JP2012235551A - Charging system and electronic apparatus - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a charging system capable of accurately estimating deterioration degree in a built-in power supply of an electronic apparatus.SOLUTION: A charging system 100 comprises: an electronic apparatus 1 incorporating a rechargeable built-in power supply 24; a charging control circuit 80 which controls the electronic apparatus 1 charging the built-in power supply 24 by performing constant current charging on the built-in power supply 24 so that at least charging current is constant; a charging device 60 supplying the built-in power supply 24 of the electronic apparatus 1 with power through the charging control circuit 80; and estimation means 22 for estimating deterioration degree in the built-in power supply 24 on the basis of charging voltage V applied to the charged built-in power supply 24. The estimation means 22 estimates the deterioration degree in the built-in power supply 24 by: calculating capacitance C of the built-in power supply 24 on the basis of increase ΔV in the charging voltage V at the time after elapsing predetermined time ΔTth when the charging control circuit 80 performs the constant current charging; and calculating the ratio C/Cin of the calculated capacitance C to capacitance Cin in a state where the built-in power supply 24 does not deteriorate.

Description

本発明は、充電システムおよび電子機器に係り、特に充電装置で電子機器の内蔵電源を充電する充電システムや充電装置により内蔵電源が充電される電子機器に関する。   The present invention relates to a charging system and an electronic device, and more particularly to a charging system for charging a built-in power source of an electronic device with a charging device and an electronic device for charging a built-in power source with the charging device.

電子機器に内蔵された充電可能な内蔵電源（バッテリや二次電池、蓄電デバイス等ともいう。）を充電するための充電制御回路を備えた電子機器や充電装置が種々開発されている（例えば特許文献１〜４等参照）。   Various electronic devices and charging devices having a charge control circuit for charging a rechargeable built-in power source (also referred to as a battery, a secondary battery, or a power storage device) built in the electronic device have been developed (for example, patents) References 1-4).

このような充電制御回路では、内蔵電源に一定の電流を供給して定電流充電を行ったり、一定の電圧を供給して定電圧充電を行ったり、或いはそれらの充電の仕方を組み合わせて充電が行われるようになっている。なお、充電制御回路が電子機器側に内蔵されている場合もあり、また、充電装置側に内蔵されている場合もある。   In such a charge control circuit, constant current charging is performed by supplying a constant current to the built-in power supply, constant voltage charging is performed by supplying a constant voltage, or charging is performed by combining these charging methods. To be done. Note that the charging control circuit may be built in the electronic device side, or may be built in the charging device side.

ところで、上記のような内蔵電源が故障してしまうと、内蔵電源を内蔵する電子機器が動作しなくなったり、或いは、異常な動作をするようになったりする場合がある。そこで、内蔵電源の故障等を的確に検出するための技術が種々開発されている。   By the way, if the built-in power supply as described above fails, an electronic device incorporating the built-in power supply may not operate or may operate abnormally. Therefore, various techniques for accurately detecting a failure of the built-in power source have been developed.

例えば、特許文献５では、制御回路で、内蔵電源（蓄電部）を定電流充電する際に、内蔵電源に充電されている電圧が所定の電圧幅だけ変化するまでに要した時間を計測し、当該時間が予め設定された時間以下になる等した場合に、内蔵電源に故障等の異常が生じていると判断する蓄電装置が提案されている。   For example, in Patent Document 5, when the control circuit performs constant current charging of the built-in power supply (power storage unit), the time required for the voltage charged in the built-in power supply to change by a predetermined voltage width is measured. A power storage device has been proposed that determines that an abnormality such as a failure has occurred in a built-in power supply when the time falls below a preset time.

また、特許文献６では、電子機器の内蔵電源の充電時や放電時に、内蔵電源に充電されている電圧が全く或いはほとんど変化しなかったり、逆に異常に急激に変化したような場合に、故障を検知する故障検知手段を備えた蓄電装置が提案されている。   Further, in Patent Document 6, when the built-in power supply of an electronic device is charged or discharged, the voltage charged in the built-in power supply does not change at all or hardly changes. There has been proposed a power storage device provided with a failure detection means for detecting the above.

特開２００９−７７５０１号公報JP 2009-77501 A 特開２００８−１０４２７０号公報JP 2008-104270 A 特開２００７−３０６６５４号公報JP 2007-306654 A 特開２００６−３３９１７号公報JP 2006-33917 A 特開２００９−９２６２８号公報JP 2009-92628 A 特開２００５−２５３２８３号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2005-253283

しかしながら、上記の特許文献５や特許文献６に記載された手法では、内蔵電源等に故障があるかないかを判断したり検知したりするだけであり、故障や使用不能状態にまでは至らないまでも、内蔵電源の劣化がどの程度進んでいるかを推定することができない。   However, the methods described in Patent Document 5 and Patent Document 6 only determine or detect whether there is a failure in the built-in power supply or the like, and do not reach a failure or unusable state. However, it cannot be estimated how much deterioration of the built-in power supply has progressed.

充電や放電が繰り返されて内蔵電源が経年的に劣化すると、内蔵電源に充電できる電気の量（すなわち内蔵電源から放電できる電気の量）が減り、１回の充電あたりの電子機器の駆動時間が短くなったり、１回の充電あたりに電子機器が行うことができる処理の量が低減する場合がある。   If the built-in power supply deteriorates over time due to repeated charging and discharging, the amount of electricity that can be charged into the built-in power supply (that is, the amount of electricity that can be discharged from the built-in power supply) decreases, and the driving time of the electronic device per charge is reduced. In some cases, the amount of processing that the electronic device can perform per charge is reduced.

このような場合、ユーザが電子機器の内蔵電源を頻繁に充電することが必要になる。また、電子機器を使用している最中に内蔵電源が消耗してしまい、目的の処理を行うことができなくなってしまう場合もある。これでは、電子機器がユーザにとって使い勝手が悪いものとなる。   In such a case, it is necessary for the user to frequently charge the built-in power source of the electronic device. In addition, the built-in power supply may be consumed while the electronic device is being used, and the target process may not be performed. This makes the electronic device unusable for the user.

本発明は、上記の各問題点を鑑みてなされたものであり、電子機器の内蔵電源の劣化度合を的確に推定することが可能な充電システムおよび電子機器を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a charging system and an electronic device that can accurately estimate the degree of deterioration of a built-in power source of the electronic device.

前記の問題を解決するために、本発明の充電システムは、
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器と、
前記内蔵電源に対して、少なくとも充電電流が一定になるように充電を行う定電流充電を行い、前記電子機器の前記内蔵電源への充電を制御する充電制御回路と、
前記充電制御回路を介して前記電子機器の前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記内蔵電源に充電されている充電電圧に基づいて前記内蔵電源の劣化度合を推定する推定手段と、
を備え、
前記推定手段は、前記充電制御回路が定電流充電を行う際に、所定時間が経過した時点での前記充電電圧の上昇分に基づいて前記内蔵電源の容量を算出し、算出した前記容量の、前記内蔵電源が劣化していない状態での容量に対する比を算出して、前記内蔵電源の劣化度合を推定することを特徴とする。 In order to solve the above problem, the charging system of the present invention is:
An electronic device with a built-in rechargeable power supply,
A charge control circuit that performs constant-current charging that charges at least a charging current to the built-in power source, and controls charging of the electronic device to the built-in power source;
A charging device for supplying power to the built-in power source of the electronic device via the charging control circuit;
Estimating means for estimating the degree of deterioration of the built-in power supply based on a charging voltage charged in the built-in power supply;
With
The estimating means calculates the capacity of the built-in power supply based on the increase in the charging voltage when a predetermined time has elapsed when the charging control circuit performs constant current charging, A ratio with respect to a capacity when the built-in power supply is not deteriorated is calculated to estimate the degree of deterioration of the built-in power supply.

また、本発明の電子機器は、
充電可能な内蔵電源と、
前記内蔵電源に対して、少なくとも充電電流が一定になるように充電を行う定電流充電を行い、前記電子機器の前記内蔵電源への充電を制御する充電制御回路と、
前記充電制御回路を介して前記電子機器の前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記内蔵電源に充電されている充電電圧に基づいて前記内蔵電源の劣化度合を推定する推定手段と、
を備える電子機器において、
前記推定手段は、前記充電制御回路が定電流充電を行う際に、所定時間が経過した時点での前記充電電圧の上昇分に基づいて前記内蔵電源の容量を算出し、算出した前記容量の、前記内蔵電源が劣化していない状態での容量に対する比を算出して、前記内蔵電源の劣化度合を推定することを特徴とする。 The electronic device of the present invention is
Rechargeable built-in power supply,
A charge control circuit that performs constant-current charging that charges at least a charging current to the built-in power source, and controls charging of the electronic device to the built-in power source;
A charging device for supplying power to the built-in power source of the electronic device via the charging control circuit;
Estimating means for estimating the degree of deterioration of the built-in power supply based on a charging voltage charged in the built-in power supply;
In an electronic device comprising:
The estimating means calculates the capacity of the built-in power supply based on the increase in the charging voltage when a predetermined time has elapsed when the charging control circuit performs constant current charging, A ratio with respect to a capacity when the built-in power supply is not deteriorated is calculated to estimate the degree of deterioration of the built-in power supply.

本発明のような方式の充電システムおよび電子機器によれば、放射線画像撮影装置等の電子機器の内蔵電源の劣化度合を的確に推定することが可能となる。そして、電子機器のユーザが内蔵電源の劣化度合を任意のタイミングで認知することが可能となるとともに、内蔵電源の劣化が進んだ場合には、電子機器側からユーザに内蔵電源の交換を的確に知らせること等が可能となる。   According to the charging system and the electronic device of the system as in the present invention, it is possible to accurately estimate the deterioration degree of the built-in power source of the electronic device such as the radiographic apparatus. The user of the electronic device can recognize the deterioration degree of the built-in power supply at an arbitrary timing, and when the deterioration of the built-in power supply has progressed, the electronic device side can accurately replace the built-in power supply to the user. It becomes possible to inform.

電子機器の例としての放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the external appearance of the radiographic imaging apparatus as an example of an electronic device. 図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。It is sectional drawing which follows the XX line of FIG. 図１の放射線画像撮影装置の回路構成を表すブロック図である。It is a block diagram showing the circuit structure of the radiographic imaging apparatus of FIG. 充電制御回路の回路構成を表すブロック図である。It is a block diagram showing the circuit structure of a charge control circuit. 定電流充電および定電圧充電における充電電流および充電電圧の値の時間的な変化等を表すグラフである。It is a graph showing the time change etc. of the value of the charging current and charging voltage in constant current charging and constant voltage charging. 推定手段としての制御手段の制御構成を説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the control structure of the control means as an estimation means. 第１の実施形態における（Ａ）電子機器の使用開始後、および（Ｂ）電子機器の工場出荷時等における充電時間と充電電圧との関係等を表すグラフである。It is a graph showing the relationship between the charging time and the charging voltage after the start of use of the electronic device in the first embodiment, and (B) at the time of factory shipment of the electronic device. ケーブルを接続した状態の放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the external appearance of the radiographic imaging apparatus of the state which connected the cable. 第２の実施形態における（Ａ）電子機器の工場出荷時等、および（Ｂ）電子機器の使用開始後における充電時間と充電電圧との関係等を表すグラフである。It is a graph showing the relationship between the charging time and the charging voltage after the start of use of (A) the electronic device in the second embodiment, and (B) the electronic device. 第３の実施形態において電子機器の内蔵電源の故障検知処理で（Ａ）内蔵電源に供給される電流、および（Ｂ）内蔵電源の充電電圧の時間的な推移を表すグラフである。It is a graph showing the time transition of (A) the current supplied to the built-in power supply and (B) the charging voltage of the built-in power supply in the failure detection process of the built-in power supply of the electronic device in the third embodiment.

以下、本発明に係る充電システムおよび電子機器の実施の形態について、図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of a charging system and an electronic apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.

なお、以下では、電子機器が放射線画像撮影装置（Flat Panel Detector：ＦＰＤ）であり、充電装置がクレードルである場合について説明するが、本発明は、この形態に限定されない。また、以下では、充電制御回路８０（後述する図４参照）が、電子機器（放射線画像撮影装置１）に内蔵されている場合について説明するが、充電装置（クレードル）側に設けられていてもよい。   In the following description, a case where the electronic device is a radiographic imaging device (Flat Panel Detector: FPD) and the charging device is a cradle will be described, but the present invention is not limited to this mode. Hereinafter, a case where the charging control circuit 80 (see FIG. 4 described later) is built in the electronic apparatus (radiation image capturing apparatus 1) will be described. However, even if the charging control circuit 80 is provided on the charging apparatus (cradle) side. Good.

［第１の実施の形態］
［電子機器の例としての放射線画像撮影装置の構成例について］
ここで、まず、電子機器の例として、放射線画像撮影装置１の構成例について簡単に説明する。図１は、放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図であり、図２は、図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。 [First Embodiment]
[Configuration example of radiation imaging apparatus as an example of electronic equipment]
Here, first, a configuration example of the radiation image capturing apparatus 1 will be briefly described as an example of the electronic apparatus. FIG. 1 is a perspective view showing an external appearance of the radiographic image capturing apparatus, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line XX of FIG.

放射線画像撮影装置１は、図１や図２に示すように、筐体状のハウジング２内にシンチレータ３や基板４等で構成されるセンサパネルＳＰが収納されて構成されている。本実施形態では、筐体２は、放射線入射面Ｒを有する中空の角筒状のハウジング本体部２Ａの両側の開口部を蓋部材２Ｂ、２Ｃで閉塞することで形成されている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the radiographic image capturing apparatus 1 is configured by housing a sensor panel SP including a scintillator 3, a substrate 4, and the like in a housing 2. In this embodiment, the housing | casing 2 is formed by obstruct | occluding the opening part of the both sides of 2 A of hollow square cylindrical housing main-body parts which have the radiation-incidence surface R with lid | cover members 2B and 2C.

図１に示すように、筐体２の一方側の蓋部材２Ｂには、電源スイッチ３７や切替スイッチ３８、コネクタ３９、内蔵電源２４（図２や後述する図３参照）の状態や放射線画像撮影装置１の稼働状態等を表示するＬＥＤ等で構成されたインジケータ４０等が配置されている。なお、後述するように、本実施形態では、コネクタ３９が後述するクレードル６０のコネクタ６２（後述する図４等参照）と接続することで、充電装置としてのクレードル６０から放射線画像撮影装置１に電力が供給されて充電が行われるようになっている。   As shown in FIG. 1, the lid member 2 </ b> B on one side of the housing 2 has a power switch 37, a changeover switch 38, a connector 39, a built-in power supply 24 (see FIG. 2 and FIG. 3 described later), and radiographic imaging. An indicator 40 composed of LEDs or the like for displaying the operating state of the apparatus 1 is disposed. As will be described later, in this embodiment, the connector 39 is connected to a connector 62 of a cradle 60 described later (see FIG. 4 described later), so that power is supplied from the cradle 60 serving as a charging device to the radiographic image capturing apparatus 1. Is supplied and charging is performed.

また、図示を省略するが、本実施形態では、筐体２の反対側の蓋部材２Ｃに、放射線画像撮影装置１が外部装置と信号等の送受信を無線方式で行うためのアンテナ装置４１（後述する図３参照）が、例えば蓋部材２Ｃに埋め込まれるようにして設けられている。   Although not shown in the drawings, in the present embodiment, an antenna device 41 (to be described later) is used for the radiographic imaging device 1 to transmit and receive signals and the like to and from an external device on the lid member 2C on the opposite side of the housing 2. 3) is provided so as to be embedded in the lid member 2C, for example.

