JP2012199711A - Evaluation device and evaluation method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、評価装置及び評価方法に関する。 The present invention relates to an evaluation apparatus and an evaluation method.
近年、その利便性などから、携帯電話やPDA(Personal Digital Assistant)などといった無線通信端末が急速に普及してきている。このような無線通信端末の製品開発では、無線通信端末の評価装置である無線通信端末評価装置と擬似基地局とを用いての通信の評価が行われている。以下では、評価装置のことを無線通信端末評価装置と言う場合がある。この通信の評価では、無線通信端末評価装置と擬似基地局との間を同軸ケーブルで接続し、その同軸ケーブルを介しての模擬的な無線通信が行われる。開発段階では、無線通信端末評価装置と擬似基地局とを用いた模擬的な無線通信で、問題なく通信状態が維持でき、評価が完了すると開発が完了する。このような工程を経て開発が完了した製品が、市場に出荷されることになる。 In recent years, wireless communication terminals such as mobile phones and PDAs (Personal Digital Assistants) are rapidly spreading due to their convenience. In the development of such a wireless communication terminal product, communication is evaluated using a wireless communication terminal evaluation device, which is a wireless communication terminal evaluation device, and a pseudo base station. Hereinafter, the evaluation device may be referred to as a wireless communication terminal evaluation device. In this communication evaluation, a wireless communication terminal evaluation apparatus and a pseudo base station are connected by a coaxial cable, and simulated wireless communication is performed via the coaxial cable. In the development stage, the communication state can be maintained without problems by simulated wireless communication using the wireless communication terminal evaluation apparatus and the pseudo base station, and the development is completed when the evaluation is completed. Products that have been developed through these processes are shipped to the market.
また、製品出荷後に、障害の発生などの理由で個別返却された製品について、その障害発生の原因の特定を行う場合がある。その場合、まず、製品開発段階での不具合事象の確認、製品内に残されているエラーログの確認及びロジックアナライザを用いた製品内のデータの調査などを行い、ある程度原因を特定する。その後、無線通信端末評価装置を用いて、再現確認を行う。そして、再現確認ができた場合、ファームウェアの修正を行う。そして、修正されたファームウェアを無線通信端末評価装置に用いて、妥当性確認を行うことで、障害の原因が特定され及びその障害に対する対応方法が決定される。 In addition, after a product is shipped, the cause of the failure may be identified for a product that is individually returned due to a failure or the like. In that case, first, the cause of failure is identified at the product development stage, the error log remaining in the product is checked, the data in the product is checked using a logic analyzer, and the cause is specified to some extent. Thereafter, reproduction confirmation is performed using the wireless communication terminal evaluation apparatus. If the reproduction can be confirmed, the firmware is corrected. Then, by using the corrected firmware for the wireless communication terminal evaluation device and performing validity confirmation, the cause of the failure is identified and a countermeasure method for the failure is determined.
このように、無線通信端末評価装置は、無線通信端末の開発や不具合の確認及び修正などに用いられる。この無線通信端末評価装置は、擬似基地局との間で擬似的な無線通信を行い、その結果を動作の評価に用いるための装置である。この擬似基地局には、仮想端末を用いて無線通信端末との通信を行う従来技術がある。また、無線通信端末評価装置としては、擬似基地局との距離を変化させ通信信号の信号レベルを変更する従来技術がある。 As described above, the wireless communication terminal evaluation apparatus is used for development of wireless communication terminals, confirmation and correction of defects, and the like. This wireless communication terminal evaluation apparatus is an apparatus for performing pseudo wireless communication with a pseudo base station and using the result for operation evaluation. This pseudo base station has a conventional technique for communicating with a wireless communication terminal using a virtual terminal. As a wireless communication terminal evaluation apparatus, there is a conventional technique that changes the signal level of a communication signal by changing the distance from a pseudo base station.
このような無線通信端末評価装置は、市場で売り出される製品である最終製品に必要となる各部品がケーブル又はコネクタで接続された装置である。ここで、各部品とは、例えば、液晶画面、キーパッド、無線信号送受信部、デジタル処理部などである。このような無線通信評価装置に設けられた部品の中に、RF(Radio Frequency)−LSI(Large Scale Integration)及びDBB(Digital Base Band)−LSIがある。RF−LSIは、無線信号をアナログ信号からデジタル信号に変換する。また、DBB−LSIは、RF−LSIで生成されたデジタル信号に対して復調、変調、拡散、逆拡散などのデジタル処理を施す。そして、無線通信端末評価装置に設けられたRF−LSIとDBB−LSIとは、LVDS(Low Voltage Differential Signaling)インタフェースで接続されている。このRF−LSI及びDBB‐LSIはいずれも製品としての無線通信端末にも組み込まれており、互いにLVDSインタフェースで接続されている。 Such a wireless communication terminal evaluation apparatus is an apparatus in which components necessary for a final product, which is a product on the market, are connected by a cable or a connector. Here, each component is, for example, a liquid crystal screen, a keypad, a wireless signal transmission / reception unit, a digital processing unit, or the like. Among components provided in such a wireless communication evaluation apparatus, there are RF (Radio Frequency) -LSI (Large Scale Integration) and DBB (Digital Base Band) -LSI. The RF-LSI converts a radio signal from an analog signal to a digital signal. The DBB-LSI performs digital processing such as demodulation, modulation, spreading, and despreading on the digital signal generated by the RF-LSI. The RF-LSI and the DBB-LSI provided in the wireless communication terminal evaluation apparatus are connected by an LVDS (Low Voltage Differential Signaling) interface. Both the RF-LSI and the DBB-LSI are incorporated in a wireless communication terminal as a product, and are connected to each other through an LVDS interface.
ここで、現在の無線通信端末は多くの機能を取り入れているため、他の機能を使用することで、動作不具合が発生することがある。例えば、DBB−LSIが、RF−LSIに向けて受信開始の信号を送ったときに、操作者が地上デジタル放送を見ていたり音楽プレーヤーとして使用していたりなど、別の操作をしていることがある。このように別の操作をしている場合、そのような操作をしていない場合に比べて無線通信端末装置内の多くの電源ノイズが発生している。また、無線通信端末は無線通信端末評価装置に比べて小型化し高密度実装される。そのため、実際の無線通信端末ではLSIなどの部品の間隔が接近しているので、無線通信端末評価装置での評価時に比べて電源ノイズが増えることが考えられる。そして、電源ノイズが多くなると、LVDS伝送路上のデータがビット反転し、RF−LSIに正常なデータが届かなくなるおそれがある。 Here, since the current wireless communication terminal incorporates many functions, use of other functions may cause malfunction. For example, when the DBB-LSI sends a reception start signal to the RF-LSI, the operator is performing another operation such as watching a terrestrial digital broadcast or using it as a music player. There is. When another operation is performed in this manner, a lot of power supply noise is generated in the wireless communication terminal device as compared with a case where such an operation is not performed. Further, the wireless communication terminal is smaller and more densely mounted than the wireless communication terminal evaluation apparatus. For this reason, in an actual wireless communication terminal, the intervals of components such as LSIs are close to each other, so that it is conceivable that the power supply noise increases as compared with the evaluation performed by the wireless communication terminal evaluation apparatus. If the power supply noise increases, the data on the LVDS transmission path is bit-inverted and normal data may not reach the RF-LSI.
ここで、電源ノイズが増えた場合にビット反転が起こりやすい理由を説明する。電源ノイズがある場合と電源ノイズが無い場合とのLVDSインタフェースのEyeパターンを比較した場合、電源ノイズがある場合のEyeパターンは電源ノイズが無い場合のEyeパターンに比べて開口が狭くなる。そのため、電源ノイズが発生している場合には、ビット反転が起こりやすくなることが分かる。 Here, the reason why bit inversion tends to occur when the power supply noise increases will be described. When comparing the Eye pattern of the LVDS interface when there is power noise and when there is no power noise, the Eye pattern when there is power noise is narrower than the Eye pattern when there is no power noise. Therefore, it can be seen that bit inversion tends to occur when power supply noise occurs.
そして、通常であれば、正常なデータが届かない場合、RF−LSIがDBB−LSIに再送要求を行い、DBB−LSIが再度受信開始の信号を送ることになる。しかし、ビット反転したデータをRF−LSIが受信している場合、ビット化けしたデータにより、RF−LSIが予期せぬ状態となり、その後のデータを受け付けなくなってしまうことにより、無線通信端末が操作不能に陥ってしまうおそれがある。 If normal data does not arrive normally, the RF-LSI makes a retransmission request to the DBB-LSI, and the DBB-LSI sends a reception start signal again. However, if the RF-LSI is receiving bit-reversed data, the RF-LSI will be in an unexpected state due to the garbled data, and the subsequent data will not be accepted. There is a risk of falling into.
このような不具合が発生した場合、上で説明した不具合の確認及び修正が行われることになる。しかし、不具合の確認及び修正の実行には、多くの時間を必要とする。特に、海外メーカから各LSIの供給を受けている場合、テストプログラムを入手するまでに1〜2日間がかかってしまう。 When such a failure occurs, the above-described failure is confirmed and corrected. However, it takes a lot of time to check and correct defects. In particular, when each LSI is supplied from an overseas manufacturer, it takes one to two days to obtain the test program.
さらに、出荷済みの製品の場合、このような不具合が発生すると、不具合の確認及び修正を行った後に、妥当性確認が取れたファームウェアを配信することで、各製品の不具合への対応を行っている。そのため、ファームウェア配信までの間、不具合の修正が行われず、無線通信端末の利用者に不便をかけることになる。 In addition, in the case of products that have already been shipped, if such a problem occurs, after confirming and correcting the problem, we distribute the firmware that has been validated to address the problem of each product. Yes. Therefore, the defect is not corrected until the firmware is distributed, which causes inconvenience to the user of the wireless communication terminal.
そこで、このような、ビット反転による不具合の発生を回避するために、開発の段階で無線通信端末評価装置を用いてビット反転が発生した場合の動作を検証しておく必要がある。また、障害対応の場合にも、ビット反転による不具合か否かのきり分けを迅速に行う必要がある。 Therefore, in order to avoid such a problem caused by bit inversion, it is necessary to verify the operation when bit inversion occurs using a wireless communication terminal evaluation apparatus at the development stage. Also, when dealing with a failure, it is necessary to quickly determine whether or not the failure is caused by bit inversion.
