JP2011252771A - Electronic medical thermometer and control method for the same - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic medical thermometer that reduces power consumption when not in use for measuring body temperature while maintaining measuring accuracy by appropriately controlling the frequency of clocks used for measurement.SOLUTION: An electronic medical thermometer, having an integrating circuit in which a thermistor and a capacitor are connected in series and a clock generator that generates clock signals, measures a transitional period of the integrating circuit shifting from a steady state to a transitional state by counting clock signals generated by the clock generator; calculates the temperature value on the basis of the measured transitional period; derives from the calculated temperature value a plurality of predicted values by a plurality of prediction formulas; selects one out of the plurality of prediction formulas on the basis of the variation over time of each value; acquires an equilibrium temperature value as a body temperature measurement result by using the selected prediction formula; and displays the same, wherein the clock generator switches over the frequency of the clock signals on the basis of the calculated temperature value.

Description

本発明は、電子体温計及びその制御方法に関するものである。   The present invention relates to an electronic thermometer and a control method thereof.

電子体温計の分野では、従来より、温度変化に伴うサーミスタの抵抗変化を測定することにより温度計測値を取得している。このようなサーミスタの抵抗変化を測定するための技術として、サーミスタを含むCR発振器を構成してその発振周波数を計測する方法や、単一入力積分型A/D変換回路を用いた方法などが挙げられる(特許文献1)。   Conventionally, in the field of electronic thermometers, temperature measurement values are obtained by measuring resistance changes of the thermistors accompanying temperature changes. As a technique for measuring the resistance change of the thermistor, a method of configuring a CR oscillator including the thermistor and measuring its oscillation frequency, a method using a single input integration type A / D conversion circuit, and the like can be cited. (Patent Document 1).

単一入力積分型A/D変換回路を用いた温度計測では、サーミスタとコンデンサが直列に接続された積分回路が用いられる。そして、サーミスタの抵抗変化に応じて変化する積分回路の過渡期間(コンデンサの充電時間或いは放電時間)を計測することにより温度値の算出を行うことができる。   In temperature measurement using a single input integration type A / D conversion circuit, an integration circuit in which a thermistor and a capacitor are connected in series is used. The temperature value can be calculated by measuring the transient period (capacitor charging time or discharging time) of the integrating circuit that changes in accordance with the resistance change of the thermistor.

また、特許文献2には、計測開始時の初期の実測値の変化に基づいて適切な予測式を選択して、計測精度を向上するとともに体温計測に要する時間を短縮することが記載されている。   Patent Document 2 describes that an appropriate prediction formula is selected based on a change in an initial actual measurement value at the start of measurement, thereby improving measurement accuracy and shortening time required for body temperature measurement. .

特開2003−075263号公報JP 2003-075263 A 特開2007−024530号公報JP 2007-024530 A

一般に、病院用の電子体温計では、液密性を持たせるために、手動操作による電源ON/OFFスイッチを設けていない。また、患者が体温測定をした後、看護師が体温計を回収して体温値を読み取るまでの時間が不定であるため、病院用の電子体温計には自動パワーオフ機能は設けないのが普通である。したがって、この種の電子体温計は、体温測定時以外であっても電源ON状態を維持していることが多く、その間に無駄に電力が消費され、電池寿命を縮めることになる。   In general, electronic thermometers for hospitals are not provided with a manual power ON / OFF switch in order to provide liquid-tightness. In addition, since the time from when the patient measures the thermometer until the nurse collects the thermometer and reads the thermometer is indefinite, the hospital electronic thermometer usually does not have an automatic power-off function. . Therefore, this type of electronic thermometer often maintains the power-on state even when the body temperature is not measured, during which time power is wasted and the battery life is shortened.

特に、単一入力積分型A/D変換回路を用いた電子体温計では、積分回路の過渡期間をより高精度に測定するために、非常に高い周波数のクロックが必要となり、体温測定時以外の無駄な電力消費はより深刻である。   In particular, an electronic thermometer using a single-input integrating A / D converter circuit requires a very high frequency clock in order to measure the transient period of the integrating circuit with higher accuracy, which is a waste of time other than during body temperature measurement. Power consumption is more serious.

本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、計測に用いるクロックの周波数を適切に制御することにより、計測精度を維持しながら体温計測時以外の消費電力を低減する電子体温計を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and provides an electronic thermometer that reduces power consumption other than during body temperature measurement while maintaining measurement accuracy by appropriately controlling the frequency of a clock used for measurement. With the goal.

上記の目的を達成するために本発明に係る電子体温計は以下のような構成を備える。即ち、
サーミスタとコンデンサとが直列に接続された積分回路と、
クロック信号を生成するクロック手段と、
前記積分回路において定常状態から過渡状態に移行した際の過渡期間を前記クロック信号をカウントすることにより計測する計測手段と、
前記計測手段で計測された前記過渡期間に基づいて温度値を算出する算出手段と、
前記算出手段で算出された温度値から複数の予測式にしたがって複数の予測値を導出する予測値導出手段と、
前記複数の予測値のそれぞれの経時変化に基づいて、前記複数の予測式から一つの予測式を選択する選択手段と、
前記選択手段により選択された予測式を用いて体温計測結果としての平衡温度値を取得し、表示する表示出力手段とを備え、
前記クロック手段は、前記算出手段で算出された温度値に基づいて、前記クロック信号の周波数を切り替える。
In order to achieve the above object, an electronic thermometer according to the present invention has the following configuration. That is,
An integrating circuit in which a thermistor and a capacitor are connected in series;
Clock means for generating a clock signal;
A measuring means for measuring a transient period when transitioning from a steady state to a transient state in the integration circuit by counting the clock signal;
Calculating means for calculating a temperature value based on the transient period measured by the measuring means;
Predicted value deriving means for deriving a plurality of predicted values from the temperature values calculated by the calculating means according to a plurality of prediction formulas;
A selection unit that selects one prediction formula from the plurality of prediction formulas based on each time-dependent change of the plurality of prediction values;
A display output means for acquiring and displaying an equilibrium temperature value as a body temperature measurement result using the prediction formula selected by the selection means;
The clock means switches the frequency of the clock signal based on the temperature value calculated by the calculation means.

