JP2012112041A - Vacuum component and method for producing vacuum component - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a vacuum component capable of accomplishing both improvement of emissivity and suppression of an exhaust gas, and a method for producing the vacuum component.SOLUTION: The vacuum component includes a base material 1 and a radiation layer 2. The base material 1 has a metallic surface 1a subjected to a blasting treatment and then to an etching treatment. The radiation layer 2 is laminated on the metallic surface 1a and consists of AlTiN. According to this construction, the metallic surface 1a of the base material 1 is in such a state that the fixing of blast particles B caused by a blasting treatment and the complication of the surface are reduced by the etching treatment. Thus, a discharged gas due to fixing of the blast particles B and the complication of the surface is restrained. Additionally, by roughening the metallic surface 1a with a blasting treatment and an etching treatment, a radiation ratio is improved in comparison with a case of laminating a radiation layer on a smooth metallic surface.

Description

本発明は、真空環境内における輻射冷却の促進のための真空部品及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a vacuum component for promoting radiation cooling in a vacuum environment and a manufacturing method thereof.

真空槽内に搬送ロボット等の発熱源が配置されることは多いが、その放熱は大気中に比べて問題となる。真空環境中では空気等の気体分子が存在せず、あるいは少ないため、気体の対流及び気体への熱伝導による放熱が小さいためである。このため、真空環境中における発熱源の放熱は、電磁波による熱の移送である輻射（熱放射）が大きな割合を占める。しかしながら、輻射は、放熱面と受熱面の表面性状に大きく影響を受ける。   In many cases, a heat source such as a transfer robot is arranged in the vacuum chamber, but the heat radiation becomes a problem as compared with the atmosphere. This is because gas molecules such as air do not exist or are small in a vacuum environment, and thus heat radiation due to gas convection and heat conduction to the gas is small. For this reason, radiation (heat radiation), which is heat transfer by electromagnetic waves, occupies a large proportion of heat radiation from the heat source in a vacuum environment. However, radiation is greatly affected by the surface properties of the heat radiating surface and the heat receiving surface.

特に、真空槽の内壁は、吸着ガスの放出を抑える目的で電解研磨、化学研磨等の研磨処理が施されている場合が多く、このような場合には輻射の反射率が高いために放熱が制限される。このため、発熱源に輻射を促進するための冷却面を設けることが行われている。例えば、特許文献１には、ガラスビーズ等を吹きつけ、表面粗度を上昇させることにより輻射率を向上させる方法が記載されている。また、特許文献２には、表面をＡｌＴｉＮによりコーティングすることで黒化して輻射率を向上させる方法が記載されている。さらに、特許文献３には、ブラスト処理を施した金属表面に、ＡｌＴｉＮ膜を成膜する方法が記載されている。   In particular, the inner wall of the vacuum chamber is often subjected to a polishing process such as electrolytic polishing or chemical polishing in order to suppress the release of adsorbed gas. In such a case, heat radiation is dissipated due to the high reflectance of radiation. Limited. For this reason, a cooling surface for promoting radiation is provided in the heat generation source. For example, Patent Document 1 describes a method of improving the radiation rate by blowing glass beads or the like and increasing the surface roughness. Patent Document 2 describes a method of improving the radiation rate by blackening the surface by coating with AlTiN. Further, Patent Document 3 describes a method of forming an AlTiN film on a blasted metal surface.

ＷＯ ２００６／０６２１８３（段落[００５９]）WO 2006/062183 (paragraph [0059]) 特開平１１−２５７７８５１号公報（段落[００１４]）JP 11-2577851 A (paragraph [0014]) 特開２０００−３５３４８４（段落［００２８］、［００３１］）JP 2000-353484 (paragraphs [0028], [0031])

しかしながら、特許文献１に記載の方法では、輻射率は向上する一方で表面粗度の上昇により放出ガスが増大すると考えられる。このため、高真空や高純度雰囲気が求められるプロセスへの適用は困難である。また、特許文献２に記載の方法では、輻射率は向上するものの不十分である。ここで、特許文献３に記載のように、ブラスト処理を施した金属表面にＡｌＴｉＮを成膜すれば、放出ガスの抑制と輻射率の向上を図れるように考えられた。しかしながら、実際には、放出ガスは抑制できないことが判明している。これは、ブラスト処理により、金属表面へのブラスト粒子の嵌入や金属表面の汚染が発生しているためと考えられる。   However, in the method described in Patent Document 1, it is considered that the emitted gas increases due to the increase in surface roughness while the emissivity is improved. For this reason, it is difficult to apply to a process that requires a high vacuum or a high purity atmosphere. Moreover, although the emissivity is improved by the method described in Patent Document 2, it is insufficient. Here, as described in Patent Document 3, it was considered that if an AlTiN film is formed on a blasted metal surface, emission gas can be suppressed and radiation rate can be improved. In practice, however, it has been found that the emitted gas cannot be suppressed. This is presumably because the blasting process causes the insertion of blast particles on the metal surface and the contamination of the metal surface.

以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、輻射率の向上と放出ガスの抑制を共に達成することが可能な真空部品及びその製造方法を提供することにある。   In view of the circumstances as described above, an object of the present invention is to provide a vacuum component and a method for manufacturing the same that can achieve both improvement in radiation rate and suppression of emitted gas.

上記目的を達成するため、本発明の一形態に係る真空部品は、基材と、輻射層とを具備する。
上記基材は、ブラスト処理が施された後にエッチング処理が施された金属表面を有する。
上記輻射層は、上記金属表面上に積層され、ＡｌＴｉＮからなる。 In order to achieve the above object, a vacuum component according to an embodiment of the present invention includes a base material and a radiation layer.
The base material has a metal surface that has been subjected to an etching treatment after being subjected to a blasting treatment.
The radiation layer is laminated on the metal surface and is made of AlTiN.

上記目的を達成するため、本発明の一形態に係る真空部品の製造方法は、基材の金属表面にブラスト処理を施す。
エッチング処理は、上記ブラスト処理を施した上記金属表面に施される。
ＡｌＴｉＮからなる輻射層は、上記エッチング処理を施した上記金属表面に積層される。 In order to achieve the above object, a method for manufacturing a vacuum component according to an embodiment of the present invention performs a blast treatment on a metal surface of a base material.
The etching process is performed on the metal surface that has been subjected to the blasting process.
A radiation layer made of AlTiN is laminated on the metal surface subjected to the etching process.