しかしながら、従来の無線通信端末評価装置では、強制的にビット反転を起こすことが困難であった。そのため、従来の無線通信端末評価装置では、RF−LSIとDBB−LSIとの間で信号の授受が行われている状態で、信号がビット反転を起こした場合に、無線通信端末がどのような動作を行うのか確認することが困難であった。例えば、擬似基地局との位置関係を変化させて信号レベルを変化させる従来技術や仮想端末を有する擬似基地局の従来技術を用いても、ビットの反転を起こさせることは困難である。 However, it is difficult for the conventional wireless communication terminal evaluation apparatus to forcibly cause bit inversion. Therefore, in the conventional wireless communication terminal evaluation apparatus, what kind of wireless communication terminal is used when the signal is bit-reversed while the signal is being exchanged between the RF-LSI and the DBB-LSI? It was difficult to confirm whether to perform the operation. For example, it is difficult to cause bit inversion even by using the conventional technique of changing the signal level by changing the positional relationship with the pseudo base station or the conventional technique of the pseudo base station having a virtual terminal.
また、DBB−LSIとRF−LSIとの間の信号の授受においては、細かいタイミング制御がなされている。そのため、DBB−LSIとRF−LSIとの間のタイミング制御に合わせて、データのビットを変更する場合、そのタイミングで同期を取ることが困難であった。例えば、FPGA(Field Programmable Gate Array)で、DBB−LSIから出力された信号を取込み、FPGA内で取込んだ信号のデータのビットを変更させRF−LSIに送信するようなシステムの場合、データの受け渡しに時間差が発生してしまう。そのため、このようなシステムでは、DBB−LSIとRF−LSIとの間のタイミング制御に間に合わず、通信ができなくなるおそれがある。 Further, fine timing control is performed in the exchange of signals between the DBB-LSI and the RF-LSI. Therefore, when changing data bits in accordance with the timing control between the DBB-LSI and the RF-LSI, it is difficult to achieve synchronization at that timing. For example, in the case of a system in which a signal output from a DBB-LSI is captured by an FPGA (Field Programmable Gate Array), and data bits of the signal captured in the FPGA are changed and transmitted to the RF-LSI, There will be a time difference in delivery. Therefore, in such a system, there is a possibility that communication cannot be performed because the timing control between the DBB-LSI and the RF-LSI is not in time.
開示の技術は、上記に鑑みてなされたものであって、信号がビット反転を起こした場合の無線通信端末装置の挙動を評価することができる評価装置及び評価方法を提供することを目的とする。 The disclosed technology has been made in view of the above, and an object thereof is to provide an evaluation device and an evaluation method capable of evaluating the behavior of a wireless communication terminal device when a signal causes bit inversion. .
本願の開示する評価装置及び評価方法は、一つの態様において、ベースバンド処理部は、通信データに含まれる各ビットの論理を電位によって表す第1信号を出力する。RF部は、入力された信号の電位を基に各ビットの論理を判定し、該論理を有するデータを取得する。第1スイッチは、前記ベースバンド処理部から出力された前記第1信号を前記RF部へ入力する信号伝送経路と、前記第1信号に代えて所定電圧を有する信号を前記RF部へ入力する所定電圧入力経路との切り替えを行う。制御部は、前記通信データに含まれる所定ビットの指定を受けて、前記第1スイッチを前記所定電圧入力経路に切り替えることで、前記RF部に入力される前記第1信号の前記所定ビットを表す部分の電位を所定の値に変更する。情報取得部は、前記所定ビットを表す部分の電位が所定の値に変更された前記第1信号の入力を受けることで前記通信データの前記所定ビットの論理が反転したデータを取得した場合の、前記RF部の挙動情報を取得する。 In one aspect of the evaluation device and the evaluation method disclosed in the present application, the baseband processing unit outputs a first signal that represents the logic of each bit included in the communication data by a potential. The RF unit determines the logic of each bit based on the potential of the input signal, and acquires data having the logic. The first switch is a signal transmission path for inputting the first signal output from the baseband processing unit to the RF unit, and a predetermined signal for inputting a signal having a predetermined voltage instead of the first signal to the RF unit. Switches to the voltage input path. The control unit represents the predetermined bit of the first signal input to the RF unit by switching the first switch to the predetermined voltage input path in response to designation of the predetermined bit included in the communication data. The potential of the part is changed to a predetermined value. The information acquisition unit receives data in which the logic of the predetermined bit of the communication data is inverted by receiving the input of the first signal in which the potential of the portion representing the predetermined bit is changed to a predetermined value. The behavior information of the RF unit is acquired.
本願の開示する評価装置及び評価方法の一つの態様によれば、信号がビット反転を起こした場合の無線通信端末装置の挙動を評価することができるという効果を奏する。 According to one aspect of the evaluation device and the evaluation method disclosed in the present application, it is possible to evaluate the behavior of the wireless communication terminal device when the signal undergoes bit inversion.
以下に、本願の開示する評価装置及び評価方法の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下の実施例により本願の開示する評価装置及び評価方法が限定されるものではない。以下の実施例では、評価装置として携帯電話用の評価装置を例に説明するが、これは他の無線通信端末用の評価装置でもよく、例えば、PDA用の評価装置などでもよい。 Hereinafter, embodiments of an evaluation apparatus and an evaluation method disclosed in the present application will be described in detail based on the drawings. In addition, the evaluation apparatus and evaluation method which this application discloses are not limited by the following examples. In the following embodiments, a mobile phone evaluation device will be described as an example of an evaluation device. However, this may be an evaluation device for another wireless communication terminal, for example, an evaluation device for a PDA.
図1は、携帯電話の評価を行う評価系システムの全体図である。ここで、図1を参照して、携帯電話の評価系システムの全体的な動作を簡単に説明する。図1に示すように、評価系システムは、携帯電話評価装置1及び擬似基地局2を有している。
FIG. 1 is an overall view of an evaluation system for evaluating mobile phones. Here, the overall operation of the mobile phone evaluation system will be briefly described with reference to FIG. As shown in FIG. 1, the evaluation system includes a mobile
携帯電話評価装置1と擬似基地局2は、例えば、同軸ケーブル3で接続されている。具体的には、同軸ケーブル3は、携帯電話評価装置1のアンテナ端4と接続されている。そして、携帯電話評価装置1及び擬似基地局2は、同軸ケーブル3を介して相互に擬似的な無線通信を行う。
The mobile
本実施例に係る携帯電話評価装置1は、アンテナ端4、制御回路10、DBB−LSI11及びRF−LSI12を有している。
A mobile
RF−LSI12は、データや制御命令などの信号の入力を、同軸ケーブル3を介した擬似的な無線通信により擬似基地局2から受ける。そして、RF−LSI12は、受信した信号をデジタルのベースバンド信号に変換する。そして、RF−LSI12は、ベースバンド信号をDBB−LSI11へ出力する。
The RF-
また、RF−LSI12は、送信データの入力をDBB−LSI11から受ける。そして、RF−LSI12は、受信した送信データをアナログの無線信号に変換し、擬似的な無線信号として同軸ケーブル3を介して擬似基地局2へ送信する。
Further, the RF-
また、RF−LSI12は、制御命令などを伝えるコマンドの入力をDBB−LSI11から受ける。そして、RF−LSI12は、入力されたコマンドに従い処理を実行する。ここで、RF−LSI12は、入力されたコマンドに応じた処理の中で必要であれば、擬似基地局2に対して信号を送信する。RF−LSI12が、「RF部」の一例にあたる。
Further, the RF-
DBB−LSI11は、ベースバンド信号の入力をRF−LSI12から受ける。そして、DBB−LSI11は、受信したベースバンド信号に対してデータ復調などの処理を行う。
The DBB-
また、DBB−LSI11は、必要に応じてコマンドをRF−LSI12へ出力する。例えば、DBB−LSI11は、再送信の指示をRF−LSI12から受信すると、コマンドの再送信を行う。
Further, the DBB-
さらに、DBB−LSI11は、例えば、RF−LSI12の動作の履歴を記憶しておいてもよい。携帯電話の動作の評価を行っている作業者は、この履歴を参照することで、RF−LSI12が正常に動作しているか否かを把握することができる。RF−LSI12が、「ベースバンド処理部」の一例にあたる。
Furthermore, the DBB-
制御回路10は、DBB−LSI11からRF−LSI12に向けて出力された信号に含まれるビットのうち、指定されたビットの論理を反転させる。制御回路10の構成及び動作については、後で詳細に説明する。制御回路10が、「制御部」の一例にあたる。
The
