JP5064159B2 - Optical tomographic imaging system - Google Patents

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Description

本発明は、測定対象に光を照射し、その反射光から測定対象の断層画像を取得する光断層画像化装置、接触領域検出方法及びそれを用いた画像処理方法に関するものである。   The present invention relates to an optical tomographic imaging apparatus that irradiates light to a measurement object and acquires a tomographic image of the measurement object from reflected light, a contact area detection method, and an image processing method using the same.

生体組織等の測定対象を切断せずに断面画像を取得する方法として、OCT(Optical Coherence Tomography)計測を利用した光断層画像化装置がある。
このOCT計測は、光干渉計測の一種であり、光源から射出された光を測定光と参照光との2つに分け、測定光と参照光との光路長が光源のコヒーレンス長以内の範囲で一致したときにのみ光干渉が検出されることを利用した計測方法である。
As a method for acquiring a cross-sectional image without cutting a measurement target such as a living tissue, there is an optical tomographic imaging apparatus using OCT (Optical Coherence Tomography) measurement.
This OCT measurement is a type of optical interferometry, in which the light emitted from the light source is divided into measurement light and reference light, and the optical path length of the measurement light and reference light is within the coherence length of the light source. This is a measurement method using the fact that optical interference is detected only when they match.

このOCT計測を利用した光断層画像化装置としては、例えば、特許文献1に、光源と、光源から射出された光を測定光と基準光に分ける第1の光カップラ部と、測定光を測定対象に照射し、反射光を検出する測定部と、測定光と同じ光路長を導光された基準光と、反射光とを干渉させる第2のカップラ部と、干渉結果から断層の画像を検出する演算部を有する光断層画像化装置がある。
特許文献1の光断層画像化装置は、測定部の光ファイバが、ロータリージョイントで回転可能に接続されており、光ファイバを回転させつつ断層画像を取得することで2次元の断層像を取得する。つまり、光ファイバを回転させつつ、測定点の周辺の複数点の断層画像を取得することで、二次元画像を取得する。
As an optical tomographic imaging apparatus using this OCT measurement, for example, Patent Document 1 discloses a light source, a first optical coupler unit that divides light emitted from the light source into measurement light and reference light, and measurement light. A measurement unit that irradiates a target and detects reflected light, a reference light that is guided along the same optical path length as the measurement light, a second coupler that causes reflected light to interfere, and a tomographic image is detected from the interference result There is an optical tomographic imaging apparatus having an arithmetic unit for performing the above.
In the optical tomographic imaging apparatus disclosed in Patent Literature 1, the optical fiber of the measurement unit is rotatably connected by a rotary joint, and a two-dimensional tomographic image is acquired by acquiring a tomographic image while rotating the optical fiber. . That is, a two-dimensional image is acquired by acquiring tomographic images of a plurality of points around the measurement point while rotating the optical fiber.

特開2000−131222号公報JP 2000-131222 A

引用文献1の光断層画像化装置は、光ファイバの先端に設けた測定部を回転させつつ各位置の断層画像を取得することで周囲の二次元の断層画像を取得する装置であり、この光ファイバを気管支、尿管、血管等に挿入し、断層画像を取得することで、生体内部の断層画像を取得することができる。また、回転させることで測定部の全周の断層画像を取得することができる。
ここで、このような光断層画像化装置は、測定点を増やすことにより高精度で分解能の高い二次元の断層画像を取得することができる。高分解能な断層画像を取得することで、例えば、人体の断層画像を取得し病気等の診断に用いる場合に、より正確でより簡単に診断することが可能となる。
しかしながら、測定点が増加すると処理する情報量も増加するため、演算速度の速い高価な処理装置が必要となり、装置が高くなるという問題がある。また、情報量が多くなることで処理速度が低下し、測定結果を表示するのに時間がかかるという問題もある。
The optical tomographic imaging apparatus of the cited document 1 is an apparatus that acquires a surrounding two-dimensional tomographic image by acquiring a tomographic image at each position while rotating a measurement unit provided at the tip of an optical fiber. A tomographic image inside a living body can be acquired by inserting a fiber into a bronchus, ureter, blood vessel, or the like and acquiring a tomographic image. Further, it is possible to obtain a tomographic image of the entire circumference of the measurement unit by rotating.
Here, such an optical tomographic imaging apparatus can acquire a two-dimensional tomographic image with high accuracy and high resolution by increasing the number of measurement points. By acquiring a high-resolution tomographic image, for example, when a tomographic image of a human body is acquired and used for diagnosis of a disease or the like, a more accurate and simple diagnosis can be performed.
However, since the amount of information to be processed increases as the number of measurement points increases, there is a problem that an expensive processing device with a high calculation speed is required and the device becomes expensive. In addition, there is a problem that the processing speed is reduced due to the increase in the amount of information, and it takes time to display the measurement result.

本発明の目的は、上記従来技術に基づく問題点を解消し、効率よくかつ簡単に分解能の高い断層画像を作製することができる光断層画像化装置を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、光プローブの状態を容易に検出することができ、断層画像の精度の高い領域を容易に検出することが可能となる接触領域検出方法を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、効率よくかつ簡単に分解能が高く診断等に好適に用いることができる断層画像を取得することができる画像処理方法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide an optical tomographic imaging apparatus capable of solving the problems based on the above prior art and producing a tomographic image with high resolution efficiently and easily.
Another object of the present invention is to provide a contact area detection method capable of easily detecting the state of an optical probe and easily detecting a highly accurate area of a tomographic image. .
Another object of the present invention is to provide an image processing method capable of acquiring a tomographic image that is efficient and simple and has high resolution and can be suitably used for diagnosis and the like.

上記課題を解決するために、本発明者らは、鋭意検討した結果、光断層画像化装置は、測定部の全周の断層画像を検出しているが、測定部と接触していない部分の画像は、精度、分解能が低くなることを知見した。また、高精度、高分解能な画像を取得するためには、測定部と測定対象とが、接触または接触に近い状態であることが必要であることを知見した。   In order to solve the above-mentioned problem, the present inventors have conducted intensive studies, and as a result, the optical tomographic imaging apparatus detects a tomographic image of the entire circumference of the measurement unit, but does not contact the measurement unit. It was found that the image has low accuracy and resolution. Moreover, in order to acquire a highly accurate and high-resolution image, it discovered that a measurement part and a measuring object need to be in a contact or the state close | similar to a contact.

上記知見に基づいて、本発明者らは、上記課題を解決するために、本発明の第1の態様として、光源と、前記光源から射出された光を測定光と参照光に分岐する分岐部と、前記測定光を伝達する光ファイバ、前記光ファイバの先端部に配置され、測定対象に光を照射し、その反射光を取得する測定部、前記光ファイバ及び測定部の外周を覆い、前記測定部から光が射出される領域は透明な材料で形成されている外筒を備える光プローブと、前記測定部及び前記光ファイバを回転させる駆動部と、前記測定部で検出された反射光と、前記参照光を合波して干渉光を生成する合波部と、前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出部と、検出した前記干渉信号から前記光プローブと前記測定対象との距離を算出し、前記距離から前記光プローブと前記測定対象との接触領域を検出する接触検出部と、検出した前記干渉信号から断層画像を取得する断層画像取得部とを有する光断層画像化装置を提供するものである。   Based on the above knowledge, in order to solve the above problems, the present inventors, as a first aspect of the present invention, as a first aspect of the present invention, a light source and a branching unit that branches light emitted from the light source into measurement light and reference light And an optical fiber that transmits the measurement light, disposed at the tip of the optical fiber, irradiates the measurement target with light, covers the outer periphery of the optical fiber and the measurement unit, A region where light is emitted from the measurement unit includes an optical probe including an outer cylinder formed of a transparent material, a drive unit that rotates the measurement unit and the optical fiber, and reflected light detected by the measurement unit. A multiplexing unit that multiplexes the reference light to generate interference light, an interference light detection unit that detects the interference light as an interference signal, and a distance between the optical probe and the measurement target from the detected interference signal And calculate the optical probe from the distance. There is provided an optical tomographic imaging apparatus having the a contact detection unit for detecting a contact area measured, the tomographic image acquisition unit that acquires a tomographic image from the detected the interference signal.

ここで、前記接触検出部は、前記駆動部により前記測定部及び前記光ファイバが所定回数回転される毎に、接触状態を検出することが好ましい。
また、前記接触検出部は、算出した前記光プローブと前記測定対象との距離が一定以下の領域を、接触している状態として検出し、検出した結果から前記接触領域を検出することが好ましい。
さらに、前記断層画像取得部で取得した断層画像を表示する表示部を有することが好ましい。
また、前記断層画像取得部は、前記接触検出部で検出された接触領域のみの断層画像を取得することが好ましい。
さらに、前記接触検出部で検出された接触領域を変更する操作部を有することが好ましい。
Here, it is preferable that the contact detection unit detects a contact state each time the measurement unit and the optical fiber are rotated a predetermined number of times by the driving unit.
Moreover, it is preferable that the said contact detection part detects the area | region where the distance of the calculated said optical probe and the said measuring object is below fixed as a contact state, and detects the said contact area | region from the detected result.
Furthermore, it is preferable to have a display unit that displays the tomographic image acquired by the tomographic image acquisition unit.
Moreover, it is preferable that the tomographic image acquisition unit acquires a tomographic image of only the contact area detected by the contact detection unit.
Furthermore, it is preferable to have an operation unit that changes the contact area detected by the contact detection unit.

さらに、前記参照光の光路上に設けられ前記参照光の光路長を調整する光路長調整部を有し、前記光路長調整手段により前記参照光の光路長を変化させることで、測定対象の深さ方向の位置毎の干渉光を生成することが好ましい。
または、前記干渉光検出部は、光のスペクトル成分毎に干渉信号を検出し、前記接触検出部は、前記干渉信号を周波数解析し、解析結果から前記光プローブと前記測定対象との距離を算出し、前記断層画像取得部は、前記干渉信号を周波数解析し、解析結果から断層画像を取得することが好ましい。
Further, the optical path length adjusting unit is provided on the optical path of the reference light, and adjusts the optical path length of the reference light. It is preferable to generate interference light for each position in the vertical direction.
Alternatively, the interference light detection unit detects an interference signal for each spectral component of light, and the contact detection unit frequency-analyzes the interference signal and calculates a distance between the optical probe and the measurement target from the analysis result. Preferably, the tomographic image acquisition unit performs frequency analysis on the interference signal and acquires a tomographic image from the analysis result.

また、上記課題を解決するために、本発明の第2の態様として、光プローブの先端に設けられた、測定対象に測定光を照射して反射した反射光を取得する測定部を回転させ、前記測定部が取得した反射光と参照光とを合波した干渉光から測定対象の断層画像を取得する光断層画像化装置の光プローブと測定対象との接触状態を検出する接触領域検出方法であって、前記測定部から測定光を射出して反射光を取得し、前記光プローブの外周位置を検出するプローブ位置取得ステップと、前記測定対象を測定する位置で、前記測定部を回転させ、測定光を射出させ反射光を取得し、反射光から前記測定対象の表面の位置を検出する測定対象位置検出ステップと、前記測定対象と前記光プローブの外周との距離とを検出する距離検出ステップと、前記光プローブの外周と前記測定対象の表面との距離が一定以下の領域を前記光プローブが前記測定対象に接触していると判定する接触位置判定ステップと、前記接触位置判定ステップで判定した結果から前記光プローブの外周と前記接触対象の表面との接触領域を検出する接触領域検出ステップとを有する接触領域検出方法を提供するものである。   Further, in order to solve the above-mentioned problem, as a second aspect of the present invention, a measurement unit provided at the tip of the optical probe that irradiates the measurement object with the measurement light and acquires the reflected light is rotated, A contact region detection method for detecting a contact state between an optical probe and a measurement target of an optical tomographic imaging apparatus that acquires a tomographic image of the measurement target from interference light obtained by combining the reflected light and the reference light acquired by the measurement unit. The measurement light is emitted from the measurement unit to obtain reflected light, the probe position acquisition step of detecting the outer peripheral position of the optical probe, and the measurement unit is rotated at the position to measure the measurement object, A measurement target position detecting step for emitting measurement light to obtain reflected light, detecting a position of the surface of the measurement target from the reflected light, and a distance detection step for detecting a distance between the measurement target and the outer periphery of the optical probe And before From the contact position determination step for determining that the optical probe is in contact with the measurement object in a region where the distance between the outer circumference of the optical probe and the surface of the measurement object is constant or less, and the result of determination in the contact position determination step A contact area detection method including a contact area detection step of detecting a contact area between an outer periphery of the optical probe and a surface of the contact target is provided.

ここで、前記測定対象位置検出ステップは、前記光プローブ外周よりも外側で前記反射光の強度が一定の敷居値を越えたピークの位置を測定対象の表面として検出することが好ましい。
さらに、前記測定対象と接触していると判断する距離を設定する距離設定ステップを有することが好ましい。
Here, it is preferable that the measurement target position detection step detects a peak position outside the outer periphery of the optical probe where the intensity of the reflected light exceeds a certain threshold value as the surface of the measurement target.
Furthermore, it is preferable to have a distance setting step for setting a distance for determining that the object is in contact with the measurement object.

また、上記課題を解決するために本発明の第3の態様として、測定対象の断層画像を取得する画像処理方法であって、上記のいずれかに記載の接触領域検出方法で、前記光プローブと前記測定対象との接触領域を検出し、設定する接触領域設定ステップと、前記測定部を回転させつつ反射光を取得して前記干渉光を生成し、前記干渉光を干渉信号として取得する干渉信号取得ステップと、前記接触領域検出ステップで検出した前記接触領域の前記干渉信号のみを処理し、断層画像を取得する断層画像取得ステップを有する画像処理方法を提供するものである。   In order to solve the above-mentioned problem, as a third aspect of the present invention, there is provided an image processing method for acquiring a tomographic image of a measurement object, wherein the contact region detection method according to any one of the above, A contact area setting step for detecting and setting a contact area with the measurement object; an interference signal for generating reflected light by rotating the measurement unit to generate the interference light and acquiring the interference light as an interference signal; There is provided an image processing method including an acquisition step and a tomographic image acquisition step of acquiring only a tomographic image by processing only the interference signal of the contact region detected in the contact region detection step.

さらに、前記取得した断層画像を回転・範囲拡大して画面上に表示させる表示ステップを有することが好ましい。   Furthermore, it is preferable to have a display step of displaying the acquired tomographic image on the screen by rotating and enlarging the range.

本発明によれば、測定部と測定対象との接触状態を検出することで、分解能が高く有効な部分を検出することができる。これにより、有効部分の認識、選択的な処理が可能となる。
さらに、測定部と測定対象とが接触していると判定した接触領域のみを処理することで、情報の処理量を少なくすることができる。また、測定部と測定対象との接触の有無を検出し、優先度が低く信頼性の低い断層画像となる領域の情報を処理せず、高分解能な断層画像を取得できる領域の情報を選択的に処理することで、処理情報量を減らし、且つ高分解能で高品質な断層画像を読み取ることができる。
According to the present invention, an effective portion with high resolution can be detected by detecting the contact state between the measurement unit and the measurement object. As a result, the effective portion can be recognized and selectively processed.
Furthermore, the processing amount of information can be reduced by processing only the contact area determined to be in contact with the measurement unit and the measurement object. In addition, it detects the presence or absence of contact between the measurement unit and the measurement target, and does not process the information of the area that becomes a low-priority, low-reliability tomographic image. By processing in this manner, the amount of processing information can be reduced, and a high-quality and high-quality tomographic image can be read.

