JP2012159421A - Particle measuring instrument - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、測定対象物の被測定面に空気を噴射して被測定面から飛散したパーティクルを含む空気を吸入するプローブと、プローブにより吸入された空気に含まれるパーティクルを計数する計数器とを備えるパーティクル測定装置に関する。 The present invention includes a probe for inhaling air containing particles scattered from a surface to be measured by injecting air onto the surface to be measured, and a counter for counting particles contained in the air inhaled by the probe. The present invention relates to a particle measuring apparatus.
例えば、半導体デバイスの製造工程は、所定の清浄度に保たれたクリーンルーム内で一貫して行われるが、半導体デバイスが形成される基板表面へのパーティクルの付着を完全に回避することは一般に困難である。基板表面に付着するパーティクルが多くなると、基板上に形成された配線の短絡や基板の金属汚染等が生じ、半導体デバイスの性能が低下するという問題がある。このため、処理の前後で基板表面に付着したパーティクルや例えばスパッタリング装置の処理室内に取り付けられるターゲット等の半導体製造装置の構成部品に付着したパーティクル等を測定し、常時監視が行われている。 For example, the manufacturing process of a semiconductor device is performed consistently in a clean room maintained at a predetermined cleanliness, but it is generally difficult to completely avoid the adhesion of particles to the substrate surface on which the semiconductor device is formed. is there. When the number of particles adhering to the substrate surface increases, there is a problem that a short circuit of wiring formed on the substrate, metal contamination of the substrate, and the like occur, and the performance of the semiconductor device deteriorates. For this reason, particles adhering to the substrate surface before and after processing, particles adhering to components of semiconductor manufacturing apparatuses such as targets attached in the processing chamber of the sputtering apparatus, and the like are measured and constantly monitored.
このようなパーティクルの測定に用いられるパーティクル測定装置として、手持式のプローブと計数器とから構成されるものが知られている(例えば、特許文献1参照)。上記特許文献1記載のものでは、測定対象物の被測定面に沿ってプローブを走査し、プローブ下面に設けられた噴射口から被測定面に空気を噴射することで被測定面に付着したパーティクルを飛散させ、飛散させたパーティクルを含む空気をプローブの吸入口から吸入し、吸入した空気に含まれるパーティクルを計数器で計数する。 As a particle measuring device used for such particle measurement, a device composed of a hand-held probe and a counter is known (for example, see Patent Document 1). In the thing of the said patent document 1, the probe adhered to the to-be-measured surface by scanning a probe along the to-be-measured surface of a measuring object, and injecting air to the to-be-measured surface from the injection port provided in the probe lower surface. The air containing the scattered particles is sucked from the probe inlet, and the particles contained in the sucked air are counted by a counter.
ここで、プローブの走査中に噴射口から被測定面までの距離が変化すると、それに伴い被測定面に吹き付けられる空気圧が変化する。そして、噴射口(即ち、プローブ下面)から被測定面までの距離が長くなった場合には、被測定面に吹き付けられる空気圧が低下し、被測定面に付着したパーティクルが飛散し難くなり、結果として、パーティクルの測定精度が低下する。 Here, when the distance from the ejection port to the measurement surface changes during the scanning of the probe, the air pressure blown to the measurement surface changes accordingly. When the distance from the injection port (ie, the lower surface of the probe) to the surface to be measured increases, the air pressure blown to the surface to be measured decreases, and the particles adhering to the surface to be measured are difficult to scatter. As a result, the measurement accuracy of particles decreases.
パーティクルの測定精度を向上させるためには、パーティクル測定中に、噴射口から被測定面までの距離を一定に保つ必要がある。しかしながら、プローブの走査は作業者の手で行われるため、噴射口から被測定面までの距離を一定に保つことは難しい。特に、プローブを走査する被測定面に凹凸があると、噴射口から被測定面までの距離を一定に保つことは極めて困難である。従って、測定対象物の被測定面に凹凸がある場合には、パーティクルの測定精度の低下が避けられない。 In order to improve the measurement accuracy of particles, it is necessary to keep the distance from the injection port to the surface to be measured constant during particle measurement. However, since scanning of the probe is performed by an operator's hand, it is difficult to keep the distance from the ejection port to the measurement surface constant. In particular, if the surface to be measured for scanning the probe has irregularities, it is extremely difficult to keep the distance from the ejection port to the surface to be measured constant. Therefore, when the measurement surface of the measurement object has irregularities, a decrease in particle measurement accuracy is inevitable.
