JP2012049476A - Patterning method and patterning device and composite type head - Google Patents

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淳 児玉
Takamitsu Fujii
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a patterning method and a patterning device where bleeding of a pattern is prevented when a fine pattern is formed using an ink jet system and high speed processing is ensured, and to provide a head.SOLUTION: An impact position (14) of an object to be processed where dots constituting a pattern (12) that is formed on the patterning surface (10A) of a substrate (10) is irradiated with reforming energy and reformed. While the impact position of a not-yet-processed object is reformed, droplets are ejected by ink jet system to the impact position immediately after reforming (within 0.1 seconds after completion of reforming). Light or plasma is applicable as the reforming energy.

Description

本発明はパターン形成方法及びパターン形成装置並びに複合型ヘッドに係り、特に、インクジェット方式を用いた微細パターンの形成技術に関する。   The present invention relates to a pattern forming method, a pattern forming apparatus, and a composite head, and more particularly to a technique for forming a fine pattern using an ink jet method.

近年、インクジェット方式の液体吐出ヘッドを用いて、基板上に電気配線パターンやマスクパターンなどの微細パターンを形成する技術が注目されている。例えば、金属を拡散させた液体をインクジェットヘッドから打滴してパターンを描画し、加熱等により該パターンを硬化させる手法が挙げられる。   2. Description of the Related Art In recent years, a technique for forming a fine pattern such as an electric wiring pattern or a mask pattern on a substrate using an ink jet type liquid discharge head has attracted attention. For example, there is a technique in which a liquid in which metal is diffused is ejected from an inkjet head to draw a pattern, and the pattern is cured by heating or the like.

図20(a),(b)は、従来技術に係るインクジェット方式を用いた微細パターン形成方法の課題を説明する図であり、基板1のパターン形成面1Aが図示されている。図20(a)は、基板1のパターン形成面1Aに着弾した複数の液滴2が合一して1つの大きな液滴3となった状態(バルジが発生した状態)が図示されている。また、図20(b)は、基板1のパターン形成面1Aに着弾した液滴2に着弾位置のズレが生じ、ジャギーが発生した状態が図示されている。図20(a),(b)とも、本来形成されるべきパターンは符号4を付し破線により図示した形状である。   FIGS. 20A and 20B are diagrams for explaining the problems of the fine pattern forming method using the ink jet method according to the prior art, and the pattern forming surface 1A of the substrate 1 is illustrated. FIG. 20A shows a state in which a plurality of droplets 2 that have landed on the pattern forming surface 1A of the substrate 1 are combined into one large droplet 3 (a state in which a bulge is generated). FIG. 20B shows a state in which the landing position is shifted in the droplet 2 that has landed on the pattern forming surface 1A of the substrate 1 and jaggy has occurred. In FIGS. 20A and 20B, the pattern to be originally formed has a shape denoted by reference numeral 4 and indicated by a broken line.

すなわち、インクジェット方式を用いたパターンの描画における課題として、基板1上において、複数の液滴が合一することにより発生するバルジ(集まり)や、液滴の飛翔方向ズレにより生じるジャギーなどが挙げられる。かかる課題を解決するために様々な検討がなされている。   That is, problems in drawing a pattern using the ink jet method include bulges (collections) generated when a plurality of droplets are combined on the substrate 1, jaggies generated due to deviations in the flying direction of the droplets, and the like. . Various studies have been made to solve this problem.

特許文献1は、レーザー光により取り囲まれた領域に液滴が打滴されることで、所定の起動から外れた液滴を所定の軌道に戻すように構成された液体吐出装置を開示している。また、特許文献2は薄膜パターンの形成領域に応じたバンクが形成された基板に所定の処理ガスを吹き付けて表面処理を施し、バンク間に液滴を配置して微細パターンを形成する薄膜パターン形成方法を開示している。   Patent Document 1 discloses a liquid ejection apparatus configured to return a liquid droplet that has deviated from a predetermined activation to a predetermined trajectory when the liquid droplet is ejected onto a region surrounded by a laser beam. . Patent Document 2 discloses that a thin film pattern is formed by spraying a predetermined processing gas onto a substrate on which a bank corresponding to a thin film pattern forming area is formed, and arranging a droplet between the banks to form a fine pattern. A method is disclosed.

特許第3794406号公報Japanese Patent No. 3794406 特開2004−351397号公報JP 2004-351397 A

しかしながら、特許文献1に開示された液体吐出装置は、液滴の飛翔方向の曲がりを回避することができるものの、基板上における液滴の合一を回避することが困難である。特許文献2に開示された薄膜パターン形成方法は、基板の表面処理に高いエネルギーが必要とされるために、表面処理に時間がかかってしまう。また、表面処理のためのプラズマ処理装置とパターンの描画のためのインクジェット装置を別々に具備し、表面処理がすべて終わった後にパターンの形成が行われるので、基板の表面処理とパターンの描画を並行して行うことができず、高速処理の実現が困難である。   However, although the liquid ejection device disclosed in Patent Document 1 can avoid the bending of the flying direction of the droplet, it is difficult to avoid the coalescence of the droplet on the substrate. In the thin film pattern forming method disclosed in Patent Document 2, since high energy is required for the surface treatment of the substrate, the surface treatment takes time. In addition, a plasma processing device for surface treatment and an ink jet device for pattern drawing are provided separately, and pattern formation is performed after all surface treatments are completed, so surface treatment of the substrate and pattern drawing are performed in parallel. Therefore, it is difficult to realize high-speed processing.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、インクジェット方式を用いた微細パターンの形成におけるパターンのにじみが防止され、高速処理を可能とするパターン形成方法及びパターン形成装置並びに複合型ヘッドを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and a pattern forming method, a pattern forming apparatus, and a composite head that prevent high-speed processing by preventing pattern bleeding in forming a fine pattern using an ink jet method. The purpose is to provide.

上記目的を達成するために、本発明に係るパターン形成方法は、基板のパターン形成面に形成されるパターンを構成するドットが形成される処理対象の打滴位置に対して改質エネルギーを照射して、当該処理対象の打滴位置に改質処理を施す改質処理工程と、前記改質処理工程において未処理の処理対象の打滴位置に改質処理が施されている間に、改質処理が施された直後の打滴位置に対してインクジェット方式により液滴が打滴される打滴工程と、を含むことを特徴とする。   In order to achieve the above object, the pattern formation method according to the present invention irradiates the droplet deposition position of the processing target where the dots forming the pattern formed on the pattern formation surface of the substrate are irradiated with the reforming energy. A reforming process for applying a reforming process to the droplet ejection position to be treated, and a reforming process while the droplet ejection position for an untreated treatment target is being performed in the reforming process. And a droplet ejection step in which droplets are ejected by an ink jet method at a droplet ejection position immediately after the treatment.

本発明によれば、表面改質がされた打滴位置に液滴が打滴されることで、基板上における液滴の移動が抑制され、複数の液滴が合一することによるバルジの発生や、着弾位置の位置ズレによるジャギーの発生によるパターンのにじみが防止される。また、他の未処理の打滴位置に改質処理が施されている間に改質処理が施された直後の打滴位置に対して液滴が打滴されるので、表面処理がすべて終わった後に液滴の打滴が行われる従来方法に比べて全体の時間短縮が見込まれる。   According to the present invention, when a droplet is ejected to a droplet ejection position where the surface has been modified, the movement of the droplet on the substrate is suppressed, and a bulge is generated due to the combination of a plurality of droplets. In addition, bleeding of the pattern due to the occurrence of jaggy due to positional deviation of the landing position is prevented. Further, since the droplets are ejected to the droplet ejection position immediately after the modification treatment is performed while the modification treatment is being performed on other untreated droplet ejection positions, all the surface treatments are finished. Compared with the conventional method in which droplets are subsequently ejected, the overall time is expected to be shortened.

本発明に係るパターン形成方法の概念図The conceptual diagram of the pattern formation method which concerns on this invention 図1に示すパターン形成方法の具体例を説明する図The figure explaining the specific example of the pattern formation method shown in FIG. 本発明の第1実施形態に係るパターン形成装置の概略構成図1 is a schematic configuration diagram of a pattern forming apparatus according to a first embodiment of the present invention. 図3に示す機能ヘッドの概略構成図Schematic configuration diagram of the functional head shown in FIG. 図4に示す機能ヘッドに適用されるMEMSデバイスの説明図Explanatory drawing of the MEMS device applied to the functional head shown in FIG. 図4に示す機能ヘッドの他の構成例を説明する図。FIG. 5 is a diagram illustrating another configuration example of the functional head illustrated in FIG. 4. 図3に示す機能ヘッドのノズル配置を説明する平面図FIG. 3 is a plan view for explaining the nozzle arrangement of the functional head shown in FIG. 図3に示すインクジェットヘッドの概略構成図Schematic configuration diagram of the inkjet head shown in FIG. 機能ヘッド及びインクジェットヘッドを一体構造とした複合ヘッドの概略構造図Schematic structure diagram of a composite head in which a functional head and an inkjet head are integrated. 図3に示すパターン形成装置の制御部の構成を示すブロック図The block diagram which shows the structure of the control part of the pattern formation apparatus shown in FIG. 本発明の第2実施形態に係るパターン形成装置の概略構成図Schematic configuration diagram of a pattern forming apparatus according to a second embodiment of the present invention. 本発明の第2実施形態に係るパターン形成装置の他の構成例を示す概略構成図The schematic block diagram which shows the other structural example of the pattern formation apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態に係るパターン形成装置に適用される機能ヘッドの概略構成図The schematic block diagram of the functional head applied to the pattern formation apparatus which concerns on 3rd Embodiment of this invention. 本発明に係るパターン形成装置の変形例を説明する概略構成図The schematic block diagram explaining the modification of the pattern formation apparatus which concerns on this invention 図14に示す変形例に係るライン型ヘッドの概略構成を示す平面透視図Plane see-through | perspective view which shows schematic structure of the line type head which concerns on the modification shown in FIG. 図15に示すライン型ヘッドのノズル配置を説明する図The figure explaining the nozzle arrangement of the line type head shown in FIG. 本発明の変形例に係る機能ヘッドの概略構成図Schematic configuration diagram of a functional head according to a modification of the present invention 本発明の変形例に係る機能ヘッドの他の構成例の概略構成図The schematic block diagram of the other structural example of the functional head which concerns on the modification of this invention 本発明の機能ヘッドに適用されるMEMSデバイスの製造方法を説明する図The figure explaining the manufacturing method of the MEMS device applied to the functional head of this invention 従来技術に係るインクジェット方式を用いたパターン描画の課題を説明する図The figure explaining the subject of the pattern drawing using the inkjet system which concerns on a prior art

以下、添付図面に従って本発明の好ましい実施の形態について詳説する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

〔パターン形成方法の説明〕
図1(a),(b)は、本発明の実施形態に係るパターン形成方法の概念図であり、基板10のパターン形成面10Aに直線状のパターン12(破線により図示)を形成する方法が模式的に図示されている。図1(a)はパターン形成面10Aに改質処理が施された基板10が図示されている。パターン12を構成するドットが形成される打滴位置に対して、ドットと略同一形状(面積)を有する微小領域に改質処理が施されている。
[Description of pattern formation method]
1A and 1B are conceptual diagrams of a pattern forming method according to an embodiment of the present invention. A method of forming a linear pattern 12 (illustrated by a broken line) on a pattern forming surface 10A of a substrate 10 is shown. It is schematically illustrated. FIG. 1A shows a substrate 10 in which a modification process is performed on the pattern forming surface 10A. A modification process is applied to a minute region having substantially the same shape (area) as a dot at a droplet ejection position where a dot constituting the pattern 12 is formed.

すなわち、図1(a)に符号14を付してドットハッチを用いて図示した領域は、改質処理が施された領域であり、パターン12のデータ(ドットの位置データ、ドットサイズのデータ)に基づいて改質処理の対象となる打滴位置及び処理面積(サイズ)が決められ、ドットが形成される打滴位置のみに選択的に、ドット形成の直前に、スポット状(点状)に改質処理が施される。   That is, the area indicated by reference numeral 14 in FIG. 1A and indicated by using a dot hatch is an area that has undergone a modification process, and data of the pattern 12 (dot position data, dot size data). The droplet ejection position and the treatment area (size) to be modified are determined based on the above, and are selectively spotted (dotted) immediately before the dot formation, selectively only at the droplet ejection position where the dots are formed. A reforming process is performed.

図1(b)は、改質処理が施された直後の打滴位置14に対して液滴が打滴され、直線状のパターン12が形成された基板10が図示されている。改質処理が施された打滴位置は当該改質処理の直後に液滴が打滴される。ここで、「改質処理の直後」とは、改質処理が終了してから0.1秒以内である。その後、基板10のパターン形成面10Aに着弾した液滴(ドット)に対して、加熱やエネルギー照射による定着処理が施され、基板10のパターン形成面10Aにパターン12が形成される。   FIG. 1B illustrates a substrate 10 on which a droplet is ejected onto the droplet ejection position 14 immediately after the reforming process and a linear pattern 12 is formed. A droplet is ejected immediately after the reforming process at the droplet ejection position where the reforming process has been performed. Here, “immediately after the reforming process” is within 0.1 seconds from the end of the reforming process. Thereafter, the droplets (dots) landed on the pattern forming surface 10 </ b> A of the substrate 10 are subjected to a fixing process by heating or energy irradiation, and a pattern 12 is formed on the pattern forming surface 10 </ b> A of the substrate 10.

本例に示すパターン形成方法では、パターン12を構成するドットが形成される打滴位置に対して順次改質処理が施され、改質処理がされた直後の打滴位置は、直ちに液滴が打滴されドットが形成される。あるタイミングにおいて、改質処理後の打滴位置に液滴が打滴されていると、他の未処理の打滴位置は改質処理が施されるというように、改質処理と液滴の打滴が同時並行して実行される。   In the pattern forming method shown in this example, the droplet reforming process is sequentially performed on the droplet ejection positions where the dots constituting the pattern 12 are formed. Drops are formed to form dots. At a certain timing, when a droplet is ejected at the droplet ejection position after the modification process, the other untreated droplet ejection positions are subjected to the modification process, so that Dropping is performed simultaneously.

改質処理の一例として、ビーム状のLED光やレーザー光を照射して打滴位置の親液(親水)性を他の部分よりも高くする親液処理が挙げられる。例えば、InGaN(窒化インジウムガリウム)を用いた青色LED(波長450nm)を1マイクロ秒から100マイクロ秒間照射することで、当該LED光が照射された部分が親液性に改質され、ドットが形成される打滴位置を基板10の標準状態よりも親液性とすることができ、着弾した液滴の移動が抑制され、ドットの位置ズレが防止される。所定の打滴位置を親液性に改質処理すると、水系の溶媒を用いた液体が適用される場合に高い効果を発揮しうる。一方、撥液性に改質処理すると有機溶媒を用いた液体が適用される場合に高い効果を発揮しうる。   As an example of the modification process, there is a lyophilic process in which the lyophilic property (hydrophilicity) at the droplet ejection position is made higher than the other part by irradiating beam-like LED light or laser light. For example, by irradiating a blue LED (wavelength 450 nm) using InGaN (indium gallium nitride) for 1 to 100 microseconds, the portion irradiated with the LED light is modified to be lyophilic and dots are formed. The applied droplet ejection position can be made more lyophilic than the standard state of the substrate 10, the movement of the landed droplet is suppressed, and the positional deviation of the dots is prevented. When a predetermined droplet ejection position is modified to be lyophilic, a high effect can be exhibited when a liquid using an aqueous solvent is applied. On the other hand, when the liquid repellency is modified, a high effect can be exhibited when a liquid using an organic solvent is applied.

