JP2011510463A - イオン移動度分光計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】イオントラップ(1)からイオン移動度分光計(2)中へのイオンの移送を最適化してイオンのフラグメンテーションを防ぐために、イオン移動度分光計(2)の上流に構成されたイオントラップ(1)の出口領域とイオン移動度分光計(2)の入口領域との間の電位差を時間と共に時間的に変化させるイオン移動度分光計(2)が開示される。
【選択図】図2
Description
イオントラップと、
複数の電極を含むイオン移動度分光計またはセパレータであって、イオントラップの下流に構成されたイオン移動度分光計またはセパレータと、
イオントラップの出口領域とイオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位または電圧差を時間的に増加、減少または変化させるよう構成および適合されたデバイスと
を備える質量分析計が提供される。
(i)イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも一部または少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%もしくは100%に沿って少なくともいくつかのイオンを前進させるために、イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも一部または少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%もしくは100%に沿って実質的に一定のDC電圧勾配を維持するためのDC電圧手段、ならびに/あるいは
(ii)イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100% に沿って少なくともいくつかのイオンを前進させるために、イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータを形成する電極に1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位または1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位波形を印加するよう構成および適合された過渡DC電圧手段、ならびに/あるいは
(iii)イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%もしくは100%に沿って少なくともいくつかのイオンを前進させるために、イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータを形成する電極に2つ以上の位相シフトACまたはRF電圧を印加するよう構成および適合されたACまたはRF電圧手段をさらに備え得る。
一実施形態によると、質量分析計は、イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの上流および/または下流に構成された1つ以上のイオンガイドを備え得る。
質量分析計は、イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの上流および/または下流に構成された1つ以上の質量フィルタを備え得、1つ以上の質量フィルタは、(i)四重極質量フィルタ、(ii)二次元または線形四重極イオントラップ、(iii)ポールまたは三次元四重極イオントラップ、(iv)ペニングイオントラップ、(v)イオントラップ、(vi)磁場型質量フィルタ、(vii)飛行時間質量フィルタ、および(viii)ウィーンフィルタからなる群から選ばれてもよい。
(i)イオントラップの出口領域とイオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位または電圧差を時間的に増加、減少または変化させるように構成されている。
(i)イオントラップの出口領域と、イオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位または電圧差を時間的に増加、減少または変化させるように構成されている。
イオントラップを準備する工程と、
複数の電極を含むイオン移動度分光計またはセパレータであって、イオントラップの下流に構成されたイオン移動度分光計またはセパレータを準備する工程と、
イオントラップの出口領域とイオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位または電圧差を時間的に増加、減少または変化させる工程と
を含む質量分析の方法が提供される。
図1は、公知の構成によるイオントラップおよびイオン移動度分光計を、イオントラップの電位、イオントラップの出口に構成されたイオンゲートの電位、およびイオン移動度分光計の長さに沿って維持される電位差を示す電位図と共に示し、
図2は、本発明の好ましい実施形態によるイオントラップおよびイオン移動度分光計を、イオントラップの電位、イオントラップの出口に構成されたイオンゲートの電位、およびイオントラップの出口とイオン移動度分光計の入口との間の電位差を時間の関数として示す電位図と共に示し、
図3は、イオントラップの出口とイオン移動度分光計の入口との間に維持される注入電圧または電位差ΔVが、本発明の好ましい実施形態に従って時間の関数として増加するようにどのように構成されるかを示すとともに、注入電圧のタイミングが、イオントラップの出口に構成されたイオンゲートに印加される抽出パルスにどのように関係しているかを示す。
本発明を好ましい実施形態を参照して説明したが、添付の特許請求の範囲に記載の本発明の範囲から逸脱することなく、形態および詳細において種々の変更が可能であることが当業者には明らかである。
Claims (32)
- イオントラップと、
複数の電極を含むイオン移動度分光計またはセパレータであって、前記イオントラップの下流に構成されたイオン移動度分光計またはセパレータと、
