JP2012107303A - Sputtering film deposition device and solar battery manufacturing apparatus - Google Patents

Sputtering film deposition device and solar battery manufacturing apparatus Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sputtering film deposition device that can efficiently form a thin film having appropriate characteristics, and to provide a solar battery manufacturing apparatus.SOLUTION: The sputtering film deposition device includes a substrate 10 as a film deposition object, a target 23 as a cathode electrode that is arranged opposite to the substrate 10, and an anode electrode 24 arranged between the substrate 10 and target 23, in a reaction chamber 21, wherein the anode electrode 24 has a comb-teeth-like shape and is arranged in such a manner that comb-teeth-like gaps are projected to the deposition surface. The solar battery manufacturing apparatus is equipped with the sputtering device.

Description

本発明は、スパッタリング成膜装置及び太陽電池製造装置に関する。   The present invention relates to a sputtering film forming apparatus and a solar cell manufacturing apparatus.

薄膜形成技術のひとつであるスパッタリング法は、金属薄膜、透明導電膜、半導体膜などの形成に広く利用されている。スパッタリング法は、真空引きされた反応室内にアルゴンガス、ヘリウムガス、ネオンガス、窒素ガスなどを導入し、基板とターゲット間に直流高電圧を印加してイオン化した原子(Ar原子など)をターゲットに衝突させ、弾き飛ばされたターゲット構成原子(スパッタ粒子)を基板に付着させて薄膜を成膜する方法である。また、スパッタリング法の一つとして、マグネトロンスパッタリング法がある。マグネトロンスパッタリング法は、ターゲットの表面に磁界を発生させてスパッタリングする方法である。磁界による電子の補足効果によりプラズマ密度が高まり、スパッタリング速度を大きくすることができる。   Sputtering, which is one of thin film formation techniques, is widely used for forming metal thin films, transparent conductive films, semiconductor films, and the like. In the sputtering method, argon gas, helium gas, neon gas, nitrogen gas, etc. are introduced into the evacuated reaction chamber, and a DC high voltage is applied between the substrate and the target to cause ionized atoms (such as Ar atoms) to collide with the target. In this method, the target constituent atoms (sputtered particles) that are blown off are attached to the substrate to form a thin film. As one of sputtering methods, there is a magnetron sputtering method. The magnetron sputtering method is a method in which a magnetic field is generated on the surface of a target to perform sputtering. The plasma density is increased by the effect of capturing electrons by the magnetic field, and the sputtering rate can be increased.

図4は、従来より用いられているスパッタリング装置の概略構成図である。このスパッタリング装置は、反応室1内に、成膜対象となる基板2を設置する基板ホルダ3が配置されている。また、基板ホルダ3に設置される基板2に対向してカソード電極となるターゲット5が配置され、基板2とターゲット5との間にアノード電極4が配置されている。そして、ターゲット5の裏面に磁界発生手段6が配置されている。   FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a conventionally used sputtering apparatus. In this sputtering apparatus, a substrate holder 3 for placing a substrate 2 to be deposited is placed in a reaction chamber 1. Further, a target 5 serving as a cathode electrode is disposed opposite to the substrate 2 placed on the substrate holder 3, and an anode electrode 4 is disposed between the substrate 2 and the target 5. A magnetic field generating means 6 is disposed on the back surface of the target 5.

スパッタリング装置のアノード電極4には、図5に示すように、一対の棒状のアノードバー4aを、連結シャフト4bを介して連結してなるものが広く用いられている。   As the anode electrode 4 of the sputtering apparatus, as shown in FIG. 5, one obtained by connecting a pair of rod-like anode bars 4a via a connecting shaft 4b is widely used.

また、特許文献1、2には、アノード電極を、メッシュ状にしたスパッタリング成膜装置が開示されている。   Patent Documents 1 and 2 disclose a sputtering film forming apparatus in which an anode electrode is meshed.

