JP2012226652A - テスト仕様作成支援装置、方法及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】 個々のテスト仕様間の関係性を可視化し、テストの全体像を把握しながらテスト仕様の作成編集を行えるようにする。
【解決手段】 実施形態によれば、ソフトウェアに対する複数のテスト仕様であって、少なくともテストの目的及び前記ソフトウェア内でテストを実行すべきテスト対象を記述したテスト仕様を記憶する第1の記憶部と、前記第1の記憶部から、任意の2つのテスト仕様を抽出してモニタに表示させ、当該テスト仕様間の関係を指示する指示データを受け取る手段と、前記指示データを記憶する第2の記憶部と、前記テスト仕様を代表する図形と前記指示データに応じたテスト仕様間の関係を示す図形とを含む、前記テスト仕様全体を表す構成図を作成する作成部と、を備える、テスト仕様作成支援装置が提供される。
【選択図】図7
Description
・「テスト」とは、開発したソフトウェアプログラムが、分析した要求に対応する仕様や考案した設計の通りに作られたかどうかを、当該プログラム(すなわちソフトウェア内においてテストを実行すべきテスト対象のプログラム)を動作させて確認することをいう。
・「テスト仕様」(参照符号4によって示す)とは、テスト対象のプログラムをどのように動作させ確認するかを抽象的に記述したものをいう。一つのテスト仕様は、テストの目的、テストの対象範囲、テストの手順を要素として持つ。テスト仕様に基づいて、複数のテスト項目が抽出される。
テスト仕様(A):各階にある上下ボタン120の押下に応じてボタンが点灯し、リフトが到着する。
レイヤ軸1:テスト対象の粒度、
ティア軸1:要求仕様のサイズ、
ティア軸2:リスクの大きさ
各軸の値域を次のように分類した。
レイヤ軸1:関数/クラス/モジュール/システム、
ティア軸1:ロジック・アルゴリズム/機能仕様/ソフトウェア要求仕様、
ティア軸2:小/大/致命的
システム(テスト仕様作成支援装置)は、構成管理システムからの情報に基づき、テスト仕様の対象の位置づけを以下のように評価した。即ち、各テスト仕様のLTMapにおける第1軸の値を決定した。
以上のようなテスト対象の位置づけとテストの観点の位置づけに従って、システムは図15に示すような表形式の内部データを作成した。これは、第2の記憶部78に記憶される。
修正前の2種類のLTMapを図22及び図23に示す。ここで、図23に対応するテストの観点の一つである「リスクの大きさ」の軸の値の取り方を、ユーザーからの指示に応じて「小/大/致命的」から「小/中/大/致命的」に修正してもよい。軸の値の取り方を修正した結果を図24に示す。システムは横軸の「中」の値の領域240を作成するが、テスト仕様は新たに追加された属性を持っているものがないので、該当なしの状態である。
テストケースを作成(設計)する際には、対象のソフトウェアの要求仕様書や設計書を分析して、どのようなテストケースが必要かを洗い出す。テスト対象のソフトウェアが大規模・複雑になってきているので、テストケースの洗い出しを見通しよく実施していくことが困難になってきている。そのため、アドホックに(とりあえずの)テストケースを設計し、後から整理しなおして最適化する、という手順を踏まざるを得ない。
71…テスト仕様作成支援装置;
72…マウス/キーボード;
73…モニタ;
74…LTMap(LTマップ)作成部;
75…TRMap(TRマップ)作成部;
76…ユーザインタフェース;
77…第1の記憶部;
78…第2の記憶部
Claims (7)
- ソフトウェアに対する複数のテスト仕様であって、少なくともテストの目的及び前記ソフトウェア内でテストを実行すべきテスト対象を記述したテスト仕様を記憶する第1の記憶部と、
前記第1の記憶部から、任意の2つのテスト仕様を抽出してモニタに表示させ、当該テスト仕様間の関係を指示する指示データを受け取る手段と、
前記指示データを記憶する第2の記憶部と、
前記テスト仕様を代表する図形と前記指示データに応じたテスト仕様間の関係を示す図形とを含む、前記テスト仕様全体を表す構成図を作成する作成部と、