本発明は、以上の点に鑑み、測定対象物の被測定面に凹凸があっても、被測定面に付着したパーティクルを精度良く測定することが可能なパーティクル測定装置を提供することをその課題とする。 In view of the above points, the present invention provides a particle measuring apparatus capable of accurately measuring particles adhering to a surface to be measured even when the surface to be measured of the object to be measured has irregularities. And
上記課題を解決するために、本発明は、測定対象物の被測定面に空気を噴射して被測定面から飛散したパーティクルを含む空気を吸入するプローブと、プローブにより吸入された空気に含まれるパーティクルを計数する計数器とを備えるパーティクル測定装置において、プローブは、その内部に圧縮空気を導入する圧縮空気導入口と、圧縮空気導入口から導入された圧縮空気を被測定面に噴射する噴射口を下端面に有し、プローブ内に上下動自在に配置された少なくとも1つの柱状のフローティングパッドとを備え、フローティングパッドは、噴射口から噴射されて上記下端面と被測定面との間の隙間を流れる圧縮空気の2次圧により該下端面に作用する上向きの力で被測定面に対して非接触に保持されるように構成したことを特徴とする。 In order to solve the above problems, the present invention is included in a probe for inhaling air containing particles scattered from a surface to be measured by injecting air onto the surface to be measured of the object to be measured, and air sucked by the probe. In a particle measuring apparatus including a counter for counting particles, a probe includes a compressed air introduction port for introducing compressed air therein, and an injection port for injecting compressed air introduced from the compressed air introduction port to a surface to be measured. And at least one columnar floating pad that is arranged to be movable up and down in the probe, and the floating pad is ejected from the ejection port and is a gap between the lower end surface and the surface to be measured. The second pressure of the compressed air flowing through the air is held in a non-contact manner with respect to the surface to be measured by an upward force acting on the lower end surface.
本発明によれば、圧縮空気導入口から導入された圧縮空気を噴射口から被測定面に噴射することで、被測定面に付着したパーティクルが飛散し、飛散したパーティクルを含む空気がプローブにより吸引され、吸引された空気に含まれるパーティクルが計数器により計数される。このとき、フローティングパッドにはその上端面に作用する大気圧と自重とによる下向きの力が作用するが、フローティングパッドの下端面には圧縮空気の2次圧による上向きの力が作用する。そして、下向きの力と上向きの力がつり合う位置にフローティングパッドが移動し、被測定面に対して非接触に保持される。 According to the present invention, the compressed air introduced from the compressed air introduction port is sprayed from the injection port to the surface to be measured, so that the particles attached to the surface to be measured are scattered and the air containing the scattered particles is sucked by the probe. The particles contained in the sucked air are counted by a counter. At this time, a downward force due to the atmospheric pressure and its own weight acting on the upper end surface acts on the floating pad, but an upward force due to the secondary pressure of the compressed air acts on the lower end surface of the floating pad. Then, the floating pad moves to a position where the downward force and the upward force are balanced, and is held in non-contact with the surface to be measured.
ここで、プローブの走査中に被測定面に凹部があると、フローティングパッドの噴射口(すなわち、下端面)と被測定面との間の隙間が広がり、該隙間を流れる圧縮空気の2次圧が低くなる。このため、フローティングパッドの下端面に作用する上向きの力が減少し、フローティングパッドが下方に移動する。一方、プローブの走査中に被測定面に凸部があると、フローティングパッドの下端面と被測定面との間の隙間が狭くなり、該隙間を流れる圧縮空気の2次圧が高くなる。このため、フローティングパッドの下端面に作用する上向きの力が増加し、フローティングパッドが上方に移動する。このようにプローブを走査する被測定面に凹凸があっても、凹凸に追従してフローティングパッドが上下動することで、フローティングパッドの下端面と被測定面との間の隙間が一定に保たれる。従って、被測定面に凹凸があっても、被測定面に付着したパーティクルを精度良く測定することができる。 Here, if there is a recess in the surface to be measured during the scanning of the probe, a gap between the injection port (that is, the lower end surface) of the floating pad and the surface to be measured widens, and the secondary pressure of the compressed air flowing through the gap is increased. Becomes lower. For this reason, the upward force acting on the lower end surface of the floating pad is reduced, and the floating pad moves downward. On the other hand, if there is a convex portion on the surface to be measured during the scanning of the probe, the gap between the lower end surface of the floating pad and the surface to be measured is narrowed, and the secondary pressure of the compressed air flowing through the gap is increased. For this reason, the upward force acting on the lower end surface of the floating pad increases, and the floating pad moves upward. In this way, even if the measurement surface to be scanned with the probe has irregularities, the floating pad moves up and down following the irregularities, so that the gap between the lower end surface of the floating pad and the measurement surface is kept constant. It is. Therefore, even if the measurement surface has irregularities, particles adhering to the measurement surface can be accurately measured.
