JP2012155760A - Storage device and information processor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、記憶装置及び情報処理装置に関する。 The present invention relates to a storage device and an information processing device.
従来、メモリチップ、温度センサ及び温度検出回路を備えたメモリモジュールが知られている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, a memory module including a memory chip, a temperature sensor, and a temperature detection circuit is known (see, for example, Patent Document 1).
このメモリモジュールは、基板上に実装されたメモリチップと、メモリチップの温度を測定する温度センサと、温度センサにより測定された温度と予め設定された設定温度とを比較する温度検出回路とを備える。したがって、メモリモジュールは、温度センサによりメモリチップの温度を測定し、その測定した温度が設定温度を超えているか否かを温度検出回路により検出することができる。 The memory module includes a memory chip mounted on a substrate, a temperature sensor that measures the temperature of the memory chip, and a temperature detection circuit that compares the temperature measured by the temperature sensor with a preset set temperature. . Therefore, the memory module can measure the temperature of the memory chip with the temperature sensor, and can detect whether the measured temperature exceeds the set temperature with the temperature detection circuit.
しかし、従来のメモリモジュールによると、温度センサによる温度の測定対象はメモリチップであるため、基板上にメモリチップの他に更に熱源となる部品やメモリチップが実装された領域よりも高温となる領域が存在する場合には、そのような部品や領域を含めて温度センサによる温度の測定対象とするができないという問題がある。 However, according to the conventional memory module, the temperature measurement target of the temperature sensor is the memory chip, so that the area that is higher in temperature than the area where the memory chip is mounted on the substrate in addition to the memory chip. Is present, there is a problem that it is not possible to measure the temperature by the temperature sensor including such parts and regions.
従って、本発明の目的は、基板の比較的高温になる領域の温度を測定することができる記憶装置及び情報処理装置を提供することにある。 Therefore, an object of the present invention is to provide a storage device and an information processing device that can measure the temperature of a relatively high temperature region of a substrate.
本発明は、上記目的を達成するため、筐体に収容される記憶装置であって、前記筐体に収容され、CPUが実装された第2基板に、電気的に接続される第1基板と、前記第1基板上に設けられた複数のメモリと、前記複数のメモリのうち1つのメモリの近傍に設けられた温度センサと、前記第1基板の前記温度センサの近傍に設けられ、前記温度センサにより検出された温度情報を取得するメモリコントローラと、を備え、前記温度センサは、前記第1基板の中央部分に設けられ、前記メモリコントローラ及び前記1つのメモリは前記温度センサの周囲に設けられた記憶装置を提供する。 In order to achieve the above object, the present invention provides a storage device housed in a housing, the first substrate being housed in the housing and electrically connected to the second substrate on which the CPU is mounted. A plurality of memories provided on the first substrate; a temperature sensor provided in the vicinity of one of the plurality of memories; and a temperature sensor provided in the vicinity of the temperature sensor on the first substrate. A memory controller that acquires temperature information detected by the sensor, wherein the temperature sensor is provided in a central portion of the first substrate, and the memory controller and the one memory are provided around the temperature sensor. A storage device is provided.
また、本発明は、上記目的を達成するため、情報処理装置本体と、前記情報処理装置本体内に外気を吸入し装置内部を冷却する冷却ファンと、前記情報処理装置本体内に設けられ、筐体に収容され、CPUが実装された第2基板に、電気的に接続される第1基板と、前記第1基板上に設けられた複数のメモリと、前記複数のメモリのうち1つのメモリの近傍に設けられた温度センサと、前記第1基板の前記温度センサの近傍に設けられ、前記温度センサにより検出された温度情報を取得するメモリコントローラと、を備え、前記温度センサは、前記第1基板の中央部分に設けられ、前記メモリコントローラ及び前記1つのメモリは前記温度センサの周囲に設けられるとともに、前記メモリコントローラは前記冷却ファンにより吸入される外気に対して上流側に配置され、前記温度センサが下流側に配置される記憶装置とを有する情報処理装置を提供する。 In order to achieve the above object, the present invention provides an information processing apparatus main body, a cooling fan that sucks outside air into the information processing apparatus main body and cools the inside of the apparatus, and the information processing apparatus main body. A first substrate electrically connected to a second substrate housed in the body and mounted with a CPU; a plurality of memories provided on the first substrate; and a memory of one of the plurality of memories A temperature controller provided in the vicinity, and a memory controller provided in the vicinity of the temperature sensor on the first substrate and acquiring temperature information detected by the temperature sensor, wherein the temperature sensor includes the first sensor The memory controller and the one memory are provided around the temperature sensor, and the memory controller is outside air sucked by the cooling fan. It arranged upstream for the temperature sensor to provide an information processing apparatus and a storage device disposed on the downstream side.
