JP2012185184A - Temperature control apparatus of electronic component, and handler apparatus - Google Patents

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Satoshi Nakamura
敏 中村
Daisuke Kirihara
大輔 桐原
Hiroaki Fujimori
広明 藤森
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent dew condensation of piping of an evaporator part composing a coolant channel of a temperature control apparatus of an electronic component to be used for characteristic inspection or the like of the electronic component or a handler apparatus including the temperature control apparatus.SOLUTION: The temperature control apparatus of an electronic component includes: a cooling cycle device including a coolant channel circulating a compressor 1, a condenser 2, an expander 6 and an evaporator 7; a heat conduction block 9 having a surface capable of contacting with an electronic component 40 connected to the evaporator 7; at least one first heater 10 for heating the heat conduction block 9; and a second heater 12 for heating coolant recovery side piping 18 returned from the evaporator 7 to the compressor 1. When a distance between the evaporator 7 and the second heater 12 is short, it is preferable to arrange a heat insulator 21 on the piping 18 between the evaporator 7 and the second heater 12.

Description

本発明は、電子部品の特性検査などにおいて使用される電子部品の温度制御装置、並びにその温度制御装置を備えたハンドラ装置に関する。   The present invention relates to an electronic component temperature control device used in an electronic component characteristic inspection and the like, and a handler device including the temperature control device.

ICなどの電子部品の特性検査において、電子部品を所定の温度に保持した状態で検査をする温度負荷試験がある。この温度負荷試験においては、電子部品の自己発熱による温度変化を補完することにより、正確な温度負荷下で電子部品の検査を行う必要がある。特に昨今は、パソコンのCPUに代表されるように、電子部品の高速化、高集積化、微細化が進み、その発熱量がますます増大する傾向にあるため、検査時に高いレベルの温度制御技術が求められている。このため、従来より電子部品の温度制御技術が種々開発されている(例えば、特許文献1〜3)。   In a characteristic inspection of an electronic component such as an IC, there is a temperature load test in which the electronic component is inspected while being held at a predetermined temperature. In this temperature load test, it is necessary to inspect the electronic component under an accurate temperature load by complementing the temperature change due to self-heating of the electronic component. Recently, as represented by the CPUs of personal computers, electronic components are becoming faster, more integrated, and more miniaturized, and the amount of heat generated tends to increase. Is required. For this reason, various temperature control technologies for electronic components have been developed (for example, Patent Documents 1 to 3).

特表2001−526837号公報JP 2001-526837 A 特表2002−520622号公報Japanese translation of PCT publication No. 2002-520622 特表2004−527764号公報JP-T-2004-527764

特許文献1や特許文献2のような液体を循環させる方式では、電子部品の高い発熱量を冷却するために液体温度を零度以下に冷やす必要がある。その場合には、電子部品をハンドリングするハンドラ装置が設置された雰囲気の湿度によって、液体により冷やされた配管や流路構成部品などが露点以下に冷えるために結露してしまう。たとえば具体的なケースで説明すると、電子部品の内部集積回路チップの温度をTjとして、電子部品外装部材の表面の温度をTcとすると、TjとTcの間の熱抵抗は0.1〜0.3℃/W程度ある。また電子部品を検査ソケットに押し付けてテストするための測定ヘッドの温度をThとすると、ThとTcとの間の熱抵抗は大きい場合に0.2℃/W程度ある。これは接触面の密着具合によりミクロ的な空気層によって熱抵抗が大きくなるからである。そして最大の熱抵抗は0.5℃/Wとなる場合もある。この場合、電子部品の電気特性試験時に200Wの発熱がある場合には、冷却しようとする測定ヘッドの温度Thと電子部品内部のTjとの間の温度差が、200×0.5=100℃となる。よってTjの温度を80℃で試験するケースでは、Thをマイナス20℃にする必要がある。ハンドラ装置の設置した部屋の温度が20℃、湿度50%とすると露点は9.3℃となり、それ以下の温度では配管や流路構成部品などが結露し、氷点下の温度ではさらに霜が付く。そのため通常、配管や部品に断熱材を巻くなどして結露対策を施すが、動作する可動部の配管などは屈曲による耐久性劣化を避けるため断熱材を厚くできないので、現実には可動部の配管などの結露を防ぐことは困難である。
また、冷却液体を循環させるためには大きなタンクを持った液体冷却装置(チラー)が必要となる。しかも、電子部品を冷却する稼動に入る前に、タンク内の冷却液を冷やすために多くの時間がかかってしまう。
また、電子部品に接触してそれを冷却するヒートシンクの内部に加熱用のヒータを配置した場合、ヒータの第一の面と第二の面の温度差が大きくなり、ヒータがその熱膨張と収縮による応力で破損してしまう場合がある。また、電子部品を検査する際に加える加圧力がすべてヒータに加わることとなり、ヒータのひび割れやヒータとヒートシンク間の接合材がひび割れを起こす不具合がある。
また、特許文献3に記載の圧縮機と凝縮器を備えた冷却システムにおいても、流体流ループの低温側で、露点以下になり、可動部配管に結露が生じる場合がある。
さらに、電子部品を搬送する機能と測定中の電子部品を冷却する機能を一体化したハンドラ装置の測定ハンドにおいて、電子部品を吸着する吸着パットが、熱伝導性を改善するために電子部品上面に塗布された熱伝導性液体を吸込んでしまう不具合もあった。
In the method of circulating the liquid as in Patent Document 1 and Patent Document 2, it is necessary to cool the liquid temperature to zero degrees or less in order to cool the high heat generation amount of the electronic component. In that case, due to the humidity of the atmosphere in which the handler device for handling electronic components is installed, the pipes and flow path components cooled by the liquid are cooled below the dew point, resulting in condensation. For example, in a specific case, if the temperature of the internal integrated circuit chip of the electronic component is Tj and the temperature of the surface of the electronic component exterior member is Tc, the thermal resistance between Tj and Tc is 0.1-0. About 3 ° C / W. If the temperature of the measuring head for pressing the electronic component against the inspection socket for testing is Th, the thermal resistance between Th and Tc is about 0.2 ° C./W when the thermal resistance is large. This is because the thermal resistance is increased by the microscopic air layer due to the close contact of the contact surface. The maximum thermal resistance may be 0.5 ° C./W. In this case, if there is 200 W of heat during the electrical property test of the electronic component, the temperature difference between the temperature Th of the measuring head to be cooled and Tj inside the electronic component is 200 × 0.5 = 100 ° C. It becomes. Therefore, in the case where the temperature of Tj is tested at 80 ° C., Th needs to be minus 20 ° C. If the temperature of the room where the handler device is installed is 20 ° C. and the humidity is 50%, the dew point is 9.3 ° C., and below this temperature, pipes and flow path components are condensed, and frost is further formed at temperatures below the freezing point. For this reason, we usually take measures against dew condensation by wrapping pipes and parts with insulation, etc., but moving parts such as moving parts cannot be thickened in order to avoid durability deterioration due to bending. It is difficult to prevent such condensation.
Further, in order to circulate the cooling liquid, a liquid cooling device (chiller) having a large tank is required. In addition, it takes a lot of time to cool the coolant in the tank before the operation for cooling the electronic components is started.
In addition, when a heater for heating is disposed inside a heat sink that contacts and cools an electronic component, the temperature difference between the first surface and the second surface of the heater increases, and the heater expands and contracts. It may be damaged by stress due to. Further, all the pressure applied when inspecting the electronic component is applied to the heater, and there is a problem in that the heater cracks and the bonding material between the heater and the heat sink cracks.
Further, in the cooling system including the compressor and the condenser described in Patent Document 3, the dew point may be lowered on the low temperature side of the fluid flow loop, and dew condensation may occur in the movable part piping.
Furthermore, in the measurement hand of the handler device that integrates the function of transporting the electronic component and the function of cooling the electronic component being measured, the suction pad that adsorbs the electronic component is placed on the upper surface of the electronic component in order to improve thermal conductivity. There was also a problem of sucking the applied heat conductive liquid.

本発明は上記課題に鑑みてなされたもので、電子部品の特性検査などにおいて使用される電子部品の温度制御装置、またはその温度制御装置を備えたハンドラ装置の可動部配管の結露を防止することを目的とする。また、それらの装置の冷却開始までの時間を短縮することを目的とする。また、加圧力や温度差により温度制御装置の加熱器が破損し難い構造を得ることを目的とする。さらに、温度制御対象である電子部品を真空吸着する吸着パットを備えるものにおいて、吸着パット電子部品上面に吐出された熱伝導性液体材料を吸込んでしまう不具合を解決することを目的とする。加えて、熱伝導効率を高め、温度変化に対して応答性のよい温度制御装置を得ることも目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and prevents dew condensation on a temperature control device for an electronic component used in a characteristic inspection of the electronic component or the like, or on a movable part piping of a handler device equipped with the temperature control device. With the goal. Moreover, it aims at shortening the time until the cooling start of those apparatuses. Another object of the present invention is to obtain a structure in which the heater of the temperature control device is not easily damaged by the applied pressure or temperature difference. Another object of the present invention is to solve the problem of sucking the thermally conductive liquid material discharged onto the upper surface of the suction pad electronic component in a device including a suction pad that vacuum-sucks the electronic component that is a temperature control target. In addition, another object of the present invention is to obtain a temperature control device that improves the heat conduction efficiency and has a good response to temperature changes.

