JP2012231045A - Wafer carrier jig - Google Patents

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Masahiro Konishi
昌洋 古西
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the generation of a scratch and a chipping by preventing mutual contact between wafers when manually housing or extracting a wafer to/from a wafer carrier.SOLUTION: A wafer carrier jig 1 includes a wafer protection plate group 20 corresponding to a plurality of slots 12 in number provided in a wafer carrier 11 and being fixed in a parallel state at intervals equal to the arrangement intervals of the slots 12. Each wafer protection plate 21 includes: an insertion portion 22 that has a width equal to or smaller than the diameter of a wafer 10 to be housed in the slots 12 and is inserted into the slots 12; and a pair of stoppers 23 that extends to a width direction of the insertion portion 22 and contacts to an opening surface 15 of the slots 12. The insertion portion 22 prevents contact between mutually neighboring wafers 10, to prevent the generation of a scratch or a chipping.

Description

本発明は、ウェハの製造工程で用いられる治具に関し、特に、ウェハを運搬するために用いられるウェハキャリアに人手にてウェハを収納する際もしくはウェハキャリアから人手にてウェハを取り出す際に用いられる治具に関する。 The present invention relates to a jig used in a wafer manufacturing process, and particularly used when a wafer is manually stored in a wafer carrier used for transporting a wafer or when a wafer is manually removed from a wafer carrier. It relates to a jig.

ここで、ウェハとは、シリコンやガリウム砒素、ガリウム燐等の半導体単結晶ウェハや、サファイア、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム、GGG(ガドリニウム・ガリウム・ガーネット)等の酸化物単結晶ウェハ、アルミやガラス製のハードディスク用のディスク等の電子材料ウェハを指す。ウェハは概ね円盤状で、本発明でいうウェハも全て円盤状のものを指す。また、本発明で取り扱うウェハは、主として直径2〜6インチの範囲にあるが、例外として直径10インチを越えるシリコンウェハもある。 Here, the wafer refers to a semiconductor single crystal wafer such as silicon, gallium arsenide, and gallium phosphorus, an oxide single crystal wafer such as sapphire, lithium tantalate, lithium niobate, GGG (gadolinium gallium garnet), aluminum, It refers to electronic material wafers such as disks for glass hard disks. The wafer is generally disc-shaped, and the wafers referred to in the present invention are all disc-shaped. The wafers handled in the present invention are mainly in the range of 2 to 6 inches in diameter, with the exception of silicon wafers exceeding 10 inches in diameter.

ウェハの多くは薄く、割れやすく、疵付きやすい。このような性質をもつウェハを破損することなくハンドリングするために、一般に、ウェハを25枚単位で平行に並べて収納する専用のウェハキャリアを用いる場合が多い。ウェハキャリアの材質には、ポリプロピレンやPFA(フッ素樹脂)等、運搬時のウェハへの衝撃が小さい樹脂が選ばれる。ウェハキャリアは、例えば、インテグリス社製のもの(特許文献1)が有名である。 Many wafers are thin, fragile, and prone to wrinkling. In order to handle a wafer having such properties without damaging it, in general, a dedicated wafer carrier for storing the wafers in parallel in units of 25 is often used. As the material of the wafer carrier, a resin that has a small impact on the wafer during transportation, such as polypropylene or PFA (fluororesin), is selected. For example, a wafer carrier manufactured by Entegris (Patent Document 1) is well known.

ウェハキャリアは、等間隔で平行な溝状のスロットを所定の数、例えば25条有しており、各スロットごとにウェハを1枚ずつ挿入して収納する仕組みであるため、収納状態の25枚のウェハは、所定の間隔で整列した状態で位置決めされ、互いに接触しないようになっている。このため、ウェハキャリアは、ウェハ製造工程の各工程で用いられる加工装置によるバッチ処理に都合がよい。例えば、ウェハの外周を面取り加工するべべリング工程では、ベベリング装置の定位置にウェハを収納したウェハキャリアをセットすれば、べべリング装置に対するウェハの位置も自然と決まるので、ベベリング装置の搬送ロボットは容易にウェハの位置を認識でき、ウェハの取り出し、加工、もとのスロットへの収納まで、ウェハのハンドリングを自動で行うことができる。 The wafer carrier has a predetermined number of, for example, 25 strips of parallel groove-like slots at equal intervals, and is a mechanism for inserting and storing one wafer for each slot. These wafers are positioned in a state of being aligned at a predetermined interval so as not to contact each other. For this reason, the wafer carrier is convenient for batch processing by a processing apparatus used in each process of the wafer manufacturing process. For example, in the beveling process of chamfering the outer periphery of the wafer, if the wafer carrier containing the wafer is set at a fixed position of the beveling device, the position of the wafer relative to the beveling device is naturally determined. The position of the wafer can be easily recognized, and handling of the wafer can be automatically performed from the removal of the wafer, processing, and storage in the original slot.