本発明によれば、基板の比較的高温になる領域の温度を測定することができる。 According to the present invention, it is possible to measure the temperature of a region where the substrate is relatively hot.
以下に、本発明の情報処理装置の実施の形態を、図面を参照して詳細に説明する。 Embodiments of an information processing apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
[第1の実施の形態]
(情報処理装置の構成)
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る情報処理装置の外観を示す概略図である。この情報処理装置1は、本体2と、本体2に取り付けられた表示ユニット3とから構成されている。
[First Embodiment]
(Configuration of information processing device)
FIG. 1 is a schematic diagram showing the appearance of the information processing apparatus according to the first embodiment of the present invention. The
本体2は、箱状の筐体4を有し、その筐体4は、上壁4a、周壁4b及び下壁4cを備える。筐体4の上壁4aは、情報処理装置1を操作するユーザに近い側から順にフロント部40、中央部41及びバック部42を有する。下壁4cは、この情報処理装置1が置かれる設置面に対向する。周壁4bは、前壁4ba、後壁4bb及び左右の側壁4bc,4bdを有する。
The
フロント部40は、ポインティングデバイスであるタッチパッド20と、パームレスト21と、情報処理装置1の各部の動作に連動して点灯するLED22とを備える。
The
中央部41は、文字情報等を入力可能なキーボード23aが取り付けられるキーボード載置部23を備える。
The
バック部42は、着脱可能に取り付けられたバッテリパック24と、バッテリパック24の右側に情報処理装置1の電源を投入するための電源スイッチ25と、バッテリパック24の左右に表示ユニット3を回転可能に支持する一対のヒンジ部26a,26bとを備える。
The
筐体4の左の側壁4bcには、筐体4内から外部に対して風Wを排出する排出口29が設けられている。また、右の側壁4bdには、例えば、DVD等の光記憶媒体にデータを読み書き可能なODD(Optical Disc Drive)27と、各種のカード280が出し入れされるカードスロット28とが配置されている。
A
筐体4は、周壁4bの一部及び上壁4aを含む筐体カバーと、周壁4bの一部及び下壁4cを含む筐体ベースとにより形成されている。筐体カバーは、筐体ベースに対して着脱自在に組み合わされ、筐体ベースとの間に収容空間を形成する。この収容空間には、多値型半導体記憶装置又は不揮発性半導体記憶装置としてのSSD(Solid State Drive)10等が収容される。なお、SSD10の詳細は後述する。
The casing 4 is formed by a casing cover including a part of the
表示ユニット3は、開口部30aを有するディスプレイハウジング30と、表示画面31aに画像を表示可能なLCD等からなる表示部31とを備える。表示部31はディスプレイハウジング30に収容され、表示画面31aは開口部30aを通じてディスプレイハウジング30の外部に露出している。
The display unit 3 includes a
図2は、本体2の平面図であり、図3は、本体2を下方から見た下面図である。筐体4内のレイアウトを示すために、図2では筐体カバー5を省略し、図3では筐体ベース6を省略している。筐体カバー5及び筐体ベース6には、複数のボス43が設けられている。
2 is a plan view of the
筐体4内には、上述のSSD10、バッテリパック24、ODD27及びカードスロット28の他に、メイン回路基板11、拡張モジュール12及びファン13等が収容されている。
In the housing 4, in addition to the
メイン回路基板11は、複数の電子部品が実装され、それら電子部品が機能することにより所定の動作を行うユニットである。また、メイン回路基板11は、コネクタ110に結合されたケーブル110aを介してSSD10に接続されるとともに、図示しないケーブルを介してバッテリパック24、ODD27、カードスロット28、拡張モジュール12及びファン13等に接続されている。