図２に示すように、筐体２の内部には、基板４の下方側に図示しない鉛の薄板等を介して基台３１が配置され、基台３１には、電子部品３２等が配設されたＰＣＢ基板３３や内蔵電源２４等が取り付けられている。また、基板４やシンチレータ３の放射線入射面Ｒには、それらを保護するためのガラス基板３４が配設されており、センサパネルＳＰと筐体２の側面との間に緩衝材３５が設けられている。   As shown in FIG. 2, a base 31 is disposed inside the housing 2 via a lead thin plate (not shown) on the lower side of the substrate 4, and an electronic component 32 and the like are disposed on the base 31. The PCB substrate 33, the built-in power supply 24, and the like are attached. Further, a glass substrate 34 for protecting the substrate 4 and the radiation incident surface R of the scintillator 3 is disposed, and a buffer material 35 is provided between the sensor panel SP and the side surface of the housing 2. ing.

図示を省略するが、基板４の検出部Ｐ上には、フォトダイオード等からなる複数の放射線検出素子７が二次元状（マトリクス状）に配列されており、各放射線検出素子７にスイッチ手段としての薄膜トランジスタ（Thin Film Transistor。以下、ＴＦＴという。）８や走査線５、信号線６、バイアス線９等が接続されている。また、シンチレータ３が、基板４の検出部Ｐに対向するように設けられるようになっている。   Although not shown, a plurality of radiation detection elements 7 made of photodiodes or the like are arranged in a two-dimensional shape (matrix shape) on the detection portion P of the substrate 4, and each radiation detection element 7 serves as a switching means. A thin film transistor (hereinafter referred to as TFT) 8, a scanning line 5, a signal line 6, a bias line 9 and the like are connected. Further, the scintillator 3 is provided so as to face the detection part P of the substrate 4.

放射線画像撮影装置１の回路構成を、図３に示すブロック図を用いて説明する。本実施形態では、複数の放射線検出素子７が基板４上に二次元状に配列されて検出部Ｐが形成されている。また、各放射線検出素子７の第２電極７ｂにはそれぞれバイアス線９が接続されており、各バイアス線９は結線１０に結束されてバイアス電源１４に接続されている。そして、バイアス電源１４は、結線１０および各バイアス線９を介して各放射線検出素子７の第２電極７ｂにそれぞれ逆バイアス電圧を印加するようになっている。   A circuit configuration of the radiation image capturing apparatus 1 will be described with reference to a block diagram shown in FIG. In the present embodiment, a plurality of radiation detection elements 7 are two-dimensionally arranged on the substrate 4 to form the detection unit P. In addition, a bias line 9 is connected to the second electrode 7 b of each radiation detection element 7, and each bias line 9 is bound to a connection 10 and connected to a bias power supply 14. The bias power supply 14 applies a reverse bias voltage to the second electrode 7 b of each radiation detection element 7 via the connection 10 and each bias line 9.

走査駆動手段１５では、電源回路１５ａからゲートドライバ１５ｂに配線１５ｃを介してオン電圧やオフ電圧が供給され、ゲートドライバ１５ｂで走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧との間で切り替えて、各ＴＦＴ８のオン状態とオフ状態とを切り替えることで、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理等を行うようになっている。   In the scanning drive means 15, an ON voltage or an OFF voltage is supplied from the power supply circuit 15a to the gate driver 15b via the wiring 15c, and the voltage applied to each line L1 to Lx of the scanning line 5 by the gate driver 15b is turned ON and OFF. Switching between the voltages and switching between the on state and the off state of each TFT 8 perform a process of reading image data from each radiation detection element 7 and the like.

各信号線６は、読み出しＩＣ１６内に形成された各読み出し回路１７にそれぞれ接続されており、読み出し回路１７は、増幅回路１８と相関二重サンプリング回路１９等で構成されている。読み出しＩＣ１６内には、さらに、アナログマルチプレクサ２１と、Ａ／Ｄ変換器２０とが設けられている。   Each signal line 6 is connected to each readout circuit 17 formed in the readout IC 16, and the readout circuit 17 includes an amplifier circuit 18 and a correlated double sampling circuit 19. An analog multiplexer 21 and an A / D converter 20 are further provided in the reading IC 16.

そして、例えば、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理の際には、ゲートドライバ１５ｂからオン電圧が印加された走査線５に接続されているＴＦＴ８がオン状態になり、オン状態になったＴＦＴ８に接続されている放射線検出素子７から信号線６に電荷が放出され、放出された電荷が読み出し回路１７の増幅回路１８で電荷電圧変換される。   For example, in the process of reading the image data from each radiation detection element 7, the TFT 8 connected to the scanning line 5 to which the on voltage is applied from the gate driver 15b is turned on and turned on. Charge is discharged from the radiation detection element 7 connected to the TFT 8 to the signal line 6, and the discharged charge is converted into a charge voltage by the amplifier circuit 18 of the readout circuit 17.

そして、増幅回路１８の出力側に設けられた相関二重サンプリング回路１９で、放射線検出素子７から電荷が放出される前後の増幅回路１８からの出力値の差分を算出し、算出した差分をアナログ値の画像データとして出力する。そして、出力されたアナログ値の画像データが、アナログマルチプレクサ２１を介して順次Ａ／Ｄ変換器２０に送信され、Ａ／Ｄ変換器２０で順次デジタル値の画像データに変換されて出力され、記憶手段２３に順次保存される。このようにして、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理が順次行われる。   Then, the correlated double sampling circuit 19 provided on the output side of the amplifier circuit 18 calculates the difference between the output values from the amplifier circuit 18 before and after the charge is released from the radiation detection element 7, and the calculated difference is analog Output as value image data. Then, the output analog value image data is sequentially transmitted to the A / D converter 20 via the analog multiplexer 21, and is converted into digital value image data by the A / D converter 20, and is output and stored. The data are sequentially stored in the means 23. In this way, the image data reading process from each radiation detection element 7 is sequentially performed.

制御手段２２は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、入出力インターフェース等がバスに接続されたマイクロコンピュータや、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等により構成されている。そして、制御手段２２は、放射線画像撮影装置１の各部材の動作等を制御するようになっている。   The control means 22 includes a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), an input / output interface, etc., which are not shown, connected to the bus, an FPGA (Field Programmable Gate Array), and the like. It is comprised by. And the control means 22 controls operation | movement etc. of each member of the radiographic imaging apparatus 1.

また、制御手段２２には、ＳＲＡＭ（Static ＲＡＭ）やＳＤＲＡＭ（Synchronous ＤＲＡＭ）等で構成される記憶手段２３が接続されている。また、本実施形態では、制御手段２２には、前述したアンテナ装置４１が接続されており、さらに、前述した電源スイッチ３７や切替スイッチ３８、コネクタ３９、インジケータ４０（図１参照）等も接続されている。   The control means 22 is connected to a storage means 23 composed of SRAM (Static RAM), SDRAM (Synchronous DRAM) or the like. In the present embodiment, the control unit 22 is connected to the antenna device 41 described above, and is further connected to the power switch 37, the changeover switch 38, the connector 39, the indicator 40 (see FIG. 1), and the like. ing.

また、制御手段２２には、制御手段２２や走査駆動手段１５、読み出し回路１７、記憶手段２３、バイアス電源１４等の各部材に電力を供給するための内蔵電源２４が接続されている。本実施形態では、内蔵電源２４として、リチウムイオンキャパシタ（ＬＩＣ）が用いられているが、本発明はこれに限定されず、充電可能な内蔵電源であれば、電気二重層キャパシタ等の蓄電デバイスやリチウムイオンバッテリ等のバッテリや二次電池等であってもよい。   The control means 22 is connected to a built-in power supply 24 for supplying power to the control means 22, the scanning drive means 15, the readout circuit 17, the storage means 23, the bias power supply 14, and the like. In this embodiment, a lithium ion capacitor (LIC) is used as the built-in power supply 24. However, the present invention is not limited to this, and an electric storage device such as an electric double layer capacitor or the like can be used as long as it is a rechargeable built-in power supply. A battery such as a lithium ion battery or a secondary battery may be used.

なお、本実施形態では、放射線画像撮影装置１の制御手段２２が、内蔵電源２４に充電されている充電電圧Ｖ等に基づいて内蔵電源２４の劣化度合を推定する推定手段として機能するようになっているが、この点については後で説明する。   In the present embodiment, the control unit 22 of the radiographic imaging apparatus 1 functions as an estimation unit that estimates the degree of deterioration of the built-in power supply 24 based on the charging voltage V or the like charged in the built-in power supply 24. However, this point will be described later.

［充電制御回路の構成について］
次に、本実施形態の放射線画像撮影装置１に設けられている充電制御回路８０の構成等について説明する。図３では図示を省略したが、本実施形態では、内蔵電源２４には、内蔵電源２４への充電を制御する充電制御回路８０が接続されている。図４は、充電制御回路８０の回路構成を概略的に表すブロック図である。 [Configuration of charge control circuit]
Next, the configuration of the charge control circuit 80 provided in the radiographic image capturing apparatus 1 of the present embodiment will be described. Although not shown in FIG. 3, in this embodiment, the built-in power supply 24 is connected to a charge control circuit 80 that controls charging of the built-in power supply 24. FIG. 4 is a block diagram schematically showing the circuit configuration of the charging control circuit 80.

図４に示すように、本実施形態では、充電制御回路８０は、主に、接続されたコネクタ３９、６２を介してクレードル６０の定電圧電源６１から供給された電力を放射線画像撮影装置１の内蔵電源２４に供給する配線としての充電電流経路８１と、内蔵電源２４への充電を制御する充電制御部８２とを備えて構成されている。また、本実施形態では、充電制御部８２には、少なくとも充電電圧検出部８３と、充電電流検出部８４と、スイッチング制御部８５とが設けられている。   As shown in FIG. 4, in the present embodiment, the charging control circuit 80 mainly uses the power supplied from the constant voltage power supply 61 of the cradle 60 via the connected connectors 39 and 62 of the radiation image capturing apparatus 1. A charging current path 81 as wiring to be supplied to the built-in power supply 24 and a charge control unit 82 that controls charging to the built-in power supply 24 are provided. In the present embodiment, the charging control unit 82 is provided with at least a charging voltage detection unit 83, a charging current detection unit 84, and a switching control unit 85.

充電制御回路８０では、充電電流経路８１上には第１スイッチ素子８６が、充電電流経路８１から分岐してグランド（ＧＮＤ）に接続されている配線８８上には第２スイッチ素子８７がそれぞれ設けられている。そして、第１スイッチ素子８６および第２スイッチ素子８７は、それぞれ電界効果トランジスタ（Field effect transistor：ＦＥＴ）で構成されており、また、それぞれスイッチング制御部８５によりそれらのオン／オフ動作が制御されるようになっている。   In the charge control circuit 80, a first switch element 86 is provided on the charge current path 81, and a second switch element 87 is provided on the wiring 88 branched from the charge current path 81 and connected to the ground (GND). It has been. The first switch element 86 and the second switch element 87 are each configured by a field effect transistor (FET), and their on / off operations are controlled by the switching control unit 85, respectively. It is like that.

また、充電電流経路８１にはインダクタ（コイルともいう。）８９が挿入されており、また、充電電流経路８１とグランド（ＧＮＤ）との間にコンデンサ９０が設けられている。そして、スイッチング制御部８６による第１スイッチ素子８７ａや第２スイッチ素子８７ｂのオン／オフにインダクタ８９のインダクタンス（inductance）成分により蓄えられるエネルギを制御することにより、充電電流Ｉおよび充電電圧Ｖを制御する。コンデンサ９０は、内蔵電源２４への出力に対してローパスフィルタ状に機能して、充電電圧Ｖを平滑化するようになっている。   In addition, an inductor (also referred to as a coil) 89 is inserted in the charging current path 81, and a capacitor 90 is provided between the charging current path 81 and the ground (GND). Then, the charging current I and the charging voltage V are controlled by controlling the energy stored by the inductance component of the inductor 89 to turn on / off the first switch element 87a and the second switch element 87b by the switching control unit 86. To do. The capacitor 90 functions as a low-pass filter for the output to the built-in power supply 24 to smooth the charging voltage V.

充電電流経路８１には、さらに充電電流検出用の抵抗部９１が挿入されている。また、充電電流検出用の抵抗部９１は、その両極が充電電流検出部８４に接続されており、充電電流検出部８４によって充電電流検出用の抵抗部９１の両極間の電位差Δｖが検出されるようになっている。そして、この電位差Δｖが、Δｖ＝ＩＲの関係により充電電流経路８１を流れる充電電流Ｉに相当する値として検出されるようになっている。   A charging current detecting resistor 91 is further inserted in the charging current path 81. Further, the charging current detection resistor unit 91 is connected to the charging current detection unit 84 at both electrodes, and the charging current detection unit 84 detects the potential difference Δv between both electrodes of the charging current detection resistor unit 91. It is like that. The potential difference Δv is detected as a value corresponding to the charging current I flowing through the charging current path 81 according to the relationship Δv = IR.

また、充電電流経路８１は、放射線画像撮影装置１の内蔵電源２４の一方の充電端子に接続されており、内蔵電源２４の他方の充電端子は、充電制御回路８０のグランド（ＧＮＤ）に接続されている。また、充電制御回路８０内では、充電電流経路８１とグランド（ＧＮＤ）とが２つの抵抗９２ａ、９２ｂを介して接続されており、２つの抵抗９２ａ、９２ｂの間に接続された配線９３が充電電圧検出部８３に接続されている。そして、充電制御部８２の充電電圧検出部８３で、内蔵電源２４に充電されている充電電圧Ｖが検出されるようになっている。   The charging current path 81 is connected to one charging terminal of the built-in power supply 24 of the radiation imaging apparatus 1, and the other charging terminal of the built-in power supply 24 is connected to the ground (GND) of the charging control circuit 80. ing. In the charging control circuit 80, the charging current path 81 and the ground (GND) are connected through two resistors 92a and 92b, and the wiring 93 connected between the two resistors 92a and 92b is charged. The voltage detection unit 83 is connected. Then, the charging voltage detection unit 83 of the charging control unit 82 detects the charging voltage V charged in the built-in power supply 24.

そして、充電電圧検出部８３で検出された内蔵電源２４に充電されている充電電圧Ｖの情報や、充電電流検出部８４で検出された充電電流検出用の抵抗部９１の両極間の電位差Δｖの情報（すなわち充電電流経路８１を流れる充電電流Ｉの情報）が、充電制御部８２のスイッチング制御部８５に送られるようになっている。   Then, information on the charging voltage V charged in the built-in power supply 24 detected by the charging voltage detection unit 83 and the potential difference Δv between both electrodes of the charging current detection resistor unit 91 detected by the charging current detection unit 84. Information (that is, information on the charging current I flowing through the charging current path 81) is sent to the switching control unit 85 of the charging control unit 82.

充電制御部８２のスイッチング制御部８５は、充電電圧検出部８３からもたらされる内蔵電源２４に充電されている充電電圧Ｖの情報や、充電電流検出部８４からもたらされる充電電流検出用の抵抗部９１の両極間の電位差Δｖの情報（すなわち充電電流経路８１を流れる充電電流Ｉの情報）に応じて、充電電流経路８１を介して内蔵電源２４に供給される充電電流Ｉを制御するようになっている。   The switching control unit 85 of the charging control unit 82 includes information on the charging voltage V charged in the built-in power supply 24 provided from the charging voltage detection unit 83 and a charging current detection resistor unit 91 provided from the charging current detection unit 84. The charging current I supplied to the built-in power supply 24 via the charging current path 81 is controlled according to the information on the potential difference Δv between the two electrodes (that is, the information on the charging current I flowing through the charging current path 81). Yes.

そして、スイッチング制御部８５は、フィードバックされたそれらの情報に応じて第１スイッチ素子８６および第２スイッチ素子８７のオン／オフ動作を制御して、充電装置であるクレードル６０の定電圧電源６１から供給される電力の内蔵電源２４への供給を制御するようになっている。   Then, the switching control unit 85 controls the on / off operation of the first switch element 86 and the second switch element 87 according to the fed back information, and from the constant voltage power supply 61 of the cradle 60 that is a charging device. The supply of supplied power to the built-in power supply 24 is controlled.

