JP2012091120A - Method for manufacturing thin film design layer for panel decoration frame - Google Patents

Method for manufacturing thin film design layer for panel decoration frame Download PDF

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▲がい▼悌 楊
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a thin film design layer for a panel decoration frame.SOLUTION: The method for manufacturing the thin film design layer for the panel decoration frame provides a plane type high light transmittance substrate 100. A photoresist liquid 313 is ejected from a capillary 320 by a capillary coating device 300 and applied onto the substrate 100. Relative motion is carried out in turn between the capillary coating device 300 and the substrate 100 on the basis of a prescribed moving locus to form a prescribed photoresist design on the substrate 100. A photoresist is solidified, and a photoresist design thin film layer is formed on the substrate 100. The capillary coating device 300 has a coating liquid pump 310 filled with a photoresist liquid 313, stretches the hollow pipe-shaped capillary 320 downward, installs it, and delivers the photoresist liquid 313 continuously from a liquid outlet 325 in the capillary 320 onto the surface of the substrate 100. The photoresist liquid 313 is a black negative type photoresist having a viscosity of 2-10 cps, and the moving locus is a spiral moving locus.

Description

本発明はパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法に関し、特にフォトレジスト塗布手段を利用し、パネル上に装飾フレーム薄膜図案層を形成する製造方法に関する。   The present invention relates to a method for producing a panel decorative frame thin film design layer, and more particularly to a method for producing a decorative frame thin film design layer on a panel using a photoresist coating means.

典型的なタッチパネル構造は、タッチセンサー絶縁を、頂点板と基板との間に設置する。次に、スタック板の周縁部位に、信号導線を設置し、タッチセンサー上の信号を、信号処理回路に伝送する。通常は、パネルの辺縁部位に、薄膜図案層を設置し、装飾フレームを形成する。これにより、周縁部位の信号導線を遮蔽し、タッチパネルの平坦で整った外観を確保し、タッチパネル周辺配線を保護する機能をも達成する。現在業界では、薄膜図案層の製造には、主に湿式塗布プロセスが用いられ、回転塗布法(spin coating)、或いはスロット塗布法(slot coating)により、フォトレジストを材料上に均一に塗布して膜状とする。回転塗布法は、必要なフォトレジスト液を基板上に滴らせ、さらに基板を高速で回転させ遠心力を生じさせ、フォトレジスト液を基板外へと放出する。基板の迅速な回転に従い、フォトレジスト液は基板表面を全面的に覆い、均一な厚みの薄膜ができあがる。しかし、製造工程のさまざまな素因が、完成品の品質に深く関わっている。例えば、塗布液種類、及び調合する溶剤の揮発性が、塗布膜の最終的な厚みを決定している。フォトレジスト液は、高速気流の影響で揮発し、組成はこれに従い変化し、多くの欠点を引き起こしやすくなる。基板のサイズが大きくなると、塗布の均一性保持はますます困難になる。また、製造プロセスにおけるフォトレジスト液の供給量は、実際に必要な量よりもはるかに多いが、通常フォトレジスト液は非常に高価であり、よって原料コストの深刻な浪費を招いている。またたとえ、フォトレジスト液の回収設備を設置していたとしても、これが生産コストの増加を招く結果となっている。一方、スロット式塗布法は、フォトレジスト液を、精密定量ポンプにより、搾り出し型の膜ヘッドに送り、基板が膜ヘッド下方へと移動すると、フォトレジスト液は基板に接触し膜が形成される。基板が膜ヘッド下方を離れると、フォトレジスト液と基板との接触が断たれる。これは、フォトレジスト液の利用率が100%に近いという長所を備えるが、機械設備の精密度要求が高いため、製品の生産コストを引き上げてしまっている。本発明は、従来のパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法の上記した欠点に鑑みてなされたものである。   A typical touch panel structure places touch sensor insulation between the apex plate and the substrate. Next, a signal conducting wire is installed at the peripheral portion of the stack plate, and a signal on the touch sensor is transmitted to the signal processing circuit. Normally, a decorative frame is formed by installing a thin film design layer on the edge of the panel. Thereby, the signal conducting wire at the peripheral portion is shielded, the flat and well-formed appearance of the touch panel is ensured, and the function of protecting the touch panel peripheral wiring is also achieved. Currently, in the industry, a thin coating layer is mainly manufactured by a wet coating process, and a photoresist is uniformly coated on a material by a spin coating method or a slot coating method. A film is used. In the spin coating method, a necessary photoresist solution is dropped on the substrate, and the substrate is rotated at a high speed to generate a centrifugal force, thereby releasing the photoresist solution to the outside of the substrate. As the substrate rotates rapidly, the photoresist solution covers the entire surface of the substrate, and a thin film having a uniform thickness is completed. However, various predisposing factors in the manufacturing process are deeply related to the quality of the finished product. For example, the type of coating liquid and the volatility of the solvent to be formulated determine the final thickness of the coating film. The photoresist liquid volatilizes under the influence of high-speed air current, the composition changes accordingly, and many defects are likely to occur. As the size of the substrate increases, it becomes increasingly difficult to maintain uniformity of coating. Further, the supply amount of the photoresist solution in the manufacturing process is much larger than the actually required amount, but the photoresist solution is usually very expensive, resulting in a serious waste of raw material costs. Even if a photoresist liquid recovery facility is installed, this results in an increase in production costs. On the other hand, in the slot type coating method, when a photoresist solution is sent to a squeeze-type film head by a precision metering pump and the substrate moves downward, the photoresist solution contacts the substrate to form a film. When the substrate leaves the lower part of the film head, the contact between the photoresist liquid and the substrate is broken. This has the advantage that the utilization rate of the photoresist solution is close to 100%, but the demand for precision of the mechanical equipment is high, which raises the production cost of the product. The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks of the conventional method for producing a panel decorative frame thin film design layer.

