JP2012101879A - Substrate housing device - Google Patents

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Atsushi Hiraiwa
淳 平岩
Kensuke Maeda
健介 前田
Koichi Kawai
耕一 河合
Toshihiro Uchida
敏博 内田
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Kojima Industries Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate housing device configured to discharge a substrate or a substrate holding member in a first-in, first-out manner.SOLUTION: A substrate housing mechanism houses one or more stacked substrates 100, and includes a support table 17 for supporting the stacked substrates 100 from below. The support table 17 is pressed upward by the substrate 100a supplied from below, and moves in a retracting position for allowing the substrate 100a to be supplied to pass. When pressure by the substrate 100a is released, the support table 17 moves to a support position for supporting the stacked substrates 100b by biasing force of a spring.

Description

本発明は、基板や、基板を保持した基板保持部材(例えばパレットなど)を、収容する基板収容装置に関する。   The present invention relates to a substrate accommodation apparatus that accommodates a substrate and a substrate holding member (for example, a pallet) that holds the substrate.

従来から、プリント基板に半導体素子などの部品を実装するために、基板に対して各種処理を施す装置が広く知られている。こうした装置では、使用する基板または基板を保持したパレットなどの基板保持部材を収容する基板収容機構が設けられていることが多い。例えば、特許文献1には、複数のプリント基板を積層して収容する基板収容機構が開示されている。基板の搬送装置は、この積層された基板を上から順に一枚ずつ取り出し、後段の各種装置へ基板を供給する。   2. Description of the Related Art Conventionally, apparatuses for performing various types of processing on a substrate in order to mount components such as semiconductor elements on a printed circuit board are widely known. Such an apparatus is often provided with a substrate accommodation mechanism for accommodating a substrate holding member such as a substrate to be used or a pallet holding the substrate. For example, Patent Document 1 discloses a substrate accommodation mechanism that accommodates a plurality of printed circuit boards in a stacked manner. The substrate transfer device takes out the stacked substrates one by one in order from the top, and supplies the substrates to various devices at the subsequent stage.

特開平10−035889号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-035889

ところで、こうした従来の基板収容機構では、この収容されている基板が少なくなると、新たな基板を、上側から追加する構成となっていた。この場合、収容機構に先に収容されていた基板の上に、後から追加された基板が積層されることになる。この場合、搬送装置は、この上側に積まれた基板(すなわち後から追加された基板)から先に取り出すことになる。かかる手順を繰り返すと、先に追加された基板は、いつまでも基板積層体の下層に位置し、取り出されることなく、長時間、放置されることになる。   By the way, in such a conventional substrate accommodation mechanism, when the number of accommodated substrates decreases, a new substrate is added from the upper side. In this case, a substrate added later is stacked on the substrate previously accommodated in the accommodation mechanism. In this case, the transfer device first takes out the substrate stacked on the upper side (that is, the substrate added later). When such a procedure is repeated, the previously added substrate is located in the lower layer of the substrate laminate and will be left for a long time without being taken out.

半田付け前の基板は、長時間放置されるとランド部分の酸化が進み、半田が付きにくくなるという問題があった。こうした問題を避けるために、収容機構に収容された基板が全て取り出されてから、新たな基板を追加するということも考えられる。しかし、この場合、作業者は、最後の基板が取り出されてから次の基板を取り出すまでの短い時間に、新たな基板を追加しなければならず、作業者の負担が大きかった。また、基板の追加が遅れると、後段における基板への各種処理が停滞してしまい、結果として、部品実装の効率が低下するという問題もあった。   If the substrate before soldering is left for a long time, the land portion is oxidized, which makes it difficult to attach the solder. In order to avoid such a problem, a new substrate may be added after all the substrates accommodated in the accommodation mechanism are taken out. However, in this case, the operator has to add a new substrate in a short time after the last substrate is taken out until the next substrate is taken out, and the burden on the operator is large. In addition, if the addition of the board is delayed, various processes on the board in the subsequent stage are stagnated, resulting in a problem that the efficiency of component mounting is lowered.

そこで、本発明では、先に追加された基板または基板保持部材ほど、先に取り出される基板収容装置を提供することを目的とする。   In view of the above, an object of the present invention is to provide a substrate storage device that is extracted earlier as the substrate or the substrate holding member added earlier.

本発明の基板収容装置は、1以上の基板または基板保持部材を積層した状態で収容する基板収容装置であって、前記積層された基板または基板保持部材を下方から支える支持部材であって、下方から供給される基板または基板保持部材により上方向に押圧されることで当該供給される基板または基板保持部材の通過を許容する退避位置に移動するとともに、当該押圧が解除されると前記積層された基板または基板保持部材を支える支持位置に移動する支持部材を備えることを特徴とする。   The substrate accommodation apparatus of the present invention is a substrate accommodation device that accommodates one or more substrates or substrate holding members in a stacked state, and is a support member that supports the stacked substrates or substrate holding members from below. When the substrate or substrate holding member supplied from above is pressed upward, the substrate or substrate holding member is moved to a retracted position allowing passage of the substrate or substrate holding member, and when the pressing is released, the layers are stacked. A support member that moves to a support position that supports the substrate or the substrate holding member is provided.

好適な態様では、前記支持部材を支持位置方向に付勢する付勢手段を備え、前記支持部材は、基板または基板保持部材により上方向に押圧された際に前記付勢手段の付勢力に抗して上方向に回動することで退避位置に移動する。   In a preferred aspect, the apparatus includes an urging unit that urges the support member in the support position direction, and the support member resists the urging force of the urging unit when pressed upward by the substrate or the substrate holding member. Then, it moves to the retracted position by turning upward.

本発明によれば、新たな基板または基板保持部材を下方から追加できるため、先に追加された基板または基板保持部材が、後から追加された基板または基板保持部材の下側になることがない。そして、その結果、先に追加された基板または基板保持部材ほど、先に取り出される。   According to the present invention, since a new substrate or substrate holding member can be added from below, the previously added substrate or substrate holding member does not become the lower side of the substrate or substrate holding member added later. . As a result, the first added substrate or substrate holding member is taken out first.

本発明の実施形態である電子部品実装システムを構成する基板前処理装置の斜視図である。It is a perspective view of the substrate pretreatment apparatus which constitutes the electronic component mounting system which is an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態である電子部品実装システムを構成する部品実装装置の斜視図である。It is a perspective view of the component mounting apparatus which comprises the electronic component mounting system which is embodiment of this invention. 基板前処理装置の概略上面図である。It is a schematic top view of a substrate pretreatment apparatus. 収容機構の上面図および正面図である。It is the upper side figure and front view of an accommodation mechanism. 他の収容機構の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of another accommodation mechanism. 搬送ヘッドの正面図および側面図である。It is the front view and side view of a conveyance head. 押出板による基板送出の様子を示す図である。It is a figure which shows the mode of the board | substrate delivery by an extrusion plate. マーカヘッド周辺の正面図である。It is a front view around a marker head. クリーナーユニット周辺の側面図である。It is a side view around a cleaner unit. ネジ締結ヘッド周辺の正面図である。It is a front view around a screw fastening head. パレットの斜視図である。It is a perspective view of a pallet. 上側ユニットの概略上面図である。It is a schematic top view of an upper unit. ディスペンス部の正面図である。It is a front view of a dispensing part. ディスペンスヘッドの正面図および上面図である。It is the front view and top view of a dispensing head. 捨打円盤の斜視図である。It is a perspective view of a discard disc. マウントヘッドの側面図である。It is a side view of a mount head. テープ交換時にバッファ充填する場合のタイミングチャートである。It is a timing chart in the case of buffer filling at the time of tape exchange. マウント作業の合間にバッファ充填する場合のタイミングチャートである。It is a timing chart in the case of buffer filling between mounting operations. 下側ユニットの概略側面図である。It is a schematic side view of a lower unit. 上昇部の概略正面図である。It is a schematic front view of a raise part.

以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図1は、本発明の実施形態である電子部品実装システムを構成する基板前処理装置10の概略斜視図である。また、図2は、電子部品実装システムを構成する部品実装装置49の概略斜視図である。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic perspective view of a substrate pretreatment apparatus 10 constituting an electronic component mounting system according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic perspective view of a component mounting apparatus 49 constituting the electronic component mounting system.

本実施形態の電子部品実装システムは、プリント基板上に、半導体素子などの電子部品を実装するためのシステムであり、基板前処理装置10および部品実装装置49の二つの装置で構成される。   The electronic component mounting system of the present embodiment is a system for mounting electronic components such as semiconductor elements on a printed circuit board, and includes two devices, a substrate pretreatment device 10 and a component mounting device 49.

はじめに、この電子部品実装システムでの、基板100への部品実装の流れについて簡単に説明する。実装前の基板100は、通常、基板前処理装置10に設けられた基板収容部12に積層された状態で保管される。搬送ヘッド20は、この基板収容部12から必要な基板100を取り出し、搬送する。搬送された基板100の表面および裏面には、当該基板100の識別に必要なマーキングが、マーカヘッド26により施される。マーキングが施された基板100は、続いて、対向配置された一対のクリーナーユニット34により、清掃される。清掃後の基板100は、コンベアにより、コネクタセット位置に運ばれる。ネジ締結ヘッド46が、この基板100に、コネクタを螺合締結することで、基板100の前処理は完了となる。   First, the flow of component mounting on the board 100 in this electronic component mounting system will be briefly described. The substrate 100 before mounting is normally stored in a state where it is stacked on the substrate housing portion 12 provided in the substrate pretreatment apparatus 10. The transport head 20 takes out the necessary substrate 100 from the substrate housing portion 12 and transports it. Markers necessary for identifying the substrate 100 are marked on the front and back surfaces of the transported substrate 100 by the marker head 26. Subsequently, the marked substrate 100 is cleaned by a pair of cleaner units 34 arranged to face each other. The cleaned substrate 100 is carried to the connector set position by the conveyor. When the screw fastening head 46 is screwed and fastened to the board 100, the pretreatment of the board 100 is completed.

前処理が完了した基板100は、作業者の手作業により、部品実装装置49にセットされる。部品実装装置49において、基板100は、パレット110と呼ばれる保持具に保持された状態で搬送される。一つのパレット110には、表面を上向きにした基板100fと裏面を上向きにした基板100bとがセットされる。   The substrate 100 for which the pretreatment has been completed is set in the component mounting apparatus 49 by the operator's manual work. In the component mounting apparatus 49, the board 100 is transported while being held by a holder called a pallet 110. On one pallet 110, a substrate 100f with the front side facing up and a substrate 100b with the back side facing up are set.

部品実装装置49は、上側ユニット50および下側ユニット80に大別される。上側ユニット50には、基板100にクリーム半田を塗布するディスペンス部51と、基板100に電子部品をマウントするマウント部67が設けられている。また、下側ユニット80には、電子部品が実装された基板100を加熱するリフロー部81が設けられている。   The component mounting apparatus 49 is roughly divided into an upper unit 50 and a lower unit 80. The upper unit 50 is provided with a dispense unit 51 for applying cream solder to the substrate 100 and a mount unit 67 for mounting electronic components on the substrate 100. The lower unit 80 is provided with a reflow unit 81 for heating the substrate 100 on which electronic components are mounted.

基板100は、パレット110ごと、まず、上側ユニット50に投入される。ディスペンス部51に設けられたディスペンスヘッドは、制御部(図示せず)からの指示に従い、この基板100の上面に、クリーム半田を塗布する。なお、この基板100への半田塗布に先立って、ディスペンスヘッドは、捨て打ち円盤に試験的にクリーム半田を塗布する捨て打ち作業を実行する。また、ディスペンスヘッドは、基板100に付されたマーカーを読み取ることで、当該基板100の種類、ひいては、クリーム半田の塗布箇所などを特定している。   The substrate 100 is first put into the upper unit 50 together with the pallet 110. The dispense head provided in the dispense unit 51 applies cream solder to the upper surface of the substrate 100 in accordance with an instruction from a control unit (not shown). Prior to the solder application to the substrate 100, the dispense head executes a discarding operation for applying cream solder to the discard disk on a trial basis. Further, the dispense head reads the marker attached to the substrate 100 to identify the type of the substrate 100 and, in turn, the location where the cream solder is applied.

クリーム半田が塗布された基板100の上面には、続いて、マウント部67に設けられたマウントヘッドにより、電子部品がマウントされていく。マウント部67には、この電子部品を一列に並べて保持するキャリアテープ71を、順次、送り出すテープ送出機構72が設けられている。マウントヘッドは、このテープ送出機構72により送出されたキャリアテープ71から電子部品を取り出し、基板上にマウントしていく。キャリアテープ71から電子部品が全て取り出されると、作業者は、当該キャリアテープ71をテープ送出機構72から取り出し、代わりに、新たなキャリアテープ71をセットする。マウント部67には、このキャリアテープ71の交換の間に使用すべき電子部品がセットされたバッファ部も設けられている。マウントヘッドは、処理の進行状況に応じて、キャリアテープ71またはバッファ部から電子部品を取り出し、基板上にマウントしていく。   Subsequently, electronic components are mounted on the upper surface of the substrate 100 coated with the cream solder by a mount head provided in the mount portion 67. The mount portion 67 is provided with a tape delivery mechanism 72 that sequentially feeds out carrier tapes 71 that hold the electronic components in a line. The mount head takes out an electronic component from the carrier tape 71 sent out by the tape sending mechanism 72 and mounts it on the substrate. When all the electronic components are taken out from the carrier tape 71, the operator takes out the carrier tape 71 from the tape delivery mechanism 72 and sets a new carrier tape 71 instead. The mount portion 67 is also provided with a buffer portion in which electronic components to be used during the replacement of the carrier tape 71 are set. The mount head takes out the electronic component from the carrier tape 71 or the buffer unit according to the progress of processing, and mounts it on the substrate.

電子部品がマウントされた基板100は、下降部84に設けられた下降機構により下側ユニット80へと搬送される。下側ユニット80に搬送された基板100は、当該下側ユニット80に設けられたコンベアにより、一方向に搬送される。この下側ユニット80における基板100の搬送経路上には、基板100を加熱して、当該基板100に塗布されたクリーム半田を溶融するリフロー炉が複数設けられている。この複数のリフロー炉を通過した基板100は、上昇部85へと出力される。   The substrate 100 on which the electronic component is mounted is conveyed to the lower unit 80 by the lowering mechanism provided in the lowering portion 84. The substrate 100 transported to the lower unit 80 is transported in one direction by a conveyor provided in the lower unit 80. A plurality of reflow furnaces for heating the substrate 100 and melting the cream solder applied to the substrate 100 are provided on the transport path of the substrate 100 in the lower unit 80. The substrate 100 that has passed through the plurality of reflow furnaces is output to the rising portion 85.

上昇部85において、表面および裏面の両方への部品実装が完了した基板100は、完成基板100cとして取り出され、表面への部品実装のみが完了した基板は、上昇部85に設けられた上昇機構により上側ユニット50に再度搬送され、裏面への部品実装が施される。   In the ascending portion 85, the substrate 100 on which the component mounting on both the front surface and the back surface is completed is taken out as a completed substrate 100c. It is conveyed again to the upper unit 50 and component mounting is performed on the back surface.

なお、上述した基板前処理装置10および部品実装装置49は、共通の一つの制御部により制御されてもよいし、それぞれが別個の制御部を有し、この二つの制御部をさらに、上位の制御部で制御するようにしてもよい。いずれにしても、基板前処理装置10および部品実装装置49が、連動して制御されることが望ましい。   Note that the substrate pretreatment device 10 and the component mounting device 49 described above may be controlled by a common control unit, or each has a separate control unit. You may make it control by a control part. In any case, it is desirable that the substrate pretreatment apparatus 10 and the component mounting apparatus 49 are controlled in conjunction with each other.

以上が、電子部品実装システムにおける電子部品実装の流れである。以下では、この電子部品実装システムの各部について詳説していく。   The above is the flow of electronic component mounting in the electronic component mounting system. Below, each part of this electronic component mounting system will be described in detail.

[基板前処理装置の概要]
まず、基板前処理装置10の概略構成について図3を参照して説明する。図3は、基板前処理装置10の概略上面図である。なお、この図において、搬送ヘッド20、マーカヘッド26f,26b(以下、特に区別しない場合はアルファベット添字を省略する。他部材も同じ)、ネジ締結ヘッド46に付された矢印および丸は、それぞれ、各ヘッド20,26,46の可動方向を示している。したがって、本実施形態において、搬送ヘッド20およびネジ締結ヘッド46は、X方向、Y方向、Z方向の三方向に移動可能であり、マーカヘッド26はX方向、Z方向にのみ移動可能となっている。
[Outline of substrate pretreatment equipment]
First, a schematic configuration of the substrate pretreatment apparatus 10 will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a schematic top view of the substrate pretreatment apparatus 10. In this figure, the conveyance head 20, marker heads 26f and 26b (hereinafter, alphabetical suffixes are omitted unless otherwise distinguished, the same applies to other members), and the arrows and circles attached to the screw fastening head 46 are respectively The movable direction of each head 20, 26, 46 is shown. Therefore, in the present embodiment, the transport head 20 and the screw fastening head 46 can move in three directions of the X direction, the Y direction, and the Z direction, and the marker head 26 can move only in the X direction and the Z direction. Yes.