本例に適用される液体の例として、金、銀、銅やこれらの合金などの粒子を所定の溶媒に分散させた配線インク(金属溶液)、又は、上記した金属を含む前駆体溶液、絶縁体(樹脂)、半導体、有機EL発光材などを所定の溶媒に分散させた電子材料インク、レジスト液などが挙げられる。   Examples of liquids applied to this example include wiring ink (metal solution) in which particles such as gold, silver, copper, and alloys thereof are dispersed in a predetermined solvent, or a precursor solution containing the above-described metal, insulation. Examples thereof include an electronic material ink in which a body (resin), a semiconductor, an organic EL light emitting material and the like are dispersed in a predetermined solvent, a resist solution, and the like.

また、基板10の材料例として、ガラス(石英、耐熱ガラス等のLCD用無鉛ガラス)、シリコンウエハ、フィルム(PEN、PET、PC,PESなど)が挙げられる。基板10は、バリア層や導電層が含まれるものでもよい。   Examples of the material of the substrate 10 include glass (lead-free glass for LCD such as quartz and heat-resistant glass), a silicon wafer, and a film (PEN, PET, PC, PES, etc.). The substrate 10 may include a barrier layer or a conductive layer.

図2(a),(b)は、図1(a),(b)に図示したパターン形成方法の具体例を示す概略構成図である。図2(a),(b)に示すパターン形成方法では、基板10の幅方向(主走査方向)について改質処理及び打滴が行われ、同方向の全域についてドットが形成されると、基板10を幅方向と直交する方向(副走査方向)に所定量移動させて、次の幅方向についての改質処理及び打滴を行い、この動作を繰り返して基板10の全域にパターンを形成するシリアル方式が適用される。かかるシリアル方式には、基板の全幅に満たない長さを有する短尺のシリアル型ヘッドが適用される。   2A and 2B are schematic configuration diagrams showing a specific example of the pattern forming method shown in FIGS. 1A and 1B. In the pattern forming method shown in FIGS. 2A and 2B, when the modification process and droplet ejection are performed in the width direction (main scanning direction) of the substrate 10 and dots are formed in the entire region in the same direction, the substrate 10 is moved by a predetermined amount in a direction (sub-scanning direction) perpendicular to the width direction, a modification process and droplet ejection are performed in the next width direction, and this operation is repeated to form a pattern over the entire area of the substrate 10 The method is applied. In such a serial system, a short serial head having a length less than the full width of the substrate is applied.

図2(a)は、基板10を移動方向の上流側から下流側を見た図であり、紙面を貫く方向が基板10の移動方向(副走査方向)となっている。また、図2(b)は、基板10のパターン形成面10Aを上側から見た図である。なお、図中「M」を付した方向は主走査方向であり、「S」を付した方向は副走査方向である。   FIG. 2A is a view of the substrate 10 as viewed from the upstream side in the movement direction, and the direction penetrating the paper surface is the movement direction (sub-scanning direction) of the substrate 10. FIG. 2B is a view of the pattern forming surface 10A of the substrate 10 as viewed from above. In the figure, the direction with “M” is the main scanning direction, and the direction with “S” is the sub-scanning direction.

図2(a),(b)に示す例は、機能ヘッド(chemical reactor(CR)ヘッド)20を用いて基板10のパターン形成面10Aに対して改質エネルギー24が付与され、インクジェットヘッド(IJヘッド)22を用いて改質処理直後の打滴位置に液滴26が打滴される。図2(a)に示すように、主走査方向Mについて、機能ヘッド20をインクジェットヘッド22に先行させ、機能ヘッド20及びインクジェットヘッド22を一体として走査させる。先行する機能ヘッド20により改質エネルギー24を付与して改質させた打滴位置14は、後続するインクジェットヘッド22により液滴が打滴され、ドット(パターン)12が形成される。   2A and 2B, a functional head (chemical reactor (CR) head) 20 is used to apply a reforming energy 24 to the pattern forming surface 10A of the substrate 10, and an inkjet head (IJ). A droplet 26 is ejected to the droplet ejection position immediately after the reforming process using the head 22. As shown in FIG. 2A, in the main scanning direction M, the functional head 20 precedes the inkjet head 22, and the functional head 20 and the inkjet head 22 are scanned together. At the droplet ejection position 14 modified by applying the reforming energy 24 by the preceding functional head 20, a droplet is ejected by the subsequent inkjet head 22, and a dot (pattern) 12 is formed.

図2(b)に示すように、本例に示す機能ヘッド20は、副走査方向Sについて4つのノズル50が並べられた構造を有し、インクジェットヘッド22は、副走査方向Sについて4つのノズル80が一列に並べられた構造を有しているので、主走査方向Mについて1回の走査で、副走査方向に沿って4ドット分改質処理を同時に施すことができ、副走査方向に沿って4ドットを同時に形成しうる。   As shown in FIG. 2B, the functional head 20 shown in this example has a structure in which four nozzles 50 are arranged in the sub-scanning direction S, and the inkjet head 22 has four nozzles in the sub-scanning direction S. Since 80 has a structure arranged in a line, it is possible to simultaneously perform the reforming process for 4 dots along the sub-scanning direction in one scan in the main scanning direction M, along the sub-scanning direction. 4 dots can be formed simultaneously.

図2(a),(b)に示すパターン形成方法では、各打滴位置について改質処理が施される形状(面積)は、当該打滴位置に形成されるドット12の形状(面積)と略同一となっている。すなわち、各打滴位置の改質処理が施される部分の面積をS、当該打滴位置に形成されるドットの面積をSとすると、図示の例は、ドット12と1ノズルが改質エネルギーを付与する微小領域の中心は一致し、S=Sとなっている。もちろん、改質エネルギー24が付与される微小領域を適宜変更可能に構成することで、S<SやS>Sとすることも可能である。例えば、S<Sとすると、同一の打滴位置にドットを積み重ねるときに有利であり、S>Sとすると、ドットを薄く拡げるときに有利である。 In the pattern forming method shown in FIGS. 2A and 2B, the shape (area) subjected to the modification process for each droplet ejection position is the shape (area) of the dot 12 formed at the droplet ejection position. It is almost the same. That is, assuming that the area of the portion subjected to the modification process at each droplet ejection position is S a , and the area of the dot formed at the droplet ejection position is S b , in the illustrated example, the dot 12 and one nozzle are modified. The centers of the minute regions to which quality energy is applied coincide with each other, and S a = S b . Of course, it is also possible to satisfy S a <S b or S a > S b by appropriately changing the minute region to which the reforming energy 24 is applied. For example, if S a <S b , it is advantageous when dots are stacked at the same droplet deposition position, and if S a > S b , it is advantageous when the dots are spread thinly.

図2(a),(b)に示すパターン形成方法では、いわゆる、シリアルスキャン方式(ラスタースキャン方式)を例示したが、走査方式として、ベクトルスキャン方式を適用してもよい。また、繰り返し走査でも単発走査でもよい。但し、繰り返し走査の場合は、機能ヘッド20とインクジェットヘッド22との位置関係を入れ換えて、機能ヘッド20が常にインクジェットヘッド22に対して先行させるために、走査方向に応じて機能ヘッド20及びインクジェットヘッド22を180°回転させるように構成される。   In the pattern forming method shown in FIGS. 2A and 2B, a so-called serial scan method (raster scan method) is exemplified, but a vector scan method may be applied as the scan method. Further, it may be repeated scanning or single scanning. However, in the case of repeated scanning, the functional head 20 and the inkjet head 22 are switched according to the scanning direction so that the positional relationship between the functional head 20 and the inkjet head 22 is interchanged so that the functional head 20 always precedes the inkjet head 22. 22 is configured to rotate 180 °.

機能ヘッド20のノズル50と、対応するインクジェットヘッド22のノズル80との主走査方向におけるピッチをxとし、機能ヘッド20及びインクジェットヘッド22の主走査方向への走査速度をvとしたときに、次式(1)の関係を満たすように、機能ヘッド20のノズル50とインクジェットヘッド22のノズルのピッチx(機能ヘッド20及びインクジェットヘッド22の配置関係)が決められるとともに、機能ヘッド20及びインクジェットヘッド22の主走査方向への走査速度をvが決められている。   When the pitch in the main scanning direction between the nozzle 50 of the functional head 20 and the nozzle 80 of the corresponding inkjet head 22 is x, and the scanning speed in the main scanning direction of the functional head 20 and the inkjet head 22 is v, The pitch x (arrangement relationship between the functional head 20 and the inkjet head 22) of the nozzles 50 of the functional head 20 and the inkjet head 22 is determined so as to satisfy the relationship of the expression (1), and the functional head 20 and the inkjet head 22 are also determined. V is determined as the scanning speed in the main scanning direction.

x/v≦0.1(秒)…(1)
機能ヘッド20の処理周波数をインクジェットヘッド22の打滴周波数と同一とし、かつ、機能ヘッド20の処理周期とインクジェットヘッド22の打滴周期とを同期させると、機能ヘッド20による改質処理タイミングからインクジェットヘッド22の打滴タイミングまでの時間間隔を、処理周期(打滴周期)の一周期分の時間とする態様が可能である。例えば、処理周波数及び打滴周波数を10kHzとすると、1周期分の時間は0.1秒であり、かかる態様では、改質処理から打滴までの時間は上記式(1)の条件を満足する。なお、改質処理から打滴までの時間を処理周期(打滴周期)の整数倍としてもよい。
x / v ≦ 0.1 (seconds) (1)
When the processing frequency of the functional head 20 is the same as the droplet ejection frequency of the inkjet head 22 and the processing cycle of the functional head 20 and the droplet ejection cycle of the inkjet head 22 are synchronized, the inkjet is started from the modification processing timing by the functional head 20. A mode is possible in which the time interval until the droplet ejection timing of the head 22 is a time corresponding to one cycle of the treatment cycle (droplet ejection cycle). For example, when the treatment frequency and the droplet ejection frequency are 10 kHz, the time for one cycle is 0.1 second, and in this aspect, the time from the reforming treatment to the droplet ejection satisfies the condition of the above formula (1). . The time from the reforming process to droplet ejection may be an integral multiple of the treatment cycle (droplet ejection cycle).

〔第1実施形態〕
(パターン形成装置の全体構成)
次に、上述したパターン形成方法が適用されるパターン形成装置について説明する。図3は、パターン形成装置30の概略構成図である。同図に示すパターン形成装置30は、機能ヘッド20及びインクジェットヘッド22が搭載されたキャリッジ32を主走査方向Mに沿って移動させる走査機構34と、基板10を支持するステージ36を副走査方向Sに沿って移動させる搬送機構38と、を具備している。図3に示す走査機構34は、キャリッジ32の送り機構としてボールネジ39が適用され、キャリッジ32の支持部材としてガイド部材40が適用される。また、搬送機構38は、ステージ36の送り機構としてボールネジ42が適用される。なお、ボールねじに代わり、リニアスライダーなどのリニアアクチュエータを適用してもよいし、xyテーブルを適用してもよい。
[First Embodiment]
(Overall configuration of pattern forming device)
Next, a pattern forming apparatus to which the pattern forming method described above is applied will be described. FIG. 3 is a schematic configuration diagram of the pattern forming apparatus 30. The pattern forming apparatus 30 shown in the figure includes a scanning mechanism 34 that moves a carriage 32 on which the functional head 20 and the inkjet head 22 are mounted along the main scanning direction M, and a stage 36 that supports the substrate 10 in the sub-scanning direction S. And a transport mechanism 38 that moves along the head. In the scanning mechanism 34 shown in FIG. 3, a ball screw 39 is applied as a feed mechanism of the carriage 32, and a guide member 40 is applied as a support member of the carriage 32. Further, a ball screw 42 is applied to the transport mechanism 38 as a feed mechanism for the stage 36. Instead of the ball screw, a linear actuator such as a linear slider may be applied, or an xy table may be applied.

(機能ヘッドの説明)
図4(a)は、機能ヘッド20の内部構造を模式的に図示した構造図であり、図4(b)は、機能ヘッド20の上面から内部を見た透視図である。図4(a)における紙面を貫く方向、及び図4(b)の左右方向は、図2,3に示した主走査方向Mである。
(Description of functional head)
FIG. 4A is a structural diagram schematically illustrating the internal structure of the functional head 20, and FIG. 4B is a perspective view of the functional head 20 viewed from the top. The direction passing through the paper surface in FIG. 4A and the left-right direction in FIG. 4B are the main scanning direction M shown in FIGS.

図4(a),(b)に示すように、機能ヘッド20は、複数のノズル50‐1,50‐2,50‐3,50‐4が形成されたノズルプレート52と、ノズル50‐1,50‐2,50‐3,50‐4のそれぞれに対応する複数の可動ミラー54‐1,54‐2,54‐13,54‐14と、光源(図4(a)中不図示、図4(b)に符号55を付して図示)から出された光を各可動ミラー54‐1,54‐2,54‐3,54‐4に導くための固定ミラー群56と、を具備している。   4A and 4B, the functional head 20 includes a nozzle plate 52 in which a plurality of nozzles 50-1, 50-2, 50-3, and 50-4 are formed, and a nozzle 50-1. , 50-2, 50-3, and 50-4, a plurality of movable mirrors 54-1, 54-2, 54-13, and 54-14, and a light source (not shown in FIG. 4 (b), and a fixed mirror group 56 for guiding the light emitted from the movable mirrors 54-1, 54-2, 54-3, and 54-4 to the movable mirrors 54-1, 54-2, 54-3, and 54-4. ing.

なお、以下の説明では、複数のノズル50‐1,50‐2,50‐3,50‐4をまとめてノズル50と記載することがある。また、複数の可動ミラー54‐1,54‐2,54‐3,54‐4をまとめて可動ミラー54と記載することがある。   In the following description, the plurality of nozzles 50-1, 50-2, 50-3, and 50-4 may be collectively referred to as the nozzle 50. Further, the plurality of movable mirrors 54-1, 54-2, 54-3, and 54-4 may be collectively referred to as the movable mirror 54.

光源55には、LED光源やレーザー光源が適用される。LED光源の適用例として、InGaN(窒化インジウムガリウム)を用いた青色LED(波長450nm)が挙げられる。これ以外にも、AlInM(窒化アルミニウムインジウム)、AlInGaN(窒化アルミニウムインジウムガリウム)などを用いた青色LEDを適用してもよい。すなわち、本例に適用される光は、基板10の表面を改質させるために必要なエネルギーを有するものであればよい。また、パターンを構成するドットの面積と略同一の面積を有する微小な領域について照射可能な程度の直進性や非拡散性を有していればよい。さらに、光量や照射強度、照射時間によって改質エネルギーを可変させることができるものであると好ましい。   As the light source 55, an LED light source or a laser light source is applied. As an application example of the LED light source, a blue LED (wavelength: 450 nm) using InGaN (indium gallium nitride) can be cited. Besides this, a blue LED using AlInM (aluminum indium nitride), AlInGaN (aluminum indium gallium nitride), or the like may be applied. That is, the light applied in this example may be any light having energy necessary for modifying the surface of the substrate 10. Further, it is only necessary to have a straightness and non-diffusibility to such an extent that a minute region having an area substantially the same as the area of the dots constituting the pattern can be irradiated. Furthermore, it is preferable that the modification energy can be varied depending on the light amount, irradiation intensity, and irradiation time.