第１の実施形態に係る真空部品の製造方法を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the manufacturing method of the vacuum component which concerns on 1st Embodiment. 第２の実施形態に係る真空部品の製造方法を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the manufacturing method of the vacuum component which concerns on 2nd Embodiment. 実験例の測定結果を示す表である。It is a table | surface which shows the measurement result of an experiment example. 基材の金属材料に応じた最小限のエッチング量を示す表である。It is a table | surface which shows the minimum etching amount according to the metal material of a base material.

本発明の一実施形態に係る真空部品は、基材と、輻射層とを具備する。
上記基材は、ブラスト処理が施された後にエッチング処理が施された金属表面を有する。
上記輻射層は、上記金属表面上に積層され、ＡｌＴｉＮからなる。 The vacuum component which concerns on one Embodiment of this invention comprises a base material and a radiation layer.
The base material has a metal surface that has been subjected to an etching treatment after being subjected to a blasting treatment.
The radiation layer is laminated on the metal surface and is made of AlTiN.

この構成によれば、基材の金属表面は、ブラスト処理により生じるブラスト粒子の嵌入や表面の汚染が、エッチング処理によって解消される。これにより、ブラスト粒子の嵌入や汚染に起因する放出ガスが抑制される。また、ブラスト処理及びエッチング処理による金属表面の粗面化により、平滑な金属表面に輻射層を積層した場合に比べて輻射率が向上する。   According to this structure, the metal surface of the base material is free from blast particle insertion and surface contamination caused by the blasting process by the etching process. Thereby, the emission gas resulting from insertion and contamination of blast particles is suppressed. Further, the roughening of the metal surface by blasting and etching treatment improves the emissivity compared to the case where a radiation layer is laminated on a smooth metal surface.

上記輻射層は、より好ましくは上記金属表面上に中空陰極−活性化反応性蒸着法により成膜されたものが望ましい。   More preferably, the radiation layer is formed on the metal surface by a hollow cathode-activated reactive vapor deposition method.

中空陰極−活性化反応性蒸着法は、高密度プラズマ雰囲気かつ高エネルギーでの成膜が可能であり、輻射層の密着性や成膜速度を良好なものとすることが可能である。   The hollow cathode-activated reactive vapor deposition method can form a film in a high-density plasma atmosphere and high energy, and can improve the adhesion of the radiation layer and the film formation speed.

上記輻射層は、より好ましくは１μｍ以上５μｍ以下の膜厚を有するものが望ましい。   The radiation layer preferably has a thickness of 1 μm or more and 5 μm or less.

輻射層の厚さが１μｍ以下であると、ＡｌＴｉＮの色が薄くなり、輻射率も低いものとなる。また、輻射層の厚さが５μｍ以上であると、ブラスト処理及びエッチング処理により形成した金属表面の粗面による影響が緩和されて輻射層の表面が平滑となり、複写率の向上効果が減少してしまう。   When the thickness of the radiation layer is 1 μm or less, the color of AlTiN becomes thin and the radiation rate is low. Further, if the thickness of the radiation layer is 5 μm or more, the influence of the rough surface of the metal surface formed by the blasting and etching treatment is alleviated, the surface of the radiation layer becomes smooth, and the effect of improving the copy rate is reduced. End up.

上記輻射層は、ＡｌｘＴｉ１−ｘＮ（ただし０．６≦ｘ≦０．９５）からなってもよい。 The radiation layer may be made of Al x Ti 1-x N (where 0.6 ≦ x ≦ 0.95).

ＡｌＴｉＮはＡｌのＴｉに対する組成比（モル比）が大きくなるにつれて、ＡｌＴｉＮの色が黒色に近づき、輻射率が大きくなるという特性がある。このため、ＡｌｘＴｉ１−ｘＮにおけるｘを大きくすることにより、輻射層の輻射率を向上させることが可能である。また、ｘが大きくなることによりＡｌＴｉＮが緻密となり、放出ガスも抑制される。 AlTiN has a characteristic that as the composition ratio (molar ratio) of Al to Ti increases, the color of AlTiN approaches black and the emissivity increases. For this reason, it is possible to improve the radiation rate of a radiation layer by enlarging x in AlxTi1 -xN . Further, as x increases, AlTiN becomes dense and the emitted gas is also suppressed.

上記エッチング処理は、上記基材を構成する金属の自然酸化層の厚さの３倍をエッチング量の下限とする   In the etching process, the lower limit of the etching amount is three times the thickness of the natural oxide layer of the metal constituting the substrate.

ブラスト処理が施された金属表面には室温で形成される自然酸化層が形成される。また、ブラスト処理による表面近傍の歪により自然酸化層は歪がない場合に比べ厚くなっている。このため、自然酸化層の厚さの３倍をエッチング量の下限とすることにより、エッチングにより十分に自然酸化層を除去することが可能となる。   A natural oxide layer formed at room temperature is formed on the blasted metal surface. In addition, the natural oxide layer is thicker than the case where there is no strain due to the strain in the vicinity of the surface by the blast treatment. For this reason, by setting the thickness of the natural oxide layer to three times the lower limit of the etching amount, the natural oxide layer can be sufficiently removed by etching.

本発明の一実施形態に係る真空部品の製造方法は、基材の金属表面にブラスト処理を施す。
エッチング処理は、上記ブラスト処理を施した上記金属表面に施される。
ＡｌＴｉＮからなる輻射層は、上記エッチング処理を施した上記金属表面に積層される。 The manufacturing method of the vacuum component which concerns on one Embodiment of this invention performs a blast process to the metal surface of a base material.
The etching process is performed on the metal surface that has been subjected to the blasting process.
A radiation layer made of AlTiN is laminated on the metal surface subjected to the etching process.

（第１の実施形態）
以下、本発明の第１の実施形態を説明する。 (First embodiment)
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described.

