JP2012114641A - 半導体装置および固体撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】画素情報の読出し速度を向上させることが可能な半導体装置および固体撮像装置を提供する。
【解決手段】カラムADCは、PGA22と、縦列接続された2つの巡回型ADCとを含む。PGA22は、画素の黒レベルおよび信号レベルの差分を増幅した信号にVrefを加算した電位をPGA画素情報として出力する。第1ADC24_1は、Vrefを参照電位としてサンプリングして保持するとともに、PGA画素情報を信号電位としてサンプリングして保持し、これらの差分信号であるi行の画素情報に応じてデジタル値の中の上位ビットを生成すると、(i+1)行の画素情報のサンプリングを開始する。第2ADC24_2は、第1ADC24_1が(i+1)行の画素情報をサンプリングして保持するのと並行して、第1ADC24_1によって生成された上位ビットに応じて該デジタル値の中の下位ビットを生成する。
【選択図】図5
【解決手段】カラムADCは、PGA22と、縦列接続された2つの巡回型ADCとを含む。PGA22は、画素の黒レベルおよび信号レベルの差分を増幅した信号にVrefを加算した電位をPGA画素情報として出力する。第1ADC24_1は、Vrefを参照電位としてサンプリングして保持するとともに、PGA画素情報を信号電位としてサンプリングして保持し、これらの差分信号であるi行の画素情報に応じてデジタル値の中の上位ビットを生成すると、(i+1)行の画素情報のサンプリングを開始する。第2ADC24_2は、第1ADC24_1が(i+1)行の画素情報をサンプリングして保持するのと並行して、第1ADC24_1によって生成された上位ビットに応じて該デジタル値の中の下位ビットを生成する。
【選択図】図5
Description
この発明は、半導体装置および固体撮像装置に関し、より特定的には、アナログ/デジタル変換回路(以下、ADC(Analog/Digital Converter)と称す)を内蔵した半導体装置および固体撮像装置に関する。
デジタルカメラ等に用いられる固体撮像素子としては、CCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサといった方式がある。カメラの高性能化の観点から、近年では、CMOSデバイスを搭載しやすいCMOSイメージセンサに対する注目が高まっている。
CMOSイメージセンサには、アナログ出力型CMOSイメージセンサとデジタル出力型CMOSイメージセンサとの2種類がある。どちらも一長一短があるものの、データ処理速度の観点からデジタル出力型CMOSイメージセンサへの期待が大きい。
デジタル出力型CMOSイメージセンサにおいては、画素は行列状に複数個配置されており、その中の任意の画素を列選択回路と行選択回路とを用いて選択する。その選択された画素から水平信号線ごとに、画素信号をリセットすることによってある電位にプリチャージされた信号(以下、黒レベルと称す)と、画素内のフォトダイオードにおける光電変換によって得られた電荷に応じた信号(以下、信号レベルと称す)との2種類が出力される。画素情報(信号レベル−黒レベル)の取り出しには、相関二重サンプリング(Correlate Double Sampling:以下、CDSという)動作が行なわれる(たとえば、非特許文献1参照)。取り出された画素情報は、ADCによってデジタル値に変換される。このADCとしては、アナログ出力を再度入力に戻し、アナログ信号を循環させながらA/D変換を行なう巡回型のADC等が知られている(たとえば、特許文献1参照)。
なお、比較的に同じような強さの光がCMOSイメージセンサに照射された場合には、各画素から得られる画素信号の差が小さくなるため、撮像される画像が階調のない画像となってしまう。これを解消するために、PGA(Programmable Gain Amplifier)を用いて各画素の画素情報を大きくすることが検討されている(たとえば、非特許文献2参照)。
S. Kawahito, et al., "A CMOS Image Sensor Integrating Column-Parallel Cyclic ADCs with On-Chip Digital Error Correction Circuits", ISSCC Dig. Tech. Papers, pp.56-57, 2008.
S. Matsuo, et al., "A Very Low Column FPN and Row Temporal Noise 8.9M-Pixel, 60fps CMOS Image Sensor with 14bit Column Parallel SA-ADC", Symposium on VLSI Circuits Digest of Technical Papers, pp.138-139, 2008.
近年、デジタルカメラ等においては、高画素化や連写枚数の増加(フレームレートの向上)等の要求を受けて、画素情報の読出し速度の向上が強く要望されている。
しかしながら、上述したように、画素情報を取り出してデジタル値に変換するためには、CDS処理とAD変換処理とを順次行なう必要がある。このうちのCDS処理を行なうのに必要な時間は、画素アレイによって決まるため、当該時間を短縮することが困難である。一方、AD変換処理を行なうのに必要な期間は、ADCにおいて回路面積および消費電力、素子ばらつきによる精度(デバイスミスマッチ)、プロセスばらつき等といった設計上の制約があるために、AD変換時間を短縮することが困難とされる。このように、CDS処理およびAD変換処理の各々が一定時間を必要としており短縮することが難しいため、画素情報の読出し速度を向上することが困難となっていた。
それゆえ、この発明は係る課題を解決するためになされたものであり、その目的は、画素情報の読出し速度を向上させることが可能な半導体装置および固体撮像装置を提供することである。
この発明のある局面に従えば、入力アナログ信号をデジタル値に変換するための半導体装置であって、縦列接続された複数段の変換ユニットを備える。第1段の変換ユニットは、信号線を介して入力される第1のアナログ信号に基づき参照電位をサンプリングして保持するとともに、上記信号線を介して入力される第2のアナログ信号に基づき信号電位をサンプリングして保持し、かつ、保持された参照電位と信号電位との差分を示す信号を出力するサンプル・ホールド手段と、サンプル・ホールド手段から出力される信号に応じてデジタル値の中の上位ビットを生成する第1の生成手段とを含む。サンプル・ホールド手段は、第1の生成手段によって上位ビットが生成されると、信号線を介して入力される第3のアナログ信号に基づき参照電位をサンプリングして保持するとともに、信号線を介して入力される第4のアナログ信号に基づき信号電位をサンプリングして保持する。第2段の変換ユニットは、サンプル・ホールド手段と並行して動作して、第1の生成手段によって生成された上位ビットに応じてデジタル値の中の下位ビットを生成する第2の生成手段を含む。
この発明によれば、画素情報の取り出しと画素情報のAD変換とを並行して実施することができるため、画素情報の読出し期間を短縮することができる。その結果、画素情報の読出し速度を向上させることが可能となる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中の同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は繰返さない。
図1は、この発明の実施の形態に係る半導体装置の代表例である固体撮像装置の構成を示す図である。
