JP2012183126A - Ophthalmic equipment - Google Patents

Ophthalmic equipment Download PDF

Info

Publication number
JP2012183126A
JP2012183126A JP2011047033A JP2011047033A JP2012183126A JP 2012183126 A JP2012183126 A JP 2012183126A JP 2011047033 A JP2011047033 A JP 2011047033A JP 2011047033 A JP2011047033 A JP 2011047033A JP 2012183126 A JP2012183126 A JP 2012183126A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
alignment
light
eye
light receiving
distribution information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011047033A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5766468B2 (en
Inventor
Keiichiro Okamoto
圭一郎 岡本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tomey Corp
Original Assignee
Tomey Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tomey Corp filed Critical Tomey Corp
Priority to JP2011047033A priority Critical patent/JP5766468B2/en
Publication of JP2012183126A publication Critical patent/JP2012183126A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5766468B2 publication Critical patent/JP5766468B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide ophthalmic equipment which, even when corneal reflex cannot detected, specifies a distance between an equipment body and a subject eye to control a position of the equipment body, consequently enables the equipment body to be smoothly aligned with respect to the subject eye without contacting with the subject eye.SOLUTION: The ophthalmic equipment is configured so that a luminous flux diameter of reflected light from the subject eye E falls within a light receiving surface of a Z alignment two-dimensional detection sensor 60. When a reflected image Ris detected on the light receiving surface of the Z alignment two-dimensional detection sensor 60, a Z alignment signal processing circuit acquires Z luminance distribution information, and a reflected light discrimination circuit uses the Z luminance distribution information to discriminate whether the reflected light is mirror surface reflection of the cornea or diffuse reflection on an eyelid or a cheek. When it is discriminated as the diffuse reflection on the eyelid or the cheek, a position in a Z direction is controlled by a Z direction position control circuit.

Description

この発明は、被検眼に対して装置本体を所定の位置にアライメントして検査を行なう眼科装置に関するものである。   The present invention relates to an ophthalmologic apparatus that performs an examination by aligning an apparatus main body at a predetermined position with respect to an eye to be examined.

眼の検査のために利用される眼科装置では、被検眼に対して装置本体を所定の位置関係にアライメントすることが必要である。アライメントは、被検眼の角膜に対してアライメント光束を投影して、その角膜反射像(虚像)の位置を受光素子により検出し、その検出情報に基づいてジョイスティック等の操作手段を操作して装置本体を移動させ、装置本体と被検眼の位置合わせを行なっている。近年では、自動でアライメント調整する装置が主流となっている。   In an ophthalmologic apparatus used for eye examination, it is necessary to align the apparatus main body with a predetermined positional relationship with respect to the eye to be examined. The alignment is performed by projecting an alignment light beam onto the cornea of the eye to be examined, detecting the position of the cornea reflection image (virtual image) with a light receiving element, and operating an operation means such as a joystick based on the detection information. The position of the apparatus main body and the eye to be examined are aligned. In recent years, automatic alignment devices have become mainstream.

ジョイスティック等の操作手段によって装置本体と被検眼との位置合わせを行なう場合、被検眼に装置本体が接触しないように慎重に操作する必要があり、その作業には微妙な調整が必要とされるため、熟練を要する。   When positioning the device main body and the eye to be inspected using operating means such as a joystick, it is necessary to carefully operate the device main body so that it does not come into contact with the eye to be examined, and the work requires delicate adjustments. , Skill is required.

そこで、被検眼への装置本体の接触を回避するために、特許文献1(特開2001−275973号公報)においては、角膜の反射光を検出し、Z方向のずれ情報を得て、被検眼に対して測定部が所定の接近距離以上に近づいたことを検出した場合には、測定部を後方へ移動させる眼科装置が提案されている。   Therefore, in order to avoid the contact of the apparatus main body with the eye to be examined, in Patent Document 1 (Japanese Patent Laid-Open No. 2001-275993), the reflected light of the cornea is detected to obtain the deviation information in the Z direction to obtain the eye to be examined. On the other hand, an ophthalmologic apparatus has been proposed that moves the measurement unit backward when it is detected that the measurement unit has approached a predetermined approach distance or more.

しかしながら、かかる特許文献1に記載の従来構造においては、角膜反射を検出することができない位置(例えば、まぶたや頬等)に装置本体がある場合、装置本体と被検眼との距離を特定することができないため、装置本体が被検眼に接触する恐れがある。   However, in the conventional structure described in Patent Document 1, when the apparatus main body is located at a position where corneal reflection cannot be detected (for example, the eyelid or cheek), the distance between the apparatus main body and the eye to be examined is specified. Therefore, there is a possibility that the main body of the apparatus may come into contact with the eye to be examined.

また、特許文献2(特開平11−19037号公報)においては、角膜頂点、まぶた等の反射位置によって反射光の光量が異なる点に着目して、アライメント検出手段により検出された光量を相対的に比較し、角膜反射が検出されない場合には、自動アライメント調整を中止する眼科装置が提案されている。   In Patent Document 2 (Japanese Patent Laid-Open No. 11-19037), focusing on the fact that the amount of reflected light differs depending on the reflection position of the corneal apex, the eyelid, etc., the amount of light detected by the alignment detection means is relatively In comparison, an ophthalmic apparatus that stops automatic alignment adjustment when corneal reflection is not detected has been proposed.

しかしながら、かかる特許文献2に記載の従来構造においては、どの測定部位の反射光なのか判別可能となるため、角膜反射が検出されない場合には、装置のアライメントを中止させることができ、被検眼への装置本体の接触を回避することができるが、装置本体と被検眼との距離を特定することはできないため、アライメントの再度やり直しが必要となり、検者及び被検者に負担がかかるという問題がある。   However, in the conventional structure described in Patent Document 2, since it is possible to determine which measurement site the reflected light is, when the corneal reflection is not detected, the alignment of the apparatus can be stopped, and the eye to be examined can be obtained. However, since it is not possible to specify the distance between the apparatus main body and the eye to be examined, it is necessary to perform alignment again, which places a burden on the examiner and the subject. is there.

特開2001−275973号公報JP 2001-275993 A 特開平11−19037号公報JP-A-11-19037

ここにおいて、本発明は上述の如き事情を背景として為されたものであって、その解決課題とするところは、角膜反射を検出することができない場合においても、装置本体と被検眼との距離を特定し装置本体の位置の制御を行なうことから、装置本体が被検眼に接触することなくスムーズにアライメントすることができる眼科装置を提供することにある。   Here, the present invention has been made in the background as described above, and the problem to be solved is that even when corneal reflection cannot be detected, the distance between the apparatus main body and the eye to be examined is determined. It is an object of the present invention to provide an ophthalmologic apparatus that can be smoothly aligned without specifying the position of the apparatus main body and controlling the position of the apparatus main body without contacting the eye to be examined.

