JP2012094041A - レイアウト検証用データ作成方法 - Google Patents
レイアウト検証用データ作成方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012094041A JP2012094041A JP2010242146A JP2010242146A JP2012094041A JP 2012094041 A JP2012094041 A JP 2012094041A JP 2010242146 A JP2010242146 A JP 2010242146A JP 2010242146 A JP2010242146 A JP 2010242146A JP 2012094041 A JP2012094041 A JP 2012094041A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- verification
- node
- layout
- path
- dummy
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
【課題】配線経路の検証も自動的に行うことができるレイアウト検証用データ作成方法を提供する。
【解決手段】回路図において配線経路を検証する対象とするノードn1に経路検証情報;KEIRO情報を付加すると(S2)、そのノードn1に、ダミー素子RK1,RK2を挿入してネットリストを作成する(S3〜S6)。ノードn1についてレイアウトを作成する際に、ダミー素子RK1,RK2が挿入された部分をダミー素子レイヤとして形成すると(S8)、レイアウトデータにダミー素子レイヤのデータを挿入して検証用レイアウトデータを作成し(S9)、検証用レイアウトデータとネットリストデータとを用いてLVSツールにより検証を行う(S10)。
【選択図】図1
【解決手段】回路図において配線経路を検証する対象とするノードn1に経路検証情報;KEIRO情報を付加すると(S2)、そのノードn1に、ダミー素子RK1,RK2を挿入してネットリストを作成する(S3〜S6)。ノードn1についてレイアウトを作成する際に、ダミー素子RK1,RK2が挿入された部分をダミー素子レイヤとして形成すると(S8)、レイアウトデータにダミー素子レイヤのデータを挿入して検証用レイアウトデータを作成し(S9)、検証用レイアウトデータとネットリストデータとを用いてLVSツールにより検証を行う(S10)。
【選択図】図1
Description
本発明は、回路図に基づいて生成されたネットリストと、レイアウトデータとを照合するための検証用データを作成する方法に関する。
従来、半導体集積回路のレイアウト設計を行う際に、回路素子間の接続を検証するためには、デザインルールチェック(DRC)や、回路図とレイアウトデータとを照合するLVS(Layout Versus Schematic)等のツールを用いている(例えば特許文献1,2参照)。
しかしながら、上記の検証ツールでは、同一のノードに関する回路素子の接続は検証できるが、各回路素子間の繋がりの順序,すなわち、配線経路については検証ができない。例えば図7に示す回路図は、電源VDDとグランドGNDとの間に、PチャネルMOSFET_MPと、NチャネルMOSFET_Mとの直列回路が接続されており、これらのゲートは、抵抗素子R1を介して入力端子PADに接続されている。また、前記ゲートとグランドGNDとの間には、ツェナーダイオードD1が接続されている。
この回路図に対しては図8(a)に示すレイアウトが一致するが、図8(b)に示すレイアウトでは、ツェナーダイオードD1が接続されている位置が異なっている。ところが、上記の検証ツールでは、図8(a),(b)の相違を判別することができないため、配線経路については目視で検図するしかない。尚、図中において、右上から左下へのハッチングはコンタクト用の電極を示しており、左上から右下へのハッチングは配線を示している。
例えば、頻繁に使用される回路部分を予めセル化しておき、それらのセルを組み合わせることでレイアウト設計を行う場合には、上記のように配線経路を確認する箇所は少なくなる。しかし、セルを用いたレイアウト設計は集積度を高めることができないという問題があるため、集積度を高めることを重視してセルを用いることなくレイアウト設計を行うと、配線経路を目視で確認するのに膨大な手間を要することになる。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、配線経路の検証についても自動的に行うことができるレイアウト検証用データ作成方法を提供することにある。