特開昭63−121653号公報JP 63-121653 A 特開平5−209265号公報JP-A-5-209265

スパッタリング成膜装置において、アノード電極を、ターゲットと基板との間に配置することで、アノード電極とターゲット間でのプラズマ放電が安定し、更には、成膜中に基板がプラズマに曝され難くなるので、特性の良好な薄膜を形成できる。しかしながら、ターゲットからのスパッタ粒子の一部がアノード電極によって遮られてしまうので、ターゲットのロスが増えたり、成膜時間が嵩み、成膜効率が劣る問題があった。   In the sputtering film forming apparatus, by disposing the anode electrode between the target and the substrate, plasma discharge between the anode electrode and the target is stabilized, and furthermore, the substrate is not easily exposed to plasma during film formation. Therefore, a thin film with good characteristics can be formed. However, since some of the sputtered particles from the target are blocked by the anode electrode, there are problems that the loss of the target increases, the film formation time increases, and the film formation efficiency is inferior.

したがって、本発明の目的は、特性の良好な薄膜を効率よく成膜可能なスパッタリング成膜装置及び太陽電池製造装置を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a sputtering film forming apparatus and a solar cell manufacturing apparatus capable of efficiently forming a thin film having good characteristics.

上記目的を達成するに当たり、本発明のスパッタリング成膜装置は、反応室内に、成膜対象となる基板と、この基板に対向して配置されたカソード電極となるターゲットと、前記基板と前記ターゲットとの間に配置されたアノード電極とを備えたスパッタリング成膜装置において、前記アノード電極が、櫛歯状をなし、該櫛歯状の隙間部分が成膜面に対して投影されるように配置されていることを特徴とする。   In achieving the above object, a sputtering film forming apparatus of the present invention includes a substrate to be formed in a reaction chamber, a target to be a cathode electrode disposed opposite to the substrate, the substrate and the target. And an anode electrode disposed between the anode electrode and the anode electrode, the anode electrode has a comb-like shape, and the comb-like gap portion is arranged to be projected onto the film-forming surface. It is characterized by.

本発明のスパッタリング成膜装置は、マグネトロンスパッタリング成膜装置であることが好ましい。   The sputtering film forming apparatus of the present invention is preferably a magnetron sputtering film forming apparatus.

本発明のスパッタリング成膜装置は、前記ターゲットの前記アノード電極と反対側に磁場発生手段を有し、前記アノード電極と前記磁場発生手段とを、前記基板面と平行に往復移動させる移動台が設けられていることが好ましい。   The sputtering film forming apparatus of the present invention has a magnetic field generating means on the opposite side of the target from the anode electrode, and a moving table for reciprocating the anode electrode and the magnetic field generating means in parallel with the substrate surface is provided. It is preferable that

また、本発明の太陽電池製造装置は、上記スパッタリング成膜装置を備えていることを特徴とする。   Moreover, the solar cell manufacturing apparatus of this invention is equipped with the said sputtering film-forming apparatus, It is characterized by the above-mentioned.

本発明によれば、反応室内に、成膜対象となる基板と、該基板に対向して配置されたカソード電極となるターゲットと、該基板とターゲットとの間に配置されたアノード電極とを備えたスパッタリング成膜装置において、アノード電極が櫛歯状をなし、該櫛歯状の隙間部分が成膜面に対して投影されるように反応室に配置されているので、ターゲットからのスパッタ粒子が、アノード電極に遮られることなく、櫛歯状の間隙部分を通って成膜面まで到達できる。このため、ターゲットのロスが少なくなり、短時間で膜質の良好な薄膜を成膜できる。   According to the present invention, the reaction chamber includes a substrate to be deposited, a target to be a cathode electrode disposed to face the substrate, and an anode electrode disposed between the substrate and the target. In the sputtering film forming apparatus, the anode electrode has a comb-like shape, and the comb-like gap portion is arranged in the reaction chamber so as to be projected onto the film-forming surface. The film formation surface can be reached through the interdigital gap without being blocked by the anode electrode. For this reason, the loss of the target is reduced, and a thin film with good film quality can be formed in a short time.