前記イオントラップの出口領域と前記イオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位または電圧差を時間的に増加、減少または変化させるよう構成および適合されたデバイスと
を備える質量分析計。 - 前記イオントラップが、
(i)多重極ロッドセットまたはセグメント化多重極ロッドセットイオンガイドであって、前記ロッドセットイオンガイド内にイオンを軸方向に閉じ込めるための1つ以上の電極またはイオンゲートと組み合わせた多重極ロッドセットまたはセグメント化多重極ロッドセットイオンガイド、
(ii)イオントンネルまたはイオンファネルイオンガイドであって、前記イオンガイド内にイオンを軸方向に閉じ込めるための1つ以上の電極またはイオンゲートと組み合わせたイオントンネルまたはイオンファネルイオンガイド、
(iii)イオンガイドを形成する積層または配列された平面状、板状、または網状の電極であって、前記イオンガイド内にイオンを軸方向に閉じ込めるための1つ以上の電極またはイオンゲートと組み合わせた積層または配列された平面状、板状、または網状の電極、および
(iv)螺旋状イオンガイドであって、前記イオンガイド内にイオンを軸方向に閉じ込めるための1つ以上の電極またはイオンゲートと組み合わせた螺旋状イオンガイドからなる群から選ばれる、請求項1に記載の質量分析計。 - 使用時に、前記電位または電圧差により、イオンが前記イオントラップから前記イオン移動度分光計またはセパレータ中へと加速される、請求項1または2に記載の質量分析計。
- 前記デバイスが、前記イオントラップの出口領域と前記イオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の前記電位または電圧差を、第1の時間t1における第1の電位または電圧差ΔV(t1)から第2の後の時間t2における第2の電位または電圧差ΔV(t2)まで増加、減少または変化させるよう構成および適合され、
(a)ΔV(t1)が、(i)<5V、(ii)5〜10V、(iii)10〜15V、(iv)15〜20V、(v)20〜25V、(vi)25〜30V、(vii)30〜35V、(viii)35〜40V、(ix)40〜45V、(x)45〜50V、(xi)50〜55V、(xii)55〜60V、(xiii)60〜65V、(xiv)65〜70V、(xv)70〜75V、(xvi)75〜80V、(xvii)80〜85V、(xviii)85〜90V、(xix)90〜95V、(xx)95〜100V、および(xxi)>100Vからなる群から選ばれ、かつ/あるいは
(b)ΔV(t2)が、(i)<5V、(ii)5〜10V、(iii)10〜15V、(iv)15〜20V、(v)20〜25V、(vi)25〜30V、(vii)30〜35V、(viii)35〜40V、(ix)40〜45V、(x)45〜50V、(xi)50〜55V、(xii)55〜60V、(xiii)60〜65V、(xiv)65〜70V、(xv)70〜75V、(xvi)75〜80V、(xvii)80〜85V、(xviii)85〜90V、(xix)90〜95V、(xx)95〜100V、および(xxi)>100Vからなる群から選ばれる、請求項1、2または3に記載の質量分析計。 - (a)ΔV(t2)−ΔV(t1)またはΔV(t1)−ΔV(t2)が、(i)<5V、(ii)5〜10V、(iii)10〜15V、(iv)15〜20V、(v)20〜25V、(vi)25〜30V、(vii)30〜35V、(viii)35〜40V、(ix)40〜45V、(x)45〜50V、(xi)50〜55V、(xii)55〜60V、(xiii)60〜65V、(xiv)65〜70V、(xv)70〜75V、(xvi)75〜80V、(xvii)80〜85V、(xviii)85〜90V、(xix)90〜95V、(xx)95〜100V、および(xxi)>100Vからなる群から選ばれ、かつ/または
(b)Δt=t2−t1であり、Δtが、(i)<1μs、(ii)1〜10μs、(iii)10〜20μs、(iv)20〜30μs、(v)30〜40μs、(vi)40〜50μs、(vii)50〜60μs、(viii)60〜70μs、(ix)70〜80μs、(x)80〜90μs、(xi)90〜100μs、(xii)100〜200μs、(xiii)200〜300μs、(xiv)300〜400μs、(xv)400〜500μs、(xvi)500〜600μs、(xvii)600〜700μs、(xviii)700〜800μs、(xix)800〜900μs、(xx)900〜1000μs、(xxi)1〜2ms、(xxii)2〜3ms、(xxiii)3〜4ms、(xxiv)4〜5ms、および(xxv)>5msからなる群から選ばれる、請求項4に記載の質量分析計。 - 前記デバイスが、前記イオントラップの出口領域と前記イオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の前記電位または電圧差を、線形的に、非線形的に、二次式的に、指数関数的に、階段状に、曲線状にまたは漸進的に、時間的に増加、減少または変化させるよう構成および適合されている、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記イオン移動度分光計またはセパレータが気相電気泳動デバイスを含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記イオン移動度分光計またはセパレータが、
(i)ドリフト管、
(ii)多重極ロッドセットイオンガイドまたはセグメント化多重極ロッドセットイオンガイド、
(iii)イオントンネルまたはイオンファネルイオンガイド、
(iv)イオンガイドを形成する積層もしくは配列された平面状、板状、もしくは網状の電極、および
(v)螺旋状イオンガイドからなる群から選ばれる、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。 - 前記ドリフト管が、1つ以上の電極と、前記ドリフト管の軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に沿って軸方向DC電圧勾配または実質的に一定もしくは線形の軸方向DC電圧勾配を維持するためのデバイスとを含む、請求項8に記載の質量分析計。