本発明によれば、計測に用いるクロックの周波数が適切に制御されるので、計測精度を維持しながら体温計測時以外の消費電力を低減でき、予測検温の場合に少なくとも10000回の検温が可能な予測/実測電子体温計を提供することができる。   According to the present invention, since the frequency of the clock used for measurement is appropriately controlled, it is possible to reduce power consumption other than during body temperature measurement while maintaining measurement accuracy, and at least 10,000 temperature measurements can be performed in the case of predictive temperature measurement. A prediction / measurement electronic thermometer can be provided.

本発明の一実施形態にかかる電子体温計100の外観構成を示す図である。It is a figure which shows the external appearance structure of the electronic thermometer 100 concerning one Embodiment of this invention. 電子体温計100の機能構成を示す内部ブロック図である。3 is an internal block diagram illustrating a functional configuration of the electronic thermometer 100. FIG. 電子体温計100における体温計測処理の流れを示すフローチャートである。3 is a flowchart showing a flow of a body temperature measurement process in the electronic thermometer 100. 温度計測部210の詳細構成を示す図である。It is a figure which shows the detailed structure of the temperature measurement part 210. FIG. 積分回路を用いた一般的な温度計測処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the general temperature measurement process using an integration circuit. コンデンサ403の両端の電圧の時間変化及びA/D変換部420より出力されるディジタル信号の時間変化を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a time change of a voltage across a capacitor 403 and a time change of a digital signal output from an A / D conversion unit 420. 第1の実施形態における温度計測処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the temperature measurement process in 1st Embodiment. コンデンサ403の両端の電圧の時間変化及びA/D変換部420より出力されるディジタル信号の時間変化を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a time change of a voltage across a capacitor 403 and a time change of a digital signal output from an A / D conversion unit 420. 第3の実施形態における温度計測処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the temperature measurement process in 3rd Embodiment. コンデンサ403の両端の電圧の時間変化及びA/D変換部420より出力されるディジタル信号の時間変化を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a time change of a voltage across a capacitor 403 and a time change of a digital signal output from an A / D conversion unit 420. 実施形態によるクロック周波数の切替処理を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the switching process of the clock frequency by embodiment. 検温素子による温度実測値の変化の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the change of the temperature actual value by a temperature measuring element. 電子体温計の計測値に基づく群分けを説明する図である。It is a figure explaining the grouping based on the measured value of an electronic thermometer. 複数の予測値の変化に基づく群の決定を説明する図である。It is a figure explaining the determination of the group based on the change of a some predicted value. 基準点の補正を行なう場合の条件を示す図である。It is a figure which shows the conditions in the case of correct | amending a reference point.

以下、本発明の各実施形態について図面を参照しながら説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

[第1の実施形態]
1.電子体温計の外観構成
図1は、本発明の一実施形態にかかる予測/実測電子体温計100の外観構成を示す図であり、図1(a)は平面図を、図1(b)は側面図をそれぞれ示している。101は耐衝撃性と耐薬品性を有する熱可塑性樹脂からなる本体ケースで、図2により後述する演算制御部220等の電子回路、電池(電源部250)等が収納される。
[First Embodiment]
1. Appearance Configuration FIG. 1 of the electronic thermometer is a diagram showing such an external configuration of the prediction / actual electronic clinical thermometer 100 according to an embodiment of the present invention, FIG. 1 (a) is a plan view and FIG. 1 (b) is a side view Respectively. Reference numeral 101 denotes a main body case made of a thermoplastic resin having impact resistance and chemical resistance, in which an electronic circuit such as an arithmetic control unit 220 described later with reference to FIG.

102は、ステンレス製の金属キャップで、内部には温度を計測するためのサーミスタ(詳細は後述)等が液密に収納される。103は電源ON/OFFスイッチであり、1回押圧すると電源部250がONとなり、再度押圧すると電源部250がOFFとなる。なお、病院用の電子体温計などでは、液密性をもたせるために、電源ON/OFFスイッチ103のような手動操作によるON/OFFスイッチを設けないで、マグネットリードスイッチ251(図2)を設けている。このため、電子体温計100が収納ケースから出されるとマグネットリードスイッチがONされ、電源部250から演算制御部220等の電子回路、温度計測部210、表示部230等に電子体温計100が永久磁石を内蔵した収納ケース(不図示)に収納されるまで電源が供給され続け、電源がON状態となる。なお、電源ON/OFFスイッチ103とマグネットリードスイッチ251の両方を具備させるようにしても良い。   Reference numeral 102 denotes a stainless steel metal cap in which a thermistor (details will be described later) for measuring temperature is stored in a liquid-tight manner. A power ON / OFF switch 103 is turned on when the power supply unit 250 is pressed once, and turned off when pressed again. In an electronic thermometer for hospitals and the like, a magnet reed switch 251 (FIG. 2) is provided without providing a manual ON / OFF switch such as the power ON / OFF switch 103 in order to provide liquid tightness. Yes. For this reason, when the electronic thermometer 100 is taken out of the storage case, the magnet reed switch is turned on, and the electronic thermometer 100 installs a permanent magnet from the power supply unit 250 to the electronic circuit such as the arithmetic control unit 220, the temperature measuring unit 210, the display unit 230, and the like. The power is continuously supplied until it is stored in a built-in storage case (not shown), and the power is turned on. Note that both the power ON / OFF switch 103 and the magnet reed switch 251 may be provided.