また、ウェハキャリアはウェハの出荷の際にも用いられる。この場合、ウェハキャリアは新品もしくは、洗浄済みのものが用いられるが、やはり25枚単位で収納する場合が多い。一般に、加工工程等で繰り返し、ある程度ラフに扱われるウェハキャリアは頑丈で安価なポリプロピレン製を用い、出荷には、発塵や帯電の少ないPFA製が選ばれる傾向にある。ウェハキャリアには蓋が無いため、出荷に用いる場合、ウェハをウェハキャリアごと収納し、かつウェハを押えて固定し、密閉するケースを用いる。さらに、ウェハキャリアを密閉したケースは、真空もしくは不活性ガスパージ等を併用し、アルミやビニールによる外装パッキングが施される場合が多い。 The wafer carrier is also used when shipping the wafer. In this case, a new or washed wafer carrier is used, but it is often stored in units of 25 wafers. Generally, a wafer carrier that is repeatedly handled in a processing process or the like and is handled to a certain extent is made of polypropylene that is sturdy and inexpensive, and PFA that is less likely to generate dust or charge tends to be selected for shipment. Since the wafer carrier does not have a lid, when used for shipping, a case is used in which the wafer is stored together with the wafer carrier, and the wafer is pressed and fixed, and sealed. Furthermore, the case in which the wafer carrier is hermetically sealed is often subjected to exterior packing with aluminum or vinyl using a vacuum or an inert gas purge.

特公平07−019832号公報Japanese Patent Publication No. 07-019832

ウェハをウェハキャリアに収納する場合もしくは、ウェハキャリアから取り出す場合において、背景技術で一例として挙げたべべリング装置のような自動のハンドリングは実は少なく、オペレータが手動でハンドリングを行う場合のほうが圧倒的に多い。例えば、ウェハの汚れや疵を検査する品質検査では、オペレータが人手でウェハを1枚づつウェハキャリアから取り出し、検査し、ウェハキャリアへ収納する動作を繰り返している。 When the wafer is stored in the wafer carrier or taken out from the wafer carrier, there is actually little automatic handling like the beveling device mentioned as an example in the background art, and it is overwhelming when the operator handles it manually. Many. For example, in quality inspections for inspecting dirt and wrinkles on a wafer, an operator manually takes out wafers one by one from the wafer carrier, inspects them, and stores them in the wafer carrier.

また、ウェハの平坦度や直径などを全数ではなく、抜き取りで、代表のウェハを検査する場合もある。ウェハをウェハキャリアに収納する場合もしくはウェハから取り出す場合、ウェハキャリアのスロット間隔は数mmしかないため、指で摘み出すのは難しい。そこで、真空ピンセットが用いられる場合が多い。 In addition, representative wafers may be inspected by sampling the flatness, diameter, etc. of the wafers instead of all. When the wafer is stored in the wafer carrier or taken out from the wafer, the slot interval of the wafer carrier is only a few mm, so it is difficult to pick it up with a finger. Therefore, vacuum tweezers are often used.

真空ピンセットとは、先端に、厚みが1〜2mm程度の真空チャックを備えた細いロッド状の道具である。ウェハキャリアのスロット間に真空チャックを挿入し、真空チャックでウェハ表面を吸着することにより、ウェハを容易にハンドリングすることができる。しかしながら、オペレータが手動でウェハをウェハキャリアに出し入れする場合、真空ピンセットに吸着してハンドリング中のウェハを隣接するウェハに接触させてしまう問題がある。 The vacuum tweezers is a thin rod-shaped tool having a vacuum chuck with a thickness of about 1 to 2 mm at the tip. The wafer can be easily handled by inserting a vacuum chuck between the slots of the wafer carrier and adsorbing the wafer surface with the vacuum chuck. However, when an operator manually moves a wafer in and out of the wafer carrier, there is a problem that the wafer being handled is brought into contact with an adjacent wafer by being attracted by vacuum tweezers.

図1に示すとおり、ウェハキャリア11のスロット12は、円盤状のウェハ10の直径とほぼ等しい間隔で対向しスロット奥で間隔が縮小するように設けられる一対の溝14であり、収納状態のウェハ10は、その外周縁の赤道部分の両側を溝14によって支えられている。しかし、ウェハ10を溝14に出し入れする途中のウェハ10の外周縁が溝14に嵌まっていない状態では、ウェハ10は何ら支えが無いため、真空ピンセット33を持つオペレータの手元がふらつくと、真空ピンセット33に吸着されたウェハ10は隣接するウェハ10に意図せずすぐに接触する。接触は疵やチッピングの発生につながるため、歩留まりを低下させる。強くあたった場合、ウェハが割れることもある。当然ながら、直径が大きいほど難易度は上がり、例えば直径6インチのウェハを、隣接するウェハに接触させずに引き抜くには、相応の習熟度、力量が要求される。 As shown in FIG. 1, the slot 12 of the wafer carrier 11 is a pair of grooves 14 provided so as to face each other at substantially the same interval as the diameter of the disk-shaped wafer 10 and to reduce the interval at the back of the slot. 10 is supported by grooves 14 on both sides of the equator portion of the outer periphery. However, in the state where the outer peripheral edge of the wafer 10 is not fitted in the groove 14 while the wafer 10 is being put in and out of the groove 14, the wafer 10 has no support. The wafer 10 attracted by the tweezers 33 comes into contact with the adjacent wafer 10 unintentionally immediately. Since contact leads to generation of wrinkles and chipping, the yield is reduced. If hit strongly, the wafer may break. Naturally, the greater the diameter, the higher the difficulty level. For example, in order to pull out a wafer having a diameter of 6 inches without coming into contact with an adjacent wafer, a suitable skill level and ability are required.

