JP2012044145A - Shield member, component thereof, and substrate mounting stand equipped with shiel member - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a shield member capable of preventing abnormal discharge and erosion from being generated in a lower electrode, with no gap generated between the shield member and the lower electrode even when the shield member is thermally expanded.SOLUTION: A ring component part is formed by an insulating long article disposed along one leg of a rectangular mounting face of the lower electrode, and has a fixing screw hole provided at one end in the lengthwise direction thereof and a supporting screw hole provided apart from the other in the lengthwise direction of the long article. Each of the ring component parts is combined with another so that an end face at one end of the each component part in the lengthwise direction abuts on a side face at one end of the adjacent component part in the lengthwise direction, and that the side face on the other end of the each component part abuts on the end face at one end of the ring component part different from the adjacent ring component part. One end of each of the ring component parts in the lengthwise direction is fixed to a base material of a mounting stand by the fixing screw hole, while the other end is supported in a freely displaceable manner by the supporting screw hole. Each of the component parts is arranged so as to be able to thermally expand or thermally shrink in the lengthwise direction of the long article with the fixed end as an origin, each corner portion of the lower electrode is beveled by a plane, and a triangular fitting member having a plane abutting on the beveled plane is disposed.

Description

本発明は、基板処理装置の処理室内で基板を載置する基板載置台に適用されるシールド部材、その構成部品及びシールド部材を備えた基板載置台に関する。   The present invention relates to a shield member applied to a substrate mounting table on which a substrate is mounted in a processing chamber of a substrate processing apparatus, a component thereof, and a substrate mounting table including the shield member.

液晶表示装置(LCD)をはじめとするFPD(Flat Panel Display)の製造工程において、ガラス基板をはじめとする各種基板に対してプラズマ処理を施す基板処理装置が知られている。   2. Description of the Related Art A substrate processing apparatus that performs plasma processing on various substrates such as a glass substrate in a manufacturing process of an FPD (Flat Panel Display) including a liquid crystal display (LCD) is known.

このような基板処理装置においては、処理室(以下、「チャンバ」という。)内で基板を支持する基板載置台と、該基板載置台と処理空間を隔てて対向するように配置された上部電極とを有し、下部電極として機能する基板載置台にプラズマ生成用の高周波電力(RF)を印加すると共に、チャンバ内の処理空間に処理ガスを導入してプラズマを生成させ、生成したプラズマを用いて基板載置台の基板載置面に載置された基板に対して所定のプラズマ処理が施される。   In such a substrate processing apparatus, a substrate mounting table that supports a substrate in a processing chamber (hereinafter referred to as “chamber”), and an upper electrode disposed so as to face the substrate mounting table with a processing space therebetween. And applying a high frequency power (RF) for plasma generation to a substrate mounting table functioning as a lower electrode, introducing a processing gas into a processing space in the chamber to generate plasma, and using the generated plasma Then, a predetermined plasma treatment is performed on the substrate placed on the substrate placement surface of the substrate placement table.

基板載置台の基板載置面は矩形を呈しており、その外周部には、プラズマのフォーカス性の向上及びRFの絶縁を確保するために、シールド部材としてのシールドリングが配置されている。シールドリングは、アルミナ(Al)をはじめとする絶縁性のセラミックスで構成されており、例えば、下部電極の基材にねじによって固定される。シールドリングは、矩形の下部電極の基板載置面の周囲を囲む矩形の環状体であるために一体成形が困難であること、及び近年の産業界の要請等に伴って処理基板が大型化していることから、通常、複数の構成部材の組合せによって形成されている。 The substrate mounting surface of the substrate mounting table has a rectangular shape, and a shield ring as a shield member is disposed on the outer periphery of the substrate mounting table in order to improve plasma focusing and ensure RF insulation. The shield ring is made of insulating ceramics such as alumina (Al 2 O 3 ), and is fixed to the base of the lower electrode with screws, for example. Since the shield ring is a rectangular annular body surrounding the periphery of the substrate mounting surface of the rectangular lower electrode, it is difficult to integrally form it, and the processing substrate has become larger due to recent industry demands. Therefore, it is usually formed by a combination of a plurality of constituent members.

図12は、従来のシールドリングの構成を示す図である。   FIG. 12 is a diagram showing a configuration of a conventional shield ring.

図12において、下部電極100の矩形の基板載置面106の周囲を囲むようにシールドリング105が配置されている。シールドリング105は、平面図上略L字状の4つのリング構成部品101〜104の組合せ体である。各リング構成部品101〜104は、それぞれL字状の角部の近傍と、該角部に連設された長尺部の先端部近傍の2カ所にねじ孔107を有し、各リング構成部品101〜104は、ねじ孔107に装着された固定ねじによって下部電極100の基板載置面106の周囲を構成するフランジ部に固定されている。   In FIG. 12, a shield ring 105 is disposed so as to surround the periphery of the rectangular substrate placement surface 106 of the lower electrode 100. The shield ring 105 is a combination of four ring components 101 to 104 that are substantially L-shaped in plan view. Each of the ring components 101 to 104 has screw holes 107 at two locations near the L-shaped corner and near the tip of the elongated portion connected to the corner. 101-104 are being fixed to the flange part which comprises the circumference | surroundings of the board | substrate mounting surface 106 of the lower electrode 100 with the fixing screw with which the screw hole 107 was mounted | worn.

ところで、シールドリング105は、処理目的に応じて加熱される下部電極100からの伝熱、及びプラズマの連続照射等によって加熱され、熱膨張する。このとき、隣接するリング構成部品相互の当接面において、膨張することにより他方を押す力が発生し、これによって、例えば、ねじ孔107と固定ねじ(図示省略)とのクリアランス分だけ変位するので、シールドリング105と基板処理面106との間に隙間が生じることがある。   By the way, the shield ring 105 is heated by heat transfer from the lower electrode 100 heated according to the processing purpose, continuous irradiation of plasma, and the like, and is thermally expanded. At this time, a force that pushes the other is generated by expansion at the contact surface between adjacent ring components, and this causes displacement by, for example, the clearance between the screw hole 107 and the fixing screw (not shown). A gap may be generated between the shield ring 105 and the substrate processing surface 106.

また、基材がアルミニウム等の金属からなる下部電極100とセラミックスからなるシールドリング105との間に熱膨張差があるために、プラズマ処理中に、プラズマの連続照射を受けたシールドリング105と下部電極100との間に隙間が生じることがある。   Further, since there is a difference in thermal expansion between the lower electrode 100 made of a metal such as aluminum and the shield ring 105 made of ceramics, the shield ring 105 and the lower part that have been continuously irradiated with plasma during plasma processing. A gap may be formed between the electrode 100 and the electrode 100.

さらにまた、加熱後の冷却によってシールドリング105が熱収縮すると、各リング構成部品は元の配置状態に戻らず、シールドリング105が変形してリング構成部品相互間に隙間が生じ、これによって、シールドリング105と下部電極100との間にも隙間が生じることがある。   Furthermore, when the shield ring 105 is thermally contracted due to cooling after heating, each ring component does not return to the original arrangement state, and the shield ring 105 is deformed to create a gap between the ring components, whereby the shield A gap may also be generated between the ring 105 and the lower electrode 100.

シールドリング105と下部電極100との間に隙間が生じると、この隙間にプラズマが進入し、例えば、下部電極100のセラミックス溶射が削られて下部電極100における異常放電(アーキング)又はエロージョンが発生する原因となる。   When a gap is generated between the shield ring 105 and the lower electrode 100, plasma enters the gap, and, for example, ceramic spraying of the lower electrode 100 is scraped to cause abnormal discharge (arcing) or erosion in the lower electrode 100. Cause.

このようなシールドリング105と下部電極100との間の隙間の発生を防止するために、隣接するリング構成部品を引きつけるように付勢する付勢部材を設けたリング構成部品や、各リング構成部品を下部電極の中心部に向かって付勢する付勢部材を設けたシールドリングが提案されている(例えば、特許文献1参照)。   In order to prevent the occurrence of such a gap between the shield ring 105 and the lower electrode 100, a ring component provided with a biasing member that biases adjacent ring components, and each ring component There has been proposed a shield ring provided with a biasing member that biases the electrode toward the center of the lower electrode (see, for example, Patent Document 1).

特開2008−311298号公報JP 2008-311298 A

しかしながら、シールド部材を構成するリング構成部品に対して特定の方向に働く作用力を付与するための付勢部材を組み込むことは、必ずしも容易ではない。一方、熱膨張による変形を防止するために、リング構成部品を下部電極の基材に固定する固定ねじの締結力を大きくすると、下部電極基材への締結時又は熱膨張時においてリング構成部品が破損し易くなるという問題がある。   However, it is not always easy to incorporate an urging member for applying an acting force acting in a specific direction to the ring component constituting the shield member. On the other hand, in order to prevent deformation due to thermal expansion, if the fastening force of the fixing screw that fixes the ring component to the base of the lower electrode is increased, the ring component will be removed when fastened to the lower electrode base or during thermal expansion. There is a problem of being easily damaged.

本発明の課題は、熱膨張しても下部電極との間に隙間が発生せず、下部電極における異常放電及びエロージョンの発生を防止することができるシールド部材、その構成部品及びシールド部材を備えた基板載置台を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a shield member that can prevent the occurrence of abnormal discharge and erosion in the lower electrode without causing a gap between the lower electrode even if it is thermally expanded, and its component parts and shield member. It is to provide a substrate mounting table.

上記課題を解決するために、請求項1記載のシールド部材の構成部品は、矩形の基板にプラズマ処理を施す基板処理装置の処理室内で前記基板を載置する載置台の矩形の載置面の周囲を囲むように設けられたシールド部材の構成部品であって、前記矩形の載置面の一辺に沿って配置される絶縁性の長尺状物からなり、該長尺状物の長さ方向の一端に設けられた固定部と、該固定部とは前記長尺状物の長さ方向に離間して設けられた少なくとも1つのガイド部とを有することを特徴とする。   In order to solve the above-mentioned problem, the component of the shield member according to claim 1 is a rectangular mounting surface of a mounting table for mounting the substrate in a processing chamber of a substrate processing apparatus for performing plasma processing on the rectangular substrate. A component part of a shield member provided so as to surround the periphery, comprising a long insulating material disposed along one side of the rectangular mounting surface, and a length direction of the long material The fixing part is provided at one end of the long object, and the fixing part has at least one guide part that is provided apart from the long object in the length direction.

請求項2記載のシールド部材の構成部品は、請求項1記載のシールド部材の構成部品であって、前記固定部としての固定用のねじ孔によって一端が前記載置台の基材に固定され、他端が前記少なくとも1つのガイド部としての支持用のねじ孔によって変位自在に支持され、前記固定された一端を起点にして前記長尺状物の長さ方向に沿って熱膨張又は熱収縮可能であることを特徴とする。   The component part of the shield member according to claim 2 is the component part of the shield member according to claim 1, wherein one end is fixed to the base material of the mounting table by a fixing screw hole as the fixing part, An end is supported displaceably by a screw hole for support as the at least one guide portion, and can be thermally expanded or contracted along the length direction of the elongated object with the fixed end as a starting point. It is characterized by being.

請求項3記載のシールド部材の構成部品は、請求項2記載のシールド部材の構成部品であって、前記固定用のねじ孔は、該固定用のねじ孔のある平面上において真円状であり、前記支持用のねじ孔は、該支持用のねじ孔のある平面上において前記長尺状物の長さ方向に長い楕円形若しくは両端が半円である矩形であることを特徴とする。   The component part of the shield member according to claim 3 is the component part of the shield member according to claim 2, wherein the fixing screw hole has a perfect circle shape on a plane having the fixing screw hole. The screw hole for support is an ellipse that is long in the length direction of the elongated object or a rectangle that is semicircular at both ends on a plane with the screw hole for support.

請求項4記載のシールド部材の構成部品は、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のシールド部材の構成部品であって、前記矩形の載置面の角部はそれぞれアール面による面取り処理が施されており、前記長尺状物の一端の側面に前記面取りされた前記載置面の角部に当接するアール面を有する突起部が設けられていることを特徴とする。   The component part of the shield member according to claim 4 is the component part of the shield member according to any one of claims 1 to 3, wherein each corner of the rectangular mounting surface is chamfered by a rounded surface. And a protrusion having a rounded surface that abuts against a corner of the chamfered mounting surface is provided on a side surface of one end of the long object.

請求項5記載のシールド部材の構成部品は、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のシールド部材の構成部品であって、前記矩形の載置面の角部はそれぞれ平面による面取り処理が施されており、前記長尺状物の一端の側面に前記面取りされた前記載置面の角部に当接する平面を有する突起部が設けられていることを特徴とする。   The component part of the shield member according to claim 5 is the component part of the shield member according to any one of claims 1 to 3, and each corner portion of the rectangular mounting surface is chamfered by a flat surface. And a protrusion having a flat surface in contact with a corner portion of the chamfered mounting surface is provided on a side surface of one end of the long object.

請求項6記載のシールド部材の構成部品は、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のシールド部材の構成部品であって、前記長尺状物における前記矩形の載置面に対向する側面は、突起部を有さない平面であることを特徴とする。   The component part of the shield member according to claim 6 is the component part of the shield member according to any one of claims 1 to 3, and is a side surface of the elongated object that faces the rectangular placement surface. Is a flat surface having no protrusions.