本発明が解決しようとする課題は、フォトレジストの使用率を大幅に高めることができ、加工プロセスをシンプルにし、材料コストと生産コストを低下させ、しかも塗布加工の図案とサイズは一切の制限を受けず、厚みが均一な薄膜図案層を形成でき、しかもその光学密度は同一性が高く、色差が発生しにくいパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法を提供することである。   The problem to be solved by the present invention is that the usage rate of the photoresist can be greatly increased, the processing process is simplified, the material cost and the production cost are reduced, and the design and size of the coating process are not limited at all. The present invention is to provide a method for producing a panel decoration frame thin film design layer that can form a thin film design layer having a uniform thickness and that has a high optical density and is unlikely to cause a color difference.

上記課題を解決するため、本発明は下記のパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法を提供する。
パネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法は、以下のステップを含み、
(1) 平面方高光透過率基板を提供し、
(2) 毛細管塗布装置により、フォトレジスト液を毛細管液出口から該基板上へと塗布し、該毛細管塗布装置と該基板との間は、順番に所定の移動軌跡に基づき相対運動を行い、これにより該基板上には所定のフォトレジスト図案を形成し、
(3) フォトレジストを固化し、該基板上にフォトレジスト図案薄膜層を形成し、
該基板は平面式薄板で、ガラス、或いはポリカーボネート(PC)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、或いはシクロオレフィンコポリマー(COC)などから選択することができるが、実施の材料は、上記に限定せず、各軟性、硬性、或いはフレキシブル性の透明基板を採用することができ、
該毛細管塗布装置は、フォトレジスト液を充填する塗布液ポンプを備え、該塗布液ポンプは、毛細管を下方へと延伸して設置し、しかも該毛細管の液出口と該基板との間は、0.5mm〜5mmの垂直距離を保持し、
該塗布液ポンプは、フォトレジスト液を該毛細管中に押し入れ、これによりフォトレジスト液は、該毛細管の液出口から、該基板表面へと連続して送り出され、
該毛細管の内径は、10μm〜500μmで、
該パネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法はさらに、該毛細管塗布装置は複数の毛細管を備え、しかも該各毛細管は、直線に排列し、或いはアレー型を呈して排列し、塗布効率と塗布の均一度を向上させることができ、
該フォトレジスト液の粘度値は、2〜10cps(Centipoise)で、
該フォトレジスト液は、黒色或いは有色のネガティブ型フォトレジストで、
該移動軌跡は、螺旋状移動軌跡、往復平行式移動軌跡、非直線型の連続移動軌跡、或いは他の各種幾何学線が組成する移動軌跡の内のいずれかであるが、実施の範囲はこれに限定するものではなく、実際の応用においては、上記した各移動軌跡は、パラメーターに基づき最適な設定を行い、形成する必要があるフォトレジスト図案を塗布し、
該フォトレジスト固化は、以下のステップにより達成され、
(1) 表面にネガティブ型フォトレジスト図案を備える基板を提供し、
(2) 基板に対してソフトベークを行う:60℃〜90℃の熱風で該基板上のフォトレジスト図案に約100〜140秒(Sec.)のベーク工程を実施し、次に常温まで徐々に温度を下げ、
(3) 該ネガティブ型フォトレジスト図案に対して露光とリソグラフを行う:エネルギー量150〜250MJ/cm2の紫外線光源を、該ネガティブ型フォトレジスト図案に照射し、全面積に露光を行い、噴射圧約0.5kg/ cm2のリソグラフ剤を、該基板上のフォトレジスト図案に噴射し、
(4) 該基板に対してハードベークを行う:210〜250℃の熱風で、該基板上のフォトレジスト図案に対して25〜35分(Min.)のベークプロセスを実施し、これにより該基板上には、必要な固化フォトレジスト図案薄膜層が形成される。
In order to solve the above problems, the present invention provides the following method for producing a panel decorative frame thin film design layer.
The method for producing a panel decorative frame thin film design layer includes the following steps:
(1) Provide a planar high light transmittance substrate,
(2) A photoresist coating solution is applied onto the substrate from the capillary solution outlet by a capillary coating device, and a relative motion is sequentially performed between the capillary coating device and the substrate based on a predetermined movement trajectory. To form a predetermined photoresist pattern on the substrate,
(3) solidify the photoresist and form a photoresist design thin film layer on the substrate;
The substrate is a flat thin plate, and can be selected from glass, polycarbonate (PC), polyethylene terephthalate (PET), polymethyl methacrylate (PMMA), cycloolefin copolymer (COC), etc. Without being limited to the above, each flexible, hard, or flexible transparent substrate can be employed,
The capillary coating apparatus includes a coating liquid pump that fills with a photoresist liquid, and the coating liquid pump is installed by extending the capillary downward, and between the liquid outlet of the capillary and the substrate is 0. Maintain a vertical distance of 5mm to 5mm,
The coating solution pump pushes the photoresist solution into the capillary tube, whereby the photoresist solution is continuously sent from the liquid outlet of the capillary tube to the substrate surface,
The inner diameter of the capillary tube is 10 μm to 500 μm,
In the method of manufacturing the panel decorative frame thin film design layer, the capillary coating device further includes a plurality of capillaries, and the capillaries are arranged in a straight line or arranged in an array shape so that the coating efficiency and the coating are uniform. Can improve once,
The viscosity value of the photoresist solution is 2 to 10 cps (Centipoise),
The photoresist solution is a black or colored negative photoresist,
The movement trajectory is any one of a spiral movement trajectory, a reciprocating parallel movement trajectory, a non-linear continuous movement trajectory, and a movement trajectory composed of various other geometric lines. In actual application, each movement trajectory described above is optimally set based on parameters, applied with a photoresist pattern that needs to be formed,
The photoresist solidification is achieved by the following steps:
(1) Provide a substrate with a negative photoresist pattern on the surface,
(2) Soft baking is performed on the substrate: The photoresist pattern on the substrate is subjected to a baking process of about 100 to 140 seconds (Sec.) With hot air of 60 ° C. to 90 ° C., and then gradually to room temperature. Lower the temperature,
(3) Perform exposure and lithography on the negative photoresist design: irradiate the negative photoresist design with an ultraviolet light source having an energy amount of 150 to 250 MJ / cm 2 , expose the entire area, and reduce the injection pressure to about Spraying 0.5 kg / cm 2 of lithographic agent onto the photoresist pattern on the substrate;
(4) Hard baking the substrate: The photoresist pattern on the substrate is subjected to a baking process of 25 to 35 minutes (Min.) With hot air of 210 to 250 ° C. On top of this, the necessary solidified photoresist pattern thin film layer is formed.