擬似基地局2は、データや制御命令などの信号を、同軸ケーブル3を介した擬似的な無線通信を用いて携帯電話評価装置1へ送信する。そして、擬似基地局2は、自己が送信した制御命令に対する応答を、同軸ケーブル3を介してRF−LSI12から受信する。例えば、擬似基地局2は、携帯電話評価装置1から受信した応答から、携帯電話評価装置1に配置されたDBB−LSI11及びRF−LSI12などの動作が正常に行われているか否かを判定する。
The
DBB−LSI11によるRF−LSI12の動作の履歴の記憶や、擬似基地局2によるRF−LSI12の動作の判定などが、「RF−LSIの挙動情報の取得」の一例にあたる。そして、例えば、DBB−LSI11や擬似基地局2などが「情報取得部」の一例にあたる。
The storage of the history of the operation of the RF-
次に、図2を参照して、本実施例に係る携帯電話評価装置1の構成及び動作の概要を説明する。図2は、実施例1に係る携帯電話評価装置の概略を示す回路構成図である。
Next, an outline of the configuration and operation of the mobile
DBB−LSI11は、LVDS送信回路13を有している。また、DBB−LSI11は、出力端子14を有している。
The DBB-
LVDS送信回路13は、正側信号出力端子301及び負側信号出力端子302を有している。正側信号出力端子301は、正側の差動出力信号を出力する。以下では、正側の差動出力信号をOutput−P(Positive)と呼ぶ。また、負側信号出力端子302は、負側の差動出力信号を出力する。以下では、負側の差動出力信号をOutput−N(Negative)と呼ぶ。この正側の差動入力信号が「第1信号」にあたる。また、負側の差動入力信号が第2信号の一例にあたる。
The
後述するSW(Switch)16が正側信号出力端子301と正側信号入力端子501とを結ぶ伝送経路に切替わっている場合、Output−Pは、正側差動入力信号として正側信号入力端子501へ入力される。
When SW (Switch) 16 to be described later is switched to a transmission path connecting the positive
また、Output−Pは、伝送経路から分岐されて制御回路10の正側入力端子101へ入力される。
Output-P is branched from the transmission path and input to the
Output−Nは、負側差動入力信号として負側信号入力端子502へ入力される。また、Output−Nは、伝送経路から分岐されて制御回路10の負側入力端子102へ入力される。
Output-N is input to the negative-side
また、出力端子14は、制御命令などを出力する汎用ポートである。DBB−LSI11は、トリガー信号を制御回路10に向けて出力端子14から出力する。後述するSW17がONの場合、出力端子14から出力されたトリガー信号は、制御回路10の制御信号入力端子103へ入力される。DBB−LSI11は、テスト対象とするコマンドの情報の入力を予め受けている。そして、DBB−LSI11は、トリガー信号として、テスト対象であるコマンド以外のコマンドを出力した場合、出力端子14からL論理の信号を出力し、テスト対象のコマンドを出力した場合、出力端子14からH論理の信号を出力する。
The
RF−LSI12は、LVDS受信回路15を有している。
The RF-
LVDS受信回路15は、正側信号入力端子501と負側信号入力端子502を有している。正側信号入力端子501は、正側の差動入力信号の入力を受ける。以下では、正側の差動入力信号をInput−P(Positive)と呼ぶ場合がある。正側信号入力端子501は、後述するSW16が、正側信号出力端子301と正側信号入力端子501とを結ぶ伝送経路に切替わっている場合、Output−PをInput−Pとして受信する。また、SW16が、Vdd(Drain Voltage:電源電圧)側に切替わっている場合、正側信号入力端子501は、Input−Pとして電源電圧を有する信号の入力を受ける。さらに、SW16が、GND(Ground:基準電圧)側に切替わっている場合、正側信号入力端子501は、Input−Pとして基準電圧を有する信号の入力を受ける。
The
また、負側信号入力端子502は、負側の差動入力信号の入力を受ける。以下では、負側の差動入力信号をInput−N(Negative)と呼ぶ場合がある。Input−Nは、Output−Nと一致する。
The negative
そして、LVDS受信回路15は、正側信号入力端子501へ入力された信号の電位と、負側信号入力端子502へ入力された信号の電位との差分を算出する。そして、LVDS受信回路15は、その差が正のときは、対応するビットの論理がHであり、その差が負のときは対応するビットの論理をLとして判定する。そして、LVDS受信回路15は、その判定した論理を有するビットで構成されたコマンドをDBB−LSI11から出力されたコマンドとして取得する。
The
制御回路10は、正側入力端子101と、負側入力端子102、制御信号入力端子103、第1制御信号出力端子104、第2制御信号出力端子105、選択論理入力端子106及び反転ビット入力端子107を有している。以下では、正側入力端子101に入力される信号を「InP」と表す場合がある。また、負側入力端子102に入力される信号を「InN」と表す場合がある。また、制御信号入力端子103に入力される信号を「Cnt_En」と表す場合がある。また、第1制御信号出力端子104から出力される信号を「Cnt1」と表す場合がある。また、第2制御信号出力端子105から出力される信号を「Cnt2」と表す場合がある。また、選択論理入力端子106に入力される信号を「Cnt_sel」と表す場合がある。
The
正側入力端子101は、Output−Pの入力を正側信号出力端子301から受ける。この信号がInPにあたる。
The
負側入力端子102は、Output−Nの入力を負側信号出力端子302から受ける。この信号がInNにあたる。
The negative
制御信号入力端子103は、SW17が閉じている場合、トリガー信号の入力を出力端子14から受ける。この信号がCnt_selにあたる。例えば、制御信号入力端子103は、DBB−LSI11がテスト対象以外のコマンドを出力した場合、L論理の信号の入力を受ける。これに対して、制御信号入力端子103は、DBB−LSI11がテスト対象のコマンドを出力した場合、H論理の信号の入力を受ける。
The control
反転ビット入力端子107は、入力端子B1〜Bnのn個の入力端子を有している。ここで、nは正の整数であり、試験の対象となるコマンドのビット数に一致している。例えば、8ビットのコマンドを試験する場合には、n=8である。反転ビット入力端子107は、反転させるビットを指定する信号の入力を受ける。ここで、コマンドの3ビット目を反転させる場合を例に入力される信号について説明する。この場合、入力端子B1、B2及びB4〜BnにはH論理が入力される。そして、入力端子B3には、L論理が入力されることになる。
The inverted bit
選択論理入力端子106は、H論理又はL論理のいずれをビットの反転により生成する論理として選択するかの指示の入力を受ける。以下では、H論理又はL論理のうち、ビットの反転することで生成する論理を「選択論理」という。選択論理がH論理であるとは、L論理を反転しH論理に変更することを指す。また、選択論理がL論理であるとは、H論理を反転しL論理に変更することを指す。
The selection
制御回路10は、正側入力端子101、負側入力端子102及び制御信号入力端子103に入力された、Output−P、Output−N及びトリガー信号を取得する。また、制御回路10は、選択論理入力端子106及び反転ビット入力端子107に入力された、選択論理及び反転させるビットを指定する信号を取得する。そして、制御回路10は、取得した信号を用いて、Output−Pにおける反転するビットとして指定されたビットに対応する位置でSW16を切り替えるための信号であるワンパルス波形信号を生成する。この制御回路10による、Output−P、Output−N、トリガー信号及び反転させるビットを指定する信号を用いた、ワンパルス波形信号の具体的な生成については後で詳細に説明する。
The
第1制御信号出力端子104は、ビットの反転により生成する論理としてH論理が選択されている場合、指定された反転するビットに対応するワンパルス波形信号をSW16へ出力する。
When the H logic is selected as the logic generated by bit inversion, the first control
第2制御信号出力端子105は、ビットの反転により生成する論理としてL論理が選択されている場合、反転するビットに対応するワンパルス波形信号をSW6へ出力する。
When the L logic is selected as the logic generated by bit inversion, the second control
DBB−LSI11と後述するRF−LSI12とは、正側差動入力信号を伝送する伝送経路と負側差動入力信号を伝送する伝送経路で接続されている。そして、正側差動入力信号を伝送する伝送経路と負側差動入力信号を伝送する伝送経路とは、終端抵抗18で接続されている。
The DBB-
SW16は、正側信号出力端子301、Vdd又はGNDと正側信号入力端子501とを結ぶ各信号経路を切替えるスイッチである。SW16は、第1制御信号出力端子104及び第2制御信号出力端子105のいずれからもワンパルス波形信号の入力が無い場合、正側信号出力端子301と正側信号入力端子501とを結ぶ信号経路に切替える。
The
また、SW16は、第1制御信号出力端子104からワンパルス波形信号の入力を受けた場合、そのワンパルス波形信号のうちでパルスが発生している間、Vddと正側信号入力端子501とを結ぶ信号経路に切替える。これにより、SW16は、Output−Pが通過するときに、Output−Pに含まれるビットのうちワンパルス波形信号のパルスと一致するビットの間、Vddからの信号を正側信号入力端子501へ送る。すなわち、Output−Pの指定されたビットの電圧が、電源電圧に上昇することになる。
Further, when the SW16 receives a one-pulse waveform signal from the first control
また、SW16は、第2制御信号出力端子105からワンパルス波形信号の入力を受けた場合、そのワンパルス波形信号のうちでパルスが発生している間、GNDと正側信号入力端子501とを結ぶ信号経路に切替える。これにより、SW16は、Output−Pが通過するときに、Output−Pに含まれるビットのうちワンパルス波形信号のパルスと一致するビットの間、GNDからの信号を正側信号入力端子501へ送る。すなわち、Output−Pの指定されたビットの電圧が、基準信号に下降することになる。
Further, when the SW16 receives the input of the one-pulse waveform signal from the second control
すなわち、SW16の切替えにより、指定されたビットの位置の電圧が電源電圧又は基準電圧に変更されたOutput−PがInput−Pとして正側信号入力端子501へ入力されることになる。
That is, by switching SW16, Output-P in which the voltage at the designated bit position is changed to the power supply voltage or the reference voltage is input to the positive
ここで、図3を参照して、SW16の信号経路の切替えをまとめて再度説明する。図3は、SW16のスイッチ論理表を表す図である。SW16は、図3のスイッチ論理表200で表される論理に従って切替えを行う。スイッチ論理表200のCnt1の列は第1制御信号出力端子104から出力された信号を表している。Cnt1の列が0の場合には第1制御信号出力端子104からL論理の信号がSW16に入力されており、1の場合には第1制御信号出力端子104からH論理の信号がSW16に入力されていることを表している。また、スイッチ論理表200のCnt2の列は第2制御信号出力端子105から出力された信号を表している。Cnt2の列が0の場合には第2制御信号出力端子105からL論理の信号がSW16に入力されており、1の場合には第2制御信号出力端子105からH論理の信号がSW16に入力されていることを表している。スイッチ論理表200に示すように、第1制御信号出力端子104及び第2制御信号出力端子105のいずれからもL論理の信号が入力されている場合、SW16は、正側信号出力端子301からの信号を正側信号入力端子501へ伝送する伝送路に切替わる。第1制御信号出力端子104からのみH論理の信号の入力がある場合、SW16は、Vddと正側信号入力端子501とを結ぶ信号経路に切替わる。第2制御信号出力端子105からのみH論理の信号の入力がある場合、SW16は、GNDと正側信号入力端子501とを結ぶ信号経路に切替わる。
Here, with reference to FIG. 3, the switching of the signal path of the
SW17は、出力端子14と制御信号入力端子103を結ぶ信号経路のON/OFFを切替えるスイッチである。SW17は、出力端子14と制御信号入力端子103を結ぶ信号経路のON/OFFの指示の入力を作業者から予め受けている。そして、ONの指示を受けた場合、SW17は、スイッチを閉じる。そして、OFFの指示を受けた場合、SW17は、スイッチを開放する。
The
ここで、図4を参照して、本実施例における各信号の対応及びDBB−LSIから出力された送信コマンドの論理とRF−LSIが取得した受信コマンドの論理との対応について説明する。図4は、実施例1に係る制御回路のタイミングチャートである。図4は紙面に向かって右に向かって時間の経過を表している。 Here, with reference to FIG. 4, the correspondence between the signals in this embodiment and the correspondence between the logic of the transmission command output from the DBB-LSI and the logic of the reception command acquired by the RF-LSI will be described. FIG. 4 is a timing chart of the control circuit according to the first embodiment. FIG. 4 shows the passage of time toward the right toward the page.