104は液晶表示器であり、被検者の体温を表示する。105はスピーカであり、演算制御部220における処理に基づいて、音声を出力する。なお、音声出力ではなく、単にブザー等で体温計測終了等を通知するものとしてもよい。また、表示器104は液晶に限られるものではない。また、表示器104は耐衝撃性と耐薬品性を有し、透明の熱可塑性樹脂で形成された窓部材で覆われ、この窓部材は、本体ケース101と2色成形され、液密性を有している。   A liquid crystal display 104 displays the body temperature of the subject. Reference numeral 105 denotes a speaker, which outputs sound based on processing in the arithmetic control unit 220. Note that the end of body temperature measurement or the like may be notified by a buzzer or the like instead of voice output. The display 104 is not limited to liquid crystal. The display 104 has impact resistance and chemical resistance, and is covered with a window member formed of a transparent thermoplastic resin. This window member is molded in two colors with the main body case 101 to provide liquid-tightness. Have.

2.電子体温計の機能構成
図2は本実施形態にかかる電子体温計100の機能構成を示す内部ブロック図である。
2. Functional Configuration of Electronic Thermometer FIG. 2 is an internal block diagram showing the functional configuration of the electronic thermometer 100 according to the present embodiment.

電子体温計100は、温度に対応した時間分のON信号を出力する温度計測部210と、温度計測部210より出力されたON信号に基づいて各種処理を行い、被検者の体温を演算すると共に電子体温計100全体の動作を制御する演算制御部220と、演算された被検者の体温を表示器104(例えば、液晶表示器)に表示する表示部230と、スピーカ105により音声データを出力する音声出力部240と、電源部250とを備える。電源部250は電池を含み、マグネットリードスイッチ251を介して電力を演算制御部220等へ供給する。   The electronic thermometer 100 calculates a body temperature of the subject by performing various processes based on the temperature measurement unit 210 that outputs an ON signal for a time corresponding to the temperature, and the ON signal output from the temperature measurement unit 210. Audio data is output by the calculation control unit 220 that controls the operation of the entire electronic thermometer 100, the display unit 230 that displays the calculated body temperature of the subject on the display 104 (for example, a liquid crystal display), and the speaker 105. An audio output unit 240 and a power supply unit 250 are provided. The power supply unit 250 includes a battery, and supplies power to the arithmetic control unit 220 and the like via the magnet reed switch 251.

温度計測部210は、互いに並列に接続されたサーミスタ(測定用抵抗素子)及び基準抵抗素子と、単一入力積分型A/D変換回路とを備え、温度に対応した時間分のON信号(温度に対応して、ON時間が変わるディジタル信号)を出力する。なお、温度計測部210の詳細構成及び温度計測処理の流れについては後述する。   The temperature measurement unit 210 includes a thermistor (measuring resistance element) and a reference resistance element connected in parallel to each other, and a single input integration type A / D conversion circuit, and an ON signal (temperature) corresponding to the temperature. In response to the above, a digital signal whose ON time changes) is output. The detailed configuration of the temperature measurement unit 210 and the flow of temperature measurement processing will be described later.

演算制御部220は、温度計測部210より出力されるディジタル信号のON時間を計測するタイマー222を備える。タイマー222は、制御回路221内のクロック発生部228が生成したクロックをカウントし、得られたカウント値と当該クロックの周波数に基づいて上記ON時間を計測する。   The arithmetic control unit 220 includes a timer 222 that measures the ON time of the digital signal output from the temperature measurement unit 210. The timer 222 counts the clock generated by the clock generator 228 in the control circuit 221, and measures the ON time based on the obtained count value and the frequency of the clock.

また、演算制御部220は演算処理部223を備える。演算処理部223は、ROM224に格納されたプログラムを実行することで、タイマー222により計測された時間に基づいて温度データを算出し、算出された温度データを時系列でRAM226に記憶し、算出された温度データの時間変化に基づいて被検体の体温を予測演算する。また、EEPROM225には所定の音声データが格納されており、演算処理部223は、この音声データを用いて音声出力部240より音声データの出力を行う。また、クロック発生部228が出力するクロックは、演算処理部223の指示により低周波数クロックと高周波数クロックのいずれかに切り替えることができる。   The arithmetic control unit 220 includes an arithmetic processing unit 223. The arithmetic processing unit 223 calculates the temperature data based on the time measured by the timer 222 by executing a program stored in the ROM 224, and stores the calculated temperature data in the RAM 226 in time series. The body temperature of the subject is predicted and calculated based on the time change of the temperature data. In addition, predetermined audio data is stored in the EEPROM 225, and the arithmetic processing unit 223 outputs audio data from the audio output unit 240 using the audio data. The clock output from the clock generation unit 228 can be switched to either a low frequency clock or a high frequency clock according to an instruction from the arithmetic processing unit 223.