請求項1の発明は、ウェハキャリアが備える複数のスロットの数に対応し、前記スロットの並び間隔と等しい間隔で平行な状態で固定されたウェハ保護プレート群からなり、前記各ウェハ保護プレートは、前記スロット内に収納されるウェハの直径以下の幅を有し前記スロットに差し込まれる挿入部と、前記挿入部の幅方向に延びて前記スロットの開口面に接する一対のストッパー部とを有し、手動にて、ウェハをウェハキャリアに収納する場合もしくはウェハキャリアから取り出す場合において、前記挿入部が隣り合うウェハ同士の接触を防ぎ、疵やチッピングの発生を防止するウェハキャリア用治具である。 The invention of claim 1 includes a wafer protection plate group corresponding to the number of a plurality of slots provided in the wafer carrier and fixed in parallel with an interval equal to the arrangement interval of the slots. An insertion portion having a width equal to or smaller than the diameter of the wafer accommodated in the slot and inserted into the slot; and a pair of stopper portions extending in the width direction of the insertion portion and in contact with the opening surface of the slot; When the wafer is manually stored in the wafer carrier or taken out from the wafer carrier, the insertion portion is a wafer carrier jig that prevents contact between adjacent wafers and prevents wrinkles and chipping.

請求項2の発明は、前記各ウェハ保護プレートが、ウェハをウェハキャリアに収納する、もしくはウェハキャリアから取り出すための真空ピンセットの先端が挿入できるように、前記スロットの開口面側に開口する切欠きによる逃げ部分を前記挿入部の反対側に持つことを特徴とするウェハキャリア用治具である。 According to a second aspect of the present invention, each wafer protection plate has a notch that opens to the opening surface side of the slot so that the tip of vacuum tweezers for storing or taking out the wafer from the wafer carrier can be inserted. A wafer carrier jig characterized by having a relief portion due to the above-mentioned on the opposite side of the insertion portion.

請求項3の発明は、前記各ウェハ保護プレートの材質がエポキシグラスであることを特徴とするウェハキャリア用治具である。 According to a third aspect of the present invention, there is provided a wafer carrier jig wherein the material of each of the wafer protection plates is epoxy glass.

請求項4の発明は、前記各ウェハ保護プレートのストッパー部を連結板により連結することにより前記各ウェハ保護プレートを前記スロットの並び間隔と等しい間隔で平行な状態で固定したウェハキャリア用治具である。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a wafer carrier jig in which the stopper portions of the wafer protection plates are connected by a connecting plate, and the wafer protection plates are fixed in parallel with an interval equal to the arrangement interval of the slots. is there.

本発明に係るウェハキャリア用治具を用いれば、ウェハキャリアの隣り合うスロットの間にウェハ保護プレートによる隔壁を設けることとなり、手動にて、ウェハをウェハキャリアのスロットに収納する場合もしくは、スロットから取り出す場合において、隣り合うウェハ同士の接触を防止でき、ウェハに疵やチッピングを発生することが無い。オペレータの習熟度、力量を問わず、効果は不変である。 When the wafer carrier jig according to the present invention is used, a partition wall is provided by a wafer protection plate between adjacent slots of the wafer carrier. When the wafer is manually stored in the slot of the wafer carrier or from the slot, In the case of taking out, contact between adjacent wafers can be prevented, and wrinkles and chipping do not occur on the wafers. Regardless of the skill level and ability of the operator, the effect remains unchanged.

請求項2の発明では、前記各ウェハ保護プレートにスロットの開口面側に開口する切欠きによる逃げ部分を設け、逃げ部分から無理なく真空ピンセットの先端をウェハキャリア内に挿入できるようにした。 According to the second aspect of the present invention, each wafer protection plate is provided with a relief portion by a notch opened on the opening surface side of the slot so that the tip of the vacuum tweezers can be inserted into the wafer carrier without difficulty from the relief portion.

請求項3の発明では、前記各ウェハ保護プレートの材質をウェハに対し比較的に柔らかいエポキシグラスとしたので、ハンドリング時にウェハとウェハ保護プレートとが接触しても、ウェハに疵やチッピングが生じにくい。 In the invention of claim 3, since the material of each wafer protection plate is a relatively soft epoxy glass with respect to the wafer, even if the wafer and the wafer protection plate come into contact with each other during handling, wrinkles and chipping hardly occur on the wafer. .

請求項4の発明では、前記各ウェハ保護プレートのストッパー部を連結板により連結する構造としたので、一体成形でウェハキャリア用治具を製作した場合と比較して、連結するウェハ保護プレートの枚数を容易に変更でき、収納枚数の異なるウェハキャリアに柔軟に対応できる。 In the invention of claim 4, since the stopper portion of each wafer protection plate is connected by a connecting plate, the number of wafer protection plates to be connected is compared with the case where a wafer carrier jig is manufactured by integral molding. Can be easily changed, and it is possible to flexibly cope with wafer carriers having different numbers of stored sheets.