Output−Pとして、グラフ201で表される電圧を有する信号を正側信号出力端子301が出力している。また、Output−Nとして、グラフ202で表される電圧を有する信号を負側信号出力端子302が出力している。そして、点線203で表される電位が本実施例のLVDSにおける高電位を表しており、本実施例では1.1Vとしている。また、点線204で表される電位が本実施例のLVDSにおける低電位を表しており、本実施例では0.7Vとしている。そして、グラフ201がグラフ202より高い電位となっている部分のビットがH論理であり、グラフ202がグラフ201より高い電位となっている部分のビットがL論理を現している。すなわち、図4は、L論理とH論理が交互に出力されていることを表している。このOutput−P及びOutput−Nの基となるコマンド(以下では、「送信コマンド」という。)の論理を表しているのが、表211の紙面に向かって上段のBDD−LIS出力論理である。ここで、表211の紙面に向かって左端の論理は0番目のビットの論理を表している。
The positive-side
ここでは、1つ目のビットと4つ目のビットを反転させるビットとして指定しているものとする。送信コマンドの1つ目のビットは、表211に示すようにLである。そこで、1つ目のビットを反転させるために、Output−Pの当該ビットの電位を1.1Vより高くすることになる。すなわち、Output−Pの1つ目のビットの電位を電源電圧にすることになる。また、送信コマンドの4つ目のビットは、表211に示すようにHである。そこで、4つ目のビットを反転させるために、Output−Pの当該ビットの電位を0.7Vより低くすることになる。すなわち、Output−Pの1つ目のビットの電位を基準電圧にすることになる。この場合、制御回路10の反転ビット入力端子107には1つ目のビット及び5つ目のビットを反転させる指示が入力される。すなわち、反転ビット入力端子107の入力端子B1及び入力端子B4にL論理が入力される。さらに、制御回路10の選択論理入力端子106には、1つ目のビットの選択論理としてH論理の選択が入力され、4つ目のビットの選択論理としてL論理の選択が入力される。
Here, it is assumed that the first bit and the fourth bit are designated as bits to be inverted. The first bit of the transmission command is L as shown in Table 211. Therefore, in order to invert the first bit, the potential of the bit of Output-P is set higher than 1.1V. That is, the potential of the first bit of Output-P is set to the power supply voltage. The fourth bit of the transmission command is H as shown in Table 211. Therefore, in order to invert the fourth bit, the potential of the bit of Output-P is made lower than 0.7V. That is, the potential of the first bit of Output-P is set to the reference voltage. In this case, an instruction to invert the first bit and the fifth bit is input to the inverted bit
そして、第1制御信号出力端子104は、グラフ205のように1つ目のビットの位置でパルスが発生するワンパルス波形信号(Cnt1)を出力する。また、第2制御信号出力端子105は、グラフ206のように4つ目のビットの位置でパルスが発生するワンパルス波形信号(Cnt2)を出力する。
The first control
グラフ205のワンパルス波形信号が第1制御信号出力端子104から入力されることで、SW16は、パルスが発生している1つ目のビットの間、Vdd側に切替わる。そして、グラフ206のワンパルス波形信号が第2制御信号出力端子105から入力されることで、SW16は、パルスが発生している4つ目のビットの間、GND側に切替わる。
When the one-pulse waveform signal of the
これにより、Input−Pとして正側信号入力端子501に入力される信号は、グラフ207に表される電圧を有する信号となる。ここで、点線209で表される電圧は、電源電圧であり、点線210で表される電圧は、基準電圧(GND)である。このように、この場合のInput−Pは、1つ目のビットの電圧が電源電圧(Vdd)であり、4つ目のビットの電源電圧が基準電圧となっている。
As a result, the signal input to the positive
これに対して、Output−Nは、そのままInput−Nとして負側信号入力端子502へ入力されるので、グラフ208のように、グラフ202と同様に高電位と低電位が繰り返される電圧を有する。
On the other hand, Output-N is directly input to the negative-side
グラフ207の1ビット目の電圧はグラフ208の1つ目のビットの電圧より高くなっている。したがって、RF−LSI12が取得したコマンド(以下、受信コマンドと言う。)の1つ目のビットはH論理である。また、グラフ207の4つ目のビットの電圧はグラフ208の4つ目のビットの電圧よりも低くなっている。したがって、受信コマンドの4つ目のビットはL論理である。また、受信コマンドの1つ目及び4つ目のビット以外のビットの論理は、対応する送信コマンドのビットの論理と一致する。すなわち、受信コマンドの各ビットの論理は、表211の紙面に向かって下段のRF−LSI入力論理のようになる。表2で分かるように、1つ目のビットを表す列212と4つ目のビットを表す列213の位置で、受信コマンドの論理が送信コマンドの論理に対して反転している。
The voltage of the first bit of the
次に、図5及び図6を参照して、制御回路10の回路構成を説明する。図5は、制御回路におけるワンパルス波形信号を生成する回路の回路構成図である。図6は、制御回路におけるワンパルス波形信号を用いてスイッチの制御を行う回路の回路構成図である。まず、図5を参照して、ワンパルス波形信号を生成する回路について説明する。
Next, the circuit configuration of the
制御回路10は、図5に示すような回路を有している。CDR(Clock Data Recovery)120は、正側入力端子101及び負側入力端子102が接続されている。そして、CDR120は、正側入力端子101に入力されたOutput−P及び負側入力端子102に入力されたOutut_Nを取得する。そして、CDR120は、Output−P及びOnput−NからOutput−P及びOutput−Nに重畳されているクロックを取得する。このCDR120は、例えば位相同期方式又は位相補間方式などといった、データに重畳されたクロックを取得する回路であれば特に制限は無い。そして、CDR120は、取得したクロックをD−FF(Flip Flop)121(1)〜121(n)へ出力する。
The
そして、CDR120の後段には、D−FF121(1)〜121(n)が図5のように直列に配置されている。nは正の整数であり、テスト対象であるコマンドのビット数に一致する。すなわち、テスト対象のコマンドが8ビットであれば、n=8である。そして、D−FF121(1)〜121(n)の出力は低電位に初期化されている。すなわち、D−FF121(1)〜121(n)は、H論理の信号が入力されない限りL論理を出力する。そして、D−FF121(1)〜121(n)は、クロックの入力をCDR120から受ける。D−FF121(1)〜121(n)は、入力されたクロックの立ち上がりのタイミングで信号を出力する。
Then, D-FFs 121 (1) to 121 (n) are arranged in series at the subsequent stage of the
1つ目のクロックがCDR120から入力されたときを説明する。D−FF121(1)は、ライン122から電源電圧(Vdd)を有する信号の入力を受ける。そして、D−FF121(1)は、電源電圧を有する信号の入力を受けているので、H論理の信号を出力する。この時、D−FF121(2)〜D−FF121(n)は、信号の入力を受けていないので、初期値であるL論理の信号を出力している。
A case where the first clock is input from the
そこで、1つ目のクロックでは、XOR回路123(1)は、H論理の信号の入力をD−FF121(1)から受け、L論理の信号の入力をD−FF121(2)から受ける。そこで、XOR回路123(1)は、排他論理和を取ることでH論理の信号を出力する。また、1つ目のクロックでは、XOR回路123(2)〜123(n)は、いずれも2つのL論理の信号の入力を受ける。したがって、XOR回路123(2)〜123(n)は、排他論理和を取ることでL論理の信号をクロックの立ち上がりのタイミングで出力する。 Therefore, in the first clock, the XOR circuit 123 (1) receives an input of an H logic signal from the D-FF 121 (1) and receives an input of an L logic signal from the D-FF 121 (2). Therefore, the XOR circuit 123 (1) outputs an H logic signal by taking an exclusive OR. In the first clock, each of the XOR circuits 123 (2) to 123 (n) receives two L logic signals. Therefore, the XOR circuits 123 (2) to 123 (n) output an L logic signal at the rising timing of the clock by taking an exclusive OR.
次に、2つ目のクロックがCDR120から入力されたときを説明する。D−FF121(1)は、ライン122から電源電圧を有する信号の入力を受け、H論理の信号を出力する。D−FF121(2)は、H論理の信号の入力をD−FF121(1)から受けているので、H論理の信号を出力する。この時、D−FF121(3)〜D−FF121(n)は、信号の入力を受けていないので、初期値であるL論理の信号を出力している。
Next, the case where the second clock is input from the
そこで、2つ目のクロックでは、XOR回路123(1)は、H論理の信号の入力をD−FF121(1)から受け、H論理の信号の入力をD−FF121(2)から受ける。そこで、XOR回路123(1)は、排他論理和を取ることでL論理の信号を出力する。また、XOR回路123(2)は、H論理の信号の入力をD−FF121(2)から受け、L論理の信号の入力をD−FF121(3)から受ける。そこで、XOR回路123(2)は、排他論理和を取ることでH論理の信号を出力する。また、2つ目のクロックでは、XOR回路123(3)〜123(n)は、いずれも2つのL論理の信号の入力を受ける。したがって、XOR回路123(3)〜123(n)は、排他論理和を取ることでL論理の信号をクロックの立ち上がりのタイミングで出力する。 Therefore, in the second clock, the XOR circuit 123 (1) receives an input of an H logic signal from the D-FF 121 (1) and receives an input of an H logic signal from the D-FF 121 (2). Therefore, the XOR circuit 123 (1) outputs an L logic signal by taking an exclusive OR. The XOR circuit 123 (2) receives an input of an H logic signal from the D-FF 121 (2) and receives an input of an L logic signal from the D-FF 121 (3). Therefore, the XOR circuit 123 (2) outputs an H logic signal by taking an exclusive OR. In the second clock, the XOR circuits 123 (3) to 123 (n) all receive two L logic signals. Therefore, the XOR circuits 123 (3) to 123 (n) output an L logic signal at the rising timing of the clock by taking an exclusive OR.