図１は、第１の実施形態に係る真空部品の製造方法を示す模式図である。
図１（ａ）に基材１を示す。基材１は、Ａｌ合金、ＳＵＳ合金、Ｃｕ合金、Ｔｉ合金、Ｔａ合金、Ｎｉ合金等の各種金属とすることができる。基材１の表面を金属表面１ａとする。 FIG. 1 is a schematic view showing a method for manufacturing a vacuum component according to the first embodiment.
The substrate 1 is shown in FIG. The base material 1 can be made of various metals such as an Al alloy, a SUS alloy, a Cu alloy, a Ti alloy, a Ta alloy, and a Ni alloy. Let the surface of the base material 1 be the metal surface 1a.

次に、図１（ｂ）に示すように、金属表面１ａに対してブラスト処理を施す。ブラスト粒子は、例えばアルミナ、ガラスビーズ、金属粒、砂等を用いることができる。同図に模式的に示すように、金属表面１ａへのブラスト粒子Ｂの嵌入や金属表面１ａの汚染が発生する。   Next, as shown in FIG. 1B, the metal surface 1a is blasted. As the blast particles, for example, alumina, glass beads, metal particles, sand and the like can be used. As schematically shown in the figure, the blast particles B are inserted into the metal surface 1a and the metal surface 1a is contaminated.

金属表面１ａの汚染は、具体的には、室温で金属表面１ａに形成される自然酸化層である。ブラストの汚れは自然酸化層が形成されている最中にその自然酸化層の中に入り込むので、ブラスト時に形成される自然酸化層は汚染されていると考えられる。このため、金属表面１ａにガス分子が吸着しやすい状態となっている。   Specifically, contamination of the metal surface 1a is a natural oxide layer formed on the metal surface 1a at room temperature. Since the blast stain enters the natural oxide layer while the natural oxide layer is formed, it is considered that the natural oxide layer formed during blasting is contaminated. For this reason, it is in a state where gas molecules are easily adsorbed on the metal surface 1a.

ガス分子が吸着しやすいと、後述する輻射層２（ＡｌＴｉＮ、ＴｉＣＮ、ＤＬＣ（diamond‐like carbon)等）の成膜を行う際に金属表面１ａからガス、それも、ハイドロカーボンを含む水等の不純物が放出されている状態になり、輻射層２にそれらの不純物ガスが混入する。このため、輻射層２は形態的にぼそぼそになり、ガスが吸着しやすく、すなわちガス放出の多い膜になる。   When gas molecules are easily adsorbed, a gas from the metal surface 1a when forming a radiation layer 2 (AlTiN, TiCN, DLC (diamond-like carbon), etc.), which will be described later, or water containing hydrocarbons, etc. Impurities are released, and these impurity gases are mixed into the radiation layer 2. For this reason, the radiation layer 2 becomes morphologically loose and easily absorbs gas, that is, becomes a film with a large amount of gas emission.

汚れは、普通はハイドロカーボンである。水の吸着エネルギーは約１００ｋＪ／ｍｏｌ程度なので、水（表面の吸着水）だけならば成膜中に基材１を２００℃以上に加熱すれば、瞬時に脱ガス可能なため、輻射層２の成膜前に清浄をすることができる。ところが、ハイドロカーボンは吸着エネルギーが水よりも大きく、分子量が大きければ更に脱ガスしにくいため、２００℃程度に基材１を加熱しても基本的には清浄化できない。   The dirt is usually hydrocarbon. Since the adsorption energy of water is about 100 kJ / mol, if water (surface adsorbed water) alone is used, the substrate 1 can be heated to 200 ° C. or higher during film formation so that degassing can be performed instantaneously. Cleaning can be performed before film formation. However, since hydrocarbons are more difficult to degas if their adsorption energy is greater than that of water and have a large molecular weight, they cannot basically be cleaned even if the substrate 1 is heated to about 200 ° C.

このため、図１（ｃ）に示すように、ブラスト処理された金属表面１ａにエッチング処理を施す。エッチング処理は、エッチング液に基材１を浸漬させる化学研磨とすることができ、エッチング液は例えばリン酸系溶液とすることができる。また、エッチング処理は、電解研磨、電解酸浄、酸性アルカリ洗浄等の方法によってすることも可能である。同図に模式的に示すように、エッチング処理により金属表面１ａの凹凸が緩和され、ブラスト粒子Ｂも除去される。   Therefore, as shown in FIG. 1C, the blasted metal surface 1a is etched. The etching treatment can be chemical polishing in which the substrate 1 is immersed in an etching solution, and the etching solution can be, for example, a phosphoric acid solution. The etching treatment can also be performed by methods such as electropolishing, electrolytic acid cleaning, and acidic alkali cleaning. As schematically shown in the figure, the unevenness of the metal surface 1a is relaxed by the etching process, and the blast particles B are also removed.

エッチングは、少なくとも上記自然酸化層の厚さ分以上となるように施されるべきである。また、ブラスト処理による金属表面１ａ近傍の歪により自然酸化層は歪がない場合に比べ厚くなっている。図４に、それぞれの金属材料に施すべき最低限のエッチング量を示す。最低限エッチング量は、自然酸化層が歪により若干厚くなっていること及びエッチングが均一におこなわれないことを考慮して決定した。また、エッチング量の上限は、エッチング後の金属表面１ａの算術表面粗さＲａが１μｍ以上１０μｍ以下となる程度が好適である。   Etching should be performed so as to be at least the thickness of the natural oxide layer. Further, the natural oxide layer is thicker than the case where there is no strain due to the strain in the vicinity of the metal surface 1a due to the blast treatment. FIG. 4 shows the minimum etching amount to be applied to each metal material. The minimum etching amount was determined in consideration of the fact that the natural oxide layer is slightly thick due to strain and the etching is not performed uniformly. The upper limit of the etching amount is preferably such that the arithmetic surface roughness Ra of the etched metal surface 1a is 1 μm or more and 10 μm or less.