本発明に係る電子部品の温度制御装置は、圧縮機、凝縮器、膨張器及び蒸発器を循環する冷媒流路を有した冷却サイクル装置と、前記蒸発器に結合され前記電子部品と接触可能な面を有する熱伝導ブロックと、前記熱伝導ブロックを加熱する少なくとも1つの第1加熱器と、前記蒸発器から前記圧縮機へ戻る配管を加熱する第2加熱器と、を備え、前記蒸発器と前記熱伝導ブロックが熱伝導性液体を介在して締結されている。
これによれば、熱伝導ブロックに接触させた電子部品を、冷凍サイクル装置の潜熱を利用して冷却することができるので、大きな液体タンクを用いることなく冷却度を上げることができる。また、冷却液を冷やすための時間も短縮できる。さらに、蒸発器での蒸発により、冷媒が蒸発器設置環境の気温より低温になった場合には、第2加熱器を動作させることで、可動部である蒸発器に繋がる配管の結露を防止することができる。
An electronic component temperature control device according to the present invention includes a cooling cycle device having a refrigerant flow path that circulates through a compressor, a condenser, an expander, and an evaporator, and is connected to the evaporator so as to be in contact with the electronic component. A heat conduction block having a surface; at least one first heater for heating the heat conduction block; and a second heater for heating piping returning from the evaporator to the compressor, the evaporator The heat conducting block is fastened with a heat conducting liquid interposed.
According to this, since the electronic component brought into contact with the heat conduction block can be cooled using the latent heat of the refrigeration cycle apparatus, the degree of cooling can be increased without using a large liquid tank. In addition, the time for cooling the coolant can be shortened. Furthermore, when the refrigerant becomes lower than the temperature of the evaporator installation environment due to evaporation in the evaporator, the dew condensation on the pipes connected to the evaporator, which is a movable part, is prevented by operating the second heater. be able to.

なお、前記熱伝導ブロックの温度を検出する少なくとも1つの第1温度検出器と、該第1温度検出器の検出値に基づいて前記第1加熱器の動作を制御するコントローラとを備えるのが好ましい。これにより熱伝導ブロックの加熱自動制御が可能となる。なお、熱伝導ブロックの温度を多点で監視する必要がある場合は、第1温度検出器と第1加熱器とをそえぞれ複数個備えるようにするとよい。   In addition, it is preferable to include at least one first temperature detector that detects the temperature of the heat conduction block, and a controller that controls the operation of the first heater based on a detection value of the first temperature detector. . Thereby, automatic heating control of the heat conduction block becomes possible. In addition, when it is necessary to monitor the temperature of the heat conduction block at multiple points, a plurality of first temperature detectors and a plurality of first heaters may be provided.

また、前記蒸発器と前記第2加熱器との間の配管部に、断熱材を配置するのが好ましい。第2加熱器を蒸発器と近い位置の配管上に配置した場合には、このように第2加熱器と蒸発器の間に断熱材を介在させることによって、蒸発器に熱が伝導しないようにするのがよい。
また、前記第2加熱器が予め定めた温度以上になるのを防止する過昇温防止器を備えるのが好ましい。これにより第2加熱器の過度の温度上昇が防止される。
また、前記第2加熱器の温度を検出する第2温度検出器と、該第2温度検出器の検出値に基づいて前記第2加熱器の動作を制御するコントローラとを備えるのが好ましい。これにより冷媒回収側配管の結露防止を自動制御することが可能となる。なお、このコントローラは第1加熱器の動作を制御するコントローラを利用してもよい。
Moreover, it is preferable to arrange | position a heat insulating material in the piping part between the said evaporator and the said 2nd heater. When the second heater is arranged on a pipe close to the evaporator, the heat is not conducted to the evaporator by interposing the heat insulating material between the second heater and the evaporator in this way. It is good to do.
Moreover, it is preferable to provide an excessive temperature rise prevention device for preventing the second heater from exceeding a predetermined temperature. Thereby, the excessive temperature rise of a 2nd heater is prevented.
Moreover, it is preferable to include a second temperature detector that detects the temperature of the second heater, and a controller that controls the operation of the second heater based on a detection value of the second temperature detector. As a result, it is possible to automatically control condensation prevention of the refrigerant recovery side piping. Note that this controller may use a controller that controls the operation of the first heater.

さらに、本発明に係る電子部品の温度制御装置は、前記熱伝導ブロックの外周に、前記電子部品を真空吸着して前記熱伝導ブロックに圧接する少なくとも1つの吸着パットを備えたものである。これにより電子部品と熱伝導ブロックとが密接されて、それらの間の熱伝導効率が向上する。
なお、前記吸着パットは伸縮自在に構成されており、非吸着時には前記吸着パットが伸びた状態でその先端が前記熱伝導ブロックの電子部品接触面より突出した位置にあり、吸着時には前記吸着パットが縮んだ状態へ変化する構造となっているものである。これにより、電子部品と熱伝導ブロックとの間に熱伝導を良好にする熱伝導性液体を滴下した場合にも、その液体を吸着パット内に吸い込むことがない。また、吸着パットを熱伝導ブロックの外周に環状に配置した場合には、熱伝導性液体を吸着パットで囲まれた部分以外に漏らすことも防止できる。
Furthermore, the temperature control device for an electronic component according to the present invention includes at least one suction pad that vacuum-sucks the electronic component and press-contacts the heat-conductive block on the outer periphery of the heat-conductive block. Thereby, an electronic component and a heat conductive block are closely_contact | adhered, and the heat conductive efficiency between them improves.
The suction pad is configured to be extendable and contracted. When the suction pad is not sucked, the tip of the suction pad is extended and the tip protrudes from the electronic component contact surface of the heat conduction block. It has a structure that changes to a contracted state. Thus, even when a heat conductive liquid that improves heat conduction is dropped between the electronic component and the heat conductive block, the liquid is not sucked into the adsorption pad. In addition, when the adsorption pad is annularly arranged on the outer periphery of the heat conduction block, it is possible to prevent the heat conductive liquid from leaking to a portion other than the portion surrounded by the adsorption pad.

また、絶縁性を有した熱伝導性液体を、前記熱伝導ブロックに圧接される前記電子部品の上面に供給する熱伝導性液体供給装置を備えることが好ましい。熱伝導ブロックと電子部品との間に熱伝導性液体を介在させることにより、電子部品と熱伝導ブロックとの密接性が向上し、それらの間の熱伝導効率が向上する。   Moreover, it is preferable to provide the heat conductive liquid supply apparatus which supplies the heat conductive liquid which has insulation to the upper surface of the said electronic component press-contacted to the said heat conductive block. By interposing the heat conductive liquid between the heat conduction block and the electronic component, the closeness between the electronic component and the heat conduction block is improved, and the heat conduction efficiency between them is improved.

また、前記第1加熱器は前記熱伝導ブロックより平面積が小さくされて、前記蒸発器と前記熱伝導ブロックとの間に配置され、かつ前記蒸発器と隙間を介し配置されているのが好ましい。この構造によれば、電子部品をテスタの検査ソケットに押し付け電気的に接続する場合に、コンタクト圧力が第1加熱器に直接かからないため、第1加熱器がひび割れたり、接合材がひび割れたりすることが回避される。
また、前記熱伝導ブロックは前記蒸発器との間で前記第1加熱器を非介在とした部分を有するのが好ましい。電子部品の発熱量の多い部分を、この第1加熱器を非介在とした部分に対応させて接触させることにより、電子部品の冷却を効率よく行うことができる。
なお、前記熱伝導ブロックの前記第1加熱器を非介在とした部分は近傍の前記第1加熱器と断熱材で仕切られているのが好ましい。これにより、熱伝導ブロックの第1加熱器を非介在とした部分では、第1加熱器の影響が低減されて冷却効率が一層向上する。
Further, it is preferable that the first heater has a plane area smaller than that of the heat conduction block, is arranged between the evaporator and the heat conduction block, and is arranged via a gap with the evaporator. . According to this structure, when the electronic component is pressed and electrically connected to the test socket of the tester, the contact pressure is not directly applied to the first heater, so that the first heater is cracked or the bonding material is cracked. Is avoided.
Moreover, it is preferable that the said heat conductive block has a part which did not interpose the said 1st heater between the said evaporators. The electronic component can be efficiently cooled by contacting the portion where the heat generation amount of the electronic component is large in correspondence with the portion where the first heater is not interposed.
In addition, it is preferable that the part which did not interpose the said 1st heater of the said heat conduction block is partitioned off with the said 1st heater and the heat insulating material of the vicinity. Thereby, in the part which did not interpose the 1st heater of a heat conductive block, the influence of a 1st heater is reduced and cooling efficiency improves further.

また、前記圧縮機から前記凝縮器を経由しないで前記膨張器へ繋がるバイパス流路を備え、さらに前記圧縮機から前記凝縮器を経由して前記膨張器へ繋がる通常流路と前記バイパス流路とを選択的に切り換える流路切換器を備えたものである。
これにより、電子部品の温度が低下しすぎた場合などにおいて電子部品を加熱する際に、第1加熱器によりに加熱するとともに、冷媒の流れを通常流路からバイパス流路に切り換えて、高圧高温冷媒蒸気を気化器へ導くことにより、効率よく熱伝導ブロックを加熱できる。またこのように加熱時でも冷媒の流れを止めないようにすることにより、圧縮機への負担を減らすことができる。
In addition, a bypass flow path that leads from the compressor to the expander without passing through the condenser, and a normal flow path that connects from the compressor to the expander via the condenser, and the bypass flow path; Is provided with a flow path switching device for selectively switching between.
As a result, when the electronic component is heated when the temperature of the electronic component is excessively lowered, the first heater is heated, and the refrigerant flow is switched from the normal flow path to the bypass flow path. By introducing the refrigerant vapor to the vaporizer, the heat conduction block can be efficiently heated. Moreover, the burden on the compressor can be reduced by not stopping the flow of the refrigerant even during heating.

