JP2012088063A - 近接場プローブおよびそれを備えた近接場顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
【課題】近接場光の発生効率を向上させるとともに、同一点で偏光依存性なく光を励起または検出する。
【解決手段】導波路11の端面にコア32とクラッドとの境界Bをまたぐように、少なくとも2つの金属構造体41を配置する。上記2つの金属構造体41は、先端がコア32側に位置し、後端がクラッド33側に位置して、後端から先端に向かって細くなる先細り形状でそれぞれ形成されているとともに、後端から先端に向かう方向が互いに直角となるように配置されている。
【選択図】図4
【解決手段】導波路11の端面にコア32とクラッドとの境界Bをまたぐように、少なくとも2つの金属構造体41を配置する。上記2つの金属構造体41は、先端がコア32側に位置し、後端がクラッド33側に位置して、後端から先端に向かって細くなる先細り形状でそれぞれ形成されているとともに、後端から先端に向かう方向が互いに直角となるように配置されている。
【選択図】図4
Description
本発明は、近接場光を発生させる近接場プローブと、その近接場プローブを備えた近接場顕微鏡とに関するものである。
従来、近接場光を導入・検出するための近接場プローブとして、例えば特許文献1、2に開示されたものがある。特許文献1の近接場プローブでは、高屈折率差導波路の光射出側端面に、導波路によって導波された光を受けて近接場光を発生する金属構造体を配置している。この金属構造体は、上記端面において、コアとクラッドとの境界をまたぐように配置されているとともに、コア側からクラッド側に向けて先細りとなる形状で形成されている。
コアとクラッドとの境界面に対して垂直方向に電界成分を持つ光を導波路で導波させる場合、コアとクラッドとの境界付近に強い電界分布が生じる。したがって、上記のように金属構造体を配置することにより、発生する近接場の電界強度を強めることができ、近接場光の発生効率を向上させることができる。
また、特許文献2の近接場プローブは、導波路コアから伝送された光を利用して近接場光を発生させる固体含浸ミラーを備えている。固体含浸ミラーの光射出側の端面には、金属薄膜からなる反射部が設けられ、その反射部には開口部が設けられている。そして、上記金属薄膜の一部を該開口部の中心に向かって突出させることによって突出部が形成されている。突出部を構成する金属薄膜の材質を導電性の高い金属(例えばAu)とすることにより、突出部を構成する金属薄膜に表面プラズモン励起が起き、これによって、近接場光の強度を高めることが可能となっている。
ところが、特許文献1の近接場プローブは、金属構造体を1個のみ導波路端面に配置した構成であるため、金属構造体の先端付近で、特定方向の偏光(上記の例では境界面に垂直な方向に振動するTM波)しか励起することができず、互いに垂直な偏光を励起することはできない。近接場顕微鏡(SNOM;Scanning Near-Field Optical Microscope)や光スイッチへの応用を考えると、近接場プローブは、互いに垂直な偏光を略同一位置で同位相で励起したり、検出できる構成であることが望まれる。
また、特許文献2の近接場プローブにおいても、近接場光を発生させる突出部は1個または2個であり、2個の突出部を設ける場合でも、これらが対向するように(各々の突出方向が平行となるように)設けているため、特定方向の偏光(例えばTE波)しか励起することができず、事情は上記と同じである。
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、近接場光の発生効率を向上させるとともに、偏光依存性なく光を略同一位置で励起したり、検出することが可能な近接場プローブと、その近接場プローブを備えた近接場顕微鏡とを提供することにある。
本発明の近接場プローブは、コアと、前記コアに接するクラッドとを有する導波路と、前記導波路の端面に前記コアと前記クラッドとの境界をまたぐように配置され、前記導波路によって導波された光を受けて近接場光を発生する少なくとも2つの金属構造体とを備え、前記2つの金属構造体は、先端が前記コア側に位置し、後端が前記クラッド側に位置して、後端から先端に向かって細くなる先細り形状でそれぞれ形成されているとともに、後端から先端に向かう方向が互いに直角となるように配置されていることを特徴としている。
上記の構成によれば、少なくとも2つの金属構造体は、導波路端面でコアとクラッドとの境界をまたぐように配置されているので、発生する近接場の電界強度を強めることができ、これによって近接場光の発生効率を向上させることができる。