被測定面に付着したパーティクルを飛散させるためには、噴射口から噴射される圧縮空気の2次圧を高くすることが望ましいが、圧縮空気の2次圧を高くすると、上向きの力が大きくなり過ぎて、フローティングパッドの下端面が被測定面から離れ過ぎてしまう。この場合、フローティングパッドを比重の大きい材料で形成して、下向きの力を大きくすれば、2次圧を高くしたとしても、フローティングパッドの下端面と被測定面との間の距離を適切に確保できる。然し、これではプローブの総重量が増加し、作業者によるプローブの操作性が悪化する。 In order to scatter particles adhering to the surface to be measured, it is desirable to increase the secondary pressure of the compressed air injected from the injection port. However, increasing the secondary pressure of the compressed air increases the upward force. Thus, the lower end surface of the floating pad is too far away from the surface to be measured. In this case, if the floating pad is made of a material with high specific gravity and the downward force is increased, the distance between the lower end surface of the floating pad and the surface to be measured can be appropriately secured even if the secondary pressure is increased. it can. However, this increases the total weight of the probe and deteriorates the operability of the probe by the operator.
本発明においては、フローティングパッドを上部よりも下部が拡径された段付き円柱状に形成し、フローティングパッドの拡径した部分の上端の段部に圧縮空気導入口から導入された圧縮空気の1次圧による下向きの力が作用するように構成することが好ましい。これによれば、圧縮空気の2次圧を高くしても、圧縮空気の1次圧によりフローティングパッドに作用する下向きの力が大きくなるため、フローティングパッドの下端面と被測定面との間の距離を適切に確保できる。そして、フローティングパッドを比重の大きい材料で形成する必要がないため、プローブの総重量の増加を招かない。 In the present invention, the floating pad is formed in a stepped columnar shape whose diameter is lower than that of the upper part, and 1 of the compressed air introduced from the compressed air introduction port into the upper end of the diameter-enlarged part of the floating pad. It is preferable that a downward force due to the next pressure acts. According to this, even if the secondary pressure of the compressed air is increased, the downward force acting on the floating pad is increased by the primary pressure of the compressed air, so that the gap between the lower end surface of the floating pad and the surface to be measured is increased. The distance can be secured appropriately. Further, since it is not necessary to form the floating pad with a material having a large specific gravity, the total weight of the probe is not increased.
また、本発明においては、フローティングパッド内に形成された噴射口に連通する流路に絞り部材を設けることが好ましい。これによれば、噴射口から噴射される空気の流速が高められて、フローティングパッドの下端面と被測定面との間の距離が長いと、ベルヌーイ効果による下方への吸引力がフローティングパッドに作用する。その結果、フローティングパッドの下端面と被測定面との間の距離がより短くなったところで、下向きの力と2次圧による上向きの力とがつり合うようになる。そして、フローティングパッドの下端面と被測定面との間の距離が短くなると、被測定面に吹き付けられる空気圧が高くなるため、被測定面に付着したパーティクルが飛散しやすくなり、パーティクルの測定精度を一層向上できる。 Moreover, in this invention, it is preferable to provide a throttle member in the flow path communicating with the injection port formed in the floating pad. According to this, when the flow velocity of the air injected from the injection port is increased and the distance between the lower end surface of the floating pad and the measured surface is long, the downward suction force due to the Bernoulli effect acts on the floating pad. To do. As a result, when the distance between the lower end surface of the floating pad and the surface to be measured becomes shorter, the downward force and the upward force due to the secondary pressure are balanced. And if the distance between the bottom surface of the floating pad and the surface to be measured is shortened, the air pressure blown to the surface to be measured becomes high, so that the particles adhering to the surface to be measured are likely to scatter and the particle measurement accuracy is improved. It can be further improved.