既述したとおり、この基板前処理装置10は、電子部品を実装する前の基板100に対して、マーキングやクリーニング、コネクタ締結といった前処理を施す装置である。基板収容部12には、二つの収容機構がX方向に並んで設置されている。各収容機構には、同一種類の基板100が、積層されて収容されている。   As described above, the substrate pretreatment device 10 is a device that performs pretreatment such as marking, cleaning, and connector fastening on the substrate 100 before mounting electronic components. Two accommodation mechanisms are installed side by side in the X direction in the substrate accommodation portion 12. In each accommodation mechanism, the same type of substrate 100 is stacked and accommodated.

ここで、本実施形態で取り扱う基板100は、略長方形の一辺から、より小さい長方形が突出した、漢字の「凸」のような形状をしている。この基板100の一隅には、コネクタを締結するネジの通過を許容する締結孔102が二つ形成されている。また、基板100には、表面および裏面が存在し、その両面に部品が実装可能となっている。   Here, the substrate 100 handled in the present embodiment is shaped like a “convex” kanji in which a smaller rectangle protrudes from one side of a substantially rectangular shape. Two fastening holes 102 that allow passage of screws for fastening the connector are formed at one corner of the substrate 100. The substrate 100 has a front surface and a back surface, and components can be mounted on both surfaces.

搬送ヘッド20は、基板収容部12から、基板100を一枚ずつ取り出し搬送するヘッドである。この搬送ヘッド20は、X方向に並んだ二つの吸引パッドで基板100を吸引保持した状態で移動し、当該基板100を、Y方向に延びるレール31上に載置する。レール31の近傍には、ペン先が下向きになるように設置された表用マーカヘッド26f、および、ペン先が上向きになるように設置された裏用マーカヘッド26bが設けられている。表用マーカヘッド26fは基板100の表面に、裏用マーカヘッド26bは基板100の裏面に、それぞれ、基板100の種類判別用のマーキングを施す。なお、後に詳説するように、各マーカヘッドは、X方向およびZ方向にのみ移動可能となっており、当該マーカヘッド26と基板100とのY方向の相対位置関係は、搬送ヘッド20での基板100のY方向搬送量により調整される。   The transport head 20 is a head that takes out and transports the substrates 100 one by one from the substrate housing portion 12. The transport head 20 moves in a state where the substrate 100 is sucked and held by two suction pads arranged in the X direction, and places the substrate 100 on the rail 31 extending in the Y direction. In the vicinity of the rail 31, a front marker head 26 f installed so that the pen tip faces downward and a back marker head 26 b installed so that the pen tip faces upward are provided. The front marker head 26f is marked on the surface of the substrate 100, and the back marker head 26b is marked on the back surface of the substrate 100, respectively. As will be described in detail later, each marker head is movable only in the X direction and the Z direction, and the relative positional relationship between the marker head 26 and the substrate 100 in the Y direction is determined by the substrate in the transport head 20. It is adjusted by a Y-direction transport amount of 100.

マーキングが施された基板100は、コンベア43によりY方向下流側へと搬送される。この搬送経路上には、上下に対向配置された一対のクリーナーユニット34が設けられている。各クリーナーユニット34には、基板100の表面または裏面に付着した粉塵を掃き上げるブラシと、当該ブラシにより掃き上げられた粉塵を吸引し、収集するバキューム機構と、が設けられている。なお、本実施形態では、このブラシとコンベアを、同一の駆動源で駆動しているが、これについても後述する。   The substrate 100 on which the marking has been performed is transported downstream in the Y direction by the conveyor 43. A pair of cleaner units 34 arranged vertically opposite to each other are provided on the transport path. Each cleaner unit 34 is provided with a brush that sweeps up dust adhering to the front or back surface of the substrate 100 and a vacuum mechanism that sucks and collects the dust swept up by the brush. In the present embodiment, the brush and the conveyor are driven by the same drive source, which will be described later.

コンベア43よりY方向下流側には、コネクタセット部47が設けられている。このコネクタセット部47は、基板100に締結すべきコネクタが収容される凹部である。作業者は、二つのネジ穴が形成されたコネクタを、当該ネジ穴が上向きになるような姿勢で、コネクタセット部47に順次セットする。コンベア43は、このコネクタセット部47に収容されたコネクタのネジ穴と、基板100に形成された締結孔102と、が略一致する位置まで基板100を搬送する。ネジ締結ヘッド46は、コネクタのネジ穴と基板100の締結孔102が略一致すれば、締結ネジを締結孔102およびネジ穴に差し込み、コネクタを基板100の裏面に螺合締結する。   A connector set 47 is provided downstream of the conveyor 43 in the Y direction. The connector set portion 47 is a recess in which a connector to be fastened to the board 100 is accommodated. The operator sequentially sets the connector in which the two screw holes are formed in the connector setting portion 47 in such a posture that the screw holes face upward. The conveyor 43 conveys the substrate 100 to a position where the screw hole of the connector accommodated in the connector set portion 47 and the fastening hole 102 formed in the substrate 100 substantially coincide with each other. The screw fastening head 46 inserts a fastening screw into the fastening hole 102 and the screw hole when the screw hole of the connector and the fastening hole 102 of the board 100 substantially coincide with each other, and screw and fasten the connector to the back surface of the board 100.

以上、説明したような各部は、いずれも、同一の制御部(図示せず)により制御されている。制御部は、上位制御装置またはユーザからの指示に基づいて、前処理が必要な基板100の種類を特定し、当該基板の種類に応じた駆動量を、搬送ヘッド20やマーカヘッド26に指示する。また、クリーナーユニット34や、コンベア43、ネジ締結ヘッド46の駆動も指示する。   Each unit as described above is controlled by the same control unit (not shown). The control unit identifies the type of the substrate 100 that needs to be pre-processed based on an instruction from the host controller or the user, and instructs the transport head 20 and the marker head 26 for the driving amount corresponding to the type of the substrate. . In addition, the driving of the cleaner unit 34, the conveyor 43, and the screw fastening head 46 is also instructed.

[基板収容部]
図4は、収容機構の上面図および正面図である。部品実装前の基板100は、四本のフレーム13で構成される収容空間14に、積層された状態で収容される。搬送ヘッド20は、この積層して収容された基板100を、上側から順に一枚ずつ取り出す。
[Substrate housing part]
FIG. 4 is a top view and a front view of the accommodation mechanism. The substrate 100 before component mounting is accommodated in a stacked state in an accommodation space 14 constituted by four frames 13. The transport head 20 takes out the stacked substrates 100 one by one from the top.

ここで、従来の装置にも、こうした基板の収容機構が設けられていたが、従来の収容機構では、後から追加された基板が、先に追加された基板より先に取り出されるという問題があった。   Here, the conventional apparatus is also provided with such a substrate accommodation mechanism. However, the conventional accommodation mechanism has a problem that a substrate added later is taken out before a substrate added earlier. It was.

すなわち、従来の収容機構でも、積層収容した基板を上側から一枚ずつ取り出すが、従来の収容機構では、この収容されている基板が少なくとなると、新たな基板を、上側から追加する構成となっていた。この場合、収容機構に先に追加された基板の上に、後から追加された基板が積層されることになる。この場合、搬送ヘッドは、この上側に積まれた基板(すなわち後から追加された基板)から先に取り出すことになる。かかる手順を繰り返すと、先に追加された基板は、いつまでも基板積層体の下層に位置し、取り出されることなく、長時間、放置されることになる。   That is, even in the conventional accommodation mechanism, the stacked and accommodated substrates are taken out one by one from the upper side. However, in the conventional accommodation mechanism, when the number of accommodated substrates decreases, a new substrate is added from the upper side. It was. In this case, the substrate added later is stacked on the substrate previously added to the accommodation mechanism. In this case, the transport head is first taken out from the substrate stacked on the upper side (that is, the substrate added later). When such a procedure is repeated, the previously added substrate is located in the lower layer of the substrate laminate and will be left for a long time without being taken out.

半田付け前の基板は、長時間放置されるとランド部分の酸化が進み、半田が付きにくくなるという問題があった。こうした問題を避けるために、収容機構に収容された基板が全て取り出されてから、新たな基板を追加するということも考えられる。しかし、この場合、作業者は、最後の基板が取り出されてから次の基板を取り出すまでの短い時間に、新たな基板を追加しなければならず、作業者の負担が大きかった。また、基板の追加が遅れると、後段における基板への各種処理が停滞してしまい、結果として、部品実装の効率が低下するという問題もあった。   If the substrate before soldering is left for a long time, the land portion is oxidized, which makes it difficult to attach the solder. In order to avoid such a problem, a new substrate may be added after all the substrates accommodated in the accommodation mechanism are taken out. However, in this case, the operator has to add a new substrate in a short time after the last substrate is taken out until the next substrate is taken out, and the burden on the operator is large. In addition, if the addition of the board is delayed, various processes on the board in the subsequent stage are stagnated, resulting in a problem that the efficiency of component mounting is lowered.

本実施形態では、こうした問題を避けるために、基板100の収容機構を、下側から新たな基板100を追加できるようにし、これにより、先に追加された基板100が、先に取り出されるような構成としている。より具体的に説明すると、本実施形態の収容機構は、収容空間14を構成する四本のフレーム13と、収容空間14内に突出するように設けられた支持台17と、を備えている。   In the present embodiment, in order to avoid such a problem, the accommodation mechanism for the substrate 100 allows a new substrate 100 to be added from the lower side, whereby the previously added substrate 100 is taken out first. It is configured. More specifically, the accommodation mechanism of the present embodiment includes four frames 13 constituting the accommodation space 14 and a support base 17 provided so as to protrude into the accommodation space 14.

各フレーム13は、断面略L字状の上側部分13uと、略平板状の下側部分13dと、から構成されている。そのため、収容空間14は、断面略L字状のフレーム上側部分13uにより四コーナーが規定される上側空間14uと、略平板状のフレーム下側部分13dにより両サイドが規定された下側空間14dと、に大別される。上側空間14uにおいては、基板100のXY方向への移動は規制され、Z方向(上下方向)への移動のみが許容されることになる。一方、下側空間14dにおいては、略平板状のフレーム下側部分13dにより両サイドのみが規定されているため、基板100は、Z方向だけでなくY方向にも移動可能となっている。その結果、下側空間14dの正面から、下側空間14d内に基板100を差し入れることが出来るようになっている。   Each frame 13 includes an upper portion 13u having a substantially L-shaped cross section and a lower portion 13d having a substantially flat plate shape. Therefore, the accommodating space 14 includes an upper space 14u whose four corners are defined by a frame upper portion 13u having a substantially L-shaped cross section, and a lower space 14d whose both sides are defined by a substantially flat frame lower portion 13d. It is divided roughly. In the upper space 14u, the movement of the substrate 100 in the XY direction is restricted, and only the movement in the Z direction (up and down direction) is allowed. On the other hand, in the lower space 14d, only both sides are defined by the substantially flat frame lower portion 13d, so that the substrate 100 can move not only in the Z direction but also in the Y direction. As a result, the substrate 100 can be inserted into the lower space 14d from the front of the lower space 14d.

上側空間14uの両サイド付近には、一対の支持台17が、当該上側空間14u内に突出した形で設けられている。この支持台17は、積層された基板100b(図4(b)参照)の幅方向両端を下側から支持する台である。積層された基板100bは、この支持台17の上に載置されることにより、落下することなく上側空間14u内に留まる。   Near both sides of the upper space 14u, a pair of support bases 17 are provided so as to protrude into the upper space 14u. The support base 17 is a base that supports both ends in the width direction of the stacked substrate 100b (see FIG. 4B) from the lower side. The stacked substrate 100b is placed on the support base 17 so as to remain in the upper space 14u without dropping.

この支持台17は、フレーム13に取り付けられたL字状のアングル15に、バネ付蝶番16を介して取り付けられている。そして、このバネ付蝶番16の可動性により、支持台17は、積層された基板100bを支える支持位置(図4(b)において実線で図示した位置)と、下側空間14dから上側空間14uへの基板100aの通過を許容する退避位置(図4(b)において破線で図示した位置)と、に移動可能となっている。   This support base 17 is attached to an L-shaped angle 15 attached to the frame 13 via a hinge 16 with a spring. Due to the movability of the spring-loaded hinge 16, the support base 17 supports the stacked substrate 100b (a position indicated by a solid line in FIG. 4B) and the lower space 14d to the upper space 14u. It is possible to move to a retracted position (a position indicated by a broken line in FIG. 4B) that allows the substrate 100a to pass therethrough.

バネ付蝶番16は、支持台17を支持位置方向に付勢するバネを有しており、このバネの付勢力により、通常(すなわち、支持台17が下方から力を受けていない場合)、支持台17は支持位置に位置する。一方、支持台17に対して下から上向きの力が加えられると、支持台17は、バネの付勢力に抗して、上方(上側空間14uの外側方向)へと回動し、退避位置へと移動する。   The spring-equipped hinge 16 has a spring that urges the support base 17 toward the support position, and is normally supported by the urging force of the spring (that is, when the support base 17 is not receiving force from below). The base 17 is located at the support position. On the other hand, when an upward force is applied to the support base 17 from below, the support base 17 rotates upward (outside of the upper space 14u) against the urging force of the spring and moves to the retracted position. And move.

以上のような構成の収容機構において、基板100を追加する際の流れについて説明する。部品実装前の基板100bは、積層された状態で、支持台17で支えられ、上側空間14u内に収容されている。この上側空間14u内に、新たに基板100aを追加したい場合、作業者は、新たな基板100aを、下側空間14dに正面から差し入れる。   A flow when the substrate 100 is added to the accommodation mechanism having the above configuration will be described. The substrate 100b before component mounting is supported by the support base 17 in a stacked state, and is accommodated in the upper space 14u. When it is desired to add a new substrate 100a to the upper space 14u, the operator inserts the new substrate 100a into the lower space 14d from the front.

そして、この新たな基板100aを、既に収容されている基板100bの下側まで移動させれば、続いて、この新たな基板100aを上方向へと移動させる。この移動の過程で、新たな基板100aは、支持台17の底面に当接し、当該支持台17を上向きに押圧することになる。かかる上向きの力を受けた支持台17は、バネ付蝶番16の付勢力に抗して上方向(外側方向)に回動し、新たな基板100aの上方向への移動を阻害しない退避位置へと移動する。支持台17が退避位置まで移動したとき、それまで支持台17で支持されていた既存の基板100bは、支持台17から落ちて、新たに追加された基板100aの上に載ることになる。換言すれば、後から追加された基板100aの上に、先に追加された基板100bが積まれた積層体が形成されることになる。作業者は、この新たに形成された積層体を、支持台17より上側へと移動させる。積層体が支持台17より上側に移動し、当該支持台17を上向きに押す力が解除されると、支持台17は、バネ付蝶番16の付勢力により、支持位置へと戻る。   If the new substrate 100a is moved to the lower side of the already accommodated substrate 100b, the new substrate 100a is subsequently moved upward. In the course of this movement, the new substrate 100a comes into contact with the bottom surface of the support base 17 and presses the support base 17 upward. The support base 17 that has received the upward force rotates upward (outward direction) against the biasing force of the spring-loaded hinge 16, and moves to a retracted position that does not hinder the upward movement of the new substrate 100a. And move. When the support table 17 moves to the retracted position, the existing substrate 100b that has been supported by the support table 17 falls from the support table 17 and rests on the newly added substrate 100a. In other words, a stacked body in which the substrate 100b added earlier is stacked on the substrate 100a added later is formed. The operator moves the newly formed laminate to the upper side from the support base 17. When the laminated body moves upward from the support base 17 and the force pushing the support base 17 upward is released, the support base 17 returns to the support position by the biasing force of the spring hinge 16.

このとき、上側空間14uには、先に追加された基板100bが上側に、後から追加された基板100aが下側になった状態で基板が積層されて収容されていることになる。この状態で、積層された基板100を上から順に一枚ずつ取り出せば、先に追加された基板100bが先に取り出されることになる。そして、これにより、基板100が長時間放置されることがなくなり、部品実装を良好に行うことが可能となる。また、基板100の残存数に関係なく、新たな基板100を追加することができるため、作業者にとって都合のよいタイミングで基板追加が可能となり、作業者の負担を軽減できる。   At this time, the substrate is stacked and accommodated in the upper space 14u with the previously added substrate 100b on the upper side and the later added substrate 100a on the lower side. In this state, if the stacked substrates 100 are taken out one by one in order from the top, the previously added substrate 100b is taken out first. As a result, the substrate 100 is not left for a long time, and component mounting can be performed satisfactorily. Further, since a new substrate 100 can be added regardless of the number of remaining substrates 100, it is possible to add a substrate at a timing convenient for the worker, and the burden on the worker can be reduced.