本発明の第一の態様は、装置本体と、被検眼に向けてZアライメント用の指標光を照射するZアライメント指標光源と、該Zアライメント指標光源による該指標光の該被検眼による反射光を受光素子により撮像するZアライメント検出手段と、該Zアライメント検出手段からの検出結果に基づいて該装置本体をZ方向に移動させて、位置合わせするZ方向駆動手段とを備えた眼科装置において、該被検眼による該反射光の光束径が前記受光素子の受光面におさまるように構成し、該受光素子により受光された受光面における輝度分布情報を取得する輝度分布情報取得手段と、該輝度分布情報取得手段により取得された該輝度分布情報から該反射光が鏡面反射か乱反射かを判別する判別手段と、該判別手段により乱反射と判別したときは、該被検眼と該装置本体との距離を特定し、該装置本体のZ方向の位置の制御を行なうZ方向位置制御手段とを設けたことを、特徴とする。   A first aspect of the present invention is a device main body, a Z alignment index light source that irradiates an index light for Z alignment toward the eye to be examined, and reflected light of the index light from the eye to be examined by the Z alignment index light source. An ophthalmologic apparatus comprising: a Z-alignment detecting unit that captures an image with a light receiving element; and a Z-direction driving unit that moves and aligns the apparatus main body in the Z-direction based on a detection result from the Z-alignment detecting unit. A luminance distribution information acquisition unit configured to acquire a luminance distribution information on the light receiving surface received by the light receiving element; and a luminance distribution information acquiring unit configured so that a light beam diameter of the reflected light by the eye to be examined falls within the light receiving surface of the light receiving element Determining means for discriminating whether the reflected light is specular reflection or irregular reflection from the luminance distribution information acquired by the acquisition means; Identifying the distance between the eye and the apparatus main body, in that a and Z-direction position control means for controlling the Z direction position of the apparatus main body, and wherein.

本態様に従う構造とされた眼科装置においては、被検眼による反射光の光束径が受光素子の受光面におさまるように構成することから、角膜の鏡面反射だけでなくまぶたや頬等の乱反射の場合においても受光素子による検出が可能となり、装置本体と被検眼との距離を特定することができる。   In the ophthalmologic apparatus structured according to this aspect, the configuration is such that the beam diameter of the reflected light from the eye to be examined falls within the light receiving surface of the light receiving element, so that not only specular reflection of the cornea but also irregular reflection of the eyelids and cheeks Can be detected by the light receiving element, and the distance between the apparatus main body and the eye to be examined can be specified.

そして、本態様においては、受光素子により撮像された撮影画像における輝度分布情報を取得し、反射光が乱反射と判別したときは、被検眼と装置本体との距離を特定し装置本体のZ方向の位置の制御を行なうことから、装置本体が被検眼に接触することなくスムーズにアライメントすることができる。   In this aspect, the luminance distribution information in the captured image captured by the light receiving element is acquired, and when the reflected light is determined to be irregular reflection, the distance between the eye to be examined and the apparatus main body is specified, and the Z direction of the apparatus main body is determined. Since the position is controlled, the apparatus main body can be smoothly aligned without contacting the eye to be examined.

また、本発明の第二の態様は、前記第一の態様に係る眼科装置において、前記受光素子は2次元受光素子であり、前記輝度分布情報取得手段は、前記受光面上の垂直又は水平方向のライン上の画素の輝度を積算することを全ラインに対して行なうことで、該受光面全体の輝度分布情報を取得することを、特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, in the ophthalmologic apparatus according to the first aspect, the light receiving element is a two-dimensional light receiving element, and the luminance distribution information acquisition means is in a vertical or horizontal direction on the light receiving surface. The luminance distribution information of the entire light receiving surface is obtained by integrating the luminance of the pixels on this line for all the lines.

本態様に従う構造とされた眼科装置においては、受光素子を2次元受光素子とし、受光面上の垂直又は水平方向のライン上の画素の輝度を積算することを全ラインに対して行なうことから、受光面全体の輝度分布情報を取得するための処理時間をより有効に抑えることができ、処理の高速化を図ることができる。すなわち、2次元位置検出素子の仕様によってはライン数が数百本になるため、それぞれの直線における輝度分布を評価していき、受光面全体の輝度分布を取得することは、非常に処理時間を要する。本態様においては、受光面上の垂直又は水平方向のライン上の画素の輝度を積算することを全ラインに対して行なった後に、受光面全体の輝度分布を評価するため、処理時間をより有効に抑えることができ、処理の高速化を図ることが可能となる。さらに、2次元受光素子を用いて受光面上の画素の輝度を積算することにより、被検眼による反射光の一部が受光面から外れていても、より精度の高い輝度分布情報を取得することができる。すなわち、1次元受光素子の場合、反射光の一部が受光面から外れると、輝度分布情報におけるピーク(中心位置)を算出することが困難になる。本態様においては、反射光の一部が受光面から外れていても、2次元受光素子を用いて受光面上の画素の輝度を積算するため輝度分布情報におけるピークを特定することが可能となるため、より精度の高い輝度分布情報となる。   In the ophthalmologic apparatus structured according to this aspect, the light receiving element is a two-dimensional light receiving element, and the luminance of the pixels on the vertical or horizontal line on the light receiving surface is integrated for all lines, The processing time for acquiring the luminance distribution information of the entire light receiving surface can be more effectively suppressed, and the processing speed can be increased. That is, depending on the specifications of the two-dimensional position detection element, the number of lines may be several hundred. Therefore, evaluating the luminance distribution in each straight line and acquiring the luminance distribution of the entire light receiving surface takes a very long processing time. Cost. In this aspect, after integrating the luminance of the pixels on the vertical or horizontal line on the light receiving surface over all lines, the luminance distribution of the entire light receiving surface is evaluated, so that the processing time is more effective. Therefore, the processing speed can be increased. Further, by integrating the luminance of the pixels on the light receiving surface using a two-dimensional light receiving element, more accurate luminance distribution information can be obtained even if part of the reflected light from the eye to be examined is off the light receiving surface. Can do. That is, in the case of a one-dimensional light receiving element, if a part of the reflected light deviates from the light receiving surface, it is difficult to calculate a peak (center position) in the luminance distribution information. In this aspect, even if a part of the reflected light is off the light receiving surface, it is possible to specify the peak in the luminance distribution information because the luminance of the pixels on the light receiving surface is integrated using the two-dimensional light receiving element. Therefore, the brightness distribution information is more accurate.

また、本発明の第三の態様は、前記第一又は第二の態様に係る眼科装置において、前記判別手段は、前記輝度分布情報取得手段により得られた前記輝度分布情報における予め設定された輝度の閾値よりも輝度が高い画素の数及び/又は半値幅の大きさに基づいて該反射光が鏡面反射か乱反射かを判別することを、特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, in the ophthalmologic apparatus according to the first or second aspect, the determination means is a preset luminance in the luminance distribution information obtained by the luminance distribution information acquisition means. It is characterized by discriminating whether the reflected light is specular reflection or irregular reflection based on the number of pixels whose luminance is higher than the threshold value and / or the size of the half width.

本態様に従う構造とされた眼科装置においては、輝度分布情報における予め設定された輝度の閾値よりも輝度が高い画素の数及び/又は半値幅の大きさに基づき反射光が鏡面反射か乱反射かを判別することから、簡単な処理で判別することができる。   In the ophthalmologic apparatus structured according to this aspect, whether the reflected light is specular reflection or irregular reflection based on the number of pixels having a luminance higher than a preset luminance threshold in the luminance distribution information and / or the size of the half width. Since it is determined, it can be determined by a simple process.