［充電制御回路における内蔵電源の充電制御について］
本実施形態では、充電制御回路８０は、電子機器である放射線画像撮影装置１の内蔵電源２４の充電の仕方を、図５に示すように、充電電流Ｉが一定になるように充電を行う定電流充電を行った後、充電電圧Ｖが一定になるように充電を行う定電圧充電に切り替えるようになっている。 [Charge control of built-in power supply in charge control circuit]
In the present embodiment, the charging control circuit 80 determines how to charge the built-in power supply 24 of the radiographic imaging apparatus 1 that is an electronic device so that the charging current I is constant as shown in FIG. After performing current charging, switching to constant voltage charging is performed so that charging voltage V is constant.

具体的には、充電制御回路８０のスイッチング制御部８５は、充電電圧検出部８３が検出した内蔵電源２４に充電されている充電電圧Ｖ（図５の右側の目盛りおよび破線参照）が予め設定された目標電圧Ｖ０よりも小さい場合には、充電電流検出部８４が検出する充電電流検出用の抵抗部９１の両極間の電位差Δｖが、設定された電流値（例えば１０［Ａ］）に相当する電位差になるように、第１スイッチ素子８６と第２スイッチ素子８７のオン／オフ動作を制御して定電流充電を行う。 Specifically, the switching control unit 85 of the charging control circuit 80 is preset with the charging voltage V (see the scale on the right side of FIG. 5 and the broken line) charged in the built-in power supply 24 detected by the charging voltage detection unit 83. When the voltage is smaller than the target voltage V 0, the potential difference Δv between the two poles of the charging current detecting resistor 91 detected by the charging current detector 84 corresponds to a set current value (for example, 10 [A]). The constant current charging is performed by controlling the on / off operation of the first switch element 86 and the second switch element 87 so as to obtain a potential difference.

そして、上記のようにして定電流充電を行い、充電電圧検出部８３が検出した内蔵電源２４の充電電圧Ｖが目標電圧Ｖ０に達すると、図５に示すように、スイッチング制御部８５は、今度は、内蔵電源２４に対する充電の仕方を定電圧充電に切り替える。 Then, constant current charging is performed as described above, and when the charging voltage V of the built-in power supply 24 detected by the charging voltage detection unit 83 reaches the target voltage V 0 , as shown in FIG. This time, the charging method for the built-in power supply 24 is switched to constant voltage charging.

上記のように定電流充電を行って、充電電圧検出部８３が検出した内蔵電源２４の充電電圧Ｖが目標電圧Ｖ０に達したとしても、内蔵電源２４内部や充電電流経路８１等の抵抗による電圧降下が存在するため、内蔵電源２４の実際の充電電圧Ｖは、実際には目標電圧Ｖ０には達していない。 Even if the charging voltage V of the built-in power supply 24 detected by the charging voltage detection unit 83 reaches the target voltage V 0 by performing constant current charging as described above, it is dependent on the resistance inside the built-in power supply 24 or the charging current path 81. a voltage drop is present, the actual charging voltage V of the internal power supply 24 is not actually reach the target voltage V 0.

そこで、スイッチング制御部８５は、充電の仕方を切り替えた後の定電圧充電時には、充電電圧検出部８３が検出する内蔵電源２４の充電電圧Ｖが目標電圧Ｖ０を越えずに目標電圧Ｖ０を維持するように第１スイッチ素子８６と第２スイッチ素子８７のオン／オフ動作を制御しながら定電圧充電を行う。 Therefore, the switching control unit 85, the constant voltage charging after switching the way of charging, a target voltage V 0 charging voltage V does not exceed the target voltage V 0 which internal power supply 24 for detecting the charging voltage detector 83 The constant voltage charging is performed while controlling the on / off operation of the first switch element 86 and the second switch element 87 so as to be maintained.

そして、スイッチング制御部８５は、充電電流検出部８４が検出する充電電流検出用の抵抗部９１の両極間の電位差Δｖが次第に減少し、充電電流経路８１中を流れる充電電流Ｉが非常に小さくなってそれに対応する電位差Δｖが予め設定された閾値Δｖth以下になった時点で、内蔵電源２４の充電を終了するようになっている（図５の時刻ｔ１参照）。   In the switching control unit 85, the potential difference Δv between both electrodes of the charging current detecting resistor 91 detected by the charging current detecting unit 84 gradually decreases, and the charging current I flowing through the charging current path 81 becomes very small. When the potential difference Δv corresponding thereto becomes equal to or less than a preset threshold value Δvth, charging of the built-in power supply 24 is terminated (see time t1 in FIG. 5).

［推定手段による内蔵電源の劣化度合の推定処理について］
次に、推定手段による内蔵電源２４の劣化度合の推定処理について説明する。また、それとあわせて、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１（電子機器）や充電システム１００（図４や後述する図６参照）の作用について説明する。 [About the estimation process of the deterioration degree of the built-in power supply by the estimation means]
Next, a process for estimating the degree of deterioration of the built-in power supply 24 by the estimation means will be described. In addition, the operation of the radiation image capturing apparatus 1 (electronic device) and the charging system 100 (see FIG. 4 and FIG. 6 described later) according to the present embodiment will be described.

上記のような構成において、本実施形態では、前述したように、放射線画像撮影装置１（電子機器）の各機能部の動作を制御する制御手段２２が、内蔵電源２４に充電されている充電電圧Ｖ等に基づいて内蔵電源２４の劣化度合を推定する推定手段としての機能を兼ねるように構成されている。以下、この点について説明する。   In the configuration as described above, in the present embodiment, as described above, the control means 22 that controls the operation of each functional unit of the radiographic image capturing apparatus 1 (electronic device) is charged with the built-in power supply 24. It is configured to also serve as an estimation means for estimating the deterioration degree of the built-in power supply 24 based on V or the like. Hereinafter, this point will be described.

なお、放射線画像撮影装置１（電子機器）の内蔵電源２４の劣化の形態としては、主に、内蔵電源２４の容量Ｃが減少していく場合と、内蔵電源２４の内部抵抗が増大していく場合とがあるが、本発明では、内蔵電源２４の容量Ｃの減少の度合を劣化度合として推定する場合を対象としている。   In addition, as a form of deterioration of the built-in power supply 24 of the radiographic imaging apparatus 1 (electronic device), mainly, when the capacity C of the built-in power supply 24 decreases and the internal resistance of the built-in power supply 24 increases. In some cases, the present invention is intended for estimating the degree of decrease in the capacity C of the built-in power supply 24 as the degree of deterioration.

また、本実施形態のように放射線画像撮影装置１の制御手段２２が推定手段としての機能を兼ねるように構成する代わりに、例えば、充電制御回路８０がＣＰＵを搭載する等して設けることも可能であり、必ずしも制御手段２２が推定手段としての機能を兼ねるように構成する必要はない。   Further, instead of configuring the control unit 22 of the radiographic image capturing apparatus 1 to also function as an estimation unit as in the present embodiment, for example, the charge control circuit 80 may be provided with a CPU or the like. Therefore, it is not always necessary to configure the control means 22 to also function as the estimation means.

図６は、推定手段としての制御手段２２の制御構成を説明するためのブロック図である。図３や図４では図示を省略したが、本実施形態での電子機器である放射線画像撮影装置１では、図６に示すように、内蔵電源２４と制御手段２２との間に放射線画像撮影装置１用の電源生成回路２５が設けられている。   FIG. 6 is a block diagram for explaining the control configuration of the control means 22 as the estimation means. Although not shown in FIGS. 3 and 4, in the radiographic imaging apparatus 1 that is an electronic apparatus in the present embodiment, as shown in FIG. 6, the radiographic imaging apparatus is provided between the built-in power supply 24 and the control means 22. 1 power generation circuit 25 is provided.

電源生成回路２５は、内蔵電源２４から供給される電力を、制御手段２２やセンサパネルＳＰにおける走査駆動手段１５や読み出し回路１７、バイアス電源１４（図３参照）等の各機能部に供給する際に、各機能部で要求される適切な状態に電力を生成して供給するようになっている。   The power supply generation circuit 25 supplies power supplied from the built-in power supply 24 to each functional unit such as the control means 22, the scanning drive means 15 in the sensor panel SP, the readout circuit 17, and the bias power supply 14 (see FIG. 3). In addition, power is generated and supplied in an appropriate state required by each functional unit.

そして、前述したように、充電制御回路８０が充電装置であるクレードル６０から供給された充電電流Ｉを内蔵電源２４に供給して内蔵電源２４を充電する際には、その充電電流Ｉの一部が電源生成回路２５にも供給されるようになっている。そして、電源生成回路２５は、供給された充電電流Ｉの一部を、制御手段２２等の各機能部で必要な形の電流に変換して供給するようになっている。   As described above, when the charging control circuit 80 supplies the charging current I supplied from the cradle 60 as a charging device to the built-in power supply 24 to charge the built-in power supply 24, a part of the charging current I is used. Is also supplied to the power generation circuit 25. The power generation circuit 25 converts a part of the supplied charging current I into a current in a form necessary for each functional unit such as the control means 22 and supplies the converted current.

なお、以下では、電源生成回路２５に供給される充電電流Ｉの一部を、充電の際に放電される電流という意味で放電電流Ｉｄという。また、充電制御回路８０が定電流充電を行う際に予め設定される電流値（例えば１０［Ａ］）を充電電流設定値Ｉｃsetという。   Hereinafter, a part of the charging current I supplied to the power generation circuit 25 is referred to as a discharging current Id in the sense of a current discharged during charging. A current value (for example, 10 [A]) set in advance when the charging control circuit 80 performs constant current charging is referred to as a charging current setting value Icset.

このように定義した場合、定電流充電時に、内蔵電源２４には、充電制御回路８０から出力された充電電流設定値Ｉｃsetから放電電流Ｉｄ分だけ減少した電流が供給される。そのため、内蔵電源２４には、
Ｉｃ＝Ｉｃset−Ｉｄ …（１）
の電流Ｉｃが供給されることになる。 When defined in this way, during constant current charging, the internal power supply 24 is supplied with a current that is reduced by the discharge current Id from the charge current set value Icset output from the charge control circuit 80. Therefore, the built-in power supply 24 has
Ic = Icset−Id (1)
Current Ic is supplied.

また、その際、充電制御回路８０から電源生成回路２５に供給される放電電流Ｉｄの量は、充電時における放射線画像撮影装置１の各機能部の稼動状況によって変わり得る。しかし、放射線画像撮影装置１がクレードル６０に挿入されて充電されている場合に充電に関与する機能部は決まっており、各機能部で消費される電力も同じ値になる。   At that time, the amount of the discharge current Id supplied from the charge control circuit 80 to the power generation circuit 25 can vary depending on the operating status of each functional unit of the radiographic image capturing apparatus 1 during charging. However, when the radiographic imaging device 1 is inserted into the cradle 60 and charged, the functional units involved in charging are determined, and the power consumed by each functional unit is the same value.

そのため、放射線画像撮影装置１をクレードル６０で充電するごとに、放電電流Ｉｄは同じ値になるため、少なくともクレードル６０で放射線画像撮影装置１の内蔵電源２４を充電する場合、内蔵電源２４に供給される上記の電流Ｉｃは、充電を行うごとに同じ値になる。   Therefore, every time the radiographic imaging apparatus 1 is charged with the cradle 60, the discharge current Id becomes the same value. Therefore, at least when the internal power supply 24 of the radiographic imaging apparatus 1 is charged with the cradle 60, it is supplied to the internal power supply 24. The current Ic becomes the same value every time charging is performed.

なお、後述するように、放射線画像撮影装置１がクレードル６０以外の充電装置により充電される場合もあり、各機能部の稼動状況も変わり得るため、充電に使用される充電装置や放射線画像撮影装置１の各機能部の稼動状況等に応じて上記の放電電流Ｉｄは変わり得る。しかし、上記と同様に、同じ充電装置を用い、放射線画像撮影装置１の各機能部の稼動状況が同じ状況であれば、放電電流Ｉｄの値は同じ値になり、内蔵電源２４に供給される上記の電流Ｉｃも同じ値になる。   As will be described later, the radiographic imaging device 1 may be charged by a charging device other than the cradle 60, and the operating status of each functional unit may change. Therefore, the charging device and the radiographic imaging device used for charging The discharge current Id can vary depending on the operating status of each functional unit 1. However, similarly to the above, if the same charging device is used and the operation status of each functional unit of the radiographic imaging device 1 is the same, the value of the discharge current Id becomes the same value and is supplied to the built-in power supply 24. The current Ic has the same value.

一方、本実施形態では、図６に示すように、内蔵電源２４に充電されている充電電圧Ｖの情報が、推定手段としての制御手段２２に入力されるようになっている。なお、図６では、充電電圧Ｖの情報を内蔵電源２４から直接入手する場合が示されているが、例えば、前述した充電制御回路８０の充電電圧検出部８３が検出した内蔵電源２４の充電電圧Ｖの情報を、充電制御回路８０から制御手段２２に送信するように構成することも可能である。   On the other hand, in the present embodiment, as shown in FIG. 6, information on the charging voltage V charged in the built-in power supply 24 is input to the control means 22 as the estimation means. 6 shows a case where the information on the charging voltage V is obtained directly from the built-in power supply 24. For example, the charging voltage of the built-in power supply 24 detected by the charging voltage detection unit 83 of the above-described charging control circuit 80 is shown. It is also possible to configure so that the information on V is transmitted from the charging control circuit 80 to the control means 22.

そして、制御手段２２は、上記のように充電制御回路８０が定電流充電を行う際に、所定時間ΔＴthが経過した時点での上記の充電電圧Ｖの上昇分ΔＶに基づいて、内蔵電源２４の現状での容量Ｃを算出し、算出した容量Ｃの、内蔵電源２４が劣化していない状態での容量Ｃinに対する比Ｃ／Ｃinを算出して、内蔵電源２４の劣化度合を推定するようになっている。   Then, when the charging control circuit 80 performs constant current charging as described above, the control unit 22 determines whether the built-in power supply 24 is based on the increase ΔV of the charging voltage V when the predetermined time ΔTth has elapsed. The current capacity C is calculated, the ratio C / Cin of the calculated capacity C to the capacity Cin when the built-in power supply 24 is not deteriorated is calculated, and the deterioration degree of the built-in power supply 24 is estimated. ing.

なお、本実施形態では、制御手段２２を構成するマイクロコンピュータでソフトウエア的に処理して内蔵電源２４の劣化度合を推定するように構成されているが、例えば、制御手段２２のＦＰＧＡの部分に推定手段としての機能を有する回路を構築する等して、この推定処理をハードウエア的に行うように構成することも可能である。   In the present embodiment, the microcomputer constituting the control means 22 is processed by software to estimate the degree of deterioration of the built-in power supply 24. For example, in the FPGA portion of the control means 22, It is also possible to configure the estimation processing in hardware by constructing a circuit having a function as estimation means.

本実施形態では、この推定処理は、具体的には例えば以下のようにして行われる。   In the present embodiment, this estimation process is specifically performed as follows, for example.

すなわち、制御手段２２は、放射線画像撮影装置１が充電装置であるクレードル６０に挿入されて定電流充電が開始された時点での内蔵電源２４の充電電圧Ｖを読み取って、充電電圧Ｖ１として記憶する。また、その時点で、経過時間ΔＴのカウントをリセットした後、経過時間ΔＴのカウントを開始する。   That is, the control means 22 reads the charging voltage V of the built-in power supply 24 when the radiographic imaging device 1 is inserted into the cradle 60 that is a charging device and constant current charging is started, and stores it as the charging voltage V1. . At that time, the count of the elapsed time ΔT is reset and then the count of the elapsed time ΔT is started.