なお、本実施形態では、バネ付蝶番16を用いて支持台17を可動にしているが、下方から供給される基板100aにより上方向に押圧されることで当該基板100aの通過を許容する退避位置に移動し、当該押圧が解除されると積層された基板100を支えることができるのであれば、他の構成であってもよい。   In the present embodiment, the support base 17 is made movable by using the hinge 16 with a spring. However, the retreat position allows the passage of the substrate 100a by being pressed upward by the substrate 100a supplied from below. As long as the stacked substrate 100 can be supported when the pressure is released, the other configuration may be adopted.

例えば、図5に示すように、支持台17の底面にテーパを施すとともに、当該支持台17を上側空間14uの内側方向に付勢する圧縮コイルバネ16a、および、当該支持台17の水平方向への進退をガイドするレール16bを設けてもよい。かかる構成の場合、下方から供給される基板100aにより、支持台17が上方向に押圧されると、支持台17は、圧縮コイルバネ16aの付勢力に抗して、外側方向に移動する。その結果、新たに追加された基板100aの上方向への移動が許容されることになる。そして、この新たに追加された基板100aが、支持台17より上側に到達すると、支持台17は、圧縮コイルバネ16aの付勢力により、積層された基板100を下側から支持する支持位置へと戻る。   For example, as shown in FIG. 5, the bottom surface of the support base 17 is tapered, and the compression coil spring 16 a that biases the support base 17 toward the inner side of the upper space 14 u, and the horizontal direction of the support base 17. A rail 16b for guiding advancement / retraction may be provided. In the case of this configuration, when the support base 17 is pressed upward by the substrate 100a supplied from below, the support base 17 moves outward against the urging force of the compression coil spring 16a. As a result, upward movement of the newly added substrate 100a is allowed. When the newly added substrate 100a reaches the upper side of the support base 17, the support base 17 returns to the support position for supporting the stacked substrates 100 from the lower side by the biasing force of the compression coil spring 16a. .

[搬送ヘッド]
次に、搬送ヘッド20について詳説する。図6は、搬送ヘッド20の正面図、および側面図である。搬送ヘッド20は、収容機構に積層されて収容された基板100を一枚ずつ取り出して搬送するものである。この搬送ヘッド20は、X方向に並んだ二つの吸引パッド23を有しており、各吸引パッド23は、ノズルを介して、圧力ポンプ(図示せず)に接続されている。制御部は、この圧力ポンプの駆動を制御することで、搬送ヘッド20による基板100の保持、および、保持解除を制御する。また、二つの吸引パッド23は、X方向に長尺な平板状のフレーム22に取り付けられている。そして、この搬送ヘッド20は、XYZ方向に可動となっている。このヘッドの移送構成は、種々の公知技術を用いて構成できるため、ここでの詳説は省略する。いずれにしても、吸引パッド23で基板100を吸引保持した状態で、搬送ヘッド20をXYZ方向に駆動することで、基板100が搬送されることになる。
[Conveyance head]
Next, the transport head 20 will be described in detail. FIG. 6 is a front view and a side view of the transport head 20. The transport head 20 takes out and transports the substrates 100 stacked and accommodated in the accommodation mechanism one by one. The transport head 20 has two suction pads 23 arranged in the X direction, and each suction pad 23 is connected to a pressure pump (not shown) via a nozzle. The control unit controls the holding and release of the substrate 100 by the transport head 20 by controlling the driving of the pressure pump. The two suction pads 23 are attached to a flat frame 22 that is long in the X direction. The transport head 20 is movable in the XYZ directions. Since the transfer structure of the head can be configured using various known techniques, a detailed description thereof is omitted here. In any case, the substrate 100 is transported by driving the transport head 20 in the XYZ directions while the substrate 100 is sucked and held by the suction pad 23.

吸引パッド23とフレーム22の間には圧力センサ(図示せず)が設けられており、当該圧力センサでの検出値に基づいて吸引パッド23の高さが制御される。すなわち、本実施形態では、基板100を取り出す際には、吸引パッド23を、積層された基板100の上面に向けて徐々に下降させる。下降の結果、吸引パッド23が基板100の上面に当接すると、当該当接圧力が圧力センサにより検知されることになる。かかる当接圧が検知されれば、制御部は、吸引パッド23が基板100の上面まで下降したと判断し、当該吸引パッド23による基板100の吸引保持を開始する。   A pressure sensor (not shown) is provided between the suction pad 23 and the frame 22, and the height of the suction pad 23 is controlled based on the detection value of the pressure sensor. That is, in the present embodiment, when the substrate 100 is taken out, the suction pad 23 is gradually lowered toward the upper surface of the stacked substrates 100. When the suction pad 23 comes into contact with the upper surface of the substrate 100 as a result of the lowering, the contact pressure is detected by the pressure sensor. If such a contact pressure is detected, the control unit determines that the suction pad 23 has been lowered to the upper surface of the substrate 100 and starts sucking and holding the substrate 100 by the suction pad 23.

搬送ヘッド20のフレーム22には、断面略L字状の押出板24が、Y方向に突出して取り付けられている。この押出板24は、搬送ヘッド20により搬送され、レール31(図3参照)上に載置された基板100の端部をY方向に押すことで、当該基板100をY方向へと移送させる部材である。かかる押出板24を設けることにより、基板のY方向の移送範囲を広げることが可能となる。これについて図7を参照して説明する。   An extrusion plate 24 having a substantially L-shaped cross section is attached to the frame 22 of the transport head 20 so as to protrude in the Y direction. The extrusion plate 24 is transported by the transport head 20, and is a member that moves the substrate 100 in the Y direction by pushing the end portion of the substrate 100 placed on the rail 31 (see FIG. 3) in the Y direction. It is. By providing such an extrusion plate 24, it is possible to widen the transfer range of the substrate in the Y direction. This will be described with reference to FIG.

搬送ヘッド20のストロークの関係上、吸引パッド23が、Y方向に関しては、図7において二点鎖線で図示したY方向限界位置L1までしか移動できないとする。この場合、吸引パッド23で基板100を吸引保持して搬送するだけでは、基板100は、図7の上段に図示した位置までしか搬送できないことになる。   Because of the stroke of the transport head 20, it is assumed that the suction pad 23 can move only to the Y-direction limit position L1 shown by the two-dot chain line in FIG. In this case, the substrate 100 can be transported only to the position illustrated in the upper part of FIG. 7 simply by sucking and holding the substrate 100 with the suction pad 23.

この移送範囲を広げるためには、搬送ヘッド20のストロークを広げることが考えられる。しかし、搬送ヘッド20のストロークを広げるためには、搬送ヘッド20を駆動する駆動源の出力を大幅に増大させたり、搬送ヘッド20を支える各種部材の剛性を向上させる必要があり、装置の大型化、コスト増加という問題を招く。   In order to widen this transfer range, it is conceivable to widen the stroke of the transport head 20. However, in order to widen the stroke of the transport head 20, it is necessary to greatly increase the output of a drive source that drives the transport head 20, or to improve the rigidity of various members that support the transport head 20, which increases the size of the apparatus. Incurs the problem of increased costs.

そこで、本実施形態では、搬送ヘッド20のストロークを広げることなく、基板100の搬送範囲を広げるために、吸引パッド23で基板100を吸引保持して搬送した後に、既述の押出板24で基板100の端部をY方向に押すようにしている。すなわち、制御部は、吸引パッド23で基板100を吸引保持した状態で搬送ヘッド20を駆動し、当該基板100をレール上に載置する。その後、搬送ヘッド20に設けられた押出板24で、基板の端部をY方向に押せば、図7の下段に示すように、基板100をさらにY方向奥側へと移送することができる。すなわち、基板100を保持して搬送した後、当該搬送した基板100の端部を押して当該基板100を送出する構成とすることで、搬送ヘッド20のストロークを広げることなく、換言すれば、コストやサイズの増加を招くことなく、基板100の搬送範囲を大幅に広げることができる。   Therefore, in this embodiment, in order to widen the transport range of the substrate 100 without expanding the stroke of the transport head 20, the substrate 100 is held by the suction pad 23 and transported, and then the extruded plate 24 described above is used. The end of 100 is pushed in the Y direction. That is, the control unit drives the transport head 20 in a state where the substrate 100 is sucked and held by the suction pad 23, and places the substrate 100 on the rail. Thereafter, when the end of the substrate is pushed in the Y direction with the extrusion plate 24 provided in the transport head 20, the substrate 100 can be further transferred to the back side in the Y direction as shown in the lower part of FIG. That is, after the substrate 100 is held and transported, the end of the transported substrate 100 is pushed and the substrate 100 is sent out, in other words, without increasing the stroke of the transport head 20. The conveyance range of the substrate 100 can be greatly expanded without increasing the size.

[マーカヘッド]
次に、マーカヘッド26について詳説する。図8は、マーカヘッド26の周辺の正面図である。マーカヘッド26は、基板100の表面または裏面に、当該基板100を識別するためのマークを付与するためのものである。後段のディスペンスヘッドやマウントヘッドは、この基板100に付与されたマークに基づいて、基板100の種類を特定し、この特定された基板種類に基づいて、半田の塗布位置やマウントすべき部品種類などを特定する。
[Marker head]
Next, the marker head 26 will be described in detail. FIG. 8 is a front view of the periphery of the marker head 26. The marker head 26 is for providing a mark for identifying the substrate 100 on the front surface or the back surface of the substrate 100. The subsequent-stage dispense head or mount head identifies the type of the substrate 100 based on the mark given to the substrate 100, and based on the identified substrate type, the solder application position, the component type to be mounted, etc. Is identified.

本実施形態では、基板100の表面にマーキングを施す表用マーカヘッド26fと、基板100の裏面にマーキングを施す裏用マーカヘッド26bと、を設けている。この二つのマーカヘッド26は、その設置位置やペン先の向きなどが異なるものの、基本的な構成は同じである。   In the present embodiment, a front marker head 26f for marking the front surface of the substrate 100 and a back marker head 26b for marking the back surface of the substrate 100 are provided. The two marker heads 26 have the same basic configuration, although their installation positions and pen tip orientations are different.

この二つのマーカヘッド26は、基板100が載置されるレール31の両側において待機している。ここで、レール31は、基板100の両サイドを支持する部材である。本実施形態では、Y方向に長尺な二本のレール31を、基板100の幅より若干小さい間隔を開けてX方向に配設している。   The two marker heads 26 stand by on both sides of the rail 31 on which the substrate 100 is placed. Here, the rail 31 is a member that supports both sides of the substrate 100. In the present embodiment, two rails 31 that are long in the Y direction are arranged in the X direction with a space slightly smaller than the width of the substrate 100.

各マーカヘッド26は、XZ方向に可動となっており、アングル28、および、当該アングル28により保持されたマーキングペン29を備えている。アングル28は、マーキングペン29を着脱自在に保持する金具である。作業者は、取り付けられたマーキングペン29のインクが切れた場合には、当該アングル28からマーキングペン29を取り外し、新たなマーキングペン29を取り付ける。   Each marker head 26 is movable in the XZ direction, and includes an angle 28 and a marking pen 29 held by the angle 28. The angle 28 is a metal fitting that detachably holds the marking pen 29. When the ink of the attached marking pen 29 runs out, the worker removes the marking pen 29 from the angle 28 and attaches a new marking pen 29.

マーキングペン29は、実際に基板100上にマークを付与するマーカ部材として機能するものである。このマーキングペン29は、基板100にマークを付与できるのであれば、その種類は特に限定されず、例えば、市販の油性フェルトペンなどを用いることができる。   The marking pen 29 functions as a marker member that actually gives a mark on the substrate 100. The marking pen 29 is not particularly limited as long as it can give a mark to the substrate 100. For example, a commercially available oil-based felt pen can be used.

マーカヘッド26の待機位置には、当該マーカヘッド26に取り付けられたマーキングペン29のペン先29aを覆う蓋体30が固定設置されている。蓋体30は、マーキングペン29のペン先29aが挿入でき得る穴が形成されたブロック部材である。この穴内部にペン先29aが収容されることで、ペン先29aの乾燥が防止される。   At the standby position of the marker head 26, a lid 30 that covers the pen tip 29a of the marking pen 29 attached to the marker head 26 is fixedly installed. The lid 30 is a block member in which a hole into which the pen tip 29a of the marking pen 29 can be inserted is formed. By storing the pen tip 29a inside the hole, the pen tip 29a is prevented from drying.

ここで、既述したように、本実施形態では、マーカヘッド26をXZの二方向にのみ可動としている。これは、Y方向移動に関与する駆動源や伝達機構を省略し、これにより、サイズ低減やコスト低減を図るためである。   Here, as described above, in this embodiment, the marker head 26 is movable only in the two directions XZ. This is because the drive source and transmission mechanism involved in the Y-direction movement are omitted, thereby reducing the size and cost.

一方で、XZ方向にしか移動できない場合、マーカヘッド26を駆動するだけでは、マーキングペン29と基板100とのY方向の相対位置関係を調整できず、結果として、所望の位置にマーキングが施せない恐れがある。そこで、本実施形態では、かかる問題を避けるために、マーキングペン29と基板100とのY方向の相対位置は、搬送ヘッド20による基板100のY方向搬送量で調整するようにしている。すなわち、本実施形態では、マーキングペン29と基板100とのY方向の相対位置が所望の関係になる位置まで、搬送ヘッド20で基板100を搬送するようにしている。搬送ヘッド20により、Y方向の相対位置関係が所望の状態になれば、マーカヘッド26は、所望のX方向位置まで移動し、基板100の表面または裏面にマーキングを施す。なお、マーキング処理が完了すれば、マーカヘッド26は、取り付けられたマーキングペン29のペン先29aが、蓋体30に設けられた穴に挿入される待機位置に移動し、待機する。   On the other hand, if it can only move in the XZ direction, it is not possible to adjust the relative positional relationship in the Y direction between the marking pen 29 and the substrate 100 simply by driving the marker head 26. As a result, marking cannot be performed at a desired position. There is a fear. Therefore, in this embodiment, in order to avoid such a problem, the relative position in the Y direction between the marking pen 29 and the substrate 100 is adjusted by the Y direction conveyance amount of the substrate 100 by the conveyance head 20. That is, in this embodiment, the substrate 100 is transported by the transport head 20 to a position where the relative position in the Y direction between the marking pen 29 and the substrate 100 becomes a desired relationship. When the relative positional relationship in the Y direction becomes a desired state by the transport head 20, the marker head 26 moves to a desired X direction position and marks the front surface or the back surface of the substrate 100. When the marking process is completed, the marker head 26 moves to a standby position where the pen tip 29a of the attached marking pen 29 is inserted into a hole provided in the lid 30 and waits.

[クリーナ機構およびコンベア]
次に、クリーナーユニット34およびコンベア43について図3、図9を参照して説明する。図9は、クリーナーユニット34およびコンベア43の概略構成を示す図である。
[Cleaner mechanism and conveyor]
Next, the cleaner unit 34 and the conveyor 43 will be described with reference to FIGS. FIG. 9 is a diagram showing a schematic configuration of the cleaner unit 34 and the conveyor 43.

コンベア43は、マーキングが施された基板100を、Y方向下流側(図3において図面右側)に搬送する部材で、X方向に並んだ二本のコンベアベルト42を有している。各コンベアベルト42は、図9に示すように、複数のコンベアローラ41a,41b,41c,41dに張架され、適度なテンションを保った状態で循環回転する。このコンベアベルト42の循環回転により、当該コンベアベルト42の上面に載置された基板100が、Y方向下流側へと搬送されることになる。なお、コンベア43で構成される搬送路の上側には、基板100の浮き上がりを防止する従動ローラ45が複数設けられている。   The conveyor 43 is a member that conveys the marked substrate 100 to the downstream side in the Y direction (the right side of the drawing in FIG. 3), and has two conveyor belts 42 arranged in the X direction. As shown in FIG. 9, each conveyor belt 42 is stretched around a plurality of conveyor rollers 41a, 41b, 41c, and 41d, and circulates and rotates while maintaining an appropriate tension. By the circulation rotation of the conveyor belt 42, the substrate 100 placed on the upper surface of the conveyor belt 42 is conveyed downstream in the Y direction. Note that a plurality of driven rollers 45 that prevent the substrate 100 from being lifted are provided above the conveyance path formed by the conveyor 43.