図1を参照して、固体撮像装置は、画素アレイ10と、画素の列ごとに配置されたカラムADC20と、変換結果を外部等へ出力するときに画素アレイ10の列方向の選択処理を行なう出力回路30と、画素アレイ10の行方向の選択処理を行なう行選択回路40とを備える。なお、第1段の変換ユニット、および第2段の変換ユニットからそれぞれ出力されたデジタル値の加算および補正を行なう回路は、カラムADC20および出力回路30のいずれかに含まれているものとする。
画素アレイ10は、複数の画素PXが行列状に配列されてなる。画素アレイ10の各列に対応して列信号線(垂直読出線)が設けられる。また、画素アレイ10の各行ごとに6本ずつ設けられた行信号線(水平信号線)が設けられる。
カラムADC20は、画素アレイ10の上下に配置されており、2列の画素PXの幅に1つのカラムADC20が配置される構成となっている。したがって、たとえば、水平方向に6000画素分のセンサが配置されている場合には、カラムADC20は、画素アレイ10を挟んで上下に各3000個が配置される。
図2は、図1に示す画素PXの電気的等価回路を示す図である。
図2を参照して、画素PXは、光信号を電気信号に変換するフォトダイオードPDと、転送制御線上の転送制御信号TXに従ってフォトダイオードPDによって生成された電気信号を転送する転送トランジスタQ2と、リセット制御線上のリセット制御信号RXに従ってフローティングディフュージョンFDを所定の電圧レベルにリセットするリセットトランジスタQ1とを含む。
図2を参照して、画素PXは、光信号を電気信号に変換するフォトダイオードPDと、転送制御線上の転送制御信号TXに従ってフォトダイオードPDによって生成された電気信号を転送する転送トランジスタQ2と、リセット制御線上のリセット制御信号RXに従ってフローティングディフュージョンFDを所定の電圧レベルにリセットするリセットトランジスタQ1とを含む。
フォトダイオードPDは、光電変換によって受光量に応じた電荷を生成する。フォトダイオードPDに代えて、フォトトランジスタなどのその他の光電変換素子を用いてもよい。転送トランジスタQ2は、フォトダイオードPDのカソードとフローティングディフュージョンFDとの間に接続される。転送トランジスタTXは、そのゲート電極に供給された転送制御信号TXに応答して、フォトダイオードPDで生成された電荷をフローティングディフュージョンFDに転送する。フローティングディフュージョンFDは、半導体基板上に形成された高濃度の不純物領域であり、電気的に浮遊状態となっており、転送トランジスタQ2から転送された電荷を蓄積する。フローティングディフュージョンFDの電位は、蓄積された電荷量に応じて決まる。
画素PXは、さらに、フローティングディフュージョンFDの電位に応じた電位を出力するソースフォロワトランジスタQ3と、行選択制御線上の行選択信号SLに従ってソースフォロワトランジスタQ3により伝達された信号を垂直読出線12上に伝達する行選択トランジスタQ4とを含む。また、垂直読出線12には、一定電流を流すトランジスタQ5が設けられている。トランジスタQ1〜Q5は、一例として、NチャネルMOSトランジスタで構成される。したがって、この画素PXは、CMOSイメージセンサの画素である。
画素アレイ10の画素PXの2列に対して1個のカラムADC20が設けられている。それぞれのカラムADC20は、PGA22と、ADC24とを含む。
PGA22は、列方向の画素PXから順次送られてくる画素信号を設定ゲインに応じて増幅したアナログ信号をADC24に出力する。ADC24は、PGA22から受けた画素信号をアナログ信号からデジタル信号に変換する。
その変換結果は、3000画素分のデジタル信号として出力回路30によって順次外部に出力される。なお、画素アレイ10の上部にも同様の回路が構成される。
以下、図2に示す画素PXの信号読出時の動作を説明する。
最初に、リセット制御信号RXがハイレベル(以下、Hレベルと略す。)にされ、フローティングディフュージョンFDが初期化された後に、リセット制御信号RXがローレベル(以下、Lレベルと略す。)に設定される。この動作により、先のサイクルにおいて光電変換によってフローティングディフュージョンFDに蓄積された電荷が初期化される。
最初に、リセット制御信号RXがハイレベル(以下、Hレベルと略す。)にされ、フローティングディフュージョンFDが初期化された後に、リセット制御信号RXがローレベル(以下、Lレベルと略す。)に設定される。この動作により、先のサイクルにおいて光電変換によってフローティングディフュージョンFDに蓄積された電荷が初期化される。
次に、行選択信号SLがHレベルとなり、ソースフォロワトランジスタQ3を介して、フローティングディフュージョンFD上の電位に応じた信号が垂直読出線12上に伝達される。この信号が、PGA22を介してカラムADC20に含まれる参照用の容量素子に充電される。これば、後述する画素PXの黒レベルの情報のサンプリングに相当する。
上記の出力後に行なわれる画素読出し期間においては、まず、画素PXに光が照射されることによる光電変換によって電荷が発生しているものとする。次に、転送制御信号TXがHレベルになることによって、蓄積された電荷がフローティングディフュージョンFDへ伝達される。さらに、行選択信号SLがHレベルになることによって、フローティングディフュージョンFD上の電位に応じた信号が、垂直読出線12上に伝達され、PGA22を介して、カラムADC20に含まれる信号電荷蓄積容量素子が充電される。これは、後述する画素PXの信号レベルの情報のサンプリングに相当する。
次いで、読出された参照電位および信号電位が差動増幅されて、画素PXの情報が読出される。
1つの画素PXに対して2回サンプリングを行ない、参照電位および信号電位を比較することにより、いわゆる相関二重サンプリング(CDS:Correlated Double Sampling)動作を行なって、画素PXにおけるばらつきの影響を相殺し、フォトダイオードPDにより生成された電気信号のみを読出す。
画素PXの情報の読出しが完了すると、次に、行選択信号SLがLレベルとなり、行選択トランジスタQ4がオフ状態となる。
画素PXは行列状に配列されており、1行の画素PXについて、並列に、画素情報の読出しが行なわれる。
図3は、図2におけるカラムADCの構成例を示す図である。
図3を参照して、カラムADC20は、PGA22と、ADC24とを含む。
図3を参照して、カラムADC20は、PGA22と、ADC24とを含む。
PGA22は、差動増幅器(amp)220と、スイッチSW0と、コンデンサC1と、可変コンデンサC2とを含む。
差動増幅器220の正入力には参照電位Vrefが入力され、負入力にはコンデンサC1を介して画素PXから垂直読出線12上に読出された画素信号が入力される。差動増幅器220の出力は、負帰還用の可変コンデンサC2およびスイッチSW0に接続されるとともに、ADC24内のスイッチSW1,SW2に接続される。また、可変コンデンサC2によってPGA22のゲインを変更可能である。
以下に、PGA22の動作について説明する。まず、画素読出し期間が開始されると、スイッチSW0がオン状態となる。このとき、可変コンデンサC2に蓄積されている電荷が放出される。そして、スイッチSW0をオン状態としたままで、コンデンサC1に画素PXの黒レベルの情報を電位として保持させる。
次に、スイッチSW0がオフ状態になると、差動増幅器220は、PGA22のリセットレベルであるVrefを出力する。なお、PGA22から出力されるリセットレベルであるVrefはADC24内のスイッチSW1を介してサンプル・ホールド(S/H)回路240に入力される。サンプル・ホールド回路240は、Vrefを参照電位としてサンプリングして保持する。
