値、10%K値は、樹脂粒子の回復率、20%K値、10%K値と同様にして測定することができる。 The compression deformation recovery rate, 20% K value, and 10% K value of the conductive fine particles can be measured in the same manner as the resin particle recovery rate, 20% K value, and 10% K value.
本発明の導電性微粒子は、表面の少なくとも一部に絶縁性樹脂層を有することもできる。つまり、前記導電性金属層の表面にさらに絶縁性樹脂層を設けた態様であってもよい。このように表面の導電性金属層にさらに絶縁性樹脂層が積層されていると、高密度回路の形成時や端子接続時などに生じやすい横導通を防ぐことができる。
前記絶縁性樹脂層としては、導電性微粒子の粒子間における絶縁性が確保でき、一定の圧力及び/又は加熱により容易にその絶縁性樹脂層が崩壊あるいは剥離するものであれば特に限定されず、例えば、ポリエチレンなどのポリオレフィン類;ポリメチル(メタ)アクリレートなどの(メタ)アクリレート重合体および共重合体;ポリスチレン;等の熱可塑性樹脂やその架橋物;エポキシ樹脂、フェノール樹脂、アミノ樹脂(メラミン樹脂等)等の熱硬化性樹脂;ポリビニルアルコール等の水溶性樹脂およびこれらの混合物;等が挙げられる。但し、基材粒子に比べて絶縁性樹脂層が硬過ぎる場合には、絶縁性樹脂層の破壊よりも先に基材粒子自体が破壊してしまうおそれがある。したがって、絶縁性樹脂層には、未架橋または比較的架橋度の低い樹脂を用いることが好ましい。
The conductive fine particles of the present invention may have an insulating resin layer on at least a part of the surface. That is, the aspect which provided the insulating resin layer further on the surface of the said electroconductive metal layer may be sufficient. When the insulating resin layer is further laminated on the conductive metal layer on the surface in this way, it is possible to prevent the lateral conduction that is likely to occur when a high-density circuit is formed or when a terminal is connected.
The insulating resin layer is not particularly limited as long as the insulating property between the particles of the conductive fine particles can be secured, and the insulating resin layer can be easily collapsed or peeled off by a certain pressure and / or heating. For example, polyolefins such as polyethylene; (meth) acrylate polymers and copolymers such as polymethyl (meth) acrylate; thermoplastic resins such as polystyrene; and cross-linked products thereof; epoxy resins, phenol resins, amino resins (melamine resins, etc.) And the like; and water-soluble resins such as polyvinyl alcohol and mixtures thereof. However, when the insulating resin layer is too hard compared to the base particle, the base particle itself may be destroyed before the insulating resin layer is destroyed. Therefore, it is preferable to use an uncrosslinked or relatively low degree of crosslinking resin for the insulating resin layer.
前記絶縁性樹脂層は、単層であっても、複数の層からなるものであってもよい。例えば、単一又は複数の皮膜状の層が形成されていてもよいし、絶縁性を有する粒状、球状、塊状、鱗片状その他の形状の粒子を導電性金属層の表面に付着させた層であってもよいし、さらには、導電性金属層の表面を化学修飾することにより形成された層であってもよく、または、これらが組み合わされたものであってもよい。絶縁性樹脂層の厚さは0.01μm〜1μmが好ましく、より好ましくは0.02μm以上、0.5μm以下、さらに好ましくは0.03μm以上、0.4μm以下である。絶縁性樹脂層の厚さが前記範囲内であれば、導電性粒子による導通特性を良好に維持しつつ、粒子間の電気絶縁性が良好となる。 The insulating resin layer may be a single layer or a plurality of layers. For example, a single or a plurality of film-like layers may be formed, or a layer in which particles having insulating, granular, spherical, lump, scale or other shapes are attached to the surface of the conductive metal layer. Further, it may be a layer formed by chemically modifying the surface of the conductive metal layer, or a combination thereof. The thickness of the insulating resin layer is preferably 0.01 μm to 1 μm, more preferably 0.02 μm to 0.5 μm, still more preferably 0.03 μm to 0.4 μm. When the thickness of the insulating resin layer is within the above range, the electrical insulation between the particles becomes good while maintaining the conduction characteristics by the conductive particles.
3.製造方法
まず基材とする前記樹脂粒子の製造方法について説明する。
樹脂粒子の製造方法としては、特に制限はなく、上述の単量体成分を重合するものであれば、特に限定されないが、乳化重合、懸濁重合、分散重合、シード重合、ゾルゲルシード重合法等が挙げられる。樹脂粒子の粒子径を上述した所定の範囲にするには、例えば、シード重合法により樹脂粒子を合成した後、分級する方法等が好ましく採用される。樹脂粒子の合成にシード重合法を採用することにより、粒度分布の小さい樹脂粒子が得られる。さらに、合成後の樹脂粒子を分級し粗粒子を除去することにより、平均粒子径を所望の範囲に調整することができる。
3. Manufacturing method First, the manufacturing method of the said resin particle used as a base material is demonstrated.
The method for producing the resin particles is not particularly limited as long as the above-described monomer component is polymerized, and is not particularly limited, but emulsion polymerization, suspension polymerization, dispersion polymerization, seed polymerization, sol-gel seed polymerization method, etc. Is mentioned. In order to set the particle diameter of the resin particles within the predetermined range described above, for example, a method of classifying the resin particles after being synthesized by a seed polymerization method is preferably employed. By employing a seed polymerization method for the synthesis of resin particles, resin particles having a small particle size distribution can be obtained. Furthermore, the average particle diameter can be adjusted to a desired range by classifying the synthesized resin particles and removing coarse particles.
前記シード重合法は、シード粒子調製工程、シード粒子に単量体成分を吸収させる吸収工程、シード粒子に吸収させた単量体成分を重合反応させる重合工程を経て樹脂粒子を得る方法である。各工程における手法や条件等は、公知のシード重合法の手法を適宜採用すればよく特に制限されないが、例えば以下の手法等が好ましく採用される。なお、樹脂粒子を構成するための好適な単量体成分である特定架橋性単量体((a)、(b))は、シード粒子を構成する成分として、および/または、シード粒子に吸収させる単量体成分として、前述した好適な組成範囲で使用されることが好ましい。
前記シード粒子調製工程において、有機材料のみから構成される樹脂粒子を合成する場合には、前記ビニル系単量体を用いて、ソープフリー乳化重合、分散重合等の方法でシード粒子を調製すればよい。この場合、前記ビニル系単量体としてスチレン等のスチレン系単官能モノマーを用いることが好ましい。他方、有機材料とポリシロキサン骨格を有する材料から構成される粒子を合成する場合には、前記シラン系単量体を用いて、水を含む溶媒(例えば、アルコール類、ケトン類、エステル類、(シクロ)パラフィン類、芳香族炭化水素類等の有機溶剤と水との混合溶媒)中で加水分解して縮重合させる方法でシード粒子(ポリシロキサン粒子)を調製すればよい。この場合、前記シラン系単量体として、ラジカル重合性基を有するシラン系架橋性単量体を用いて重合性ポリシロキサン粒子とすることが好ましい。またシラン系単量体として上述した特定架橋性単量体(b)を用いることが好ましい。加水分解し、縮重合させるにあたっては、触媒として、アンモニア、尿素、エタノールアミン、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド、アルカリ金属水酸化物、アルカリ土類金属水酸化物等の塩基性触媒を好ましく用いることができ、さらに必要に応じて、アニオン性、カチオン性、非イオン性の界面活性剤や、ポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドン等の高分子分散剤を併用することができる。
The seed polymerization method is a method of obtaining resin particles through a seed particle preparation step, an absorption step in which the seed particle absorbs the monomer component, and a polymerization step in which the monomer component absorbed in the seed particle is polymerized. The method and conditions in each step are not particularly limited as long as a known seed polymerization method is appropriately employed. For example, the following methods are preferably employed. The specific crosslinkable monomer ((a), (b)), which is a suitable monomer component for constituting the resin particle, is absorbed as a component constituting the seed particle and / or in the seed particle. The monomer component to be used is preferably used in the preferred composition range described above.