本発明に係るに接触領域検出方法、これを用いる画像処理方法、及び光断層画像化装置について、添付の図面に示す実施形態を基に詳細に説明する。   A contact region detection method, an image processing method using the contact region detection method, and an optical tomographic imaging apparatus according to the present invention will be described in detail based on embodiments shown in the accompanying drawings.

図1は、本発明の接触領域検出方法及び画像処理方法を用いる本発明の光断層画像化装置の一実施形態の光断層画像化装置10の概略構成を示すブロック図であり、図2は、図1に示す光断層画像化装置10の光プローブ16の先端部を拡大して示す部分断面図であり、図3は、図1に示す光断層画像化装置10の処理部24の概略構成を示すブロック図である。   FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of an optical tomographic imaging apparatus 10 of an embodiment of the optical tomographic imaging apparatus of the present invention using the contact area detection method and the image processing method of the present invention. FIG. 3 is an enlarged partial cross-sectional view showing a distal end portion of the optical probe 16 of the optical tomographic imaging apparatus 10 shown in FIG. 1, and FIG. 3 shows a schematic configuration of the processing unit 24 of the optical tomographic imaging apparatus 10 shown in FIG. FIG.

図1に示すように、光断層画像化装置10は、光を射出する光源ユニット12と、光源ユニット12から射出された光を測定光と参照光に分岐し、かつ、反射光と参照光を合波して干渉光を生成する分岐合波部14と、測定光を導光し測定対象に照射し、さらに測定対象からの反射光を取得する光プローブ16と、参照光の光路長を調整する光路長調整部18と、分岐合波部14で生成された干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出部20と、干渉光検出部20で検出された干渉信号を処理する処理部22と、処理部22で取得された光断層画像(以下単に「断層画像」ともいう。)を表示する表示部24とを有する。さらに、光断層画像化装置10は、光プローブの測定部等を回転させる回転駆動部26と、光源ユニット12から射出された光を分光する光ファイバカプラ28と、参照光を検出する検出部30aと反射光を検出する検出部30bと、処理部22や表示部24等への各種条件の入力、設定の変更等を行う操作制御部32とを有する。また、光の経路として光ファイバを用い、各部に測定光、参照光、反射光等を導光している。
以下、各部について詳細に説明する。
As shown in FIG. 1, the optical tomographic imaging apparatus 10 includes a light source unit 12 that emits light, branches light emitted from the light source unit 12 into measurement light and reference light, and also reflects reflected light and reference light. A branching / combining unit 14 that generates interference light by multiplexing, an optical probe 16 that guides measurement light to irradiate the measurement target, and obtains reflected light from the measurement target, and adjusts the optical path length of the reference light An optical path length adjusting unit 18, an interference light detecting unit 20 that detects the interference light generated by the branching and multiplexing unit 14 as an interference signal, and a processing unit 22 that processes the interference signal detected by the interference light detecting unit 20. And a display unit 24 for displaying the optical tomographic image acquired by the processing unit 22 (hereinafter also simply referred to as “tomographic image”). Furthermore, the optical tomographic imaging apparatus 10 includes a rotation drive unit 26 that rotates a measurement unit of the optical probe, an optical fiber coupler 28 that splits light emitted from the light source unit 12, and a detection unit 30a that detects reference light. And a detection unit 30b that detects reflected light, and an operation control unit 32 that inputs various conditions to the processing unit 22 and the display unit 24, changes settings, and the like. Further, an optical fiber is used as a light path, and measurement light, reference light, reflected light, and the like are guided to each part.
Hereinafter, each part will be described in detail.

光源ユニット12は半導体光増幅器40と、光分岐器42と、コリメータレンズ44と、回折格子素子46と、光学系48と、回転多面鏡50とを有し、周波数を一定の周期で掃引させたレーザ光Laを射出する。   The light source unit 12 includes a semiconductor optical amplifier 40, an optical splitter 42, a collimator lens 44, a diffraction grating element 46, an optical system 48, and a rotary polygon mirror 50, and the frequency is swept at a constant period. A laser beam La is emitted.

半導体光増幅器(半導体利得媒質)40は、駆動電流が印加されることで、微弱な放出光を射出し、また、入射された光を増幅する。この半導体光増幅器40には、光ファイバFB10が接続されている。具体的には、光ファイバFB10の一端は、半導体光増幅器40から光が射出される部分に接続され、光ファイバFB10の他端は、半導体光増幅器40に光を入射する部分に接続されており、半導体光増幅器40から射出された光は、光ファイバFB10に射出され、再び半導体光増幅器40に入射する。
このように、半導体光増幅器40および光ファイバFB10で光路のループを形成することで、半導体光増幅器40および光ファイバFB10が光共振器となり、半導体光増幅器40に駆動電流が印加されることで、パルス状のレーザ光が生成される。
The semiconductor optical amplifier (semiconductor gain medium) 40 emits weak emission light and amplifies incident light when a drive current is applied. An optical fiber FB10 is connected to the semiconductor optical amplifier 40. Specifically, one end of the optical fiber FB10 is connected to a portion where light is emitted from the semiconductor optical amplifier 40, and the other end of the optical fiber FB10 is connected to a portion where light enters the semiconductor optical amplifier 40. The light emitted from the semiconductor optical amplifier 40 is emitted to the optical fiber FB10 and enters the semiconductor optical amplifier 40 again.
Thus, by forming a loop of the optical path with the semiconductor optical amplifier 40 and the optical fiber FB10, the semiconductor optical amplifier 40 and the optical fiber FB10 become an optical resonator, and a drive current is applied to the semiconductor optical amplifier 40. Pulsed laser light is generated.

光分岐器42は、光ファイバFB10の光路上に設けられ、光ファイバFB11とも接続している。光分岐器42は、光ファイバFB10内を導波する光の一部を光ファイバFB11に分岐させる。
コリメータレンズ44は、光ファイバFB11の他端、つまり光ファイバFB10と接続していない端部に配置され、光ファイバFB11から射出された光を平行光にする。
回折格子素子46は、コリメータレンズ44で生成された平行光の光路上に所定角度傾斜して配置されている。回折格子素子46は、コリメータレンズ44から射出される平行光を分光する。
光学系48は、回折格子素子46で分光された光の光路上に配置されている。光学系48は、複数のレンズで構成されており、回折格子素子46で分光された光を屈折させ、屈折させた光を平行光にする。
回転多面鏡50は、光学系48で生成された平行光の光路上に配置され、平行光を反射する。回転多面鏡50は、図1中R1方向に等速で回転する回転体であり、回転軸に垂直な面が正八角形であり、平行光が照射される側面(八角形の各辺を構成する面)が照射された光を反射する反射面で構成されている。
回転多面鏡50は、回転することで、各反射面の角度を光学系48の光軸に対して変化させる。
The optical splitter 42 is provided on the optical path of the optical fiber FB10 and is also connected to the optical fiber FB11. The optical branching device 42 branches a part of the light guided in the optical fiber FB10 to the optical fiber FB11.
The collimator lens 44 is disposed at the other end of the optical fiber FB11, that is, the end not connected to the optical fiber FB10, and makes the light emitted from the optical fiber FB11 parallel light.
The diffraction grating element 46 is disposed at a predetermined angle on the optical path of the parallel light generated by the collimator lens 44. The diffraction grating element 46 splits the parallel light emitted from the collimator lens 44.
The optical system 48 is disposed on the optical path of the light split by the diffraction grating element 46. The optical system 48 is composed of a plurality of lenses, refracts the light split by the diffraction grating element 46, and converts the refracted light into parallel light.
The rotating polygon mirror 50 is disposed on the optical path of the parallel light generated by the optical system 48 and reflects the parallel light. The rotating polygon mirror 50 is a rotating body that rotates at a constant speed in the R1 direction in FIG. 1. A surface perpendicular to the rotation axis is a regular octagon, and a side surface (each side of the octagon is irradiated with parallel light). Surface) is formed of a reflecting surface that reflects the irradiated light.
The rotating polygon mirror 50 rotates to change the angle of each reflecting surface with respect to the optical axis of the optical system 48.

光ファイバFB11から射出された光は、コリメータレンズ44、回折格子素子46、光学系48を通り、回転多面鏡50で反射される。反射された光は、光学系48、回折格子素子46、コリメータレンズ44を通り、光ファイバFB11に入射する。
ここで、上述したように、回転多面鏡50の反射面の角度が光学系48の光軸に対して変化するため、回転多面鏡50が光を反射する角度は時間により変化する。このため、回折格子素子46により分光された光のうち、特定の周波数域の光だけが再び光ファイバFB11に入射する。ここで、光ファイバFB11に入射する特定の周波数域の光は、光学系48の光軸と回転多面鏡50の反射面との角度により決まるため、光ファイバFB11に入射する光の周波数域は、光学系48の光軸と回転多面鏡50の反射面との角度により変化する。
The light emitted from the optical fiber FB11 passes through the collimator lens 44, the diffraction grating element 46, and the optical system 48, and is reflected by the rotary polygon mirror 50. The reflected light passes through the optical system 48, the diffraction grating element 46, and the collimator lens 44 and enters the optical fiber FB11.
Here, as described above, since the angle of the reflecting surface of the rotating polygon mirror 50 changes with respect to the optical axis of the optical system 48, the angle at which the rotating polygon mirror 50 reflects light changes with time. For this reason, only the light in a specific frequency region out of the light dispersed by the diffraction grating element 46 is incident on the optical fiber FB11 again. Here, since the light in a specific frequency range incident on the optical fiber FB11 is determined by the angle between the optical axis of the optical system 48 and the reflecting surface of the rotary polygon mirror 50, the frequency range of the light incident on the optical fiber FB11 is It changes depending on the angle between the optical axis of the optical system 48 and the reflecting surface of the rotary polygon mirror 50.

光ファイバFB11に入射した特定の周波数域の光は、光分岐器42から光ファイバFB10に入射され、光ファイバFB10の光と合波される。これにより、光ファイバFB10に導光されるパルス状のレーザ光は、特定の周波数域のレーザ光となり、この特定周波数域のレーザ光Laが光ファイバFB1に射出される。
ここで、回転多面鏡50が矢印R1方向に等速で回転しているため、再び光ファイバFB11に入射される光の波長λは、時間の経過に伴って一定の周期で変化する。これにより、光ファイバFB1に射出されるレーザ光Laの周波数も、時間の経過に伴った一定の周期で変化する。
The light in a specific frequency range that has entered the optical fiber FB11 is incident on the optical fiber FB10 from the optical splitter 42, and is combined with the light in the optical fiber FB10. Thereby, the pulsed laser light guided to the optical fiber FB10 becomes laser light in a specific frequency range, and the laser light La in the specific frequency range is emitted to the optical fiber FB1.
Here, since the rotary polygon mirror 50 is rotating at a constant speed in the direction of the arrow R1, the wavelength λ of the light incident on the optical fiber FB11 again changes with a constant period as time passes. As a result, the frequency of the laser light La emitted to the optical fiber FB1 also changes at a constant period with the passage of time.

光源ユニット12は、このような構成であり、波長掃引されたレーザ光Laを光ファイバFB1側に射出する。   The light source unit 12 has such a configuration, and emits the laser light La swept in wavelength toward the optical fiber FB1.

次に、分岐合波部14は、例えば2×2の光ファイバカプラで構成されており、光ファイバFB1、光ファイバFB2、光ファイバFB3、光ファイバFB4とそれぞれ光学的に接続されている。
分岐合波部14は、光源ユニット12から光ファイバFB1を介して入射した光Laを測定光L1と参照光L2とに分割し、測定光L1を光ファイバFB2に入射させ、参照光L2を光ファイバFB3に入射させる。
さらに、分岐合波部14は、光ファイバFB3に入射され、後述する光路長調整部18により周波数シフトおよび光路長の変更が施された後、光ファイバFB3を戻り、分岐合波部14に入射した参照光L2と、後述する光プローブで取得され、光ファイバFB2から分岐合波部14に入射した測定対象Sからの反射光L3とを合波し、光ファイバFB4に射出する。
Next, the branching / combining unit 14 is configured by, for example, a 2 × 2 optical fiber coupler, and is optically connected to the optical fiber FB1, the optical fiber FB2, the optical fiber FB3, and the optical fiber FB4, respectively.
The branching / combining unit 14 divides the light La incident from the light source unit 12 through the optical fiber FB1 into the measurement light L1 and the reference light L2, and causes the measurement light L1 to enter the optical fiber FB2, and the reference light L2 is emitted as light. The light is incident on the fiber FB3.
Further, the branching / combining unit 14 is incident on the optical fiber FB3, and after the frequency shift and the optical path length are changed by the optical path length adjusting unit 18 to be described later, returns to the optical fiber FB3 and enters the branching / multiplexing unit 14 The reference light L2 obtained and the reflected light L3 from the measuring object S, which is acquired by the optical probe described later and is incident on the branching / combining unit 14 from the optical fiber FB2, are combined and emitted to the optical fiber FB4.

光プローブ16は、回転駆動部26を介して、光ファイバFB2と接続されており、光ファイバFB2から測定光L1が入射され、入射された測定光L1を測定対象Sに照射し、測定対象Sからの反射光L3を取得し、取得した反射光L3を光ファイバFB2に射出する。
この光プローブ16は、図2に示すように、プローブ外筒52と、キャップ54と、光ファイバ56と、バネ58と、固定部材60と、光学レンズ62とを有する。
The optical probe 16 is connected to the optical fiber FB2 via the rotation drive unit 26, and the measurement light L1 is incident from the optical fiber FB2, and the measurement light S1 is irradiated to the measurement target S. The reflected light L3 from is acquired, and the acquired reflected light L3 is emitted to the optical fiber FB2.
As shown in FIG. 2, the optical probe 16 includes a probe outer cylinder 52, a cap 54, an optical fiber 56, a spring 58, a fixing member 60, and an optical lens 62.

プローブ外筒(シース)52は、可撓性を有する筒状の部材であり、測定光L1および反射光L3が透過する材料からなっている。なお、プローブ外筒52は、測定光L1および反射光L3が通過する先端(光ファイバFB2が配置されている側とは反対側の端部)側の一部が光を透過する材料(つまり透明な材料)で形成されていればよい。
キャップ54は、プローブ外筒52の先端(光ファイバFB2が配置されている側とは反対側の端部)に設けられ、プローブ外筒52の先端を閉塞している。
The probe outer cylinder (sheath) 52 is a cylindrical member having flexibility, and is made of a material through which the measurement light L1 and the reflected light L3 are transmitted. The probe outer cylinder 52 is made of a material (that is, transparent) at which part of the tip (end opposite to the side where the optical fiber FB2 is disposed) through which the measurement light L1 and the reflected light L3 pass is transmitted. It is only necessary that the material is made of any material.
The cap 54 is provided at the tip of the probe outer cylinder 52 (the end opposite to the side where the optical fiber FB2 is disposed), and closes the tip of the probe outer cylinder 52.