また、前記冷媒流路に接続された冷媒供給源と、前記冷媒流路と前記冷媒供給源との接続流路に配置された圧力調整器とを備え、前記圧力調整器は、前記冷媒流路の圧力が低下した場合には前記冷媒供給源から冷媒を前記冷媒流路に供給し、前記冷媒流路の圧力が上昇した場合には前記冷媒流路から冷媒を前記冷媒供給源に回収するものである。
これにより、冷凍サイクル装置の冷媒の量を常に一定に保つことができ、安定した温度制御が可能となる。
A refrigerant supply source connected to the refrigerant flow path; and a pressure regulator disposed in a connection flow path between the refrigerant flow path and the refrigerant supply source. When the pressure of the refrigerant decreases, the refrigerant is supplied from the refrigerant supply source to the refrigerant flow path, and when the pressure of the refrigerant flow path increases, the refrigerant is recovered from the refrigerant flow path to the refrigerant supply source. It is.
Thereby, the quantity of the refrigerant | coolant of a refrigerating-cycle apparatus can always be kept constant, and stable temperature control is attained.

本発明に係るハンドラ装置は、電子部品を保持して該電子部品を所定位置に位置決めするロボットハンドを備えたハンドラ装置において、上記いずれかに記載の温度制御装置を備え、その蒸発器及び熱伝導ブロックを含む電子部品冷却部を前記ロボットハンドの電子部品保持部に配置したものである。
このハンドラ装置により、可動部である蒸発器に繋がる配管の結露を防止することができる。また、冷凍サイクル装置の潜熱を利用して冷却を行うことで、冷却開始までの時間を短縮することができる。また、冷凍サイクル装置を構成する蒸発器と熱伝導ブロックを加熱する第1加熱器との間に隙間を設けたことにより、加圧力や温度差に起因する第1加熱器の破損を抑制することができる。その他、この構成により熱伝導効率が改善されたハンドラ装置、あるいは温度変化に対して応答性のよいハンドラ装置を得ることができる。
A handler device according to the present invention is a handler device including a robot hand that holds an electronic component and positions the electronic component at a predetermined position. An electronic component cooling unit including a block is arranged in an electronic component holding unit of the robot hand.
By this handler device, it is possible to prevent dew condensation on the piping connected to the evaporator which is the movable part. Moreover, the time to start cooling can be shortened by cooling using the latent heat of the refrigeration cycle apparatus. Further, by providing a gap between the evaporator constituting the refrigeration cycle apparatus and the first heater for heating the heat conduction block, it is possible to suppress damage to the first heater due to the applied pressure or temperature difference. Can do. In addition, it is possible to obtain a handler device with improved heat conduction efficiency or a handler device that is responsive to temperature changes.

本発明の実施形態1に係る電子部品の温度制御装置の全体構成図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The whole block diagram of the temperature control apparatus of the electronic component which concerns on Embodiment 1 of this invention. 図1の電子部品冷却部の電子部品非吸着時の拡大図。The enlarged view at the time of the electronic component non-adsorption | suction of the electronic component cooling part of FIG. 図1の電子部品冷却部の電子部品吸着時の拡大図。The enlarged view at the time of electronic component adsorption | suction of the electronic component cooling part of FIG. 本発明の実施形態2に係る電子部品の温度制御装置の全体構成図。The whole block diagram of the temperature control apparatus of the electronic component which concerns on Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施形態3に係るハンドラ装置の構成図。The block diagram of the handler apparatus which concerns on Embodiment 3 of this invention.

実施形態1
図1は本発明の実施形態1に係る電子部品の温度制御装置の全体構成図である。この温度制御装置は、圧縮機1、凝縮器2、膨張器(例えば膨張弁)6及び蒸発器7が配管17,18で繋がれた冷媒の循環回路を備えており、この冷媒循環回路により冷凍サイクル装置が構成されている。このうちの蒸発器7がヒートシンクとして電子部品40の温度制御に直接関与することになる。蒸発器7には、電子部品40と直接接触する熱伝導ブロック9が締結されており、熱伝導ブロック9には、それを加熱するための第1加熱器10や、熱伝導ブロック9の温度を検出する温度検出装置としての第1温度センサ11が組み込まれている。第1温度センサ11はコントローラ(例えばプログラマブルコントローラ)30と接続されており、コントローラ30は第1温度センサ11の検出温度に応じて、第1加熱器10の動作を制御する。なお、電子部品40を蒸発器7に直接接触させるのではなく、熱伝導ブロック9を介して接触させるのは、異なる形状の制御対象電子部品に応じた熱伝導ブロック9を交換して使用することで、蒸発器7と電子部品40との間の熱伝導を電子部品の種類にかかわらず常に良好な状態にして、電子部品40の温度制御を行うためである。
また、第1温度センサ11はかならずしも必須のものではない。その理由は、電子部品40自体が内部に温度センサ相当物を備える場合もあり、その場合には、電子部品40の温度センサ相当物の検出値をコントローラ30にフィードバックすることで、第1加熱器10の動作を制御することができるからである。
Embodiment 1
FIG. 1 is an overall configuration diagram of a temperature control apparatus for an electronic component according to Embodiment 1 of the present invention. This temperature control device includes a refrigerant circulation circuit in which a compressor 1, a condenser 2, an expander (for example, an expansion valve) 6 and an evaporator 7 are connected by pipes 17 and 18, and the refrigerant circulation circuit uses the refrigerant circulation circuit. A cycle device is configured. Of these, the evaporator 7 is directly involved in the temperature control of the electronic component 40 as a heat sink. A heat conduction block 9 that is in direct contact with the electronic component 40 is fastened to the evaporator 7, and the temperature of the first heater 10 for heating the heat conduction block 9 and the heat conduction block 9 is set in the heat conduction block 9. A first temperature sensor 11 as a temperature detecting device to be detected is incorporated. The first temperature sensor 11 is connected to a controller (for example, a programmable controller) 30, and the controller 30 controls the operation of the first heater 10 according to the detected temperature of the first temperature sensor 11. The electronic component 40 is not brought into direct contact with the evaporator 7 but is brought into contact with the heat conducting block 9 by replacing the heat conducting block 9 corresponding to the control target electronic component having a different shape. This is because the temperature of the electronic component 40 is controlled by always keeping the heat conduction between the evaporator 7 and the electronic component 40 in a good state regardless of the type of the electronic component.
The first temperature sensor 11 is not always essential. The reason is that the electronic component 40 itself may include a temperature sensor equivalent, and in this case, the detected value of the temperature sensor equivalent of the electronic component 40 is fed back to the controller 30 so that the first heater This is because ten operations can be controlled.

蒸発器7にはさらに、電子部品40をトレイなどから取り上げて熱伝導ブロック9に圧接するための手段として、熱伝導ブロック9の外周に、少なくとも1つ、好ましくは複数の吸着パット(真空吸着パット)8を備えている。吸着パット8は一端が真空源(図示せず)に連通し、他端(先端)が電子部品40を真空吸着できるように開口した柔軟性を有するパットからなっている。この吸着パット8は、蛇腹状などに構成して伸縮自在とし、非吸着時には吸着パット8が伸びた状態でその先端が熱伝導ブロック9より突出した位置にあり、吸着時には吸着パット8が縮んだ状態へ変化する構造となっている。従って、吸着パット8は例えばゴムやシリコンなどから構成するのがよい。
なお、蒸発器7、吸着パット8、熱伝導ブロック9、第1加熱器10などから構成される電子部品の冷却に直接関わる部分を、以下では「電子部品冷却部」と称する。
The evaporator 7 further includes at least one, preferably a plurality of suction pads (vacuum suction pads) on the outer periphery of the heat conduction block 9 as means for picking up the electronic components 40 from a tray or the like and press-contacting them to the heat conduction block 9. ) 8 is provided. The suction pad 8 is formed of a flexible pad having one end communicating with a vacuum source (not shown) and the other end (tip) opened so that the electronic component 40 can be vacuum-sucked. The adsorbing pad 8 is configured in a bellows-like shape and can be expanded and contracted. When the adsorbing pad 8 is not adsorbed, the adsorbing pad 8 is in an extended state with its tip protruding from the heat conduction block 9, and when adsorbing, the adsorbing pad 8 contracts It has a structure that changes to a state. Therefore, the suction pad 8 is preferably made of rubber or silicon, for example.
A portion directly related to the cooling of the electronic component including the evaporator 7, the adsorption pad 8, the heat conduction block 9, the first heater 10, and the like is hereinafter referred to as an “electronic component cooling unit”.