更に、演算制御部220は、演算処理部223における演算結果を表示する表示部230を制御するための表示制御部227を備える。   Further, the calculation control unit 220 includes a display control unit 227 for controlling the display unit 230 that displays the calculation result in the calculation processing unit 223.

更に、演算制御部220は、上記タイマー222、表示制御部227、演算処理部223、温度計測部210を制御する制御回路221を備える。   Further, the arithmetic control unit 220 includes a control circuit 221 that controls the timer 222, the display control unit 227, the arithmetic processing unit 223, and the temperature measurement unit 210.

3.電子体温計における体温計測処理の流れ
3.1 電子体温計における体温計測処理の全体の流れ
次に、電子体温計における体温計測処理の流れについて説明する。なお、ここでは、平衡温予測式の電子体温計100の体温計測処理の流れについて説明するが、本発明はこれに限定されず、実測式の電子体温計、予測/実測を併用するタイプの電子体温計にも適用可能である。
3. Flow of temperature measurement process in electronic thermometer
3.1 Overall Flow of Temperature Measurement Processing in Electronic Thermometer Next, the flow of temperature measurement processing in the electronic thermometer will be described. In addition, although the flow of the body temperature measurement process of the electronic thermometer 100 of an equilibrium temperature prediction type | formula is demonstrated here, this invention is not limited to this, The measurement type | formula electronic thermometer and the electronic thermometer of the type which uses prediction / measurement together are demonstrated. Is also applicable.

<群分けと予測式>
図12は、腋下で測定する電子体温計による実測値変化を例示的に示した図である。
図12に示されるように、時間と共に実測値は平衡温度に近づいていくが、被測定者の体質や温度計測と体表面との接触状態などの測定条件に依存して変化速度が異なる。そこで、実測値の経時変化特性に従い場合分け(群分け)を行い、平衡温度の予測に使用すべき予測式を決定する。
<Grouping and prediction formula>
FIG. 12 is a diagram exemplarily showing a change in an actual measurement value by an electronic thermometer measured under the armpit.
As shown in FIG. 12, the actual measurement value approaches the equilibrium temperature with time, but the rate of change differs depending on the measurement condition such as the constitution of the person to be measured and the contact state between the temperature measurement and the body surface. Therefore, case classification (grouping) is performed according to the time-dependent change characteristic of the actual measurement value, and a prediction formula to be used for prediction of the equilibrium temperature is determined.

以下では、サーミスタ401(図4により後述する)を用いて検出された実測値の特徴に基づいた群分けについて説明する。ただし、本実施形態においては、前述したように検温素子の熱応答特性が良く、実測値の経時変化特性のばらつきが生じやすい。そこで、従来の群分け(たとえば7群)に比較しより多くの群分け(ここでは12群に群分け)を行って、向上した熱応答特性に対応できる例を示すこととする。   Below, grouping based on the characteristic of the measured value detected using the thermistor 401 (it mentions later with FIG. 4) is demonstrated. However, in the present embodiment, as described above, the thermal response characteristics of the temperature sensing element are good, and variations in the time-varying characteristics of measured values are likely to occur. Therefore, an example will be shown in which more grouping (in this case, grouping into 12 groups) is performed as compared with the conventional grouping (for example, 7 groups) to cope with the improved thermal response characteristics.

図13は、実測値の経時変化特性に従う群分けの例を示した図である。図13では、15〜20秒間の温度上昇値(図13の横軸)と20秒における温度(図13の縦軸)とを用いて、全体を12の群に分割した例であり、図上の各点は計測標本における分布を示している。なお、第1群は最も熱応答の早い群であり、最初の温度は高いがすぐに上昇がおさまる部分である。逆に、第8群は最も熱応答の遅い群で、最初の温度は低いが温度上昇が遅くまで続く部分である。尚、ここでは、第9群および第10群は、通常の実測値変化から大きく外れているため、例えば予測不可としてエラー終了するよう構成してもよいし、予測を行わず実測値の表示を行うよう構成してもよい。また、第11群および第12群は、20秒時に体温が36.5度以上となっている群である。   FIG. 13 is a diagram illustrating an example of grouping according to the temporal change characteristic of the actual measurement value. FIG. 13 shows an example in which the whole is divided into 12 groups using the temperature rise value for 15 to 20 seconds (horizontal axis in FIG. 13) and the temperature at 20 seconds (vertical axis in FIG. 13). Each point of shows the distribution in the measurement sample. The first group is the group with the fastest thermal response, and is the part where the initial temperature is high but the rise is quickly stopped. Conversely, the eighth group is the group with the slowest thermal response, and is the portion where the initial temperature is low but the temperature rise continues until late. Here, since the ninth group and the tenth group greatly deviate from the normal change in the actual measurement value, for example, it may be configured to end with an error because the prediction is impossible, or the actual measurement value is displayed without performing the prediction. It may be configured to do. In addition, the eleventh group and the twelfth group are groups whose body temperature is 36.5 degrees or more at 20 seconds.

上記のような群分けを行った場合、たとえば、実測値が所定値(30℃)以上、かつ温度上昇率が所定値(0.03℃/0.5秒)以上になった時を起点(t=0)として、予測値Yは、実測値Tおよび経過時間tを用いて以下の式で近似できる。
U=(a×t+b)×dT+(c×t+d)
Y=T+Uここで、a〜d:定数,dT:過去5秒間の温度上昇である。
When the grouping as described above is performed, for example, when the actually measured value is a predetermined value (30 ° C.) or more and the temperature increase rate is a predetermined value (0.03 ° C./0.5 seconds) or more, the starting point ( t = 0), the predicted value Y can be approximated by the following equation using the actual measurement value T and the elapsed time t.
U = (a * t + b) * dT + (c * t + d)
Y = T + U where a to d: constant, dT: temperature rise in the past 5 seconds.