また、コンベア43により形成される搬送経路途中には、基板100の表面および裏面から粉塵を除去するクリーナーユニット34が設けられている。このクリーナーユニット34は、図9に示すように、搬送経路を挟んで上下に対向配置された一対のクリーナブラシ35u,35dを備えている。この二つのクリーナブラシ35は、いずれも、基板100の搬送方向と同一方向に回転し、基板の表面および裏面に付着した粉塵を吐き出す。このように、クリーナブラシ35の回転方向を、基板搬送方向と同方向とすることで、基板100の搬送性を向上させることができ、より確実に基板100を搬送することができる。   Further, a cleaner unit 34 for removing dust from the front and back surfaces of the substrate 100 is provided in the middle of the conveyance path formed by the conveyor 43. As shown in FIG. 9, the cleaner unit 34 includes a pair of cleaner brushes 35 u and 35 d disposed so as to face each other with a conveyance path interposed therebetween. Both of these two cleaner brushes 35 rotate in the same direction as the transport direction of the substrate 100, and discharge the dust attached to the front and back surfaces of the substrate. Thus, by making the rotation direction of the cleaner brush 35 the same direction as the substrate transport direction, the transportability of the substrate 100 can be improved and the substrate 100 can be transported more reliably.

各クリーナブラシ35の周囲には、当該クリーナブラシ35を覆う、略箱状のカバー体36が設けられている。そして、このカバー体36には、クリーナブラシ35により掃き上げられた粉塵を吸引する吸引パイプ37が連結されている。   A substantially box-shaped cover body 36 that covers the cleaner brush 35 is provided around each cleaner brush 35. The cover body 36 is connected to a suction pipe 37 that sucks the dust swept up by the cleaner brush 35.

ここで、本実施形態では、コンベア43を駆動して基板100を搬送させつつ、クリーナブラシ35を回転駆動させて粉塵を掃き上げている。換言すれば、コンベア43の駆動タイミングと、クリーナブラシ35の駆動タイミングは、ほぼ同じとなっている。本実施形態では、コスト低減、サイズ低減などのために、この同じタイミングで駆動するクリーナブラシ35およびコンベア43の駆動源を共通化し、単一のモータ44で駆動するようにしている。   Here, in this embodiment, while the conveyor 43 is driven and the substrate 100 is conveyed, the cleaner brush 35 is rotationally driven to sweep up dust. In other words, the drive timing of the conveyor 43 and the drive timing of the cleaner brush 35 are substantially the same. In this embodiment, the drive source of the cleaner brush 35 and the conveyor 43 that are driven at the same timing is made common in order to reduce the cost, the size, and the like, and is driven by a single motor 44.

これについて図9を参照して詳説する。本実施形態において、モータ44の出力軸には、コンベアローラ41aと、ブラシ駆動用の第一プーリ39aが連結されており、これらコンベアローラ41aおよび第一プーリ39aが、モータ44の駆動に連動して回転するようになっている。コンベアローラ41aには、既述のコンベアベルト42が張架されており、コンベアローラ41aの回転、ひいては、モータ44の駆動に伴い、コンベアベルト42が循環回転するようになっている。   This will be described in detail with reference to FIG. In the present embodiment, a conveyor roller 41 a and a first pulley 39 a for driving a brush are connected to the output shaft of the motor 44, and the conveyor roller 41 a and the first pulley 39 a are interlocked with the driving of the motor 44. To rotate. The above-described conveyor belt 42 is stretched around the conveyor roller 41 a, and the conveyor belt 42 circulates and rotates as the conveyor roller 41 a rotates and, as a result, the motor 44 is driven.

ブラシ駆動用の第一プーリ39aには、タイミングベルト40が張架されており、このタイミングベルト40の他端は、第二プーリ39bに張架されている。第二プーリ39bは、下側クリーナブラシ35dの回転軸に連結されており、第二プーリ39bの回転に伴い下側クリーナブラシ35dが回転するようになっている。また、この下側クリーナブラシ35dの回転軸には、第一ギア38dも連結されている。この第一ギア38dと歯合する第二ギア38uは、上側クリーナブラシ35uの回転軸に連結されており、第一ギア38dの回転が、第二ギア38uを介して上側クリーナブラシ35uにも伝達されるようになっている。   A timing belt 40 is stretched around the first pulley 39a for driving the brush, and the other end of the timing belt 40 is stretched around the second pulley 39b. The second pulley 39b is connected to the rotation shaft of the lower cleaner brush 35d, and the lower cleaner brush 35d rotates with the rotation of the second pulley 39b. A first gear 38d is also connected to the rotation shaft of the lower cleaner brush 35d. The second gear 38u meshing with the first gear 38d is connected to the rotation shaft of the upper cleaner brush 35u, and the rotation of the first gear 38d is also transmitted to the upper cleaner brush 35u via the second gear 38u. It has come to be.

このように、一つの駆動源(モータ44)で、コンベア43および上下のクリーナブラシ35を駆動する構成とすることにより、部品点数を低減でき、結果としてサイズやコストを低減できる。   In this way, by adopting a configuration in which the conveyor 43 and the upper and lower cleaner brushes 35 are driven by one drive source (motor 44), the number of parts can be reduced, and as a result, the size and cost can be reduced.

[ネジ締結ヘッド]
次に、ネジ締結ヘッド46について図3、図10を参照して説明する。図10は、ネジ締結ヘッド46周辺の正面図である。ネジ締結ヘッド46は、基板100の裏面にコネクタ104を螺合締結するためのヘッドである。このネジ締結ヘッド46は、XYZ方向に移動可能となっており、制御部の指示に応じて駆動する。また、ネジ締結ヘッド46には、先端に設けられたガイド筒46aと、当該ガイド筒46aの上側に設けられたドライバ筒46b、ガイド筒46aの上端近傍に角度をもって接続されたネジ供給筒46cと、を備えている。ドライバ筒46bには、ネジを回転させるドライバが収容されている。このドライバは、適宜、ガイド筒46aの先端から突出する位置まで下降してネジの頭部に係合し、その状態で回転することでネジ締めを行う。ネジ供給筒46cには、螺合締結に用いられるネジが収容されている。この収容されているネジは、適宜、ガイド筒46aへと供給され、ガイド筒46aに供給されたネジは、当該ガイド筒46aに従って、落下し、ガイド筒46aの真下に位置するネジ穴や締結孔へと差し込まれる。
[Screw fastening head]
Next, the screw fastening head 46 will be described with reference to FIGS. FIG. 10 is a front view of the periphery of the screw fastening head 46. The screw fastening head 46 is a head for screwing and fastening the connector 104 to the back surface of the substrate 100. The screw fastening head 46 is movable in the XYZ directions and is driven according to an instruction from the control unit. The screw fastening head 46 includes a guide tube 46a provided at the tip, a driver tube 46b provided on the upper side of the guide tube 46a, and a screw supply tube 46c connected at an angle near the upper end of the guide tube 46a. It is equipped with. A driver for rotating a screw is accommodated in the driver cylinder 46b. The driver appropriately descends to a position protruding from the tip of the guide tube 46a, engages the head of the screw, and rotates in that state to perform screw tightening. Screws used for screwing and fastening are accommodated in the screw supply cylinder 46c. The accommodated screw is appropriately supplied to the guide cylinder 46a, and the screw supplied to the guide cylinder 46a falls according to the guide cylinder 46a and is a screw hole or a fastening hole positioned directly below the guide cylinder 46a. Plugged into.

このネジ締結ヘッドによるネジ締結作業は、コネクタセット部47の上側において行われる。コネクタセット部47は、基板100に締結すべきコネクタ104を収容する部位で、当該コネクタ104に対応した形状の凹部が設けられている。この凹部は、搬送されてきた基板100の下側に位置している。作業者は、ネジ穴105が上向きになるような姿勢で、コネクタ104を、この凹部(コネクタセット部47)にセットする。また、コンベア43は、このセットされたコネクタ104のネジ穴105と、基板100に形成された締結孔102とか重複する位置まで、基板100を搬送する。   The screw fastening operation by the screw fastening head is performed on the upper side of the connector set portion 47. The connector set portion 47 is a portion that accommodates the connector 104 to be fastened to the substrate 100, and is provided with a concave portion corresponding to the connector 104. This recess is located on the lower side of the substrate 100 that has been transported. The operator sets the connector 104 in the concave portion (connector setting portion 47) in such a posture that the screw hole 105 faces upward. Moreover, the conveyor 43 conveys the board | substrate 100 to the position which the screw hole 105 of this set connector 104 and the fastening hole 102 formed in the board | substrate 100 overlap.

基板100が、規定の位置まで搬送され、コネクタ104のネジ穴105と基板100の締結孔102とが重なれば、制御部はネジ締結ヘッド46を駆動し、ガイド筒46aを締結孔102の真上まで移動させ、ガイド筒46aの先端を基板100の上面に近接または接触させる。その状態になれば、ネジ供給筒46cから締結用のネジが供給される。供給されたネジは、ガイド筒46aに案内されつつ落下し、締結孔102およびネジ穴105へと落ち込む。この状態になれば、ドライバ筒46bからドライバを下降させて、ネジの頭部にドライバを係合させ、その状態でドライバを回転させる。これにより、基板100の裏面にコネクタ104が螺合締結されることになる。そして、このコネクタ104の螺合締結が完了すれば、基板100の前処理は完了となる。前処理が完了した基板100は、作業者の手により、実装装置49へと供給される。   When the board 100 is transported to a specified position and the screw hole 105 of the connector 104 and the fastening hole 102 of the board 100 overlap, the control unit drives the screw fastening head 46 and moves the guide tube 46 a to the true position of the fastening hole 102. The tip of the guide tube 46a is moved close to or in contact with the upper surface of the substrate 100. In this state, a fastening screw is supplied from the screw supply cylinder 46c. The supplied screw falls while being guided by the guide tube 46 a and falls into the fastening hole 102 and the screw hole 105. In this state, the driver is lowered from the driver cylinder 46b, the driver is engaged with the screw head, and the driver is rotated in this state. As a result, the connector 104 is screwed and fastened to the back surface of the substrate 100. Then, when the screw fastening of the connector 104 is completed, the pretreatment of the substrate 100 is completed. The substrate 100 for which the pretreatment has been completed is supplied to the mounting apparatus 49 by the operator's hand.

以上が、前処理装置10の具体的構成である。以上の説明から明らかなとおり、本実施形態では、基板供給機能、マーキング機能、クリーニング機能、コネクタ締結機能が、全て一つの前処理装置10に搭載されている。そのため、各機能を別個の独立した装置としていた従来技術に比して、設置スペースを大幅に低減できる。   The above is the specific configuration of the pretreatment device 10. As is clear from the above description, in this embodiment, the substrate supply function, the marking function, the cleaning function, and the connector fastening function are all mounted on one pretreatment apparatus 10. Therefore, the installation space can be greatly reduced as compared with the prior art in which each function is a separate and independent device.

[パレット]
次に、実装装置49について説明する。この実装装置49の各部について説明する前に、まず、当該実装装置49に供給される基板100の状態について説明する。本実施形態において、基板100は、パレット110と呼ばれる保持具に保持された状態で、実装装置に供給される。図11はパレット110の概略斜視図である。パレット110には、基板100を収容保持するための収容凹部114が二つ、線対象に並んで形成されている。各収容凹部114は、基板100の外形に対応した形状をしている。また、この収容凹部114の中央には貫通穴112が形成されており、当該収容凹部114に収容された基板100は、その周縁のみが支持されることになる。別の見方をすれば、この収容凹部114に収容された基板100の上面の全面および底面の大部分は、外部に露出した状態になる。
[palette]
Next, the mounting apparatus 49 will be described. Before describing each part of the mounting apparatus 49, first, the state of the substrate 100 supplied to the mounting apparatus 49 will be described. In the present embodiment, the substrate 100 is supplied to the mounting apparatus while being held by a holder called a pallet 110. FIG. 11 is a schematic perspective view of the pallet 110. The pallet 110 is formed with two accommodating recesses 114 for accommodating and holding the substrate 100 side by side in line. Each receiving recess 114 has a shape corresponding to the outer shape of the substrate 100. Further, a through hole 112 is formed in the center of the accommodation recess 114, and only the periphery of the substrate 100 accommodated in the accommodation recess 114 is supported. From another viewpoint, the entire upper surface and most of the bottom surface of the substrate 100 accommodated in the accommodation recess 114 are exposed to the outside.

本実施形態では、図12に示すように、この二つの収容凹部114のうち、奥側(図12における右側)に位置する収容凹部には、表面への部品実装が完了した基板100bが、その裏面が上向きになるように収容される。この二つの収容凹部のうち、手前側に位置する収容凹部には、前処理装置10から出力され、表面裏面のいずれにも部品実装がなされていない基板100fが、その表面が上向きになるように収容される。   In the present embodiment, as shown in FIG. 12, among the two receiving recesses 114, the receiving recess located on the back side (the right side in FIG. 12) has a substrate 100b whose components have been mounted on the surface thereof. Housed with the back side facing up. Of the two housing recesses, the housing recess positioned on the near side is output from the pre-processing device 10 so that the substrate 100f on which no component is mounted on any of the front and back surfaces faces upward. Be contained.

表面が上向きの基板100fおよび裏面が上向きの基板100bは、パレット110に収容された状態で、実装装置49の上側ユニット50に投入される。上側ユニット50に設けられたディスペンスヘッド52やマウントヘッド68は、各基板100の上向きになっている面に対して半田塗布や部品のマウントを施す。つまり、パレット110が一回、上側ユニットを通過する過程で、一つの基板100fの表面、および、他の基板100bの裏面に対して、半田塗布や部品のマウントが施される。その後、この二つの基板100は、下側ユニット80に供給され、リフロー炉による加熱を受ける。下側ユニット80から出力された二つの基板100のうち、裏面が上向きになっている基板100bは、表面および裏面の両方への部品実装が完了した完成基板100cとして取り出され、出力される。一方、表面が上向きになっていた基板100fは、表面の部品実装のみが完成した半完成基板となる。この半完成基板(表面の部品実装のみが終了した基板)は、表裏反転した形(裏面が上向きになる形)でパレット110に再セットされる。また、このパレット110には、前処理装置10から出力され、表面裏面のいずれにも部品実装が施されていない新規の基板100もセットされる。そして、この二つの基板100を搭載したパレット110が、再び、上側ユニット50、下側ユニット80へと投入される。   The substrate 100 f with the front surface facing upward and the substrate 100 b with the back surface facing upward are put into the upper unit 50 of the mounting device 49 while being accommodated in the pallet 110. The dispense head 52 and the mount head 68 provided in the upper unit 50 apply solder and mount components on the upward surface of each substrate 100. That is, in the process in which the pallet 110 passes through the upper unit once, solder coating and component mounting are performed on the front surface of one substrate 100f and the back surface of the other substrate 100b. Thereafter, the two substrates 100 are supplied to the lower unit 80 and are heated by the reflow furnace. Of the two substrates 100 output from the lower unit 80, the substrate 100b whose back surface faces upward is taken out and output as a completed substrate 100c in which component mounting on both the front surface and the back surface is completed. On the other hand, the board 100f whose surface is facing upward is a semi-finished board in which only the surface component mounting is completed. This semi-finished board (the board on which only the component mounting on the front surface has been completed) is reset on the pallet 110 in a reversed form (a form in which the back surface faces upward). In addition, a new substrate 100 which is output from the pretreatment device 10 and has no component mounted on any of the front and back surfaces is set on the pallet 110. Then, the pallet 110 on which these two substrates 100 are mounted is loaded into the upper unit 50 and the lower unit 80 again.

以上の説明で明らかなとおり、本実施形態によれば、パレット110が上側ユニット50および下側ユニット80を1回通過する過程で、一つの基板100fの表面への部品実装および他の基板100bの裏面への部品実装の両方が実行される。そして、1回の通過の過程で、一つの完成基板100cと、一つの半完成基板が得られる。完成基板100cは随時取り出され、この完成基板100cに変えて、表裏面いずれにも部品実装が成されていない新規の基板100が随時、部品実装工程に投入される。また、半完成基板も、即座に、次の部品実装工程に投入される。つまり、本実施形態によれば、片面への部品実装が終わった段階で基板100が放置される、といったことがなく、各基板100が効率的に部品実装工程に投入されることになる。換言すれば、本実施形態に寄れば、中間在庫を無くすことができ、効率的な処理が可能となる。   As is apparent from the above description, according to the present embodiment, component mounting on the surface of one board 100f and the other board 100b are performed in the process in which the pallet 110 passes through the upper unit 50 and the lower unit 80 once. Both component mounting on the back side is executed. Then, one completed substrate 100c and one semi-finished substrate are obtained in the process of one pass. The completed board 100c is taken out at any time, and in place of the completed board 100c, a new board 100 in which no component is mounted on any of the front and back surfaces is input to the component mounting process as needed. The semi-finished board is also immediately put into the next component mounting process. That is, according to the present embodiment, the board 100 is not left at the stage where the component mounting on one side is finished, and each board 100 is efficiently put into the component mounting process. In other words, according to the present embodiment, the intermediate stock can be eliminated, and efficient processing becomes possible.

