JP2012141174A - Test system - Google Patents

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tester
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test
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Tomoko Fukaya
知子 深谷
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Hitachi Kokusai Electric Inc
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Hitachi Kokusai Electric Inc
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test system in which arrangement of testers may be easily changed without changing setting of a controller for a device to be tested.SOLUTION: Each tester switching part 20 includes a control microcomputer 22 and switches 241 to 246. The tester switching parts 20-1 to 20-3 are physically connected to one another in series. The switches 241 to 246 switch, under control by the control microcomputer 22, electric connection of an upstream side to a downstream side or a tester side. When the control microcomputer 22 stores identification information for a tester 30 whose identification information is included in a switching signal, the control microcomputer 22 controls the switches 241 to 246 connected to the tester 30 corresponding to the identification information for attaining the connection to the tester side.

Description

本発明は、被試験器に対して試験を行う試験システムに関する。   The present invention relates to a test system for testing a device under test.

例えば、特許文献１は、複数の制御装置を用いて複数の測定器を制御しながら複数の被試験器に対して同時に試験を行う自動試験システムを開示する。   For example, Patent Document 1 discloses an automatic test system that simultaneously tests a plurality of devices under test while controlling a plurality of measuring devices using a plurality of control devices.

特開２００７−２９２７２３号公報JP 2007-292723 A

本発明は、上述した背景からなされたものであり、被試験器用コントローラの設定を変更することなく、試験器の配置を容易に変更可能な試験システムを提供することを目的とする。   The present invention has been made from the above-described background, and an object of the present invention is to provide a test system that can easily change the arrangement of the tester without changing the setting of the controller under test.

本発明に係る試験システムは、被試験器用コントローラと、被試験器に対して試験を実行して計測信号を出力する複数の試験器と、物理的に互いに直列に接続された複数の試験器切替部であって、それぞれ１つ以上の前記試験器と物理的に接続された複数の試験器切替部と、前記被試験器用コントローラに制御され、前記試験器から出力された試験信号を、前記複数の試験器切替部のうちの少なくとも１つを介して受信して測定する測定器とを有し、前記複数の試験器切替部それぞれは、１つ以上のスイッチと、前記スイッチの切り替えを制御する制御部とを有し、前記試験器切替部の制御部は、前記被試験器用コントローラから前記試験器の識別情報を含む信号を受信した場合に、この識別情報に対応する試験器が当該試験器切替部と物理的に接続されているときは、当該試験器と信号を送受信できるように前記スイッチを切り替え、この識別情報に対応する試験器が当該試験器切替部と物理的に接続されていないときは、当該試験器切替部と前記測定器とは反対側に物理的に接続された試験器切替部と信号を送受信できるように前記スイッチを切り替える。   A test system according to the present invention includes a controller for a device under test, a plurality of test devices that execute a test on the device under test and output a measurement signal, and a plurality of tester switches that are physically connected in series to each other. A plurality of tester switching units physically connected to each of the one or more testers, and a test signal output from the tester under the control of the controller under test. A measuring instrument that receives and measures through at least one of the tester switching units, and each of the plurality of tester switching units controls one or more switches and switching of the switches. And when the control unit of the tester switching unit receives a signal including the identification information of the tester from the controller for the device under test, the tester corresponding to the identification information is the tester Switching unit and physics When the tester corresponding to the identification information is not physically connected to the tester switching unit, the tester is switched so that signals can be transmitted to and received from the tester. The switch is switched so that signals can be transmitted to and received from the tester switching unit physically connected to the opposite side of the tester switching unit and the measuring instrument.

本発明によれば、被試験器用コントローラの設定を変更することなく、試験器の配置を容易に変更可能な試験システムを提供できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the test system which can change the arrangement | positioning of a test device easily can be provided, without changing the setting of the controller for test equipment.