(a)ウェハキャリアの平面図である。(b)ウェハキャリアの側面図である。(A) It is a top view of a wafer carrier. (B) It is a side view of a wafer carrier. 本発明のウェハキャリア用治具の斜視図である。It is a perspective view of the jig | tool for wafer carriers of this invention. (a)本発明のウェハキャリア用治具の運用形態を示す平面図及び(b)側面図である。(A) The top view which shows the operation | use form of the jig | tool for wafer carriers of this invention, (b) It is a side view. 本発明のウェハキャリア用治具の運用形態を示す平面図である。It is a top view which shows the operation | use form of the jig | tool for wafer carriers of this invention.

図を用い、発明を実施するための最良の形態を説明する。図1はウェハ10とウェハキャリア11の一例を説明する図であり、ウェハ10がウェハキャリア11に収納された状態を示している。本発明のウェハキャリア用治具1は、ウェハキャリア11に適用される。 The best mode for carrying out the invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a view for explaining an example of a wafer 10 and a wafer carrier 11, and shows a state where the wafer 10 is accommodated in the wafer carrier 11. The wafer carrier jig 1 of the present invention is applied to a wafer carrier 11.

図示の例では、ウェハキャリア11は、上面開口型のほぼ直方体の箱であり、短辺の一方の側面16は上部と下部に切欠き17a,17bを有するほぼH字形状をしており、他方の側面18は全面が閉塞している。ウェハキャリア11は、上方からウェハ10が挿入されるスロット12を25列備えており、スロット12は、ウェハキャリア11の長辺の対向する側面19の内側面に等間隔で平行に多数形成された溝14によって構成されている。対向する一対の溝14はスロット12を一つ構成している。一対の溝14は、円盤状のウェハ10の直径とほぼ等しい間隔で対向し、下方(スロット奥)で間隔が縮小している。 In the illustrated example, the wafer carrier 11 is a substantially rectangular parallelepiped box having an upper surface, and one side surface 16 having a short side has an approximately H shape having notches 17a and 17b on the upper and lower sides, and the other side. The entire side surface 18 of this is closed. The wafer carrier 11 is provided with 25 rows of slots 12 into which the wafers 10 are inserted from above, and a large number of slots 12 are formed in parallel at equal intervals on the inner surface of the side surface 19 facing the long side of the wafer carrier 11. It is constituted by the groove 14. A pair of opposed grooves 14 constitutes one slot 12. The pair of grooves 14 oppose each other at an interval substantially equal to the diameter of the disk-shaped wafer 10, and the interval is reduced below (at the back of the slot).

ウェハ10は、各スロット12に1枚ずつ収納されている。収納状態のウェハ10は、その赤道部分(水平な直径)から下の外周部分の両側が対向する一対の溝14に嵌まっており、かつ、一対の溝14の間隔の縮小部分によって自重を支えられている。このため、収納状態の25枚のウェハ10は、スロット12の並び間隔と同じ間隔で整列した状態で位置決めされ、互いに接触しないようになっている。 One wafer 10 is stored in each slot 12. The wafer 10 in the accommodated state is fitted in a pair of grooves 14 facing both sides of the lower outer peripheral portion from the equator portion (horizontal diameter), and supports its own weight by a reduced portion of the interval between the pair of grooves 14. It has been. For this reason, the 25 wafers 10 in the accommodated state are positioned in a state of being aligned at the same interval as the arrangement interval of the slots 12 and are not in contact with each other.

ウェハキャリア11のスロット12の一対の開口面15には、その長手方向両端にウェハ移し替え固定ピン12A,12B、ウェハ移し替え固定穴13A,13Bが設けられている。これらは、ウェハキャリア11から他のウェハキャリア11へウェハ10を移し替えるために両ウェハキャリア11の開口面15を互いに合わせる際、両ウェハキャリア11のスロット12を揃えるための位置決めに用いる。 A pair of opening surfaces 15 of the slot 12 of the wafer carrier 11 are provided with wafer transfer fixing pins 12A and 12B and wafer transfer fixing holes 13A and 13B at both ends in the longitudinal direction. These are used for positioning to align the slots 12 of both wafer carriers 11 when the opening surfaces 15 of both wafer carriers 11 are aligned with each other in order to transfer the wafer 10 from the wafer carrier 11 to another wafer carrier 11.

図2は、本発明に係るウェハキャリア用治具1の一例を示している。ウェハキャリア用治具1は、複数枚のほぼU字形のウェハ保護プレート21を有しており、こらら複数の各ウェハ保護プレート21は、ウェハ保護プレート群20を形成している。ウェハ保護プレート群20は、ウェハキャリア11が備える複数のスロット12の数に対応したウェハ保護プレート21により構成されており、図示の例では、ウェハ保護プレート群20は25枚のウェハ保護プレート21により構成されている。なお、一番外側の一方のウェハ保護プレート21の外面には、ウェハキャリア11の移し替え固定ピン12Aに嵌まる位置決め用の位置決め片27が設けられている。 FIG. 2 shows an example of a wafer carrier jig 1 according to the present invention. The wafer carrier jig 1 has a plurality of substantially U-shaped wafer protection plates 21, and each of the plurality of wafer protection plates 21 forms a wafer protection plate group 20. The wafer protection plate group 20 includes wafer protection plates 21 corresponding to the number of the plurality of slots 12 included in the wafer carrier 11. In the illustrated example, the wafer protection plate group 20 includes 25 wafer protection plates 21. It is configured. A positioning piece 27 for positioning to be fitted to the transfer fixing pin 12A of the wafer carrier 11 is provided on the outer surface of the outermost one wafer protection plate 21.