光ファイバ56は、線状部材であり、プローブ外筒52内にプローブ外筒52に沿って収容されており、光ファイバFB2から射出された測定光L1を光学レンズ62まで導波するとともに、測定光L1を測定対象Sに照射して光学レンズ62で取得した測定対象Sからの反射光L3を光ファイバFB2まで導波する。
ここで、光ファイバ56と光ファイバFB2とは、ロータリージョイント等で接続されており、光ファイバ56の回転が光ファイバFB2に伝達しない状態で、光学的に接続されている。また、光ファイバ56は、プローブ外筒52に対して回転自在な状態で配置されている。
バネ58は、光ファイバ56の外周に固定されている。また、光ファイバ56及びバネ58は、回転駆動部26に接続されている。
The optical fiber 56 is a linear member, is accommodated in the probe outer cylinder 52 along the probe outer cylinder 52, guides the measurement light L1 emitted from the optical fiber FB2 to the optical lens 62, and performs measurement. The reflected light L3 from the measuring object S acquired by the optical lens 62 is guided to the optical fiber FB2 by irradiating the measuring object S with the light L1.
Here, the optical fiber 56 and the optical fiber FB2 are connected by a rotary joint or the like, and are optically connected in a state where the rotation of the optical fiber 56 is not transmitted to the optical fiber FB2. Further, the optical fiber 56 is disposed in a state of being rotatable with respect to the probe outer cylinder 52.
The spring 58 is fixed to the outer periphery of the optical fiber 56. The optical fiber 56 and the spring 58 are connected to the rotation drive unit 26.

光学レンズ62は、光ファイバ56の先端(光ファイバFB2との接続している側とは反対側の端部)に配置されており、先端部が、光ファイバ56から射出された測定光L1を測定対象Sに対し集光するために略球状の形状で形成されている。
光学レンズ62は、光ファイバ56から射出した測定光L1を測定対象Sに対し照射し、測定対象Sからの反射光L3を集光し光ファイバ56に入射する。
固定部材60は、光ファイバ56と光学レンズ62との接続部の外周に配置されており、光学レンズ62を光ファイバ56の端部に固定する。ここで、固定部材による光ファイバ56と光学レンズ62の固定方法は特に限定されず、接着剤により、固定部材と光ファイバ56及び光学レンズ62を接着させて固定させても、ボルト等を用い機械的構造で固定してもよい。
The optical lens 62 is disposed at the distal end of the optical fiber 56 (the end opposite to the side connected to the optical fiber FB2), and the distal end receives the measurement light L1 emitted from the optical fiber 56. In order to collect light with respect to the measuring object S, it is formed in a substantially spherical shape.
The optical lens 62 irradiates the measuring object S with the measuring light L 1 emitted from the optical fiber 56, collects the reflected light L 3 from the measuring object S, and enters the optical fiber 56.
The fixing member 60 is disposed on the outer periphery of the connection portion between the optical fiber 56 and the optical lens 62, and fixes the optical lens 62 to the end portion of the optical fiber 56. Here, the fixing method of the optical fiber 56 and the optical lens 62 by the fixing member is not particularly limited. Even if the fixing member, the optical fiber 56 and the optical lens 62 are bonded and fixed by an adhesive, a machine using a bolt or the like is used. It may be fixed with a mechanical structure.

また、回転駆動部26は、光ファイバ56及びバネ58と接続されており、光ファイバ56及びバネ58を回転させることで、光学レンズ62をプローブ外筒11に対し矢印R2方向に回転させる。また、回転駆動部26は、回転エンコーダを備え(図示せず)、回転エンコーダからの信号に基づいて光学レンズ62の位置情報(角度情報)から測定光L1の照射位置を検出する。つまり、回転している光学レンズ62の回転方向における基準位置に対する角度を検出して、測定位置を検出する。   The rotation driving unit 26 is connected to the optical fiber 56 and the spring 58, and rotates the optical fiber 56 and the spring 58 to rotate the optical lens 62 in the direction of the arrow R2 with respect to the probe outer cylinder 11. The rotation drive unit 26 includes a rotation encoder (not shown), and detects the irradiation position of the measurement light L1 from the position information (angle information) of the optical lens 62 based on a signal from the rotation encoder. That is, the measurement position is detected by detecting the angle of the rotating optical lens 62 with respect to the reference position in the rotation direction.

光プローブ10は、以上のような構成であり、回転駆動部26により光ファイバ56及びバネ58が図2中矢印R2方向に回転されることで、光学レンズ62から射出される測定光L1を測定対象Sに対し矢印R1方向(プローブ外筒52の円周方向)に対し走査しながら照射し、反射光L3を取得する。
これにより、プローブ外筒52の円周方向の全周において、測定対象Sを反射した反射光L3を取得することができる。
The optical probe 10 is configured as described above, and the measurement light L1 emitted from the optical lens 62 is measured by rotating the optical fiber 56 and the spring 58 in the direction of the arrow R2 in FIG. The target S is irradiated while scanning in the direction of arrow R1 (circumferential direction of the probe outer cylinder 52), and the reflected light L3 is acquired.
Thereby, the reflected light L3 reflected from the measuring object S can be acquired over the entire circumference of the probe outer cylinder 52 in the circumferential direction.

光路長調整部18は、光ファイバFB3の参照光L2の射出側(つまり、光ファイバFB3の分岐合波部14とは反対側の端部)に配置されている。
光路長調整部18は、光ファイバFB3から射出された光を平行光にする第1光学レンズ64と、第1光学レンズ64で平行光にされた光を集光する第2光学レンズ66と、第2光学レンズ66で集光された光を反射する反射ミラー68と、第2光学レンズ66及び反射ミラー68を支持する基台70と、基台70を光軸方向に平行な方向に移動させるミラー駆動機構72とを有し、第1光学レンズ64と第2光学レンズ66との距離を変化させることで参照光L2の光路長を調整する。
The optical path length adjusting unit 18 is arranged on the reference light L2 emission side of the optical fiber FB3 (that is, the end of the optical fiber FB3 opposite to the branching / combining unit 14).
The optical path length adjustment unit 18 includes a first optical lens 64 that converts the light emitted from the optical fiber FB3 into parallel light, a second optical lens 66 that condenses the light converted into parallel light by the first optical lens 64, and A reflection mirror 68 that reflects the light collected by the second optical lens 66, a base 70 that supports the second optical lens 66 and the reflection mirror 68, and the base 70 are moved in a direction parallel to the optical axis direction. And a mirror drive mechanism 72, and adjusts the optical path length of the reference light L2 by changing the distance between the first optical lens 64 and the second optical lens 66.

第1光学レンズ64は、光ファイバFB3のコアから射出された参照光L2を平行光にするとともに、反射ミラー68で反射された参照光L2を光ファイバFB3のコアに集光する。
第2光学レンズ66は、第1光学レンズ64により平行光にされた参照光L2を反射ミラー68上に集光するとともに、反射ミラー68により反射された参照光L2を平行光にする。このように、第1光学レンズ64と第2光学レンズ66とにより共焦点光学系が形成されている。
また、反射ミラー68は、第2光学レンズ66で集光される光の焦点に配置されており、第2光学レンズ66で集光された参照光L2を反射する。
The first optical lens 64 converts the reference light L2 emitted from the core of the optical fiber FB3 into parallel light, and condenses the reference light L2 reflected by the reflection mirror 68 on the core of the optical fiber FB3.
The second optical lens 66 condenses the reference light L2 made parallel by the first optical lens 64 on the reflection mirror 68, and makes the reference light L2 reflected by the reflection mirror 68 parallel. Thus, the first optical lens 64 and the second optical lens 66 form a confocal optical system.
The reflection mirror 68 is disposed at the focal point of the light collected by the second optical lens 66 and reflects the reference light L2 collected by the second optical lens 66.

これにより、光ファイバFB3から射出した参照光L2は、第1光学レンズ64により平行光になり、第2光学レンズ66により反射ミラー68上に集光される。その後、反射ミラー68により反射された参照光L2は、第2光学レンズ66により平行光になり、第1光学レンズ64により光ファイバFB3のコアに集光される。   As a result, the reference light L2 emitted from the optical fiber FB3 becomes parallel light by the first optical lens 64 and is condensed on the reflection mirror 68 by the second optical lens 66. Thereafter, the reference light L2 reflected by the reflecting mirror 68 becomes parallel light by the second optical lens 66, and is condensed on the core of the optical fiber FB3 by the first optical lens 64.

また、基台70は、第2光学レンズ66と反射ミラー68とを固定し、ミラー移動機構72は、基台70を第1光学レンズ64の光軸方向(図1矢印A方向)に移動させる。
ミラー移動機構72で、基台70を矢印A方向に移動させることで、第1光学レンズ64と第2光学レンズ66との距離を変更することができ、参照光L2の光路長を調整することができる。
The base 70 fixes the second optical lens 66 and the reflection mirror 68, and the mirror moving mechanism 72 moves the base 70 in the optical axis direction of the first optical lens 64 (direction of arrow A in FIG. 1). .
The distance between the first optical lens 64 and the second optical lens 66 can be changed by moving the base 70 in the arrow A direction by the mirror moving mechanism 72, and the optical path length of the reference light L2 can be adjusted. Can do.

干渉光検出部20は、光ファイバFB4と接続されており、分岐合波部14で参照光L2と反射光L3とを合波して生成された干渉光L4を干渉信号として検出する。
ここで、光断層画像化装置10は、光ファイバFB1から光ファイバFB5にレーザ光Laを分岐する光ファイバカプラ28と、光ファイバカプラ28から分岐させた光ファイバFB5に設けられ、分岐されたレーザ光Laの光強度を検出する検出器30aと、光ファイバFB4の光路上に干渉光L4の光強度を検出する検出器30bとを有する。
干渉光検出部20は、検出器30a及び検出器30bの検出結果に基づいて、光ファイバFB4から検出する干渉光L4の光強度のバランスを調整する。
The interference light detection unit 20 is connected to the optical fiber FB4, and detects the interference light L4 generated by combining the reference light L2 and the reflected light L3 by the branching / combining unit 14 as an interference signal.
Here, the optical tomographic imaging apparatus 10 is provided in an optical fiber coupler 28 that branches the laser light La from the optical fiber FB1 to the optical fiber FB5, and an optical fiber FB5 that is branched from the optical fiber coupler 28. It has a detector 30a for detecting the light intensity of the light La, and a detector 30b for detecting the light intensity of the interference light L4 on the optical path of the optical fiber FB4.
The interference light detection unit 20 adjusts the balance of the light intensity of the interference light L4 detected from the optical fiber FB4 based on the detection results of the detectors 30a and 30b.

処理部22は、干渉光検出部20で検出した干渉信号から、測定位置における光プローブ16と測定対象Sとの接触している領域、より正確には、光プローブ16のプローブ外筒52の表面と測定対象Sの表面とが接触しているとみなせる領域を検出し、さらに、干渉光検出部20で検出した干渉信号から、断層画像を取得する。
図3に示すように、処理部22は、干渉信号取得手段80と、A/D変換手段82と、接触領域検出手段84と、断層画像生成手段86と、画像補正手段88とを有する。
From the interference signal detected by the interference light detection unit 20, the processing unit 22 is a region where the optical probe 16 and the measurement target S are in contact at the measurement position, more precisely, the surface of the probe outer cylinder 52 of the optical probe 16. A region that can be considered to be in contact with the surface of the measuring object S is detected, and a tomographic image is acquired from the interference signal detected by the interference light detection unit 20.
As illustrated in FIG. 3, the processing unit 22 includes an interference signal acquisition unit 80, an A / D conversion unit 82, a contact area detection unit 84, a tomographic image generation unit 86, and an image correction unit 88.

干渉信号取得手段80は、干渉光検出部20で検出された干渉信号を取得し、さらに、回転駆動機構26で検出された測定位置の情報、具体的には、回転方向における光学レンズ62の位置情報から検出された測定位置の位置情報を取得し、干渉信号と測定位置の位置情報を対応付ける。
ここで、図4は、光プローブの測定位置の位置情報を説明するための説明図である。
本実施形態では、光学レンズ62の回転速度と、測定光L1の周波数を掃引させる周期とから、光学レンズ62の1回転あたりの測定回数が決定する。本実施形態では、光学レンズ62が1回転する間に干渉信号を1024回取得する。また、光学レンズ62の回転と、干渉信号の取得(つまり測定光L1の掃引の周期)は、一定である。
したがって、図4に示すように、測定光L1の位置、つまり測定位置は、n=1から順に回転中心を中心として所定角度ずつ移動していく。このように干渉信号を取得した位置は、所定角度ずつ移動するため、それぞれの干渉信号の測定位置にライン番号nを対応付けることができる。また、光学レンズ62は回転しているため、n=1024の測定位置とn=1の測定位置とは隣接している。
測定位置の位置情報が対応付けられた干渉信号は、A/D変換手段82に送られる。
The interference signal acquisition unit 80 acquires the interference signal detected by the interference light detection unit 20, and further, information on the measurement position detected by the rotation drive mechanism 26, specifically, the position of the optical lens 62 in the rotation direction. The position information of the measurement position detected from the information is acquired, and the interference signal is associated with the position information of the measurement position.
Here, FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining the position information of the measurement position of the optical probe.
In the present embodiment, the number of measurements per rotation of the optical lens 62 is determined from the rotational speed of the optical lens 62 and the cycle of sweeping the frequency of the measurement light L1. In the present embodiment, the interference signal is acquired 1024 times while the optical lens 62 rotates once. Further, the rotation of the optical lens 62 and the acquisition of the interference signal (that is, the scanning cycle of the measurement light L1) are constant.
Therefore, as shown in FIG. 4, the position of the measurement light L1, that is, the measurement position, moves from the rotation center by a predetermined angle in order from n = 1. Since the position where the interference signal is acquired in this way moves by a predetermined angle, the line number n can be associated with the measurement position of each interference signal. Since the optical lens 62 is rotating, the measurement position n = 1024 and the measurement position n = 1 are adjacent to each other.
The interference signal associated with the position information of the measurement position is sent to the A / D conversion means 82.

A/D変換手段82は、干渉信号取得手段80で測定位置の位置情報と対応つけられたアナログ信号として出力されている干渉信号をデジタル信号に変換する。
測定位置の位置情報が対応付けられ、デジタル変換された干渉信号は、接触領域検出手段84及び断層情報精生成手段86に送られる。
The A / D conversion unit 82 converts the interference signal output as an analog signal associated with the position information of the measurement position by the interference signal acquisition unit 80 into a digital signal.
The interference signal that is associated with the position information of the measurement position and digitally converted is sent to the contact area detection means 84 and the tomographic information refinement generation means 86.