次に、画素PXの信号レベルの情報がPGA22に入力されると、PGA22からは、式(1)に示されるように、黒レベルおよび信号レベルの差分を増幅した信号にVrefを加算した電位(以下、PGA画素情報とする)が出力される。
PGA出力=C1/C2・(黒レベル−信号レベル)+Vref ・・・(1)
なお、PGA22からの出力は、ADC24内のスイッチSW2を介してサンプル・ホールド回路240に入力される。サンプル・ホールド回路240は、PGA画素情報をサンプリングして保持する。
なお、PGA22からの出力は、ADC24内のスイッチSW2を介してサンプル・ホールド回路240に入力される。サンプル・ホールド回路240は、PGA画素情報をサンプリングして保持する。
ADC24は、スイッチSW1〜SW4,SW9,SW10と、サンプル・ホールド(S/H)回路240と、減算器242,244と、増幅器246と、サブADC248と、DAC(Digital Analog Converter)250とを含む。
スイッチSW1は、ADC24の正入力(+IN)とサンプル・ホールド回路240の正入力との間に接続されており、オンされたときにPGA画素情報をサンプル・ホールド回路240の正入力に与える。スイッチSW2は、ADC24の負入力(−IN)とサンプル・ホールド回路240の負入力との間に接続されており、オンされたときにリセットレベルであるVrefをサンプル・ホールド回路240の負入力に与える。
スイッチSW3は、増幅器246の正出力とサンプル・ホールド回路240の正入力およびサブADC248の正入力との間に接続される。スイッチSW4は、増幅器246の負出力とサンプル・ホールド回路240の負入力およびサブADC248の負入力との間に接続される。スイッチSW3,SW4は、オンされたときに増幅器246の出力をサンプル・ホールド回路240およびサブADC248へフィードバックさせる。
スイッチSW9は、サンプル・ホールド回路240の正出力およびサブADC248の正入力の間に接続される。スイッチSW10は、サンプル・ホールド回路240の負出力およびサブADC248の負入力の間に接続される。なお、スイッチSW9,SW10とスイッチSW3,SW4とは相補的にオン/オフされる。
以下に、ADC24の動作について説明する。
ADC24の正入力(+IN)には、PGA22から出力されるPGA画素情報を示す信号が入力される。このPGA画素情報を示す信号は、スイッチSW1を介してサンプル・ホールド回路240に入力される。ADC24の負入力(−IN)には、PGA22から出力されるリセットレベルであるVrefが入力される。このVrefは、スイッチSW2を介してサンプル・ホールド回路240に入力される。
ADC24の正入力(+IN)には、PGA22から出力されるPGA画素情報を示す信号が入力される。このPGA画素情報を示す信号は、スイッチSW1を介してサンプル・ホールド回路240に入力される。ADC24の負入力(−IN)には、PGA22から出力されるリセットレベルであるVrefが入力される。このVrefは、スイッチSW2を介してサンプル・ホールド回路240に入力される。
サンプル・ホールド回路240は、Vrefを参照電位としてサンプリングして保持するとともに、PGA画素情報を信号電位としてサンプリングして保持する。そして、サンプル・ホールド回路240は、CDS動作を行なうことにより、これらの電位の差分であるC1/C2・(黒レベル−信号レベル)を画素情報として保持する。画素情報は、差動信号の形式(差動信号の一方と他方との差がC1/C2・(黒レベル−信号レベル)の値を示す)として保持される。
サブADC248は、スイッチSW9,SW10を介してサンプル・ホールド回路240から差動信号の形式で出力される画素情報をAD変換してデジタル値をデータラッチ(図示せず)およびDAC250に出力する。このとき、スイッチSW3,SW4はオフしている。
DAC250は、サブADC248から出力されたデジタル値をアナログ値に変換する。減算器242,244は、サンプル・ホールド回路240に保持された画素情報とDAC250で変換されたアナログ値との差分をとって増幅器246に出力する。
増幅器246は、減算器242,244の出力を2倍の増幅率で増幅し、スイッチSW3,SW4を介してサンプル・ホールド回路240およびサブADC248へフィードバックする。サブADC248は、フィードバックされたアナログ値をデジタル値に変換してADC24の外部に出力するとともに、DAC250に与える。
サンプル・ホールド回路240は、フィードバックされたアナログ値をサンプリングして保持する。減算器242,244において、サンプル・ホールド回路240で保持されたアナログ値とDAC250で変換されたアナログ値との差分がとられ、この差分が増幅器246で増幅されてスイッチSW3,SW4を介してサブADC248およびサンプル・ホールド回路240へフィードバックされる。サブADC248は、フィードバックされたアナログ値をデジタル値に変換して出力する。
このように、ADC24においては、PGA22から出力されるVrefおよびPGA画素情報がサンプル・ホールド回路240によりサンプリングされて保持されるとともに、サブADC248によってデジタル値に変換される。そして、サブADC248により変換されたデジタル値がDAC250によりアナログ値に変換されると、減算器242,244によってサンプル・ホールド回路240に保持されている画素情報との差分がとられる。減算器242,244の出力は増幅器246により2倍の増幅率で増幅されてサンプル・ホールド回路240およびサブADC248へフィードバックされる。このようにして、再帰的にAD変換を行なうことができる。すなわち、ADC24は、巡回型のADCであって、上記のようなフィードバックによる循環処理を所定回数(たとえば、(A−1)回とする)を行なうことにより、合計A回のAD変換を経てデジタル値を得ている。
図4は、図3に示すPGA22およびADC24による画素情報の読出し動作を説明するためのタイミングチャートである。図4の横軸は時間の経過を示し、縦軸は垂直読出線12の電圧を示す。
図4を参照して、この読出し動作は、画素情報出力およびAD変換の2ステージによって構成され、i行の画素情報の読出し動作を示している。
まず、時刻t1において画素情報出力ステージが開始されると、画素PXにおいてフローティングディフュージョンFDがリセットされる。そして、この画素PXのリセットに併せて、PGA22のスイッチSW0がオン状態となり、可変コンデンサC2に蓄積される電荷が放出される。これにより、PGA22がリセットされる。
次に、時刻t2において、リセットトランジスタQ1がオフ状態となると、フローティングディフュージョンFD上の電位に応じた信号が垂直読出線12上に伝達され、画素PXの黒レベルの情報としてPGA22に入力される。PGA22は、この画素PXの黒レベルの情報をサンプリングして保持する。PGA22から出力されるリセットレベルであるVrefがADC24に入力されると、サンプル・ホールド回路240により参照電位としてサンプリングされて保持される(図中の期間「Sampling1」に相当)。
