JP2012220407A - 磁気測定装置 - Google Patents

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篤伸 太田
Akira Miura
明 三浦
Takahiro Kudo
貴裕 工藤
Takeshi Yagihara
剛 八木原
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Abstract

【課題】比較的簡単な構成で、常温環境で、低消費電力で、作業効率よく高感度の磁気測定が行える磁気測定装置を実現すること。
【解決手段】真空中の自由電子スピンに基づき磁気を測定する磁気測定装置であって、真空セルおよび真空セル7の内部に設けられるカソード電極、アノード電極、電子源、励磁コイルおよび検出コイルなどの構成要素は、MEMS技術で形成されることを特徴とするもの。
【選択図】 図1

Description

本発明は、磁気測定装置に関し、詳しくは、真空中の自由電子スピンに基づき磁気を測定する磁気検出感度の優れた磁気測定装置に関する。
fT(フェムトテスラ:10-15)レベルの高感度を有する磁気測定装置の一種に、非特許文献1に記載されているような、ルビジウム(Rb)原子ガスの光−磁気相互作用に基づく光吸収の効果を応用したものがある。
図6は、このような従来の磁気測定装置の概略構成説明図である。
図6において、磁気検出セル1は、ルビジウム原子ガスが密封された透明セルである。磁気検出セル1には、内部のルビジウムを150℃程度に加熱して蒸気を発生させるためのヒーター2が設けられている。
ヒーター2は、磁気検出セル1の内部が所定の設定温度になるように、電源制御部3により駆動制御される。
半導体レーザ4は、磁気検出セル1を照射する。半導体レーザ4の出力光は、直線偏光ビームを円偏光ビームに変換する光学素子5を介して光磁気検出セル1に照射される。
受光素子6は、光磁気検出セル1の透過光を検出して電気信号に変換する。
このような構成において、磁気検出セル1が150℃程度に加熱されていて、内部のルビジウムが気化しているものとする。
この状態で、磁気検出セル1の外部に磁気が存在すると、磁気の大きさに応じて磁気検出セル1の内部に密封されているルビジウム原子ガスのエネルギー準位が変化し、このエネルギー準位に応じて透過光の特定波長の光が吸収されることになり、受光素子6により検出される磁気検出セル1の透過光の光量も変化する。
図6の装置における磁気の測定原理について、非特許文献1によれば、「SERF(spin-exchange relaxation free)」とされている。すなわち、「一般に、気体を構成する原子や分子は、ランダムに動いて衝突を繰り返しているが、弱い磁場中で温度を150℃程度に保つと、10msec程度と比較的長い時間、原子同士が互いに衝突することなくある種の集団行動を取る。」とのことである。
このように、磁気検出セル1の光吸収量は外部の磁気強度と比例することから、受光素子6で磁気検出セル1の透過光の強度を検出することにより、外部の磁気の大きさを測定できる。
非特許文献1の報告によれば、外径寸法が3mm×2mm×1mmの磁気検出セル1と、数mWと低出力の赤外線半導体レーザ4を用いて、70fTの微弱磁気が測定できたとのことである。
VISHAL SHAH 外3名、NIST(国立標準技術研究所)、「Subpicotesla atomic magnetometry with a microfabricated vapor cell」、[online]、Published online:November1, 2007、nature photonics/VOL1/NOVEMBER 2007/www.nature.com/naturephotonics、p.649-652、(USA)、[平成22年12月1日検索]、インターネット<URL:http://tf.nist.gov/timefreq/general/pdf/2219.pdf>
しかし、図5の装置は、磁気検出セル1を150℃程度に加熱しなければならないことから、磁気検出セル1に用いる材質が限定されてしまうとともに、構成が複雑になる。
また、常温で使うことはできず、取り扱い操作は困難であり、加熱用電源が低消費電力化の阻害要因になるという問題もある。