ところで、上記従来例のものでは、プローブから被測定面に噴射される空気流量と、プローブにより吸入され計数器に導かれる空気流量とは概ね等しくされている。ここで、一般に、計数器では空気の許容流量が定められており、この許容流量が多い計数器は高価格であるため、このような許容流量が多い計数器を用いるとコストアップを招来する。他方で、被測定面に噴射される空気流量を少なくすると、被測定面に付着したパーティクルが飛散し難くなるため、測定精度が低下する。これに対して、本発明において、プローブの下部に、前記隙間を流れる空気の一部を排気する排気口を設ければ、計数器に流入する空気流量が少なくなるため、許容流量が少ない安価な計数器を用いることができ、コストアップを招かないという利点が得られる。しかも、被測定面に噴射する空気流量を少なくする必要がないため、測定精度の低下を招かない。 By the way, in the above-mentioned conventional example, the air flow rate injected from the probe to the surface to be measured and the air flow rate sucked by the probe and guided to the counter are substantially equal. Here, in general, an allowable flow rate of air is determined in a counter, and a counter having a large allowable flow rate is expensive. Therefore, using a counter having a large allowable flow rate causes an increase in cost. On the other hand, if the flow rate of air injected to the surface to be measured is reduced, particles attached to the surface to be measured are difficult to scatter, and the measurement accuracy is reduced. On the other hand, in the present invention, if an exhaust port for exhausting a part of the air flowing through the gap is provided in the lower part of the probe, the flow rate of air flowing into the counter is reduced, so that the allowable flow rate is low and inexpensive. A counter can be used, and there is an advantage that the cost is not increased. Moreover, since it is not necessary to reduce the flow rate of air injected onto the surface to be measured, the measurement accuracy is not lowered.
本発明においては、排気口に接続された排気路から分岐した分岐路を前記計数器に連通させてもよい。これによれば、排気口を吸入口と兼用できるため、プローブの構造を簡略化できてよい。 In the present invention, a branch path branched from the exhaust path connected to the exhaust port may be communicated with the counter. According to this, since the exhaust port can be used also as the suction port, the structure of the probe may be simplified.
また、本発明においては、排気口と連通するファンを更に備えることが好ましい。これによれば、ファンを作動させることで排気口から排気される空気量を調整できるため、計数器に流入する空気の流量を調整できる。この場合、計数器は、プローブから流入する空気の流量を検出する流量検出部を備え、流量検出部の検出結果に基づいて、ファンの回転速度を調整することが好ましい。 In the present invention, it is preferable to further include a fan communicating with the exhaust port. According to this, since the amount of air exhausted from the exhaust port can be adjusted by operating the fan, the flow rate of the air flowing into the counter can be adjusted. In this case, it is preferable that the counter includes a flow rate detection unit that detects the flow rate of air flowing in from the probe, and adjusts the rotational speed of the fan based on the detection result of the flow rate detection unit.
以下、図面を参照して本発明の実施形態のパーティクル測定装置を説明する。図1を参照して、Mは、パーティクル測定装置である。パーティクル測定装置Mは、プローブPと計数器Cとから構成される。ここで、計数器Cとしては、公知構造のものを用いることができるため、ここでは計数器Cの具体的な構造や計数器Cでのパーティクルの計数方法についての説明を省略する。 Hereinafter, a particle measuring apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Referring to FIG. 1, M is a particle measuring device. The particle measuring device M includes a probe P and a counter C. Here, since the thing of a well-known structure can be used as the counter C, description about the specific structure of the counter C and the particle counting method in the counter C is abbreviate | omitted here.