該固化フォトレジストは、以下のステップにより達成され、
(1) 表面にフォトレジスト図案を形成する基盤を提供し、
(2) 該基板に対してソフトベークを行う:60℃〜90℃の熱風で該基板上のフォトレジスト図案に約100〜140秒(Sec.)のベーク工程を実施し、次に常温まで徐々に温度を下げ、
(3) 該フォトレジスト図案に対して露光を行う:エネルギー量150〜250MJ/cm2の紫外線光源を照射し、及び精密図案化されたフォトマスクを、該フォトレジスト図案と光源との間に設置し、該フォトレジスト図案との間で30μm〜80μmの間隙を保持し、該フォトレジスト図案を露光し、こうして該フォトマスク上の所定の図案を該フォトレジスト図案上に移転させ、
(4) 該フォトレジスト図案に対してリソグラフを行い、噴射圧約0.5kg/ cm2のリソグラフ剤を、該フォトレジスト図案に対して噴射し、さらに噴射圧約0.5kg/ cm2の洗浄液を噴射して洗浄し、不要な該フォトレジスト図案のフォトマスク材料部分を除去し、
該基板に対してハードベークを行う:210〜250℃の熱風で、該基板上のフォトレジスト図案に対して25〜35分(Min.)のベークプロセスを実施し、これにより該基板上には、必要な固化フォトレジスト図案薄膜層が形成される。
The solidified photoresist is achieved by the following steps:
(1) Providing a foundation for forming a photoresist pattern on the surface,
(2) Soft baking is performed on the substrate: a photoresist pattern on the substrate is subjected to a baking process of about 100 to 140 seconds (Sec.) With hot air of 60 ° C. to 90 ° C., and then gradually to room temperature. Lower the temperature to
(3) Exposing the photoresist pattern: irradiating with an ultraviolet light source having an energy amount of 150 to 250 MJ / cm 2 , and placing a precision-designed photomask between the photoresist pattern and the light source Maintaining a gap of 30 μm to 80 μm with the photoresist design, exposing the photoresist design, thus transferring a predetermined design on the photomask onto the photoresist design,
(4) performs a lithographic against the photoresist design, injection lithographic agent injection pressure of about 0.5 kg / cm 2, and the injection with respect to the photoresist design, a further injection pressure of about 0.5 kg / cm 2 cleaning solution To remove unnecessary photomask material portions of the photoresist pattern,
Hard baking is performed on the substrate: The photoresist pattern on the substrate is subjected to a baking process of 25 to 35 minutes (Min.) With hot air of 210 to 250 ° C. The required solidified photoresist pattern thin film layer is formed.

本発明のパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法は、フォトレジストの使用率を大幅に高めることができ、加工プロセスをシンプルにし、材料コストと生産コストを低下させ、しかも塗布加工の図案とサイズは一切の制限を受けず、厚みが均一な薄膜図案層を形成でき、しかもその光学密度は同一性が高く、色差が発生しにくい。   The panel decoration frame thin film design layer manufacturing method of the present invention can greatly increase the usage rate of the photoresist, simplify the processing process, reduce the material cost and production cost, and the design and size of the coating process is A thin film design layer having a uniform thickness can be formed without any limitation, and the optical density is high and color difference is unlikely to occur.