そして、図７（Ａ）に示すように、経過時間ΔＴが所定時間ΔＴthになった時点、すなわち所定時間ΔＴthが経過した時点で、内蔵電源２４に充電されている充電電圧Ｖを読み取って、充電電圧Ｖ２として記憶する。制御手段２２は、この充電電圧Ｖ２を記憶すると、
ΔＶ＝Ｖ２−Ｖ１ …（２）
の演算を行って、上記の充電電圧Ｖの上昇分ΔＶを算出する。 Then, as shown in FIG. 7A, when the elapsed time ΔT reaches the predetermined time ΔTth, that is, when the predetermined time ΔTth has elapsed, the charging voltage V charged in the built-in power supply 24 is read and charged. Store as voltage V2. When the control means 22 stores this charging voltage V2,
ΔV = V2−V1 (2)
Is calculated to calculate an increase ΔV of the charging voltage V described above.

この所定時間ΔＴthの間に内蔵電源２４に供給された電流Ｉｃは、上記（１）式に示したように充電電流設定値Ｉｃsetから放電電流Ｉｄ分だけ減少した電流Ｉｃ（すなわちＩｃset−Ｉｄ）であるため、内蔵電源２４には、上記の所定時間ΔＴthの間に、
Ｑ＝Ｉｃ×ΔＴth
＝（Ｉｃset−Ｉｄ）×ΔＴth …（３）
の電荷Ｑが供給されることになる。 The current Ic supplied to the built-in power supply 24 during the predetermined time ΔTth is a current Ic (that is, Icset−Id) that is reduced by the discharge current Id from the charge current set value Icset as shown in the above equation (1). Therefore, the built-in power supply 24 has the above-mentioned predetermined time ΔTth during
Q = Ic × ΔTth
= (Icset−Id) × ΔTth (3)
Charge Q is supplied.

そのため、Ｃ＝Ｑ／ΔＶの関係から、この場合の内蔵電源２４の容量Ｃは、
Ｃ＝Ｉｃ×ΔＴth／（Ｖ２−Ｖ１）
＝（Ｉｃset−Ｉｄ）×ΔＴth／（Ｖ２−Ｖ１） …（４）
の演算を行うことにより算出することができる。 Therefore, from the relationship of C = Q / ΔV, the capacity C of the built-in power supply 24 in this case is
C = Ic × ΔTth / (V2−V1)
= (Icset−Id) × ΔTth / (V2−V1) (4)
It can be calculated by performing the following calculation.

そこで、制御手段２２は、放射線画像撮影装置１をクレードル６０に挿入して定電流充電を行う場合の充電電流設定値Ｉｃsetおよび放電電流Ｉｄの各値、或いはそれらの差分Ｉｃset−Ｉｄの値を予めメモリに記憶しておく。そして、上記の充電電圧Ｖ１、Ｖ２を読み取る前や後に、メモリから値Ｉｃset、Ｉｄ或いは差分Ｉｃset−Ｉｄを読み出して、それらの値を上記（４）式に代入して、内蔵電源２４の容量Ｃを算出するようになっている。   Therefore, the control means 22 preliminarily determines each value of the charging current set value Icset and the discharging current Id when the radiographic imaging device 1 is inserted into the cradle 60 and performing constant current charging, or the value of the difference Icset−Id. Store in memory. Then, before or after reading the charging voltages V1 and V2, the values Icset, Id or the difference Icset−Id are read from the memory, and those values are substituted into the above equation (4), so that the capacitance C of the built-in power supply 24 is obtained. Is calculated.

一方、内蔵電源２４が劣化していない状態での容量Ｃinを取得するために、推定手段としての制御手段２２は、例えば放射線画像撮影装置１の工場出荷時や病院等の施設への導入時等に、上記の処理を行う。   On the other hand, in order to acquire the capacity Cin when the built-in power supply 24 is not deteriorated, the control means 22 as the estimation means is, for example, when the radiographic imaging apparatus 1 is shipped from a factory or introduced into a facility such as a hospital. The above processing is performed.

そして、図７（Ｂ）に示すように、放射線画像撮影装置１が充電装置であるクレードル６０に挿入されて定電流充電が開始された時点での内蔵電源２４の充電電圧Ｖ１inと、所定時間ΔＴthが経過した時点での内蔵電源２４に充電されている充電電圧Ｖ２inとを読み取り、それらの値と充電電流設定値Ｉｃset_inとに基づいて、
Ｃin＝Ｉｃin×ΔＴth／（Ｖ２in−Ｖ１in）
＝（Ｉｃset_in−Ｉｄin）×ΔＴth／（Ｖ２in−Ｖ１in） …（５）
の演算を行うことにより、内蔵電源２４が劣化していない状態での容量Ｃinを算出する。 Then, as shown in FIG. 7B, the charging voltage V1in of the built-in power supply 24 at the time when the radiographic imaging device 1 is inserted into the cradle 60 as a charging device and constant current charging is started, and a predetermined time ΔTth. Read the charging voltage V2in charged in the built-in power supply 24 at the time of elapse, and based on those values and the charging current set value Icset_in,
Cin = Icin × ΔTth / (V2in−V1in)
= (Icset_in−Idin) × ΔTth / (V2in−V1in) (5)
By performing the above calculation, the capacity Cin when the built-in power supply 24 is not deteriorated is calculated.

また、制御手段２２は、算出した容量Ｃinを不揮発性メモリに記憶しておく。或いは推定処理をソフトウエア的に行う場合には、予めそのためのプログラム中に上記の値等を書き込んでおく。   In addition, the control unit 22 stores the calculated capacity Cin in a nonvolatile memory. Alternatively, when the estimation process is performed by software, the above values and the like are written in advance in a program for that purpose.

そして、制御手段２２は、放射線画像撮影装置１が施設に導入された後、上記のようにして、放射線画像撮影装置１が充電装置であるクレードル６０に挿入されて定電流充電が行われるごとに推定処理を行い、内蔵電源２４の現状での容量Ｃを算出する。そして、内蔵電源２４が劣化していない状態での容量Ｃinを不揮発性メモリやプログラム中から読み出して、容量Ｃinに対する容量Ｃの比Ｃ／Ｃinを算出して、内蔵電源２４の劣化度合を推定するようになっている。   Then, after the radiographic imaging device 1 is introduced into the facility, the control means 22 is inserted into the cradle 60 as the charging device and constant current charging is performed as described above. An estimation process is performed, and the current capacity C of the built-in power supply 24 is calculated. Then, the capacity Cin when the built-in power supply 24 is not deteriorated is read from the nonvolatile memory or the program, the ratio C / Cin of the capacity C to the capacity Cin is calculated, and the degree of deterioration of the built-in power supply 24 is estimated. It is like that.

制御手段２２は、例えば外部の処理装置等から内蔵電源２４の劣化度合すなわち上記の比Ｃ／Ｃin（或いは例えばそれを百分率で表した割合）の送信要求があった場合には、その情報を当該処理装置等に送信する。また、放射線画像撮影装置１に表示部（不図示）を設けておき、表示部に、算出した比Ｃ／Ｃin或いはそれを百分率で表した割合等を表示するように構成することも可能である。   For example, when there is a transmission request for the degree of deterioration of the built-in power supply 24, that is, the ratio C / Cin (or a ratio expressed as a percentage, for example) from an external processing device or the like, the control means 22 It is transmitted to the processing device. It is also possible to provide a display unit (not shown) in the radiographic image capturing apparatus 1 and display the calculated ratio C / Cin or a ratio or the like expressed as a percentage on the display unit. .

また、例えば、内蔵電源２４の劣化度合すなわち比Ｃ／Ｃinに閾値（例えば０．５（すなわち５０％））を設けておき、比Ｃ／Ｃinが閾値以下になった場合（すなわち内蔵電源２４の劣化が進んだ場合）に、例えばインジケータ４０（図１参照）を特定の色や特定の仕方で発光させる等して警告したり、或いは、放射線画像撮影装置１に設けた表示部に、内蔵電源２４を交換すべきこと等を表示するように構成することも可能である。   In addition, for example, a threshold value (for example, 0.5 (that is, 50%)) is provided for the degree of deterioration of the built-in power supply 24, that is, the ratio C / Cin, and the ratio C / Cin is equal to or less than the threshold (that is, When the deterioration has progressed), for example, the indicator 40 (see FIG. 1) is warned by emitting light in a specific color or a specific way, or the display unit provided in the radiographic image capturing apparatus 1 has a built-in power supply. It is also possible to display that 24 should be replaced.

なお、上記のように、放射線画像撮影装置１が充電装置であるクレードル６０に挿入されて定電流充電が行われるごとに内蔵電源２４の容量Ｃを算出する代わりに、例えば以下のように処理するように構成することも可能である。   Note that, as described above, instead of calculating the capacity C of the built-in power supply 24 each time the radiographic imaging device 1 is inserted into the cradle 60 as a charging device and constant current charging is performed, the following processing is performed, for example: It is also possible to configure as described above.

すなわち、予め工場出荷時等に推定処理を行う際に、充電電流設定値Ｉｃset_inを、放射線画像撮影装置１の施設への導入後に定電流充電を行う際の充電電流設定値Ｉｃsetと同じ値にして推定処理を行うようにすると、Ｉｃset_in＝Ｉｃsetとなる。また、工場出荷時等と通常の使用時とで放射線画像撮影装置１における上記の放電電流Ｉｄの値が変わらないとすれば、Ｉｄin＝Ｉｄとなる。   That is, when the estimation process is performed in advance at the time of factory shipment or the like, the charging current setting value Icset_in is set to the same value as the charging current setting value Icset when performing constant current charging after introduction to the facility of the radiographic imaging apparatus 1. When the estimation process is performed, Icset_in = Icset. Further, if the value of the discharge current Id in the radiographic imaging apparatus 1 does not change between when shipped from the factory and during normal use, Idin = Id.

そのため、上記（４）、（５）式から、上記の比Ｃ／Ｃinは、
Ｃ／Ｃin＝（Ｉｃset−Ｉｄ）×ΔＴth／（Ｖ２−Ｖ１）
／｛（Ｉｃset_in−Ｉｄin）×ΔＴth／（Ｖ２in−Ｖ１in）｝…（６）
∴Ｃ／Ｃin＝（Ｖ２in−Ｖ１in）／（Ｖ２−Ｖ１） …（７）
となる。 Therefore, from the above equations (4) and (5), the ratio C / Cin is
C / Cin = (Icset−Id) × ΔTth / (V2−V1)
/ {(Icset_in−Idin) × ΔTth / (V2in−V1in)} (6)
∴C / Cin = (V2in−V1in) / (V2−V1) (7)
It becomes.

そこで、放射線画像撮影装置１の制御手段２２に、工場出荷時等の充電電圧Ｖ１in、Ｖ２in或いはそれらの差分Ｖ２in−Ｖ１inを記憶させておく。そして、放射線画像撮影装置１がクレードル６０に挿入されて定電流充電が行われるごとに、制御手段２２で、定電流充電開始時の内蔵電源２４の充電電圧Ｖ１と、所定時間ΔＴth経過後の充電電圧Ｖ２とを検出して、それらの値と工場出荷時等の充電電圧Ｖ１in、Ｖ２in或いはそれらの差分Ｖ２in−Ｖ１inを上記（７）式に代入するように構成する。   Therefore, the charging voltage V1in, V2in at the time of factory shipment or the difference V2in−V1in between them is stored in the control means 22 of the radiographic image capturing apparatus 1. Each time the radiographic imaging apparatus 1 is inserted into the cradle 60 and constant current charging is performed, the control means 22 causes the charging voltage V1 of the built-in power supply 24 at the start of constant current charging and the charging after a predetermined time ΔTth has elapsed. The voltage V2 is detected, and these values and charging voltages V1in and V2in at the time of factory shipment or the difference V2in−V1in between them are substituted into the equation (7).

このように構成すれば、推定手段としての制御手段２２が、推定処理において比Ｃ／Ｃinを算出する際に、内蔵電源２４の容量Ｃを算出しなくても、検出した充電電圧Ｖ１、Ｖ２と記憶している工場出荷時等の充電電圧Ｖ１in、Ｖ２inを上記（７）式に代入するだけで比Ｃ／Ｃinを算出することが可能となる。そのため、上記のように構成することで、比Ｃ／Ｃinの算出処理を非常に容易に行うことが可能となる。   If comprised in this way, when the control means 22 as an estimation means will calculate ratio C / Cin in an estimation process, even if it does not calculate the capacity | capacitance C of the internal power supply 24, it will detect with the detected charging voltage V1, V2. The ratio C / Cin can be calculated simply by substituting the stored charging voltages V1in and V2in at the time of shipment from the above equation (7). Therefore, with the configuration as described above, the calculation process of the ratio C / Cin can be performed very easily.

なお、放射線画像撮影装置１に対する定電流充電が開始される時点での内蔵電源２４の充電電圧Ｖ１が、既に上記の目標電圧Ｖ０に近い値である場合、上記の所定時間ΔＴthが経過する前に、充電の仕方が定電流充電から定電圧充電に切り替わってしまい、少なくとも所定時間ΔＴth経過後の充電電圧Ｖ２の情報が制御手段２２に入力されなくなる。 The charging voltage V1 of the internal power supply 24 at the time of constant current charging of the radiation image capturing apparatus 1 is started, if already a value close to the target voltage V 0 which said, before the above predetermined time ΔTth elapses In addition, the charging method is switched from constant current charging to constant voltage charging, and information on the charging voltage V 2 after at least a predetermined time ΔTth has elapsed is not input to the control means 22.

そのため、上記のように比Ｃ／Ｃinを算出して内蔵電源２４の劣化度合を推定することができなくなる。そこで、放射線画像撮影装置１に対する定電流充電開始時点での内蔵電源２４の充電電圧Ｖ１が所定の電圧値以上である場合には、上記の推定処理を行わないように構成することが可能である。   Therefore, it becomes impossible to estimate the degree of deterioration of the internal power supply 24 by calculating the ratio C / Cin as described above. Therefore, when the charging voltage V1 of the built-in power supply 24 at the time of starting the constant current charging for the radiographic imaging device 1 is equal to or higher than a predetermined voltage value, the above estimation process can be configured not to be performed. .

ところで、上記の実施形態では、電子機器としての放射線画像撮影装置１を充電装置としてのクレードル６０に挿入して充電する場合について説明したが、例えば、携帯電話を充電ホルダに装填して充電する場合のように、電子機器を充電装置に挿入したり装填したりして充電する場合にも全く同様に適用することができる。   By the way, in said embodiment, although the case where the radiographic imaging device 1 as an electronic device was inserted and charged in the cradle 60 as a charging device was demonstrated, for example, when charging with a mobile phone loaded in a charging holder As described above, the present invention can also be applied to the case where the electronic device is charged by being inserted into or loaded into the charging device.

そして、この場合、本実施形態における「放射線画像撮影装置１の施設導入後の推定処理」は、ユーザによる使用開始後の携帯電話等の電子機器に対する推定処理と読み替えることができる。従って、以下では、「施設導入後」を「使用開始後」として説明する。   In this case, the “estimation process after the facility introduction of the radiation image capturing apparatus 1” in the present embodiment can be read as an estimation process for an electronic device such as a mobile phone after the user starts use. Therefore, hereinafter, “after facility introduction” will be described as “after start of use”.

［クレードル以外の充電装置で充電する場合について］
一方、電子機器が放射線画像撮影装置１である場合には、放射線画像撮影装置１をクレードル６０に挿入して充電する場合だけでなく、例えば図８に示すように、放射線画像撮影装置１のコネクタ３９に、ケーブルＣａの先端に設けられたコネクタＣを接続した状態で、ケーブルＣａやコネクタＣ、３９を介して図示しない外部の充電装置から電力を供給して放射線画像撮影装置１を充電する場合もある。 [When charging with a charging device other than the cradle]
On the other hand, when the electronic apparatus is the radiographic image capturing apparatus 1, not only is the radiographic image capturing apparatus 1 inserted into the cradle 60 and charged, but for example, as shown in FIG. When the radiographic imaging apparatus 1 is charged by supplying power from an external charging device (not shown) via the cable Ca and the connectors C and 39 with the connector C provided at the tip of the cable Ca being connected to 39. There is also.