In the seed particle preparation step, when synthesizing resin particles composed only of an organic material, the seed particles are prepared by a method such as soap-free emulsion polymerization or dispersion polymerization using the vinyl monomer. Good. In this case, it is preferable to use a styrene monofunctional monomer such as styrene as the vinyl monomer. On the other hand, when synthesizing particles composed of an organic material and a material having a polysiloxane skeleton, a solvent containing water (for example, alcohols, ketones, esters, ( The seed particles (polysiloxane particles) may be prepared by hydrolysis and condensation polymerization in a mixed solvent of an organic solvent such as cyclo) paraffins and aromatic hydrocarbons and water. In this case, it is preferable to use a silane crosslinkable monomer having a radical polymerizable group as the silane monomer to form polymerizable polysiloxane particles. Moreover, it is preferable to use the specific crosslinkable monomer (b) mentioned above as a silane monomer. In the hydrolysis and polycondensation, basic catalysts such as ammonia, urea, ethanolamine, tetramethylammonium hydroxide, alkali metal hydroxide, and alkaline earth metal hydroxide can be preferably used as the catalyst. If necessary, an anionic, cationic or nonionic surfactant or a polymer dispersant such as polyvinyl alcohol or polyvinylpyrrolidone can be used in combination.
前記吸収工程においてシード粒子に単量体成分を吸収させる方法としては、特に制限はなく、例えば、予めシード粒子を溶媒中に分散させたシード粒子分散液に単量体成分を加えてもよいし、単量体成分を含む溶媒中にシード粒子を加えてもよいが、特に、前者の手法において、重合または加水分解、縮合により得られた反応液をそのままシード粒子分散液とすることが、工程の簡略化、生産性の観点から好ましい。単量体成分は、それ単独で添加してもよいし、溶媒に溶解させた溶液として添加してもよいが、シード粒子に効率よく吸収させるうえでは、乳化剤を用いて予め水又は水性媒体(例えば、アルコール類、ケトン類、エステル類等の水溶性有機溶剤またはこれらと水との混合溶媒)に乳化、分散させて乳化液としておき添加することが好ましい。吸収させる単量体成分として少なくとも上述した特定架橋性単量体(a)を用いることが好ましい。 The method for absorbing the monomer component in the seed particles in the absorption step is not particularly limited. For example, the monomer component may be added to a seed particle dispersion in which the seed particles are previously dispersed in a solvent. The seed particles may be added to the solvent containing the monomer component. In particular, in the former method, the reaction solution obtained by polymerization, hydrolysis, or condensation may be used as a seed particle dispersion as it is. From the viewpoint of simplification and productivity. The monomer component may be added alone, or may be added as a solution dissolved in a solvent, but in order to efficiently absorb the seed particles, water or an aqueous medium ( For example, it is preferable to add as an emulsified liquid by emulsifying and dispersing in a water-soluble organic solvent such as alcohols, ketones and esters, or a mixed solvent of these with water). It is preferable to use at least the above-mentioned specific crosslinkable monomer (a) as a monomer component to be absorbed.
前記単量体成分を乳化剤で乳化分散させる際には、乳化剤としては、例えば、アニオン性界面活性剤や、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレン脂肪酸エステル、ソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンアルキルアミン、グリセリン脂肪酸エステル、オキシエチレン−オキシプロピレンブロックポリマー等のノニオン性界面活性剤が、シード粒子が単量体成分を吸収した後のシード粒子の分散状態を安定化させることもできる点で好ましく用いられる。また、乳化分散の際に用いる水又は水性媒体の量は、通常、単量体成分の質量に対して0.3倍以上10倍以下である。
吸収工程において、単量体成分がシード粒子に吸収されたかどうかの判断については、例えば、単量体成分を加える前及び吸収段階終了後に、顕微鏡により粒子を観察し、単量体成分の吸収により粒子径が大きくなっていることを確認することで容易に判断できる。なお、本発明における樹脂粒子を得るためには、下記式で示される吸収倍率は、特に限定されるものではないが、1.0倍以上、50倍以下であることが好ましい。
吸収倍率=(吸収させる単量体成分の総質量)/(シード粒子の質量)
When emulsifying and dispersing the monomer component with an emulsifier, examples of the emulsifier include anionic surfactants, polyoxyethylene alkyl ethers, polyoxyethylene alkyl phenyl ethers, polyoxyethylene fatty acid esters, sorbitan fatty acid esters. , Dispersion state of seed particles after nonionic surfactant such as polyoxysorbitan fatty acid ester, polyoxyethylene alkylamine, glycerin fatty acid ester, oxyethylene-oxypropylene block polymer absorbs monomer component Is preferably used in that it can be stabilized. In addition, the amount of water or aqueous medium used for emulsification and dispersion is usually 0.3 to 10 times the mass of the monomer component.
In the absorption process, for determining whether the monomer component has been absorbed by the seed particles, for example, before adding the monomer component and after completion of the absorption step, observe the particles with a microscope and absorb the monomer component. It can be easily determined by confirming that the particle size is increased. In addition, in order to obtain the resin particle in this invention, although the absorption rate shown by a following formula is not specifically limited, It is preferable that it is 1.0 to 50 times.
Absorption magnification = (total mass of monomer components to be absorbed) / (mass of seed particles)
前記重合工程において採用する重合方法は、特に限定されず、例えば、ラジカル重合開始剤(例えば、過酸化物系開始剤、アゾ系開始剤等)を用いる方法など公知の方法を用いることができる。ラジカル重合を行う際の反応温度は40℃以上が好ましく、より好ましくは50℃以上であり、100℃以下が好ましく、より好ましくは80℃以下である。反応温度が低すぎると、重合度が十分に上がらず複合粒子の機械的特性が不充分となる傾向があり、一方、反応温度が高すぎると、重合中に粒子間の凝集が起こりやすくなる傾向がある。なお、ラジカル重合を行う際の反応時間は、用いる重合開始剤の種類に応じて適宜変更すればよいが、通常、5分以上が好ましく、より好ましくは10分以上であり、600分以下が好ましく、より好ましくは300分以下である。反応時間が短すぎると、重合度が十分に上がらない場合があり、反応時間が長すぎると、粒子間で凝集が起こり易くなる傾向がある。このような重合工程において、なお、シード粒子が重合性ポリシロキサン粒子である場合、該重合工程において、吸収させた単量体成分と重合性ポリシロキサン骨格が有するラジカル重合性基とが重合し、ポリシロキサン骨格とビニル重合体とが複合化する。 The polymerization method employed in the polymerization step is not particularly limited, and for example, a known method such as a method using a radical polymerization initiator (for example, a peroxide-based initiator, an azo-based initiator, etc.) can be used. The reaction temperature at the time of performing radical polymerization is preferably 40 ° C or higher, more preferably 50 ° C or higher, preferably 100 ° C or lower, more preferably 80 ° C or lower. If the reaction temperature is too low, the degree of polymerization does not increase sufficiently and the mechanical properties of the composite particles tend to be insufficient. On the other hand, if the reaction temperature is too high, aggregation between particles tends to occur during the polymerization. There is. The reaction time for performing radical polymerization may be appropriately changed according to the type of polymerization initiator to be used, but is usually preferably 5 minutes or more, more preferably 10 minutes or more, and preferably 600 minutes or less. More preferably, it is 300 minutes or less. If the reaction time is too short, the degree of polymerization may not be sufficiently increased, and if the reaction time is too long, aggregation tends to occur between particles. In such a polymerization step, when the seed particles are polymerizable polysiloxane particles, in the polymerization step, the absorbed monomer component and the radical polymerizable group of the polymerizable polysiloxane skeleton are polymerized, A polysiloxane skeleton and a vinyl polymer are combined.