個々のウェハ保護プレート21は、厚みが1mm程度のエポキシグラス板で製作されており、隣り合うウェハ保護プレート21の間隔は、ウェハキャリア11のスロット12の並び間隔と合わせてある。各ウェハ保護プレート21は、スロット12に差し込まれる挿入部22と、挿入部22の幅方向に延びてスロット12の開口面15に接する一対のストッパー部23とを有している。挿入部22は、スロット12内に収納されるウェハ10の直径以下の幅を有し、挿入方向の先端は半円状に加工されている。一対のストッパー部23は、ウェハキャリア11の一対の開口面15の間を差し渡すように形成されている。 Each wafer protection plate 21 is made of an epoxy glass plate having a thickness of about 1 mm, and the interval between adjacent wafer protection plates 21 is matched to the arrangement interval of the slots 12 of the wafer carrier 11. Each wafer protection plate 21 has an insertion portion 22 inserted into the slot 12 and a pair of stopper portions 23 extending in the width direction of the insertion portion 22 and in contact with the opening surface 15 of the slot 12. The insertion portion 22 has a width equal to or smaller than the diameter of the wafer 10 accommodated in the slot 12, and the tip in the insertion direction is processed into a semicircular shape. The pair of stopper portions 23 are formed so as to pass between the pair of opening surfaces 15 of the wafer carrier 11.

ストッパー部23の端部は、ウェハ保護プレート連結板25,26にて側面から固定されており、複数のウェハ保護プレート21は、ウェハキャリア11のスロット12の並び間隔と等しい間隔で平行な状態で固定されている。 The end portion of the stopper portion 23 is fixed from the side surface by wafer protection plate connecting plates 25 and 26, and the plurality of wafer protection plates 21 are in parallel with an interval equal to the arrangement interval of the slots 12 of the wafer carrier 11. It is fixed.

また、各ウェハ保護プレート21には、挿入部22の反対側の部分に切欠きによる逃げ部分35が形成されている。図3に示すとおり、ウェハキャリア用治具1をウェハキャリアに装着し、ウェハ保護プレート21がスロット12内に挿入された状態では、逃げ部分35は、スロット12の開口面側に開口しており、この逃げ部分35からウェハ10をウェハキャリア11に収納する、もしくはウェハキャリア11から取り出すための真空ピンセット33の先端をウェハキャリア11内に挿入することができるようになっている。 Each wafer protection plate 21 is formed with a relief portion 35 by a notch at a portion opposite to the insertion portion 22. As shown in FIG. 3, when the wafer carrier jig 1 is mounted on the wafer carrier and the wafer protection plate 21 is inserted into the slot 12, the escape portion 35 opens to the opening surface side of the slot 12. The tip of vacuum tweezers 33 for storing the wafer 10 in the wafer carrier 11 from the escape portion 35 or taking it out from the wafer carrier 11 can be inserted into the wafer carrier 11.

図3は、本発明に係るウェハキャリア用治具1の運用形態を表す図である。ウェハキャリア用治具1は、ストッパー部23をウェハキャリア11の開口面15につき当てた状態でウェハキャリア11に装着されており、ウェハ保護プレート群20の挿入部22は、ウェハキャリア11のスロット12に挿入されている。また、ウェハキャリア用治具1の一番外側の一方のウェハ保護プレート21をウェハ移し替え固定ピン12Bにつき当て、他方のウェハ保護プレート21に設けられた位置決め片27をウェハキャリア11のウェハ移し替え固定ピン12Aに嵌め込んで位置決めすることにより、各ウェハ保護プレート21の位置がウェハキャリア11の各スロット12の位置と合致している。図示の例では、ウェハキャリア用治具1は、上記の位置決めにより、ウェハ保護プレート群20がスロット12の溝14の山の部分に位置するように設計されている。なお、ウェハキャリア用治具1の長手方向の寸法をウェハ移し替え固定ピン12A、12Bの間隔とほぼ等しく設計し、ウェハ移し替え固定ピン12A、12Bによりウェハキャリア用治具1の両外側のウェハ保護プレート21を挟み込んで位置決めするようにしてもよい。 FIG. 3 is a diagram showing an operation mode of the wafer carrier jig 1 according to the present invention. The wafer carrier jig 1 is mounted on the wafer carrier 11 with the stopper portion 23 in contact with the opening surface 15 of the wafer carrier 11, and the insertion portion 22 of the wafer protection plate group 20 is connected to the slot 12 of the wafer carrier 11. Has been inserted. Further, the outermost one wafer protection plate 21 of the wafer carrier jig 1 is applied to the wafer transfer fixing pin 12B, and the positioning piece 27 provided on the other wafer protection plate 21 is transferred to the wafer of the wafer carrier 11. The position of each wafer protection plate 21 coincides with the position of each slot 12 of the wafer carrier 11 by being fitted and positioned on the fixing pins 12A. In the illustrated example, the wafer carrier jig 1 is designed so that the wafer protection plate group 20 is positioned at the peak portion of the groove 14 of the slot 12 by the above positioning. The longitudinal dimension of the wafer carrier jig 1 is designed to be approximately equal to the distance between the wafer transfer fixing pins 12A and 12B. The protective plate 21 may be sandwiched and positioned.