本発明の毛細管塗布装置と、被加工基板との間の設置表示図である。It is an installation display figure between the capillary coating device of this invention, and a to-be-processed substrate. 本発明の毛細管が、フォトレジストを基板に塗布する様子を示す表示図である。It is a display figure which shows a mode that the capillary tube of this invention apply | coats a photoresist to a board | substrate. 多数の毛細管が直線に排列し、フォトレジスト塗布を行う様子を示す俯瞰表示図である。It is an overhead view which shows a mode that many capillaries arrange in a straight line, and apply | coat a photoresist. 多数の毛細管が、アレー排列により、フォトレジスト塗布を行う様子を示す俯瞰表示図である。It is a bird's-eye view display figure showing signs that many capillaries perform photoresist application by array arrangement. 本発明の毛細管が、フォトレジストを塗布する際の移動の軌跡を示す表示図である。It is a display figure which shows the locus | trajectory of the movement at the time of the capillary tube of this invention apply | coating a photoresist. 本発明の毛細管が、フォトレジストを塗布する際の別種の移動の軌跡を示す表示図である。It is a display figure which shows the locus | trajectory of another kind of movement at the time of the capillary tube of this invention apply | coating a photoresist. 本発明の毛細管が、フォトレジストを塗布する際のさらに別種の移動の軌跡を示す表示図である。It is a display figure which shows the locus | trajectory of another kind of movement at the time of the capillary tube of this invention apply | coating a photoresist. 本発明が、フォトレジスト図案の露光を行う様子を示す表示図である。It is a display figure which shows a mode that this invention performs exposure of a photoresist design. 本発明基板上の固化フォトレジスト図案薄膜層の断面表示図である。It is a cross-sectional display figure of the solidified photoresist design thin film layer on this invention board | substrate. 本発明において、フォトマスクにより、フォトレジスト図案に対して露光を行う様子を示す表示図である。In this invention, it is a display figure which shows a mode that exposure is performed with respect to a photoresist design with a photomask. 本発明のフォトレジスト図案薄膜層完成品の測定サンプル点の平面表示図である。It is a plane display figure of the measurement sample point of the photoresist design thin film layer completed product of this invention.

以下に図面を参照しながら、本発明が提供するパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法の製造ステップについて詳細に説明する。   Hereinafter, the manufacturing steps of the method for manufacturing a panel decoration frame thin film design layer provided by the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

先ず、平面型基板100を提供する。それは、接触角が10度以下の高い光透過率を備える板材で、しかもその表面は清潔に洗浄されていることが好ましく、基板は加工台200上に固定して設置する。本実施例中では、基板100の材料はガラスを選択するが、基板材料は、ポリカーボネート(PC)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、或いはシクロオレフィンコポリマー(COC)などから選択することができる。次に、加工台200を毛細管塗布装置300の下方に移動させ、設定位置を調整する。これにより、塗布装置の液出口325と加工台200上の基板100との間は、約3mmの垂直距離を保持する。図1に示すように、毛細管塗布装置300は、塗布液ポンプ310、毛細管320を備える。塗布液ポンプ310は、ステンレス材質の毛細管320を下方へと延伸して設置する。通常、毛細管は100μmの管内径を備える。塗布液ポンプ310内には、特別に選択したフォトレジスト液313を充填する。本実施例で用いるフォトレジスト液は、ポリイソプレン(polyisoprene)などの粘度値が2〜10cpsの黒色ネガティブ型フォトレジストである。図2に示すように、毛細管塗布装置300は、塗布液ポンプ310が加圧することで、フォトレジスト液313は、毛細管320内管を通過し、液出口325に到達し、基板100表面に塗布される。上記した毛細管塗布装置300には、複数の毛細管を設置することができ、複数の各毛細管は、直線に排列(図3参照)し、或いはアレー型に排列(図4参照)することができ、こうして塗布効率と塗布の均一度を高めることができる。   First, the planar substrate 100 is provided. It is a plate material having a high light transmittance with a contact angle of 10 degrees or less, and its surface is preferably cleaned cleanly, and the substrate is fixedly installed on the processing table 200. In this embodiment, glass is selected as the material of the substrate 100, but the substrate material is selected from polycarbonate (PC), polyethylene terephthalate (PET), polymethyl methacrylate (PMMA), cycloolefin copolymer (COC), and the like. be able to. Next, the processing table 200 is moved below the capillary applicator 300 to adjust the setting position. Thus, a vertical distance of about 3 mm is maintained between the liquid outlet 325 of the coating apparatus and the substrate 100 on the processing table 200. As shown in FIG. 1, the capillary applicator 300 includes an application liquid pump 310 and a capillary 320. The coating liquid pump 310 is installed by extending a stainless steel capillary 320 downward. Capillaries usually have a tube inner diameter of 100 μm. The coating liquid pump 310 is filled with a specially selected photoresist liquid 313. The photoresist solution used in this example is a black negative photoresist having a viscosity value of 2 to 10 cps such as polyisoprene. As shown in FIG. 2, in the capillary coating device 300, the photoresist liquid 313 passes through the inner tube of the capillary 320, reaches the liquid outlet 325, and is applied to the surface of the substrate 100 when the coating liquid pump 310 pressurizes. The A plurality of capillaries can be installed in the capillary applicator 300 described above, and a plurality of capillaries can be arranged in a straight line (see FIG. 3) or arranged in an array type (see FIG. 4). Thus, the application efficiency and the uniformity of application can be increased.