眼屈折力測定装置の装置光学系を示す図である。It is a figure which shows the apparatus optical system of an eye refractive power measuring apparatus. 従来技術の角膜がまぶたに覆われたときのZアライメント2次元検出センサに入射する光束の状態を示す図である。It is a figure which shows the state of the light beam which injects into a Z alignment two-dimensional detection sensor when the cornea of a prior art is covered with the eyelid. 眼屈折力測定装置の外観図である。It is an external view of an eye refractive power measuring apparatus. 眼屈折力測定装置の概略ブロック構成回路図である。1 is a schematic block configuration circuit diagram of an eye refractive power measurement apparatus. 眼屈折力測定装置の測定手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the measurement procedure of an eye refractive power measuring apparatus. 表示画面に表示される前眼部の図である。It is a figure of the anterior eye part displayed on a display screen. 2次元検出センサの構成概略図である。It is a structure schematic diagram of a two-dimensional detection sensor. 受光面全体のXY輝度分布情報を取得する方法を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the method to acquire XY luminance distribution information of the whole light-receiving surface. Zアライメントの方法を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the method of Z alignment. Zアライメント2次元検出センサで検出される受光面での反射像を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the reflected image in the light-receiving surface detected with a Z alignment two-dimensional detection sensor. 受光面全体のZ輝度分布情報を取得する方法を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the method to acquire Z luminance distribution information of the whole light-receiving surface. (a)角膜の鏡面反射を検出したとき、(b)まぶたや頬等の乱反射を検出したときのZ輝度分布を示す図である。(A) It is a figure which shows Z luminance distribution when detecting irregular reflection of an eyelid, a cheek, etc., when the specular reflection of a cornea is detected.

以下、本実施形態について図面に基づいて説明する。なお、本実施形態では、眼屈折力を測定する装置を例として説明する。   Hereinafter, the present embodiment will be described with reference to the drawings. In the present embodiment, an apparatus for measuring eye refractive power will be described as an example.

先ず、図1に、本発明における眼屈折力測定装置の装置光学系10を示す。装置光学系10は、被検眼Eの前眼部を観察する観察光学系(20,22,24,26,28,30,32)、被検眼Eを注視させる視標を提示する視標光学系(34,36,38,40,22)、装置光学系10を被検眼Eに対して上下左右方向(X・Y方向)で位置決めするためのXY方向位置検出手段としてのXYアライメント検出光学系(42,44,46,48,38,40,22,24,26,28,50,52,54)、装置光学系10を被検眼Eに対して前後方向(Z方向)で位置決めするためのZ方向位置検出手段としてのZアライメント検出光学系(42,44,46,48,38,40,22,56,58,60)、眼の屈折力を測定するための眼屈折力測定光学系(42,44,46,48,38,40,22,56,58,60)を備えている。   First, FIG. 1 shows an apparatus optical system 10 of an eye refractive power measuring apparatus according to the present invention. The apparatus optical system 10 includes an observation optical system (20, 22, 24, 26, 28, 30, 32) for observing the anterior segment of the eye E, and a target optical system for presenting a target for gazing at the eye E. (34, 36, 38, 40, 22), an XY alignment detection optical system as an XY direction position detection means for positioning the device optical system 10 in the vertical and horizontal directions (X and Y directions) with respect to the eye E 42, 44, 46, 48, 38, 40, 22, 24, 26, 28, 50, 52, 54), Z for positioning the device optical system 10 with respect to the eye E in the front-rear direction (Z direction). Z alignment detection optical system (42, 44, 46, 48, 38, 40, 22, 56, 58, 60) as direction position detection means, eye refractive power measurement optical system (42) for measuring eye refractive power , 44, 46, 48, 38, 40, 22, 5 , It is equipped with a 58, 60).

観察光学系は、赤外光を照射する照明光源20,20、波長選択ミラー22、レンズ24、波長選択ミラー26、ハーフミラー28、レンズ30、CCD32が設けられて構成されている。ここで、波長選択ミラー22は照明光源20,20及び後述するアライメント光源42及び測定光源62から照射される赤外光がハーフミラーで、後述する視標光源32の可視光を反射する特性となっている。また、波長選択ミラー26は照明光源20,20及び後述するアライメント光源42から照射される赤外光を透過し、後述する測定光源54から照射される赤外光を反射する特性となっている。照明光源20,20から発せられて被検眼Eの前眼部で反射された光束が、波長選択ミラー22を透過し、レンズ24を介して波長選択ミラー26を透過した後、レンズ28を介してCCD30上に導かれる。   The observation optical system includes illumination light sources 20 and 20 that irradiate infrared light, a wavelength selection mirror 22, a lens 24, a wavelength selection mirror 26, a half mirror 28, a lens 30, and a CCD 32. Here, the wavelength selection mirror 22 is a half mirror for infrared light emitted from the illumination light sources 20 and 20 and an alignment light source 42 and a measurement light source 62 described later, and reflects visible light from a target light source 32 described later. ing. The wavelength selection mirror 26 transmits infrared light emitted from the illumination light sources 20 and 20 and an alignment light source 42 described later, and reflects infrared light applied from a measurement light source 54 described later. A light beam emitted from the illumination light sources 20 and 20 and reflected by the anterior eye portion of the eye E to be examined passes through the wavelength selection mirror 22, passes through the wavelength selection mirror 26 through the lens 24, and then passes through the lens 28. Guided onto the CCD 30.

視標光学系は、可視光を照射する視標光源34、光軸方向に移動可能な視標36、波長選択ミラー38、レンズ40、波長選択ミラー22が設けられて構成されている。ここで、波長選択ミラー38は可視光を透過し、後述するアライメント光源42の赤外光を反射する特性となっている。視標光源34から発せられた光束は、視標36を介して、波長選択ミラー38を透過した後、レンズ40を介して波長選択ミラー22で反射されて被検眼Eに照射される。   The target optical system includes a target light source 34 that emits visible light, a target 36 that can move in the optical axis direction, a wavelength selection mirror 38, a lens 40, and a wavelength selection mirror 22. Here, the wavelength selection mirror 38 has a characteristic of transmitting visible light and reflecting infrared light of an alignment light source 42 described later. The luminous flux emitted from the target light source 34 passes through the wavelength selection mirror 38 through the target 36, is reflected by the wavelength selection mirror 22 through the lens 40, and is applied to the eye E.

XYアライメント検出光学系は、赤外光を照射するアライメント光源42、レンズ44、絞り46、レンズ48、波長選択ミラー38、レンズ40、波長選択ミラー22、レンズ24、波長選択ミラー26、ハーフミラー28、フィルター50、レンズ52、XYアライメント2次元検出センサ54が設けられて構成されている。ここで、ハーフミラー28は、照明光源20,20及びアライメント光源42からの光の一部を透過すると共に残りを反射する。また、フィルター50は、アライメント光源42からの光を透過する一方で、照明光源20からの光を遮断する。このため、照明光源20,20からの光がXYアライメント2次元検出センサ54で検出されることはない。また、絞り46は、被検眼Eの角膜Cと共役な位置に配設されており、絞り46によりアライメント光源42による被検眼Eの位置での光束の像の直径を調節している。アライメント光源42から発せられた光束は、レンズ44、絞り46、レンズ48を介して波長選択ミラー38で反射され、レンズ38を介して波長選択ミラー22で反射されて被検眼Eに照射される。被検眼Eの角膜Cで鏡面反射された光束が、波長選択ミラー22を透過し、レンズ24を介して波長選択ミラー26を透過した後、ハーフミラー28で光束の一部が反射され、フィルター50、レンズ52を介してXYアライメント2次元検出センサ54に導かれるようになっている。   The XY alignment detection optical system includes an alignment light source 42 that irradiates infrared light, a lens 44, an aperture 46, a lens 48, a wavelength selection mirror 38, a lens 40, a wavelength selection mirror 22, a lens 24, a wavelength selection mirror 26, and a half mirror 28. A filter 50, a lens 52, and an XY alignment two-dimensional detection sensor 54 are provided. Here, the half mirror 28 transmits part of the light from the illumination light sources 20 and 20 and the alignment light source 42 and reflects the rest. In addition, the filter 50 transmits light from the alignment light source 42 and blocks light from the illumination light source 20. For this reason, the light from the illumination light sources 20 and 20 is not detected by the XY alignment two-dimensional detection sensor 54. The diaphragm 46 is disposed at a position conjugate with the cornea C of the eye E, and the diameter of the image of the light beam at the position of the eye E by the alignment light source 42 is adjusted by the diaphragm 46. The light beam emitted from the alignment light source 42 is reflected by the wavelength selection mirror 38 through the lens 44, the stop 46, and the lens 48, is reflected by the wavelength selection mirror 22 through the lens 38, and is applied to the eye E. The light beam specularly reflected by the cornea C of the eye E passes through the wavelength selection mirror 22, passes through the wavelength selection mirror 26 through the lens 24, and then a part of the light beam is reflected by the half mirror 28, and the filter 50 The XY alignment two-dimensional detection sensor 54 is guided through the lens 52.