ウェハキャリア用治具1をウェハキャリア11に装着すれば、ウェハキャリア11内にウェハ保護プレート21とウェハ10とが交互に並んだ状態となり、真空ピンセット33にて手動でウェハ10をウェハキャリア11に収納する場合もしくはウェハキャリア11から取り出す場合、ウェハ保護プレート群20がウェハ10をスロット12の位置へ導くガイドとなり、かつ、隣接するウェハ10との接触を妨げる隔壁の役割を果たす。よって、ウェハ10同士は接触しようが無いから、ウェハ10に疵やチッピングを発生することが無い。そして、オペレータの習熟度、力量を問わず、この効果は不変である。 When the wafer carrier jig 1 is mounted on the wafer carrier 11, the wafer protection plates 21 and the wafers 10 are alternately arranged in the wafer carrier 11, and the wafer 10 is manually attached to the wafer carrier 11 with the vacuum tweezers 33. When storing or taking out from the wafer carrier 11, the wafer protection plate group 20 serves as a guide for guiding the wafer 10 to the position of the slot 12, and serves as a partition that prevents contact with the adjacent wafer 10. Therefore, since the wafers 10 are unlikely to come into contact with each other, wrinkles and chipping do not occur on the wafer 10. This effect is unchanged regardless of the skill level and ability of the operator.

ウェハ10は、ウェハキャリア11に収められている場合及び出し入れに際して、ウェハ保護プレート群20とは接触するから、ウェハ保護プレート群20はウェハ10に対し比較的に柔らかい材質であることが望ましい。本例ではエポキシグラスを用いているが、ウェハ10によっては、更に柔らかい材質への変更が考えられる。 The wafer protection plate group 20 is preferably made of a material relatively soft with respect to the wafer 10 because the wafer 10 comes into contact with the wafer protection plate group 20 when it is stored in the wafer carrier 11 and when it is put in and out. In this example, epoxy glass is used. However, depending on the wafer 10, a softer material can be changed.

また、ウェハキャリア用治具1をウェハキャリア11に装着した場合、ウェハキャリア11内にウェハ保護プレート21とウェハ10とが交互に並んで存在するため、前述した逃げ部分35を設けないとすると、ウェハキャリア用治具1をウェハキャリア11に装着しない場合と比較して、ウェハキャリア11内のスペースが少なくなり、スロット12へ真空ピンセット33の先端を挿入することが困難となる。本発明では、前述したとおり、ウェハ保護プレート21に逃げ部分35を設けて真空ピンセット33を挿入するスペースを確保し、逃げ部分35から真空ピンセット33の先端をウェハキャリア11内に挿入することができるようにした。したがって、逃げ部分35は、本発明に係るウェハキャリア用治具1にはほぼ必須のデザインであるといえる。 Further, when the wafer carrier jig 1 is mounted on the wafer carrier 11, the wafer protection plates 21 and the wafers 10 are alternately arranged in the wafer carrier 11. Compared to the case where the wafer carrier jig 1 is not mounted on the wafer carrier 11, the space in the wafer carrier 11 is reduced, and it becomes difficult to insert the tip of the vacuum tweezers 33 into the slot 12. In the present invention, as described above, the escape portion 35 is provided in the wafer protection plate 21 to secure a space for inserting the vacuum tweezers 33, and the tip of the vacuum tweezers 33 can be inserted into the wafer carrier 11 from the escape portion 35. I did it. Therefore, it can be said that the relief portion 35 has a substantially essential design for the wafer carrier jig 1 according to the present invention.

なお、図示のウェハキャリア傾斜治具30のように、ウェハキャリアを傾ける治具を併用すれば、ハンドリングは更に容易となり、望ましい。 If a jig for tilting the wafer carrier, such as the wafer carrier tilting jig 30 shown in the figure, is used in combination, handling becomes easier and desirable.

また、図3のウェハキャリア用治具1は、ウェハ保護プレート群20がスロット12の溝14の山の部分に位置するように設計されているが、図4に示すとおり、位置決め片27を設けたり、ウェハキャリア用治具1の長手方向寸法を調整等することにより、ウェハ保護プレート20群がスロット12の溝14の谷の部分に位置するように設計されていてもよい。この場合、スロット12の溝14内にウェハ保護プレート21とウェハ10とが存在することとなるが、スロット12の溝14の幅に比べてウェハ10の厚さははるかに薄いので、特に問題はない。 3 is designed so that the wafer protection plate group 20 is positioned at the peak portion of the groove 14 of the slot 12, the positioning piece 27 is provided as shown in FIG. Alternatively, the wafer protection plate 20 group may be designed so as to be positioned in the valley portion of the groove 14 of the slot 12 by adjusting the longitudinal dimension of the wafer carrier jig 1. In this case, the wafer protection plate 21 and the wafer 10 exist in the groove 14 of the slot 12, but the thickness of the wafer 10 is much thinner than the width of the groove 14 of the slot 12. Absent.