本実施形態にかかる試験システムの外観を示す図である。It is a figure which shows the external appearance of the test system concerning this embodiment. 本実施形態にかかる試験システムの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the test system concerning this embodiment. 本実施形態にかかる試験システムにおける試験器の切替処理を示す図である。It is a figure which shows the tester switching process in the test system concerning this embodiment.

［本発明の背景］
本発明の理解を助けるために、まず、本発明がなされるに至った背景を説明する。 [Background of the invention]
In order to help understanding of the present invention, first, the background that led to the present invention will be described.

従来、複数の試験器によって試験を行う試験システムにおいて、被試験器用コントローラは、試験器の接続を切り替える複数の試験器切替部それぞれの識別情報を記憶していた。
さらに、被試験器用コントローラは、試験器の切り替えを行う際に、複数の試験器それぞれが配置されている位置を記憶しておく必要があった。
そのため、試験器切替部および試験器が増設された場合に、被試験器用コントローラに記憶されているソフトウェアを変更しなければならなかった。
以下に説明する試験システムは、被試験器用コントローラの設定を変更することなく、試験器の配置を容易に変更できるように改良されている。 Conventionally, in a test system in which a test is performed using a plurality of testers, the controller under test has stored identification information of each of a plurality of tester switching units that switch connection of the testers.
Furthermore, when the tester controller switches the tester, it is necessary to store the positions where the plurality of testers are arranged.
For this reason, when the tester switching unit and the tester are added, the software stored in the controller under test must be changed.
The test system described below has been improved so that the arrangement of the tester can be easily changed without changing the setting of the controller for the device under test.

［本発明の実施形態］
以下、本発明の実施形態について、図面を参照にして説明する。
図１は、本実施形態にかかる試験システム１の外観を示す図である。
また、図２は、本実施形態にかかる試験システム１の構成を示す図である。
さらに、図３は、本実施形態にかかる試験システム１における試験器の切替処理を示す図である。 Embodiment of the present invention
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram illustrating an appearance of a test system 1 according to the present embodiment.
FIG. 2 is a diagram showing a configuration of the test system 1 according to the present embodiment.
Furthermore, FIG. 3 is a diagram showing a tester switching process in the test system 1 according to the present embodiment.

図１〜図３に示すように、試験システム１は、被試験器用コントローラ１０、測定器１２−１〜１２−Ｎ（Ｎは２以上の整数。但し、Ｎがそれぞれ常に同じ数とは限らない）、測定器切替部１４、試験器切替部２０−１，２０−２，２０−３、および試験器３０Ａ〜３０Ｆから構成されている。
また、試験を行う際には、試験器３０Ａ〜３０Ｆには、それぞれ、試験対象である被試験器３２Ａ〜３２Ｆが接続される。 As shown in FIG. 1 to FIG. 3, the test system 1 includes a device under test controller 10 and measuring devices 12-1 to 12 -N (N is an integer of 2 or more. However, N is not always the same number. ), Measuring instrument switching section 14, testing instrument switching sections 20-1, 20-2, 20-3, and testing instruments 30A to 30F.
Further, when performing a test, the devices under test 32A to 32F, which are test objects, are connected to the testers 30A to 30F, respectively.

なお、図１〜図３においては、図示の具体化および明確化のために、本実施形態の説明に必要ない構成部分が、適宜、省略される。
さらに、以下、測定器１２−１〜１２−Ｎおよび試験器３０Ａ〜３０Ｆなど、複数ある構成部分のいずれかを特定せずに示す場合には、単に、それぞれ測定器１２および試験器３０などと略記することがある。
また、以下、試験器切替部２０−１〜２０−３を、単に、それぞれ試験器切替部＃１〜＃３と称し、試験器３０Ａ〜３０Ｆを、単に、それぞれ試験器Ａ〜Ｆと称し、被試験器３２Ａ〜３２Ｆを、単に、それぞれ被試験器Ａ〜Ｆと称することがある。 In FIG. 1 to FIG. 3, components that are not necessary for the description of the present embodiment are omitted as appropriate for the illustration and clarification.
Furthermore, in the following, when any one of a plurality of components such as the measuring instruments 12-1 to 12-N and the testers 30A to 30F is indicated without being specified, simply the measuring instrument 12 and the testing instrument 30 respectively. Sometimes abbreviated.
In addition, hereinafter, the tester switching units 20-1 to 20-3 are simply referred to as tester switching units # 1 to # 3, respectively, and the testers 30A to 30F are simply referred to as testers A to F, respectively. The devices under test 32A to 32F may be simply referred to as devices under test A to F, respectively.