- 前記多重極ロッドセットイオンガイドが、四重極ロッドセットイオンガイド、六重極ロッドセットイオンガイド、八重極ロッドセットイオンガイドまたは8個を超えるロッドを含むロッドセットイオンガイドを含む、請求項2または8に記載の質量分析計。
- 前記イオントンネルまたはイオンファネルイオンガイドが、
(i)使用時にイオンが移送される開口を有する複数の電極または少なくとも2個、5個、10個、20個、30個、40個、50個、60個、70個、80個、90個もしくは100個の電極であって、前記電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%が寸法または面積が実質的に同じ開口を有するかあるいは寸法または面積が漸進的に大きくなりかつ/または小さくなる開口を有する電極、あるいは
(ii)使用時にイオンが移送される開口を有する、少なくとも2個、5個、10個、20個、30個、40個、50個、60個、70個、80個、90個または100個の第1の電極および少なくとも2個、5個、10個、20個、30個、40個、50個、60個、70個、80個、90個または100個の第2の電極であって、前記第1の電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%が実質的に同じ第1の寸法または面積を有する開口を有し、前記第2の電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%が実質的に同じ第2の寸法または面積を有する開口を有し、前記第1の寸法または面積が、前記第2の寸法または面積と実質的に異なる第1の電極および第2の電極を含む、請求項2または8に記載の質量分析計。 - 前記電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%が、(i)≦1.0mm、(ii)≦2.0mm、(iii)≦3.0mm、(iv)≦4.0mm、(v)≦5.0mm、(vi)≦6.0mm、(vii)≦7.0mm、(viii)≦8.0mm、(ix)≦9.0mm、(x)≦10.0mm、および(xi)>10.0mmからなる群から選ばれる内径または内寸を有する、請求項11に記載の質量分析計。
- 前記積層または配列された平面状、板状または網状の電極は、複数または少なくとも2個、3個、4個、5個、6個、7個、8個、9個、10個、11個、12個、13個、14個、15個、16個、17個、18個、19個もしくは20個の平面状、板状または網状の電極を含み、前記平面状、板状または網状の電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%が、使用時にイオンが進行するかあるいは移送される平面内に概ね構成されている、請求項2または8に記載の質量分析計。
- 前記平面状、板状または網状の電極の少なくともいくつかまたは少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%にACまたはRF電圧が供給され、隣り合う平面状、板状または網状の電極に前記ACまたはRF電圧の反対の位相が供給される、請求項13に記載の質量分析計。
- 前記螺旋状イオンガイドが、使用時にイオンが移送される1つ以上の螺旋状、トロイダル状、一部トロイダル状、片トロイダル状、半トロイダル状または渦巻き状の管を含み、イオンが、当該イオンが前記イオンガイドに沿ってかつ前記イオンガイドを通って進むとき、実質的に螺旋状、トロイダル状、一部トロイダル状、片トロイダル状、半トロイダル状または渦巻き状の軌道を進行するよう構成されている、請求項2または8に記載の質量分析計。
- 前記1つ以上の管が、
(i)漏出性(leaky)誘電体から形成され、かつ/あるいは
(ii)抵抗ガラス、ケイ酸鉛添加ガラスまたはセラミックから形成されている、請求項15に記載の質量分析計 - 前記螺旋状イオンガイドが、使用時にイオンが移送される1つ以上の開口をそれぞれが含む複数の電極を含み、前記イオンガイドが、螺旋状、トロイダル状、一部トロイダル状、片トロイダル状、半トロイダル状または渦巻き状のイオンガイド領域を含む、請求項2または8に記載の質量分析計。
- 前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータが、複数の軸方向セグメントまたは少なくとも5個、10個、15個、20個、25個、30個、35個、40個、45個、50個、55個、60個、65個、70個、75個、80個、85個、90個、95個または100個の軸方向セグメントを含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。
- (i)前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも一部または少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%もしくは100%に沿って少なくともいくつかのイオンを前進させるために、前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも一部または少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%もしくは100%に沿って実質的に一定のDC電圧勾配を維持するためのDC電圧手段、ならびに/あるいは
(ii)前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100% に沿って少なくともいくつかのイオンを前進させるために、前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータを形成する電極に1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位または1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位波形を印加するよう構成および適合された過渡DC電圧手段、ならびに/あるいは