直径6インチ、厚みが0.25mmのタンタル酸リチウムウェハ100枚(25枚収納ウェハキャリア×4)について、本発明のウェハキャリア用治具を用いて検査作業を行った場合と、用いずに検査作業を行った場合との歩留りの比較を表1に示す。オペレータがウェハを1枚づつ、ウェハキャリアから取り出し、検査し、収納する作業を繰り返した。本発明のウェハキャリア用治具を用いて検査作業を行った場合、ウェハの接触による疵、チッピングの発生は皆無であったのに対し、治具を用いずに検査作業を行った場合、ウェハの接触による疵、チッピングの発生は3枚で歩留まりは97%であった。 Inspection of 100 lithium tantalate wafers with a diameter of 6 inches and a thickness of 0.25 mm (25 wafer storage wafer carrier x 4) with and without using the wafer carrier jig of the present invention Table 1 shows a comparison of the yield with the work. The operator repeatedly took out the wafers one by one from the wafer carrier, inspected, and stored them. When the inspection work was performed using the wafer carrier jig of the present invention, no wrinkles or chipping occurred due to contact with the wafer, whereas when the inspection work was performed without using the jig, the wafer The occurrence of wrinkles and chipping due to the contact of 3 sheets was 3 sheets, and the yield was 97%.

Figure 2012231045
Figure 2012231045

直径4インチ、厚みが0.20mmのタンタル酸リチウムウェハを500枚(25枚収納ウェハキャリア×20)について、本発明のウェハキャリア用治具を用いて検査作業を行った場合と、用いずに検査作業を行った場合との歩留りの比較を表2に示す。オペレータがウェハを1枚づつ、ウェハキャリアから取り出し、検査し、収納する作業を繰り返した。本発明のウェハキャリア用治具を用いて検査作業を行った場合、ウェハの接触による疵、チッピングの発生は皆無であったのに対し、治具を用いずに検査作業を行った場合、ウェハの接触による疵、チッピングの発生は13枚で歩留まりは97.4%であった。 With and without using 500 wafers of lithium tantalate wafers with a diameter of 4 inches and a thickness of 0.20 mm (25 wafer storage wafer carriers × 20) using the wafer carrier jig of the present invention. Table 2 shows a comparison of the yield with the inspection work. The operator repeatedly took out the wafers one by one from the wafer carrier, inspected, and stored them. When the inspection work was performed using the wafer carrier jig of the present invention, no wrinkles or chipping occurred due to contact with the wafer, whereas when the inspection work was performed without using the jig, the wafer The occurrence of wrinkles and chipping due to the contact of 13 sheets was 13 and the yield was 97.4%.

Figure 2012231045
Figure 2012231045

直径4インチ、厚みが0.15mmのタンタル酸リチウムウェハを200枚(25枚収納ウェハキャリア×8)について、本発明のウェハキャリア用治具を用いて検査作業を行った場合と、用いずに検査作業を行った場合との歩留りの比較を表3に示す。オペレータがウェハを1枚づつ、ウェハキャリアから取り出し、検査し、収納する作業を繰り返した。本発明のウェハキャリア用治具を用いて検査作業を行った場合、ウェハの接触による疵、チッピングの発生は皆無であったのに対し、治具を用いずに検査作業を行った場合、ウェハの接触による疵、チッピングの発生は21枚で歩留まりは94.5%であった。 With and without using 200 wafers (25 wafer storage wafer carrier × 8) of a lithium tantalate wafer having a diameter of 4 inches and a thickness of 0.15 mm using the wafer carrier jig of the present invention. Table 3 shows a comparison of the yield with the inspection work. The operator repeatedly took out the wafers one by one from the wafer carrier, inspected, and stored them. When the inspection work was performed using the wafer carrier jig of the present invention, no wrinkles or chipping occurred due to contact with the wafer, whereas when the inspection work was performed without using the jig, the wafer Occurrence of wrinkles and chipping due to the contact of 21 sheets was 21 and the yield was 94.5%.