そして、このようにして放射線画像撮影装置１にケーブルＣａを接続した状態で内蔵電源２４の充電を行う場合にも、上記と同様にして、推定手段としての制御手段２２で推定処理を行い、比Ｃ／Ｃinを算出して内蔵電源２４の劣化度合を推定することが可能である。   Even when charging the built-in power supply 24 with the cable Ca connected to the radiographic imaging apparatus 1 in this way, the estimation process is performed by the control unit 22 as the estimation unit in the same manner as described above. It is possible to estimate the degree of deterioration of the built-in power supply 24 by calculating C / Cin.

しかし、上記のように放射線画像撮影装置１をクレードル６０に挿入して充電を行う場合には、放射線画像撮影装置１が放射線画像撮影に用いられることはないが、放射線画像撮影装置１にケーブルＣａを接続して充電を行う場合には、その状態で放射線画像撮影装置１を用いて放射線画像撮影が行われる場合がある点に注意する必要がある。   However, when charging is performed by inserting the radiographic imaging device 1 into the cradle 60 as described above, the radiographic imaging device 1 is not used for radiographic imaging, but the cable Ca is connected to the radiographic imaging device 1. It is necessary to note that radiographic imaging may be performed using the radiographic image capturing apparatus 1 in this state when charging is performed by connecting.

この場合、例えば、図８に示した状態の放射線画像撮影装置１を図示しないブッキー撮影台に装填してブッキー撮影台の前部に患者を起立させたり、或いは放射線画像撮影装置１を図８に示した状態のまま用い、放射線入射面Ｒ上に患者の脚部等の撮影部位を載置する等した状態で、図示しない放射線源から放射線画像撮影装置１に放射線を照射して放射線画像撮影が行われる。   In this case, for example, the radiographic image capturing apparatus 1 in the state shown in FIG. 8 is loaded on a Bucky radiographing table (not shown) and the patient stands on the front of the Bucky radiographing table, or the radiographic image radiographing apparatus 1 is shown in FIG. Radiation imaging is performed by irradiating the radiation imaging apparatus 1 with radiation from a radiation source (not shown) in a state where the imaging part such as a patient's leg is placed on the radiation incident surface R while being used as shown. Done.

その際、放射線画像撮影装置１に放射線が照射されて放射線画像撮影が行われ、放射線画像撮影装置１の各放射線検出素子７（図３参照）内での電荷の蓄積や画像データの読み出し処理が行われている最中にケーブルＣａを介した充電が行われると、読み出される画像データにノイズが重畳される等の問題が生じる。   At that time, radiation image capturing is performed by irradiating the radiation image capturing apparatus 1 with radiation, and charge accumulation and image data reading processing in each radiation detection element 7 (see FIG. 3) of the radiation image capturing apparatus 1 are performed. If charging through the cable Ca is performed during the process, problems such as noise being superimposed on the read image data occur.

そのため、本実施形態では、放射線画像撮影装置１にケーブルＣａを接続して充電を行っている際に、例えば図示しないコンソールから放射線画像撮影を開始する旨の指示等が送信されてきた場合には、充電制御回路８０は充電を停止するようになっている。そして、制御手段２２は、充電中に上記の推定処理を行っている最中に例えば上記の指示等が送信されてきて充電が停止された場合には、制御手段２２は推定処理を停止し、その回の推定処理を終了するようになっている。   Therefore, in the present embodiment, when charging is performed by connecting the cable Ca to the radiographic imaging apparatus 1, for example, when an instruction to start radiographic imaging is transmitted from a console (not shown), etc. The charging control circuit 80 stops charging. Then, the control means 22 stops the estimation process when, for example, the above-mentioned instruction is transmitted and the charging is stopped while the above estimation process is being performed during the charging, The estimation process at that time is terminated.

すなわち、本実施形態では、撮影時には推定処理は行われず、非撮影時（放射線画像撮影装置１がクレードル６０に挿入されている場合を含む。）にのみ、推定処理が行われるようになっている。   That is, in this embodiment, the estimation process is not performed at the time of imaging, and the estimation process is performed only at the time of non-imaging (including the case where the radiation image capturing apparatus 1 is inserted into the cradle 60). .

なお、上記のように放射線画像撮影が開始される場合、放射線画像撮影装置１では、撮影前に、走査駆動手段１５や読み出し回路１７（図３参照）等の各機能部に電力が供給される。そして、各機能部は、撮影が的確に行われるようにするための所定の動作を行い、例えば各放射線検出素子７内に残存している電荷を除去する各放射線検出素子７のリセット処理等が行われる。   When radiographic imaging is started as described above, the radiographic imaging apparatus 1 supplies power to each functional unit such as the scanning drive unit 15 and the readout circuit 17 (see FIG. 3) before imaging. . Each functional unit performs a predetermined operation to ensure that the radiographing is performed accurately. For example, a reset process of each radiation detection element 7 for removing charges remaining in each radiation detection element 7 is performed. Done.

このようにして、放射線画像撮影装置１は、放射線の照射を待つ待機状態となる。その際、この待機状態においても、上記のように実際に放射線源から放射線画像撮影装置１に放射線が照射されるまでの間、すなわち待機状態においても、放射線画像撮影装置１の内蔵電源２４に対する充電を行うように構成することも可能である。そして、この待機状態での充電の際にも、推定手段としての制御手段２２で上記の推定処理を行うように構成することも可能である。   In this way, the radiographic imaging apparatus 1 enters a standby state waiting for radiation irradiation. At this time, even in this standby state, the charging of the built-in power supply 24 of the radiographic image capturing apparatus 1 is performed until the radiation image capturing apparatus 1 is actually irradiated with radiation from the radiation source as described above, that is, even in the standby state. It is also possible to configure so that Further, it is possible to perform the above estimation processing by the control means 22 as the estimation means even when charging in this standby state.

一方、上記のように待機状態にある放射線画像撮影装置１に放射線が照射されない状態が続くと、放射線画像撮影装置１では、走査駆動手段１５等の各機能部に電力を供給する状態が続き、電力が無駄に消費されてしまう。   On the other hand, if the radiation image capturing apparatus 1 in the standby state is not irradiated with radiation as described above, the radiation image capturing apparatus 1 continues to supply power to each functional unit such as the scanning drive unit 15. Electric power is wasted.

そこで、本実施形態では、放射線画像撮影装置１は、電力の消費状態として、上記のように各機能部に電力を供給して放射線の照射を待つ待機状態と、走査駆動手段１５等には電力を供給せず、外部から信号を受信するアンテナ装置４１（図３参照）や推定手段としての制御手段２２等の必要な機能部にのみ電力を供給するスリープ状態（省電力状態等ともいう。）との間で遷移することができるように構成されている。   Therefore, in the present embodiment, the radiographic image capturing apparatus 1 uses the power consumption state as described above in the standby state in which power is supplied to each functional unit and waits for the irradiation of radiation, and the scanning drive unit 15 and the like have power. In a sleep state (also referred to as a power saving state or the like) in which power is supplied only to necessary function units such as the antenna device 41 (see FIG. 3) that receives signals from the outside and the control means 22 as estimation means. It is comprised so that it can transition between.

そして、例えば外部装置から覚醒信号（wake up信号等ともいう。）やスリープ信号が送信されると、放射線画像撮影装置１はスリープ状態から待機状態、或いは待機状態からスリープ状態に遷移するようになっている。また、待機状態が所定時間継続した場合には、放射線画像撮影装置１は自動的に待機状態からスリープ状態に遷移するように構成されている。   For example, when a wake-up signal (also referred to as a wake-up signal) or a sleep signal is transmitted from an external device, the radiographic imaging device 1 transitions from the sleep state to the standby state or from the standby state to the sleep state. ing. In addition, when the standby state continues for a predetermined time, the radiographic imaging device 1 is configured to automatically transition from the standby state to the sleep state.

そして、このスリープ状態においても、放射線画像撮影装置１の内蔵電源２４に対する充電を行うことができる。そのため、本実施形態では、推定手段としての制御手段２２は、このスリープ状態での充電の際にも上記の推定処理を行うようになっている。   Even in this sleep state, the built-in power supply 24 of the radiation image capturing apparatus 1 can be charged. Therefore, in this embodiment, the control means 22 as an estimation means performs the above estimation process even when charging in the sleep state.

このように、電子機器には、電力消費状態を、放射線画像撮影装置１における待機状態のように、その電子機器が機能している状態或いはユーザの要求等に基づいて即座に機能し得る状態としての覚醒（wake up）状態と、放射線画像撮影装置１におけるスリープ状態のように、内蔵電源２４から必要な機能部にのみ電力を供給して他の機能部には電力を供給しないスリープ（sleep）状態との間で遷移させることが可能となるように構成されているものがある。   As described above, the power consumption state of the electronic device is set as a state in which the electronic device is functioning, or a state in which the electronic device can function immediately based on a user request, such as a standby state in the radiation imaging apparatus 1. As in the wake-up state and the sleep state in the radiographic imaging apparatus 1, sleep is performed in which power is supplied only from the built-in power supply 24 to necessary function units and power is not supplied to other function units. Some are configured to be able to transition between states.

そして、そのような電子機器が、覚醒状態に遷移している場合も、スリープ状態に遷移している場合も、いずれの場合でも内蔵電源２４に対する充電を行うことができるように構成されている場合には、推定手段（例えば放射線画像撮影装置１の制御手段２２）は、覚醒状態およびスリープ状態のいずれの状態においても、充電の際に上記の推定処理を行うことができる。   When such an electronic device is configured to be able to charge the built-in power supply 24 in any case, whether it is in the awake state or the sleep state. In other words, the estimation means (for example, the control means 22 of the radiographic image capturing apparatus 1) can perform the above-described estimation process during charging in both the awake state and the sleep state.

［各充電装置や各状態ごとの比Ｃ／Ｃinの用い方について］
その際、上記のように、覚醒状態とスリープ状態とでは、通常、各機能部に供給される電流（電力）の値が比較的大きく変わる。そして、その場合、図６に示したように、定電流充電中に充電制御回路８０から出力される充電電流設定値Ｉｃsetの電流のうち、電源生成回路２５を介して各機能部に供給される電流、すなわち前述した放電電流Ｉｄの値が変わる。 [How to use the ratio C / Cin for each charging device and each state]
At that time, as described above, the value of the current (electric power) supplied to each functional unit normally changes relatively greatly between the awake state and the sleep state. In this case, as shown in FIG. 6, the current of the charging current setting value Icset output from the charging control circuit 80 during constant current charging is supplied to each functional unit via the power generation circuit 25. The current, that is, the value of the discharge current Id described above changes.

なお、以下、覚醒状態とスリープ状態の例として、本実施形態の放射線画像撮影装置１における待機状態およびスリープ状態について説明する。   Hereinafter, as an example of the awake state and the sleep state, a standby state and a sleep state in the radiographic image capturing apparatus 1 of the present embodiment will be described.

また、放射線画像撮影装置１がクレードル６０に挿入されて定電流充電が行われる場合と、放射線画像撮影装置１がケーブルＣａに接続された状態で定電流充電が行われる場合との間でも、放電電流Ｉｄの値が変わり得る。   In addition, discharging is performed between the case where the radiographic imaging device 1 is inserted into the cradle 60 and constant current charging is performed, and the case where constant current charging is performed while the radiographic imaging device 1 is connected to the cable Ca. The value of the current Id can change.

その際、放射線画像撮影装置１がいずれの状態で充電されていても、内蔵電源２４の劣化度合が同じであれば、同じ値が算出されるはずである。   At that time, the same value should be calculated if the deterioration level of the built-in power supply 24 is the same regardless of the state in which the radiation imaging apparatus 1 is charged.

しかし、発明者らの研究によれば、実際には、上記（４）式に基づいて算出される容量Ｃや上記（６）式に基づいて算出される比Ｃ／Ｃinの値は、内蔵電源２４の充電の仕方に依存して多少変わる場合があることが分かっている。このような現象が生じる原因としては、例えば以下のような原因が考えられている。   However, according to the researches of the inventors, the value of the capacity C calculated based on the above equation (4) and the ratio C / Cin calculated based on the above equation (6) It has been found that it may vary somewhat depending on the 24 charging methods. As causes for such a phenomenon, for example, the following causes are considered.

すなわち、充電制御回路８０から内蔵電源２４に電流Ｉｃ（＝Ｉｃset−Ｉｄ。上記（１）式参照）が供給されると、内蔵電源２４内部で内部抵抗による電圧降下が発生する。そのため、内蔵電源２４の実際の充電電圧は、制御手段２２が検出する充電電圧Ｖから上記の電圧降下分だけ小さい値になる。そして、上記のように充電の仕方が変わると、放電電流Ｉｄの値が変わり、電流Ｉｃの値が変わる。そのため、内部抵抗による電圧降下の値が変わり、内蔵電源２４の実際の充電電圧の値が変わる。   That is, when the current Ic (= Icset−Id; see the above formula (1)) is supplied from the charge control circuit 80 to the built-in power supply 24, a voltage drop due to the internal resistance occurs inside the built-in power supply 24. Therefore, the actual charging voltage of the built-in power supply 24 is a value that is smaller than the charging voltage V detected by the control means 22 by the voltage drop. When the charging method changes as described above, the value of the discharge current Id changes, and the value of the current Ic changes. Therefore, the value of the voltage drop due to the internal resistance changes, and the actual charging voltage value of the built-in power supply 24 changes.

一方で、制御手段２２では、上記の各式から分かるように、充電制御回路８０から内蔵電源２４に供給される電流Ｉｃについては、充電電流設定値Ｉｃsetから放電電流Ｉｄを減算することで、充電の仕方の変化による放電電流Ｉｄの変化分が考慮されているが、充電の仕方の変化による電流Ｉｃの変化に起因する内蔵電源２４内部での電圧降下分については考慮されていない。   On the other hand, as can be seen from the above equations, the control means 22 charges the current Ic supplied from the charge control circuit 80 to the built-in power supply 24 by subtracting the discharge current Id from the charge current set value Icset. The change in the discharge current Id due to the change in the charging method is taken into consideration, but the voltage drop in the built-in power supply 24 due to the change in the current Ic due to the change in the charging method is not taken into consideration.

そのため、上記の各式に従って算出される容量Ｃや比Ｃ／Ｃinの値が、内蔵電源２４の充電の仕方に依存して変わる場合があると考えられている。   For this reason, it is considered that the values of the capacity C and the ratio C / Cin calculated according to the above equations may vary depending on how the built-in power supply 24 is charged.

このような現象が生じることを回避するためには、内蔵電源２４の容量Ｃや比Ｃ／Ｃinの算出において、内蔵電源２４の内部抵抗による電圧降下分を加味するような演算式に基づいて算出を行うように構成することも可能である。   In order to avoid such a phenomenon, the calculation is based on an arithmetic expression that takes into account the voltage drop due to the internal resistance of the built-in power supply 24 in the calculation of the capacity C and ratio C / Cin of the built-in power supply 24. It is also possible to configure so that

しかし、前述したように、内蔵電源２４の劣化の形態としては、本発明で扱う内蔵電源２４の容量Ｃの減少だけでなく、内蔵電源２４の内部抵抗が増大していく場合もある。そして、内蔵電源２４の内部抵抗の変化を検出するためには、そのための手段や回路、機構等を新たに設けなければならなくなる虞れがある。   However, as described above, as a form of deterioration of the built-in power supply 24, not only the capacity C of the built-in power supply 24 handled in the present invention is decreased, but the internal resistance of the built-in power supply 24 may increase. In order to detect a change in the internal resistance of the built-in power supply 24, there is a possibility that a means, a circuit, a mechanism, or the like for that purpose must be newly provided.

そこで、例えば内蔵電源２４の内部抵抗の値を仮に設定しておき、その仮の値に基づいて内蔵電源２４の内部抵抗による電圧降下分を推定し、それを加味して、上記の比Ｃ／Ｃinすなわち内蔵電源２４の劣化度合を推定するように構成することが可能である。   Therefore, for example, the value of the internal resistance of the built-in power supply 24 is temporarily set, the voltage drop due to the internal resistance of the built-in power supply 24 is estimated based on the temporary value, and is added to the above ratio C / Cin, that is, the degree of deterioration of the built-in power supply 24 can be estimated.