続いて、フォトレジスト塗布を開始する。塗布液ポンプ310に対して加圧を続け、約1Mpaの窒素を充填する。これにより、フォトレジスト液313を毛細管320中に押し入れる。こうして、フォトレジスト液313は、毛細管320の液出口325から連続して基板100表面へと送り出される。同時に、加工台200は、所定の軌跡Tに基づき移動を開始する。こうして、毛細管320が吐き出すフォトレジスト液313は、基板100表面において、必要とするフォトレジスト図案Pを形成する(図2参照)。本実施例では、所定軌跡Tは、時計回り内向きの螺旋状移動軌跡で、これによりフォトレジスト液313は、基板100の枠縁部位に沿って環状に移動することができ、基板表面に向かい、内側へと徐々に塗布することができる。図5に示すように、上記した所定の移動軌跡は、螺旋状移動軌跡に限定するものではなく、他の形式の移動軌跡も実施可能である。例えば、往復平行式移動軌跡(図6参照)、非直線型の連続移動軌跡(図7参照)、或いは他の各種幾何学線が組成する移動軌跡とすることもできる。実際の応用においては、上記した各移動軌跡は、パラメーターに基づき最適な設定を行い、形成する必要があるフォトレジスト図案を塗布する。   Subsequently, photoresist coating is started. The coating liquid pump 310 is continuously pressurized and filled with about 1 Mpa of nitrogen. As a result, the photoresist solution 313 is pushed into the capillary tube 320. Thus, the photoresist liquid 313 is continuously sent out from the liquid outlet 325 of the capillary 320 to the surface of the substrate 100. At the same time, the processing table 200 starts to move based on a predetermined trajectory T. Thus, the photoresist solution 313 discharged from the capillary 320 forms a required photoresist pattern P on the surface of the substrate 100 (see FIG. 2). In this embodiment, the predetermined trajectory T is a spiral movement trajectory inward in the clockwise direction, whereby the photoresist liquid 313 can move in an annular manner along the frame edge portion of the substrate 100 and face the substrate surface. Can be applied gradually inward. As shown in FIG. 5, the predetermined movement trajectory described above is not limited to a spiral movement trajectory, and other types of movement trajectories can be implemented. For example, it may be a reciprocating parallel movement trajectory (see FIG. 6), a non-linear continuous movement trajectory (see FIG. 7), or a movement trajectory composed of various other geometric lines. In an actual application, the above-mentioned movement trajectories are set optimally based on parameters, and a photoresist pattern that needs to be formed is applied.

最後に、フォトレジスト固化手段を利用し、基板100上にフォトレジスト図案薄膜層を形成する。本実施例では、基板100表面には、ネガティブ型フォトレジスト図案を塗布する。よって、そのフォトレジスト固化手段は、以下の3ステップを含む。
(1) ソフトベークを行う:基板100を熱風オーブン中に入れ、約80℃の熱風で基板上のフォトレジスト図案に約120秒(Sec.)のベーク工程を実施する。次に、常温(約25℃)まで徐々に温度を下げ、ネガティブ型フォトレジスト図案の基板表面における付着力を向上させる。
(2) 露光とリソグラフを行う:ソフトベークが完了した基板を露光機に入れ、エネルギー量約200MJ/cm2の紫外線光源Lを、基板上のネガティブ型フォトレジスト図案Pに照射し、全面積に露光を行う(図8参照)。これにより、フォトレジスト図案は重合反応を生じ、阻剤効果を形成する。露光プロセスの後に、噴射圧約0.5kg/ cm2のリソグラフ剤(キシレンなど)を、基板上のフォトレジスト図案に噴射し、基板上に必要とする固化フォトレジスト図案PFを形成する(図9参照)。上記の説明により明らかなように、露光とリソグラフプロセスは、すでに塗布されたフォトレジスト図案に対して一切の修飾を行わない状況で、全面積のフォトレジスト図案に対して露光とリソグラフを直接行う。よって、塗布されたフォトレジスト図案全体は、固化され、フォトレジスト図案薄膜層を形成する。こうして、フォトレジストは100%使用されるばかりか、余分なフォトレジスト図案層の清掃プロセスを省くことができ、生産コストを大幅に圧縮することができる。上記した手段により形成されたフォトレジスト図案薄膜層は、一般のタッチパネルの装飾フレーム薄膜図案層として十分応用することができる。しかし、特別な図案が必要、或いは構図がより複雑、より精密なフォトレジスト図案が求められるなどの特別な状況においては、上記した露光プロセス中に、精密図案化の石英ガラスフォトマスク600を増設することができる。これにより、石英ガラスフォトマスク600を光源Lとフォトレジスト図案Pとの間に設置し、フォトレジスト図案との間で約50μmの間隙を保持する。こうして、各種特殊なニーズのフォトレジスト図案を精密露光することができる。上記したフォトマスクプロセスの後、上記のリソグラフ剤を基板上のフォトレジスト図案に噴射する他、さらに噴射圧約0.5kg/ cm2の洗浄液(小脂肪酸、或いは真水)により、フォトレジスト図案に対して洗浄する。上記したリソグラフプロセスを利用し、未露光のネガティブ型フォトレジスト材料を除去し、こうして基板上には、固化された精密薄膜図案層が形成される。
(3) ハードベーク:露光とリソグラフプロセスが終わった基板を、熱風オーブン中に入れ、約230℃の熱風で、基板上のフォトレジスト図案に対して約30分(Min.)のベークプロセスを実施する。これにより、残余溶剤を除去し、フォトレジストが形成する薄膜図案層の強度を高める。
Finally, a photoresist design thin film layer is formed on the substrate 100 using a photoresist solidifying means. In this embodiment, a negative photoresist pattern is applied to the surface of the substrate 100. Therefore, the photoresist solidifying means includes the following three steps.
(1) Perform soft baking: The substrate 100 is placed in a hot air oven, and a baking process of about 120 seconds (Sec.) Is performed on the photoresist pattern on the substrate with hot air of about 80 ° C. Next, the temperature is gradually lowered to room temperature (about 25 ° C.) to improve the adhesion of the negative photoresist pattern on the substrate surface.
(2) Perform exposure and lithography: put the substrate after soft baking into the exposure machine and irradiate the negative photoresist pattern P on the substrate with an ultraviolet light source L with an energy amount of about 200 MJ / cm 2 to cover the entire area. Exposure is performed (see FIG. 8). This causes the photoresist design to undergo a polymerization reaction and form an inhibitor effect. After the exposure process, a lithographic agent (such as xylene) having an injection pressure of about 0.5 kg / cm 2 is sprayed onto the photoresist pattern on the substrate to form a necessary solidified photoresist pattern PF on the substrate (see FIG. 9). ). As is apparent from the above description, the exposure and lithographic process directly exposes and lithographs the entire area of the photoresist design without any modification to the already applied photoresist design. Thus, the entire applied photoresist design is solidified to form a photoresist design thin film layer. Thus, not only 100% of the photoresist is used, but the process of cleaning an extra photoresist design layer can be omitted, and the production cost can be greatly reduced. The photoresist design thin film layer formed by the above-described means can be sufficiently applied as a decorative frame thin film design layer of a general touch panel. However, in a special situation where a special design is required or a more complicated and more precise photoresist design is required, a quartz glass photomask 600 with a precise design is added during the above exposure process. be able to. Thereby, the quartz glass photomask 600 is installed between the light source L and the photoresist design P, and a gap of about 50 μm is maintained between the photoresist design and the photoresist design P. In this way, it is possible to precisely expose photoresist designs having various special needs. After the above-described photomask process, the above lithographic agent is sprayed onto the photoresist pattern on the substrate, and further, a cleaning solution (small fatty acid or fresh water) with an injection pressure of about 0.5 kg / cm 2 is applied to the photoresist pattern. Wash. Using the lithographic process described above, the unexposed negative photoresist material is removed, thus forming a solidified precision thin film design layer on the substrate.
(3) Hard baking: The substrate after the exposure and lithographic process is placed in a hot air oven, and the baking process is performed for about 30 minutes (Min.) On the photoresist pattern on the substrate with hot air of about 230 ° C. To do. This removes the residual solvent and increases the strength of the thin film design layer formed by the photoresist.