接触領域検出手段84は、A/D変換手段82でデジタル信号に変換された干渉信号をFFT(高速フーリエ変換)にかけ干渉信号の周波数成分と強度との関係を取得し、検出した周波数成分と強度との関係の周波数成分と、深さ方向(回転中心から離れる方向)とを対応つけることで、深さ方向と強度との関係の情報を取得する。接触領域検出手段84は、深さ方向と強度との関係の情報から、測定光L1が透過する位置におけるプローブ外筒52の表面の位置(以下「プローブ外周の位置」という。)及び測定光L1が透過する位置におけるプローブ外筒52と測定対象Sとの接触領域を検出する。   The contact area detection unit 84 applies an FFT (Fast Fourier Transform) to the interference signal converted into a digital signal by the A / D conversion unit 82, acquires the relationship between the frequency component and the intensity of the interference signal, and detects the detected frequency component and intensity. Is associated with the depth direction (the direction away from the rotation center), and information on the relationship between the depth direction and the intensity is acquired. The contact area detection means 84 determines the position of the surface of the probe outer cylinder 52 at the position where the measurement light L1 is transmitted (hereinafter referred to as “position of the probe outer periphery”) and the measurement light L1 from the information on the relationship between the depth direction and intensity. The contact region between the probe outer cylinder 52 and the measuring object S at the position where the light is transmitted is detected.

プローブ外周の位置の検出について説明する。
まず、任意の1ライン分の干渉信号にFFTをかけて取得した周波数成分と強度との関係の情報をさらに処理し、深さ方向と強度との関係の情報を取得する。図5は、干渉信号にFFTをかけて取得した計算結果の模式的な一例を示すグラフである。ここで、図5では、横軸を深さ方向とし、縦軸を強度とした。
図5に示すように、強度が高くなっている部分や、強度のピーク(以下単に「ピーク」という。)を検出している位置が、物性が変わっている位置となる。つまり、空気と物質または、物質と他の特性の物質との境界位置となる。ここで、ピークの定義は、特に限定されず、強度が一定以上の値となった場合、また、強度の変化量が一定以上となった場合等種々の設定とすることができる。
ここで、光学レンズ62から射出された測定光L1が、最も近い位置で反射する物質がプローブ外筒52であるため、最初のピーク位置、つまり、光学レンズ62に最も近い位置で検出されたピーク(図5では、ピークP1)が、プローブ外周の位置となる。
また、光学レンズ62とプローブ外筒52は、回転中心を中心として同心円状に配置されている。このため、光学レンズ62の回転中心とプローブ外周の位置は、測定位置によらず一定距離となるため、1つのラインで検出したプローブ外周の位置を、全周のプローブ外周の位置とすることができる。
このようにして、接触領域検出手段84は、プローブ外周の位置を検出する。
The detection of the position of the probe outer periphery will be described.
First, information on the relationship between the frequency component and the intensity obtained by subjecting the interference signal for an arbitrary line to the FFT is further processed to obtain information on the relationship between the depth direction and the intensity. FIG. 5 is a graph showing a schematic example of a calculation result obtained by performing FFT on an interference signal. Here, in FIG. 5, the horizontal axis is the depth direction, and the vertical axis is the strength.
As shown in FIG. 5, a portion where the intensity is high and a position where a peak of intensity (hereinafter simply referred to as “peak”) is detected are positions where the physical properties have changed. That is, it is a boundary position between air and a substance, or a substance and another characteristic substance. Here, the definition of the peak is not particularly limited, and various settings can be made, for example, when the intensity becomes a certain value or more, or when the intensity change amount becomes more than a certain value.
Here, since the substance that reflects the measurement light L1 emitted from the optical lens 62 at the closest position is the probe outer cylinder 52, the peak detected at the first peak position, that is, the position closest to the optical lens 62 is detected. (Peak P1 in FIG. 5) is the position of the outer periphery of the probe.
The optical lens 62 and the probe outer cylinder 52 are arranged concentrically around the rotation center. For this reason, since the position of the rotation center of the optical lens 62 and the position of the probe outer circumference are a constant distance regardless of the measurement position, the position of the probe outer circumference detected by one line can be set as the position of the outer circumference of the probe. it can.
In this way, the contact area detecting means 84 detects the position of the probe outer periphery.

次に、測定光L1が透過する位置におけるプローブ外筒52と測定対象Sとの接触領域(以下単に「プローブ外筒52と測定対象Sとの接触領域」という。)の検出について説明する。   Next, detection of a contact area between the probe outer cylinder 52 and the measurement target S at a position where the measurement light L1 is transmitted (hereinafter simply referred to as “contact area between the probe outer cylinder 52 and the measurement target S”) will be described.

まず、プローブ外周の位置の検出と同様に、1ライン分の干渉信号にFFTをかけ、深さ方向の情報を取得する。
検出結果は、図5に示すグラフと同様に、深さ方向に複数のピークが検出される。
この複数検出されたピークのうち、最初のピーク(図5では、ピークP1)が、プローブ外筒を検出したピークであり、このプローブ外筒を検出したピークに最も近い位置のピーク(図5では、ピークP2)が、測定対象の表面となる。つまり、回転中心に2番目に近い位置(2番目に浅い位置)のピークの位置が測定対象Sの表面の位置となる。
First, similarly to the detection of the position of the probe outer periphery, the interference signal for one line is subjected to FFT to acquire information in the depth direction.
As the detection result, a plurality of peaks are detected in the depth direction, as in the graph shown in FIG.
Among the plurality of detected peaks, the first peak (peak P1 in FIG. 5) is the peak at which the probe outer cylinder is detected, and the peak closest to the peak at which this probe outer cylinder is detected (in FIG. 5). , Peak P2) is the surface of the measurement object. That is, the peak position at the position closest to the center of rotation (the second shallowest position) is the position of the surface of the measuring object S.

次に、検出した測定対象Sの表面とプローブ外周との距離を検出し、検出した距離が閾値以下の場合は、測定対象Sとプローブ外周とが接触状態である判定し、検出した距離が閾値より大きい場合は、測定対象Sとプローブ外周とが非接触状態であると判定する。   Next, the distance between the detected surface of the measuring object S and the outer periphery of the probe is detected. If the detected distance is equal to or smaller than the threshold, it is determined that the measuring object S and the outer periphery of the probe are in contact with each other. When larger, it determines with the measuring object S and probe outer periphery being a non-contact state.

次に、隣のラインについても同様にして、干渉信号にFFTをかけ、プローブ外筒を検出したピークに最も近いピークを測定対象Sの表面の位置として検出し、測定対象Sの表面とプローブ外周との距離を検出し、接触状態であるか否かを判定する。
このような、判定をライン毎に行い、測定領域の全周で、測定対象Sとプローブ外周との接触状態を判定する。
Next, in the same manner for the adjacent line, the interference signal is subjected to FFT, the peak closest to the peak where the probe outer cylinder is detected is detected as the position of the surface of the measuring object S, and the surface of the measuring object S and the probe periphery are detected. Is detected, and it is determined whether or not it is in a contact state.
Such determination is performed for each line, and the contact state between the measurement target S and the probe outer periphery is determined over the entire circumference of the measurement region.

次に、全周の測定対象Sとプローブ外周との接触状態の判定結果に基づいて、プローブ外筒52と測定対象Sとの接触領域を検出する。
図6を用いて、具体的に説明する。図6(A)及び(B)は、接触領域の検出方法を説明するための説明図である。ここで、図6(A)及び(B)に示す円C1は、プローブ外周を示す円である。
図6(A)に示すように、全周のピークを検出することで、測定対象Sの表面S1、S2が検出される。ここで、表面S1は、プローブ外筒52と測定対象Sとが接触している部分があり、表面S2を含むその他の領域は、プローブ外筒52から離れた位置にある。
このような場合、接触領域検出手段84は、図6(B)に示すように、表面S1の接触している部分を中心とした一定範囲の領域D1をプローブ外筒52と測定対象Sとの接触領域として検出する。
検出したプローブ外筒52と測定対象Sとの接触領域を断層情報生成手段86に送る。
Next, the contact area between the probe outer cylinder 52 and the measurement target S is detected based on the determination result of the contact state between the measurement target S and the outer periphery of the probe.
This will be specifically described with reference to FIG. 6A and 6B are explanatory diagrams for explaining a method of detecting a contact area. Here, a circle C1 shown in FIGS. 6A and 6B is a circle indicating the outer periphery of the probe.
As shown in FIG. 6A, the surfaces S1 and S2 of the measuring object S are detected by detecting the peaks around the entire circumference. Here, the surface S <b> 1 has a portion where the probe outer cylinder 52 and the measuring object S are in contact with each other, and other regions including the surface S <b> 2 are located away from the probe outer cylinder 52.
In such a case, as shown in FIG. 6 (B), the contact area detecting means 84 uses a region D1 in a certain range centered on the contacting portion of the surface S1 between the probe outer cylinder 52 and the measuring object S. Detect as a contact area.
The detected contact area between the probe outer cylinder 52 and the measuring object S is sent to the tomographic information generation means 86.

断層情報取得手段86は、A/D変換手段82でデジタル信号に変換された干渉信号をFFT(高速フーリエ変換)にかけて取得した周波数成分と強度との関係の情報を処理することで深さ方向の断層画像を取得する。
ここで、断層情報取得部86は、接触領域検出手段88から送られた接触領域情報から、接触領域と判断された位置情報の干渉信号のみの断層画像を取得し、接触領域以外の位置情報の干渉信号は断層画像の取得を行わず、つまりFFTやFFTをかけた結果からの画像取得処理を行わず、マスク処理をする。
The tomographic information acquisition means 86 processes the information on the relationship between the frequency component and the intensity acquired by subjecting the interference signal converted into a digital signal by the A / D conversion means 82 to FFT (Fast Fourier Transform), and thereby in the depth direction. Acquire a tomographic image.
Here, the tomographic information acquisition unit 86 acquires a tomographic image of only the interference signal of the position information determined as the contact area from the contact area information sent from the contact area detection means 88, and acquires the position information other than the contact area. The interference signal does not acquire a tomographic image, that is, performs mask processing without performing image acquisition processing from the result of applying FFT or FFT.

ここで、断層情報取得手段86における画像の生成について簡単に説明する。なお、この点の詳細については「武田 光夫、「光周波数走査スペクトル干渉顕微鏡」、光技術コンタクト、2003、Vol41、No7、p426−p432」に詳しい記載がなされている。   Here, generation of an image in the tomographic information acquisition unit 86 will be briefly described. Details of this point are described in “Mitsuo Takeda,“ Optical Frequency Scanning Spectrum Interference Microscope ”, Optical Technology Contact, 2003, Vol41, No7, p426-p432”.

測定光L1が測定対象Sに照射されたとき、測定対象Sの各深さからの反射光L3と参照光L2とがいろいろな光路長差をもって干渉しあう際の各光路長差lに対する干渉縞の光強度をS(l)とすると、干渉光検出部20において検出される干渉信号の光強度I(k)は、
I(k)=∫ S(l)[1+cos(kl)]dl
で表される。ここで、kは波数、lは光路長差である。上式は波数k=ω/cを変数とする光周波数領域のインターフェログラムとして与えられていると考えることができる。このため、断層情報取得手段86において、干渉光検出部20で検出したスペクトル干渉縞に高速フーリエ変換を施し、干渉光L4の光強度S(l)を決定することにより、測定対象Sの測定開始位置からの距離情報と反射強度情報とを取得し、断層画像を生成することができる。
When the measurement light L1 is irradiated onto the measurement object S, interference fringes with respect to each optical path length difference l when the reflected light L3 from the depth of the measurement object S and the reference light L2 interfere with each other with various optical path length differences. Is S (l), the light intensity I (k) of the interference signal detected by the interference light detector 20 is
I (k) = ∫ 0 S (l) [1 + cos (kl)] dl
It is represented by Here, k is the wave number, and l is the optical path length difference. It can be considered that the above equation is given as an interferogram in the optical frequency domain with the wave number k = ω / c as a variable. For this reason, the tomographic information acquisition means 86 performs fast Fourier transform on the spectral interference fringes detected by the interference light detection unit 20, and determines the light intensity S (l) of the interference light L4, thereby starting measurement of the measurement object S. The distance information from the position and the reflection intensity information can be acquired and a tomographic image can be generated.

画像補正手段88は、断層画像生成手段86により生成された断層画像に対し、対数変換、ラジアル変換を施し、ライン番号順に配置し、光学レンズの回転中心を中心とした円形の画像とする。
さらに、画像補正手段88は、断層画像に対し、鮮鋭化処理、平滑化処理等を施すことにより画質を補正する。
画像補正手段88は、画質補正が施された断層画像を表示部24に送信する。
ここで、断層画像の送信タイミングは特に限定されず、1ラインの処理が終わる毎に表示部に送信し、1ライン毎に書き換えて表示させてもよく、全ラインの処理(つまり、光学レンズを1周させて取得した画像の処置)が終了し1枚の円形の断層画像を形成した段階で送信してもよい。
The image correcting unit 88 performs logarithmic transformation and radial transformation on the tomographic image generated by the tomographic image generating unit 86, arranges them in the order of line numbers, and forms a circular image centered on the rotation center of the optical lens.
Further, the image correcting unit 88 corrects the image quality by performing a sharpening process, a smoothing process, or the like on the tomographic image.
The image correcting unit 88 transmits the tomographic image subjected to the image quality correction to the display unit 24.
Here, the transmission timing of the tomographic image is not particularly limited, and it may be transmitted to the display unit every time processing of one line is finished, and may be rewritten and displayed for each line. The image may be transmitted at the stage where the processing of the image acquired by making one round is completed and one circular tomographic image is formed.

表示部24は、CRTや液晶表示装置等であり、画像補正手段88から送信された断層画像を表示する。
操作制御部32は、キーボード、マウス等の入力手段と、入力された情報に基づいて各種条件を管理する制御手段とを有し、処理部22、表示部24と接続されている。操作制御部32は入力力手段からの入力されたオペレータの指示に基づいて、処理部22の上述した閾値や各種処理条件等の入力、設定、変更や、表示部24の表示設定の変更等を行う。操作制御部32は、操作画面を表示部24に表示させても、別途表示部を設けてもよい。また、操作制御部32で、光源ユニット12、光路長調整部18、干渉光検出部20、回転駆動部26及び検出部30a、30bの動作制御、各種条件の設定を行うようにしてもよい。
光断層画像化装置10は、基本的に以上のような構成である。
The display unit 24 is a CRT, a liquid crystal display device, or the like, and displays the tomographic image transmitted from the image correction unit 88.
The operation control unit 32 includes input means such as a keyboard and a mouse, and control means for managing various conditions based on the input information, and is connected to the processing unit 22 and the display unit 24. The operation control unit 32 inputs, sets, and changes the above-described threshold value and various processing conditions of the processing unit 22 and changes the display setting of the display unit 24 based on an operator instruction input from the input force means. Do. The operation control unit 32 may display the operation screen on the display unit 24 or may provide a separate display unit. Further, the operation control unit 32 may perform operation control of the light source unit 12, the optical path length adjustment unit 18, the interference light detection unit 20, the rotation drive unit 26, and the detection units 30a and 30b, and setting various conditions.
The optical tomographic imaging apparatus 10 is basically configured as described above.