請求項7記載のシールド部材の構成部品は、請求項1乃至6いずれか1項に記載のシールド部材の構成部品であって、前記長尺状物は、他の長尺状物と組み合わせてシールド部材を形成する際に段差構造の嵌め合い部を形成するための突出部を有することを特徴とする。   The component of the shield member according to claim 7 is the component of the shield member according to any one of claims 1 to 6, wherein the long object is combined with another long object to be shielded. It has a projection part for forming the fitting part of a level | step difference structure when forming a member, It is characterized by the above-mentioned.

上記課題を解決するために、請求項8記載のシールド部材は、矩形の基板にプラズマ処理を施す基板処理装置の処理室内で前記基板を載置する載置台の矩形の載置面の周囲を囲むように配置されるシールド部材であって、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の構成部品の組合せ体からなり、前記各構成部品の長さ方向の一端の端面が、隣接する他の構成部品の長さ方向の一端の側面に当接し、他端の側面が、前記隣接する他の構成部品とは異なる隣接する別の構成部品の長さ方向の一端の端面に当接するようにそれぞれ組合せられ、前記各構成部品の長さ方向の一端が前記固定部によって前記載置台の基材に固定され、他端が前記少なくとも1つのガイド部によって変位自在に支持され、前記各構成部品が、前記固定された一端を起点にして前記長尺状物の長さ方向に沿って熱膨張又は熱収縮可能に配列されていることを特徴とする。   In order to solve the above-described problem, the shield member according to claim 8 surrounds a rectangular mounting surface of a mounting table for mounting the substrate in a processing chamber of a substrate processing apparatus that performs plasma processing on the rectangular substrate. A shield member arranged as described above, comprising the combination of component parts according to any one of claims 1 to 3, wherein one end face in the longitudinal direction of each component part is adjacent to another Each of the components is in contact with the side surface of one end in the length direction, and the side surface of the other end is in contact with the end surface of one end in the length direction of another adjacent component that is different from the other adjacent components. Combined, one end in the length direction of each component is fixed to the base material of the mounting table by the fixing portion, the other end is supported displaceably by the at least one guide portion, each component, Starting from the fixed end Characterized in that along the length of the elongated material is thermally expanded or thermally shrinkable arranged.

請求項9記載のシールド部材は、請求項8記載のシールド部材であって、前記固定部としての固定用のねじ孔に装着される固定ねじの締め付けトルクを、前記ガイド部としての支持用のねじ孔に装着される支持ねじの締め付けトルクよりも大きくしたことを特徴とする。   The shield member according to claim 9 is the shield member according to claim 8, wherein a tightening torque of a fixing screw mounted in a fixing screw hole as the fixing portion is used as a supporting screw as the guide portion. It is characterized by being larger than the tightening torque of the support screw attached to the hole.

請求項10記載のシールド部材は、請求項8又は9記載のシールド部材であって、前記各構成部品の長さ方向の一端の端面と、前記隣接する他の構成部品の長さ方向の一端の側面との当接部に、前記基板載置面に対して垂直方向及び水平方向からのプラズマの進入を阻止する段差構造の嵌め合い部が形成されていることを特徴とする。   The shield member according to claim 10 is the shield member according to claim 8 or 9, wherein the end surface of one end in the length direction of each component and one end of the other adjacent component in the length direction are arranged. The contact portion with the side surface is formed with a fitting portion having a step structure for preventing plasma from entering from the vertical direction and the horizontal direction with respect to the substrate mounting surface.

請求項11記載のシールド部材は、請求項10記載のシールド部材であって、前記段差構造の一部は、前記各構成部品の一端の端面と、前記隣接する他の構成部品の前記一端の側面との当接部に形成された凹部に遊嵌される入れ子部材で構成されていることを特徴とする。   The shield member according to claim 11 is the shield member according to claim 10, wherein a part of the step structure includes an end surface of one end of each of the component parts and a side surface of the one end of the adjacent other component parts. It is comprised by the nesting member loosely fitted by the recessed part formed in the contact part.

請求項12記載のシールド部材は、請求項11記載のシールド部材であって、前記凹部と前記入れ子部材との間に、前記各構成部品の長さ方向に沿った熱膨張又は熱収縮に起因する変位を吸収する隙間が設けられていることを特徴とする。   The shield member according to claim 12 is the shield member according to claim 11, and is caused by thermal expansion or contraction along a length direction of each component between the concave portion and the nesting member. A gap for absorbing the displacement is provided.

請求項13記載のシールド部材は、請求項12記載のシールド部材であって、前記凹部における前記入れ子部材の挿入口は、サイドシールド部材で封止することによって前記凹部内へのプラズマの進入が阻止されていることを特徴とする。   The shield member according to claim 13 is the shield member according to claim 12, wherein the insertion port of the nesting member in the recess is sealed with a side shield member to prevent plasma from entering the recess. It is characterized by being.

請求項14記載のシールド部材は、請求項8乃至13のいずれか1項に記載のシールド部材であって、前記矩形の載置面の角部はそれぞれアール面による面取り処理が施されており、前記各構成部品の一端の側面に前記面取りされた前記載置面の角部に当接するアール面を有する突起部が設けられていることを特徴とする。   The shield member according to claim 14 is the shield member according to any one of claims 8 to 13, wherein corner portions of the rectangular placement surface are each chamfered by a rounded surface, A protruding portion having a rounded surface that comes into contact with a corner portion of the chamfered mounting surface is provided on one side surface of each component.

請求項15記載のシールド部材は、請求項8乃至13のいずれか1項に記載のシールド部材であって、前記矩形の載置面の角部はそれぞれ平面による面取り処理が施されており、前記各構成部品の一端の側面に前記面取りされた前記載置面の角部に当接する平面を有する突起部が設けられていることを特徴とする。   The shield member according to claim 15 is the shield member according to any one of claims 8 to 13, wherein corners of the rectangular mounting surface are each chamfered by a flat surface, A protrusion having a flat surface that comes into contact with a corner portion of the chamfered mounting surface is provided on a side surface of one end of each component.

請求項16記載のシールド部材は、請求項8乃至13のいずれか1項に記載のシールド部材であって、前記矩形の載置面の角部はそれぞれアール面による面取り処理が施されており、各面取り面と、前記各構成部品の一端の端面及び隣接する他の構成部品の前記一端の側面の接合部との隙間を埋める前記構成部品とは独立したアール面を有する隙間嵌合部材を備えていることを特徴とする。   The shield member according to claim 16 is the shield member according to any one of claims 8 to 13, wherein corner portions of the rectangular mounting surface are each chamfered by a rounded surface, A gap fitting member having a rounded surface independent of the component parts filling the gap between each chamfered surface and an end face of one end of each component part and a joint portion of the side face of the one end of another adjacent component part. It is characterized by.

請求項17記載のシールド部材は、請求項8乃至13のいずれか1項に記載のシールド部材であって、前記矩形の載置面の角部はそれぞれ平面による面取り処理が施されており、各面取り面と、前記各構成部品の一端の端面及び隣接する他の構成部品の前記一端の側面の接合部との隙間を埋める前記構成部品とは独立した平面を有する三角柱状の隙間嵌合部材を備えていることを特徴とする。   The shield member according to claim 17 is the shield member according to any one of claims 8 to 13, wherein corners of the mounting surface of the rectangle are each chamfered by a flat surface. A triangular prism-shaped gap fitting member having a plane that is independent of the chamfered surface and the component part that fills the gap between the end surface of one end of each of the component parts and the joint portion of the side surface of the one end of another adjacent component part. It is characterized by having.

請求項18記載のシールド部材は、請求項17記載のシールド部材であって、前記三角柱状の隙間嵌合部材の一端に、該三角柱状の隙間嵌合部材が前記載置面の各角部に形成された平面による面取り面と、前記各構成部品の一端の端面及び隣接する他の構成部品の前記一端の側面の接合部との隙間に嵌合された際、前記載置面の各角部の形状を、見かけ上前記載置面の角部をアール面によって面取りした際の形状と同様の形状にするためのアール面を備えた凸部が形成されていることを特徴とする。   The shield member according to claim 18 is the shield member according to claim 17, wherein the triangular prism-shaped gap fitting member is provided at one end of the triangular prism-shaped gap fitting member at each corner of the mounting surface. When the chamfered surface by the formed flat surface is fitted into a gap between the end surface of one end of each component and the joint portion of the side surface of the one end of another adjacent component, each corner portion of the mounting surface described above It is characterized in that a convex part having a rounded surface is formed to make the shape of the above-mentioned shape the same as the shape when the corner of the mounting surface is chamfered by the rounded surface.

請求項19記載のシールド部材は、請求項18記載のシールド部材であって、前記アール面を備えた凸部の端面は、前記載置面と同一平面上にあるか又は前記載置面よりも引っ込んでいることを特徴とする。   The shield member according to claim 19 is the shield member according to claim 18, wherein an end surface of the convex portion provided with the rounded surface is on the same plane as the previous placement surface or more than the previous placement surface. It is characterized by being retracted.

上記課題を解決するために、請求項20記載の基板載置台は、請求項8乃至19のいずれか1項に記載のシールド部材を備えていることを特徴とする。   In order to solve the above-mentioned problem, a substrate mounting table according to a twentieth aspect includes the shield member according to any one of the eighth to nineteenth aspects.

本発明によれば、シールド部材の構成部品が、矩形の載置面の一辺に沿って配置される絶縁性の長尺状物からなり、該長尺状物の長さ方向の一端に設けられた固定部と、該固定部とは長尺状物の長さ方向に離間して設けられた少なくとも1つのガイド部を有するので、この構成部品を、各構成部品の長さ方向の一端の端面が、隣接する他の構成部品の長さ方向の一端の側面に当接し、他端の側面が、隣接する他の構成部品とは異なる隣接する別の構成部品の一端の端面に当接するようにそれぞれ組合せ、各構成部品において他の構成部品と当接する端面のある側の長さ方向の一端を固定部によって載置台の基材に固定し、他端を、ガイド部によって変位自在に支持することにより、各構成部品が、固定された一端を起点にして長尺状物の長さ方向に沿って熱膨張又は熱収縮可能に配列されている。したがって、シールド部材若しくは載置面が加熱されても膨張及び収縮に伴う該シールド部材と下部電極との間における隙間の発生を防止することができ、これによって、シールド部材と下部電極との間にプラズマが進入することによる下部電極の異常放電やエロージョンの発生を防止することができる。また、載置面の角部に平面による面取りを施し三角柱状の嵌合部材を挿入することにより、ガラス基板のオリフラ(orientation flat:位置合せのための切り欠き)が大きい場合やガラス基板を載置する際の位置精度が悪い場合などのように電極上に載置される基板のオリフラの位置によって生じる下部電極のエロージョンを防止することができる。   According to the present invention, the component part of the shield member is composed of an insulating long material disposed along one side of the rectangular mounting surface, and is provided at one end in the length direction of the long material. Since the fixed portion and the fixed portion have at least one guide portion that is spaced apart in the length direction of the long object, this component is connected to the end face of one end in the length direction of each component. Is in contact with the side surface of one end in the longitudinal direction of another adjacent component, and the side surface of the other end is in contact with the end surface of one end of another adjacent component different from the other adjacent component In each component, one end in the length direction on the side with the end face in contact with each other component is fixed to the base of the mounting table by the fixing portion, and the other end is supported by the guide portion so as to be displaceable. The length of the long object from the fixed end of each component Is thermal expansion or contraction can be arranged along the direction. Therefore, even if the shield member or the mounting surface is heated, it is possible to prevent the occurrence of a gap between the shield member and the lower electrode due to expansion and contraction, and thereby, between the shield member and the lower electrode. Abnormal discharge and erosion of the lower electrode due to the plasma entering can be prevented. In addition, by chamfering the corner of the mounting surface with a flat surface and inserting a triangular prism-shaped fitting member, the glass substrate can be mounted when the orientation flat (orientation flat) is large. It is possible to prevent erosion of the lower electrode caused by the position of the orientation flat of the substrate placed on the electrode, such as when the positional accuracy when placing is poor.

本発明のシールド部材が適用される基板載置台を備えた基板処理装置の概略構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic structure of the substrate processing apparatus provided with the substrate mounting base to which the shield member of this invention is applied. 本発明の第1の実施の形態に係るシールドリングの構成を示す図であって、図2(A)は平面図、図2(B)は、図2AのII−II線に沿った断面図である。It is a figure which shows the structure of the shield ring which concerns on the 1st Embodiment of this invention, Comprising: FIG. 2 (A) is a top view, FIG.2 (B) is sectional drawing along the II-II line of FIG. 2A. It is. 図2のシールドリングが熱膨張した状態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the state which the shield ring of FIG. 2 expanded thermally. 図2の下部電極が熱膨張した状態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the state which the lower electrode of FIG. 2 expanded thermally. 本発明の第1の実施の形態の変形例としてのシールドリングの構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the shield ring as a modification of the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態に係るシールドリングの要部の構成を示す図であって、図6(A)は要部平面図、図6(B)は要部斜視図、図6(C)は、入れ子部材及び該入れ子部材に載置されたアール部材を示す斜視図、図6(D)はサイドシールド部材を説明するための斜視図である。It is a figure which shows the structure of the principal part of the shield ring which concerns on the 2nd Embodiment of this invention, Comprising: FIG. 6 (A) is a principal part top view, FIG.6 (B) is a principal part perspective view, FIG. FIG. 6C is a perspective view showing the nesting member and the round member placed on the nesting member, and FIG. 6D is a perspective view for explaining the side shield member. 本発明の第3の実施の形態に係るシールドリングの要部の構成を示す図であって、図7(A)は要部平面図、図7(B)は要部正面図、図7(C)はリング構成部品の組み立て図である。It is a figure which shows the structure of the principal part of the shield ring which concerns on the 3rd Embodiment of this invention, Comprising: FIG. 7 (A) is a principal part top view, FIG.7 (B) is a principal part front view, FIG. C) is an assembly drawing of ring components. 本発明の第4の実施の形態に係るシールドリングの構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the shield ring which concerns on the 4th Embodiment of this invention. 第4の実施の形態に適用される隙間嵌合部材を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the clearance gap fitting member applied to 4th Embodiment. 第4の実施の形態の第1の変形例に適用される隙間嵌合部材を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the clearance gap fitting member applied to the 1st modification of 4th Embodiment. 第4の実施の形態の第2の変形例に適用されるシールド部材の構成部品を示す平面図である。It is a top view which shows the component of the shield member applied to the 2nd modification of 4th Embodiment. 従来のシールドリングの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the conventional shield ring.

以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1は、本発明の第1の実施の形態に係るシールド部材が適用される基板載置台を備えた基板処理装置の概略構成を示す断面図である。この基板処理装置は、例えば、液晶表示装置(LCD)製造用のガラス基板に所定のプラズマ処理を施すものである。   FIG. 1 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus including a substrate mounting table to which a shield member according to a first embodiment of the present invention is applied. This substrate processing apparatus performs, for example, a predetermined plasma process on a glass substrate for manufacturing a liquid crystal display device (LCD).

図1において、基板処理装置10は、例えば1辺が数mの矩形のガラス基板G(以下、単に「基板」という。)を収容する処理室(チャンバ)11を有し、該チャンバ11内部の図中下方には基板Gを載置する載置台(サセプタ)12が配置されている。サセプタ12は、例えば、表面がアルマイト処理されたアルミニウムやステンレス等からなる基材13で構成されており、基材13は絶縁部材14を介してチャンバ11の底部に支持されている。基材13は断面凸型を呈しており、その上部平面は基板Gを載置する基板載置面13aとなっている。   In FIG. 1, a substrate processing apparatus 10 includes a processing chamber (chamber) 11 that accommodates a rectangular glass substrate G (hereinafter simply referred to as “substrate”) with a side of several meters, for example. A mounting table (susceptor) 12 on which the substrate G is mounted is disposed below the figure. The susceptor 12 is composed of a base material 13 made of, for example, aluminum or stainless steel whose surface is anodized, and the base material 13 is supported on the bottom of the chamber 11 via an insulating member 14. The base material 13 has a convex cross section, and the upper plane is a substrate placement surface 13a on which the substrate G is placed.

基板載置面13aの周囲を囲むようにシールド部材としてのシールドリング15が設けられており、シールドリング15は、例えばアルミナ等の絶縁性セラミックスで構成された長尺状物であるリング構成部品の組合せ体からなっている。   A shield ring 15 as a shield member is provided so as to surround the periphery of the substrate mounting surface 13a. The shield ring 15 is a long component made of an insulating ceramic such as alumina, for example. It consists of a combination.

基材13の上部は静電電極板16を内蔵し、静電チャックとして機能する。静電電極板16には直流電源17が接続されており、静電電極板16に正の直流電圧が印加されると、基板載置面13aに載置された基板Gにおける静電電極板16側の面(以下、「裏面」という。)には負電位が発生し、これによって静電電極板16及び基板Gの裏面の間に電位差が生じ、該電位差に起因するクーロン力又はジョンソン・ラーベック力により、基板Gが基板載置面13aに吸着保持される。   The upper part of the base material 13 incorporates an electrostatic electrode plate 16 and functions as an electrostatic chuck. A DC power source 17 is connected to the electrostatic electrode plate 16, and when a positive DC voltage is applied to the electrostatic electrode plate 16, the electrostatic electrode plate 16 on the substrate G placed on the substrate placement surface 13a. A negative potential is generated on the side surface (hereinafter referred to as “rear surface”), thereby generating a potential difference between the electrostatic electrode plate 16 and the rear surface of the substrate G, and Coulomb force or Johnson Rabeck resulting from the potential difference. The substrate G is attracted and held on the substrate placement surface 13a by the force.

基材13の内部には、基材13及び基板載置面13aに載置された基板Gの温度を調節するための温度調節機構(図示省略)が設けられている。この温度調節機構に、例えば、冷却水やガルデン(登録商標)等の冷媒が循環供給され、該冷媒によって冷却された基材13は基板Gを冷却する。   Inside the base material 13, a temperature adjustment mechanism (not shown) for adjusting the temperature of the base material 13 and the substrate G placed on the substrate placement surface 13a is provided. For example, coolant such as cooling water or Galden (registered trademark) is circulated and supplied to the temperature adjusting mechanism, and the base material 13 cooled by the coolant cools the substrate G.

基材13の周囲には、シールドリング15と基材13との当接部を含む側面を覆うサイドシールド部材としての絶縁リング18が配置されている。絶縁リング18は絶縁性のセラミックス、例えばアルミナで構成されている。   Around the base material 13, an insulating ring 18 is disposed as a side shield member that covers a side surface including a contact portion between the shield ring 15 and the base material 13. The insulating ring 18 is made of an insulating ceramic such as alumina.

チャンバ11の底壁、絶縁部材14及び基材13を貫通する貫通孔に、昇降ピン21が昇降可能に挿通されている。昇降ピン21は基板載置面13aに載置される基板Gの搬入及び搬出時に作動するものであり、基板Gをチャンバ11内に搬入する際又はチャンバ11から搬出する際には、サセプタ12の上方の搬送位置まで上昇し、それ以外のときには基板載置面13a内に埋設状態で収容されている。   An elevating pin 21 is inserted in a through-hole penetrating the bottom wall of the chamber 11, the insulating member 14 and the base material 13 so as to be movable up and down. The elevating pins 21 operate when the substrate G placed on the substrate placement surface 13a is carried in and out, and when the substrate G is carried into or out of the chamber 11, the susceptor 12 is moved. The substrate moves up to the upper transfer position, and is otherwise housed in the substrate placement surface 13a.

基板載置面13aには、図示省略した複数の伝熱ガス供給孔が開口している。複数の伝熱ガス供給孔は伝熱ガス供給部に接続され、伝熱ガス供給部から伝熱ガスとして、例えばヘリウム(He)ガスが基板載置面13a及び基板Gの裏面の間隙に供給される。基板載置面13a及び基板Gの裏面の間隙に供給されたヘリウムガスは基板Gの熱をサセプタ12に効果的に伝達する。   A plurality of heat transfer gas supply holes (not shown) are opened in the substrate mounting surface 13a. The plurality of heat transfer gas supply holes are connected to the heat transfer gas supply unit, and for example, helium (He) gas is supplied from the heat transfer gas supply unit to the gap between the substrate mounting surface 13a and the back surface of the substrate G. The The helium gas supplied to the gap between the substrate placement surface 13 a and the back surface of the substrate G effectively transfers the heat of the substrate G to the susceptor 12.

サセプタ12の基材13には、高周波電力を供給するための高周波電源23が整合器24を介して接続されている。高周波電源23からは、例えば13.56MHzの高周波電力(RF)が印加され、サセプタ12は下部電極として機能する。整合器24は、サセプタ12からの高周波電力の反射を低減して高周波電力のサセプタ12への印加効率を最大にする。   A high frequency power source 23 for supplying high frequency power is connected to the base material 13 of the susceptor 12 via a matching unit 24. A high frequency power (RF) of 13.56 MHz, for example, is applied from the high frequency power supply 23, and the susceptor 12 functions as a lower electrode. The matching unit 24 reduces the reflection of the high frequency power from the susceptor 12 to maximize the application efficiency of the high frequency power to the susceptor 12.

基板処理装置10では、チャンバ11の内側壁とサセプタ12の側面とによって側方排気路26が形成される。この側方排気路26は排気管27を介して排気装置28に接続されている。排気装置28としてのTMP(Turbo Molecular Pump)及びDP(Dry Pump)やMBP(Mechanical Booster Pump)(ともに図示省略)はチャンバ11内を真空引きして減圧する。具体的には、DP若しくはMBPはチャンバ11内を大気圧から中真空状態(例えば、1.3×10Pa(0.1Torr)以下)まで減圧し、TMPはDP若しくはMBPと協働してチャンバ11内を中真空状態より低い圧力である高真空状態(例えば、1.3×10−3Pa(1.0×10−5Torr)以下)まで減圧する。なお、チャンバ11内の圧力はAPCバルブ(図示省略)によって制御される。   In the substrate processing apparatus 10, a side exhaust path 26 is formed by the inner wall of the chamber 11 and the side surface of the susceptor 12. The side exhaust path 26 is connected to an exhaust device 28 via an exhaust pipe 27. TMP (Turbo Molecular Pump), DP (Dry Pump) and MBP (Mechanical Booster Pump) (both not shown) as the exhaust device 28 are evacuated to reduce the pressure inside the chamber 11. Specifically, DP or MBP depressurizes the inside of the chamber 11 from atmospheric pressure to a medium vacuum state (for example, 1.3 × 10 Pa (0.1 Torr or less)), and TMP cooperates with DP or MBP to chamber 11. The inside is depressurized to a high vacuum state (for example, 1.3 × 10 −3 Pa (1.0 × 10 −5 Torr) or less), which is a lower pressure than the medium vacuum state. The pressure in the chamber 11 is controlled by an APC valve (not shown).

チャンバ11の天井部分には、サセプタ12と対向するようにシャワーヘッド30が配置されている。シャワーヘッド30は内部空間31を有するとともに、サセプタ12との間の処理空間Sに処理ガスを吐出する複数のガス孔32を有する。シャワーヘッド30は接地されており、下部電極として機能するサセプタ12と共に一対の平行平板電極を構成している。   A shower head 30 is disposed on the ceiling portion of the chamber 11 so as to face the susceptor 12. The shower head 30 has an internal space 31 and a plurality of gas holes 32 for discharging a processing gas into the processing space S between the shower head 30 and the susceptor 12. The shower head 30 is grounded and constitutes a pair of parallel plate electrodes together with the susceptor 12 functioning as a lower electrode.

シャワーヘッド30は、ガス供給管36を介して処理ガス供給源39に接続されている。ガス供給管36には、開閉バルブ37及びマスフローコントローラ38が設けられている。また、処理チャンバ11の側壁には基板搬入出口34が設けられており、この基板搬入出口34はゲートバルブ35により開閉可能となっている。そして、このゲートバルブ35を介して処理対象である基板Gが搬入出される。   The shower head 30 is connected to a processing gas supply source 39 via a gas supply pipe 36. The gas supply pipe 36 is provided with an open / close valve 37 and a mass flow controller 38. A substrate loading / unloading port 34 is provided on the side wall of the processing chamber 11, and the substrate loading / unloading port 34 can be opened and closed by a gate valve 35. Then, the substrate G to be processed is carried in / out through the gate valve 35.

基板処理装置10では、処理ガス供給源39から処理ガス導入管36を介して処理ガスが供給される。供給された処理ガスは、シャワーヘッド30の内部空間31及びガス孔32を介してチャンバ11の処理空間Sへ導入される。導入される処理ガスは、高周波電源23からサセプタ12を介して処理空間Sへ印加されるプラズマ生成用の高周波電力(RF)によって励起されてプラズマとなる。プラズマ中のイオンは、基板Gに向かって引きこまれ、基板Gに対して所定のプラズマエッチング処理を施す。   In the substrate processing apparatus 10, the processing gas is supplied from the processing gas supply source 39 through the processing gas introduction pipe 36. The supplied processing gas is introduced into the processing space S of the chamber 11 through the internal space 31 and the gas hole 32 of the shower head 30. The introduced processing gas is excited by high-frequency power (RF) for plasma generation applied to the processing space S from the high-frequency power source 23 via the susceptor 12 and becomes plasma. Ions in the plasma are attracted toward the substrate G, and the substrate G is subjected to a predetermined plasma etching process.

基板処理装置10の各構成部品の動作は、基板処理装置10が備える制御部(図示省略)のCPUがプラズマエッチング処理に対応するプログラムに応じて制御する。   The operation of each component of the substrate processing apparatus 10 is controlled by a CPU of a control unit (not shown) provided in the substrate processing apparatus 10 according to a program corresponding to the plasma etching process.

図2は、本発明の第1の実施の形態に係るシールドリングの構成を示す図であり、図2(A)は平面図、図2(B)は図2(A)のII−II線に沿った断面図である。   2A and 2B are diagrams showing the configuration of the shield ring according to the first embodiment of the present invention. FIG. 2A is a plan view, and FIG. 2B is a line II-II in FIG. FIG.

図2(A)において、シールドリング15は、下部電極として機能するサセプタ12(以下、「下部電極」という。)の矩形の基板載置面13aの周囲を囲むように配置されており、矩形の基板載置面13aの対向する2つの短辺に沿ってそれぞれ配置された長尺状のリング構成部品41、42と、対向する2つの長辺に沿ってそれぞれ配置された長尺状のリング構成部品43、44との組合せ体で構成されている。   In FIG. 2A, the shield ring 15 is disposed so as to surround the periphery of the rectangular substrate mounting surface 13a of the susceptor 12 (hereinafter referred to as “lower electrode”) that functions as a lower electrode. Long ring components 41 and 42 arranged along two opposing short sides of the substrate mounting surface 13a, and a long ring configuration arranged along two opposing long sides, respectively. It consists of a combination with parts 43 and 44.

リング構成部品41〜44は、長尺状物の長さ方向の一端である固定端に設けられた固定用のねじ孔45と、該固定用のねじ孔45とは長尺状物の長さ方向に離間して設けられた支持用のねじ孔46を有する。支持用のねじ孔46は少なくとも1つ設けられるが、長尺状物の長さに応じて2つ又はそれ以上設けることもできる。このとき各支持用のねじ孔46は、例えば等間隔に設けることもできる。   The ring components 41 to 44 include a fixing screw hole 45 provided at a fixed end which is one end in the length direction of the long object, and the fixing screw hole 45 is the length of the long object. It has the screw hole 46 for support provided in the direction away. At least one screw hole 46 for support is provided, but two or more may be provided according to the length of the long object. At this time, the screw holes 46 for support can be provided, for example, at equal intervals.

ここで、固定用のねじ孔45はリング構成部品の固定端を基材13に固定するための固定部として機能するものであり、ねじ孔に垂直な断面において遊びが少なく、平面上における形状が真円状に形成される。一方、支持用のねじ孔46は、固定端に対向する他端である自由端を長尺状物の長さ方向に変位自在にガイドし支持するガイド部として機能するものであり、ねじ孔に垂直な断面において遊びがあり、平面上における形状が楕円形若しくは両端が半円となる矩形に形成される。支持用のねじ孔46における断面の長径は、各構成部材41〜44が熱膨張しても、支持用のねじ孔46に装着される支持ねじが構成部材の熱膨張を規制しない程度の長さを有するものとし、長径の長さは、例えば、第5.5世代と呼ばれるFPD用ガラス基板を処理する際には、7mm〜10.5mmであることが好ましく、処理するガラス基板のサイズが大きくなるにつれ、より長くすることが好ましい。   Here, the fixing screw hole 45 functions as a fixing portion for fixing the fixed end of the ring component to the base member 13, and there is little play in the cross section perpendicular to the screw hole, and the shape on the plane is small. It is formed in a perfect circle. On the other hand, the supporting screw hole 46 functions as a guide portion that guides and supports the free end, which is the other end opposite to the fixed end, so as to be displaceable in the length direction of the long object. There is play in the vertical cross section, and the shape on the plane is an ellipse or a rectangle whose both ends are semicircles. The major axis of the cross section of the supporting screw hole 46 is long enough to prevent the supporting screw mounted in the supporting screw hole 46 from restricting the thermal expansion of the constituent members even if the constituent members 41 to 44 are thermally expanded. For example, when processing a glass substrate for FPD called 5.5th generation, the length of the major axis is preferably 7 mm to 10.5 mm, and the size of the glass substrate to be processed is large. As it becomes, it is preferable to make it longer.

固定用のねじ孔に装着される固定ねじの締め付けトルクは、支持用のねじ孔に装着される支持ねじの締め付けトルクよりも大きくすることが好ましい。これによって、リング構成部品41〜44の固定端41a〜44aを確実に固定し、また、自由端41b〜44bをルーズに支持して熱膨張時又は熱収縮時のその移動を確保することができる。   It is preferable that the tightening torque of the fixing screw attached to the fixing screw hole is larger than the tightening torque of the support screw attached to the supporting screw hole. As a result, the fixed ends 41a to 44a of the ring components 41 to 44 can be securely fixed, and the free ends 41b to 44b can be loosely supported to ensure their movement during thermal expansion or thermal contraction. .

固定ねじの締め付けトルクは、例えば8×(1±0.05)kgf・cm(0.75〜0.8N・m)程度であり、支持ねじの締め付けトルクは、例えば固定ねじの締め付けトルクよりも若干小さく、例えば6〜8kgf・cm(0.6〜0.8N・m)程度である。ただし、膨張による延び量を制限する必要がある場合などにおいては、これらのトルクを、セラミックスが破損しない程度の範囲内でより強く締め、シールドリングの移動を制約することも可能である。   The tightening torque of the fixing screw is, for example, about 8 × (1 ± 0.05) kgf · cm (0.75 to 0.8 N · m), and the tightening torque of the support screw is, for example, higher than the tightening torque of the fixing screw. It is slightly small, for example, about 6 to 8 kgf · cm (0.6 to 0.8 N · m). However, when it is necessary to limit the amount of extension due to expansion, it is possible to restrict the movement of the shield ring by tightening these torques more strongly within a range that does not damage the ceramics.

リング構成部品41の固定端41aの端面は、隣接する他のリング構成部品43の長さ方向の端部43b(自由端)の側面に当接し、他端である移動端41bの側面が、隣接する他のリング構成部品43とは異なる隣接する別のリング構成部品44の端部44a(固定端)の端面に当接するように配置されている。リング構成部品42及び44は、それぞれ基板載置面13aの中心点Cに対してリング構成部品41及び43と点対象となるように配置されている。   The end surface of the fixed end 41a of the ring component 41 abuts on the side surface of the end portion 43b (free end) in the length direction of the other adjacent ring component 43, and the side surface of the moving end 41b, which is the other end, is adjacent. It arrange | positions so that it may contact | abut to the end surface of the edge part 44a (fixed end) of another adjacent ring component 44 which differs from the other ring component 43 to perform. The ring components 42 and 44 are arranged so as to be point targets with the ring components 41 and 43 with respect to the center point C of the substrate placement surface 13a, respectively.

図2(B)において、下部電極12の基材13は断面凸状を呈しており、該断面凸状体の上部平面が基板載置面13aとなり、段差部表面がフランジ部13bとなる。   In FIG. 2B, the base material 13 of the lower electrode 12 has a convex section, and the upper flat surface of the convex section has a substrate placement surface 13a, and the surface of the step portion becomes a flange portion 13b.

各リング構成部品41〜44の固定端41a〜44aはそれぞれ固定用のねじ孔45に装着された固定ねじ(図示省略)によって基材13のフランジ部13bに固定されている。また、各リング構成部品41〜44は、支持用のねじ孔46を貫通する支持ねじ(図示省略)によって自由端41b〜44bが、基材13のフランジ部に対して変位自在に支持され、これによって、各リング構成部品41〜44は固定端41a〜44aを起点にして長尺状物の長さ方向に沿って熱膨張又は熱収縮可能に支持されている。   The fixed ends 41 a to 44 a of the ring components 41 to 44 are fixed to the flange portion 13 b of the base material 13 by fixing screws (not shown) mounted in the fixing screw holes 45, respectively. Each of the ring components 41 to 44 is supported by a support screw (not shown) penetrating the support screw hole 46 so that the free ends 41b to 44b are displaceable with respect to the flange portion of the base member 13, Thus, each of the ring components 41 to 44 is supported so as to be capable of thermal expansion or contraction along the length direction of the long object starting from the fixed ends 41a to 44a.

ここで、各リング構成部品41〜44の熱膨張又は熱収縮持時における自由端41b〜44bの移動方向には隣接するリング構成部品が存在しないので、自由端の移動が妨げられることはない。これによって、熱膨張時における隣接するリング構成部品同士の押し合いを防止して、シールドリング15の変形の発生及び熱収縮によるシールドリング15と基板載置面13aとの間における隙間の発生を防止することができる。   Here, since there is no adjacent ring component in the moving direction of the free ends 41b to 44b when the ring components 41 to 44 are in thermal expansion or thermal contraction, the movement of the free ends is not hindered. This prevents the adjacent ring components from pushing against each other during thermal expansion, and prevents the shield ring 15 from being deformed and the gap between the shield ring 15 and the substrate mounting surface 13a from being thermally contracted. be able to.

下部電極12の基板載置面13aの角部はそれぞれアール状に面取り処理されている。従って、この面取り面とシールドリング15との間の隙間を埋めるために、各構成部品41〜44の固定端41a〜44aの側面にアール面を有する突起部が設けられている。これによって、面取り面とシールドリング15との間の隙間からプラズマが進入することを防止することができる。また、アール面を有する突起部を固定端側に設けたので、熱膨張又は熱収縮時における隙間の発生を好適に防止することができる。なお、基板載置面13aの角部はアール形状に限らず平坦なC面形状であってもよく、また、この場合は、上記突起部はこれに合わせた平坦な形状となる。   The corners of the substrate placement surface 13a of the lower electrode 12 are each chamfered in a round shape. Therefore, in order to fill the gap between the chamfered surface and the shield ring 15, protrusions having rounded surfaces are provided on the side surfaces of the fixed ends 41 a to 44 a of the component parts 41 to 44. As a result, it is possible to prevent plasma from entering from the gap between the chamfered surface and the shield ring 15. Moreover, since the protrusion having the rounded surface is provided on the fixed end side, it is possible to suitably prevent the generation of a gap during thermal expansion or thermal contraction. In addition, the corner | angular part of the board | substrate mounting surface 13a may be not only a round shape but a flat C surface shape, and, in this case, the said protrusion part becomes a flat shape according to this.

図3は、図2のシールドリング15が熱膨張した状態を示す模式図である。   FIG. 3 is a schematic diagram showing a state in which the shield ring 15 of FIG. 2 is thermally expanded.

図3において、シールドリング15の各構成部材41〜44は、固定端41a〜44aを固定する固定ねじを起点として自由端41b〜44b方向に膨張しており、自由端41b〜44bは、熱膨張によって延びた長さに相当する寸法だけ変位している。   In FIG. 3, each of the constituent members 41 to 44 of the shield ring 15 is expanded in the direction of the free ends 41b to 44b starting from a fixing screw that fixes the fixed ends 41a to 44a. The free ends 41b to 44b are thermally expanded. Is displaced by a dimension corresponding to the length extended by.

図4は、図2の下部電極12が熱膨張した状態を示す模式図である。   FIG. 4 is a schematic diagram showing a state where the lower electrode 12 of FIG. 2 is thermally expanded.

図4において、シールドリング15の各構成部材41〜44が基板載置面13aの各辺に一対一で当接するように配置されているので、下部電極12はシールドリング15を構成する各構成部材間に隙間を生じさせない。従って、下部電極12とシールドリング15との間における隙間は発生しない。   In FIG. 4, the constituent members 41 to 44 of the shield ring 15 are arranged so as to contact each side of the substrate placement surface 13 a on a one-to-one basis, so that the lower electrode 12 is a constituent member of the shield ring 15. Do not create a gap between them. Accordingly, no gap is generated between the lower electrode 12 and the shield ring 15.

本実施の形態によれば、シールドリング15の一端である固定端41a〜44aを固定用のねじ孔45に装着される固定ねじによって確実に固定し、他端である自由端41b〜44bを支持用のねじ孔46に装着される支持ねじによって熱膨張又は熱収縮方向に変位可能に支持すると共に、自由端41b〜44bの移動方向に他のリング構成部品が存在しないように組合せたので、シールドリング15がプラズマの連続照射によって加熱され、熱膨張しても内部応力が発生することがない。従って、シールドリング15の変形及びシールドリング15と下部電極12との間に隙間を生じることがなく、隙間にプラズマが進入することによる下部電極12における異常放電、エロージョン等の発生を防止することができる。   According to the present embodiment, the fixed ends 41a to 44a that are one end of the shield ring 15 are securely fixed by the fixing screw that is mounted in the fixing screw hole 45, and the free ends 41b to 44b that are the other ends are supported. Since it is supported so as to be displaceable in the direction of thermal expansion or contraction by a support screw attached to the screw hole 46 for use, and is combined so that there are no other ring components in the direction of movement of the free ends 41b to 44b. Even if the ring 15 is heated by continuous irradiation of plasma and thermally expands, no internal stress is generated. Therefore, the deformation of the shield ring 15 and the gap between the shield ring 15 and the lower electrode 12 are not generated, and the occurrence of abnormal discharge, erosion, etc. in the lower electrode 12 due to the plasma entering the gap is prevented. it can.

また、本実施の形態によれば、シールドリング15をリング構成部品41〜44の組合せ体で構成したので、各リング構成部品41〜44の形状を、例えば略短冊状の簡易形状とすることができる。従って、各リング構成部品及びシールドリングの製作コストを削減することができる。   Moreover, according to this Embodiment, since the shield ring 15 was comprised with the combination body of the ring component parts 41-44, the shape of each ring component parts 41-44 can be made into a substantially strip-shaped simple shape, for example. it can. Therefore, the manufacturing cost of each ring component and shield ring can be reduced.

本実施の形態において、リング構成部品は、絶縁性のセラミックス、例えばアルミナ(Al)、イットリア、窒化シリコン、石英などで構成される。リング構成部品41〜44における固定用のねじ孔45は、該リング構成部品の固定端から極力近い位置にあることが好ましく、例えば、30〜40mm若しくはそれ以下に設けられることが好ましい。固定用のねじ孔45の固定端端面との間隔が300mm以上となると、その部分の熱膨張が無視できなくなり、各リング構成部品の固定端と、該固定端に当接する他のリング構成部品との接合面に歪みが発生する。また、ねじとしては、ステンレスねじ、セラミックスねじ、アルミねじ等が用いられる。 In the present embodiment, the ring component is made of an insulating ceramic such as alumina (Al 2 O 3 ), yttria, silicon nitride, quartz, or the like. The screw holes 45 for fixing in the ring components 41 to 44 are preferably located as close as possible to the fixed ends of the ring components, and are preferably provided at 30 to 40 mm or less, for example. If the distance between the fixing screw hole 45 and the fixed end face is 300 mm or more, thermal expansion of that portion cannot be ignored, and the fixed end of each ring component and other ring components that come into contact with the fixed end Distortion occurs in the joint surface. Moreover, as a screw, a stainless steel screw, a ceramic screw, an aluminum screw, etc. are used.

本実施の形態において、各リング構成部品41〜44を、基材13のフランジ部13bに固定又は変位自在に支持させる締め付け部材としてねじを適用したが、各リング構成部品41〜44を基材13のフランジ部13bへ固定又は支持させる締め付け部材としては、ねじの外、固定部分については、例えば、クランプ等による圧接や、各リング構成部材とフランジとの嵌め込み構造による固定など、変異自在部分については各リング構成部材側方の衝立や溝、各リング構成部材とフランジとの嵌め込み式のレール等により一方向に変位を制限することにできるガイド部材などを用いてもよい。   In the present embodiment, a screw is applied as a fastening member that supports each ring component 41 to 44 fixedly or displaceably on the flange portion 13 b of the base member 13, but each ring component 41 to 44 is attached to the base member 13. As a fastening member to be fixed to or supported on the flange portion 13b of the screw, for a variable portion such as a fixed portion, such as pressure contact by a clamp or a fitting structure between each ring component member and the flange, etc. You may use the guide member etc. which can restrict | limit displacement to one direction by the partition or groove | channel of each ring structural member side, the fitting type rail of each ring structural member, and a flange.

次に、第1の実施の形態の変形例について説明する。   Next, a modification of the first embodiment will be described.

図5は、第1の実施の形態の変形例としてのシールドリングの構成を示す図である。   FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration of a shield ring as a modification of the first embodiment.

図5において、この変形例が、第1の実施の形態と異なる点は、シールドリンク15を構成するリング構成部品41〜44におけるアール状の突起部を無くしてそれぞれ短冊状のリング構成部品51〜54とし、下部電極12の矩形の基板載置面13aの4つの角部と、シールドリング15の各構成部材相互の当接部との間の隙間を埋めるアール面を有する隙間嵌合部材55を別体として設けたものである。   In FIG. 5, this modified example is different from the first embodiment in that the ring-shaped protrusions 41 to 44 constituting the shield link 15 are eliminated, and the strip-shaped ring components 51 to 51 are removed. 54, and a gap fitting member 55 having a rounded surface filling the gap between the four corners of the rectangular substrate mounting surface 13a of the lower electrode 12 and the contact portions between the constituent members of the shield ring 15. It is provided as a separate body.

このようなシールドリング15においても、第1の実施の形態と同様、シールドリング15と下部電極12の基板載置面13aとの間の隙間をなくして、下部電極12における異常放電やエロージョンの発生を防止することができる。   In such a shield ring 15 as well, similar to the first embodiment, the gap between the shield ring 15 and the substrate mounting surface 13a of the lower electrode 12 is eliminated, and abnormal discharge and erosion occur in the lower electrode 12. Can be prevented.

また、本変形例によれば、リング構成部品51〜54を単純な短冊形状とすることができるので、材料取りを小さくすることができると共に、アール形状の突起部の破損の虞が少なくて取り扱いが容易である。また、アール面を有する隙間嵌合部材55はプラズマの連続照射を受けて消耗するが、製造及び交換が容易であり、コスト的にもメリットがある。   In addition, according to this modification, the ring components 51 to 54 can be formed into a simple strip shape, so that the material removal can be reduced, and there is little risk of damage to the round-shaped projections. Is easy. In addition, the gap fitting member 55 having a rounded surface is worn out by continuous irradiation of plasma, but is easy to manufacture and replace, and is advantageous in terms of cost.

図6は、本発明の第2の実施の形態に係るシールドリングの要部の構成を示す説明図であり、図6(A)は、要部平面図、図6(B)は要部斜視図、図6(C)は入れ子部材及び該入れ子部材に載置されたアール部材を示す斜視図、図6(D)はサイドシールド部材を説明するための斜視図である。   6A and 6B are explanatory views showing the configuration of the main part of the shield ring according to the second embodiment of the present invention. FIG. 6A is a plan view of the main part and FIG. 6B is a perspective view of the main part. FIG. 6 (C) is a perspective view showing a nesting member and a round member placed on the nesting member, and FIG. 6 (D) is a perspective view for explaining the side shield member.

図6において、このシールドリング60は、リング構成部品61及び62と、該リング構成部品61及び62にそれぞれ基板載置面の中心点を基準に点対称の配置された図示省略した2つのリング構成部品とから主として構成されている。   In FIG. 6, this shield ring 60 includes ring components 61 and 62 and two ring components (not shown) arranged symmetrically with respect to the center point of the substrate mounting surface on the ring components 61 and 62, respectively. It is mainly composed of parts.

このシールドリング60は、各リング構成部品の長さ方向の一端である固定端の端面と、該リング構成部品に隣接する他のリング構成部品の長さ方向の一端の側面との当接部に、基板載置面13aに対して垂直方向及び水平方向からのプラズマの進入を阻止する段差構造の嵌め合い部を形成したものである。   The shield ring 60 is provided at a contact portion between the end face of the fixed end, which is one end in the length direction of each ring component, and the side face of one end in the length direction of another ring component adjacent to the ring component. In addition, a stepped structure fitting portion that prevents the plasma from entering from the vertical direction and the horizontal direction with respect to the substrate mounting surface 13a is formed.

すなわち、リング構成部品62の固定端62aの端面、及びリング構成部品61の自由端61bの側面には、それぞれ図中下方が四角柱状に削り取られた段差部62c及び61cが設けられている。これによって、リング構成部品62の固定端62aの端面とリング構成部品61の自由端61bの側面との当接部には、段差部62cと段差部61cとで形成される凹部64が形成される。   That is, stepped portions 62c and 61c are formed on the end surface of the fixed end 62a of the ring component 62 and the side surface of the free end 61b of the ring component 61, with the lower portion in the drawing being scraped off into a square column shape. As a result, a recess 64 formed by the stepped portion 62c and the stepped portion 61c is formed at the contact portion between the end surface of the fixed end 62a of the ring component 62 and the side surface of the free end 61b of the ring component 61. .

凹部64には、図6(C)に示したような入れ子部材65が遊嵌状に挿入される。凹部64に挿入された入れ子部材65におけるアール面65aは、リング構成部品62と61との当接部からシールドリング60の内側に突出して図示省略した下部電極12の面取りされた矩形の基板載置面13aの面取り面に当接する。入れ子部材65のアール面65aを有する部分の上部には、アール面65aと同様のアール面を有する隙間嵌合部材66が別体として載置され、これによって、下部電極12の基板載置面13aと、隙間嵌合部材66の上面及びリング構成部品62と61の上面とが同一平面を形成するようになる。このとき、入れ子部材65と凹部64との間には、リング構成部品61の熱膨張又は熱収縮による変位を吸収するための隙間67が形成される。   A nesting member 65 as shown in FIG. 6C is inserted into the recess 64 in a loose fit. The rounded surface 65a of the nesting member 65 inserted into the recess 64 protrudes from the contact portion between the ring components 62 and 61 to the inside of the shield ring 60, and the lower electrode 12 (not shown) is chamfered with a rectangular substrate placed thereon. It contacts the chamfered surface of the surface 13a. A gap fitting member 66 having a rounded surface similar to the rounded surface 65a is placed on the upper portion of the portion of the nesting member 65 having the rounded surface 65a, whereby the substrate placement surface 13a of the lower electrode 12 is placed. Then, the upper surface of the gap fitting member 66 and the upper surfaces of the ring components 62 and 61 form the same plane. At this time, a gap 67 for absorbing displacement due to thermal expansion or contraction of the ring component 61 is formed between the nesting member 65 and the recess 64.

入れ子部材65が遊嵌状に挿入された凹部64の入口が開口するサセプタ12の側面には、図6(D)に示したように、サイドシールド部材としての絶縁リング68が配置される。従って、下部電極12は、基板載置面13aに対して垂直方向だけでなく、水平方向からもプラズマ照射を受けることがない。   As shown in FIG. 6D, an insulating ring 68 as a side shield member is disposed on the side surface of the susceptor 12 where the entrance of the concave portion 64 into which the nesting member 65 is inserted in a loose fit is opened. Accordingly, the lower electrode 12 does not receive plasma irradiation not only in the vertical direction but also in the horizontal direction with respect to the substrate mounting surface 13a.

本実施の形態によれば、リング構成部品62の固定端62aの端面と、リング構成部品61の自由端61bの側面との当接部は、プラズマの進入を阻止する段差構造を有しているので、下部電極12が直接プラズマの照射を受けることはない。従って、プラズマの照射に基づく異常放電やエロージョンの発生を防止することができる。   According to the present embodiment, the contact portion between the end surface of the fixed end 62a of the ring component 62 and the side surface of the free end 61b of the ring component 61 has a step structure that prevents plasma from entering. Therefore, the lower electrode 12 is not directly irradiated with plasma. Therefore, abnormal discharge and erosion due to plasma irradiation can be prevented.

また、本実施の形態によれば、隙間嵌合部材66が入れ子部材65のアール状部分に載置されているので、隙間嵌合部材66と入れ子部材65との間がラビリンス構造となり、その部分におけるプラズマの進入を阻止することができる。   Further, according to the present embodiment, since the gap fitting member 66 is placed on the rounded portion of the nesting member 65, the gap fitting member 66 and the nesting member 65 have a labyrinth structure, and the portion It is possible to prevent plasma from entering.

また、本実施の形態によれば、段差構造の一部を入れ子部材で構成することによって、リング部材相互の当接部の構造が比較的単純なものとなる。従って、製作が容易で、取り扱い時の破損の虞も少なくなる。   In addition, according to the present embodiment, the structure of the contact portion between the ring members becomes relatively simple by configuring a part of the step structure with the nesting member. Therefore, manufacture is easy and the possibility of damage during handling is reduced.

本実施の形態において、入れ子部材65は、リング構成部品61、62及び下部電極12の基材13に固定されることなく、当該部材相互間に形成される凹部64に遊嵌した状態で基材13のフランジ部に載置される。従って、入れ子部材65とリング構成部品61との間には、所定の隙間が生じ、この隙間によってリング構成部品61の熱膨張による変位を吸収することができるのでシールドリングの変形を防止することができ、これによっても下部電極12へのプラズマの照射を防止して下部電極12における異常放電やエロージョンの発生を防止することができる。   In the present embodiment, the nesting member 65 is not fixed to the base members 13 of the ring components 61 and 62 and the lower electrode 12, but is loosely fitted in the recess 64 formed between the members. It is mounted on 13 flange portions. Therefore, a predetermined gap is formed between the nesting member 65 and the ring component 61, and the displacement due to the thermal expansion of the ring component 61 can be absorbed by this gap, so that deformation of the shield ring can be prevented. This can also prevent the lower electrode 12 from being irradiated with plasma, thereby preventing abnormal discharge and erosion from occurring in the lower electrode 12.

図7は、本発明の第3の実施の形態に係るシールドリングの要部の構成を示す図であり、図7(A)は要部平面図、図7(B)は要部正面図、図7(C)はリング構成部品の組み立て図である。   FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a main part of a shield ring according to a third embodiment of the present invention, FIG. 7 (A) is a main part plan view, FIG. 7 (B) is a main part front view, FIG. 7C is an assembly view of ring components.

図7において、このシールドリング70は、リング構成部品の一端の端面と、該リング構成部品に隣接する他のリング構成部品の長さ方向の一端の側面との当接部に、基板載置面13aに対して垂直方向及び水平方向からのプラズマの進入を阻止する段差構造の嵌め合い部を設けたものである。   In FIG. 7, this shield ring 70 has a substrate mounting surface at a contact portion between an end surface of one end of the ring component and one side surface in the length direction of another ring component adjacent to the ring component. A fitting portion having a step structure that prevents the plasma from entering from the vertical direction and the horizontal direction with respect to 13a is provided.

通常、単純な短冊状のリング構成部品を4つ矩形に組み合わせたシールドリングでは、当接するリング構成部品相互間にわずかな隙間が生じ、この隙間からプラズマが進入して下部電極まで到達し、下部電極において異常放電又はエロージョンが発生する原因となる。従って、本実施の形態に係るシールドリング70は、各リング構成部品の当接部に垂直方向及び水平方向からのプラズマの進入を阻止する段差構造の嵌め合い部を有する。   Usually, in a shield ring that combines four simple strip-shaped ring components into a rectangular shape, a slight gap is created between the ring components that come into contact with each other, and plasma enters the lower electrode and reaches the lower electrode. This may cause abnormal discharge or erosion in the electrode. Therefore, the shield ring 70 according to the present embodiment has a fitting portion having a step structure that prevents the plasma from entering from the vertical direction and the horizontal direction at the contact portion of each ring component.

リング構成部品72の固定端72aの端面には、図7(C)に示したように、基板載置面13aに対して垂直及び水平方向に鈎状となるように2段の段差部が設けられており、リング構成部品71の自由端71bには、この段差部に噛み合うような鈎状の段差部を有する突出部が設けられている。このような段差部の組み合わせによりラビリンス構造が形成される。   As shown in FIG. 7C, the end surface of the fixed end 72a of the ring component 72 is provided with two steps so as to form a bowl shape in the vertical and horizontal directions with respect to the substrate mounting surface 13a. In addition, the free end 71b of the ring component 71 is provided with a protruding portion having a bowl-shaped step portion that meshes with the step portion. A labyrinth structure is formed by the combination of such stepped portions.

本実施の形態によれば、リング構成部品相互の当接部に段差構造の嵌め合い部を形成したので、下部電極12への垂直方向及び水平方向からのプラズマの進入が阻止され、これによって、下部電極12における異常放電、エロージョン等のトラブルの発生を回避することができる。   According to the present embodiment, since the fitting portion of the step structure is formed in the contact portion between the ring components, the entrance of the plasma from the vertical direction and the horizontal direction to the lower electrode 12 is prevented, thereby The occurrence of troubles such as abnormal discharge and erosion in the lower electrode 12 can be avoided.

本実施の形態において、リング構成部品71と72との当接部、すなわち段差部の嵌め合い部におけるリング構成部品71の熱膨張方向の隙間d1及びd2(図7(A)参照)が等しくなるようにし、且つその幅を、リング構成部品71の熱膨張又は熱収縮に起因する変位を吸収するのに十分な幅、例えば1〜2mm程度とすることが好ましい。これによって、リング構成部品71及び72における熱膨張が阻害されることがないので、シールドリング70と下部電極12との間における隙間の発生を防止して、下部電極12がプラズマ照射を受けることによるトラブルの発生を回避することができる。   In the present embodiment, the contact portions between the ring components 71 and 72, that is, the gaps d1 and d2 (see FIG. 7A) in the thermal expansion direction of the ring components 71 at the fitting portions of the stepped portions become equal. The width of the ring component 71 is preferably a width sufficient to absorb the displacement caused by thermal expansion or contraction of the ring component 71, for example, about 1 to 2 mm. As a result, the thermal expansion of the ring components 71 and 72 is not hindered, so that the formation of a gap between the shield ring 70 and the lower electrode 12 is prevented, and the lower electrode 12 is subjected to plasma irradiation. Troubles can be avoided.

本実施の形態において、リング構成部品71と72との当接部におけるリング構成部品の熱膨張方向に対して直角方向の隙間e1及びe2(図7(A)参照)は、リング構成部品の組み立てに支障がない程度の隙間であれば良い。   In the present embodiment, the gaps e1 and e2 (see FIG. 7A) in the direction perpendicular to the thermal expansion direction of the ring components at the contact portion between the ring components 71 and 72 are assembling the ring components. It is sufficient if it is a gap that does not cause any trouble.

次に、本発明における第4の実施の形態について説明する。   Next, a fourth embodiment of the present invention will be described.

図8は、本発明の第4の実施の形態に係るシールドリングの構成を示す図である。このシールドリングは、基板載置台の製作精度を高め、且つ下部電極の角部4箇所の溶射面のエロージョンを防止し易くするために、4つの角部に対してそれぞれアール面ではなく、平面による面取り処理が施された基板載置面13aの周囲を囲むように配置されたものである。   FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a shield ring according to the fourth embodiment of the present invention. In order to improve the manufacturing accuracy of the substrate mounting table and to easily prevent erosion of the sprayed surface at the four corners of the lower electrode, this shield ring is not a round surface but a flat surface for each of the four corners. It is arranged so as to surround the periphery of the substrate mounting surface 13a that has been chamfered.

図8において、シールドリング15は、矩形の基板載置面13aの対向する2つの短辺に沿ってそれぞれ配置された長尺状のリング構成部品81、82と、対向する2つの長辺に沿ってそれぞれ配置された長尺状のリング構成部品83、84との組合せ体で構成されている。   In FIG. 8, the shield ring 15 includes long ring components 81 and 82 arranged along two opposing short sides of the rectangular substrate placement surface 13a, and two opposing long sides. Are combined with long ring components 83 and 84 arranged respectively.

リング構成部品81〜84は、長尺状物の長さ方向の一端である固定端に設けられた固定用のねじ孔85と、該固定用のねじ孔85とは長尺状物の長さ方向に離間して設けられた支持用のねじ孔86を有する。支持用のねじ孔86は少なくとも1つ設けられるが、長尺状物の長さに応じて2つ又はそれ以上設けることもできる。このとき各支持用のねじ孔86は、例えば等間隔に設けることが好ましい。   The ring components 81 to 84 include a fixing screw hole 85 provided at a fixed end which is one end in the length direction of the long object, and the fixing screw hole 85 is the length of the long object. It has a screw hole 86 for support provided so as to be spaced apart in the direction. At least one screw hole 86 for support is provided, but two or more may be provided depending on the length of the long object. At this time, it is preferable that the screw holes 86 for support are provided at regular intervals, for example.

固定用のねじ孔85はリング構成部品の固定端を基材13に固定するためのものであり、ねじ孔に垂直な断面において遊びが少なく、平面上における形状が真円状に形成される。一方、支持用のねじ孔86は、固定端に対向する他端である自由端を変位自在に支持するものであり、ねじ孔に垂直な断面において長尺状物の長さ方向に長い楕円形若しくは両端が半円となる矩形に形成される。支持用のねじ孔86における断面の長径は、各構成部材81〜84が熱膨張しても、支持用のねじ孔86に装着される支持ねじが構成部材の熱膨張を規制しない程度の長さを有するものとし、長径の長さは、例えば、7mm〜10.5mmであることが好ましく、処理するガラス基板のサイズが大きくなる従って長くすることが好ましい。   The fixing screw hole 85 is used to fix the fixed end of the ring component to the base member 13, and there is little play in the cross section perpendicular to the screw hole, and the shape on the plane is formed into a perfect circle. On the other hand, the screw hole 86 for support supports the free end, which is the other end opposite to the fixed end, in a displaceable manner, and has an elliptical shape that is long in the length direction of the long object in a cross section perpendicular to the screw hole. Or it forms in the rectangle which becomes a semicircle at both ends. The major axis of the cross section of the supporting screw hole 86 is such a length that the supporting screw attached to the supporting screw hole 86 does not restrict the thermal expansion of the constituent member even when the constituent members 81 to 84 are thermally expanded. The length of the major axis is preferably 7 mm to 10.5 mm, for example, and it is preferable to increase the length of the glass substrate to be processed.

リング構成部品81の固定端81aの端面は、隣接する他のリング構成部品83の長さ方向の端部83b(自由端)の側面に当接し、他端である移動端81bの側面が、隣接する他のリング構成部品83とは異なる隣接する別のリング構成部品84の端部84a(固定端)の端面に当接するように配置されている。リング構成部品82及び84は、それぞれ基板載置面13aの中心点Cに対してリング構成部品81及び83と点対象となるように配置されている。   The end surface of the fixed end 81a of the ring component 81 abuts on the side surface of the end portion 83b (free end) in the length direction of another adjacent ring component 83, and the side surface of the moving end 81b, which is the other end, is adjacent. It arrange | positions so that it may contact | abut to the end surface of the edge part 84a (fixed end) of another adjacent ring component 84 different from the other ring component 83 to perform. The ring components 82 and 84 are arranged so as to be point targets with the ring components 81 and 83 with respect to the center point C of the substrate placement surface 13a, respectively.

各リング構成部品81〜84の固定端81a〜84aはそれぞれ固定用のねじ孔85に装着された固定ねじ(図示省略)によって図8中、紙面の奥側に配置された下部電極の基材(図示省略)のフランジ部に固定されている。また、各リング構成部品81〜84は、支持用のねじ孔86を貫通する支持ねじ(図示省略)によって自由端81b〜84bが、図8中、紙面の奥側に配置された下部電極の基材(図示省略)のフランジ部に対して変位自在に支持され、これによって、各リング構成部品81〜84は固定端81a〜84aを起点にして長尺状物の長さ方向に沿って熱膨張又は熱収縮可能に支持されている。   The fixed ends 81a to 84a of the ring component parts 81 to 84 are respectively fixed to lower screw bases (shown in FIG. 8) by fixing screws (not shown) mounted in fixing screw holes 85. (Not shown). Further, each ring component 81 to 84 has a base of a lower electrode in which free ends 81b to 84b are arranged on the back side of the paper surface in FIG. 8 by a support screw (not shown) penetrating the screw hole 86 for support. The ring components 81 to 84 are supported so as to be displaceable with respect to the flange portion of the material (not shown), whereby the ring components 81 to 84 are thermally expanded along the length direction of the long object starting from the fixed ends 81a to 84a. Or it is supported so that heat shrink is possible.

固定用のねじ孔に装着される固定ねじの締め付けトルクは、支持用のねじ孔に装着される支持ねじの締め付けトルクよりも大きくすることが好ましい。これによって、リング構成部品81〜84の固定端81a〜84aを確実に固定し、また、自由端81b〜84bをルーズに支持して熱膨張時又は熱収縮時のその移動を確保することができる。   It is preferable that the tightening torque of the fixing screw attached to the fixing screw hole is larger than the tightening torque of the support screw attached to the supporting screw hole. As a result, the fixed ends 81a to 84a of the ring components 81 to 84 can be securely fixed, and the free ends 81b to 84b can be loosely supported to ensure their movement during thermal expansion or thermal contraction. .

固定ねじの締め付けトルクは、例えば、第1の実施の形態と同様、例えば8×(1±0.05)kgf・cm(0.75〜0.8N・m)程度であり、支持ねじの締め付けトルクは、例えば固定ねじの締め付けトルクよりも若干小さく、例えば6〜8kgf・cm(0.6〜0.8N・m)程度である。ただし、膨張による延び量を制限する必要がある場合などにおいては、これらのトルクを、セラミックスが破損しない程度の範囲内でより強く締め、シールドリングの移動を制約することも可能である。   The fastening torque of the fixing screw is, for example, about 8 × (1 ± 0.05) kgf · cm (0.75 to 0.8 N · m), as in the first embodiment. The torque is, for example, slightly smaller than the tightening torque of the fixing screw, and is, for example, about 6 to 8 kgf · cm (0.6 to 0.8 N · m). However, when it is necessary to limit the amount of extension due to expansion, it is possible to restrict the movement of the shield ring by tightening these torques more strongly within a range that does not damage the ceramics.

各リング構成部品81〜84を図8で示すように配置することによって、各リング構成部品81〜84の熱膨張又は熱収縮持時における自由端81b〜84bの移動方向には隣接するリング構成部品が存在しないので、自由端の移動が妨げられることはない。これによって、熱膨張時における隣接するリング構成部品同士の押し合いを防止して、シールドリング15の変形の発生及び熱収縮によるシールドリング15と基板載置面13aとの間における隙間の発生を防止することができる。   By disposing the ring components 81 to 84 as shown in FIG. 8, the ring components adjacent to each other in the moving direction of the free ends 81b to 84b when the ring components 81 to 84 are thermally expanded or contracted. Does not prevent the free end from moving. This prevents the adjacent ring components from pushing against each other during thermal expansion, and prevents the shield ring 15 from being deformed and the gap between the shield ring 15 and the substrate mounting surface 13a from being thermally contracted. be able to.

本実施の形態においては、基板載置面とリング構成部材との当接部の隙間を極力なくして基板載置面へのプラズマの進入を阻止する観点から、製作精度が得られ難いアール面とアール面との当接部を避け、基板載置面の面取り面及び該面取り面に当接する構成部材面がそれぞれ平面となるように構成されている。   In the present embodiment, from the viewpoint of preventing the plasma from entering the substrate mounting surface by minimizing the gap between the contact portions of the substrate mounting surface and the ring component, the round surface that is difficult to obtain the manufacturing accuracy. Avoiding the contact portion with the rounded surface, the chamfered surface of the substrate mounting surface and the constituent member surfaces that contact the chamfered surface are each flat.

すなわち、図8に示したように、矩形の基板載置面13aの角部はそれぞれ平面による面取り処理が施されており、各面取り面と、各構成部品81〜84の一端の端面及び隣接する他の構成部品の一端の側面の接合部であるシールドリング15の角部との隙間に、基板載置面の面取り面と当接する平面を有する三角柱状の隙間嵌合部材87が嵌合されている。   That is, as shown in FIG. 8, the corners of the rectangular substrate mounting surface 13a are each chamfered by a flat surface, and each chamfered surface is adjacent to the end surface of one end of each of the components 81 to 84. A triangular prism-shaped gap fitting member 87 having a flat surface that comes into contact with the chamfered surface of the substrate mounting surface is fitted into a gap with a corner portion of the shield ring 15 which is a joint portion on one side surface of another component. Yes.

なお、本実施の形態においても、各リング構成部品81〜84を基材13に固定または変位自在に支持させるための取り付け方法として、ねじに限定されないことは言うまでも無く、第1の実施の形態の説明において記載した各種方法が使用できる。   In the present embodiment as well, it is needless to say that the attachment method for supporting each ring component 81 to 84 fixedly or displaceably on the base member 13 is not limited to the screw. Various methods described in the description of the form can be used.

図9は、第4の実施の形態に適用される隙間嵌合部材87を示す斜視図である。   FIG. 9 is a perspective view showing a gap fitting member 87 applied to the fourth embodiment.

図9において、この隙間嵌合部材87は、各構成部品81〜84とは独立に形成されたものである。隙間嵌合部材87は、それぞれ面取り処理が施された基板載置面13aの各角部の面取り面と、シールドリング15の角部とで囲まれた隙間に嵌合して当該隙間をなくすものであり、その高さは、例えば、基板載置面13aを構成する凸状部の高さ(図2参照)に相当する高さ、又はそれよりも若干低い高さである。   In FIG. 9, the gap fitting member 87 is formed independently of each of the component parts 81 to 84. The gap fitting member 87 is fitted into a gap surrounded by the chamfered surface of each corner of the substrate mounting surface 13a that has been chamfered and the corner of the shield ring 15, thereby eliminating the gap. The height is, for example, a height corresponding to the height (see FIG. 2) of the convex portion constituting the substrate mounting surface 13a, or a slightly lower height.

このような隙間嵌合部材87を備えたシールド部材は、矩形の基板載置面13aの周囲を囲むように配置されて基板載置台を形成する。   The shield member provided with such a gap fitting member 87 is disposed so as to surround the periphery of the rectangular substrate mounting surface 13a to form a substrate mounting table.

本実施の形態によれば、基材13の矩形の基板載置面13aの4つの角部に対し、それぞれ平面による面取り処理を施し、各面取り面と、シールドリング15の角部との隙間を埋める三角柱状の隙間嵌合部材87を備えているので、アール面同士の当接面をなくして構成部材の形状を単純化させることができ、これによって製作精度が向上する。また、アール面同士の接合部をなくして平面同士の接合面とすることができるので、部材相互のずれに起因して発生する隙間を極力なくしてプラズマの進入による電極面の損傷をより有効に防止することができる。   According to the present embodiment, the four corners of the rectangular substrate placement surface 13a of the base material 13 are each chamfered by a flat surface, and gaps between the respective chamfered surfaces and the corners of the shield ring 15 are formed. Since the triangular prism-shaped gap fitting member 87 to be filled is provided, the contact surfaces between the round surfaces can be eliminated, and the shape of the constituent members can be simplified, thereby improving the manufacturing accuracy. In addition, since the joints between the rounded surfaces can be eliminated and the joints between the flat surfaces can be formed, the gaps generated due to the mutual displacement between members can be eliminated as much as possible to more effectively damage the electrode surface due to the entrance of plasma. Can be prevented.

また、本実施の形態においては、被処理基板として、例えば1つの角部を位置合せのためのオリフラとして面取りした矩形の基板が好適に使用されるが、この場合において、基板載置面13a上に基板を載置させる際、基板載置面13aと基板との間に位置ずれが生じると、通常、基板載置面13aよりも先に隙間嵌合部材87の上部平面が露出する。従って、例え、基板載置面13aと基板との間に位置ずれが生じても、基板載置面13aの溶射表面へのプラズマの進入だけは回避してその損傷を防止することができる。また、4つの角部のいずれをも面取りとしているのは、基板の処理内容等の都合によりオリフラの位置が変更となった場合にも適用可能とするためである。なお、隙間嵌合部材87が損傷した際は、該隙間嵌合部材87のみを交換することによって容易に対処することができる。なお、本実施の形態において、各構成部品81〜84の当接部に段差構造の嵌め合い部を形成することができ、該嵌め合い部を形成する場合は、嵌め合い部の構造は第2の実施の形態と同様のものであり隙間嵌合部材87の下には図6の入れ子部材65と同様の部材が設けられるものとし、隙間嵌合部材87は基材13に載置されるものとする。   In the present embodiment, for example, a rectangular substrate having one corner portion chamfered as an orientation flat for alignment is preferably used as the substrate to be processed. In this case, on the substrate mounting surface 13a, When a substrate is placed on the substrate mounting surface 13a and the substrate is displaced, the upper flat surface of the gap fitting member 87 is usually exposed before the substrate placing surface 13a. Therefore, even if a positional deviation occurs between the substrate placement surface 13a and the substrate, it is possible to avoid the damage by preventing only the plasma from entering the sprayed surface of the substrate placement surface 13a. In addition, the reason why all the four corners are chamfered is that the orientation flat can be applied even when the position of the orientation flat is changed due to the processing content of the substrate. When the gap fitting member 87 is damaged, it can be easily dealt with by replacing only the gap fitting member 87. In the present embodiment, a fitting portion having a step structure can be formed at the contact portion of each of the component parts 81 to 84. When the fitting portion is formed, the fitting portion has a second structure. 6 and under the gap fitting member 87, a member similar to the nesting member 65 of FIG. 6 is provided, and the gap fitting member 87 is placed on the base material 13. And

また、本実施の形態によれば、隙間嵌合部材87を上下対称の三角柱状としたので、該隙間嵌合部材87を基板載置面13aの平面状の面取り面とシールドリング15の角部との間の隙間に嵌合させる際、上下方向の向きを考慮する必要がない。従って、当該シールドリング15を有する基板載置台の製作が比較的容易となる。   Further, according to the present embodiment, since the gap fitting member 87 is formed in a vertically symmetrical triangular prism shape, the gap fitting member 87 is formed of a planar chamfered surface of the substrate placement surface 13a and a corner portion of the shield ring 15. It is not necessary to consider the direction of the vertical direction when fitting in the gap between the two. Therefore, it becomes relatively easy to manufacture the substrate mounting table having the shield ring 15.

本実施の形態において、リング構成部品81〜84は、絶縁性のセラミックス、例えばアルミナ(Al)、イットリア、窒化シリコン、石英などで構成される。リング構成部品81〜84における固定用のねじ孔85は、該リング構成部品の固定端から極力近い位置にあることが好ましく、例えば、30〜40mm若しくはそれ以下に設けられることが好ましい。固定用のねじ孔85の固定端端面との間隔が広すぎると、その部分の熱膨張が無視できなくなり、各リング構成部品の固定端と、該固定端に当接する他のリング構成部品との接合面に歪みが発生するおそれがある。 In the present embodiment, the ring components 81 to 84 are made of insulating ceramics such as alumina (Al 2 O 3 ), yttria, silicon nitride, quartz, and the like. The screw holes 85 for fixing in the ring components 81 to 84 are preferably located as close as possible to the fixing ends of the ring components, and are preferably provided at 30 to 40 mm or less, for example. If the space between the fixing screw hole 85 and the fixed end surface is too wide, the thermal expansion of that portion cannot be ignored, and the fixed end of each ring component and the other ring components that are in contact with the fixed end. There is a risk of distortion on the joint surface.

次に、第4の本実施の形態の第1の変形例について説明する。   Next, a first modification of the fourth embodiment will be described.

図10は、第4の本実施の形態の第1の変形例における隙間嵌合部材を示す斜視図である。   FIG. 10 is a perspective view showing a gap fitting member in a first modification of the fourth embodiment.

図10において、隙間嵌合部材88が図9の隙間嵌合部材87と異なるところは、隙間嵌合部材88の一端に、該隙間嵌合部材88が基板載置面13aの各角部に形成された平面による面取り面とシールドリング15の角部との隙間に嵌合された際、基板載置面13aの各角部の形状を、見かけ上基板載置面13aの角部をアール面によって面取りした際の形状と同様の形状にするためのアール面88aを備えた凸部を形成した点である。すなわち、隙間嵌合部材88の一端面には、直線88bと円弧88cとで囲まれた面が所定の高さで突出した凸部が形成されており、この凸部の高さを規定する面がアール面88aとなっている。   In FIG. 10, the gap fitting member 88 is different from the gap fitting member 87 of FIG. 9 at one end of the gap fitting member 88, and the gap fitting member 88 is formed at each corner of the substrate mounting surface 13a. When fitted into the gap between the chamfered surface by the flat surface and the corner portion of the shield ring 15, the shape of each corner portion of the substrate placement surface 13a is apparently the corner portion of the substrate placement surface 13a by the rounded surface. It is the point which formed the convex part provided with the rounded surface 88a for making it the shape similar to the shape at the time of chamfering. That is, on one end surface of the gap fitting member 88, a convex portion is formed in which a surface surrounded by the straight line 88b and the arc 88c protrudes at a predetermined height, and a surface that defines the height of the convex portion. Is the rounded surface 88a.

このような構成の隙間嵌合部材88は、基板載置面13aの各角部に形成された平面による面取り面とシールドリング15の角部との隙間に嵌合され、基板載置台を形成する。   The gap fitting member 88 having such a configuration is fitted into a gap between a chamfered surface by a plane formed at each corner of the substrate placement surface 13a and a corner of the shield ring 15 to form a substrate placement table. .

本実施の形態の変形例においても、上記実施の形態と同様、アール面同士の接合部をなくして平面同士の接合面とすることができので、部材相互のずれに起因して発生する隙間を極力なくして該隙間からプラズマが進入することによる電極面の損傷を有効に防止することができる。   Also in the modified example of the present embodiment, since the joint portions between the rounded surfaces can be eliminated and the joint surfaces can be made flat surfaces as in the above-described embodiment, the gap generated due to the mutual displacement between the members can be eliminated. It is possible to effectively prevent the electrode surface from being damaged due to the plasma entering from the gap without being maximized.

また、本実施の形態の変形例によれば、基板載置面13aの4つの角部における面取り面と、隙間嵌合部材88における直線88aを一辺に含む矩形平面とが当接するように組合せられるので、基板載置面13aの角部の形状を見掛け上アール面によって面取り処理を行った場合の形状と同様の形状となる。隙間嵌合部材88の角部をR面とすることにより、角部の破損を防ぐことができる。また、隙間嵌合部材88を設置した際に、従来の基板載置面の形状と見掛け上同一となることから、基板の温度制御等について従来の装置で調整されてきた各種処理条件をそのまま適用可能であるという利点もある。   Moreover, according to the modification of this Embodiment, it combines so that the chamfering surface in four corner | angular parts of the board | substrate mounting surface 13a and the rectangular plane which includes the straight line 88a in the clearance gap fitting member 88 may contact | abut. Therefore, the shape of the corner portion of the substrate mounting surface 13a is apparently the same shape as that when the chamfering process is performed with the rounded surface. By making the corner portion of the gap fitting member 88 an R surface, the corner portion can be prevented from being damaged. In addition, when the gap fitting member 88 is installed, it is apparently the same as the shape of the conventional substrate mounting surface, so various processing conditions that have been adjusted by conventional devices for substrate temperature control and the like are applied as they are. There is also an advantage that it is possible.

本実施の形態の変形例において、アール面88aを備えた凸部の端面は、基板載置面13aと同一平面上にあるか又は基板載置面13aよりも引っ込んでいることが好ましい。これによって、基板載置面13aに載置した基板を安定に支持することができる。   In the modification of the present embodiment, it is preferable that the end surface of the convex portion provided with the rounded surface 88a is on the same plane as the substrate placement surface 13a or is recessed more than the substrate placement surface 13a. Thus, the substrate placed on the substrate placement surface 13a can be stably supported.

次に、第4の実施の形態の第2の変形例について説明する。   Next, a second modification of the fourth embodiment will be described.

図11は、本実施の形態における第2の変形例に適用されるリング構成部品を示す平面図である。   FIG. 11 is a plan view showing a ring component applied to the second modification example of the present embodiment.

図11において、このリング構成部品91の固定端91aの側面には、平面によって面取り処理された基板載置面13aの角部における面取り面とシールドリング15の角部との間の隙間を埋めるための突起部91cが設けられている。   In FIG. 11, the side surface of the fixed end 91 a of the ring component 91 is filled with a gap between the chamfered surface at the corner of the substrate mounting surface 13 a that has been chamfered by a flat surface and the corner of the shield ring 15. The protrusion 91c is provided.

このような構成のリング構成部品91が図8のように組み合わされてシールドリング15を形成する。   The ring component 91 having such a configuration is combined as shown in FIG. 8 to form the shield ring 15.

本実施の形態の変形例によれば、リング構成部品91の突起部91cで、面取り面とシールドリング15との間の隙間を埋めることができるので、該隙間からプラズマが進入することによる下部電極12における異常放電、エロージョン等の発生を有効に防止することができる。   According to the modification of the present embodiment, the gap between the chamfered surface and the shield ring 15 can be filled with the protrusion 91c of the ring component 91, so that the lower electrode due to the plasma entering from the gap. 12 can be effectively prevented from occurring.