上記のようにして合成した樹脂粒子は、所定の粒子径となるように分級に供することが好ましい。分級方法は特に限定されず、例えば、電成ふるい等によるふるい分け;メンブランフィルター、プリーツフィルター、セラミック膜フィルター等のフィルターを使用した濾過;質量差及び流体抵抗差の相互作用によって分級する公知の装置(粒子の落下速度等の重力差が原理である重力分級機、自由渦又は半自由渦による遠心力と空気抗力の釣り合いを原理とする(半)自由渦遠心分級、回転する分級羽根(ローター)によってつくられる回転流によって生じる遠心力と空気による抗力の釣り合いを原理とする回転羽根付き遠心分級)を用いた分級;等が挙げられる。これらの中でも、分級精度と生産性の観点から電成ふるいを用いた分級が好ましい。 The resin particles synthesized as described above are preferably subjected to classification so as to have a predetermined particle diameter. The classification method is not particularly limited, for example, sieving with an electroforming sieve, etc .; filtration using a filter such as a membrane filter, a pleat filter, a ceramic membrane filter, etc .; a known apparatus for classification by the interaction of mass difference and fluid resistance difference ( Gravity classifier based on the principle of gravity difference such as particle fall velocity, (half) free vortex centrifugal classification based on the balance of centrifugal force and air drag by free vortex or semi-free vortex, rotating classification blade (rotor) Classification using a centrifugal classification with rotating blades based on the balance between the centrifugal force generated by the generated rotating flow and the drag force caused by air. Among these, classification using an electric sieve is preferable from the viewpoint of classification accuracy and productivity.
合成後、必要に応じて分級された樹脂粒子は、通常、乾燥され、場合によっては焼成に付される。乾燥温度は特に限定されないが、通常50℃〜250℃の範囲である。
以上のようにして樹脂粒子は、平均粒子径や粒子径の変動係数等について上述した範囲を満足するよう調製される。
After the synthesis, the resin particles classified as necessary are usually dried and optionally subjected to firing. Although drying temperature is not specifically limited, Usually, it is the range of 50 to 250 degreeC.
As described above, the resin particles are prepared so as to satisfy the above-described ranges with respect to the average particle size, the variation coefficient of the particle size, and the like.
次に、以上のようにして得られた樹脂粒子(基材)に導電性金属層を形成し、必要に応じてさらに絶縁性樹脂層を形成することにより、導電性微粒子が得られる。
導電性金属層の形成方法および絶縁性樹脂層の形成方法は特に限定されないが、例えば導電性金属層は、基材表面に無電解メッキ法、電解メッキ法等によってメッキを施す方法;基材表面に真空蒸着、イオンプレーティング、イオンスパッタリング等の物理的蒸着方法により導電性金属層を形成する方法;等により形成できる。これらの中でも特に無電解メッキ法が、大掛かりな装置を必要とせず容易に導電性金属層を形成できる点で好ましい。
Next, conductive fine particles are obtained by forming a conductive metal layer on the resin particles (base material) obtained as described above and further forming an insulating resin layer as necessary.
The formation method of the conductive metal layer and the formation method of the insulating resin layer are not particularly limited. For example, the conductive metal layer is plated on the substrate surface by an electroless plating method, an electrolytic plating method, or the like; Or a method of forming a conductive metal layer by a physical vapor deposition method such as vacuum vapor deposition, ion plating, or ion sputtering; Among these, the electroless plating method is particularly preferable in that a conductive metal layer can be easily formed without requiring a large-scale apparatus.
4.異方性導電材料
本発明の異方性導電材料は、上記本発明の導電性微粒子がバインダー樹脂に分散してなる。異方性導電材料の形態は特に限定されず、例えば、異方性導電フィルム、異方性導電ペースト、異方性導電接着剤、異方性導電インクなど様々な形態が挙げられる。これらの異方性導電材料を相対向する基材同士や電極端子間に設けることにより、良好な電気的接続が可能になる。なお、本発明の導電性微粒子を用いた異方性導電材料には、液晶表示素子用導通材料(導通スペーサーおよびその組成物)も含まれる。異方性導電材料の好適な用途としてはタッチパネルの入力用、LED用などが挙げられ、特にLEDの実装用に好適に用いられる。
4). Anisotropic conductive material The anisotropic conductive material of the present invention comprises the conductive fine particles of the present invention dispersed in a binder resin. The form of the anisotropic conductive material is not particularly limited, and examples thereof include various forms such as an anisotropic conductive film, an anisotropic conductive paste, an anisotropic conductive adhesive, and an anisotropic conductive ink. By providing these anisotropic conductive materials between opposing substrates or between electrode terminals, good electrical connection can be achieved. The anisotropic conductive material using the conductive fine particles of the present invention includes a conductive material for a liquid crystal display element (conductive spacer and composition thereof). Suitable applications of the anisotropic conductive material include touch panel input, LED, and the like, and particularly suitable for LED mounting.
前記バインダー樹脂としては、絶縁性の樹脂であれば特に限定されず、例えば、アクリル樹脂、エチレン−酢酸ビニル樹脂、スチレン−ブタジエンブロック共重合体などの熱可塑性樹脂;グリシジル基を有するモノマーやオリゴマーおよびイソシアネートなどの硬化剤との反応により硬化する硬化性樹脂組成物;光や熱により硬化する硬化性樹脂組成物;等が挙げられる。
なお、本発明の異方性導電材料は、前記バインダー樹脂中に本発明の導電性微粒子を分散させ、所望の形態とすることで得られるが、例えば、バインダー樹脂と導電性微粒子とを別々に使用し、接続しようとする基材間や電極端子間に導電性微粒子をバインダー樹脂とともに存在させることによって接続してもかまわない。
The binder resin is not particularly limited as long as it is an insulating resin. For example, thermoplastic resins such as acrylic resins, ethylene-vinyl acetate resins, styrene-butadiene block copolymers; monomers and oligomers having a glycidyl group; Examples thereof include a curable resin composition that is cured by a reaction with a curing agent such as isocyanate; a curable resin composition that is cured by light or heat;
The anisotropic conductive material of the present invention can be obtained by dispersing the conductive fine particles of the present invention in the binder resin to obtain a desired form. For example, the binder resin and the conductive fine particles are separately provided. You may connect by making electroconductive fine particles exist with a binder resin between the base material to be used and connecting between electrode terminals.
本発明の異方性導電材料において、導電性微粒子の含有量は、用途に応じて適宜決定すればよいが、例えば、異方性導電材料の全量に対して1体積%以上が好ましく、より好ましくは2体積%以上、さらに好ましくは5体積%以上であり、50体積%以下が好ましく、より好ましくは30体積%以下、さらに好ましくは20体積%以下である。導電性微粒子の含有量が少なすぎると、充分な電気的導通が得られ難い場合があり、一方、導電性微粒子の含有量が多すぎると、導電性微粒子同士が接触してしまい、異方性導電材料としての機能が発揮され難い場合がある。 In the anisotropic conductive material of the present invention, the content of the conductive fine particles may be appropriately determined according to the use. For example, the volume of the anisotropic conductive material is preferably 1% by volume or more, more preferably Is 2% by volume or more, more preferably 5% by volume or more, preferably 50% by volume or less, more preferably 30% by volume or less, and still more preferably 20% by volume or less. If the content of the conductive fine particles is too small, it may be difficult to obtain sufficient electrical continuity. On the other hand, if the content of the conductive fine particles is too large, the conductive fine particles are in contact with each other, and anisotropy is caused. The function as a conductive material may be difficult to be exhibited.
本発明の異方性導電材料におけるフィルム膜厚、ペーストや接着剤の塗工膜厚、印刷膜厚等については、使用する本発明の導電性微粒子の粒子径と、接続すべき電極の仕様とを考慮し、接続すべき電極間に導電性微粒子が狭持され、且つ接続すべき電極が形成された接合基板同士の空隙がバインダー樹脂層により充分に満たされるように、適宜設定することが好ましい。 About the film thickness in the anisotropic conductive material of the present invention, the coating thickness of the paste or adhesive, the printed film thickness, etc., the particle diameter of the conductive fine particles of the present invention to be used and the specifications of the electrode to be connected In consideration of the above, it is preferable to appropriately set so that the conductive fine particles are sandwiched between the electrodes to be connected and the gap between the bonding substrates on which the electrodes to be connected are formed is sufficiently filled with the binder resin layer. .