次に、光断層画像化装置10の作用について説明することで、本発明の光断層画像化装置に加え、接触領域検出方法及び画像処理方法についても説明する。
まず、測定対象Sを測定した干渉光及び干渉信号の取得方法について説明する。
まず、ミラー駆動機構72で基台70を矢印A方向に移動させることにより、測定可能領域内に測定対象Sが位置するように光路長を調整し、設定する。
Next, by describing the operation of the optical tomographic imaging apparatus 10, in addition to the optical tomographic imaging apparatus of the present invention, a contact area detection method and an image processing method will also be described.
First, a method for acquiring interference light and interference signals obtained by measuring the measurement object S will be described.
First, the optical path length is adjusted and set so that the measuring object S is positioned in the measurable region by moving the base 70 in the arrow A direction by the mirror driving mechanism 72.

その後、光源ユニット12からレーザ光Laを射出する。射出されたレーザ光Laは、分岐合波部14により測定光L1と参照光L2とに分割される。この測定光L1は、光ファイバFB2及び光プローブ16を導波されて、測定対象Sに照射される。
そして、測定対象Sの各深さ位置で反射された光が、反射光L3として光プローブ10に入射する。この反射光L3は、光プローブ16及び光ファイバFB2を介して分岐合波部14に入射される。
一方、参照光L2は光ファイバFB3を介して光路長調整部18に入射される。そして、光路長調整部18により光路長が調整された参照光L2が再び光ファイバFB3を導波し分岐合波部14に入射される。
そして、分岐合波部14で測定対象Sからの反射光L3を光路長調整部18により光路長が調整された参照光L2と合波する。反射光L3と参照光L2との干渉光L4が生成される。干渉光は、干渉光検出部20によって干渉信号として検出される。
干渉光及び干渉信号は、以上のようにして検出する。
Thereafter, the laser light La is emitted from the light source unit 12. The emitted laser light La is split into measurement light L1 and reference light L2 by the branching / combining unit 14. The measurement light L1 is guided through the optical fiber FB2 and the optical probe 16, and is irradiated onto the measurement object S.
Then, the light reflected at each depth position of the measuring object S enters the optical probe 10 as reflected light L3. The reflected light L3 is incident on the branching / combining unit 14 via the optical probe 16 and the optical fiber FB2.
On the other hand, the reference light L2 is incident on the optical path length adjusting unit 18 through the optical fiber FB3. Then, the reference light L <b> 2 whose optical path length is adjusted by the optical path length adjusting unit 18 is guided again through the optical fiber FB <b> 3 and is incident on the branching / combining unit 14.
Then, the branching / multiplexing unit 14 combines the reflected light L3 from the measurement target S with the reference light L2 whose optical path length is adjusted by the optical path length adjusting unit 18. Interference light L4 between the reflected light L3 and the reference light L2 is generated. The interference light is detected as an interference signal by the interference light detection unit 20.
The interference light and the interference signal are detected as described above.

以下、上記方法により検出した干渉光の処理方法を説明する。
図7は、プローブ外周の位置の検出方法を示すフロー図であり、図8は、接触領域の検出方法を示すフロー図であり、図9は、検出した接触領域に基づいて断層画像を算出する画像処理方法を示すフロー図である。
Hereinafter, a method for processing the interference light detected by the above method will be described.
FIG. 7 is a flowchart showing a method for detecting the position of the probe outer periphery, FIG. 8 is a flowchart showing a method for detecting a contact area, and FIG. 9 calculates a tomographic image based on the detected contact area. It is a flowchart which shows an image processing method.

図7を用いて、プローブ外周の位置の検出方法について説明する。
まず、任意の1ライン分の干渉信号を取得する(ステップS10)。具体的には、上述した方法で参照光L2と反射光L3とを合波されて生成された干渉光L4を、干渉信号として干渉光検出部20で検出する。
次に、検出した干渉信号をA/D変換する(ステップS12)。具体的には、A/D変換手段82で、アナログ信号の干渉信号をデジタル信号に変換する。
次に、A/D変換した干渉信号にFFTをかけて周波数成分と強度との関係の情報を取得し、さらに処理して深さ方向と強度との関係を取得することで、ピーク位置を検出する(ステップS14)。ここで、上述したようにピーク位置は、光を反射した位置となり、基本的に物質の境界面となる。
検出したピーク位置からプローブ外周の位置を検出する(ステップS16)。
具体的には、ピーク位置のうち、光学レンズ62に最も近い位置で検出されたピークを、プローブ外周の位置として検出する。
このようにして、プローブ外周の位置を検出する。
A method for detecting the position of the outer periphery of the probe will be described with reference to FIG.
First, an interference signal for an arbitrary line is acquired (step S10). Specifically, the interference light detection unit 20 detects the interference light L4 generated by combining the reference light L2 and the reflected light L3 by the method described above as an interference signal.
Next, the detected interference signal is A / D converted (step S12). More specifically, the A / D conversion means 82 converts an analog interference signal into a digital signal.
Next, FFT is applied to the A / D converted interference signal to obtain information on the relationship between the frequency component and the intensity, and further processing is performed to obtain the relationship between the depth direction and the intensity, thereby detecting the peak position. (Step S14). Here, as described above, the peak position is a position where light is reflected, and is basically a boundary surface of the substance.
The position of the outer periphery of the probe is detected from the detected peak position (step S16).
Specifically, the peak detected at the position closest to the optical lens 62 among the peak positions is detected as the position of the probe outer periphery.
In this way, the position of the outer periphery of the probe is detected.

次に、図8を用いて、プローブ外筒52と測定対象Sとの接触領域の検出方法について説明する。
まず、ライン番号nをn=1とする(ステップS20)。ここで、ライン番号とは、任意の1ラインを基準として干渉信号の測定位置の順番に付されている番号である。したがって、光学レンズ62が一回転する間に干渉信号を1024回検出する本実施形態では、1から1024まで番号が付されたラインが等間隔に配列されている(上述の図4参照)。
Next, a method for detecting a contact area between the probe outer cylinder 52 and the measuring object S will be described with reference to FIG.
First, the line number n is set to n = 1 (step S20). Here, the line number is a number given in the order of the measurement position of the interference signal with reference to an arbitrary line. Therefore, in the present embodiment in which the interference signal is detected 1024 times during one rotation of the optical lens 62, lines numbered from 1 to 1024 are arranged at equal intervals (see FIG. 4 described above).

次に、ライン番号nの干渉信号を取得する(ステップS22)具体的には、上述した方法で参照光L2と反射光L3とを合波されて生成された干渉光L4を、干渉信号として干渉光検出部20で検出する。ここでライン番号は、干渉信号取得手段80で干渉信号に対応付けられた位置情報で判定することができる。
取得した干渉信号のライン番号がnでない場合は、ライン番号nの干渉信号が検出されるまで、干渉信号の取得を繰り返す。
Next, the interference signal of the line number n is acquired (step S22). Specifically, the interference light L4 generated by combining the reference light L2 and the reflected light L3 by the method described above is used as an interference signal. Detection is performed by the light detection unit 20. Here, the line number can be determined by the position information associated with the interference signal by the interference signal acquisition means 80.
If the line number of the acquired interference signal is not n, the acquisition of the interference signal is repeated until the interference signal of line number n is detected.

次に、検出した干渉信号をA/D変換する(ステップS24)。具体的には、A/D変換手段82で、アナログ信号の干渉信号をデジタル信号に変換する。
次に、A/D変換した干渉信号にFFTをかけ、ピーク位置を検出する(ステップS26)。ここで、上述したようにピーク位置は、光を反射した位置となり、基本的に物質の境界面となる。
Next, the detected interference signal is A / D converted (step S24). More specifically, the A / D conversion means 82 converts an analog interference signal into a digital signal.
Next, the A / D converted interference signal is subjected to FFT to detect the peak position (step S26). Here, as described above, the peak position is a position where light is reflected, and is basically a boundary surface of the substance.

検出したピーク位置から測定対象Sの表面の位置を検出する(ステップS28)。
ここで、測定対象Sと光プローブ16との間に、他の物体は、基本的に介在しないので、ステップS16で検出したプローブ外筒を検出した位置に最も近い位置のピーク、つまり、回転中心に2番目に近い位置(2番目に浅い位置)のピークの位置を測定対象Sの表面の位置として検出する。
The position of the surface of the measuring object S is detected from the detected peak position (step S28).
Here, since no other object basically intervenes between the measuring object S and the optical probe 16, the peak at the position closest to the position where the probe outer cylinder detected in step S16 is detected, that is, the rotation center. The peak position at the second closest position (the second shallowest position) is detected as the position of the surface of the measuring object S.

次に、検出した測定対象Sの表面とプローブ外周との距離を検出し、検出した距離が閾値X以下であるかを判定する(S30)。
検出した距離が閾値X以下の場合は、測定対象Sとプローブ外周とが接触状態である判定(ステップS32)してステップS36に進み、検出した距離が閾値Xより大きい場合は、測定対象Sとプローブ外周とが非接触状態であると判定(ステップS34)してステップS36に進む。
Next, the distance between the detected surface of the measuring object S and the outer periphery of the probe is detected, and it is determined whether the detected distance is equal to or less than the threshold value X (S30).
If the detected distance is less than or equal to the threshold value X, it is determined that the measuring object S and the probe outer periphery are in contact (step S32), and the process proceeds to step S36. If the detected distance is greater than the threshold value X, the measuring object S and It determines with a probe outer periphery being a non-contact state (step S34), and progresses to step S36.

次に、ライン番号nがNであるかを判定する(ステップS36)。
ここで、Nは、ラインの合計数(つまり、全ラインの数)であり、本実施形態ではN=1024である。
Next, it is determined whether the line number n is N (step S36).
Here, N is the total number of lines (that is, the number of all lines), and N = 1024 in this embodiment.

ライン番号nがNでなかった場合は、n=n+1とし(ステップS38)、ステップS22に進む。nを1大きくした後、ステップS22に進むことで、1つ隣のライン番号のプローブ外周と測定対象との接触の有無の判定を行う。
他方、ライン番号nがNである場合は、各ラインの接触判定は終了し、接触範囲テーブルを作成する(ステップS40)。
ここで、接触範囲テーブルは、接触していると判定した領域を中心として所定範囲の領域として検出する。例えば、ライン番号(a+10)から(b−30)までが接触していると判定されている場合は、ライン番号aからライン番号bまでを接触領域とする。なお、接触範囲テーブルの設定方法は予め入力されている設定条件に基づいて決定される。
このようにして、接触範囲テーブルを作成し、処理終了となる。
プローブ外周と測定対象との接触領域は、以上のようにして検出する。
When the line number n is not N, n = n + 1 is set (step S38), and the process proceeds to step S22. After n is increased by 1, the process proceeds to step S22 to determine whether or not there is contact between the probe periphery of the next line number and the measurement target.
On the other hand, if the line number n is N, the contact determination for each line ends, and a contact range table is created (step S40).
Here, the contact range table detects a region within a predetermined range centered on the region determined to be in contact. For example, when it is determined that line numbers (a + 10) to (b-30) are in contact, the line number a to line number b is set as the contact area. The contact range table setting method is determined based on preset setting conditions.
In this way, the contact range table is created, and the process ends.
The contact area between the probe outer periphery and the measurement object is detected as described above.

次に、図9を用いて、断層画像を作成するための画像処理方法について説明する。
まず、任意のライン番号であるライン番号nの干渉信号を取得する(ステップS50)。具体的には、上述した方法で参照光L2と反射光L3とを合波されて生成された干渉光L4を、干渉信号として干渉光検出部20で検出する。
Next, an image processing method for creating a tomographic image will be described with reference to FIG.
First, an interference signal of line number n that is an arbitrary line number is acquired (step S50). Specifically, the interference light detection unit 20 detects the interference light L4 generated by combining the reference light L2 and the reflected light L3 by the method described above as an interference signal.

次に、検出した干渉信号をA/D変換する(ステップS52)。具体的には、A/D変換手段82で、アナログ信号の干渉信号をデジタル信号に変換する。
次に、ライン番号nがステップS40で作成した接触範囲テーブルに含まれるか、つまり、接触領域であるライン番号aからライン番号bの間に含まれるか否かを判定する(ステップS54)。つまり、a≦n≦bであるか否かを判定する。
ライン番号nが、a≦n≦bを満たしている場合は、A/D変換した干渉信号にFFTをかける(ステップS56)。
次に、FFTをかけた結果から、ライン番号nの断層画像を取得する(ステップS58)。
ここで、断層画像は、上述したようにFFTの結果に基づいて、所定の処理を施し画像を取得する。
断層画像を取得したら、ステップS62に進む。
Next, the detected interference signal is A / D converted (step S52). More specifically, the A / D conversion means 82 converts an analog interference signal into a digital signal.
Next, it is determined whether or not the line number n is included in the contact range table created in step S40, that is, whether or not the line number n is included between the line number a and the line number b that is the contact area (step S54). That is, it is determined whether or not a ≦ n ≦ b.
If the line number n satisfies a ≦ n ≦ b, the A / D converted interference signal is subjected to FFT (step S56).
Next, a tomographic image of line number n is acquired from the result of applying FFT (step S58).
Here, as described above, the tomographic image is subjected to predetermined processing based on the result of the FFT, and an image is acquired.
If a tomographic image is acquired, the process proceeds to step S62.

一方、ライン番号nが、a≦n≦bを満たしていない場合、つまり、n<aまたはb<nの場合は、マスク化処理をする(ステップS60)。
ここで、マスク化処理とは、FFT及び断層画像を取得するための処理を行わず、ライン番号nの画像を、黒画像または一定の決まった画像とする。
マスク化処理が終了したら、ステップS62に進む。
On the other hand, if the line number n does not satisfy a ≦ n ≦ b, that is, if n <a or b <n, masking processing is performed (step S60).
Here, the masking processing does not perform processing for acquiring the FFT and the tomographic image, and sets the image of the line number n as a black image or a fixed image.
When the masking process ends, the process proceeds to step S62.

次に、終了指示があるか否かを判定する(ステップS62)。
終了指示がない場合は、n=n+1とし(ステップS64)、その後、ステップS50に進む。nを1大きくした後、ステップS50に進むことで、1つ隣のライン番号の断層画像の取得処理を行う。なお、図示は省略したが、n=N+1となった場合は、nを1とし、終了指示があるまで、断層画像の取得を続ける。
終了指示がある場合は、処理を終了する。
以上のようにして測定対象の断層画像を取得する。
Next, it is determined whether or not there is an end instruction (step S62).
If there is no end instruction, n = n + 1 is set (step S64), and then the process proceeds to step S50. After n is increased by 1, the process proceeds to step S50 to perform a process of acquiring a tomographic image of the next line number. Although illustration is omitted, when n = N + 1, n is set to 1 and the tomographic image acquisition is continued until an end instruction is given.
If there is an end instruction, the process ends.
As described above, a tomographic image to be measured is acquired.

このようにして取得されたマスク処理された領域の画像情報と断層画像は、画像補正手段に送られ、ラジアル処理、鮮鋭化処理等の表示するための画像処理が施される。その後、表示部24に送られ、表示部24に表示される。   The image information and tomographic image of the mask-processed area obtained in this way are sent to the image correction means, and image processing for display such as radial processing and sharpening processing is performed. Thereafter, the image is sent to the display unit 24 and displayed on the display unit 24.