Zアライメント検出光学系は、赤外光を照射するアライメント光源42、レンズ44、絞り46、レンズ48、波長選択ミラー38、レンズ40、波長選択ミラー22、フィルター56、レンズ58、Zアライメント2次元検出センサ60が設けられて構成されている。ここで、フィルター56は、アライメント光源42からの光を透過する一方で、照明光源20からの光を遮断する。このため、照明光源20,20からの光がZアライメント2次元検出センサ60で検出されることはない。アライメント光源42から発せられた光束は、レンズ44、絞り46、レンズ48を介して波長選択ミラー38で反射され、レンズ38を介して波長選択ミラー22で反射されて被検眼Eに照射される。被検眼Eの角膜Cで鏡面反射された光束が、フィルター56、レンズ58を介してZアライメント2次元検出センサ60に導かれるようになっている。   The Z alignment detection optical system includes an alignment light source 42 that irradiates infrared light, a lens 44, an aperture 46, a lens 48, a wavelength selection mirror 38, a lens 40, a wavelength selection mirror 22, a filter 56, a lens 58, and Z alignment two-dimensional detection. A sensor 60 is provided. Here, the filter 56 transmits light from the alignment light source 42 while blocking light from the illumination light source 20. For this reason, the light from the illumination light sources 20, 20 is not detected by the Z alignment two-dimensional detection sensor 60. The light beam emitted from the alignment light source 42 is reflected by the wavelength selection mirror 38 through the lens 44, the stop 46, and the lens 48, is reflected by the wavelength selection mirror 22 through the lens 38, and is applied to the eye E. The light beam specularly reflected by the cornea C of the eye E is guided to the Z alignment two-dimensional detection sensor 60 via the filter 56 and the lens 58.

特に本実施形態においては、まぶたや頬等で乱反射された光束も、Zアライメント2次元検出センサ60の受光面におさまるように、絞り46にて調節されている。従来技術では、まぶたや頬等で乱反射された光束は、大きく広がってZアライメント2次元検出センサ60に入射するため(図2参照)、Zアライメント2次元検出センサ60により乱反射を特定することは困難であった。しかしながら、本実施形態において、より具体的には、例えば、被検眼Eで乱反射された光束の直径が、Zアライメント2次元検出センサ60の受光面の横寸法に対して80%になるように絞り46の径や倍率が設計され、Zアライメント2次元検出センサ60の受光面におさまるように構成されている。これにより、角膜の鏡面反射だけでなくまぶたや頬等の乱反射の場合においてもZアライメント2次元検出センサ60による検出が可能とされている。   In particular, in the present embodiment, the light beam irregularly reflected by the eyelids, cheeks, and the like is adjusted by the diaphragm 46 so as to fall on the light receiving surface of the Z alignment two-dimensional detection sensor 60. In the prior art, the light beam irregularly reflected by the eyelids, cheeks, etc. spreads widely and enters the Z alignment two-dimensional detection sensor 60 (see FIG. 2), so that it is difficult to identify the irregular reflection by the Z alignment two-dimensional detection sensor 60. Met. However, in this embodiment, more specifically, for example, the aperture is such that the diameter of the light beam irregularly reflected by the eye E is 80% with respect to the lateral dimension of the light receiving surface of the Z alignment two-dimensional detection sensor 60. The diameter and magnification of 46 are designed and configured to fit on the light receiving surface of the Z alignment two-dimensional detection sensor 60. As a result, detection by the Z alignment two-dimensional detection sensor 60 is possible not only in the specular reflection of the cornea but also in the case of irregular reflection of the eyelids and cheeks.

眼屈折力測定光学系は、赤外光を照射する測定光源62、レンズ64、絞り66、ハーフミラー68、レンズ70、波長選択ミラー26、レンズ24、波長選択ミラー22、絞り72、レンズ74、光軸方向に移動可能なCCD76が設けられて構成されている。ここで、ハーフミラー68は、測定光源62からの光の一部を透過すると共に残りを反射する。測定光源62から発せられた光束は、レンズ64、絞り66を介してハーフミラー68で光束の一部が透過され、レンズ70を介して波長選択ミラー26で反射し、レンズ24を介して波長選択ミラー22を透過されて被検眼Eの眼底に照射される。被検Eの眼底で反射された光束が、波長選択ミラー22を透過し、レンズ24を介して波長選択ミラー26で反射され、レンズ70を介してハーフミラー68で光束の一部が反射され、絞り72、レンズ74を介してCCD76に導かれるようになっている。   The eye refractive power measurement optical system includes a measurement light source 62 for irradiating infrared light, a lens 64, a diaphragm 66, a half mirror 68, a lens 70, a wavelength selection mirror 26, a lens 24, a wavelength selection mirror 22, a diaphragm 72, a lens 74, A CCD 76 movable in the optical axis direction is provided. Here, the half mirror 68 transmits part of the light from the measurement light source 62 and reflects the rest. A part of the light beam emitted from the measurement light source 62 is transmitted by the half mirror 68 through the lens 64 and the diaphragm 66, reflected by the wavelength selection mirror 26 through the lens 70, and wavelength selected through the lens 24. The light is transmitted through the mirror 22 and applied to the fundus of the eye E to be examined. The light beam reflected by the fundus of the subject E passes through the wavelength selection mirror 22, is reflected by the wavelength selection mirror 26 through the lens 24, and part of the light beam is reflected by the half mirror 68 through the lens 70, The light is guided to the CCD 76 through the aperture 72 and the lens 74.

次に、図3に、本発明における眼屈折力測定装置の外観図を示す。装置光学系10は、図3に示す眼屈折力測定装置100に収容されている。眼屈折力測定装置100は、ベース102の上に本体部104が設けられており、かかる本体部104の上にケース106が前後左右および上下動可能に設けられて構成されている。ベース102には、電源装置が内蔵されていると共に、操作スティック108が設けられており、かかる操作スティック108を操作してケース106を駆動せしめることができるようにされている。また、本体部104には、後述する各制御回路などが収容されていると共に、例えば液晶モニタなどからなる表示画面110が設けられている。   Next, FIG. 3 shows an external view of the eye refractive power measuring apparatus according to the present invention. The apparatus optical system 10 is accommodated in the eye refractive power measuring apparatus 100 shown in FIG. The eye refractive power measuring apparatus 100 is configured such that a main body 104 is provided on a base 102 and a case 106 is provided on the main body 104 so as to be movable back and forth, right and left and up and down. The base 102 has a built-in power supply device and is provided with an operation stick 108 so that the case 106 can be driven by operating the operation stick 108. Further, the main body unit 104 accommodates control circuits and the like described later, and a display screen 110 including a liquid crystal monitor, for example.