圧縮機1から凝縮器2および膨張器6を経由して蒸発器7に向かう冷媒供給側の配管17には、フィルタドライヤ4、電磁弁5などを設けてもよい。フィルタドライヤ4は冷媒中の水分を取り除く乾燥剤の一種(シリカゲル、ソバビード、モレキュラシープなど)が入ったものであり、フロンのように水を溶解しない冷媒を用いる冷凍サイクル装置の場合にはこれを設けるのが特に好ましい。電磁弁5は冷媒の供給流路を開閉するためのものである。さらに、凝縮器2の後にストレーナ(図示せず)を取り付け、負荷変動による蒸発器7内の冷媒量の変動を吸収するようにしてもよい。   A filter dryer 4, a solenoid valve 5, and the like may be provided in the refrigerant supply side pipe 17 from the compressor 1 through the condenser 2 and the expander 6 to the evaporator 7. The filter dryer 4 contains a kind of desiccant (silica gel, buckwheat bead, molecular sheep, etc.) that removes moisture from the refrigerant. In the case of a refrigeration cycle apparatus using a refrigerant that does not dissolve water such as Freon It is particularly preferable to provide The electromagnetic valve 5 is for opening and closing the refrigerant supply flow path. Further, a strainer (not shown) may be attached after the condenser 2 so as to absorb the fluctuation of the refrigerant amount in the evaporator 7 due to the load fluctuation.

一方、蒸発器7から圧縮機1に向かう冷媒回収側の配管18にはニクロム線ヒータなどの第2加熱器12が設けられている。第2加熱器12に対しては、その温度を検出する温度検出装置としての第2温度センサ13が組み込まれている。第2温度センサ13はコントローラ30と接続されており、コントローラ30は第2温度センサ13の検出温度に応じて、第2加熱器12の動作を制御する。また、第2加熱器12が予め定めた温度以上になるのを防止する過昇温防止器として、サーモスタットや温度ヒュー度を備えているのが好ましい。この例では第2加熱器12の加熱回路にサーモスタット14を配置している。
なお、第2加熱器12が蒸発器7と近い距離に設けられた場合には、第2加熱器12の熱が蒸発器7に影響しないように、第2加熱器12と蒸発器7の間の配管部に断熱材21を設けるのが好ましい。その場合、図2に示すように蒸発器7に接して断熱材21を設けてもよい。
On the other hand, a second heater 12 such as a nichrome wire heater is provided in the refrigerant recovery side pipe 18 from the evaporator 7 to the compressor 1. A second temperature sensor 13 as a temperature detecting device that detects the temperature is incorporated in the second heater 12. The second temperature sensor 13 is connected to the controller 30, and the controller 30 controls the operation of the second heater 12 according to the temperature detected by the second temperature sensor 13. Moreover, it is preferable to provide a thermostat and a temperature hughness as an excessive temperature rise prevention device for preventing the second heater 12 from reaching a predetermined temperature or higher. In this example, a thermostat 14 is disposed in the heating circuit of the second heater 12.
In addition, when the 2nd heater 12 is provided in the distance close | similar to the evaporator 7, between the 2nd heater 12 and the evaporator 7 so that the heat of the 2nd heater 12 may not affect the evaporator 7. FIG. It is preferable to provide the heat insulating material 21 in the piping part. In that case, you may provide the heat insulating material 21 in contact with the evaporator 7 as shown in FIG.

また、蒸発器7で蒸発しきれなかった冷媒液がある場合にそれを分離するアキュムレータ15を、圧縮機1の手前の冷媒回収側の配管18に設けてもよい。さらに、冷媒供給側の配管17と冷媒回収側の配管18との間に熱交換器16を配して、それらの配管間で熱交換を行わせるようにしてもよい。なお、図1中の符号3は、凝縮器2を冷却する凝縮器ファン3を表している。   Further, an accumulator 15 for separating the refrigerant liquid that could not be evaporated by the evaporator 7 may be provided in the refrigerant recovery side pipe 18 in front of the compressor 1. Furthermore, a heat exchanger 16 may be disposed between the refrigerant supply side pipe 17 and the refrigerant recovery side pipe 18 so as to exchange heat between these pipes. In addition, the code | symbol 3 in FIG. 1 represents the condenser fan 3 which cools the condenser 2. FIG.

次に、図1に示した温度制御装置の作用を説明する。電子部品40の冷却は図1の冷凍サイクル装置を利用して行われる。すなわち、圧縮機1から出て凝縮器2により常温高圧の液体に凝縮された冷媒が、膨張器6によって低圧の液体と気体の混じった流体になって蒸発器7に運ばれる。そして、蒸発器7で流体が蒸発することにより、熱伝導ブロック9に圧接された電子部品40の熱を奪って電子部品40を冷却する。この際、圧縮機1をインバータ制御などをすることにより、蒸発器7の冷却能力を調整することも可能である。
熱伝導ブロック9の温度は第1温度センサ11からコントローラ30にフィードバックされ、電子部品40の温度が低下しすぎた場合には、コントローラ30が第1加熱器10を動作させて熱伝導ブロック9を加熱し、それにより電子部品40の温度を上昇させる。以上のようにして電子部品40の温度制御が実行される。また、電子部品40を高温に保持する場合にも、第1温度センサ11を動作させて電子部品40を所定の温度にする。
なお、電子部品40の温度が低下しすぎた場合などにおいて、電子部品40を加熱する際には、第1加熱器10に電流を流すとともに、電磁弁5をOFFにして冷媒の流路を遮断して熱伝導ブロック9を加熱すると、電子部品40の温度上昇に要する時間が短縮できる。
Next, the operation of the temperature control device shown in FIG. 1 will be described. The electronic component 40 is cooled using the refrigeration cycle apparatus of FIG. That is, the refrigerant that has come out of the compressor 1 and is condensed into a liquid at normal temperature and high pressure by the condenser 2 is transported to the evaporator 7 as a fluid in which low-pressure liquid and gas are mixed by the expander 6. Then, when the fluid evaporates in the evaporator 7, the heat of the electronic component 40 pressed against the heat conduction block 9 is taken and the electronic component 40 is cooled. At this time, the cooling capacity of the evaporator 7 can be adjusted by controlling the compressor 1 with an inverter.
The temperature of the heat conduction block 9 is fed back from the first temperature sensor 11 to the controller 30, and when the temperature of the electronic component 40 is too low, the controller 30 operates the first heater 10 to change the heat conduction block 9. Heating, thereby raising the temperature of the electronic component 40. The temperature control of the electronic component 40 is executed as described above. Even when the electronic component 40 is held at a high temperature, the first temperature sensor 11 is operated to bring the electronic component 40 to a predetermined temperature.
In addition, when the temperature of the electronic component 40 is excessively decreased, when heating the electronic component 40, the current is supplied to the first heater 10 and the electromagnetic valve 5 is turned off to block the refrigerant flow path. When the heat conduction block 9 is heated, the time required for the temperature rise of the electronic component 40 can be shortened.

蒸発器7での蒸発により冷媒が蒸発器7の設置環境の気温より低温になった場合には、第2加熱器12を動作させて蒸発器7から延びる回収側の配管18を加熱し、その結露を防止する。なお、蒸発器7は電子部品40からの熱を奪うことにより回収側の配管18ほど温度が下がらないことと、蒸発器7自体には比較的容易に断熱材を装着できることから、この温度制御装置においては回収側の配管18の結露対策が特に必要とされる。
なお、回収側の配管18の結露を防止するための加熱に関しては、温度精度を要求しないので、第2加熱器12の制御はサーモスタットや温度ヒューズなど過昇温防止器での温度管理でも十分である。ただし、第1加熱器10と同様の制御、すなわち第2加熱器12の近傍に第2温度センサ13を配置し、その検出値をコントローラ30にフィードバックして、コントローラ30により第2加熱器12を制御してもよい。さらに、過昇温防止器と第2温度センサ13の両方を備えるようにしてもよい。
When the refrigerant becomes lower than the temperature of the installation environment of the evaporator 7 due to evaporation in the evaporator 7, the second heater 12 is operated to heat the recovery side pipe 18 extending from the evaporator 7, Prevent condensation. Note that the evaporator 7 takes heat from the electronic component 40 so that the temperature does not drop as much as the pipe 18 on the recovery side, and the evaporator 7 itself can be fitted with a heat insulating material relatively easily. In particular, it is particularly necessary to take measures against condensation on the pipe 18 on the recovery side.
Regarding the heating for preventing the condensation on the recovery side pipe 18, temperature accuracy is not required, so the second heater 12 can be controlled by temperature control with an overheat prevention device such as a thermostat or a thermal fuse. is there. However, the same control as that of the first heater 10, that is, the second temperature sensor 13 is arranged in the vicinity of the second heater 12, the detected value is fed back to the controller 30, and the controller 30 controls the second heater 12. You may control. Furthermore, you may make it provide both the excessive temperature rising prevention device and the 2nd temperature sensor 13. FIG.

