JP2012190899A - Plasma processing apparatus - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a plasma processing apparatus which uses micro waves and improves the uniformity of the plasma processing.SOLUTION: The plasma processing apparatus uses a ring-shaped cavity resonator 204 which comprises an electromagnetic wave introduction path for generating plasma installed concentrically with a central axis of a processing chamber, is connected to an output port of a branch circuit for distributing the electromagnetic wave to a plurality of output ports, and is installed concentrically with the electromagnetic wave introduction path for generating plasma. In the apparatus, the electromagnetic wave introduction path for generating plasma consists of a circular waveguide 201, the branch circuit consists of a plurality of waveguides arranged at equal angles with respect to the central axis the processing chamber, and the circular waveguide 201 has a generation mechanism 602 for generating the circular wave in order to excite a progressive wave inside the resonator.

Description

本発明は、被処理基板をプラズマ処理するプラズマ処理装置に関する。   The present invention relates to a plasma processing apparatus for plasma processing a substrate to be processed.

半導体メモリやロジックLSI等の半導体装置の製造に用いられる基板は、生産性向上等のために大径化する傾向にあり、最先端の半導体メモリ等の半導体装置では直径300mmのシリコン基板を用いることが主流となっている。さらに直径450mmと巨大なシリコン基板が必要との意見もあり、基板大径化の傾向は続くと考えられる。これらの半導体装置の製造工程でプラズマ処理装置が用いられるが、被処理基板上に均一なプラズマ処理を施す必要があり、被処理基板の大径化に伴う技術的な難易度は増す傾向にある。   Substrates used in the manufacture of semiconductor devices such as semiconductor memories and logic LSIs tend to be increased in diameter to improve productivity, and the most advanced semiconductor devices such as semiconductor memories use a silicon substrate having a diameter of 300 mm. Has become the mainstream. Furthermore, there is an opinion that a silicon substrate with a diameter of 450 mm is necessary, and it is thought that the trend of increasing the substrate diameter will continue. Although a plasma processing apparatus is used in the manufacturing process of these semiconductor devices, it is necessary to perform uniform plasma processing on the substrate to be processed, and the technical difficulty associated with increasing the diameter of the substrate to be processed tends to increase. .

被処理基板上で均一なプラズマ処理を施すには、当然ながら被処理基板付近でのプラズマの密度や温度などのプラズマ特性の分布が重要であり、プラズマ分布をプラズマ処理均一化の観点から最適化する技術が重要となっている。   In order to perform uniform plasma processing on the substrate to be processed, naturally the distribution of plasma characteristics such as plasma density and temperature near the substrate to be processed is important, and the plasma distribution is optimized from the viewpoint of uniform plasma processing. Technology to do is important.

マイクロ波電力によりプラズマを発生させるプラズマ処理装置は、低圧力下でも高密度のプラズマを生成できる、静磁界との併用でプラズマの分布を静磁界分布調整で容易に制御できる等の特徴を持ち、前記半導体装置の製造等に広く用いられている。前述の基板大径化の傾向に対応してマイクロ波プラズマ処理装置においても、プラズマ分布の制御が重要である。   Plasma processing equipment that generates plasma using microwave power has features such as being able to generate high-density plasma even under low pressure, and easily controlling the plasma distribution by adjusting the static magnetic field distribution in combination with a static magnetic field. Widely used in manufacturing the semiconductor device. In response to the above-mentioned trend of increasing the substrate diameter, it is important to control the plasma distribution in the microwave plasma processing apparatus.

しかし、マイクロ波は波長が数cmから十数cm程度と短く波長と同等オーダーの寸法でマイクロ波の分布が変わりやすい。そのため広い範囲で均一なプラズマ処理を得るべくマイクロ波の分布を最適化することが困難となる傾向にある。マイクロ波を用いてプラズマを発生させるプラズマ源については、例えば、下記の従来技術がある。   However, the wavelength of microwaves is as short as several centimeters to several tens of centimeters, and the microwave distribution is easily changed with dimensions on the same order as the wavelengths. Therefore, it tends to be difficult to optimize the microwave distribution in order to obtain a uniform plasma treatment over a wide range. As a plasma source for generating plasma using a microwave, for example, there are the following conventional techniques.

特許文献1ではプラズマ発生用のマイクロ波を処理室内に放射するため、方形導波管をリング状に配置した空洞共振器を用いた例が開示されている。該空洞共振器のプラズマ処理室側にはスロットアンテナが配置され、プラズマ処理室に効率よくマイクロ波電力を放射してプラズマを発生させることが出来る。リング状の空洞共振器を励振するために方形導波管を接続してマイクロ波を供給する構造としている。   Patent Document 1 discloses an example using a cavity resonator in which rectangular waveguides are arranged in a ring shape in order to radiate plasma generation microwaves into a processing chamber. A slot antenna is disposed on the plasma processing chamber side of the cavity resonator, and plasma can be generated by efficiently radiating microwave power to the plasma processing chamber. In order to excite a ring-shaped cavity resonator, a rectangular waveguide is connected to supply microwaves.

また、特許文献2では、特許文献1におけるリング状空洞共振器を励振するために同軸線路をリング状空洞共振器と同軸に配置することで空洞共振器内電磁界の偏りを低減している。   Further, in Patent Document 2, the bias of the electromagnetic field in the cavity resonator is reduced by arranging the coaxial line coaxially with the ring-shaped cavity resonator in order to excite the ring-shaped cavity resonator in Patent Document 1.