また、上記のように内蔵電源２４の内部抵抗による電圧降下分を推定せずに、異なる複数種類の充電装置（すなわち例えばクレードル６０やケーブルＣａを介して接続される外部の充電装置）ごとや、電子機器の電力消費状態における各状態（覚醒状態やスリープ状態。本実施形態では放射線画像撮影装置１における待機状態やスリープ状態）ごとに、上記の比Ｃ／Ｃinを算出するように構成することも可能である。   Further, without estimating the voltage drop due to the internal resistance of the built-in power supply 24 as described above, for each of a plurality of different types of charging devices (that is, external charging devices connected via, for example, the cradle 60 or the cable Ca), The above-mentioned ratio C / Cin may be calculated for each state (awake state or sleep state in the power consumption state of the electronic device. In this embodiment, the standby state or sleep state in the radiographic imaging device 1). Is possible.

この場合、例えば、各充電装置や各状態ごとに算出した各比Ｃ／Ｃinの最低値やそれらの平均値等を、内蔵電源２４の劣化度合を推定するように構成することが可能である。   In this case, for example, the minimum value of each ratio C / Cin calculated for each charging device or each state, the average value thereof, or the like can be configured to estimate the degree of deterioration of the built-in power supply 24.

一方、本実施形態のように、内蔵電源２４としてリチウムイオンキャパシタを用いるように構成すると、リチウムイオンキャパシタの内部抵抗は数ｍΩと非常に小さいため、内蔵電源２４の内部抵抗による電圧降下分の影響がほとんど現れなくなるといったメリットがある。   On the other hand, when a lithium ion capacitor is used as the built-in power supply 24 as in the present embodiment, the internal resistance of the lithium ion capacitor is very small, such as several mΩ, and therefore the influence of the voltage drop due to the internal resistance of the built-in power supply 24 is small. There is a merit that almost disappears.

そのため、推定処理において、各充電装置や各状態ごとに上記の比Ｃ／Ｃinを算出すると、算出した比Ｃ／Ｃinがほとんど同じ値になる。そのため、各充電装置や各状態ごとに算出された比Ｃ／Ｃinを区別せずに内蔵電源２４の劣化度合を表す値として用いることが可能となる。   Therefore, when the ratio C / Cin is calculated for each charging device and each state in the estimation process, the calculated ratio C / Cin becomes almost the same value. Therefore, the ratio C / Cin calculated for each charging device and each state can be used as a value representing the degree of deterioration of the built-in power supply 24 without distinction.

［比Ｃ／Ｃinに重畳されるノイズに対する対応法について］
ところで、上記のように、本実施形態では電子機器（放射線画像撮影装置１）を充電しながら推定処理を行うため、定電流充電の開始時点に読み取られる充電電圧Ｖ１や所定時間ΔＴthの経過時点に読み取られる充電電圧Ｖ２等には、充電装置（クレードル６０や外部の充電装置）や充電制御回路８０等で発生したノイズが重畳される。 [How to deal with noise superimposed on ratio C / Cin]
By the way, as described above, in this embodiment, since the estimation process is performed while charging the electronic device (the radiographic image capturing apparatus 1), the charging voltage V1 read at the start of constant current charging or the elapse of a predetermined time ΔTth. Noise generated by the charging device (cradle 60 or external charging device), the charging control circuit 80, or the like is superimposed on the read charging voltage V2 or the like.

そのため、それらの値に基づいて算出される比Ｃ／Ｃinにもノイズが重畳される。なお、そのため、上記のように内蔵電源２４の内部抵抗による電圧降下分の影響が現れる場合であっても、その電圧降下分による比Ｃ／Ｃinの差よりもノイズの方が大きくなる場合がある。少なくとも本実施形態のように放射線画像撮影装置１の内蔵電源２４としてリチウムイオンキャパシタを用いる場合には、各充電装置や各状態ごとのリチウムイオンキャパシタの内部抵抗による電圧降下分の差は、充電装置や充電制御回路８０等で発生したノイズにいわば埋もれてしまう。   Therefore, noise is also superimposed on the ratio C / Cin calculated based on these values. For this reason, even when the influence of the voltage drop due to the internal resistance of the built-in power supply 24 appears as described above, the noise may be larger than the difference in the ratio C / Cin due to the voltage drop. . When a lithium ion capacitor is used as the built-in power supply 24 of the radiographic imaging apparatus 1 at least as in the present embodiment, the difference in voltage drop due to the internal resistance of each charging device and each state of the lithium ion capacitor is different from the charging device. In other words, the noise generated in the charging control circuit 80 or the like is buried.

このように、算出される比Ｃ／Ｃinにもノイズが重畳されると、比Ｃ／Ｃinの経時的な低下傾向、すなわち内蔵電源２４の劣化度合が経時的に低下していく傾向を正確に読み取ることができなくなる可能性がある。   As described above, when noise is also superimposed on the calculated ratio C / Cin, the tendency of the ratio C / Cin to decrease with time, that is, the tendency of the deterioration degree of the built-in power supply 24 to decrease with time is accurately determined. It may become impossible to read.

そこで、推定手段としての制御手段２２は、例えば、推定処理を行って算出した現在の比Ｃ／Ｃinを含む過去の所定回数分（例えば１０回分）の比Ｃ／Ｃinをメモリに保存しておき、それらの移動平均を算出して内蔵電源２４の劣化度合を推定するように構成することが可能である。   Therefore, for example, the control unit 22 as the estimation unit stores, in a memory, the ratio C / Cin for the past predetermined number of times (for example, 10 times) including the current ratio C / Cin calculated by performing the estimation process. The moving average can be calculated to estimate the degree of deterioration of the built-in power supply 24.

具体的には、制御手段２２は、過去の例えば１０回分の推定処理で算出した比Ｃ／Ｃinをそれぞれメモリに保存しておく。すなわち、この場合、メモリに、１０個のＣ／Ｃinが保存されている状態とする。そして、推定処理を行って比Ｃ／Ｃinを算出するごとに、算出した比Ｃ／Ｃinをメモリに保存するとともに、最も古い比Ｃ／Ｃinをメモリから削除する。   Specifically, the control unit 22 stores the ratio C / Cin calculated in the past, for example, 10 estimation processes in the memory. That is, in this case, 10 C / Cin are stored in the memory. Each time the ratio C / Cin is calculated by performing the estimation process, the calculated ratio C / Cin is stored in the memory and the oldest ratio C / Cin is deleted from the memory.

そして、メモリ中に保存されている１０個の比Ｃ／Ｃinの平均値（すなわち移動平均）を算出する。このようにして移動平均を算出するように構成することが可能である。なお、その際、例えば１０個の比Ｃ／Ｃinを単純に平均化する代わりに、例えば、今回算出した比Ｃ／Ｃinの重みが大きくなるように重み付け平均を行うように構成することも可能である。   Then, an average value (that is, moving average) of the ten ratios C / Cin stored in the memory is calculated. In this way, the moving average can be calculated. In this case, for example, instead of simply averaging the ten ratios C / Cin, for example, it is possible to perform weighted averaging so that the weight of the ratio C / Cin calculated this time is increased. is there.

このように、過去の所定回数分の比Ｃ／Ｃinの移動平均を内蔵電源２４の劣化度合として算出することで、推定処理を行うごとに比Ｃ／Ｃinに重畳されるノイズによる比Ｃ／Ｃinのばらつきを平滑化することが可能となる。そして、比Ｃ／Ｃinのばらつきが平滑化されることにより、比Ｃ／Ｃinの経時的な低下傾向、すなわち内蔵電源２４の劣化度合が経時的に低下していく傾向を正確に把握することが可能となる。   Thus, by calculating the moving average of the ratio C / Cin for the past predetermined number of times as the deterioration degree of the built-in power supply 24, the ratio C / Cin due to noise superimposed on the ratio C / Cin every time the estimation process is performed. It is possible to smooth the variation. Then, by smoothing the variation in the ratio C / Cin, it is possible to accurately grasp the tendency of the ratio C / Cin to decrease over time, that is, the tendency of the deterioration degree of the built-in power supply 24 to decrease over time. It becomes possible.

そして、内蔵電源２４の劣化度合の経時的な低下傾向を正確に把握して、内蔵電源２４の劣化度合すなわち比Ｃ／Ｃinの移動平均が閾値以下になったか否かを判定する。   Then, the deterioration tendency of the built-in power supply 24 over time is accurately grasped, and it is determined whether or not the deterioration degree of the built-in power supply 24, that is, the moving average of the ratio C / Cin is equal to or less than the threshold value.

このように構成することで、内蔵電源２４の劣化があまり進んでいないにもかかわらず、算出された比Ｃ／Ｃinにノイズが重畳されていてたまたま閾値以下になったためにユーザに内蔵電源２４を交換すべきことが警告される等の事態が生じることを防止することが可能となる。   With this configuration, although the deterioration of the built-in power supply 24 has not progressed much, noise has been superimposed on the calculated ratio C / Cin, and it has become less than the threshold value. It is possible to prevent the occurrence of a situation such as a warning that it should be replaced.

そして、ノイズの影響が確実に低減された比Ｃ／Ｃinの移動平均に基づいて、内蔵電源２４が劣化しているか否かを的確に判定して、内蔵電源２４が確実に劣化した状態になった場合に、ユーザに内蔵電源２４を交換すべきこと等を知らせることが可能となる。   Then, based on the moving average of the ratio C / Cin in which the influence of noise is reliably reduced, it is accurately determined whether or not the built-in power supply 24 is deteriorated, and the built-in power supply 24 is in a state in which it is reliably deteriorated. In this case, the user can be notified that the built-in power supply 24 should be replaced.

以上のように、本実施形態に係る充電システム１００や電子機器（放射線画像撮影装置１）によれば、推定手段（制御手段２２）は、充電制御回路８０が定電流充電を行う際に、所定時間ΔＴthが経過した時点での充電電圧Ｖの上昇分Ｖ２−Ｖ１に基づいて内蔵電源２４の容量Ｃを算出し、算出した容量Ｃの、内蔵電源２４が劣化していない状態での容量Ｃinに対する比Ｃ／Ｃinを算出して内蔵電源２４の劣化度合を推定する。   As described above, according to the charging system 100 and the electronic apparatus (radiation image capturing apparatus 1) according to the present embodiment, the estimation unit (control unit 22) is predetermined when the charge control circuit 80 performs constant current charging. The capacity C of the built-in power supply 24 is calculated based on the increase V2-V1 of the charging voltage V at the time when the time ΔTth has elapsed, and the calculated capacity C with respect to the capacity Cin when the built-in power supply 24 is not deteriorated. The ratio C / Cin is calculated to estimate the degree of deterioration of the built-in power supply 24.

そのため、電子機器（放射線画像撮影装置１）の内蔵電源２４の劣化度合を的確に推定することが可能となる。そして、電子機器のユーザが内蔵電源２４の劣化度合を任意のタイミングで認知することが可能となるとともに、内蔵電源２４の劣化が進んだ場合には、電子機器側からユーザに内蔵電源２４の交換を的確に知らせること等が可能となる。   Therefore, it is possible to accurately estimate the degree of deterioration of the built-in power supply 24 of the electronic device (radiation image capturing apparatus 1). The user of the electronic device can recognize the degree of deterioration of the internal power supply 24 at an arbitrary timing, and when the deterioration of the internal power supply 24 progresses, the electronic device replaces the internal power supply 24 with the user. Can be accurately notified.

［第２の実施の形態］
上記の第１の実施形態では、上記（６）式に示されるように、推定処理で比Ｃ／Ｃinを算出する際に、除算を複数回（上記（６）式の場合には３回）行うことが必要となる。しかし、よく知られているように、加算や減算、乗算の処理に比べて、除算を行う処理には時間がかかる。そのため、上記のように除算を複数回行うと、比Ｃ／Ｃinの算出処理に要する時間が長くなるという問題がある。 [Second Embodiment]
In the first embodiment, as shown in the above equation (6), when the ratio C / Cin is calculated by the estimation process, the division is performed a plurality of times (three times in the case of the above equation (6)). It is necessary to do. However, as is well known, division processing takes time compared to addition, subtraction, and multiplication processing. Therefore, if the division is performed a plurality of times as described above, there is a problem that the time required for calculating the ratio C / Cin becomes long.

そこで、第１の実施形態では、例えば、電子機器である放射線画像撮影装置１の使用開始後（施設導入後）の充電の際に行われる通常の推定処理において、定電流充電が開始された後の所定時間ΔＴthを、工場出荷時等の内蔵電源２４が劣化していない状態での容量Ｃinを取得する際の所定時間ΔＴthと同じ時間になるようにして推定処理を行う場合を例示した。   Thus, in the first embodiment, for example, after constant current charging is started in a normal estimation process that is performed at the time of charging after the start of use of the radiographic imaging device 1 that is an electronic device (after facility introduction). The case where the estimation process is performed so that the predetermined time ΔTth is equal to the predetermined time ΔTth when acquiring the capacity Cin when the built-in power supply 24 is not deteriorated at the time of factory shipment or the like is illustrated.

このように構成すると、上記（６）式において分母と分子のΔＴthが同一となるため、前述した他の条件を満たすように構成することで、上記（７）式に示したように推定処理における比Ｃ／Ｃinの算出処理において除算の演算を１回だけ行えばよくなる。そのため、比Ｃ／Ｃinの算出処理に要する時間を短縮することが可能となる。   With this configuration, since ΔTth of the denominator and the numerator is the same in the above equation (6), by configuring so as to satisfy the other conditions described above, as shown in the above equation (7), in the estimation process In the calculation process of the ratio C / Cin, the division operation needs to be performed only once. Therefore, it is possible to shorten the time required for the calculation process of the ratio C / Cin.

しかし、推定処理を以下のようにして行うように構成すれば、比Ｃ／Ｃinの算出処理や推定処理をさらに短い時間で行うことが可能となる。第２の実施形態では、このように構成された推定処理について説明する。   However, if the estimation process is performed as follows, the ratio C / Cin calculation process and the estimation process can be performed in a shorter time. In the second embodiment, the estimation process configured as described above will be described.

なお、推定処理の仕方以外の構成や機能等については、第１の実施形態と同様であり、説明を省略する。また、本実施形態では、工場出荷時等の内蔵電源２４が劣化していない状態での容量Ｃinを取得する際の所定時間ΔＴthを、ΔＴth_inと表す。また、この場合、上記（５）式は、
Ｃin＝（Ｉｃset_in−Ｉｄin）×ΔＴth_in／（Ｖ２in−Ｖ１in） …（８）
と表される。 Note that configurations, functions, and the like other than the estimation processing method are the same as those in the first embodiment, and a description thereof will be omitted. In the present embodiment, a predetermined time ΔTth when acquiring the capacity Cin in a state where the built-in power supply 24 is not deteriorated at the time of factory shipment or the like is represented as ΔTth_in. In this case, the above equation (5) is
Cin = (Icset_in−Idin) × ΔTth_in / (V2in−V1in) (8)
It is expressed.

本実施形態では、推定処理を行う際に、工場出荷時等の推定処理と、使用開始後の通常の推定処理とで、上記のように所定時間ΔＴthを同一とする代わりに、定電流充電が開始されてから所定時間ΔＴth、ΔＴth_inが経過した後の内蔵電源２４の充電電圧Ｖの上昇分ΔＶ＝Ｖ２−Ｖ１が同一になるようにして推定処理を行うようになっている。   In this embodiment, when performing the estimation process, instead of making the predetermined time ΔTth the same in the estimation process at the time of factory shipment and the normal estimation process after the start of use, as described above, constant current charging is performed. The estimation process is performed so that the increase ΔV = V2−V1 of the charging voltage V of the built-in power supply 24 after a predetermined time ΔTth, ΔTth_in has elapsed since the start.