次に、3つ目のクロックがCDR120から入力されたときを説明する。D−FF121(1)は、ライン122から電源電圧を有する信号の入力を受け、H論理の信号を出力する。D−FF121(2)は、H論理の信号の入力をD−FF121(1)から受けているので、H論理の信号を出力する。さらに、D−FF121(3)は、H論理の信号の入力をD−FF121(2)から受けているので、H論理の信号を出力する。この時、D−FF121(4)〜D−FF121(n)は、信号の入力を受けていないので、初期値であるL論理の信号を出力している。
Next, the case where the third clock is input from the
そこで、3つ目のクロックでは、XOR回路123(1)は、H論理の信号の入力をD−FF121(1)から受け、H論理の信号の入力をD−FF121(2)から受ける。そこで、XOR回路123(1)は、排他論理和を取ることでL論理の信号を出力する。また、XOR回路123(2)は、H論理の信号の入力をD−FF121(2)から受け、H論理の信号の入力をD−FF121(3)から受ける。そこで、XOR回路123(1)は、排他論理和を取ることでL論理の信号を出力する。また、XOR回路123(3)は、H論理の信号の入力をD−FF121(3)から受け、L論理の信号の入力をD−FF121(4)から受ける。そこで、XOR回路123(2)は、排他論理和を取ることでH論理の信号を出力する。また、3つ目のクロックでは、XOR回路123(4)〜123(n)は、いずれも2つのL論理の信号の入力を受ける。したがって、XOR回路123(4)〜123(n)は、排他論理和を取ることでL論理の信号をクロックの立ち上がりのタイミングで出力する。 Therefore, in the third clock, the XOR circuit 123 (1) receives an input of an H logic signal from the D-FF 121 (1) and receives an input of an H logic signal from the D-FF 121 (2). Therefore, the XOR circuit 123 (1) outputs an L logic signal by taking an exclusive OR. The XOR circuit 123 (2) receives an input of an H logic signal from the D-FF 121 (2) and receives an input of an H logic signal from the D-FF 121 (3). Therefore, the XOR circuit 123 (1) outputs an L logic signal by taking an exclusive OR. The XOR circuit 123 (3) receives an input of an H logic signal from the D-FF 121 (3) and receives an input of an L logic signal from the D-FF 121 (4). Therefore, the XOR circuit 123 (2) outputs an H logic signal by taking an exclusive OR. In the third clock, the XOR circuits 123 (4) to 123 (n) all receive two L logic signals. Therefore, the XOR circuits 123 (4) to 123 (n) output an L logic signal at the rising edge of the clock by calculating an exclusive OR.
このようにして、n番目のクロックがCDR120から入力されるまでXOR回路123(1)〜123(n)は論理信号の出力を繰り返す。そして、各XOR回路123(j)(1≦j≦nの整数)は、j番目のクロックが入力された時のみH論理となる信号を出力する。すなわち、XOR回路123(j)は、j番目のビットにパルスが発生しているワンパルス波形信号を出力する。j番目のビットにパルスが発生しているワンパルス波形信号とは、言い換えれば、j番目のビットがH論理で他のビットがL論理である信号である。ここで、XOR回路123(1)が出力する1つ目のビットにパルスが発生しているワンパルス波形信号を信号(a)とする。また、XOR回路123(2)が出力する2つ目のビットにパルスが発生しているワンパルス波形信号を信号(b)と呼ぶ。また、XOR回路123(3)が出力する3つ目のビットにパルスが発生しているワンパルス波形信号を信号(c)と呼ぶ。さらに、XOR回路123(n)が出力するn番目のビットにパルスが発生しているワンパルス波形信号を信号(n)と呼ぶ。
In this manner, the XOR circuits 123 (1) to 123 (n) repeat the output of logic signals until the nth clock is input from the
次に、図6を参照して、ワンパルス波形信号を用いた制御回路10によるSW16の制御について説明する。ここでは、送信コマンドの3つ目のビットを反転させる場合で説明する。すなわち、入力端子B3にL論理の信号が入力され、入力端子B1、B2及びB4〜BnにH論理の信号が入力される。
Next, the control of the
OR回路131(j)は、XOR回路123(j)が出力した信号の入力を受ける。例えば、OR回路131(1)は、XOR回路123(1)から信号(a)の入力を受ける。OR回路131(2)は、XOR回路123(2)から信号(b)の入力を受ける。OR回路131(3)は、XOR回路123(3)から信号(c)の入力を受ける。さらに、OR回路131(n)は、XOR回路123(n)から信号(n)の入力を受ける。 The OR circuit 131 (j) receives the signal output from the XOR circuit 123 (j). For example, the OR circuit 131 (1) receives the signal (a) from the XOR circuit 123 (1). The OR circuit 131 (2) receives the signal (b) from the XOR circuit 123 (2). The OR circuit 131 (3) receives the signal (c) from the XOR circuit 123 (3). Further, the OR circuit 131 (n) receives the signal (n) from the XOR circuit 123 (n).
さらに、OR回路131(j)は、入力端子Bjに入力された信号の入力を受ける。すなわち、OR回路131(3)は、入力端子B3に入力されたL論理の信号の入力を受ける。また、OR回路131(1)、131(2)及び131(4)〜131(n)はそれぞれH論理の信号の入力を受ける。 Further, the OR circuit 131 (j) receives a signal input to the input terminal Bj. That is, the OR circuit 131 (3) receives an L logic signal input to the input terminal B3. Each of the OR circuits 131 (1), 131 (2) and 131 (4) to 131 (n) receives an H logic signal.
そして、OR回路131(j)は、入力された信号の論理和を出力する。すなわち、OR回路131(3)は、L論理の信号の入力を入力端子B3から受け、3つ目のビットがHになっている信号(c)の入力を受けるので、3つ目のビットがHになっている信号(c)が出力される。 Then, the OR circuit 131 (j) outputs a logical sum of the input signals. That is, the OR circuit 131 (3) receives the input of the L logic signal from the input terminal B3, and receives the input of the signal (c) in which the third bit is H, so that the third bit is The signal (c) which is H is output.
これに対して、OR回路131(1)、131(2)及び131(4)〜131(n)は、それぞれH論理の信号の入力を入力端子B1、B2及びB4〜Bnから受けているので、常にH論理の信号を出力する。このように、OR回路131(1)〜131(n)のいずれか1つからのみワンパルス波形信号が出力される。 On the other hand, the OR circuits 131 (1), 131 (2) and 131 (4) to 131 (n) receive the input of the H logic signal from the input terminals B1, B2 and B4 to Bn, respectively. , Always output an H logic signal. Thus, the one-pulse waveform signal is output only from any one of the OR circuits 131 (1) to 131 (n).
AND回路132は、ワンパルス波形信号である信号(c)の入力をOR回路131(3)から受ける。また、AND回路132は、H論理の信号の入力をOR回路131(1)、131(2)及び131(4)〜131(n)から受ける。そして、AND回路132は、論理積を取り信号を生成する。ここで、信号(c)のビットがL論理である時には、他の入力が全てH論理であるので、AND回路132はL論理の信号を出力する。さらに、信号(c)のビットがH論理である時には、他の入力は全てHであるので、AND回路132はH論理の信号を出力する。すなわち、AND回路132は、3つ目のビットがH論理であり、他のビットがL論理である信号、つまり信号(c)と同じワンパルス波形信号を出力する。このように、AND回路132は、OR回路131(1)〜131(n)のいずれか1つからワンパルス波形信号の入力を受け、入力されたワンパルス波形信号と同じ信号を出力する。
The AND
AND回路133は、出力されたワンパルス波形信号の入力をAND回路132から受ける。ここでは、AND回路133は、3つ目のビットにパルスが発生しているワンパルス波形信号の入力をAND回路132から受ける。さらに、AND回路133は、制御回路10の制御信号入力端子103へ入力されたトリガー信号(Cont_En)の入力を受ける。ここで、AND回路133は、トリガー信号として、指定されたコマンドが出力された場合にH論理の信号の入力を受け、それ以外の場合にはL論理の信号の入力を受ける。そして、AND回路133は、制御信号入力端子103にH論理の信号が入力されている場合、AND回路132から入力されたワンパルス波形信号と同じ信号を出力する。また、制御信号入力端子103にL論理の信号が入力されている場合、AND回路133は、L論理の信号を出力する。また、制御信号入力端子103へ入力されたトリガー信号(Cnt_En)は、Vddによって吊られており、弱いプルアップがかけられている。すなわち、トリガー信号が制御信号入力端子103に入力されていない状態では、AND回路133にH論理の信号が入力される。
The AND
スイッチ134は、AND回路133の出力の信号経路を第1制御信号出力端子104又は第2制御信号出力端子105のいずれかに切替えるスイッチである。そして、スイッチ134は、指定されたビットのL論理をH論理に変更するのか、H論理をL論理に変更するのかの選択論理の入力を予め受けている。そして、スイッチ134は、L論理をH論理に変更する選択論理の入力を受けている場合、AND回路133の出力の信号経路を第1制御信号出力端子104側に切替える。また、スイッチ134は、H論理をL論理に変更する選択論理の入力を受けている場合、AND回路133の出力の信号経路を第2制御信号出力端子105側に切替える。そして、スイッチ134から第1制御信号出力端子104及び第2制御信号出力端子105に向かういずれの信号にも弱いプルダウンがかけられている。すなわち、第1制御信号出力端子104及び第2制御信号出力端子105のうち使用していない側からの出力はL論理とされる。
The
例えば、3つ目のビットの選択論理としてL論理をH論理に変更する論理が指定されている場合について説明する。この場合、スイッチ134は、第1制御信号出力端子104側に切り替わっている。そして、AND回路133から出力された3つ目のビットにパルスが発生しているワンパルス波形信号が、第1制御信号出力端子104から出力される。
For example, a case where a logic for changing the L logic to the H logic is designated as the selection logic of the third bit will be described. In this case, the
これにより、SW16は、3つ目のビットにパルスが発生しているワンパルス波形信号の入力を第1制御信号出力端子104から受ける。この場合、ワンパルス波形信号のパルス以外の部分ではL論理が入力されるので、その間は、図3のスイッチ論理表200のCnt1が0の状態である。そして、ワンパルス波形信号のパルスが発生している部分ではH論理が入力されるので、その間は、スイッチ論理表200のCnt1が1の状態である。これに対して、SW16は、第2制御信号出力端子104からはL論理の信号を受けている。すなわち、スイッチ論理表200のCnt2の列は常に0の状態である。したがって、Output−Pの3つ目のビット以外では、スイッチ論理表200のCnt1が0でありCnt2が0であるので、SW16は、伝送路に接続されている。そして、Output−Pの3つ目のビットでは、スイッチ論理表200のCnt1が1でありCnt2が0であるので、SW16は、Vdd側に切替わる。これにより、Output−Pの3つ目のビットが電源電圧の電圧を有する信号に変更される。
Accordingly, the
ここで、図7を参照して、制御回路における各信号の対応について説明する。図7は、実施例1に係る制御回路に入力される信号及び生成される信号のタイミングチャートである。図7は紙面に向かって右に向かって時間の経過を表している。ここでは、試験の対象であるコマンドがnビットであり、そのコマンドの3ビット目をL論理からH論理に変更する場合で説明する。また、図7では、テスト対象のコマンドが送信コマンドの場合を示している。 Here, the correspondence of each signal in the control circuit will be described with reference to FIG. FIG. 7 is a timing chart of signals input to the control circuit according to the first embodiment and generated signals. FIG. 7 shows the passage of time toward the right toward the page. Here, a case where the command to be tested is n bits and the third bit of the command is changed from L logic to H logic will be described. FIG. 7 shows a case where the test target command is a transmission command.