また、2つの金属構造体は、クラッド側からコア側に向けて細くなる先細り形状でそれぞれ形成されているとともに、後端から先端に向かう方向が互いに直角となるように配置されている。なお、上記の直角は、完全な直角も含むし、略直角も含む。これにより、偏光方向(電界方向)の互いに垂直な光を、2つの金属構造体の各先端付近で励起(入力)したり、検出(出力)することが可能となる。つまり、導波路端面におけるコア内側のほぼ同一点で、偏光依存性なく光を入出力することが可能となり、偏光依存性のない近接場プローブを実現することができる。
本発明の近接場プローブは、前記コアの一部が露出する開口部を有し、前記開口部以外の領域で前記導波路の端面を覆う金属薄膜をさらに備えており、前記各金属構造体は、前記金属薄膜を前記開口部の内側に引き出すことによってそれぞれ形成されていることが望ましい。
この構成では、金属薄膜の開口部以外の領域で不要な伝搬光を遮光することができ、不要光によるノイズを低減することができる。また、各金属構造体は、金属薄膜を開口部の内側に引き出すことによって形成されるので、例えば金属薄膜のパターニングによって各金属構造体を容易に形成することができる。
本発明の近接場プローブにおいて、前記導波路は、光射出側の光スポットのサイズを光入射側の光スポットのサイズよりも小さく変換するスポットサイズ変換部を有していることが望ましい。
この構成では、例えば、導波路の光入射側端面に光ファイバを結合する場合には、大きいスポット径で両者を結合することができる。これにより、結合効率(光の伝搬効率)を上げることができ、導波路の光入射側端面の中心と、上記端面に入射する光のスポットの中心との位置ずれの許容範囲(許容誤差)も大きくとることができる。また、スポット径の大きい光ファイバを用いる構成であっても、スポットサイズ変換部でのスポットサイズの変換により、小さいスポット径で金属構造体を照射して近接場光を効率よく発生させることができる。
本発明の近接場顕微鏡は、上述した本発明の近接場プローブを備えていてもよい。
本発明の近接場プローブは、同一点で偏光依存性なく、光を入出力することが可能であり、また、効率よく近接場光を発生させることができる。このような近接場プローブは、近接場光を試料に当てて、試料からの光を検出することによって試料の物性を評価する近接場顕微鏡に好適である。
なお、本発明の近接場プローブは、以下のように構成されてもよい。
本発明の近接場プローブにおいて、前記導波路は、シングルモード光ファイバであってもよい。
本発明の近接場プローブにおいて、前記コアを第1のコアとすると、前記スポットサイズ変換部は、前記第1のコアと、前記第1のコアよりも屈折率が低い前記クラッドと、前記第1のコアよりも屈折率が低く、かつ、前記クラッドよりも屈折率が高い第2のコアとを有しており、前記第2のコアに入力された光を前記第1のコアを介して出力する構成であってもよい。
本発明の近接場プローブにおいて、前記第1のコアは、光入力側から光出力側に向かうに従って幅が広くなる形状で形成されていてもよい。
本発明によれば、少なくとも2つの金属構造体は、導波路端面でコアとクラッドとの境界をまたぐように配置されているので、発生する近接場の電界強度を強めることができ、近接場光の発生効率を向上させることができる。また、2つの金属構造体は、クラッド側からコア側に向けて細くなる先細り形状でそれぞれ形成されているとともに、後端から先端に向かう方向が互いに直角となるように配置されている。これにより、導波路端面におけるコア内側のほぼ同一点で、偏光依存性なく光を入出力することが可能となり、偏光依存性のない近接場プローブを実現することができる。
本発明の実施の形態について、図面に基づいて説明すれば以下の通りである。
〔近接場顕微鏡の構成〕
図1は、本発明の実施の一形態に係る近接場顕微鏡の概略の構成を模式的に示す説明図である。この近接場顕微鏡において、励起光源1から射出された光は、光ファイバ2を介して近接場プローブ3(近接場入出力器)の導波路11の結合部11aに入射する。近接場プローブ3は、XYZステージ4上で保持された被測定サンプルSに対して近接場光を照射する。その後、被測定サンプルSで発生した近接場光は、近接場光を導入したプローブ(導波路11)とは別のプローブ(導波路12)で伝搬光に変換され、導波路12の結合部12aを介して光ファイバ5で導光され、光検出器6にて検出される。これにより、主制御回路7は、光検出器6からの検出信号に基づいて、被測定サンプルSの特性(表面状態、光学特性など)を分析することが可能となる。
