JP2012095924A - Fundus photographing apparatus with wavefront compensation - Google Patents

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PROBLEM TO BE SOLVED: To capture a favorable fundus image with corrected wavefront aberration.SOLUTION: A fundus photographing apparatus includes: a fundus photographing optical system; a wavefront compensating device disposed in an optical path of the fundus photographing optical system, controlling a wavefront of incident light and compensating the wavefront aberration of a subject's eye; a wavefront aberration detecting optical system projecting measuring light towards the fundus oculi of the subject's eye and detecting the reflection light from the fundus oculi by a wavefront sensor; a detecting means for detecting deviation information between a compensable region of the wavefront compensating device that is set on the wavefront sensor and a detecting region of a fundus reflection optical flux by the wavefront sensor; and a control means performing a feedback control for repeating the detection of the wavefront aberration of the subject's eye based on the detection signal from the wavefront sensor and a control of the wavefront compensating device based on the detection result, when the deviation information detected by the detection means goes outside a tolerance, temporarily stopping the feedback control and, when the deviation information is returned to a range within the tolerance, restarting the feedback control.

Description

本発明は、被検眼の波面収差を補正した状態で被検眼の眼底像を撮影する波面補償付眼底撮影装置に関する。   The present invention relates to a fundus imaging apparatus with wavefront compensation that captures a fundus image of a subject's eye while correcting the wavefront aberration of the subject's eye.

シャックハルトマンセンサーなどの波面センサを用いて眼の波面収差を検出し、その検出結果に基づいて波面補償デバイスを制御し、波面補償後の眼底画像を細胞レベルで撮影する装置が開示されている(例えば、特許文献1参照)。このような装置は、被検眼と装置との位置合わせの完了後、眼の波面収差の検出と、その検出結果に基づく波面補償制御を繰り返し行う。   An apparatus for detecting wavefront aberration of an eye using a wavefront sensor such as a Shack-Hartmann sensor, controlling a wavefront compensation device based on the detection result, and photographing a fundus image after wavefront compensation at a cellular level is disclosed ( For example, see Patent Document 1). Such an apparatus repeatedly detects the wavefront aberration of the eye and the wavefront compensation control based on the detection result after the alignment between the eye to be examined and the apparatus is completed.

特表2001−507258号公報JP-T-2001-507258

しかしながら、位置あわせの完了後において、被検眼の固視状態が十分に保持されず、良好な眼底画像が得られない場合がある。図4(a)は、固視がずれた状態の波面センサの受光結果を示す例である。例えば、波面センサ上には、波面補償デバイスによる波面補償領域32が設定されており、ハルトマン像31が形成されていない領域Sにおいては、波面の状態が検出されない。このように波面測定データの一部が欠損している場合(図4(a)参照)、波面全体の情報が得られないため、波面補正領域における波面収差が適正に測定されない。そして、このような状態で得られた検出結果に基づいて波面補償制御が行われた場合、波面補償デバイスは誤った収差補償量にて制御されてしまう。   However, after the alignment is completed, the fixation state of the eye to be examined is not sufficiently maintained, and a good fundus image may not be obtained. FIG. 4A is an example showing a light reception result of the wavefront sensor in a state where fixation is shifted. For example, the wavefront compensation region 32 by the wavefront compensation device is set on the wavefront sensor, and the state of the wavefront is not detected in the region S where the Hartmann image 31 is not formed. As described above, when part of the wavefront measurement data is missing (see FIG. 4A), information on the entire wavefront cannot be obtained, and thus the wavefront aberration in the wavefront correction region is not properly measured. When wavefront compensation control is performed based on the detection result obtained in such a state, the wavefront compensation device is controlled with an incorrect aberration compensation amount.

そして、波面測定データの欠損が解消されたとしても、誤った収差補償量で制御された波面補償デバイスを適正な制御状態に戻すには時間が必要であり、良好な眼底像の観察を再開するまでに多くの時間(例えば、約3秒)を要していた。   Even if the loss of the wavefront measurement data is resolved, it takes time to return the wavefront compensation device controlled with an incorrect aberration compensation amount to an appropriate control state, and the observation of a good fundus image is resumed. It took a lot of time (for example, about 3 seconds).

本発明は、上記問題点を鑑み、波面収差が補正された状態の良好な眼底画像を撮影できる波面補償付眼底撮影装置を提供することを技術課題とする。   In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a fundus photographing apparatus with wavefront compensation that can photograph a good fundus image in a state in which wavefront aberration is corrected.

上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。   In order to solve the above problems, the present invention is characterized by having the following configuration.

(1) 被検眼眼底からの反射光を受光して眼底像を撮像する眼底撮像光学系と、前記眼底撮像光学系の光路中に配置され、入射光の波面を制御して被検眼の波面収差を補償する波面補償デバイスと、被検眼眼底に向けて測定光を投光し、その眼底からの反射光を波面センサにより検出する波面収差検出光学系と、前記波面センサ上に設定された前記波面補償デバイスの補償可能領域と前記波面センサによる眼底反射光束の検出領域とのずれ情報を検出する検出手段と、前記波面センサからの検出信号に基づく被検者眼の波面収差の検出と、その検出結果に基づく前記波面補償デバイスの制御とを繰り返すフィードバック制御を行う制御手段であって、前記検出手段により検出されるずれ情報が許容範囲内を外れた場合に、フィードバック制御を一時的に停止させ、前記ずれ情報が許容範囲内に復帰した場合にフィードバック制御を再開させることを特徴とする。
(2) (1)の眼底撮影装置において、眼底撮像光学系により連続的に撮像される眼底像を動画として出力する表示手段を備えることを特徴とする。
(3) (2)の眼底撮影装置において、さらに、前記ずれ情報が許容範囲内に収まるように前記検出光学系と被検眼との位置関係を相対的に調整する位置調整手段を備えることを特徴とする。
(4) (3)の眼底撮影装置において、前記制御手段は、フィードバック制御を停止させるとき、前記波面収差補償デバイスによる収差補償量を,前記ずれ情報が許容範囲内を外れた前の収差補償量で保持する。
(5) (3)の眼底撮影装置において、前記波面補償デバイスの波面制御情報を記憶する記憶手段と、を備え、前記制御手段は、前記ずれ情報が許容範囲内に収まっている場合の波面制御情報を前記記憶手段に記憶させ、前記ずれ情報が許容範囲内に復帰した場合、前記波面補償デバイスの波面制御情報を前記波面補償デバイスへ反映させることを特徴とする。
(1) A fundus imaging optical system that receives reflected light from the fundus of the subject's eye and picks up a fundus image, and a wavefront aberration of the eye to be examined by controlling the wavefront of incident light that is disposed in the optical path of the fundus imaging optical system. A wavefront compensation device that compensates for, a wavefront aberration detection optical system that projects measurement light toward the fundus of the subject's eye and detects reflected light from the fundus using a wavefront sensor, and the wavefront that is set on the wavefront sensor Detection means for detecting deviation information between the compensation area of the compensation device and the detection area of the fundus reflected light beam by the wavefront sensor, detection of wavefront aberration of the subject's eye based on a detection signal from the wavefront sensor, and detection thereof Control means for performing feedback control that repeats control of the wavefront compensation device based on the result, and feedback control when the deviation information detected by the detection means is out of an allowable range Is temporarily stopped, and feedback control is resumed when the deviation information returns to within an allowable range.
(2) The fundus imaging apparatus according to (1) is characterized by comprising display means for outputting a fundus image continuously captured by the fundus imaging optical system as a moving image.
(3) The fundus imaging apparatus according to (2), further comprising position adjustment means for relatively adjusting a positional relationship between the detection optical system and the eye to be inspected so that the deviation information is within an allowable range. And
(4) In the fundus imaging apparatus according to (3), when the control unit stops the feedback control, the aberration compensation amount by the wavefront aberration compensation device is the aberration compensation amount before the deviation information is out of the allowable range. Hold on.
(5) The fundus imaging apparatus according to (3), further comprising storage means for storing wavefront control information of the wavefront compensation device, wherein the control means controls the wavefront when the deviation information is within an allowable range. Information is stored in the storage means, and the wavefront control information of the wavefront compensation device is reflected in the wavefront compensation device when the deviation information returns within an allowable range.

本発明は、上記問題点を鑑み、波面収差が補正された状態の良好な眼底画像を撮影できる。   In view of the above problems, the present invention can capture a good fundus image in a state where wavefront aberration is corrected.

本発明の実施形態を説明する。図1は、本実施形態の眼底撮影装置の外観図を示しており、本装置は、基台21と、基台21に取り付けられた顔支持ユニット20と、基台21の上に移動可能に設けられたモーター等からなる駆動機構505と、駆動機構505の上に後述する光学系を収納する撮影部500を備える。駆動機構505は、図無きジョイスティック等の操作により、基台21上を左右方向(X方向)、上下方向(Y方向)及び前後方向(Z方向)に移動される。   An embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 shows an external view of a fundus imaging apparatus according to the present embodiment, and this apparatus is movable on a base 21, a face support unit 20 attached to the base 21, and the base 21. A driving mechanism 505 including a provided motor and the like, and an imaging unit 500 that houses an optical system described later on the driving mechanism 505 are provided. The drive mechanism 505 is moved on the base 21 in the left-right direction (X direction), the up-down direction (Y direction), and the front-rear direction (Z direction) by operation of a joystick or the like (not shown).