The main circuit board 11 is a unit on which a plurality of electronic components are mounted and a predetermined operation is performed when the electronic components function. The main circuit board 11 is connected to the
ODD27は、筐体4内に収容されるケース270と、ケース270内に引き出し可能に収容されるとともに光記憶媒体を載せるディスクトレイ271とを有する。
The ODD 27 includes a
カードスロット28は、例えば、PCカードスロットやExpressCard(登録商標)スロット等の規格により形状が定められている。
The shape of the
拡張モジュール12は、拡張回路基板120と、拡張回路基板120に設けられたカードソケット121と、カードソケット121に挿入された拡張モジュール基板122とを備える。カードソケット121は、例えば、Mini−PCI等の規格に基づいており、拡張モジュール基板122は、例えば、3G(3rd Generation)モジュール、テレビチューナー、GPSモジュール、及びWimax(登録商標)モジュール等が挙げられる。
The
ファン13は、筐体4内を送風に基づいて冷却する冷却部であり、筐体4内の空気を排出口29を介して風Wとして外部に排出する。また、ファン13と排出口29との間にはヒートパイプ130の一端が設けられており、ヒートパイプ130の他端はCPU115に接するように設けられている(図示せず)。ヒートパイプ130は、内部に封入された作動液が加熱部であるCPU115側で蒸発し、蒸気となってパイプ内を移動して低温部である排出口側に移動して凝縮する際に蒸発潜熱を放出する。凝縮した作動液は加熱部に還流する。
The
SSD10は、基板100を備え、その基板100が有する面100aには、温度センサ101、コネクタ102及び制御部(メモリコントローラ)103等が実装されている。筐体4内において、SSD10は、ファン13により筐体4内から外部にかけての風Wの上流側に制御部103が位置し、風Wの下流側に温度センサ101が位置するように収容されている。また、SSD10とメイン回路基板11とを電気的に接続するコネクタ102は、筐体4内から外部にかけて流れる風Wに対し、制御部103よりもさらに上流側に配置されている。
The SSD 10 includes a
図4は、情報処理装置の概略構成を示すブロック図である。この情報処理装置1は、上述のSSD10、拡張モジュール12、ファン13、タッチパッド20、キーボード23a、LED22、電源スイッチ25、ODD27、カードスロット28及び表示部31の他に、各部を制御する組込システムであるEC(Embedded Controller)111と、BIOS(Basic Input Output System)112aを格納するフラッシュメモリ112と、LSI(Large Scale Integration)チップであり各種バス及びI/Oコントローラとして機能するサウスブリッジ113と、LSIチップであり後述するCPU(Central Processing Unit)115、GPU(Graphic Processing Unit)116、メインメモリ117及び各種バスとの接続を制御するノースブリッジ114と、各種信号を演算処理するCPU115と、映像信号を演算処理して表示制御するGPU116と、CPU115により読み書きされるメインメモリ117とを有する。
FIG. 4 is a block diagram illustrating a schematic configuration of the information processing apparatus. The
なお、EC111、フラッシュメモリ112、サウスブリッジ113、ノースブリッジ114、CPU115、GPU116及びメインメモリ(主記憶装置)117は、メイン回路基板11に実装された電子部品である。
The
(SSDの構成)
図5は、SSDの外観の一例を示す斜視図である。このSSD10は、面100a〜100fを有する基板100を備え、基板100の面100aにそれぞれ実装された温度センサ101、コネクタ102、制御部103、8つのNANDメモリ104A〜104H及びDRAM105を備える。NANDメモリ104A〜104Hは同一の形状を有する。このSSD10は、データやプログラムを記憶し、電源を供給しなくても記録が消えない外部記憶装置である。従来のハードディスクドライブのような磁気ディスクやヘッド等の駆動機構を持たないが、基板100上に実装される8つのNANDメモリ104A〜104Hの記憶領域に、OS(Operating System)等のプログラム、ユーザやソフトウエアの実行に基づいて作成されたデータ等を従来のハードディスクドライブと同様に読み書き可能に長期的に保存でき、情報処理装置1の起動ドライブとして動作することのできる不揮発性半導体メモリからなるドライブである。