請求項1記載のレイアウト検証用データ作成方法によれば、回路図において配線経路を検証する対象とする経路検証ノードに、経路検証情報を付加すると共にダミー素子を挿入する。そして、回路図のネットリストを作成する際に、ダミー素子を挿入した部分を独立した検証ノードネットリストとして作成し、経路検証ノードを検証ノードネットリストに置換する。また、経路検証ノードについてレイアウトを作成する際に、ダミー素子が挿入された部分をダミー素子レイヤとして形成する。例えば、回路素子A,B,Cの一端が、あるノードNで共通に接続されており、回路素子Bは、回路素子A,Cの間の位置でノードNに接続されているとする。
このとき、回路素子A,B(ノードN)間,回路素子B(ノードN),C間にそれぞれダミー素子X1,X2を挿入すると、各素子間の繋がりは、
回路素子A−ダミー素子X1−回路素子B(ノードN)−ダミー素子X2−回路素子C
となる。すなわち、ダミー素子X1,X2が介在することで、回路素子A,B,Cの一端はネットリスト上では共通に接続されなくなる。
回路素子A−ダミー素子X1−回路素子B(ノードN)−ダミー素子X2−回路素子C
となる。すなわち、ダミー素子X1,X2が介在することで、回路素子A,B,Cの一端はネットリスト上では共通に接続されなくなる。
そして、当該配線経路に対応するレイアウト部分はダミー素子レイヤとして形成されるので、ダミー素子が介在したネットリスト,すなわち経路検証ノード部分を検証ノードネットリストに置換したネットリストと、ダミー素子レイヤを加えたレイアウトデータとを用いてLVSツールにより検証を行えば、回路素子A,B,Cの接続順序をダミー素子を介して確認することができる。これにより、目視による確認作業が不要となるので、作業効率を大幅に向上させることが可能となる。
請求項2記載のレイアウト検証用データ作成方法によれば、経路検証情報が付加された経路検証ノードに、ダミー素子を自動的に挿入する工程を有する。すなわち、経路検証ノードについて事前に経路検証情報が付加されていれば、経路検証ノードにダミー素子を自動的に挿入することが可能となるので、ユーザの作業負担を軽減できる。
請求項3記載のレイアウト検証用データ作成方法によれば、ダミー素子に、1レイヤで形成可能な素子(例えば抵抗素子やコイルなど)を用いるので、ダミー素子レイヤの形成が容易となる。
請求項4記載のレイアウト検証用データ作成方法によれば、ネットリストから、3つ以上の素子に接続されているノードについてそれら各素子の種類を判別し、その判別結果に応じて経路検証ノードを決定する。すなわち、配線経路を検証する必要がある配線は、1つのノードが3つ以上の素子に接続されていると共に、それら各素子の種類がどのようなものであるかによる。したがって、前記素子の種類を予め設定しておけば、ユーザが回路図上で指定することなく、経路検証情報を付加する工程を自動的に行うことができる。
(第1実施例)
以下、第1実施例について図1ないし図5を参照して説明する。図1は、LVS検証用のデータを作成するための処理手順を示すフローチャートである。先ず、回路図作成ツールを用いて回路図を入力すると(ステップS1)、配線経路の検証を行う必要があるノード(経路検証ノード)にKEIRO情報を付加する(ステップS2)。ここでのKEIRO情報の付加は、ユーザが回路図上でノードを指定して行う。
以下、第1実施例について図1ないし図5を参照して説明する。図1は、LVS検証用のデータを作成するための処理手順を示すフローチャートである。先ず、回路図作成ツールを用いて回路図を入力すると(ステップS1)、配線経路の検証を行う必要があるノード(経路検証ノード)にKEIRO情報を付加する(ステップS2)。ここでのKEIRO情報の付加は、ユーザが回路図上でノードを指定して行う。
例えば、図2は、図7と同様の回路図であるが、抵抗素子R1,ツェナーダイオードD1,MOSFET_MP,MEのゲートの共通接続点であるノードn1を経路検証ノードとして、例えばマウス等のポインティングデバイス(入力手段)を用いてノードn1に接続されている配線をマーキングする(図中では、マーキングした個所を太い線で示している)。
以上のようにして回路図を入力すると、次に回路図のネットリストを作成して、経路検証ノードを抽出する(ステップS3)。すなわち、KEIRO情報が付加されているノードを抽出する。そして、経路検証ノードに、ネットリスト上でダミー素子として例えば抵抗素子RKをツール(自動抽出ツール)側で自動的に挿入する(ステップS4)。図3は、ダミー素子RK1,RK2を挿入した状態を回路図のイメージで示すが、抵抗素子R1とツェナーダイオードD1のカソードとの間にダミー素子RK1を挿入し、ツェナーダイオードD1のカソードとMOSFET_MP,MEのゲートとの間にダミー素子RK2を挿入する。
それから、経路検証ノードn1とダミー素子RK1,RK2とを含む部分を、検証ノードSUBCKT(サブサーキット,検証ノードネットリスト)として作成すると(ステップS5)、ステップS3で作成したネットリストにおいて、経路検証ノードn1に係る部分を検証ノードSUBCKTに置換する(ステップS6)。ここで、ステップS3〜S6の処理イメージを、図4を参照して説明する。図4(a)は図2,図7と同じ回路図であり、図4(b)はそのネットリストである(S3に対応)。