次に、時刻t3において、転送トランジスタQ2がオン状態となると、フォトダイオードPDにより光電変換されて蓄積された電荷が、フローティングディフュージョンFDへ伝達される。トランジスタQ3,Q4を介して、フローティングディフュージョンFDの電位を伝達することにより、垂直読出線12の電位が画素PXからの電荷に応じた電位に変化する。この垂直読出線12上の電位が、PGA22に画素PXの信号レベルの情報としてPGA22に入力される。PGA22は、CDS動作によって参照電位および信号電位を差動増幅することにより、PGA画素情報を出力する。PGA22から出力されたPGA画素情報は、ADC24に入力されると、サンプル・ホールド回路240によってサンプリングされて保持される。そして、サンプル・ホールド回路240は、CDS動作を行なうことにより、これらの差分信号を画素情報として保持する(図中の期間「Sampling2」に相当)。
画素PXの黒レベルの情報のサンプリング期間(Sampling1)と画素PXの信号レベルの情報のサンプリング期間(Sampling2)とを実施することによってi行の画素情報が取り出されると、次に、時刻t4において、AD変換ステージが開始される。このAD変換ステージにおいては、ADC24により画素情報がアナログ信号からデジタル値に変換される。具体的には、巡回型に構成されたADC24において、上述したフィードバックによる循環処理を所定回数((A−1)回)繰り返すことによって、アナログ信号をデジタル値に変換する。A回のAD変換処理によりADC24から順次出力されたデジタル値は出力回路30に転送され、出力回路30内の図示しない回路によって一時的に保持(ラッチ)され、所定の演算処理が行なわれた後、一つの画素PXに対応した画素データを生成して出力する。
以上のようにして、i行の画素情報の読出し動作が終了すると、次いで(i+1)行の画素情報の読出し動作が実施される。カラムADC20は、図4に示す画素情報出力ステージおよびAD変換ステージを実施することによって(i+1)行の画素情報を読出す。以上の動作を繰り返すことにより、列方向の画素情報が順次読出される。
しかしながら、上記のような手順に従って各行の画素情報の読出し動作を行なう場合、1行の画素情報をサンプリングして保持するとともに、その保持した画素情報をAD変換することによってデジタル値を得るまでには、画素情報出力ステージに要する期間(以下、「画素情報出力期間」と称す)およびAD変換ステージに要する期間(以下、「AD変換期間」と称す)の和に相当する期間を要することになる。
ここで、上記の2つの期間のうちの画素情報出力期間については、画素によって決まる一意的な期間であるため、短くすることが難しい。また、画素アレイ10が高画素化するのに従って、画素列に対応して設けられる垂直読出線の寄生容量が増大するとともに、フォトダイオードPDの有効面積が縮小されることによって光電変換により生じる電荷が減少してしまうことによって、画素情報出力期間はさらに長期化される傾向にある。
一方、高画素化に伴なったカラムADC20の占有面積および消費電流の低減化、素子のばらつき(素子の均一性;素子のマッチング、素子のミスマッチとも称される)、プロセスばらつきの補償といった設計上の制約があることから、AD変換期間を短縮することは困難である。
このように、1行の画素情報を読出すためには、画素情報出力ステージとAD変換ステージとを順次実施する必要がある上に、それぞれのステージの実施には一定期間が必要とされるため、画素情報の読出し速度を向上することが困難である。このため、高速連写や高画素化に伴なって要求される全画素の読出し速度(フレームレート)の向上を実現できないという課題があった。
このような不具合を回避するため、本発明の実施の形態に係るカラムADCは、i行の画素情報のAD変換ステージの少なくとも一部と、(i+1)行の画素情報出力ステージとを並行して実施する。これにより、1行の画素情報の読出し動作に要する期間を短縮して、高フレームレートを実現する。
(第1の実施の形態)
図5は、本発明の第1の実施の形態に係るカラムADCの構成例を示す図である。
図5は、本発明の第1の実施の形態に係るカラムADCの構成例を示す図である。
図5を参照して、本発明の第1の実施の形態に係るカラムADC20Aは、図3に示すカラムADC20の構成例と比較して、1つのPGAに対して、縦列接続された2つのADCが設けられている点で異なっている。
PGA22は、図3のものと同様の構成からなるプログラマブルゲインアンプである。前段の第1ADC(ADC1)24_1は、図3におけるADC24と同様の構成からなる巡回型のADCである。後段の第2ADC(ADC2)24_2は、スイッチSW9,SW10が設けられない点を除いて図3におけるADC24と同様の構成からなる巡回型のADCである。第1ADC24_1における増幅器246の差動出力が第2ADC24_2の正入力(+IN)および負入力(−IN)にそれぞれ接続される。
以下に、第1ADC24_1および第2ADC24_2の動作について説明する。なお、以下の説明では、第1ADC24_1においてB回(Bは自然数)AD変換が行なわれ、第2ADC24_2においてC回(Cは自然数であり、たとえばBよりも大きい)AD変換が行なわれることにより、合計A回(B+C=A)のAD変換が行なわれる場合を想定する。
第1ADC24_1においては次の動作が行なわれる。
(1)第1ADC24_1の正入力(+IN)には、PGA22から出力される画素PXの信号レベルに応じたPGA画素情報(C1/C2・(黒レベル−白レベル)+Vref))が入力される。PGA画素情報は、スイッチSW1を介してサンプル・ホールド回路240に入力される。第1ADC24_1の負入力(−IN)には、PGA22から出力されるリセットレベル(Vref)が入力される。このVrefは、スイッチSW2を介してサンプル・ホールド回路240に入力される。
(1)第1ADC24_1の正入力(+IN)には、PGA22から出力される画素PXの信号レベルに応じたPGA画素情報(C1/C2・(黒レベル−白レベル)+Vref))が入力される。PGA画素情報は、スイッチSW1を介してサンプル・ホールド回路240に入力される。第1ADC24_1の負入力(−IN)には、PGA22から出力されるリセットレベル(Vref)が入力される。このVrefは、スイッチSW2を介してサンプル・ホールド回路240に入力される。
サンプル・ホールド回路240は、リセットレベルを参照電位としてサンプリングして保持するとともに、PGA画素情報をサンプリングして保持する。そして、サンプル・ホールド回路240は、CDS動作を行なうことにより、これらの差分(C1/C2・(黒レベル−信号レベル))を差動信号の形式で画素情報として保持する。
(2)サブADC248は、スイッチSW9,SW10を介してサンプル・ホールド回路240から出力される画素情報をAD変換してデジタル値を第1ADC24_1の外部へ出力するとともに、DAC250にも出力する。このサブADC248から出力されるデジタル値が第1ADC24_1の1回目のAD変換により得られるAD変換値である。このとき、スイッチSW1〜SW4はオフ状態である。
(3)DAC250は、サブADC248から出力されたデジタル値をアナログ値に変換する。減算器242,244は、サンプル・ホールド回路240に保持された画素情報と、DAC250で変換されたアナログ値(1回目のAD変換処理によるデジタル値をDA変換したもの)との差分をとって増幅器246に出力する。増幅器246は、減算器242,244から出力された信号(差分を示す)を2倍の増幅率で増幅する。