20秒以後は、群分けで説明した通りそれぞれの群に応じたa〜dの係数を用いて予測演算を行う。一例として、20〜25秒の間における各群の係数a〜dの値の一例を以下に示す。なお、これらの係数a〜dは多数の計測標本から求められたものであり、あらかじめROM22に記憶されているパラメータ22bの一部である。   After 20 seconds, as described in the grouping, prediction calculation is performed using the coefficients a to d corresponding to each group. As an example, an example of the values of the coefficients a to d in each group during 20 to 25 seconds is shown below. These coefficients a to d are obtained from a large number of measurement samples, and are a part of the parameters 22b stored in the ROM 22 in advance.

1群 a=0.554 : b=-6.5185: c=-0.1545: d=2.8915
2群 a=1.1098 : b=-15.446: c=-0.244 : d=4.5294
3群 a=0.7187 : b=-6.9876: c=-0.0571: d=1.0682
4群 a=0.8092 : b=-7.8356: c=-0.0448: d=0.8609
5群 a=0.8555 : b=-9.2469: c=-0.0697: d=1.5205
6群 a=0.4548 : b=-2.1512: c=0.0083 : d=0.2872
7群 a=0.378 : b=-1.3724: c=0.0027 : d=0.8912
8群 a=0.378 : b=-1.3724: c=0.0027 : d=0.8912
11群 a=-0.0148: b=1.9438 : c=0.0282 : d=0.142
12群 a=0.468 : b=-4.794 : c=-0.06 : d=1.2593
1 group a = 0.554: b = -6.5185: c = -0.1545: d = 2.8915
Group 2 a = 1.1098: b = -15.446: c = -0.244: d = 4.5294
3 groups a = 0.7187: b = -6.9876: c = -0.0571: d = 1.0682
4 groups a = 0.8092: b = -7.8356: c = -0.0448: d = 0.8609
5 groups a = 0.8555: b = -9.2469: c = -0.0697: d = 1.5205
6 groups a = 0.4548: b = -2.1512: c = 0.0083: d = 0.2872
Group 7 a = 0.378: b = -1.3724: c = 0.0027: d = 0.8912
8 groups a = 0.378: b = -1.3724: c = 0.0027: d = 0.8912
11th group a = -0.0148: b = 1.9438: c = 0.0282: d = 0.142
12 groups a = 0.468: b = -4.794: c = -0.06: d = 1.2593

<電子体温計の体温測定動作>
図3に第1実施形態の電子体温計における体温測定処理手順のフローチャートを示す。以下の動作は、例えば、電源ON/OFFスイッチ103の押下やマグネットリードスイッチ251による電源投入などをトリガに開始される。なお、以下の各ステップは、演算処理部223がROM224に記憶されたプログラムを実行することにより実現されるものである。
<Body temperature measurement operation of electronic thermometer>
FIG. 3 shows a flowchart of a procedure for measuring body temperature in the electronic thermometer of the first embodiment. The following operation is triggered by, for example, pressing the power ON / OFF switch 103 or turning on the power by the magnet reed switch 251. The following steps are realized by the arithmetic processing unit 223 executing a program stored in the ROM 224.

ステップS301において、演算処理部223は、クロック発生部228が出力するクロックを低周波数クロックに設定する。ステップS302において、演算処理部223は電子体温計の初期化を行い、サーミスタ401による温度値の検出を開始する。たとえば、0.5秒おきにセンサを用いて温度値が検出される。   In step S301, the arithmetic processing unit 223 sets the clock output from the clock generation unit 228 to a low frequency clock. In step S <b> 302, the arithmetic processing unit 223 initializes the electronic thermometer and starts detecting the temperature value by the thermistor 401. For example, the temperature value is detected using a sensor every 0.5 seconds.

ステップS303において、演算処理部223は、温度変化の度合いが所定値以上である場合に予測を開始させる。例えば、前回実測値(つまり0.5秒前の実測値)からの上昇が所定の値(例えば1℃)以上となる温度値を測定した時点を、予測式の基準点(t=0)と設定し、RAM226に特定タイミングと実測値のデータ(時系列データ)として記憶を開始する。つまり、急激な温度上昇を検出することにより、測定者により所定の測定部位に装着されたと見なすのである。   In step S303, the arithmetic processing unit 223 starts prediction when the degree of temperature change is equal to or greater than a predetermined value. For example, the time point when the temperature value at which the increase from the previous actual measurement value (that is, the actual measurement value before 0.5 seconds) becomes a predetermined value (for example, 1 ° C.) or more is measured as the reference point (t = 0) of the prediction formula. The data is set and stored in the RAM 226 as specific timing and measured value data (time-series data). In other words, by detecting a rapid temperature rise, it is considered that the measurement person wears a predetermined measurement site.

ステップS304において、演算処理部223は、計測中に測定温度低下が観測されたか否かを判断する。所定の低下が見られる場合は、ステップS314に進み、所定の温度低下が見られない場合はステップS305に進む。   In step S304, the arithmetic processing unit 223 determines whether or not a measured temperature drop is observed during the measurement. When the predetermined decrease is observed, the process proceeds to step S314, and when the predetermined temperature decrease is not observed, the process proceeds to step S305.