また、図１〜図３に示した試験システム１を構成する装置のうち、任意の２つ以上は、適宜、一体に構成されうる。
また、ある１つの装置において実現される複数の機能が、それぞれ別々の装置において実現されるようにしてもよいし、図１〜図３に示されていない装置において実現されるようにしてもよい。 In addition, any two or more of the apparatuses constituting the test system 1 shown in FIGS. 1 to 3 can be appropriately integrated.
In addition, a plurality of functions realized in a certain apparatus may be realized in separate apparatuses, or may be realized in apparatuses not shown in FIGS. .

試験システム１において、被試験器用コントローラ１０は、例えば、ＣＰＵ、メモリ、入出力装置、通信装置および記憶装置から構成されるコンピュータであって、ＬＡＮ（Local Area Network）１０２を介して測定器１２と接続され、切替制御線１００を介して測定器切替部１４および各試験器切替部２０と接続されている。
被試験器用コントローラ１０は、測定器１２を制御するための制御信号を、ＬＡＮ１０２を介して測定器１２に対して出力する。
また、被試験器用コントローラ１０は、試験に使用される測定器１２と試験器切替部２０（および試験器３０）とを電気的に接続する（つまり信号を送受信できるようにする）ための切替信号を、切替制御線１００を介して測定器切替部１４に対して出力する。
さらに、被試験器用コントローラ１０は、試験に使用される試験器３０と測定器切替部１４（および測定器１２）とを電気的に接続する（つまり信号を送受信できるようにする）ための切替信号を、切替制御線１００を介して各試験器切替部２０に対して出力する。 In the test system 1, the controller under test 10 is a computer composed of, for example, a CPU, a memory, an input / output device, a communication device, and a storage device, and is connected to the measuring device 12 via a LAN (Local Area Network) 102. Connected to the measuring instrument switching unit 14 and each tester switching unit 20 via the switching control line 100.
The controller under test 10 outputs a control signal for controlling the measuring instrument 12 to the measuring instrument 12 via the LAN 102.
In addition, the controller under test 10 is a switching signal for electrically connecting the measuring instrument 12 used for the test and the tester switching unit 20 (and the tester 30) (that is, enabling signals to be transmitted and received). Is output to the measuring instrument switching unit 14 via the switching control line 100.
Further, the controller for device under test 10 is a switching signal for electrically connecting the tester 30 used for the test and the measuring instrument switching unit 14 (and the measuring instrument 12) (that is, enabling signal transmission / reception). Is output to each tester switching unit 20 via the switching control line 100.

測定器切替部１４は、被試験器用コントローラ１０から切替信号を受信した場合に、試験に使用される測定器１２と試験器切替部２０（および試験器３０）とを電気的に接続するための処理を行う。
具体的には、例えば、測定器切替部１４は、測定器切替部１４に内蔵されたスイッチ（図示せず）を切り替えることによって、切替処理を行う。 The measuring instrument switching unit 14 electrically connects the measuring instrument 12 used for the test and the testing instrument switching unit 20 (and the testing instrument 30) when receiving a switching signal from the controller for device under test 10. Process.
Specifically, for example, the measuring instrument switching unit 14 performs switching processing by switching a switch (not shown) built in the measuring instrument switching unit 14.