次に、蒸発器7、吸着パット8、熱伝導ブロック9、第1加熱器10などから構成される電子部品冷却部(図1の測定ハンド部)の構造について更に詳述する。
蒸発器7と熱伝導ブロック9はごく薄い熱伝導材料(熱伝導グリス、熱硬化型樹脂、シリコンオイルなどの液体であって200℃未満で気化しない液体)を介在して、ねじなどで締結される。これにより、蒸発器7と熱伝導ブロック9とが確実に密着し、蒸発器7と熱伝導ブロック9との間の熱伝導性が向上する。なお、熱伝導ブロック9は電子部品40の形状などに応じて交換して使用される。
また、図2に示すように、第1加熱器10は熱伝導ブロック9より平面積が小さくされて、蒸発器7と熱伝導ブロック9との間に配置され、かつ蒸発器7と隙間20を介して配置されている。これにより、電子部品40をテスタの検査ソケットに押し付けて電気的に接続する場合に、コンタクト圧力が第1加熱器10に直接加わらなくなり、第1加熱器10がひび割れたり、接合材がひび割れたりすることがない。
Next, the structure of the electronic component cooling unit (measurement hand unit in FIG. 1) including the evaporator 7, the suction pad 8, the heat conduction block 9, the first heater 10 and the like will be described in detail.
The evaporator 7 and the heat conduction block 9 are fastened with screws or the like through a very thin heat conduction material (liquid such as heat conduction grease, thermosetting resin, silicon oil and the like which does not evaporate below 200 ° C.). The Thereby, the evaporator 7 and the heat conducting block 9 are in close contact with each other, and the thermal conductivity between the evaporator 7 and the heat conducting block 9 is improved. The heat conduction block 9 is used by being exchanged according to the shape of the electronic component 40 or the like.
In addition, as shown in FIG. 2, the first heater 10 has a smaller plane area than the heat conduction block 9, is disposed between the evaporator 7 and the heat conduction block 9, and has a gap 20 between the evaporator 7 and the heat conduction block 9. Is arranged through. Accordingly, when the electronic component 40 is pressed and electrically connected to the test socket of the tester, the contact pressure is not directly applied to the first heater 10, and the first heater 10 is cracked or the bonding material is cracked. There is nothing.

さらに、熱伝導ブロック9には穴または溝をあけ、それらの穴または溝の中に、温度センサ(白金抵抗体など)を熱伝導材料(高熱伝導を混合した熱硬化性樹脂など)で密着固定する。これにより、熱伝導ブロック9と第1温度センサ11間の接触熱抵抗の不安定さが解消され、測定温度精度が大きく向上する。またこのようにすることで、電子部品40を検査ソケットに押し付ける力を加えた場合にも、その熱伝導材料が緩衝材となって第1温度センサ11に大きな力が加わらず、その破壊防止にも寄与する。
また、温度制御対象の電子部品40がマルチコアタイプで発熱箇所が複数箇所ある場合には、電子部品40の温度をそれらの複数箇所で監視すべく、第1温度センサ11と第1加熱器10をそれぞれ複数個装着するのが好ましい。高速化、高集積化されたCPUなどでは非常に熱密度が高く、電子部品の表面では温度勾配ができるため、電子部品40の発熱するエリアを分けて個々に温度制御することにより、温度勾配を減らすと共に、電子部品40が局所的に高温になって破損する不具合を対策することができる。
Furthermore, holes or grooves are made in the heat conduction block 9, and a temperature sensor (platinum resistor, etc.) is tightly fixed in the holes or grooves with a heat conduction material (such as a thermosetting resin mixed with high heat conduction). To do. Thereby, the instability of the contact thermal resistance between the heat conduction block 9 and the first temperature sensor 11 is eliminated, and the measurement temperature accuracy is greatly improved. Moreover, by doing in this way, even when the force which presses the electronic component 40 to an inspection socket is added, the heat conductive material becomes a buffer material, and a big force is not applied to the 1st temperature sensor 11, but it prevents the destruction Also contribute.
Further, when the temperature controlled electronic component 40 is a multi-core type and there are a plurality of heat generation points, the first temperature sensor 11 and the first heater 10 are connected to monitor the temperature of the electronic component 40 at the plurality of points. It is preferable to install a plurality of each. High-speed and highly-integrated CPUs have a very high heat density, and a temperature gradient is generated on the surface of the electronic component. Therefore, the temperature gradient can be reduced by dividing the heat generating area of the electronic component 40 and controlling the temperature individually. In addition to the reduction, it is possible to take measures against a problem that the electronic component 40 is locally heated to be damaged.

電子部品冷却部に用いられる第1加熱器10には、アルミナヒータ、チッ化アルミヒータ、チッ化珪素ヒータ、炭化珪素ヒータ、チッ化硼素ヒータなどを採用することができる。これらの熱伝導率としては20〜200W/m・K程度であり、銅系材料(398W/m・K)の約1/20〜1/2である。従って、求められる冷却能力を確保するためには、蒸発器7と電子部品40との間に第1加熱器10を介在させることなく、銅系材料のみを経由させて熱伝導する部分を持たせることが効果的である。すなわち、熱伝導ブロック9を銅系材料から構成し、その熱伝導ブロック9中に熱抵抗が大きくなる第1加熱器10を介在させないで熱伝導する部分を持たせ、この第1加熱器10を介在させない熱伝導ブロック9の部分に、電子部品40のなかで他の部分より発熱の多い部分を接触させるようにすれば、電子部品40の冷却が効率良く行える。なお、これに加えて、熱伝導ブロック9の第1加熱器10を非介在とした部分を、近傍の第1加熱器10と断熱材で仕切るとその部分の冷却効率がより向上する。   An alumina heater, an aluminum nitride heater, a silicon nitride heater, a silicon carbide heater, a boron nitride heater, or the like can be used as the first heater 10 used in the electronic component cooling unit. These thermal conductivities are about 20 to 200 W / m · K, which is about 1/20 to 1/2 of the copper-based material (398 W / m · K). Therefore, in order to ensure the required cooling capacity, the first heater 10 is not interposed between the evaporator 7 and the electronic component 40, and a portion that conducts heat only through the copper-based material is provided. It is effective. That is, the heat conduction block 9 is made of a copper-based material, and the heat conduction block 9 is provided with a portion that conducts heat without interposing the first heater 10 that increases the thermal resistance. If a portion of the electronic component 40 that generates more heat than the other portion is brought into contact with the portion of the heat conduction block 9 that is not interposed, the electronic component 40 can be efficiently cooled. In addition to this, if the portion of the heat conduction block 9 where the first heater 10 is not interposed is partitioned by a nearby first heater 10 and a heat insulating material, the cooling efficiency of that portion is further improved.

図2及び図3は、図1の温度制御装置の電子部品冷却部の拡大図である。図2は吸着パット8が真空引きされていない状態で、吸着パット8の先端が電子部品に単に接触している状態を表し、図3は吸着パット8が真空引きされた状態で、吸着パット8が電子部品を吸着している状態を表している。
電子部品40を熱伝導ブロック9に圧接するための吸着パット8は、吸着パット8内で真空引きが行われていない間は、先端が熱伝導ブロック9の電子部品接触面より突出した状態となっている。電子部品40を吸着する際には、吸着パット8の先端がその電子部品40の上面に接触する位置まで、吸着パット8を含む電子部品冷却部を降下させる。そして、吸着パット8の先端が電子部品40の上面に接触したら、吸着パット8内で真空引きを行って、吸着パット8に電子部品40を吸着させる。この真空引きに伴って、伸縮性を有する吸着パット8が電子部品40を吸着させた状態で縮む。電子部品40を単に搬送するだけの目的であれば、吸着パット8は電子部品40を吸着保持できるだけでよいが、電子部品40を温度制御することまで考慮した場合には、吸着パット8による電子部品40の吸引時に、電子部品40が熱伝導ブロック9に圧接するようにするのが好ましい。
2 and 3 are enlarged views of the electronic component cooling unit of the temperature control device of FIG. FIG. 2 shows a state where the suction pad 8 is not evacuated and the tip of the suction pad 8 is simply in contact with the electronic component. FIG. 3 shows a state where the suction pad 8 is evacuated. Represents a state where the electronic component is adsorbed.
The suction pad 8 for press-contacting the electronic component 40 to the heat conduction block 9 is in a state in which the tip protrudes from the electronic component contact surface of the heat conduction block 9 while the suction pad 8 is not evacuated. ing. When sucking the electronic component 40, the electronic component cooling unit including the suction pad 8 is lowered to a position where the tip of the suction pad 8 contacts the upper surface of the electronic component 40. When the tip of the suction pad 8 comes into contact with the upper surface of the electronic component 40, evacuation is performed in the suction pad 8 so that the electronic component 40 is sucked by the suction pad 8. Accompanying this evacuation, the elastic suction pad 8 shrinks in a state where the electronic component 40 is sucked. For the purpose of simply transporting the electronic component 40, the suction pad 8 only needs to hold the electronic component 40 by suction, but when considering the temperature control of the electronic component 40, the electronic component by the suction pad 8 can be used. It is preferable that the electronic component 40 is in pressure contact with the heat conducting block 9 when 40 is sucked.