すなわち、上記（６）式において、
Ｖ２−Ｖ１＝Ｖ２in−Ｖ１in …（９）
となるようにして推定処理を行う。そして、この場合も、少なくとも同じ充電装置を用いて同じ状態で充電を行った場合、Ｉｃset_in＝ＩｃsetおよびＩｄin＝Ｉｄが成り立つ。 That is, in the above equation (6),
V2-V1 = V2in-V1in (9)
The estimation process is performed as follows. Also in this case, when charging is performed in the same state using at least the same charging device, Icset_in = Icset and Idin = Id are satisfied.

そのため、この場合、比Ｃ／Ｃinは、上記（４）式と（８）式とに基づいて、
Ｃ／Ｃin＝（Ｉｃset−Ｉｄ）×ΔＴth／（Ｖ２−Ｖ１）
／｛（Ｉｃset_in−Ｉｄin）×ΔＴth_in／（Ｖ２in−Ｖ１in）｝
∴Ｃ／Ｃin＝ΔＴth／ΔＴth_in …（１０）
となる。 Therefore, in this case, the ratio C / Cin is based on the above equations (4) and (8),
C / Cin = (Icset−Id) × ΔTth / (V2−V1)
/ {(Icset_in−Idin) × ΔTth_in / (V2in−V1in)}
∴C / Cin = ΔTth / ΔTth_in (10)
It becomes.

このように、上記のように定電流充電時の充電電圧Ｖの上昇分ΔＶ＝Ｖ２−Ｖ１が、工場出荷時等の推定処理における上昇分ΔＶin＝Ｖ２in−Ｖ１inと同じになるようにして推定処理を行うように構成すると、比Ｃ／Ｃinを、上記の上昇分まで充電電圧Ｖが上昇するために要する上記の所定時間ΔＴthとΔＴth_inとの比として算出することが可能となる。   As described above, the estimation process is performed such that the increase ΔV = V2−V1 of the charging voltage V during constant current charging is the same as the increase ΔVin = V2in−V1in in the estimation process at the time of factory shipment or the like. If the configuration is performed, the ratio C / Cin can be calculated as the ratio of the predetermined time ΔTth and ΔTth_in required for the charging voltage V to increase up to the increase.

そのため、比Ｃ／Ｃinの算出処理が非常に容易になるとともに、除算の演算を１回だけ行えばよくなるため、比Ｃ／Ｃinの算出処理に要する時間を短縮することが可能となる。   Therefore, the calculation process of the ratio C / Cin becomes very easy and the division operation needs to be performed only once, so that the time required for the calculation process of the ratio C / Cin can be shortened.

この場合の推定処理における具体的な構成としては、推定手段（放射線画像撮影装置１の制御手段２２）は、図９（Ａ）に示すように、工場出荷時等に行われた推定処理における充電電圧Ｖの上昇分ΔＶin＝Ｖ２in−Ｖ１inの値と所定時間ΔＴth_inとを不揮発性のメモリに記憶したり、プログラム中に書き込んだりしておく。   As a specific configuration in the estimation process in this case, the estimation unit (the control unit 22 of the radiographic image capturing apparatus 1) is charged in the estimation process performed at the time of factory shipment, as shown in FIG. 9A. The amount of increase in voltage V ΔVin = V2in−V1in and a predetermined time ΔTth_in are stored in a non-volatile memory or written in a program.

そして、電子機器（放射線画像撮影装置１）の使用開始後の推定処理においては、推定手段は、まず、工場出荷時等に行われた推定処理における充電電圧Ｖの上昇分ΔＶin＝Ｖ２in−Ｖ１inの値を読み出す。そして、定電流充電が開始された時点で、内蔵電源２４の充電電圧Ｖを読み取って充電電圧Ｖ１として記憶し、経過時間ΔＴのカウントをリセットして経過時間ΔＴのカウントを開始する。   In the estimation process after the start of use of the electronic device (radiation image capturing apparatus 1), the estimation unit firstly increases the increase ΔVin = V2in−V1in of the charging voltage V in the estimation process performed at the time of factory shipment or the like. Read the value. When the constant current charging is started, the charging voltage V of the built-in power supply 24 is read and stored as the charging voltage V1, the counting of the elapsed time ΔT is reset, and the counting of the elapsed time ΔT is started.

なお、本実施形態では、推定手段は、所定時間（例えば１クロック）が経過するごとに２進数で表されるカウント数をメモリ上でインクリメントしていくことで、経過時間ΔＴをカウント数として読み取るように構成されている。   In the present embodiment, the estimation unit reads the elapsed time ΔT as the count number by incrementing the count number represented by a binary number every time a predetermined time (for example, one clock) elapses. It is configured as follows.

そして、図９（Ｂ）に示すように、充電電圧Ｖの上昇分ΔＶ＝Ｖ２−Ｖ１が上記の上昇分ΔＶin＝Ｖ２in−Ｖ１inになった時点で、経過時間ΔＴすなわち使用開始後の所定時間ΔＴthに相当するカウント数を読み取る。そして、上記（１０）式に従って比Ｃ／Ｃinを算出するように構成される。   Then, as shown in FIG. 9B, when the increase ΔV = V2−V1 of the charging voltage V becomes the above increase ΔVin = V2in−V1in, the elapsed time ΔT, that is, the predetermined time ΔTth after the start of use. Read the count corresponding to. And it is comprised so that ratio C / Cin may be calculated according to said (10) Formula.

また、本実施形態では、さらに、上記のように工場出荷時等に内蔵電源２４が劣化していない状態で推定処理を行う際に、所定時間Δｔth_inに相当するカウント数が２ｎ（ｎは自然数）となるようにして推定処理を行うようになっている。このように構成することで、比Ｃ／Ｃinの算出処理に要する時間をさらに短縮することが可能となる。 Further, in the present embodiment, when the estimation process is performed in a state where the built-in power supply 24 is not deteriorated at the time of factory shipment or the like as described above, the count number corresponding to the predetermined time Δtth_in is 2 n (n is a natural number). ) So that the estimation process is performed. With this configuration, it is possible to further reduce the time required for the calculation process of the ratio C / Cin.

このように構成すると、上記の（１０）式におけるΔＴthのΔＴth_in（すなわち２ｎ）による除算処理を、レジスタ上でΔＴthに相当するカウント数を右にｎビットシフトすることによって行うことが可能となる。具体的には、推定手段は、上記のように使用開始後の推定処理で所定時間ΔＴthに相当するカウント数を読み取ると、そのカウント数をレジスタに入力し、そのカウント数をレジスタ上で右にｎビットシフトさせて、比Ｃ／Ｃinを算出する。 With this configuration, the division processing of ΔTth by ΔTth_in (ie, 2 n ) in the above equation (10) can be performed by shifting the count corresponding to ΔTth to the right by n bits on the register. . Specifically, when the estimation unit reads the count number corresponding to the predetermined time ΔTth in the estimation process after the start of use as described above, the estimation unit inputs the count number to the register, and the count number is shifted to the right on the register. The ratio C / Cin is calculated by shifting n bits.

そのため、上記（１０）式に基づいて実際に除算演算を行わなくてもよく、レジスタ上で所定時間ΔＴthに相当するカウント数を右にｎビットシフトさせるだけで上記（１０）式の演算を行ったことになる。そのため、実際に除算演算を行う必要がなくなり、比Ｃ／Ｃinの算出処理に要する時間をさらに短縮することが可能となる。   Therefore, it is not necessary to actually perform the division operation based on the above equation (10), and the operation of the above equation (10) is performed only by shifting the count corresponding to the predetermined time ΔTth to the right by n bits on the register. That's right. Therefore, it is not necessary to actually perform a division operation, and the time required for calculating the ratio C / Cin can be further shortened.

なお、例えば、比Ｃ／Ｃinを百分率（単位は％）の形で算出するように構成する場合には、推定手段は、まず、使用開始後の推定処理で読み取った所定時間ΔＴthに相当するカウント数を１００倍してレジスタに入力する。そして、レジスタ上で、１００倍したカウント数を右にｎビットシフトするように構成される。このように構成すれば、レジスタ上で右にｎビットシフトさせるだけで、比Ｃ／Ｃinを百分率の形で非常に短時間に算出することが可能となる。   For example, when the ratio C / Cin is configured to be calculated in the form of percentage (unit:%), the estimation means first counts corresponding to the predetermined time ΔTth read in the estimation process after the start of use. The number is multiplied by 100 and input to the register. On the register, the count number multiplied by 100 is shifted to the right by n bits. With this configuration, the ratio C / Cin can be calculated in a very short time by simply shifting n bits to the right on the register.

また、上記のように所定時間ΔＴthに相当するカウント数やそれを１００倍した数をレジスタ上で右にｎビットシフトさせる代わりに、小数点の位置を左にｎビットシフトさせるように構成することも可能である。   In addition, instead of shifting the count corresponding to the predetermined time ΔTth or a number obtained by multiplying it by 100 n bits to the right on the register as described above, the position of the decimal point may be shifted n bits to the left. Is possible.

以上のように、本実施形態に係る充電システム１００や電子機器（放射線画像撮影装置１）によれば、第１の実施形態の場合と同様の優れた効果を発揮することが可能となるとともに、比Ｃ／Ｃinの算出処理や内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を、非常に短時間で行うことが可能となる。   As described above, according to the charging system 100 and the electronic apparatus (radiation image capturing apparatus 1) according to the present embodiment, it is possible to exhibit the same excellent effects as those in the first embodiment, The calculation process of the ratio C / Cin and the estimation process of the deterioration degree of the built-in power supply 24 can be performed in a very short time.

なお、本実施形態においても、第１の実施形態の場合と同様に、過去の所定回数分の比Ｃ／Ｃinから算出した移動平均に基づいて内蔵電源の劣化度合を推定するように構成する等の種々の変形（改良）が可能である。   In the present embodiment, as in the case of the first embodiment, the deterioration degree of the built-in power supply is estimated based on the moving average calculated from the ratio C / Cin for a predetermined number of times in the past. Various modifications (improvements) are possible.

［第３の実施の形態］
ところで、電子機器（放射線画像撮影装置１）の内蔵電源２４に対する定電流充電を行う際に、内蔵電源２４が故障しているか否かを調べるために、例えば図１０（Ａ）に示すように、充電制御回路８０から内蔵電源２４に対して低い値の定電流Ｉ１を流して定電流充電を行いながら、その間にパルス状に高い値の定電流Ｉ２を数回供給して内蔵電源２４の故障検知処理を行うように構成されている場合がある。 [Third Embodiment]
By the way, in order to investigate whether or not the built-in power supply 24 is out of order when performing constant current charging for the built-in power supply 24 of the electronic apparatus (radiation imaging apparatus 1), for example, as shown in FIG. Detecting a failure of the internal power supply 24 by supplying a constant current I2 having a low value to the built-in power supply 24 from the charge control circuit 80 and performing constant current charging while supplying a constant current I2 having a high value several times in a pulsed manner. It may be configured to perform processing.

このように構成されている場合、この故障検知処理の際に内蔵電源２４に対して供給されるパルス状の定電流を利用して推定処理を行い、比Ｃ／Ｃinを算出して内蔵電源２４の劣化度合を推定するように構成することが可能である。   In the case of such a configuration, estimation processing is performed using a pulsed constant current supplied to the built-in power supply 24 during the failure detection process, the ratio C / Cin is calculated, and the built-in power supply 24 is calculated. It is possible to configure so as to estimate the degree of deterioration.

この場合、図１０（Ａ）に示したように高い値の定電流をパルス状に供給すると、内蔵電源２４の充電電圧Ｖは、図１０（Ｂ）に示すように上昇していく。   In this case, when a constant current having a high value is supplied in a pulse form as shown in FIG. 10A, the charging voltage V of the built-in power supply 24 increases as shown in FIG.

そして、内蔵電源２４に供給される電流が低い電流Ｉ１から高い電流Ｉ２に切り替わる瞬間の充電電圧ＶをＶｎ−１とし、その時点で内蔵電源２４に蓄えられている電荷量をＱｎ−１、内蔵電源２４の内部抵抗をｒ、容量をＣとすると、それらと電流Ｉ１との間には、
Ｖｎ−１＝Ｑｎ−１／Ｃ＋ｒ×Ｉ１ …（１１）
の関係が成り立っている。 The charging voltage V at the moment when the current supplied to the built-in power supply 24 is switched from the low current I1 to the high current I2 is V n−1, and the charge amount stored in the built-in power supply 24 at that time is Q n−1. When the internal resistance of the built-in power supply 24 is r and the capacitance is C, the current I1 is
Vn -1 = Qn -1 / C + r * I1 (11)
The relationship is established.

また、内蔵電源２４に供給される電流が低い電流Ｉ１から高い電流Ｉ２に切り替えられた後、所定時間Δｔが経過した時点での充電電圧ＶをＶｎとし、その時点で内蔵電源２４に蓄えられている電荷量をＱｎとすると、
Ｑｎ＝Ｑｎ−１＋Ｉ２×Δｔ …（１２）
Ｖｎ＝Ｑｎ／Ｃ＋ｒ×Ｉ２ …（１３）
の関係が成り立つ。 Further, after the current supplied to the internal power supply 24 is switched to the high current I2 from low current I1, the charging voltage V at the time when the predetermined time Δt has elapsed and V n, stored in the internal power supply 24 at the time electrical charge amount and the Q n,
Q n = Q n-1 + I2 × Δt (12)
V n = Q n / C + r × I 2 (13)
The relationship holds.

そこで、所定時間Δｔ間の充電電圧Ｖの上昇分ΔＶを計算すると、上記の（１１）式から（１３）式を用いて、
ΔＶ＝Ｖｎ−Ｖｎ−１
＝（Ｑｎ／Ｃ＋ｒ×Ｉ２）−（Ｑｎ−１／Ｃ＋ｒ×Ｉ１）
＝（Ｑｎ−Ｑｎ−１）／Ｃ＋ｒ×（Ｉ２−Ｉ１）
＝（Ｑｎ−１＋Ｉ２×Δｔ−Ｑｎ−１）／Ｃ＋ｒ×（Ｉ２−Ｉ１）
∴ΔＶ＝Ｉ２×Δｔ／Ｃ＋ｒ×（Ｉ２−Ｉ１） …（１４）
が成り立つ。 Therefore, when the increase ΔV of the charging voltage V during the predetermined time Δt is calculated, using the above equations (11) to (13),
ΔV = V n −V n−1
= (Q n / C + r × I2) - (Q n-1 / C + r × I1)
= (Q n -Q n-1 ) / C + r × (I2-I1)
= (Qn -1 + I2 * [Delta] t-Qn -1 ) / C + r * (I2-I1)
ΔV = I2 × Δt / C + r × (I2−I1) (14)
Holds.

そのため、内蔵電源１４の容量Ｃは、上記（１４）式を変形して、
Ｃ＝Ｉ２×Δｔ／｛ΔＶ−ｒ×（Ｉ２−Ｉ１）｝ …（１５）
として算出することができる。 Therefore, the capacity C of the built-in power supply 14 is modified from the above equation (14),
C = I2 * [Delta] t / {[Delta] V-r * (I2-I1)} (15)
Can be calculated as

この場合、定電流Ｉ１、Ｉ２の値や所定時間Δｔは既知であるため、内蔵電源２４の内部抵抗ｒが既知であれば、検出された充電電圧Ｖｎ−１およびＶｎから上昇分ΔＶを算出して上記（１５）式に代入することにより、内蔵電源２４の容量Ｃを算出することができる。 In this case, since the values of the constant currents I1 and I2 and the predetermined time Δt are known, if the internal resistance r of the built-in power supply 24 is known, the increase ΔV from the detected charging voltages V n−1 and V n is calculated. By calculating and substituting into the above equation (15), the capacity C of the built-in power supply 24 can be calculated.