上記した各加工ステップの完成により、基板100の周縁枠範囲には、固化フォトレジスト図案薄膜層PFが形成される。薄膜層PF完成品に対してサンプル実測(測定サンプル点は、図11参照)を行ったところ、その平均膜厚は、1.45±0.01μmで、平均光学密度値(Dynamic Range)は4.5±0.1である(表一参照)。

Figure 2012091120
本発明の方法により、基板100表面の周縁枠範囲には、薄膜図案層が形成され、タッチパネルの装飾フレームとされ、これによりその周縁部位の信号導線を遮蔽することができ、タッチパネルの平坦で整った外観を確保することができる。 By completing each processing step described above, a solidified photoresist pattern thin film layer PF is formed in the peripheral frame range of the substrate 100. When actual measurement of the thin film layer PF finished product was performed (refer to FIG. 11 for measurement sample points), the average film thickness was 1.45 ± 0.01 μm, and the average optical density value (Dynamic Range) was 4. .5 ± 0.1 (see Table 1).
Figure 2012091120
According to the method of the present invention, a thin film design layer is formed in the peripheral frame area on the surface of the substrate 100 to form a decorative frame for the touch panel, whereby the signal conductors in the peripheral area can be shielded, and the touch panel is flat and arranged. The appearance can be secured.

上記したように、本発明はタッチパネル産業への応用に適しており、現在の関連技術と比較すると、以下の長所を備える。
(1) 本発明は、フォトレジストの使用率を100%にまで高めることができ、フォトレジストの材料コストを大幅に節減することができ、さらにフォトマスク露光、及び不要な図案層部分を除去するクリーンプロセスを省くことができ、加工プロセスをシンプルにし、生産コストを引き下げることができる。
(2) 加工基板のサイズ、及び塗布加工の形状(図案)には、制限がない。
(3) 形成された薄膜図案層の厚みは均一で、しかもその光学密度は同一性が高く、色差が発生しにくい。
(4) 本発明は製造工程をシンプルにすることで、生産コストを引き下げられるばかりか、製品の歩留まりを上げることもできる。
As described above, the present invention is suitable for application to the touch panel industry, and has the following advantages as compared with the current related technology.
(1) The present invention can increase the usage rate of the photoresist to 100%, greatly reduce the material cost of the photoresist, and further remove the photomask exposure and unnecessary design layer portions. The clean process can be omitted, the machining process can be simplified, and the production cost can be reduced.
(2) There are no restrictions on the size of the processed substrate and the shape (design) of the coating process.
(3) The thickness of the formed thin film design layer is uniform, and its optical density is high, and color difference is unlikely to occur.
(4) By simplifying the manufacturing process, the present invention can not only reduce the production cost but also increase the product yield.