(SSD configuration)
FIG. 5 is a perspective view showing an example of the appearance of the SSD. The
NANDメモリ104A〜104Hは、例えば、NANDメモリ104Aに示すように、長辺104aおよび短辺104bからなる外形をそれぞれ有する。NANDメモリ104A〜104Dは、基板100の右側面に沿って長辺104aが互いに隣接するように実装されている。また、NANDメモリ104E〜104Hは、長辺104aと短辺104bとが互いに隣接するように組み合わされて基板100に実装されている。
For example, as shown in the
温度センサ101は、NANDメモリ104Hの長辺と制御部103の一辺との間に位置し、これら両辺に隣接して設けられている。また、制御部103の温度センサ101が設けられる側とは反対側に、SSD10を外部と接続するためのコネクタ102が設けられている。
The
図6は、SSDの概略構成を示すブロック図である。制御部103は、温度センサ101、コネクタ102、8つのNANDメモリ104A〜104H、DRAM105、及び電源回路106にそれぞれ接続されている。また、制御部103は、コネクタ102を介してホスト装置8に接続され、必要に応じて外部装置9に接続される。
FIG. 6 is a block diagram showing a schematic configuration of the SSD. The
電源7は、バッテリパック24又は図示しないACアダプタであり、例えば、DC3.3Vがコネクタ102を介して電源回路106に供給される。また、電源7は、情報処理装置1全体に対して電力を供給する。
The power source 7 is a
ホスト装置8は、本実施の形態ではメイン回路基板11であり、メイン回路基板11に実装されたサウスブリッジ113と制御部103との間が接続されている。サウスブリッジ113と制御部103との間は、例えば、シリアルATA等の規格に基づいてデータの送受信が行われる。
The
外部装置9は、情報処理装置1とは異なる他の情報処理装置である。外部装置9は、情報処理装置1から取り外されたSSD10に対して、例えば、RS−232C等の規格に基づいて制御部103に接続され、NANDメモリ104A〜104Hに記憶されたデータを読み出す機能を有する。
The
(SSDの各部の構成)
基板100は、例えば、1.8インチタイプ又は2.5インチタイプのHDD(Hard disk drive)と同等の外形サイズを有する。なお、本実施の形態では、1.8インチタイプと同等である。また、基板100を筐体4に固定するための複数の貫通穴100gを有する。
(Configuration of each part of SSD)
The
温度センサ101は、基板100上において、ともに熱源となる制御部103とNANDメモリ104A〜104Hとの間に設けられている。図5の例では、温度センサ101は、制御部103とNANDメモリ104A〜104Hによって囲まれるように基板の中央付近に設けられ、その位置における温度を測定する。温度センサ101により測定された測定温度は、温度情報として制御部103に送られる。なお、本実施の形態では、半導体のPN接合部の電圧が温度により変化する特性を利用した半導体温度センサを用いたが、例えば、サーミスタ等の他の方式による温度センサを用いてもよい。
The
上記の位置に設けられた温度センサ101による測定温度は、SSD10が動作中の場合は、例えば、50℃〜60℃であり、基板100の他の領域に比較して10℃程度高い。
When the
制御部103は、NANDメモリ104A〜104Hに対する動作を制御する。具体的には、制御部103は、ホスト装置8としてのメイン回路基板11からの要求に応じて、NANDメモリ104A〜104Hに対するデータの読み書きを制御する。データの転送速度は、例えば、データ読み出し時で100MB/Sec、書き込み時で40MB/Secである。
The
また、制御部103は、温度センサ101から温度情報を一定の周期で取得し、その取得した温度情報をその取得した取得日時とともにNANDメモリ104A〜104Hの所定のアドレスに書き込む。
In addition, the