次に、図１（ｄ）に示すように、エッチング処理された金属表面１ａに、輻射層２を積層する。輻射層２は、ＡｌＴｉＮからなるものとすることができる。特に、ＴｉとＡｌの組成比（モル比）が、ＡｌｘＴｉ１−ｘＮとしてｘが０．６以上０．９５以下であるものが好適である。この組成とすることで、ＡｌＴｉＮの色が黒色に近づき、ｘが０．６未満の場合に比べて輻射率も上昇する。なお、工具のコーティング等に用いられる一般的なＡｌＴｉＮの組成は、ＡｌｘＴｉ１−ｘＮとしてｘが０．２５以上０．５０以下程度であり、色は金色から暗赤金色である。 Next, as shown in FIG. 1D, the radiation layer 2 is laminated on the etched metal surface 1a. The radiation layer 2 can be made of AlTiN. In particular, the composition ratio (molar ratio) of Ti and Al is preferably such that x is 0.6 or more and 0.95 or less as Al x Ti 1-x N. By setting it as this composition, the color of AlTiN approaches black, and the emissivity increases as compared with the case where x is less than 0.6. The composition of a typical AlTiN used in the coating or the like of the tool is the degree x is 0.25 to 0.50 as Al x Ti 1-x N, the color is dark red gold from gold.

輻射層２は、中空陰極−活性化反応性蒸着（ＨＣＤ−ＡＲＥ：Hollow Cathode Discharg−Activated Reactive Evaporation）法によって成膜することができる。蒸発源はＴｉとＡｌを各２基ずつとし、窒素ガスを正のバイアスが印加されたノズル（活性化ノズル）から導入する。これにより活性化ノズル近傍においてプラズマが発生して窒素ガスが活性化され、金属表面１ａ上にＡｌＴｉＮが成膜される。このときの基材１の温度は２００℃以上５００℃以下が好適である。   The radiation layer 2 can be formed by a hollow cathode-activated reactive vapor deposition (HCD-ARE) method. Two evaporation sources are used for each of Ti and Al, and nitrogen gas is introduced from a nozzle (activation nozzle) to which a positive bias is applied. As a result, plasma is generated in the vicinity of the activation nozzle to activate the nitrogen gas, and an AlTiN film is formed on the metal surface 1a. The temperature of the substrate 1 at this time is preferably 200 ° C. or higher and 500 ° C. or lower.

ＨＣＤ−ＡＲＥ法は、高密度プラズマ雰囲気かつ高エネルギーでの成膜が可能であり、輻射層２の密着性や成膜速度を良好なものとすることが可能である。この方法により、金属表面１ａにＡｌＴｉＮからなる輻射層２が形成される。なお、輻射層２の成膜には、アークイオンプレーティング法、スパッタリング法、蒸着法等の他の成膜方法を用いることも可能である。また、輻射層２は、ＡｌＴｉＮの他に、ＴｉＣＮやＤＬＣ（diamond‐like carbon)等からなるものとすることもできる。   The HCD-ARE method can form a film with a high density plasma atmosphere and high energy, and can improve the adhesion and the film forming speed of the radiation layer 2. By this method, the radiation layer 2 made of AlTiN is formed on the metal surface 1a. It should be noted that other film forming methods such as an arc ion plating method, a sputtering method, and a vapor deposition method may be used for forming the radiation layer 2. Further, the radiation layer 2 may be made of TiCN, DLC (diamond-like carbon) or the like in addition to AlTiN.

輻射層２の膜厚は１μｍ以上５μｍ以下が好適である。膜厚が１μｍ以下であると、ＡｌＴｉＮの色が薄くなり、輻射率が小さくなるためである。また、膜厚が５μｍ以上であると、金属表面１ａの凹凸が輻射層２の凹凸に反映されにくくなり、ブラスト処理（粗面化）による輻射率の上昇効果が小さくなるためである。   The film thickness of the radiation layer 2 is preferably 1 μm or more and 5 μm or less. This is because when the film thickness is 1 μm or less, the color of AlTiN becomes light and the emissivity becomes small. Further, when the film thickness is 5 μm or more, the unevenness of the metal surface 1a is not easily reflected in the unevenness of the radiation layer 2, and the effect of increasing the radiation rate by blasting (roughening) is reduced.

また、ＡｌＴｉＮにおけるＴｉとＡｌの組成比をｘが０．６以上０．９５以下とすることにより、輻射層１２は均質で緻密な膜構造となる。これにより、ガス分子が吸着可能な吸着サイトの数がｘが０．６未満の場合に比べて少なく、放出ガスを低減することが可能である。   In addition, by setting the composition ratio of Ti and Al in AlTiN to be 0.6 or more and 0.95 or less, the radiation layer 12 has a homogeneous and dense film structure. As a result, the number of adsorption sites capable of adsorbing gas molecules is smaller than when x is less than 0.6, and the emitted gas can be reduced.

以上のようにして、ブラスト処理及びエッチング処理が施された金属表面１ａ上に、ＡｌＴｉＮからなる輻射層２が積層された真空部品が形成される。当該真空部品は、真空槽内に設けられた搬送ロボット等の発熱源や真空槽の内壁に設けられ、発熱源の熱を輻射により放熱する。上述のように、ブラスト処理により形成された金属表面１ａへのブラスト粒子の嵌入や金属表面１ａの汚染がエッチング処理において除去されるため、後述の実験例に示すように放出ガスが低減される。また、ブラスト処理及びエッチング処理による金属表面１ａの粗面化により、輻射率を向上させることが可能である。   As described above, a vacuum component is formed in which the radiation layer 2 made of AlTiN is laminated on the metal surface 1a subjected to the blasting process and the etching process. The said vacuum component is provided in heat generating sources, such as a conveyance robot provided in the vacuum chamber, and the inner wall of a vacuum chamber, and radiates the heat | fever of a heat generating source by radiation. As described above, since the blast particles are inserted into the metal surface 1a formed by the blasting process and the contamination of the metal surface 1a is removed by the etching process, the emission gas is reduced as shown in an experimental example described later. In addition, the emissivity can be improved by roughening the metal surface 1a by blasting and etching.

（第２の実施形態）
以下、本発明の第２の実施形態を説明する。
図２は、第２の実施形態に係る真空部品の製造方法を示す模式図である。
図２（ａ）に基材１１示す。基材１１は、Ａｌ合金、ＳＵＳ合金、Ｃｕ合金、Ｔｉ合金、Ｔａ合金、Ｎｉ合金等の各種金属とすることができる。基材１１の表面を金属表面１１ａとする。 (Second Embodiment)
Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described.
FIG. 2 is a schematic view showing a method for manufacturing a vacuum component according to the second embodiment.
The substrate 11 is shown in FIG. The base material 11 can be made of various metals such as Al alloy, SUS alloy, Cu alloy, Ti alloy, Ta alloy, Ni alloy and the like. Let the surface of the base material 11 be the metal surface 11a.