図4(c)は、経路検証ノードn1にダミー素子RK1,RK2を挿入してSUBCKT化した部分の回路図イメージであり、図4(d)は、そのSUBCKTのネットリストである(S5に対応)。図4(f)は、図4(b)のネットリストにおいて、経路検証ノードn1の部分を、図4(d)のSUBCKTのネットリストで置換したものを示しており、図4(e)は、図4(f)に対応する回路図のイメージである。
再び、図1を参照する。ステップS6を実行すると、回路図に従いLSIのレイアウトを作成するが(ステップS7)、その際に、検証ノードSUBCKTに対応する部分はダミー素子レイヤとして、その他の回路図のレイヤから独立したレイヤにする(ステップS8)。そして、ステップS7で作成したレイアウトデータに、ステップS8で作成したダミー素子レイヤのデータを挿入することで、検証用レイアウトデータを作成すると(ステップS9)、その検証用レイアウトデータとステップS6のネットリストデータとを用いて、LVSツールにより検証を行う(ステップS10)。
図5は、検証用レイアウトの一例を示しており、抵抗素子R1とツェナーダイオードD1のカソードとの間にダミー素子RK1が挿入され、ツェナーダイオードD1のカソードとMOSFET_MP,MEのゲートとの間にダミー素子RK2が挿入された状態のレイアウトとなっている(ダミー素子RK1,RK2の部分は十字ハッチングで示している)。尚、LVSツールによる検証をパスしてLSIのマスクデータを作成する場合には、ダミー素子レイヤを削除したレイアウトデータを用いれば良い。
以上のように本実施例によれば、回路図において配線経路を検証する対象とするノードn1に経路検証情報;KEIRO情報を付加すると、そのノードn1に、ダミー素子RK1,RK2を挿入する。そして、回路図のネットリストを作成する際に、ダミー素子RK1,RK2を挿入した部分を独立した検証ノードSUBCKTとして作成し、経路検証ノードn1部分を検証ノードSUBCKTに置換してネットリストを作成する。また、ノードn1についてレイアウトを作成する際に、ダミー素子RK1,RK2が挿入された部分をダミー素子レイヤとして形成するようにした。
したがって、ダミー素子RKが介在したネットリスト,すなわちノードn1部分を検証ノードSUBCKTに置換したネットリストと、ダミー素子レイヤを加えたレイアウトデータとを用いてLVSツールにより検証を行えば、ノードn1に接続されている抵抗素子R1,ツェナーダイオードD1,MOSFET_MP,MEのゲートとの間における配線経路(接続順序)が正しいか否かを、ダミー素子RK1,RK2を介して確認できる。これにより、目視による確認作業が不要となるので、作業効率を大幅に向上させることが可能となる。そして、ダミー素子に、1レイヤで形成可能な抵抗素子RKを用いたので、ダミー素子レイヤの形成が容易となる。
また、経路検証情報が付加された経路検証ノードn1に、ダミー素子RKをツール側で自動的に挿入するようにした。すなわち、経路検証ノードn1について事前に経路検証情報KEIROが付加されていれば、経路検証ノードn1にダミー素子RKを自動的に挿入することが可能となるので、ユーザの作業負担を軽減できる。
(第2実施例)
図6は第2実施例を示すものであり、第1実施例と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分について説明する。第2実施例は、第1実施例のステップS2において、ユーザが行った経路検証ノードへのKIRO情報の付加を、ネットリストの作成後にツール側で自動的に行うようにしたものである。
図6は第2実施例を示すものであり、第1実施例と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分について説明する。第2実施例は、第1実施例のステップS2において、ユーザが行った経路検証ノードへのKIRO情報の付加を、ネットリストの作成後にツール側で自動的に行うようにしたものである。
図1の一部相当図である図6では、ステップS1を実行すると、入力された回路図をネットリストに変換する(ステップS11)。そして、そのネットリストから3素子以上に接続されているノードを抽出すると(ステップS12)、抽出したノードに接続されている素子の種類を判別し(ステップS13)、その判別結果に応じて経路検証ノードを決定する(ステップS14)。それから、ステップS4,S6以降の処理を実行する。