NANDメモリ104A〜104Hは、長辺と短辺からなる外形を有し、例えば、その厚みは3mmである。NANDメモリ104A〜104Hは、基板100上で非対称な配置に実装されている。すなわち、図5の例では、NANDメモリ104A〜104Hのうち4つのNANDメモリ104A〜104Dは、長辺が略平行になるように揃えた状態で配置され、他の4つのNANDメモリ104E〜104Hは、短辺と長辺とが対向するように組み合わされた状態で配置されている。
The
NANDメモリ104A〜104Hは、1つの記憶容量が、例えば、16GBの不揮発性の半導体メモリであって、例えば、1つのメモリセルに2ビットを記録可能なMLC(Multi Level Cell)−NANDメモリ(多値NANDメモリ)である。MLC−NANDメモリは、SLC(Single Level Cell)−NANDメモリに比較して、一般に書き換え可能回数は劣るが、記憶容量の大容量化は容易である。また、NANDメモリ104A〜104Hは、設置された環境温度によりデータを保持可能な期間が変動する特性を有する。
Each of the
NANDメモリ104A〜104Hは、制御部103の制御により書き込まれたデータを記憶するとともに、温度情報及び取得日時を温度履歴として記憶する。
The
DRAM105は、制御部103の制御によりNANDメモリ104A〜104Hに対するデータの読み書きが行われる際に一時的にデータが格納されるバッファである。
The
コネクタ102は、シリアルATA等の規格に基づいた形状を有する。なお、制御部103及び電源回路106は、別々のコネクタによりホスト装置8及び電源7にそれぞれ接続されていてもよい。
The
電源回路106は、電源7から供給されたDC3.3Vを、例えば、DC1.8V、1.2V等に変換するとともに、それら3種類の電圧をSSD10の各部の駆動電圧に合わせて各部に供給する。
The
(第1の実施の形態の動作)
以下に、本発明の第1の実施の形態に係る情報処理装置の動作について説明する。まず、ユーザが電源スイッチ25を押下すると、その電源スイッチ25の押下を検出したEC111は、電源7から情報処理装置1の各部に電力の供給を開始する。そして、EC111は、BIOS112aに基づいて情報処理装置1の起動を行う。
(Operation of the first embodiment)
The operation of the information processing apparatus according to the first embodiment of the present invention will be described below. First, when the user presses the
次に、情報処理装置1の起動が完了すると、ユーザは表示部31の表示画面31aを視認しながら、タッチパッド20及びキーボード23aを用いて情報処理装置1に対する操作を行う。
Next, when the activation of the
次に、情報処理装置1は、ユーザによる操作を受け付けると、その操作に応じて所定の動作を行う。例えば、情報処理装置1のCPU15が、SSD10に記憶されたデータを表示部31に表示する操作を受け付けた場合には、CPU115は、SSD10に対してデータの読み出しを命令する。次に、SSD10の制御部103は、NANDメモリ104A〜104Hからデータを読み出し、そのデータをサウスブリッジ113及びノースブリッジ114を介して、GPU116に送る。そして、GPU116は、そのデータを表示部31に画像として表示する。
Next, when the
情報処理装置1が上記のような動作を行っている間、SSD10の温度センサ101は、温度センサ101が設けられた位置における温度を測定する。
While the
そして、制御部103は、温度センサ101による測定温度を一定の周期で温度情報として取得し、その取得した温度情報を取得日時とともに、NANDメモリ104A〜104Hの所定のアドレスに温度履歴として記憶する。
And the
その後、ユーザが、情報処理装置1に対してNANDメモリ104A〜104Hに記憶された温度履歴を表示するように指示した場合には、制御部103は、その温度履歴を読み出して、その読み出した温度履歴をGPU116を介して表示部31に表示する。
Thereafter, when the user instructs the
また、SSD10が筐体4から取り外された場合には、その取り外されたSSD10に対して外部装置9が接続される。そして、外部装置9から制御部103に対して温度履歴の読み出しを命令するコマンドを送ると、制御部103は、NANDメモリ104A〜104Hに記憶された温度履歴を読み出して、外部装置9に送信する。そして、外部装置9は温度履歴を受信すると、その温度履歴を外部装置9が有する表示部に表示する。