図2は、本実施形態の眼底撮影装置の光学系を示した模式図である。本実施形態の眼底撮影装置は、大別して、眼底撮像光学系100と、波面収差検出光学系(以下、収差検出光学系と記載する。)110と、収差補償ユニット10,72と、第2撮影ユニット200と、トラッキング用ユニット(位置検出部)300と、を備える。眼底撮像光学系100は、被検眼Eの眼底からの反射光を受光して被検眼の眼底像を撮像する。波面収差検出光学系は、波面センサ73を有し、被検眼眼底に測定光を投光し、その眼底からの反射光を波面センサ73にて指標パターン像として受光する。収差補償ユニット10,72は、被検眼の収差を補正するために眼底撮像光学系100に配置される。第2撮影ユニット200は、眼底撮像光学系100で得られる眼底画像(以下、第1眼底画像と記す)の撮影位置を指定するための眼底の観察画像(以下、第2眼底画像と記す)を得る。トラッキング用ユニット300は、撮影される被検眼Eの固視微動等による位置ずれの経時変化を検出し、移動位置情報を得る。   FIG. 2 is a schematic diagram showing an optical system of the fundus imaging apparatus of the present embodiment. The fundus imaging apparatus of the present embodiment is broadly divided into a fundus imaging optical system 100, a wavefront aberration detection optical system (hereinafter referred to as an aberration detection optical system) 110, aberration compensation units 10 and 72, and a second imaging. A unit 200 and a tracking unit (position detection unit) 300 are provided. The fundus imaging optical system 100 receives reflected light from the fundus of the eye E and captures a fundus image of the eye. The wavefront aberration detection optical system includes a wavefront sensor 73, projects measurement light onto the fundus of the eye to be examined, and receives reflected light from the fundus as an index pattern image. The aberration compensation units 10 and 72 are disposed in the fundus imaging optical system 100 in order to correct the aberration of the eye to be examined. The second photographing unit 200 displays a fundus observation image (hereinafter referred to as a second fundus image) for designating a photographing position of a fundus image obtained by the fundus imaging optical system 100 (hereinafter referred to as a first fundus image). obtain. The tracking unit 300 detects a time-dependent change in positional deviation due to fixation eye movement of the eye E to be photographed, and obtains movement position information.

ここで、眼底撮像光学系100は、被検眼Eの眼底を高解像度(高分解能)・高倍率で撮影する。また、収差補償ユニットは、被検眼の低次収差(視度:例えば、球面度数)を補正するための視度補正部10と、被検眼の高次収差を補正するための高次収差補償部(波面補償デバイス)72と、に大別される。   Here, the fundus imaging optical system 100 captures the fundus of the eye E with high resolution (high resolution) and high magnification. The aberration compensation unit includes a diopter correction unit 10 for correcting low-order aberrations (diopter: for example, spherical power) of the eye to be examined, and a high-order aberration compensation unit for correcting high-order aberrations of the eye to be examined. (Wavefront compensation device) 72.

眼底撮像光学系100は、被検眼Eに照明光(照明光束)を照射し眼底を2次元的に照明する第1照明光学系100aと、眼底に照射された照明光の反射光(反射光束)を受光して第1眼底画像を得るための第1撮影光学系100bと、収差補償部72と、を備える。眼底撮像光学系100は、例えば、共焦点光学系を用いた走査型レーザ検眼鏡の構成とされる。   The fundus imaging optical system 100 includes a first illumination optical system 100a that irradiates the eye E with illumination light (illumination light beam) to illuminate the fundus two-dimensionally, and reflected light (reflected light beam) of the illumination light irradiated on the fundus. And a first compensation optical system 100b for obtaining a first fundus image and an aberration compensator 72. The fundus imaging optical system 100 has, for example, a scanning laser ophthalmoscope configuration using a confocal optical system.

第1照明光学系100aは、眼底を照明するための照明光を出射する光源1(第1光源),照明光(スポット光)を眼底上で2次元的に走査する走査部15を有する。光源1は、被検眼に視認されにくい近赤外域の照明光を出射する。本実施形態では光源1は、波長840nmのSLD(Super Luminescent Diode)光源が用いられる。なお、光源としては、収束性の高い特性を持つスポット光を出射するものであればよく、例えば、半導体レーザ等であってもよい。   The first illumination optical system 100a includes a light source 1 (first light source) that emits illumination light for illuminating the fundus and a scanning unit 15 that two-dimensionally scans the illumination light (spot light) on the fundus. The light source 1 emits near-infrared illumination light that is hardly visible to the eye to be examined. In the present embodiment, the light source 1 is an SLD (Super Luminescent Diode) light source having a wavelength of 840 nm. The light source may be any light source that emits spot light having a high convergence property, and may be, for example, a semiconductor laser.

はじめに、第1照明光学系100aを説明する。光源1から眼底に到るまでの光路には、レンズ2、ビームスプリッタ3、偏光板4、レンズ5、ビームスプリッタ71、レンズ6、波面補償デバイス72、レンズ7、ビームスプリッタ75が配置される。そしてさらに、レンズ8、走査部15、レンズ9、2次元状に走査される照明光の走査位置を補正するための偏向部400、2枚のプリズムからなる視度補正部10、レンズ11、第2撮影ユニット200等の光路を第1照明光学系と略同軸にするビームスプリッタ90が配置される。なお、ビームスプリッタ3は、本実施形態では、ハーフミラーとされている。   First, the first illumination optical system 100a will be described. In the optical path from the light source 1 to the fundus, a lens 2, a beam splitter 3, a polarizing plate 4, a lens 5, a beam splitter 71, a lens 6, a wavefront compensation device 72, a lens 7, and a beam splitter 75 are arranged. Further, the lens 8, the scanning unit 15, the lens 9, the deflection unit 400 for correcting the scanning position of the illumination light scanned two-dimensionally, the diopter correction unit 10 composed of two prisms, the lens 11, 2 A beam splitter 90 is disposed so that the optical path of the photographing unit 200 or the like is substantially coaxial with the first illumination optical system. The beam splitter 3 is a half mirror in this embodiment.

光源1から出射された照明光は、レンズ2により平行光とされた後、ビームスプリッタ3を介し、本実施形態では偏光板4によりS偏光成分のみの光束とされる。偏光板4を経た照明光は、レンズ5により一旦集光し、ビームスプリッタ71を介してレンズ6により平行光束とされ、波面補償デバイス72に入射する。波面補償デバイス72にて反射した照明光は、レンズ7、レンズ8によりリレーされ、走査部15に向かう。   Illumination light emitted from the light source 1 is converted into parallel light by the lens 2 and then converted into a light beam of only the S-polarized component by the polarizing plate 4 in this embodiment via the beam splitter 3. The illumination light that has passed through the polarizing plate 4 is once condensed by the lens 5, converted into a parallel light beam by the lens 6 through the beam splitter 71, and enters the wavefront compensation device 72. The illumination light reflected by the wavefront compensation device 72 is relayed by the lens 7 and the lens 8 and travels toward the scanning unit 15.

走査部15は、照明光を眼底上で2次元的に走査する構成とされ、ここでは、図示するように、眼底でXY方向に照明光を走査する。本実施形態では、照明光を眼底にて水平方向(X方向)に偏向させ走査するための偏向部材となるレゾナントミラーと、水平方向の走査方向に対して垂直方向(Y方向)に偏向させ走査するための偏向部材となるガルバノミラーと、各ミラーを駆動する駆動部を備える。走査部15を経た照明光は、レンズ9にて再び集光される。偏向部400は、走査部15を経た照明光を水平方向及び垂直方向に対して所定量だけさらに偏向させる役目を持ち、本実施形態では2枚のガルバノミラーにより構成されている。偏向部400を経た照明光は、視度補正部10、レンズ11、ビームスプリッタ90を経て被検眼Eの眼底に集光し、走査部15によって眼底上を2次元的に走査することとなる。なお、視度補正部10は、駆動部10aを有し、一方のプリズムが図示する矢印方向に移動することにより、光路長を変えることができ、視度補正の役目を果たしている。なお、視度補正部10は、駆動部と、駆動部の駆動によって光軸方向に移動可能なレンズからなる構成であってもよい。また、ビームスプリッタ90は、本実施形態ではダイクロイックミラーであり、後述する第2撮影ユニット200、及びトラッキング用ユニット300からの光束を反射させ、光源1及び後述する光源76からの光束を透過させる特性を持つ。なお、光源1及び光源76の出射端と被検眼Eとは共役とされている。このようにして、照明光を眼底に2次元的に照射する第1照明光学系が形成される。   The scanning unit 15 is configured to scan illumination light two-dimensionally on the fundus, and here, as illustrated, scans illumination light in the XY direction on the fundus. In the present embodiment, a resonant mirror serving as a deflecting member for deflecting and scanning illumination light in the horizontal direction (X direction) on the fundus, and scanning by deflecting the illumination light in a direction perpendicular to the horizontal scanning direction (Y direction). A galvanometer mirror serving as a deflection member and a drive unit for driving each mirror. The illumination light that has passed through the scanning unit 15 is condensed again by the lens 9. The deflecting unit 400 has a function of further deflecting the illumination light having passed through the scanning unit 15 by a predetermined amount with respect to the horizontal direction and the vertical direction, and is configured by two galvanometer mirrors in the present embodiment. The illumination light that has passed through the deflection unit 400 is condensed on the fundus of the eye E through the diopter correction unit 10, the lens 11, and the beam splitter 90, and is scanned two-dimensionally on the fundus by the scanning unit 15. The diopter correction unit 10 includes a drive unit 10a, and one prism moves in the direction of the arrow shown in the figure, so that the optical path length can be changed and plays a role in diopter correction. The diopter correction unit 10 may be configured by a driving unit and a lens that can move in the optical axis direction by driving the driving unit. In addition, the beam splitter 90 is a dichroic mirror in the present embodiment, and reflects the light beam from the second imaging unit 200 and tracking unit 300 described later, and transmits the light beam from the light source 1 and the light source 76 described later. have. Note that the emission ends of the light source 1 and the light source 76 and the eye E to be examined are conjugate. In this way, the first illumination optical system that irradiates the fundus with illumination light two-dimensionally is formed.