以下に実施例を挙げて本発明をより具体的に説明するが、本発明は、下記実施例によって限定されるものではなく、前・後記の趣旨に適合しうる範囲で適宜変更して実施することも可能であり、それらはいずれも本発明の技術的範囲に包含される。なお、以下においては、特に断りのない限り、「部」は「質量部」を、「%」は「質量%」を意味する。 The present invention will be described more specifically with reference to the following examples. However, the present invention is not limited to the following examples, and may be appropriately modified and implemented within a range that can meet the purpose described above and below. All of which are within the scope of the present invention. In the following, “part” means “part by mass” and “%” means “mass%” unless otherwise specified.
1.物性測定方法
各種物性の測定は以下の方法で行った。
<シード粒子および樹脂粒子の平均粒子径・変動係数(CV値)>
樹脂粒子の場合には、樹脂粒子0.1部に、乳化剤であるポリオキシエチレンアルキルエーテル硫酸エステルアンモニウム塩(第一工業製薬株式会社製「ハイテノール(登録商標)N−08」)の1%水溶液20部を加え、超音波で10分間分散させた分散液を測定試料とし、シード粒子の場合には、加水分解、縮合反応で得られた分散液をポリオキシエチレンアルキルエーテル硫酸エステルアンモニウム塩(第一工業製薬株式会社製「ハイテノール(登録商標)N−08」)の1%水溶液により希釈したものを測定試料として、粒度分布測定装置(ベックマンコールター社製「コールターマルチサイザーIII型」)により30000個の粒子の粒子径(μm)を測定し、個数基準の平均分散粒子径を求めた。また樹脂粒子については、平均分散粒子径とともに個数基準での粒子径の標準偏差をも求め、下記式に従って粒子径の変動係数(CV値)を算出した。
粒子の変動係数(%)=100×(粒子径の標準偏差/平均分散粒子径)
1. Physical property measurement method Various physical properties were measured by the following methods.
<Average particle diameter and coefficient of variation (CV value) of seed particles and resin particles>
In the case of resin particles, 0.1% of resin particles are added to 1% of polyoxyethylene alkyl ether sulfate ammonium salt (“Hitenol (registered trademark) N-08” manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.) as an emulsifier. A dispersion obtained by adding 20 parts of an aqueous solution and ultrasonically dispersing for 10 minutes is used as a measurement sample. In the case of seed particles, a dispersion obtained by hydrolysis and condensation reaction is added to a polyoxyethylene alkyl ether sulfate ammonium salt ( Using a sample diluted with a 1% aqueous solution of “Hitenol (registered trademark) N-08” manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd. as a measurement sample, using a particle size distribution analyzer (“Coulter Multisizer Type III” manufactured by Beckman Coulter, Inc.) The particle diameter (μm) of 30000 particles was measured, and the number-based average dispersed particle diameter was determined. For the resin particles, the standard deviation of the particle diameter on the basis of the number is obtained together with the average dispersed particle diameter, and the coefficient of variation (CV value) of the particle diameter is calculated according to the following formula.
Particle variation coefficient (%) = 100 × (standard deviation of particle diameter / average dispersed particle diameter)
<導電性金属層の膜厚>
フロー式粒子像解析装置(シスメックス社製「FPIA(登録商標)−3000」)を用いて、基材粒子(樹脂粒子)3000個の個数平均粒子径X(μm)および導電性微粒子3000個の個数平均粒子径Y(μm)を測定した。なお、測定は、粒子0.25部に、乳化剤であるポリオキシエチレンオレイルエーテル(「エマルゲン(登録商標)430」花王株式会社製)の1.4%水溶液17.5部を加え、超音波で10分間分散させた後に行なった。そして、下記式に従って導電性金属層の膜厚を算出した。
導電性金属層膜厚(μm)=(Y−X)/2
<Film thickness of conductive metal layer>
Using a flow type particle image analyzer (“FPIA (registered trademark) -3000” manufactured by Sysmex Corporation), the number average particle diameter X (μm) of 3000 base particles (resin particles) and the number of 3000 conductive fine particles The average particle size Y (μm) was measured. The measurement was performed by adding 17.5 parts of a 1.4% aqueous solution of polyoxyethylene oleyl ether (“Emulgen (registered trademark) 430” manufactured by Kao Corporation) as an emulsifier to 0.25 parts of the particles, After dispersing for 10 minutes. And the film thickness of the electroconductive metal layer was computed according to the following formula.
Conductive metal layer thickness (μm) = (Y−X) / 2
<樹脂粒子の10%K値、20%K値>
微小圧縮試験機(島津製作所社製「MCT−W500」)を用いて、室温(25℃)において、試料台(材質:SKS材平板)上に散布した粒子1個について、直径50μmの円形平板圧子(材質:ダイヤモンド)を用いて、「標準表面検出」モードで、粒子の中心方向へ一定の負荷速度(19.37mN/秒)で荷重をかけ、圧縮変位が粒子径の10%になったときの荷重値(mN)とそのときの変位量(μm)、および圧縮変位が粒子径の20%となったときの荷重(mN)とそのときの変位量(μm)を測定した。なお、測定は各試料について、異なる10個の粒子に対して行い、平均した値を測定値とした。そして、得られた荷重値(mN)を圧縮荷重(N)に換算し、得られた変位量(μm)を圧縮変位(mm)に換算し、樹脂粒子の平均粒子径(μm)から粒子の半径(mm)を算出し、これらを用いて下記式に基づき算出した。
<10% K value and 20% K value of resin particles>
Using a micro-compression tester (“MCT-W500” manufactured by Shimadzu Corporation), a circular flat plate indenter with a diameter of 50 μm is used for one particle dispersed on a sample stage (material: SKS flat plate) at room temperature (25 ° C.). Using (material: diamond) and applying a load at a constant load speed (19.37 mN / sec) toward the center of the particle in the “standard surface detection” mode, and the compression displacement becomes 10% of the particle diameter The load value (mN) and the displacement amount (μm) at that time, and the load (mN) when the compression displacement becomes 20% of the particle diameter and the displacement amount (μm) at that time were measured. In addition, the measurement was performed on 10 different particles for each sample, and the average value was used as the measurement value. Then, the obtained load value (mN) is converted into a compressive load (N), the obtained displacement amount (μm) is converted into a compressive displacement (mm), and the average particle diameter (μm) of the resin particles is used to calculate the particle size. The radius (mm) was calculated and calculated based on the following formula using these.
また、得られた10%K値、20%K値より、比率(10%K値/20%K値)を算出した。
Further, a ratio (10% K value / 20% K value) was calculated from the obtained 10% K value and 20% K value.
<樹脂粒子のK値極小値、K値極小値を示す圧縮率>
樹脂粒子の10%K値、20%K値の測定と同様の圧縮試験において、粒子が破壊するまで、もしくは粒子の直径が50%変位するまで粒子を変形させても粒子が破壊しない場合には圧縮変位が粒子径の50%になるまで、粒子を変位させ、各変位量における圧縮弾性率の値(K値)を縦軸に、変位量を横軸にプロットしたときに、K値が極小となる値(すなわちK値極小値;N/mm2)と、K値極小値を示すときの変位量(すなわちK値極小値での直径に対する変位量;μm)を求めた。なお、測定は各試料について、異なる10個の粒子に対して行い、K値極小値、K値極小値での直径に対する変位量ともに、それぞれ平均した値をその試料の測定値とした。そして、K値極小値での直径に対する変位量(μm)を用い、下記式に基づきK値極小値を示す圧縮率(%)を算出した。
K値極小値を示す圧縮率(%)=[K値極小値での直径に対する変位量の平均値(μm)/個数平均粒子径(μm)]×100
なお、各変位量における圧縮弾性率の値(K値)は、10%K値、20%K値と同様にして求めた。
<Compression ratio indicating K value minimum value and K value minimum value of resin particles>
In a compression test similar to the measurement of 10% K value and 20% K value of resin particles, when the particles are not broken even if they are deformed until the particles are broken or until the diameter of the particles is displaced by 50%. The particles are displaced until the compression displacement reaches 50% of the particle diameter, and the K value is minimal when the compression modulus value (K value) at each displacement amount is plotted on the vertical axis and the displacement amount is plotted on the horizontal axis. (Ie, K value minimum value; N / mm 2 ) and the amount of displacement when showing the K value minimum value (that is, the amount of displacement relative to the diameter at the K value minimum value; μm). The measurement was performed on 10 different particles for each sample, and the average value of the K value minimum value and the displacement amount with respect to the diameter at the K value minimum value was used as the measurement value of the sample. Then, using the displacement amount (μm) with respect to the diameter at the K value minimum value, the compression rate (%) indicating the K value minimum value was calculated based on the following formula.