Further, when the
上記した本発明の第1の実施の形態によると、温度センサ101を制御部103とNANDメモリ104Hとの間に設けたため、基板100の他の領域に比較して高温になる領域の温度を測定することができる。
According to the first embodiment of the present invention described above, since the
また、複数のNANDメモリ104A〜104Hを基板100上で長辺104aと短辺104bとを組み合わせて実装したため、制御部103、DRAM105等の他の電子部品を基板100上に効率よく配置することができる。
Further, since the plurality of
また、温度センサを制御部103と複数のNANDメモリ104A〜104Hとに囲まれた位置に設けたため、基板100上に複数の温度センサを配置する必要がなく、製造コストを低減することができる。
Further, since the temperature sensor is provided at a position surrounded by the
また、SSD100の制御部103をファン13による風Wの上流側に位置し、温度センサ101を下流側に位置することにより、風Wにより冷却された制御部103よりも高温となる可能性が高い位置の温度を計測することができる。
Further, since the
また、NANDメモリ104A〜104Hに温度履歴を記憶することにより、SSD10が使用された状況での環境温度を時系列的に確認することができる。なお、温度履歴は、制御部103による読み出しだけでなく、例えば、SSD10の温度を低下させる処理を行うにあたってサウスブリッジ113による読み出しも可能である。
Further, by storing the temperature history in the
[第2の実施の形態]
図7(a)は、本発明の第2の実施の形態に係るSSDの外観を示す概略図である。第1の実施の形態に係るSSD10は、面100aにNANDメモリが実装されていたのに対し、このSSD10は、図7(a)に例示するように、面100a,100bの両方にNANDメモリが実装されている。
[Second Embodiment]
FIG. 7A is a schematic diagram showing the appearance of an SSD according to the second embodiment of the present invention. In the
すなわち、SSD10は、図7(b)の平面図に例示するように、面100aに温度センサ101、コネクタ102、制御部103、8つのNANDメモリ104A〜104H及びDRAM105Aを備える。また、SSD10は、図7(c)の底面図に例示するように、面100bに更に8つのNANDメモリ104I〜104P及びDRAM105Bを備える。なお、各部の構成は第1の実施の形態と同様のため、説明を省略する。
That is, as illustrated in the plan view of FIG. 7B, the
面100aに設けられたNANDメモリ104A〜104Hと、面100bに設けられたNANDメモリ104I〜104Pは、基板100の長辺方向に対して左右対称に配置されている。なお、NANDメモリ104I〜104Pは、基板100の短辺方向に対して左右対称に配置されていてもよい。また、面100aと面100bとで180度回転した状態で配置してもよい。
The
上記した本発明の第2の実施の形態によると、SSD10の両面にNANDメモリ104A〜104Pを実装したため、基板100の占有面積当たりの記憶容量を増加することができる。
According to the above-described second embodiment of the present invention, since the
また、SSD10両面にNANDメモリを左右対称に配置することにより、SSD10全体における温度分布を均等にし、環境温度によるSSD10のデータ保持期間の短縮を抑制することができる。
Also, by arranging the NAND memories symmetrically on both sides of the
[他の実施の形態]
なお、本発明は、上記実施の形態に限定されず、本発明の技術思想を逸脱あるいは変更しない範囲内で種々な変形が可能である。
[Other embodiments]
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from or changing the technical idea of the present invention.