次に、図２（ｂ）に示すように、金属表面１１ａに、輻射層１２を積層する。輻射層１２は、ＡｌＴｉＮからなるものとすることができる。輻射層１２は、ＨＣＤ−ＡＲＥ法によって成膜することができる。蒸発源はＴｉとＡｌを各２基ずつとし、窒素ガスを正のバイアスが印加されたノズル（活性化ノズル）から導入する。これにより活性化ノズル近傍においてプラズマが発生して窒素ガスが活性化され、金属表面１１ａ上にＡｌＴｉＮが成膜される。このときの基材１１の温度は２００℃以上５００℃以下が好適である。このようにして、金属表面１ａにＡｌＴｉＮからなる輻射層１２が形成される。なお、輻射層１２の成膜には、アークイオンプレーティング法、スパッタリング法、蒸着等の他の成膜方法を用いることも可能である。   Next, as shown in FIG.2 (b), the radiation layer 12 is laminated | stacked on the metal surface 11a. The radiation layer 12 can be made of AlTiN. The radiation layer 12 can be formed by the HCD-ARE method. Two evaporation sources are used for each of Ti and Al, and nitrogen gas is introduced from a nozzle (activation nozzle) to which a positive bias is applied. As a result, plasma is generated in the vicinity of the activation nozzle to activate the nitrogen gas, and an AlTiN film is formed on the metal surface 11a. The temperature of the base material 11 at this time is preferably 200 ° C. or higher and 500 ° C. or lower. Thus, the radiation layer 12 made of AlTiN is formed on the metal surface 1a. It should be noted that other film forming methods such as arc ion plating, sputtering, and vapor deposition can be used for forming the radiation layer 12.

ここで、輻射層１２の成膜では、ＡｌＴｉＮにおけるＴｉとＡｌの組成比が、ＡｌｘＴｉ１−ｘＮとしてｘが０．６以上０．９５以下となるように調整する。これにより、ＡｌＴｉＮの色が黒色に近づき、ｘが０．６未満の場合に比べて輻射率も上昇する。なお、工具のコーティング等に用いられる一般的なＡｌＴｉＮの組成は、ＡｌｘＴｉ１−ｘＮとしてｘが０．２５以上０．５０以下程度であり、色は金色から暗赤金色である。輻射層１２の膜厚は１μｍ以上５μｍ以下が好適である。輻射層１２の厚さが１μｍ未満であると、その薄さのために色が黒色ではなく干渉色となり、輻射率が小さくなる。 Here, in the formation of the radiation layer 12, the composition ratio of Ti and Al in AlTiN is adjusted so that x is 0.6 or more and 0.95 or less as Al x Ti 1-x N. As a result, the color of AlTiN approaches black, and the emissivity increases as compared with the case where x is less than 0.6. The composition of a typical AlTiN used in the coating or the like of the tool is the degree x is 0.25 to 0.50 as Al x Ti 1-x N, the color is dark red gold from gold. The film thickness of the radiation layer 12 is preferably 1 μm or more and 5 μm or less. If the thickness of the radiation layer 12 is less than 1 μm, the color is not black but an interference color because of its thinness, and the radiation rate is reduced.

また、ＡｌＴｉＮにおけるＴｉとＡｌの組成比をｘが０．６以上０．９５以下とすることにより、輻射層１２は均質で緻密な膜構造となる。これにより、ガス分子が吸着可能な吸着サイトの数がｘが０．６未満の場合に比べて少なく、放出ガスを低減することが可能である。   In addition, by setting the composition ratio of Ti and Al in AlTiN to be 0.6 or more and 0.95 or less, the radiation layer 12 has a homogeneous and dense film structure. As a result, the number of adsorption sites capable of adsorbing gas molecules is smaller than when x is less than 0.6, and the emitted gas can be reduced.

以上のようにして、金属表面１１ａ上に、ＡｌＴｉＮ（ただし、ＡｌｘＴｉ１−ｘＮとしてｘが０．６以上０．９５以下）からなる輻射層１２が積層された真空部品が形成される。当該真空部品は、真空槽内に設けられた搬送ロボット等の発熱源や真空槽の内壁に設けられ、発熱源の熱を輻射により放熱する。上述のようにＡｌＴｉＮの組成比の範囲を規定することにより、真空部品の輻射率を向上させ、放出ガスを抑制することが可能である。 As described above, a vacuum component is formed in which the radiation layer 12 made of AlTiN (wherein x is 0.6 or more and 0.95 or less as Al x Ti 1-x N) is laminated on the metal surface 11a. . The said vacuum component is provided in heat generating sources, such as a conveyance robot provided in the vacuum chamber, and the inner wall of a vacuum chamber, and radiates the heat | fever of a heat generating source by radiation. By defining the range of the composition ratio of AlTiN as described above, it is possible to improve the emissivity of the vacuum component and suppress the emitted gas.

［実験例］
第１の実施形態及び第２の実施形態に係る実験例について説明する。
図３は実験例の測定結果を示す表である。 [Experimental example]
Experimental examples according to the first and second embodiments will be described.
FIG. 3 is a table showing measurement results of experimental examples.

（実験例１）
Ａ５０５２（アルミニウム）からなる、直径４５ｍｍ、厚さ３ｍｍの円板を基材として用いた。この基材の表面に♯１８０のアルミナをブラスト粒子としてブラスト処理を施した。次に、当該基材をリン酸系溶液に浸漬させてエッチング処理を施した。エッチング処理後の金属表面の算術平均粗さＲａは１．７μｍであった。続いて、当該金属表面上に、ＨＣＤ−ＡＲＥ法によりＡｌＴｉＮを積層し、輻射層を形成した。ＡｌＴｉＮの組成はＡｌ０．９Ｔｉ０．１Ｎとし、輻射層の膜厚は１．５μｍとした。 (Experimental example 1)
A disk made of A5052 (aluminum) and having a diameter of 45 mm and a thickness of 3 mm was used as a substrate. The surface of the substrate was subjected to blasting using # 180 alumina as blast particles. Next, the said base material was immersed in the phosphoric acid type solution, and the etching process was performed. The arithmetic average roughness Ra of the metal surface after the etching treatment was 1.7 μm. Subsequently, AlTiN was laminated on the metal surface by the HCD-ARE method to form a radiation layer. The composition of AlTiN was Al 0.9 Ti 0.1 N, and the thickness of the radiation layer was 1.5 μm.