[上側ユニットの概要]
次に、上側ユニット50の概要について図12を参照して説明する。図12は、上側ユニット50の概略上面図である。既述したとおり、本実施形態の部品実装装置は、上側ユニット50と、当該上側ユニット50の下側に設けられた下側ユニット80の二段構成となっている。かかる二段構成とすることで、装置のサイズを低減することができる。
[Overview of upper unit]
Next, an outline of the upper unit 50 will be described with reference to FIG. FIG. 12 is a schematic top view of the upper unit 50. As described above, the component mounting apparatus of the present embodiment has a two-stage configuration of the upper unit 50 and the lower unit 80 provided below the upper unit 50. With such a two-stage configuration, the size of the apparatus can be reduced.

上側ユニット50には、基板上面(上向きになっている面)に、クリーム半田を塗布するディスペンス部51と、電子部品をマウントするマウント部67と、が設けられている。基板100を収容したパレット110は、このディスペンス部51およびマウント部67を縦断するコンベア65により搬送される。コンベア65により、最下流まで搬送されたパレット110は、上側ユニット50の下流端に接続された下降部84により、下側ユニット80へと搬送される。また、上側ユニット50の上流端には、上昇部85が接続されている。この上昇部85は、下側ユニット80から出力されたパレット110を上側ユニット50まで上昇して搬送する。この上昇部85により搬送されたパレット110が、上側ユニット50に再投入される。   The upper unit 50 is provided with a dispense portion 51 for applying cream solder and a mount portion 67 for mounting an electronic component on the upper surface of the substrate (the surface facing upward). The pallet 110 containing the substrate 100 is conveyed by a conveyor 65 that cuts the dispensing unit 51 and the mount unit 67 vertically. The pallet 110 transported to the most downstream side by the conveyor 65 is transported to the lower unit 80 by the descending portion 84 connected to the downstream end of the upper unit 50. A rising portion 85 is connected to the upstream end of the upper unit 50. The ascending unit 85 ascends and conveys the pallet 110 output from the lower unit 80 to the upper unit 50. The pallet 110 transported by the ascending unit 85 is reintroduced into the upper unit 50.

[ディスペンス部]
次に、ディスペンス部51について図12〜図15を参照して説明する。図13はディスペンス部の正面図であり、図14はディスペンスヘッド52の正面図および上面図である。また、図15は捨打円盤61の概略斜視図である。
[Dispensing part]
Next, the dispensing unit 51 will be described with reference to FIGS. FIG. 13 is a front view of the dispensing unit, and FIG. 14 is a front view and a top view of the dispensing head 52. FIG. 15 is a schematic perspective view of the discarded disk 61.

ディスペンス部51は、パレット110により搬送される基板100の上面にクリーム半田を塗布するための部位である。このディスペンス部51には、実際にクリーム半田を塗布するディスペンスヘッド52や、試験的な半田塗布(捨て打ち)を受け付ける捨打円盤61や、パレット110(基板100)を搬送方向下流側に搬送するコンベア65などが設けられている。   The dispensing unit 51 is a part for applying cream solder to the upper surface of the substrate 100 conveyed by the pallet 110. The dispensing unit 51 conveys a dispensing head 52 that actually applies cream solder, a discarding disc 61 that accepts trial soldering (discarding), and a pallet 110 (substrate 100) to the downstream side in the conveying direction. A conveyor 65 and the like are provided.

コンベア65や捨打円盤61は、同じ支持プレート60上に設置されている。この支持プレート60は、図示しない駆動源(例えばモータなど)の駆動に応じて、Y軸方向に延びるY軸レール56Yに沿って移動する。支持プレート60がY軸方向に移動することで、当該支持プレート60に載置されたコンベア65、ひいては、当該コンベア65上に載置された基板100の、ディスペンスヘッド52に対するY軸方向位置が調整される。別の言い方をすれば、本実施形態では、ディスペンスヘッド52をY軸方向に移動させるのではなく、基板100をY軸方向に移動させることで、両者のY軸方向の相対位置関係を調整している。   The conveyor 65 and the discarding disc 61 are installed on the same support plate 60. The support plate 60 moves along a Y-axis rail 56Y extending in the Y-axis direction in response to driving of a drive source (not shown) (for example, a motor). As the support plate 60 moves in the Y-axis direction, the position of the conveyor 65 placed on the support plate 60 and, in turn, the substrate 100 placed on the conveyor 65 is adjusted with respect to the dispense head 52. Is done. In other words, in this embodiment, instead of moving the dispensing head 52 in the Y-axis direction, the relative positional relationship between the two in the Y-axis direction is adjusted by moving the substrate 100 in the Y-axis direction. ing.

かかる構成としたのは次の理由による。基板100の上側に設けられたディスペンスヘッド52をY軸方向に移動させるためには、当該ディスペンスヘッド52に接続されたY軸レールを、ディスペンスヘッド52と同じ程度の高さ位置に設ける必要がある。このようなディスペンスヘッド52と同じ程度の高さに、Y軸レールを設けた場合、(ディスペンスヘッド52に接続された)Y軸レールが、マウントヘッド68をY軸方向に駆動するためのY軸レール77Y(図16参照)と干渉する恐れが出てくる。この干渉を避けるためには、ディスペンス部51とマウント部67とのY軸方向の間隔を広げなければならないが、その場合、実装装置49全体のサイズ増加という問題を招く。本実施形態では、こうした問題を避けるために、ディスペンスヘッド52に接続されたY軸レールは設けず、基板100をY軸方向に移動させるY軸レール56Yを上側ユニット50の床面近傍に設けている。かかる構成とすることにより、Y軸レール同士の干渉を防止でき、ひいては、実装装置49のY軸方向サイズを低減することができる。   The reason for this configuration is as follows. In order to move the dispensing head 52 provided on the upper side of the substrate 100 in the Y-axis direction, it is necessary to provide the Y-axis rail connected to the dispensing head 52 at the same height as the dispensing head 52. . When a Y-axis rail is provided at the same height as the dispense head 52, the Y-axis rail (connected to the dispense head 52) is used to drive the mount head 68 in the Y-axis direction. There is a risk of interference with the rail 77Y (see FIG. 16). In order to avoid this interference, the distance in the Y-axis direction between the dispensing unit 51 and the mount unit 67 must be increased. In this case, there is a problem that the size of the entire mounting apparatus 49 is increased. In the present embodiment, in order to avoid such problems, the Y-axis rail connected to the dispense head 52 is not provided, and the Y-axis rail 56Y for moving the substrate 100 in the Y-axis direction is provided in the vicinity of the floor surface of the upper unit 50. Yes. By adopting such a configuration, it is possible to prevent interference between the Y-axis rails, and consequently reduce the size of the mounting device 49 in the Y-axis direction.

[ディスペンスヘッド]
ディスペンスヘッド52は、実際に基板100の上面にクリーム半田を塗布するヘッドである。このディスペンスヘッド52には、第一塗布器54、第二塗布器55、撮影機構53、測距センサ59(図14(b)参照)が設けられている。第一塗布器54、第二塗布器55は、いずれも、基板にクリーム半田を塗布する機器である。このうち、第一塗布器54は、シリンジに貯留されたクリーム半田をエア圧で押出塗布するエアディスペンス構成となっている。第二塗布器55はシリンジに貯留されたクリーム半田をスクリューで押出塗布するスクリューディスペンス構成となっている。エアディスペンスである第一塗布器54は、比較的、大きい形状での半田塗布が可能となっている。また、スクリューディスペンスである第二塗布器55は、比較的微細な形状での半田塗布が可能となっている。なお、各シリンジには、収容されているクリーム半田の粘度を適正に保つためのペルチェなどを利用した温調器が搭載されている。
[Dispensing head]
The dispense head 52 is a head that actually applies cream solder to the upper surface of the substrate 100. The dispense head 52 is provided with a first applicator 54, a second applicator 55, an imaging mechanism 53, and a distance measuring sensor 59 (see FIG. 14B). The first applicator 54 and the second applicator 55 are both devices that apply cream solder to the substrate. Among these, the first applicator 54 has an air dispensing configuration in which cream solder stored in a syringe is applied by extrusion with air pressure. The second applicator 55 has a screw dispense configuration in which cream solder stored in a syringe is extruded and applied with a screw. The first applicator 54, which is an air dispenser, can apply solder in a relatively large shape. The second applicator 55, which is a screw dispense, can apply solder in a relatively fine shape. Each syringe is equipped with a temperature controller using a Peltier or the like for keeping the viscosity of the contained cream solder appropriately.

ここで、従来の装置では、半田は、メタル版を用いて印刷塗布されることが多かった。すなわち、従来、半田の塗布形状に応じた穴が形成されたメタル版を基板上に配置し、その上から半田を塗布(印刷)することが多かった。また、コネクタ、スイッチ、コンデンサなどのリード部品は、後付部品として、他の部品の半田付けが完了した後に再度、半田付けされることが多かった。   Here, in the conventional apparatus, the solder is often printed and applied using a metal plate. That is, conventionally, a metal plate in which holes corresponding to the solder application shape are formed is disposed on a substrate, and solder is often applied (printed) thereon. In addition, lead parts such as connectors, switches, capacitors, etc., are often soldered again after the soldering of other parts is completed as a retrofit part.

一方、本実施形態では、塗布器54,55を用いて、半田を塗布している。特に、微細な形状での半田塗布が可能な第二塗布器55によれば、メタル版を用いて印刷した場合と同様な微細な半田形状を得ることができる。そのため、メタル版を適宜、段替えする必要がなく、実装装置を簡略化することができる。また、基板上にメタル版を載置する印刷処理の場合、コネクタのような突出物を事前に基板に締結することはできず、半田塗布の後にコネクタを締結しなければならない。一方、本実施形態によれば、基板100上にメタル版を載置する必要はないため、事前にコネクタ104などの突出部品を基板に締結することが可能となる。   On the other hand, in this embodiment, solder is applied using the applicators 54 and 55. In particular, according to the second applicator 55 capable of applying solder in a fine shape, it is possible to obtain a fine solder shape similar to that when printing using a metal plate. Therefore, it is not necessary to change the metal plate appropriately, and the mounting apparatus can be simplified. In the case of a printing process in which a metal plate is placed on a substrate, a projecting object such as a connector cannot be fastened to the substrate in advance, and the connector must be fastened after soldering. On the other hand, according to the present embodiment, since it is not necessary to place a metal plate on the substrate 100, it is possible to fasten a protruding component such as the connector 104 to the substrate in advance.

また、本実施形態では、比較的、大きい塗布形状が得られる第一塗布器54でリード部品に線引き塗布を行っている。そのため、後付半田を廃止することができ、工程をより簡略化できる。   In the present embodiment, the lead component is drawn by the first applicator 54 that can obtain a relatively large coating shape. Therefore, post soldering can be eliminated and the process can be further simplified.

撮影機構53は、基板100や捨打円盤61の上面を撮影するための機構で、垂直下向きの光軸を有したカメラ53aと、当該カメラ53aの真下に設けられたリング照明53bと、を備えている。リング照明53bは、カメラ53aの画角から外れた位置において、光源(例えばLEDなど)を環状に配置したものであり、撮影対象物を照明する。   The photographing mechanism 53 is a mechanism for photographing the upper surface of the substrate 100 and the discarding disk 61, and includes a camera 53a having a vertically downward optical axis, and a ring illumination 53b provided directly below the camera 53a. ing. In the ring illumination 53b, light sources (for example, LEDs) are annularly arranged at positions outside the angle of view of the camera 53a, and illuminate a subject to be photographed.

カメラ53aは、基板100や捨打円盤61に塗布された半田などを撮影する。制御部は、撮影で得られた基板100の画像に基づいて基板100の正確な位置を取得し、この得られた位置に基づいて、ディスペンスヘッド52と基板100との相対位置を微調整する。また、制御部は、基板100の撮影画像に基づいて、基板100の上に付されたマーカを特定し、このマーカに基づいて基板種類の判定も行う。そして、判定された基板種類に応じて、後に行う半田の塗布位置などを決定する。さらに、制御部は、捨打円盤61に塗布された半田の画像に基づいて塗布器54,55による半田の塗布量を取得し、得られた塗布量に基づいて、各塗布器54,55における半田の塗布圧を調整する。   The camera 53a photographs the solder applied to the substrate 100 or the discarding disk 61. The control unit acquires an accurate position of the substrate 100 based on the image of the substrate 100 obtained by photographing, and finely adjusts the relative position between the dispense head 52 and the substrate 100 based on the obtained position. Further, the control unit identifies a marker attached on the substrate 100 based on the captured image of the substrate 100, and also determines the substrate type based on the marker. Then, a solder application position to be performed later is determined in accordance with the determined substrate type. Further, the control unit obtains the amount of solder applied by the applicators 54 and 55 based on the solder image applied to the scraping disc 61, and in each of the applicators 54 and 55 based on the obtained amount of application. Adjust the solder application pressure.

測距センサ59は、非接触で、半田の塗布面(基板100の上面または捨打円盤61の上面)までの距離を測定するセンサである。制御部は、この測距センサ59での検出値に基づいて、塗布器54,55のZ軸方向の駆動量を制御する。   The distance measuring sensor 59 is a non-contact sensor that measures the distance to the solder application surface (the upper surface of the substrate 100 or the upper surface of the scraping disk 61). The control unit controls the drive amount in the Z-axis direction of the applicators 54 and 55 based on the detection value of the distance measuring sensor 59.

ここで、ディスペンスヘッド52を構成する各部のうち、撮影機構53および測距センサ59は、X軸方向にのみ移動可能であり、第一、第二塗布器54,55は、XZ軸方向に移動可能となっている。すなわち、撮影機構53、測距センサ59、および、Z軸レール56Zは、第一フレーム57aを介して、X軸レール56Xに接続されており、当該X軸レール56Xに沿って移動可能となっている。また、Z軸レール56Zには、第二フレーム57bを介して第一、第二塗布器54,55が連結されている。したがって、第一、第二塗布器54,55は、Z軸レール56Zに沿って昇降可能となっている。また、第一塗布器54と第二フレーム57bとの間には、さらに、Z軸方向に昇降可能なエアシリンダ58(図14(b)参照)も設けられている。したがって、第一塗布器54だけは、Z軸レール56Zに沿った昇降と、エアシリンダ58によるZ軸方向の昇降という二段階の昇降が可能となっている。別の言い方をすれば、第一塗布器54は、第二塗布器55に対する相対高さが可変となっている。そのため、第二塗布器55により半田塗布が成されている間、第一塗布器54は、第二塗布器55の先端より高い退避位置において待機することができる。また、第一塗布器54による半田塗布が必要な間は、第二塗布器55の先端より低い塗布位置にまで下降することができ、第二塗布器55と基板100との干渉を生じさせることなく、第一塗布器54による半田塗布が可能となる。   Here, among the components constituting the dispense head 52, the photographing mechanism 53 and the distance measuring sensor 59 can move only in the X-axis direction, and the first and second applicators 54 and 55 move in the XZ-axis direction. It is possible. That is, the photographing mechanism 53, the distance measuring sensor 59, and the Z-axis rail 56Z are connected to the X-axis rail 56X via the first frame 57a, and can move along the X-axis rail 56X. Yes. The first and second applicators 54 and 55 are connected to the Z-axis rail 56Z via the second frame 57b. Accordingly, the first and second applicators 54 and 55 can be moved up and down along the Z-axis rail 56Z. Further, an air cylinder 58 (see FIG. 14B) that can be moved up and down in the Z-axis direction is further provided between the first applicator 54 and the second frame 57b. Therefore, only the first applicator 54 can be moved up and down along the Z-axis rail 56 </ b> Z and can be moved up and down in two stages, that is, the air cylinder 58. In other words, the height of the first applicator 54 relative to the second applicator 55 is variable. Therefore, while the solder application is performed by the second applicator 55, the first applicator 54 can stand by at a higher retracted position than the tip of the second applicator 55. Further, while the solder application by the first applicator 54 is necessary, it can be lowered to an application position lower than the tip of the second applicator 55, causing interference between the second applicator 55 and the substrate 100. In addition, solder application by the first applicator 54 becomes possible.