ところで、熱伝導ブロック9と電子部品40との間の密着性を高めてそれらの間の熱伝導効率を改善するために、熱伝導ブロック9と電子部品40との間に液体熱伝導材料を塗布することが好ましい。その場合には、まず、電子部品40の上面中央部に液体熱伝導材料50の液滴を滴下し、その液滴が載せられた電子部品40の上面周囲に吸着パット8を接触させる(図2の状態)。その後、吸着パット8内で真空引きを行って、吸着パット8に電子部品40を吸着させ、電子部品40を熱伝導ブロック9に圧接させる。この電子部品40と熱伝導ブロック9との圧接により、液体熱伝導材料50の液滴はその圧接部分において面上に拡がる(図3の状態)。ただし、この圧接以前に吸着パット8は電子部品40に接触していたので、吸着パット8内で真空引きを行っても、液体熱伝導材料50が吸着パット8内に吸引されることはない。
なお、ここで使用される液体熱伝導材料50は熱伝導性に優れ、しかも電気的に絶縁性を有するもの(気抵抗が1×1010Ω以上)である。このようなものとして、例えばフッ素系不活性液体が市販されている。
By the way, in order to improve the adhesion between the heat conduction block 9 and the electronic component 40 and improve the heat conduction efficiency between them, a liquid heat conduction material is applied between the heat conduction block 9 and the electronic component 40. It is preferable to do. In that case, first, a droplet of the liquid heat conductive material 50 is dropped on the center of the upper surface of the electronic component 40, and the suction pad 8 is brought into contact with the periphery of the upper surface of the electronic component 40 on which the droplet is placed (FIG. 2). State). Thereafter, vacuuming is performed in the suction pad 8, the electronic component 40 is sucked by the suction pad 8, and the electronic component 40 is pressed against the heat conduction block 9. Due to the pressure contact between the electronic component 40 and the heat conduction block 9, the droplet of the liquid heat conduction material 50 spreads on the surface at the pressure contact portion (state of FIG. 3). However, since the suction pad 8 is in contact with the electronic component 40 before this pressure contact, the liquid heat conductive material 50 is not sucked into the suction pad 8 even if evacuation is performed in the suction pad 8.
The liquid heat conducting material 50 used here is excellent in heat conductivity and electrically insulative (air resistance is 1 × 10 10 Ω or more). As such, for example, a fluorine-based inert liquid is commercially available.

この構成により、熱伝導ブロック9と電子部品40との間に液体熱伝導材料50を塗布しても、吸着パット8がその液体50を吸込んでしまうことがなくなる。また、その一連の吸着動作により、液体熱伝導材料50の液滴は電子部品の表面に薄い膜として広がるため、膜にする別な機構が不要で、電子部品表面に熱伝導材料を薄い膜として介在させる動作タクトも短くできる。しかも、液体熱伝導材料50は電気絶縁性を有しているため、ハンドラ装置中で液体熱伝導材料50を使用しても、電子部品上から液体熱伝導材料50がこぼれたり飛び散ったりしても、電子部品やテスタ側の基板をショートさせてしまうことがない。   With this configuration, even if the liquid heat conductive material 50 is applied between the heat conductive block 9 and the electronic component 40, the suction pad 8 does not suck the liquid 50. In addition, due to the series of adsorption operations, the droplets of the liquid heat conduction material 50 spread as a thin film on the surface of the electronic component, so there is no need for another mechanism for forming a film, and the heat conduction material is formed on the surface of the electronic component as a thin film. Intervening tact time can be shortened. Moreover, since the liquid heat conducting material 50 has electrical insulation, even if the liquid heat conducting material 50 is used in the handler device, the liquid heat conducting material 50 may be spilled or scattered from the electronic component. The electronic component and the tester side substrate are not short-circuited.

以上のような構成の温度制御装置によれば、可動部である電子部品冷却部から延びる冷媒回収側の配管に断熱材を設けることなく、あるいは断熱材を薄くしても、その部分での結露が防止できる。従って、この温度制御装置により、その電子部品冷却部の耐久性の向上が図れる。
また、回収側の配管18を常に常温または室温以上とすることで、冷媒を必ず気化させることができるので、その場合にはアキュムレータが不要で、コンプレッサの弁などの損傷を防ぐこともできる。
According to the temperature control device configured as described above, even if the heat recovery material is not provided in the refrigerant recovery side pipe extending from the electronic component cooling unit which is a movable part, or even if the heat insulation material is thinned, the dew condensation at that part is performed. Can be prevented. Therefore, the durability of the electronic component cooling unit can be improved by this temperature control device.
Moreover, since the refrigerant | coolant can always be vaporized by always making the piping 18 of the collection | recovery side normal temperature or room temperature or more, in that case, an accumulator is unnecessary and it can also prevent damage to the valve of a compressor.

実施形態2
図4は本発明の実施形態2に係る電子部品の温度制御装置の全体構成図である。実施形態2の温度制御装置は、図1の温度制御装置に、圧縮機1から凝縮器2を経由しないで膨張器6へと繋がるバイパス流路22を備え、さらに圧縮機1から凝縮器2を経由して膨張器6へ流れる通常流路(配管17による流路)とバイパス流路22とを選択的に切り換える流路切換器である電磁弁23,24を備えている点で、実施形態1と相違している。
このように選択的に利用可能なバイパス流路22を備えたことで、電子部品40の温度が低下しすぎた場合などにおいて電子部品を加熱する際に、第1加熱器10によりに加熱するとともに、冷媒を凝縮器2を通さないで圧縮機1から膨張器6に流れるバイパス流路22に切り換え、高圧高温冷媒蒸気を蒸発器7へ導くことにより、効率的に熱伝導ブロック9を加熱することが可能となる。またこのように加熱時でも冷媒の流れを止めないようにすることにより、圧縮機1への負担を減らすことができる。
Embodiment 2
FIG. 4 is an overall configuration diagram of an electronic component temperature control apparatus according to Embodiment 2 of the present invention. The temperature control apparatus of Embodiment 2 includes a bypass flow path 22 that connects the compressor 1 to the expander 6 without passing through the condenser 2 in the temperature control apparatus of FIG. The embodiment 1 is provided with electromagnetic valves 23 and 24 which are flow path switching devices that selectively switch between a normal flow path (flow path by the pipe 17) that flows to the expander 6 via and the bypass flow path 22. Is different.
By providing the bypass channel 22 that can be selectively used in this way, when the electronic component is heated when the temperature of the electronic component 40 is too low, the first heater 10 heats the electronic component 40. The heat conduction block 9 is efficiently heated by switching the refrigerant to the bypass flow path 22 that flows from the compressor 1 to the expander 6 without passing through the condenser 2 and guiding the high-pressure and high-temperature refrigerant vapor to the evaporator 7. Is possible. Moreover, the burden on the compressor 1 can be reduced by not stopping the flow of the refrigerant even during heating.

実施形態2の温度制御装置は、また、冷凍サイクル装置を構成する冷媒流路に接続された冷媒供給源25と、該冷媒流路と冷媒供給源25との接続流路に配置された圧力調整器としての圧力調整弁26を備えている点で、実施形態1と相違している。この場合、圧力調整弁26は、冷媒流路の圧力が低下した場合には冷媒供給源25から冷媒を冷媒流路に供給し、冷媒流路の圧力が上昇した場合には冷媒流路から冷媒を冷媒供給源25に戻すように調整される。これにより、冷凍サイクル装置を構成する冷媒流路の冷媒圧力が一定に保たれ、精度の高い温度制御が可能となる。なお、冷媒供給源25及び圧力調整弁26は、図1に示した温度制御装置に付加してもよい。   The temperature control apparatus according to the second embodiment also includes a refrigerant supply source 25 connected to a refrigerant flow path constituting the refrigeration cycle apparatus, and a pressure adjustment arranged in a connection flow path between the refrigerant flow path and the refrigerant supply source 25. The second embodiment is different from the first embodiment in that a pressure regulating valve 26 as a container is provided. In this case, the pressure regulating valve 26 supplies the refrigerant from the refrigerant supply source 25 to the refrigerant channel when the pressure of the refrigerant channel decreases, and from the refrigerant channel when the pressure of the refrigerant channel increases. Is adjusted to return to the refrigerant supply source 25. Thereby, the refrigerant pressure in the refrigerant flow path constituting the refrigeration cycle apparatus is kept constant, and temperature control with high accuracy is possible. The refrigerant supply source 25 and the pressure adjustment valve 26 may be added to the temperature control device shown in FIG.

以上、本発明に係る温度制御装置を実施形態に即して説明したが、本発明に係る温度制御装置は以下のような変更も可能である。すなわち、実施形態1,2では、第1加熱器10と第2加熱器12を同じコントローラ30で制御したが、それらは別々のコントローラで制御してもよい。また、流路開閉や流路切換を行う電磁弁5,23,24、および圧力調整弁26の制御は、個別に設けたコントローラでそれぞれ制御してもよく、あるいは1つの共通のコントローラで制御してもよい。また、電磁弁5,23,24、および圧力調整弁26の制御を、第1加熱器10と第2加熱器12を制御するコントローラ30で行うようにしてもよい。
さらに、電磁弁5,23,24や圧力調整弁26は、同様の作用を果たす他の機器、例えば流量制御装置などで代用してもよい。
As described above, the temperature control device according to the present invention has been described according to the embodiment. However, the temperature control device according to the present invention can be modified as follows. That is, in Embodiment 1, 2, although the 1st heater 10 and the 2nd heater 12 were controlled by the same controller 30, they may be controlled by a separate controller. Further, the control of the electromagnetic valves 5, 23, 24 and the pressure regulating valve 26 for opening and closing the flow path and switching the flow path may be controlled by individually provided controllers or controlled by one common controller. May be. Further, the control of the electromagnetic valves 5, 23, 24 and the pressure regulating valve 26 may be performed by the controller 30 that controls the first heater 10 and the second heater 12.
Further, the electromagnetic valves 5, 23, 24 and the pressure regulating valve 26 may be replaced with other devices that perform the same function, such as a flow rate control device.