測定器１２−１〜１２−Ｎは、例えば位相検波器やオシロスコープ等の、被試験器３２から出力された計測信号を受信して測定する機器や、被試験器用コントローラ１０から制御信号を受信したとき、試験信号を、測定器切替部１４および試験器切替部２０を介して、試験器３０に対して出力する信号発生器である。
試験器３０は、例えば、測定器１２−１からの試験信号に応じて、被試験器３２に対して所定の試験を行い、試験結果である計測信号を、測定器１２−２に対して出力する。 The measuring instruments 12-1 to 12-N receive a control signal from a device for receiving and measuring a measurement signal output from the device under test 32, such as a phase detector or an oscilloscope, or the controller 10 for the device under test. At this time, the signal generator outputs a test signal to the tester 30 via the measuring instrument switching unit 14 and the tester switching unit 20.
For example, the tester 30 performs a predetermined test on the device under test 32 in accordance with a test signal from the measuring device 12-1, and outputs a measurement signal as a test result to the measuring device 12-2. To do.

試験器切替部２０は、図３（Ｂ）に示すように、制御マイコン（マイクロコンピュータ）２２と、スイッチ（リレー）２４１〜２４６とから構成されている。
また、試験器切替部２０−１〜２０−３は、物理的に互いに直列に接続されている。
つまり、試験器切替部２０−１は、測定器切替部１４と試験器切替部２０−２との間に物理的に接続され、試験器切替部２０−２は、試験器切替部２０−１と試験器切替部２０−３との間に物理的に接続されている。
また、試験器切替部２０−１〜２０−３は、３本の信号線１１２〜１１６を介して物理的に接続されている。 As shown in FIG. 3B, the tester switching unit 20 includes a control microcomputer (microcomputer) 22 and switches (relays) 241 to 246.
The tester switching units 20-1 to 20-3 are physically connected in series with each other.
That is, the tester switching unit 20-1 is physically connected between the measuring instrument switching unit 14 and the tester switching unit 20-2, and the tester switching unit 20-2 is connected to the tester switching unit 20-1. And the tester switching unit 20-3 are physically connected.
The tester switching units 20-1 to 20-3 are physically connected via the three signal lines 112 to 116.

制御マイコン２２は、試験器切替部２０に物理的に接続されている試験器３０の識別情報、および、試験器３０とスイッチ２４１〜２４６との物理的な接続関係（どの試験器とどのスイッチとが物理的に接続されているか）を記憶している。
たとえば、試験器切替部２０−１の制御マイコン２２−１は、試験器３０Ａ，３０Ｂの識別情報を記憶しており、試験器切替部２０−２の制御マイコン２２−２は、試験器３０Ｃ，３０Ｄの識別情報を記憶している。
スイッチ２４１〜２４６は、制御マイコン２２の制御により、上流側（例えば試験器切替部＃１であれば測定器切替部側、試験器切替部＃２であれば試験器切替部＃１側）との電気的な接続（つまり信号を送受信できる状態）を、下流側（例えば試験器切替部＃１であれば試験器切替部＃２側）または試験器側（例えば試験器切替部＃１であれば試験器ＡまたはＢ）に切り替える。
言い換えれば、スイッチ２４１〜２４６が試験器側に閉じていれば、上流側と試験器３０とが信号を送受信でき、スイッチ２４１〜２４６が下流側に閉じていれば、上流側と下流側とが信号を送受信でき、上流側と試験器３０とは信号を送受信できない。 The control microcomputer 22 identifies the identification information of the tester 30 physically connected to the tester switching unit 20 and the physical connection relationship between the tester 30 and the switches 241 to 246 (which tester and which switch Is physically connected).
For example, the control microcomputer 22-1 of the tester switching unit 20-1 stores the identification information of the testers 30A and 30B, and the control microcomputer 22-2 of the tester switching unit 20-2 includes the tester 30C, 30D identification information is stored.
The switches 241 to 246 are controlled by the control microcomputer 22 on the upstream side (for example, the tester switching unit # 1 side if the tester switching unit # 1 and the tester switching unit # 1 side if the tester switching unit # 2). The electrical connection (i.e., the state in which signals can be transmitted and received) can be on the downstream side (for example, the tester switching unit # 2 side if the tester switching unit # 1) or the tester side (for example, the tester switching unit # 1). Switch to tester A or B).
In other words, if the switches 241 to 246 are closed on the tester side, the upstream side and the tester 30 can transmit and receive signals, and if the switches 241 to 246 are closed on the downstream side, the upstream side and the downstream side are connected. Signals can be transmitted and received, and signals cannot be transmitted and received between the upstream side and the tester 30.