[捨打円盤]
次に、捨打円盤61について、図13、図15を参照して説明する。捨打円盤61は、コンベア65の脇、基板100の搬送を阻害しない位置に設けられた円盤である。本実施形態では、この捨打円盤61の上面に、試験的な半田塗布、いわゆる捨て打ちを行う。
[Discarded Disc]
Next, the discarded disc 61 will be described with reference to FIGS. The discarding disc 61 is a disc provided beside the conveyor 65 and at a position that does not hinder the conveyance of the substrate 100. In the present embodiment, trial solder application, so-called discarding, is performed on the upper surface of the discard disk 61.

すなわち、通常、半田を基板100に塗布する場合には、その塗布圧(塗布量)が適正か否かを判断するために、基板100への塗布に先立って、別な場所に、試験的に半田を塗布する捨て打ちを行う。制御部は、この捨て打ちにより塗布された半田の形状に基づいて、塗布圧(塗布量)が適正か否かを判断し、塗布圧を制御する。ここで、従来、こうした捨て打ちは、使い捨てのテープ上に行われることが多かった。すなわち、長尺なテープは、供給ロールから引き出され、巻取ロールに巻き取られる。この供給ロールと巻取ロールの間に設けられた捨打部において、テープへの捨て打ちが行われる。捨て打ちが行われるたびに、テープは、巻取ロールに巻き取られ、テープのうち新規な箇所が捨打部に位置させられる。そして、全てのテープが巻取ロールに巻き取られれば、このテープは廃棄され、新たなテープに交換される仕組みとなっていた。かかる使い捨てのテープを使用する従来の構成では、テープの分だけコストがかり、また、使い捨てという環境への負荷があった。   That is, normally, when solder is applied to the substrate 100, in order to determine whether or not the application pressure (application amount) is appropriate, prior to application to the substrate 100, a test is performed in another place. Dispose of solder. The control unit determines whether or not the application pressure (application amount) is appropriate based on the shape of the solder applied by the discarding and controls the application pressure. Here, conventionally, such discarding has often been performed on disposable tapes. That is, the long tape is pulled out from the supply roll and wound up on the winding roll. In the discarding section provided between the supply roll and the take-up roll, the tape is discarded. Each time discarding is performed, the tape is wound around a winding roll, and a new portion of the tape is positioned at the discarding portion. And if all the tapes are taken up by the take-up roll, this tape is discarded and replaced with a new tape. In the conventional configuration using such a disposable tape, there is a cost corresponding to the tape, and there is a burden on the environment of disposable.

そこで、本実施形態では、テープに代えて、捨打円盤61に捨て打ちを行うようにしている。捨打円盤61は、上面に接合材料(半田)が試験的に塗布される被塗布部材として機能するものであり、モータ63の駆動により回転軸を中心として回転可能な円盤である。   Therefore, in this embodiment, instead of the tape, the discarding disc 61 is discarded. The discard disk 61 functions as a member to be coated on the upper surface of which a bonding material (solder) is experimentally applied, and is a disk that can be rotated about a rotation axis by driving a motor 63.

この捨打円盤61の上側には、クリーナ部材62が設けられている。クリーナ部材62は、その底面62aが、捨打円盤61の上面の一部に密着した状態で設置された部材である。このクリーナ部材62の底面62aには、塗布された半田の拭き取りに適した材料、例えば、繊維素材などが配されている。また、クリーナ部材62は、捨打円盤61の上面に密着するべく、図示しない付勢部材(バネなど)により、捨打円盤61に近づく方向に付勢されている。そして、捨打円盤61の回転に伴いクリーナ部材62と捨打円盤61とが相対移動すると、このクリーナ部材62の底面62aが捨打円盤61の上面に試験的に塗布された半田を拭き取り、捨打円盤61の上面から半田を除去する。   A cleaner member 62 is provided above the discard disk 61. The cleaner member 62 is a member installed with its bottom surface 62 a in close contact with a part of the top surface of the discarded disk 61. A material suitable for wiping off the applied solder, such as a fiber material, is disposed on the bottom surface 62a of the cleaner member 62. Further, the cleaner member 62 is urged in a direction approaching the discarding disc 61 by an urging member (a spring or the like) (not shown) so as to be in close contact with the upper surface of the discarding disc 61. Then, when the cleaning member 62 and the discarding disc 61 move relative to each other with the rotation of the discarding disc 61, the bottom surface 62a of the cleaner member 62 wipes away the solder applied on the top surface of the discarding disc 61 and discards it. The solder is removed from the upper surface of the punching disc 61.

こうした構成の捨打円盤に捨て打ち作業を行う場合には、まず、捨打円盤61のうち、露出している箇所に、ディスペンスヘッド52により半田を試験的に塗布(捨て打ち)する。塗布された半田は、ディスペンスヘッド52に設けられたカメラ53aにより撮影される。制御部は撮影により得られた画像に基づいて、塗布圧の適否を判断する。また、制御部は、試験的な塗布が完了すれば、モータ63を駆動して、捨打円盤61を360度回転、すなわち、一回転させる。この回転の際、塗布された半田は、クリーナ部材62aにより拭き取られ、除去される。その結果、捨打円盤61の上面は、再度の半田塗布が可能なクリーンな状態となり、再度、捨て打ちを行うことが可能となる。換言すれば、本実施形態によれば、半田が塗布される部材である捨打円盤61を繰り返し使用できる。そのため、従来のようにテープを使い捨てるという無駄を無くすことができる。   When the discarding operation is performed on the discarding disk having such a configuration, first, solder is applied to the exposed portion of the discarding disk 61 by the dispensing head 52 as a test (discarding). The applied solder is photographed by a camera 53 a provided in the dispense head 52. The control unit determines whether the application pressure is appropriate based on an image obtained by photographing. Further, when the trial application is completed, the control unit drives the motor 63 to rotate the rounding disc 61 360 degrees, that is, one rotation. During this rotation, the applied solder is wiped off by the cleaner member 62a and removed. As a result, the upper surface of the discarding disc 61 is in a clean state in which the solder can be applied again, and can be discarded again. In other words, according to this embodiment, the rounding disc 61 that is a member to which solder is applied can be used repeatedly. Therefore, the waste of throwing away the tape as in the conventional case can be eliminated.

なお、本実施形態では、半田が試験的に塗布される被塗布部材を円盤状としているが、繰り返し使用できるものであれば、円盤に限らず、他の形状であってもよい。例えば、Y方向に進退する板状部材であってもよい。この場合でも、板状部材の上面に密着するクリーナ部材を設けておき、捨て打ちのたびに板状部材を進退させることで、塗布された半田を除去するようにしてもよい。また、本実施形態では、被塗布部材(捨打円盤)を移動させているが、被塗布部材ではなく、クリーナ部材を移動させて、半田を拭き取るようにしてもよい。   In the present embodiment, the member to be coated on which the solder is applied on a trial basis has a disk shape. However, as long as it can be used repeatedly, it is not limited to the disk and may have other shapes. For example, a plate-like member that advances and retreats in the Y direction may be used. Even in this case, the applied solder may be removed by providing a cleaner member that is in close contact with the upper surface of the plate-like member, and advancing and retracting the plate-like member each time it is thrown away. Further, in the present embodiment, the member to be coated (rounded disk) is moved, but the cleaner member may be moved instead of the member to be coated to wipe the solder.

また、本実施形態では、捨て打ちのたびに、捨打円盤を360度回転させている。これは、捨打円盤61のうち、同じ位置に、半田塗布(捨て打ち)できるようにするためである。このように、同じ箇所に半田塗布するのは、塗布面(捨打円盤61の上面)の高さが変わることを防止するためである。すなわち、捨打円盤61を厳密に水平に保つことは難しい。そのため、回転角度によって、捨打円盤61の上面高さが微妙に異なる。この上面高さの違いが、塗布圧の厳密な判断に影響を与える恐れがある。そこで、本実施形態では、捨て打ちのたびに、捨打円盤を360度回転させ、塗布面の高さが常に同じになるようにしている。なお、当然ながら、捨打円盤61を厳密に水平に設置したり、捨て打ちのたびに上面高さを測定したりなどするのであれば、360度未満で回転させてもよい。   In the present embodiment, the discarding disk is rotated 360 degrees each time it is discarded. This is because solder can be applied (discarded) to the same position in the discarded disc 61. The reason for applying the solder to the same portion in this way is to prevent the height of the application surface (the upper surface of the round disc 61) from changing. That is, it is difficult to keep the scraping disc 61 strictly level. Therefore, the height of the upper surface of the discard disk 61 is slightly different depending on the rotation angle. This difference in the height of the upper surface may affect strict judgment of the coating pressure. Therefore, in the present embodiment, the discarding disk is rotated 360 degrees every time it is thrown away, so that the height of the coated surface is always the same. Of course, if the rounding disc 61 is installed strictly horizontally or the upper surface height is measured every time it is thrown away, it may be rotated at less than 360 degrees.

[マウント部概要]
次に、マウント部67について図12、図16を参照して説明する。図16は、マウント部67に設けられたマウントヘッド68の側面図である。
[Mount section overview]
Next, the mount portion 67 will be described with reference to FIGS. FIG. 16 is a side view of the mount head 68 provided in the mount portion 67.

マウント部67は、搬送されてきた基板100の上面に、半導体素子などの電子部品をマウントする部位である。このマウント部67には、マウントヘッド68や、テープ送出機構72、バッファ部73、部品撮影機構69、ヘッド交換機構70などが設けられている。   The mount part 67 is a part for mounting an electronic component such as a semiconductor element on the upper surface of the substrate 100 that has been transported. The mount portion 67 is provided with a mount head 68, a tape delivery mechanism 72, a buffer portion 73, a component photographing mechanism 69, a head replacement mechanism 70, and the like.

マウントヘッド68は、電子部品を保持して搬送し、基板100にマウントするヘッドである。このマウントヘッド68の構成については後に詳説するが、当該マウントヘッド68は、XYZ方向に移動可能であり、部品を吸引保持する吸引ヘッド74はZ軸周りに回転可能となっている。   The mount head 68 is a head that holds and conveys electronic components and mounts them on the substrate 100. The configuration of the mount head 68 will be described in detail later. The mount head 68 can move in the XYZ directions, and the suction head 74 for sucking and holding the components can rotate around the Z axis.

テープ送出機構72は、電子部品を保持したキャリアテープ71を順次、送り出す機構である。一つのキャリアテープ71には、同じ種類の電子部品が、一列に間隔を開けて配置されている。テープ送出機構72は、マウントヘッド68により電子部品が取り出されるたびに、このキャリアテープ71を送り出し、マウントヘッド68による取り出しが可能な取り出し位置に、新たな電子部品が位置するようにしている。ここで、本実施形態では、一つの基板100に多種類の部品を配置するため、テープ送出機構72も多数、用意する必要がある。かかる多数のテープ送出機構72を一列に並べると、一方向に長尺な構成となり、装置の大型化を招く。また、一方向に長尺に並べると、その分、テープから部品を取り出すマウントヘッド68のストロークも一方向に長尺にする必要がある。しかし、ストロークを過度に大きくすると、その分、モータの出力や支持部材の剛性向上などが必要になり、装置の更なる大型化、コストの増加という問題を招く。そこで、本実施形態では、多数のテープ送出機構72の一部をX方向に並べ、残りのテープ送出機構72をY方向に並べて配置している。別の見方をすると、本実施形態では、テープ送出機構72の一部を、マウントヘッド68の駆動範囲E(図12参照)の一辺に沿って配置し、残りのテープ送出機構72を駆動範囲Eの他の辺に沿って配置している。かかる構成とすることで、テープの配置範囲が一方向に長尺になることが防止される。そして、これにより、マウントヘッド68のストロークを一方向にのみ大きくする必要がなく、結果として、コストやサイズの増加を防止できる。   The tape delivery mechanism 72 is a mechanism that sequentially delivers the carrier tape 71 holding electronic components. On one carrier tape 71, electronic components of the same type are arranged at intervals in a row. Each time an electronic component is taken out by the mount head 68, the tape feed mechanism 72 feeds out the carrier tape 71 so that a new electronic component is positioned at a take-out position where the mount head 68 can take it out. Here, in this embodiment, since many types of components are arranged on one substrate 100, it is necessary to prepare a large number of tape delivery mechanisms 72. When such a large number of tape delivery mechanisms 72 are arranged in a row, the taper mechanism is elongated in one direction, resulting in an increase in the size of the apparatus. Further, when the long lines are arranged in one direction, the stroke of the mount head 68 for taking out components from the tape needs to be long in one direction. However, when the stroke is excessively increased, it is necessary to improve the output of the motor and the rigidity of the support member, which causes problems such as further increase in size of the apparatus and increase in cost. Therefore, in this embodiment, a part of the large number of tape delivery mechanisms 72 is arranged in the X direction, and the remaining tape delivery mechanisms 72 are arranged in the Y direction. From another point of view, in this embodiment, a part of the tape delivery mechanism 72 is arranged along one side of the drive range E (see FIG. 12) of the mount head 68 and the remaining tape delivery mechanism 72 is placed in the drive range E. It is arranged along the other side. By adopting such a configuration, the arrangement range of the tape is prevented from becoming long in one direction. Thus, it is not necessary to increase the stroke of the mount head 68 only in one direction, and as a result, increase in cost and size can be prevented.

バッファ部73は、電子部品を一時的に保持する部位であるが、これについては、後に詳説する。ヘッド交換機構70は、マウントヘッド68に設けられた吸引ヘッド74の先端に設けられた吸引ノズル75を交換するための機構である。すなわち、後述するように、マウントヘッド68には、部品を吸引保持する吸引ヘッド74が設けられている。この吸引ヘッド74の先端に設けられた吸引ノズル75の形状は、保持する部品の形状やサイズに応じて適宜、交換されることが望ましい。そこで、本実施形態では、交換用の吸引ノズル75を複数、用意しておき、適宜、吸引ノズル75を交換できるようにしている。   The buffer unit 73 is a part that temporarily holds an electronic component, which will be described in detail later. The head exchange mechanism 70 is a mechanism for exchanging the suction nozzle 75 provided at the tip of the suction head 74 provided in the mount head 68. That is, as described later, the mount head 68 is provided with a suction head 74 that sucks and holds components. The shape of the suction nozzle 75 provided at the tip of the suction head 74 is preferably exchanged as appropriate according to the shape and size of the component to be held. Therefore, in the present embodiment, a plurality of replacement suction nozzles 75 are prepared, and the suction nozzles 75 can be appropriately replaced.

部品撮影機構69は、吸引ヘッド74により吸引保持された部品を撮影する機構である。部品撮影機構69には、吸引ヘッド74により保持された部品を照らすための環状の照明と、垂直上向きの光軸を備えたカメラと、が設けられている。キャリアテープ71またはバッファ部73から部品を取り出し、当該部品を吸引保持した吸引ヘッド74は、マウント動作に先立って、この部品撮影機構69の真上に移動する。部品撮影機構69のカメラは、この吸引ヘッド74に保持されている部品を撮影する。   The component photographing mechanism 69 is a mechanism for photographing a component sucked and held by the suction head 74. The component photographing mechanism 69 is provided with an annular illumination for illuminating a component held by the suction head 74 and a camera having a vertically upward optical axis. The suction head 74 that takes out a part from the carrier tape 71 or the buffer unit 73 and sucks and holds the part moves to a position directly above the part photographing mechanism 69 prior to the mounting operation. The camera of the part photographing mechanism 69 photographs the part held by the suction head 74.

制御部は、この部品撮影機構69により撮影された画像に基づいて、吸引保持された部品の水平面内での回転角度を算出し、この算出結果に基づいて、部品の水平面内での角度が適正になるように、吸引ヘッド74をZ軸周りに回転させる。これにより、適正な角度で部品をマウントすることが可能となる。   The control unit calculates the rotation angle of the sucked and held component in the horizontal plane based on the image captured by the component imaging mechanism 69, and based on the calculation result, the angle of the component in the horizontal plane is appropriate. The suction head 74 is rotated around the Z axis so that This makes it possible to mount the component at an appropriate angle.

[マウントヘッド]
次に、マウントヘッド68について、図16を参照して詳説する。マウントヘッド68は、キャリアテープ71またはバッファ部73から部品を取り出し、基板100にマウントするものである。このマウントヘッド68には、吸引ヘッド74および撮影機構78が設けられている。
[Mount head]
Next, the mount head 68 will be described in detail with reference to FIG. The mount head 68 takes out components from the carrier tape 71 or the buffer unit 73 and mounts them on the substrate 100. The mount head 68 is provided with a suction head 74 and a photographing mechanism 78.