まず、正側入力端子101は、Output−Pとして、グラフ220で表される電圧を有する信号の入力を正側信号出力端子301から受ける。また、負側入力端子102は、Output−Nとして、グラフ221で表される電圧を有する信号の入力を負側信号出力端子302から受ける。
First, the
そして、CDR120は、グラフ220で表されるOutput−P及びグラフ221で表されるOutput−Nから、グラフ222で表されるクロック(CLK)を作成する。
Then, the
そして、グラフ222で表されるクロック及びライン122から入力される電源電圧を有する信号を受けたときのD−FF121(1)〜121(n)それぞれからの出力を用いて、XOR回路123(1)〜123(n)は、ワンパルス波形信号を生成する。ここで、XOR回路123(1)は、グラフ223で表される1つ目のビットだけがH論理の信号(a)を生成する。また、XOR回路123(2)は、グラフ224で表される2つ目のビットだけがH論理の信号(b)を生成する。また、XOR回路123(3)は、グラフ225で表される3つ目のビットだけがH論理の信号(c)を生成する。また、XOR回路123(n)は、グラフ226で表されるn番目のビットだけがH論理の信号(n)を生成する。
The XOR circuit 123 (1) is output using outputs from the D-FFs 121 (1) to 121 (n) when a signal having a clock and a power supply voltage input from the
さらに、入力端子B1には、グラフ227で示されるH論理の信号が入力される。ここで、グラフ227は、2本の線のうち紙面に向かって上の線がLVDSの高電位を表しており、下の線がLVDSの低電位を表している。そして、グラフ227の、実線が入力端子B1に入力される信号の電圧を表している。(以下の説明のグラフ228、229、230、232及び234も、グラフ227と同様の方法で各信号を表している。)同様に、入力端子B2及びB4〜Bnには、グラフ228及びグラフ230などで表されるH論理の信号が入力される。また、入力端子B3には、グラフ229で表されるL論理の信号が入力される。
Further, an H logic signal indicated by a
グラフ223〜226で表されるワンパルス波形信号がそれぞれOR回路131(1)〜131(n)に入力される。また、グラフ227〜230で表される信号がそれぞれOR回路131(1)〜131(n)に入力される。これにより、OR回路131(3)は、グラフ225で表される信号(c)を出力する。また、OR回路131(1)、131(2)及び131(4)〜131(n)は、H論理の信号を出力する。そして、AND回路132が、OR回路131(1)〜(n)から出力された信号の入力を受ける。そして、AND回路132は、グラフ225で表される信号(c)を出力する。さらに、制御信号入力端子103は、グラフ231で示されるような1つ目のクロックの立ち上がりからH論理となる信号(Cnt_En)の入力を受ける。AND回路133は、グラフ231で示される信号の入力を受け、グラフ225で表される信号(c)を出力する。
One-pulse waveform signals represented by
スイッチ134は、グラフ232で表される選択論理を指定する信号の入力を受けている。グラフ232では、L論理をH論理に変更する信号であるH論理の信号が入力されているので、スイッチ134は、第1制御信号出力端子104側に経路を切替える。そして、スイッチ134は、グラフ225で表される信号(c)の入力をAND回路133から受ける。そして、スイッチ134は、グラフ225で表される信号(c)を第1制御信号出力端子104から出力する。これにより、第1制御信号出力端子104から出力される信号は、グラフ233で表される信号Cnt1となる。グラフ233は、グラフ225と同じ波形であり、3つ目のビットがH論理となっている。また、第2制御信号出力端子105からは、グラフ234で表されるようなL論理の信号が出力される。
The
SW16は、グラフ233及びグラフ234で表される信号の入力を受けて、Output−Pの3つ目のビットでVddに経路を切替える。これにより、正側信号入力端子501へ入力される信号は、グラフ235で表されるInput−Pとなる。Input−Pは、グラフ235で示すように3つ目のビットの電圧が電源電圧になっている。
The
また、負側信号入力端子502へ入力される信号は、グラフ236で表されるInput−Nとなる。グラフ236で表される信号Input−Nは、グラフ221で表される信号Output−Nと一致する。
The signal input to the negative side
そして、グラフ235及びグラフ236で表されるように、3つ目のビットのInput−Pは3つ目のビットのInput−Nより高い電位となっている。このため、LVDS受信回路15は、送信コマンドの3つ目のビットが反転したコマンドを受信コマンドとして取得する。
As represented by the
次に、図8を参照して、制御回路10の動作についてさらに説明する。図8は、制御回路の動作のフローチャートである。
Next, the operation of the
CDR120に、Output−P及びOutput−Nが入力される(ステップS101)。 Output-P and Output-N are input to the CDR 120 (step S101).
次に、CDR120は、Output−P及びOutput−Nから同期クロックを生成する(ステップS102)。
Next, the
D−FF121(1)〜D−FF121(n)及びXOR回路123(1)〜XOR回路123(n)は、CDR120が生成した同期クロックを用いて、1ビットずつパルスがずれているn本のワンパルス波形信号を生成する(ステップS103)。
The D-FF 121 (1) to D-FF 121 (n) and the XOR circuit 123 (1) to XOR circuit 123 (n) use n synchronous clocks generated by the
次に、OR回路131(1)〜131(n)及びAND回路132は、指定されたビットにパルスがあるワンパルス波形信号を抽出する(ステップS104)。
Next, the OR circuits 131 (1) to 131 (n) and the AND
AND回路133は、制御信号入力端子103への信号の入力の有無で、SW17がONとなっているか否かを判定する(ステップS105)。SW17がOFFの場合(ステップS105否定)、AND回路133からはH論理の信号が出力され、制御回路10によるSW15の制御は終了する。
The AND
これに対して、SW17がONの場合(ステップS105肯定)、AND回路133は、制御信号入力端子103から入力される信号Cnt_EnがH論理か否かにより、指定されたコマンドか否かを判定する(ステップS106)。Cnt_En=Hであり、指定されたコマンドでない場合(ステップS106否定)、ステップS109へ進む。
On the other hand, when SW17 is ON (Yes at step S105), the AND
これに対して、Cnt_En=Hであり、指定されたコマンドの場合(ステップS106肯定)、AND回路133は、指定されたビットにパルスがあるワンパルス波形信号をスイッチ134へ出力する。そして、スイッチ134は、第1制御信号出力端子104又は第2制御信号出力端子105のいずれか指定された信号経路から、指定されたビットにパルスがあるワンパルス波形信号を出力する(ステップS107)。
On the other hand, if Cnt_En = H and the command is specified (Yes at Step S106), the AND
そして、SW16は、第1制御信号出力端子104及び第2制御信号出力端子105からの入力を受けて、信号経路の切替えを行い、Output−Pのワンパルス波形信号のパルスの位置にあたるビットの電圧を変更する(ステップS108)。そして、LVDS受信回路15の正側入力端子101は、Output−Pのビットのうち指定されたビットの電圧が変更された信号であるInput−Pの入力を受ける。
Then, the
そして、制御回路10は、DBB−LSI11から出力される全てのコマンドが終了したか否かを判定する(ステップS109)。コマンドが残っている場合(ステップS109否定)、ステップS101〜ステップS108を繰り返す。これに対して、コマンドが残っていない場合(ステップS109肯定)、制御回路10は、SW16の制御を終了する。
Then, the
以上に説明したように、本実施例に係る評価装置は、DBB−LSIが送信する所定のコマンドの所定のビットを反転させて、RF−LSIへ入力することが可能である。これにより、信号がビット反転を起こした場合の無線通信端末装置の挙動を容易に評価することができる。 As described above, the evaluation apparatus according to the present embodiment can invert a predetermined bit of a predetermined command transmitted by the DBB-LSI and input it to the RF-LSI. Thereby, it is possible to easily evaluate the behavior of the wireless communication terminal apparatus when the signal undergoes bit inversion.
ここで、本実施例では、正側の差動信号の指定されたビットの電圧を変更する場合で説明したが、これは負側の差動信号の指定されたビットの電圧を変更するようにしてもよい。 Here, in this embodiment, the case where the voltage of the designated bit of the positive differential signal is changed has been described, but this is to change the voltage of the designated bit of the negative differential signal. May be.