Compression rate (%) indicating K value minimum value = [average value of displacement with respect to diameter at minimum K value (μm) / number average particle diameter (μm)] × 100
In addition, the value (K value) of the compression elastic modulus in each displacement amount was obtained in the same manner as the 10% K value and the 20% K value.
<樹脂粒子の圧縮変形回復率>
微小圧縮試験機(島津製作所社製「MCT−W500」)を用いて、室温(25℃)において、試料台(材質:SKS材平板)上に散布した粒子1個について、直径50μmの円形平板圧子(材質:ダイヤモンド)を用い、「軟質表面検出」モードで、粒子の中心方向へ一定の負荷速度(2.23mN/秒)で最大荷重(49mN)まで圧縮し、そのときの変位量(μm)を測定し、これを最大変位量L1とした。次いで、一定の除負荷速度(2.23mN/秒)で最小荷重(0.49mN)まで荷重を減らしていったときの最大荷重から最小荷重までの間の変位量(μm)を測定し、これを回復変位量L2とした。なお、測定は各試料について、異なる10個の粒子に対して行い、平均した値を測定値とした。
圧縮変形回復率(%)=(L2/L1)×100
<Compression deformation recovery rate of resin particles>
Using a micro-compression tester (“MCT-W500” manufactured by Shimadzu Corporation), a circular flat plate indenter with a diameter of 50 μm is used for one particle dispersed on a sample stage (material: SKS flat plate) at room temperature (25 ° C.). Using (material: diamond), in the “soft surface detection” mode, compress to the maximum load (49 mN) at a constant load speed (2.23 mN / sec) toward the center of the particle, and the amount of displacement (μm) at that time Was measured, and this was taken as the maximum displacement L1. Next, the displacement (μm) between the maximum load and the minimum load when the load is reduced to the minimum load (0.49 mN) at a constant unloading speed (2.23 mN / sec) is measured. Was the recovery displacement L2. In addition, the measurement was performed on 10 different particles for each sample, and the average value was used as the measurement value.
Compression deformation recovery rate (%) = (L2 / L1) × 100
2.導電性微粒子の製造
2−1.基材(樹脂粒子)の作製
(製造例1)
冷却管、温度計、滴下口を備えた四つ口フラスコに、イオン交換水250部と、25%アンモニア水0.5部を入れ、攪拌下、滴下口から、単量体成分(シード形成モノマー)として3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン40部、及びメタノール150部を添加し、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシランの加水分解、縮合反応を行って、メタクリロイル基を有する重合性ポリシロキサン粒子(シード粒子)の分散液を調製した。このポリシロキサン粒子の個数基準の平均粒子径は10.00μmであった。
2. 2. Production of conductive fine particles 2-1. Production of substrate (resin particles) (Production Example 1)
In a four-necked flask equipped with a condenser, a thermometer, and a dripping port, 250 parts of ion-exchanged water and 0.5 part of 25% ammonia water are added and the monomer component (seed forming monomer) is added from the dripping port with stirring. ), 40 parts of 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane and 150 parts of methanol are added, and hydrolysis and condensation reaction of 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane is performed to obtain polymerizable polysiloxane particles having a methacryloyl group (seed Particles) was prepared. The number-based average particle diameter of the polysiloxane particles was 10.00 μm.
次いで、乳化剤としてポリオキシエチレンスチレン化フェニルエーテル硫酸エステルアンモニウム塩(第一工業製薬社製「ハイテノール(登録商標)NF−08」)の20%水溶液5.0部をイオン交換水200部に溶解した溶液に、単量体成分(吸収モノマー)としてメチルメタクリレート140部およびエチレングリコールジメタクリレート60部と、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(和光純薬工業社製「V−65」)5部とを溶解した溶液を加え、乳化分散させて単量体成分(吸収モノマー)の乳化液を調製した。乳化分散の開始から2時間後、得られた乳化液を、ポリシロキサン粒子(シード粒子)の分散液中に添加して、さらに攪拌を行った。乳化液の添加から1時間後、混合液をサンプリングして顕微鏡で観察を行ったところ、ポリシロキサン粒子が吸収モノマーを吸収して肥大化していることが確認された。 Next, 5.0 parts of a 20% aqueous solution of polyoxyethylene styrenated ammonium sulfate ester ammonium salt (“HITENOL (registered trademark) NF-08” manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.) as an emulsifier is dissolved in 200 parts of ion-exchanged water. In this solution, 140 parts of methyl methacrylate and 60 parts of ethylene glycol dimethacrylate as monomer components (absorbing monomers) and 2,2′-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) (“V” manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) -65 ") 5 parts dissolved solution was added and emulsified and dispersed to prepare an emulsion of monomer component (absorbing monomer). Two hours after the start of emulsification dispersion, the obtained emulsion was added to a dispersion of polysiloxane particles (seed particles), and further stirred. One hour after the addition of the emulsified liquid, the mixed liquid was sampled and observed with a microscope. As a result, it was confirmed that the polysiloxane particles were absorbed and absorbed.
次いで、ポリビニルアルコールの10%水溶液50.0部を加え、窒素雰囲気下で反応液を65℃まで昇温させて、65℃で3時間保持し、単量体成分のラジカル重合を行った。ラジカル重合後の乳濁液を固液分離し、得られたケーキをイオン交換水、メタノールで洗浄した後、窒素雰囲気下120℃で2時間真空乾燥し、樹脂粒子(1)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表1に示すとおりであった。 Next, 50.0 parts of a 10% aqueous solution of polyvinyl alcohol was added, the reaction solution was heated to 65 ° C. under a nitrogen atmosphere, and held at 65 ° C. for 3 hours to perform radical polymerization of the monomer component. The emulsion after radical polymerization was subjected to solid-liquid separation, and the obtained cake was washed with ion-exchanged water and methanol, and then vacuum-dried at 120 ° C. for 2 hours in a nitrogen atmosphere to obtain resin particles (1). Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 1.
(製造例2)
製造例1において、吸収モノマーの使用量をメチルメタクリレート180部、エチレングリコールジメタクリレート20部に変更したこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子(2)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表1に示すとおりであった。
(Production Example 2)
Resin particles (2) were obtained in the same manner as in Production Example 1 except that the amount of the absorbing monomer used in Production Example 1 was changed to 180 parts methyl methacrylate and 20 parts ethylene glycol dimethacrylate. Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 1.
(製造例3)
製造例2において、ポリシロキサン粒子(シード粒子)の分散液を調製するにあたり、イオン交換水の使用量を350部に、メタノールの使用量を210部に変更したこと以外は、製造例2と同様にして、メタクリロイル基を有する重合性ポリシロキサン粒子(シード粒子)の分散液を調製した。このポリシロキサン粒子の個数基準の平均粒子径は7.46μmであった。さらに製造例2と同様にしてシード粒子への吸収モノマーの吸収およびラジカル重合を行うことによって、樹脂粒子(3)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表1に示すとおりであった。
(Production Example 3)
In Production Example 2, the preparation of the dispersion of polysiloxane particles (seed particles) was the same as Production Example 2 except that the amount of ion exchange water was changed to 350 parts and the amount of methanol used was changed to 210 parts. Thus, a dispersion of polymerizable polysiloxane particles (seed particles) having a methacryloyl group was prepared. The number average particle diameter of the polysiloxane particles was 7.46 μm. Further, in the same manner as in Production Example 2, absorption of the absorbing monomer into the seed particles and radical polymerization were performed to obtain resin particles (3). Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 1.
(製造例4)
製造例1において、吸収モノマーの種類と使用量をメチルメタクリレート200部に変更するとともに、乾燥を窒素雰囲気下80℃で12時間真空乾燥することにより行ったこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子(4)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表1に示すとおりであった。
(Production Example 4)
In Production Example 1, the type and amount used of the absorbing monomer was changed to 200 parts of methyl methacrylate, and the drying was performed by vacuum drying at 80 ° C. for 12 hours in a nitrogen atmosphere, as in Production Example 1. Resin particles (4) were obtained. Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 1.