撮影機構78は、基板100の上面を撮影するための機構で、垂直下向きの光軸を有したカメラ78aと、当該カメラ78aの真下に設けられたリング照明78bと、を備えている。制御部は、この撮影機構78で撮影された基板100の画像に基づいて、基板の正確な位置や、基板100に付されたマーカを特定する。そして、特定された基板位置に基づいて吸引ヘッド74と基板100との相対位置を微調整する。また、得られたマーカに基づいて、基板種類の判定を行い、判定された基板種類に応じて、部品のマウント位置などを決定する。   The photographing mechanism 78 is a mechanism for photographing the upper surface of the substrate 100, and includes a camera 78a having a vertically downward optical axis, and a ring illumination 78b provided immediately below the camera 78a. The control unit specifies an accurate position of the substrate and a marker attached to the substrate 100 based on the image of the substrate 100 photographed by the photographing mechanism 78. Then, the relative position between the suction head 74 and the substrate 100 is finely adjusted based on the specified substrate position. Further, the board type is determined based on the obtained marker, and the mounting position of the component is determined according to the determined board type.

吸引ヘッド74は、部品を吸引保持するためのヘッドで、その先端には吸引ノズル75が取り付けられている。この吸引ノズル75は、図示しないポンプに接続されており、当該ポンプの駆動に応じて部品を吸引保持したり吸引解除したりする。この吸引ノズル75は、既述したとおり、保持すべき部品の形状に応じて交換自在となっている。   The suction head 74 is a head for sucking and holding components, and a suction nozzle 75 is attached to the tip thereof. The suction nozzle 75 is connected to a pump (not shown), and sucks and holds components and releases suction according to the driving of the pump. As described above, the suction nozzle 75 is replaceable according to the shape of the component to be held.

この吸引ノズル75および撮影機構78は、互いに連動して、Y軸レール77YおよびX軸レール77Xに沿って移動可能となっている。さらに、吸引ヘッド74は、シリンダ76の駆動に応じてZ軸方向に移動自在(昇降自在)であり、また、Z軸周りに回転自在にもなっている。   The suction nozzle 75 and the imaging mechanism 78 are movable along the Y-axis rail 77Y and the X-axis rail 77X in conjunction with each other. Further, the suction head 74 is movable (movable up and down) in the Z-axis direction according to the driving of the cylinder 76, and is also rotatable around the Z-axis.

[バッファ部]
次にバッファ部73について詳説する。既述したとおり、マウント部67には、マウントすべき部品を一時的に収容したバッファ部73が設けられている(図12参照)。このバッファ部73に収容された部品は、空になったキャリアテープ71を交換している間に利用される。
[Buffer part]
Next, the buffer unit 73 will be described in detail. As described above, the mount portion 67 is provided with the buffer portion 73 that temporarily accommodates components to be mounted (see FIG. 12). The parts accommodated in the buffer unit 73 are used while exchanging the empty carrier tape 71.

すなわち、既述したとおり、キャリアテープ71には、同じ種類の電子部品が一列に間隔を開けて多数配置されている。マウントヘッド68は、このキャリアテープ71から部品を一つずつ取り出し、基板100に配置する。テープ送出機構72は、部品が取り出されるたびに、キャリアテープ71を送り出し、マウントヘッド68による取り出しが可能な取り出し位置に、新たな電子部品を位置させている。   That is, as described above, the carrier tape 71 has a large number of electronic components of the same type arranged at intervals in a row. The mount head 68 takes out components one by one from the carrier tape 71 and places them on the substrate 100. The tape delivery mechanism 72 feeds out the carrier tape 71 each time a part is taken out, and places a new electronic part at a take-out position where it can be taken out by the mount head 68.

このキャリアテープ71から全ての部品が取り出され、キャリアテープ71が空になれば、作業者は、テープ送出機構72から空になったキャリアテープ71を取り外し、代わりに、新たなキャリアテープ71をセットするテープ交換をする必要がある。当然ながら、このテープ交換の間、マウントヘッド68は、キャリアテープ71から部品を取り出すことはできない。そのため、バッファ部73を設けていなかった従来の実装装置では、このテープ交換の間は、部品のマウント作業ができず、ひいては、処理効率が下がるという問題があった。   When all the parts are removed from the carrier tape 71 and the carrier tape 71 becomes empty, the operator removes the empty carrier tape 71 from the tape delivery mechanism 72 and sets a new carrier tape 71 instead. It is necessary to replace the tape. Of course, the mount head 68 cannot remove the parts from the carrier tape 71 during this tape change. Therefore, in the conventional mounting apparatus in which the buffer unit 73 is not provided, there is a problem that the mounting operation of the parts cannot be performed during the tape replacement, and the processing efficiency is lowered.

こうした問題を避けるために、本実施形態では、少なくとも、このテープ交換に要する時間の間に必要となる数の電子部品を保持するバッファ部73を設けている。そして、テープ交換の間は、このバッファ部73から部品を取り出し、基板100にマウントするようにしている。これにより、テープ交換の時間もマウント作業を継続することができ、処理効率を向上できる。   In order to avoid such a problem, in this embodiment, a buffer unit 73 that holds at least the number of electronic components required during the time required for the tape replacement is provided. During the tape exchange, the components are taken out from the buffer unit 73 and mounted on the substrate 100. As a result, the mounting operation can be continued during the tape replacement time, and the processing efficiency can be improved.

なお、本実施形態では、このバッファ部73において部品を保持するために、使用済みキャリアテープ71を用いている。すなわち、部品が全て取り出された後のキャリアテープ71は、通常、廃棄される。しかし、このキャリアテープ71には、部品保持のために、部品の外形に応じた凹部が形成されている。かかる凹部が形成されたキャリアテープ71を、バッファ部73に配置し、当該凹部にバッファ用の部品を配置することで、部品をより安定して保持することができる。また、廃棄されるキャリアテープ71を有効活用することで、新たな部品保持用の部品を製造する必要がなく、コストを低減することができる。   In the present embodiment, the used carrier tape 71 is used to hold components in the buffer unit 73. That is, the carrier tape 71 after all the parts have been removed is usually discarded. However, the carrier tape 71 is formed with a recess corresponding to the outer shape of the component in order to hold the component. By disposing the carrier tape 71 having such recesses in the buffer part 73 and disposing buffer parts in the recesses, the parts can be held more stably. Further, by effectively utilizing the discarded carrier tape 71, it is not necessary to manufacture a new component holding component, and the cost can be reduced.

ところで、このバッファ部73への部品のセットは、手動で行ってもよいし、マウントヘッドにより自動で行ってもよい。手動で行う場合には、例えば、生産開始時に予めキャリアテープ71からバッファ部73に、必要な数だけ、部品を移し変える。   By the way, the setting of the parts to the buffer unit 73 may be performed manually or automatically by the mount head. When performing manually, for example, a necessary number of parts are transferred from the carrier tape 71 to the buffer unit 73 in advance at the start of production.

また、別の形態として、実装装置49の起動時およびキャリアテープ71の交換完了時に、バッファ部73における部品の不足数を検知し、自動的に(マウントヘッドによって)、その不足数だけキャリアテープ71からバッファ部73に供給するようにしてもよい。   As another form, when the mounting device 49 is started and when the replacement of the carrier tape 71 is completed, the shortage of parts in the buffer unit 73 is detected and automatically (by the mount head), the carrier tape 71 corresponding to the shortage. May be supplied to the buffer unit 73.

図17は、この場合におけるタイミングチャートである。図17の一段目はキャリアテープ71から部品を取り出してマウント作業をするタイミングを、二段目はテープ交換を行っているタイミングを、三段目はマウントヘッド68でキャリアテープ71からバッファ部73に部品を補充するバッファ充填のタイミングを、四段目はバッファ部73から部品を取り出してマウント作業をするタイミングをそれぞれ示している。なお、この図17では、見易さのために、各時間の比率を、実際とは変えており、実際には、通常マウントの時間はより長く、バッファ充填の時間はより短い。   FIG. 17 is a timing chart in this case. The first stage of FIG. 17 shows the timing for taking out the components from the carrier tape 71 and mounting the second stage, the timing of replacing the tape, and the third stage by the mount head 68 from the carrier tape 71 to the buffer unit 73. The buffer filling timing for replenishing the components is shown, and the fourth row shows the timing for taking out the components from the buffer unit 73 and mounting. In FIG. 17, the ratio of each time is changed from the actual one for the sake of easy viewing. In practice, the normal mounting time is longer and the buffer filling time is shorter.

時刻T1に実装装置49を起動した際、制御部は、バッファ部73における部品の不足数を検知する。ここで、不足数とは、テープ交換に要する時間の間に必要となる電子部品の数から、バッファ部73に配置された部品数を引いた数である。   When the mounting apparatus 49 is activated at time T1, the control unit detects the number of parts shortage in the buffer unit 73. Here, the shortage number is a number obtained by subtracting the number of components arranged in the buffer unit 73 from the number of electronic components required during the time required for tape replacement.

部品の不足があると判断された場合、バッファ充填作業(図17の三段目)が行われる。すなわち、制御部は、マウントヘッド68を駆動して、キャリアテープ71から不足数分の部品を、バッファ部73に供給させる。当然のことながらこの間、マウント作業は行われない。   When it is determined that there is a shortage of parts, a buffer filling operation (third stage in FIG. 17) is performed. That is, the control unit drives the mount head 68 to supply the buffer part 73 with a shortage of parts from the carrier tape 71. Of course, no mounting work is done during this time.

時刻T2において、バッファ部73への部品充填が完了すれば、通常のマウント作業(図17の一段目)が行われる。すなわち、マウントヘッド68が、キャリアテープ71から部品を取り出し、基板100にマウントする動作が行われる。   When the filling of the parts into the buffer unit 73 is completed at time T2, a normal mounting operation (first stage in FIG. 17) is performed. In other words, the mount head 68 performs an operation of taking out components from the carrier tape 71 and mounting them on the substrate 100.

時刻T3の時点で、キャリアテープ71が空になると、作業者は、キャリアテープ71の交換を行う(図17の二段目)。一方、制御部は、バッファ部73からの部品取り出しをマウントヘッド68に指示する。この指示を受けて、マウントヘッド68は、バッファ部73から部品を取り出してマウント作業を行う(図17の四段目)。ここで、バッファ部73には、テープ交換に要する時間の間に必要となる数だけ部品が配置されているため、テープ交換が完了する時刻T4まで、継続してマウント作業を行うことができる。   When the carrier tape 71 becomes empty at time T3, the operator replaces the carrier tape 71 (second stage in FIG. 17). On the other hand, the control unit instructs the mount head 68 to take out the components from the buffer unit 73. In response to this instruction, the mount head 68 takes out the component from the buffer unit 73 and performs the mounting operation (fourth stage in FIG. 17). Here, since the buffer 73 has as many components as necessary during the time required for the tape replacement, the mounting operation can be continued until time T4 when the tape replacement is completed.

時刻T4において、テープ交換が完了すれば、制御部は、マウントヘッド68に対して、キャリアテープ71からの部品取り出しを指示する。この指示を受けて、マウントヘッド68は、キャリアテープ71から部品を取り出しマウントする通常のマウント作業を再開する(図17の一段目)。   When the tape replacement is completed at time T4, the control unit instructs the mount head 68 to take out the component from the carrier tape 71. Upon receiving this instruction, the mount head 68 resumes the normal mounting operation for taking out and mounting the components from the carrier tape 71 (first stage in FIG. 17).

その後、時刻T5において、再び、テープが空になれば、作業者はテープ交換を開始する(図17の二段目)。このとき、バッファ部73の部品は、前回テープ交換の際に用いられて無くなっているため、今回のテープ交換時には利用することはできない。したがって、この時刻T5から、後述するバッファ補充が完了する時刻T7までは、マウント作業は、中断されることになる。   After that, when the tape becomes empty again at time T5, the operator starts tape replacement (second stage in FIG. 17). At this time, since the parts of the buffer unit 73 are not used at the previous tape replacement, they cannot be used at the time of the current tape replacement. Therefore, the mounting operation is interrupted from time T5 to time T7 when buffer replenishment to be described later is completed.

時刻T6において、テープ交換が完了すれば、制御部は、バッファ部73における部品の不足数を検知するとともに、当該不足数だけの補充をマウントヘッド68に指示する。この指示を受けて、マウントヘッド68は、キャリアテープ71から部品を取り出し、バッファ部73に配置するバッファ補充(図17の三段目)を行う。   When the tape replacement is completed at time T <b> 6, the control unit detects the number of parts shortage in the buffer unit 73 and instructs the mount head 68 to supply only the shortage. In response to this instruction, the mount head 68 takes out the component from the carrier tape 71 and replenishes the buffer to be arranged in the buffer unit 73 (third stage in FIG. 17).

そして、時刻T7においてバッファ充填が完了すれば、再び、キャリアテープ71から部品を取り出し、基板にマウントする通常のマウント作業を開始する(図17の一段目)。そして、以降も、同様の作業を繰り返す。   When the buffer filling is completed at time T7, the normal mounting operation of taking out the components from the carrier tape 71 and mounting them on the substrate is started again (first stage in FIG. 17). Thereafter, the same operation is repeated.

以上の説明から明らかなとおり、この形態によれば、テープ交換のたびに、マウント作業を中断する必要がないため、従来に比して、効率的に装置の稼働率を向上させることができる。なお、この形態によれば、キャリアテープ71を二つ使いきるたびに、テープ交換に要する時間およびバッファ充填に要する時間分だけ、マウント作業を中断しなければならない。しかし、バッファ充填に要する時間は、テープ交換に要する時間に比して、十分に小さい。そのため、テープ交換のたびに、テープ交換に要する時間分だけマウント作業を中断していた従来技術に比して、この形態におけるマウント中断の合計時間は十分小さくなる。また、ここでは、一回のテープ交換の時間に必要となる数の部品数をバッファ部73に配置する場合を例示しているが、より多数の部品をバッファ部73に待機させておいてもよい。かかる構成とすることで、テープ交換に起因する装置のマウントの中断時間をより短くすることができ、装置の稼働率をより向上させることができる。   As is clear from the above description, according to this embodiment, it is not necessary to interrupt the mounting operation every time the tape is exchanged, so that the operating rate of the apparatus can be improved more efficiently than in the past. According to this embodiment, every time the two carrier tapes 71 are used up, the mounting operation must be interrupted for the time required for tape replacement and the time required for buffer filling. However, the time required for buffer filling is sufficiently shorter than the time required for tape replacement. For this reason, the total mount interruption time in this embodiment is sufficiently small as compared with the prior art in which the mount operation is interrupted for the time required for the tape change every time the tape is changed. Also, here, the case where the number of parts required for one tape replacement time is arranged in the buffer unit 73 is illustrated, but a larger number of parts may be kept waiting in the buffer unit 73. Good. By adopting such a configuration, it is possible to shorten the suspension time of the mounting of the device due to the tape replacement, and it is possible to further improve the operating rate of the device.

また、この形態では、テープ交換完了時にバッファ充填する形態としたが、通常マウントの間にバッファ充填を行ってもよい。これについて図18を用いて説明する。   In this embodiment, the buffer is filled when the tape replacement is completed. However, the buffer may be filled during normal mounting. This will be described with reference to FIG.

図18は、通常マウントの間にバッファ充填を行う場合のタイミングチャートである。図18の一段目はキャリアテープ71から部品を取り出してマウント作業をするタイミングを、二段目はテープ交換を行っているタイミングを、三段目はマウントヘッド68でキャリアテープ71からバッファ部73に部品を供給するタイミングを、四段目はバッファ部73から部品を取り出してマウント作業をするタイミングをそれぞれ示している。   FIG. 18 is a timing chart when the buffer is filled during normal mounting. The first stage of FIG. 18 shows the timing for taking out the components from the carrier tape 71 and mounting the second stage, the timing of the tape replacement, and the third stage by the mount head 68 from the carrier tape 71 to the buffer unit 73. The timing at which the parts are supplied, and the fourth level shows the timing at which the parts are taken out from the buffer unit 73 and mounted.

図17では、通常マウント作業の間、マウント作業が休み無く行われているかのように図示したが、実際には、マウント完了した基板100をマウント部67から出力した後、新たな基板100がマウント部67に送られるまでの間など、マウント作業ができない時間が度々、生じる。その結果、図18の一段目に示すように、キャリアテープ71から部品を取り出してマウントする通常マウント作業には微小な中断時間Tkが、繰り返し発生する。   In FIG. 17, it is illustrated that the mounting operation is performed without interruption during the normal mounting operation, but actually, after the mounted substrate 100 is output from the mounting unit 67, a new substrate 100 is mounted. There are often times when the mounting operation cannot be performed, for example, until the unit 67 is sent. As a result, as shown in the first row of FIG. 18, a minute interruption time Tk repeatedly occurs in the normal mounting operation in which components are taken out from the carrier tape 71 and mounted.