図4(b)に示すように、固定ミラー56‐1〜56‐4は、ノズル50‐1〜50‐4の配列に対応して、光源55の光軸方向に沿う方向に固定ミラー56‐1〜56‐4が一列に並べられた構造を有している。固定ミラー56‐1〜56‐4は、反射特性及び透過特性を有するハーフミラー(半透過鏡)であり、光源から出された光の一部は、固定ミラー56及び可動ミラー54によって光軸が曲げられてノズル50へ導かれ、光の一部は次段の固定ミラーへ導かれる。光源55から照射された光が最終段の固定ミラーへ到達し、かつ、当該最終段の固定ミラーに対応するノズルへ到達し、さらに、該ノズルから基板10へ照射されたときに、当該照射領域を改質させるのに十分な光量となるように、各固定ミラー56による光量の減衰を考慮して、光源55から照射される光の光量が決められている。   As shown in FIG. 4B, the fixed mirrors 56-1 to 56-4 correspond to the arrangement of the nozzles 50-1 to 50-4 in the direction along the optical axis direction of the light source 55. 1 to 56-4 has a structure arranged in a line. The fixed mirrors 56-1 to 56-4 are half mirrors (semi-transmissive mirrors) having reflection characteristics and transmission characteristics, and the optical axis of a part of the light emitted from the light source is adjusted by the fixed mirror 56 and the movable mirror 54. The light is bent and guided to the nozzle 50, and a part of the light is guided to the fixed mirror at the next stage. When the light emitted from the light source 55 reaches the final stage fixed mirror, reaches the nozzle corresponding to the final stage fixed mirror, and further irradiates the substrate 10 from the nozzle, the irradiation area The amount of light emitted from the light source 55 is determined in consideration of the attenuation of the amount of light by each fixed mirror 56 so that the amount of light is sufficient to modify the light.

図4(a)に示すように、可動ミラー54は、固定ミラー56よって曲げられた光軸に対する角度を変更可能に構成されている。図4(a)に示す例では、実線により図示した状態の可動ミラー54はノズル50へ光を導き、一方、破線により図示した状態の可動ミラー54はノズル50へ光を導かない。ノズル50へ導かれた光は、ノズル50の開口を介して基板10のパターン形成面10Aにおける所定の打滴位置(図2(a),(b)参照)へ照射される。   As shown in FIG. 4A, the movable mirror 54 is configured to be able to change the angle with respect to the optical axis bent by the fixed mirror 56. In the example shown in FIG. 4A, the movable mirror 54 in the state illustrated by the solid line guides light to the nozzle 50, while the movable mirror 54 in the state illustrated by the broken line does not guide light to the nozzle 50. The light guided to the nozzle 50 is applied to a predetermined droplet ejection position (see FIGS. 2A and 2B) on the pattern forming surface 10 </ b> A of the substrate 10 through the opening of the nozzle 50.

すなわち、図4(a),(b)に示す機能ヘッド20は、内蔵される可動ミラー54の角度を適宜調整(変更)することで、対応するノズル50へ光を導くか否かを切り換えることでき、基板10上の打滴位置に対して、選択的に光を照射しうる。光源55を機能ヘッド20の外部に備え、光源55から出された光を機能ヘッド20内に導き、さらに、ノズル50を介して当該光を基板10に照射するように構成してもよい。   That is, the functional head 20 shown in FIGS. 4A and 4B switches whether to guide light to the corresponding nozzle 50 by appropriately adjusting (changing) the angle of the built-in movable mirror 54. It is possible to selectively irradiate light onto the droplet ejection position on the substrate 10. The light source 55 may be provided outside the functional head 20, the light emitted from the light source 55 may be guided into the functional head 20, and the substrate 10 may be irradiated with the light via the nozzle 50.

図4(a),(b)に図示した可動ミラー54は、MEMS(micro electro mechanical system)デバイスが適用される。MEMSデバイスとは、半導体製造プロセスや犠牲層エッチングプロセスなどの微細加工技術を用いて作製された微細な機械要素部品である。可動ミラー54の角度を変更するために、可動ミラー54を移動(回転)させるアクチュエータにもMEMSデバイス(MEMSアクチュエータ)が適用される。図5(a),(b)は、MEMSアクチュエータの構成例として、片持ち梁構造を有するリボン状アクチュエータを示す。図5(a)に示すMEMSアクチュエータ60は、対向電極基板62上に対向電極64が形成され、さらに、対向電極64の上に片持ち梁66が形成される。片持ち梁66は、一方の端がシリコンの固定部材68によって固定され、他方の端に可動ミラー54が設けられた構造を有している。   As the movable mirror 54 shown in FIGS. 4A and 4B, a micro electro mechanical system (MEMS) device is applied. A MEMS device is a fine machine element part produced using a fine processing technique such as a semiconductor manufacturing process or a sacrificial layer etching process. In order to change the angle of the movable mirror 54, a MEMS device (MEMS actuator) is also applied to an actuator that moves (rotates) the movable mirror 54. 5A and 5B show a ribbon-like actuator having a cantilever structure as a configuration example of the MEMS actuator. In the MEMS actuator 60 shown in FIG. 5A, the counter electrode 64 is formed on the counter electrode substrate 62, and the cantilever 66 is formed on the counter electrode 64. The cantilever 66 has a structure in which one end is fixed by a silicon fixing member 68 and the movable mirror 54 is provided at the other end.

図5(b)は、MEMSアクチュエータ60の動作が模式的に図示されている。同図に符号66Aを付して実線により図示した状態は、対向電極64に電圧が印加されていない状態の片持ち梁66であり、先端部に形成された可動ミラー54は起き上がった状態となることで、光軸からずれた位置となる。   FIG. 5B schematically shows the operation of the MEMS actuator 60. The state indicated by a solid line with reference numeral 66A in the same figure is a cantilever beam 66 in a state in which no voltage is applied to the counter electrode 64, and the movable mirror 54 formed at the tip is raised. Thus, the position is shifted from the optical axis.

一方、符号66Bを付して破線により図示した状態は、対向電極64に電圧が印加されている状態の片持ち梁66であり、先端部に形成された可動ミラー54は、光軸上に位置する。すなわち、MEMSアクチュエータ60の対向電極64に対して所定の駆動電圧を印加することで、片持ち梁66の他方の端に設けられた可動ミラー54の角度(姿勢)を変更して、光のオンオフが可能となる。   On the other hand, a state indicated by a broken line with reference numeral 66B is a cantilever 66 in a state where a voltage is applied to the counter electrode 64, and the movable mirror 54 formed at the tip is positioned on the optical axis. To do. That is, by applying a predetermined drive voltage to the counter electrode 64 of the MEMS actuator 60, the angle (attitude) of the movable mirror 54 provided at the other end of the cantilever 66 is changed, and light is turned on / off. Is possible.

なお、本発明に適用される可動ミラー54は、図5(a),(b)に図示した片持ち梁構造に限定されず、回転型光スイッチなどの他の形態を有するMEMSスイッチを適用することができる。   The movable mirror 54 applied to the present invention is not limited to the cantilever structure shown in FIGS. 5A and 5B, and a MEMS switch having another form such as a rotary optical switch is applied. be able to.

図4(a),(b)に示す態様では、ノズルごとに光を導く可動ミラー54が具備される態様を例示したが、図6に示すように、光を走査させてノズル50ごとに光を導く態様も可能である。同図に示す構成では、光源70から出された光は、照射レンズ72を介して回折部74に照射される。回折部74により回折した回折光は、フィルター76を介して走査ミラー78へ到達する。ドットの位置情報、ドットのサイズ情報に基づき決められた走査シーケンスに基づいて走査ミラー78を走査させることで、所定のノズル50へ光が導かれる。   4A and 4B exemplify a mode in which the movable mirror 54 that guides light for each nozzle is provided. However, as shown in FIG. 6, the light is scanned for each nozzle 50 by scanning light. It is possible to adopt a mode that leads to. In the configuration shown in the figure, the light emitted from the light source 70 is irradiated to the diffraction unit 74 via the irradiation lens 72. The diffracted light diffracted by the diffracting unit 74 reaches the scanning mirror 78 via the filter 76. Light is guided to a predetermined nozzle 50 by scanning the scanning mirror 78 based on a scanning sequence determined based on dot position information and dot size information.

図7(a)は、機能ヘッド20のノズル配置を示す機能ヘッド20のノズル面の平面図である。同図に示すように、機能ヘッド20は、副走査方向(図中上下方向)について、複数のノズル50が配置ピッチPで一列に並べられた構造を有している。ノズル50の配置ピッチを高密度化するために、図7(b)に示すように複数のノズル50を千鳥状に配置してもよいし、マトリクス状に配列してもよい(図16参照)。図7(b)に示す千鳥配置におけるノズル実質的な配置ピッチP’は、図7(a)に示すノズル50の配置ピッチPの1/2となっている。 FIG. 7A is a plan view of the nozzle surface of the functional head 20 showing the nozzle arrangement of the functional head 20. As shown in the figure, the functional head 20 has a structure in which a plurality of nozzles 50 are arranged in a line at an arrangement pitch Pn in the sub-scanning direction (vertical direction in the figure). In order to increase the arrangement pitch of the nozzles 50, a plurality of nozzles 50 may be arranged in a staggered manner as shown in FIG. 7B, or may be arranged in a matrix (see FIG. 16). . The nozzle substantial arrangement pitch P n ′ in the staggered arrangement shown in FIG. 7B is ½ of the arrangement pitch P n of the nozzles 50 shown in FIG.

機能ヘッド20の1ノズルが処理する処理面積は、ノズル50の開口面積に依存する。理想的な平行光の場合は、ノズル50の開口面積と1ノズルが担う改質処理領域の面積とは同一となる。すなわち、ノズルの開口面積を大きくすると1ノズルが担う改質処理領域の面積は大きくなり、ノズルの開口面積を小さくすると1ノズルが担う改質処理領域の面積は小さくなる。機能ヘッド20のノズル50の直径は、1ノズルが担う改質処理領域の直径によって決められている。   The processing area processed by one nozzle of the functional head 20 depends on the opening area of the nozzle 50. In the case of ideal parallel light, the opening area of the nozzle 50 is the same as the area of the reforming treatment region that one nozzle is responsible for. That is, when the opening area of the nozzle is increased, the area of the reforming process region that is responsible for one nozzle is increased, and when the opening area of the nozzle is decreased, the area of the reforming process region that is responsible for one nozzle is decreased. The diameter of the nozzle 50 of the functional head 20 is determined by the diameter of the reforming treatment region that one nozzle serves.

なお、光を絞ることで1ノズルが担う改質処理領域の面積を、当該ノズルの開口面積よりも小さくすることが可能である。また、ノズル50の近傍に拡大光学系又は縮小光学系(例えば、マイクロレンズアレイ)を具備することで、1ノズルが担う改質処理領域の面積を適宜縮小又は拡大することも可能である。上述したように、パターンの種類(ドットを積み重ねる構成又は薄く広げる構成)に対応して、光径を変えることで、改質処理が施される領域の面積(光が照射される面積)を定量的に調整可能である。   In addition, it is possible to make the area of the modification process area which one nozzle bears by narrowing the light smaller than the opening area of the nozzle. Further, by providing an enlargement optical system or reduction optical system (for example, a microlens array) in the vicinity of the nozzle 50, it is possible to appropriately reduce or enlarge the area of the modification processing region that one nozzle serves. As described above, by changing the light diameter according to the type of pattern (configuration in which dots are stacked or spread thinly), the area of the area to be modified (area irradiated with light) is quantified. Can be adjusted.

光の強度を変更すると、処理時間を変更することができる。なお、光の強度を大きくすると機能ヘッド20内における発熱が大きくなるので、処理時間及びエネルギー損失の双方の観点から光の強度は設定される。   Changing the light intensity can change the processing time. Note that when the light intensity is increased, heat generation in the functional head 20 increases, so the light intensity is set from the viewpoint of both processing time and energy loss.

なお、光源から照射される光が理想的な平行光でない場合は、光路の途中に適宜光学系(マイクロレンズアレイなどの集光レンズ(群))が具備されるので、ノズル50に到達する光は平行光とみなすことができる。   If the light emitted from the light source is not ideal parallel light, an optical system (a condensing lens (group) such as a microlens array) is appropriately provided in the middle of the optical path. Can be regarded as parallel light.

(インクジェットヘッドの説明)
次に、インクジェットヘッド22について説明する。本例に示すインクジェットヘッド22の吐出方式には、圧電方式が適用される。図8は、記録素子単位となる1チャンネル分の液滴吐出素子(1つのノズル80に対応したインク室ユニット)の立体的構成を示す断面図である。同図に示すように、本例のインクジェットヘッド22は、ノズル80が形成されたノズルプレート82と、圧力室84や共通流路86等の流路が形成された流路板88等を積層接合した構造から成る。ノズルプレート82は、インクジェットヘッド22のノズル面82Aを構成し、各圧力室84にそれぞれ連通する複数のノズル80が副走査方向に沿って一列に形成されている。
(Description of inkjet head)
Next, the inkjet head 22 will be described. A piezoelectric method is applied to the discharge method of the inkjet head 22 shown in this example. FIG. 8 is a cross-sectional view showing a three-dimensional configuration of one channel of droplet discharge elements (ink chamber units corresponding to one nozzle 80) serving as a recording element unit. As shown in the figure, the inkjet head 22 of this example is formed by laminating a nozzle plate 82 in which nozzles 80 are formed and a flow path plate 88 in which flow paths such as a pressure chamber 84 and a common flow path 86 are formed. It consists of the structure. The nozzle plate 82 constitutes the nozzle surface 82A of the inkjet head 22, and a plurality of nozzles 80 respectively communicating with the pressure chambers 84 are formed in a line along the sub-scanning direction.

流路板88は、圧力室84の側壁部を構成するとともに、共通流路86から圧力室84にインクを導く個別供給路の絞り部(最狭窄部)としての供給口90を形成する流路形成部材である。なお、説明の便宜上、図8では簡略的に図示しているが、流路板88は一枚又は複数の基板を積層した構造である。ノズルプレート82及び流路板88は、シリコンを材料として半導体製造プロセスによって所要の形状に加工することが可能である。   The flow path plate 88 constitutes a side wall portion of the pressure chamber 84 and a flow path that forms a supply port 90 as a throttle portion (most narrowed portion) of an individual supply path that guides ink from the common flow path 86 to the pressure chamber 84. It is a forming member. For convenience of explanation, although shown in FIG. 8 simply, the flow path plate 88 has a structure in which one or a plurality of substrates are laminated. The nozzle plate 82 and the flow path plate 88 can be processed into a required shape by a semiconductor manufacturing process using silicon as a material.

共通流路86はインク供給源たるインクタンク(不図示)と連通しており、インクタンクから供給されるインクは共通流路86を介して各圧力室84に供給される。圧力室84の一部の面(図8における天面)を構成する振動板92には、上部電極(個別電極)94及び下部電極96を備え、上部電極94と下部電極96との間に圧電体98がはさまれた構造を有するピエゾアクチュエータ(圧電素子)100が接合されている。振動板92を金属薄膜や金属酸化膜により構成すると、ピエゾアクチュエータ100の下部電極96に相当する共通電極として機能する。なお、樹脂などの非導電性材料によって振動板を形成する態様では、振動板部材の表面に金属などの導電材料による下部電極層が形成される。   The common flow path 86 communicates with an ink tank (not shown) serving as an ink supply source, and ink supplied from the ink tank is supplied to each pressure chamber 84 via the common flow path 86. The diaphragm 92 constituting a part of the pressure chamber 84 (the top surface in FIG. 8) includes an upper electrode (individual electrode) 94 and a lower electrode 96, and a piezoelectric element is interposed between the upper electrode 94 and the lower electrode 96. A piezoelectric actuator (piezoelectric element) 100 having a structure in which a body 98 is sandwiched is joined. When the diaphragm 92 is formed of a metal thin film or a metal oxide film, it functions as a common electrode corresponding to the lower electrode 96 of the piezo actuator 100. In the aspect in which the diaphragm is formed of a non-conductive material such as resin, a lower electrode layer made of a conductive material such as metal is formed on the surface of the diaphragm member.