ここで、図３を用いて試験器３０の切替処理について説明する。
図３（Ａ）に示すように、まず、被試験器用コントローラ１０は、切替信号を、各試験器切替部２０に対して、切替制御線１００を介して、ブロードキャストによって送信する。
この切替信号は、試験に使用される試験器３０の識別情報を含む。
各試験器切替部２０の制御マイコン２２は、受信した切替信号に含まれる試験器３０の識別情報と、自身が記憶している試験器３０の識別情報とを比較する。 Here, the switching process of the tester 30 will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 3A, first, the controller under test 10 transmits a switching signal to each tester switching unit 20 via the switching control line 100 by broadcast.
This switching signal includes identification information of the tester 30 used for the test.
The control microcomputer 22 of each tester switching unit 20 compares the identification information of the tester 30 included in the received switching signal with the identification information of the tester 30 stored therein.

制御マイコン２２は、自身が記憶している試験器３０の識別情報に、切替信号に含まれる試験器３０の識別情報が含まれる場合には、その識別情報に対応する試験器３０に接続されているスイッチ２４１〜２４６を試験器側に閉じるように制御する。
つまり、制御マイコン２２は、スイッチ２４１〜２４６の電気的な接続を、下流側から試験器側に切り替えるように（つまり信号を試験器と送受信できるように）制御する。
この場合、すでにスイッチ２４１〜２４６が試験器側に閉じている場合は、制御マイコン２２が制御を行わないようにしてもよい。 When the identification information of the tester 30 stored in the control microcomputer 22 includes the identification information of the tester 30 included in the switching signal, the control microcomputer 22 is connected to the tester 30 corresponding to the identification information. The switches 241 to 246 are controlled to close to the tester side.
That is, the control microcomputer 22 performs control so that the electrical connection of the switches 241 to 246 is switched from the downstream side to the tester side (that is, the signal can be transmitted to and received from the tester).
In this case, when the switches 241 to 246 are already closed on the tester side, the control microcomputer 22 may not perform the control.

また、制御マイコン２２は、自身が記憶している試験器３０の識別情報に、切替信号に含まれる試験器３０の識別情報が含まれない場合には、その識別情報に対応する試験器３０に接続されているスイッチ２４１〜２４６を下流側に閉じるように制御する。
つまり、制御マイコン２２は、スイッチ２４１〜２４６の電気的な接続を、試験器側から下流側に切り替えるように（つまり信号を下流の試験器切替部２０と送受信できるように）制御する。
この場合、すでにスイッチ２４１〜２４６が下流側に閉じている場合は、制御マイコン２２が制御を行わないようにしてもよい。 Further, when the identification information of the tester 30 stored in the control microcomputer 22 does not include the identification information of the tester 30 included in the switching signal, the control microcomputer 22 stores the identification information of the tester 30 in the tester 30 corresponding to the identification information. Control is performed so that the connected switches 241 to 246 are closed on the downstream side.
That is, the control microcomputer 22 controls the electrical connection of the switches 241 to 246 so as to switch from the tester side to the downstream side (that is, so that signals can be transmitted to and received from the downstream tester switching unit 20).
In this case, if the switches 241 to 246 are already closed on the downstream side, the control microcomputer 22 may not perform control.