さらに、磁気測定にあたっては、半導体レーザの出力光の偏光を調整したり、光強度の測定結果を変換しなければならず、相当の作業工数がかかってしまう。
本発明は、これらの課題を解決するものであり、その目的は、比較的簡単な構成で、常温環境で、低消費電力で、作業効率よく高感度の磁気測定が行える磁気測定装置を実現することにある。
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
真空中の自由電子スピンに基づき磁気を測定する磁気測定装置であって、
真空セルと、
この真空セルの内部の一端近傍に配置され接地電位点に接続されたカソード電極と、
前記真空セルの内部の他端近傍に配置されたアノード電極と、
前記カソード電極の中央部分に設けられた電子源と、
前記アノード電極に正電極が接続された電界放出用電源と、
これらカソード電極とアノード電極の間に中心軸が一致するように前記カソード電極の近傍に配置された励磁コイルおよび前記アノード電極の近傍に配置された検出コイルと、 前記励起コイルに接続された励磁電源と、
前記検出コイルに接続された電圧測定器、
とで構成されたことを特徴とする。
請求項2記載の発明は、請求項1に記載の磁気測定装置において、
前記電子源はカーボンナノチューブで形成されていることを特徴とする。
請求項3記載の発明は、請求項1に記載の磁気測定装置において、
前記電子源は多孔質シリコンで形成されていることを特徴とする。
請求項4記載の発明は、請求項1から請求項3のいずれかに記載された磁気測定装置において、前記真空セルおよびこの真空セルの内部に設けられる構成要素はMEMS技術により形成されることを特徴とする。
これらにより、比較的簡単な構成で、常温環境で、低消費電力で、作業効率よく高感度の磁気測定が行える。
本発明の一実施例を示す磁気測定装置の構成説明図である。 図1の動作説明図である。 図1の動作説明図である。 図1の動作説明図である。 図1の動作説明図である。 従来の磁気測定装置の概略構成説明図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。図1は、本発明の一実施例を示す磁気測定装置の構成説明図である。図1において、真空セル7の内部の一端近傍にはカソード電極8が配置され、他端近傍にはカソード電極8と対向するようにアノード電極9が配置されている。
カソード電極8は接地電位点に接続され、カソード電極8の中央部分にはカーボンナノチューブや多孔質シリコンなどで形成された電子源10が設けられている。アノード電極9には電界放出用電源11の正電極が接続されている。
電界放出用電源10としては、たとえば印加電圧が16Vで、放出電流密度は10-5A/cm2の出力容量を有するものを用いる。
これらカソード電極8とアノード電極9の間には、中心軸が一致するようにして励磁コイル12と検出コイル13が配置されている。すなわち、励磁コイル12はカソード電極8の近傍に配置され、検出コイル13はアノード電極9の近傍に配置されている。
なお、真空セル7および真空セル7の内部に設けられるカソード電極8、アノード電極9、電子源10、励磁コイル12および検出コイル13などの構成要素は、MEMS技術を用いることにより低コストで製造できる。
励起コイル11には励磁電源14が接続され、検出コイル13には電圧測定器15が接続されている。励磁電源14としては、たとえば周波数が数100MHzで出力パルス電流の振幅が100mAのパルス電流源を用いる。電圧測定器15としては、たとえば0.1〜1Vの直流電圧が測定できるものを用いる。
このように構成される装置の動作を説明する。
図2は、外部磁場Hexが存在しない状態で励磁コイル12に励起電流を流さない場合の励磁コイル12の断面における電子スピンの状態説明図である。このときの電子スピンは、それぞれが外部の影響を受けることなく完全に自由な状態にあり、電子スピンの向きは全く規則性のないランダムな方向になっている。
図2の状態では、励磁コイル12に励起電流が流れていないので検出コイル13に電磁誘導による起電力が発生することはなく、電圧測定器15の入力電圧は0になる。
図3は、外部磁場Hexが存在しない状態で励磁コイル12に励起電流を流した場合の励磁コイル12の断面における電子スピンの状態説明図である。励磁コイル12に励起電流を流すことにより、励磁コイル12にはコイルの断面を貫く方向に磁束が発生する。このときの電子スピンは、磁束の影響を受けておおむね磁束の方向を向くことになる。