さらに、図4に、本発明における眼屈折力測定装置の概略ブロック構成回路図を示す。眼屈折力測定装置には、装置光学系10の駆動手段としての駆動回路112が設けられている。X軸駆動機構114、Y軸駆動機構116、Z軸駆動機構118は、それぞれ駆動回路112に接続されて、駆動回路112からの駆動信号に基づいて駆動せしめられるようにされている。また、XYアライメント2次元検出センサ54は、XYアライメント信号処理回路120に接続されており、かかるXYアライメント信号処理回路120は、駆動回路112に接続されている。また、Zアライメント2次元検出センサ60は、Zアライメント信号処理回路122に接続されており、かかるZアライメント信号処理回路122は、反射光が鏡面反射か乱反射かを判別する判別手段としての反射光判別回路124を介して駆動回路112に接続されている。これにより、XYアライメント2次元検出センサ54及びZアライメント2次元検出センサ60の検出情報が駆動回路112に入力されるようになっている。そして、装置光学系10のZ方向の位置の制御を行なうZ方向位置制御手段としてのZ方向位置制御回路126が駆動回路112に接続されている。さらに、眼屈折力測定装置には、駆動回路112に眼屈折力を測定するための測定系128が接続されている。   Furthermore, FIG. 4 shows a schematic block configuration circuit diagram of the eye refractive power measuring apparatus according to the present invention. The eye refractive power measurement device is provided with a drive circuit 112 as a drive means of the device optical system 10. The X-axis drive mechanism 114, the Y-axis drive mechanism 116, and the Z-axis drive mechanism 118 are connected to the drive circuit 112, respectively, and are driven based on a drive signal from the drive circuit 112. The XY alignment two-dimensional detection sensor 54 is connected to the XY alignment signal processing circuit 120, and the XY alignment signal processing circuit 120 is connected to the drive circuit 112. The Z-alignment two-dimensional detection sensor 60 is connected to a Z-alignment signal processing circuit 122, and the Z-alignment signal processing circuit 122 discriminates reflected light as discrimination means for discriminating whether reflected light is specular reflection or irregular reflection. The circuit 124 is connected to the driving circuit 112. Thereby, detection information of the XY alignment two-dimensional detection sensor 54 and the Z alignment two-dimensional detection sensor 60 is input to the drive circuit 112. A Z-direction position control circuit 126 is connected to the drive circuit 112 as Z-direction position control means for controlling the position of the apparatus optical system 10 in the Z direction. Further, a measuring system 128 for measuring the eye refractive power is connected to the driving circuit 112 in the eye refractive power measuring apparatus.

次に、このような構造とされた眼屈折力測定装置において、駆動回路112が実行する眼屈折力の測定手順の概略を図5に示し、以降、順に説明する。   Next, in the eye refractive power measuring apparatus having such a structure, an outline of the eye refractive power measurement procedure executed by the drive circuit 112 is shown in FIG.

まず、S1において、被検眼Eに対して、手動によって装置光学系10のX方向及びY方向の位置合わせ(XYアライメント)を行なう。かかるXYアライメント時には、視標光源34から照射された視標光が被検眼Eに導かれる。そして、被検者にかかる視標光を固視させることによって、被検眼Eの光軸方向を、観察光学系の光軸Oの方向と一致させることができる。かかる状態下で、照明光源20,20から照射されて、被検眼Eの前眼部で反射された光束がCCD32上に導かれる。これにより、図6に示すように、表示画面110上に、被検眼Eの前眼部が表示される。 First, in S <b> 1, alignment of the apparatus optical system 10 in the X direction and the Y direction (XY alignment) is manually performed on the eye E to be examined. During such XY alignment, the target light emitted from the target light source 34 is guided to the eye E. Then, by fixing an according target light to the subject, the optical axis of the eye E, it is possible to match the direction of the optical axis O 1 of the observation optical system. Under such a state, the light beam emitted from the illumination light sources 20 and 20 and reflected by the anterior eye portion of the eye E is guided onto the CCD 32. As a result, as shown in FIG. 6, the anterior segment of the eye E is displayed on the display screen 110.

さらに、表示画面110上には、XYアライメント2次元検出センサ54によりX方向の位置とY方向の位置を検出可能な領域を示す矩形枠形状のXYアライメント検出可能領域130が、被検眼Eに重ねて表示される。それと共に、アライメント光源42から被検眼Eに向けて照射された光束が、被検眼Eの角膜Cで反射されてCCD32に導かれることによって、表示画面110に、点状の角膜輝点RXYとして表示されるようになっている。そして、操作者は操作スティック108を操作することによって、装置光学系10を駆動せしめて、角膜輝点RXYがXYアライメント検出可能領域130の枠内に入るように、装置光学系10の位置を調節する。 Further, on the display screen 110, an XY alignment detectable region 130 having a rectangular frame shape indicating a region in which the position in the X direction and the position in the Y direction can be detected by the XY alignment two-dimensional detection sensor 54 is superimposed on the eye E. Displayed. At the same time, the light beam emitted from the alignment light source 42 toward the subject eye E is reflected by the cornea C of the subject eye E and guided to the CCD 32, so that a dotted corneal bright spot R XY is displayed on the display screen 110. It is displayed. Then, the operator operates the operation stick 108 to drive the apparatus optical system 10 so that the position of the apparatus optical system 10 is adjusted so that the corneal bright spot R XY falls within the frame of the XY alignment detectable region 130. Adjust.

また、アライメント光源42が照射されて、被検眼Eの前眼部で反射された光束の一部は、ハーフミラー28で反射されて、XYアライメント2次元検出センサ54に導かれるようになっている。   Further, a part of the light beam irradiated by the alignment light source 42 and reflected by the anterior eye portion of the eye E is reflected by the half mirror 28 and guided to the XY alignment two-dimensional detection sensor 54. .

次に、S2において、XYアライメント2次元検出センサ54は、角膜輝点RXYがXYアライメント検出可能領域130の枠内に入り、角膜輝点RXYが検出されると、XYアライメント信号処理回路120に入力される。XYアライメント信号処理回路120は、XY輝度分布情報を取得する。より具体的には、図7に示すように、XYアライメント2次元検出センサ54は、水平方向にm列、垂直方向にn行の画素から構成されており、列及び行の番号は0から始まるものとする。図8に示すように、受光面上の垂直方向のラインlXi(i=0〜m)、水平方向のラインlYj(j=0〜n)上の画素の輝度を積算することで、受光面全体のXY輝度分布情報を取得する。そして、XY輝度分布情報から得られたX方向及びY方向位置を駆動回路112に出力する。 Next, in S2, the XY alignment two-dimensional detection sensor 54 enters the corneal bright spot R XY within the frame of the XY alignment detectable region 130, and when the corneal bright spot R XY is detected, the XY alignment signal processing circuit 120. Is input. The XY alignment signal processing circuit 120 acquires XY luminance distribution information. More specifically, as shown in FIG. 7, the XY alignment two-dimensional detection sensor 54 is composed of m columns in the horizontal direction and n rows in the vertical direction, and the column and row numbers start from 0. Shall. As shown in FIG. 8, by integrating the luminance of the pixels on the vertical line l Xi (i = 0 to m) and the horizontal line l Yj (j = 0 to n) on the light receiving surface, XY luminance distribution information of the entire surface is acquired. Then, the X direction and Y direction positions obtained from the XY luminance distribution information are output to the drive circuit 112.