上記の本発明名称と内容は、本発明技術内容の説明に用いたのみで、本発明を限定するものではない。本発明の精神に基づく等価応用或いは部品(構造)の転換、置換、数量の増減はすべて、本発明の保護範囲に含むものとする。例えば、上記した実施例中では、ネガティブ型フォトレジスト材料を採用しているが、ポジティブ型フォトレジスト材料を使用することもできる。その際には、それに対応するフォトマスク設計、及び製造プロセス中露光位置材料は、残す或いは除去に差異があるが、本発明の実施には影響がない。   The above-mentioned names and contents of the present invention are only used for explaining the technical contents of the present invention, and do not limit the present invention. All equivalent applications or parts (structures) conversion, replacement and increase / decrease in quantity based on the spirit of the present invention shall be included in the protection scope of the present invention. For example, in the above-described embodiments, a negative type photoresist material is used, but a positive type photoresist material can also be used. In this case, the corresponding photomask design and the exposure position material during the manufacturing process are left or removed, but this does not affect the implementation of the present invention.

本発明は特許の要件である新規性を備え、従来の同類製品に比べ十分な進歩を有し、実用性が高く、社会のニーズに合致しており、産業上の利用価値は非常に大きい。   The present invention has the novelty that is a requirement of patents, has sufficiently advanced as compared with conventional similar products, has high practicality, meets the needs of society, and has a great industrial utility value.

100 基板
200 加工台
300 毛細管塗布装置
310 塗布液ポンプ
313 フォトレジスト液
320 毛細管
325 液出口
600 石英ガラスフォトマスク
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Substrate 200 Processing stand 300 Capillary coating device 310 Coating liquid pump 313 Photoresist liquid 320 Capillary 325 Liquid outlet 600 Quartz glass photomask

Claims (10)

パネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法は、以下のステップを含み、
平面型基板を提供し、
毛細管塗布装置により、フォトレジスト液を、毛細管から噴出し、基板上に塗布し、前記毛細管塗布装置と前記基板との間は、順番に所定の移動軌跡に基づき相対運動を行い、これにより前記基板上には所定のフォトレジスト図案を形成し、
フォトレジストを固化し、前記基板上にフォトレジスト図案薄膜層を形成することを特徴とするパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法。
The method for producing a panel decorative frame thin film design layer includes the following steps:
Providing a planar substrate,
A photoresist coating solution is ejected from the capillary tube by the capillary coating device and applied onto the substrate, and the capillary coating device and the substrate sequentially move based on a predetermined movement trajectory, and thereby the substrate. A predetermined photoresist pattern is formed on the top,
A method for producing a panel decoration frame thin film design layer, comprising solidifying a photoresist and forming a photoresist design thin film layer on the substrate.
前記基板は平面式薄板で、その材料はポリカーボネート(PC)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、或いはシクロオレフィンコポリマー(COC)などから選択する軟性、硬性、或いはフレキシブル性の透明薄板材料であることを特徴とする請求項1に記載のパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法。   The substrate is a planar thin plate, and the material thereof is a flexible, hard, or flexible transparent thin plate selected from polycarbonate (PC), polyethylene terephthalate (PET), polymethyl methacrylate (PMMA), or cycloolefin copolymer (COC). 2. The method for producing a panel decoration frame thin film design layer according to claim 1, wherein the material is a material. 前記毛細管塗布装置は、フォトレジスト液を充填する塗布液ポンプを備え、前記塗布液ポンプは、毛細管を下方へと延伸して設置し、しかも前記毛細管の液出口と前記基板との間は、0.5mm〜5mmの垂直距離を保持し、
前記塗布液ポンプは、フォトレジスト液を前記毛細管中に押し入れ、これによりフォトレジスト液は、前記毛細管の液出口から、前記基板表面へと連続して送り出されることを特徴とする請求項1に記載のパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法。
The capillary coating apparatus includes a coating liquid pump that fills with a photoresist liquid, and the coating liquid pump is installed by extending the capillary downward, and a gap between the capillary outlet and the substrate is 0. Maintain a vertical distance of 5mm to 5mm,
The said coating liquid pump pushes a photoresist liquid in the said capillary, and, thereby, a photoresist liquid is continuously sent out from the liquid outlet of the said capillary to the said substrate surface. Method for producing a panel decoration frame thin film design layer.
前記毛細管の内径は、10μm〜500μmであることを特徴とする請求項3に記載のパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法。   4. The method of manufacturing a panel decoration frame thin film pattern layer according to claim 3, wherein the capillary has an inner diameter of 10 [mu] m to 500 [mu] m. 前記パネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法はさらに、前記毛細管塗布装置は複数の毛細管を備え、しかも前記各毛細管は、直線に排列し、或いはアレー型を呈して排列することを特徴とする請求項3に記載のパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法。   The method for manufacturing the panel decoration frame thin film design layer further includes the capillary coating device including a plurality of capillaries, and the capillaries are arranged in a straight line or arranged in an array shape. 4. A method for producing a panel decorative frame thin film design layer according to 3. 前記フォトレジスト液の粘度値は、2〜10cpsであることを特徴とする請求項1に記載のパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法。   2. The method of manufacturing a panel decoration frame thin film pattern layer according to claim 1, wherein the photoresist solution has a viscosity value of 2 to 10 cps. 前記フォトレジスト液は、黒色或いは有色のネガティブ型フォトレジストであることを特徴とする請求項1に記載のパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法。   2. The method of manufacturing a panel decoration frame thin film pattern layer according to claim 1, wherein the photoresist solution is a black or colored negative photoresist. 前記移動軌跡は、螺旋状移動軌跡、往復平行式移動軌跡、非直線型の連続移動軌跡、或いは他の各種幾何学線が組成する移動軌跡の内のいずれかであることを特徴とする請求項1に記載のパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法。   The movement trajectory is any one of a spiral movement trajectory, a reciprocating parallel movement trajectory, a non-linear continuous movement trajectory, and a movement trajectory composed of other various geometric lines. 2. A method for producing a panel decorative frame thin film design layer according to 1. 前記フォトレジスト固化は、以下のステップにより達成され、
表面にネガティブ型フォトレジスト図案を備える基板を提供し、
前記基板に対してソフトベークを行う:60℃〜90℃の熱風で前記基板上のフォトレジスト図案に約100〜140秒(Sec.)のベーク工程を実施し、次に常温まで徐々に温度を下げ、
前記ネガティブ型フォトレジスト図案に対して露光とリソグラフを行う:エネルギー量150〜250MJ/cm2の紫外線光源を、前記ネガティブ型フォトレジスト図案に照射し、全面積に露光を行い、噴射圧約0.5kg/ cm2のリソグラフ剤を、前記基板上のフォトレジスト図案に噴射し、
前記基板に対してハードベークを行う:210〜250℃の熱風で、前記基板上のフォトレジスト図案に対して25〜35分(Min.)のベークプロセスを実施し、これにより前記基板上には、必要な固化フォトレジスト図案薄膜層が形成されることを特徴とする請求項1に記載のパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法。
The photoresist solidification is achieved by the following steps:
Providing a substrate with a negative photoresist pattern on the surface,
Soft baking is performed on the substrate: The photoresist pattern on the substrate is subjected to a baking process of about 100 to 140 seconds (Sec.) With hot air of 60 ° C. to 90 ° C., and then the temperature is gradually increased to room temperature. Lower,
The negative photoresist pattern is exposed and lithographed: an ultraviolet light source having an energy amount of 150 to 250 MJ / cm 2 is applied to the negative photoresist pattern to expose the entire area, and an injection pressure of about 0.5 kg is applied. / cm 2 of lithographic agent is sprayed onto the photoresist pattern on the substrate,
Hard baking the substrate: The photoresist pattern on the substrate is subjected to a baking process of 25 to 35 minutes (Min.) With hot air of 210 to 250 ° C. 2. The method for producing a panel decoration frame thin film design layer according to claim 1, wherein a necessary solidified photoresist design thin film layer is formed.
前記パネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法において、固化フォトレジストは、以下のステップにより達成され、
表面にフォトレジスト図案を形成する基盤を提供し、
前記基板に対してソフトベークを行う:60℃〜90℃の熱風で前記基板上のフォトレジスト図案に約100〜140秒(Sec.)のベーク工程を実施し、次に常温まで徐々に温度を下げ、
前記フォトレジスト図案に対して露光を行う:エネルギー量150〜250MJ/cm2の紫外線光源を照射し、及び精密図案化されたフォトマスクを、前記フォトレジスト図案と光源との間に設置し、前記フォトレジスト図案との間で30μm〜80μmの間隙を保持し、前記フォトレジスト図案を露光し、こうして前記フォトマスク上の所定の図案を前記フォトレジスト図案上に移転させ、
前記フォトレジスト図案に対してリソグラフを行い、噴射圧約0.5kg/ cm2のリソグラフ剤を、前記フォトレジスト図案に対して噴射し、さらに噴射圧約0.5kg/ cm2の洗浄液を噴射して洗浄し、不要な前記フォトレジスト図案のフォトマスク材料部分を除去し、
前記基板に対してハードベークを行う:210〜250℃の熱風で、前記基板上のフォトレジスト図案に対して25〜35分(Min.)のベークプロセスを実施し、これにより前記基板上には、必要な固化フォトレジスト図案薄膜層が形成されることを特徴とする請求項1に記載のパネル装飾フレーム薄膜図案層の製造方法。
In the method of manufacturing the panel decoration frame thin film design layer, the solidified photoresist is achieved by the following steps:
Providing a foundation for forming a photoresist pattern on the surface,
Soft baking is performed on the substrate: The photoresist pattern on the substrate is subjected to a baking process of about 100 to 140 seconds (Sec.) With hot air of 60 ° C. to 90 ° C., and then the temperature is gradually increased to room temperature. Lower,
The photoresist pattern is exposed: an ultraviolet light source having an energy amount of 150 to 250 MJ / cm 2 is irradiated, and a precisely designed photomask is placed between the photoresist pattern and the light source, Holding a gap of 30 μm to 80 μm with the photoresist design, exposing the photoresist design, thus transferring the predetermined design on the photomask onto the photoresist design,
It performs lithographic against the photoresist design, lithographic agent injection pressure of about 0.5 kg / cm 2, and the injection with respect to the photoresist design, washed and further injecting a cleaning liquid ejection pressure of about 0.5 kg / cm 2 And removing the unnecessary photomask material portion of the photoresist pattern,
Hard baking the substrate: The photoresist pattern on the substrate is subjected to a baking process of 25 to 35 minutes (Min.) With hot air of 210 to 250 ° C. 2. The method for producing a panel decoration frame thin film design layer according to claim 1, wherein a necessary solidified photoresist design thin film layer is formed.
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