図1は、本発明の実施の一形態に係る近接場顕微鏡の概略の構成を模式的に示す説明図である。この近接場顕微鏡において、励起光源1から射出された光は、光ファイバ2を介して近接場プローブ3(近接場入出力器)の導波路11の結合部11aに入射する。近接場プローブ3は、XYZステージ4上で保持された被測定サンプルSに対して近接場光を照射する。その後、被測定サンプルSで発生した近接場光は、近接場光を導入したプローブ(導波路11)とは別のプローブ(導波路12)で伝搬光に変換され、導波路12の結合部12aを介して光ファイバ5で導光され、光検出器6にて検出される。これにより、主制御回路7は、光検出器6からの検出信号に基づいて、被測定サンプルSの特性(表面状態、光学特性など)を分析することが可能となる。
より詳しくは、XYZステージ4の高さ方向(Z方向)の位置は、近接場プローブ3の先端と被測定サンプルSの表面との距離が一定(例えば20nm)となるように、主制御回路7によってシアフォース制御されている。この状態で、主制御回路7は、ステージコントローラ8を介して、Z方向に垂直な平面内で互いに垂直な2方向であるX方向およびY方向に一定のピッチでXYZステージ4を移動させることにより、近接場強度のXY分布を測定することができ、その測定結果に基づいて被測定サンプルSの特性を分析することができる。なお、主制御回路7は、励起光源1における光の射出も制御している。
なお、励起光を導入するプローブと光を検出するプローブとに対して、XYZの全ての方向に走査を行える機構を設けることで、微小な位置調整も可能となる。このときの位置制御については、圧電素子を用いることにより、数nmの精度で行うことができる。また、レーザビームと干渉計とを用いたフィードバック機構によって絶対位置制御を行い、位置の再現性を高める工夫も可能である。
また、図2は、他の近接場顕微鏡の概略の構成を模式的に示す説明図である。同図に示すように、励起光を導入するプローブと光を検出するプローブとを同一のプローブ(導波路11)で実現することも可能である。この構成では、励起光源1から射出された光は、ビームスプリッタ13(例えば偏光ビームスプリッタ)および位相板14(例えば1/4波長板)を介して、光路折り曲げミラー15で反射されて近接場プローブ3の導波路11に入射する。導波路11から被測定サンプルSに対して近接場光を照射した後、被測定サンプルSからの光は、同じ導波路11を導波されて光路折り曲げミラー15で反射され、位相板14を介してビームスプリッタ13に入射し、そこで反射された後、ミラー16で反射されて光検出器6にて検出される。
〔近接場プローブの詳細〕
次に、上述した近接場プローブ3の詳細について説明する。なお、近接場プローブ3の使用方法としては、近接場光の励起と近接場光の検出とがあるが、ここでは近接場光の励起を例に挙げて説明する。また、使用する波長も、紫外〜可視光〜近赤外〜赤外と任意であるが、ここでは通信波長帯の波長1.5μmを例に挙げて説明する。
次に、上述した近接場プローブ3の詳細について説明する。なお、近接場プローブ3の使用方法としては、近接場光の励起と近接場光の検出とがあるが、ここでは近接場光の励起を例に挙げて説明する。また、使用する波長も、紫外〜可視光〜近赤外〜赤外と任意であるが、ここでは通信波長帯の波長1.5μmを例に挙げて説明する。
まず、図1のように、光ファイバ2と近接場プローブ3とを結合部11aにて結合する構成の場合、光ファイバ2と近接場プローブ3とを結合する際の効率が重要となる。
ここで、光通信で用いられるシングルモード光ファイバでは、コア材料としてGeをドープしたSiO2を用い、クラッド材料としてSiO2を用いてGeのドープ量を調整することにより、以下の式で表わされる比屈折率差Δを0.003程度に設計している。
Δ={(ncore)2−(nclad)2}/2(ncore)2 ・・・(1)
ただし、
ncore:コア材料の屈折率
nclad:クラッド材料の屈折率
である。
Δ={(ncore)2−(nclad)2}/2(ncore)2 ・・・(1)
ただし、
ncore:コア材料の屈折率
nclad:クラッド材料の屈折率
である。
一般的なステップ型シングルモード光ファイバにおいて、波長1.5μmにおけるモードフィールド径(MFD)は10μm程度である。したがって、近接場プローブで数十nmの微小領域に光を導入するためには、光ファイバの上記モードフィールド径は大きすぎる。このため、本実施形態では、近接場プローブの導波路をスポットサイズ変換部で構成するとともに、これに後述する金属構造体(プラズモンヘッド)を組み合わせた構成とすることで、結合効率(光の伝搬効率)を向上させながら、光のスポットを数十nmまで小さくしている。
図3(a)は、本実施形態の近接場プローブ3の導波路11(結合部11a)を構成するスポットサイズ変換部21の斜視図であり、図3(b)は、スポットサイズ変換部21のZX断面での断面図であり、図3(c)は、スポットサイズ変換部21のYZ断面での断面図である。なお、+Z方向は、光の伝搬方向を示し、X方向はZ方向に垂直で基板22にも垂直な方向を示し、Y方向はZ方向およびX方向に垂直な方向を示す。