次に、第1撮影光学系100bを説明する。第1撮影光学系100は、第1照明光学系100aにて説明したビームスプリッタ90からビームスプリッタ3までの光路を共通とし、さらにレンズ51、眼底と共役な位置に置かれるピンホール板52、集光レンズ53、受光素子54を含む。なお、本実施形態では、受光素子54はAPD(アバランシェフォトダイオード)が用いられている。   Next, the first photographing optical system 100b will be described. The first photographing optical system 100 has a common optical path from the beam splitter 90 to the beam splitter 3 described in the first illumination optical system 100a, and further includes a lens 51, a pinhole plate 52 placed at a position conjugate with the fundus, and a light collecting unit. An optical lens 53 and a light receiving element 54 are included. In this embodiment, the light receiving element 54 is an APD (avalanche photodiode).

光源1から出射された照明光における眼底からの反射光は、前述した第1照明光学系100aを逆に辿り、偏光板4にてS偏光の光だけ透過された後、ビームスプリッタ3により一部の光束が反射される。この反射光は、レンズ51を介してピンホール板52のピンホールに焦点を結ぶ。ピンホールにて焦点を結んだ反射光は、レンズ53を経て受光素子54に受光される。なお、照明光の一部は角膜上で反射されるが、ピンホール板52により大部分が除去され、角膜反射の画像への悪影響が低減される。このため、受光素子54は、角膜反射の影響を抑えて、眼底からの反射光を受光できる。なお、ビームスプリッタ3は、ホールミラーとされてもよい。この場合、ホールミラーのホールは、角膜反射光を第1撮影光学系100bに入射することを抑制する。   The reflected light from the fundus of the illumination light emitted from the light source 1 traces the first illumination optical system 100a in the reverse direction and is transmitted by the polarizing plate 4 only for S-polarized light, and then partially reflected by the beam splitter 3. Is reflected. This reflected light is focused on the pinhole of the pinhole plate 52 through the lens 51. The reflected light focused at the pinhole is received by the light receiving element 54 through the lens 53. Although a part of the illumination light is reflected on the cornea, most of the illumination light is removed by the pinhole plate 52, and the adverse effect of the corneal reflection on the image is reduced. For this reason, the light receiving element 54 can receive reflected light from the fundus while suppressing the influence of corneal reflection. The beam splitter 3 may be a hall mirror. In this case, the hole of the Hall mirror suppresses the corneal reflection light from entering the first imaging optical system 100b.

このようにして、第1撮影光学系100bが形成される。第1撮影光学系100bで受光された処理された画像が第1眼底画像となる。なお、第1撮影ユニット100で取得する眼底画像(眼底像)の画角が所定の角度となるように走査部15におけるミラーの振れ角(揺動角度)を定める。ここでは、眼底の所定の範囲を高倍率で観察、撮影する(ここでは、細胞レベルでの観察等をする)ために、画角を1度〜5度程度とする。本実施形態では、1.5度とする。被検眼の視度等にもよるが、第1眼底画像の撮影範囲は、500μm角程度とされる。   In this way, the first photographing optical system 100b is formed. The processed image received by the first imaging optical system 100b becomes the first fundus image. Note that the mirror swing angle (swing angle) in the scanning unit 15 is determined so that the angle of view of the fundus image (fundus image) acquired by the first photographing unit 100 is a predetermined angle. Here, in order to observe and photograph a predetermined range of the fundus at a high magnification (here, observation at a cell level or the like), the angle of view is set to about 1 to 5 degrees. In this embodiment, the angle is 1.5 degrees. Although depending on the diopter of the eye to be examined, the imaging range of the first fundus image is about 500 μm square.

次に、第2撮影ユニット200を説明する。第2撮影ユニットは、第1撮影ユニットの画角よりも広画角の眼底画像(第2眼底画像)を取得するためのユニットであり、取得される第2眼底画像は、前述した狭画角の第1眼底画像を得るための位置指定、及び位置確認用の画像として用いられる。このような第2眼底画像を取得するための第2撮影ユニット200は、被検眼Eの眼底画像を観察用として広画角(例えば20度〜60度程度)でリアルタイムに取得できればよい。したがって第2撮影ユニット200は、既存の眼底カメラの観察・撮影光学系や走査型レーザー検眼鏡(Scanning Laser Ophthalmoscope:SLO)の光学系、及び制御系を用いることができる。   Next, the second photographing unit 200 will be described. The second imaging unit is a unit for acquiring a fundus image (second fundus image) having a wider angle of view than the angle of view of the first imaging unit, and the acquired second fundus image has the narrow angle of view described above. Used for position designation and position confirmation for obtaining the first fundus image. The second imaging unit 200 for acquiring such a second fundus image only needs to be able to acquire the fundus image of the eye E to be examined in real time with a wide angle of view (for example, about 20 to 60 degrees). Therefore, the second imaging unit 200 can use an observation / imaging optical system of an existing fundus camera, an optical system of a scanning laser ophthalmoscope (SLO), and a control system.

次に、収差検出光学系110について説明する。前述のように、収差検出光学系110は、一部の光学素子を第1照明光学系100aの光路上に持ち、第1照明光学系100aと光路を一部共用している。収差検出光学系110は、波面センサ73、偏光板74、光源76、レンズ77、偏光板78、レンズ79、を含み、第1照明光学系の光路上に置かれるビームスプリッタ71からビームスプリッタ90までの光学部材を共用することにより構成されている。なお、波面センサ73は、例えば、多数のマイクロレンズからなるマイクロレンズアレイと、マイクロレンズアレイを透過した光束を受光させるための二次元撮像素子73a(2次元受光素子)からなる。また、収差検出用光源(第3光源)である光源76は、光源1と異なる赤外域の光を発する光源とされる。本実施形態では光源76は波長780nmのレーザ光を出射するレーザダイオードを用いている。光源76から出射したレーザ光は、レンズ77により平行光束とされ、偏光板78により光源1からの照明光と直交する偏光方向(P偏光)とされ、ビームスプリッタ75により第1照明光学系の光路に導かれる。なお、レンズ7、8の間に眼底共役位置があり、光源76の出射端はこの眼底共役位置と共役な関係とされる。なお、ビームスプリッタ75は、本実施形態ではハーフミラーとされている。偏光板78は、眼底へと照射される第3光源の光を所定の偏光方向とする役割を持ち、波面補償部が備える第1偏光手段の役割を持つ。   Next, the aberration detection optical system 110 will be described. As described above, the aberration detection optical system 110 has some optical elements on the optical path of the first illumination optical system 100a, and shares a part of the optical path with the first illumination optical system 100a. The aberration detection optical system 110 includes a wavefront sensor 73, a polarizing plate 74, a light source 76, a lens 77, a polarizing plate 78, and a lens 79. From the beam splitter 71 to the beam splitter 90 placed on the optical path of the first illumination optical system. These optical members are shared. The wavefront sensor 73 includes, for example, a microlens array composed of a number of microlenses and a two-dimensional imaging element 73a (two-dimensional light receiving element) for receiving a light beam that has passed through the microlens array. A light source 76 that is an aberration detection light source (third light source) is a light source that emits light in an infrared region different from that of the light source 1. In the present embodiment, the light source 76 uses a laser diode that emits laser light having a wavelength of 780 nm. The laser light emitted from the light source 76 is converted into a parallel light beam by the lens 77, and the polarization direction (P-polarized light) is orthogonal to the illumination light from the light source 1 by the polarizing plate 78, and the optical path of the first illumination optical system by the beam splitter 75. Led to. Note that there is a fundus conjugate position between the lenses 7 and 8, and the emission end of the light source 76 has a conjugate relationship with this fundus conjugate position. The beam splitter 75 is a half mirror in this embodiment. The polarizing plate 78 has a role of making the light of the third light source irradiated to the fundus a predetermined polarization direction, and has a role of a first polarizing means provided in the wavefront compensation unit.