(iii)前記イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%もしくは100%に沿って少なくともいくつかのイオンを前進させるために、前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータを形成する電極に2つ以上の位相シフトACまたはRF電圧を印加するよう構成および適合されたACまたはRF電圧手段をさらに備える、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。 - 前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータが、(i)<20mm、(ii)20〜40mm、(iii)40〜60mm、(iv)60〜80mm、(v)80〜100mm、(vi)100〜120mm、(vii)120〜140mm、(viii)140〜160mm、(ix)160〜180mm、(x)180〜200mm、(xi)200〜220mm、(xii)220〜240mm、(xiii)240〜260mm、(xiv)260〜280mm、(xv)280〜300mm、および(xvi)>300mmからなる群から選ばれる軸方向長さを有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータが、前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータ内にイオンを半径方向に閉じ込めるために、前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータを形成する電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、または100%にACまたはRF電圧を印加するよう構成および適合されたACまたはRF電圧手段をさらに備える、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記ACまたはRF電圧手段が、
(a)(i)<50Vピークピーク、(ii)50〜100Vピークピーク、(iii)100〜150Vピークピーク、(iv)150〜200Vピークピーク、(v)200〜250Vピークピーク、(vi)250〜300Vピークピーク、(vii)300〜350Vピークピーク、(viii)350〜400Vピークピーク、(ix)400〜450Vピークピーク、(x)450〜500Vピークピーク、および(xi)>500Vピークピークからなる群から選ばれる振幅を有するACまたはRF電圧を前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの電極に供給し、かつ/あるいは
(b)(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選ばれる周波数を有するACまたはRF電圧を前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの電極に供給するよう構成および適合された、請求項21に記載の質量分析計。 - 1〜100、100〜200、200〜300、300〜400、400〜500、500〜600、600〜700、700〜800、800〜900、900〜1000、または>1000の範囲の質量電荷比を有する一価イオンが、(i)0〜1ms、(ii)1〜2ms、(iii)2〜3ms、(iv)3〜4ms、(v)4〜5ms、(vi)5〜6ms、(vii)6〜7ms、(viii)7〜8ms、(ix)8〜9ms、(x)9〜10ms、(xi)10〜11ms、(xii)11〜12ms、(xiii)12〜13ms、(xiv)13〜14ms、(xv)14〜15ms、(xvi)15〜16ms、(xvii)16〜17ms、(xviii)17〜18ms、(xix)18〜19ms、(xx)19〜20ms、(xxi)20〜21ms、(xxii)21〜22ms、(xxiii)22〜23ms、(xxiv)23〜24ms、(xxv)24〜25ms、(xxvi)25〜26ms、(xxvii)26〜27ms、(xxviii)27〜28ms、(xxix)28〜29ms、(xxx)29〜30ms、(xxxi)30〜35ms、(xxxii)35〜40ms、(xxxiii)40〜45ms、(xxxiv)45〜50ms、(xxxv)50〜55ms、(xxxvi)55〜60ms、(xxxvii)60〜65ms、(xxxviii)65〜70ms、(xxxix)70〜75ms、(xl)75〜80ms、(xli)80〜85ms、(xlii)85〜90ms、(xliii)90〜95ms、(xliv)95〜100ms、および(xlv)>100msの範囲の前記イオン移動度分光計またはセパレータを通るドリフトまたは通過時間を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの少なくとも一部を(i)>0.001mbar、(ii)>0.01mbar、(iii)>0.1mbar、(iv)>1mbar、(v)>10mbar、(vi)>100mbar、(vii)<0.001mbar、(viii)<0.01mbar、(ix)<0.1mbar、(x)<1mbar、(xi)<10mbar、(xii)<100mbar、(xiii)0.001〜0.01mbar、(xiv)0.01〜0.1mbar、(xiv)0.1〜1mbar、(xv)1〜10mbar、および(xvi)10〜100mbarからなる群から選ばれる圧力に維持するよう構成および適合されたデバイスをさらに備える、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。
- (a)前記イオン移動度分光計が、イオンをそのイオン移動度に応じて時間的に分離させるよう構成され、かつ/あるいは