(製造例5)
製造例1において、吸収モノマーの種類と使用量をメチルメタクリレート180部およびテトラエチレングリコールジメタクリレート20部に変更したこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子(5)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表1に示すとおりであった。
(Production Example 5)
Resin particles (5) were obtained in the same manner as in Production Example 1 except that the type and amount of the absorbing monomer were changed to 180 parts of methyl methacrylate and 20 parts of tetraethylene glycol dimethacrylate in Production Example 1. Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 1.
(製造例6)
製造例1において、吸収モノマーの種類と使用量をメチルメタクリレート180部および1,6−ヘキサンジオールジメタクリレート20部に変更したこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子(6)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表1に示すとおりであった。
(Production Example 6)
In Production Example 1, resin particles (6) were obtained in the same manner as in Production Example 1, except that the type and amount of the absorbing monomer were changed to 180 parts methyl methacrylate and 20 parts 1,6-hexanediol dimethacrylate. It was. Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 1.
(製造例7)
製造例1において、ポリシロキサン粒子(シード粒子)の分散液を調製するにあたり、イオン交換水の使用量を450部に、メタノールの使用量を270部に変更したこと以外は、製造例1と同様にして、メタクリロイル基を有する重合性ポリシロキサン粒子(シード粒子)の分散液を調製した。このポリシロキサン粒子の個数基準の平均粒子径は6.70μmであった。さらに、吸収モノマーの種類と使用量をメチルメタクリレート540部およびエチレングリコールジメタクリレート60部に変更したこと以外は、製造例1と同様にしてシード粒子への吸収モノマーの吸収およびラジカル重合を行うことによって、樹脂粒子(7)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表1に示すとおりであった。
(Production Example 7)
In Production Example 1, in preparing a dispersion of polysiloxane particles (seed particles), the same as Production Example 1 except that the amount of ion-exchanged water used was changed to 450 parts and the amount of methanol used was changed to 270 parts. Thus, a dispersion of polymerizable polysiloxane particles (seed particles) having a methacryloyl group was prepared. The number-based average particle diameter of the polysiloxane particles was 6.70 μm. Further, by absorbing the absorption monomer into the seed particles and performing radical polymerization in the same manner as in Production Example 1, except that the type and amount of the absorption monomer were changed to 540 parts of methyl methacrylate and 60 parts of ethylene glycol dimethacrylate. Resin particles (7) were obtained. Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 1.
(製造例8)
製造例7において、吸収モノマーの種類と使用量をメチルメタクリレート900部およびエチレングリコールジメタクリレート300部に変更したこと以外は、製造例7と同様にして、樹脂粒子(8)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表1に示すとおりであった。
(Production Example 8)
In Production Example 7, resin particles (8) were obtained in the same manner as in Production Example 7, except that the type and amount of the absorbing monomer were changed to 900 parts methyl methacrylate and 300 parts ethylene glycol dimethacrylate. Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 1.
以上の製造例1〜8で得られた樹脂粒子(1)〜(8)におけるケイ素含有量を測定した結果、Si換算値で表して、いずれの樹脂粒子も3質量%以下であった。なお、ケイ素含有量は、樹脂粒子1gを空気雰囲気下で1000℃で焼成したときの灰分質量(これをSiO2量とする)からSi分に相当する質量を算出し、該Si量を焼成処理に供した樹脂粒子の質量で除すことにより求めた。灰分質量からSi分に相当する質量は、灰分質量に0.4672(Si原子量/SiO2式量)を乗じることによって求めた。 As a result of measuring the silicon content in the resin particles (1) to (8) obtained in the above Production Examples 1 to 8, each resin particle was 3% by mass or less in terms of Si. The silicon content is calculated by calculating the mass corresponding to the Si content from the mass of ash when 1 g of the resin particles are fired at 1000 ° C. in an air atmosphere (this is the SiO 2 content), and the Si content is calcined. It was obtained by dividing by the mass of the resin particles subjected to 1. The mass corresponding to the Si content from the ash mass was determined by multiplying the ash mass by 0.4672 (Si atomic weight / SiO 2 formula weight).
(製造例9)
製造例1において、吸収モノマーの種類と使用量をエチレングリコールジメタクリレート200部に変更したこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子(9)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表2に示すとおりであった。
(Production Example 9)
In Production Example 1, resin particles (9) were obtained in the same manner as in Production Example 1 except that the type and amount of the absorbing monomer were changed to 200 parts of ethylene glycol dimethacrylate. Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 2.
(製造例10)
製造例1において、吸収モノマーの種類と使用量をメチルメタクリレート50部、エチレングリコールジメタクリレート50部および新日鐡化学社製「DVB960」(ジビニルベンゼン96%、ビニル系非架橋性単量体(エチルビニルベンゼン等)4%含有品)100部とに変更したこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子(10)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表2に示すとおりであった。
(Production Example 10)
In Production Example 1, the type and amount of the absorption monomer were 50 parts methyl methacrylate, 50 parts ethylene glycol dimethacrylate, and “DVB960” manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd. (divinylbenzene 96%, vinyl non-crosslinkable monomer (ethyl Resin particles (10) were obtained in the same manner as in Production Example 1 except that the content was changed to 100 parts of vinylbenzene or the like) 4% -containing product). Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 2.
(製造例11)
冷却管、温度計、滴下口を備えた四つ口フラスコに、イオン交換水300部と、25%アンモニア水0.3部を入れ、攪拌下、滴下口から、単量体成分(シード形成モノマー)としてフェニルトリメトキシシラン30部、及びメタノール60部を添加し、フェニルトリメトキシシランの加水分解、縮合反応を行って、ポリシロキサン粒子(シード粒子)の分散液を調製した。このポリシロキサン粒子の個数基準の平均粒子径は8.20μmであった。
(Production Example 11)
Into a four-necked flask equipped with a condenser, a thermometer, and a dripping port, put 300 parts of ion-exchanged water and 0.3 part of 25% ammonia water, and stir the monomer component (seed forming monomer) from the dripping port. ), 30 parts of phenyltrimethoxysilane and 60 parts of methanol were added, and a hydrolysis and condensation reaction of phenyltrimethoxysilane was performed to prepare a dispersion of polysiloxane particles (seed particles). The number-based average particle size of the polysiloxane particles was 8.20 μm.
次いで、乳化剤としてポリオキシエチレンスチレン化フェニルエーテル硫酸エステルアンモニウム塩(第一工業製薬社製「ハイテノール(登録商標)NF−08」)の20%水溶液21部をイオン交換水900部に溶解した溶液に、単量体成分(吸収モノマー)として新日鐡化学社製「DVB960」(ジビニルベンゼン96%、ビニル系非架橋性単量体(エチルビニルベンゼン等)4%含有品)900部と、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(和光純薬工業社製「V−65」)9部とを溶解した溶液を加え、乳化分散させて単量体成分(吸収モノマー)の乳化液を調製した。乳化分散の開始から2時間後、得られた乳化液を、ポリシロキサン粒子(シード粒子)の分散液中に添加して、さらに攪拌を行った。乳化液の添加から80時間後、混合液をサンプリングして顕微鏡で観察を行ったところ、ポリシロキサン粒子が吸収モノマーを吸収して肥大化していることが確認された。 Next, a solution obtained by dissolving 21 parts of a 20% aqueous solution of polyoxyethylene styrenated phenyl ether sulfate ammonium salt (“HITENOL (registered trademark) NF-08” manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.) as an emulsifier in 900 parts of ion-exchanged water. In addition, as a monomer component (absorbing monomer), 900 parts of “DVB960” manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd. (containing 96% divinylbenzene and 4% vinyl-based non-crosslinkable monomer (such as ethylvinylbenzene)), 2 parts , 2'-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) ("V-65" manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) 9 parts was added and emulsified to disperse the monomer component (absorbing monomer). An emulsion was prepared. Two hours after the start of emulsification dispersion, the obtained emulsion was added to a dispersion of polysiloxane particles (seed particles), and further stirred. After 80 hours from the addition of the emulsified liquid, the mixed liquid was sampled and observed with a microscope. As a result, it was confirmed that the polysiloxane particles were absorbed and absorbed.