本発明のスパッタリング成膜装置を備えた太陽電池製造装置の概略図である。It is the schematic of the solar cell manufacturing apparatus provided with the sputtering film-forming apparatus of this invention. 本発明のスパッタリング成膜装置の概略図である。It is the schematic of the sputtering film-forming apparatus of this invention. 本発明のスパッタリング成膜装置のアノード電極の概略図である。It is the schematic of the anode electrode of the sputtering film-forming apparatus of this invention. 従来のスパッタリング成膜装置の概略図である。It is the schematic of the conventional sputtering film-forming apparatus. 同スパッタリング成膜装置のアノード電極の概略図である。It is the schematic of the anode electrode of the sputtering film-forming apparatus.

本発明において、「成膜対象となる基板」としては、特に限定は無く、従来公知のものを用いることができる。例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエーテルサルフォン(PES)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリアリレート(PAR)、ポリアミドイミド(PAI)、ポリベンゾイミダゾール(PBI)、ポリサルフォン(PSF)等の材質から構成される可撓性基板、ガラス基板、ステンレス基板などが挙げられる。基板の種類としては、可撓性基板が好ましい。可撓性基板を用いることで、ロールトゥロール方式での成膜が可能となり、生産性よく成膜することができる。以下、基板材料として可撓性基板を用いた場合を例に挙げて説明する。   In the present invention, the “substrate to be deposited” is not particularly limited, and a conventionally known substrate can be used. For example, from materials such as polyethylene terephthalate (PET), polyethersulfone (PES), polyethylene naphthalate (PEN), polyarylate (PAR), polyamideimide (PAI), polybenzimidazole (PBI), polysulfone (PSF), etc. Examples thereof include a flexible substrate, a glass substrate, and a stainless steel substrate. As the type of substrate, a flexible substrate is preferable. By using a flexible substrate, film formation by a roll-to-roll method is possible, and film formation can be performed with high productivity. Hereinafter, the case where a flexible substrate is used as a substrate material will be described as an example.

図1は、本発明のスパッタリング成膜装置を備えた太陽電池製造装置の一実施形態を表わす概略図である。   FIG. 1 is a schematic view showing an embodiment of a solar cell manufacturing apparatus provided with the sputtering film forming apparatus of the present invention.

図1に示すように、この太陽電池製造装置は、基板10を巻取った巻出しロール11が収容される巻出し室12と、基板10を巻取る巻取りロール13が収容される巻取り室14と、巻出し室12と巻取り室14との間で基板10の搬送方向(図中の矢印方向)に沿って配置されるスパッタリング成膜装置20とで主に構成される。   As shown in FIG. 1, this solar cell manufacturing apparatus includes an unwinding chamber 12 in which an unwinding roll 11 that winds up a substrate 10 is accommodated, and a winding chamber in which an unwinding roll 13 that winds up the substrate 10 is accommodated. 14 and a sputtering film forming apparatus 20 disposed between the unwinding chamber 12 and the winding chamber 14 along the transport direction of the substrate 10 (the arrow direction in the drawing).

巻出し室12及び巻取り室14には、基板10をガイドしつつ、基板10にかかる張力を均一にするためのガイドローラ15,16が、それぞれ複数個(本実施形態では2個)設けられている。   The unwinding chamber 12 and the winding chamber 14 are each provided with a plurality of guide rollers 15 and 16 (two in this embodiment) for guiding the substrate 10 and making the tension applied to the substrate 10 uniform. ing.