図9は、実施例2に係る携帯電話評価装置の概略を示す回路構成図である。本実施例に係る携帯電話評価装置1は、正側差動入力信号又は負側差動入力信号の指定されたビットの電圧を下げることで、その指定されたビットの論理を反転することが実施例1と異なるものである。図9において、図2と同じ符号を有する各部は、特に説明の無い限り同じ機能を有するものとする。
FIG. 9 is a circuit configuration diagram illustrating an outline of the mobile phone evaluation apparatus according to the second embodiment. The mobile
本実施例に係る携帯電話評価装置は、図9に示すように、正側差動入力信号の伝送経路にSW19が配置され、負側差動入力信号の伝送経路にSW20が配置されている。
In the mobile phone evaluation apparatus according to the present embodiment, as shown in FIG. 9, the
本実施例においても、制御回路10の動作は実施例1と同様である。そして、選択論理がH論理、すなわち、L論理をH論理に変える場合には、制御回路10は、指定されたビットの位置にパルスが存在するワンパルス波形信号を第1制御信号出力端子104から出力する。また、選択論理がL論理、すなわち、H論理をL論理に変える場合には、制御回路10は、指定されたビットの位置にパルスが存在するワンパルス波形信号を第2制御信号出力端子105から出力する。
Also in this embodiment, the operation of the
SW19は、正側信号出力端子301が出力したOutput−Pを正側信号入力端子501へ入力する信号経路と、基準電圧を有する信号を正側信号入力端子501へ入力する信号経路とを切替えるスイッチである。SW19は、第2制御信号出力端子105から出力されたワンパルス波形信号の入力を受ける。そして、SW19は、パルスが発生している間、基準電圧を有する信号を正側信号入力端子501へ入力する信号経路に切替わる。これにより、Output−Pの指定されたビットの電圧が基準電圧まで落ちる。Output−Pにおける指定されたビットが高電位だった場合、そのままであればLVDS受信回路15は、そのビットの論理をH論理と判定する。しかし、そのビットの電圧が基準電圧まで落ちることで、Output−NよりもOutput−Pの電位が下回るため、LVDS受信回路15は、そのビットの論理をL論理と判定することになる。
The
SW20は、負側信号出力端子302が出力したOutput−Nを負側信号入力端子502へ入力する信号経路と、基準電圧を有する信号を負側信号入力端子502へ入力する信号経路とを切替えるスイッチである。SW20は、第1制御信号出力端子104から出力されたワンパルス波形信号の入力を受ける。そして、SW20は、パルスが発生している間、基準電圧を有する信号を負側信号入力端子502へ入力する信号経路に切替わる。これにより、Output−Nの指定されたビットの電圧が基準電圧まで落ちる。Output−Nにおける指定されたビットが高電位だった場合、そのままであればLVDS受信回路15は、そのビットの論理をL論理と判定する。しかし、そのビットの電圧が基準電圧まで落ちることで、Output−PよりもOutput−Nの電位が下回るため、LVDS受信回路15は、そのビットの論理をH論理と判定することになる。
ここで、図10を参照して、SW19及びSW20の信号経路の切替えをまとめて説明する。図10は、SW19及びSW20のスイッチ論理表を表す図である。SW19は、図10のスイッチ論理表600のCnt2の列で表される論理に従って切替えを行う。スイッチ論理表600のCnt1の列は第1制御信号出力端子104から出力された信号を表している。Cnt1の列が0の場合には第1制御信号出力端子104からL論理の信号がSW20に入力されており、1の場合には第1制御信号出力端子104からH論理の信号がSW20に入力されていることを表している。また、スイッチ論理表600のCnt2の行は第2制御信号出力端子105から出力された信号を表している。Cnt2の列が0の場合には第2制御信号出力端子105からL論理の信号がSW19に入力されており、1の場合には第2制御信号出力端子105からH論理の信号がSW19に入力されていることを表している。スイッチ論理表600に示すように、第1制御信号出力端子104からL論理の信号が入力されている場合、SW20は、負側信号出力端子302からの信号を負側信号入力端子502へ伝送する信号経路に切替わる。また、第1制御信号出力端子104からH論理の信号が入力されている場合、SW20は、GNDに切替わる。第1制御信号出力端子104からのみ信号の入力がある場合、SW20は、GNDに切替わる。また、スイッチ論理表600に示すように、第2制御信号出力端子105からL論理の信号が入力されている場合、SW19は、正側信号出力端子301からの信号を正側信号入力端子501へ伝送する信号経路に切替わる。また、第1制御信号出力端子104からL論理の信号が入力されている場合、SW19は、GNDに切替わる。
Here, with reference to FIG. 10, the switching of the signal paths of SW19 and SW20 will be described together. FIG. 10 is a diagram illustrating a switch logic table of SW19 and SW20. The
ここで、図11を参照して、本実施例における各信号の対応及びDBB−LSIから出力された送信コマンドの論理とRF−LSIが取得した受信コマンドの論理の対応について説明する。図11は、実施例2に係る制御回路のタイミングチャートである。図11は紙面に向かって右に向かって時間の経過を表している。 Here, with reference to FIG. 11, the correspondence between each signal and the correspondence between the logic of the transmission command output from the DBB-LSI and the logic of the reception command acquired by the RF-LSI will be described. FIG. 11 is a timing chart of the control circuit according to the second embodiment. FIG. 11 shows the passage of time toward the right toward the page.
Output−Pとして、グラフ241で表される電圧を有する信号を正側信号出力端子301が出力している。また、Output−Nとして、グラフ242で表される電圧を有する信号を負側信号出力端子302が出力している。そして、点線243で表される電位が本実施例のLVDSにおける高電位を表しており、本実施例では1.1Vとしている。また、点線244で表される電位が本実施例のLVDSにおける低電位を表しており、本実施例では0.7Vとしている。そして、グラフ241がグラフ242より高い電位となっている部分のビットがH論理であり、グラフ242がグラフ241より高い電位となっている部分のビットがL論理を現している。すなわち、図11は、L論理とH論理が交互に出力されていることを表している。このOutput−P及びOutput−Nの基となる送信コマンドの論理は、表250の紙面に向かって上段のBDD−LSI出力論理のようになる。ここで、表250の紙面に向かって左端の論理は0番目のビットの論理を表している。
As Output-P, the positive
ここでは、1つ目のビットと4つ目のビットを反転させるビットとして指定しているものとする。送信コマンドの1つ目のビットは、表250に示すようにLである。そこで、1つ目のビットを反転させるために、Output−Nの当該ビットの電位を0.7Vより低くすることになる。すなわち、Output−Nの1つ目のビットの電位を基準電圧(GND)にすることになる。また、送信コマンドの4つ目のビットは、表250に示すようにHである。そこで、4つ目のビットを反転させるために、Output−Pの当該ビットの電位を0.7Vより低くすることになる。すなわち、Output−Pの4つ目のビットの電位を基準電圧にすることになる。この場合、制御回路10の反転ビット入力端子107には1つ目のビット及び4つ目のビットを反転させる指示が入力される。すなわち、反転ビット入力端子107の入力端子B1及び入力端子B4にL論理が入力される。さらに、制御回路10の選択論理入力端子106には、1つ目のビットの選択論理としてH論理の選択が入力され、4つ目のビットの選択論理としてL論理の選択が入力される。
Here, it is assumed that the first bit and the fourth bit are designated as bits to be inverted. The first bit of the transmission command is L as shown in Table 250. Therefore, in order to invert the first bit, the potential of the bit of Output-N is made lower than 0.7V. That is, the potential of the first bit of Output-N is set to the reference voltage (GND). The fourth bit of the transmission command is H as shown in Table 250. Therefore, in order to invert the fourth bit, the potential of the bit of Output-P is made lower than 0.7V. That is, the potential of the fourth bit of Output-P is set to the reference voltage. In this case, an instruction to invert the first bit and the fourth bit is input to the inverted bit
そして、第1制御信号出力端子104は、グラフ245のように1つ目のビットの位置でパルスが発生するワンパルス波形信号(Cnt1)を出力する。また、第2制御信号出力端子105は、グラフ246のように4つ目のビットの位置でパルスが発生するワンパルス波形信号(Cnt2)を出力する。
The first control
グラフ245のワンパルス波形信号の入力を第1制御信号出力端子104から受けて、SW20は、パルスが発生している1つ目のビットの間、GND側に切替わる。そして、グラフ246のワンパルス波形信号の入力を第2制御信号出力端子105から受けて、SW20は、パルスが発生している4つ目のビットの間、GND側に切替わる。
In response to the input of the one-pulse waveform signal of the
これにより、Input−Pとして正側信号入力端子501に入力される信号は、グラフ247に表される電圧を有する信号となる。また、Input−Nとして負側信号入力端子502に入力される信号は、グラフ248に表される電圧を有する信号となる。ここで、点線249で表される電圧は、基準電圧(GND)である。
As a result, the signal input to the positive-side
Input−Pは、1つ目のビットの電圧が基準電圧となっている。これに対して、Output−Nの1つ目のビットは、そのままInput−Nとして負側信号入力端子502へ入力される。
In Input-P, the voltage of the first bit is the reference voltage. On the other hand, the first bit of Output-N is directly input to the negative side
また、Input−Nは、4つ目のビットの電圧が基準電圧となっている。これに対して、Output−Pの4つ目のビットは、そのままInput−Pとして負側信号入力端子502へ入力される。
In addition, the voltage of the fourth bit is the reference voltage for Input-N. On the other hand, the fourth bit of Output-P is directly input to the negative side
グラフ247の1つ目のビットの電圧はグラフ248の1ビット目の電圧より低くなっている。したがって、RF−LSI12が取得した受信コマンドの1つ目のビットはH論理である。また、グラフ248の4つ目のビットの電圧はグラフ247の4つ目のビットの電圧よりも高くなっている。したがって、受信コマンドの4つ目のビットはL論理である。また、受信コマンドの1つ目及び4つ目のビット以外のビットの論理は、対応する送信コマンドのビットの論理と一致する。すなわち、受信コマンドの各ビットの論理は、表250の紙面に向かって下段に示すRF−LIS入力論理のようになる。表250で分かるように、1つ目のビットを表す列251と4つ目のビット目を表す列252の位置で、受信コマンドの論理が送信コマンドの論理に対して反転している。
The voltage of the first bit of the
以上では、SW19及びSW20をGNDに切替え基準電圧を供給するように説明したが、SW19及びSW20をVddに切替え電源電圧を供給するようにしてもよい。その場合、Cnt1がSW19に入力され、Cnt2がSW20へ入力される。そして、SW1の切替えによって、指定されたビットのL論理がH論理に変更され、SW2の切替えによって、指定されたビットのH論理がL論理に変更されることになる。 In the above description, SW19 and SW20 are switched to GND and the reference voltage is supplied. However, SW19 and SW20 may be switched to Vdd and the power supply voltage may be supplied. In that case, Cnt1 is input to SW19, and Cnt2 is input to SW20. Then, the L logic of the designated bit is changed to H logic by switching SW1, and the H logic of the designated bit is changed to L logic by switching SW2.