を備える、テスト仕様作成支援装置。 - 前記テスト仕様間の関係は、第1のテスト仕様と第2のテスト仕様との間の部分的な包含関係である包含仮関係、又は第1のテスト仕様と第2のテスト仕様との間の類似関係を含み、
少なくとも前記テスト対象の論理構造の大きさを分類するための第1軸とテストの観点に沿って前記テスト仕様を分類するための少なくとも1つの第2軸とで表現される2次元空間における前記2つのテスト仕様のそれぞれの位置の関係に基づいて、前記包含仮関係又は前記類似関係を包含関係に変換する変換部をさらに備える、請求項1記載の装置。 - ソフトウェアに対する複数のテスト仕様であって、少なくともテストの目的及び前記ソフトウェア内でテストを実行すべきテスト対象を記述したテスト仕様を記憶する第1の記憶部と、
少なくとも前記テスト対象の論理構造の大きさを分類するための第1軸とテストの観点に沿って前記テスト仕様を分類するための少なくとも1つの第2軸とで表現される2次元空間における前記テスト仕様の位置を示す指示データを受け取る手段と、
前記指示データをそれぞれの前記テスト仕様に関連付けて記憶する第2の記憶部と、
前記2次元空間における前記指示データに応じた位置に各テスト仕様を代表する図形を配置することにより構成図を作成する作成部と、
を備える、テスト仕様作成支援装置。 - ソフトウェアに対する複数のテスト仕様であって、少なくともテストの目的及び前記ソフトウェア内でテストを実行すべきテスト対象を記述したテスト仕様を第1の記憶部に記憶するステップと、
前記第1の記憶部から、任意の2つのテスト仕様を抽出してモニタに表示させ、当該テスト仕様間の関係を指示する指示データを受け取るステップと、
前記指示データを第2の記憶部に記憶するステップと、
前記テスト仕様を代表する図形と前記指示データに応じたテスト仕様間の関係を示す図形とを含む、前記テスト仕様全体を表す構成図を作成するステップと、
を備える、テスト仕様作成支援方法。 - ソフトウェアに対する複数のテスト仕様であって、少なくともテストの目的及び前記ソフトウェア内でテストを実行すべきテスト対象を記述したテスト仕様を第1の記憶部に記憶するステップと、
少なくとも前記テスト対象の論理構造の大きさを分類するための第1軸とテストの観点に沿って前記テスト仕様を分類するための少なくとも1つの第2軸とで表現される2次元空間における前記テスト仕様の位置を示す指示データを受け取るステップと、
前記指示データをそれぞれの前記テスト仕様に関連付けて第2の記憶部に記憶するステップと、
前記2次元空間における前記指示データに応じた位置に各テスト仕様を代表する図形を配置することにより構成図を作成するステップと、
を備える、テスト仕様作成支援方法。 - コンピュータを、
ソフトウェアに対する複数のテスト仕様であって、少なくともテストの目的及び前記ソフトウェア内でテストを実行すべきテスト対象を記述したテスト仕様を記憶する第1の記憶部、
前記第1の記憶部から、任意の2つのテスト仕様を抽出してモニタに表示させ、当該テスト仕様間の関係を指示する指示データを受け取る手段、
前記指示データを記憶する第2の記憶部、
前記テスト仕様を代表する図形と前記指示データに応じたテスト仕様間の関係を示す図形とを含む、前記テスト仕様全体を表す構成図を作成する作成部、
として機能させるためのテスト仕様作成支援プログラム。 - コンピュータを、
ソフトウェアに対する複数のテスト仕様であって、少なくともテストの目的及び前記ソフトウェア内でテストを実行すべきテスト対象を記述したテスト仕様を記憶する第1の記憶部、
少なくとも前記テスト対象の論理構造の大きさを分類するための第1軸とテストの観点に沿って前記テスト仕様を分類するための少なくとも1つの第2軸とで表現される2次元空間における前記テスト仕様の位置を示す指示データを受け取る手段、
前記指示データをそれぞれの前記テスト仕様に関連付けて記憶する第2の記憶部、
前記2次元空間における前記指示データに応じた位置に各テスト仕様を代表する図形を配置することにより構成図を作成する作成部、
として機能させるためのテスト仕様作成支援プログラム。
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