ステップS305において、演算処理部223は、クロック発生部228が出力するクロックを高周波数クロックに変更する。すなわち、S301〜S304は、体温計測の開始を検出する待機状態であり、高い計測精度は要求されないため、低周波数のクロックを用いて温度計測を行い、省電力を図っている。そして、体温計測の開始とともにクロックを高周波数に設定し、高精度な体温計測を行う。ステップS306において、演算処理部223は、ステップS303で記憶されたデータを用いて、前述した予測式を用いて逐次(所定の周期)予測値を導出(例えば0.5秒おき)する。ただし、本実施形態の演算処理部223は、図13に示される複数の群のそれぞれに対応した予測式を基に予測演算を並列して行う。すなわち、算出された温度値から複数の予測式にしたがって複数の予測値を導出する予測値導出処理を行う。なお、全ての群について並列に(ここでは1〜8、11,12の10種類)演算を行ってもよいし、いくつかの実測値を元におおよその群を設定し周辺のいくつかの群についてのみ演算を行ってもよい。   In step S305, the arithmetic processing unit 223 changes the clock output from the clock generation unit 228 to a high frequency clock. That is, S301 to S304 are standby states for detecting the start of body temperature measurement, and high measurement accuracy is not required. Therefore, temperature measurement is performed using a low-frequency clock to save power. Then, with the start of body temperature measurement, the clock is set to a high frequency, and highly accurate body temperature measurement is performed. In step S306, the arithmetic processing unit 223 uses the data stored in step S303 to derive a sequential (predetermined period) prediction value (for example, every 0.5 seconds) using the prediction formula described above. However, the arithmetic processing unit 223 of the present embodiment performs prediction calculations in parallel based on prediction formulas corresponding to each of the plurality of groups shown in FIG. That is, a predicted value derivation process is performed to derive a plurality of predicted values from the calculated temperature value according to a plurality of prediction formulas. Note that computation may be performed in parallel for all the groups (here, 10 types of 1 to 8, 11 and 12), or an approximate group is set based on some actually measured values, and some of the surrounding groups are set. The calculation may be performed only for.

ステップS307において、演算処理部223は、基準点(t=0)から所定時間(所定秒;例えば20秒)だけ経過した後、ステップS306で導出した複数の群に対応するそれぞれの予測値の変化に基づいて群分け判定を行う。この群決定動作の詳細については後述する。   In step S307, the arithmetic processing unit 223 changes each predicted value corresponding to the plurality of groups derived in step S306 after a predetermined time (predetermined second; for example, 20 seconds) has elapsed from the reference point (t = 0). The grouping determination is performed based on the above. Details of this group determination operation will be described later.

ステップS308において、演算処理部223は、ステップS307によって決定された群以外の演算を停止し、判定された群における予測演算を引き続き所定の時間導出する。以上のようにステップS307、S308では、複数の予測値のそれぞれの経時変化に基づいて複数の予測式から一つの予測式が選択され、選択された予測式を用いて体温計測結果としての平衡温度値が取得される。   In step S308, the calculation processing unit 223 stops calculations other than the group determined in step S307, and continues to derive the prediction calculation in the determined group for a predetermined time. As described above, in steps S307 and S308, one prediction formula is selected from the plurality of prediction formulas based on the respective temporal changes of the plurality of prediction values, and the equilibrium temperature as the body temperature measurement result using the selected prediction formula. The value is obtained.

ステップS309において、演算処理部223は、基準点(t=0)から所定時間(所定秒;例えば25秒)だけ経過した時点で、ステップS308の結果導出された一定区間(例えば、t=20〜25秒)における予測値があらかじめ設定された予測成立条件を満たすかどうかをチェックする。例えば、所定の範囲(例えば0.1℃)に収まっているか否かについてのチェックである。予測成立条件を満たした場合はステップS310に進み、予測成立条件を満たさない場合は、ステップS316に進む。   In step S309, the arithmetic processing unit 223, when a predetermined time (predetermined second; for example, 25 seconds) elapses from the reference point (t = 0), the fixed section (for example, t = 20 to 20) derived as a result of step S308. It is checked whether or not the predicted value at 25 seconds) satisfies a preset prediction establishment condition. For example, it is a check as to whether or not it falls within a predetermined range (for example, 0.1 ° C.). If the prediction establishment condition is satisfied, the process proceeds to step S310. If the prediction establishment condition is not satisfied, the process proceeds to step S316.

ステップS310において、演算処理部223は、クロック発生部228が発生するクロックを低周波数クロックに切り替える。そして、ステップS311において、演算処理部223は、音声出力部240により予測成立を報知し(ブザーの鳴動でも良い)、ステップS312に進む。   In step S310, the arithmetic processing unit 223 switches the clock generated by the clock generation unit 228 to a low frequency clock. In step S <b> 311, the arithmetic processing unit 223 notifies the prediction establishment by the audio output unit 240 (may be a buzzer sounding), and proceeds to step S <b> 312.

ステップS312において、演算処理部223は、導出された予測値を表示部230に表示する。   In step S312, the arithmetic processing unit 223 displays the derived predicted value on the display unit 230.