(b)前記イオン移動度分光計が、イオンを電場強度に伴うそのイオン移動度の変化率に応じて時間的に分離させるよう構成および適合されたフィールド非対称イオン移動度分光計(「FAIMS」)を含み、かつ/あるいは
(c)使用時に、緩衝、反応またはフラグメンテーションガスが前記イオン移動度分光計内に備えられる、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。 - (a)前記イオン移動度分光計を通過するイオンの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%、または100%の滞在、通過または反応時間が、(i)<1ms、(ii)1〜5ms、(iii)5〜10ms、(iv)10〜15ms、(v)15〜20ms、(vi)20〜25ms、(vii)25〜30ms、(viii)30〜35ms、(ix)35〜40ms、(x)40〜45ms、(xi)45〜50ms、(xii)50〜55ms、(xiii)55〜60ms、(xiv)60〜65ms、(xv)65〜70ms、(xvi)70〜75ms、(xvii)75〜80ms、(xviii)80〜85ms、(xix)85〜90ms、(xx)90〜95ms、(xxi)95〜100ms、(xxii)100〜105ms、(xxiii)105〜110ms、(xxiv)110〜115ms、(xxv)115〜120ms、(xxvi)120〜125ms、(xxvii)125〜130ms、(xxviii)130〜135ms、(xxix)135〜140ms、(xxx)140〜145ms、(xxxi)145〜150ms、(xxxii)150〜155ms、(xxxiii)155〜160ms、(xxxiv)160〜165ms、(xxxv)165〜170ms、(xxxvi)170〜175ms、(xxxvii)175〜180ms、(xxxviii)180〜185ms、(xxxix)185〜190ms、(xl)190〜195ms、(xli)195〜200ms、および(xlii)>200msからなる群から選ばれ、かつ/あるいは
(b)前記イオン移動度分光計が、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選ばれるサイクル時間を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。 - (a)構成されたイオン源であって、(i)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザ脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコンを用いた脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝突(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)電界イオン化(「FI」)イオン源、(xi)電界脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源、(xvi)ニッケル−63放射性イオン源、(xvii)大気圧マトリックス支援レーザ脱離イオン化イオン源、(xviii)サーモスプレーイオン源、(xix)大気サンプリンググロー放電イオン化(「ASGDI」)イオン源、および(xx)グロー放電(「GD」)イオン源からなる群から選ばれるイオン源、ならびに/あるいは
(b)1つ以上の連続またはパルス化イオン源、ならびに/あるいは
(c)前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの上流および/または下流に構成された1つ以上のイオンガイド、ならびに/あるいは
(d)前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの上流および/または下流に構成された1つ以上のイオン移動度分離デバイスおよび/または1つ以上のフィールド非対称イオン移動度分光計デバイス、ならびに/あるいは
(e)前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの上流および/または下流に構成された1つ以上のイオントラップまたは1つ以上のイオントラップ領域、ならびに/あるいは
(f)前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの上流および/または下流に構成された1つ以上の衝突、フラグメンテーションまたは反応セルであって、前記1つ以上の衝突、フラグメンテーションまたは反応セルが、(i)衝突誘起解離(「CID」)フラグメンテーションデバイス、(ii)表面誘起解離(「SID」)フラグメンテーションデバイス、(iii)電子移動解離(「ETD」)フラグメンテーションデバイス、(iv)電子捕獲解離(「ECD」)フラグメンテーションデバイス、(v)電子衝突または衝撃解離フラグメンテーションデバイス、(vi)光誘起解離(「PID」)フラグメンテーションデバイス、(vii)レーザ誘起解離フラグメンテーションデバイス、(viii)赤外放射誘起解離デバイス、(ix)紫外放射誘起解離デバイス、(x)ノズル−スキマ間インターフェースフラグメンテーションデバイス、(xi)インソースフラグメンテーションデバイス、(xii)インソース衝突誘起解離フラグメンテーションデバイス、(xiii)熱または温度源フラグメンテーションデバイス、(xiv)電界誘起フラグメンテーションデバイス、(xv)磁場誘起フラグメンテーションデバイス、(xvi)酵素消化または酵素分解フラグメンテーションデバイス、(xvii)イオン−イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xviii)イオン−分子反応フラグメンテーションデバイス、(xix)イオン−原子反応フラグメンテーションデバイス、(xx)イオン−準安定イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