このようにして作成した真空部品のガス放出量を測定した。ガス放出量は昇温脱離測定により測定した。真空部品にＫ熱電対をスポット溶接により取り付け、石英管内に吊り下げて真空排気した。この真空部品を、石英管の外部に配置されたゴールドイメージ炉により加熱した。０．１℃／ｓの昇温速度で３００℃まで加熱し、３００℃で３０分保持し、その後加熱を停止し、真空部品を自然冷却させた。３００℃到達までの単位面積あたりのガスを測定した。ガス放出量は、２．０Ｐａ・ｍ３・ｍ−２であった。 The gas release amount of the vacuum part thus prepared was measured. The amount of gas release was measured by temperature programmed desorption measurement. A K thermocouple was attached to the vacuum part by spot welding, suspended in a quartz tube and evacuated. This vacuum part was heated by a gold image furnace disposed outside the quartz tube. It heated to 300 degreeC with the temperature increase rate of 0.1 degree-C / s, and hold | maintained at 300 degreeC for 30 minutes, after that, heating was stopped and the vacuum component was naturally cooled. The gas per unit area until reaching 300 ° C. was measured. The gas release amount was 2.0 Pa · m 3 · m −2 .

また、当該真空部品の輻射率を測定した。輻射率は、輻射率測定器（ジャパンセンサー株式会社製 ＴＳＳ−５Ｘ）を用いて測定した。この測定器では、測定波長源から真空部品に赤外線（波長２〜２２μｍ）を照射し、その反射エネルギー量を検出する。測定条件は室温、大気圧とした。輻射率は０．８であった。   Moreover, the emissivity of the vacuum component was measured. The emissivity was measured using an emissivity measuring instrument (TSS-5X manufactured by Japan Sensor Co., Ltd.). In this measuring device, a vacuum component is irradiated with infrared rays (wavelength 2 to 22 μm) from a measurement wavelength source, and the amount of reflected energy is detected. The measurement conditions were room temperature and atmospheric pressure. The emissivity was 0.8.

（実験例２）
Ａ５０５２（アルミニウム）からなる、直径４５ｍｍ、厚さ３ｍｍの円板を基材として用いた。この基材の表面に♯１８０のアルミナをブラスト粒子としてブラスト処理を施した。基材表面の算術平均粗さＲａは１．６μｍであった。次に、当該金属表面上に、ＨＣＤ−ＡＲＥ法によりＡｌＴｉＮを積層し、輻射層を形成した。ＡｌＴｉＮの組成はＡｌ０．９Ｔｉ０．１Ｎとし、輻射層の膜厚は１．５μｍとした。 (Experimental example 2)
A disk made of A5052 (aluminum) and having a diameter of 45 mm and a thickness of 3 mm was used as a substrate. The surface of the substrate was subjected to blasting using # 180 alumina as blast particles. The arithmetic average roughness Ra of the substrate surface was 1.6 μm. Next, AlTiN was laminated on the metal surface by the HCD-ARE method to form a radiation layer. The composition of AlTiN was Al 0.9 Ti 0.1 N, and the thickness of the radiation layer was 1.5 μm.

当該真空部品のガス放出量と輻射率を上述のようにして測定した。ガス放出量は６．１Ｐａ・ｍ３・ｍ−２であり、輻射率は０．８５であった。 The gas release amount and the emissivity of the vacuum part were measured as described above. The gas release amount was 6.1 Pa · m 3 · m −2 , and the emissivity was 0.85.

（実験例３）
Ａ５０５２（アルミニウム）からなる、直径４５ｍｍ、厚さ３ｍｍの機械加工を行った円板を基材として用いた。この基材表面の算術平均粗さＲａは０．８μｍであった。この基材の表面にＨＣＤ−ＡＲＥ法によりＡｌＴｉＮを積層し、輻射層を形成した。ＡｌＴｉＮの組成はＡｌ０．９Ｔｉ０．１Ｎとし、輻射層の膜厚は１．５μｍとした。 (Experimental example 3)
A disk made of A5052 (aluminum) and machined with a diameter of 45 mm and a thickness of 3 mm was used as a base material. The arithmetic average roughness Ra of the substrate surface was 0.8 μm. AlTiN was laminated on the surface of this substrate by the HCD-ARE method to form a radiation layer. The composition of AlTiN was Al 0.9 Ti 0.1 N, and the thickness of the radiation layer was 1.5 μm.

当該真空部品のガス放出量と輻射率を上述のようにして測定した。ガス放出量は０．８Ｐａ・ｍ３・ｍ−２であり、輻射率は０．６７であった。 The gas release amount and the emissivity of the vacuum part were measured as described above. The amount of gas released was 0.8 Pa · m 3 · m −2 and the emissivity was 0.67.

実験例２と実験例３の測定結果により、ブラスト処理によって輻射率が上昇するものの、ガス放出量が大幅に増加していることがわかる。これに対し、実験例１では、輻射率は若干低下するものの、ガス放出量が抑制されていることがわかる。即ち、エッチング処理により、ブラスト処理によって形成された粗面が緩和され、ガス放出量が抑制されたと考えられる。   From the measurement results of Experimental Example 2 and Experimental Example 3, it can be seen that although the emissivity is increased by the blasting process, the gas emission amount is greatly increased. On the other hand, in Experimental Example 1, it is understood that although the emissivity is slightly reduced, the amount of gas released is suppressed. That is, it is considered that the rough surface formed by the blasting process was relaxed by the etching process, and the gas release amount was suppressed.

（実験例４）
Ａ５０５２（アルミニウム）からなる、直径４５ｍｍ、厚さ３ｍｍの円板を基材として用いた。金属表面上に、ＨＣＤ−ＡＲＥ法によりＡｌＴｉＮを積層し、輻射層を形成した。ＡｌＴｉＮの組成はＡｌ０．９Ｔｉ０．１Ｎとし、輻射層の膜厚は１．５μｍとした。 (Experimental example 4)
A disk made of A5052 (aluminum) and having a diameter of 45 mm and a thickness of 3 mm was used as a substrate. On the metal surface, AlTiN was laminated by the HCD-ARE method to form a radiation layer. The composition of AlTiN was Al 0.9 Ti 0.1 N, and the thickness of the radiation layer was 1.5 μm.