次いで、ポリビニルアルコールの10%水溶液372.0部を加え、窒素雰囲気下で反応液を65℃まで昇温させて、65℃で3時間保持し、単量体成分のラジカル重合を行った。ラジカル重合後の乳濁液を固液分離し、得られたケーキをイオン交換水、メタノールで洗浄した後、窒素雰囲気下120℃で2時間真空乾燥し、樹脂粒子(11)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表2に示すとおりであった。 Next, 372.0 parts of a 10% aqueous solution of polyvinyl alcohol was added, the reaction solution was heated to 65 ° C. under a nitrogen atmosphere, and held at 65 ° C. for 3 hours to perform radical polymerization of the monomer component. The emulsion after radical polymerization was subjected to solid-liquid separation, and the obtained cake was washed with ion-exchanged water and methanol, and then vacuum-dried at 120 ° C. for 2 hours in a nitrogen atmosphere to obtain resin particles (11). Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 2.
(製造例12)
製造例1において、ポリシロキサン粒子(シード粒子)の分散液を調製するにあたり、イオン交換水の使用量を400部に、メタノールの使用量を320部に変更したこと以外は、製造例1と同様にして、メタクリロイル基を有する重合性ポリシロキサン粒子(シード粒子)の分散液を調製した。このポリシロキサン粒子の個数基準の平均粒子径は5.18μmであった。さらに、吸収モノマーの種類と使用量を新日鐡化学社製「DVB960」(ジビニルベンゼン96%、ビニル系非架橋性単量体(エチルビニルベンゼン等)4%含有品)200部に変更したこと以外は、製造例1と同様にしてシード粒子への吸収モノマーの吸収およびラジカル重合を行うことによって、樹脂粒子(12)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表2に示すとおりであった。
(Production Example 12)
In Production Example 1, in preparing a dispersion of polysiloxane particles (seed particles), the same as Production Example 1 except that the amount of ion-exchanged water used was changed to 400 parts and the amount of methanol used was changed to 320 parts. Thus, a dispersion of polymerizable polysiloxane particles (seed particles) having a methacryloyl group was prepared. The number-based average particle size of the polysiloxane particles was 5.18 μm. Furthermore, the type and amount used of the absorbing monomer was changed to 200 parts “DVB960” manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd. (containing 96% divinylbenzene and 4% vinyl non-crosslinkable monomer (ethylvinylbenzene, etc.)). Except for the above, resin particles (12) were obtained by carrying out absorption of the absorbing monomer into the seed particles and radical polymerization in the same manner as in Production Example 1. Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 2.
(製造例13)
製造例1において、ポリシロキサン粒子(シード粒子)の分散液を調製するにあたり、イオン交換水の使用量を480部に、メタノールの使用量を300部に変更したこと以外は、製造例1と同様にして、メタクリロイル基を有する重合性ポリシロキサン粒子(シード粒子)の分散液を調製した。このポリシロキサン粒子の個数基準の平均粒子径は6.30μmであった。さらに、吸収モノマーの種類と使用量をn−ブチルメタクリレート720部およびエチレングリコールジメタクリレート80部に変更したこと以外は、製造例1と同様にしてシード粒子への吸収モノマーの吸収およびラジカル重合を行うことによって、樹脂粒子(13)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表1に示すとおりであった。
(Production Example 13)
In Production Example 1, in preparing a dispersion of polysiloxane particles (seed particles), the same as Production Example 1 except that the amount of ion-exchanged water used was changed to 480 parts and the amount of methanol used was changed to 300 parts. Thus, a dispersion of polymerizable polysiloxane particles (seed particles) having a methacryloyl group was prepared. The number-based average particle size of the polysiloxane particles was 6.30 μm. Furthermore, absorption of the absorbing monomer into the seed particles and radical polymerization are performed in the same manner as in Production Example 1, except that the type and amount of the absorbing monomer are changed to 720 parts of n-butyl methacrylate and 80 parts of ethylene glycol dimethacrylate. Thus, resin particles (13) were obtained. Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 1.
(製造例14)
製造例13において、吸収モノマーの種類と使用量をn−ブチルメタクリレート720部およびトリエチレングリコールジメタクリレート80部に変更したこと以外は、製造例13と同様にして、樹脂粒子(14)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表1に示すとおりであった。
(Production Example 14)
In Production Example 13, the resin particles (14) were obtained in the same manner as in Production Example 13, except that the type and amount of the absorbing monomer were changed to 720 parts of n-butyl methacrylate and 80 parts of triethylene glycol dimethacrylate. . Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 1.
(製造例15)
製造例13において、吸収モノマーの種類と使用量をn−ブチルメタクリレート720部およびトリプロピレングリコールジメタクリレート80部に変更したこと以外は、製造例13と同様にして、樹脂粒子(15)を得た。得られた樹脂粒子の平均粒子径、CV値、10%K値、20%K値、10%K値/20%K値、圧縮変形回復率、K値極小値、K値極小値を示す圧縮率は表1に示すとおりであった。
(Production Example 15)
In Production Example 13, resin particles (15) were obtained in the same manner as in Production Example 13, except that the type and amount of the absorbing monomer were changed to 720 parts of n-butyl methacrylate and 80 parts of tripropylene glycol dimethacrylate. . Compression showing average particle diameter, CV value, 10% K value, 20% K value, 10% K value / 20% K value, compression deformation recovery rate, K value minimum value, K value minimum value of the obtained resin particles The rates were as shown in Table 1.
以上の製造例13〜15で得られた樹脂粒子(13)〜(15)におけるケイ素含有量を測定した結果、Si換算値で表して、いずれの樹脂粒子も3質量%以下であった。なお、ケイ素含有量の測定は樹脂粒子(1)〜(8)と同様にして行った。 As a result of measuring the silicon content in the resin particles (13) to (15) obtained in the above Production Examples 13 to 15, each resin particle was 3% by mass or less, expressed in terms of Si. The silicon content was measured in the same manner as the resin particles (1) to (8).
2−2.導電性微粒子の作製(導電性金属層の形成)
(実施例1)
基材とする樹脂粒子(1)に、水酸化ナトリウムによるエッチング処理を施した後、二塩化スズ溶液に接触させることによりセンシタイジングし、次いで二塩化パラジウム溶液に浸漬させることによりアクチベーティングする方法(センシタイジング−アクチベーション法)によって、パラジウム核を形成させた。次に、パラジウム核を形成させた樹脂粒子2部をイオン交換水400部に添加し、超音波分散処理を行った後、得られた樹脂粒子懸濁液を70℃の温浴で加温した。このように懸濁液を加温した状態で、別途70℃に加温した無電解めっき液(日本カニゼン(株)製「シューマー(登録商標)S680」)300部を加えることにより、無電解ニッケルめっき反応を生じさせた。水素ガスの発生が終了したことを確認した後、固液分離を行い、イオン交換水、メタノールの順で洗浄し、100℃で2時間真空乾燥して、ニッケルめっきを施した粒子を得た。次いで、得られたニッケルめっき粒子を、シアン化金カリウムを含有する置換金めっき液に加え、ニッケル層表面にさらに金めっきを施すことにより、導電性微粒子を得た。得られた導電性微粒子における導電性金属層の膜厚は表1に示すとおりであった。
2-2. Production of conductive fine particles (formation of conductive metal layer)
Example 1
The resin particles (1) used as a base material are subjected to etching treatment with sodium hydroxide, then sensitized by contacting with a tin dichloride solution, and then activated by immersing in a palladium dichloride solution. Palladium nuclei were formed by the method (sensitizing-activation method). Next, 2 parts of resin particles with palladium nuclei formed were added to 400 parts of ion-exchanged water, and after ultrasonic dispersion treatment, the resulting resin particle suspension was heated in a 70 ° C. hot bath. By adding 300 parts of electroless plating solution (“Schumer (registered trademark) S680” manufactured by Nippon Kanisen Co., Ltd.) separately heated to 70 ° C. with the suspension thus heated, electroless nickel is added. A plating reaction was caused. After confirming that the generation of hydrogen gas was completed, solid-liquid separation was performed, followed by washing with ion-exchanged water and methanol in that order, and vacuum drying at 100 ° C. for 2 hours to obtain nickel-plated particles. Next, the obtained nickel plating particles were added to a displacement gold plating solution containing potassium gold cyanide, and gold plating was further performed on the surface of the nickel layer to obtain conductive fine particles. The film thickness of the conductive metal layer in the obtained conductive fine particles was as shown in Table 1.