ビームスプリッタ75により反射したレーザ光は、第1照明光学系100aの光路を経て被検眼Eの眼底に集光される。眼底で反射されたレーザ光は、第1照明光学系100aの各光学部材を経て波面補償デバイス72にて反射し、ビームスプリッタ71により第1照明光学系100aの光路から外れ、レンズ79、S偏光成分のみを通す偏光板74を経て波面センサ73へと導かれる。偏光板74は、波面補償部に備えられた第2偏光手段であり、眼底へと照射される第3光源の光が持つ偏光方向(P偏光光)を遮断し、この偏光方向に直交する偏光方向(S偏光光)を透過し、波面センサ73へと導光する役割を持つ。なお、ビームスプリッタ71は、光源1の波長の光(840nm)を透過し、収差検出用の光源76の波長の光(780nm)を反射する特性とされる。従って、波面センサ73では、照射したレーザ光の眼底での散乱光のうちS偏光成分を持つ光が検出される。このようにして、角膜や光学素子で反射される光が波面センサ73に検出されることを抑制している。また、走査部15、波面補償デバイス72の反射面、及び波面センサ73のマイクロレンズアレイは、被検眼の瞳と略共役とされる。また、波面センサ73の受光面は被検眼Eの眼底と略共役とされる。波面センサ73には、低次収差及び高次収差を含む波面収差が検出できる素子、例えば、ハルトマンシャック検出器や光強度の変化を検出する波面曲率センサ等を用いる。   The laser beam reflected by the beam splitter 75 is condensed on the fundus of the eye E through the optical path of the first illumination optical system 100a. The laser beam reflected from the fundus is reflected by the wavefront compensation device 72 through each optical member of the first illumination optical system 100a, deviated from the optical path of the first illumination optical system 100a by the beam splitter 71, the lens 79, and S-polarized light. The light is guided to the wavefront sensor 73 through the polarizing plate 74 through which only the component passes. The polarizing plate 74 is a second polarization unit provided in the wavefront compensation unit, and blocks the polarization direction (P-polarized light) of the light of the third light source irradiated to the fundus and is polarized perpendicular to the polarization direction. It plays the role of transmitting the direction (S-polarized light) and guiding it to the wavefront sensor 73. Note that the beam splitter 71 transmits light (840 nm) having the wavelength of the light source 1 and reflects light (780 nm) having the wavelength of the light source 76 for detecting aberration. Accordingly, the wavefront sensor 73 detects light having an S-polarized component from the scattered light on the fundus of the irradiated laser light. In this way, light reflected by the cornea and the optical element is suppressed from being detected by the wavefront sensor 73. The scanning unit 15, the reflection surface of the wavefront compensation device 72, and the microlens array of the wavefront sensor 73 are substantially conjugate with the pupil of the eye to be examined. The light receiving surface of the wavefront sensor 73 is substantially conjugate with the fundus of the eye E. As the wavefront sensor 73, an element capable of detecting wavefront aberration including low-order aberration and high-order aberration, for example, a Hartmann Shack detector, a wavefront curvature sensor that detects a change in light intensity, or the like is used.

また、波面補償デバイス72は、例えば、液晶空間光変調器とし、反射型のLCOS(Liquid Crystal On Silicon)等を用いるものとしている。そして、波面補償デバイス72は、眼底撮像光学系100の光路中に配置され、入射光の波面を制御して被検眼の波面収差を補償する。なお、波面補償デバイス72は、光源1からの照明光(S偏光光)、照明光の眼底での反射光(S偏光光)、波面収差検出用光の反射光(S偏光成分)等の所定の直線偏光(S偏光)に対して収差を補償することが可能な向きに配置される。これにより、波面補償デバイス72は、入射する光のS偏光成分を変調できる。また、波面補償デバイス72は、その液晶層内の液晶分子の配列方向が入射する反射光の偏光面と略平行であり、さらに、液晶分子が液晶層への印加電圧の変化に応じて回転する所定の面が、波面補償デバイス72に対する眼底からの反射光の入射光軸及び反射光軸と、波面補償デバイス72が持つミラー層の法線と、を含む平面に対して略平行になるように、配置されている。   The wavefront compensation device 72 is, for example, a liquid crystal spatial light modulator and uses a reflective LCOS (Liquid Crystal On Silicon) or the like. The wavefront compensation device 72 is disposed in the optical path of the fundus imaging optical system 100 and controls the wavefront of incident light to compensate for the wavefront aberration of the eye to be examined. The wavefront compensation device 72 is a predetermined unit such as illumination light (S-polarized light) from the light source 1, reflected light from the fundus of the illumination light (S-polarized light), reflected light of wavefront aberration detection light (S-polarized component), and the like. Are arranged in a direction capable of compensating the aberration with respect to the linearly polarized light (S-polarized light). As a result, the wavefront compensation device 72 can modulate the S-polarized component of the incident light. Further, the wavefront compensation device 72 has a liquid crystal molecule arrangement direction in the liquid crystal layer substantially parallel to the polarization plane of the incident reflected light, and the liquid crystal molecules rotate in accordance with a change in voltage applied to the liquid crystal layer. The predetermined surface is substantially parallel to a plane including the incident optical axis and the reflected optical axis of the reflected light from the fundus to the wavefront compensation device 72, and the normal of the mirror layer of the wavefront compensation device 72. Have been placed.

なお、本実施例においては、波面補償デバイス72は、液晶変調素子とし、反射型のLCOS(Liquid Crystal On Silicon)等を用いるものとしているが、これに限るものではない。反射型の波面補償デバイスであればよい。例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)の一形態であるデフォーマブルミラーを用いてもよい。また、反射型の波面補償デバイスではなく、眼底からの反射光を透過させて波面収差を補償するような透過型の波面補償デバイスを用いることもできる。   In this embodiment, the wavefront compensation device 72 is a liquid crystal modulation element and uses a reflective LCOS (Liquid Crystal On Silicon) or the like, but is not limited thereto. Any reflective wavefront compensation device may be used. For example, a deformable mirror that is a form of MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) may be used. Further, instead of a reflection type wavefront compensation device, a transmission type wavefront compensation device that transmits reflected light from the fundus and compensates for wavefront aberration can also be used.

なお、以上の説明では、収差検出用光源として、第1光源とは異なる波長の照明光を出射する光源を用いたが、第1光源を収差検出用光源として用いてもよい。   In the above description, a light source that emits illumination light having a wavelength different from that of the first light source is used as the aberration detection light source. However, the first light source may be used as the aberration detection light source.

なお、以上説明した本実施形態では、波面センサ及び波面補償デバイスを被検眼の瞳共役としたが、被検眼の前眼部の所定部位と略共役な位置であればよく、例えば、角膜共役であってもよい。   In the present embodiment described above, the wavefront sensor and the wavefront compensation device are the pupil conjugate of the eye to be examined. However, the position may be a position that is substantially conjugate with a predetermined part of the anterior eye portion of the eye to be examined. There may be.

次に、眼底撮影装置の制御系を説明する。図3は、本実施形態の眼底撮影装置の制御系を示したブロック図である。装置全体の制御を行う制御部80には、光源1、駆動機構505、走査部15、受光素子54、波面補償デバイス72、波面センサ73、光源76、第2撮影ユニット200、トラッキング用ユニット300、偏向部400、偏向部410、視度補正部10、が接続される。また、記憶部81、コントロール部82、画像処理部83、モニタ85、が接続される。   Next, a control system of the fundus imaging apparatus will be described. FIG. 3 is a block diagram showing a control system of the fundus imaging apparatus of the present embodiment. The control unit 80 that controls the entire apparatus includes a light source 1, a driving mechanism 505, a scanning unit 15, a light receiving element 54, a wavefront compensation device 72, a wavefront sensor 73, a light source 76, a second photographing unit 200, a tracking unit 300, The deflection unit 400, the deflection unit 410, and the diopter correction unit 10 are connected. A storage unit 81, a control unit 82, an image processing unit 83, and a monitor 85 are connected.

画像処理部83は受光素子54、第2撮影ユニット200にて受光した信号に基づきモニタ85に画角の異なる被検眼眼底の画像、つまり、第1眼底画像及び第2眼底画像を形成する。記憶部81には種々の設定情報や撮影画像が保存される。なお、モニタ85には、例えば、外部のパ−ソナルコンピューターのモニタや装置に備えられているモニタが考えられる。モニタ85には、所定のフレームレートにて更新される眼底画像(第1眼底画像、及び第2眼底画像)が表示される。フレームレートとしては、例えば、10〜100Hzとされる。このようにして、動画として眼底画像が表示される。本実施形態では、制御部80は、モニタ85の表示制御部80、偏向部400、410の駆動制御部80、光源1、76等の出射制御部80の機能を兼ねる。   The image processing unit 83 forms, on the monitor 85, images of the fundus oculi having different angles of view, that is, a first fundus image and a second fundus image, based on signals received by the light receiving element 54 and the second imaging unit 200. Various setting information and captured images are stored in the storage unit 81. As the monitor 85, for example, a monitor of an external personal computer or a monitor provided in an apparatus can be considered. The fundus images (first fundus image and second fundus image) updated at a predetermined frame rate are displayed on the monitor 85. The frame rate is, for example, 10 to 100 Hz. In this way, the fundus image is displayed as a moving image. In the present embodiment, the control unit 80 also functions as the display control unit 80 of the monitor 85, the drive control unit 80 of the deflection units 400 and 410, and the emission control unit 80 such as the light sources 1 and 76.

なお、波面補償デバイス72を制御する場合、波面センサ73で検出された波面収差に基づいて、波面補償デバイス72が制御され、光源76の反射光のS偏光成分と共に、光源1から出射される照明光とその反射光の高次収差が取り除かれる。このようにして、光源1から出射された照明光とその反射光が持つ収差が取り除かれる。言い換えると、被検眼Eの高次収差が取り除かれた(波面補償された)高解像度の第1眼底画像が得られることとなる。この場合、視度補正部10によって低次収差が補正される。   When the wavefront compensation device 72 is controlled, the wavefront compensation device 72 is controlled based on the wavefront aberration detected by the wavefront sensor 73, and the illumination emitted from the light source 1 together with the S-polarized component of the reflected light of the light source 76. Higher order aberrations of the light and its reflected light are removed. In this way, the aberration of the illumination light emitted from the light source 1 and the reflected light is removed. In other words, a high-resolution first fundus image from which the high-order aberration of the eye E is removed (wavefront compensated) is obtained. In this case, the low-order aberration is corrected by the diopter correction unit 10.

<指標パターン像と補償可能領域の説明>
図4は、波面センサ73上の指標パターン像と補償可能領域の具体例について説明する図である。図5はモニタ85の画面上に表示された収差補償画面40を示した図である。収差補償画面40には、波面センサ73の二次元撮像素子73aに受光された指標パターン像(本実施例においては、ハルトマン像とし、以下、ハルトマン像と記載する)と、収差補償の補正度合をグラフィック表示した収差補償グラフィック41と、が表示されている。
<Description of index pattern image and compensation area>
FIG. 4 is a diagram for explaining a specific example of the index pattern image on the wavefront sensor 73 and the compensable region. FIG. 5 is a diagram showing the aberration compensation screen 40 displayed on the screen of the monitor 85. On the aberration compensation screen 40, the index pattern image received by the two-dimensional image sensor 73a of the wavefront sensor 73 (in this embodiment, a Hartmann image, hereinafter referred to as a Hartmann image) and the correction degree of the aberration compensation are displayed. An aberration compensation graphic 41 displayed graphically is displayed.