本発明によれば、接触領域検出手段により、測定対象と光プローブとの接触領域を検出することで、高分解能で断層画像が検出される領域を検出、認識することができる。これにより、本実施形態のように信頼性の高い、高分解能の領域のみを処理することが可能となる。
また、本実施形態では、接触領域以外は、マスク処理を行ったが、これに限定されず、接触領域とそれ以外の領域で、画像処理の方法を変えても良い。例えば、接触領域は、全ラインの断層画像を取得し、接触領域以外は、一定ライン番号毎に断層画像を取得するようにしてもよい。また、接触領域の検出結果に応じて、回転駆動部26による光ファイバ56及び光学レンズ62の回転速度、回転方向を制御し、例えば、接触領域のみを往復させて断層画像を取得しても、接触領域以外は高速で移動させるようにしてもよい。
また、本発明は、接触領域の検出結果を断層画像の取得に利用することにも限定されない。例えば、表示した断層画像上に接触領域を重ねて表示してもよく、また、接触状態及び接触領域から、断層画像の信頼性や、測定対象との距離を算出し、断層画像と合わせて表示してもよい。接触領域を検出し、その結果を表示することで、オペレータが分解能の高い領域を簡単に認識することができる。
このように接触領域を検出することで、断層画像の部分による有効度を簡単に判断することが可能となる。
According to the present invention, it is possible to detect and recognize a region where a tomographic image is detected with high resolution by detecting the contact region between the measurement target and the optical probe by the contact region detecting means. As a result, it is possible to process only a highly reliable and high-resolution area as in this embodiment.
In this embodiment, the mask process is performed on areas other than the contact area. However, the present invention is not limited to this, and the image processing method may be changed between the contact area and other areas. For example, a tomographic image of all lines may be acquired for the contact area, and a tomographic image may be acquired for each fixed line number except for the contact area. Further, according to the detection result of the contact area, the rotation speed and the rotation direction of the optical fiber 56 and the optical lens 62 by the rotation drive unit 26 are controlled, for example, by reciprocating only the contact area to acquire a tomographic image, The area other than the contact area may be moved at high speed.
Further, the present invention is not limited to using the detection result of the contact area for acquiring a tomographic image. For example, the contact area may be displayed overlaid on the displayed tomographic image, and the reliability of the tomographic image and the distance from the measurement target are calculated from the contact state and the contact area and displayed together with the tomographic image. May be. By detecting the contact area and displaying the result, the operator can easily recognize the area with high resolution.
By detecting the contact area in this way, the effectiveness of the tomographic image portion can be easily determined.

また、断層画像を取得する領域を接触領域に対応する領域のみとし、他の領域は、画像処理を行わないことで、処理部の負担を少なくすることができ、また、処理にかかる時間を短縮することができる。これにより、安価な演算処理装置(プロセッサ)を用いた場合でも、高速動画表示を行うことができる。高分解の断層画像の表示を可能にしつつ、装置を安価にすることができる。
また、接触領域に基づいて、光プローブと離れていて、分解能が低く画像が不鮮明で断層画像として用いることが困難な領域の測定対象の画像処理を取得せず、分解能が高く、実際に必要とする領域である接触領域の断層画像は取得しているため、断層画像を有効に利用することができる。また、画像処理を行う領域を接触領域のみに限定することで、全体の情報処理量を増加させることなく、断層画像により高度な画像処理を施すことも可能となる。
In addition, the area for acquiring the tomographic image is limited to the area corresponding to the contact area, and the other areas are not subjected to image processing, thereby reducing the burden on the processing unit and reducing the processing time. can do. Thereby, even when an inexpensive arithmetic processing unit (processor) is used, high-speed moving image display can be performed. The apparatus can be made inexpensive while displaying a high-resolution tomographic image.
In addition, based on the contact area, it does not acquire the image processing of the measurement object in the area that is separated from the optical probe, the resolution is low, and the image is unclear and difficult to use as a tomographic image. Since the tomographic image of the contact area that is the area to be acquired is acquired, the tomographic image can be used effectively. Further, by limiting the area where image processing is performed to only the contact area, it is possible to perform advanced image processing using the tomographic image without increasing the total amount of information processing.

ここで、接触範囲テーブルの範囲の設定方法及び接触領域の設定方法は、特に限定されず、閾値以下のラインのみを接触領域とて検出するように設定してもよく、接触していると判定したラインが複数本連続した領域を接触領域として検出するように設定してもよい。また、接触領域の幅、つまり、ライン数を設定してもよい。
また、本実施形態では、接触領域を1つの領域としたが、複数の接触領域を検出することもでき、この場合も接触領域となるライン番号の範囲は複数に分かれるが、上述と同様の処理を行うことができる。
さらに、プローブ外筒と測定対象が接触しているか否かを判断する閾値も任意の値でよく、オペレータの入力や、条件に応じて設定を変更できるようにしてもよい。
Here, the method for setting the range of the contact range table and the method for setting the contact region are not particularly limited, and it may be set so that only the line below the threshold is detected as the contact region, and it is determined that the contact is made. It is also possible to set so that a region where a plurality of lines are continuous is detected as a contact region. Further, the width of the contact area, that is, the number of lines may be set.
In the present embodiment, the contact area is a single area. However, a plurality of contact areas can also be detected. In this case as well, the range of line numbers serving as the contact areas is divided into a plurality of areas. It can be performed.
Furthermore, the threshold value for determining whether or not the probe outer cylinder is in contact with the measurement target may be an arbitrary value, and the setting may be changed according to an operator input or a condition.

また、断層画像取得時に接触領域を一定領域つまり所定ライン数増加させる増加指示部を設けることが好ましい。ここで、増加指示部は、特定のボタンとして新たに設けてもよく、操作制御部の一部に設けてもよい。
増加指示部により接触領域を増加可能とすることで、オペレータが現状で取得している断層画像の周辺部を確認したい場合にも対応することができ、オペレータが所望する情報を好適に提供することができる。
また、操作制御部は、断層画像を取得する領域を変更、増加できることが好ましい。
これにより、接触領域の検出結果に加え、オペレータの希望が所望する領域の断層画像を取得することができる。
In addition, it is preferable to provide an increase instruction unit that increases the contact area to a certain area, that is, a predetermined number of lines when tomographic images are acquired. Here, the increase instruction unit may be newly provided as a specific button, or may be provided in a part of the operation control unit.
By making it possible to increase the contact area with the increase instruction unit, it is possible to cope with the case where the operator wants to confirm the peripheral part of the tomographic image currently acquired, and to provide the information desired by the operator suitably Can do.
Moreover, it is preferable that the operation control part can change and increase the area | region which acquires a tomographic image.
Thereby, in addition to the detection result of the contact area, a tomographic image of an area desired by the operator can be acquired.

また、本実施形態では、回転駆動部のエンコーダから測定光による測定位置を算出したが、本発明はこれに限定されない。例えば、光源から射出される所定周期で掃引されるレーザ光の1周期が干渉信号の1ラインとなるため、このレーザ光の周期からライン数を検出し、ライン数で基準位置からの測定位置を算出するようにしてもよい。   In the present embodiment, the measurement position by the measurement light is calculated from the encoder of the rotation drive unit, but the present invention is not limited to this. For example, since one cycle of the laser beam emitted from the light source and swept at a predetermined cycle is one line of the interference signal, the number of lines is detected from the cycle of the laser beam, and the measurement position from the reference position is determined by the number of lines. You may make it calculate.

また、本実施形態では、全ラインにおいて測定対象の表面位置を検出したが本発明はこれに限定されず、所定ライン毎、例えば、偶数や、3の倍数のラインにおいて測定対象の表面位置を検出し、接触領域を検出してもよい。このように、検出するラインを減らすことにより、情報の処理量を減らすことができ、処理を高速化することができる。また、接触領域は、接触状態であると判定したラインの周辺を接触領域と設定することができるため、所定ライン毎の検出でも接触領域を適切に検出することができる。
また、本実施形態では、ライン番号n=1から処理を開始したが、プローブ外周の全周を検出することができれば、その開始位置は特に限定されない。
また、本実施形態では、プローブの外周を1ラインの検出結果のみで算出したが、複数ラインで検出し、算出結果の平均値をプローブの外周の位置としてもよい。
Further, in the present embodiment, the surface position of the measurement target is detected in all lines, but the present invention is not limited to this, and the surface position of the measurement target is detected in every predetermined line, for example, even lines or multiples of three. The contact area may be detected. Thus, by reducing the number of lines to be detected, the amount of information processing can be reduced, and the processing speed can be increased. Moreover, since the contact area can set the periphery of the line determined to be in the contact state as the contact area, the contact area can be appropriately detected even by detection for each predetermined line.
In this embodiment, the process is started from the line number n = 1. However, the start position is not particularly limited as long as the entire circumference of the probe outer circumference can be detected.
Further, in the present embodiment, the outer periphery of the probe is calculated based on the detection result of only one line, but it may be detected by a plurality of lines and the average value of the calculated results may be used as the position of the outer periphery of the probe.

ここで、プローブ外筒と測定対象との接触領域の検出のタイミングは、特に限定されず、回転駆動部が光学レンズ及び光ファイバを一定回数回転させる毎に接触領域を検出しても、オペレータからの検出指示があった時に接触領域を検出してもよい。
ここで、光学レンズ及び光ファイバを一定回数回転させる毎に接触領域を検出することで、自動的に高分解能領域を認識することができ、接触領域が変化した場合にも迅速に対応することができる。
Here, the timing of detecting the contact area between the probe outer cylinder and the measurement target is not particularly limited, and even if the rotation drive unit detects the contact area every time the optical lens and the optical fiber are rotated a certain number of times, The contact area may be detected when there is a detection instruction.
Here, by detecting the contact area every time the optical lens and the optical fiber are rotated a certain number of times, it is possible to automatically recognize the high resolution area, and to respond quickly even when the contact area changes. it can.

また、接触領域のみの断層画像を取得し、表示部に表示させる場合、画像補正手段は、断層画像部分の表示位置を回転させ、オペレータが確認しやすい位置に回転させてもよく、また断層画像を拡大してもよい。
このように断層画像を回転、拡大させる処理を行い、表示部に表示させることでオペレータが断層画像を確認しやすくすることができる。
When acquiring a tomographic image of only the contact area and displaying it on the display unit, the image correcting means may rotate the display position of the tomographic image part to a position that can be easily confirmed by the operator. May be enlarged.
Thus, by performing the process of rotating and enlarging the tomographic image and displaying it on the display unit, the operator can easily confirm the tomographic image.

また、光断層画像化装置10では、SS−OCT(swept source−OCT)計測により、測定対象の断層画像を取得し、測定対象との接触領域を検出したが本発明はこれに限定されない。   In the optical tomographic imaging apparatus 10, the tomographic image of the measurement target is acquired by SS-OCT (swept source-OCT) measurement and the contact area with the measurement target is detected, but the present invention is not limited to this.

図10は、光断層画像化装置の他の実施形態の概略構成を模式的に示すブロック図である。
ここで、図10に示す光断層画像化装置100は、SD−OCT(spectral domain−OCT)計測により、測定対象の断層画像を取得し、測定対象との接触領域を検出する点を除いて、他の構成は光断層画像化装置10と同様であるので、同様の構成の部分には、同一の符号を付しその詳細な説明は省略し、以下、光断層画像化装置100に特有の点について説明する。
FIG. 10 is a block diagram schematically showing a schematic configuration of another embodiment of the optical tomographic imaging apparatus.
Here, the optical tomographic imaging apparatus 100 shown in FIG. 10 obtains a tomographic image of a measurement target by SD-OCT (spectral domain-OCT) measurement, and detects a contact area with the measurement target. Since the other configuration is the same as that of the optical tomographic imaging apparatus 10, the same components are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. Will be described.

光断層画像化装置10は、光を射出する光源ユニット102と、光源ユニット12から射出された光を測定光と参照光に分岐し、反射光と参照光を合波し、干渉光を生成する分岐合波部14と、測定光を導光し測定対象に照射し、さらに測定対象からの反射光を趣向する光プローブ16と、参照光の光路長を調整する光路長調整部18と、分岐合波部14で生成された干渉光を検出する干渉光検出部104と、干渉光検出部20で検出された検出結果を処理する処理部22と、処理部22で取得された断層画像を表示する表示部24とを有する。さらに、光断層画像化装置10は、光プローブの測定部等を回転させる回転駆動部26と処理部22や表示部24等への各種条件の入力、設定の変更等を行う操作入力部32とを有する。また、光の経路として光ファイバを用い、各部に測定光、参照光、反射光等を導光している。   The optical tomographic imaging apparatus 10 splits light emitted from the light source unit 102 that emits light and the light source unit 12 into measurement light and reference light, and combines reflected light and reference light to generate interference light. A branching / multiplexing unit 14, an optical probe 16 that guides measurement light and irradiates the measurement target, and further reflects reflected light from the measurement target, an optical path length adjustment unit 18 that adjusts the optical path length of the reference light, and a branch An interference light detection unit 104 that detects interference light generated by the multiplexing unit 14, a processing unit 22 that processes the detection result detected by the interference light detection unit 20, and a tomographic image acquired by the processing unit 22 are displayed. Display unit 24. Further, the optical tomographic imaging apparatus 10 includes a rotation drive unit 26 that rotates a measurement unit and the like of an optical probe, and an operation input unit 32 that inputs various conditions to the processing unit 22 and the display unit 24 and changes settings. Have Further, an optical fiber is used as a light path, and measurement light, reference light, reflected light, and the like are guided to each part.

光源ユニット102は、光源110と、光学系112とを有し、光ファイバFB1に光Laを入射する。
光源110は、低コヒーレント光を射出する光出装置であり、例えばSLD(Super Luminescent Diode)やASE(Amplified Spontaneous Emission)、超短パルスレーザ光を非線形媒質に照射させて広帯域光を得るスーパーコンティニューム等を用いることができる。
光学系112は、光源110から射出される光の光路上に配置され、光源110から射出された光を集光し、光ファイバFB1内に入射させる。
The light source unit 102 includes a light source 110 and an optical system 112, and makes the light La enter the optical fiber FB1.
The light source 110 is a light emitting device that emits low-coherent light. For example, a supercontinuum that obtains broadband light by irradiating a nonlinear medium with SLD (Super Luminescent Diode), ASE (Amplified Spontaneous Emission), or ultrashort pulse laser light. Etc. can be used.
The optical system 112 is disposed on the optical path of the light emitted from the light source 110, collects the light emitted from the light source 110, and makes the light enter the optical fiber FB1.

干渉光検出部104は、光ファイバFB4から出射した干渉光L4を平行光化するコリメータレンズ122と、複数の波長帯域を有する干渉光L4を波長帯域毎に分光する分光手段124と、分光手段124により分光された各波長帯域の干渉光L4を集光するレンズ126と、レンズ126で集光された干渉光L4を検出する光検出手段128とを有し、分岐合波部14により合波された反射光L3と参照光L2との干渉光L4を干渉信号として検出する。   The interference light detection unit 104 includes a collimator lens 122 that collimates the interference light L4 emitted from the optical fiber FB4, a spectroscopic unit 124 that splits the interference light L4 having a plurality of wavelength bands for each wavelength band, and a spectroscopic unit 124. And a light detecting means 128 for detecting the interference light L4 collected by the lens 126, which are combined by the branching and combining unit 14. The interference light L4 between the reflected light L3 and the reference light L2 is detected as an interference signal.