プローブPは、プローブ本体1と、ハンドル2とを備えている。図2、図3も参照して、プローブ本体1は、第1のベース3と、第1のベース3の下側に設けられる第2のベース4と、第2のベース4を囲うジャケット5とから構成される。第1のベース3にはその中心を上下方向に貫通する貫通孔30が形成され、第2のベース4にはその上面の中心から上方に延びる突起40が一体的に形成されている。そして、突起40が貫通孔30に挿通された状態で、第1及び第2のベース3、4とジャケット5とがねじ10で固定されている。
The probe P includes a probe main body 1 and a
ハンドル2の一端には固定板20が設けられている。固定板20は、平面視円形の基部21と、基部21の周囲1箇所から外方に突出する平面視矩形の凸部22とからなる。基部21は、第1のベース3の上面にねじ11で固定されている。基部21には、突起40や後述のフローティングパッド6の上部を挿通する複数の透孔が形成されている。凸部22には、後述の排気管7を挿通する透孔が形成されている。ハンドル2の他端の上側には、グリップ23が取り付けられ、作業者がプローブPを走査できるようにしている。このグリップ23の下側には排気用のファン24が取り付けられている。
A fixed
第1及び第2のベース3、4には、相互に連通する貫通孔31、41が形成され、これらの貫通孔31、41内にフローティングパッド6が挿通されている。本実施形態では、3個のフローティングパッド6が両ベース3、4の中心と同心の円上に周方向に等間隔で配置されている。
The first and
フローティングパッド6の上端面60の近傍にはストッパ61が設けられ、フローティングパッド6の下方への移動を規制している。ストッパ61は、例えばワッシャ61aと、このワッシャ61aの抜け防止用のEクリップ61bとで構成される。フローティングパッド6は、上部よりも下部が2段階で拡径された円柱状である。図3に示されるフローティングパッド6の上部の径d1は、例えば6mmであり、上部の下の第1段階の拡径部の径d2は、例えば7.7mmであり、最下部の拡径部の径d3は、例えば9mmである。第1段階の拡径部の上端の段部62が第1のベース部3下面に当接することにより、フローティングパッド6の上方への移動が規制される。このため、フローティングパッド6は、図3において符号Dで示す量(例えば1mm)だけ上下動自在である。
A
第1のベース3の側面には、3個のフローティングパッド6に対応して3個の圧縮空気導入口32が開設されている。各圧縮空気導入口32には図示省略の圧縮空気供給源に通じる配管が接続され、第1のベース3内に圧縮空気を導入できるようにしている。第1のベース3内には、圧縮空気導入口32と連通する流路33が形成されている。流路33は、フローティングパッド6の側面まで水平方向に延びた後、下方に屈曲してフローティングパッド6の段部62に達している。この流路33を介して段部62に圧縮空気が供給されると、段部62に圧縮空気の1次圧(例えば、5気圧)による下向きの力が作用する。
On the side surface of the
第2のベース4内には、第1のベース3の流路33を下方に延長する流路42が形成されている。フローティングパッド6内には、流路42と連通する流路63が形成されている。流路63は、フローティングパッド6の中心軸近傍まで水平に延び、下方に屈曲して下端面64に達している。フローティングパッド6の下端面64には、流路63に連通する噴射口65が開設され、圧縮空気を噴射できるようにしている。噴射口65から噴射された空気は、フローティングパッド6の下端面64と被測定面Tとの間の隙間Bを流れ、フローティングパッド6の下端面64に圧縮空気の1次圧よりも低圧の2次圧(例えば、3気圧)による上向きの力が作用する。
In the
なお、図3において仮想線で示すように、フローティングパッド6内の流路63に絞り部材66たるオリフィスを配置すれば、噴射口65から噴射される空気の流速を高めることができる。噴射口65から噴射される空気の流速を高めるために、流路63内に絞り部材66たる短管を挿設してもよく、噴射口65に皿ねじを配置してもよい。
In addition, as shown by the phantom line in FIG. 3, if an orifice serving as the
第2のベース4の下端面43の中心には、上記隙間Bを流れる空気を吸入する吸入口44が開設されている。第2のベース4内には、吸入口44から上方に延びて突起40の上端に達する吸入路45が形成されている。突起40上端面に露出する吸入路45の上端は、図示省略する配管を介して計数器Cに連通している。
In the center of the