(実施例2〜11、比較例1〜3および参考例1)
基材として表1に示す樹脂粒子を用いたこと以外は、実施例1と同様にして導電性微粒子を作製した。得られた導電性微粒子における導電性金属層の膜厚は表1および表2に示すとおりであった。
(Examples 2 to 11, Comparative Examples 1 to 3 and Reference Example 1)
Conductive fine particles were produced in the same manner as in Example 1 except that the resin particles shown in Table 1 were used as the substrate. The film thickness of the conductive metal layer in the obtained conductive fine particles was as shown in Table 1 and Table 2.
3.異方性導電材料の作製と評価
実施例、比較例および参考例で得られた導電性微粒子を用い、下記の方法で異方性導電材料(異方性導電ペースト)を作製し、その性能を下記の方法で評価した。評価結果は表1および表2に示す。
すなわち、三本ロールを用いて、導電性微粒子1部に、バインダー樹脂としてのエポキシ樹脂(三菱化学製「JER828」)100部と、硬化剤(三新化学社製「サンエイド(登録商標)SI−150」)2部と、トルエン100部とを用いて10分間攪拌して分散させ、導電性ペーストを得た。
得られた異方性導電ペーストを、抵抗測定用の線を有した全面アルミ蒸着ガラス基板と100μmピッチに銅パターンを形成したポリイミドフィルム基板との間に挟みこみ、5MPa、150℃の圧着条件で熱圧着するとともに、バインダー樹脂を硬化させることによって接続構造体を得た。
3. Preparation and Evaluation of Anisotropic Conductive Material Using conductive fine particles obtained in Examples, Comparative Examples and Reference Examples, an anisotropic conductive material (anisotropic conductive paste) was prepared by the following method, and its performance was evaluated. Evaluation was made by the following method. The evaluation results are shown in Tables 1 and 2.
That is, using three rolls, 100 parts of epoxy resin (Mitsubishi Chemical "JER828") as a binder resin and 1 part of conductive fine particles and a curing agent ("San-Aid (registered trademark) SI-" manufactured by Sanshin Chemical Co., Ltd.) 150 ") and 100 parts of toluene were stirred and dispersed for 10 minutes to obtain a conductive paste.
The obtained anisotropic conductive paste was sandwiched between an entire aluminum vapor-deposited glass substrate having resistance measurement lines and a polyimide film substrate having a copper pattern formed at a pitch of 100 μm, under pressure bonding conditions of 5 MPa and 150 ° C. A connection structure was obtained by thermocompression bonding and curing the binder resin.
そして、得られた接続構造体について電極間の初期抵抗値Aを測定し、初期抵抗値Aが3Ω以下の場合を接続抵抗が「◎」、3Ωを超え4Ω以下の場合を接続抵抗が「○」、4Ωを超え5Ω以下の場合を接続抵抗が「△」、5Ωを超える場合を接続抵抗が「×」、と評価した。 Then, the initial resistance value A between the electrodes of the obtained connection structure is measured. When the initial resistance value A is 3Ω or less, the connection resistance is “◎”. When the initial resistance value A is more than 3Ω and 4Ω or less, the connection resistance is “◯ The connection resistance was evaluated as “Δ” when 4Ω was exceeded and 5Ω or less, and the connection resistance was evaluated as “X” when exceeding 5Ω.
また、得られた接続構造体を85℃、85%RHの雰囲気下に500時間放置した後、上記初期抵抗値Aと同様に、500時間放置後の抵抗値Bを測定し、下記式に基づき算出した抵抗値上昇率(%)が1%以下の場合を経時抵抗安定性が「◎」、1%を超え3%以下の場合を「○」、3%を超える場合を「×」、と評価した。
抵抗値上昇率(%)=[(B−A)/A]×100
Further, after leaving the obtained connection structure in an atmosphere of 85 ° C. and 85% RH for 500 hours, similarly to the initial resistance value A, the resistance value B after standing for 500 hours was measured, and based on the following formula: When the calculated rate of increase in resistance (%) is 1% or less, the resistance stability with time is “◎”, when it exceeds 1% and 3% or less, “◯”, and when it exceeds 3%, “×”. evaluated.
Resistance value increase rate (%) = [(B−A) / A] × 100
表1、表2に示すように、実施例1〜11では、比較例1〜3より回復率が低く実装後の状態において経時的な構造変化が少ないため、抵抗値上昇が低く抑えられていることがわかる。実施例1〜11の中でも実施例1は、回復率が高く実装時のバインダー排除性が高くなるため、さらに初期抵抗値が低く抑えられていることがわかる。実施例2〜11は、実施例1と比べて回復率が低いため、初期抵抗値は高くなるものの、実装後の経時変化が少ないため、抵抗値上昇が抑えられている。なお実施例11は、樹脂粒子の20%K値が1000N/mm2未満であるので、樹脂粒子の20%K値が1000N/mm2以上である他の実施例に比べると、特に初期抵抗値が高くなっている。
一方、平均粒子径が12.5μm以上でありながら、回復率が65%を超える樹脂粒子を基材とする比較例1〜3の導電性微粒子は、初期抵抗値には問題がないものの、実装後に経時的に抵抗値が上昇してしまうことがわかる。なお、平均粒子径が12.5μm未満の樹脂粒子を基材とする参考例1の導電性微粒子は、回復率が65%を超えるものであるが、粒子径が小さいので、抵抗値の経時的上昇は抑えられている。
As shown in Tables 1 and 2, in Examples 1 to 11, the recovery rate is lower than in Comparative Examples 1 to 3, and the structural change over time is small in the state after mounting, so that the increase in resistance value is suppressed to a low level. I understand that. Among Examples 1-11, since Example 1 has a high recovery rate and the binder removal property at the time of mounting becomes high, it turns out that initial resistance value is further suppressed low. In Examples 2 to 11, since the recovery rate is lower than that in Example 1, the initial resistance value is high. However, since the change with time after mounting is small, an increase in resistance value is suppressed. Note Example 11, since the 20% K value of the resin particles is less than 1000 N / mm 2, the 20% K value of the resin particles compared to the other embodiments is 1000 N / mm 2 or more, in particular initial resistance value Is high.
On the other hand, the conductive fine particles of Comparative Examples 1 to 3, which are based on resin particles having a recovery rate of more than 65% while having an average particle diameter of 12.5 μm or more, have no problem in the initial resistance value. It can be seen that the resistance value increases with time. The conductive fine particles of Reference Example 1 based on resin particles having an average particle diameter of less than 12.5 μm have a recovery rate exceeding 65%. However, since the particle diameter is small, the resistance value is changed over time. The rise is suppressed.
本発明の導電性微粒子は、例えば、異方性導電ペースト、異方性導電フィルム、異方性導電接着剤、異方性導電インク等の異方性導電材料に好適に用いられる。特に、本発明の導電性微粒子は、粒子径が比較的大きいものであるので、例えばLED実装用の異方性導電ペーストなどに有用である。 The conductive fine particles of the present invention are suitably used for anisotropic conductive materials such as anisotropic conductive pastes, anisotropic conductive films, anisotropic conductive adhesives, anisotropic conductive inks, and the like. In particular, since the conductive fine particles of the present invention have a relatively large particle size, they are useful for anisotropic conductive pastes for LED mounting, for example.
Claims (3)
前記樹脂粒子の平均粒子径が12.5μm〜50μmであり、圧縮荷重値49mNを負荷した後の圧縮変形回復率が5〜65%であることを特徴とする導電性微粒子。 Conductive fine particles having a base material composed of resin particles and at least one conductive metal layer formed on the surface of the base material,
Conductive fine particles, wherein the resin particles have an average particle diameter of 12.5 μm to 50 μm and a compression deformation recovery rate of 5 to 65% after applying a compression load value of 49 mN.
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