(4)増幅器246で増幅された信号は、スイッチSW3,SW4を介してサンプル・ホールド回路240およびサブADC248へフィードバックされる。サブADC248は、フィードバックされたアナログ値をデジタル値に変換して第1ADC24_1の外部に出力するとともに、DAC250にも出力する。このサブADC248から出力されるデジタル値が第1ADC24_1の2回目のAD変換により得られるAD変換値である。また、サンプル・ホールド回路240は、フィードバックされたアナログ値をサンプリングして保持する。このときスイッチSW1,SW2,SW9,SW10はオフ状態である。
これ以降、上記(3),(4)は(B−2)回繰返される。以上により、第1ADC24_1によるB回のAD変換は、上記(2)の処理を1回、上記(3),(4)のフィードバックによる循環処理を(B−1)回行なうことによって実現される。このB回のAD変換により第1ADC24_1は、画素情報のアナログ値をデジタル値へ変換して出力する。このデジタル値は、カラムADC20が出力するデジタル値のうちの上位ビットの値となる。
なお、B=1のときには上記(3),(4)の処理は不要である。また、B=1のとき、増幅器246からスイッチSW3,SW4を介してサンプル・ホールド回路240およびサブADC248へのフィードバックする構成を不要としてもよい。
(5)さらに(B−1)回目の上記(4)の処理が行なわれた後に、上記(3)の処理が行なわれる。B回目の循環処理により得られるデジタル値がDAC250でDA変換され、減算器242,244においてサンプル・ホールド回路240で保持されたアナログ値との差分が得られる。この差分を示す信号が増幅器246で増幅されて差動信号として出力される。その後、上記(4)の処理を行なってもよいが、(B+1)回目のサブADC248におけるAD変換結果は無効とされる。第2ADC24_2における1回目のサブADC248におけるAD変換結果と同じとなるからである。なお、第1ADC24_1内のサブADC248から出力されるデジタル値を無効とするのに代えて、第1ADC24_1内のスイッチSW3,SW4をオフ状態とすることにより、増幅器246からの出力信号をフィードバックさせないように構成してもよい。
第2ADC24_2においては、次の動作が行なわれる。
(6)第1ADC24_1が1回目から(B−1)回目の循環処理を行なう間、第2ADC24_2のスイッチSW1,SW2はオフ状態となっている。第1ADC24_1がB回目の循環処理を行なっている間の所定のタイミングでスイッチSW1,SW2がオフ状態からオン状態に切替えられる。これにより、上記(5)において第1ADC24_1の増幅器246から出力される差動信号差分(差動信号)が第1ADC24_1の出力として、第2ADC24_2の正入力(+IN)および負入力(−IN)を経由してサンプル・ホールド回路240およびサブADC248に入力される。
(6)第1ADC24_1が1回目から(B−1)回目の循環処理を行なう間、第2ADC24_2のスイッチSW1,SW2はオフ状態となっている。第1ADC24_1がB回目の循環処理を行なっている間の所定のタイミングでスイッチSW1,SW2がオフ状態からオン状態に切替えられる。これにより、上記(5)において第1ADC24_1の増幅器246から出力される差動信号差分(差動信号)が第1ADC24_1の出力として、第2ADC24_2の正入力(+IN)および負入力(−IN)を経由してサンプル・ホールド回路240およびサブADC248に入力される。
(7)第2ADC24_2において、サブADC248は、その入力されたアナログ信号をAD変換してデジタル値を第2ADC24_2の外部に出力するとともに、DAC250へ出力する。このサブADC248から出力されるデジタル値が第2ADC24_2の1回目のAD変換により得られるAD変換値である。このとき、スイッチSW1〜SW4はオフ状態である。
(8)DAC250は、サブADC248から出力されたデジタル値をアナログ値に変換する。減算器242,244は、サンプル・ホールド回路240に保持されたアナログ値と、DAC250で変換されたアナログ値との差分をとって増幅器246に出力する。増幅器246は、減算器242,244から出力された信号(差分を示す)を2倍の増幅率で増幅する。
(9)増幅器246で増幅された信号は、スイッチSW3,SW4を介してサンプル・ホールド回路240およびサブADC248へフィードバックする。サブADC248は、フィードバックされたアナログ値をデジタル値に変換して第2ADC24_2の外部に出力すろとともに、DAC250に出力する。このサブADC248から出力されるデジタル値が第2ADC24_2の2回目のAD変換により得られるAD変換値である。また、サンプル・ホールド回路240は、フィードバックされたアナログ値をサンプリングして保持する。このとき、スイッチSW1,SW2,SW9,SW10はオフ状態である。
これ以降、上記の(8),(9)は(C−2)回繰返される。
以上により、第2ADC24_2によるC回のAD変換は、上記(7)の処理を1回、上記(8),(9)のフィードバックによる循環処理を(C−1)回行なうことによって実現される。この合計C回のAD変換により第2ADC24_2は、画素情報のアナログ値をデジタル値へ変換して出力する。このデジタル値は、カラムADC20が出力するデジタル値のうちの下位ビットの値となる。該デジタル値のうちの下位ビットは第2ADC24_2が生成する。そして、第1ADC24_1から出力される上位ビットと、第2ADC24_2から出力される下位ビットとは、出力回路30に転送されると、出力回路30内の図示しない回路によって一時的に保持(ラッチ)され、所定の演算(上位ビットと下位ビットとを結合するための加算演算、または変換結果のエラー補正を行なうための補正演算(冗長ビット付きのデジタル値であれば冗長ビットを用いた補正処理)が行なわれる。出力回路30は、この所定の演算によって一つの画素PXに対応した画素データを生成して出力する。
以上により、第2ADC24_2によるC回のAD変換は、上記(7)の処理を1回、上記(8),(9)のフィードバックによる循環処理を(C−1)回行なうことによって実現される。この合計C回のAD変換により第2ADC24_2は、画素情報のアナログ値をデジタル値へ変換して出力する。このデジタル値は、カラムADC20が出力するデジタル値のうちの下位ビットの値となる。該デジタル値のうちの下位ビットは第2ADC24_2が生成する。そして、第1ADC24_1から出力される上位ビットと、第2ADC24_2から出力される下位ビットとは、出力回路30に転送されると、出力回路30内の図示しない回路によって一時的に保持(ラッチ)され、所定の演算(上位ビットと下位ビットとを結合するための加算演算、または変換結果のエラー補正を行なうための補正演算(冗長ビット付きのデジタル値であれば冗長ビットを用いた補正処理)が行なわれる。出力回路30は、この所定の演算によって一つの画素PXに対応した画素データを生成して出力する。
以上に説明したように、本実施の形態1におけるカラムADCによれば、縦列接続された2つの巡回型のADCのうちの前段の第1ADC24_1が、AD変換ステージにおいてB回AD変換を行なうことによって画素情報の上位ビットを決定し、後段の第2ADC24_2がC回AD変換を行なうことによってAD変換ステージにおいて画素情報の下位ビットを決定する。
図6は、図5に示すカラムADCによる画素情報の読出し動作を説明するためのタイミングチャートである。図6の横軸は時間の経過を示し、縦軸は垂直読出線12の電圧を示す。
図6を参照して、この読出し動作は、画素情報出力およびAD変換の2ステージによって構成され、i行の画素情報の読出し動作を示している。
まず、時刻t1において画素情報出力ステージが開始されると、画素PXにおいて、フローティングディフュージョンFDがリセットされる。そして、この画素PXのリセットに併せて、PGA22のスイッチSW0がオン状態となり、可変コンデンサC2に蓄積される電荷が放出される。すなわち、PGA22がリセットされる。