例えば、図4(b)に示すネットリストからは、ノードn1が3素子以上に接続されていることと、抵抗素子R1,ツェナーダイオードD1,MOSFET_MP,MEに接続されていることが判る。そして、ユーザが予め、何れの素子に接続されているものを経路検証ノードとして選択するように設定しておくことで、ステップS14の決定を行うことができる。すなわち、ツェナーダイオードD1は、MOSFET_MP,MEの過電圧保護用素子であるから、抵抗素子R1と、MOSFET_MP,MEのゲートとの間に接続されている必要があり、そのような配線経路を保証する必要があるものについて、対象とする被接続素子の種類を設定しておく。
以上のように第2実施例によれば、ネットリストから、3つ以上の素子に接続されているノードn1についてそれら各素子の種類を判別し、その判別結果に応じてKEIRO情報を付加するノードを決定するので、ユーザが回路図上で指定することなく、KEIRO情報を付加する工程を自動的に行うことができる。
本発明は上記し、又は図面に記載した実施例にのみ限定されるものではなく、以下のような変形又は拡張が可能である。
第1実施例において、ダミー素子RKの挿入は、ユーザが回路図を作成する際に自身で行うようにしても良い。この場合、図1のフローチャートは、ステップS1からステップS4に移行するようになる。またこの場合、ステップS2,S4については、何れを先に実行しても良い。
第1実施例において、ダミー素子RKの挿入は、ユーザが回路図を作成する際に自身で行うようにしても良い。この場合、図1のフローチャートは、ステップS1からステップS4に移行するようになる。またこの場合、ステップS2,S4については、何れを先に実行しても良い。
ダミー素子については、その他例えばコイルでも良い。また、1レイヤで形成できるものに限定しなければコンデンサやダイオードなどでも良く、要は2端子の素子であれば良い。
回路図は一例であり、配線経路を確認する必要があるノードであれば、どの様な素子に接続されているものであっても適用できる。
回路図は一例であり、配線経路を確認する必要があるノードであれば、どの様な素子に接続されているものであっても適用できる。
図面中、n1は経路検証ノード,RK1,RK2はダミー素子を示す。
Claims (4)
- 回路図に基づいて生成されたネットリストとレイアウトデータとを照合して検証を行うためのデータを作成する方法において、
回路図で配線経路を検証する対象とする経路検証ノードについて、経路検証情報を付加すると共にダミー素子を挿入する工程と、
前記回路図のネットリストを作成する際に、前記ダミー素子を挿入した部分を独立した検証ノードネットリストとして作成し、前記経路検証ノードを、前記検証ノードネットリストに置換する工程と、
前記経路検証ノードについてレイアウトを作成する際に、前記ダミー素子が挿入された部分をダミー素子レイヤとして形成する工程と、
前記ダミー素子レイヤと前記ダミー素子を除いた回路部分のレイヤとを合成する工程と、
を行うことを特徴とするレイアウト検証用データ作成方法。 - 前記経路検証情報が付加された経路検証ノードに、前記ダミー素子を自動的に挿入する工程を有することを特徴とする請求項1記載のレイアウト検証用データ作成方法。
- 前記ダミー素子に、1レイヤで形成可能な素子を用いることを特徴とする請求項1又は2記載のレイアウト検証用データ作成方法。
- 前記経路検証情報を付加する工程において、前記ネットリストから、3つ以上の素子に接続されているノードについて前記各素子の種類を判別し、その判別結果に応じて前記経路検証ノードを決定することを特徴とする請求項1ないし3の何れかに記載のレイアウト検証用データ作成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010242146A JP2012094041A (ja) | 2010-10-28 | 2010-10-28 | レイアウト検証用データ作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010242146A JP2012094041A (ja) | 2010-10-28 | 2010-10-28 | レイアウト検証用データ作成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012094041A true JP2012094041A (ja) | 2012-05-17 |
Family
ID=46387277
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010242146A Pending JP2012094041A (ja) | 2010-10-28 | 2010-10-28 | レイアウト検証用データ作成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2012094041A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015132870A (ja) * | 2014-01-09 | 2015-07-23 | 富士通株式会社 | レイアウト検証方法、検証用レイアウトデータの作成方法、レイアウト検証プログラム、及び、検証用レイアウトデータ作成プログラム |