スポットサイズ変換部21は、光射出側の光スポットのサイズを光入射側の光スポットのサイズよりも小さく変換するものであり、基板22と、下部クラッド23と、細線コア24(第1のコア)と、外部コア25(第2のコア)と、上部クラッド26とを有して構成されている。基板22は、例えばSi基板で構成されている。下部クラッド23は、例えばSiO2で構成されており、基板22上に設けられている。
細線コア24は、例えばSiで構成されており、下部クラッド23上の中央付近から光出力側に向けて設けられている。細線コア24の高さ(X方向の長さ)は、光入力側(外部コア25側)から光出力側にかけて一定であるが(図3(b)参照)、細線コア24の幅(Y方向の長さ)は、光入力側で例えば0.1μm以下であり、光出力側で例えば0.3μmとなっており、光入力側から光出力側にかけて徐々に広くなるように変化している(図3(c)参照)。
外部コア25は、例えばSiOx(xは任意)で構成され、細線コア24の光入力側の一部を覆うように、下部クラッド23上で光入力側(光ファイバ2との結合側)に形成されている。つまり、外部コア25の幅Wは、細線コア24の幅よりも大きく、外部コア25の高さHは、細線コア24の高さよりも大きい。上部クラッド26は、例えばSiOy(yは任意)で構成され、細線コア24および外部コア25を覆うように、これらに接しながら下部クラッド23上に形成されている。
また、下部クラッド23、細線コア24、外部コア25、上部クラッド26の各屈折率は、細線コア24の屈折率>外部コア25の屈折率>上部クラッド26の屈折率、かつ、細線コア24の屈折率>外部コア25の屈折率>下部クラッド23の屈折率となるように設定されている。
上記のような細線コア24の幅の滑らかな変化により、伝搬方向に従って徐々にスポットサイズが縮小され、モードフィールド径が変換される。すなわち、モードフィールド径5μm程度の光スポットでスポットサイズ変換部21に入射した光は、外部コア25から徐々に細線コア24に集中するように光結合してモードフィールド径を小さくし、モードフィールド径0.3μm程度の光スポットに変換されて出力される。
以上のように、導波路11がスポットサイズ変換部21で構成されることにより、光ファイバ2と導波路11との良好な結合を実現できると同時に、結合部11aにおける光ファイバ2と導波路11との位置合わせの許容幅を大きくすることができる。
〔金属構造体について〕
上述のように、スポットサイズ変換部21の光出力部は細線コア24で構成され、そのモードフィールド径は例えば0.3μmであるが、数十nmの領域を励起するためには、より小さな光スポットが望まれる。また、量子ドットから発生した近接場光を取り込むためには、空間的に同一の点で偏光依存性がないことが望ましい。このとき、1個の金属構造体を導波路端面に設ける構成では、偏光依存性が強く、特定方向の偏光しか取り込むことができない。そこで、本実施形態では、同一点での偏光依存性を取り除くために、スポットサイズ変換部21の光出力側端面に、少なくとも2つの微小な金属構造体を略垂直に配置するようにしている。以下、詳細に説明する。
上述のように、スポットサイズ変換部21の光出力部は細線コア24で構成され、そのモードフィールド径は例えば0.3μmであるが、数十nmの領域を励起するためには、より小さな光スポットが望まれる。また、量子ドットから発生した近接場光を取り込むためには、空間的に同一の点で偏光依存性がないことが望ましい。このとき、1個の金属構造体を導波路端面に設ける構成では、偏光依存性が強く、特定方向の偏光しか取り込むことができない。そこで、本実施形態では、同一点での偏光依存性を取り除くために、スポットサイズ変換部21の光出力側端面に、少なくとも2つの微小な金属構造体を略垂直に配置するようにしている。以下、詳細に説明する。
図4(a)(b)は、導波路11(スポットサイズ変換部21)の光射出側端面を模式的に示す平面図であって、図4(a)は、上記光射出側端面に後述する金属構造体41を形成する前の状態を示し、図4(b)は、上記光射出側端面に金属構造体41を形成した後の状態を示している。なお、図4(b)では、他の部材との区別を明確にするため、便宜上、金属構造体41を斜線のハッチングで示している。以下の平面図でも同様に図示するものとする。
図4(a)に示すように、導波路11は、基板31上に、伝搬光を導波するコア32と、このコア32に接して光を閉じこめるクラッド33とを形成して構成されている。なお、基板31は、上述したスポットサイズ変換部21の基板22および下部クラッド23に対応しており、コア32は、細線コア24に対応しており、クラッド33は、上部クラッド26に対応している。