上部電極94に駆動電圧を印加することによってピエゾアクチュエータ100が変形して圧力室84の容積が変化し、これに伴う圧力変化によりノズル80からインクが吐出される。インク吐出後、ピエゾアクチュエータ100が元の状態に戻る際、共通流路86から供給口90を通って新しいインクが圧力室84に再充填される。   By applying a driving voltage to the upper electrode 94, the piezo actuator 100 is deformed to change the volume of the pressure chamber 84, and ink is ejected from the nozzle 80 due to the pressure change accompanying this. When the piezo actuator 100 returns to its original state after ink ejection, new ink is refilled into the pressure chamber 84 from the common channel 86 through the supply port 90.

なお、本例に示すインクジェットヘッド22の吐出方式として、サーマル方式を適用してもよい。サーマル方式についての詳細な説明は省略するが、サーマル方式では、液室内に設けられたヒータに駆動信号が印加されると液室内の液体が加熱され、液室内の液体の膜沸騰現象を利用してノズルから所定量の液滴が吐出される。   Note that a thermal method may be applied as a discharge method of the inkjet head 22 shown in this example. Although a detailed description of the thermal method is omitted, in the thermal method, when a drive signal is applied to a heater provided in the liquid chamber, the liquid in the liquid chamber is heated and the film boiling phenomenon of the liquid in the liquid chamber is used. Then, a predetermined amount of liquid droplets is discharged from the nozzle.

先に説明したように、インクジェットヘッド22のノズル配置は、機能ヘッド20のノズル配置と同一になっている。かかる構造により、改質処理が施された打滴位置に対して液滴を打滴しうる。例えば、図9(a)に示すように、機能ヘッド20のノズル50と、インクジェットヘッド22のノズル80とを一枚のノズルプレート120に形成し、マイクロマシニング技術を用いて、機能ヘッド20の構造体とインクジェットヘッド22の構造体とを別々に作製し、これらの構造体を合体させて、さらに、2つの構造体を合体させた複合構造体にノズルプレート120を接合して、図9(b)に示すように、機能ヘッド20とインクジェットヘッド22とを一体構造とした複合型ヘッド(ハイブリッド型ヘッド)とすることができる。   As described above, the nozzle arrangement of the inkjet head 22 is the same as the nozzle arrangement of the functional head 20. With such a structure, a droplet can be ejected to the droplet ejection position on which the modification process has been performed. For example, as shown in FIG. 9A, the nozzle 50 of the functional head 20 and the nozzle 80 of the inkjet head 22 are formed on a single nozzle plate 120, and the structure of the functional head 20 is formed using micromachining technology. 9 and the structure of the inkjet head 22 are manufactured separately, these structures are combined, and the nozzle plate 120 is joined to the composite structure in which the two structures are combined. ), A composite head (hybrid head) in which the functional head 20 and the ink jet head 22 are integrally formed can be obtained.

かかるハイブリッド型ヘッドは、機能ヘッド20のノズルプレート52とインクジェットヘッド22のノズルプレート82とを別々に作製するよりも、機能ヘッド20のノズル50と機能ヘッド20のノズル80との位置合わせ精度が向上し、ノズルプレート120の生産性を上げることが可能である。   Such a hybrid type head improves the alignment accuracy of the nozzle 50 of the functional head 20 and the nozzle 80 of the functional head 20 rather than separately producing the nozzle plate 52 of the functional head 20 and the nozzle plate 82 of the inkjet head 22. In addition, the productivity of the nozzle plate 120 can be increased.

(制御系の説明)
図10は、パターン形成装置30の制御系の概略構成を示すブロック図である。パターン形成装置30は、通信インターフェース140、システム制御部142、搬送制御部144、画像処理部146、インクジェットヘッド駆動部(IJヘッド駆動部)148、機能ヘッド駆動部(CRヘッド駆動部)149を備えるとともに、画像メモリ150、ROM152を備えている。
(Description of control system)
FIG. 10 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a control system of the pattern forming apparatus 30. The pattern forming apparatus 30 includes a communication interface 140, a system control unit 142, a conveyance control unit 144, an image processing unit 146, an inkjet head driving unit (IJ head driving unit) 148, and a functional head driving unit (CR head driving unit) 149. In addition, an image memory 150 and a ROM 152 are provided.

通信インターフェース140は、ホストコンピュータ154から送られてくる画像データを受信するインターフェース部である。通信インターフェース140は、USB(Universal Serial Bus)などのシリアルインターフェースを適用してもよいし、セントロニクスなどのパラレルインターフェースを適用してもよい。通信インターフェース140は、通信を高速化するためのバッファメモリ(不図示)を搭載してもよい。   The communication interface 140 is an interface unit that receives image data sent from the host computer 154. The communication interface 140 may be a serial interface such as USB (Universal Serial Bus) or a parallel interface such as Centronics. The communication interface 140 may include a buffer memory (not shown) for speeding up communication.

システム制御部142は、中央演算処理装置(CPU)及びその周辺回路等から構成され、所定のプログラムに従ってパターン形成装置30の全体を制御する制御装置として機能するとともに、各種演算を行う演算装置として機能し、さらに、画像メモリ150及びROM152のメモリコントローラとして機能する。すなわち、システム制御部142は、通信インターフェース140、搬送制御部144等の各部を制御し、ホストコンピュータ154との間の通信制御、画像メモリ150及びROM152の読み書き制御等を行うとともに、上記の各部を制御する制御信号を生成する。   The system control unit 142 includes a central processing unit (CPU) and its peripheral circuits, and functions as a control device that controls the entire pattern forming device 30 according to a predetermined program, and also functions as an arithmetic device that performs various calculations. Furthermore, it functions as a memory controller for the image memory 150 and the ROM 152. That is, the system control unit 142 controls each unit such as the communication interface 140 and the conveyance control unit 144, performs communication control with the host computer 154, read / write control of the image memory 150 and the ROM 152, and the above-described units. A control signal to be controlled is generated.

ホストコンピュータ154から送出された画像データは通信インターフェース140を介してパターン形成装置30に取り込まれ、画像処理部146によって所定の画像処理が施される。   The image data sent from the host computer 154 is taken into the pattern forming apparatus 30 via the communication interface 140 and subjected to predetermined image processing by the image processing unit 146.

画像処理部146は、画像データから印字制御用の信号を生成するための各種加工、補正などの処理を行う信号(画像)処理機能を有し、生成した印字データをインクジェットヘッド駆動部148、及び機能ヘッド駆動部149に供給する制御部である。画像処理部146において所要の信号処理が施され、該画像データに基づいて、インクジェットヘッド駆動部148を介してインクジェットヘッド22の吐出液滴量(打滴量)や吐出タイミングの制御が行われる。これにより、所望のドットサイズやドット配置が実現される。なお、図10に示すインクジェットヘッド駆動部148には、インクジェットヘッド22の駆動条件を一定に保つためのフィードバック制御系を含んでいてもよい。   The image processing unit 146 has a signal (image) processing function for performing various processes and corrections for generating a print control signal from the image data. The generated print data is transferred to the inkjet head driving unit 148, and It is a control unit that supplies the functional head drive unit 149. Necessary signal processing is performed in the image processing unit 146, and the ejection droplet amount (droplet ejection amount) and ejection timing of the inkjet head 22 are controlled via the inkjet head driving unit 148 based on the image data. Thereby, a desired dot size and dot arrangement are realized. Note that the inkjet head driving unit 148 shown in FIG. 10 may include a feedback control system for keeping the driving conditions of the inkjet head 22 constant.

機能ヘッド駆動部149は、画像処理部146によって生成された印字データに基づいて改質処理のための制御信号が生成される。該制御信号は、ドットのサイズの情報やパターンの種類の情報(ドットを積み重ねるか又は薄く広げるか)に応じて生成される、光源から照射される光の照射面積を調整するための信号と、画像データに基づいて生成されるノズルの選択信号(各打滴位置についてドットを形成するか否かの情報)が含まれる。光源の調整信号によって光の照射面積が決められ、ノズルの選択信号によって可動ミラー54(図4参照)の動作が制御される。   The functional head drive unit 149 generates a control signal for reforming processing based on the print data generated by the image processing unit 146. The control signal is generated in accordance with dot size information or pattern type information (whether the dots are stacked or spread thinly), and a signal for adjusting the irradiation area of light emitted from the light source; A nozzle selection signal (information on whether or not to form dots for each droplet ejection position) generated based on the image data is included. The light irradiation area is determined by the light source adjustment signal, and the operation of the movable mirror 54 (see FIG. 4) is controlled by the nozzle selection signal.

機能ヘッド20のノズルの選択信号の具体例として、インクジェットヘッド22のノズル選択信号に対して位相を進ませる態様が挙げられる。すなわち、機能ヘッド20のノズル50とインクジェットヘッド22のノズル80は一対一で対応しているので、機能ヘッド20のノズル50とインクジェットヘッド22のノズルとの主走査方向における間隔xを、機能ヘッド20及びインクジェットヘッド22の走査速度vで除算した(x/v)が、機能ヘッド20の制御信号とインクジェットヘッド22の制御信号との位相差となる。なお、実際には、印字データに基づいて機能ヘッド20のノズ選択信号が生成され、機能ヘッド20のノズ選択信号に対して上記した(x/v)で求められる遅延時間が付加されたインクジェットヘッド22のノズル選択信号が生成される。   As a specific example of the nozzle selection signal of the functional head 20, there is an aspect in which the phase is advanced with respect to the nozzle selection signal of the inkjet head 22. That is, since the nozzle 50 of the functional head 20 and the nozzle 80 of the inkjet head 22 correspond one-to-one, the interval x in the main scanning direction between the nozzle 50 of the functional head 20 and the nozzle of the inkjet head 22 is set as the functional head 20. Further, (x / v) divided by the scanning speed v of the inkjet head 22 is the phase difference between the control signal of the functional head 20 and the control signal of the inkjet head 22. In practice, a nose selection signal for the functional head 20 is generated based on the print data, and an ink jet head in which the delay time obtained by (x / v) is added to the nose selection signal for the functional head 20. 22 nozzle selection signals are generated.

搬送制御部144は、画像処理部146により生成された印字制御用の信号に基づいて基板10(図2参照)の搬送タイミング及び搬送速度を制御する。図10における搬送駆動部156は、図3のボールネジ39,42を駆動するモータが含まれる。すなわち、搬送制御部144は上記のモータのドライバーとして機能している。   The conveyance control unit 144 controls the conveyance timing and conveyance speed of the substrate 10 (see FIG. 2) based on the print control signal generated by the image processing unit 146. 10 includes a motor for driving the ball screws 39 and 42 in FIG. That is, the conveyance control unit 144 functions as a driver for the motor.

画像メモリ(一次記憶メモリ)150は、通信インターフェース140を介して入力された画像データを一旦格納する一次記憶手段としての機能や、ROM152に記憶されている各種プログラムの展開領域及びCPUの演算作業領域(例えば、画像処理部146の作業領域)としての機能を有している。画像メモリ150には、逐次読み書きが可能な揮発性メモリ(RAM)が用いられる。   An image memory (primary storage memory) 150 functions as a primary storage unit that temporarily stores image data input via the communication interface 140, a development area for various programs stored in the ROM 152, and a calculation work area for the CPU. (For example, a work area of the image processing unit 146). As the image memory 150, a volatile memory (RAM) capable of sequential reading and writing is used.

ROM152は、システム制御部142のCPUが実行するプログラムや、装置各部の制御に必要な各種データ、制御パラメータなどが格納されており、システム制御部142を通じてデータの読み書きが行われる。ROM152は、半導体素子からなるメモリに限らず、ハードディスクなど磁気媒体を用いてもよい。また、外部インターフェースを備え、着脱可能な記憶媒体を用いてもよい。   The ROM 152 stores a program executed by the CPU of the system control unit 142, various data necessary for control of each unit of the apparatus, control parameters, and the like, and data is read and written through the system control unit 142. The ROM 152 is not limited to a memory made of a semiconductor element, and a magnetic medium such as a hard disk may be used. Alternatively, a removable storage medium that includes an external interface may be used.

本例に示すパターン形成装置30は、ユーザインターフェース170を具備し、該ユーザインターフェース170は、オペレータ(ユーザ)が各種入力を行うための入力装置172と、表示部(ディスプレイ)174を含んで構成される。入力装置172には、キーボード、マウス、タッチパネル、ボタンなど各種形態を採用し得る。オペレータは、入力装置172を操作することにより、印刷条件の入力、画質モードの選択、付属情報の入力・編集、情報の検索などを行うことができ、入力内容や検索結果など等の各種情報は表示部174の表示を通じて確認することができる。この表示部174はエラーメッセージなどの警告を表示する手段としても機能する。なお、図10の表示部174は、異常を知らせる報知手段としてのディスプレイに適用することができる。   The pattern forming apparatus 30 shown in this example includes a user interface 170, and the user interface 170 includes an input device 172 for an operator (user) to perform various inputs and a display unit (display) 174. The The input device 172 can employ various forms such as a keyboard, a mouse, a touch panel, and buttons. By operating the input device 172, the operator can perform input of printing conditions, selection of image quality mode, input / editing of attached information, search of information, and various information such as input contents and search results. This can be confirmed through the display on the display unit 174. The display unit 174 also functions as means for displaying a warning such as an error message. Note that the display unit 174 in FIG. 10 can be applied to a display as a notification unit that notifies abnormality.

パラメータ記憶部180は、パターン形成装置30の動作に必要な各種制御パラメータが記憶されている。システム制御部142は、制御に必要なパラメータを適宜読み出すとともに、必要に応じて各種パラメータの更新(書換)を実行する。   The parameter storage unit 180 stores various control parameters necessary for the operation of the pattern forming apparatus 30. The system control unit 142 appropriately reads out parameters necessary for control and updates (rewrites) various parameters as necessary.

プログラム格納部184は、パターン形成装置30を動作させるための制御プログラムが格納されている記憶手段である。   The program storage unit 184 is a storage unit that stores a control program for operating the pattern forming apparatus 30.

上記の如く構成されたパターン形成方法によれば、基板10の現実にドットが形成される打滴位置に対して改質処理が施され、改質処理が施された直後の打滴位置に液滴が打滴されるので、ジャギーやバルジの発生が防止され、パターンのにじみレス化が可能となる。また、打滴位置を中心とし、ドットの被覆面積と略同一面積を有する微小領域に対して、オンデマンドによる改質処理が実行されるので、より少ないエネルギーを用いた効率のよい改質処理となる。さらに、改質処理と打滴が連続的に実行されるので、パターン形成が全体として高速化される。   According to the pattern forming method configured as described above, the reforming process is performed on the droplet ejection position where the dots are actually formed on the substrate 10, and the liquid is applied to the droplet ejection position immediately after the reforming process is performed. Since the droplets are hit, the occurrence of jaggies and bulges can be prevented and the pattern can be prevented from bleeding. In addition, since an on-demand reforming process is performed on a minute region that has the same area as the dot coverage area around the droplet ejection position, an efficient reforming process using less energy and Become. Furthermore, since the reforming process and the droplet ejection are continuously performed, the pattern formation as a whole is accelerated.

改質処理として親液処理が適用されると、基板10と液滴の密着力(接合力)が向上する。特に、水系の溶媒を用いた液体が適用される場合や、フレキシブル基板などの柔軟性を有する基板が用いられる場合は、パターンの剥離が防止された好ましいパターン形成が可能となる。さらに、機能ヘッド20を用いたオンデマンド処理によって、改質処理のマスクレス化が可能となる。   When the lyophilic process is applied as the modification process, the adhesion (bonding force) between the substrate 10 and the droplet is improved. In particular, when a liquid using an aqueous solvent is applied, or when a flexible substrate such as a flexible substrate is used, it is possible to form a preferable pattern in which pattern peeling is prevented. Further, the on-demand process using the functional head 20 enables the masking of the reforming process.