次に、時刻t2において、リセットトランジスタQ1がオフ状態となると、フローティングディフュージョンFD上の電位に応じた信号が垂直読出線12上に伝達され、画素PXの黒レベルの情報としてPGA22に入力される。PGA22は、この画素PXの黒レベルの情報をサンプリングして保持する。PGA22から出力されるリセットレベル(Vref)は第1ADC24_1に入力されると、サンプル・ホールド回路240により参照電位としてサンプリングされて保持される(図中の期間「Sampling1」に相当)。
次に、時刻t3において、転送トランジスタQ2がオン状態となると、フォトダイオードPDにより光電変換されて蓄積された電荷が、フローティングディフュージョンFDへ伝達される。トランジスタQ3,Q4を介して、フローティングディフュージョンFDの電位を伝達することにより、垂直読出線12の電位が画素PXからの電荷に応じた電位に変化する。この垂直読出線12上の電位が、PGA22に画素PXの信号レベルの情報としてPGA22に入力される。PGA22は、CDS動作によってPGA画素情報を出力する。PGA22から出力されたPGA画素情報は、第1ADC24_1に入力されると、サンプル・ホールド回路240によってサンプリングされ、保持される。そして、サンプル・ホールド回路240は、CDS動作を行なうことにより、これらの差分信号を画素情報として保持する(図中の期間「Sampling2」に相当)。
画素PXの黒レベルの情報のサンプリング期間(Sampling1)と画素PXの信号レベルの情報のサンプリング期間(Sampling2)とを実施することによってi行の画素情報が読出されると、次に、時刻t4において、i行の画素情報のAD変換ステージが開始される。このAD変換ステージにおいては、上述したB回のAD変換によって第1ADC24_1により画素情報の上位ビットが決定される。第1ADC24_1は、時刻t7において、i行の画素情報のAD変換ステージを終了する。第1ADC24_1においては、AD変換期間(時刻t4〜t7)は信号レベルサンプリング期間(t31〜t4)よりも短いものとする。
第1ADC24_1は、i行の画素情報のAD変換ステージを終了する前の時刻t6において、上記(5)の処理において増幅器246から出力されるアナログ信号を第2ADC24_2に与える。第2ADC24_2内では、サンプル・ホールド回路240により入力アナログ信号がサンプリングされて保持される。次いで、時刻t7において、第2ADC24_2は、i行の画素情報のAD変換ステージを開始する。このAD変換ステージにおいては、上述したC回のAD変換によって第2ADC24_2により画素情報の下位ビットが決定される。第2ADC24_2は、時刻t11において、i行の画素情報のAD変換ステージを終了する。
このとき、第1ADC24_1においては、第2ADC24_2がi行の画素情報のAD変換ステージを実施するのと並行して、(i+1)行の画素情報出力ステージを実施する。具体的には、時刻t6において、第1ADC24_1は、画素PXのリセットに併せてPGA20をリセットすると、次いで時刻t7において、PGA22による画素PXの黒レベルの情報のサンプリングを開始する。時刻t6から時刻t8までの期間(図中の期間「Sampling1」に相当)において、PGA22から出力されるリセットレベル(Vref)は第1ADC24_1に入力されると、サンプル・ホールド回路240により参照電位としてサンプリングされて保持される。
次に、時刻t9において、垂直読出線12上の電位が、PGA22に画素PXの信号レベルの情報としてPGA22に入力されると、PGA22は、CDS動作によってPGA画素情報を出力する。PGA22から出力されたPGA画素情報は、第1ADC24_1に入力されると、サンプル・ホールド回路240によってサンプリングされ、保持される。そして、サンプル・ホールド回路240は、CDS動作を行なうことにより、これらの差分信号を画素情報として保持する(図中の期間「Sampling2」に相当)。
画素PXの黒レベルの情報のサンプリング期間(Sampling1)と画素PXの信号レベルの情報のサンプリング期間(Sampling2)とを実施することによって(i+1)行の画素情報が読出されると、次に、時刻t10において、(i+1)行の画素情報のAD変換ステージが開始される。このAD変換ステージにおいては、上述したように、第1ADC24_1が上述したB回のAD変換を行なうことによって、デジタル値の上位ビットが確定する。第1ADC24_1は、時刻t11において、(i+1)行の画素情報のAD変換ステージを終了する。この時刻t11以降においては、第2ADC24_2において、(i+1)行の画素情報のAD変換ステージが実施される。第1ADC24_1においては、AD変換期間(時刻t9〜t10)は信号レベルサンプリング期間(t10〜t12)よりも短いものとする。
このように、本発明の実施の形態1に係るカラムADCによれば、第2ADC24_2がi行の画素情報のAD変換ステージを実施するのと並行して、第1ADC24_1が(i+1)行の画素情報出力ステージを実施する。巡回型のADCは、多段パイプライン型のADCと比較して、構成する素子数が少ないため回路面積を抑えられるという利点がある一方で、AD変換の処理速度を上げることが難しいという問題があった。しかしながら、本発明の実施の形態においては、この巡回型のADCを縦列接続することによって、i行の画素情報のAD変換期間と(i+1)行の画素情報出力期間とを重ね合わせる、特に一画素のAD変換処理の一部(第2ADC24_2によるAD変換)を、黒レベルのサンプリング期間よりも長い時間を要する別の一画素の信号レベルサンプリング期間と並列に実行することにより、実質的に、画素情報の読出し期間を短縮することができる。この結果、画素情報の読出し速度を向上できる。よって、本発明の実施の形態に係る固体撮像装置においては、読出し速度の向上による高フレームレートの実現によって、1秒間あたりに連写できる画像の枚数を増やすこと、あるいはフレームレートを低下させずに高画素化することが可能となる。
なお、2つの巡回型のADCをPGAに対して並列に設け、これら2つのADCによってインターリーブ方式でAD変換を行なうことによっても、画素情報の読出し速度を上げることができる。しかしながら、このような構成においては、並列に配された2つの巡回型ADCのAD変換特性が、素子ばらつき等に起因して完全に一致することがない。このため、2つの巡回型ADCの差が許容範囲内に収まるように、個々のADCについてAD変換結果を補正する必要が生じてしまう。
これに対して、本発明の実施の形態のように巡回型ADCを縦列接続する構成においては、デジタル値の上位ビットおよび下位ビットはそれぞれ単一の巡回型ADCによって決定されるため、AD変換結果の補正は変換特性の改善を行なうような単純な補正でよい。また、インターリーブ方式では、2つの巡回型ADCの各々が所望の精度を有するように設計する必要があるのに対して、2つの巡回型ADCを縦列接続した構成では、後段の第2ADCには、少なくとも2倍の増幅率で増幅された信号が入力されるため、ノイズおよび素子ばらつき等について要求される精度が緩和される。その結果、後段の第2ADCに必要な容量素子を小さくすることができるため、カラムADCの回路面積の縮小および消費電力の低減を実現できる。