そして、本実施形態では、図4(b)に示すように、導波路11の光射出側端面に、複数(ここでは4つ)の金属構造体41が形成されている。各金属構造体41は、導波路11によって導波された光を受けて、プラズモン共鳴により近接場光を発生するものであり、導波路11の端面にコア32とクラッド33との境界Bをまたぐように配置されている。
より詳細には、各金属構造体41は、先端がコア32側に位置し、後端がクラッド33側に位置して、後端から先端に向かって細くなる先細り形状でそれぞれ形成されている。本実施形態では、各金属構造体41は、後端となる底辺がクラッド33側に位置し、先端となる頂点がコア32側に位置する二等辺三角形状で形成されているが、このような形状に限定されるわけではない。また、隣り合う2つの金属構造体41は、後端から先端に向かう方向が互いに直角となるように配置されている。なお、ここでの直角とは、完全な直角も含むし、完全な直角に近い略直角も含む。
各金属構造体41を構成する金属材料としては、例えば金(Au)が挙げられる。金は、あらゆる波長の光に対して高いプラズモン電界増幅率を示す材料であり、プラズモン共鳴によって近接場光を発生させる金属構造体41に好適である。また、金は、酸化され難い利点も持つ。また、金属構造体41を構成する別の金属材料としては、例えばアルミニウム(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)がある。これらの金属材料もプラズモン増幅率が高く、近接場プローブに適している。
その他、熱的性質や化学的性質がよく、高温でも酸化されにくく、基板材料との化学反応も起さない特徴がある材料を用いて金属構造体41を構成することもできる。上記材料としては、例えば白金(Pt)、ロジウム(Rh)、パラジウム(Pd)、ルテニウム(Ru)、イリジウム(Ir)、オスミニウム(Os)などがある。これらの材料は、金属の中では熱伝導率が小さく、発生した熱を周りに伝えにくい性質を持っているため、金属構造体41の材料として適している。
上記のように、各金属構造体41は、導波路11の端面でコア32とクラッド33との境界Bをまたぐように配置されているので、発生する近接場の電界強度を最大化でき、近接場光の発生効率を向上させることができる。なお、この効果は、後で示す電界分布を参照することによって、より明らかとなる。しかも、各金属構造体41は、クラッド33側からコア32側に向けて先細り形状でそれぞれ形成されているので、プラズモン共鳴により、コア32側の先端付近で強い近接場光を発生させることができる。
また、隣り合う2つの金属構造体41は、後端(クラッド33側)から先端(コア32側)に向かう方向が互いに直角となるように配置されている。これにより、2つの金属構造体41の各先端付近に、互いに垂直な偏光を同位相で入力(励起)することが可能となる。しかも、金属構造体41の先端は、コア32の内側を向き、互いに近づくので、コア32の内側のほぼ同一点に偏光依存性なく光を入力することができる。つまり、光射出側端面のほぼ同一点で偏光依存性のない近接場プローブ3を実現することができ、近接場顕微鏡や光スイッチ等への応用に有利となる。
なお、近接場プローブ3を近接場の励起と検出との両方に用いる場合でも(図2の構成であっても)、上記と同様に、2つの金属構造体41の各先端付近で、互いに垂直な偏光を検出(出力)することが可能となり、入出力端面のほぼ同一点で偏光依存性のない近接場プローブ3を実現することができる。
〔金属薄膜について〕
ところで、信号光は微弱であることが多いため、不要な伝搬光は取り込まないことが重要である。この場合、導波路11の光出力側端面にさらに金属薄膜を設けることが望ましい。以下、この構成について説明する。なお、導波路11の光射出側端面は、光の入力および出力を両方行う端面であってもよく、以下では光射出側端面を光入出力端面と置き換えて読むこともできる。
ところで、信号光は微弱であることが多いため、不要な伝搬光は取り込まないことが重要である。この場合、導波路11の光出力側端面にさらに金属薄膜を設けることが望ましい。以下、この構成について説明する。なお、導波路11の光射出側端面は、光の入力および出力を両方行う端面であってもよく、以下では光射出側端面を光入出力端面と置き換えて読むこともできる。
図5(a)(b)は、導波路11の光射出側端面を模式的に示す平面図であって、図5(a)は、上記光射出側端面に金属構造体41および金属薄膜42を形成する前の状態を示し、図5(b)は、上記光射出側端面に金属構造体41および金属薄膜42を形成した後の状態を示している。なお、図5(b)では、他の部材との区別を明確にするため、便宜上、金属構造体41および金属薄膜42を斜線のハッチングで示している。以下の平面図でも同様に図示するものとする。