本例では、機能ヘッド20がインクジェットヘッド22と同一のノズル配置を有する態様を例示したが、基板上の各打滴位置に対して選択的に改質処理を施すことが可能であれば(機能ヘッド20に各打滴位置に対応するノズル50が存在すれば)、機能ヘッド20のノズル配置をインクジェットヘッド22のノズル配置と異ならせてもよい。   In this example, the mode in which the functional head 20 has the same nozzle arrangement as that of the inkjet head 22 is exemplified. However, if the modification process can be selectively performed on each droplet ejection position on the substrate (function The nozzle arrangement of the functional head 20 may be different from the nozzle arrangement of the inkjet head 22 (if the nozzle 20 corresponding to each droplet ejection position exists in the head 20).

また、本例では、機能ヘッド20とインクジェットヘッド22とを同一のキャリッジ32に搭載して、一体的に走査させる態様を例示したが、機能ヘッド20とインクジェットヘッド22とを独立に走査させてもよい。かかる態様では、改質処理が施された直後の打滴位置に対して液滴が打滴されるように、機能ヘッド20及びインクジェットヘッド22が配置されるとともに、それぞれの走査が制御される。   In this example, the functional head 20 and the inkjet head 22 are mounted on the same carriage 32 and are integrally scanned. However, the functional head 20 and the inkjet head 22 may be scanned independently. Good. In such an aspect, the functional head 20 and the inkjet head 22 are arranged so that the droplets are ejected to the droplet ejection position immediately after the reforming process is performed, and the respective scans are controlled.

〔第2実施形態〕
次に、本発明の第2実施形態に係るパターン形成装置について説明する。以下に説明する第2実施形態において、先に説明した第1実施形態と同一又は類似する部分には同一の符号を付し、その説明は省略する。
[Second Embodiment]
Next, a pattern forming apparatus according to a second embodiment of the present invention will be described. In the second embodiment described below, the same or similar parts as those in the first embodiment described above are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

図11は、第2実施形態に係るパターン形成装置200の概略構成図である。同図に示すパターン形成装置200は、反応ガス雰囲気202において基板10に対する改質処理が施される。例えば酸素を含む反応ガス雰囲気202において、光と反応ガスが反応して活性酸素が生成され、この活性酸素によって光が照射された打滴位置が親液性に改質される。なお、機能ヘッド20は、上述した第1実施形態と同様の構成を適用することができる。一方、反応ガスとしてフッ素系ガスを用いると、改質処理領域を撥液(撥水)性とすることができる。パターン形成に用いられる液体が有機溶媒を用いたものである場合は、基板10の表面を撥液性とすることで、打滴された液滴の定着性が向上する。   FIG. 11 is a schematic configuration diagram of a pattern forming apparatus 200 according to the second embodiment. In the pattern forming apparatus 200 shown in the figure, a modification process is performed on the substrate 10 in a reactive gas atmosphere 202. For example, in a reaction gas atmosphere 202 containing oxygen, light reacts with the reaction gas to generate active oxygen, and the droplet ejection position irradiated with light by this active oxygen is modified to be lyophilic. The functional head 20 can apply the same configuration as in the first embodiment described above. On the other hand, when a fluorine-based gas is used as the reactive gas, the modified region can be made liquid repellent (water repellent). When the liquid used for pattern formation uses an organic solvent, the fixability of the ejected droplets is improved by making the surface of the substrate 10 liquid repellent.

詳細な図示は省略するが、機能ヘッド20と基板10との空間に反応ガスを充填させる構成の一例として、機能ヘッド20と基板10との間に反応ガスを放出させるための放出口と、該放出口と連通される反応ガス流路と、反応ガス流路を介して放出口と接続される反応ガスタンクと、を具備する態様が挙げられる。   Although detailed illustration is omitted, as an example of a configuration in which the reaction gas is filled in the space between the functional head 20 and the substrate 10, a discharge port for discharging the reaction gas between the functional head 20 and the substrate 10, The aspect which comprises the reactive gas flow path connected with the discharge port and the reactive gas tank connected with the discharge port via the reactive gas flow path is mentioned.

また、図12に示すように、機能ヘッド20やインクジェットヘッド22、機能ヘッド20及びインクジェットヘッド22の走査機構(不図示)、基板10の搬送機構38を内蔵するチャンバー204を具備し、チャンバー204内を反応ガス雰囲気として、改質処理及び打滴を行う態様も可能である。図12では図示を省略するが、チャンバー204の基板搬入口及び基板排出口には、加熱工程等の前処理工程及び定着工程等の後処理工程との間で基板10の受け渡しを行う搬送部が配設されている。   Further, as shown in FIG. 12, a functional head 20, an ink jet head 22, a scanning mechanism (not shown) of the functional head 20 and the ink jet head 22, and a chamber 204 containing a transport mechanism 38 for the substrate 10 are provided. It is also possible to perform the reforming treatment and droplet ejection using the reaction gas atmosphere. Although not shown in FIG. 12, a conveyance unit that delivers the substrate 10 between a pretreatment process such as a heating process and a post-treatment process such as a fixing process is provided at the substrate carry-in port and the substrate discharge port of the chamber 204. It is arranged.

本例に適用される反応ガスの一例として、酸素、窒素、フッ化メタン(CF)などが挙げられる。図12に示す態様では、チャンバー204内に反応ガスを充填するための供給口、及びチャンバー204内の反応ガスを排出させるための排出口が具備される。かかる構成によって、チャンバー204内の反応ガスを基板10の種類や、改質処理の内容、機能ヘッド20から照射される光の種類に対応して、反応ガスを適宜切り換えることが可能となる。 Examples of the reaction gas applied to this example include oxygen, nitrogen, fluorinated methane (CF 4 ), and the like. In the embodiment shown in FIG. 12, a supply port for filling the reaction gas into the chamber 204 and a discharge port for discharging the reaction gas in the chamber 204 are provided. With this configuration, the reaction gas in the chamber 204 can be appropriately switched according to the type of the substrate 10, the content of the modification process, and the type of light emitted from the functional head 20.

上記の如く構成されたパターン形成装置によれば、反応ガスと光が反応して活性酸素となり、との組み合わせにより基板に対して改質処理が施されるので、第1実施形態に係る大気中における改質処理と比較して、効率よく改質処理を行うことが可能となる。   According to the pattern forming apparatus configured as described above, the reaction gas reacts with light to become active oxygen, and the substrate is subjected to the modification process by the combination thereof. Therefore, in the atmosphere according to the first embodiment Compared with the reforming process in, the reforming process can be performed efficiently.

〔第3実施形態〕
次に、本発明の第3実施形態について説明する。本例では、機能ヘッドから発生させたプラズマ(ラジカル)を基板に照射させて改質処理が施されるように構成されている。
[Third Embodiment]
Next, a third embodiment of the present invention will be described. In this example, the substrate is irradiated with plasma (radicals) generated from the functional head so that the modification process is performed.

図13は、本例に適用される機能ヘッド320の概略構成図である。同図に示す機能ヘッド320は、プラズマ源321が内蔵されるとともに、複数のノズル350のそれぞれに対応して、シャッター(ノズル開閉機構)354が内部に設けられている。シャッターは、先に説明したMEMSデバイスが適用される。   FIG. 13 is a schematic configuration diagram of a functional head 320 applied to this example. The functional head 320 shown in the figure has a built-in plasma source 321 and a shutter (nozzle opening / closing mechanism) 354 provided therein corresponding to each of the plurality of nozzles 350. The MEMS device described above is applied to the shutter.

すなわち、本例に示す機能ヘッド320は、図4(a),(b)に図示した機能ヘッド20の光源55に代わりプラズマ源(高電圧プラズマ源)321が具備され、可動ミラー54に代わりシャッター354が具備され、パターンを形成するドットの位置データ及びサイズのデータに基づいて改質処理の制御信号が生成され、該制御信号により各シャッター354の動作(ノズル350の開閉)が制御され、パターンを構成するドットが形成される打滴位置に対してプラズマが照射される。   That is, the functional head 320 shown in this example includes a plasma source (high voltage plasma source) 321 instead of the light source 55 of the functional head 20 shown in FIGS. 4A and 4B, and a shutter instead of the movable mirror 54. 354, and a modification control signal is generated based on position data and size data of dots forming the pattern, and the operation of each shutter 354 (opening and closing of the nozzle 350) is controlled by the control signal. The plasma is irradiated to the droplet ejection position where the dots constituting the are formed.

本例に適用される改質処理では、プラズマ源321と機能ヘッド320内に充填された反応ガス302を用いて、機能ヘッド320内にプラズマ放電を発生させ、ノズル350を介してプラズマ放電電子を基板10のパターン形成面10Aに照射することにより、パターン形成面10Aに親水性極性基を生成し、濡れ正・接着性・印刷性・コーティング特性等の機能が付与される。なお、空気(エアー)を用い大気中でプラズマ放電を発生させてもよい。   In the reforming process applied to this example, plasma discharge is generated in the functional head 320 using the plasma source 321 and the reactive gas 302 filled in the functional head 320, and plasma discharge electrons are generated through the nozzle 350. By irradiating the pattern forming surface 10A of the substrate 10, hydrophilic polar groups are generated on the pattern forming surface 10A, and functions such as wetting correctness, adhesiveness, printability, and coating characteristics are imparted. Note that plasma discharge may be generated in the atmosphere using air.

上記の如く構成された第3実施形態によれば、基板10のパターン形成面10Aにおける打滴位置に対して、プラズマを用いた改質処理が施されることで、現実にドットが形成される打滴位置を中心とした所定領域が親液性となり、ジャギーやバルジの防止によるにじみレス化、少ないエネルギーを用いた効率のよい改質処理、パターン形成全体の高速化といった、第1実施形態と同様の効果を得ることができる。   According to the third embodiment configured as described above, dots are actually formed by performing a modification process using plasma on the droplet ejection position on the pattern forming surface 10A of the substrate 10. The predetermined area centered on the droplet ejection position becomes lyophilic, and is less bleed by preventing jaggies and bulges, efficient reforming using less energy, and speeding up the overall pattern formation. Similar effects can be obtained.

〔変形例〕
次に、上述した第1〜3実施形態の変形例について説明する。
[Modification]
Next, modified examples of the above-described first to third embodiments will be described.

(全体構成)
図14は、本発明の変形例に係るパターン形成装置30’の概略構成図である。同図に示すパターン形成装置30’は、フルライン型の機能ヘッド20’を具備するとともに、フルライン型のインクジェットヘッド22’を具備している。フルライン型の機能ヘッド20’とは、基板10の主走査方向Mにおける全長に対応する長さにわたって、ノズル50が並べられた構造を有し、機能ヘッド20’と基板10とを副走査方向Sについて1回だけ相対的に移動させることで、基板10の全域にわたって改質処理を行うことができる。
(overall structure)
FIG. 14 is a schematic configuration diagram of a pattern forming apparatus 30 ′ according to a modification of the present invention. The pattern forming apparatus 30 ′ shown in the figure includes a full line type functional head 20 ′ and a full line type ink jet head 22 ′. The full-line type functional head 20 ′ has a structure in which nozzles 50 are arranged over a length corresponding to the entire length of the substrate 10 in the main scanning direction M, and the functional head 20 ′ and the substrate 10 are arranged in the sub-scanning direction. By performing the relative movement of S only once, the modification process can be performed over the entire area of the substrate 10.

図14に示すパターン形成装置30’は、副走査方向の前段(基板10の搬送方向上流側)に機能ヘッド20’が配置されるとともに、機能ヘッド20’の後段(基板10の搬送方向下流側)にインクジェットヘッド22’が配置されている。また、機能ヘッド20’とインクジェットヘッド22’とは近接して配置されている。機能ヘッド20’のノズル50(図14中不図示)と、機能ヘッド20’のノズル50に対応するインクジェットヘッド22’のノズル80(図14中不図示)との副走査方向における間隔y(機能ヘッド20’とインクジェットヘッド22’との配置間隔)は、基板10の搬送速度をvとしたときに、y≦0.1×vとなっている。つまり、改質処理が施された打滴位置は、改質処理から0.1秒以内に液滴が打滴される。   In the pattern forming apparatus 30 ′ shown in FIG. 14, the functional head 20 ′ is arranged at the front stage in the sub-scanning direction (upstream side in the transport direction of the substrate 10), and the rear stage (downstream in the transport direction of the substrate 10). ) Is provided with an inkjet head 22 '. Further, the functional head 20 'and the ink jet head 22' are arranged close to each other. The distance y (function) in the sub-scanning direction between the nozzle 50 (not shown in FIG. 14) of the functional head 20 ′ and the nozzle 80 (not shown in FIG. 14) of the inkjet head 22 ′ corresponding to the nozzle 50 of the functional head 20 ′. The arrangement interval between the head 20 ′ and the inkjet head 22 ′ is y ≦ 0.1 × v, where v is the transport speed of the substrate 10. That is, droplets are ejected within 0.1 seconds from the reforming process at the droplet ejection position where the reforming process has been performed.

基板10の先頭側から順次機能ヘッド20’の処理領域に進むと、現実にドットが形成される打滴位置に改質処理が施され、改質処理が施された直後の打滴位置には、機能ヘッド20’の後段に位置するインクジェットヘッド22’から液滴が打滴される。   When proceeding sequentially from the head side of the substrate 10 to the processing area of the functional head 20 ′, the reforming process is performed on the droplet ejection position where dots are actually formed, and the droplet ejection position immediately after the reforming process is performed. Then, droplets are ejected from the inkjet head 22 ′ located at the subsequent stage of the functional head 20 ′.

(ノズル配置の説明)
図15は、フルライン型インクジェットヘッド22’の構成例を示す平面透視図(インクジェットヘッド22’から基板10を見た図)であり、図16は、図15に示すインクジェットヘッド22’のノズル配置を説明する図である。なお、先に説明したように、機能ヘッド20’とインクジェットヘッド22’はノズル配置が同一とされるので、ここではインクジェットヘッド22’について説明する。
(Description of nozzle arrangement)
FIG. 15 is a plan perspective view (a view of the substrate 10 viewed from the inkjet head 22 ′) showing a configuration example of the full-line inkjet head 22 ′, and FIG. 16 is a nozzle arrangement of the inkjet head 22 ′ shown in FIG. FIG. As described above, since the nozzle arrangement of the functional head 20 ′ and the inkjet head 22 ′ is the same, the inkjet head 22 ′ will be described here.

図15に示すインクジェットヘッド22’は、n個のヘッドモジュール22A‐i(iは1からnの整数)をインクジェットヘッド22’の長手方向に沿って一列につなぎ合わせてマルチヘッドを構成している。また、各ヘッドモジュール22A‐iは、インクジェットヘッド22’の短手方向の両側からヘッドカバー22B,22Cによって支持されている。なお、ヘッドモジュール22Aを千鳥状に配置してマルチヘッドを構成することも可能である。かかる構造を有するインクジェットヘッド22’と記録媒体とを相対的に一回だけ走査させてパターン形成を行う、いわゆるシングルパス方式により、基板10の全面にわたってパターンを形成し得る。   The inkjet head 22 ′ shown in FIG. 15 forms a multi-head by connecting n head modules 22A-i (i is an integer from 1 to n) in a line along the longitudinal direction of the inkjet head 22 ′. . Each head module 22A-i is supported by head covers 22B and 22C from both sides of the inkjet head 22 'in the short direction. It is also possible to configure a multi-head by arranging the head modules 22A in a staggered manner. The pattern can be formed over the entire surface of the substrate 10 by a so-called single pass method in which the inkjet head 22 ′ having such a structure and the recording medium are scanned only once relatively to perform pattern formation.