分光手段124は、例えば回折格子素子等から構成されており、入射した干渉光L4を分光して、光検出手段128に向けて射出する。
また光検出手段128は、例えば1次元もしくは2次元に光センサが配列されてなるCCD等の素子から構成され、各光センサが、上述のように分光された干渉光L4を波長帯域毎にそれぞれ干渉信号として検出する。
干渉光検出部104は、検出した干渉信号を処理部22に送る。
処理部22の接触領域検出手段86及び断層画像生成手段88は、分光された干渉光L4毎にFFTにかけることで、ライン毎の周波数成分と強度との関係を算出することができ、この周波数成分と強度との関係をさらに処理し深さ方向と強度との関係を取得することで、光断層画像化装置10と同様に、深さ方向のピーク位置や、強度分布を得ることができる。
接触領域検出手段86は、検出した深さ方向のピーク位置や、強度分布からプローブの外周と測定対象との接触領域を検出し、断層画像生成手段88は、断層画像を取得する。
The spectroscopic means 124 is composed of, for example, a diffraction grating element, etc., and splits the incident interference light L4 and emits it toward the light detection means 128.
The light detection means 128 is composed of, for example, an element such as a CCD in which light sensors are arranged one-dimensionally or two-dimensionally, and each light sensor separates the interference light L4 separated as described above for each wavelength band. Detect as an interference signal.
The interference light detection unit 104 sends the detected interference signal to the processing unit 22.
The contact area detecting unit 86 and the tomographic image generating unit 88 of the processing unit 22 can calculate the relationship between the frequency component and the intensity for each line by applying FFT to each of the separated interference light L4. By further processing the relationship between the component and the intensity to acquire the relationship between the depth direction and the intensity, the peak position in the depth direction and the intensity distribution can be obtained as in the optical tomographic imaging apparatus 10.
The contact area detection means 86 detects the contact area between the outer circumference of the probe and the measurement object from the detected peak position in the depth direction and the intensity distribution, and the tomographic image generation means 88 acquires a tomographic image.

このように、干渉信号の取得方法は異なるが、光断層画像化装置100も、接触領域検出手段により、プローブの外周と測定対象との接触領域を検出することで光断層画像化装置10と同様の効果を得ることができる。   As described above, although the acquisition method of the interference signal is different, the optical tomographic imaging apparatus 100 is also the same as the optical tomographic imaging apparatus 10 by detecting the contact area between the outer periphery of the probe and the measurement target by the contact area detection unit. The effect of can be obtained.

次に、図11は、光断層画像化装置のさらに他の実施形態の概略構成を模式的に示すブロック図である。
ここで、図11に示す光断層画像化装置200は、TD−OCT(time domain−OCT)計測により、測定対象の断層画像を取得し、測定対象との接触領域を検出する点を除いて、他の構成は光断層画像化装置10と同様であるので、同様の構成の部分には、同一の符号を付しその詳細な説明は省略し、以下、光断層画像化装置100に特有の点について説明する。
Next, FIG. 11 is a block diagram schematically showing a schematic configuration of still another embodiment of the optical tomographic imaging apparatus.
Here, the optical tomographic imaging apparatus 200 shown in FIG. 11 obtains a tomographic image of a measurement target by TD-OCT (time domain-OCT) measurement, and detects a contact area with the measurement target. Since the other configuration is the same as that of the optical tomographic imaging apparatus 10, the same components are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. Will be described.

光断層画像化装置10は、光を射出する光源ユニット202と、光源ユニット12から射出された光を測定光と参照光に分岐し、反射光と参照光を合波し、干渉光を生成する分岐合波部14と、測定光を導光し測定対象に照射し、さらに測定対象からの反射光を趣向する光プローブ16と、参照光の光路長を調整し、周期的に変化させる光路長調整部204と、分岐合波部14で生成された干渉光を検出する干渉光検出部206と、干渉光検出部20で検出された検出結果を処理する処理部22と、処理部22で取得された断層画像を表示する表示部24とを有する。さらに、光断層画像化装置10は、光プローブの測定部等を回転させる回転駆動部26と、光源ユニット12から射出された光を分光する光ファイバカプラ28と、参照光を検出する検出部30aと反射光を検出する検出部30bと、処理部22や表示部24等への各種条件の入力、設定の変更等を行う操作制御部32とを有する。また、光の経路として光ファイバを用い、各部に測定光、参照光、反射光等を導光している。   The optical tomographic imaging apparatus 10 divides light emitted from the light source unit 202 that emits light and the light source unit 12 into measurement light and reference light, and combines reflected light and reference light to generate interference light. The branching / multiplexing unit 14, the optical probe 16 that guides the measurement light and irradiates the measurement target, and further reflects the reflected light from the measurement target, and adjusts the optical path length of the reference light to periodically change the optical path length. Acquired by the adjustment unit 204, the interference light detection unit 206 that detects the interference light generated by the branching and multiplexing unit 14, the processing unit 22 that processes the detection result detected by the interference light detection unit 20, and the processing unit 22 And a display unit 24 for displaying the obtained tomographic image. Furthermore, the optical tomographic imaging apparatus 10 includes a rotation drive unit 26 that rotates a measurement unit of the optical probe, an optical fiber coupler 28 that splits light emitted from the light source unit 12, and a detection unit 30a that detects reference light. And a detection unit 30b that detects reflected light, and an operation control unit 32 that inputs various conditions to the processing unit 22 and the display unit 24, changes settings, and the like. Further, an optical fiber is used as a light path, and measurement light, reference light, reflected light, and the like are guided to each part.

光源ユニット202は、光源208と、光学系112とを有し、光ファイバFB1に光Laを入射する。
光源208は、所定波長のレーザ光Laを射出する光出装置である。
光学系112は、光源208から射出される光の光路上に配置され、光源110から射出されたレーザ光Laを集光し、光ファイバFB1内に入射させる。
The light source unit 202 includes a light source 208 and an optical system 112, and makes the light La enter the optical fiber FB1.
The light source 208 is a light emitting device that emits laser light La having a predetermined wavelength.
The optical system 112 is disposed on the optical path of the light emitted from the light source 208, collects the laser light La emitted from the light source 110, and enters the optical fiber FB1.

光路長調整部204は、光ファイバFB3から出射した参照光L2を平行光化するコリメータレンズ210と、このコリメータレンズ210の光路上に配置され、図中矢印A方向に移動可能とされたミラー212と、ミラー212を支持する基台214と、基台214を図中矢印A方向に移動させるミラー移動機構216とを有する。
光路長調整部204は、ミラー移動機構216によりミラー212を移動させることでミラー212とコリメータレンズ21との距離を伸縮させ、参照光L2の光路長を変える。光路長調整部204は、ミラー212を移動させ、参照光L2の光路長を変えることで、深さ方向における測定対象S内の測定位置を変化させる。
また、位相変調器207は、参照光L2の光路中(光ファイバFB3)に配置されており、参照光L2に対しわずかな周波数シフトを与える。
光路長調整部204により光路長の変更および周波数シフトがなされた参照光L2は、分岐合波部14に導波される。
また、上述したように分岐合波部14は、参照光L2と反射光L3とを合波し、干渉光L4を生成する。
The optical path length adjustment unit 204 is a collimator lens 210 that collimates the reference light L2 emitted from the optical fiber FB3, and a mirror 212 that is disposed on the optical path of the collimator lens 210 and is movable in the direction of arrow A in the figure. And a base 214 that supports the mirror 212 and a mirror moving mechanism 216 that moves the base 214 in the direction of arrow A in the figure.
The optical path length adjustment unit 204 expands and contracts the distance between the mirror 212 and the collimator lens 21 by moving the mirror 212 by the mirror moving mechanism 216, and changes the optical path length of the reference light L2. The optical path length adjustment unit 204 changes the measurement position in the measurement target S in the depth direction by moving the mirror 212 and changing the optical path length of the reference light L2.
The phase modulator 207 is arranged in the optical path of the reference light L2 (optical fiber FB3), and gives a slight frequency shift to the reference light L2.
The reference light L <b> 2 whose optical path length has been changed and frequency shifted by the optical path length adjustment unit 204 is guided to the branching / combining unit 14.
Further, as described above, the branching / multiplexing unit 14 combines the reference light L2 and the reflected light L3 to generate the interference light L4.

次に、干渉光検出部206は、分岐合波部14から光ファイバFB2を伝搬して来た干渉光L4の光強度を、たとえばヘテロダイン検波により検出する。具体的には、測定光L1の全光路長と反射光L3の全光路長との合計が、参照光L2の全光路長と等しいときに、参照光L2と反射光L3との差周波数で強弱を繰り返すビート信号が発生する。本実施形態ではこのビート信号が干渉信号となる。
したがって、干渉光検出部206は、光路長調整部204により光路長が変更されて測定対象Sの測定位置(深さ)変化している干渉光L4から、測定位置毎にそれぞれビート信号、つまり干渉信号を検出する。ここで、この測定位置は、参照光の光路長により決定する。したがって、ミラーの位置から測定位置を算出することができる。光路長調整部204は、ミラー位置から測定位置を算出する算出部を有し、算出した測定位置を干渉光検出部204及び処理部22へ出力する。
Next, the interference light detection unit 206 detects the light intensity of the interference light L4 that has propagated from the branching and combining unit 14 through the optical fiber FB2, for example, by heterodyne detection. Specifically, when the sum of the total optical path length of the measurement light L1 and the total optical path length of the reflected light L3 is equal to the total optical path length of the reference light L2, it is strong and weak at the difference frequency between the reference light L2 and the reflected light L3. A beat signal that repeats is generated. In this embodiment, this beat signal becomes an interference signal.
Therefore, the interference light detection unit 206 detects the beat signal, that is, the interference signal for each measurement position from the interference light L4 whose optical path length is changed by the optical path length adjustment unit 204 and changes in the measurement position (depth) of the measurement target S. Detect the signal. Here, this measurement position is determined by the optical path length of the reference light. Therefore, the measurement position can be calculated from the position of the mirror. The optical path length adjustment unit 204 includes a calculation unit that calculates a measurement position from the mirror position, and outputs the calculated measurement position to the interference light detection unit 204 and the processing unit 22.

処理部22の接触領域検出手段86及び断層画像生成手段88は、測定位置毎のビート信号を処理することで、測定位置(つまり深さ方向)と強度との関係を算出する。算出した深さ方向と強度との関係を取得することで、光断層画像化装置10と同様に、深さ方向のピーク位置や、強度分布を得ることができる。
接触領域検出手段86は、検出した深さ方向のピーク位置や、強度分布からプローブの外周と測定対象との接触領域を検出し、断層画像生成手段88は、断層画像を取得する。
The contact area detection unit 86 and the tomographic image generation unit 88 of the processing unit 22 calculate the relationship between the measurement position (that is, the depth direction) and the intensity by processing the beat signal for each measurement position. By acquiring the relationship between the calculated depth direction and intensity, the peak position in the depth direction and the intensity distribution can be obtained in the same manner as in the optical tomographic imaging apparatus 10.
The contact area detection means 86 detects the contact area between the outer circumference of the probe and the measurement object from the detected peak position in the depth direction and the intensity distribution, and the tomographic image generation means 88 acquires a tomographic image.

このように、干渉信号の取得方法は異なるが、光断層画像化装置200も、接触領域検出手段により、プローブの外周と測定対象との接触領域を検出することで光断層画像化装置10と同様の効果を得ることができる。   As described above, although the acquisition method of the interference signal is different, the optical tomographic imaging apparatus 200 is also similar to the optical tomographic imaging apparatus 10 by detecting the contact area between the outer periphery of the probe and the measurement target by the contact area detection unit. The effect of can be obtained.

以上、本発明に係る光断層画像化装置、接触領域検出方法及びこれを用いる画像処理方法について詳細に説明したが、本発明は、以上の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良や変更を行ってもよい。   As described above, the optical tomographic imaging apparatus, the contact area detection method, and the image processing method using the same according to the present invention have been described in detail. However, the present invention is not limited to the above embodiment, and the gist of the present invention. Various modifications and changes may be made without departing from.

例えば、上記実施形態では、SS−OCT計測及びSD−OCT計測の場合は、FFT(高速フーリエ変換)を用いたが、これに限定されず、周波数と強度の関係を算出できる各種周波数解析方法を用いることができる。   For example, in the above embodiment, in the case of SS-OCT measurement and SD-OCT measurement, FFT (Fast Fourier Transform) is used. However, the present invention is not limited to this, and various frequency analysis methods capable of calculating the relationship between frequency and intensity are used. Can be used.

本発明の接触領域検出方法及び画像処理方法を用いる本発明の光断層画像化装置の一実施形態の光断層画像化装置の概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the optical tomographic imaging apparatus of one Embodiment of the optical tomographic imaging apparatus of this invention using the contact region detection method and image processing method of this invention. 図1に示す光断層画像化装置の光プローブの先端部を拡大して示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view which expands and shows the front-end | tip part of the optical probe of the optical tomographic imaging apparatus shown in FIG. 図1に示す光断層画像化装置の処理部の概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the process part of the optical tomographic imaging apparatus shown in FIG. 光プローブの測定位置の位置情報を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the positional information on the measurement position of an optical probe. 干渉信号にFFTをかけて取得した計算結果の模式的な一例を示すグラフである。It is a graph which shows a typical example of the calculation result acquired by performing FFT on an interference signal. (A)及び(B)は、接触領域の検出方法を説明するための説明図である。(A) And (B) is explanatory drawing for demonstrating the detection method of a contact region. プローブ外周の位置の検出方法を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the detection method of the position of a probe outer periphery. 接触領域の検出方法を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the detection method of a contact area. 検出した接触領域に基づいて断層画像を算出する画像処理方法を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the image processing method which calculates a tomographic image based on the detected contact area. 本発明の光断層画像化装置の他の実施形態の光断層画像化装置の概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the optical tomographic imaging apparatus of other embodiment of the optical tomographic imaging apparatus of this invention. 本発明の光断層画像化装置の他の実施形態の光断層画像化装置の概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the optical tomographic imaging apparatus of other embodiment of the optical tomographic imaging apparatus of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10、100、200 光断層画像化装置
12 光源ユニット
14 分岐合波部
16 光プローブ
18 光路長調整部
20 干渉光検出部
22 処理部
24 表示部
26 回転駆動部
28 光ファイバカプラ
30a、30b 検出部
32 操作部
40 半導体光増幅器
42 光分岐器
44 コリメータレンズ
46 回折格子素子
48 光学系
50 回転多面鏡(ポリゴンミラー)
52プローブ外筒
54 キャップ
56 光ファイバ
58 バネ
60 固定部材
62 光学レンズ
64 第1光学レンズ
66 第2光学レンズ
68 反射ミラー
70 基台
72 ミラー駆動機構
80 干渉信号取得手段
82 A/D変換手段
84 接触状態検出手段
86 断層情報生成手段
88 画像補正手段
S 測定対象
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10, 100, 200 Optical tomographic imaging apparatus 12 Light source unit 14 Branching / multiplexing part 16 Optical probe 18 Optical path length adjustment part 20 Interference light detection part 22 Processing part 24 Display part 26 Rotation drive part 28 Optical fiber coupler 30a, 30b Detection part 32 Operation unit 40 Semiconductor optical amplifier 42 Optical splitter 44 Collimator lens 46 Diffraction grating element 48 Optical system 50 Rotating polygon mirror (polygon mirror)
52 Probe outer cylinder 54 Cap 56 Optical fiber 58 Spring 60 Fixing member 62 Optical lens 64 First optical lens 66 Second optical lens 68 Reflective mirror 70 Base 72 Mirror drive mechanism 80 Interference signal acquisition means 82 A / D conversion means 84 Contact State detection means 86 Tomographic information generation means 88 Image correction means S Measurement object