金属薄膜42は、開口部42aを有しており、開口部42a以外の領域で導波路11の光射出側端面を覆っている。金属薄膜42の開口部42aは、コア32の一部が露出するように形成されている。したがって、金属薄膜42によって覆われる部分は、少なくとも、コア32の露出部以外の部分、コア32とクラッド33との境界B、基板31とコア32との境界、基板31とクラッド33との境界を含む。
上述した各金属構造体41は、金属薄膜42を開口部42aの内側に引き出すことによって形成されている。つまり、各金属構造体41は、金属薄膜42における開口部42aの一部をコア32内側に引き出して、金属薄膜42をコア32内側に突出させることによって形成されており、金属薄膜42と一体的に形成されている。
このように、金属薄膜42が開口部42a以外の領域で導波路11の光射出側端面を覆っているので、各金属構造体41の先端以外には近接場光が発生せず、また、不要な伝搬光も金属薄膜42で遮断されるので、S/Nを向上させることができる。したがって、本実施形態の近接場プローブ3は、微小領域への近接場光の導入に適したものとなる。
また、金属薄膜42の開口部42aの一部をコア32内側に引き出して各金属構造体41を形成し、各金属構造体41と金属薄膜42とを一体化した構成とすることにより、導波路11の光射出側端面の全面に金属薄膜を成膜した後、これをパターニングすることにより、開口部42aを有する金属薄膜42および複数の金属構造体41を同時に形成することができる。
〔導波路の設計の詳細について〕
ところで、近接場ヘッドへの応用を考えた場合、導波路11の光射出側のスポットサイズは小さいことが望ましい。光の閉じ込めを強くして光スポットを小さくするためには、導波路11は上述した式(1)で定義される比屈折率差Δが0.2以上の高屈折率差導波路であることが望ましい。
ところで、近接場ヘッドへの応用を考えた場合、導波路11の光射出側のスポットサイズは小さいことが望ましい。光の閉じ込めを強くして光スポットを小さくするためには、導波路11は上述した式(1)で定義される比屈折率差Δが0.2以上の高屈折率差導波路であることが望ましい。
また、高速信号伝搬の際に波形が乱れる分散の影響を避けるためには、伝搬モードが単一であるシングルモード条件を満たしていることが望ましい。2次元のスラブ導波路におけるシングルモード条件は、非特許文献(岡本勝就、フォトニクスシリーズ 光導波路の基礎、コロナ社、1992. )に記述されている。3次元矩形導波路の場合は、等価屈折率法、有限差分法、有限要素法などの手法を用いてシングルモード条件を求めることができる。
ここで、導波路11に用いられる誘電体材料(屈折率)について示すと、波長1.5μm帯においては、コア32の材料としてSi(3.48)、クラッド33の材料としてSiOx(1.4〜3.48)やAl2O3(1.8)などがあり、比屈折率差Δは、概ね0.001〜0.42の範囲で設計することができる。また、波長400nm〜800nmの可視域においては、コア32の材料としてGaAs(3.3)、Si(3.7)などがあり、クラッド33の材料としてTa2O5(2.5)、SiOx(1.4〜3.7)を用いることができ、比屈折率差Δは、概ね0.001〜0.41の範囲で設計することができる。
コア32に用いることができる他の高屈折率材料(波長域)の例としては、ダイヤモンド(可視全域)、III−V族半導体(AlGaAs(近赤外、赤)、GaN(緑、青)、GaAsP(赤、橙、青)、GaP(赤、黄、緑)、InGaN(青緑、青)、AlGaInP(橙、黄橙、黄、緑))、II−VI族半導体(ZnSe(青))が挙げられる。つまり、近赤外において、コア32の材質はSiに限定されない。
また、クラッド33に用いることができる他の低屈折率薄層材料としては、炭化シリコン(SiC)、弗化カルシウム(CaF)、チッ化シリコン(Si3N4)、酸化チタン(TiO2)、ダイヤモンド(C)などを例示することができる。
なお、以上で示した材料に限らず、例えばTiO2、SiN、ZnSなどを用いて複数の材料を組み合わせたり、フォトニック結晶構造をとることで、ある程度自由にΔを設計することができる。なお、理論的には0<Δ<0.5である。コア32の屈折率を例えば3.5程度にし、Δ=0.4程度と大きい高屈折率差導波路を用いれば、モードフィールド径を0.5μm程度に小さくすることが可能である。
〔電界分布の解析について〕
次に、導波路11の光射出側端面における電界分布の解析について説明する。本実施形態では、この電界分布の解析に基づき、導波路11に対する金属構造体41の配置位置を最適化している。なお、電界分布の解析手法としては、有限差分法(FDM;Finite Differential Method)を用いた。
次に、導波路11の光射出側端面における電界分布の解析について説明する。本実施形態では、この電界分布の解析に基づき、導波路11に対する金属構造体41の配置位置を最適化している。なお、電界分布の解析手法としては、有限差分法(FDM;Finite Differential Method)を用いた。