ステップS313において、演算処理部223は、検温処理終了の指示を受け付けたか否かを判定する。たとえば、電源ON/OFFスイッチ103が押下されたか否かを判定してもよいし、予測温度表示を行ってから一定時間経過すると自動的に検温処理を終了するよう構成してもよい。或いは、新たな体温計測が所定時間を超えて実行されなかった場合に体温計測終了が指示されたと判断し、予測温度表示を終了するようにしてもよい。あるいは、マグネットリードスイッチ251がOFFし、電源部250からの電源がOFFされるまで予測温度表示を継続してもよい。マグネットリードスイッチ251は、例えば、電子体温計100が永久磁石を内蔵した収納ケース(不図示)に収納されることによりOFFされる。   In step S313, the arithmetic processing unit 223 determines whether or not an instruction to end the temperature detection process has been received. For example, it may be determined whether or not the power ON / OFF switch 103 has been pressed, or the temperature measurement process may be automatically terminated when a predetermined time has elapsed after the predicted temperature display. Alternatively, when the new body temperature measurement is not executed for a predetermined time, it may be determined that the end of the body temperature measurement is instructed, and the predicted temperature display may be ended. Alternatively, the predicted temperature display may be continued until the magnet reed switch 251 is turned off and the power supply from the power supply unit 250 is turned off. For example, the magnet reed switch 251 is turned off when the electronic thermometer 100 is housed in a housing case (not shown) containing a permanent magnet.

ステップS314において、演算処理部223は、測定されたデータの補正処理を行う。補正処理が正常に行われた場合はステップS303に戻る。一方、補正処理が正常に終了しない場合は、ステップS315に進む。なお、基準点(t=0)の補正処理では、たとえば、下記条件を全て満足した場合に、所定の測定部位に装着される前の温度低下、たとえば服や皮膚への接触や挟み直し、とみなして、図15に示す起点の時間からΔt1+Δt2を引く補正処理を行う。
[条件1]予測式の基準点から温度低下検出までの時間(Δt1)が所定時間(秒)以内(例えば、5秒)であること。
[条件2]温度低下前の実測値が所定値以下(例えば、34℃)であること。
[条件3]温度低下を検出してから、再度温度上昇するまでの時間(Δt2)が所定時間(秒)以内(例えば、8秒)であること。
[条件4]温度低下(ΔT)が所定以内(例えば、1.5℃)であること。
In step S314, the arithmetic processing unit 223 corrects the measured data. If the correction process is normally performed, the process returns to step S303. On the other hand, if the correction process does not end normally, the process proceeds to step S315. In the correction process of the reference point (t = 0), for example, when all of the following conditions are satisfied, a temperature drop before being attached to a predetermined measurement site, for example, contact with clothes or skin, and pinching Accordingly, a correction process for subtracting Δt1 + Δt2 from the starting point time shown in FIG.
[Condition 1] The time (Δt1) from the reference point of the prediction formula to the temperature drop detection is within a predetermined time (seconds) (for example, 5 seconds).
[Condition 2] The measured value before the temperature drop is not more than a predetermined value (for example, 34 ° C.).
[Condition 3] The time (Δt 2) from when the temperature drop is detected until the temperature rises again is within a predetermined time (second) (eg, 8 seconds).
[Condition 4] The temperature drop (ΔT) is within a predetermined range (for example, 1.5 ° C.).

ステップS315において、演算処理部223は、音声出力部240によりエラーを報知し(ブザーの鳴動でも良い)、検温を終了する。なお、ブザー鳴動による報知の場合、ブザー音はステップS311とは異なるものであることが望ましい。   In step S315, the arithmetic processing unit 223 notifies the error by the audio output unit 240 (the buzzer may sound) and ends the temperature measurement. In the case of notification by buzzer ringing, it is desirable that the buzzer sound is different from that in step S311.

ステップS316において、演算処理部223は、測定開始から所定の時間(例えば45秒)経過した時は、強制的に予測を成立させ、ステップS310に進む。つまり、その時点で導出されている予測値をそのまま最終予測値と見なす。   In step S316, when a predetermined time (for example, 45 seconds) has elapsed from the start of measurement, the arithmetic processing unit 223 forcibly establishes a prediction, and the process proceeds to step S310. That is, the prediction value derived at that time is regarded as the final prediction value as it is.

以上のステップを経て、検温動作を終了する。   Through the above steps, the temperature measuring operation is completed.

<予測値に基づく群の決定>
以下では、複数の予測式に基づいて導出された複数の予測値から、最終予測値に用いる予測式に対応する群の決定を行う際の処理(ステップS307に相当)について説明する。
<Determination of groups based on predicted values>
Hereinafter, processing (corresponding to step S307) when determining a group corresponding to the prediction formula used for the final prediction value from a plurality of prediction values derived based on the plurality of prediction formulas will be described.

図14は、実測値および複数の予測式に基づく予測値の経時変化を例示的に示した図である。この図においては、サーミスタ401により検出される実測値と共に、ステップS306で導出される第1群〜第5群の5つの群に対応する予測値の変化が示されている。以下では、これらの予測値の経時変化に基づいて群の決定を行う。つまり、どの群に対応する予測式を用いた場合に最も精度の高い予測値が得られるかを判定する。   FIG. 14 is a diagram exemplarily showing changes with time of predicted values based on actual measurement values and a plurality of prediction formulas. In this figure, along with the actual measurement value detected by the thermistor 401, changes in predicted values corresponding to the five groups of the first group to the fifth group derived in step S306 are shown. In the following, the group is determined based on the temporal change of these predicted values. That is, it is determined whether the most accurate predicted value is obtained when the prediction formula corresponding to which group is used.