ハルトマン像(ドットパターン像)31は、波面センサ73上に受光された複数の点像31aの集まりを示す。レンズアレイを通過した眼底反射光は、波面センサ73の二次元撮像素子73aに受光され、ハルトマン像として撮像される。そして、ハルトマン像31は、モニタ85上に表示される。なお、波面センサ73によって点像31aが検出された領域では、収差検出が可能である。   A Hartmann image (dot pattern image) 31 represents a group of a plurality of point images 31 a received on the wavefront sensor 73. The fundus reflection light that has passed through the lens array is received by the two-dimensional imaging device 73a of the wavefront sensor 73 and captured as a Hartmann image. The Hartmann image 31 is displayed on the monitor 85. In the region where the point image 31a is detected by the wavefront sensor 73, aberration detection is possible.

円32は、二次元撮像素子73a上において、波面補償デバイス72によって収差補償可能な領域を仮想的に示したものである。そして、円32に対応するグラフィックが、モニタ85上のハルトマン像に重合されて表示される。   A circle 32 virtually indicates a region in which aberration compensation can be performed by the wavefront compensation device 72 on the two-dimensional image sensor 73a. The graphic corresponding to the circle 32 is superimposed on the Hartmann image on the monitor 85 and displayed.

そして、円32の外周、領域、波面センサ73上におけるその位置情報が予め記憶部81に設定されている。これらは、キャリブレーション又はシミュレーションなどにより予め求めておけばよい。なお、波面補償デバイス72において、補償可能領域は、入射光全体の内、ある一部の領域(例えば、瞳孔上における直径4mm領域)の光束に制限される。このため、他の入射光については、受光素子54に向けて反射されるが、波面は補償されない。   Then, the outer circumference, area, and position information of the circle 32 on the wavefront sensor 73 are set in the storage unit 81 in advance. These may be obtained in advance by calibration or simulation. In the wavefront compensation device 72, the compensable region is limited to a light beam in a certain region (for example, a 4 mm diameter region on the pupil) of the entire incident light. For this reason, other incident light is reflected toward the light receiving element 54, but the wavefront is not compensated.

ここで、収差補償は、波面センサ73による収差検出結果に基づいて行われる。すなわち、円32の領域内においてハルトマン像31が形成された領域では、波面の状態が検出可能である(図4(b)参照)。一方、円32の領域内において、ハルトマン像31が形成されていない領域Sにおいては、波面の状態が検出されない。ここで、波面データの一部が欠損している場合、波面全体の情報が得られないため、波面補正領域における波面収差が適正に測定されない(図4(a)参照)。よって、図5(a)に示すように、収差補償が実行されても、収差補償グラフィック41に示されるように適正に収差が除去されない。   Here, the aberration compensation is performed based on the aberration detection result by the wavefront sensor 73. That is, in the region where the Hartmann image 31 is formed in the region of the circle 32, the wavefront state can be detected (see FIG. 4B). On the other hand, in the region of the circle 32, in the region S where the Hartmann image 31 is not formed, the wavefront state is not detected. Here, when a part of the wavefront data is missing, information on the entire wavefront cannot be obtained, so that the wavefront aberration in the wavefront correction region is not properly measured (see FIG. 4A). Therefore, as shown in FIG. 5A, even when aberration compensation is performed, the aberration is not properly removed as shown in the aberration compensation graphic 41.

<動作説明>
以上のような構成の眼底撮影装置において、その動作を説明する。検者により、初めに、モニタ85の画面上に表示された図示無き前眼部画像を観察しながら、図無きジョイスティック等の操作により、撮影部500の位置調整を行い、粗くアライメントを行う。また、検者は、被検者が図示無き固視標を固視するように指示する。アライメントが完了し、検者により図示無き測定スイッチが選択されると、制御部80により、視度補正部10を用いて視度補正が行われ、次いで、収差補償に必要な波面検出を行う。
<Description of operation>
The operation of the fundus imaging apparatus having the above configuration will be described. First, the examiner adjusts the position of the photographing unit 500 by operating a joystick (not shown) while roughly observing the anterior eye part image (not shown) displayed on the screen of the monitor 85 to perform rough alignment. Further, the examiner instructs the subject to fixate a fixation target (not shown). When alignment is completed and a measurement switch (not shown) is selected by the examiner, the control unit 80 performs diopter correction using the diopter correction unit 10, and then performs wavefront detection necessary for aberration compensation.

次に、制御部80は、波面センサ73上に設定された波面補償デバイス72の補償可能領域(例えば、円32)と波面センサ73による眼底反射光束(例えば、ハルトマン像31)の検出領域とのずれ情報を検出(取得)する。そして、制御部80は、検出結果に基づいて駆動機構505を駆動させ、撮影部500の位置調整を行い、そのずれ情報が許容範囲内に収まるように撮影部500を移動させる。   Next, the control unit 80 calculates the compensation area (for example, the circle 32) of the wavefront compensation device 72 set on the wavefront sensor 73 and the detection area of the fundus reflection light beam (for example, the Hartmann image 31) by the wavefront sensor 73. Deviation information is detected (acquired). Then, the control unit 80 drives the drive mechanism 505 based on the detection result, adjusts the position of the imaging unit 500, and moves the imaging unit 500 so that the deviation information is within an allowable range.

例えば、初めに、制御部80は、波面センサ73で受光されたハルトマン像31の内で最も外側で受光された点像位置を順に検出していきハルトマン像外周31bの位置情報を検出する。これにより、ハルトマン像31の検出領域が求められる。   For example, first, the control unit 80 sequentially detects the position of the point image received at the outermost side among the Hartmann images 31 received by the wavefront sensor 73, and detects the position information of the Hartmann image outer periphery 31b. Thereby, the detection area of the Hartmann image 31 is obtained.

次いで、制御部80は、ハルトマン像外周31bの位置情報と円32(収差補償可能領域)の位置情報を比較して、その比較結果に基づいて波面測定領域が収差補償可能領域を許容範囲以上満たしているかを判定する。   Next, the control unit 80 compares the position information of the Hartmann image outer periphery 31b and the position information of the circle 32 (aberration compensationable region), and the wavefront measurement region satisfies the aberration compensationable region beyond the allowable range based on the comparison result. Judge whether it is.

より具体的には、制御部80は、ハルトマン像外周31bに囲まれた領域(点線参照)と円32に囲まれた領域を比較する。ここで、制御部80は、円32の成す領域がハルトマン像外周31bの成す領域内に収まっている場合には、十分である(OK)と判定する(図4(b)参照)。また、制御部80は、円32の成す領域が外周31bの成す領域内に収まっていない場合には、不十分である(NG)と判定する(図4(a)参照)。そして、不十分である(NG)と判定した場合、ずれ情報が許容範囲内に収まるように撮影部500を移動させ、円32の成す領域がハルトマン像外周31bの成す領域内に収まるように位置を調節する。これにより、図5(b)に示されるように、収差補償が実行された場合、収差グラフィック41に示されるように、適正に収差が除去される。   More specifically, the control unit 80 compares the region surrounded by the Hartmann image outer periphery 31b (see the dotted line) with the region surrounded by the circle 32. Here, the control unit 80 determines that it is sufficient (OK) when the region formed by the circle 32 is within the region formed by the Hartmann image outer periphery 31b (see FIG. 4B). Moreover, the control part 80 determines with it being inadequate (NG), when the area | region which the circle | round | yen 32 comprises is not settled in the area | region which the outer periphery 31b comprises (refer Fig.4 (a)). If it is determined that the information is insufficient (NG), the photographing unit 500 is moved so that the deviation information is within the allowable range, and the region formed by the circle 32 is positioned within the region formed by the Hartmann image outer periphery 31b. Adjust. Thereby, as shown in FIG. 5B, when the aberration compensation is executed, the aberration is appropriately removed as shown in the aberration graphic 41.

なお、上記判定において、指標パターン像が補償可能領域を100%満たしていなくてもよく、一定の精度にて波面収差が測定されればよい(例えば、95%の領域)。そして、判定結果にてずれが検出された場合、制御部80は、駆動機構505を駆動させ、補償可能領域内におけるある許容範囲(例えば、一定の割合以上)を超えて指標パターン像が受光されるように、撮影部500を移動させる。   In the above determination, the index pattern image may not satisfy 100% of the compensable region, and the wavefront aberration may be measured with a certain accuracy (for example, 95% region). If a deviation is detected in the determination result, the control unit 80 drives the drive mechanism 505 to receive the index pattern image exceeding a certain allowable range (for example, a certain ratio or more) within the compensation range. The imaging unit 500 is moved so that the

<波面検出開始/眼底撮影開始/フィードバック制御>
撮影部500の位置が調整された後、制御部80は、円32の成す領域がハルトマン像外周31bの成す領域内に収まっているか判定をする。制御部80は、円32の成す領域がハルトマン像外周31bの成す領域内に収まっている場合に、波面センサ73の検出結果に基づいて被検眼Eの波面収差を検出するとともに、眼底撮像光学系100による眼底撮影を開始する。
<Start wavefront detection / Start fundus photography / Feedback control>
After the position of the imaging unit 500 is adjusted, the control unit 80 determines whether the region formed by the circle 32 is within the region formed by the Hartmann image outer periphery 31b. The control unit 80 detects the wavefront aberration of the eye E based on the detection result of the wavefront sensor 73 and the fundus imaging optical system when the region formed by the circle 32 is within the region formed by the Hartmann image outer periphery 31b. 100 starts fundus imaging.