インクジェットヘッド22’を構成するヘッドモジュール22A‐iは、略平行四辺形の平面形状を有し、隣接するサブヘッド間にオーバーラップ部が設けられている。オーバーラップ部とは、サブヘッドのつなぎ部分であり、ヘッドモジュール22A‐iの並び方向について、隣接するドットが異なるサブヘッドに属するノズルによって形成される。   The head module 22A-i constituting the ink jet head 22 'has a substantially parallelogram-shaped planar shape, and an overlap portion is provided between adjacent sub heads. The overlap portion is a connecting portion of the sub heads, and is formed by nozzles in which adjacent dots belong to different sub heads in the arrangement direction of the head modules 22A-i.

図16に示すように、各ヘッドモジュール22A‐iは、ノズル80が二次元状に並べられた構造を有し、かかるヘッドモジュール22A‐iを備えたヘッドは、いわゆるマトリクスヘッドと呼ばれるものである。図16に図示したヘッドモジュール22A‐iは、副走査方向Sに対して角度αをなす列方向W、及び主走査方向Mに対して角度βをなす行方向Vに沿って多数のノズル80が並べられた構造を有し、主走査方向Mの実質的なノズル配置密度が高密度化されている。図3では、行方向Vに沿って並べられたノズル群(ノズル行)は符号80Aを付し、列方向Wに沿って並べられたノズル群(ノズル列)は符号80Bを付して図示されている。   As shown in FIG. 16, each head module 22A-i has a structure in which nozzles 80 are arranged two-dimensionally, and a head provided with such a head module 22A-i is a so-called matrix head. . The head module 22A-i illustrated in FIG. 16 includes a number of nozzles 80 along a column direction W that forms an angle α with respect to the sub-scanning direction S and a row direction V that forms an angle β with respect to the main scanning direction M. It has an aligned structure, and the substantial nozzle arrangement density in the main scanning direction M is increased. In FIG. 3, a nozzle group (nozzle row) arranged along the row direction V is denoted by reference numeral 80A, and a nozzle group (nozzle row) arranged along the column direction W is denoted by reference numeral 80B. ing.

なお、ノズル80のマトリクス配置の他の例として、主走査方向Mに沿う行方向、及び主走査方向Mに対して斜め方向の列方向に沿って複数のノズル80を配置する構成が挙げられる。   Another example of the matrix arrangement of the nozzles 80 is a configuration in which a plurality of nozzles 80 are arranged along the row direction along the main scanning direction M and the column direction oblique to the main scanning direction M.

機能ヘッド20’の内部構造は図4(a),(b)に図示した光照射型の構造を適用してもよいし、図13に図示したプラズマ照射型の構造を適用してもよい。また、インクジェットヘッド22’の内部構造は図8に図示したピエゾアクチュエータ型を適用してもよいし、図示しないサーマル型を適用してもよい。   As the internal structure of the functional head 20 ′, the light irradiation type structure shown in FIGS. 4A and 4B may be applied, or the plasma irradiation type structure shown in FIG. 13 may be applied. Further, as the internal structure of the inkjet head 22 ′, the piezoelectric actuator type illustrated in FIG. 8 may be applied, or a thermal type (not illustrated) may be applied.

さらに、図9(b)に示すように、機能ヘッド20’とインクジェットヘッド22’とを一体構造とし、一枚のノズルプレートに機能ヘッド20’のノズルとインクジェットヘッド22’のノズルとを形成してもよい。   Further, as shown in FIG. 9B, the functional head 20 ′ and the inkjet head 22 ′ are integrated, and the nozzle of the functional head 20 ′ and the nozzle of the inkjet head 22 ′ are formed on one nozzle plate. May be.

図17(a),(b)は、図4(a),(b)に図示した光照射型ヘッドの構造をマトリクスヘッドに適用した場合の構造例を示す図である。なお、図17(a),(b)中、図4(a),(b)と同一又は類似する部分には同一の符号を付し、その説明は省略する。   FIGS. 17A and 17B are diagrams showing a structure example when the structure of the light irradiation type head shown in FIGS. 4A and 4B is applied to a matrix head. In FIGS. 17A and 17B, the same or similar parts as those in FIGS. 4A and 4B are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

以下に説明するマトリクスヘッドのノズル配列は、主走査方向に沿う行方向、及び主走査方向に対して斜め方向の列方向に沿って複数のノズル50(50‐11,50‐12,…,50‐32,…,)が並べられているものとして説明する。   The nozzle arrangement of the matrix head described below includes a plurality of nozzles 50 (50-11, 50-12,..., 50 along the row direction along the main scanning direction and the column direction oblique to the main scanning direction. -32,...) Are arranged.

図17(a)は、機能ヘッド20’の立体構造を示す図であり、図17(b)は、機能ヘッド20’を上面から見た図である。図17(a)における左右方向は機能ヘッド20’の長手方向(主走査方向M)であり、紙面を貫く方向は基板10の搬送方向(副走査方向S)である。図17(a)には、主走査方向Mに沿って配置された多数のノズルのうち、3つのノズル50‐11,50‐12,50‐13のみが図示されている。図17(a)に図示された3つのノズル50‐11,50‐12,50‐13のうち、ノズル50‐11,50‐13は基板10へ光を照射するオン状態のノズルであり、ノズル50‐12は、基板10へ光を照射しないオフ状態のノズルである。   FIG. 17A is a diagram showing a three-dimensional structure of the functional head 20 ′, and FIG. 17B is a diagram of the functional head 20 ′ as viewed from above. In FIG. 17A, the left-right direction is the longitudinal direction (main scanning direction M) of the functional head 20 ', and the direction penetrating the paper surface is the transport direction (sub-scanning direction S) of the substrate 10. FIG. 17A shows only three nozzles 50-11, 50-12, and 50-13 among a large number of nozzles arranged along the main scanning direction M. Of the three nozzles 50-11, 50-12, and 50-13 illustrated in FIG. 17A, the nozzles 50-11 and 50-13 are on-state nozzles that emit light to the substrate 10, and the nozzles Reference numeral 50-12 denotes an off-state nozzle that does not irradiate the substrate 10 with light.

図17(b)に示すように、固定ミラー群56は、複数の固定ミラー56‐1,56‐2,56‐3,…、が副走査方向Sに沿って一列に並べられており、固定ミラー56の配置ピッチは、ノズル50の副走査方向Sの実質的な配置ピッチに対応している。すなわち、主走査方向に沿って並べられた複数のノズルの一群に対して1つの固定ミラー56が具備されている。   As shown in FIG. 17B, the fixed mirror group 56 includes a plurality of fixed mirrors 56-1, 56-2, 56-3,... Arranged in a line along the sub-scanning direction S. The arrangement pitch of the mirrors 56 corresponds to a substantial arrangement pitch of the nozzles 50 in the sub-scanning direction S. That is, one fixed mirror 56 is provided for a group of a plurality of nozzles arranged in the main scanning direction.

固定ミラー56は、反射特性及び透過特性を有するハーフミラー(半透過鏡)が適用される。すなわち、光源55から照射された光は、最初の固定ミラー56‐3によって一部が反射してノズル50‐31,50‐32,…,ごとに設けられた可動ミラー54‐31,54‐32,…,へ導かれ、一部が透過して次段の固定ミラー56‐2へ導かれる。次段の固定ミラー56‐2導かれた光は、一部が反射して可動ミラー54‐21,54‐22,…,へ照射され、一部は透過して次段の固定ミラー56‐1へ到達する。   As the fixed mirror 56, a half mirror (semi-transmissive mirror) having reflection characteristics and transmission characteristics is applied. That is, the light emitted from the light source 55 is partially reflected by the first fixed mirror 56-3, and the movable mirrors 54-31, 54-32 provided for the nozzles 50-31, 50-32,. ,..., Part of which is transmitted and guided to the fixed mirror 56-2 at the next stage. The light guided to the next-stage fixed mirror 56-2 is partially reflected and irradiated to the movable mirrors 54-21, 54-22,..., And part of the light is transmitted and transmitted to the next-stage fixed mirror 56-1. To reach.

なお、主走査方向Mに沿って並べられた可動ミラー54の一群(例えば、可動ミラー54‐11,‐12,54‐13,…,)は、固定ミラー56側から順にオンをなるように動作が制御される。例えば、ノズル50‐11,50‐13がオン、ノズル50‐12がオフとなる場合は、先ず、ノズル50‐11がオンとなり、ノズル50‐11から所定時間光が照射されオフとなった後に、ノズル50‐13がオンとなる。このようにして、主走査方向に沿って並べられたノズル50の一群はタイミングをずらして順次オンとされる。   Note that a group of movable mirrors 54 (for example, movable mirrors 54-11, -12, 54-13,...) Arranged along the main scanning direction M operate so as to turn on sequentially from the fixed mirror 56 side. Is controlled. For example, when the nozzles 50-11 and 50-13 are turned on and the nozzle 50-12 is turned off, the nozzle 50-11 is first turned on, and after the light is irradiated from the nozzle 50-11 for a predetermined time and turned off. The nozzle 50-13 is turned on. In this way, a group of nozzles 50 arranged in the main scanning direction are sequentially turned on at different timings.

例えば、1つのノズル50(可動ミラー54)のオン時間を1マイクロ秒とすると、1マイクロ秒間隔で固定ミラー56に近い側の可動ミラー54から順にオンとされ、主走査方向について最終段の固定ミラー56がオンになると、主走査方向についての一回分の走査が終了する。主走査方向における一回の走査に要するる時間に応じて、基板10の搬送速度が決められる。   For example, if the ON time of one nozzle 50 (movable mirror 54) is 1 microsecond, the movable mirror 54 is turned on in order from the side closer to the fixed mirror 56 at intervals of 1 microsecond, and the final stage is fixed in the main scanning direction. When the mirror 56 is turned on, one scan in the main scanning direction is completed. The conveyance speed of the substrate 10 is determined according to the time required for one scan in the main scanning direction.

なお、通過する固定ミラー56の数が多くなるほど(光源55から離れるほど)オン時間を長くして、固定ミラーによる光量の損失を補償するとよい。例えば、ノズル50‐31を含む一群(透過する固定ミラーの数はゼロ)よりも、ノズル50‐21を含む一群(透過する固定ミラーの数1)は、固定ミラー56の透過率に応じてオン時間を長くするとよい。   It should be noted that as the number of fixed mirrors 56 that pass through increases (away from the light source 55), the on-time is lengthened to compensate for the loss of light quantity due to the fixed mirror. For example, the group including the nozzles 50-21 (the number of fixed mirrors 1 transmitting) is turned on according to the transmittance of the fixed mirror 56 rather than the group including the nozzles 50-31 (the number of fixed mirrors transmitting is zero). You should lengthen the time.

また、主走査方向におけるノズル50の一群ごとに光源55が具備され、固定ミラー群56が省略される態様や、光ファイバー等を用いてノズルごとに点光源が具備される態様も可能である。   Further, a mode in which the light source 55 is provided for each group of nozzles 50 in the main scanning direction and the fixed mirror group 56 is omitted, or a mode in which a point light source is provided for each nozzle using an optical fiber or the like is possible.

図18は、図13に図示したプラズマ照射型の機能ヘッドの構造をマトリクスヘッドに適用した場合の構造例を示す図である。なお、図18中、図13と同一又は類似する部分には同一の符号を付し、その説明は省略する。図18に示す機能ヘッド320’は、ノズル350‐1及びノズル350‐3に対応するシャッター354‐1,354‐3が開かれた状態であり、ノズル350‐1,350‐3がオンとなっている。一方、ノズル350‐2に対応するシャッター354‐2が閉じられた状態であり、ノズル350‐2がオフとなっている。このように、各ノズル350に対応するシャッター354を適宜オンオフさせることで、各ノズル350から選択的にプラズマを照射させることが可能となっている。かかる態様では、複数のノズル350から同時にプラズマを照射することが可能であり、また、ノズルごとに照射されるエネルギー量が異なるといった問題もない。   FIG. 18 is a diagram showing a structure example when the structure of the plasma irradiation type functional head shown in FIG. 13 is applied to a matrix head. In FIG. 18, parts that are the same as or similar to those in FIG. 13 are given the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted. The functional head 320 ′ shown in FIG. 18 is in a state where the shutters 354-1 and 354-3 corresponding to the nozzle 350-1 and the nozzle 350-3 are opened, and the nozzles 350-1 and 350-3 are turned on. ing. On the other hand, the shutter 354-2 corresponding to the nozzle 350-2 is closed, and the nozzle 350-2 is off. In this way, by appropriately turning on / off the shutter 354 corresponding to each nozzle 350, it is possible to selectively irradiate plasma from each nozzle 350. In such an embodiment, it is possible to irradiate plasma from a plurality of nozzles 350 at the same time, and there is no problem that the amount of energy irradiated differs from nozzle to nozzle.

〔可動ミラー(MEMSデバイス)の製造方法〕
次に、機能ヘッド20(20’,320)に適用される可動ミラー54(MEMSデバイス)の製造方法について工程順に沿って説明する。図19(a)〜(e)は、MEMSデバイスの製造工程を説明する図である。まず、シリコン基板300を1050℃で加熱して、シリコン基板300の表面にシリコン酸化膜(SiO)302,304が形成される(図19(a):酸化膜生成工程)。なお、シリコン基板300の面方位は(100)であり、厚みが0.5μm〜4μm程度の中間層(SiO)306が設けられている。
[Method of manufacturing movable mirror (MEMS device)]
Next, a method for manufacturing the movable mirror 54 (MEMS device) applied to the functional head 20 (20 ′, 320) will be described in the order of steps. FIGS. 19A to 19E are diagrams for explaining a manufacturing process of the MEMS device. First, the silicon substrate 300 is heated at 1050 ° C. to form silicon oxide films (SiO 2 ) 302 and 304 on the surface of the silicon substrate 300 (FIG. 19A: oxide film generation step). The plane orientation of the silicon substrate 300 is (100), and an intermediate layer (SiO 2 ) 306 having a thickness of about 0.5 μm to 4 μm is provided.

次に、ドライエッチング(反応性イオンエッチング(RIE))により、マスクとなるシリコン酸化膜302,304がパターンニングされる(図19(b):マスクパターンニング工程)。かかる工程では、反応ガスとしてCFやHが用いられる。さらに、パターンニングされたシリコン酸化膜302,304をマスクとし、中間層306をストップ層として、ドライエッチングによりシリコン酸化膜302により被覆されていない領域がパターンニングされる(図19(c):パターンニング工程)。かかる工程では、反応ガスとしてSFやCが用いられる。 Next, the silicon oxide films 302 and 304 serving as masks are patterned by dry etching (reactive ion etching (RIE)) (FIG. 19B: mask patterning step). In such a process, CF 4 or H 2 is used as a reaction gas. Further, using the patterned silicon oxide films 302 and 304 as a mask and the intermediate layer 306 as a stop layer, a region not covered with the silicon oxide film 302 is patterned by dry etching (FIG. 19C: pattern Ning process). In this step, SF 6 or C 4 F 8 is used as a reaction gas.

その後、中間層306が除去され(図19(d):中間層除去工程)、ミラーとなる部分にメッキ処理が施され、金やプラチナなどのミラーとなる金属薄膜308が形成される(図19(e):メッキ処理工程)。   Thereafter, the intermediate layer 306 is removed (FIG. 19 (d): intermediate layer removing step), and the portion that becomes the mirror is plated to form a metal thin film 308 that becomes a mirror such as gold or platinum (FIG. 19). (E): Plating process).