-
2010
- 2010-10-28 JP JP2010242146A patent/JP2012094041A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015132870A (ja) * | 2014-01-09 | 2015-07-23 | 富士通株式会社 | レイアウト検証方法、検証用レイアウトデータの作成方法、レイアウト検証プログラム、及び、検証用レイアウトデータ作成プログラム |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8904326B2 (en) | Semiconductor device design method, system and computer program product | |
US7665050B2 (en) | Semiconductor device verification system and semiconductor device fabrication method | |
US7464350B1 (en) | Method of and circuit for verifying a layout of an integrated circuit device | |
JP2009238209A (ja) | 回路検証装置、回路検証プログラムおよび回路検証方法 | |
TW201229800A (en) | Method of context-sensitive, trans-reflexive incremental design rule checking and its applications | |
US20170308639A1 (en) | Method for analyzing ir drop and electromigration of ic | |
JP2007286691A (ja) | 集積回路設計装置 | |
US8645876B2 (en) | Methodology for performing post layer generation check | |
US8943454B1 (en) | In-phase grouping for voltage-dependent design rule | |
JP2006085576A (ja) | 半導体集積回路のレイアウト方法、半導体集積回路のレイアウトプログラムおよび半導体集積回路のレイアウトシステム | |
CN111753490B (zh) | 金属线版图设计规则检查方法 | |
US10885258B1 (en) | Fixing ESD path resistance errors in circuit design layout | |
JP2012094041A (ja) | レイアウト検証用データ作成方法 | |
US7073148B1 (en) | Antenna violation correction in high-density integrated circuits | |
US8954306B2 (en) | Component behavior modeling using separate behavior model | |
JP2006155524A (ja) | 半導体集積回路の検証方法、検証装置および検証プログラム | |
US20060225012A1 (en) | Layout verification method and layout design unit | |
JP2005322019A (ja) | 多電源集積回路の検証方法 | |
US20230023317A1 (en) | Systems and Methods for Providing A Dynamic High Voltage Circuit Design Workflow | |
JP2009276905A (ja) | レイアウト検証装置、レイアウト検証方法、及びプログラム | |
JP4479619B2 (ja) | 回路図作成支援装置および回路レイアウト検証装置 | |
JP2006210661A (ja) | 半導体集積回路の設計方法 | |
US20120216162A1 (en) | Method and Apparatus Used for the Physical Validation of Integrated Circuits | |
JP2010002965A (ja) | 半導体集積回路の回路抵抗縮約方法 | |
US7895554B2 (en) | Verification method with the implementation of well voltage pseudo diodes |