当該真空部品のガス放出量と冷却速度を昇温脱離測定により測定した。真空部品にＫ熱電対をスポット溶接により取り付け、石英管内に吊り下げて真空排気した。この真空部品を、石英管の外部に配置されたゴールドイメージ炉により加熱した。０．１℃／ｓの昇温速度で３００℃まで加熱し、３００℃で３０分保持し、その後加熱を停止し、真空部品を自然冷却させた。３００℃到達までの単位面積あたりのガスを測定した。ガス放出量は、０．８Ｐａ・ｍ３・ｍ−２であった。また、２５０℃の時点での冷却速度は０．４６℃／ｓであった。 The gas release amount and cooling rate of the vacuum part were measured by temperature programmed desorption measurement. A K thermocouple was attached to the vacuum part by spot welding, suspended in a quartz tube and evacuated. This vacuum part was heated by a gold image furnace disposed outside the quartz tube. It heated to 300 degreeC with the temperature increase rate of 0.1 degree-C / s, and hold | maintained at 300 degreeC for 30 minutes, after that, heating was stopped and the vacuum component was naturally cooled. The gas per unit area until reaching 300 ° C. was measured. The amount of gas released was 0.8 Pa · m 3 · m −2 . Moreover, the cooling rate at the time of 250 degreeC was 0.46 degreeC / s.

また、当該真空部品の輻射率を測定した。輻射率は、輻射率測定器（ジャパンセンサー株式会社製 ＴＳＳ−５Ｘ）を用いて測定した。この測定器では、測定波長源から真空部品に赤外線（波長２〜２２μｍ）を照射し、その反射エネルギー量を検出する。測定条件は室温、大気圧とした。輻射率は０．６７であった。   Moreover, the emissivity of the vacuum component was measured. The emissivity was measured using an emissivity measuring instrument (TSS-5X manufactured by Japan Sensor Co., Ltd.). In this measuring device, a vacuum component is irradiated with infrared rays (wavelength 2 to 22 μm) from a measurement wavelength source, and the amount of reflected energy is detected. The measurement conditions were room temperature and atmospheric pressure. The emissivity was 0.67.

（実験例５）
Ａ５０５２（アルミニウム）からなる、直径４５ｍｍ、厚さ３ｍｍの円板を基材として用いた。金属表面上に、ＨＣＤ−ＡＲＥ法によりＡｌＴｉＮを積層し、輻射層を形成した。ＡｌＴｉＮの組成はＡｌ０．９Ｔｉ０．１Ｎとし、輻射層の膜厚は０．６μｍとした。 (Experimental example 5)
A disk made of A5052 (aluminum) and having a diameter of 45 mm and a thickness of 3 mm was used as a substrate. On the metal surface, AlTiN was laminated by the HCD-ARE method to form a radiation layer. The composition of AlTiN was Al 0.9 Ti 0.1 N, and the thickness of the radiation layer was 0.6 μm.

実験例４と同様にして、ガス放出量、冷却速度及び輻射率を測定した。ガス放出量は０．４Ｐａ・ｍ３・ｍ−２であり、２５０℃時点での冷却速度は０．３０℃／ｓ、輻射率は０．４２であった。輻射層の色は黒色ではなく干渉色であった。実験例１と比較して膜厚が薄いために干渉色になり、冷却効果が小さくなっている。 In the same manner as in Experimental Example 4, the gas release amount, the cooling rate, and the emissivity were measured. The gas release amount was 0.4 Pa · m 3 · m −2 , the cooling rate at 250 ° C. was 0.30 ° C./s, and the radiation rate was 0.42. The color of the radiation layer was not black but an interference color. Compared to Experimental Example 1, the film thickness is thin, so it becomes an interference color and the cooling effect is small.

（実験例６）
Ａ５０５２（アルミニウム）からなる、直径４５ｍｍ、厚さ３ｍｍの円板を基材として用いた。金属表面上に、ＨＣＤ−ＡＲＥ法によりＡｌＴｉＮを積層し、輻射層を形成した。ＡｌＴｉＮの組成はＡｌ０．３Ｔｉ０．７Ｎ、Ａｌ０．５Ｔｉ０．５Ｎ及びＡｌ０．９Ｔｉ０．１Ｎの３種類とし、輻射層の膜厚はそれぞれ３μｍとした。 (Experimental example 6)
A disk made of A5052 (aluminum) and having a diameter of 45 mm and a thickness of 3 mm was used as a substrate. On the metal surface, AlTiN was laminated by the HCD-ARE method to form a radiation layer. The composition of AlTiN was three types of Al 0.3 Ti 0.7 N, Al 0.5 Ti 0.5 N, and Al 0.9 Ti 0.1 N, and the thickness of the radiation layer was 3 μm.

目視により各真空部品の輻射層の色を観察した。Ｔｉに対するＡｌの割合が増加するにつれ、輻射層の色は赤みがかった金色から黒灰色、黒色へと変化した。各真空部品の輻射率はそれぞれ０．１、０．４３及び０．６７であった。このように、輻射率の観点からはＴｉに対するＡｌの割合が高い方が好適であることがわかった。   The color of the radiation layer of each vacuum part was observed visually. As the ratio of Al to Ti increased, the color of the radiation layer changed from reddish gold to black-gray and black. The emissivities of the vacuum components were 0.1, 0.43, and 0.67, respectively. Thus, it turned out that the one where the ratio of Al with respect to Ti is high is suitable from a viewpoint of emissivity.

（実験例７）
Ａ５０５２（アルミニウム）からなる、直径４５ｍｍ、厚さ３ｍｍの円板を基材として用いた。この基材の表面に化学研磨と精密洗浄を施し、１０ｎｍ程度の緻密な酸化皮膜を形成した。この処理は真空槽の内壁に一般的に施される研磨処理である。 (Experimental example 7)
A disk made of A5052 (aluminum) and having a diameter of 45 mm and a thickness of 3 mm was used as a substrate. The surface of this substrate was subjected to chemical polishing and precision cleaning to form a dense oxide film of about 10 nm. This process is a polishing process generally applied to the inner wall of the vacuum chamber.