特開平9−270386号公報JP-A-9-270386 特開2007−35411号公報JP 2007-35411 A

中島将光著、マイクロ波工学、森北出版Masamitsu Nakajima, Microwave Engineering, Morikita Publishing

特許文献1、2において、リング状空洞共振器内の電磁界は定在波を形成する。図10にリング状空洞共振器内の電界強度分布の一例を示す。電界の高い部分を濃い色、低い部分を薄い色で示す。図10の例では、電界の定在波が形成され、8箇所の電界強度の強い腹部、電界強度の弱い節部がある。これらの腹節の位置は固定されており、プラズマ処理室内にも空洞共振器内の電界強度腹節に対応した電界強度の強弱が発生する場合があることがわかった。   In Patent Documents 1 and 2, the electromagnetic field in the ring-shaped cavity resonator forms a standing wave. FIG. 10 shows an example of the electric field intensity distribution in the ring-shaped cavity resonator. The part where the electric field is high is shown in dark color, and the part where the electric field is low is shown in light color. In the example of FIG. 10, a standing wave of an electric field is formed, and there are eight abdominal portions with strong electric field strength and nodal portions with low electric field strength. The positions of these abdominal nodes were fixed, and it was found that the strength of the electric field strength corresponding to the abdominal nodes in the cavity resonator may also occur in the plasma processing chamber.

そのため、処理室内に発生するプラズマも不均一となる場合がある。この不均一により真空処理室を気密に保持しつつマイクロ波を透過させる誘電体窓部のプラズマによる削れが局所的に大きくなる、被処理基板に施すプラズマ処理の均一性に悪影響を与える、等の不具合が生じる場合があることがわかった。   For this reason, plasma generated in the processing chamber may be non-uniform. Due to this non-uniformity, the plasma processing of the dielectric window that transmits microwaves while holding the vacuum processing chamber hermetically increases locally, adversely affects the uniformity of plasma processing applied to the substrate to be processed, etc. It was found that there might be a problem.

本発明が解決しようとする第1の課題は、リング状空洞共振器内に生ずる定在波に起因する不均一を解決することである。   The first problem to be solved by the present invention is to solve the non-uniformity caused by the standing wave generated in the ring-shaped cavity resonator.

また、特許文献2において、リング状空洞共振器の励振に同軸線路を用いていたが、高出力のマイクロ波電力を投入する場合に同軸線路が加熱される場合があることがわかった。   In Patent Document 2, the coaxial line is used for exciting the ring-shaped cavity resonator. However, it has been found that the coaxial line may be heated when high-power microwave power is applied.

本発明が解決しようとする第2の課題は、高出力のマイクロ波電力投入を可能とするように特許文献2を改良したプラズマ処理装置を提供することである。   The second problem to be solved by the present invention is to provide a plasma processing apparatus improved from Patent Document 2 so that high-power microwave power can be input.

本発明は、第1の課題に対して、円偏波を用いて該リング状空洞共振器内に進行波を励振することで解決できる。
また、本発明は、第2の課題に対して、リング状空洞共振器の励振に同軸線路に代えて、円形導波管と方形導波管からなる構造を用いることで解決できる。
The present invention can solve the first problem by exciting a traveling wave in the ring-shaped cavity using circularly polarized waves.
Further, the present invention can solve the second problem by using a structure including a circular waveguide and a rectangular waveguide instead of the coaxial line for exciting the ring-shaped cavity resonator.

本発明のプラズマ処理装置は、内部が減圧排気される処理室と、前記処理室内に設けられ被処理基板が配置される基板電極と、前記処理室内にプラズマ発生用電磁波によりプラズマを発生させるプラズマ発生装置と、前記処理室内に処理ガスを供給する供給系と、前記処理室内を排気するための真空排気系とを有するプラズマ処理装置であって、前記処理室の中心軸と同心に設置されたプラズマ発生用電磁波導入経路を有し、該電磁波を複数の出力ポートに分配する分岐回路と、該分岐回路の出力ポートに接続され、前記プラズマ発生用電磁波の導入経路と同心に設置されたリング状空洞共振器を備え、前記プラズマ発生用電磁波導入経路が円形導波管により構成されたことを特徴とする。   The plasma processing apparatus of the present invention includes a processing chamber in which the inside is evacuated, a substrate electrode provided in the processing chamber on which a substrate to be processed is disposed, and plasma generation for generating plasma by plasma generating electromagnetic waves in the processing chamber A plasma processing apparatus having an apparatus, a supply system for supplying a processing gas into the processing chamber, and a vacuum exhaust system for exhausting the processing chamber, wherein the plasma is installed concentrically with the central axis of the processing chamber A branch circuit having a generation electromagnetic wave introduction path and distributing the electromagnetic wave to a plurality of output ports; and a ring-shaped cavity connected to the output port of the branch circuit and disposed concentrically with the introduction path of the plasma generation electromagnetic wave A resonator is provided, and the plasma generating electromagnetic wave introduction path is formed of a circular waveguide.

本発明のプラズマ処理装置は、更に、該分岐回路が、該処理室の中心軸に対して均等な角度で配置された複数の導波路で構成されたことを特徴とする。   The plasma processing apparatus of the present invention is further characterized in that the branch circuit is composed of a plurality of waveguides arranged at equal angles with respect to the central axis of the processing chamber.

また、本発明のプラズマ処理装置は、更に、該円形導波管に円偏波の発生機構を備えたことを特徴とする。   The plasma processing apparatus of the present invention is further characterized in that the circular waveguide is provided with a mechanism for generating circular polarization.

本発明によれば、リング状空洞共振器内に進行波を励振することで、定在波に起因するプラズマ密度の空間的な変動を防止でき、均一なプラズマ処理を可能とする効果がある。同様に誘電体窓のプラズマによる局所的な削れも防止できる。   According to the present invention, exciting a traveling wave in a ring-shaped cavity resonator can prevent a spatial variation in plasma density caused by a standing wave, and can achieve uniform plasma processing. Similarly, local scraping by the plasma of the dielectric window can be prevented.

また、本発明によれば、空洞共振器の励振に円形導波管と方形導波管を主要素とする立体回路系を用いることで、同軸線路を用いた励振系に比べ、マイクロ波電力損失の低減や耐電圧向上による高出力の投入を可能とする効果がある。   In addition, according to the present invention, a microwave power loss can be achieved by using a three-dimensional circuit system mainly composed of a circular waveguide and a rectangular waveguide for excitation of a cavity resonator, compared to an excitation system using a coaxial line. There is an effect of enabling a high output by reducing the voltage and improving the withstand voltage.