次に、S3において、駆動回路112は、X方向の位置情報に基づいて観察光学系の光軸Oが被検眼Eの光軸に近づくようにX軸駆動機構114を駆動すると共に、Y方向の位置情報に基づいて観察光学系の光軸Oが被検眼Eの光軸に近づくようにY軸駆動機構116を駆動せしめる。これにより、装置光学系10の被検眼Eに対するXY方向の位置合わせが行われる。 Next, in S3, the driving circuit 112 together with the optical axis O 1 of the observation optical system based on the position information in the X direction to drive the X-axis driving mechanism 114 closer to the optical axis of the eye E, Y-direction Based on the position information, the Y-axis drive mechanism 116 is driven so that the optical axis O 1 of the observation optical system approaches the optical axis of the eye E to be examined. Thereby, the alignment of the apparatus optical system 10 with respect to the eye E in the XY directions is performed.

次に、S4において、被検眼Eに対して、手動によって装置光学系10のZ方向の位置合わせ(Zアライメント)を行なう。かかるZアライメント時には、アライメント光源42を発光せしめて、アライメント光源42から照射された赤外光束を、被検眼Eの前眼部に対して正面から照射すると共に、前眼部から反射された光束が、Zアライメント2次元検出センサ60に導かれるようになっている。   Next, in S4, the apparatus optical system 10 is manually aligned in the Z direction (Z alignment) with respect to the eye E. At the time of such Z alignment, the alignment light source 42 is caused to emit light, and the infrared light beam emitted from the alignment light source 42 is irradiated from the front to the anterior eye part of the eye E, and the light beam reflected from the anterior eye part is reflected. The Z alignment two-dimensional detection sensor 60 is guided.

そこにおいて、図9にモデル的に示すように、被検眼EがZアライメント検出光学系に対してZ方向で相対的に前後すると、被検眼Eからの反射される反射光束:OZ1,OZ2がZアライメント2次元検出センサ60に入射する位置は、目的とする基準位置に位置せしめられた被検眼Eから反射される反射光束:OZ0の入射位置から偏移する。その結果、図10にモデル的に示すように、目的とする位置から外れた反射光束:OZ1,OZ2のZアライメント2次元検出センサ60によって検出される受光面での反射像:RZ1,RZ2の位置は、目的とするZ方向位置における反射光束OZ0によって検出される反射像:RZ0の位置(基準位置。オフセット量=0)から偏移する。これにより、Zアライメント2次元検出センサ60によって検出された反射像の基準位置からのオフセット量に基づいて、装置光学系10と被検眼Eとの距離を特定することが可能となる。 9, when the eye E is moved back and forth in the Z direction relative to the Z alignment detection optical system, the reflected light flux reflected from the eye E: O Z1 and O Z2. Is incident on the Z alignment two-dimensional detection sensor 60, and is shifted from the incident position of the reflected light beam: O Z0 reflected from the eye E to be examined positioned at the target reference position. As a result, as shown in FIG. 10 as a model, the reflected light beam deviated from the target position: O Z1 , O Z2 , the reflected image on the light receiving surface detected by the Z alignment two-dimensional detection sensor 60: R Z1 , The position of R Z2 deviates from the position of the reflected image: R Z0 (reference position, offset amount = 0) detected by the reflected light beam O Z0 at the target Z-direction position. Accordingly, it is possible to specify the distance between the apparatus optical system 10 and the eye E based on the offset amount from the reference position of the reflected image detected by the Z alignment two-dimensional detection sensor 60.

次に、S5において、Zアライメント2次元検出センサ60は、受光面にて反射像Rが検出されると、Zアライメント信号処理回路122に入力される。Zアライメント信号処理回路122は、Z輝度分布情報を取得する。より具体的には、Zアライメント2次元検出センサ60は、XYアライメント2次元検出センサ54と同様に、水平方向にm列、垂直方向にn行の画素から構成されており、列及び行の番号は0から始まるものとする。図11に示すように、受光面上の垂直方向のラインlZi(i=0〜m)上の画素の輝度を積算することで、受光面全体のZ輝度分布情報を取得する。なお、図12に、(a)角膜の鏡面反射を検出したとき,(b)まぶたや頬等の乱反射を検出したときに取得したZ輝度分布情報を示す。 Next, in S <b> 5, when the reflected image RZ is detected on the light receiving surface, the Z alignment two-dimensional detection sensor 60 is input to the Z alignment signal processing circuit 122. The Z alignment signal processing circuit 122 acquires Z luminance distribution information. More specifically, similarly to the XY alignment two-dimensional detection sensor 54, the Z alignment two-dimensional detection sensor 60 is composed of pixels in m columns in the horizontal direction and n rows in the vertical direction. Shall start from 0. As shown in FIG. 11, the Z luminance distribution information of the entire light receiving surface is acquired by integrating the luminance of the pixels on the vertical line l Zi (i = 0 to m) on the light receiving surface. FIG. 12 shows Z luminance distribution information acquired when (a) specular reflection of the cornea is detected, and (b) irregular reflection such as an eyelid or cheek is detected.

次に、S6において、Zアライメント信号処理回路122で取得されたZ輝度分布情報を反射光判別回路124で処理して、反射光が角膜の鏡面反射かまぶたや頬等の乱反射かを判別する。反射光判別回路124における第一の判別として、本実施形態では、Zアライメント信号処理回路122によって取得されたZ輝度分布情報を用いて、予め設定された輝度値の第一閾値よりも高い輝度値を有する画素が存在するか否かを判定するようになっている。なお、予め設定される輝度値の第一閾値は、より具体的には、例えば、輝度値が0〜255で表されている場合、輝度値128と設定されている。   Next, in S6, the Z luminance distribution information acquired by the Z alignment signal processing circuit 122 is processed by the reflected light determination circuit 124 to determine whether the reflected light is irregular reflection such as specular reflection of the cornea, eyelids or cheeks. As a first determination in the reflected light determination circuit 124, in the present embodiment, the brightness value higher than the first threshold value of the brightness value set in advance using the Z brightness distribution information acquired by the Z alignment signal processing circuit 122. It is determined whether or not there is a pixel having. The first threshold value of the brightness value set in advance is more specifically set to the brightness value 128 when the brightness value is represented by 0 to 255, for example.

ここで、反射光判別回路124における第一の判別において、第一閾値よりも高い輝度の画素が検出されなかった場合には、反射光がまぶたや頬等の乱反射であると推測され、次にS7の処理が行なわれる。   Here, in the first determination in the reflected light determination circuit 124, when a pixel having a luminance higher than the first threshold is not detected, it is estimated that the reflected light is irregular reflection such as eyelids and cheeks. The process of S7 is performed.

一方、反射光判別回路124における第一の判別において、第一閾値よりも高い輝度の画素が検出された場合には、反射光が角膜の鏡面反射であると判断される。この場合には、S9の処理が行なわれる。   On the other hand, in the first determination in the reflected light determination circuit 124, when a pixel having a luminance higher than the first threshold is detected, it is determined that the reflected light is a specular reflection of the cornea. In this case, the process of S9 is performed.