図6は、導波路11(スポットサイズ変換部21)の光射出側端面における、電界分布の解析を行うための座標軸を示す説明図である。なお、Z軸は、光の伝搬方向の軸であって、導波路11の光射出側端面に垂直な軸であり、X軸は、Z軸に垂直で、かつ、基板31とコア32とが接する面に垂直な方向の軸であり、Y軸は、Z軸およびX軸に垂直な軸である。ここでは、導波路11の光射出側端面をZ=0とし、導波路11の光射出側端面上で、基板31とコア32との境界におけるコア32の幅方向の中点を、X=Y=0としている。
解析の具体例として、ここでは、設計波長は、通信波長帯で安価なレーザの存在する1.5μmとし、導波路11の基板31には、SiO2(屈折率1.44)を用い、コア32の材料としてはSi(屈折率3.48)を用い、クラッド33の材料としては、基板と同じSiO2を用いた。そして、コア32の幅w1および高さh1は、w1=h1=300nmとした。上記構成の導波路11は、シングルモード条件を満たしており、高速信号伝達に適している。また、上記構成の導波路11の比屈折率差Δは0.411であり、高屈折率差導波路となっている。さらに、電界振動方向は、図6でX方向であり、導波路11はTMモードのシングルモード導波路となっている。
導波路11で導波される光の電界振動方向がX方向であるとき、金属構造体41を照射する光においては、電界の主成分はX成分(Ex)とZ成分(Ez)であり、磁界の主成分はY成分(Hy)とZ成分(Hz)である。
ここで、図7(a)は、XY平面内での電界Exの振幅を等高線表示したグラフであり、図7(b)は、Y=0におけるX軸方向に沿った電界|Ex|のプロファイルを示すグラフであり、図7(c)は、X=0におけるY軸方向に沿った電界|Ex|のプロファイルを示すグラフである。同様に、図8(a)は、XY平面内での電界Ezの振幅を等高線表示したグラフであり、図8(b)は、Y=0におけるX軸方向に沿った電界|Ez|のプロファイルを示すグラフであり、図8(c)は、X=0におけるY軸方向に沿った電界|Ez|のプロファイルを示すグラフである。また、図9(a)は、XY平面内での磁界Hyの振幅を等高線表示したグラフであり、図9(b)は、Y=0におけるX軸方向に沿った磁界|Hy|のプロファイルを示すグラフであり、図9(c)は、X=0.15におけるY軸方向に沿った磁界|Hy|のプロファイルを示すグラフである。同様に、図10(a)は、XY平面内での磁界Hzの振幅を等高線表示したグラフであり、図10(b)は、Y=0.15におけるX軸方向に沿った磁界|Hz|のプロファイルを示すグラフであり、図10(c)は、X=0.15におけるY軸方向に沿った磁界|Hz|のプロファイルを示すグラフである。なお、等高線表示およびプロファイルは、いずれも、最大振幅値(絶対値)を1とする正規化した値で示している。また、プロファイルは、最大振幅値を与えるXY座標を中心にしてX軸方向、ならびにY軸方向の変化を示している。図7(a)(b)より、コア32とクラッド33、およびコア32と基板31との境界近くに強い電界が分布していることがわかる。
また、図7(b)より、コア32とクラッド33、およびコア32と基板31との境界付近で大きな不連続部分が存在していることがわかる。これは、マックスウェル方程式より導かれる電束密度の境界面に垂直な成分の境界条件より、境界における電界のX成分のコア側Ecoreとクラッド側Ecladについて、
(ncore)2・Ecore=(nclad)2・Eclad ・・・(2)
となることから理解できる。つまり、上述したコア32およびクラッド33の各屈折率を式(2)に代入すると、|Eclad/Ecore|=5.84となり、これは、図7(b)におけるX=0.00および0.30(μm)付近の電界|Ex|の最大値と最小値との比(およそ5)にほぼ一致している。
(ncore)2・Ecore=(nclad)2・Eclad ・・・(2)
となることから理解できる。つまり、上述したコア32およびクラッド33の各屈折率を式(2)に代入すると、|Eclad/Ecore|=5.84となり、これは、図7(b)におけるX=0.00および0.30(μm)付近の電界|Ex|の最大値と最小値との比(およそ5)にほぼ一致している。
なお、ここで言うX=0.00(μm)付近の電界|Ex|の最大値と最小値との比とは、X軸方向の微小量をΔX(μm)としたときに、X=0.00−ΔXにおける電界Ex(式(2)でEcladに相当)の絶対値を、X=0.00+ΔXにおける電界Ex(式(2)でEcoreに相当)の絶対値で割った値である。同様に、X=0.30(μm)付近の電界|Ex|の最大値と最小値との比とは、X軸方向の微小量をΔX(μm)としたときに、X=0.30+ΔXにおける電界Ex(式(2)でEcladに相当)の絶対値を、X=0.00−ΔXにおける電界Ex(式(2)でEcoreに相当)の絶対値で割った値である。