制御部80は、その収差検出結果に基づいて、収差補償量を算出し、その算出結果を用いて、波面補償デバイス72を制御し、波面収差を補償する。そして、制御部80は、波面センサ73から出力されるハルトマン像を新たに取得し、波面収差を検出する。そして、その収差検出結果に基づいて、収差補償量を算出し、その算出結果を用いて、波面補償デバイス72を制御し、波面収差を補償する。以上のように、制御部80は、収差検出と、その結果に基づく波面補償の制御と、を繰り返すフィードバック制御を行う。   The controller 80 calculates an aberration compensation amount based on the aberration detection result, and controls the wavefront compensation device 72 using the calculation result to compensate for the wavefront aberration. Then, the control unit 80 newly acquires a Hartmann image output from the wavefront sensor 73, and detects wavefront aberration. Then, an aberration compensation amount is calculated based on the aberration detection result, and the wavefront compensation device 72 is controlled using the calculation result to compensate for the wavefront aberration. As described above, the control unit 80 performs feedback control that repeats aberration detection and wavefront compensation control based on the aberration detection.

例えば、LCOSの場合、波面センサ73による波面収差の検出と、この検出結果に基づくLCOSの位相パターンの算出と、この算出結果に基づくLCOSの各画素への電圧印加と、を含むループ処理において補償用位相パターンはフィードバック制御される。これにより、波面収差の検出に基づいてLCOSの液晶層の屈折率が随時変化され、眼底反射光の波面の歪みが補正される。   For example, in the case of LCOS, compensation is performed in a loop process including detection of wavefront aberration by the wavefront sensor 73, calculation of an LCOS phase pattern based on the detection result, and application of a voltage to each pixel of the LCOS based on the calculation result. The phase pattern for use is feedback controlled. Accordingly, the refractive index of the LCOS liquid crystal layer is changed as needed based on the detection of the wavefront aberration, and the distortion of the wavefront of the fundus reflection light is corrected.

また、デフォーマブルミラーの場合、波面センサ73による波面収差の検出と、この検出結果に基づくミラー形状の算出と、この算出結果に基づくデフォーマブルミラーの各駆動部への電圧印加と、を含むループ処理においてミラー全体の形状はフィードバック制御される。これにより、波面収差の検出に基づいて、ミラー全体の形状が随時変化され、眼底反射光の波面の歪みが補正される。   In the case of a deformable mirror, a loop including wavefront aberration detection by the wavefront sensor 73, calculation of a mirror shape based on the detection result, and voltage application to each drive unit of the deformable mirror based on the calculation result. In the processing, the shape of the entire mirror is feedback controlled. Thereby, based on the detection of wavefront aberration, the shape of the entire mirror is changed as needed, and the distortion of the wavefront of the fundus reflection light is corrected.

上記のフィードバック制御は、波面収差が補償される間に、同時に取得されている眼底動画像に反映される。すなわち、上記のように、フィードバック制御を行うことにより、眼底反射光の波面が補償されていくため、眼底動画像のぼけを減らすことができる。したがって、被検眼の固視状態や位置の変化によって、眼底撮影装置に対する被検眼の収差状態が変化しても、鮮明な眼底像を得ることができる。   The above feedback control is reflected in the fundus moving image acquired simultaneously while the wavefront aberration is compensated. That is, as described above, by performing feedback control, the wavefront of the fundus reflection light is compensated, and thus blurring of the fundus moving image can be reduced. Therefore, a clear fundus image can be obtained even if the aberration state of the eye to be examined with respect to the fundus imaging apparatus changes due to changes in the fixation state or position of the eye to be examined.

なお、フィードバック制御は、撮影終了時まで行われる。また、フィードバック制御が行われ、眼底動画像を取得している間に、所定のトリガ信号が出力されると、そのときに取得された眼底の細胞像が動画像又は静止画像として記憶部81に記憶される。   The feedback control is performed until the end of shooting. When a predetermined trigger signal is output while feedback control is performed and the fundus moving image is acquired, the cell image of the fundus acquired at that time is stored in the storage unit 81 as a moving image or a still image. Remembered.

<位置合わせ終了後の位置ずれ>
ここで、位置合わせを調整した後においても、例えば、被検眼Eの固視状態が十分に保持できない等の理由により、被検眼Eと装置間で位置ずれが生じ、ずれ情報が許容範囲内から外れてしまうことがある。そのため、ずれ情報が許容範囲内から外れた場合には、制御部80は、ずれ情報が許容範囲内に収まるように波面収差検出光学系110と被検眼Eとの位置関係を相対的に調整する。
<Position shift after alignment>
Here, even after the alignment is adjusted, for example, the fixation state of the eye E is not sufficiently maintained, so that a positional deviation occurs between the eye E and the apparatus, and the deviation information is within an allowable range. It may come off. Therefore, when the deviation information is out of the allowable range, the control unit 80 relatively adjusts the positional relationship between the wavefront aberration detection optical system 110 and the eye E so that the deviation information is within the allowable range. .

<フィードバック制御の一時停止>
以下に、位置ずれが生じた場合の制御動作について、図6のフローチャートを用いて説明する。制御部80は、上記のように波面補償動作が開始された後、ずれ情報が許容範囲内を外れた場合(例えば、外周31a内から円32が外れたことが検出された場合)、上記フィードバック制御を一時的に停止させる。そして、制御部80は、波面補償デバイス72による収差補償量を、ずれ情報が許容範囲内を外れる前(例えば、円32が外れる前)の収差補正量で保持させる。また、制御部80は、ずれ情報が許容範囲内に収まるように(例えば、円32が外周31a内に収まるように)アライメントの再調整を行う。
<Pause feedback control>
Hereinafter, a control operation in the case where a positional deviation has occurred will be described with reference to the flowchart of FIG. When the deviation information is out of the allowable range after the wavefront compensation operation is started as described above (for example, when it is detected that the circle 32 is out of the outer periphery 31a), the control unit 80 performs the feedback. Stop control temporarily. Then, the control unit 80 holds the aberration compensation amount by the wavefront compensation device 72 with the aberration correction amount before the deviation information is out of the allowable range (for example, before the circle 32 is removed). In addition, the control unit 80 performs readjustment of alignment so that the deviation information is within an allowable range (for example, the circle 32 is within the outer periphery 31a).

例えば、制御部80は、円32が外れた後の収差検出結果に基づく駆動信号を波面補償デバイス72に送信せず、円32が外周31a内に収まっていたとき(外れる直前又はそれより前)の駆動信号を引き続き波面補償デバイス72に出力する。そして、制御部80は、円32が外周31a内に収まるまでは、同じ駆動信号にて波面補償デバイス72を動作させる。なお、円32が外れる前の収差検出結果が反映された補償量にて波面補償デバイス72が動作されればよく、円32が外れる前と同程度の駆動信号が印加されればよい。   For example, the control unit 80 does not transmit the drive signal based on the aberration detection result after the circle 32 is detached to the wavefront compensation device 72, and the circle 32 is within the outer periphery 31a (immediately before or before it is detached). Are continuously output to the wavefront compensation device 72. Then, the control unit 80 operates the wavefront compensation device 72 with the same drive signal until the circle 32 is within the outer periphery 31a. The wavefront compensation device 72 only needs to be operated with a compensation amount that reflects the aberration detection result before the circle 32 is removed, and a drive signal similar to that before the circle 32 is removed may be applied.

LCOSの場合、制御部80は、LCOSの各画素への電圧印加量を外周31a内から円32が外れる前の印加量のまま保持させ、LCOSの屈折率を一定とすればよい。デフォーマブルミラーの場合、制御部80は、同様に、各駆動部への電圧印加量を外周31a内から円32が外れる前の印加量のまま保持させ、ミラー全体の形状を一定とすればよい。   In the case of LCOS, the control unit 80 may hold the voltage application amount to each pixel of the LCOS as it is before the circle 32 is detached from the outer periphery 31a, and make the LCOS refractive index constant. In the case of a deformable mirror, the control unit 80 similarly holds the voltage application amount to each drive unit as it is before the circle 32 is detached from the outer periphery 31a, and makes the shape of the entire mirror constant. .

なお、制御部80は、円32が外れた後においても、眼底撮像光学系100を動作させることにより眼底の高倍率画像を連続的に取得し、取得される高倍率画像を動画像としてモニタ85に随時出力する。   Even after the circle 32 is removed, the control unit 80 operates the fundus imaging optical system 100 to continuously acquire a high-magnification image of the fundus, and the monitor 85 uses the acquired high-magnification image as a moving image. Is output at any time.

<アライメントの再調整>
また、制御部80は、駆動機構505を制御し、円32が外周31a内に収まるように、撮影部500を移動させる。なお、眼Eの固視状態によっては、自然にアライメントが適正な状態に復帰する場合もありうる。
<Readjustment of alignment>
In addition, the control unit 80 controls the drive mechanism 505 to move the photographing unit 500 so that the circle 32 is within the outer periphery 31a. Depending on the fixation state of the eye E, the alignment may naturally return to an appropriate state.