同様の工程により、可動ミラー54を動作させるMEMSアクチュエータ(図5参照)が作製される。MEMSアクチュエータを作製する際は、対向電極(図5参照)を形成する工程(対向電極となる金属薄膜を形成する工程、該金属薄膜をパターンニングする工程)が含まれる。   A MEMS actuator (see FIG. 5) that operates the movable mirror 54 is manufactured by the same process. When producing a MEMS actuator, the process of forming a counter electrode (refer FIG. 5) (The process of forming the metal thin film used as a counter electrode, the process of patterning this metal thin film) is included.

かかるMEMSデバイスは、高精度に微細加工された機械要素及び機械要素と電気要素とを融合させた微細デバイスであり、ミクロンオーダーやナノオーダーの精度が要求される機能ヘッド20を構成する微細デバイスの作製に好適である。   Such a MEMS device is a micro device obtained by fusing a mechanical element and a mechanical element and an electrical element that are micro-machined with high accuracy, and is a micro device that constitutes a functional head 20 that requires micron-order or nano-order accuracy. Suitable for production.

図19(a)〜(e)に示す各工程を経て、機能ヘッド20の内部構造が作製されると、この内部構造体や、光源などが機能ヘッド20のフレーム内に設置され、ノズルプレート52(図4参照)が可動ミラー54と位置合わせされて接合され、機能ヘッド20が完成する。   When the internal structure of the functional head 20 is manufactured through the steps shown in FIGS. 19A to 19E, the internal structure, the light source, and the like are installed in the frame of the functional head 20, and the nozzle plate 52. (See FIG. 4) is aligned and joined with the movable mirror 54, and the functional head 20 is completed.

本例では、基板上の配線パターンやマスクパターンなどのパターン描画を行う方法及び装置を例示したが、本発明は、紙などの記録媒体上に画像を形成するグラフィック印刷や、有機ELパネルなどの薄型パネルの作製にも適用可能であり、同様の効果を得ることができる。   In this example, a method and an apparatus for drawing a pattern such as a wiring pattern or a mask pattern on a substrate are illustrated. However, the present invention is applicable to graphic printing for forming an image on a recording medium such as paper, an organic EL panel, or the like. The present invention can be applied to the production of a thin panel, and the same effect can be obtained.

以上、本発明に係るパターン形成方法及びパターン形成装置並びに複合型ヘッドについて詳細に説明したが、本発明は、以上の例には限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良や変形を行ってもよい。   The pattern forming method, the pattern forming apparatus, and the composite head according to the present invention have been described in detail above. However, the present invention is not limited to the above examples, and various improvements can be made without departing from the gist of the present invention. Or may be modified.

<付記>
上記に詳述した実施形態についての記載から把握されるとおり、本明細書では以下に示す発明を含む多様な技術思想の開示を含んでいる。
<Appendix>
As can be understood from the description of the embodiment described in detail above, the present specification includes disclosure of various technical ideas including the invention described below.

(発明1):基板のパターン形成面に形成されるパターンを構成するドットが形成される処理対象の打滴位置に対して改質エネルギーを照射して、当該処理対象の打滴位置に改質処理を施す改質処理工程と、前記改質処理工程において未処理の処理対象の打滴位置に改質処理が施されている間に、改質処理が施された直後の打滴位置に対してインクジェット方式により液滴が打滴される打滴工程と、を含むことを特徴とするパターン形成方法。   (Invention 1): Reforming energy is applied to the droplet ejection position to be processed on which dots forming the pattern formed on the pattern forming surface of the substrate are formed, and the droplet is reformed to the target droplet ejection position. A reforming process step for performing the treatment, and a droplet ejection position immediately after the reforming process is performed while the reforming process is being performed on the unprocessed droplet ejection position in the modification process step. And a droplet ejection step in which droplets are ejected by an ink jet method.

本発明によれば、表面改質がされた打滴位置に液滴が打滴されることで、基板上における液滴の移動が抑制され、複数の液滴が合一することによるバルジの発生や、着弾位置の位置ズレによるジャギーの発生によるパターンのにじみが防止される。また、他の未処理の打滴位置に改質処理が施されている間に改質処理が施された直後の打滴位置に対して液滴が打滴されるので、表面処理がすべて終わった後に液滴の打滴が行われる従来方法に比べて全体の時間短縮が見込まれる。   According to the present invention, when a droplet is ejected to a droplet ejection position where the surface has been modified, the movement of the droplet on the substrate is suppressed, and a bulge is generated due to the combination of a plurality of droplets. In addition, bleeding of the pattern due to the occurrence of jaggy due to positional deviation of the landing position is prevented. Further, since the droplets are ejected to the droplet ejection position immediately after the modification treatment is performed while the modification treatment is being performed on other untreated droplet ejection positions, all the surface treatments are finished. Compared with the conventional method in which droplets are subsequently ejected, the overall time is expected to be reduced.

本発明の改質処理としては、基板のパターン形成面に親水性極性基生成して親液性に改質させる親液処理が挙げられる。   Examples of the modification treatment of the present invention include lyophilic treatment in which hydrophilic polar groups are generated on the pattern forming surface of a substrate to modify the substrate to be lyophilic.

(発明2):発明1に記載のパターン形成方法において、前記打滴工程は、改質処理が施された打滴位置に対して、改質処理が終了してから0.1秒以内に液滴が打滴されることを特徴とする。   (Invention 2): In the pattern forming method according to Invention 1, the droplet ejection step is performed within 0.1 seconds after the modification treatment is completed with respect to the droplet deposition position on which the modification treatment has been performed. A drop is hit.

かかる態様によれば、パターン形成の全体の処理時間が短縮化される。   According to this aspect, the entire processing time for pattern formation is shortened.

(発明3):発明1又は2に記載のパターン形成方法において、前記改質処理工程は、所定の改質処理周期に基づいて改質処理を施し、前記打滴工程は、打滴周期を前記改質処理周期と同一とし、かつ、前記打滴周期と前記改質処理周期を同期させたときに、改質処理が施された打滴位置に対して、改質処理が終了してから改質処理周期の整数倍の時間経過後に液滴が打滴されることを特徴とする。   (Invention 3): In the pattern forming method according to Invention 1 or 2, the modification treatment step performs a modification treatment based on a predetermined modification treatment cycle, and the droplet ejection step includes the droplet ejection cycle described above. When the reforming process period is the same and the droplet ejection period and the reforming process period are synchronized, the droplet ejection position subjected to the reforming process is modified after the reforming process is completed. It is characterized in that the droplets are ejected after the passage of an integral multiple of the quality treatment cycle.

かかる態様において、改質処理周波数(改質処理周期の逆数)及び打滴周波数(打滴周期の逆数)を10kHzとし、改質処理が終了してから改質処理周期の一周期後に当該打滴位置に液滴が打滴されるように打滴制御がされると、改質処理が施された打滴位置に対して0.1秒後に液滴が打滴される。   In this embodiment, the reforming treatment frequency (reciprocal of the reforming treatment cycle) and the droplet ejection frequency (reciprocal of the droplet ejection cycle) are set to 10 kHz, and the droplet ejection is performed one cycle after the reforming processing is completed. When the droplet ejection control is performed so that the droplet is ejected at the position, the droplet is ejected after 0.1 seconds with respect to the droplet ejection position subjected to the modification process.

(発明4):発明1乃至3のいずれかに記載のパターン形成方法において、前記改質処理工程は、各打滴位置の改質処理面積をS、各打滴位置に打滴される液滴により形成されるドットの面積をSとしたときに、S<Sを満たすように改質処理が実行され、前記打滴工程は、同一の打滴位置に複数の液滴が積層されるように液滴を打滴することを特徴とする。 (Invention 4): In the pattern forming method according to any one of Inventions 1 to 3, the reforming treatment step includes a liquid to be ejected at each droplet ejection position with S a as the modification treatment area at each droplet ejection position. the area of dots formed by the droplets is taken as S b, modification treatment so as to satisfy the S a <S b is performed, the ejection step, a plurality of droplets at the same droplet ejection position is laminated It is characterized by ejecting a droplet as described above.

かかる態様によれば、複数のドットが積層された好ましいパターンが形成される。   According to this aspect, a preferable pattern in which a plurality of dots are stacked is formed.

(発明5):発明1乃至3のいずれかに記載のパターン形成方法において、前記改質処理工程は、各打滴位置の改質処理面積をS、各打滴位置に打滴される液滴の基板上における面積をSとしたときに、S>Sを満たすように改質処理が実行され、前記打滴工程は、同一の打滴位置に1つの液滴を打滴することを特徴とする。 (Invention 5): In the pattern forming method according to any one of Inventions 1 to 3, the reforming treatment step includes a liquid to be ejected at each droplet ejection position with S a as the modification treatment area at each droplet ejection position. When the area of the droplet on the substrate is S b , the modification process is performed so that S a > S b is satisfied, and the droplet ejection step deposits one droplet at the same droplet ejection position. It is characterized by that.

かかる態様によれば、薄く広げられたドットにより構成される好ましいパターンが形成される。   According to this aspect, a preferable pattern composed of thinly spread dots is formed.

(発明6):発明1乃至5のいずれかに記載のパターン形成方法において、前記改質処理工程は、前記基板のパターン形成面に反応ガスを供給する反応ガス供給工程を含むことを特徴とする。   (Invention 6): The pattern formation method according to any one of Inventions 1 to 5, wherein the modification treatment step includes a reaction gas supply step of supplying a reaction gas to the pattern formation surface of the substrate. .

かかる態様によれば、効率のよい改質処理が実行される。   According to this aspect, an efficient reforming process is executed.

かかる態様における反応ガスとして、酸素(大気)、チッ化ガス、フッ化ガスなどが挙げられる。   Examples of the reaction gas in such an embodiment include oxygen (atmosphere), nitrogen gas, and fluoride gas.

(発明7):発明1乃至6のいずれかに記載のパターン形成方法において、前記改質処理工程は、前記基板のパターン形成面に対して光又はプラズマを照射することを特徴とする。   (Invention 7): The pattern forming method according to any one of Inventions 1 to 6, wherein the modification treatment step irradiates the pattern forming surface of the substrate with light or plasma.

かかる態様における光として、LED光、レーザー光などが挙げられる。   Examples of light in such an embodiment include LED light and laser light.

(発明8):基板のパターン形成面に形成されるパターンを構成するドットが形成される処理対象の打滴位置に対して改質エネルギーを照射して、当該処理対象の打滴位置に改質処理を施す機能ヘッドと、前記機能ヘッドにより改質処理が施された打滴位置に対して液滴を打滴するインクジェットヘッドと、前記機能ヘッドにより未処理の打滴位置に改質処理が施されている間に、改質処理が施された直後の打滴位置に対して液滴を打滴するように前記インクジェットヘッドによる打滴を制御する打滴制御手段と、を備えたことを特徴とするパターン形成装置。   (Invention 8): Reforming energy is applied to the droplet ejection position to be processed on which dots forming the pattern formed on the pattern formation surface of the substrate are formed, and the droplet is reformed to the target droplet ejection position. A functional head that performs the treatment, an inkjet head that ejects droplets onto the droplet ejection position that has been subjected to the modification treatment by the functional head, and a modification treatment that is performed on the untreated droplet ejection position by the functional head. A droplet ejection control means for controlling droplet ejection by the inkjet head so that droplets are ejected to the droplet ejection position immediately after the reforming process is performed. A pattern forming apparatus.

本発明における機能ヘッドの一態様として、改質エネルギーを照射するノズル(開口)を具備する態様が挙げられる。機能ヘッドのノズルは、インクジェットヘッドのノズル配置に対応して、インクジェットヘッドの打滴位置に対して改質エネルギーを照射しうる配置とされる。   As an aspect of the functional head in the present invention, an aspect including a nozzle (opening) that irradiates the reforming energy may be mentioned. The nozzles of the functional head are arranged so as to irradiate the reforming energy with respect to the droplet ejection position of the ink jet head corresponding to the nozzle arrangement of the ink jet head.

本発明に適用される機能ヘッド及びインクジェットヘッドは、シリアル型ヘッドでもよいし、フルライン型ヘッドでもよい。   The functional head and the inkjet head applied to the present invention may be a serial type head or a full line type head.

(発明9):発明8に記載のパターン形成装置において、前記インクジェットヘッドが前記機能ヘッドに後続するように、前記基板と前記機能ヘッド及び前記インクジェットヘッドとを相対的に移動させる相対移動手段を備えたことを特徴とする。   (Invention 9): The pattern forming apparatus according to Invention 8, further comprising relative movement means for relatively moving the substrate, the functional head, and the inkjet head so that the inkjet head follows the functional head. It is characterized by that.

かかる態様において、シリアル方式を適用してもよいし、フルライン型ヘッドを用いたシングルパス方式を適用してもよい。   In such an embodiment, a serial method may be applied, or a single pass method using a full line type head may be applied.

(発明10):発明8又は9に記載のパターン形成装置において、前記パターン形成面に形成されるパターンの描画データに基づいて、前記機能ヘッドによる改質エネルギーの照射を制御する機能ヘッド制御信号を生成するとともに、前記機能ヘッドへ前記機能ヘッド制御信号を供給する機能ヘッド制御手段を備え、前記打滴制御手段は、前記機能ヘッド制御信号に所定の遅延時間が付加されたインクジェットヘッド制御信号を前記インクジェットヘッドへ供給することを特徴とする。   (Invention 10): In the pattern forming apparatus according to Invention 8 or 9, a functional head control signal for controlling irradiation of the modified energy by the functional head based on drawing data of a pattern formed on the pattern forming surface. And a functional head control means for generating and supplying the functional head control signal to the functional head, wherein the droplet ejection control means outputs an inkjet head control signal in which a predetermined delay time is added to the functional head control signal. It supplies to an inkjet head, It is characterized by the above-mentioned.

かかる態様によれば、複雑な制御を行うことなく、機能ヘッドとインクジェットヘッドとを同期させて動作させることができる。   According to this aspect, the functional head and the inkjet head can be operated in synchronization without performing complicated control.

(発明11):発明8乃至10のいずれかに記載のパターン形成装置において、前記インクジェットヘッドは、複数のノズルが所定の配置ピッチで配置された構造を有し、前記機能ヘッドは、前記インクジェットヘッドと同一の配置ピッチで複数のノズルが配置された構造を有し、前記複数のノズルを介して改質エネルギーを前記基板に対して照射する構造を有することを特徴とする。   (Invention 11): In the pattern forming apparatus according to any one of Inventions 8 to 10, the inkjet head has a structure in which a plurality of nozzles are arranged at a predetermined arrangement pitch, and the functional head is the inkjet head. And a structure in which a plurality of nozzles are arranged at the same arrangement pitch, and the substrate is irradiated with reforming energy through the plurality of nozzles.

かかる態様によれば、機能ヘッドのノズルの配置ピッチと、インクジェットヘッドのノズル配置の配置ピッチとを同一とすることで、インクジェットヘッドの打滴位置に対して改質処理を実行しうる。   According to this aspect, the reforming process can be performed on the droplet ejection position of the inkjet head by making the arrangement pitch of the nozzles of the functional head the same as the arrangement pitch of the nozzle arrangement of the inkjet head.

(発明12):発明11に記載のパターン形成装置において、前記機能ヘッドは、前記基板に照射される光を発する光源と、前記光源から発した光を前記ノズルに導くMEMSミラーと、前記MEMSミラーを動作させるMEMSアクチュエータと、を具備することを特徴とする。   (Invention 12): In the pattern forming apparatus according to Invention 11, the functional head includes a light source that emits light emitted to the substrate, a MEMS mirror that guides light emitted from the light source to the nozzle, and the MEMS mirror. And a MEMS actuator for operating the actuator.