Figure 2012231045
Figure 2012231045

以上のとおり、本発明に係るウェハキャリア用治具1を用いれば、手動にて、ウェハ10をウェハキャリア11に収納する場合もしくは、ウェハキャリア11から取り出す場合において、ウェハ保護プレート群20からなる治具1が、ウェハキャリア1に挿入されていることにより、ウェハ保護プレート群20がガイド及び隔壁として機能し、ウェハ10同士の接触を防ぎ、疵やチッピングが発生することが無い。なお、各実施例において検査作業を行ったオペレータのウェハ検査経験は1年であるが、作業の歩留りは、オペレータの習熟度、力量の差により上下するものであり、各実施例の治具未使用の場合の歩留りもオペレータが変われば上下するため、上記実施例から歩留まりの向上度合いを一定に評価することは必ずしもできないが、本発明に係るウェハキャリア用治具を用いれば、そもそもの、ウェハの接触による疵、チッピングの発生が皆無になるわけであるから、本発明の効果は揺るぎなく、不変である。 As described above, when the wafer carrier jig 1 according to the present invention is used, when the wafer 10 is manually stored in the wafer carrier 11 or taken out from the wafer carrier 11, the wafer protection plate group 20 is cured. Since the tool 1 is inserted into the wafer carrier 1, the wafer protection plate group 20 functions as a guide and a partition, prevents contact between the wafers 10 and does not cause wrinkles or chipping. Although the wafer inspection experience of the operator who performed the inspection work in each embodiment is one year, the yield of the work fluctuates depending on the operator's proficiency level and the difference in ability. Since the yield in use also rises and falls as the operator changes, it is not always possible to evaluate the yield improvement level from the above embodiment. However, if the wafer carrier jig according to the present invention is used, The occurrence of wrinkles and chipping due to the contact of the film is eliminated, so that the effect of the present invention is not shaken and is unchanged.

電子材料と同等な品質を求めるウェハ状の物体であれば、本発明の適用意義はあり、電子材料ウェハに限定するものではない。 The present invention is not limited to an electronic material wafer as long as it is a wafer-like object that requires the same quality as an electronic material.

1 ウェハキャリア用治具
10 ウェハ
11 ウェハキャリア
12 スロット
12A,12B ウェハ移し替え固定ピン
13A,13B ウェハ移し替え固定穴
14 溝
15 開口面
16 側面
17a,17b 切欠き
18 側面
19 側面
20 ウェハ保護プレート群
21 ウェハ保護プレート
22 挿入部
23 ストッパー部
25,26 連結板
27 位置決め片
30 ウェハキャリア傾斜治具
33 真空ピンセット
35 逃げ部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Wafer carrier jig | tool 10 Wafer 11 Wafer carrier 12 Slot 12A, 12B Wafer transfer fixing pin 13A, 13B Wafer transfer fixing hole 14 Groove 15 Opening surface 16 Side surface 17a, 17b Notch 18 Side surface 19 Side surface 20 Wafer protection plate group 21 Wafer protection plate 22 Insertion section 23 Stopper section 25, 26 Connecting plate 27 Positioning piece 30 Wafer carrier tilting jig 33 Vacuum tweezers 35 Escape section

Claims (4)

ウェハキャリア用の治具であって、
ウェハキャリアが備える複数のスロットの数に対応し、前記スロットの並び間隔と等しい間隔で平行な状態で固定されたウェハ保護プレート群からなり、
前記各ウェハ保護プレートは、前記スロット内に収納されるウェハの直径以下の幅を有し前記スロットに差し込まれる挿入部と、前記挿入部の幅方向に延びて前記スロットの開口面に接する一対のストッパー部とを有し、
手動にて、ウェハをウェハキャリアに収納する場合もしくはウェハキャリアから取り出す場合において、前記挿入部が隣り合うウェハ同士の接触を防ぎ、疵やチッピングの発生を防止することを特徴とするウェハキャリア用治具。
A wafer carrier jig,
Corresponding to the number of a plurality of slots provided in the wafer carrier, comprising a wafer protection plate group fixed in a parallel state at an interval equal to the arrangement interval of the slots,
Each of the wafer protection plates has a width equal to or less than the diameter of the wafer accommodated in the slot, and an insertion portion inserted into the slot, and a pair extending in the width direction of the insertion portion and in contact with the opening surface of the slot Having a stopper part,
When the wafer is manually stored in the wafer carrier or taken out of the wafer carrier, the insertion portion prevents contact between adjacent wafers and prevents wrinkles and chipping. Ingredients.
前記各ウェハ保護プレートが、ウェハをウェハキャリアに収納する、もしくはウェハキャリアから取り出すための真空ピンセットの先端が挿入できるように、前記スロットの開口面側に開口する切欠きによる逃げ部分を前記挿入部の反対側に持つことを特徴とする請求項1に記載のウェハキャリア用治具。 Each of the wafer protection plates has a relief portion formed by a notch opening on the opening surface side of the slot so that a tip of vacuum tweezers for storing or taking out the wafer from the wafer carrier can be inserted. The wafer carrier jig according to claim 1, wherein the jig is on the opposite side of the wafer carrier. 前記各ウェハ保護プレートの材質がエポキシグラスであることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のウェハキャリア用治具。 The wafer carrier jig according to claim 1 or 2, wherein a material of each wafer protection plate is epoxy glass. 前記各ウェハ保護プレートのストッパー部を連結板により連結することにより前記各ウェハ保護プレートを前記スロットの並び間隔と等しい間隔で平行な状態で固定したことを特徴とする請求項1、請求項2又は請求項3に記載のウェハキャリア用治具。
3. The wafer protection plate is fixed in a parallel state at an interval equal to the arrangement interval of the slots by connecting stopper portions of the wafer protection plates with a connecting plate. The wafer carrier jig according to claim 3.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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