制御マイコン２２は、スイッチ２４１〜２４６を試験器側に閉じるように制御した場合（または、すでにスイッチ２４１〜２４６が試験器側に閉じていたので制御を行わなかった場合）に、応答信号を、被試験用コントローラ１０に対して、切替制御線１００を介して、ユニキャストによって送信する。
被試験用コントローラ１０は、応答信号を試験器切替部２０から受信すると、測定器１２に対して、制御信号を送信する。 When the control microcomputer 22 controls the switches 241 to 246 to close to the tester side (or when the switches 241 to 246 have already been closed to the tester side, the control signal is not given), The data is transmitted by unicast to the controller under test 10 via the switching control line 100.
When receiving the response signal from the tester switching unit 20, the controller under test 10 transmits a control signal to the measuring instrument 12.

ここで、図３（Ｂ）の例において、被試験器用コントローラ１０からの切替信号に、試験器Ｆの識別情報が含まれていた場合を仮定する。
この場合、試験器切替部２０−３の制御マイコン２２−３は、自身が記憶した試験器３０の識別情報に試験器Ｆの識別情報が含まれるので、試験器Ｆに接続されたスイッチ２４２−３を、下流側から試験器Ｆ側に切り替えるように制御する。
さらに、制御マイコン２２−３は、応答信号を、被試験用コントローラ１０に対して、ユニキャストによって送信する。
一方、試験器切替部２０−１，２０−２の制御マイコン２２−１，２２−２は、自身が記憶した試験器３０の識別情報に試験器Ｆの識別情報が含まれないので、それぞれ、スイッチ２４１〜２４６を、下流側に閉じるように制御する。
このようにして、測定器１２と試験器Ｆとの間の経路が構築される。 Here, in the example of FIG. 3B, it is assumed that the switching signal from the device under test controller 10 includes the identification information of the tester F.
In this case, since the identification information of the tester F is included in the identification information of the tester 30 stored in the control microcomputer 22-3 of the tester switching unit 20-3, the switch 242 connected to the tester F is stored. 3 is controlled to switch from the downstream side to the tester F side.
Further, the control microcomputer 22-3 transmits a response signal to the controller under test 10 by unicast.
On the other hand, the control microcomputers 22-1 and 22-2 of the tester switching units 20-1 and 20-2 do not include the identification information of the tester F in the identification information of the tester 30 stored by themselves. The switches 241 to 246 are controlled so as to be closed downstream.
In this way, a path between the measuring instrument 12 and the tester F is established.

本実施形態は、上記のように構成されているので、被試験器コントローラ１０は、試験器切替部２０の識別子（ＩＰアドレス等）および試験器切替部２０と試験器３０との接続関係を記憶しておく必要がない。
したがって、試験システム１に試験器切替部２０および試験器３０が増設された場合であっても、試験器切替部２０に送信する切替信号の形式を変更する必要がなく、被試験器用コントローラ１０に記憶されているソフトウェアを変更する必要もない。
また、試験器３０等が増大した場合等においても、試験器３０の検索に要する時間が増加しない。
さらに、試験器３０等の配置を変更する場合であっても、試験器切替部２０の制御マイコン２２に記憶された試験器の識別情報を変更するのみで、容易に変更することが可能である。 Since the present embodiment is configured as described above, the device under test controller 10 stores the identifier (IP address or the like) of the tester switching unit 20 and the connection relationship between the tester switching unit 20 and the tester 30. There is no need to keep it.
Therefore, even when the tester switching unit 20 and the tester 30 are added to the test system 1, it is not necessary to change the format of the switching signal to be transmitted to the tester switching unit 20, and the tester controller 10 can There is no need to change the stored software.
Further, even when the number of testers 30 increases, the time required for searching for the testers 30 does not increase.
Furthermore, even when the arrangement of the tester 30 or the like is changed, it can be easily changed only by changing the tester identification information stored in the control microcomputer 22 of the tester switching unit 20. .