ジャケット5の下面は開放面となっている。そして、プローブ本体1の下面に、ジャケット5の内周面と第2のベース4の外周面46との間の環状の隙間から成る排気口51を設け、上記隙間Bを流れる空気の一部を排気できるようにしている。ジャケット5内には、排気口51に連通する排気路52が形成されている。ジャケット5上面に露出する排気路52の他端は、排気管7を介して上記ファン24に接続され、ファン24を作動させることにより排気口51からの排気量を増大できるようにしている。なお、計数器Cとして、計数器Cに流入する空気の流量を検出する流量検出部を備えるものを用い、この流量検出部の検出結果に基づいて、図示省略の制御部によりファン24の回転速度を調整するように構成してもよい。
The lower surface of the
排気管7は、ジャケット5の上面から上方に延びて固定板20の凸部22に形成した透孔に挿入されるストレート形状の配管71と、この配管71の上端に接続されるフレキシブル配管72とで構成されている。フレキシブル配管72の一端には、配管71の上端に接続されるフランジ73が設けられており、このフランジ73がねじ73aで凸部22に固定されている。フレキシブル配管72の他端は上記ファン24に接続され、排気口51から吸い込まれた空気を大気中に排気できるようにしている。
The
本実施形態によれば、作業者のハンドル2の操作によりプローブPを被測定面(例えばターゲット表面)T上で走査しながら、圧縮空気導入口32に圧縮空気を導入すると、噴射口65から噴射された空気が被測定面Tに吹き付けられ、被測定面Tに付着したパーティクルが飛散し、飛散したパーティクルを含む空気が吸引口44から吸引され、吸引された空気に含まれるパーティクルが計数器Cにて計数される。このとき、フローティングパッド6にはその自重と、上端面60に作用する大気圧と、段部62に作用する圧縮空気の1次圧とによる下向きの力が作用し、フローティングパッド6の下端面64には該下端面64と被測定面Tとの間の隙間Bを流れる圧縮空気の2次圧による上向きの力が作用する。そして、下向きの力と上向きの力がつり合う位置にフローティングパッド6が移動し、被測定面Tに対して非接触に保持される。
According to the present embodiment, when compressed air is introduced into the compressed
ここで、プローブPの走査中に被測定面Tに凹部があると、フローティングパッド6の下端面64と被測定面Tとの間の隙間Bの上下方向幅が広がり、この隙間Bを流れる圧縮空気の2次圧が低くなるため、フローティングパッド6の下端面64に作用する上向きの力が減少し、フローティングパッド6が下方に移動する。そして、下方への移動に伴い2次圧が上昇し、隙間Bの上下方向幅が所定量に減少したところで、下向きの力と上向きの力がつり合う。また、プローブPの走査中に被測定面Tに凸部があると、隙間Bの上下方向幅が狭くなり、この隙間Bを流れる圧縮空気の2次圧が高くなるため、フローティングパッド6の下端面64に作用する上向きの力が増加し、フローティングパッド6が上方に移動する。そして、上方への移動に伴い2次圧が低下し、隙間Bの上下方向幅が所定量に増加したところで、下向きの力と上向きの力がつり合う。このように被測定面Tに凹凸があっても、凹凸に追従してフローティングパッド6が上下動することで、フローティングパッド6の下端面64と被測定面Tとの間の隙間Bが一定に保たれる。従って、被測定面Tに凹凸があっても、被測定面Tに付着したパーティクルを精度良く測定することができる。
Here, if there is a recess in the measured surface T during the scanning of the probe P, the vertical width of the gap B between the
ところで、フローティングパッド6の噴射口65から噴射された空気を全て吸入口44から吸入すると、計数器Cに流入する空気の流量が多くなり、許容流量の多い計数器Cを用いなければならず、結果としてコストアップを招く虞がある。それに対して、本実施形態では、フローティングパッド6の下端面64(すなわち、プローブPの下面)と被測定面Tとの間の隙間Bを流れる空気の一部が吸入口44から吸入され、残りの空気は排気口51に吸い込まれ、排気管7とファン24とを介して大気中に排気される。このため、計数器Cに流入する空気の流量を抑えることができて、許容流量の比較的少ない計数器を用いることが可能になり、コストアップを防ぐことができるという利点もある。
By the way, if all the air jetted from the