実施形態3
図5は本発明の実施形態3に係るハンドラ装置の構成図である。このハンドラ装置は、電子部品(デバイスを含む)を所定の温度に保持して、ハンドラ装置とは別体のテスタに押圧し、電子部品の特性検査を行うことが可能な電子部品のハンドリング装置である。このハンドリング装置は、検査対象である電子部品の温度制御のために、実施形態1または実施形態2で説明した温度制御装置を備える。なお、図5で表されている符号1,2,17,18は実施形態1または実施形態2の同じ符号に対応する。また、図5で表されている測定ロボット部60を構成する測定ハンド60Aが、実施形態1または実施形態2の電子部品冷却部に対応している。以下では、検査対象の電子部品をIC(ただし図示せず)として実施形態3のハンドラ装置を利用したICの検査工程を説明する。
Embodiment 3
FIG. 5 is a configuration diagram of a handler device according to the third embodiment of the present invention. This handler device is an electronic component handling device capable of holding an electronic component (including a device) at a predetermined temperature and pressing the electronic component against a tester separate from the handler device to inspect the characteristics of the electronic component. is there. This handling device includes the temperature control device described in the first or second embodiment for temperature control of an electronic component to be inspected. Note that reference numerals 1, 2, 17, and 18 shown in FIG. 5 correspond to the same reference numerals in the first or second embodiment. 5 corresponds to the electronic component cooling unit of the first or second embodiment. The measurement hand 60A included in the measurement robot unit 60 shown in FIG. In the following, an IC inspection process using the handler device of Embodiment 3 will be described with the electronic component to be inspected being an IC (not shown).

まず、未検査のICトレイ61から供給ロボット部62の供給ハンド63が真空吸着によりICを吸着保持し、供給シャトル64の上へ搬送する。続いて、供給シャトル64は載せられた未検査ICを熱伝導性液体供給装置であるディスペンサ69の下まで搬送し、そこでディスペンサ69からICの上面に熱伝導性液体を吐出させた後、さらに測定ロボット部60まで搬送する。次に、測定ロボット部60は搬送された供給シャトル64から測定ハンド60Aの吸着パットを利用してICを吸着保持し、テスタ70の検査ソケット(図示せず)に搬送する。そこで測定ロボット部60はICを検査ソケットに押し付けて電気的に接続した後、テスタ70によりICの電気特性検査を実施する。電気特性検査時に、ICが発熱した場合には、測定ハンド60Aを構成する蒸発器を利用して冷却を行い、目標温度範囲内に維持するようコントローラ(図示せず)により制御する。また、高温検査時には測定ハンド60Aを構成する第1加熱器、及び/又は、図4で示したバイパス流路22を利用して目標温度範囲内に維持するよう加熱制御する。ICの発熱に変動がある場合には、測定ハンド60Aを冷却加熱制御して、ICを目標温度範囲内に維持するようコントローラにより制御する。電気特性検査終了後、測定ロボット部60は検査済みICを検査ソケットから測定ハンド60Aの吸着パットにより吸着保持し、回収シャトル65の上に搬送する。回収シャトル65は検査済みICを測定ロボット部60から回収ロボット部66へ搬送する。さらに、電気特性検査の結果の信号をテスタ70から受け取り、その結果によって回収ロボット部66の回収ハンド67が回収シャトル65からICを吸着保持し、検査結果に応じた検査済みICトレイ68に分類収納する。以上により、ICの特性検査工程が終了する。   First, the supply hand 63 of the supply robot unit 62 sucks and holds the IC by vacuum suction from the untested IC tray 61 and transports it onto the supply shuttle 64. Subsequently, the supply shuttle 64 transports the placed untested IC to the bottom of the dispenser 69 which is a thermally conductive liquid supply device, where the thermally conductive liquid is discharged from the dispenser 69 onto the upper surface of the IC, and further measurement is performed. Transport to the robot unit 60. Next, the measurement robot unit 60 sucks and holds the IC from the transport shuttle 64 that has been transported using the suction pad of the measurement hand 60A, and transports the IC to an inspection socket (not shown) of the tester 70. Therefore, the measurement robot unit 60 presses the IC against the inspection socket and electrically connects it, and then performs an electrical characteristic inspection of the IC by the tester 70. When the IC generates heat during the electrical characteristic inspection, it is controlled by a controller (not shown) so that it is cooled using the evaporator constituting the measuring hand 60A and maintained within the target temperature range. Further, during the high temperature inspection, the heating control is performed so as to maintain the temperature within the target temperature range by using the first heater constituting the measurement hand 60A and / or the bypass flow path 22 shown in FIG. When there is a change in the heat generation of the IC, the measurement hand 60A is controlled by cooling and heating, and controlled by the controller so as to maintain the IC within the target temperature range. After completion of the electrical property inspection, the measurement robot 60 sucks and holds the inspected IC from the inspection socket by the suction pad of the measuring hand 60A and transports it onto the recovery shuttle 65. The recovery shuttle 65 conveys the inspected IC from the measurement robot unit 60 to the recovery robot unit 66. Furthermore, a signal indicating the result of the electrical characteristic inspection is received from the tester 70, and the recovery hand 67 of the recovery robot unit 66 sucks and holds the IC from the recovery shuttle 65 according to the result, and is classified and stored in the inspected IC tray 68 according to the inspection result. To do. Thus, the IC characteristic inspection process is completed.

実施形態3のハンドラ装置によれば、可動する測定ハンド60Aから延びる冷媒回収側配管の結露を防止することが可能となる。また、冷凍サイクル装置の潜熱を利用して冷却を行うことで、冷却開始までの時間を短縮することができる。また、冷凍サイクル装置を構成する蒸発器と熱伝導ブロックを加熱する第1加熱器との間に隙間を設けているため、加圧力や温度差に起因する第1加熱器の破損を低減することができる。さらに、この構成により蒸発器と電子部品との間の熱伝導効率が改善され、応答性に優れたハンドラ装置を得ることができる。   According to the handler device of the third embodiment, it is possible to prevent condensation on the refrigerant recovery side pipe extending from the movable measuring hand 60A. Moreover, the time to start cooling can be shortened by cooling using the latent heat of the refrigeration cycle apparatus. Moreover, since the clearance gap is provided between the evaporator which comprises a refrigerating-cycle apparatus, and the 1st heater which heats a heat conductive block, the failure | damage of the 1st heater resulting from an applied pressure or a temperature difference is reduced. Can do. Furthermore, the heat conduction efficiency between the evaporator and the electronic component is improved by this configuration, and a handler device with excellent responsiveness can be obtained.

1 圧縮機、2 凝縮器、3 凝縮器ファン、4 フィルタドライヤ、5 電磁弁、6 膨張器、7 蒸発器(ヒートシンク)、8 吸着パット、9 熱伝導ブロック、10 第1加熱器、11 第1温度センサ、12 第2加熱器、13 第2温度センサ、14 サーモスタット、17 冷媒供給側の配管、18 冷媒回収側の配管、20 隙間、21 断熱材、22 バイパス流路、23 電磁弁、24 電磁弁、25 冷媒供給源、26 圧力調整弁、30 コントローラ、40 電子部品、50 液体熱伝導材料、60 測定ロボット部、60A 測定ハンド、69 デイスペンサ、70 テスタ。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Compressor, 2 Condenser, 3 Condenser fan, 4 Filter dryer, 5 Solenoid valve, 6 Expander, 7 Evaporator (heat sink), 8 Adsorption pad, 9 Heat conduction block, 10 1st heater, 11 1st Temperature sensor, 12 Second heater, 13 Second temperature sensor, 14 Thermostat, 17 Refrigerant supply side piping, 18 Refrigerant recovery side piping, 20 Clearance, 21 Heat insulating material, 22 Bypass flow path, 23 Solenoid valve, 24 Electromagnetic Valve, 25 Refrigerant supply source, 26 Pressure regulating valve, 30 Controller, 40 Electronic component, 50 Liquid heat conduction material, 60 Measuring robot part, 60A Measuring hand, 69 Dispenser, 70 tester.

Claims (11)