スパッタリング成膜装置20は、ガス導入口21aと排気口21bとが形成された反応室21内に、基板10を設置する基板ホルダ22が配置されている。また、基板ホルダ22に対向してカソード電極となるターゲット23が配置され、基板10とターゲット23との間にアノード電極24が配置されている。すなわち、基板ホルダ22から所定間隔をおいて、アノード電極24、ターゲット23の順にそれぞれ配置されている。   In the sputtering film forming apparatus 20, a substrate holder 22 for installing the substrate 10 is disposed in a reaction chamber 21 in which a gas introduction port 21a and an exhaust port 21b are formed. A target 23 serving as a cathode electrode is disposed facing the substrate holder 22, and an anode electrode 24 is disposed between the substrate 10 and the target 23. That is, the anode electrode 24 and the target 23 are arranged in this order at a predetermined interval from the substrate holder 22.

図2,3を併せて参照すると、このアノード電極24は、櫛歯状に加工された一対のアノードバー24a、24aからなり、それぞれのアノードバー24aの端部どうしが連結シャフト24bを介して接合して一体化している。一対のアノードバー24a,24aからは、それぞれ対向して複数の櫛歯24cが所定間隔Lで突き合わせられるように突設されている。そして、図示しない可動手段によって、後述する磁場発生装置25と同期して、アノード電極24が、基板10と平行に往復移動可能とされている。   Referring to FIGS. 2 and 3, the anode electrode 24 is composed of a pair of anode bars 24 a and 24 a processed into a comb shape, and the ends of the anode bars 24 a are joined to each other via a connecting shaft 24 b. And integrated. A plurality of comb teeth 24c are protruded from the pair of anode bars 24a and 24a so as to face each other at a predetermined interval L. The anode electrode 24 can be reciprocated in parallel with the substrate 10 in synchronization with a magnetic field generator 25 described later by a movable means (not shown).

アノードバー24aの櫛歯24cは、長さ10mm以上で、5〜10mm間隔で形成されていることが好ましい。櫛歯24cの長さは、20〜40mmがより好ましい。櫛歯24cの長さが10mm未満であると、アノード電極として不十分であり、またマグネットの磁界内に入らないように長さを設計することが必要である。また、櫛歯24cの間隔が5mm未満であると、スパッタ粒子がアノード電極24で遮られてしまうことがあり、10mmを超えると、アノード電極として不十分である。   The comb teeth 24c of the anode bar 24a are preferably 10 mm or more in length and are formed at intervals of 5 to 10 mm. The length of the comb teeth 24c is more preferably 20 to 40 mm. If the length of the comb teeth 24c is less than 10 mm, it is insufficient as an anode electrode, and it is necessary to design the length so as not to enter the magnetic field of the magnet. Further, when the interval between the comb teeth 24c is less than 5 mm, the sputtered particles may be blocked by the anode electrode 24. When the distance exceeds 10 mm, the sputter particles are insufficient as the anode electrode.

各アノードバー24aの櫛歯24cどうしの間隔Lは、櫛歯がマグネットの磁界内に入らないよう設計される。   The distance L between the comb teeth 24c of each anode bar 24a is designed so that the comb teeth do not enter the magnetic field of the magnet.

アノード電極24の平面方向から見た全体の面積に占める空隙部の面積の割合(以下、「空隙率」という)は、40%以上が好ましい。空隙率が40%未満であると、十分な効果が得られない。   The ratio of the area of the voids in the total area viewed from the planar direction of the anode electrode 24 (hereinafter referred to as “void ratio”) is preferably 40% or more. If the porosity is less than 40%, a sufficient effect cannot be obtained.

ターゲット23の基板10と反対側には、磁場発生装置25が配置されている。   A magnetic field generator 25 is disposed on the opposite side of the target 23 from the substrate 10.