<フィードバック制御の再開>
このようにしてアライメントが再調整され、円32が外周31a内に復帰したことが検出されると、制御部80は、フィードバック制御を再開させるための復帰信号を出力する。ここで、制御部80は、波面センサ73によって波面収差を検出し、アライメント復帰後の収差検出結果に基づく駆動信号を波面補償デバイス72に送る。そして、制御部80は、円32が外周31a内に収まっている間は、波面センサ73による収差検出/検出結果に基づく波面補償デバイス72による波面補償の動作を繰り返す。これにより、リアルタイムで検出される収差検出結果が波面補償デバイス72に反映され、ぼけの少ない良好な高倍率眼底像が取得される。
<Resumption of feedback control>
When the alignment is readjusted in this way and it is detected that the circle 32 has returned to the outer periphery 31a, the control unit 80 outputs a return signal for resuming the feedback control. Here, the control unit 80 detects the wavefront aberration by the wavefront sensor 73, and sends a drive signal based on the aberration detection result after the alignment return to the wavefront compensation device 72. The control unit 80 repeats the wavefront compensation operation by the wavefront compensation device 72 based on the aberration detection / detection result by the wavefront sensor 73 while the circle 32 is within the outer periphery 31a. Thereby, the aberration detection result detected in real time is reflected on the wavefront compensation device 72, and a good high-magnification fundus image with little blur is acquired.

以上のように、フィードバック制御の開始後に位置ずれが生じた場合、フィードバック制御が一時的に停止されるため、位置ずれ発生時の収差検出結果に基づく波面補償が行われない。したがって、固視ずれ発生時の収差検出結果によって波面補償デバイス72(例えば、LCOSであれば屈折率、デフォーマブルミラーであればミラーの形状)が誤った収差補償量で動作されてしまうのが回避される。そして、位置ずれが調整された後、適正な波面補償に復帰するまでの時間が短縮される。   As described above, when a positional deviation occurs after the feedback control is started, the feedback control is temporarily stopped, so that wavefront compensation based on the aberration detection result when the positional deviation occurs is not performed. Therefore, it is avoided that the wavefront compensation device 72 (for example, refractive index if LCOS, mirror shape if deformable mirror) is operated with an incorrect aberration compensation amount due to the aberration detection result when fixation disparity occurs. Is done. Then, after the positional deviation is adjusted, the time until returning to the appropriate wavefront compensation is shortened.

また、アライメント復帰後、前回のアライメント完了状態における波面補償デバイス72の収差補償量から、収差補償のフィードバック制御が再開されるため、波面補償デバイス72の駆動が少なくて済み、スムーズに良好な眼底画像が得られる。また、位置ずれが生じた場合においても、波面補償デバイス72の制御状態が位置ずれ発生前のままで保持されているため、アライメントずれが微小であれば、円32が外周31aから外れている状態であっても、ぼけの少ない良好な高倍率眼底像が継続的に取得される。   Further, after the alignment is restored, since the aberration compensation feedback control is resumed from the aberration compensation amount of the wavefront compensation device 72 in the previous alignment completion state, the drive of the wavefront compensation device 72 can be reduced and a smooth fundus image can be obtained smoothly. Is obtained. Further, even when a positional deviation occurs, the control state of the wavefront compensation device 72 is maintained as it was before the positional deviation occurred, so that if the alignment deviation is small, the circle 32 is out of the outer periphery 31a. Even so, good high-magnification fundus images with little blur are continuously acquired.

なお、フィードバック制御の再開後、再度アライメントずれが生じた場合、制御部80は、同様に、フィードバック制御の停止、復帰動作を行えばよい。   In addition, when the misalignment occurs again after restarting the feedback control, the control unit 80 may similarly perform the stop and return operations of the feedback control.

なお、本実施例においては、制御部80は、外周31a内から円32が外れる前の収差補償量にて波面補償デバイス72の制御状態を保持したが、これに限るものでなく、波面収差が適正に検出された状態での検出結果に基づいてフォードバック制御が再開されればよい。   In this embodiment, the control unit 80 maintains the control state of the wavefront compensation device 72 with the aberration compensation amount before the circle 32 is removed from the outer periphery 31a. However, the present invention is not limited to this, and the wavefront aberration is not limited to this. Ford back control may be resumed based on the detection result in a properly detected state.

例えば、制御部80は、ずれ情報が許容範囲内に収まっている場合の波面制御情報を記憶部81に記憶させ、ずれ情報が許容範囲内に復帰した場合、波面補償デバイス72の波面制御情報を波面補償デバイス72へ反映させる。   For example, the control unit 80 causes the storage unit 81 to store the wavefront control information when the deviation information is within the allowable range, and when the deviation information returns to the allowable range, the wavefront control information of the wavefront compensation device 72 is stored. This is reflected in the wavefront compensation device 72.

具体的に説明すると、円32が外周31b内に収まっている状態において、検者又は制御部80が所定のトリガ信号を出力し、波面補償デバイス72の収差補償量のデータを記憶部81に記憶しておく。例えば、円32が外周31bに収まってから数秒経過後の波面補償デバイス72の収差補償量が記憶部81に保存される。また、常時、収差補償量が記憶部81に記憶され、記憶させたデータの中から、収差補償量が任意に選択されるようにしてもよい。   Specifically, in a state where the circle 32 is within the outer periphery 31b, the examiner or the control unit 80 outputs a predetermined trigger signal and stores the aberration compensation amount data of the wavefront compensation device 72 in the storage unit 81. Keep it. For example, the aberration compensation amount of the wavefront compensation device 72 after a lapse of several seconds after the circle 32 fits on the outer periphery 31 b is stored in the storage unit 81. Further, the aberration compensation amount may be always stored in the storage unit 81, and the aberration compensation amount may be arbitrarily selected from the stored data.

その後、外周31a内から円32が外れた場合、制御部80は、フィードバック制御を一時的に停止させ、再びハルトマン像31内に円32が収まるように撮影部500を移動させる。そして、制御部80は、アライメントが再調整され、復帰信号が出力されると、記憶部81に予め保存していた波面補償デバイス72の収差補償量のデータを呼び出し、それを用いて、波面補償デバイス72を制御する。   Thereafter, when the circle 32 is removed from the outer periphery 31a, the control unit 80 temporarily stops the feedback control, and moves the photographing unit 500 so that the circle 32 is again accommodated in the Hartmann image 31. Then, when the alignment is readjusted and the return signal is output, the control unit 80 calls the data of the aberration compensation amount of the wavefront compensation device 72 stored in advance in the storage unit 81, and uses it to use the wavefront compensation. The device 72 is controlled.

なお、以上の説明において、検出光学系110と被検眼Eとの位置関係が相対的に調整される構成であればよい。例えば、ずれ情報が許容範囲内に収まるように顎台を眼Eに対して移動する構成であってもよい。また、検出光学系110の光路中に、測定光束の進行方向を変更する光偏向部を設け、光偏向部の駆動により位置関係が調整されてもよい。   In the above description, any configuration in which the positional relationship between the detection optical system 110 and the eye E is relatively adjusted may be used. For example, the chin rest may be moved with respect to the eye E so that the deviation information is within an allowable range. In addition, a light deflection unit that changes the traveling direction of the measurement light beam may be provided in the optical path of the detection optical system 110, and the positional relationship may be adjusted by driving the light deflection unit.

なお、本実施例において、波面補償デバイス72の補償可能領域と波面センサ73による眼底反射光束の検出領域とのずれ情報を波面センサの出力信号に基づいて検出したが、これに限るものではない。例えば、前眼部観察系を設け、前眼部観察系によって検出されるアライメント検出結果と前述のずれ情報を予め対応づけておく。そして、アライメント検出結果に基づいて、ずれ情報が許容範囲内か否かを判定してもかまわない。また、前眼部観察カメラ上に補償可能領域が設定され、前眼部像から画像処理により瞳孔部分が抽出され、補償可能領域の位置情報と瞳孔外周の位置情報とが比較されることにより各領域間のずれが検出されてもよい。   In the present embodiment, the shift information between the area that can be compensated for by the wavefront compensation device 72 and the detection area of the fundus reflected light beam by the wavefront sensor 73 is detected based on the output signal of the wavefront sensor, but the present invention is not limited to this. For example, an anterior ocular segment observation system is provided, and the alignment detection result detected by the anterior ocular segment observation system is associated with the above-described deviation information in advance. Then, based on the alignment detection result, it may be determined whether the deviation information is within an allowable range. Further, a compensable region is set on the anterior ocular segment observation camera, a pupil part is extracted from the anterior segment image by image processing, and the position information of the compensable region and the positional information on the outer periphery of the pupil are compared to each other. A shift between regions may be detected.

なお、以上の説明においては、眼底撮像光学系100として、被検眼眼底と略共役な位置に配置された共焦点開口を介して被検眼眼底で反射した光束を受光して被検眼眼底の共焦点正面画像を撮影する共焦点光学系(SLO光学系)を用いるものとしたが、これに限るものではない(例えば、特表2001−507258号公報参照)。   In the above description, the fundus imaging optical system 100 receives the light beam reflected from the fundus of the eye to be examined through the confocal aperture disposed at a position substantially conjugate to the fundus of the eye to be examined, and confocals the fundus of the eye to be examined. Although a confocal optical system (SLO optical system) that captures a front image is used, the present invention is not limited to this (see, for example, JP 2001-507258 A).

例えば、被検眼眼底で反射した光束を二次元撮像素子により受光して被検眼の眼底正面画像を撮影する眼底カメラ光学系であってもよい。また、被検眼眼底で反射した光束と参照光による干渉光を受光して被検眼の断層画像を撮影する光干渉光学系(OCT光学系)であってもよい。   For example, a fundus camera optical system that captures a frontal image of the fundus of the subject's eye by receiving a light beam reflected from the fundus of the subject's eye with a two-dimensional image sensor. Further, it may be an optical interference optical system (OCT optical system) that captures a tomographic image of the eye to be inspected by receiving the light beam reflected from the fundus of the eye to be examined and the interference light by the reference light.