また、噴射口65に連通する流路63に絞り部材66を設ければ、噴射口65から噴射される空気の流速が高められて、フローティングパッド6の下端面64と被測定面Tとの間の距離が比較的長いと、ベルヌーイ効果による下方への吸引力がフローティングパッド6に作用する。その結果、フローティングパッド6の下端面64と被測定面Tとの間の距離がより短くなったところで、下向きの力と2次圧による上向きの力とがつり合うようになる。そして、フローティングパッド6の下端面64と被測定面Tとの間の距離が短くなると、被測定面Tに付着したパーティクルが飛散しやすくなり、パーティクルの測定精度を一層向上できる。
Further, if the
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記のものに限定されるものではない。例えば、上記実施形態においては、3個のフローティングパッド6を有するプローブ本体1を例に説明したが、プローブ本体1は少なくとも1個のフローティングパッド6を有していればよい。
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to said thing. For example, in the above embodiment, the probe main body 1 having three floating
上記実施形態においては、段付き円柱状のフローティングパッド6を用いる場合について説明したが、フローティングパッド6の形状はこれに限定されず、柱状(例えば円柱状)であればよい。この場合、フローティングパッドには上端面に作用する大気圧と自重とによる下向きの力と、フローティングパッドの下端面に作用する圧縮空気の2次圧による上向きの力とが作用する。そして、下向きの力と上向きの力がつり合う位置にフローティングパッドが移動し、被測定面に対して非接触に保持される。
In the above embodiment, the case where the stepped columnar floating
但し、パーティクルを飛散させやすくするために圧縮空気の2次圧を高めると、下向きの力よりも上向きの力が大きくなり過ぎて、フローティングパッド6の下端面64が被測定面Tから離れ過ぎてしまう。この場合、フローティングパッド6を比重の大きい材料で形成して、下向きの力を大きくすれば、2次圧を高くしても、フローティングパッド6の下端面64と被測定面Tとの間の距離を適切に確保できる。然し、これではプローブの総重量が増加し、作業者によるプローブPの操作性が悪化する。
However, if the secondary pressure of the compressed air is increased in order to facilitate the scattering of particles, the upward force becomes larger than the downward force, and the
そのため、圧縮空気の2次圧を高くする場合には、上記実施形態の如く、フローティングパッド6を段付き円柱状に形成し、拡径部の上端の段部62に圧縮空気の1次圧による下向きの力が作用するように構成することが好ましい。これによれば、圧縮空気の2次圧を高くしても、圧縮空気の1次圧によりフローティングパッド6に作用する下向きの力が大きくなるため、フローティングパッド6の下端面64と被測定面Tとの間の距離を適切に確保できる。そして、フローティングパッド6を比重の大きい材料で形成する必要がないため、プローブPの総重量の増加を招かない。
Therefore, when the secondary pressure of the compressed air is increased, the floating
上記実施形態においては、排気口51とは別個に計数器Cに連通する吸入口44を設けているが、排気口51に接続された排気管7から分岐した分岐管を計数器Cに連通させてもよい。これによれば、排気口51を吸入口と兼用でき、第2のベース3に吸入口44や吸入路45を形成しなくてもよいため、プローブPの構造を簡略化でき、コストを抑えることができる。
In the above embodiment, the
M…パーティクル測定装置、P…プローブ、C…計数器、T…被測定面、6…フローティングパッド、7…排気管、24…ファン、32…圧縮空気導入口、44…吸入口、62…段部、51…排気口、64…下端面、65…噴射口。 M ... Particle measuring device, P ... Probe, C ... Counter, T ... Surface to be measured, 6 ... Floating pad, 7 ... Exhaust pipe, 24 ... Fan, 32 ... Compressed air inlet, 44 ... Inlet, 62 ... Stage Part, 51 ... exhaust port, 64 ... lower end surface, 65 ... injection port.