磁場発生装置25は、支持板26上に、所定間隔をおいて第1のマグネット27aと第2のマグネット27bとが交互に配置され、第1のマグネット27aと第2のマグネット27bとのターゲット23に面した側がそれぞれ逆極性となっている。この実施形態では、第1のマグネット27aのターゲット23側の磁極がN極をなし、第2のマグネット27bのターゲット23側の磁極がS極をなすように配置されている。そして、可動手段28によって、アノード電極24cと磁場発生装置25とが、同期してターゲット23と平行に往復移動可能とされている。   In the magnetic field generator 25, the first magnet 27a and the second magnet 27b are alternately arranged on the support plate 26 at a predetermined interval, and the target 23 of the first magnet 27a and the second magnet 27b. Each side facing is opposite in polarity. In this embodiment, the magnetic poles on the target 23 side of the first magnet 27a form an N pole, and the magnetic poles on the target 23 side of the second magnet 27b form an S pole. The movable means 28 allows the anode electrode 24 c and the magnetic field generator 25 to reciprocate in parallel with the target 23 in synchronization.

次に、この太陽電池製造装置を用いて、基板10表面に成膜する際の作動について説明する。   Next, the operation when forming a film on the surface of the substrate 10 using this solar cell manufacturing apparatus will be described.

基板10を巻出しロール11から引き出してスパッタリング成膜装置20に導く。
スパッタリング成膜装置20では、反応室21内を真空引きした後、ガス導入口21aから、アルゴンガス、ヘリウムガス、ネオンガス、窒素ガス等のスパッタリングガスを導入し、反応室21内を一定のガス圧力に調整する。反応室21内のガス圧力は、0.01〜5Paが好ましい。反応室21内のガス圧力が安定した段階で、アノード電極24を接地した状態で、ターゲット23にマイナスの直流電圧又は高周波電圧を印加する。一方、第1のマグネット27aからターゲット23を介して第2のマグネット27bに至る磁界が発生しており、ターゲット23の表面側に円弧状の磁界が形成される。そして、アノード電極24とターゲット23との間でプラズマが発生する。これにより、スパッタリングガスがイオン化し、イオン化した原子がターゲット23に衝突し、弾き飛ばされたターゲット構成原子(スパッタ粒子)が、アノード電極24の櫛歯状の間隙部分を通って基板10に付着して薄膜が形成される。また、プラズマは、アノード電極24とターゲット23との間で発生しているので、基板10は直接プラズマに曝されないので、膜質の良好な薄膜を形成できる。
The substrate 10 is pulled out from the unwinding roll 11 and guided to the sputtering film forming apparatus 20.
In the sputtering film forming apparatus 20, after the inside of the reaction chamber 21 is evacuated, a sputtering gas such as argon gas, helium gas, neon gas, nitrogen gas or the like is introduced from the gas introduction port 21a, and the reaction chamber 21 has a constant gas pressure. Adjust to. The gas pressure in the reaction chamber 21 is preferably 0.01 to 5 Pa. When the gas pressure in the reaction chamber 21 is stabilized, a negative DC voltage or a high-frequency voltage is applied to the target 23 with the anode electrode 24 grounded. On the other hand, a magnetic field is generated from the first magnet 27 a to the second magnet 27 b through the target 23, and an arc-shaped magnetic field is formed on the surface side of the target 23. Then, plasma is generated between the anode electrode 24 and the target 23. As a result, the sputtering gas is ionized, the ionized atoms collide with the target 23, and the target constituent atoms (sputtered particles) blown off adhere to the substrate 10 through the comb-like gap portion of the anode electrode 24. As a result, a thin film is formed. Further, since plasma is generated between the anode electrode 24 and the target 23, the substrate 10 is not directly exposed to the plasma, so that a thin film with good film quality can be formed.

スパッタリング中、可動手段28によって、アノード電極24及び磁場発生装置25を、連動して水平方向に往復移動させる。これにより、ターゲット23ができるだけ均一に侵食されると共に、基板10に均一な薄膜が形成される。   During sputtering, the movable electrode 28 causes the anode electrode 24 and the magnetic field generator 25 to reciprocate in the horizontal direction in conjunction with each other. Thereby, the target 23 is eroded as uniformly as possible, and a uniform thin film is formed on the substrate 10.