本実施形態の眼底撮影装置の外観図を示した図である。It is the figure which showed the external view of the fundus imaging apparatus of this embodiment. 本実施形態の眼底撮影装置の光学系を示した模式図である。It is the schematic diagram which showed the optical system of the fundus imaging apparatus of this embodiment. 本実施形態の眼底撮影装置の制御系を示したブロック図である。It is the block diagram which showed the control system of the fundus imaging apparatus of this embodiment. 波面センサ上の指標パターン像と補償可能領域の具体例について説明する図である。It is a figure explaining the specific example of the parameter | index pattern image on a wavefront sensor, and a compensation possible area | region. モニタの画面上に表示された収差補償画面を示した図である。It is the figure which showed the aberration compensation screen displayed on the screen of a monitor. 位置ずれが生じた場合の制御動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the control operation | movement when a position shift arises.

1 光源
10 視度補正部
15 走査部
20 顔支持ユニット
21 基台
40 収差補償画面
54 受光素子
72 波面補償デバイス
73 波面センサ
76 光源
80 制御部
81 記憶部
85 モニタ
100 眼底撮像光学系
110 波面収差検出光学系
200 第2撮影ユニット
300 トラッキング用ユニット
400、410 偏向部
500 撮影部
505 駆動機構
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light source 10 Diopter correction part 15 Scan part 20 Face support unit 21 Base 40 Aberration compensation screen 54 Light receiving element 72 Wavefront compensation device 73 Wavefront sensor 76 Light source 80 Control part 81 Storage part 85 Monitor 100 Fundus imaging optical system 110 Wavefront aberration detection Optical system 200 Second imaging unit 300 Tracking unit 400, 410 Deflection unit 500 Imaging unit 505 Drive mechanism

Claims (5)

被検眼眼底からの反射光を受光して眼底像を撮像する眼底撮像光学系と、
前記眼底撮像光学系の光路中に配置され、入射光の波面を制御して被検眼の波面収差を補償する波面補償デバイスと、
被検眼眼底に向けて測定光を投光し、その眼底からの反射光を波面センサにより検出する波面収差検出光学系と、
前記波面センサ上に設定された前記波面補償デバイスの補償可能領域と前記波面センサによる眼底反射光束の検出領域とのずれ情報を検出する検出手段と、
前記波面センサからの検出信号に基づく被検者眼の波面収差の検出と、その検出結果に基づく前記波面補償デバイスの制御とを繰り返すフィードバック制御を行う制御手段であって、前記検出手段により検出されるずれ情報が許容範囲内を外れた場合に、フィードバック制御を一時的に停止させ、前記ずれ情報が許容範囲内に復帰した場合にフィードバック制御を再開させることを特徴とする波面補償付眼底撮影装置。
A fundus imaging optical system that receives reflected light from the fundus of the subject's eye and captures a fundus image;
A wavefront compensation device that is disposed in the optical path of the fundus imaging optical system and that controls the wavefront of incident light to compensate the wavefront aberration of the eye to be examined;
A wavefront aberration detection optical system that projects measurement light toward the fundus of the subject's eye and detects reflected light from the fundus by a wavefront sensor;
Detecting means for detecting deviation information between a compensable region of the wavefront compensation device set on the wavefront sensor and a detection region of a fundus reflected light beam by the wavefront sensor;
Control means for performing feedback control that repeats detection of wavefront aberration of the subject's eye based on a detection signal from the wavefront sensor and control of the wavefront compensation device based on the detection result, the detection means being detected by the detection means When the deviation information falls outside the allowable range, the feedback control is temporarily stopped, and when the deviation information returns to the allowable range, the feedback control is resumed. .
請求項1の眼底撮影装置において、
眼底撮像光学系により連続的に撮像される眼底像を動画として出力する表示手段を備えることを特徴とする波面補償付眼底撮影装置。
The fundus imaging apparatus according to claim 1,
A fundus photographing apparatus with wavefront compensation comprising display means for outputting a fundus image continuously captured by a fundus imaging optical system as a moving image.
請求項2の眼底撮影装置において、
さらに、前記ずれ情報が許容範囲内に収まるように前記検出光学系と被検眼との位置関係を相対的に調整する位置調整手段を備えることを特徴とする波面補償付眼底撮影装置。
The fundus photographing apparatus according to claim 2,
Further, the fundus photographing apparatus with wavefront compensation includes a position adjusting unit that relatively adjusts a positional relationship between the detection optical system and the eye to be examined so that the deviation information is within an allowable range.
請求項3の眼底撮影装置において、
前記制御手段は、フィードバック制御を停止させるとき、前記波面収差補償デバイスによる収差補償量を,前記ずれ情報が許容範囲内を外れた前の収差補償量で保持する波面補償付眼底撮影装置。
The fundus imaging apparatus according to claim 3,
When the feedback control is stopped, the control means holds the aberration compensation amount by the wavefront aberration compensation device at the aberration compensation amount before the deviation information is out of the allowable range.
請求項3の眼底撮影装置において、
前記波面補償デバイスの波面制御情報を記憶する記憶手段と、を備え、
前記制御手段は、前記ずれ情報が許容範囲内に収まっている場合の波面制御情報を前記記憶手段に記憶させ、前記ずれ情報が許容範囲内に復帰した場合、前記波面補償デバイスの波面制御情報を前記波面補償デバイスへ反映させることを特徴とする波面補償付眼底撮影装置。
The fundus imaging apparatus according to claim 3,
Storage means for storing wavefront control information of the wavefront compensation device,
The control means stores the wavefront control information when the deviation information is within an allowable range in the storage means, and when the deviation information is restored within the allowable range, the wavefront control information of the wavefront compensation device is stored. A fundus photographing apparatus with wavefront compensation, which is reflected in the wavefront compensation device.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014104289A (en) * 2012-11-29 2014-06-09 Canon Inc Compensating optical device, imaging device, and control method and program of compensating optical device
JP2014117401A (en) * 2012-12-14 2014-06-30 Canon Inc Aberration measuring apparatus and method thereof
JP2014176442A (en) * 2013-03-14 2014-09-25 Nidek Co Ltd Fundus image capturing apparatus
EP3138473A1 (en) * 2015-09-02 2017-03-08 Nidek Co., Ltd Scanning laser ophthalmoscope
JP2017104716A (en) * 2017-03-22 2017-06-15 キヤノン株式会社 Aberration measuring apparatus and method thereof

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5777719A (en) * 1996-12-23 1998-07-07 University Of Rochester Method and apparatus for improving vision and the resolution of retinal images
JP2002540829A (en) * 1999-04-01 2002-12-03 ユニヴェルシテ パリ セットゥ−デニス ディデロ High resolution device for body observation
US20050286018A1 (en) * 2004-06-22 2005-12-29 Kabushiki Kaisha Topcon Optical-characteristic measurement apparatus and fundus-image observation apparatus
US20070046948A1 (en) * 2005-08-26 2007-03-01 University Of Kent Optical mapping apparatus
JP2008000342A (en) * 2006-06-22 2008-01-10 Topcon Corp Ophthalmic apparatus
JP2009504294A (en) * 2005-08-18 2009-02-05 イマジン アイズ Method and system for correcting ocular aberrations applied to ophthalmic instruments
US20110116042A1 (en) * 2009-11-17 2011-05-19 Canon Kabushiki Kaisha Adaptive optics apparatus, adaptive optics method, and imaging apparatus

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5777719A (en) * 1996-12-23 1998-07-07 University Of Rochester Method and apparatus for improving vision and the resolution of retinal images
JP2001507258A (en) * 1996-12-23 2001-06-05 ユニヴァースティ オブ ロチェスター Vision and retinal image resolution improvement device
JP2002540829A (en) * 1999-04-01 2002-12-03 ユニヴェルシテ パリ セットゥ−デニス ディデロ High resolution device for body observation
US6588900B1 (en) * 1999-04-01 2003-07-08 Universite Paris 7-Denis Diderot High resolution device for observing a body
US20050286018A1 (en) * 2004-06-22 2005-12-29 Kabushiki Kaisha Topcon Optical-characteristic measurement apparatus and fundus-image observation apparatus
JP2006006362A (en) * 2004-06-22 2006-01-12 Topcon Corp Optical characteristic measuring device and eyeground image observation device
JP2009504294A (en) * 2005-08-18 2009-02-05 イマジン アイズ Method and system for correcting ocular aberrations applied to ophthalmic instruments
US20070046948A1 (en) * 2005-08-26 2007-03-01 University Of Kent Optical mapping apparatus
JP2008000342A (en) * 2006-06-22 2008-01-10 Topcon Corp Ophthalmic apparatus
US20110116042A1 (en) * 2009-11-17 2011-05-19 Canon Kabushiki Kaisha Adaptive optics apparatus, adaptive optics method, and imaging apparatus
JP2011104125A (en) * 2009-11-17 2011-06-02 Canon Inc Optical image capturing method including compensation optical system and optical image capturing apparatus

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014104289A (en) * 2012-11-29 2014-06-09 Canon Inc Compensating optical device, imaging device, and control method and program of compensating optical device
JP2014117401A (en) * 2012-12-14 2014-06-30 Canon Inc Aberration measuring apparatus and method thereof
JP2014176442A (en) * 2013-03-14 2014-09-25 Nidek Co Ltd Fundus image capturing apparatus
EP3138473A1 (en) * 2015-09-02 2017-03-08 Nidek Co., Ltd Scanning laser ophthalmoscope
JP2017104716A (en) * 2017-03-22 2017-06-15 キヤノン株式会社 Aberration measuring apparatus and method thereof

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