また、どの程度の比屈折率差Δであれば、クラッド部に電界が大きく分布するかについては、
|Eclad/Ecore|>2 ・・・(3)
を解くことで得られる。なお、式(3)の右辺の値である“2”は、経験値であり、例えばこれが“1”の場合は、コア32とクラッド33、およびコア32と基板31との境界で電界に差が生じないことになる。
|Eclad/Ecore|>2 ・・・(3)
を解くことで得られる。なお、式(3)の右辺の値である“2”は、経験値であり、例えばこれが“1”の場合は、コア32とクラッド33、およびコア32と基板31との境界で電界に差が生じないことになる。
式(1)(2)(3)より、
|Eclad/Ecore|=(ncore)2/(nclad)2=1/(1−2Δ)>2
となり、比屈折率差Δの範囲を求めると、
Δ>0.25
となる。このことから、Δ>0.25のときに、電界の振動方向と垂直なクラッド部分において、コア32とクラッド33との境界に沿うようにして電界成分が大きく分布すると言える。したがって、上述したように、コア32とクラッド33との境界をまたぐように、境界に沿って金属構造体41を配置することにより、近接場光の発生効率を最大化することができる。
|Eclad/Ecore|=(ncore)2/(nclad)2=1/(1−2Δ)>2
となり、比屈折率差Δの範囲を求めると、
Δ>0.25
となる。このことから、Δ>0.25のときに、電界の振動方向と垂直なクラッド部分において、コア32とクラッド33との境界に沿うようにして電界成分が大きく分布すると言える。したがって、上述したように、コア32とクラッド33との境界をまたぐように、境界に沿って金属構造体41を配置することにより、近接場光の発生効率を最大化することができる。
以上、高屈折率差導波路のコアとクラッドとの境界をまたぐように、少なくとも2つの金属構造体を設けることにより、近接場光の発生効率を向上させることができる。しかも、上記2つの金属構造体の向きを互いに垂直に配置することにより、空間的に同一点での偏光依存性がなく、互いに垂直な偏光を同一点で同時に発生させたり、検出することができる。このような近接場プローブは、近接場顕微鏡等の近接場の導入・検出装置に適している。
なお、導波路端面に配置される金属構造体の数は特に限定されないが、少なくとも2つを直角に配置することで、上述した本発明の効果を得ることができる。
本発明の近接場プローブは、近接場顕微鏡をはじめ、量子ドットを用いた情報処理装置や光スイッチに利用可能である。
3 近接場プローブ
11 導波路
21 スポットサイズ変換部
24 細線コア
25 外部コア
26 上部クラッド
32 コア
33 クラッド
41 金属構造体
42 金属薄膜
42a 開口部
B 境界
11 導波路
21 スポットサイズ変換部
24 細線コア
25 外部コア
26 上部クラッド
32 コア
33 クラッド
41 金属構造体
42 金属薄膜
42a 開口部
B 境界
Claims (4)
- コアと、前記コアに接するクラッドとを有する導波路と、
前記導波路の端面に前記コアと前記クラッドとの境界をまたぐように配置され、前記導波路によって導波された光を受けて近接場光を発生する少なくとも2つの金属構造体とを備え、
前記2つの金属構造体は、先端が前記コア側に位置し、後端が前記クラッド側に位置して、後端から先端に向かって細くなる先細り形状でそれぞれ形成されているとともに、後端から先端に向かう方向が互いに直角となるように配置されていることを特徴とする近接場プローブ。 - 前記コアの一部が露出する開口部を有し、前記開口部以外の領域で前記導波路の端面を覆う金属薄膜をさらに備えており、
前記各金属構造体は、前記金属薄膜を前記開口部の内側に引き出すことによってそれぞれ形成されていることを特徴とする請求項1に記載の近接場プローブ。 - 前記導波路は、光射出側の光スポットのサイズを光入射側の光スポットのサイズよりも小さく変換するスポットサイズ変換部を有していることを特徴とする請求項1または2に記載の近接場プローブ。
- 請求項1から3のいずれかに記載の近接場プローブを備えていることを特徴とする近接場顕微鏡。
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JP2010232486A JP2012088063A (ja) | 2010-10-15 | 2010-10-15 | 近接場プローブおよびそれを備えた近接場顕微鏡 |
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