次に、S7において、反射光判別回路124における第二の判別として、本実施形態では、Zアライメント信号処理回路122によって取得されたZ輝度分布情報を用いて、予め設定された第二閾値を超える半値幅の大きさか否かを判定するようになっている。なお、予め設定される第二閾値は、より具体的には、例えば、角膜輝点RXYの直径の5倍の大きさで設定されている。 Next, in S7, in the present embodiment, as the second determination in the reflected light determination circuit 124, in the present embodiment, the Z brightness distribution information acquired by the Z alignment signal processing circuit 122 is used, and a preset second threshold value is exceeded. It is determined whether or not the full width at half maximum. Incidentally, the second threshold value is set in advance, more specifically, for example, it is set at five times the size of the diameter of the corneal bright points R XY.

ここで、反射光判別回路124における第二の判別において、予め設定された第二閾値を超える半値幅の大きさであった場合には、反射光がまぶたや頬等の乱反射であると判断され、次にS8の処理が行なわれる。   Here, in the second determination in the reflected light determination circuit 124, when the half-value width exceeds a preset second threshold value, it is determined that the reflected light is irregular reflection such as an eyelid or a cheek. Next, the process of S8 is performed.

一方、反射光判別回路124における第二の判別において、予め設定された第二閾値を超える半値幅の大きさでなかった場合には、反射光が角膜の鏡面反射であると判断され、S9の処理が行なわれる。   On the other hand, in the second determination in the reflected light determination circuit 124, if the half width exceeding the preset second threshold value is not reached, it is determined that the reflected light is specular reflection of the cornea, and in S9 Processing is performed.

S8において、駆動回路112は、Z方向の位置を制御するようZ方向位置制御回路126に入力する。Z方向位置制御回路126は、被検眼Eに対して装置光学系10が予め設定された接近距離以上に近づかないようにZ方向の位置を制御する。そして、再びS4の処理が行なわれる。   In S8, the drive circuit 112 inputs to the Z direction position control circuit 126 so as to control the position in the Z direction. The Z direction position control circuit 126 controls the position in the Z direction so that the apparatus optical system 10 does not approach the eye E to be examined more than a preset approach distance. Then, the process of S4 is performed again.

S9において、反射光判別回路124により反射光が角膜の鏡面反射であると判断された場合には、駆動回路112は、Zアライメント信号処理回路122が検出したZ方向の位置情報に基づいてZ軸駆動機構118をZ方向の前方又は後方に駆動せしめることによって、装置光学系10の被検眼Eに対するZ方向の位置合わせが行われる。   In S9, when the reflected light determination circuit 124 determines that the reflected light is a specular reflection of the cornea, the drive circuit 112 uses the Z-axis position information detected by the Z alignment signal processing circuit 122 as the Z-axis. By driving the drive mechanism 118 forward or backward in the Z direction, the alignment of the apparatus optical system 10 in the Z direction with respect to the eye E is performed.

このようにして、XY方向とZ方向のアライメントが行なわれた後、S10において、駆動回路112は、眼屈折力の測定をするよう測定系128に入力する。眼屈折力測定は、被検眼Eの眼底に測定光を投影し、被検眼Eの眼底からの反射光を受光し、得られた反射光の情報を用いて演算することにより被検眼Eの屈折力を測定するものであるが、この測定機構自体の説明は本発明とは関係が薄いので、これを省略する。測定機構の詳細については、本出願人による特開2003−102687号を参照されたい。   After the alignment in the XY direction and the Z direction is performed in this way, in S10, the drive circuit 112 inputs to the measurement system 128 to measure the eye refractive power. The eye refractive power measurement is performed by projecting measurement light onto the fundus of the subject eye E, receiving reflected light from the fundus of the subject eye E, and calculating using the information of the obtained reflected light to refract the subject eye E. Although the force is measured, the description of the measurement mechanism itself is not related to the present invention, and is therefore omitted. For details of the measurement mechanism, refer to Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-102687 by the present applicant.

以上、本発明の一実施形態について詳述してきたが、かかる実施形態における具体的な記載によって、本発明は、何等限定されるものでなく、当業者の知識に基づいて種々なる変更、修正、改良等を加えた態様で実施可能であり、また、そのような実施態様が、本発明の趣旨を逸脱しない限り、何れも、本発明の範囲内に含まれるものであることは、言うまでもない。   As mentioned above, although one embodiment of the present invention has been described in detail, the present invention is not limited in any way by the specific description in the embodiment, and various changes, modifications, and modifications based on the knowledge of those skilled in the art. Needless to say, the present invention can be implemented in a mode with improvements and the like, and all such modes are included in the scope of the present invention without departing from the gist of the present invention.

例えば、本実施形態では、被検眼EがZアライメント検出光学系に対してZ方向で相対的に前後すると、Zアライメント2次元検出センサ60で検出される受光面での反射像Rが水平方向に偏移する光学配置となっているため、垂直方向のラインlZi(i=0〜m)上の画素の輝度を積算する構成を開示しているが、反射像Rが垂直方向に偏移する光学配置とした場合には、水平方向のライン上の画素の輝度を積算することになる。 For example, in this embodiment, when the eye E is relatively back and forth in the Z direction relative to the Z alignment detection optical system, the horizontal reflection image R Z is a receiving surface which is detected by the Z alignment 2D sensor 60 However, a configuration is disclosed in which the luminance of the pixels on the vertical line l Zi (i = 0 to m) is integrated. However, the reflected image R Z is shifted in the vertical direction. In the case of an optical arrangement for shifting, the luminances of the pixels on the horizontal line are integrated.

また、本実施形態では、反射光判別回路124において、予め設定された輝度値の第一閾値よりも高い輝度値を有する画素が存在するか否かを判定する第一の判別及び予め設定された第二閾値を超える半値幅の大きさか否かを判定する第二の判別を行なっているが、これに限定されず、予め設定された輝度値の第一閾値よりも高い輝度値を有する画素が存在するか否かを判定する第一の判別のみの構成にしてもよい。なお、第一の判別及び第二の判別の両方を行なうことで、より精度よく反射光が鏡面反射か乱反射かを判別することが可能となる。   In the present embodiment, the reflected light determination circuit 124 performs the first determination that determines whether or not there is a pixel having a luminance value higher than the first threshold value of the predetermined luminance value, and is set in advance. The second determination for determining whether or not the half-value width exceeds the second threshold is performed, but the present invention is not limited to this, and a pixel having a luminance value higher than the first threshold of the preset luminance value is determined. Only the first determination for determining whether or not it exists may be adopted. By performing both the first determination and the second determination, it is possible to determine whether the reflected light is specular reflection or irregular reflection more accurately.

また、本実施形態では、Zアライメント2次元検出センサ60を用いて行なっているが、これに限定されず、1次元検出センサを用いる構成にしてもよい。   In the present embodiment, the Z alignment two-dimensional detection sensor 60 is used. However, the present invention is not limited to this, and a one-dimensional detection sensor may be used.

また、本実施形態では、Zアライメント検出光学系において、アライメント光源42からの光束を被検眼に対して正面から投影して、斜めからZアライメント2次元検出センサ60によって受光しているが、これに限定されず、被検眼に対して斜めから光束を投影して斜めから受光する構成や、被検眼に対して斜めから光束を投影して正面から受光する構成にしてもよい。   In the present embodiment, in the Z alignment detection optical system, the light beam from the alignment light source 42 is projected from the front onto the eye to be examined and is received by the Z alignment two-dimensional detection sensor 60 from an oblique direction. The present invention is not limited, and a configuration in which a light beam is projected obliquely on the eye to be examined and light is received obliquely, or a configuration in which the light beam is projected obliquely on the eye to be examined and received from the front may be employed.