かかる態様における「MEMSミラー」とは、微細加工工程によって形成されたミラーである。また、「MEMSアクチュエータ」とは、微細加工工程によって形成されたアクチュエータである。   The “MEMS mirror” in this embodiment is a mirror formed by a microfabrication process. A “MEMS actuator” is an actuator formed by a microfabrication process.

(発明13):発明11に記載のパターン形成装置において、前記機能ヘッドは、前記基板に照射されるプラズマを発生させるプラズマ源と、前記プラズマ源から発生させたプラズマを前記ノズルに導くMEMS素子と、前記MEMS素子を動作させるMEMSアクチュエータと、を具備することを特徴とする。   (Invention 13): In the pattern forming apparatus according to Invention 11, the functional head includes a plasma source that generates plasma irradiated on the substrate, and a MEMS element that guides the plasma generated from the plasma source to the nozzle. And a MEMS actuator that operates the MEMS element.

かかる態様における、MEMS素子としてシャッターが挙げられる。   A shutter is mentioned as a MEMS element in this aspect.

(発明14):発明8乃至13のいずれかに記載のパターン形成装置において、前記機能ヘッド及び前記インクジェットヘッドは一体に構成された構造を有することを特徴とする。   (Invention 14): The pattern forming apparatus according to any one of Inventions 8 to 13, wherein the functional head and the inkjet head have a structure configured integrally.

かかる態様によれば、機能ヘッドとインクジェットヘッドとを一体構造とすることで、装置の小型化、簡素化が可能となる。   According to this aspect, it is possible to reduce the size and simplify the apparatus by integrating the functional head and the inkjet head.

かかる態様において、機能ヘッドのノズルとインクジェットヘッドのノズルとを一枚のノズルプレートに形成する態様が好ましい。   In such an embodiment, an embodiment in which the nozzle of the functional head and the nozzle of the inkjet head are formed on a single nozzle plate is preferable.

(発明15):基板上に形成されるパターンを構成するドットが形成される打滴位置に対して改質エネルギーを照射する機能ヘッド部と、前記機能ヘッド部と一体の構造を有し、前記機能ヘッドにより改質エネルギーが照射された前記基板上の打滴位置に液滴を打滴するインクジェットヘッド部と、前記インクジェットヘッドのノズル開口が形成されるとともに、前記インクジェットヘッドのノズル開口と同一の配置を有する、前記機能ヘッドの改質エネルギーの照射開口が形成され、機能ヘッド部及びインクジェットヘッド部を合体させた構造体に接合されるノズルプレートと、を備えたことを特徴とする複合型ヘッド。   (Invention 15): a functional head unit that irradiates reforming energy to a droplet ejection position where dots constituting a pattern formed on a substrate are formed; and a structure integrated with the functional head unit, An inkjet head unit that ejects droplets at a droplet ejection position on the substrate irradiated with the reforming energy by the functional head, and a nozzle opening of the inkjet head are formed, and is the same as the nozzle opening of the inkjet head A composite type head comprising: a nozzle plate that has an arrangement and is provided with a modified energy irradiation opening of the functional head and joined to a structure in which the functional head unit and the inkjet head unit are combined. .

本発明に係る複合型ヘッドの製造方法として、マイクロマシニング技術を用いて機能ヘッド部を作製する工程と、マイクロマシニング技術を用いてインクジェットヘッド部を作製する工程と、機能ヘッド部に対応するノズル開口及びインクジェットヘッド部に対応するノズル開口が形成されるノズルプレートを作製する工程と、機能ヘッド部とインクジェットヘッド部とを合体させる工程と、機能ヘッド部とインクジェットヘッド部とを合体させた構造体にノズルプレートを接合する工程と、を含む構成が挙げられる。   As a method for manufacturing a composite head according to the present invention, a step of producing a functional head portion using micromachining technology, a step of producing an inkjet head portion using micromachining technology, and a nozzle opening corresponding to the functional head portion And a step of producing a nozzle plate in which nozzle openings corresponding to the ink jet head portion are formed, a step of combining the functional head portion and the ink jet head portion, and a structure in which the functional head portion and the ink jet head portion are combined. And a step of joining the nozzle plate.

10…基板、20,20’,320…機能ヘッド、22,22’…インクジェットヘッド、30,30’,200…パターン形成装置、34…走査機構、36…ステージ、38…搬送機構、50,80,350…ノズル、52,82,120,352…ノズルプレート、54…可動ミラー、142…システム制御部、144…搬送制御部、146…画像処理部、148…インクジェットヘッド駆動部、149…機能ヘッド駆動部、シャッター…354   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Board | substrate, 20, 20 ', 320 ... Functional head, 22, 22' ... Inkjet head, 30, 30 ', 200 ... Pattern formation apparatus, 34 ... Scanning mechanism, 36 ... Stage, 38 ... Conveyance mechanism, 50, 80 , 350 ... Nozzle, 52, 82, 120, 352 ... Nozzle plate, 54 ... Movable mirror, 142 ... System control unit, 144 ... Conveyance control unit, 146 ... Image processing unit, 148 ... Inkjet head drive unit, 149 ... Functional head Drive unit, shutter ... 354

Claims (15)

基板のパターン形成面に形成されるパターンを構成するドットが形成される処理対象の打滴位置に対して改質エネルギーを照射して、当該処理対象の打滴位置に改質処理を施す改質処理工程と、
前記改質処理工程において未処理の処理対象の打滴位置に改質処理が施されている間に、改質処理が施された直後の打滴位置に対してインクジェット方式により液滴が打滴される打滴工程と、
を含むことを特徴とするパターン形成方法。
The modification is performed by irradiating the droplet ejection position of the treatment target on which the dots forming the pattern formed on the pattern forming surface of the substrate are formed with the modification energy to the droplet ejection position of the treatment target. Processing steps;
While the reforming process is performed on the unprocessed droplet ejection position in the reforming process, droplets are ejected to the droplet ejection position immediately after the reforming process by the inkjet method. A droplet ejection process,
A pattern forming method comprising:
請求項1に記載のパターン形成方法において、
前記打滴工程は、改質処理が施された打滴位置に対して、改質処理が終了してから0.1秒以内に液滴が打滴されることを特徴とするパターン形成方法。
In the pattern formation method of Claim 1,
In the droplet ejection step, the droplet is ejected within 0.1 seconds after the modification process is completed on the droplet ejection position on which the modification process has been performed.
請求項1又は2に記載のパターン形成方法において、
前記改質処理工程は、所定の改質処理周期に基づいて改質処理を施し、
前記打滴工程は、打滴周期を前記改質処理周期と同一とし、かつ、前記打滴周期と前記改質処理周期を同期させたときに、改質処理が施された打滴位置に対して、改質処理が終了してから改質処理周期の整数倍の時間経過後に液滴が打滴されることを特徴とするパターン形成方法。
In the pattern formation method of Claim 1 or 2,
The reforming process step performs a reforming process based on a predetermined reforming process cycle,
In the droplet ejection step, the droplet ejection cycle is the same as the modification treatment cycle, and when the droplet ejection cycle and the modification treatment cycle are synchronized, the droplet ejection position subjected to the reforming process is A pattern forming method characterized in that droplets are ejected after an integral multiple of the modification treatment period has elapsed since the modification treatment was completed.
請求項1乃至3のいずれかに記載のパターン形成方法において、
前記改質処理工程は、各打滴位置の改質処理面積をS、各打滴位置に打滴される液滴により形成されるドットの面積をSとしたときに、S<Sを満たすように改質処理が実行され、
前記打滴工程は、同一の打滴位置に複数の液滴が積層されるように液滴を打滴することを特徴とするパターン形成方法。
In the pattern formation method in any one of Claims 1 thru | or 3,
In the modification processing step, when the modified treatment area at each droplet ejection position is S a and the area of a dot formed by a droplet ejected at each droplet ejection position is S b , S a <S reforming process is executed to satisfy b ,
In the patterning method, the droplet ejecting step deposits droplets such that a plurality of droplets are stacked at the same droplet deposition position.
請求項1乃至3のいずれかに記載のパターン形成方法において、
前記改質処理工程は、各打滴位置の改質処理面積をS、各打滴位置に打滴される液滴の基板上における面積をSとしたときに、S>Sを満たすように改質処理が実行され、
前記打滴工程は、同一の打滴位置に1つの液滴を打滴することを特徴とするパターン形成方法。
In the pattern formation method in any one of Claims 1 thru | or 3,
In the modification treatment step, S a > S b is satisfied, where S a is the modification treatment area at each droplet ejection position, and S b is the area on the substrate of droplets deposited at each droplet ejection position. The reforming process is executed to satisfy
In the patterning method, the droplet deposition step deposits one droplet at the same droplet deposition position.
請求項1乃至5のいずれかに記載のパターン形成方法において、
前記改質処理工程は、前記基板のパターン形成面に反応ガスを供給する反応ガス供給工程を含むことを特徴とするパターン形成方法。
In the pattern formation method in any one of Claims 1 thru | or 5,
The method for forming a pattern according to claim 1, wherein the reforming step includes a reaction gas supply step of supplying a reaction gas to the pattern formation surface of the substrate.
請求項1乃至6のいずれかに記載のパターン形成方法において、
前記改質処理工程は、前記基板のパターン形成面に対して光又はプラズマを照射することを特徴とするパターン形成方法。
In the pattern formation method in any one of Claims 1 thru | or 6,
In the patterning method, the modification treatment step irradiates light or plasma to a pattern forming surface of the substrate.
基板のパターン形成面に形成されるパターンを構成するドットが形成される処理対象の打滴位置に対して改質エネルギーを照射して、当該処理対象の打滴位置に改質処理を施す機能ヘッドと、
前記機能ヘッドにより改質処理が施された打滴位置に対して液滴を打滴するインクジェットヘッドと、
前記機能ヘッドにより未処理の打滴位置に改質処理が施されている間に、改質処理が施された直後の打滴位置に対して液滴を打滴するように前記インクジェットヘッドによる打滴を制御する打滴制御手段と、
を備えたことを特徴とするパターン形成装置。
A functional head that irradiates reforming energy to a droplet ejection position to be processed on which dots forming a pattern formed on a pattern forming surface of a substrate are formed, and performs a modification process on the droplet ejection position to be processed When,
An inkjet head that ejects droplets to the droplet ejection position that has been subjected to the modification treatment by the functional head;
While the reforming process is performed on the unprocessed droplet ejection position by the functional head, the ink jet head performs the droplet ejection so that a droplet is ejected to the droplet ejection position immediately after the modification process is performed. Droplet ejection control means for controlling droplets;
A pattern forming apparatus comprising:
請求項8に記載のパターン形成装置において、
前記インクジェットヘッドが前記機能ヘッドに後続するように、前記基板と前記機能ヘッド及び前記インクジェットヘッドとを相対的に移動させる相対移動手段を備えたことを特徴とするパターン形成装置。
The pattern forming apparatus according to claim 8, wherein
A pattern forming apparatus, comprising: a relative movement unit that relatively moves the substrate, the functional head, and the inkjet head so that the inkjet head follows the functional head.
請求項8又は9に記載のパターン形成装置において、
前記パターン形成面に形成されるパターンの描画データに基づいて、前記機能ヘッドによる改質エネルギーの照射を制御する機能ヘッド制御信号を生成するとともに、前記機能ヘッドへ前記機能ヘッド制御信号を供給する機能ヘッド制御手段を備え、
前記打滴制御手段は、前記機能ヘッド制御信号に所定の遅延時間が付加されたインクジェットヘッド制御信号を前記インクジェットヘッドへ供給することを特徴とするパターン形成装置。
In the pattern formation apparatus of Claim 8 or 9,
A function of generating a functional head control signal for controlling irradiation of the modified energy by the functional head based on drawing data of a pattern formed on the pattern forming surface and supplying the functional head control signal to the functional head A head control means;
The pattern forming apparatus, wherein the droplet ejection control means supplies an inkjet head control signal in which a predetermined delay time is added to the functional head control signal to the inkjet head.
請求項8乃至10のいずれかに記載のパターン形成装置において、
前記インクジェットヘッドは、複数のノズルが所定の配置ピッチで配置された構造を有し、
前記機能ヘッドは、前記インクジェットヘッドと同一の配置ピッチで複数のノズルが配置された構造を有し、前記複数のノズルを介して改質エネルギーを前記基板に対して照射する構造を有することを特徴とするパターン形成装置。
In the pattern formation apparatus in any one of Claims 8 thru | or 10,
The inkjet head has a structure in which a plurality of nozzles are arranged at a predetermined arrangement pitch.
The functional head has a structure in which a plurality of nozzles are arranged at the same arrangement pitch as the ink-jet head, and has a structure in which reforming energy is irradiated to the substrate through the plurality of nozzles. A pattern forming apparatus.
請求項11に記載のパターン形成装置において、
前記機能ヘッドは、前記基板に照射される光を発する光源と、
前記光源から発した光を前記ノズルに導くMEMSミラーと、
前記MEMSミラーを動作させるMEMSアクチュエータと、
を具備することを特徴とするパターン形成装置。
The pattern forming apparatus according to claim 11,
The functional head includes a light source that emits light applied to the substrate;
A MEMS mirror for guiding light emitted from the light source to the nozzle;
A MEMS actuator for operating the MEMS mirror;
A pattern forming apparatus comprising:
請求項11に記載のパターン形成装置において、
前記機能ヘッドは、前記基板に照射されるプラズマを発生させるプラズマ源と、
前記プラズマ源から発生させたプラズマを前記ノズルに導くMEMS素子と、
前記MEMS素子を動作させるMEMSアクチュエータと、
を具備することを特徴とするパターン形成装置。
The pattern forming apparatus according to claim 11,
The functional head includes a plasma source that generates plasma irradiated on the substrate;
A MEMS element for guiding plasma generated from the plasma source to the nozzle;
A MEMS actuator for operating the MEMS element;
A pattern forming apparatus comprising:
請求項8乃至13のいずれかに記載のパターン形成装置において、
前記機能ヘッド及び前記インクジェットヘッドは一体に構成された構造を有することを特徴とするパターン形成装置。
The pattern forming apparatus according to any one of claims 8 to 13,
The pattern forming apparatus, wherein the functional head and the inkjet head have a structure configured integrally.
基板上に形成されるパターンを構成するドットが形成される打滴位置に対して改質エネルギーを照射する機能ヘッド部と、
前記機能ヘッド部と一体の構造を有し、前記機能ヘッドにより改質エネルギーが照射された前記基板上の打滴位置に液滴を打滴するインクジェットヘッド部と、
前記インクジェットヘッドのノズル開口が形成されるとともに、前記インクジェットヘッドのノズル開口と同一の配置を有する、前記機能ヘッドの改質エネルギーの照射開口が形成され、機能ヘッド部及びインクジェットヘッド部を合体させた構造体に接合されるノズルプレートと、
を備えたことを特徴とする複合型ヘッド。
A functional head unit that irradiates reforming energy with respect to a droplet ejection position where dots forming a pattern formed on a substrate are formed;
An inkjet head unit that has a structure integral with the functional head unit, and that ejects droplets onto a droplet ejection position on the substrate irradiated with reforming energy by the functional head;
A nozzle opening of the ink jet head is formed, and an irradiation opening for reforming energy of the functional head having the same arrangement as the nozzle opening of the ink jet head is formed, and the functional head portion and the ink jet head portion are combined. A nozzle plate joined to the structure;
A composite head characterized by comprising:
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TWI821722B (en) * 2020-08-31 2023-11-11 日商斯庫林集團股份有限公司 Substrate processing apparatus

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