圧縮機、凝縮器、膨張器及び蒸発器を循環する冷媒流路を有した冷却サイクル装置と、 前記蒸発器に結合され前記電子部品と接触可能な面を有する熱伝導ブロックと、
前記熱伝導ブロックを加熱する少なくとも1つの第1加熱器と、
前記蒸発器から前記圧縮機へ戻る配管を加熱する第2加熱器と、を備え、
前記蒸発器と前記熱伝導ブロックが熱伝導性液体を介在して締結されている電子部品の温度制御装置。
A cooling cycle device having a refrigerant flow path that circulates through a compressor, a condenser, an expander, and an evaporator; and a heat conduction block having a surface that is coupled to the evaporator and that can contact the electronic component;
At least one first heater for heating the heat conducting block;
A second heater for heating a pipe returning from the evaporator to the compressor,
The temperature control apparatus of the electronic component with which the said evaporator and the said heat conductive block are fastened through the heat conductive liquid.
前記第1加熱器は前記熱伝導ブロックより平面積が小さくされて、前記蒸発器と前記熱伝導ブロックとの間に配置され、かつ前記蒸発器と隙間を介して配置されている請求項1に記載の電子部品の温度制御装置。   The first heater has a plane area smaller than that of the heat conduction block, is disposed between the evaporator and the heat conduction block, and is disposed via the gap with the evaporator. The temperature control apparatus of the electronic component of description. 前記熱伝導ブロックの温度を検出する少なくとも1つの第1温度検出器と、該第1温度検出器の検出値に基づいて前記第1加熱器の動作を制御するコントローラとを備えた請求項1又は2に記載の電子部品の温度制御装置。   The at least 1 1st temperature detector which detects the temperature of the said heat conduction block, and the controller which controls operation | movement of the said 1st heater based on the detected value of this 1st temperature detector, or 3. A temperature control apparatus for electronic parts as set forth in 2. 前記蒸発器と前記第2加熱器との間の配管部に断熱材が配置された請求項1〜3のいずれか1項に記載の電子部品の温度制御装置。   The temperature control apparatus of the electronic component of any one of Claims 1-3 with which the heat insulating material was arrange | positioned at the piping part between the said evaporator and the said 2nd heater. 前記第2加熱器が予め定めた温度以上になるのを防止する過昇温防止器を備えた請求項1〜4のいずれか1項に記載の電子部品の温度制御装置。   The temperature control apparatus of the electronic component of any one of Claims 1-4 provided with the excessive temperature rise prevention device which prevents that the said 2nd heater becomes more than predetermined temperature. 前記第2加熱器の温度を検出する第2温度検出器と、該第2温度検出器の検出値に基づいて前記第2加熱器の動作を制御するコントローラとを備えた請求項1〜5のいずれか1項に記載の電子部品の温度制御装置。   The first temperature detector that detects the temperature of the second heater, and a controller that controls the operation of the second heater based on a detection value of the second temperature detector. The temperature control apparatus of the electronic component of any one of Claims. 前記熱伝導ブロックは前記蒸発器との間で前記第1加熱器を非介在とした部分を有する請求項1〜6のいずれか1項に記載の電子部品の温度制御装置。   The temperature control device for an electronic component according to any one of claims 1 to 6, wherein the heat conduction block includes a portion where the first heater is not interposed between the heat conduction block and the evaporator. 前記熱伝導ブロックの前記第1加熱器を非介在とした部分は、近傍の前記第1加熱器と断熱材で仕切られている請求項7記載の電子部品の温度制御装置。   The temperature control device for an electronic component according to claim 7, wherein a portion of the heat conduction block not including the first heater is partitioned by the first heater and a heat insulating material in the vicinity. 前記圧縮機から前記凝縮器を経由しないで前記膨張器へ繋がるバイパス流路を備え、さらに前記圧縮機から前記凝縮器を経由して前記膨張器へ繋がる通常流路と前記バイパス流路とを選択的に切り換える流路切換器を備えた請求項1〜8のいずれか1項に記載の電子部品の温度制御装置。   Provided with a bypass flow path leading from the compressor to the expander without going through the condenser, and further selecting a normal flow path and the bypass flow path leading from the compressor to the expander via the condenser The temperature control apparatus of the electronic component of any one of Claims 1-8 provided with the flow-path switching device switched automatically. 前記冷媒流路に接続された冷媒供給源と、前記冷媒流路と前記冷媒供給源との接続流路に配置された圧力調整器とを備え、前記圧力調整器は、前記冷媒流路の圧力が低下した場合には前記冷媒供給源から冷媒を前記冷媒流路に供給し、前記冷媒流路の圧力が上昇した場合には前記冷媒流路から冷媒を前記冷媒供給源に回収するものである請求項1〜9のいずれか1項に記載の電子部品の温度制御装置。   A refrigerant supply source connected to the refrigerant flow path; and a pressure regulator disposed in a connection flow path between the refrigerant flow path and the refrigerant supply source, wherein the pressure regulator is a pressure of the refrigerant flow path. Is reduced, the refrigerant is supplied from the refrigerant supply source to the refrigerant flow path, and when the pressure of the refrigerant flow path is increased, the refrigerant is recovered from the refrigerant flow path to the refrigerant supply source. The temperature control apparatus of the electronic component of any one of Claims 1-9. 電子部品を保持して該電子部品を所定位置に位置決めするロボットハンドを備えたハンドラ装置において、請求項1〜10のいずれか1項に記載の温度制御装置を備え、その蒸発器及び熱伝導ブロックを含む電子部品冷却部を前記ロボットハンドの電子部品保持部に配置したハンドラ装置。   A handler device comprising a robot hand for holding an electronic component and positioning the electronic component at a predetermined position, comprising the temperature control device according to any one of claims 1 to 10, an evaporator and a heat conduction block thereof A handler device in which an electronic component cooling unit including the electronic component cooling unit is disposed in an electronic component holding unit of the robot hand.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014194415A (en) * 2013-03-15 2014-10-09 Sensata Technologies Massachusetts Inc Direct injection phase change temperature control system
US9921265B2 (en) 2015-12-18 2018-03-20 Sensata Technologies, Inc. Thermal clutch for thermal control unit and methods related thereto
JP2018523122A (en) * 2015-07-21 2018-08-16 デルタ・デザイン・インコーポレイテッドDelta Design, Inc. Continuous fluid thermal interface material distribution

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5893753U (en) * 1982-08-19 1983-06-25 松下電器産業株式会社 Heat pump air conditioner
JPS62169969A (en) * 1986-01-23 1987-07-27 ダイキン工業株式会社 Refrigerator
JPS6488064A (en) * 1987-09-30 1989-04-03 Hitachi Ltd Refrigerant circuit for water cooler and heater
JPH01136355U (en) * 1988-02-25 1989-09-19
JPH0552904A (en) * 1991-08-21 1993-03-02 Nec Corp Device for handling ic at low temperature
JPH0587425A (en) * 1991-09-26 1993-04-06 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Refrigerant sealing device of refrigerating machine
JPH10134938A (en) * 1996-10-28 1998-05-22 Kyocera Corp Contact heater
JPH10260230A (en) * 1997-03-19 1998-09-29 Advantest Corp Apparatus for cooling heat-generating body
JP2000266436A (en) * 1999-03-12 2000-09-29 Matsushita Refrig Co Ltd Refrigerator
JP2000329821A (en) * 1999-05-24 2000-11-30 Advantest Corp Handler for semiconductor testing device
JP2002500432A (en) * 1997-12-31 2002-01-08 テンプトロニック コーポレイション Temperature control system for workpiece chuck
JP2002148303A (en) * 2000-11-10 2002-05-22 Advantest Corp Holding device for electronic part test, electronic part testing device and electronic part test method
JP2004225928A (en) * 2003-01-20 2004-08-12 Daikin Ind Ltd Refrigeration unit
JP2004527764A (en) * 2001-05-31 2004-09-09 クライオテック インコーポレイテッド Electronic device temperature control apparatus and temperature control method
WO2005017543A1 (en) * 2003-08-18 2005-02-24 Advantest Corporation Temperature control device and temperature control method
WO2005081003A1 (en) * 2004-02-16 2005-09-01 Delta Design, Inc. Dual feedback control system for maintaining the temperature of an ic-chip near a set-point

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5893753U (en) * 1982-08-19 1983-06-25 松下電器産業株式会社 Heat pump air conditioner
JPS62169969A (en) * 1986-01-23 1987-07-27 ダイキン工業株式会社 Refrigerator
JPS6488064A (en) * 1987-09-30 1989-04-03 Hitachi Ltd Refrigerant circuit for water cooler and heater
JPH01136355U (en) * 1988-02-25 1989-09-19
JPH0552904A (en) * 1991-08-21 1993-03-02 Nec Corp Device for handling ic at low temperature
JPH0587425A (en) * 1991-09-26 1993-04-06 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Refrigerant sealing device of refrigerating machine
JPH10134938A (en) * 1996-10-28 1998-05-22 Kyocera Corp Contact heater
JPH10260230A (en) * 1997-03-19 1998-09-29 Advantest Corp Apparatus for cooling heat-generating body
JP2002500432A (en) * 1997-12-31 2002-01-08 テンプトロニック コーポレイション Temperature control system for workpiece chuck
JP2000266436A (en) * 1999-03-12 2000-09-29 Matsushita Refrig Co Ltd Refrigerator
JP2000329821A (en) * 1999-05-24 2000-11-30 Advantest Corp Handler for semiconductor testing device
JP2002148303A (en) * 2000-11-10 2002-05-22 Advantest Corp Holding device for electronic part test, electronic part testing device and electronic part test method
JP2004527764A (en) * 2001-05-31 2004-09-09 クライオテック インコーポレイテッド Electronic device temperature control apparatus and temperature control method
JP2004225928A (en) * 2003-01-20 2004-08-12 Daikin Ind Ltd Refrigeration unit
WO2005017543A1 (en) * 2003-08-18 2005-02-24 Advantest Corporation Temperature control device and temperature control method
WO2005081003A1 (en) * 2004-02-16 2005-09-01 Delta Design, Inc. Dual feedback control system for maintaining the temperature of an ic-chip near a set-point

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014194415A (en) * 2013-03-15 2014-10-09 Sensata Technologies Massachusetts Inc Direct injection phase change temperature control system
EP2778696A3 (en) * 2013-03-15 2017-05-10 Sensata Technologies, Inc. Direct injection phase change temperature control system
US9709622B2 (en) 2013-03-15 2017-07-18 Sensata Technologies, Inc. Direct injection phase change temperature control system
JP2018523122A (en) * 2015-07-21 2018-08-16 デルタ・デザイン・インコーポレイテッドDelta Design, Inc. Continuous fluid thermal interface material distribution
US9921265B2 (en) 2015-12-18 2018-03-20 Sensata Technologies, Inc. Thermal clutch for thermal control unit and methods related thereto

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