この真空部品について実験例４と同様にして、ガス放出量、冷却速度及び輻射率を測定した。ガス放出量は０．２Ｐａ・ｍ３・ｍ−２であり２５０℃時点での冷却速度は０．０５℃／ｓ、輻射率は０．０７であった。ガス放出量は小さいが、輻射率も非常に小さいものであった。 About this vacuum component, it carried out similarly to Experimental example 4, and measured the gas emission amount, the cooling rate, and the emissivity. The gas release amount was 0.2 Pa · m 3 · m −2 , the cooling rate at 250 ° C. was 0.05 ° C./s, and the radiation rate was 0.07. Although the amount of released gas was small, the radiation rate was very small.

実験例６の結果からわかるように、ＡｌＴｉＮの組成は輻射率に影響を及ぼし、Ｔｉに対するＡｌの割合が高いほうが好適であることがわかった。また、輻射層の膜厚は、少なくとも１μｍ以上が必要であるといえる。   As can be seen from the results of Experimental Example 6, it was found that the composition of AlTiN affects the radiation rate, and that the higher the ratio of Al to Ti, the better. Moreover, it can be said that the film thickness of a radiation layer needs at least 1 micrometer or more.

（実験例８）
ステンレス鋼ＳＵＳ３０４からなる３０ｍｍ×３０ｍｍ×３ｍｍの圧延板を基材として用いた。この基材をアセトン中で超音波洗浄を施した。この試料について実験例４と同様にしてガス放出量、冷却速度及び輻射率を測定した。ガス放出量は、０．９１Ｐａ・ｍ３・ｍ−２であり、２５０℃時点での冷却速度は０．１２℃／ｓ、輻射率は０．１９であった。 (Experimental example 8)
A 30 mm × 30 mm × 3 mm rolled plate made of stainless steel SUS304 was used as a base material. This substrate was subjected to ultrasonic cleaning in acetone. For this sample, the amount of gas released, the cooling rate and the emissivity were measured in the same manner as in Experimental Example 4. The amount of gas released was 0.91 Pa · m 3 · m −2 , the cooling rate at 250 ° C. was 0.12 ° C./s, and the radiation rate was 0.19.

（実験例９）
ステンレス鋼ＳＵＳ３０４からなる３０ｍｍ×３０ｍｍ×３ｍｍの圧延板を基材として用いた。この基材をアセトン中で超音波洗浄を施したのち、基材の表面にＨＣＤ−ＡＲＥ法によりＡｌＴｉＮを積層し、輻射層を形成した。ＡｌＴｉＮの組成は、Ａｌ０．８５Ｔｉ０．１５Ｎとし、輻射層の膜厚は、１．０μｍとした。この真空部品について実験例４と同様にしてガス放出量、冷却速度及び輻射率を測定した。ガス放出量は、０．４Ｐａ・ｍ３・ｍ−２であり、２５０℃時点での冷却速度は０．３３℃／ｓ、輻射率は０．６であった。冷却速度は、上述の基材よりも大きくなり、また、ガス放出量も基材よりも少なくなった。 (Experimental example 9)
A 30 mm × 30 mm × 3 mm rolled plate made of stainless steel SUS304 was used as a base material. This substrate was subjected to ultrasonic cleaning in acetone, and then AlTiN was laminated on the surface of the substrate by the HCD-ARE method to form a radiation layer. The composition of AlTiN was Al 0.85 Ti 0.15 N, and the thickness of the radiation layer was 1.0 μm. For this vacuum component, the amount of gas released, the cooling rate and the radiation rate were measured in the same manner as in Experimental Example 4. The amount of gas released was 0.4 Pa · m 3 · m −2 , the cooling rate at the time of 250 ° C. was 0.33 ° C./s, and the emissivity was 0.6. The cooling rate was larger than that of the above-mentioned base material, and the amount of gas released was also smaller than that of the base material.

本発明は上述の実施形態にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において変更され得る。   The present invention is not limited only to the above-described embodiment, and can be changed within a range not departing from the gist of the present invention.

１、１１…基材
１ａ、１１ａ…金属表面
２、１２…輻射層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 11 ... Base material 1a, 11a ... Metal surface 2, 12 ... Radiation layer

Claims (6)

ブラスト処理が施された後にエッチング処理が施された金属表面を有する基材と、
前記金属表面上に積層された、ＡｌＴｉＮからなる輻射層と
を具備する真空部品。 A substrate having a metal surface that has been subjected to an etching treatment after being subjected to a blasting treatment;
A vacuum component comprising: a radiation layer made of AlTiN laminated on the metal surface. 請求項１に記載の真空部品であって、
前記輻射層は、前記金属表面上に中空陰極−活性化反応性蒸着法により成膜されたものである
真空部品。 The vacuum component according to claim 1,
The said radiation layer is a vacuum component formed into a film by the hollow cathode-activation reactive vapor deposition method on the said metal surface. 請求項２に記載の真空部品であって、
前記輻射層は、１μｍ以上５μｍ以下の膜厚を有する
真空部品。 The vacuum component according to claim 2,
The radiating layer has a thickness of 1 μm or more and 5 μm or less. 請求項１に記載の真空部品であって、
前記輻射層は、ＡｌｘＴｉ１−ｘＮ（ただし０．６≦ｘ≦０．９５）からなる
真空部品。 The vacuum component according to claim 1,
The radiation layer is a vacuum part made of Al x Ti 1-x N (where 0.6 ≦ x ≦ 0.95). 請求項１に記載の真空部品であって、
前記エッチング処理は、前記基材を構成する金属の自然酸化層の厚さの３倍をエッチング量の下限とする
真空部品。 The vacuum component according to claim 1,
The said etching process is a vacuum component which makes 3 times the thickness of the natural oxidation layer of the metal which comprises the said base material as the minimum of etching amount. 基材の金属表面にブラスト処理を施し、
前記ブラスト処理を施した前記金属表面にエッチング処理を施し、
前記エッチング処理を施した前記金属表面にＡｌＴｉＮからなる輻射層を積層する
真空部品の製造方法。 Blasting the metal surface of the base material,
Etching the metal surface that has been subjected to the blasting treatment,
A method for manufacturing a vacuum component, wherein a radiation layer made of AlTiN is laminated on the metal surface subjected to the etching treatment.
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