以上に説明したように、本実施例に係る評価装置は、正側差動入力信号の所定のビットの電圧を基準電圧に落とすことで、送信コマンドの所定のビットの論理をH論理からL論理に変換したものを受信コマンドとする。また、正側差動入力信号の所定のビットの電圧を基準電圧に落とすことで、送信コマンドの所定のビットの論理をH論理からL論理に変換したものを受信コマンドとする。すなわち、実施例1と同様にDBB−LSIが送信する所定のコマンドの所定のビットを反転させた信号を、RF−LSIへ受信コマンドとして入力することが可能である。これにより、信号がビット反転を起こした場合の無線通信端末装置の挙動を容易に評価することができる。また、正側及び負側ともに同じスイッチが挿入されるため、LVDSとしてより正確な信号の送信を行うことができる。 As described above, the evaluation apparatus according to the present embodiment reduces the predetermined bit logic of the transmission command from the H logic to the L logic by dropping the voltage of the predetermined bit of the positive differential input signal to the reference voltage. The command converted into is a received command. In addition, by reducing the voltage of a predetermined bit of the positive side differential input signal to the reference voltage, a signal obtained by converting the logic of a predetermined bit of the transmission command from H logic to L logic is set as a reception command. That is, as in the first embodiment, a signal obtained by inverting a predetermined bit of a predetermined command transmitted by the DBB-LSI can be input to the RF-LSI as a received command. Thereby, it is possible to easily evaluate the behavior of the wireless communication terminal apparatus when the signal undergoes bit inversion. Further, since the same switch is inserted on both the positive side and the negative side, more accurate signal transmission can be performed as LVDS.
さらに、以上の説明では、特定のビットの反転について説明したが、反転させるビットを順次切り替えていき、テストを繰り返すことで、全てのビットの反転のテストを行っても良い。さらに、所定のコマンドの所定のビットの反転がテストできるように、反転させるビットに合わせて、指定するコマンドを自動的に指定する構成にしても良い。 Furthermore, in the above description, the inversion of specific bits has been described. However, the inversion test of all bits may be performed by sequentially switching the bits to be inverted and repeating the test. Further, the command to be specified may be automatically specified in accordance with the bit to be inverted so that the inversion of the predetermined bit of the predetermined command can be tested.
1 携帯電話評価装置
2 擬似基地局
3 同軸ケーブル
4 アンテナ端
10 制御回路
11 DBB−LSI
12 RF−LSI
13 LVDS送信回路
14 出力端子
15 LVDS受信回路
16 SW
17 SW
18 終端抵抗
19 SW
20 SW
101 正側入力端子
102 負側入力端子
103 制御信号入力端子
104 第1制御信号出力端子
105 第2制御信号出力端子
106 選択論理入力端子
107 反転ビット入力端子
120 CDR
121(1)〜121(n) D−FF
123(1)〜123(n) XOR回路
131(1)〜131(n) OR回路
132 AND回路
133 AND回路
134 スイッチ
DESCRIPTION OF
12 RF-LSI
13
17 SW
18 Terminating
20 SW
101
121 (1) to 121 (n) D-FF
123 (1) to 123 (n) XOR circuit 131 (1) to 131 (n) OR
Claims (6)
入力された信号の電位を基に各ビットの論理を判定し、該論理を有するデータを取得するするRF部と、
前記ベースバンド処理部から出力された前記第1信号を前記RF部へ入力する信号伝送経路と、前記第1信号に代えて所定電圧を有する信号を前記RF部へ入力する所定電圧入力経路との切り替えを行う第1スイッチと、
前記通信データに含まれる所定ビットの指定を受けて、前記第1スイッチを前記所定電圧入力経路に切り替えることで、前記RF部に入力される前記第1信号の前記所定ビットが位置する部分の電位を所定の値に変更する制御部と
前記所定ビットが位置する部分の電位が所定の値に変更された前記第1信号の入力を受けることにより前記通信データの前記所定ビットの論理が反転したデータを取得した場合の、前記RF部の挙動情報を取得する情報取得部と、
を備えたことを特徴とする評価装置。 A baseband processing unit that outputs a first signal representing the logic of each bit included in the communication data by a potential;
An RF unit that determines the logic of each bit based on the potential of the input signal and acquires data having the logic;
A signal transmission path for inputting the first signal output from the baseband processing section to the RF section, and a predetermined voltage input path for inputting a signal having a predetermined voltage to the RF section instead of the first signal. A first switch for switching;
In response to designation of a predetermined bit included in the communication data, the potential of a portion where the predetermined bit of the first signal input to the RF unit is located by switching the first switch to the predetermined voltage input path Data obtained by inverting the logic of the predetermined bit of the communication data by receiving the input of the first signal in which the potential of the portion where the predetermined bit is located and the potential of the portion where the predetermined bit is changed is changed to a predetermined value Information acquisition unit for acquiring the behavior information of the RF unit,
An evaluation apparatus comprising:
前記ベースバンド処理部から出力された第1信号から前記第1信号に対応するクロックを作成するクロック作成部と、
前記クロック作成部が作成したクロックを用いて、前記通信データに含まれる特定のビットに対応する位置で1つのパルスを有するワンパルス波形を各ビットに対応させて生成するワンパルス波形生成部と、
前記ワンパルス波形生成部が生成した前記ワンパルス波形の中から前記所定ビットに対応するワンパルス波形を抽出する抽出部と、
前記抽出部が抽出した前記ワンパルス波形のパルスが発生している間、前記第1スイッチを前記所定電圧入力経路に切り替えるスイッチ切替部と
を備えたことを特徴とする請求項1に記載の評価装置。 The controller is
A clock generation unit that generates a clock corresponding to the first signal from the first signal output from the baseband processing unit;
A one-pulse waveform generation unit that generates a one-pulse waveform having one pulse at a position corresponding to a specific bit included in the communication data using the clock generated by the clock generation unit, corresponding to each bit;
An extraction unit for extracting a one-pulse waveform corresponding to the predetermined bit from the one-pulse waveform generated by the one-pulse waveform generation unit;
The evaluation apparatus according to claim 1, further comprising: a switch switching unit that switches the first switch to the predetermined voltage input path while the pulse of the one-pulse waveform extracted by the extraction unit is generated. .
前記制御部は、グランド電圧を入力する経路に前記第1スイッチを切り替えることで、前記第1信号の前記所定ビットが位置する部分の電位を下げ、電源電圧を入力する経路に前記第1スイッチを切り替えることで、前記第1信号の前記所定ビットが位置する部分の電位を上げることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の評価装置。 The first switch has a path for inputting a ground voltage and a path for inputting a power supply voltage as a predetermined voltage input path,
The control unit switches the first switch to a path for inputting a ground voltage, thereby lowering a potential of a portion where the predetermined bit of the first signal is located, and setting the first switch to a path for inputting a power supply voltage. 3. The evaluation apparatus according to claim 1, wherein the potential of a portion where the predetermined bit of the first signal is located is increased by switching.
前記RF部は、受信側差動インタフェースを有し、前記ベースバンド処理部から出力された前記第1信号及び前記第2信号を受信し、該第1信号及び該第2信号の電位差から前記通信データに含まれる各ビット論理を判定する
ことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一つに記載の評価装置。 The baseband processing unit has a transmission-side differential interface, and transmits a second signal representing the logic of each bit of the communication data according to a potential difference with the first signal,
The RF unit has a reception-side differential interface, receives the first signal and the second signal output from the baseband processing unit, and performs communication based on a potential difference between the first signal and the second signal. The evaluation device according to any one of claims 1 to 3, wherein each bit logic included in the data is determined.
前記制御部は、前記通信データに含まれる所定ビットの指定を受けて、前記第1スイッチ又は前記第2スイッチを前記所定電圧入力経路に切り替えることで、前記第1信号又は前記第2信号の前記所定ビットが位置する部分の電位を所定の値に変更し、
前記情報取得部は、前記所定ビットが位置する部分の電位が所定の値に変更された前記第1信号又は前記所定ビットが位置する部分の電位が所定の値に変更された前記第2信号の入力を受けることで前記通信データの前記所定ビットの論理が反転したデータを取得した場合の、前記RF部の挙動情報を取得する、
ことを特徴とする請求項4に記載の評価装置。 A signal transmission path for inputting the second signal output from the baseband processing section to the RF section, and a predetermined voltage input path for inputting a signal having a predetermined voltage to the RF section instead of the second signal. A second switch for switching,
The control unit receives the designation of a predetermined bit included in the communication data, and switches the first switch or the second switch to the predetermined voltage input path, whereby the first signal or the second signal is changed. Change the potential of the part where the predetermined bit is located to a predetermined value,
The information acquisition unit includes the first signal in which the potential of the portion where the predetermined bit is located is changed to a predetermined value or the second signal in which the potential of the portion where the predetermined bit is located is changed to a predetermined value. Obtaining the behavior information of the RF unit when obtaining data in which the logic of the predetermined bit of the communication data is inverted by receiving an input;
The evaluation apparatus according to claim 4.
前記通信データに含まれる所定ビットの指定を受けて、前記第1信号をRF−LSIに入力する信号伝送経路と、前記第1信号に代えて所定電圧を前記RF−LSIに入力する所定電圧入力経路とを切り替えることで、前記第1信号の前記所定ビットが位置する部分の電位を所定の値に変更し、
前記所定ビットが位置する部分の電位が所定の値に変更された前記第1信号を前記RF−LSIに入力し、
前記RF−LSIに、入力された前記第1信号の電位を基に前記通信データに含まれる各ビットの論理を判定させ、前記通信データの中の前記所定ビットの論理が反転したデータを取得させ、
前記通信データの前記所定ビットの論理が反転したデータを取得した場合の、前記RF−LSIの挙動情報を取得する
ことを特徴とする評価方法。 A first signal representing the logic of each bit included in the communication data by a potential is output from the DBB-LSI,
A signal transmission path for inputting the first signal to the RF-LSI in response to designation of a predetermined bit included in the communication data, and a predetermined voltage input for inputting a predetermined voltage to the RF-LSI instead of the first signal By switching the path, the potential of the portion where the predetermined bit of the first signal is located is changed to a predetermined value,
The first signal in which the potential of the portion where the predetermined bit is located is changed to a predetermined value is input to the RF-LSI,
Let the RF-LSI determine the logic of each bit included in the communication data based on the potential of the input first signal, and acquire data obtained by inverting the logic of the predetermined bit in the communication data. ,
The behavior information of the RF-LSI is obtained when data in which the logic of the predetermined bit of the communication data is inverted is obtained.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Country Status (1)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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