こうして、基板10の表面に所定膜厚の薄膜を形成した後、成膜工程を終了して巻取りロール13で巻き取る。   In this way, after a thin film having a predetermined thickness is formed on the surface of the substrate 10, the film forming process is completed and the film is wound up by the winding roll 13.

このスパッタリング成膜装置は、アノード電極24が複数の櫛歯24cを有し、該櫛歯24cの隙間部分が成膜面に対して投影される(アノード電極24を平面方向から見た時、間隙部分から成膜面が見える)ように反応室に配置されているので、ターゲット23からのスパッタ粒子がアノード電極24によって遮られ難く、櫛歯24cの間隙部分を通って成膜面まで到達する。このため、ターゲットのロスが少なくなり、短時間で膜質の良好な薄膜を成膜できる。また、アノード電極24のスパッタ粒子による汚染を抑制できるので、メンテナンスコストを低減できる。   In this sputtering film forming apparatus, the anode electrode 24 has a plurality of comb teeth 24c, and a gap portion of the comb teeth 24c is projected onto the film formation surface (when the anode electrode 24 is viewed from the plane direction, the gap The sputtered particles from the target 23 are not easily blocked by the anode electrode 24 and reach the film formation surface through the gap portions of the comb teeth 24c. For this reason, the loss of the target is reduced, and a thin film with good film quality can be formed in a short time. Moreover, since the contamination by the sputtered particles of the anode electrode 24 can be suppressed, the maintenance cost can be reduced.

以下、実施例及び比較例を用いて本発明の効果を説明する。なお、以下の実施例及び比較例では、スパッタリングガスとして、Arを、基板として可撓性プラスチックフィルムを、ターゲットとしてITOを用いた。   Hereinafter, the effects of the present invention will be described using examples and comparative examples. In the following examples and comparative examples, Ar was used as the sputtering gas, a flexible plastic film was used as the substrate, and ITO was used as the target.

(実施例1)
図1に示す太陽電池製造装置を用いて基板10に薄膜を形成した。なお、アノード電極24として、図3に示すように、長さ30mmの櫛歯24cが、5mm間隔で形成されているアノードバー24aを、アノードバー24aどうしの櫛歯24cの突き合わせの間隔Lが、150mmとなるように連結シャフト24bで連結してなるもの(空隙率50%)を用いた。
巻出しロール11及び巻き取りロール13を作動させ、基板10の成膜面を反応室21内に配置し、反応室21内を真空引きした後、スパッタリングガスを供給し、ガス圧力を0.7Paとした。そして、ターゲットに200Vの直流電圧を印加してプラズマを発生させ、基板の表面にターゲット構成原子を付着させて5分間スパッタリングを行った。基板表面には、厚さ100nmの均一な薄膜が形成されていた。
Example 1
The thin film was formed in the board | substrate 10 using the solar cell manufacturing apparatus shown in FIG. As shown in FIG. 3, the anode bar 24 a having 30 mm-long comb teeth 24 c formed at intervals of 5 mm is used as the anode electrode 24. What was connected by the connection shaft 24b so that it might be set to 150 mm (50% of porosity) was used.
The unwinding roll 11 and the winding roll 13 are operated, the film formation surface of the substrate 10 is disposed in the reaction chamber 21, the inside of the reaction chamber 21 is evacuated, a sputtering gas is supplied, and the gas pressure is 0.7 Pa. It was. Then, a 200 V DC voltage was applied to the target to generate plasma, and target constituent atoms were attached to the surface of the substrate, and sputtering was performed for 5 minutes. A uniform thin film having a thickness of 100 nm was formed on the substrate surface.