1…情報処理装置、2…本体、3…表示ユニット、4…筐体、4a…上壁、4b…周壁、4ba…前壁、4bb…後壁、4bc,4bd…側壁、4c…下壁、5…カバー、6…筐体ベース、7…電源、8…ホスト装置、9…外部装置、10…SSD、11…メイン回路基板、12…拡張モジュール、13…ファン、20…タッチパッド、21…パームレスト、22…LED、23…キーボード載置部、23a…キーボード、24…バッテリパック、25…電源スイッチ、26a,26b…ヒンジ部、27…ODD、28…カードスロット、29…排出口、30…ディスプレイハウジング、30a…開口部、31…表示部、31a…表示画面、40…フロント部、41…中央部、42…バック部、43…ボス、100…基板、100a〜100f…面、100g…貫通穴、101…温度センサ、102…コネクタ、103…制御部、104A〜104P…NANDメモリ、104a…長辺、104b…短辺、105,105A,105B…DRAM、106…電源回路、110…コネクタ、110a…ケーブル、111…EC、112…フラッシュメモリ、112a…BIOS、113…サウスブリッジ、114…ノースブリッジ、115…CPU、116…GPU、117…メインメモリ、120…拡張回路基板、121…カードソケット、122…拡張モジュール基板、130…ヒートパイプ、270…ケース、271…ディスクトレイ、280…カード
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記筐体に収容され、CPUが実装された第2基板に、電気的に接続される第1基板と、
前記第1基板上に設けられた複数のメモリと、
前記複数のメモリのうち1つのメモリの近傍に設けられた温度センサと、
前記第1基板の前記温度センサの近傍に設けられ、前記温度センサにより検出された温度情報を取得するメモリコントローラと、を備え、
前記温度センサは、前記第1基板の中央部分に設けられ、前記メモリコントローラ及び前記1つのメモリは前記温度センサの周囲に設けられた記憶装置。 A storage device housed in a housing,
A first board that is housed in the housing and electrically connected to a second board on which the CPU is mounted;
A plurality of memories provided on the first substrate;
A temperature sensor provided in the vicinity of one of the plurality of memories;
A memory controller provided in the vicinity of the temperature sensor on the first substrate and acquiring temperature information detected by the temperature sensor;
The temperature sensor is provided in a central portion of the first substrate, and the memory controller and the one memory are storage devices provided around the temperature sensor.
前記メモリコントローラに対して前記温度センサが設けられる側とは反対側の前記第1基板上に設けられたコネクタを更に含む請求項1に記載の記憶装置。 A connector for connecting to the host device,
The storage device according to claim 1, further comprising a connector provided on the first substrate on a side opposite to a side on which the temperature sensor is provided with respect to the memory controller.
前記情報処理装置本体内に外気を吸入し装置内部を冷却する冷却ファンと、
前記情報処理装置本体内に設けられ、筐体に収容され、CPUが実装された第2基板に、電気的に接続される第1基板と、前記第1基板上に設けられた複数のメモリと、前記複数のメモリのうち1つのメモリの近傍に設けられた温度センサと、前記第1基板の前記温度センサの近傍に設けられ、前記温度センサにより検出された温度情報を取得するメモリコントローラと、を備え、前記温度センサは、前記第1基板の中央部分に設けられ、前記メモリコントローラ及び前記1つのメモリは前記温度センサの周囲に設けられるとともに、前記メモリコントローラは前記冷却ファンにより吸入される外気に対して上流側に配置され、前記温度センサが下流側に配置される記憶装置とを有する情報処理装置。 An information processing apparatus main body;
A cooling fan for sucking outside air into the information processing apparatus body and cooling the inside of the apparatus;
A first board that is provided in the information processing apparatus body, is housed in a housing, and is electrically connected to a second board on which a CPU is mounted; and a plurality of memories provided on the first board; A temperature sensor provided in the vicinity of one of the plurality of memories, a memory controller provided in the vicinity of the temperature sensor on the first substrate, and acquiring temperature information detected by the temperature sensor; The temperature sensor is provided in a central portion of the first substrate, the memory controller and the one memory are provided around the temperature sensor, and the memory controller is sucked out by the cooling fan. An information processing apparatus including a storage device disposed upstream of the storage device and the temperature sensor disposed downstream.
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