Claims (9)

光源と、
前記光源から射出された光を測定光と参照光に分岐する分岐部と、
前記測定光を伝達する光ファイバ、前記光ファイバの先端部に配置され、測定対象に光を照射し、その反射光を取得する測定部、前記光ファイバ及び測定部の外周を覆い、前記測定部から光が射出される領域は透明な材料で形成されている外筒を備える光プローブと、
前記測定部及び前記光ファイバを回転させ、前記光プローブの外筒の円周方向に走査する駆動部と、
前記測定部で検出された反射光と、前記参照光を合波して干渉光を生成する合波部と、
前記外筒の円周方向にそれぞれ所定の角度で設定される測定位置である複数のラインについて、ラインごとの前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出部と、
検出した前記干渉信号から前記光プローブと前記測定対象との距離を算出し、算出した前記光プローブと前記測定対象との距離が一定以下の領域を、接触している状態として検出し、検出した結果から接触領域を検出する接触検出部と、
所定のラインの前記干渉信号からラインの断層画像を取得する断層画像取得部とを有し、
前記駆動部が前記測定部及び前記光ファイバを1回転させる間に、前記干渉光検出部が検出した各ラインの干渉信号から前記接触検出部が前記接触領域を検出した後に、
前記駆動部が、前記接触検出部が検出した前記接触領域の情報に基づいて、前記測定部及び前記光ファイバを前記接触領域のみを往復させて、前記測定部が前記接触領域のみで測定対象に光を照射してその反射光を取得し、合波部が前記反射光と参照光とを合波して干渉光を生成し、前記干渉光検出部が前記干渉光から前記接触領域のみで各ラインの干渉信号を検出して、
前記断層画像取得部が、前記駆動部が前記測定部及び前記光ファイバを前記接触領域で往復させる間に前記干渉光検出部が検出した前記干渉信号から、前記接触領域におけるラインごとのラインの断層画像を取得することを特徴とする光断層画像化装置。
A light source;
A branching unit for branching light emitted from the light source into measurement light and reference light;
An optical fiber that transmits the measurement light, a measurement unit that is disposed at the tip of the optical fiber, irradiates the measurement object with light, covers the outer periphery of the optical fiber and the measurement unit, and covers the outer periphery of the measurement unit. The region where light is emitted from the optical probe including an outer cylinder formed of a transparent material,
A drive unit that rotates the measuring unit and the optical fiber and scans in a circumferential direction of an outer cylinder of the optical probe;
A combining unit that generates interference light by combining the reflected light detected by the measurement unit and the reference light;
An interference light detection unit that detects the interference light for each line as an interference signal for a plurality of lines that are measurement positions set at predetermined angles in the circumferential direction of the outer cylinder ,
A distance between the optical probe and the measurement target is calculated from the detected interference signal , and a region where the calculated distance between the optical probe and the measurement target is equal to or less than a certain value is detected and detected. A contact detection unit for detecting a contact area from the result,
It possesses a tomographic image acquisition unit that acquires a tomographic image from the previous SL interference signal lines of a predetermined line,
While the drive unit rotates the measurement unit and the optical fiber once, after the contact detection unit detects the contact region from the interference signal of each line detected by the interference light detection unit,
Based on the information of the contact area detected by the contact detection unit, the drive unit reciprocates only the contact area of the measurement unit and the optical fiber, and the measurement unit becomes a measurement object only in the contact area. The reflected light is obtained by irradiating the light, and the combining unit generates the interference light by combining the reflected light and the reference light, and the interference light detecting unit detects each of the interference light from the interference light only in the contact area. Detect line interference signals,
The tomographic image acquisition unit detects line tom in each line in the contact region from the interference signal detected by the interference light detection unit while the drive unit reciprocates the measurement unit and the optical fiber in the contact region. An optical tomographic imaging apparatus characterized by acquiring an image.
光源と、
前記光源から射出された光を測定光と参照光に分岐する分岐部と、
前記測定光を伝達する光ファイバ、前記光ファイバの先端部に配置され、測定対象に光を照射し、その反射光を取得する測定部、前記光ファイバ及び測定部の外周を覆い、前記測定部から光が射出される領域は透明な材料で形成されている外筒を備える光プローブと、
前記測定部及び前記光ファイバを回転させ、前記光プローブの外筒の円周方向に走査する駆動部と、
前記測定部で検出された反射光と、前記参照光を合波して干渉光を生成する合波部と、
前記外筒の円周方向にそれぞれ所定の角度で設定される測定位置である複数のラインについて、ラインごとの前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出部と、
検出した前記干渉信号から前記光プローブと前記測定対象との距離を算出し、算出した前記光プローブと前記測定対象との距離が一定以下の領域を、接触している状態として検出し、検出した結果から接触領域を検出する接触検出部と、
所定のラインの前記干渉信号からラインの断層画像を取得する断層画像取得部とを有し、
前記駆動部が前記測定部及び前記光ファイバを1回転させる間に、前記干渉光検出部が検出した各ラインの干渉信号から前記接触検出部が前記接触領域を検出した後に、
前記駆動部が前記測定部及び前記光ファイバを回転させて、前記測定部が測定対象に光を照射してその反射光を取得し、合波部が前記反射光と参照光とを合波して干渉光を生成し、前記干渉光検出部が前記干渉光から各ラインの干渉信号を検出して、
前記断層画像取得部が、前記接触検出部が検出した前記接触領域の情報に基づいて、前記接触領域以外の領域においては、所定ラインごとに前記干渉信号からラインの断層画像を取得し、前記接触領域においては、全てのラインで、前記干渉信号からラインの断層画像を取得することにより、前記接触領域以外の領域においてラインの断層画像を取得する場合に比べて、前記接触領域においてラインの断層画像を取得する場合のラインの間隔を小さくすることを特徴とする光断層画像化装置。
A light source;
A branching unit for branching light emitted from the light source into measurement light and reference light;
An optical fiber that transmits the measurement light, a measurement unit that is disposed at the tip of the optical fiber, irradiates the measurement object with light, covers the outer periphery of the optical fiber and the measurement unit, and covers the outer periphery of the measurement unit. The region where light is emitted from the optical probe including an outer cylinder formed of a transparent material,
A drive unit that rotates the measuring unit and the optical fiber and scans in a circumferential direction of an outer cylinder of the optical probe;
A combining unit that generates interference light by combining the reflected light detected by the measurement unit and the reference light;
An interference light detection unit that detects the interference light for each line as an interference signal for a plurality of lines that are measurement positions set at predetermined angles in the circumferential direction of the outer cylinder ,
A distance between the optical probe and the measurement target is calculated from the detected interference signal , and a region where the calculated distance between the optical probe and the measurement target is equal to or less than a certain value is detected and detected. A contact detection unit for detecting a contact area from the result,
It possesses a tomographic image acquisition unit that acquires a tomographic image from the previous SL interference signal lines of a predetermined line,
While the drive unit rotates the measurement unit and the optical fiber once, after the contact detection unit detects the contact region from the interference signal of each line detected by the interference light detection unit,
The drive unit rotates the measurement unit and the optical fiber, the measurement unit irradiates light to the measurement object to acquire the reflected light, and a multiplexing unit combines the reflected light and the reference light. Interference light is generated, the interference light detection unit detects the interference signal of each line from the interference light,
The tomographic image acquisition unit acquires a tomographic image of a line from the interference signal for each predetermined line in a region other than the contact region based on the information on the contact region detected by the contact detection unit, and the contact In the area, the tomographic image of the line in the contact area is obtained in all the lines by acquiring the tomographic image of the line from the interference signal in comparison with the case of acquiring the tomographic image of the line in the area other than the contact area. An optical tomographic imaging apparatus characterized in that the interval between lines in the case of acquiring the image is reduced.
光源と、
前記光源から射出された光を測定光と参照光に分岐する分岐部と、
前記測定光を伝達する光ファイバ、前記光ファイバの先端部に配置され、測定対象に光を照射し、その反射光を取得する測定部、前記光ファイバ及び測定部の外周を覆い、前記測定部から光が射出される領域は透明な材料で形成されている外筒を備える光プローブと、
前記測定部及び前記光ファイバを回転させ、前記光プローブの外筒の円周方向に走査する駆動部と、
前記測定部で検出された反射光と、前記参照光を合波して干渉光を生成する合波部と、
前記外筒の円周方向にそれぞれ所定の角度で設定される測定位置である複数のラインについて、ラインごとの前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出部と、
検出した前記干渉信号から前記光プローブと前記測定対象との距離を算出し、算出した前記光プローブと前記測定対象との距離が一定以下の領域を、接触している状態として検出し、検出した結果から接触領域を検出する接触検出部と、
所定のラインの前記干渉信号からラインの断層画像を取得する断層画像取得部とを有し、
前記駆動部が前記測定部及び前記光ファイバを1回転させる間に、前記干渉光検出部が検出した各ラインの干渉信号から前記接触検出部が前記接触領域を検出した後に、
前記駆動部が、前記接触検出部が検出した前記接触領域の情報に基づいて、前記接触領域以外の領域で前記測定部及び前記光ファイバを回転させるときの回転速度を、前記接触領域で回転させるときの回転速度よりも速くして、前記測定部が前記接触領域と前記接触領域以外の領域とで異なるライン間隔で測定対象に光を照射してその反射光を取得し、合波部が前記反射光と参照光とを合波して干渉光を生成し、前記干渉光検出部が各ラインの干渉信号を検出して、
前記断層画像取得部が、前記駆動部が前記測定部及び前記光ファイバを前記接触領域と前記接触領域以外の領域とで異なる回転速度で回転させる間に前記干渉光検出部が検出した各ラインの前記干渉信号から、ラインごとにラインの断層画像を取得することにより、前記接触領域以外の領域のラインの断層画像を取得する場合に比べて、前記接触領域のラインの断層画像を取得する場合のラインの間隔を小さくすることを特徴とする光断層画像化装置。
A light source;
A branching unit for branching light emitted from the light source into measurement light and reference light;
An optical fiber that transmits the measurement light, a measurement unit that is disposed at the tip of the optical fiber, irradiates the measurement object with light, covers the outer periphery of the optical fiber and the measurement unit, and covers the outer periphery of the measurement unit. The region where light is emitted from the optical probe including an outer cylinder formed of a transparent material,
A drive unit that rotates the measuring unit and the optical fiber and scans in a circumferential direction of an outer cylinder of the optical probe;
A combining unit that generates interference light by combining the reflected light detected by the measurement unit and the reference light;
An interference light detection unit that detects the interference light for each line as an interference signal for a plurality of lines that are measurement positions set at predetermined angles in the circumferential direction of the outer cylinder ,
A distance between the optical probe and the measurement target is calculated from the detected interference signal , and a region where the calculated distance between the optical probe and the measurement target is equal to or less than a certain value is detected and detected. A contact detection unit for detecting a contact area from the result,
It possesses a tomographic image acquisition unit that acquires a tomographic image from the previous SL interference signal lines of a predetermined line,
While the drive unit rotates the measurement unit and the optical fiber once, after the contact detection unit detects the contact region from the interference signal of each line detected by the interference light detection unit,
Based on the information on the contact area detected by the contact detection unit, the driving unit rotates a rotation speed when rotating the measurement unit and the optical fiber in an area other than the contact area in the contact area. When the rotation speed is higher than the rotation speed, the measurement unit irradiates light to the measurement object at different line intervals in the contact region and the region other than the contact region, and obtains the reflected light. The reflected light and the reference light are combined to generate interference light, and the interference light detection unit detects the interference signal of each line,
For each line detected by the interference light detection unit, the tomographic image acquisition unit causes the drive unit to rotate the measurement unit and the optical fiber at different rotation speeds in the contact region and the region other than the contact region. In the case of acquiring a tomographic image of a line in the contact area by acquiring a tomographic image of a line for each line from the interference signal, compared to acquiring a tomographic image of a line in an area other than the contact area. An optical tomographic imaging apparatus characterized by reducing a line interval .
前記接触検出部は、前記駆動部により前記測定部及び前記光ファイバが所定回数回転される毎に、接触状態を検出する請求項1〜3のいずれかに記載の光断層画像化装置。 The contact detection unit, every time the measuring unit and the optical fiber by the driving unit is a predetermined number of times the rotation, optical tomographic imaging apparatus according to claim 1 for detecting the contact state. さらに、前記断層画像取得部で取得した断層画像を表示する表示部を有する請求項1〜のいずれかに記載の光断層画像化装置。 Further, the optical tomographic imaging apparatus according to any one of claims 1 to 4 having a display unit for displaying the tomographic image acquired by the tomographic image obtaining unit. さらに、前記接触領域を、前記断層画像に重畳して表示する請求項に記載の光断層画像化装置。 Further, the optical tomographic imaging apparatus according to the contact area, in claim 5 for displaying superimposed on the tomographic image. さらに、前記接触検出部で検出された接触領域を変更する操作部を有する請求項1〜のいずれかに記載の光断層画像化装置。 Further, the optical tomographic imaging apparatus according to any one of claims 1 to 6 having an operation section for changing the contact area detected by the contact detection unit. さらに、前記参照光の光路上に設けられ前記参照光の光路長を調整する光路長調整部を有し、
前記光路長調整手段により前記参照光の光路長を変化させることで、測定対象の深さ方向の位置毎の干渉光を生成する請求項1〜のいずれかに記載の光断層画像化装置。
Furthermore, an optical path length adjusting unit that is provided on the optical path of the reference light and adjusts the optical path length of the reference light,
Wherein by changing the optical path length of the reference light by the optical path length adjusting means, the optical tomographic imaging apparatus according to any one of claims 1 to 7 for generating an interference light for each position in the depth direction of the measurement object.
前記干渉光検出部は、光のスペクトル成分毎に干渉信号を検出し、
前記接触検出部は、前記干渉信号を周波数解析し、解析結果から前記光プローブと前記測定対象との距離を算出し、
前記断層画像取得部は、前記干渉信号を周波数解析し、解析結果から断層画像を取得する請求項1〜のいずれかに記載の光断層画像化装置。
The interference light detection unit detects an interference signal for each spectral component of light,
The contact detection unit performs frequency analysis on the interference signal, calculates a distance between the optical probe and the measurement target from an analysis result,
The tomographic image acquisition unit, the interference signal frequency analysis, optical tomographic imaging apparatus according to any one of claims 1 to 8 for obtaining a tomographic image from the analysis result.
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