図3の状態では、励磁コイル12の励起に伴って検出コイル13には磁束の電磁誘導により、コイルの断面に存在する磁束密度に比例した起電力が発生する。電圧測定器15の入力電圧はこれら磁束の電磁誘導による起電力に応じた値になる。
図4は、外部磁場Hexが存在する状態で励磁コイル12に励起電流を流さない場合の励磁コイル12の断面における電子スピンの状態説明図である。このときのセル7内の電子スピンは外部磁場Hexの影響を受けることになる。すなわち、電子スピンの向きに着目すると、外部磁場Hexの方向に沿うようになり、一定方向に偏ることになる。
図4の状態でも、励磁コイル12に励起電流が流れていないので検出コイル13に電磁誘導による起電力が発生することはなく、電圧測定器15の入力電圧は0になる。
図5は、外部磁場Hexが存在する状態で励磁コイル12に励起電流を流した場合の励磁コイル12の断面における電子スピンの状態説明図である。このときのセル7内の電子スピンは前述図4のように外部磁場Hexの影響を受けて外部磁場Hexの方向に沿うように一定方向に偏るとともに、励磁コイル12にはコイルの断面を貫く方向に磁束が発生することからさらに磁束の影響も受けることになる。
すなわち、単位時間当たりの磁束変化はコイルの断面に存在し、かつコイルの断面を貫くように変化できる電子スピンの数に比例する。そして、電圧測定器15の入力電圧はこれらコイルの断面を貫くように変化する電子スピンの数に比例した起電力に応じた値になる。
これらから明らかなように、電圧測定器15に入力される起電力は、外部磁場Hexの有無に応じてその値が増減変化する。したがって、電圧測定器15の測定値に基づき、外部磁場Hexの大きさを求めることができる。
図1の構成によれば、図5に示した従来装置のようなヒーター2や電源制御部3は不要であり、常温状態で外部磁場Hexの測定が行える。
また、磁気検出用媒体として特定の材料を用いなくてもよい。
以上説明したように、本発明によれば、比較的簡単な構成で、常温環境で、低消費電力で、作業効率よく高感度の磁気測定が行える磁気測定装置を実現でき、脳磁や心磁などの生体測定をはじめ各種の磁気測定装置として好適である。
7 真空セル
8 カソード電極
9 アノード電極
10 電子源
11 電界放出用電源
12 励磁コイル
13 検出コイル
14 励磁電源
15 電圧測定器

Claims (4)

  1. 真空中の自由電子スピンに基づき磁気を測定する磁気測定装置であって、
    真空セルと、
    この真空セルの内部の一端近傍に配置され接地電位点に接続されたカソード電極と、
    前記真空セルの内部の他端近傍に配置されたアノード電極と、
    前記カソード電極の中央部分に設けられた電子源と、
    前記アノード電極に正電極が接続された電界放出用電源と、
    これらカソード電極とアノード電極の間に中心軸が一致するように前記カソード電極の近傍に配置された励磁コイルおよび前記アノード電極の近傍に配置された検出コイルと、 前記励起コイルに接続された励磁電源と、
    前記検出コイルに接続された電圧測定器、
    とで構成されたことを特徴とする磁気測定装置。
  2. 前記電子源はカーボンナノチューブで形成されていることを特徴とする請求項1に記載の磁気測定装置。
  3. 前記電子源は多孔質シリコンで形成されていることを特徴とする請求項1に記載の磁気測定装置。
  4. 前記真空セルおよびこの真空セルの内部に設けられる構成要素はMEMS技術により形成されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の磁気測定装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN111044796A (zh) * 2019-12-31 2020-04-21 东南大学 对称型热电式mems微波驻波计及其制备方法
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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