なお、各試験器切替部２０を互いに接続する信号線が３本あるとしたが、信号線の本数は、信号の種類等に応じて、適宜、変更してもよい。
また、複数の信号線のうちのどの信号線を介して試験器に試験信号を伝送するか、つまり、試験器に接続された複数のスイッチ（例えば図３（Ｂ）の試験器Ｆであれば２４２−３，２４４−３，２４６−３）のうちのどのスイッチを試験器側に閉じさせるかについては、試験の内容等に応じて、適宜、選択される
なお、本実施形態においては、各試験器切替部２０に、それぞれ２つの試験器が物理的に接続されているとしたが、１つの試験器が接続されてもよく、３つ以上の試験器が接続されているとしてもよい。
また、本実施形態においては、試験器切替部は３つとしたが、２つでもよく、４つ以上でもよい。 Although there are three signal lines connecting the tester switching units 20 to each other, the number of signal lines may be changed as appropriate according to the type of signal and the like.
Also, which signal line of the plurality of signal lines is used to transmit the test signal to the tester, that is, a plurality of switches connected to the tester (for example, the tester F in FIG. 3B). The switch to be closed on the tester side is selected as appropriate according to the contents of the test, etc. In the present embodiment, each switch Although two testers are physically connected to each tester switching unit 20, one tester may be connected, or three or more testers may be connected.
In the present embodiment, the number of tester switching units is three, but may be two, or four or more.

本発明は、被試験器に対して試験を行う試験システムに利用可能である。   The present invention can be used in a test system for testing a device under test.

１・・・試験システム、１０・・・試験器用コントローラ、１２・・・測定器、１４・・・測定器切替部、２０・・・試験器切替部、２２・・・制御マイコン、２４１〜２４６・・・スイッチ、３０・・・試験器、３２・・・被試験器 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Test system, 10 ... Controller for tester, 12 ... Measuring device, 14 ... Measuring device switching part, 20 ... Tester switching part, 22 ... Control microcomputer, 241-246 ... Switch, 30 ... Tester, 32 ... Device under test

Claims (1)

被試験器用コントローラと、
被試験器に対して試験を実行して計測信号を出力する複数の試験器と、
物理的に互いに直列に接続された複数の試験器切替部であって、それぞれ１つ以上の前記試験器と物理的に接続された複数の試験器切替部と、
前記被試験器用コントローラに制御され、前記試験器から出力された計測信号を、前記複数の試験器切替部のうちの少なくとも１つを介して受信して測定する測定器と
を有し、
前記複数の試験器切替部それぞれは、
１つ以上のスイッチと、
前記スイッチの切り替えを制御する制御部と
を有し、
前記試験器切替部の制御部は、前記被試験器用コントローラから前記試験器の識別情報を含む信号を受信した場合に、この識別情報に対応する試験器が当該試験器切替部と物理的に接続されているときは、当該試験器と信号を送受信できるように前記スイッチを切り替え、この識別情報に対応する試験器が当該試験器切替部と物理的に接続されていないときは、当該試験器切替部と前記測定器とは反対側に物理的に接続された試験器切替部と信号を送受信できるように前記スイッチを切り替える
試験システム。 A controller for the device under test;
A plurality of test devices for executing a test on the device under test and outputting a measurement signal;
A plurality of tester switching units physically connected in series with each other, each of the plurality of tester switching units physically connected to one or more of the testers;
A measurement device that is controlled by the controller for the device under test and that receives and measures a measurement signal output from the tester via at least one of the plurality of tester switching units, and
Each of the plurality of tester switching units is
One or more switches;
A control unit for controlling switching of the switch,
When the control unit of the tester switching unit receives a signal including the identification information of the tester from the controller for the device under test, the tester corresponding to the identification information is physically connected to the tester switching unit. If the tester corresponding to the identification information is not physically connected to the tester switching unit, the tester switchover is performed. A test system that switches the switch so that signals can be transmitted to and received from a tester switching unit physically connected to the opposite side of the unit and the measuring instrument.
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