また、本実施形態に示した眼屈折力測定装置における採用はあくまで例示であって、被検眼Eに対してZ方向のアライメント駆動を行なう装置、例えば、眼圧計や角膜形状測定装置等において採用可能であることは言うまでもない。   Further, the use in the eye refractive power measurement device shown in the present embodiment is merely an example, and can be adopted in a device that performs alignment driving in the Z direction with respect to the eye E, for example, a tonometer or a corneal shape measurement device. Needless to say.

100 眼屈折力測定装置
102 ベース
104 本体部
106 ケース
108 操作スティック
112 駆動回路
114 X軸駆動機構
116 Y軸駆動機構
118 Z軸駆動機構
120 XYアライメント信号処理回路
122 Zアライメント信号処理回路
124 反射光判別回路
126 Z方向位置制御回路
128 測定系
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Eye refractive power measuring apparatus 102 Base 104 Main body part 106 Case 108 Operation stick 112 Drive circuit 114 X-axis drive mechanism 116 Y-axis drive mechanism 118 Z-axis drive mechanism 120 XY alignment signal processing circuit 122 Z alignment signal processing circuit 124 Reflected light discrimination Circuit 126 Z-direction position control circuit 128 Measurement system

Claims (3)

装置本体と、被検眼に向けてZアライメント用の指標光を照射するZアライメント指標光源と、該Zアライメント指標光源による該指標光の該被検眼による反射光を受光素子により撮像するZアライメント検出手段と、該Zアライメント検出手段からの検出結果に基づいて該装置本体をZ方向に移動させて、位置合わせするZ方向駆動手段とを備えた眼科装置において、
該被検眼による該反射光の光束径が前記受光素子の受光面におさまるように構成し、該受光素子により受光された受光面における輝度分布情報を取得する輝度分布情報取得手段と、該輝度分布情報取得手段により取得された該輝度分布情報から該反射光が鏡面反射か乱反射かを判別する判別手段と、該判別手段により乱反射と判別したときは、該被検眼と該装置本体との距離を特定し、該装置本体のZ方向の位置の制御を行なうZ方向位置制御手段とを設けたことを特徴とする眼科装置。
An apparatus main body, a Z alignment index light source that irradiates an index light for Z alignment toward the eye to be examined, and a Z alignment detection unit that images the reflected light of the index light from the eye to be examined by the Z alignment index light source using a light receiving element And an Ophthalmic device comprising Z direction driving means for moving and aligning the apparatus main body in the Z direction based on a detection result from the Z alignment detecting means,
A luminance distribution information acquisition unit configured to acquire a luminance distribution information on the light receiving surface received by the light receiving element, and configured so that a light beam diameter of the reflected light from the eye to be examined falls within the light receiving surface of the light receiving element; A discriminating unit for discriminating whether the reflected light is specular reflection or irregular reflection from the luminance distribution information acquired by the information acquiring unit; and when the discriminating unit determines that the reflected light is irregular reflection, the distance between the eye to be examined and the apparatus main body is determined. An ophthalmic apparatus comprising: a Z-direction position control unit that identifies and controls the position of the apparatus body in the Z direction.
前記受光素子は2次元受光素子であり、前記輝度分布情報取得手段は、前記受光面上の垂直又は水平方向のライン上の画素の輝度を積算することを全ラインに対して行なうことで該受光面全体の輝度分布情報を取得することを特徴とする請求項1に記載の眼科装置。   The light receiving element is a two-dimensional light receiving element, and the luminance distribution information acquisition means integrates the luminance of pixels on a vertical or horizontal line on the light receiving surface for all the lines. The ophthalmic apparatus according to claim 1, wherein luminance distribution information of the entire surface is acquired. 前記判別手段は、前記輝度分布情報取得手段により得られた前記輝度分布情報における予め設定された輝度の閾値よりも輝度が高い画素の数及び/又は半値幅の大きさに基づいて該反射光が鏡面反射か乱反射かを判別することを特徴とする請求項1又は2に記載の眼科装置。   The discriminating unit determines whether the reflected light is based on the number of pixels having a luminance higher than a preset luminance threshold in the luminance distribution information obtained by the luminance distribution information acquisition unit and / or the size of the half-value width. The ophthalmologic apparatus according to claim 1, wherein it is discriminated whether it is specular reflection or irregular reflection.
JP2011047033A 2011-03-04 2011-03-04 Ophthalmic equipment Expired - Fee Related JP5766468B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011047033A JP5766468B2 (en) 2011-03-04 2011-03-04 Ophthalmic equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011047033A JP5766468B2 (en) 2011-03-04 2011-03-04 Ophthalmic equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012183126A true JP2012183126A (en) 2012-09-27
JP5766468B2 JP5766468B2 (en) 2015-08-19

Family

ID=47013803

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011047033A Expired - Fee Related JP5766468B2 (en) 2011-03-04 2011-03-04 Ophthalmic equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5766468B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013154222A (en) * 2013-04-30 2013-08-15 Canon Inc Ophthalmologic apparatus
JP2018153543A (en) * 2017-03-21 2018-10-04 株式会社トプコン Ophthalmologic apparatus
JP2018153536A (en) * 2017-03-21 2018-10-04 株式会社トプコン Ophthalmologic apparatus

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1119037A (en) * 1997-06-30 1999-01-26 Topcon Corp Ophthalmic device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1119037A (en) * 1997-06-30 1999-01-26 Topcon Corp Ophthalmic device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013154222A (en) * 2013-04-30 2013-08-15 Canon Inc Ophthalmologic apparatus
JP2018153543A (en) * 2017-03-21 2018-10-04 株式会社トプコン Ophthalmologic apparatus
JP2018153536A (en) * 2017-03-21 2018-10-04 株式会社トプコン Ophthalmologic apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP5766468B2 (en) 2015-08-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100905734B1 (en) Alignment device and method for ophthalmic measurement device
JP6007466B2 (en) Corneal shape measuring device
JP2007089715A (en) Eye refraction measuring apparatus
JP3445635B2 (en) Ophthalmic equipment
JP2014079496A (en) Ophthalmologic apparatus and ophthalmologic control method, and program
JP2013220196A (en) Ophthalmic apparatus
JP2006263082A (en) Ocular optical characteristic measuring apparatus
JP5766468B2 (en) Ophthalmic equipment
JP4136690B2 (en) Ophthalmic equipment
JP2023171595A (en) Ophthalmologic apparatus
CN111479494B (en) Eye refractive power measuring device
WO2014115659A1 (en) Ophthalmology device
JP6124556B2 (en) Ophthalmic apparatus and ophthalmic imaging method
JP3672447B2 (en) Ophthalmic equipment
JP5643662B2 (en) Ophthalmic equipment
JP5864550B2 (en) Ophthalmic measuring device
JP4136691B2 (en) Ophthalmic equipment
JP3441156B2 (en) Ophthalmic equipment
JP5188534B2 (en) Ophthalmic equipment
JP5916301B2 (en) Optometry equipment
JP6711638B2 (en) Ophthalmic equipment
JP4700785B2 (en) Ophthalmic equipment
JP2012100712A (en) Ophthalmologic measurement apparatus
JP5749500B2 (en) Ophthalmic equipment
JP6844949B2 (en) Ophthalmic equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140123

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20141017

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20141028

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141216

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150601

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150617

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5766468

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees