JP2012013520A - Optical tomographic imaging device and method for estimating pressing force of its optical probe - Google Patents
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Description
本発明は、光断層画像化装置、及び、その光プローブ押付力推定方法に係り、特に、測定対象に光を照射し、その反射光から測定対象の光断層画像を取得する光断層画像化装置、及び、その光プローブ押付力推定方法に関する。 The present invention relates to an optical tomographic imaging apparatus and an optical probe pressing force estimation method, and more particularly to an optical tomographic imaging apparatus for irradiating a measurement target with light and acquiring an optical tomographic image of the measurement target from the reflected light. And an optical probe pressing force estimation method.
生体組織等の測定対象を切断せずに断面画像を取得する方法として、OCT(Optical Coherence Tomography)計測を利用した光断層画像化装置が知られている(たとえば、特許文献1等)。この光断層画像化装置では、光プローブを血管、胆管、膵管、胃、食道、大腸などの体腔内に挿入し、ラジアル走査をすることにより、測定対象の光断層画像を取得するが、この際、光プローブを体腔壁に押し付けて測定が行われる。これは、測定の深度を上げるためと、生体の体動を抑えるためであるが、この押し付けが過剰であると、光プローブが損傷するという問題がある。 As a method for acquiring a cross-sectional image without cutting a measurement target such as a living tissue, an optical tomographic imaging apparatus using OCT (Optical Coherence Tomography) measurement is known (for example, Patent Document 1). In this optical tomographic imaging apparatus, an optical probe is inserted into a body cavity such as a blood vessel, bile duct, pancreatic duct, stomach, esophagus, large intestine, and the like, and an optical tomographic image to be measured is acquired by performing radial scanning. The measurement is performed by pressing the optical probe against the body cavity wall. This is to increase the depth of measurement and to suppress body movement of the living body, but if this pressing is excessive, there is a problem that the optical probe is damaged.
そこで、特許文献2には、超音波センサの先端部に圧力センサを設置し、体腔壁への押し付け力量を数値化してモニタに表示する技術、及び、過剰な押し付け時には警告する技術が記載されている。
Therefore,
しかしながら、光プローブの先端に圧力センサを設けると、部品点数が増加し、先端部の構成が複雑になるとともに、先端部の構成配置も制約を受けるという欠点がある。また、極細の光プローブでは、圧力センサを設けること事態が困難という問題がある。 However, if a pressure sensor is provided at the tip of the optical probe, there are disadvantages that the number of parts increases, the configuration of the tip is complicated, and the arrangement of the tip is also limited. In addition, the ultrafine optical probe has a problem that it is difficult to provide a pressure sensor.
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、既存の光プローブを用いて測定対象への光プローブの押付力を確認することができる光断層画像化装置、及び、その光プローブ押付力推定方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an optical tomographic imaging apparatus capable of confirming the pressing force of an optical probe on a measurement target using an existing optical probe, and the optical probe pressing An object is to provide a force estimation method.
請求項1に係る発明は、前記目的を達成するために、光源と、前記光源から射出された光を測定光と参照光とに分岐する分岐手段と、シース内に測定部を備え、該測定部から測定対象に向けて前記測定光を照射するとともに、その反射光を取得する光プローブと、前記光プローブの測定部を回転させる駆動手段と、前記光プローブの測定部で取得された反射光と前記参照光とを合波して干渉光を生成する合波手段と、前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段によって検出された干渉信号から光断層画像を取得する光断層画像取得手段と、前記測定対象に対する前記光プローブの接触領域を検出する接触領域検出手段と、前記接触領域検出手段によって検出された接触領域の大きさに基づいて、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定する押付力推定手段と、前記押付力推定手段で推定された前記光プローブの押付力を告知する告知手段と、を備えたことを特徴とする光断層画像化装置を提供する。
In order to achieve the object, the invention according to
本発明では、測定対象に対する光プローブの接触領域を検出し、その大小に基づいて、測定対象に対する光プローブの押付力を推定する。すなわち、押付力が高くなれば、接触領域も増すので、その接触領域の大小に基づいて、押付力を推定する。これにより、光プローブの先端に圧力センサ等を設けたりしなくても、押付力を確認することができる。 In the present invention, the contact area of the optical probe with respect to the measurement target is detected, and the pressing force of the optical probe with respect to the measurement target is estimated based on the size. That is, as the pressing force increases, the contact area also increases, so the pressing force is estimated based on the size of the contact area. Thus, the pressing force can be confirmed without providing a pressure sensor or the like at the tip of the optical probe.
請求項2に係る発明は、前記目的を達成するために、前記押付力推定手段は、前記接触領域検出手段によって検出された接触領域が、あらかじめ設定された適正範囲内であるか否かを判定して、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定することを特徴とする請求項1に記載の光断層画像化装置を提供する。
In the invention according to
本発明では、求めた接触領域が、あらかじめ設定された適正範囲内にあるか否かを判定して、押付力を推定する。すなわち、求めた接触領域が適正範囲内であれば、適正な押付力と推定する。その一方で求めた接触領域が適正範囲を下回っていれば、押付力不足と推定し、上回っていれば、押付過剰と推定する。 In this invention, it determines whether the calculated | required contact area | region is in the preset appropriate range, and estimates pressing force. That is, if the obtained contact area is within an appropriate range, it is estimated that the pressing force is appropriate. On the other hand, if the obtained contact area is below the appropriate range, it is estimated that the pressing force is insufficient, and if it exceeds the estimated range, it is estimated that the pressing is excessive.
請求項3に係る発明は、前記目的を達成するために、前記測定対象ごとに前記適正範囲が設定されることを特徴とする請求項2に記載の光断層画像化装置を提供する。
The invention according to claim 3 provides the optical tomographic imaging apparatus according to
本発明によれば、測定対象ごとに適正範囲が設定される。硬い組織と柔らかい組織とでは、同じ押付力で押し付けても、光プローブに接触する領域が変わるので、測定対象ごとに適正範囲を設定することにより、より正確に押付力を推定することができる。 According to the present invention, an appropriate range is set for each measurement target. Even if the hard tissue and the soft tissue are pressed with the same pressing force, the region in contact with the optical probe changes. Therefore, the pressing force can be estimated more accurately by setting an appropriate range for each measurement target.
請求項4に係る発明は、前記目的を達成するために、接触領域と押付力との関係を表すテーブルが記録された記憶手段を備え、前記押付力推定手段は、前記テーブルを参照して、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定することを特徴とする請求項1に記載の光断層画像化装置を提供する。
In order to achieve the above object, the invention according to claim 4 includes storage means in which a table representing a relationship between the contact area and the pressing force is recorded, and the pressing force estimation means refers to the table, The optical tomographic imaging apparatus according to
本発明では、あらかじめ用意された接触領域と押付力との関係を表すテーブルを参照して、押付力を推定する。すなわち、接触領域は押付力によって変わるので、あらかじめ接触領域と押付力との関係を求めておき、その関係をテーブルに記録しておくことにより、テーブルを参照するだけで、接触領域から押付力を求めることができる。 In the present invention, the pressing force is estimated with reference to a table representing the relationship between the contact area and the pressing force prepared in advance. That is, since the contact area changes depending on the pressing force, the relationship between the contact area and the pressing force is obtained in advance, and the relationship is recorded in the table, so that the pressing force can be applied from the contact area only by referring to the table. Can be sought.
請求項5に係る発明は、前記目的を達成するために、前記テーブルは、前記測定対象ごとに用意されて前記記憶手段に記録され、前記押付力推定手段は、測定対象に対応したテーブルを参照して、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定することを特徴とする請求項4に記載の光断層画像化装置を提供する。 In the invention according to claim 5, in order to achieve the object, the table is prepared for each measurement object and recorded in the storage means, and the pressing force estimation means refers to a table corresponding to the measurement object. The optical tomographic imaging apparatus according to claim 4, wherein a pressing force of the optical probe against the measurement object is estimated.
本発明によれば、測定対象ごとにテーブルが用意され、記憶手段に記録される。これにより、より正確に押付力を推定することができる。 According to the present invention, a table is prepared for each measurement target and recorded in the storage unit. Thereby, the pressing force can be estimated more accurately.
請求項6に係る発明は、前記目的を達成するために、光源と、前記光源から射出された光を測定光と参照光とに分岐する分岐手段と、シース内に測定部を備え、該測定部から測定対象に向けて前記測定光を照射するとともに、その反射光を取得する光プローブと、前記光プローブの測定部を回転させる駆動手段と、前記光プローブの測定部で取得された反射光と前記参照光とを合波して干渉光を生成する合波手段と、前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段によって検出された干渉信号から光断層画像を取得する光断層画像取得手段と、前記光断層画像取得手段によって取得された光断層画像に基づいて、前記測定対象の表面の形状を検出し、該表面の形状に基づいて、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定する押付力推定手段と、前記押付力推定手段で推定された前記光プローブの押付力を告知する告知手段と、を備えたことを特徴とする光断層画像化装置を提供する。 In order to achieve the above object, the invention according to claim 6 includes a light source, branching means for branching light emitted from the light source into measurement light and reference light, and a measurement unit in the sheath, The optical probe that irradiates the measurement light from the unit toward the measurement target and acquires the reflected light, driving means for rotating the measurement unit of the optical probe, and the reflected light acquired by the measurement unit of the optical probe And a reference means for generating interference light, interference light detection means for detecting the interference light as an interference signal, and an optical tomographic image from the interference signal detected by the interference light detection means Based on the optical tomographic image acquired by the optical tomographic image acquisition means and the optical tomographic image acquired by the optical tomographic image acquisition means, and based on the shape of the surface, Light pro An optical tomographic imaging apparatus comprising: a pressing force estimation unit that estimates a pressing force of a hub; and a notification unit that notifies the pressing force of the optical probe estimated by the pressing force estimation unit. To do.
本発明では、光断層画像から測定対象の表面形状を検出し、検出した表面形状に基づいて、測定対象に対する光プローブの押付力を推定する。すなわち、押付力によって測定対象の表面形状が変化するので、光プローブを押し付けたときの測定対象の表面形状を求めて、押付力を推定する。これにより、光プローブの先端に圧力センサ等を設けたりしなくても、押付力を確認することができる。 In the present invention, the surface shape of the measurement target is detected from the optical tomographic image, and the pressing force of the optical probe on the measurement target is estimated based on the detected surface shape. That is, since the surface shape of the measurement target changes due to the pressing force, the surface shape of the measurement target when the optical probe is pressed is obtained to estimate the pressing force. Thus, the pressing force can be confirmed without providing a pressure sensor or the like at the tip of the optical probe.
請求項7に係る発明は、前記目的を達成するために、前記押付力推定手段は、前記測定対象の表面を画する曲線を抽出し、該曲線の微分係数の絶対値の積分値を評価値として算出し、該評価値に基づいて、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定することを特徴とする請求項6に記載の光断層画像化装置を提供する。 In the invention according to claim 7, in order to achieve the object, the pressing force estimation means extracts a curve that delineates the surface of the measurement object, and evaluates an integral value of an absolute value of a differential coefficient of the curve as an evaluation value. The optical tomographic imaging apparatus according to claim 6, wherein the optical tomographic imaging apparatus according to claim 6, wherein the pressing force of the optical probe with respect to the measurement target is estimated based on the evaluation value.
本発明では、測定対象の表面を画する曲線(測定対象の表面形状を表す曲線)を抽出し、その曲線の微分係数の絶対値の積分値を評価値として求め、求めた評価値に基づいて押付力を推定する。一般に測定対象の表面形状は、光プローブの押付力が大きくなるほど大きく変形する(光プローブの外周に巻き付く量が大きくなる)。曲線の微分係数の絶対値の積分値は、その曲線の変形の程度を示す指標となるので、曲線の微分係数の絶対値の積分値を求めることにより、曲線の変形の程度を知ることができる。したがって、測定対象の表面を画する曲線の微分係数の絶対値の積分値を求めることにより、その大小によって押付力を推定することができる。 In the present invention, a curve demarcating the surface of the measurement target (curve representing the surface shape of the measurement target) is extracted, an integral value of the absolute value of the differential coefficient of the curve is obtained as an evaluation value, and based on the obtained evaluation value Estimate the pressing force. In general, the surface shape of the measurement object is greatly deformed as the pressing force of the optical probe is increased (the amount of wrapping around the outer periphery of the optical probe is increased). Since the integral value of the absolute value of the derivative of the curve is an index indicating the degree of deformation of the curve, the degree of deformation of the curve can be known by obtaining the integral value of the absolute value of the derivative of the curve. . Therefore, by determining the integral value of the absolute value of the differential coefficient of the curve defining the surface of the measurement object, the pressing force can be estimated based on the magnitude.
請求項8に係る発明は、前記目的を達成するために、前記押付力推定手段は、前記評価値が、あらかじめ設定された適正範囲内であるか否かを判定して、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定することを特徴とする請求項7に記載の光断層画像化装置を提供する。 In the invention according to claim 8, in order to achieve the object, the pressing force estimation means determines whether or not the evaluation value is within an appropriate range set in advance, and The optical tomographic imaging apparatus according to claim 7, wherein the pressing force of the optical probe is estimated.
本発明では、求めた評価値が、あらかじめ設定された適正範囲内にあるか否かを判定して、押付力を推定する。すなわち、求めた評価値が適正範囲内であれば、適正な押付力と推定する。その一方で求めた評価値が適正範囲を下回っていれば、押付力不足と推定し、上回っていれば、押付過剰と推定する。 In the present invention, it is determined whether or not the obtained evaluation value is within an appropriate range set in advance, and the pressing force is estimated. That is, if the obtained evaluation value is within an appropriate range, it is estimated that the pressing force is appropriate. On the other hand, if the obtained evaluation value is below the appropriate range, it is estimated that the pressing force is insufficient, and if it exceeds the estimated value, it is estimated that the pressing is excessive.
請求項9に係る発明は、前記目的を達成するために、前記測定対象ごとに前記適正範囲が設定されることを特徴とする請求項8に記載の光断層画像化装置を提供する。 The invention according to claim 9 provides the optical tomographic imaging apparatus according to claim 8, wherein the appropriate range is set for each measurement object in order to achieve the object.
本発明によれば、測定対象ごとに適正範囲が設定される。硬い組織と柔らかい組織とでは、同じ押付力で押し付けても、光プローブに接触する領域が変わるので、測定対象ごとに適正範囲を設定することにより、より正確に押付力を推定することができる。 According to the present invention, an appropriate range is set for each measurement target. Even if the hard tissue and the soft tissue are pressed with the same pressing force, the region in contact with the optical probe changes. Therefore, the pressing force can be estimated more accurately by setting an appropriate range for each measurement target.
請求項10に係る発明は、前記目的を達成するために、前記押付力推定手段は、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力と、前記評価値との関係を表すテーブルを参照して、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定することを特徴とする請求項7に記載の光断層画像化装置を提供する。
In the invention according to
本発明では、あらかじめ用意された評価値と押付力との関係を表すテーブルを参照して、押付力を推定する。すなわち、評価値は押付力によって変わるので、あらかじめ評価値と押付力との関係を求めておき、その関係をテーブルに記録しておくことにより、テーブルを参照するだけで、評価値から押付力を求めることができる。 In the present invention, the pressing force is estimated with reference to a table representing the relationship between the evaluation value prepared in advance and the pressing force. In other words, since the evaluation value varies depending on the pressing force, the relationship between the evaluation value and the pressing force is obtained in advance, and the relationship is recorded in the table, so that the pressing force can be calculated from the evaluation value only by referring to the table. Can be sought.
請求項11に係る発明は、前記目的を達成するために、前記測定対象ごとに前記テーブルが用意されることを特徴とする請求項10に記載の光断層画像化装置を提供する。
The invention according to claim 11 provides the optical tomographic imaging apparatus according to
本発明によれば、測定対象ごとにテーブルが用意され、記憶手段に記録される。これにより、より正確に押付力を推定することができる。 According to the present invention, a table is prepared for each measurement target and recorded in the storage unit. Thereby, the pressing force can be estimated more accurately.
請求項12に係る発明は、前記目的を達成するために、表示手段を備え、前記告知手段は、前記光断層画像取得手段で取得された光断層画像とともに、前記押付力推定手段で推定した前記光プローブの押付力を前記表示手段に表示させて、前記光プローブの押付力を告知することを特徴とする請求項1〜11のいずれか一項に記載の光断層画像化装置を提供する。
In order to achieve the object, the invention according to
本発明によれば、求めた光プローブの押付力の情報が光断層画像とともに表示手段に表示されて告知される。これにより、光断層画像が表示される画面と同じ画面上で押付力を確認することができる。 According to the present invention, the obtained information of the pressing force of the optical probe is displayed on the display means together with the optical tomographic image and notified. Thereby, the pressing force can be confirmed on the same screen as the screen on which the optical tomographic image is displayed.
請求項13に係る発明は、前記目的を達成するために、前記押付力推定手段で推定した前記光プローブの押付力に基づいて、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力の適否を判定する判定手段と、前記判定手段によって前記光プローブの押付力が適正ではないと判定された場合に警告する警告手段と、を備えたことを特徴とする請求項1〜12のいずれか一項に記載の光断層画像化装置を提供する。
The invention according to claim 13 determines whether or not the pressing force of the optical probe with respect to the measurement target is appropriate based on the pressing force of the optical probe estimated by the pressing force estimation means in order to achieve the object. The apparatus according to
本発明によれば、押付力の適否が判定され、押付力が適正でないと、警告がなされる。これにより、過剰な押し付けなどによる光プローブの破損等を防止することができる。 According to the present invention, whether or not the pressing force is appropriate is determined, and a warning is given if the pressing force is not appropriate. Thereby, damage of the optical probe due to excessive pressing or the like can be prevented.
請求項14に係る発明は、前記目的を達成するために、光源と、前記光源から射出された光を測定光と参照光とに分岐する分岐手段と、シース内に測定部を備え、該測定部から測定対象に向けて前記測定光を照射するとともに、その反射光を取得する光プローブと、前記光プローブの測定部を回転させる駆動手段と、前記光プローブの測定部で取得された反射光と前記参照光とを合波して干渉光を生成する合波手段と、前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段によって検出された干渉信号から光断層画像を取得する光断層画像取得手段とを備えた光断層画像化装置の光プローブ押付力推定方法であって、前記測定対象に対する前記光プローブの接触領域を検出し、該接触領域の大きさに基づいて、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定することを特徴とする光断層画像化装置の光プローブ押付力推定方法を提供する。
In order to achieve the object, the invention according to
本発明によれば、測定対象に対する光プローブの接触領域が検出され、その接触領域の大きさに基づいて、測定対象に対する光プローブの押付力が推定される。すなわち、接触の程度に基づいて、光プローブの押付力が推定される。 According to the present invention, the contact area of the optical probe with respect to the measurement object is detected, and the pressing force of the optical probe with respect to the measurement object is estimated based on the size of the contact area. That is, the pressing force of the optical probe is estimated based on the degree of contact.
請求項15に係る発明は、前記目的を達成するために、光源と、前記光源から射出された光を測定光と参照光とに分岐する分岐手段と、シース内に測定部を備え、該測定部から測定対象に向けて前記測定光を照射するとともに、その反射光を取得する光プローブと、前記光プローブの測定部を回転させる駆動手段と、前記光プローブの測定部で取得された反射光と前記参照光とを合波して干渉光を生成する合波手段と、前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段によって検出された干渉信号から光断層画像を取得する光断層画像取得手段とを備えた光断層画像化装置の光プローブ押付力推定方法であって、前記光断層画像に基づいて、前記測定対象の表面の形状を検出し、該表面の形状に基づいて、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定することを特徴とする光断層画像化装置の光プローブ押付力推定方法を提供する。 In order to achieve the above object, the invention according to claim 15 includes a light source, branching means for branching light emitted from the light source into measurement light and reference light, and a measurement unit in the sheath, The optical probe that irradiates the measurement light from the unit toward the measurement target and acquires the reflected light, driving means for rotating the measurement unit of the optical probe, and the reflected light acquired by the measurement unit of the optical probe And a reference means for generating interference light, interference light detection means for detecting the interference light as an interference signal, and an optical tomographic image from the interference signal detected by the interference light detection means An optical probe pressing force estimation method for an optical tomographic imaging apparatus comprising: an optical tomographic image acquisition means for detecting a shape of a surface of the measurement target based on the optical tomographic image; Based on the shape, To provide an optical probe pressing force estimating method of the optical tomographic imaging apparatus and estimates the pressing force of the optical probe to the target.
本発明によれば、測定対象の表面の形状に基づいて、測定対象に対する光プローブの押付力が推定される。すなわち、測定対象の表面の変形の程度に基づいて、光プローブの押付力が推定される。 According to the present invention, the pressing force of the optical probe on the measurement target is estimated based on the shape of the surface of the measurement target. That is, the pressing force of the optical probe is estimated based on the degree of deformation of the surface of the measurement target.
本発明によれば、既存の光プローブを用いて測定対象への光プローブの押付力を確認することができる。 According to the present invention, it is possible to confirm the pressing force of an optical probe on a measurement target using an existing optical probe.
以下、添付図面に従って本発明の好ましい実施の形態について詳説する。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
≪画像診断装置≫
図1は、光断層画像化装置と内視鏡装置とで構成される画像診断装置の外観図である。
≪Diagnostic imaging device≫
FIG. 1 is an external view of an image diagnostic apparatus including an optical tomographic imaging apparatus and an endoscope apparatus.
同図に示すように、画像診断装置10は、内視鏡装置12と、光断層画像化装置14と、モニタ装置16とで構成される。内視鏡装置12は、被写体の光学像を電気信号に変換して出力する電子内視鏡装置であり、内視鏡100と、内視鏡プロセッサ200と、光源装置300とで構成される。一方、光断層画像化装置14は、OCTプロセッサ400と光プローブ500とで構成される。画像診断装置10は、内視鏡装置12で取得される画像(観察画像)をモニタ装置16に表示するとともに、光断層画像化装置14で取得される画像(光断層画像)をモニタ装置16に表示する。
As shown in the figure, the
なお、図1には図示されていないが、画像診断装置10には、この他、所定の操作、情報入力等を行うための入力装置(キーボード、マウス等)が備えられている。
Although not shown in FIG. 1, the
〈内視鏡装置〉
内視鏡装置12は、内視鏡100と、内視鏡プロセッサ200と、光源装置300とで構成される。
<Endoscope device>
The
[内視鏡]
内視鏡100は、手元操作部112と内視鏡挿入部114と有し、ユニバーサルケーブル116を介して内視鏡プロセッサ200及び光源装置300に接続される。
[Endoscope]
The
手元操作部112には、送気・送水ボタン130、アングルノブ132、吸引ボタン134、シャッタボタン136等の各種操作ボタン類が設けられている。術者は、これらの操作ボタン類を操作して、所要の操作を行う。
The hand operation unit 112 is provided with various operation buttons such as an air /
また、手元操作部112には、内視鏡挿入部114の先端に設けられた鉗子口156に連通された鉗子挿入口138が設けられており、この鉗子挿入口138を利用して、光断層画像化装置14の光プローブ500が被検者の体腔内に挿入される。
In addition, the hand operation unit 112 is provided with a
内視鏡挿入部114は、可撓性を有する軟性部140と、手元操作部112のアングルノブによって湾曲操作される湾曲部142と、先端部144とで構成される。被検者の体内には、この内視鏡挿入部114が挿入される。
The
先端部144の端面には、観察光学系150、一対の照明光学系152、洗浄ノズル154、鉗子口156が設けられている。観察光学系150は、被写体の光学像を図示しない固体撮像素子(たとえば、CCD等)の受光面上に結像させる。固体撮像素子は、受光面上に結像された被写体の光学像を電気信号(画像信号)に変換して出力する。照明光学系152は、観察光学系150の撮影範囲に向けて照明光を照射する。洗浄ノズル154は、観察光学系150に向けて水又はエアを選択的に噴射し、観察光学系150を洗浄する。
An observation
[内視鏡プロセッサ]
内視鏡プロセッサ200は、画像信号処理回路(図示せず)を内蔵しており、内視鏡100からCCDの画像信号を取り込み、観察画像の画像データを生成する。生成された観察画像の画像データは、モニタ装置16に出力可能な信号形式に変換されて、モニタ装置16に出力される。これにより、内視鏡100で得られた観察画像がモニタ装置16に表示される。
[Endoscope processor]
The
[光源装置]
光源装置300は、光源(図示せず)を内蔵しており、照明光学系152から照射する照明光を内視鏡100に供給する。光源の光は、ライトガイド(図示せず)を介して照明光学系152に射出され、照明光学系152によって被写体に向けて照射される。
[Light source device]
The
〈光断層画像化装置〉
図2は、光断層画像化装置の構成を示すブロック図である。
<Optical tomography system>
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of the optical tomographic imaging apparatus.
光断層画像化装置14は、OCTプロセッサ400と光プローブ500とで構成される。
The optical
[OCTプロセッサ]
図2に示すように、光断層画像化装置14は、主として、光源ユニット412と、光源ユニット412から射出された光を測定光と参照光に分岐し、かつ、測定対象からの反射光と参照光を合波して干渉光を生成する分岐合波部414と、分岐部416と、参照光の光路長を調整する光路長調整部418と、分岐合波部414で生成された干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出部420と、干渉光検出部420で検出された干渉信号を処理する処理部422とを有している。
[OCT processor]
As shown in FIG. 2, the optical
〔光源ユニット〕
光源ユニット412は、半導体光増幅器440と、光分岐部442と、コリメータレンズ444と、回折格子素子446と、光学系448と、回転多面鏡450とを有し、周波数を一定の周期で掃引させたレーザ光Laを射出する。
[Light source unit]
The
半導体光増幅器440は、駆動電流が印加されることにより、微弱な放出光を射出し、また、入射された光を増幅する。この半導体光増幅器440には、光ファイバFB10が接続されている。具体的には、光ファイバFB10の一端は、半導体光増幅器440から光が射出される部分に接続され、光ファイバFB10の他端は、半導体光増幅器440に光を入射する部分に接続されている。半導体光増幅器440から射出された光は、光ファイバFB10に射出され、再び半導体光増幅器440に入射する。このように、半導体光増幅器440と光ファイバFB10とで光路のループを形成することにより、半導体光増幅器440及び光ファイバFB10が光共振器となり、半導体光増幅器440に駆動電流が印加されることにより、パルス状のレーザ光が生成される。
The semiconductor
光分岐部442は、光ファイバFB10の光路上に設けられている。この光分岐部442には、光ファイバFB11が接続されており、光ファイバFB10内を導波する光の一部を光ファイバFB11に分岐させる。
The optical branching
コリメータレンズ444は、光ファイバFB11の他端に配置されており、光ファイバFB11から射出された光を平行光にする。
The
回折格子素子446は、コリメータレンズ444で生成された平行光の光路上に所定角度傾斜して配置されている。回折格子素子446は、コリメータレンズ444から射出される平行光を分光する。
The diffraction
光学系448は、回折格子素子446で分光された光の光路上に配置されている。光学系448は、複数のレンズで構成されており、回折格子素子446で分光された光を屈折させ、屈折させた光を平行光にする。
The
回転多面鏡450は、光学系448で生成された平行光の光路上に配置されており、光学系448から射出された平行光を反射する。この回転多面鏡450は、図1中矢印R1方向に等速で回転する断面正八角形の柱状の回転体であり、回転することにより、各側面(反射面)の角度が光学系448の光軸に対して変化する。
The
光ファイバFB11から射出された光は、コリメータレンズ444、回折格子素子446、光学系448を通り、回転多面鏡450で反射され、反射された光は、光学系448、回折格子素子446、コリメータレンズ444を通り、光ファイバFB11に入射される。
The light emitted from the optical fiber FB11 passes through the
ここで、上述したように、回転多面鏡450の反射面の角度が光学系448の光軸に対して変化するため、回転多面鏡450が、光を反射する角度は時間により変化する。このため、回折格子素子446により分光された光のうち、特定の周波数域の光だけが再び光ファイバFB11に入射する。
Here, as described above, since the angle of the reflecting surface of the
ここで、光ファイバFB11に入射する特定の周波数域の光は、光学系448の光軸と回転多面鏡450の反射面との角度により決まるため、光ファイバFB11に入射する光の周波数域は、光学系448の光軸と回転多面鏡450の反射面との角度により変化する。
Here, since the light in a specific frequency range incident on the optical fiber FB11 is determined by the angle between the optical axis of the
光ファイバFB11に入射した特定の周波数域の光は、光分岐部442から光ファイバFB10に入射され、光ファイバFB10の光と合波される。これにより、光ファイバFB10に導光されたパルス状のレーザ光が、特定の周波数域のレーザ光となり、この特定周波数域のレーザ光Laが光ファイバFB1に射出される。
The light in a specific frequency range that has entered the optical fiber FB11 enters the optical fiber FB10 from the optical branching
ここで、回転多面鏡450が矢印R1方向に等速で回転しているため、再び光ファイバFB11に入射される光の波長λは、時間の経過に伴って一定の周期で変化する。これにより、光ファイバFB1に射出されるレーザ光Laの周波数も、時間の経過に伴った一定の周期で変化する。
Here, since the
光源ユニット412は、このような構成であり、波長掃引されたレーザ光Laを光ファイバFB1側に射出する。
The
〔分岐合波部〕
分岐合波部414は、たとえば、2×2の光ファイバカプラで構成される。この分岐合波部414には、光ファイバFB1と、光ファイバFB2と、光ファイバFB3と、光ファイバFB4とが接続される。
[Branching / Combining Section]
The branching / combining unit 414 is composed of, for example, a 2 × 2 optical fiber coupler. An optical fiber FB1, an optical fiber FB2, an optical fiber FB3, and an optical fiber FB4 are connected to the branching / multiplexing unit 414.
この分岐合波部414は、光源ユニット412から光ファイバFB1を介して入射したレーザ光Laを測定光L1と参照光L2とに分割する。そして、測定光L1を光ファイバFB2に入射させ、参照光L2を光ファイバFB3に入射させる。
The branching / combining unit 414 divides the laser beam La incident from the
また、分岐合波部414は、光路長調整部418から光ファイバFB3を介して入射した参照光L2と、光プローブ500から光ファイバFB2を介して入射した測定対象Sからの反射光L3とを合波して干渉光を生成し、生成した干渉光を干渉光L4と干渉光L5とに分割する。そして、干渉光L4を光ファイバFB4に入射させ、干渉光L5を光ファイバFB1に入射させる。
The branching / combining unit 414 receives the reference light L2 incident from the optical path
〔分岐部〕
分岐部416は、光ファイバFB1の光路上に設けられている。この分岐部416には、光ファイバFB5が接続されており、光ファイバFB1に導波される干渉光L5を光ファイバFB5に入射させる。
[Branching part]
The
〔光路長調整部〕
光路長調整部418は、光ファイバFB3から射出された光を平行光にする第1光学レンズ464と、第1光学レンズ464で平行光にされた光を集光する第2光学レンズ466と、第2光学レンズ466で集光された光を反射する反射ミラー468と、第2光学レンズ466及び反射ミラー468を支持する基台470と、基台470を光軸方向に平行な方向に移動させるミラー駆動機構472とを有し、第1光学レンズ464と第2光学レンズ466との距離を変化させることにより、参照光L2の光路長を調整する。
[Optical path length adjustment section]
The optical path
第1光学レンズ464は、光ファイバFB3のコアから射出された参照光L2を平行光にするとともに、反射ミラー468で反射された参照光L2を光ファイバFB3のコアに集光する。
The first
第2光学レンズ466は、第1光学レンズ464により平行光にされた参照光L2を反射ミラー468上に集光するとともに、反射ミラー468により反射された参照光L2を平行光にする。このように、第1光学レンズ464と第2光学レンズ466とにより共焦点光学系が形成されている。
The second
反射ミラー468は、第2光学レンズ466で集光される光の焦点に配置されており、第2光学レンズ466で集光された参照光L2を反射する。
The
光ファイバFB3から射出した参照光L2は、第1光学レンズ464により平行光になり、第2光学レンズ466により反射ミラー468上に集光される。その後、反射ミラー468により反射された参照光L2は、第2光学レンズ466により平行光になり、第1光学レンズ464により光ファイバFB3のコアに集光される。
The reference light L <b> 2 emitted from the optical fiber FB <b> 3 becomes parallel light by the first
基台470は、第2光学レンズ466と反射ミラー468とを固定する。ミラー駆動機構472は、基台470を第1光学レンズ464の光軸方向(図1矢印A方向)に移動させる。
The base 470 fixes the second
ミラー駆動機構472で、基台470を矢印A方向に移動させることにより、第1光学レンズ464と第2光学レンズ466との距離を変更することができ、参照光L2の光路長を調整することができる。
The distance between the first
〔干渉光検出部〕
干渉光検出部420は、光ファイバFB4と光ファイバFB5とに接続されており、光ファイバFB4で導波された干渉光L4の光強度を検出するとともに、光ファイバFB5で導波された干渉光L5の光強度を検出し、得られた干渉光L4、L5の光強度の情報に基づいて、干渉信号を生成する。
(Interference light detector)
The interference
〔処理部〕
処理部422は、干渉光検出部420で検出した干渉信号を処理して、光断層画像を生成する。
[Processing part]
The
また、処理部422は、干渉光検出部420で検出した干渉信号を処理して、測定対象Sに対する光プローブ500の接触領域、より正確には、光プローブ500のシース(光プローブ500の外筒)552の外周面と測定対象Sの表面とが接触しているとみなせる領域を検出する。
In addition, the
さらに、処理部422は、検出した接触領域の情報に基づいて、測定対象Sに対する押付力を検出(推定)する。
Furthermore, the
この処理部422の構成及び作用については、後に詳述する。
The configuration and operation of the
[光プローブ]
光プローブ500は、図1に示すように、内視鏡100を介して被検者の体腔内に挿入されるプローブ挿入部502と、光プローブ500を駆動する駆動部504とを有し、ケーブル506を介してOCTプロセッサ400と接続される。
[Optical probe]
As shown in FIG. 1, the
〔挿入部〕
図3は、プローブ挿入部の先端の構成を示す側面断面図である。
(Insertion section)
FIG. 3 is a side sectional view showing the configuration of the tip of the probe insertion portion.
同図に示すように、光プローブ500のプローブ挿入部502は、シース552と、キャップ554と、光ファイバ556と、バネ558と、固定筒560と、ハーフボールレンズ562とで構成される。
As shown in the figure, the
シース552は、可撓性を有する円筒のカテーテル状の部材であり、測定光L1及び反射光L3を透過可能な素材(本実施の形態では透明素材)で構成されている。なお、シース552は、少なくとも先端部(測定光L1及び反射光L3が通過部位)のみ透明に形成さればよく、必ずしも全体が透明に形成されている必要はない。
The
キャップ554は、シース552の先端に設けられ、シース552の先端を閉塞する。
The
光ファイバ556は、シース552の内部にシース552に沿って収容されており、光プローブ500をOCTプロセッサ400に接続すると、OCTプロセッサ400の光ファイバFB2に接続される。この光ファイバ556は、光ファイバFB2から射出された測定光L1をハーフボールレンズ562まで導波するとともに、ハーフボールレンズ562で取得した測定対象Sからの反射光L3を光ファイバFB2まで導波する。
The
バネ558は、光ファイバ556の外周に配置されている。
The
ハーフボールレンズ562は、光ファイバ556の先端に配置されており、測定部を構成する。このハーフボールレンズ562は、光ファイバ556から射出された測定光L1を集光して、測定対象Sに向けて射出するとともに、測定対象Sからの反射光L3を集光して、光ファイバ556に入射する。
固定筒560は、光ファイバ556の先端に配置されており、ハーフボールレンズ562を光ファイバ556の端部に固定する。バネ558の先端は、この固定筒560に固定されている。
The fixed
〔駆動部〕
駆動部504は、プローブ挿入部502の基端部に接続されており、内蔵する駆動機構(図示せず)により、プローブ挿入部502の光ファイバ556をシース552内で回転、前後移動させる。
〔Drive part〕
The
プローブ挿入部502の光ファイバ556は、この駆動部504において、光ファイバFB2と接続される。この際、駆動機構により回転駆動される光ファイバ556の回転が、光ファイがFB2に伝達されないように、光ファイバ556と光ファイバFB2とは、ロータリージョイントを介して接続される。
The
また、この駆動部504には、光ファイバ556の回転、移動を検出して、測定光L1の照射位置、すなわち、測定位置(回転方向の測定位置と、軸方向の測定位置)を検出する測定位置検出センサ(図示せず)が備えられている。この測定位置検出センサで検出された測定位置の位置情報は、ケーブル506を介して、OCTプロセッサ400の処理部422に取り込まれる。
Further, the
〈処理部の構成の詳細〉
図4は、OCTプロセッサに備えられた処理部の構成を示すブロック図である。
<Details of processing unit configuration>
FIG. 4 is a block diagram illustrating a configuration of a processing unit provided in the OCT processor.
同図に示すように、処理部422は、干渉信号取得部480と、A/D変換部482と、接触領域検出部484と、光断層画像生成部486と、補正部488と、押付力推定部490とを備えている。
As shown in the figure, the
[干渉信号取得部]
干渉信号取得部480は、干渉光検出部420で検出された干渉信号を取得するとともに、駆動部504の測定位置検出センサ(図示せず)で検出された測定位置の位置情報を取得し、干渉信号と測定位置の位置情報とを対応付ける。
[Interference signal acquisition unit]
The interference
図5は、光プローブの回転方向の測定位置の情報を説明するための説明図である。 FIG. 5 is an explanatory diagram for explaining the information of the measurement position in the rotation direction of the optical probe.
本実施形態では、ハーフボールレンズ562の回転速度と、測定光L1の周波数を掃引させる周期とから、ハーフボールレンズ562の1回転あたりの測定回数が決定する。一例として、本実施形態では、ハーフボールレンズ562が1回転する間に干渉信号を1024回取得するものとする。なお、ハーフボールレンズ562の回転と、干渉信号の取得(すなわち、測定光L1の掃引の周期)は、一定である。
In the present embodiment, the number of measurements per rotation of the half-
したがって、図5に示すように、測定光L1の回転方向の位置、すなわち、回転方向の測定位置は、n=1から順に回転中心を中心として所定角度ずつ移動していく。このように干渉信号を取得した位置は、所定角度ずつ移動するため、それぞれの干渉信号の測定位置にライン番号nを対応付けることができる。また、ハーフボールレンズ562は回転しているため、n=1024の測定位置とn=1の測定位置とは隣接している。
Therefore, as shown in FIG. 5, the position in the rotation direction of the measurement light L1, that is, the measurement position in the rotation direction, moves from the rotation center by a predetermined angle in order from n = 1. Since the position where the interference signal is acquired in this way moves by a predetermined angle, the line number n can be associated with the measurement position of each interference signal. Further, since the
測定位置の位置情報が対応付けられた干渉信号は、A/D変換部482に出力される。
The interference signal associated with the position information of the measurement position is output to the A /
[A/D変換部]
干渉光検出部420から出力される干渉信号は、アナログ信号である。A/D変換部482は、このアナログ信号として出力されている干渉信号をデジタル信号に変換する。デジタル変換された干渉信号は、接触領域検出部484及び光断層画像生成部486に出力される。
[A / D converter]
The interference signal output from the interference
[接触領域検出部]
接触領域検出部484は、A/D変換部482でデジタル信号に変換された干渉信号をFFT(高速フーリエ変換)にかけ、干渉信号の周波数成分と強度との関係を取得し、取得した周波数成分と深さ方向(回転中心から離れる方向)とを対応付けることにより、深さ方向と強度との関係の情報を取得する。そして、取得した深さ方向と強度との関係の情報から、測定光L1が透過する位置におけるシース552の表面の位置(光プローブ外周の位置)を検出し、測定光L1が透過する位置におけるシース552と測定対象Sとの接触状態を検出する。
[Contact area detector]
The contact
ここで、測定光L1が透過する位置における光プローブ外周の位置の検出と、シース552と測定対象Sとの接触状態の検出は、次のようにして行われる。
Here, the detection of the position of the outer periphery of the optical probe at the position where the measurement light L1 is transmitted and the detection of the contact state between the
〔光プローブ外周の位置検出〕
まず、任意の1ライン分の干渉信号にFFTをかけて取得した周波数成分と強度との関係の情報を更に処理し、深さ方向と強度との関係の情報を取得する。
[Detection of the outer periphery of the optical probe]
First, information on the relationship between the frequency component and the intensity obtained by subjecting the interference signal for an arbitrary line to the FFT is further processed to obtain information on the relationship between the depth direction and the intensity.
図6は、干渉信号にFFTをかけて取得した計算結果の模式的な一例を示すグラフである。なお、図6では、横軸を深さ方向とし、縦軸を強度とした。 FIG. 6 is a graph illustrating a schematic example of a calculation result obtained by performing FFT on an interference signal. In FIG. 6, the horizontal axis is the depth direction and the vertical axis is the strength.
同図に示すように、強度が高くなっている部分や、強度のピークを検出している位置が、物性が変わっている位置となる。したがって、この位置が、空気と物質、又は、物質と他の特性の物質との境界位置となる。 As shown in the figure, the portion where the intensity is high and the position where the intensity peak is detected are the positions where the physical properties have changed. Therefore, this position is a boundary position between air and a substance, or a substance and another characteristic substance.
なお、ピークの定義は、特に限定されず、強度が一定以上の値となった場合、また、強度の変化量が一定以上となった場合等種々の設定とすることができる。 The definition of the peak is not particularly limited, and can be set to various settings such as when the intensity becomes a certain value or more, or when the intensity change amount becomes more than a certain value.
ここで、ハーフボールレンズ562から射出された測定光L1が、最も近い位置で反射する物質がシース552であるため、最初のピーク位置、すなわち、ハーフボールレンズ562に最も近い位置で検出されたピーク(図6では、ピークP1)が、光プローブ外周の位置となる。
Here, since the substance that reflects the measurement light L1 emitted from the
なお、ハーフボールレンズ562とシース552は、回転中心を中心として同心円状に配置されているため、ハーフボールレンズ562の回転中心と光プローブ外周の位置は、測定位置によらず一定距離となる。したがって、1つのラインで検出した光プローブ外周の位置を、全周の光プローブ外周の位置とすることができる。
Since the
以上のようにして、光プローブ外周の位置を検出する。 As described above, the position of the outer periphery of the optical probe is detected.
〔接触状態の検出〕
まず、光プローブ外周の位置の検出と同様に、1ライン分の干渉信号にFFTをかけ、深さ方向の情報を取得する。検出結果は、図6に示すグラフと同様に、深さ方向に複数のピークが検出される。この複数検出されたピークのうち、最初のピーク(図6では、ピークP1)が、シースを検出したピークであり、このシースを検出したピークに最も近い位置のピーク(図6では、ピークP2)が、測定対象の表面となる。すなわち、回転中心に2番目に近い位置(2番目に浅い位置)のピークの位置が測定対象Sの表面の位置となる。
[Detection of contact state]
First, similarly to the detection of the position of the outer periphery of the optical probe, the interference signal for one line is subjected to FFT to acquire information in the depth direction. As the detection result, a plurality of peaks are detected in the depth direction, as in the graph shown in FIG. Among the plurality of detected peaks, the first peak (peak P1 in FIG. 6) is the peak where the sheath is detected, and the peak closest to the peak where the sheath is detected (peak P2 in FIG. 6). Is the surface to be measured. That is, the position of the peak at the position closest to the center of rotation (the second shallowest position) is the position of the surface of the measuring object S.
次に、検出した測定対象Sの表面と光プローブ外周との間の距離を検出し、検出した距離が閾値以下の場合は、測定対象Sと光プローブ外周とが接触状態である判定する。一方、検出した距離が閾値より大きい場合は、測定対象Sと光プローブ外周とが非接触状態であると判定する。 Next, the distance between the detected surface of the measuring object S and the outer periphery of the optical probe is detected. If the detected distance is equal to or smaller than the threshold value, it is determined that the measuring object S and the outer periphery of the optical probe are in contact. On the other hand, when the detected distance is larger than the threshold value, it is determined that the measurement object S and the outer periphery of the optical probe are in a non-contact state.
以上のようにして、測定光L1が透過する位置におけるシース552と測定対象Sとの接触状態を検出する。
As described above, the contact state between the
このような、検出をラインごとに行い、測定領域の全周で、測定対象Sと光プローブ外周との接触状態を検出する。 Such detection is performed for each line, and the contact state between the measuring object S and the outer periphery of the optical probe is detected all around the measurement region.
〔接触領域の検出〕
接触領域の検出は、上記のようにして検出した光プローブ全周の接触状態の検出結果に基づいて行われる。すなわち、測定対象Sと光プローブ外周とが接触状態である判定している領域を接触領域として検出する。
[Detection of contact area]
The detection of the contact area is performed based on the detection result of the contact state of the entire circumference of the optical probe detected as described above. That is, an area that is determined to be in contact between the measurement target S and the outer periphery of the optical probe is detected as a contact area.
図7(A)及び(B)は、接触領域の検出方法を説明するための説明図である。なお、図7(A)及び(B)に示す円C1は、光プローブ外周を示す円である。 FIGS. 7A and 7B are explanatory diagrams for explaining a method of detecting a contact area. A circle C1 shown in FIGS. 7A and 7B is a circle indicating the outer periphery of the optical probe.
同図(A)に示すように、全周のピークを検出することにより、測定対象Sの表面S1、S2が検出される。ここで、表面S1は、シース552と測定対象Sとが接触している部分があり、表面S2を含むその他の領域は、シース552から離れた位置にある。このような場合、接触領域検出部484は、同図(B)に示すように、表面S1の接触している部分を中心とした一定範囲の領域D1を接触領域として検出する。
As shown in FIG. 2A, the surfaces S1 and S2 of the measuring object S are detected by detecting the peaks around the entire circumference. Here, the surface S <b> 1 has a portion where the
接触領域検出部484は、以上のようにして検出した接触領域の情報を光断層画像生成部486及び押付力推定部490に出力する。
The contact
[光断層画像生成部]
光断層画像生成部486は、A/D変換部482でデジタル信号に変換された干渉信号を処理することにより、深さ方向の光断層画像を生成する。
[Optical tomographic image generator]
The optical tomographic
ここで、光断層画像の生成について簡単に説明する。なお、この点の詳細については、「武田 光夫、「光周波数走査スペクトル干渉顕微鏡」、光技術コンタクト、2003、Vol41、No7、p426−p432」に詳しい記載がなされている。 Here, the generation of the optical tomographic image will be briefly described. Details of this point are described in “Mitsuo Takeda,“ Optical Frequency Scanning Spectrum Interference Microscope ”, Optical Technology Contact, 2003, Vol41, No7, p426-p432”.
測定光L1が測定対象Sに照射されたとき、測定対象Sの各深さからの反射光L3と参照光L2とがいろいろな光路長差をもって干渉しあう際の各光路長差lに対する干渉縞の光強度をS(l)とすると、干渉光検出部420において検出される干渉信号の光強度I(k)は、 I(k)=∫0∞S(l)[1+cos(kl)]dl で表される。ここで、kは波数、lは光路長差である。上式は波数k=ω/cを変数とする光周波数領域のインターフェログラムとして与えられていると考えることができる。このため、光断層画像生成部486において、干渉光検出部420で検出したスペクトル干渉縞に高速フーリエ変換を施し、干渉光L4の光強度S(l)を決定することにより、測定対象Sの測定開始位置からの距離情報と反射強度情報とを取得し、光断層画像を生成することができる。
When the measurement light L1 is irradiated onto the measurement object S, interference fringes with respect to each optical path length difference l when the reflected light L3 from the depth of the measurement object S and the reference light L2 interfere with each other with various optical path length differences. S (l) is the light intensity I (k) of the interference signal detected by the interference
なお、光断層画像生成部486は、接触領域検出部484から出力された接触領域の情報に基づいて、接触領域の干渉信号のみを処理して光断層画像を生成する。これにより、処理速度の高速化を図ることができる。
Note that the optical tomographic
[補正部]
補正部488は、光断層画像生成部486により生成された光断層画像に対し、対数変換、ラジアル変換を施し、ライン番号順に配置し、光学レンズの回転中心を中心とした円形の画像とする。また、光断層画像に対し、鮮鋭化処理、平滑化処理等を施すことにより画質を補正する。
[Correction section]
The
補正部488で画質補正が施された光断層画像の画像データは内視鏡プロセッサ200に出力される。
The image data of the optical tomographic image subjected to the image quality correction by the
ここで、光断層画像の送信タイミングは特に限定されず、1ラインの処理が終わる毎に表示部に送信し、1ライン毎に書き換えて表示させてもよく、全ラインの処理(すなわち、光学レンズを1周させて取得した画像の処置)が終了し1枚の円形の光断層画像を形成した段階で送信してもよい。 Here, the transmission timing of the optical tomographic image is not particularly limited, and may be transmitted to the display unit every time processing of one line is finished, and may be rewritten and displayed for each line. May be transmitted at the stage where the processing of the image acquired by making one round is completed and one circular optical tomographic image is formed.
内視鏡プロセッサ200は、補正部488から得られた光断層画像の画像データをモニタ装置16に表示可能な信号形式に変換して、モニタ装置16に出力する。これにより、光断層画像がモニタ装置16に表示される。
The
[押付力推定部]
押付力推定部490は、接触領域検出部484から出力された接触領域の情報に基づいて、測定対象Sに対する光プローブ500の押付力を推定する。
[Pressing force estimation unit]
The pressing
すなわち、測定対象Sに対する光プローブ500の押付力を変えると、それに応じて接触領域も変化するので、測定対象Sに対する光プローブ500の接触領域の大きさから光プローブ500の押付力を推定する。
That is, if the pressing force of the
具体的には、接触領域の情報に基づいて、接触範囲(たとえば、シース552の中心と接触領域がなす角度)の大きさを求め、求めた接触範囲が、あらかじめ設定された適正範囲内か否かを判定して、押付力の適否を判定する。ここで、求めた接触範囲が、あらかじめ設定された適正範囲内であれば、適正な押付力と判定(推定)する。一方、接触範囲が適正範囲の下限値を下回っていれば、押付不足と判定(推定)し、適正範囲の上限値を上回っていれば、押付過剰と判定(推定)する。
Specifically, the size of the contact range (for example, the angle formed between the center of the
このようにして、接触領域の大きさから光プローブの押し付け力の適否を判定(推定)し、その判定結果を内視鏡プロセッサ200に出力する。
Thus, the suitability of the pressing force of the optical probe is determined (estimated) from the size of the contact area, and the determination result is output to the
内視鏡プロセッサ200は、得られた判定結果に基づいて、モニタ装置16に表示するための表示データを生成し、モニタ装置16に出力する。
The
なお、ここでの表示フォーマットは、特に限定されるものではなく、光プローブの押し付け力の適否が分かる形態であればよい。たとえば、適正、不足、過剰として表示する。 In addition, the display format here is not specifically limited, What is necessary is just a form which understands the appropriateness of the pressing force of an optical probe. For example, display as appropriate, deficient or excessive.
また、適正範囲(上限値、下限値)は、たとえば、実験等により事前に求めて設定され、押付力推定部490に備えられたメモリ(図示せず)に記憶される。
In addition, the appropriate ranges (upper limit value, lower limit value) are obtained and set in advance by experiments or the like, and are stored in a memory (not shown) provided in the pressing
光断層画像化装置14を含む画像診断装置10の構成は以上のとおりである。
The configuration of the
≪画像診断装置の作用≫
次に、光断層画像化装置14を含む画像診断装置10の作用について説明する。
≪Operation of diagnostic imaging equipment≫
Next, the operation of the
図8は、光プローブを用いて光断層画像を取得する様子を示す図である。 FIG. 8 is a diagram illustrating a state in which an optical tomographic image is acquired using an optical probe.
光プローブ500は、内視鏡100の鉗子チャンネルを利用して、被検者の体腔内に挿入される。すなわち、内視鏡100の手元操作部112に設けられた鉗子挿入口138にプローブ挿入部502を挿入し、そのプローブ挿入部502の先端を内視鏡100の先端部144に設けられた鉗子口156から突出させて、体腔内に挿入される。
The
測定は、鉗子口156から突出させた光プローブ500のプローブ挿入部502の先端を測定対象Sに押し当てて行われる(シース552を測定対象Sに押し当てる。)。
The measurement is performed by pressing the tip of the
まず、測定対象Sを測定した干渉光及び干渉信号の取得方法について説明する。 First, a method for acquiring interference light and interference signals obtained by measuring the measurement object S will be described.
まず、ミラー駆動機構472で基台470を矢印A方向に移動させることにより、測定可能領域内に測定対象Sが位置するように光路長を調整し、設定する。その後、光源ユニット412からレーザ光Laを射出する。射出されたレーザ光Laは、分岐合波部414により測定光L1と参照光L2とに分割される。
First, the optical path length is adjusted and set so that the measuring object S is positioned in the measurable region by moving the base 470 in the arrow A direction by the
測定光L1は、光ファイバFB2及び光プローブ500を導波されて、測定対象Sに照射される。そして、測定対象Sの各深さ位置で反射された光が、反射光L3として光プローブ500に入射する。この反射光L3は、光プローブ500及び光ファイバFB2を介して分岐合波部414に入射される。
The measurement light L1 is guided through the optical fiber FB2 and the
一方、参照光L2は光ファイバFB3を介して光路長調整部418に入射される。そして、光路長調整部418により光路長が調整された参照光L2が再び光ファイバFB3を導波し分岐合波部414に入射される。
On the other hand, the reference light L2 enters the optical path
分岐合波部414に入射された参照光L2は、測定対象Sからの反射光L3と合波され、干渉光が生成される。干渉光は、干渉光L4と干渉光L5とに分岐され、干渉光検出部420に入力されて、干渉信号として検出される。
The reference light L2 incident on the branching / combining unit 414 is combined with the reflected light L3 from the measurement target S, and interference light is generated. The interference light is branched into interference light L4 and interference light L5, is input to the interference
干渉信号は以上のようにして検出される。次に、干渉信号の処理方法について説明する。 The interference signal is detected as described above. Next, an interference signal processing method will be described.
まず、干渉信号に基づいて光プローブ外周の位置を検出する方法について説明する。 First, a method for detecting the position of the outer periphery of the optical probe based on the interference signal will be described.
図9は、干渉信号に基づいて光プローブ外周の位置の検出する手順を示すフローチャートである。 FIG. 9 is a flowchart showing a procedure for detecting the position of the outer periphery of the optical probe based on the interference signal.
まず、任意の1ライン分の干渉信号を取得する(ステップS10)。具体的には、上述した方法で参照光L2と反射光L3とを合波されて生成された干渉光を干渉信号として干渉光検出部420で検出する。
First, an interference signal for an arbitrary line is acquired (step S10). Specifically, the interference
次に、アナログ信号として干渉光検出部420から出力される干渉信号をA/D変換部482でデジタル信号に変換する(ステップS12)。
Next, the interference signal output from the interference
次に、A/D変換した干渉信号にFFTをかけて周波数成分と強度との関係の情報を取得し、さらに処理して深さ方向と強度との関係を取得することにより、ピーク位置を検出する(ステップS14)。ここで、上述したようにピーク位置は、光を反射した位置となり、基本的に物質の境界面となる。検出したピーク位置から光プローブ外周の位置を検出する(ステップS16)。具体的には、ピーク位置のうち、ハーフボールレンズ562に最も近い位置で検出されたピークを、光プローブ外周の位置として検出する。このようにして、光プローブ外周の位置を検出する。
Next, the peak position is detected by performing FFT on the A / D converted interference signal to obtain information on the relationship between the frequency component and the intensity, and further processing to obtain the relationship between the depth direction and the intensity. (Step S14). Here, as described above, the peak position is a position where light is reflected, and is basically a boundary surface of the substance. The position of the outer periphery of the optical probe is detected from the detected peak position (step S16). Specifically, the peak detected at the position closest to the
次に、シース552と測定対象Sとの接触領域を検出する方法について説明する。
Next, a method for detecting a contact area between the
図10は、シースと測定対象との接触領域を検出する手順を示すフローチャートである。 FIG. 10 is a flowchart illustrating a procedure for detecting a contact area between the sheath and the measurement target.
まず、ライン番号nをn=1とする(ステップS20)。ここで、ライン番号とは、任意の1ラインを基準として干渉信号の測定位置の順番に付されている番号である。本実施の形態では、ハーフボールレンズ562が一回転する間に干渉信号を1024回検出するので、1から1024まで番号が付されたラインが等間隔に配列されている(図5参照)。
First, the line number n is set to n = 1 (step S20). Here, the line number is a number given in the order of the measurement position of the interference signal with reference to an arbitrary line. In this embodiment, since the interference signal is detected 1024 times during one rotation of the
次に、ライン番号nの干渉信号を取得する(ステップS22)。具体的には、上述した方法で参照光L2と反射光L3とを合波されて生成された干渉光を干渉信号として干渉光検出部420で検出する。ここで、ライン番号は、干渉信号取得部480で干渉信号に対応付けられた位置情報で判定することができる。
Next, an interference signal of line number n is acquired (step S22). Specifically, the interference
取得した干渉信号のライン番号がnでない場合は、ライン番号nの干渉信号が検出されるまで、干渉信号の取得を繰り返す。 If the line number of the acquired interference signal is not n, the acquisition of the interference signal is repeated until the interference signal of line number n is detected.
次に、アナログ信号として干渉光検出部420から出力される干渉信号をA/D変換部482でデジタル信号に変換する(ステップS24)。
Next, the interference signal output from the interference
次に、A/D変換した干渉信号にFFTをかけ、ピーク位置を検出する(ステップS26)。ここで、上述したように、ピーク位置は、光を反射した位置となり、基本的に物質の境界面となる。 Next, the A / D converted interference signal is subjected to FFT to detect the peak position (step S26). Here, as described above, the peak position is a position where light is reflected, and is basically a boundary surface of the substance.
次に、検出したピーク位置から測定対象Sの表面の位置を検出する(ステップS28)。ここで、測定対象Sと光プローブ500との間に他の物体は基本的に介在しない。したがって、上記ステップS16で検出したシースを検出した位置に最も近い位置のピーク、すなわち、回転中心に2番目に近い位置(2番目に浅い位置)のピークの位置を測定対象Sの表面の位置として検出する。
Next, the position of the surface of the measuring object S is detected from the detected peak position (step S28). Here, no other object is basically interposed between the measuring object S and the
次に、検出した測定対象Sの表面と光プローブ外周との距離を検出し、検出した距離が閾値X以下であるかを判定する(S30)。 Next, a distance between the detected surface of the measuring object S and the outer periphery of the optical probe is detected, and it is determined whether the detected distance is equal to or less than a threshold value X (S30).
ここで、検出した距離が閾値X以下の場合は、測定対象Sと光プローブ外周とが接触状態であると判定(ステップS32)して、ステップS36に進む。 Here, when the detected distance is equal to or less than the threshold value X, it is determined that the measurement object S and the outer periphery of the optical probe are in contact (step S32), and the process proceeds to step S36.
一方、検出した距離が閾値Xより大きい場合は、測定対象Sと光プローブ外周とが非接触状態であると判定(ステップS34)して、ステップS36に進む。 On the other hand, when the detected distance is larger than the threshold value X, it is determined that the measurement object S and the outer periphery of the optical probe are not in contact with each other (step S34), and the process proceeds to step S36.
次に、ライン番号nがNであるかを判定する(ステップS36)。ここで、Nは、ラインの合計数(すなわち、全ラインの数)であり、本実施形態ではN=1024である。 Next, it is determined whether the line number n is N (step S36). Here, N is the total number of lines (that is, the number of all lines), and N = 1024 in the present embodiment.
ライン番号nがNでなかった場合は、n=n+1とし(ステップS38)、ステップS22に進む。nを1大きくした後、ステップS22に進むことにより、1つ隣のライン番号の光プローブ外周と測定対象との接触の有無の判定を行う。 When the line number n is not N, n = n + 1 is set (step S38), and the process proceeds to step S22. After n is increased by 1, the process proceeds to step S22 to determine whether or not the outer periphery of the optical probe of the next line number is in contact with the measurement target.
他方、ライン番号nがNである場合は、各ラインの接触判定は終了し、接触範囲テーブルを作成する(ステップS40)。 On the other hand, if the line number n is N, the contact determination for each line ends, and a contact range table is created (step S40).
ここで、接触範囲テーブルは、接触していると判定した領域を中心として所定範囲の領域として検出する。たとえば、ライン番号(a+10)から(b−30)までが接触していると判定されている場合は、ライン番号aからライン番号bまでを接触領域とする。なお、接触範囲テーブルの設定方法は、あらかじめ入力されている設定条件に基づいて決定される。 Here, the contact range table detects a region within a predetermined range centered on the region determined to be in contact. For example, when it is determined that the line numbers (a + 10) to (b-30) are in contact, the line number a to the line number b is set as the contact area. Note that the setting method of the contact range table is determined based on setting conditions input in advance.
このようにして、接触範囲テーブルを作成し、接触領域の検出処理は終了となる。 In this way, the contact range table is created, and the contact area detection process is completed.
光プローブ外周と測定対象との接触領域は、以上のようにして検出する。 The contact area between the outer periphery of the optical probe and the measurement object is detected as described above.
次に、光断層画像を作成するための画像処理の方法について説明する。 Next, an image processing method for creating an optical tomographic image will be described.
図11は、光断層画像を作成するための画像処理の手順を示すフローチャートである。 FIG. 11 is a flowchart showing a procedure of image processing for creating an optical tomographic image.
まず、任意のライン番号であるライン番号nの干渉信号を取得する(ステップS50)。具体的には、上述した方法で参照光L2と反射光L3とを合波されて生成された干渉光を干渉信号として干渉光検出部420で検出する。
First, an interference signal of line number n that is an arbitrary line number is acquired (step S50). Specifically, the interference
次に、アナログ信号として干渉光検出部420から出力される干渉信号をA/D変換する(ステップS52)。
Next, the interference signal output from the interference
次に、ライン番号nがステップS40で作成した接触範囲テーブルに含まれるか、すなわち、接触領域であるライン番号aからライン番号bの間に含まれるか否か(a≦n≦bであるか否か)を判定する(ステップS54)。 Next, whether the line number n is included in the contact range table created in step S40, that is, whether it is included between the line number a and the line number b that is the contact area (whether a ≦ n ≦ b). (No) is determined (step S54).
ここで、ライン番号nが、a≦n≦bを満たしている場合は、A/D変換した干渉信号にFFTをかける(ステップS56)。 Here, when the line number n satisfies a ≦ n ≦ b, the A / D converted interference signal is subjected to FFT (step S56).
次に、FFTをかけた結果から、ライン番号nの光断層画像を取得する(ステップS58)。 Next, an optical tomographic image of line number n is acquired from the result of applying the FFT (step S58).
ここで、光断層画像は、上述したようにFFTの結果に基づいて、所定の処理を施し画像を取得する。 Here, as described above, the optical tomographic image is subjected to a predetermined process based on the result of the FFT to obtain an image.
光断層画像を取得したら、ステップS62に進む。 When the optical tomographic image is acquired, the process proceeds to step S62.
一方、ライン番号nが、a≦n≦bを満たしていない場合、すなわち、n<a又はb<nの場合は、マスク化処理をする(ステップS60)。 On the other hand, when the line number n does not satisfy a ≦ n ≦ b, that is, when n <a or b <n, masking processing is performed (step S60).
ここで、マスク化処理とは、FFT及び光断層画像を取得するための処理を行わず、ライン番号nの画像を黒画像又は一定の決まった画像とする。 Here, the masking process does not perform the process for acquiring the FFT and the optical tomographic image, and sets the image of the line number n as a black image or a fixed image.
マスク化処理が終了したら、ステップS62に進む。 When the masking process ends, the process proceeds to step S62.
次に、終了指示があるか否かを判定する(ステップS62)。 Next, it is determined whether or not there is an end instruction (step S62).
終了指示がない場合は、n=n+1とし(ステップS64)、その後、ステップS50に進む。nを1大きくした後、ステップS50に進むことにより、1つ隣のライン番号の光断層画像の取得処理を行う。 If there is no end instruction, n = n + 1 is set (step S64), and then the process proceeds to step S50. After n is increased by 1, the process proceeds to step S50, where an optical tomographic image of the next line number is acquired.
なお、図示は省略したが、n=N+1となった場合は、nを1とし、終了指示があるまで、光断層画像の取得を続ける。 Although illustration is omitted, when n = N + 1, n is set to 1 and the acquisition of the optical tomographic image is continued until an end instruction is given.
終了指示がある場合は、処理を終了する。 If there is an end instruction, the process ends.
以上のようにして測定対象の光断層画像を取得する。 As described above, the optical tomographic image of the measurement target is acquired.
このようにして取得されたマスク処理された領域の画像情報と光断層画像は、補正部488に出力され、ラジアル処理、鮮鋭化処理等の表示するための画像処理が施される。その後、内視鏡プロセッサ200に送られ、モニタ装置16に出力するための所要の信号処理が施されて、モニタ装置16に出力される。
The image information and optical tomographic image of the mask-processed area acquired in this way are output to the
次に、測定対象との接触領域から光プローブの押付力を推定する方法について説明する。 Next, a method for estimating the pressing force of the optical probe from the contact area with the measurement object will be described.
図12は、測定対象との接触領域の情報に基づいて光プローブの押付力を推定する手順を示すフローチャートである。 FIG. 12 is a flowchart illustrating a procedure for estimating the pressing force of the optical probe based on the information on the contact area with the measurement target.
まず、接触領域の情報を取得し、光プローブ500に対する測定対象Sの接触範囲の大きさを求める(ステップS70)。
First, information on the contact area is acquired, and the size of the contact range of the measuring object S with respect to the
そして、求めた接触範囲の大きさが、あらかじめ設定された適正範囲内か否かを判定して、光プローブ500の押付力を推定する。
And it determines whether the magnitude | size of the calculated | required contact range is in the appropriate range set beforehand, and the pressing force of the
具体的には、まず、求めた接触範囲の大きさが、あらかじめ設定された適正範囲の上限値(閾値max)と比較し、上限値を超えているか否かを判定する(ステップS72)。 Specifically, first, the size of the obtained contact range is compared with an upper limit value (threshold max) of an appropriate range set in advance, and it is determined whether or not the upper limit value is exceeded (step S72).
ここで、接触範囲の大きさが、適正範囲の上限値を超えていると判定すると、押付過剰と判定する(ステップS76)。 Here, if it determines with the magnitude | size of a contact range exceeding the upper limit of an appropriate range, it will determine with pressing excessively (step S76).
一方、接触範囲の大きさが、適正範囲の上限値以下と判定すると、次に、適正範囲の下限値(閾値min)と比較する(ステップS73)。 On the other hand, if it is determined that the size of the contact range is equal to or smaller than the upper limit value of the appropriate range, the contact range is compared with the lower limit value (threshold value min) of the appropriate range (step S73).
この結果、求めた接触範囲の大きさが、適正範囲の下限値以下であると判定すると、押付力は適正と判定する(ステップS75)。 As a result, when it is determined that the size of the obtained contact range is equal to or less than the lower limit value of the appropriate range, the pressing force is determined to be appropriate (step S75).
一方、求めた接触範囲の大きさが、適正範囲の下限値を下回っていると判定すると、押付力不足と判定する(ステップS74)。 On the other hand, if it determines with the magnitude | size of the calculated | required contact range being less than the lower limit of the appropriate range, it will determine with pressing force shortage (step S74).
このように、接触領域の情報に基づいて、接触対象Sに対する光プローブ500の押付力を推定する。
In this manner, the pressing force of the
求めた押付力の情報は、内視鏡プロセッサ200に出力される。内視鏡プロセッサ200は、得られた押付力の情報に基づいて、モニタ装置16に表示するための表示データを生成し、モニタ装置16に出力する。これにより、モニタ装置16に接触対象Sに対する光プローブ500の押付力の情報が表示される。
Information on the obtained pressing force is output to the
図13は、モニタ装置に表示される画面の一例を示す図である。 FIG. 13 is a diagram illustrating an example of a screen displayed on the monitor device.
同図に示すように、本実施の形態の画像診断装置10では、モニタ装置16の画面に内視鏡装置12で取得される内視鏡画像(内視鏡100による観察画像)と、光断層画像化装置14で取得される光断層画像とが並列して表示される。
As shown in the figure, in the
押付力推定部490で推定された光プローブ500の押付力の情報は、この内視鏡画像、光断層画像と共にモニタ装置16に表示される。本例では、光断層画像の下部位置に[光プローブ押付力]として、[不足]、[適正]、[過剰]の情報が表示される(図13では、[適正]の場合が表示されている。)。
Information on the pressing force of the
術者は、このモニタ装置16の画面を確認することにより、現在の光プローブ500の押付力を把握することができる。
The surgeon can grasp the current pressing force of the
なお、押付力の表示形態は、これに限定されるものではなく、その他の表示内容等を考慮して、適宜変更することができる。 The display form of the pressing force is not limited to this, and can be appropriately changed in consideration of other display contents.
図14は、押付力の他の表示形態の一例を示す図である。本例は、押付力をグラフ表示したものである。同図に示す例では、光断層画像の下部位置にクサビ状のグラフが表示され、そのグラフ中に押付力を示す目盛が表示される。この場合、押付力が適正の場合は、グラフの中央に目盛が表示される(同図は、押付力が適正の場合が表示されている)。一方、押付力が不足の場合は、グラフの左端(クサビの先細の側の端部)に目盛が表示され、押付力が過剰の場合は、グラフの右端(クサビの幅広の側の端部)に目盛が表示される。このように、押付力の程度は、グラフ表示することもでき、これにより、視認性を向上させることができる。 FIG. 14 is a diagram illustrating an example of another display form of the pressing force. In this example, the pressing force is displayed in a graph. In the example shown in the figure, a wedge-shaped graph is displayed at the lower position of the optical tomographic image, and a scale indicating the pressing force is displayed in the graph. In this case, when the pressing force is appropriate, a scale is displayed at the center of the graph (in the figure, the case where the pressing force is appropriate is displayed). On the other hand, when the pressing force is insufficient, a scale is displayed at the left end of the graph (end on the tapered side of the wedge), and when the pressing force is excessive, the right end of the graph (end on the wide side of the wedge) A scale is displayed at. Thus, the degree of pressing force can also be displayed in a graph, thereby improving visibility.
また、本例では、光断層画像と共にモニタ装置16に表示する構成としているが、他の表示手段に表示させるようにしてもよい。たとえば、専用の表示装置を用いて表示させるようにしてもよい。また、たとえば、ランプ等を点灯させて表示するようにしてもよい(たとえば、不足、適正、過剰ごとにランプを用意し、検出結果に応じて点灯させるようにしてもよい。)。
Moreover, in this example, it is set as the structure displayed on the
また、光プローブの押付力を告知する方法は、これに限らず、音声等で表示させるようにしてもよいし、また、これらを併用してもよい。たとえば、押付力の不足、過剰時には、ブザーを鳴らして、警告を促すようにしてもよい(特に過剰時)。 Further, the method of notifying the pressing force of the optical probe is not limited to this, and it may be displayed by voice or the like, or these may be used in combination. For example, when the pressing force is insufficient or excessive, a buzzer may be sounded to prompt a warning (particularly when excessive).
以上説明したように、本実施の形態の画像診断装置10によれば、処置中に測定対象Sに対する光プローブ500の押付力を知ることができるので、常に適正な押付力の下で光断層画像の測定処置を行うことができる。
As described above, according to the
また、本実施の形態の光断層画像化装置は、光プローブ500の先端に圧力センサ等を設置したりすることなく、既存の構成で光プローブの押付力を検出することができる。
Further, the optical tomographic imaging apparatus according to the present embodiment can detect the pressing force of the optical probe with an existing configuration without installing a pressure sensor or the like at the tip of the
《押付力を推定する他の実施の形態》
〈他の実施の形態1〉
上記のように、押付力を推定する際に用いる接触領域の適正範囲の情報は、あらかじめ実験等により求められるが、測定対象が光プローブに接触する領域は、同じ押付力であっても、測定対象(組織)によって異なる。すなわち、図15に示すように、同じ押付力で光プローブ500を押し付けた場合であっても、測定対象Sが硬い組織の場合は、接触範囲が小さくなり(同図(a))、柔らかい組織の場合は、接触範囲が大きくなる(同図(b))。
<< Other Embodiments for Estimating Pushing Force >>
<
As described above, the information on the appropriate range of the contact area used when estimating the pressing force is obtained in advance by experiments or the like, but the area where the measurement target contacts the optical probe is measured even if the pressing force is the same. It depends on the target (organization). That is, as shown in FIG. 15, even when the
したがって、1つの光プローブ500で種々の組織を対象として測定を行う場合には、測定対象ごとに適正範囲を設定することが好ましい。
Therefore, when measurement is performed on various tissues with one
この場合、測定対象とする組織ごとに実験等により適正範囲(下限値、上限値)を求め、測定対象と適正範囲とを関連付けたテーブルを作成する。作成したテーブルは、たとえば、押付力推定部490に備えられたメモリ(図示せず)に格納する。
In this case, an appropriate range (lower limit value, upper limit value) is obtained by experiment or the like for each tissue to be measured, and a table in which the measurement object is associated with the appropriate range is created. The created table is stored in a memory (not shown) provided in the pressing
術者は、測定時に入力装置(図示せず)から測定対象の情報を入力する(たとえば、あらかじめ用意された測定対象を選択して入力する)。押付力推定部490は、テーブルを参照して、入力された測定対象に対応する適正範囲の情報を取得する。そして、取得した適正範囲の情報に基づいて、押付力の推定処理を実行する。
An operator inputs information on a measurement object from an input device (not shown) at the time of measurement (for example, selecting and inputting a measurement object prepared in advance). The pressing
このように、測定対象ごとに適正範囲を設定することにより、より正確に押付力を推定することができる。 In this way, the pressing force can be estimated more accurately by setting an appropriate range for each measurement target.
なお、上記の例では、組織ごとに適正範囲を設定する場合を例に説明したが、より詳細に設定することもできる。たとえば、組織の他、被検者の性別、年齢等を考慮して、測定対象を分類することもできる。 In the above example, the case where an appropriate range is set for each organization has been described as an example. However, it can be set in more detail. For example, the measurement object can be classified in consideration of the gender, age, etc. of the subject in addition to the tissue.
また、測定対象の柔らかさの程度に応じて分類することもできる。すなわち、組織の柔らかさの程度は、ある程度事前に分かるので、測定対象とする組織の柔らかさの程度に応じて適正範囲を設定することもできる。たとえば、柔らかい、標準、硬いの3段階に分けて、各段階ごとに適正範囲を設定するようにしてもよい。 Moreover, it can also classify | categorize according to the degree of the softness of a measuring object. That is, since the degree of tissue softness is known to some extent in advance, an appropriate range can be set according to the degree of tissue softness to be measured. For example, an appropriate range may be set for each stage by dividing into three stages of soft, standard, and hard.
〈他の実施の形態2〉
上記実施の形態では、接触領域から求めた接触範囲の大きさと、適正範囲との対比により、押付力が、適正か、不足か、過剰かを判定する構成としているが、接触領域から求めた接触範囲の大きさから、より詳細に押付力を推定することもできる。
<
In the above embodiment, it is configured to determine whether the pressing force is appropriate, insufficient, or excessive by comparing the size of the contact range obtained from the contact area with the appropriate range, but the contact obtained from the contact area. The pressing force can be estimated in more detail from the size of the range.
すなわち、上記のように、接触領域は押付力に応じて変化するので、接触範囲を複数の区分に区分け、各区分ごとに対応する押付力を事前に求め、検出した接触範囲が、どの区分に属するかを判定して、押付力を推定する。 That is, as described above, the contact area changes according to the pressing force, so the contact range is divided into a plurality of sections, the corresponding pressing force is obtained in advance for each section, and the detected contact range is assigned to which section. It is determined whether it belongs, and the pressing force is estimated.
たとえば、本例の光プローブ500は、シース552が円筒状に形成されているので、たとえば、10分割した場合、接触範囲(ここでは、シース552の中心となす角度)は、1:0°〜36°、2:36°〜72°、3:72°〜108°、4:108°〜144°、5:146°〜180°、6:180°〜216°、7:216°〜252°、8:252°〜288°、9:288°〜324°、10:324°〜360°に区分けされる。したがって、区分けされた各区分ごとに押付力を実験等により求め(測定可能な範囲で求める)、テーブルを作成する(各区分ごとに押付力を関連付けたテーブルを作成する。)。
For example, in the
テーブルは、たとえば、押付力推定部490に備えられたメモリ(図示せず)に格納し、このテーブルを参照して、押付力を推定する。たとえば、押付力推定部490は、接触領域検出部484から得られた接触領域の情報に基づいて、接触範囲の大きさ(ここでは、接触領域がシース552の中心となす角度)を求め、求めた接触範囲の大きさが、どの区分に属するかを判定する。そして、対応する区分の押付力の情報を取得する。
The table is stored, for example, in a memory (not shown) provided in the pressing
このように、接触範囲を複数の区分に区分けし、求めた接触範囲が、どの区分に属するかを判定することによって、押付力を推定することにより、より正確な押付力を把握することができる。 Thus, by dividing the contact range into a plurality of categories and determining which category the obtained contact range belongs to, it is possible to grasp the more accurate pressing force by estimating the pressing force. .
なお、本実施の形態では、押付力をより詳細に求めることができるので、図14に示すように、押付力をモニタ装置16にグラフ表示する場合は、求めた押付力に応じて目盛の位置を移動させて表示する。すなわち、押付力が大きくなるほど、図中右側(幅広側)に移動して表示する。この場合、たとえば、色を変えるなどして、適正範囲を区分けして表示し、大圧力が適正範囲内であることを視認できるようにすることが好ましい。
In this embodiment, the pressing force can be obtained in more detail. Therefore, when the pressing force is displayed in a graph on the
また、押付過剰時、押付不足時には、たとえば、ブザー等を慣らし、警告することが好ましい。この場合、たとえば、押付過剰時には、押付力の大きさに応じて、ブザーの音量を変えることが好ましい(押付力が大きくなるほど、音が大きくなるようにする。)。 Further, when pressing is excessive or when pressing is insufficient, it is preferable to use a buzzer or the like to warn, for example. In this case, for example, when the pressing force is excessive, it is preferable to change the volume of the buzzer according to the magnitude of the pressing force (the sound increases as the pressing force increases).
また、本実施の形態によれば、押付力をより詳細に求めることができるので、カテーテル状に形成されている光プローブ500の折れ曲がり(キンク)の可能性を予測することができる。すなわち、推定した押付力から光プローブ500の長手軸方向の曲げ応力を計測し、その計測結果から光プローブ500のキンクの可能性を予測することができる。これにより、より安全に使用することができる。
In addition, according to the present embodiment, the pressing force can be obtained in more detail, and therefore the possibility of bending (kinking) of the
なお、本例においても、複数の組織を対象として測定する場合は、測定対象ごとにテーブルを用意することが好ましい。これにより、より正確に押付力を推定することができる。 In this example as well, when measuring a plurality of tissues, it is preferable to prepare a table for each measurement target. Thereby, the pressing force can be estimated more accurately.
〈他の実施の形態3〉
本実施の形態では、光断層画像化装置14で取得される光断層画像に基づいて、押付力を推定する。
<Other embodiment 3>
In the present embodiment, the pressing force is estimated based on the optical tomographic image acquired by the optical
図16は、本実施の形態の光断層画像化装置の処理部の構成を示すブロック図である。 FIG. 16 is a block diagram illustrating a configuration of a processing unit of the optical tomographic imaging apparatus according to the present embodiment.
同図に示すように、本実施の形態の光断層画像化装置の処理部422Aは、補正部488で生成された画質補正後の光断層画像を取得して、押付力を推定する押付力推定部490Aを備えている。
As shown in the figure, the
この押付力推定部490Aは、補正部488から取得した光断層画像から測定対象Sの表面の形状を求め、求めた表面の形状の変形の程度から押付力を推定する。すなわち、測定対象Sの表面形状は、光プローブ500の押付力に応じて変化するので、その変形の程度に基づいて押付力を推定する。具体的には、取得した光断層画像から表面を画する曲線を抽出し、その変形の度合を評価し、押付力を推定する。より具体的には、光断層画像から表面を抽出し、その表面に形状を3次曲線で近似し、近似した3次曲線の微分係数の絶対値の積分値を評価値として算出する。そして、算出した評価値が適正範囲内か否かを判定して、押付力を推定する。すなわち、曲線の微分係数の絶対値の積分値は、曲線の変形の程度を示す指標となるので、これを評価値として求めることにより、評価値の大小から押付力の適否を推定することができる。
The pressing
図17は、光断層画像から押付力を推定する手順を示すフローチャートである。 FIG. 17 is a flowchart showing a procedure for estimating the pressing force from the optical tomographic image.
まず、補正部から光断層画像を取得し、測定対象の表面のエッジを抽出する(ステップS80)。 First, an optical tomographic image is acquired from the correction unit, and the edge of the surface to be measured is extracted (step S80).
次に、抽出したエッジを3次曲線で近似する(ステップS82)。 Next, the extracted edge is approximated by a cubic curve (step S82).
次に、求めた3次曲線の微分係数の絶対値の積分値を算出し、評価値を取得する(ステップS84)。 Next, an integral value of the absolute value of the derivative of the obtained cubic curve is calculated, and an evaluation value is acquired (step S84).
次に、取得した評価値が、あらかじめ設定された適正範囲の上限値(閾値max)を超えているか否かを判定する(ステップS86)。 Next, it is determined whether or not the acquired evaluation value exceeds an upper limit value (threshold max) of an appropriate range set in advance (step S86).
ここで、この適正範囲は、事前に実験等により求められ、押付力推定部490Aに備えられたメモリ(図示せず)に格納される。
Here, this appropriate range is obtained in advance by experiments or the like and stored in a memory (not shown) provided in the pressing
この判定の結果、評価値が適正範囲の上限値を超えていれば、押付過剰と判定(推定)し(ステップS94)、処理を終了する。 As a result of this determination, if the evaluation value exceeds the upper limit value of the appropriate range, it is determined (estimated) that pressing is excessive (step S94), and the process is terminated.
一方、評価値が適正範囲の上限値以下と判定すると、次に、評価値が、あらかじめ設定された適正範囲の下限値(閾値min)を下回っているかを判定する(ステップS88)。 On the other hand, if it is determined that the evaluation value is equal to or lower than the upper limit value of the appropriate range, it is next determined whether the evaluation value is below a lower limit value (threshold value min) of the appropriate range set in advance (step S88).
この判定の結果、評価値が適正範囲の下限値以上と判定すると、押付力は適正であると判定すし(ステップS92)、処理を終了する。 As a result of this determination, if it is determined that the evaluation value is greater than or equal to the lower limit value of the appropriate range, it is determined that the pressing force is appropriate (step S92), and the process ends.
一方、評価値が適正範囲の下限値を下回っていれば、押付不足と判定し(ステップS90)、処理を終了する。 On the other hand, if the evaluation value is below the lower limit value of the appropriate range, it is determined that the pressing is insufficient (step S90), and the process ends.
このように、本実施の形態では、光断層画像に基づいて光プローブ500の押付力を推定する。このため、本実施の形態においても、光プローブ500の先端に圧力センサ等を設置したりすることなく、既存の構成で光プローブの押付力を検出することができる。
Thus, in the present embodiment, the pressing force of the
なお、本例においても、上記他の実施の形態1と同様に、複数の組織を対象として測定する場合は、測定対象ごとに適正範囲を設定することが好ましい。これにより、より正確に押付力を推定することができる。
Also in this example, as in the case of the
また、本例においても、上記他の実施の形態2と同様に、評価値を複数の区分に区分けし、区分ごとの押付力を事前に求めて設定することにより、より正確に押付力を推定することができる。そして、このように押付力をより詳細に求めるにより、光プローブ500のキンクの可能性を予測することができる。
Also in this example, as in the case of the
〈その他の実施の形態〉
本発明が適用される光断層画像化装置の構成は、上記実施の形態のものに限らず、たとえば、SD−OCT(spectral domain−OCT)計測により、測定対象の光断層画像を取得する構成や、TD−OCT(time domain−OCT)計測により、測定対象の光断層画像を取得する構成の光断層画像化装置にも同様に適用することができる。
<Other embodiments>
The configuration of the optical tomographic imaging apparatus to which the present invention is applied is not limited to that of the above-described embodiment. For example, the configuration of acquiring an optical tomographic image to be measured by SD-OCT (spectral domain-OCT) measurement, The present invention can be similarly applied to an optical tomographic imaging apparatus configured to acquire an optical tomographic image to be measured by TD-OCT (time domain-OCT) measurement.
10…画像診断装置、12…内視鏡装置、14…光断層画像化装置、16…モニタ装置、100…内視鏡、112…手元操作部、114…内視鏡挿入部、116…ユニバーサルケーブル、130…送気・送水ボタン、132…アングルノブ、134…吸引ボタン、136…シャッタボタン、138…鉗子挿入口、140…軟性部、142…湾曲部、144…先端部、150…観察光学系、152…照明光学系、154…洗浄ノズル、156…鉗子口、200…内視鏡プロセッサ、300…光源装置、400…OCTプロセッサ、412…光源ユニット、414…分岐合波部、416…分岐部、418…光路長調整部、420…干渉光検出部、422…処理部、422A…処理部、440…半導体光増幅器、442…光分岐部、444…コリメータレンズ、446…回折格子素子、448…光学系、450…回転多面鏡、464…第1光学レンズ、466…第2光学レンズ、468…反射ミラー、470…基台、472…ミラー駆動機構、480…干渉信号取得部、482…A/D変換部、484…接触領域検出部、486…光断層画像生成部、488…補正部、490…押付力推定部、490A…押付力推定部、500…光プローブ、502…プローブ挿入部、504…駆動部、506…ケーブル、552…シース、554…キャップ、556…光ファイバ、558…バネ、560…固定筒、562…ハーフボールレンズ、FB1〜FB11…光ファイバ、S…測定対象、La…レーザ光、L1…測定光、L2…参照光、L3…反射光、L4、L5…干渉光
DESCRIPTION OF
Claims (15)
前記光源から射出された光を測定光と参照光とに分岐する分岐手段と、
シース内に測定部を備え、該測定部から測定対象に向けて前記測定光を照射するとともに、その反射光を取得する光プローブと、
前記光プローブの測定部を回転させる駆動手段と、
前記光プローブの測定部で取得された反射光と前記参照光とを合波して干渉光を生成する合波手段と、
前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出手段と、
前記干渉光検出手段によって検出された干渉信号から光断層画像を取得する光断層画像取得手段と、
前記測定対象に対する前記光プローブの接触領域を検出する接触領域検出手段と、
前記接触領域検出手段によって検出された接触領域の大きさに基づいて、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定する押付力推定手段と、
前記押付力推定手段で推定された前記光プローブの押付力を告知する告知手段と、
を備えたことを特徴とする光断層画像化装置。 A light source;
Branching means for branching light emitted from the light source into measurement light and reference light;
An optical probe comprising a measurement unit in the sheath, irradiating the measurement light from the measurement unit toward the measurement target, and acquiring the reflected light;
Driving means for rotating the measuring part of the optical probe;
A multiplexing unit configured to combine the reflected light acquired by the measurement unit of the optical probe and the reference light to generate interference light;
Interference light detecting means for detecting the interference light as an interference signal;
An optical tomographic image acquisition means for acquiring an optical tomographic image from the interference signal detected by the interference light detection means;
Contact area detecting means for detecting a contact area of the optical probe with respect to the measurement object;
A pressing force estimating means for estimating the pressing force of the optical probe against the measurement object based on the size of the contact area detected by the contact area detecting means;
Notification means for notifying the pressing force of the optical probe estimated by the pressing force estimation means;
An optical tomographic imaging apparatus comprising:
前記光源から射出された光を測定光と参照光とに分岐する分岐手段と、
シース内に測定部を備え、該測定部から測定対象に向けて前記測定光を照射するとともに、その反射光を取得する光プローブと、
前記光プローブの測定部を回転させる駆動手段と、
前記光プローブの測定部で取得された反射光と前記参照光とを合波して干渉光を生成する合波手段と、
前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出手段と、
前記干渉光検出手段によって検出された干渉信号から光断層画像を取得する光断層画像取得手段と、
前記光断層画像取得手段によって取得された光断層画像に基づいて、前記測定対象の表面の形状を検出し、該表面の形状に基づいて、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定する押付力推定手段と、
前記押付力推定手段で推定された前記光プローブの押付力を告知する告知手段と、
を備えたことを特徴とする光断層画像化装置。 A light source;
Branching means for branching light emitted from the light source into measurement light and reference light;
An optical probe comprising a measurement unit in the sheath, irradiating the measurement light from the measurement unit toward the measurement target, and acquiring the reflected light;
Driving means for rotating the measuring part of the optical probe;
A multiplexing unit configured to combine the reflected light acquired by the measurement unit of the optical probe and the reference light to generate interference light;
Interference light detecting means for detecting the interference light as an interference signal;
An optical tomographic image acquisition means for acquiring an optical tomographic image from the interference signal detected by the interference light detection means;
A pressing that detects the shape of the surface of the measurement target based on the optical tomographic image acquired by the optical tomographic image acquisition unit and estimates the pressing force of the optical probe against the measurement target based on the shape of the surface Force estimation means;
Notification means for notifying the pressing force of the optical probe estimated by the pressing force estimation means;
An optical tomographic imaging apparatus comprising:
前記告知手段は、前記光断層画像取得手段で取得された光断層画像とともに、前記押付力推定手段で推定した前記光プローブの押付力を前記表示手段に表示させて、前記光プローブの押付力を告知することを特徴とする請求項1〜11のいずれか一項に記載の光断層画像化装置。 A display means,
The notification means displays the pressing force of the optical probe estimated by the pressing force estimation means on the display means together with the optical tomographic image acquired by the optical tomographic image acquisition means, and displays the pressing force of the optical probe. The optical tomographic imaging apparatus according to claim 1, wherein the optical tomographic imaging apparatus is notified.
前記判定手段によって前記光プローブの押付力が適正ではないと判定された場合に警告する警告手段と、
を備えたことを特徴とする請求項1〜12のいずれか一項に記載の光断層画像化装置。 A determination unit that determines whether or not the pressing force of the optical probe with respect to the measurement target is appropriate based on the pressing force of the optical probe estimated by the pressing force estimation unit;
Warning means for warning when the determination means determines that the pressing force of the optical probe is not appropriate;
The optical tomographic imaging apparatus according to claim 1, wherein the optical tomographic imaging apparatus is provided.
前記測定対象に対する前記光プローブの接触領域を検出し、該接触領域の大きさに基づいて、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定することを特徴とする光断層画像化装置の光プローブ押付力推定方法。 A light source, branching means for branching the light emitted from the light source into measurement light and reference light, a measurement unit in the sheath, and irradiating the measurement light from the measurement unit toward the measurement object; An optical probe that acquires reflected light, a driving unit that rotates the measurement unit of the optical probe, and a reflected light acquired by the measurement unit of the optical probe and the reference light are combined to generate interference light. Optical tomographic imaging comprising wave means, interference light detection means for detecting the interference light as an interference signal, and optical tomographic image acquisition means for acquiring an optical tomographic image from the interference signal detected by the interference light detection means An optical probe pressing force estimation method for an apparatus, comprising:
An optical probe of an optical tomographic imaging apparatus that detects a contact area of the optical probe with respect to the measurement object and estimates a pressing force of the optical probe with respect to the measurement object based on a size of the contact area Pushing force estimation method.
前記光断層画像に基づいて、前記測定対象の表面の形状を検出し、該表面の形状に基づいて、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定することを特徴とする光断層画像化装置の光プローブ押付力推定方法。 A light source, branching means for branching the light emitted from the light source into measurement light and reference light, a measurement unit in the sheath, and irradiating the measurement light from the measurement unit toward the measurement object; An optical probe that acquires reflected light, a driving unit that rotates the measurement unit of the optical probe, and a reflected light acquired by the measurement unit of the optical probe and the reference light are combined to generate interference light. Optical tomographic imaging comprising wave means, interference light detection means for detecting the interference light as an interference signal, and optical tomographic image acquisition means for acquiring an optical tomographic image from the interference signal detected by the interference light detection means An optical probe pressing force estimation method for an apparatus, comprising:
An optical tomographic imaging apparatus that detects the shape of the surface of the measurement target based on the optical tomographic image and estimates the pressing force of the optical probe against the measurement target based on the shape of the surface Method for estimating the pressing force of the optical probe.
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---|---|---|---|
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Country Status (1)
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012137405A (en) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Fujifilm Corp | Diagnosis support device and method, and device and method for detecting lesion part |
JP2012135476A (en) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Fujifilm Corp | Diagnosis support apparatus, diagnosis support method, lesioned part detection apparatus, and lesioned part detection method |
JP2012135475A (en) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Fujifilm Corp | Diagnosis support apparatus, diagnosis support method, lesioned part detection apparatus, and lesioned part detection method |
WO2013146259A1 (en) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | テルモ株式会社 | Optical medical device and control method for optical medical device |
JP2014188275A (en) * | 2013-03-28 | 2014-10-06 | Nidek Co Ltd | Optical tomographic image photographing apparatus |
-
2010
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012137405A (en) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Fujifilm Corp | Diagnosis support device and method, and device and method for detecting lesion part |
JP2012135476A (en) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Fujifilm Corp | Diagnosis support apparatus, diagnosis support method, lesioned part detection apparatus, and lesioned part detection method |
JP2012135475A (en) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Fujifilm Corp | Diagnosis support apparatus, diagnosis support method, lesioned part detection apparatus, and lesioned part detection method |
WO2013146259A1 (en) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | テルモ株式会社 | Optical medical device and control method for optical medical device |
JP2014188275A (en) * | 2013-03-28 | 2014-10-06 | Nidek Co Ltd | Optical tomographic image photographing apparatus |
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