この微小な中断時間Tkの間に、キャリアテープ71から部品を取り出し、バッファ部73に部品充填を行うバッファ充填を行うようにしてもよい。この場合、制御部は、中断時間Tkが発生するたびに、バッファ部73において部品が不足しているか否かを判断する。そして、部品が不足していると判断された場合には、マウントヘッド68を駆動して、キャリアテープ71から部品を取り出し、バッファ部73に補充する(図18の三段目)。   During this minute interruption time Tk, the parts may be taken out from the carrier tape 71 and the buffer filling for filling the parts into the buffer unit 73 may be performed. In this case, the control unit determines whether or not there is a shortage of parts in the buffer unit 73 every time the interruption time Tk occurs. If it is determined that there is a shortage of parts, the mount head 68 is driven to take out the parts from the carrier tape 71 and refill the buffer 73 (third stage in FIG. 18).

その後、キャリアテープ71が空になり、テープ交換が開始されれば、このバッファ部73から部品を取り出し、基板100にマウントする。テープ交換が完了すれば、再び、キャリアテープ71から部品を取り出す、通常マウントを行う。   Thereafter, when the carrier tape 71 becomes empty and the tape replacement is started, the component is taken out from the buffer unit 73 and mounted on the substrate 100. When the tape replacement is completed, normal mounting is performed in which the parts are taken out from the carrier tape 71 again.

このように、通常マウント作業中に生じる、微小な中断時間Tkにバッファ充填を行うようにすれば、テープ交換のためにマウント作業を中断させる必要がなく、装置の稼働率をより向上できる。   As described above, if the buffer filling is performed during the minute interruption time Tk that normally occurs during the mounting operation, it is not necessary to interrupt the mounting operation for tape replacement, and the operating rate of the apparatus can be further improved.

[下側ユニット(リフロー部)]
次に、下側ユニット80について図19を参照して説明する。図19は、下側ユニット80の概略側面図である。下側ユニット80には、基板を加熱して、半田を溶融するリフロー部81が設けられている。このリフロー部81には、基板100(パレット110)を搬送するコンベア83と、三組、合計六個のリフロー炉82が設けられている。
[Lower unit (reflow part)]
Next, the lower unit 80 will be described with reference to FIG. FIG. 19 is a schematic side view of the lower unit 80. The lower unit 80 is provided with a reflow unit 81 that heats the substrate and melts the solder. The reflow unit 81 is provided with a conveyor 83 for transporting the substrate 100 (pallet 110) and three sets of six reflow furnaces 82 in total.

上側ユニット50のマウント部67から出力された基板100は、下降部84に設けられた下降機構により、下側ユニット80と同じ高さまで運ばれ、このリフロー部81に投入される。リフロー部81に投入された基板100は、コンベア83により、下流側へと搬送される。ここで、下側ユニット80と上側ユニット50では、搬送方向が逆転している。すなわち、上側ユニット50では、図12に示すように、上昇部85側から下降部84側へと基板が搬送されるのに対し、下側ユニット80では、下降部84側から上昇部85側へと搬送される。   The substrate 100 output from the mount unit 67 of the upper unit 50 is transported to the same height as the lower unit 80 by the lowering mechanism provided in the lowering unit 84 and is put into the reflow unit 81. The board | substrate 100 thrown into the reflow part 81 is conveyed downstream by the conveyor 83. FIG. Here, the conveyance direction is reversed between the lower unit 80 and the upper unit 50. That is, in the upper unit 50, as shown in FIG. 12, the substrate is transported from the rising portion 85 side to the lowering portion 84 side, whereas in the lower unit 80, the lowering portion 84 side is moved to the rising portion 85 side. It is conveyed.

リフロー炉82は、基板100を加熱するヒータや、当該ヒータからの熱を送るファンなどからなるユニットである。この本実施形態では、コンベア83を挟んで上下に対向配置させたリフロー炉82を三組、合計六個設けている。このリフロー炉82の間を搬送される過程で、基板100に塗布された半田が溶融され、基板100に部品が半田付けされる。リフロー炉82から出力された基板100は、上昇部に設けられた上昇機構により、運ばれる。そして、この上昇機構による搬送の過程で冷却されることで、半田が固着し、部品が基板100に固着される。   The reflow furnace 82 is a unit including a heater for heating the substrate 100, a fan for sending heat from the heater, and the like. In this embodiment, a total of six reflow furnaces 82 are provided, which are opposed to each other up and down across the conveyor 83. In the process of being conveyed between the reflow furnaces 82, the solder applied to the substrate 100 is melted, and components are soldered to the substrate 100. The substrate 100 output from the reflow furnace 82 is carried by a rising mechanism provided in the rising portion. Then, by cooling in the process of conveyance by the ascending mechanism, the solder is fixed, and the component is fixed to the substrate 100.

[下降部および上昇部]
次に、下降部84および上昇部85について詳説する。既述したとおり、下降部84は、上側ユニット50から出力された基板100(パレット110)を下側ユニット80に搬送する機構であり、上昇部85は、下側ユニット80から出力された基板100(パレット110)を上側ユニット50に搬送する機構である。
[Descent part and rise part]
Next, the descending part 84 and the ascending part 85 will be described in detail. As described above, the lowering portion 84 is a mechanism for transporting the substrate 100 (pallet 110) output from the upper unit 50 to the lower unit 80, and the rising portion 85 is the substrate 100 output from the lower unit 80. This is a mechanism for transporting the (pallet 110) to the upper unit 50.

下降部84は、例えば、パレット110が載置されるテーブルと、当該テーブルにモータの回転を直線運動に変換して伝達する伝達機構(例えばリードスクリュー、ギアおよびチェーンなど)、および、駆動源となるモータなどで構成される。こうした下降機構は、種々の公知技術を用いて構成できるため、ここでの詳説は省略する。   The descending unit 84 is, for example, a table on which the pallet 110 is placed, a transmission mechanism (for example, a lead screw, a gear, and a chain) that converts the rotation of the motor into a linear motion and transmits the table, and a drive source. It consists of a motor that becomes. Since such a lowering mechanism can be configured using various known techniques, detailed description thereof is omitted here.

次に、上昇部85について詳説する。図20は、上昇部85の概略正面図(図12における概略A方向視図)である。   Next, the rising portion 85 will be described in detail. FIG. 20 is a schematic front view of the ascending portion 85 (a schematic view in the direction A in FIG. 12).

この上昇部85には、基板100をパレット110ごと上昇させる上昇機構86と、上昇されたパレット110を収容する収容機構94と、パレット110から完成基板100cを取り出す取出機構96と、が設けられている。上昇機構86は、下側ユニット80から出力されたパレット110を下方から押し上げる上昇アーム92を備えている。この上昇アーム92の両端は、垂直方向に立脚するガイドシャフト93に挿通されており、上昇アーム92は、当該ガイドシャフト93に沿って垂直方向にのみ移動するようになっている。また、駆動源であるモータ88の出力軸には、ギア90が連結されており、このギア90の回転は、チェーン91を介して、直線運動に変換されて上昇アーム92に伝達されるようになっている。そして、モータ88の駆動に応じて、上昇アーム92が上昇することで、下側ユニット80から出力されたパレット110が押し上げられ、収容機構94へと搬送されることになる。   The raising portion 85 is provided with a raising mechanism 86 that raises the substrate 100 together with the pallet 110, an accommodation mechanism 94 that accommodates the raised pallet 110, and a take-out mechanism 96 that takes out the completed substrate 100 c from the pallet 110. Yes. The raising mechanism 86 includes a raising arm 92 that pushes up the pallet 110 output from the lower unit 80 from below. Both ends of the ascending arm 92 are inserted through a guide shaft 93 that stands in the vertical direction, and the ascending arm 92 moves only along the guide shaft 93 in the vertical direction. A gear 90 is connected to the output shaft of the motor 88 that is a drive source, and the rotation of the gear 90 is converted into a linear motion and transmitted to the ascending arm 92 via the chain 91. It has become. As the motor 88 is driven, the raising arm 92 is raised, whereby the pallet 110 output from the lower unit 80 is pushed up and conveyed to the accommodation mechanism 94.

取出機構96は、この上昇アーム92によるパレット110の上昇に先立って、完成基板100cを取り出す機構である。この取出機構96には、基板100を吸引する吸引ヘッド97が設けられている。そして、基板100を吸引保持した状態で、この吸引ヘッド97が移動することで、完成基板100cがパレット110から取り出され、搬送される。この吸引ヘッド97は、ロータリーアクチュエータ98R、Z軸ロボ98Z、X軸ロボ98Xにより、Z軸周りの回転、Z軸に沿った昇降、X軸に沿った移動が可能となっている。   The take-out mechanism 96 is a mechanism for taking out the completed substrate 100c prior to the lift of the pallet 110 by the lift arm 92. The take-out mechanism 96 is provided with a suction head 97 for sucking the substrate 100. Then, the suction head 97 moves while the substrate 100 is sucked and held, whereby the completed substrate 100c is taken out from the pallet 110 and conveyed. The suction head 97 can be rotated around the Z axis, moved up and down along the Z axis, and moved along the X axis by the rotary actuator 98R, the Z axis robot 98Z, and the X axis robot 98X.

この吸引ヘッド97による完成基板100cの取り出しについて簡単に説明する。下側ユニット80からパレット110が出力されると、吸引ヘッド97は、このパレット110に保持された完成基板100cの真上位置まで移動し、当該完成基板100cを吸引保持する。そして、完成基板100cを吸引保持した状態で、吸引ヘッド97が僅かに上昇することで、完成基板100cがパレット110から離脱する。その後、吸引ヘッド97は、Z軸周りに回転し、パレット110の真上から離れる。続いて、吸引ヘッド97は、完成基板100cを載置する完成品レール99より僅かに高い位置まで上昇する。そして、X軸方向に移動し、完成品レール99の真上位置まで移動すれば、吸引ヘッド97による吸引を解除し、完成品レール99の上に完成基板100cを載置する。   The removal of the completed substrate 100c by the suction head 97 will be briefly described. When the pallet 110 is output from the lower unit 80, the suction head 97 moves to a position directly above the completed substrate 100c held on the pallet 110, and sucks and holds the completed substrate 100c. Then, in a state where the completed substrate 100c is sucked and held, the suction head 97 is slightly raised, so that the completed substrate 100c is detached from the pallet 110. Thereafter, the suction head 97 rotates around the Z axis and moves away from just above the pallet 110. Subsequently, the suction head 97 rises to a position slightly higher than the finished product rail 99 on which the finished substrate 100c is placed. And if it moves to the X-axis direction and moves to the position just above the finished product rail 99, the suction by the suction head 97 is released, and the finished substrate 100c is placed on the finished product rail 99.

この取出機構96の動きにより、上昇機構86により上側ユニット50へと搬送されるパレット110には、片面にのみ部品実装が施された半完成の基板100のみが残ることになる。この半完成の基板100が一枚だけ残ったパレット110は、新たな未完成基板100が追加セットされた上で、再度、上側ユニット50に投入されることになる。   By the movement of the take-out mechanism 96, only the semi-finished board 100 on which component mounting is performed only on one side remains on the pallet 110 conveyed to the upper unit 50 by the raising mechanism 86. The pallet 110 in which only one semi-finished substrate 100 remains is loaded again into the upper unit 50 after a new unfinished substrate 100 is additionally set.

ここで、このパレット110の上側ユニット50への再投入の順番は、前処理装置10における基板100の投入順番と同じく、先に追加されたパレット110ほど先に投入されることが望まれる。そこで、この実装装置49の上昇部85にも、前処理装置10における収容機構(図4参照)と同様の収容機構94を設けている。   Here, it is desirable that the pallet 110 is re-inserted into the upper unit 50 in the same manner as the substrate 100 is inserted in the pretreatment apparatus 10 so that the pallet 110 added earlier is supplied first. Therefore, the rising portion 85 of the mounting device 49 is also provided with a storage mechanism 94 similar to the storage mechanism (see FIG. 4) in the pretreatment device 10.

すなわち、図20に示すように、上昇機構86によるパレット110の搬送経路(上昇経路)上には、積層されたパレット110を下方から支える支持板95を設けている。この支持板95は、バネ付蝶番により回動自在となっており、下方から供給されるパレット110で上方向に押圧されることで、当該供給されるパレット110の通過を許容する退避位置に移動する。また、パレット110による押圧が解除されると、この支持板95は、バネ付蝶番に設けられたバネの付勢力により、積層されたパレット110を支える支持位置に戻るようになっている。   That is, as shown in FIG. 20, a support plate 95 that supports the stacked pallets 110 from below is provided on the transport path (lift path) of the pallets 110 by the lift mechanism 86. The support plate 95 can be rotated by a hinge with a spring, and is moved upward by a pallet 110 supplied from below to move to a retracted position allowing passage of the supplied pallet 110. To do. When the pressing by the pallet 110 is released, the support plate 95 returns to the support position for supporting the stacked pallets 110 by the urging force of the spring provided on the spring hinge.

かかる支持板95を設けることにより、下側ユニット80から先に出力されたパレット110ほど、上側に積層され、ひいては、先に、上側ユニット50に投入されることになる。これにより、一つの基板100が長時間放置されることがなくなり、基板100の劣化等が防止される。   By providing such a support plate 95, the pallets 110 output first from the lower unit 80 are stacked on the upper side, and as a result, are put into the upper unit 50 first. Thereby, one substrate 100 is not left for a long time, and deterioration of the substrate 100 is prevented.

10 基板前処理装置、12 基板収容部、14 収容空間、16 バネ付蝶番、17 支持台、20 搬送ヘッド、24 押出板、26 マーカヘッド、29 マーキングペン、34 クリーナーユニット、35 クリーナブラシ、43 コンベア、46 ネジ締結ヘッド、47 コネクタセット部、49 部品実装装置、50 上側ユニット、51 ディスペンス部、52 ディスペンスヘッド、53,78 撮影機構、54,55 塗布器、58 エアシリンダ、59 測距センサ、61 捨打円盤、62 クリーナ部材、67 マウント部、68 マウントヘッド、69 部品撮影機構、70 ヘッド交換機構、71 キャリアテープ、72 テープ送出機構、73 バッファ部、74 吸引ヘッド、75 吸引ノズル、80 下側ユニット、82 リフロー炉、84 下降部、85 上昇部、86 上昇機構、92 上昇アーム、94 収容機構、95 支持板、96 取出機構、97 吸引ヘッド、100 基板、104 コネクタ、110 パレット。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Substrate pretreatment apparatus, 12 Substrate accommodating part, 14 Accommodating space, 16 Spring hinge, 17 Support base, 20 Conveying head, 24 Extruding plate, 26 Marker head, 29 Marking pen, 34 Cleaner unit, 35 Cleaner brush, 43 Conveyor , 46 Screw fastening head, 47 Connector set part, 49 Component mounting device, 50 Upper unit, 51 Dispense part, 52 Dispense head, 53, 78 Imaging mechanism, 54, 55 Applicator, 58 Air cylinder, 59 Distance sensor, 61 Discard disk, 62 Cleaner member, 67 Mount part, 68 Mount head, 69 Parts photographing mechanism, 70 Head exchange mechanism, 71 Carrier tape, 72 Tape feed mechanism, 73 Buffer part, 74 Suction head, 75 Suction nozzle, 80 Lower side Unit, 82 reflow Furnace, 84 descending part, 85 ascending part, 86 ascending mechanism, 92 ascending arm, 94 accommodating mechanism, 95 support plate, 96 take-out mechanism, 97 suction head, 100 substrate, 104 connector, 110 pallet.

Claims (2)

1以上の基板または基板保持部材を積層した状態で収容する基板収容装置であって、
前記積層された基板または基板保持部材を下方から支える支持部材であって、下方から供給される基板または基板保持部材により上方向に押圧されることで当該供給される基板または基板保持部材の通過を許容する退避位置に移動するとともに、当該押圧が解除されると前記積層された基板または基板保持部材を支える支持位置に移動する支持部材を備えることを特徴とする基板収容装置。
A substrate housing apparatus that houses one or more substrates or substrate holding members in a stacked state,
A support member that supports the stacked substrate or substrate holding member from below, and is pressed upward by a substrate or substrate holding member that is supplied from below, so that the substrate or substrate holding member that is supplied passes therethrough. A substrate receiving apparatus comprising: a supporting member that moves to a permissible retreat position and moves to a supporting position that supports the stacked substrate or substrate holding member when the pressing is released.
請求項1に記載の基板収容装置であって、
前記支持部材を支持位置方向に付勢する付勢手段を備え、
前記支持部材は、基板または基板保持部材により上方向に押圧された際に前記付勢手段の付勢力に抗して上方向に回動することで退避位置に移動する、
ことを特徴とする基板収容装置。
It is a board | substrate accommodation apparatus of Claim 1, Comprising:
Urging means for urging the support member in the direction of the support position;
The support member moves to the retracted position by rotating upward against the biasing force of the biasing means when pressed upward by the substrate or the substrate holding member.
A substrate receiving apparatus characterized by the above.
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