なお、PGAと巡回型ADCとの間に、CDS動作によって信号をサンプリングして保持するサンプル・ホールド回路240を挿入することによっても、画素情報の読出し速度を上げることができる。この場合、サンプル・ホールド回路内で発生する熱雑音やフリッカー雑音等がノイズとして加わることにより、システムとしてのノイズ特性を劣化させるおそれがある。一方、本発明の実施の形態においては、巡回型ADC内では、比較ごとに信号レベルが2倍に増幅されるため、これまでの構成例と遜色のないレベルに雑音を抑えることができる。よって、サンプル・ホールド回路を挿入するよりも画素情報の読出し速度の向上に有効である。
(第2の実施の形態)
図7は、本発明の第2の実施の形態に係るカラムADCの構成例を示す図である。
図7は、本発明の第2の実施の形態に係るカラムADCの構成例を示す図である。
図7を参照して、本発明の第2の実施の形態に係るカラムADC20Bは、1つのPGA22に対して、縦列接続された2つのADCが設けられている。前段の第1ADC(ADC1)24_11および後段の第2ADC(ADC2)24_12はいずれも、巡回型のADCである。
このカラムADC20Bは、図5に示す第1の実施の形態に係るカラムADC20Aと比較して、ADC内のサブADC248を、2つのADCで共用している点で異なっている。
カラムADC20Bは、PGA22と、第1ADC(ADC1)24_11と、第2ADC(ADC2)24−12と、サブADCユニット25とを備える。
第1ADC24_11および第2ADC24_12はそれぞれ、スイッチSW1〜SW4と、サンプル・ホールド回路240と、減算器242,244と、増幅器246と、DAC250とを含んでいる。なお、これらの回路は、図5に示す第1ADC24_1および第2ADC24_2に含まれる回路とそれぞれ、同じである。
サブADCユニット25は、サブADC248と、サブADC248の出力を第1ADC24_11および第2ADC24_2のいずれか一方のDAC250と択一的に接続するためのスイッチSW5,SW6とを含む。
サブADCユニット25は、さらに、サブADC248の正入力を、第1ADC24_11内のサンプル・ホールド回路240の正入力、負入力および第2ADC24_12内のサンプル・ホールド回路240の正入力のいずれか1つと択一的に接続するためのスイッチSW7と、サブADC248の負入力を、第1ADC24_11内のサンプル・ホールド回路240の正入力、負入力および第2ADC24_12内のサンプル・ホールド回路240の負入力のいずれか1つと択一的に接続するためのスイッチSW8とを含む。
図7に示す構成において、第1ADC24_11がAD変換ステージを実施している期間においては、サブADCユニット25内のスイッチSW5〜SW8は、サブADC248が第1ADC24_11に帰属するように切換えられる。具体的には、スイッチSW5がオンされる一方で、スイッチSW6がオフされる。スイッチSW7,SW8は、サブADC248が第1ADC24_11の1回目のAD変換を行なうとき(上記(2)の処理に相当)には、サンプル・ホールド回路240の出力とサブADC248の入力とを接続する。そして、サブADC248が第1ADC24_1の2回目以降のAD変換を行なうとき(上記(3),(4)の処理に相当)には、サンプル・ホールド回路240の入力とサブADC248の入力とを接続する。
一方、第2ADC24_12がAD変換ステージを実施している期間においては、サブADCユニット25内のスイッチSW5〜SW8は、サブADC248が第2ADC24_12に帰属するように切換えられる。具体的には、スイッチSW5がオフされる一方で、スイッチSW6がオンされる。また、スイッチSW7,SW8は、サブADC248の正入力および負入力と第2ADC24_12内のサンプル・ホールド回路240の正入力および負入力とをそれぞれ接続する。このように2つのADCの間でサブADCを共用する構成とすることにより、2つの巡回型のADCを縦列接続したことによってカラムADCの回路面積が増大してしまうという不具合を軽減している。また、巡回型ADCごとにサブADCを設ける構成と比較して、カラムADC全体の消費電力を低減することができる。
図8は、図7に示すカラムADCによる画素情報の読出し動作を説明するためのタイミングチャートである。図8の横軸は時間の経過を示し、縦軸は垂直読出線12の電圧を示す。
図8を参照して、この読出し動作は、画素情報出力およびAD変換の2ステージによって構成され、i行の画素情報の読出し動作を示している。本発明の実施の形態2に従う画素情報の読出し動作は、図6に示した画素情報の読出し動作と比較して、第2ADC24_12におけるADC変換ステージが、第1ADC24_11におけるADC変換ステージが開始されるまでに終了している点が異なっている。
具体的には、第1ADC24_11が(i+1)行の画素情報出力ステージを実施している期間(図中の時刻t7から時刻t10までの期間)において、第2ADC24_12がi行の画素情報のAD変換ステージを並行して実施している。このとき、サブADCユニット25内のサブADC248は、スイッチSW5〜SW8によって第2ADC24_12に接続されている。
そして、時刻t10において、第1ADC24_11が(i+1)行の画素情報のAD変換ステージを開始すると、サブADC248は、スイッチSW5〜SW8によって、第2ADC24_12に接続された状態から第1ADC24_11に接続された状態に切換えられる。したがって、第2ADC24_12におけるAD変換ステージは、この時刻t10以前に終了させておく必要がある。
なお、第1ADC24_11におけるi行の画素情報のAD変換ステージにおいて、AD変換の回数を「1回」(すなわち、B=1)とした場合には、第2ADC24_12においては、i行の画素情報のAD変換ステージにおいて、AD変換の回数Cは(A−1)となる。この場合、画素読出し期間を最も短くすることができるため、画素情報の読出し速度をさらに向上することができる。
(変更例)
上述した第1および第2の実施の形態に係るカラムADCによれば、2つの巡回型ADCを縦列接続して構成することにより、前段のADCにおける画素情報出力ステージと後段のADCにおける画素情報のAD変換ステージとを並行して実施することができる。
上述した第1および第2の実施の形態に係るカラムADCによれば、2つの巡回型ADCを縦列接続して構成することにより、前段のADCにおける画素情報出力ステージと後段のADCにおける画素情報のAD変換ステージとを並行して実施することができる。
ここで、第1および第2の実施の形態の変更例として、前段の巡回型ADCで使用するクロック周波数と、後段の巡回型ADCで使用するクロック周波数とを、異なる周波数に設定する。
具体的には、第1の実施の形態に係るカラムADCに本変更例を適用する場合、図6を参照して、第1ADC24_1における画素情報出力期間およびAD変換期間の和に相当する期間を、第2ADC24_2におけるAD変換期間に割り当てるように、第1ADC24_1および第2ADC24_2の各々が使用するクロック周波数を調整する。これにより、各ADCを効率良く動作させることができるため、カラムADCの占有面積および消費電力を効果的に削減することができる。第1ADC24_1および第2ADC24_2のそれぞれの特性に応じて、第1ADC24_1のクロック信号の周波数を第2ADC24_2のクロック信号の周波数よりも大きくする場合もあれば、それとは逆に小さくする場合もある。
また、第2の実施の形態に係るカラムADCに本変更例を適用する場合には、図8を参照して、第1ADC24_11における画素情報出力期間に相当する期間を、第2ADC24_12におけるAD変換期間に割り当てるように、第1ADC24_11および第2ADC24_12の各々が使用するクロック周波数を調整する。