(実施例2)
実施例1において、アノード電極24として、長さ30mmの櫛歯24cが、5mm間隔で形成されているアノードバー24aを、アノードバーどうしの櫛歯24cの突き合わせの間隔Lが、150mmとなるように連結シャフトで連結してなるもの(空隙率50%)を用いた以外は、実施例1と同様にして2分間スパッタリングを行った。基板表面には、厚さ60nmの均一な薄膜が形成されていた。
(Example 2)
In Example 1, as the anode electrode 24, an anode bar 24a in which comb teeth 24c having a length of 30 mm are formed at intervals of 5 mm is used, and an abutment interval L of the comb teeth 24c between the anode bars is 150 mm. Sputtering was carried out for 2 minutes in the same manner as in Example 1 except that a material connected by a connecting shaft (porosity 50%) was used. A uniform thin film having a thickness of 60 nm was formed on the substrate surface.

(比較例1)
実施例1において、図5に示すように、アノード電極4として、長さ1500mm、幅10mm、厚み2mmの板状のアノードバー4aを、アノードバー4aどうしの間隔が、150mmとなるように連結シャフトで連結してなるものを用いた以外は、実施例1と同様にして5分間スパッタリングを行った。基板表面には、厚さ50nmの薄膜が形成されていた。
(Comparative Example 1)
In Example 1, as shown in FIG. 5, a plate-like anode bar 4a having a length of 1500 mm, a width of 10 mm, and a thickness of 2 mm is used as the anode electrode 4, and the connecting shaft is set so that the interval between the anode bars 4a is 150 mm. Sputtering was carried out for 5 minutes in the same manner as in Example 1 except that the one formed by connecting the above was used. A thin film having a thickness of 50 nm was formed on the substrate surface.

10:基板
11:巻出しロール
12:巻出し室
13:巻取りロール
14:巻取り室
15,16:ガイドローラ
20:スパッタリング成膜装置
21:反応室
21a:ガス導入口
21b:排気口
22:基板ホルダ
23:ターゲット
24:アノード電極
24a:アノードバー
24b:連結シャフト
25:磁場発生装置
26:支持板
27a、27b:マグネット
28:可動手段
10: substrate 11: unwinding roll 12: unwinding chamber 13: winding roll 14: winding chamber 15, 16: guide roller 20: sputtering film forming apparatus 21: reaction chamber 21a: gas introduction port 21b: exhaust port 22: Substrate holder 23: target 24: anode electrode 24a: anode bar 24b: connecting shaft 25: magnetic field generator 26: support plate 27a, 27b: magnet 28: movable means

Claims (4)

反応室内に、成膜対象となる基板と、この基板に対向して配置されたカソード電極のターゲットと、前記基板と前記ターゲットとの間に配置されたアノード電極とを備えたスパッタリング成膜装置において、
前記アノード電極が、櫛歯状をなし、該櫛歯状の隙間部分が成膜面に対して投影されるように配置されていることを特徴とするスパッタリング成膜装置。
In a sputtering film forming apparatus, comprising: a substrate to be deposited in a reaction chamber; a cathode electrode target disposed opposite to the substrate; and an anode electrode disposed between the substrate and the target. ,
The sputtering film-forming apparatus, wherein the anode electrode has a comb-like shape, and the comb-like gap portion is arranged to be projected onto the film-forming surface.
前記スパッタリング成膜装置が、マグネトロンスパッタリング成膜装置である請求項1に記載のスパッタリング成膜装置。   The sputtering film forming apparatus according to claim 1, wherein the sputtering film forming apparatus is a magnetron sputtering film forming apparatus. 前記ターゲットの前記アノード電極と反対側に磁場発生手段を有し、前記アノード電極と前記磁場発生手段とを、前記基板面と平行に往復移動させる移動台が設けられている請求項1又は2に記載のスパッタリング成膜装置。   3. The moving table according to claim 1, further comprising a magnetic field generating unit on a side opposite to the anode electrode of the target, and a moving table for reciprocating the anode electrode and the magnetic field generating unit in parallel with the substrate surface. The sputtering film-forming apparatus of description. 請求項1〜3のいずれかに記載のスパッタリング成膜装置を備えた太陽電池製造装置。   The solar cell manufacturing apparatus provided with the sputtering film-forming apparatus in any one of Claims 1-3.
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