上述した各実施の形態において、プラズマ処理が施される基板は、液晶ディスプレイ(LCD)用のガラス基板だけでなく、エレクトロルミネセンス(Electro Luminescence;EL)ディスプレイ、プラズマディスプレイパネル(PDP)等をはじめとするFPD(Flat Panel Display)に用いる各種基板であってもよい。   In each of the embodiments described above, the substrate on which the plasma treatment is performed is not only a glass substrate for a liquid crystal display (LCD) but also an electroluminescence (EL) display, a plasma display panel (PDP), and the like. Various substrates used for FPD (Flat Panel Display) may be used.

また、上述の実施形態では、平行平板電極による容量結合型のプラズマ発生方式を用いた装置について説明したが、誘導結合型プラズマ発生方式など他のプラズマ発生方式による装置であっても、基板の載置台とシールドリング若しくはそれに相当する部材を有する装置であれば本願発明を適用できることは言うまでも無い。   In the above-described embodiment, the apparatus using the capacitively coupled plasma generation method using the parallel plate electrodes has been described. However, even if an apparatus using another plasma generation method such as an inductively coupled plasma generation method is used, the substrate is not mounted. Needless to say, the present invention can be applied to any apparatus having a table and a shield ring or a member corresponding thereto.

10 基板処理装置
12 載置台(サセプタ)
13 基材
13a 基板載置面
15 シールドリング
18 絶縁リング
41〜44 リング構成部品
51〜54 リング構成部品
61、62 リング構成部品
71、72 リング構成部品
81〜84 リング構成部品
87,88 隙間嵌合部材
10 Substrate processing device 12 Mounting table (susceptor)
13 Base material 13a Substrate mounting surface 15 Shield ring 18 Insulating rings 41 to 44 Ring components 51 to 54 Ring components 61 and 62 Ring components 71 and 72 Ring components 81 to 84 Ring components 87 and 88 Gap fitting Element

Claims (20)

矩形の基板にプラズマ処理を施す基板処理装置の処理室内で前記基板を載置する載置台の矩形の載置面の周囲を囲むように設けられたシールド部材の構成部品であって、
前記矩形の載置面の一辺に沿って配置される絶縁性の長尺状物からなり、
該長尺状物の長さ方向の一端に設けられた固定部と、該固定部とは前記長尺状物の長さ方向に離間して設けられた少なくとも1つのガイド部とを有することを特徴とするシールド部材の構成部品。
A component part of a shield member provided so as to surround a rectangular mounting surface of a mounting table for mounting the substrate in a processing chamber of a substrate processing apparatus that performs plasma processing on a rectangular substrate,
It consists of an insulating long object arranged along one side of the rectangular mounting surface,
A fixing portion provided at one end in the length direction of the long object, and the fixing portion includes at least one guide portion provided to be spaced apart in the length direction of the long object; A component part of the shield member.
前記固定部としての固定用のねじ孔によって一端が前記載置台の基材に固定され、他端が前記少なくとも1つのガイド部としての支持用のねじ孔によって変位自在に支持され、前記固定された一端を起点にして前記長尺状物の長さ方向に沿って熱膨張又は熱収縮可能であることを特徴とする請求項1記載のシールド部材の構成部品。   One end is fixed to the base material of the mounting table by the fixing screw hole as the fixing portion, and the other end is movably supported by the supporting screw hole as the at least one guide portion and fixed. 2. The component part of a shield member according to claim 1, wherein the component part is capable of thermal expansion or thermal contraction along a length direction of the long object starting from one end. 前記固定用のねじ孔は、該固定用のねじ孔のある平面上において真円状であり、前記支持用のねじ孔は、該支持用のねじ孔のある平面上において前記長尺状物の長さ方向に長い楕円形若しくは両端が半円である矩形であることを特徴とする請求項2記載のシールド部材の構成部品。   The fixing screw hole is perfectly circular on the plane having the fixing screw hole, and the supporting screw hole is formed on the plane having the supporting screw hole. The component part of the shield member according to claim 2, wherein the component part is a long oval shape in the length direction or a rectangle whose both ends are semicircles. 前記矩形の載置面の角部はそれぞれアール面による面取り処理が施されており、前記長尺状物の一端の側面に前記面取りされた前記載置面の角部に当接するアール面を有する突起部が設けられていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のシールド部材の構成部品。   Each corner of the rectangular mounting surface is chamfered by a rounded surface, and has a rounded surface that contacts the corner of the mounting surface chamfered on the side surface of one end of the elongated object. 4. The component part of the shield member according to claim 1, wherein a projection is provided. 前記矩形の載置面の角部はそれぞれ平面による面取り処理が施されており、前記長尺状物の一端の側面に前記面取りされた前記載置面の角部に当接する平面を有する突起部が設けられていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のシールド部材の構成部品。   The corner portions of the rectangular mounting surface are each chamfered by a flat surface, and a protrusion having a flat surface that contacts the corner portion of the mounting surface chamfered on the side surface of one end of the elongated object. The component part of the shield member of any one of Claim 1 thru | or 3 characterized by the above-mentioned. 前記長尺状物における前記矩形の載置面に対向する側面は、突起部を有さない平面であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のシールド部材の構成部品。   The component part of the shield member according to any one of claims 1 to 3, wherein a side surface of the long object facing the rectangular mounting surface is a flat surface having no protrusion. . 前記長尺状物は、他の長尺状物と組み合わせてシールド部材を形成する際に段差構造の嵌め合い部を形成するための突出部を有することを特徴とする請求項1乃至6いずれか1項に記載のシールド部材の構成部品。   The said long object has a protrusion part for forming the fitting part of a level | step difference structure, when forming a shield member in combination with another elongate object, The any one of Claim 1 thru | or 6 characterized by the above-mentioned. 2. A component part of the shield member according to item 1. 矩形の基板にプラズマ処理を施す基板処理装置の処理室内で前記基板を載置する載置台の矩形の載置面の周囲を囲むように配置されるシールド部材であって、
請求項1乃至3のいずれか1項に記載の構成部品の組合せ体からなり、
前記各構成部品の長さ方向の一端の端面が、隣接する他の構成部品の長さ方向の一端の側面に当接し、他端の側面が、前記隣接する他の構成部品とは異なる隣接する別の構成部品の長さ方向の一端の端面に当接するようにそれぞれ組合せられ、
前記各構成部品の長さ方向の一端が前記固定部によって前記載置台の基材に固定され、他端が前記少なくとも1つのガイド部によって変位自在に支持され、前記各構成部品が、前記固定された一端を起点にして前記長尺状物の長さ方向に沿って熱膨張又は熱収縮可能に配列されていることを特徴とするシールド部材。
A shielding member disposed so as to surround a rectangular mounting surface of a mounting table on which the substrate is mounted in a processing chamber of a substrate processing apparatus that performs plasma processing on a rectangular substrate;
It comprises a combination of component parts according to any one of claims 1 to 3,
The end surface of one end in the length direction of each component is in contact with the side surface of one end in the length direction of another adjacent component, and the side surface of the other end is adjacent to different from the other adjacent component. Each is combined so as to abut against the end face of one end in the length direction of another component,
One end in the length direction of each component is fixed to the base material of the mounting table by the fixing portion, the other end is supported movably by the at least one guide portion, and each component is fixed. The shield member is arranged so as to be capable of thermal expansion or contraction along the length direction of the long object starting from one end.
前記固定部としての固定用のねじ孔に装着される固定ねじの締め付けトルクを、前記ガイド部としての支持用のねじ孔に装着される支持ねじの締め付けトルクよりも大きくしたことを特徴とする請求項8記載のシールド部材。   The tightening torque of a fixing screw attached to a fixing screw hole as the fixing portion is larger than a tightening torque of a supporting screw attached to a supporting screw hole as the guide portion. Item 9. The shield member according to Item 8. 前記各構成部品の長さ方向の一端の端面と、前記隣接する他の構成部品の長さ方向の一端の側面との当接部に、前記基板載置面に対して垂直方向及び水平方向からのプラズマの進入を阻止する段差構造の嵌め合い部が形成されていることを特徴とする請求項8又は9記載のシールド部材。   From the vertical direction and the horizontal direction with respect to the substrate mounting surface, the contact portion between the end surface of one end in the length direction of each component and the side surface of one end in the length direction of the other adjacent component The shield member according to claim 8 or 9, wherein a fitting portion having a step structure for preventing the plasma from entering is formed. 前記段差構造の一部は、前記各構成部品の一端の端面と、前記隣接する他の構成部品の前記一端の側面との当接部に形成された凹部に遊嵌される入れ子部材で構成されていることを特徴とする請求項10記載のシールド部材。   A part of the step structure is configured by a nesting member loosely fitted in a recess formed in an abutting portion between an end surface of one end of each component and a side surface of the one end of the other adjacent component. The shield member according to claim 10, wherein the shield member is provided. 前記凹部と前記入れ子部材との間に、前記各構成部品の長さ方向に沿った熱膨張又は熱収縮に起因する変位を吸収する隙間が設けられていることを特徴とする請求項11記載のシールド部材。   The clearance gap which absorbs the displacement resulting from the thermal expansion or thermal contraction along the length direction of each said component is provided between the said recessed part and the said nesting member of Claim 11 characterized by the above-mentioned. Shield member. 前記凹部における前記入れ子部材の挿入口は、サイドシールド部材で封止することによって前記凹部内へのプラズマの進入が阻止されていることを特徴とする請求項12記載のシールド部材。   The shield member according to claim 12, wherein the insertion port of the nesting member in the recess is sealed with a side shield member to prevent plasma from entering the recess. 前記矩形の載置面の角部はそれぞれアール面による面取り処理が施されており、前記各構成部品の一端の側面に前記面取りされた前記載置面の角部に当接するアール面を有する突起部が設けられていることを特徴とする請求項8乃至13のいずれか1項に記載のシールド部材。   Each corner of the rectangular mounting surface is chamfered by a rounded surface, and a protrusion having a rounded surface that contacts the corner of the mounting surface chamfered on the side surface of one end of each component. The shield member according to any one of claims 8 to 13, wherein a portion is provided. 前記矩形の載置面の角部はそれぞれ平面による面取り処理が施されており、前記各構成部品の一端の側面に前記面取りされた前記載置面の角部に当接する平面を有する突起部が設けられていることを特徴とする請求項8乃至13のいずれか1項に記載のシールド部材。   Each corner of the rectangular mounting surface is chamfered by a flat surface, and a protrusion having a flat surface abutting on the corner of the mounting surface is chamfered on a side surface of one end of each component. The shield member according to claim 8, wherein the shield member is provided. 前記矩形の載置面の角部はそれぞれアール面による面取り処理が施されており、各面取り面と、前記各構成部品の一端の端面及び隣接する他の構成部品の前記一端の側面の接合部との隙間を埋める前記構成部品とは独立したアール面を有する隙間嵌合部材を備えていることを特徴とする請求項8乃至13のいずれか1項に記載のシールド部材。   Each corner of the rectangular mounting surface is chamfered by a rounded surface, and each chamfered surface is joined to an end surface of one end of each component and a side surface of the one end of another adjacent component. The shield member according to any one of claims 8 to 13, further comprising a gap fitting member having a rounded surface independent of the component that fills the gap. 前記矩形の載置面の角部はそれぞれ平面による面取り処理が施されており、各面取り面と、前記各構成部品の一端の端面及び隣接する他の構成部品の前記一端の側面の接合部との隙間を埋める前記構成部品とは独立した平面を有する三角柱状の隙間嵌合部材を備えていることを特徴とする請求項8乃至13のいずれか1項に記載のシールド部材。   Each corner of the rectangular mounting surface is chamfered by a flat surface, and each chamfered surface is joined to an end surface of one end of each of the component parts and a joint portion of the side surface of the one end of another adjacent component part. The shield member according to any one of claims 8 to 13, further comprising a triangular prism-shaped gap fitting member having a plane independent of the component parts filling the gap. 前記三角柱状の隙間嵌合部材の一端に、該三角柱状の隙間嵌合部材が前記載置面の各角部に形成された平面による面取り面と、前記各構成部品の一端の端面及び隣接する他の構成部品の前記一端の側面の接合部との隙間に嵌合された際、前記載置面の各角部の形状を、見かけ上前記載置面の角部をアール面によって面取りした際の形状と同様の形状にするためのアール面を備えた凸部が形成されていることを特徴とする請求項17記載のシールド部材。   At one end of the triangular prism-shaped gap fitting member, the triangular prism-shaped gap fitting member is adjacent to the chamfered surface formed by the flat surface formed at each corner of the mounting surface, and the end face of one end of each of the components. When fitted into a gap with the joint on the side surface of the one end of the other component, the shape of each corner of the mounting surface is apparently chamfered by the rounded surface of the corner of the mounting surface. The shield member according to claim 17, wherein a convex portion having a rounded surface for forming a shape similar to the shape is formed. 前記アール面を備えた凸部の端面は、前記載置面と同一平面上にあるか又は前記載置面よりも引っ込んでいることを特徴とする請求項18記載のシールド部材。   The shield member according to claim 18, wherein an end surface of the convex portion provided with the rounded surface is on the same plane as the placement surface described above or is retracted from the placement surface. 請求項8乃至19のいずれか1項に記載のシールド部材を備えていることを特徴とする基板載置台。   A substrate mounting table comprising the shield member according to any one of claims 8 to 19.
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