xxi)イオン−準安定分子反応フラグメンテーションデバイス、(xxii)イオン−準安定原子反応フラグメンテーションデバイス、(xxiii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−イオン反応デバイス、(xxiv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−分子反応デバイス、(xxv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−原子反応デバイス、(xxvi)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−準安定イオン反応デバイス、(xxvii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−準安定分子反応デバイス、(xxviii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−準安定原子反応デバイス、および(xxix)電子イオン化解離(「EID」)フラグメンテーションデバイスからなる群から選ばれる衝突、フラグメンテーションまたは反応セル、ならびに/あるいは
(g)(i)四重極質量分析部、(ii)二次元または線形四重極質量分析部、(iii)ポールまたは三次元四重極質量分析部、(iv)ペニングトラップ質量分析部、(v)イオントラップ質量分析部、(vi)磁場型質量分析部、(vii)飛行時間質量分析部、(viii)直交加速式飛行時間質量分析部、および(ix)直線加速式飛行時間質量分析部からなる群から選ばれる質量分析部、ならびに/あるいは
(h)前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの上流および/または下流に構成された1つ以上のエネルギー分析器または静電エネルギー分析器、ならびに/あるいは
(i)1つ以上のイオン検出器、ならびに/あるいは
(j)前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの上流および/または下流に構成された1つ以上の質量フィルタであって、前記1つ以上の質量フィルタは、(i)四重極質量フィルタ、(ii)二次元または線形四重極イオントラップ、(iii)ポールまたは三次元四重極イオントラップ、(iv)ペニングイオントラップ、(v)イオントラップ、(vi)磁場型質量フィルタ、(vii)飛行時間質量フィルタ、および(viii)ウィーンフィルタからなる群から選ばれる質量フィルタ、ならびに/あるいは
(k)実質的に連続したイオンビームをパルス化イオンビームに変換するためのデバイスであって、前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの上流および/または下流に構成されたデバイスをさらに備える、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。 - 前記質量分析計が
Cトラップと、
質量分析部とをさらに備え、
第1の動作モードにおいて、イオンが前記Cトラップに移送され、次いで前記質量分析部に注入され、
第2の動作モードにおいて、イオンが前記Cトラップに移送され、次いで衝突、フラグメンテーションもしくは反応セルまたは電子移動解離および/もしくはプロトン移動反応デバイスに移送され、少なくともいくつかのイオンがフラグメントイオンにフラグメンテーションされ、かつ/または反応して生成イオンを形成し、前記フラグメントイオンおよび/または前記生成イオンが、次いで、前記Cトラップに移送されてから前記質量分析部に注入される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析計。 - 質量分析計の制御システムによって実行可能なコンピュータプログラムであって、前記質量分析計が、イオントラップと、複数の電極を含むイオン移動度分光計またはセパレータとを備え、前記イオン移動度分光計またはセパレータが、前記イオントラップの下流に構成され、前記コンピュータプログラムが、前記制御システムに、
(i)前記イオントラップの出口領域と前記イオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位または電圧差を時間的に増加、減少または変化させるように構成されている、コンピュータプログラム。 - コンピュータ読み取り可能な媒体に記憶されたコンピュータで実行可能な命令を含むコンピュータ読み取り可能な媒体であって、前記命令が、質量分析計の制御システムによって実行可能に構成され、前記質量分析計が、イオントラップと、複数の電極を含むイオン移動度分光計またはセパレータとを備え、前記イオン移動度分光計またはセパレータが、前記イオントラップの下流に構成され、前記命令が、前記制御システムに、
(i)前記イオントラップの出口領域と、前記イオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位または電圧差を時間的に増加、減少または変化させるように構成されている、コンピュータ読み取り可能な媒体。 - 前記コンピュータ読み取り可能な媒体が、(i)ROM、(ii)EAROM、(iii)EPROM、(iv)EEPROM、(v)フラッシュメモリ、および(vi)光ディスクからなる群から選ばれる、請求項30に記載のコンピュータ読み取り可能な媒体。
- イオントラップを準備する工程と、
複数の電極を含むイオン移動度分光計またはセパレータであって、前記イオントラップの下流に構成されたイオン移動度分光計またはセパレータを準備する工程と、
前記イオントラップの出口領域と前記イオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位または電圧差を時間的に増加、減少または変化させる工程と
を含む質量分析の方法。
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