Claims (7)
前記プローブは、その内部に圧縮空気を導入する圧縮空気導入口と、圧縮空気導入口から導入された圧縮空気を被測定面に噴射する噴射口を下端面に有し、前記プローブ内に上下動自在に配置された少なくとも1つの柱状のフローティングパッドとを備え、
前記フローティングパッドは、前記噴射口から噴射されて前記下端面と被測定面との間の隙間を流れる圧縮空気の2次圧により前記下端面に作用する上向きの力で被測定面に対して非接触に保持されるように構成したことを特徴とするパーティクル測定装置。 A particle measuring apparatus comprising: a probe for inhaling air containing particles scattered from the surface to be measured by injecting air onto the surface to be measured; and a counter for counting particles contained in the air inhaled by the probe In
The probe has a compressed air introduction port for introducing compressed air therein, and an injection port for injecting the compressed air introduced from the compressed air introduction port to the measurement surface at the lower end surface. And at least one columnar floating pad arranged freely,
The floating pad is not applied to the surface to be measured by an upward force acting on the bottom surface by the secondary pressure of compressed air that is injected from the injection port and flows through the gap between the bottom surface and the surface to be measured. A particle measuring apparatus configured to be held in contact.
前記流量検出部の検出結果に基づいて、前記ファンの回転速度が調整されることを特徴とする請求項6記載のパーティクル測定装置。 The counter includes a flow rate detection unit that detects a flow rate of air sucked from the probe,
The particle measuring apparatus according to claim 6, wherein a rotation speed of the fan is adjusted based on a detection result of the flow rate detection unit.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102308875B1 (en) * | 2021-06-02 | 2021-10-01 | 선계은 | Probe for Particle Measurement |
KR102313019B1 (en) * | 2021-06-02 | 2021-10-13 | 선계은 | Particle Measuring Equipment |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0815105A (en) * | 1994-06-28 | 1996-01-19 | Horiba Ltd | Particulate capturing nozzle |
JPH1010018A (en) * | 1996-06-26 | 1998-01-16 | Yokogawa Electric Corp | Nozzle for particle sampler |
JPH1012581A (en) * | 1996-06-26 | 1998-01-16 | Yokogawa Electric Corp | Equipment for eliminating minute foreign matter |
JPH10209098A (en) * | 1997-01-21 | 1998-08-07 | Yokogawa Electric Corp | Foreign matter eliminating system of manufacturing process |
JP2000321180A (en) * | 1999-05-12 | 2000-11-24 | Nec Kyushu Ltd | Surface contamination measuring instrument of equipment |
JP2004512503A (en) * | 2000-09-13 | 2004-04-22 | ペンタゴン テクノロジーズ グループ インコーポレイテッド | Surface particle detector |
JP2006068724A (en) * | 2004-08-05 | 2006-03-16 | Kobe Steel Ltd | Deposit removing device |
JP2008112958A (en) * | 2006-10-03 | 2008-05-15 | Sony Corp | Processing equipment, and manufacturing device of wiring substrate |
-
2011
- 2011-02-01 JP JP2011019929A patent/JP2012159421A/en active Pending
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0815105A (en) * | 1994-06-28 | 1996-01-19 | Horiba Ltd | Particulate capturing nozzle |
JPH1010018A (en) * | 1996-06-26 | 1998-01-16 | Yokogawa Electric Corp | Nozzle for particle sampler |
JPH1012581A (en) * | 1996-06-26 | 1998-01-16 | Yokogawa Electric Corp | Equipment for eliminating minute foreign matter |
JPH10209098A (en) * | 1997-01-21 | 1998-08-07 | Yokogawa Electric Corp | Foreign matter eliminating system of manufacturing process |
JP2000321180A (en) * | 1999-05-12 | 2000-11-24 | Nec Kyushu Ltd | Surface contamination measuring instrument of equipment |
JP2004512503A (en) * | 2000-09-13 | 2004-04-22 | ペンタゴン テクノロジーズ グループ インコーポレイテッド | Surface particle detector |
JP2006068724A (en) * | 2004-08-05 | 2006-03-16 | Kobe Steel Ltd | Deposit removing device |
JP2008112958A (en) * | 2006-10-03 | 2008-05-15 | Sony Corp | Processing equipment, and manufacturing device of wiring substrate |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102308875B1 (en) * | 2021-06-02 | 2021-10-01 | 선계은 | Probe for Particle Measurement |
KR102313019B1 (en) * | 2021-06-02 | 2021-10-13 | 선계은 | Particle Measuring Equipment |
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