その他、従来技術に比べて、プラズマ密度分布の均一化が図れ、被処理基板に施すプラズマ処理の面内均一性が向上する他、マイクロ波導入窓のプラズマ不均一に起因する局所的な消耗を防止することが出来る。   In addition, compared to the conventional technology, the plasma density distribution can be made uniform, the in-plane uniformity of the plasma treatment applied to the substrate to be processed is improved, and local wear due to the plasma nonuniformity of the microwave introduction window is reduced. Can be prevented.

また、高出力のマイクロ波を投入可能となり、最適なプロセス条件を探索する範囲を拡大することができる。またマイクロ波電力の損失も減るためエネルギー消費を減らす効果もある。   In addition, high-power microwaves can be input, and the search range for optimum process conditions can be expanded. It also has the effect of reducing energy consumption since the loss of microwave power is reduced.

図1はマイクロ波を用いたエッチング装置の構成を説明する概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram illustrating the configuration of an etching apparatus using microwaves. 図2はリング状空洞共振器とこれを励振するための方形導波管と円形導波管を示す上面図である。FIG. 2 is a top view showing a ring-shaped cavity resonator and a rectangular waveguide and a circular waveguide for exciting the resonator. 図3はリング状空洞共振器とこれを励振するための方形導波管と円形導波管を示す側面図である。FIG. 3 is a side view showing a ring-shaped cavity resonator and a rectangular waveguide and a circular waveguide for exciting the resonator. 図4はリング状空洞共振器内と円形導波管内の電界分布を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing the electric field distribution in the ring-shaped cavity resonator and in the circular waveguide. 図5はリング状空洞共振器の励振点を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining the excitation point of the ring-shaped cavity resonator. 図6は本発明を用いたエッチング装置を説明する概略図である。FIG. 6 is a schematic view for explaining an etching apparatus using the present invention. 図7は円偏波発生器の構造を示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory view showing the structure of a circularly polarized wave generator. 図8は円矩形変換器を示す上面図である。FIG. 8 is a top view showing the circular-rectangular converter. 図9は円矩形変換器を示す側面図である。FIG. 9 is a side view showing the circular-rectangular converter. 図10は従来例の空洞共振器と内部の電界強度分布を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a conventional cavity resonator and internal electric field strength distribution.

以下、図1から図9を用いて、本発明のプラズマ処理装置の実施の形態について説明する。   Hereinafter, embodiments of the plasma processing apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS.

最初に図1により、例えば、特許文献2に記載されているエッチング装置について簡単に説明する。高周波電源117により発生した電磁波が導波管119によりアイソレータ121、自動整合機120を介して同軸導波管変換器118で同軸線路101に伝送される。高周波電源117として発振周波数2.45GHzのマグネトロンを用いた。   First, referring to FIG. 1, for example, an etching apparatus described in Patent Document 2 will be briefly described. An electromagnetic wave generated by the high frequency power source 117 is transmitted to the coaxial line 101 by the coaxial waveguide converter 118 via the isolator 121 and the automatic matching machine 120 through the waveguide 119. A magnetron with an oscillation frequency of 2.45 GHz was used as the high frequency power source 117.

さらに同軸線路101中を電磁波は伝送され、導体102と誘電体板103からなる分岐回路111により複数の短い同軸線路104に分岐されてリング状の空洞共振器105にもたらされる。リング状の空洞共振器105の下部には放射状のスロットアンテナ106が設けられ、誘電体窓107、シャワープレート108を介して処理室114に放射される。誘電体窓107およびシャワープレート108の材質としては石英を用いた。   Further, an electromagnetic wave is transmitted through the coaxial line 101, branched into a plurality of short coaxial lines 104 by a branch circuit 111 composed of a conductor 102 and a dielectric plate 103, and brought to a ring-shaped cavity resonator 105. A radial slot antenna 106 is provided below the ring-shaped cavity resonator 105 and is radiated to the processing chamber 114 through the dielectric window 107 and the shower plate 108. Quartz was used as the material for the dielectric window 107 and the shower plate 108.

シャワープレート108には誘電体窓107とシャワープレート108の間の微小な間隙を介して図示しない処理ガスの供給系から供給される処理ガスを処理室114内にシャワー状に供給できるように図示しない微小なガス供給孔が多数設けられている。また処理室114には図示しない真空排気系が接続され、処理室114内を真空排気すると共に、処理室内を処理に適した所定の圧力に保持する働きをもつ。   The shower plate 108 is not shown so that a processing gas supplied from a processing gas supply system (not shown) can be supplied into the processing chamber 114 in a shower-like manner through a minute gap between the dielectric window 107 and the shower plate 108. Many fine gas supply holes are provided. Further, a vacuum exhaust system (not shown) is connected to the processing chamber 114 and functions to evacuate the processing chamber 114 and maintain the processing chamber at a predetermined pressure suitable for processing.

処理室114内には被処理基板109を戴置するための基板電極110が設置されている。基板電極110にはバイアス電源115が自動整合機116を介して接続され、被処理基板109にバイアス電位を与えることができる。バイアス電源115の周波数としては400kHzのものを用いた。   A substrate electrode 110 for placing a substrate to be processed 109 is installed in the processing chamber 114. A bias power source 115 is connected to the substrate electrode 110 via an automatic matching machine 116, and a bias potential can be applied to the substrate 109 to be processed. The frequency of the bias power supply 115 is 400 kHz.

処理室114の周囲には静磁界の発生手段112が設けられ、処理室114内に静磁界を加えることができる。処理室114内に電子サイクロトロン共鳴となる静磁界(周波数2.45GHzの場合、0.0875テスラ)を発生させることで、高真空域でもプラズマの発生を容易にし、広い圧力範囲でのプラズマ処理を可能にすることができる。また静磁界の分布を調整することで、前記電子サイクロトロン共鳴を起こす位置やプラズマの拡散を制御して、プラズマの分布を調整することができる。   A static magnetic field generating means 112 is provided around the processing chamber 114, and a static magnetic field can be applied to the processing chamber 114. The generation of a static magnetic field (0.0875 Tesla in the case of a frequency of 2.45 GHz) in the processing chamber 114 facilitates the generation of plasma even in a high vacuum region, and enables plasma processing in a wide pressure range. Can be possible. Further, by adjusting the distribution of the static magnetic field, it is possible to adjust the plasma distribution by controlling the position where the electron cyclotron resonance occurs and the diffusion of the plasma.

また、リング状の空洞共振器105のリングの内側にも静磁界の発生手段113が設けられ、静磁界の制御可能な範囲を拡大することができる。   Also, a static magnetic field generating means 113 is provided inside the ring of the ring-shaped cavity resonator 105, so that the controllable range of the static magnetic field can be expanded.

図1に示すプラズマエッチング装置を評価したところ、下記の課題が判明した。
・課題1:高出力投入時に同軸導波管部が発熱する場合がある。
・課題2:空洞共振器内に生じる電界定在波のパターンに対応したエッチング速度の不均一が生じる場合がある。同様にマイクロ波導入窓に上記電界定在波パターンに対応した局所的な削れが起きる場合がある。
Evaluation of the plasma etching apparatus shown in FIG. 1 revealed the following problems.
Problem 1: The coaxial waveguide section may generate heat when a high output is applied.
Problem 2: There may be a case where etching rate non-uniformity corresponding to the pattern of the electric field standing wave generated in the cavity resonator occurs. Similarly, local shaving corresponding to the electric field standing wave pattern may occur in the microwave introduction window.

課題1に対応して、リング状空洞共振器の励振構造を見直した。同軸導波管を円形導波管に置き換え、さらに分岐回路を、方形導波管を用いて構成する構造を検討した。検討にあたり、同軸線路、円形導波管、方形導波管など公知のマイクロ波伝送線路の特性を非特許文献1により確認した。   In response to Problem 1, the excitation structure of the ring-shaped cavity resonator was reviewed. The structure in which the coaxial waveguide is replaced with a circular waveguide and the branch circuit is configured using a rectangular waveguide was studied. In the examination, the characteristics of known microwave transmission lines such as a coaxial line, a circular waveguide, and a rectangular waveguide were confirmed by Non-Patent Document 1.

通常、導波管を使用する場合は、単一のモードのみが伝搬可能な周波数を用いることが多い。例えば、本実施例で使用する周波数2.45GHzのマイクロ波の場合には、WRJ−2規格の断面が109.2mm×54.6mmの導波管を用いることが多い。この場合、導波管内のマイクロ波電磁界は方形導波管のTE10モードと呼ばれる分布のみが伝送され、導波管内の電磁界分布が安定化する効果がある。   Usually, when a waveguide is used, a frequency that can propagate only in a single mode is often used. For example, in the case of a microwave having a frequency of 2.45 GHz used in this embodiment, a waveguide having a cross section of 109.2 mm × 54.6 mm in WRJ-2 standard is often used. In this case, only the distribution called the TE10 mode of the rectangular waveguide is transmitted as the microwave electromagnetic field in the waveguide, which has the effect of stabilizing the electromagnetic field distribution in the waveguide.

一方、複数の伝搬モードが存在する導波管を用いた場合には、導波管内の電磁界は該複数の伝搬モードの重畳となる。各伝搬モードの混合比は例えば負荷のインピーダンスにより変動し、電磁界分布の安定化を図ることが困難となる問題がある。   On the other hand, when a waveguide having a plurality of propagation modes is used, the electromagnetic field in the waveguide is superimposed on the plurality of propagation modes. For example, the mixing ratio of each propagation mode varies depending on the impedance of the load, which makes it difficult to stabilize the electromagnetic field distribution.

上記の課題1を解決するために、同軸導波管部を円形導波管に置き換えることにした。同軸導波管の基本モードは中心軸から放射状の電界を持っており、円形導波管のTM01モードと類似の電磁界分布となることが知られている。そのため、同軸導波管部を円形導波管に置き換えるには、TM01モードで動作する円形導波管を用いることが簡単である。   In order to solve the above problem 1, the coaxial waveguide portion is replaced with a circular waveguide. It is known that the fundamental mode of the coaxial waveguide has a radial electric field from the central axis and has an electromagnetic field distribution similar to the TM01 mode of the circular waveguide. Therefore, to replace the coaxial waveguide portion with a circular waveguide, it is easy to use a circular waveguide that operates in the TM01 mode.

しかし、円形導波管のTM01モードは高次モードであるため、上述のように最低次のTE11モードが混入し、電磁界分布の安定性を損なう可能性がある。そこで電磁界分布の安定化を図る観点から、用いる周波数2.45GHz帯で、最低次モードであるTE11のみが伝搬可能な寸法の円形導波管を用いることにした。   However, since the TM01 mode of the circular waveguide is a high-order mode, the lowest-order TE11 mode is mixed as described above, and the stability of the electromagnetic field distribution may be impaired. Therefore, from the viewpoint of stabilizing the electromagnetic field distribution, a circular waveguide having a size capable of propagating only TE11 which is the lowest order mode in the frequency band of 2.45 GHz is used.

さらに、図1に示す構造では分岐回路は誘電体板と導体板を用いた構造であったが、これを方形導波管で置き換えることで、マイクロ波の損失を低減し、高電力マイクロ波の投入を可能とする構造を検討した。   Further, in the structure shown in FIG. 1, the branch circuit is a structure using a dielectric plate and a conductor plate. However, by replacing this with a rectangular waveguide, the loss of the microwave is reduced, and the high-power microwave is reduced. We examined the structure that enables input.

TE11モードで動作する円形導波管を中心軸上に配置し、該円形導波管から分岐した複数の方形導波管によりリング状空洞共振器を励振する方法を検討した。   A circular waveguide that operates in the TE11 mode is arranged on the central axis, and a method of exciting a ring-shaped cavity resonator using a plurality of rectangular waveguides branched from the circular waveguide has been studied.

図2,図3に検討の結果得られた構造を模式的に示す。図2が上面図、図3が側面図である。TE11モードのみが伝搬できる円形導波管201がリング状空洞共振器204の中心軸上に配置されており、整合用円錐202を介して方形導波管203に分岐されている。   2 and 3 schematically show the structure obtained as a result of the examination. 2 is a top view and FIG. 3 is a side view. A circular waveguide 201 capable of propagating only the TE11 mode is arranged on the central axis of the ring-shaped cavity resonator 204 and is branched to a rectangular waveguide 203 via a matching cone 202.

図2では4分岐する例を示したが、分岐する方形導波管の個数はこれに限定されるものではない。分岐数が1個の場合は、リング状空洞共振器内に進行波を励振することが困難であるほか、リング状空洞共振器204内のマイクロ波分布の不均一性が顕在化する可能性がある。分岐数が多すぎると構造的に複雑となる欠点がある。   Although FIG. 2 shows an example of four branches, the number of rectangular waveguides to be branched is not limited to this. When the number of branches is one, it is difficult to excite the traveling wave in the ring-shaped cavity resonator, and the non-uniformity of the microwave distribution in the ring-shaped cavity resonator 204 may become apparent. is there. If the number of branches is too large, there is a drawback that the structure becomes complicated.

そのため、3個以上5個以下程度が望ましいと考える。整合用円錐202は円形導波管201からのマイクロ波電力を方形導波管203に効率よく伝送するよう高さと下部径、上部径を調整している。また方形導波管203内に整合用リッジ205が設けられ、方形導波管203からのマイクロ波電力を効率よくリング状空洞共振器204に伝送するよう形状を調整している。   Therefore, 3 or more and 5 or less are considered desirable. The matching cone 202 is adjusted in height, lower diameter, and upper diameter so as to efficiently transmit the microwave power from the circular waveguide 201 to the rectangular waveguide 203. Further, a matching ridge 205 is provided in the rectangular waveguide 203, and the shape is adjusted so that the microwave power from the rectangular waveguide 203 is efficiently transmitted to the ring-shaped cavity resonator 204.

円形導波管や方形導波管、整合用リッジ、整合用円錐の材質としてはマイクロ波損失低減のために導電率の高い金属を用いることが望ましく、本実施例ではアルミニウムを用いた。さらにマイクロ波電磁界に曝露される内面を銀などの導電率の高い材質で被覆してもよい。   As a material for the circular waveguide, the rectangular waveguide, the matching ridge, and the matching cone, it is desirable to use a metal having high conductivity in order to reduce the microwave loss. In this embodiment, aluminum is used. Further, the inner surface exposed to the microwave electromagnetic field may be covered with a material having high conductivity such as silver.

円形導波管201には、後述する機構により円偏波化されたマイクロ波が導入されている。円形導波管201内で円偏波化されたマイクロ波の偏波面(マイクロ波の進行方向と中心軸上電界ベクトルの方向からなる平面)はマイクロ波の1周期に1回転する。4分岐された各方形導波管203は図2に示すθ方向に90度毎に1周360度を4等分した位置に配置されている。   In the circular waveguide 201, a microwave that is circularly polarized by a mechanism described later is introduced. The polarization plane of the microwave circularly polarized in the circular waveguide 201 (a plane composed of the traveling direction of the microwave and the direction of the electric field vector on the central axis) rotates once in one period of the microwave. Each rectangular waveguide 203 branched into four is arranged at a position obtained by dividing one rotation of 360 degrees into four equal parts every 90 degrees in the θ direction shown in FIG.

各方形導波管203は長さと構造が同じであるため、リング状空洞共振器204との接続部で、それぞれ位相が90度異なるマイクロ波が励振される。各方形導波管203とリング状空洞共振器204の4箇所の接続部はリング状空洞共振器204のθ方向に互いに90度ことなる位置にあり、各位置から90度位相の異なるマイクロ波で励振されることになる。   Since each rectangular waveguide 203 has the same length and structure, microwaves having phases different from each other by 90 degrees are excited at the connection portion with the ring-shaped cavity resonator 204. The four connecting portions of each rectangular waveguide 203 and the ring-shaped cavity resonator 204 are at positions that are 90 degrees apart from each other in the θ direction of the ring-shaped cavity resonator 204, and microwaves that are 90 degrees out of phase from each position. You will be excited.

整合用リッジ205や整合用円錐202はマイクロ波不整合の度合いが著しくない場合や、マイクロ波自動整合機で反射波を抑制できる場合には省略してもよい。また、整合用リッジを省略して、整合用円錐のみで分岐回路およびリング状空洞共振器励振部よりの反射波を抑制してもよい。また導波管部に導体棒を挿入するなど他の公知の整合手段を用いてもよい。   The matching ridge 205 and the matching cone 202 may be omitted when the degree of microwave mismatch is not significant or when the reflected wave can be suppressed by the microwave automatic matching machine. Further, the matching ridge may be omitted, and the reflected wave from the branch circuit and the ring-shaped cavity resonator excitation unit may be suppressed only by the matching cone. Further, other known matching means such as inserting a conductive rod into the waveguide portion may be used.

図2では4分岐した方形導波管203を用いた例を示したが、リング状空洞共振器内の電磁界分布と分岐の数、位置について説明する。図4にリング状空洞共振器等各部の電界ベクトルを記載した図を示す。円形導波管内電界ベクトル403は前述のように円形導波管TE11モードである。リング状空洞共振器内の電界401、402は図4の紙面に垂直な方向でそれぞれ180度方向が異なることを示している。リング状空洞共振器内では図4のθ方向に5波長分のマイクロ波が入る寸法となっている。円形導波管TE11モードの電界403は以下の式(1)のように表現できることが知られている。   Although FIG. 2 shows an example using the quadrangular rectangular waveguide 203, the electromagnetic field distribution, the number of branches, and the position in the ring-shaped cavity resonator will be described. FIG. 4 shows a diagram describing the electric field vectors of each part such as a ring-shaped cavity resonator. The electric field vector 403 in the circular waveguide is the circular waveguide TE11 mode as described above. The electric fields 401 and 402 in the ring-shaped cavity resonator indicate that the directions are different by 180 degrees in the direction perpendicular to the paper surface of FIG. In the ring-shaped cavity resonator, the dimensions are such that microwaves for five wavelengths enter in the θ direction of FIG. It is known that the electric field 403 of the circular waveguide TE11 mode can be expressed by the following equation (1).

Figure 2012190899
Figure 2012190899
Figure 2012190899
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式(1)より、角度θが0から360度の範囲で電界も1周期分の正弦的な変化をすることが分かる。一方、リング状空洞共振器内では角度θが0から360度の範囲に、5波長分のマイクロ波が存在するため、この範囲で5周期分の正弦的な変化をする。   From equation (1), it can be seen that the electric field also changes sinusoidally for one period when the angle θ is in the range of 0 to 360 degrees. On the other hand, in the ring-shaped cavity resonator, microwaves for five wavelengths exist in the range of the angle θ from 0 to 360 degrees, and therefore, a sinusoidal change for five cycles is performed in this range.

図5に、上記の位相関係を図示したグラフを示す。横軸に角度θを取り、縦軸にマイクロ波の位相を示す。リング状空洞共振器内では、角度θが0から360度の間に5波長分の位相変化をすることに対応して5本の直線となっている。   FIG. 5 shows a graph illustrating the above phase relationship. The horizontal axis represents the angle θ, and the vertical axis represents the phase of the microwave. In the ring-shaped cavity resonator, there are five straight lines corresponding to the phase change of five wavelengths when the angle θ is between 0 and 360 degrees.

同様に、円形導波管内では、角度θが0から360度の間に正弦波1周期分の位相変化をすることに対応して1本の直線となる。これらの直線の交点は角度θが0、90、180、270度の4点である。これらの交点で円形導波管内の波の位相とリング状空洞共振器内の波の位相が一致するため、各接続部での電磁界の不整合が生じず、励振点として望ましい。これらの交点に対応して4分岐した方形導波管を、角度θが0、90、180、270度の位置でリング状空洞共振器に接続して励振点とした。   Similarly, in the circular waveguide, there is a single straight line corresponding to a phase change for one cycle of the sine wave when the angle θ is between 0 and 360 degrees. The intersections of these straight lines are four points with angles θ of 0, 90, 180, and 270 degrees. Since the phase of the wave in the circular waveguide coincides with the phase of the wave in the ring-shaped cavity at these intersections, electromagnetic field mismatch at each connection portion does not occur, which is desirable as an excitation point. Four rectangular waveguides corresponding to these intersections were connected to the ring-shaped cavity resonator at angles θ of 0, 90, 180, and 270 degrees to form excitation points.

同様に、リング状空洞共振器として4波長分のマイクロ波で共振するモードを用いた場合は角度θが0、120、240度の3点で円形導波管内の波の位相とリング状空洞共振器内の位相が一致することから、これらの位置3点で励振することが望ましい。リング状空洞共振器のその他の共振モードを用いた場合も同様に励振点を定めることができる。   Similarly, when a mode that resonates with microwaves for four wavelengths is used as a ring-shaped cavity, the phase of the wave in the circular waveguide and the ring-shaped cavity resonance at three angles θ of 0, 120, and 240 degrees. Since the phases in the chamber match, it is desirable to excite at these three points. The excitation point can be similarly determined when other resonance modes of the ring-shaped cavity resonator are used.

上記、励振用の方形導波管はθ方向に関して均等に配置することで、リング状空洞共振器内のマイクロ波電力分布の不均一を極小とすることができる。即ち3個の方形導波管の場合は120度間隔、4個なら90度、5個なら72度間隔とすることが望ましい。さらに多くの導波管を用いると、リング状空洞共振器内の励振点に起因する不均一は減るが、構造が複雑となる欠点がある。またリング状空洞共振器の励振に用いる導波管は方形導波管以外の構造であっても同様の効果がある。例えば円形導波管、同軸導波管、マイクロストリップ線路等を用いてもよい。   By arranging the rectangular waveguides for excitation equally in the θ direction, it is possible to minimize the nonuniformity of the microwave power distribution in the ring-shaped cavity resonator. That is, in the case of three rectangular waveguides, it is desirable that the interval be 120 degrees, if four are 90 degrees, and if five are 72 degrees. When more waveguides are used, nonuniformity due to the excitation point in the ring-shaped cavity resonator is reduced, but there is a disadvantage that the structure becomes complicated. The same effect can be obtained even if the waveguide used for exciting the ring cavity resonator has a structure other than the rectangular waveguide. For example, a circular waveguide, a coaxial waveguide, a microstrip line, or the like may be used.

分岐の数が上記の原則を満たさない場合として、5波長分のマイクロ波で共振するリング状空洞共振器を3本の120度間隔で配置した方形導波管で励振した場合について検討した。3箇所の励振点に対応して、リング状空洞共振器内に4波長に相当する進行波が混入して励振されることが分かった。リング状空洞共振器はスロットアンテナや励振用方形導波管により空洞共振器外部と電磁気的に結合しており、所望のモードからの偏差が著しくない場合には、円偏波と複数個所の励振により、リング状空洞共振器内に進行波が励振できることが分かった。   As a case where the number of branches does not satisfy the above principle, a case where a ring-shaped cavity resonator resonating with microwaves for five wavelengths is excited by three rectangular waveguides arranged at intervals of 120 degrees was examined. It was found that traveling waves corresponding to four wavelengths were mixed and excited in the ring-shaped cavity resonator corresponding to the three excitation points. The ring-shaped cavity is electromagnetically coupled to the outside of the cavity by means of a slot antenna or an exciting rectangular waveguide. If there is no significant deviation from the desired mode, circular polarization and excitation at multiple locations Thus, it was found that a traveling wave can be excited in the ring-shaped cavity resonator.

次に、図4に示す構造の変形として、180度間隔で2個の方形導波管により励振する場合を調べた。この場合、リング状空洞共振器内に進行波が励振できず、定在波となった。一般に右回りの進行波と左回りの進行波が等振幅で存在する場合に完全な定在波となり、振幅に偏差が生じると、進行波成分が生じる。180度間隔で2個の方形導波管により励振した場合は、θが180度異なる場所を180度の位相差で励振したことになる。各方形導波管に対して略左右対称の構造であり、各方形導波管から右回り、左回りの進行波が等振幅で生じる。このような構造では右回り進行波と左回り進行波いずれかを打ち消すことができず、両者が等振幅で存在するため、進行波の励振ができなかった。   Next, as a modification of the structure shown in FIG. 4, the case where excitation was performed by two rectangular waveguides at intervals of 180 degrees was examined. In this case, the traveling wave could not be excited in the ring-shaped cavity resonator and became a standing wave. In general, when a clockwise traveling wave and a counterclockwise traveling wave exist with equal amplitude, a complete standing wave is generated, and when a deviation occurs in the amplitude, a traveling wave component is generated. When excitation is performed by two rectangular waveguides at intervals of 180 degrees, excitation is performed at a position where θ is different by 180 degrees with a phase difference of 180 degrees. The structure is substantially symmetrical with respect to each rectangular waveguide, and clockwise and counterclockwise traveling waves are generated with equal amplitude from each rectangular waveguide. In such a structure, it is impossible to cancel either the clockwise traveling wave or the counterclockwise traveling wave, and the traveling wave cannot be excited because both exist with equal amplitude.

図6に、改良したプラズマ処理装置を示す。図1に示すプラズマ処理装置と重複する部分の説明を省略し、主に相違点に着目して述べる。図1では同軸線路101によりリング状空洞共振器にマイクロ波を伝送していたが、円形導波管201に変更している。これに伴い、同軸導波管変換器118が円矩形変換器601に変更されている。   FIG. 6 shows an improved plasma processing apparatus. Descriptions of portions overlapping with the plasma processing apparatus shown in FIG. 1 will be omitted, and description will be made mainly focusing on the differences. In FIG. 1, microwaves are transmitted to the ring-shaped cavity resonator by the coaxial line 101, but are changed to the circular waveguide 201. Along with this, the coaxial waveguide converter 118 is changed to a circular rectangular converter 601.

円矩形変換器601は入力ポートが方形導波管で出力ポートが円形導波管となっており、方形導波管からもたらされたマイクロ波を効率よく円形導波管のTE11モードに変換する働きを持つ。   The circular-rectangular converter 601 has a rectangular waveguide as an input port and a circular waveguide as an output port, and efficiently converts a microwave generated from the rectangular waveguide into a TE11 mode of the circular waveguide. Have a job.

円矩形変換器601と円形導波管201の間に円偏波発生器602が配置されている。円偏波発生器602は円形導波管TE11モードの直線偏波として入力したマイクロ波を円偏波化する機能を持つ。円偏波化されたマイクロ波は円形導波管201から図2で説明した方形導波管203等を経てリング状空洞共振器204に伝送される。リング状空洞共振器として、図2に示すθ方向360度範囲に5波長分のマイクロ波が入る寸法とした。   A circularly polarized wave generator 602 is disposed between the circular rectangular converter 601 and the circular waveguide 201. The circularly polarized wave generator 602 has a function to circularly polarize a microwave input as a linearly polarized wave of the circular waveguide TE11 mode. The circularly polarized microwave is transmitted from the circular waveguide 201 to the ring-shaped cavity resonator 204 through the rectangular waveguide 203 described with reference to FIG. As a ring-shaped cavity resonator, the dimensions were such that microwaves for five wavelengths entered the range of 360 degrees in the θ direction shown in FIG.

リング状空洞共振器の処理室側に放射状のスロットアンテナ106が設けられ、リング状空洞共振器内のマイクロ波を処理室側に放射して処理室にプラズマを生成する。放射状のスロットアンテナ106と誘電体窓107の間に空洞部603を設けた。一般にスロットアンテナ直下ではアンテナ開口部との位置関係によりマイクロ波電力の場所的な不均一が大きいが、空洞部603を設けることで、このスロットアンナ配置に起因する不均一性を緩和する効果がある。   A radial slot antenna 106 is provided on the processing chamber side of the ring-shaped cavity resonator, and microwaves in the ring-shaped cavity resonator are emitted to the processing chamber side to generate plasma in the processing chamber. A cavity 603 is provided between the radial slot antenna 106 and the dielectric window 107. In general, the locational non-uniformity of the microwave power is large just below the slot antenna due to the positional relationship with the antenna opening, but the provision of the cavity 603 has the effect of alleviating the non-uniformity due to the slot antenna arrangement. .

また、空洞部603の高さ(スロットアンテナ106と誘電体窓107の距離)を調整することでマイクロ波の反射や分布を調整できる効果もある。スロットアンテナによる場所的な不均一が著しくない場合には、空洞部603は省略してもよい。   In addition, there is an effect that the reflection and distribution of the microwave can be adjusted by adjusting the height of the hollow portion 603 (distance between the slot antenna 106 and the dielectric window 107). The cavity 603 may be omitted when there is no significant local unevenness due to the slot antenna.

円偏波発生器として、公知の種々の構造を用いることができる。本実施例では図7に示す公知の構造を用いた。円形導波管701に誘電体板703を装荷した構造となっている。入力ポートでの円形導波管TE11モードの電界ベクトルを模式的に示している。入力ポートより入射するマイクロ波は直線偏波であり、図7に示すように誘電体板703とマイクロ波電界ベクトルは中心軸上で45度の角度で交差するように配置されている。誘電体板703としてマイクロ波702に対して損失の小さい誘電体を用いることができ、本実施例では石英を用いた。誘電体板703の厚さと長さを調整することで出力ポートでのマイクロ波を円偏波化することができる。   Various known structures can be used as the circularly polarized wave generator. In this example, a known structure shown in FIG. 7 was used. The circular waveguide 701 is loaded with a dielectric plate 703. The electric field vector of the circular waveguide TE11 mode at the input port is schematically shown. The microwave incident from the input port is linearly polarized wave, and as shown in FIG. 7, the dielectric plate 703 and the microwave electric field vector are arranged so as to intersect at an angle of 45 degrees on the central axis. As the dielectric plate 703, a dielectric having a small loss with respect to the microwave 702 can be used. In this embodiment, quartz is used. By adjusting the thickness and length of the dielectric plate 703, the microwave at the output port can be circularly polarized.

図8および9に円矩形変換器の構造を示す。図8に上面図、図9に側面図を示す。入力側断面が方形導波管となる方形導波管部801と、出力側断面が円形導波管となる円形導波管部802が接続された構造となっている。さらにマイクロ波の進行方向を90度曲げる機能も有しており、装置の小型化に寄与している。円形導波管部のTE11モード電界分布も併せて示す。図7に示す円偏波発生器の誘電体板はこの円形導波管TE11モード電界に対して45度傾斜して設置した。   8 and 9 show the structure of the circular rectangle converter. FIG. 8 shows a top view and FIG. 9 shows a side view. A rectangular waveguide portion 801 whose input side section is a rectangular waveguide and a circular waveguide section 802 whose output side section is a circular waveguide are connected. Furthermore, it also has a function of bending the microwave traveling direction by 90 degrees, contributing to the miniaturization of the apparatus. The TE11 mode electric field distribution of the circular waveguide portion is also shown. The dielectric plate of the circularly polarized wave generator shown in FIG. 7 was installed with an inclination of 45 degrees with respect to the circular waveguide TE11 mode electric field.

本発明は図面に示すプラズマエッチング装置に限定されるものではなく、他のプラズマ発生方法によるプラズマエッチング装置にも適用可能である。また、その他のプラズマ処理として例えばプラズマCVD、プラズマアッシングにも適用可能である。   The present invention is not limited to the plasma etching apparatus shown in the drawings, but can be applied to plasma etching apparatuses using other plasma generation methods. Further, for example, plasma CVD and plasma ashing can be applied as other plasma processing.

101 同軸線路
102 導体
103 誘電体板
104 短い同軸線路
105 リング状の空洞共振器
106 スロットアンテナ
107 誘電体窓
108 シャワープレート
109 被処理基板
110 基板電極
111 分岐回路
112 静磁界の発生手段
113 静磁界の発生手段
114 処理室
115 バイアス電源
116 自動整合機
117 高周波電源
118 同軸導波管変換器
120 自動整合機
119 導波管
121 アイソレータ
201 円形導波管
202 整合用円錐
203 方形導波管
204 リング状空洞共振器
205 整合用リッジ
401 リング状空洞共振器内の電界
402 リング状空洞共振器内の電界
403 円形導波管内電界ベクトル
601 円矩形変換器
602 円偏波発生器
603 空洞部
701 円形導波管
702 マイクロ波
703 誘電体板
801 方形導波管部
802 円形導波管部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 Coaxial line 102 Conductor 103 Dielectric board 104 Short coaxial line 105 Ring-shaped cavity resonator 106 Slot antenna 107 Dielectric window 108 Shower plate 109 Substrate 110 Substrate electrode 111 Branch circuit 112 Static magnetic field generating means 113 Static magnetic field generation Generation means 114 Processing chamber 115 Bias power supply 116 Automatic matching machine 117 High-frequency power supply 118 Coaxial waveguide converter 120 Automatic matching machine 119 Waveguide 121 Isolator 201 Circular waveguide 202 Matching cone 203 Rectangular waveguide 204 Ring-shaped cavity Resonator 205 Matching ridge 401 Electric field in ring cavity resonator 402 Electric field in ring cavity resonator 403 Electric field vector in circular waveguide 601 Circular rectangular converter 602 Circular polarization generator 603 Cavity 701 Circular waveguide 702 microwave 703 Dielectric plate 801 Rectangular waveguide portion 802 Circular waveguide portion

Claims (3)

内部が減圧排気される処理室と、
前記処理室内に設けられ被処理基板が配置される基板電極と、
前記処理室内にプラズマ発生用電磁波によりプラズマを発生させるプラズマ発生装置と、
前記処理室内に処理ガスを供給する供給系と、
前記処理室内を排気するための真空排気系と、を有するプラズマ処理装置において、
前記処理室の中心軸と同心に設置されたプラズマ発生用電磁波導入経路と、
該電磁波を複数の出力ポートに分配する分岐回路と、
該分岐回路の出力ポートに接続され、前記プラズマ発生用電磁波の導入経路と同心に設置されたリング状空洞共振器と、を備え、
前記プラズマ発生用電磁波導入経路が円形導波管により構成されていることを特徴とするプラズマ処理装置。
A processing chamber in which the inside is evacuated,
A substrate electrode provided in the processing chamber and on which a substrate to be processed is disposed;
A plasma generator for generating plasma by plasma generating electromagnetic waves in the processing chamber;
A supply system for supplying a processing gas into the processing chamber;
In a plasma processing apparatus having a vacuum exhaust system for exhausting the processing chamber,
An electromagnetic wave introduction path for generating a plasma installed concentrically with the central axis of the processing chamber;
A branch circuit for distributing the electromagnetic wave to a plurality of output ports;
A ring-shaped cavity resonator connected to the output port of the branch circuit and disposed concentrically with the introduction path of the plasma generating electromagnetic wave;
A plasma processing apparatus, wherein the plasma generating electromagnetic wave introduction path is constituted by a circular waveguide.
請求項1記載のプラズマ処理装置において、
該分岐回路が、該処理室の中心軸に対して均等な角度で配置された複数の導波路で構成されていることを特徴とするプラズマ処理装置。
The plasma processing apparatus according to claim 1,
The plasma processing apparatus, wherein the branch circuit includes a plurality of waveguides arranged at equal angles with respect to the central axis of the processing chamber.
請求項1または2記載のプラズマ処理装置において、
該円形導波管に円偏波の発生機構を備えていることを特徴とするプラズマ処理装置。
The plasma processing apparatus according to claim 1 or 2,
A plasma processing apparatus comprising a circularly polarized wave generating mechanism in the circular waveguide.
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