なお、この場合、上記の第1の実施の形態に適用した場合と比較して、第2ADCにおけるAD変換期間が短くはなるものの、セトリング等に要する時間を長くすることができるため、第2ADCでの消費電流を抑えることができる。したがって、カラムADCの占有面積および消費電力の削減に有効となる。
今回開示された実施の形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
10 画素アレイ、12 垂直読出線、20,20A,20B カラムADC、22 PGA、24 ADC、24_1,24_11 第1ADC、24_2,24_12 第2ADC、25 サブADCユニット、30 出力回路、40 行選択回路、220 差動増幅器、240 サンプル・ホールド回路、242,244 減算器、246 増幅器、248 サブADC、C1 コンデンサ、C2 可変コンデンサ、PX 画素、SW0〜SW10 スイッチ。
Claims (9)
- 入力アナログ信号をデジタル値に変換するための半導体装置であって、
縦列接続された複数段の変換ユニットを備え、
第1段の変換ユニットは、
信号線を介して入力される第1のアナログ信号に基づき参照電位をサンプリングして保持するとともに、前記信号線を介して入力される第2のアナログ信号に基づき信号電位をサンプリングして保持し、かつ、保持された前記参照電位と前記信号電位との差分を示す信号を出力するサンプル・ホールド手段と、
前記サンプル・ホールド手段から出力される信号に応じて前記デジタル値の中の上位ビットを生成する第1の生成手段とを含み、
前記サンプル・ホールド手段は、前記第1の生成手段によって前記上位ビットが生成されると、前記信号線を介して入力される第3のアナログ信号に基づき参照電位をサンプリングして保持するとともに、前記信号線を介して入力される第4のアナログ信号に基づき信号電位をサンプリングして保持し、
第2段の変換ユニットは、前記サンプル・ホールド手段と並行して動作して、前記第1の生成手段によって生成された上位ビットに応じて前記デジタル値の中の下位ビットを生成する第2の生成手段を含む、半導体装置。 - 前記第1の生成手段は、
前記サンプル・ホールド手段から出力される信号をデジタル値に変換する第1のAD変換回路と、
前記第1のAD変換回路の出力をアナログ信号に変換する第1のDA変換回路と、
前記第1のDA変換回路の出力と前記サンプル・ホールド手段から出力される信号との差分をとる第1の減算器と、
前記第1の減算器の出力を増幅する第1の増幅回路と、
前記第1の増幅回路の出力を前記第1のAD変換回路の入力にフィードバックする回路とを含み、
前記第2の生成手段は、
前記第1の生成手段における前記第1の増幅回路の出力をデジタル値に変換する第2のAD変換回路と、
前記第2のAD変換回路の出力をアナログ信号に変換する第2のDA変換回路と、
前記第2のDA変換回路の出力と前記第1の増幅回路の出力との差分をとる第2の減算器と、
前記第2の減算器の出力を増幅する第2の増幅回路と、
前記第2の増幅回路の出力を前記第2のAD変換回路の入力にフィードバックする回路とを含む、請求項1に記載の半導体装置。 - 前記第1段の変換ユニットは、第1の周波数のクロック信号で動作し、
前記第2段の変換ユニットは、前記第1の周波数とは異なる第2の周波数のクロック信号で動作し、
前記サンプル・ホールド手段および前記第1の生成手段が動作する期間と、前記第2の生成手段が動作する期間とは重なり合う、請求項1に記載の半導体装置。 - 前記第1のAD変換回路と前記第2のAD変換回路とは、前記第1段の変換ユニットおよび前記第2段の変換ユニットに共通のAD変換回路を用いて構成され、
前記共通のAD変換回路が前記第1の生成手段に接続された状態および前記共通のAD変換回路が前記第2の生成手段に接続された状態のいずれかの状態に切換えるための切換手段をさらに備える、請求項2に記載の半導体装置。 - 前記第1段の変換ユニットは、第1の周波数のクロック信号で動作し、
前記第2段の変換ユニットは、前記第1の周波数とは異なる第2の周波数のクロック信号で動作し、
前記サンプル・ホールド手段が動作する期間と、前記第2の生成手段が動作する期間とは重なり合う、請求項4に記載の半導体装置。 - 光信号を電気信号に変換する光電変換素子を含む画素が複数行列状に配置され、各画素を行ごとに順次動作しながら選択行の各画素の信号を列ごとに配線された複数の垂直読出線を介して出力する撮像手段と、
前記垂直読出線を介して出力された画素の信号をアナログ信号からデジタル値に変換する変換手段とを備え、
前記変換手段は、縦列接続された複数段の変換ユニットを含み、
第1段の変換ユニットは、
前記垂直読出線を介して出力された画素の信号に基づき信号電位をサンプリングして保持するサンプル・ホールド手段と、
前記サンプル・ホールド手段によって保持される画素信号に応じて前記デジタル値の中の上位ビットを生成する第1の生成手段とを含み、
前記サンプル・ホールド手段は、前記第1の生成手段によって上位ビットが生成されると、前記垂直読出線を介して出力された別の画素の信号に基づき信号電位のサンプリングを開始し、
第2段の変換ユニットは、前記サンプル・ホールド手段が前記別の画素の信号に基づく信号電位をサンプリングして保持するのと並行して、前記第1の生成手段によって生成された前記上位ビットに応じて前記デジタル値の中の下位ビットを生成する第2の生成手段を含む、固体撮像装置。 - 前記サンプル・ホールド手段は、前記垂直読出線を介して出力された、非照射時における画素信号を参照電位として保持するとともに、前記垂直読出線を介して出力された、照射時における画素信号を信号電位として保持し、かつ、保持された前記参照電位と前記信号電位との差分を出力し、
前記第1の生成手段は、前記サンプル・ホールド手段から出力される信号に応じて、前記デジタル値の中の上位ビットを生成する、請求項6に記載の固体撮像装置。 - 前記第1の生成手段は、
前記サンプル・ホールド手段から出力される信号をデジタル値に変換する第1のAD変換回路と、
前記第1のAD変換回路の出力をアナログ信号に変換する第1のDA変換回路と、
前記第1のDA変換回路の出力と前記サンプル・ホールド手段から出力される信号との差分をとる第1の減算器と、
前記第1の減算器の出力を増幅する第1の増幅回路と、
前記第1の増幅回路の出力を前記第1のAD変換回路の入力にフィードバックする回路とを含み、
前記第2の生成手段は、
前記第1の生成手段における前記第1の増幅回路の出力をデジタル値に変換する第2のAD変換回路と、
前記第2のAD変換回路の出力をアナログ信号に変換する第2のDA変換回路と、
前記第2のDA変換回路の出力と前記第1の増幅回路の出力との差分をとる第2の減算器と、
前記第2の減算器の出力を増幅する第2の増幅回路と、
前記第2の増幅回路の出力を前記第2のAD変換回路の入力にフィードバックする回路とを含む、請求項7に記載の固体撮像装置。 - 前記変換手段は、行列状に配置された画素の各列に対して1つ設けられる、請求項6に記載の固体撮像装置。
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JP2015171046A (ja) * | 2014-03-07 | 2015-09-28 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Ad変換装置及びad変換方法 |
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