また、本実施形態のように、内蔵電源２４としてリチウムイオンキャパシタを用いる場合、前述したように、リチウムイオンキャパシタの内部抵抗ｒは数ｍΩと非常に小さい。そのため、上記（１５）式においてｒ≒０と見なすことで、内蔵電源２４の容量Ｃは、定電流Ｉ２と所定時間Δｔと充電電圧Ｖの上昇分ΔＶとを用いて、
Ｃ＝Ｉ２×Δｔ／ΔＶ …（１６）
の演算を行うことで算出することが可能となる。 Further, when a lithium ion capacitor is used as the built-in power supply 24 as in the present embodiment, as described above, the internal resistance r of the lithium ion capacitor is as small as several mΩ. Therefore, by assuming that r≈0 in the above equation (15), the capacity C of the built-in power supply 24 uses the constant current I2, the predetermined time Δt, and the increase ΔV of the charging voltage V,
C = I2 × Δt / ΔV (16)
It is possible to calculate by performing the above calculation.

また、図１０（Ａ）に示したように、この処理では高い値の定電流Ｉ２がパルス状に複数回繰り返して供給されるため、図１０（Ｂ）に示すように、充電電圧Ｖの上昇分ΔＶを複数回検出することが可能となる。そのため、複数回分の上昇分ΔＶの平均値を算出して上記（１６）式に適用し、或いは、各回ごとに上昇分ΔＶに基づいて容量Ｃを算出してそれらの平均値を算出することで、内蔵電源２４の容量Ｃをより的確に算出することが可能となる。   Further, as shown in FIG. 10 (A), in this process, a high value constant current I2 is repeatedly supplied in a pulse shape a plurality of times, so that the charging voltage V rises as shown in FIG. 10 (B). The minute ΔV can be detected a plurality of times. Therefore, an average value of the increase ΔV for a plurality of times is calculated and applied to the above equation (16), or a capacity C is calculated based on the increase ΔV for each time and an average value thereof is calculated. Thus, the capacity C of the built-in power supply 24 can be calculated more accurately.

また、この場合、工場出荷時等に同様の処理を行って、内蔵電源２４が劣化していない状態での内蔵電源２４の容量Ｃinを算出しておく。なお、この場合、内蔵電源２４の容量Ｃinは、例えば第１の実施形態や第２の実施形態で算出された容量Ｃinを用いたり、或いは、内蔵電源２４の容量Ｃinとして適切な値を予め設定しておくように構成することも可能である。   In this case, the same processing is performed at the time of factory shipment or the like, and the capacity Cin of the internal power supply 24 in a state where the internal power supply 24 is not deteriorated is calculated. In this case, as the capacity Cin of the built-in power supply 24, for example, the capacity Cin calculated in the first embodiment or the second embodiment is used, or an appropriate value is set in advance as the capacity Cin of the built-in power supply 24. It is also possible to configure so as to keep them.

そして、比Ｃ／Ｃinを算出して、内蔵電源２４の劣化度合を推定するように構成することが可能である。   The ratio C / Cin can be calculated to estimate the degree of deterioration of the built-in power supply 24.

以上のように、本実施形態に係る充電システム１００や電子機器（放射線画像撮影装置１）によれば、第１の実施形態や第２の実施形態の場合と同様の優れた効果を発揮することが可能となるとともに、内蔵電源２４の故障検知処理の際に内蔵電源２４に対して供給されるパルス状の定電流を利用して推定処理を行うことが可能となる。   As described above, according to the charging system 100 and the electronic apparatus (radiation image capturing apparatus 1) according to the present embodiment, the same excellent effects as those of the first embodiment and the second embodiment are exhibited. In addition, the estimation process can be performed using the pulsed constant current supplied to the built-in power supply 24 during the failure detection process of the built-in power supply 24.

なお、本実施形態においても、第１、第２の実施形態の場合と同様に、過去の所定回数分の比Ｃ／Ｃinから算出した移動平均に基づいて内蔵電源の劣化度合を推定するように構成する等の種々の変形（改良）が可能である。   In the present embodiment, as in the first and second embodiments, the deterioration degree of the built-in power supply is estimated based on the moving average calculated from the ratio C / Cin for a predetermined number of times in the past. Various modifications (improvements) such as configuration are possible.

また、上記の第１〜第３の実施形態では、推定処理における比Ｃ／Ｃinの算出処理をより簡単に行うための種々のパターンを示したが（上記の（７）、（１０）、（１５）、（１６）式参照）、本発明はこれらの場合に限定されない。   In the above first to third embodiments, various patterns for performing the calculation process of the ratio C / Cin in the estimation process more easily have been shown (above (7), (10), ( 15) and (16) formula)), this invention is not limited to these cases.

すなわち、工場出荷時等の推定処理における充電電流設定値Ｉｃset_in、放電電流Ｉｄin、所定時間ΔＴth_in、充電電圧Ｖの値Ｖ１in、Ｖ２inを上記（８）式に代入すれば、内蔵電源２４が劣化していない状態での容量Ｃinを算出することができる。また、電子機器（放射線画像撮影装置１）の使用開始後の推定処理における充電電流設定値Ｉｃset、放電電流Ｉｄ、所定時間ΔＴth、充電電圧Ｖの値Ｖ１、Ｖ２を上記（４）式に代入すれば、電子機器の使用状態における容量Ｃを算出することができる。   That is, if the charging current set value Icset_in, the discharging current Idin, the predetermined time ΔTth_in, and the charging voltage V values V1in and V2in in the estimation process at the time of factory shipment or the like are substituted into the above equation (8), the built-in power supply 24 is deteriorated. The capacity Cin in the absence can be calculated. Further, the charging current set value Icset, the discharging current Id, the predetermined time ΔTth, and the charging voltage V values V1 and V2 in the estimation process after the start of use of the electronic apparatus (radiation imaging apparatus 1) are substituted into the above equation (4). For example, the capacity C in the usage state of the electronic device can be calculated.

そして、
Ｃ／Ｃin＝（Ｉｃset−Ｉｄ）×ΔＴth／（Ｖ２−Ｖ１）
／｛（Ｉｃset_in−Ｉｄin）×ΔＴth_in／（Ｖ２in−Ｖ１in）｝…（１７）
の演算を行うことで、上記の比Ｃ／Ｃinを算出することができる。 And
C / Cin = (Icset−Id) × ΔTth / (V2−V1)
/ {(Icset_in−Idin) × ΔTth_in / (V2in−V1in)} (17)
The above-described ratio C / Cin can be calculated by performing the above calculation.

さらに、上記の各実施形態では、主に、電子機器が放射線画像撮影装置１である場合について説明したが、この他にも、充電可能な内蔵電源２４を内蔵する電子機器であれば、ノート型パソコンや携帯電話、携帯情報端末等の種々の電子機器についても、本発明を適用することが可能である。また、それらの電子機器を充電装置で充電する充電システムについても、本発明を適用することが可能である。   Furthermore, in each of the above-described embodiments, the case where the electronic device is the radiation image capturing apparatus 1 has been mainly described. However, in addition to this, if the electronic device has a built-in rechargeable power supply 24, the notebook type is used. The present invention can also be applied to various electronic devices such as personal computers, mobile phones, and portable information terminals. The present invention can also be applied to a charging system that charges these electronic devices with a charging device.

１ 放射線画像撮影装置（電子機器）
２２ 制御手段（推定手段）
２４ 内蔵電源
６０ クレードル（充電装置）
８０ 充電制御回路
１００ 充電システム
Ｃ 容量
Ｃin 内蔵電源が劣化していない状態での容量
Ｃ／Ｃin 比（内蔵電源の劣化度合）
Ｖ 充電電圧
Δｔ 所定時間
ΔＴth 所定時間
ΔＴth_in 所定時間
ΔＶ、Ｖ２−Ｖ１ 充電電圧の上昇分
ΔＶin、Ｖ２in−Ｖ１in 充電電圧の上昇分 1 Radiation imaging equipment (electronic equipment)
22 Control means (estimation means)
24 Built-in power supply 60 Cradle (charging device)
80 Charging control circuit 100 Charging system C Capacity Cin Capacity C / Cin ratio when the built-in power supply is not deteriorated (Deterioration degree of the built-in power supply)
V charging voltage Δt predetermined time ΔTth predetermined time ΔTth_in predetermined time ΔV, V2-V1 charge voltage increase ΔVin, V2in-V1in charge voltage increase

Claims (15)

充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器と、
前記内蔵電源に対して、少なくとも充電電流が一定になるように充電を行う定電流充電を行い、前記電子機器の前記内蔵電源への充電を制御する充電制御回路と、
前記充電制御回路を介して前記電子機器の前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記内蔵電源に充電されている充電電圧に基づいて前記内蔵電源の劣化度合を推定する推定手段と、
を備え、
前記推定手段は、前記充電制御回路が定電流充電を行う際に、所定時間が経過した時点での前記充電電圧の上昇分に基づいて前記内蔵電源の容量を算出し、算出した前記容量の、前記内蔵電源が劣化していない状態での容量に対する比を算出して、前記内蔵電源の劣化度合を推定することを特徴とする充電システム。 An electronic device with a built-in rechargeable power supply,
A charge control circuit that performs constant-current charging that charges at least a charging current to the built-in power source, and controls charging of the electronic device to the built-in power source;
A charging device for supplying power to the built-in power source of the electronic device via the charging control circuit;
Estimating means for estimating the degree of deterioration of the built-in power supply based on a charging voltage charged in the built-in power supply;
With
The estimating means calculates the capacity of the built-in power supply based on the increase in the charging voltage when a predetermined time has elapsed when the charging control circuit performs constant current charging, A charging system characterized by calculating a ratio with respect to a capacity in a state where the built-in power supply is not deteriorated to estimate a degree of deterioration of the built-in power supply. 前記推定手段は、前記内蔵電源の容量を算出する際の前記所定時間を、前記内蔵電源が劣化していない状態で前記内蔵電源の容量を算出した際の前記所定時間と同じ時間として推定処理を行うことを特徴とする請求項１に記載の充電システム。   The estimation means performs the estimation process by setting the predetermined time when calculating the capacity of the built-in power supply as the same time as the predetermined time when calculating the capacity of the built-in power supply in a state where the built-in power supply is not deteriorated. The charging system according to claim 1, wherein the charging system is performed. 前記推定手段は、
前記内蔵電源の容量を算出する際の前記充電電圧の上昇分を、前記内蔵電源が劣化していない状態で前記内蔵電源の容量を算出した際の前記充電電圧の上昇分と同じ上昇分になるようにして推定処理を行い、
前記内蔵電源が劣化していない状態で前記内蔵電源の容量を算出する際に、前記所定時間に相当するカウント数が２ｎ（ｎは自然数）となるようにして推定処理を行うことを特徴とする請求項１に記載の充電システム。 The estimation means includes
The increase in the charging voltage when calculating the capacity of the built-in power supply is the same as the increase in the charging voltage when calculating the capacity of the built-in power supply in a state where the built-in power supply is not deteriorated. To perform the estimation process,
When calculating the capacity of the built-in power supply in a state where the built-in power supply is not deteriorated, the estimation process is performed so that the count number corresponding to the predetermined time is 2 n (n is a natural number). The charging system according to claim 1. 前記充電装置を複数種類備え、
前記推定手段は、前記充電装置ごとに前記比を算出し、前記充電装置ごとの前記比に基づいて、前記内蔵電源の劣化度合を推定することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の充電システム。 A plurality of the charging devices are provided,
4. The method according to claim 1, wherein the estimating unit calculates the ratio for each of the charging devices, and estimates the degree of deterioration of the built-in power source based on the ratio for each of the charging devices. The charging system according to claim 1. 前記電子機器は、電力消費状態として複数の状態の間を遷移することが可能とされており、
前記推定手段は、前記電子機器の前記電力消費状態における前記状態ごとに前記比を算出し、前記状態ごとの前記比に基づいて、前記内蔵電源の劣化度合を推定することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の充電システム。 The electronic device is capable of transitioning between a plurality of states as a power consumption state,
The said estimation means calculates the said ratio for every said state in the said power consumption state of the said electronic device, and estimates the deterioration degree of the said built-in power supply based on the said ratio for every said state. The charging system according to any one of claims 1 to 4. 前記推定手段は、前記比の、現在の前記比を含む過去の所定回数分の前記比の移動平均を算出し、前記移動平均に基づいて前記内蔵電源の劣化度合を推定することを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の充電システム。   The estimation means calculates a moving average of the ratio for the past predetermined number of times including the current ratio of the ratio, and estimates the degree of deterioration of the built-in power supply based on the moving average. The charging system according to any one of claims 1 to 5. 前記推定手段は、前記充電制御回路が定電流充電を行う時点での前記内蔵電源の前記充電電圧が所定の電圧値以上である場合には、前記推定処理を行わないことを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の充電システム。   The estimation unit does not perform the estimation process when the charging voltage of the built-in power source at a time when the charging control circuit performs constant current charging is equal to or higher than a predetermined voltage value. The charging system according to any one of claims 1 to 6. 前記電子機器の各機能部の動作を制御する制御手段が、前記推定手段としての機能を兼ねるように構成されていることを特徴とする請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の充電システム。   The control means for controlling the operation of each functional unit of the electronic device is configured to function also as the estimation means, according to any one of claims 1 to 7. Charging system. 前記充電制御回路は、前記電子機器に設けられていることを特徴とする請求項１から請求項８のいずれか一項に記載の充電システム。   The charging system according to claim 1, wherein the charging control circuit is provided in the electronic device. 前記充電制御回路は、前記充電装置に設けられていることを特徴とする請求項１から請求項８のいずれか一項に記載の充電システム。   The charging system according to claim 1, wherein the charging control circuit is provided in the charging device. 前記内蔵電源は、リチウムイオンキャパシタであることを特徴とする請求項１から請求項１０のいずれか一項に記載の充電システム。   The charging system according to claim 1, wherein the built-in power source is a lithium ion capacitor. 前記電子機器は、放射線画像撮影装置であることを特徴とする請求項１から請求項１１のいずれか一項に記載の充電システム。   The charging system according to any one of claims 1 to 11, wherein the electronic device is a radiographic imaging device. 前記推定手段は、電子機器である前記放射線画像撮影装置に放射線が照射されて放射線画像撮影が行われている間は、前記推定処理を行わないことを特徴とする請求項１２に記載の充電システム。   13. The charging system according to claim 12, wherein the estimation unit does not perform the estimation process while the radiation image capturing apparatus, which is an electronic device, is irradiated with radiation and the radiation image capturing is performed. . 前記充電装置は、クレードルであることを特徴とする請求項１から請求項１３のいずれか一項に記載の充電システム。   The charging system according to any one of claims 1 to 13, wherein the charging device is a cradle. 充電可能な内蔵電源と、
前記内蔵電源に対して、少なくとも充電電流が一定になるように充電を行う定電流充電を行い、前記電子機器の前記内蔵電源への充電を制御する充電制御回路と、
前記充電制御回路を介して前記電子機器の前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記内蔵電源に充電されている充電電圧に基づいて前記内蔵電源の劣化度合を推定する推定手段と、
を備える電子機器において、
前記推定手段は、前記充電制御回路が定電流充電を行う際に、所定時間が経過した時点での前記充電電圧の上昇分に基づいて前記内蔵電源の容量を算出し、算出した前記容量の、前記内蔵電源が劣化していない状態での容量に対する比を算出して、前記内蔵電源の劣化度合を推定することを特徴とする電子機器。 Rechargeable built-in power supply,
A charge control circuit that performs constant-current charging that charges at least a charging current to the built-in power source, and controls charging of the electronic device to the built-in power source;
A charging device for supplying power to the built-in power source of the electronic device via the charging control circuit;
Estimating means for estimating the degree of deterioration of the built-in power supply based on a charging voltage charged in the built-in power supply;
In an electronic device comprising:
The estimating means calculates the capacity of the built-in power supply based on the increase in the charging voltage when a predetermined time has elapsed when the charging control circuit performs constant current charging, An electronic apparatus characterized by calculating a ratio with respect to a capacity in a state where the built-in power supply is not deteriorated to estimate a degree of deterioration of the built-in power supply.
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