ここでは例として、以下の2点の両方が成立する群を選択する。
(1)10秒回帰の変化が所定の値(例えば、0.1度)未満である。
(2)0.5秒毎に導出される予測値に対応した上記の条件を連続5回みたす。
Here, as an example, a group in which both of the following two points are established is selected.
(1) The change in 10-second regression is less than a predetermined value (for example, 0.1 degree).
(2) The above condition corresponding to the predicted value derived every 0.5 seconds is continuously evaluated five times.

つまり、結果として予測値の変動が少ない時系列に対応する群が、本測定における最適な群を選択していると考えられるからである。このように、複数の群について予測演算を行い、それぞれの予測値の経時変化を比較して群の決定を行うことにより、基準点を測定開始点として30秒までに、より精度の高い予測を可能としているのである。   That is, as a result, it is considered that the group corresponding to the time series in which the fluctuation of the predicted value is small selects the optimum group in the main measurement. In this way, by performing prediction calculation for a plurality of groups and comparing the predicted values with time to determine the group, a more accurate prediction can be made by 30 seconds using the reference point as the measurement start point. It is possible.

なお、上記では、予測の精度を高めるため、群の決定後も引き続き所定の時間だけ予測値を導出(ステップS308〜S309)し、最終的な予測値を決定した。しかし、群決定の際十分に変化が小さい(例えば、0.05度未満)場合には、決定した群に対応する予測値は十分に精度が高いと見なせるため、直ちに最終的な予測値として決定してもよい。   In the above, in order to improve the accuracy of prediction, the predicted value is continuously derived for a predetermined time after the group is determined (steps S308 to S309), and the final predicted value is determined. However, if the change is sufficiently small (for example, less than 0.05 degrees) at the time of group determination, the predicted value corresponding to the determined group can be regarded as sufficiently accurate, so it is immediately determined as the final predicted value. May be.

一方、群の決定を実測値の経時変化に基づいて行ってもよい。つまり、実測値の時系列データを、図13に示される群分け表と対応させ、最も対応する点の多い群を選択し決定してもよい。   On the other hand, the group may be determined based on the change over time of the actually measured values. That is, the time series data of the actual measurement values may be associated with the grouping table shown in FIG. 13, and the group with the most corresponding points may be selected and determined.

以上説明したように、本実施形態の電子体温計により、短時間の測定時間で予測精度の高い電子体温計を実現可能とし測定者への負担を軽減することが出来る。また、適切な予測式の選定により測定時間が短縮されることから、高周波数クロックを用いる期間が短縮され、省電力を実現しつつ高精度な体温計測が実現されることになる。   As described above, the electronic thermometer of the present embodiment can realize an electronic thermometer with high prediction accuracy in a short measurement time, and can reduce the burden on the measurer. In addition, since the measurement time is shortened by selecting an appropriate prediction formula, the period in which the high-frequency clock is used is shortened, and highly accurate body temperature measurement is realized while realizing power saving.

3.2 動作クロックの制御による省電力化
上述したように、本実施形態では、クロック発生部228が出力するクロックの周波数を切り替えることで省電力化と高精度計測を両立している。温度計測部210は、サーミスタとコンデンサが直列に接続された積分回路と、積分回路におけるコンデンサの電圧と所定電圧との比較結果を示す比較信号を出力する比較回路を有する。(図4により後述する)そして、タイマー222は、積分回路のコンデンサにおける充電または放電の開始(定常状態から過渡状態への移行の開始)から比較信号の変化を検出するまでの期間を充電時間或いは放電時間(すなわち、過渡期間)とし、その期間の長さをクロック発生部228が発生するクロック信号を計数することで計測する。この充電時間或いは放電時間は、サーミスタの抵抗値の変化に応じて変化するため、演算処理部223は、充電時間或いは放電時間の計測結果からサーミスタの抵抗値、すなわち、温度値を得ることができる。タイマー222によって計数されるクロックの周波数は高いほど計測精度が上がるが、電力消費は大きくなる。クロックの周波数を低く抑えれば電力消費を低減できるが、計測精度は低下してしまう。本実施形態では、クロック発生部228が発生するクロック信号の周波数を切替えることにより、計測精度を維持すると共に省電力化を図る。すなわち、体温測定中であるか否かを判定し、体温測定中であれば高周波数のクロックを用いてタイマー222による過渡期間の計測精度を維持し、体温測定中でなければ低周波数のクロックを用いて省電力化を図る。上記の例では、体温測定中であるか否かの判定として、予測温度演算の開始時(S306)から予測温度演算の終了時(S311の手前)までを高周波数のクロックとし、他の期間を待機状態として低周波数クロックにより稼動させることで省電力を図っている。
3.2 Power Saving by Controlling Operation Clock As described above, in the present embodiment, both power saving and high-accuracy measurement are achieved by switching the frequency of the clock output from the clock generator 228. The temperature measurement unit 210 includes an integration circuit in which a thermistor and a capacitor are connected in series, and a comparison circuit that outputs a comparison signal indicating a comparison result between a voltage of the capacitor and a predetermined voltage in the integration circuit. The timer 222 determines a period from the start of charging or discharging (starting transition from the steady state to the transient state) in the capacitor of the integrating circuit until the detection of the change in the comparison signal as the charging time or The discharge time (that is, the transition period) is set, and the length of the period is measured by counting the clock signal generated by the clock generator 228. Since the charging time or discharging time changes according to the change in resistance value of the thermistor, the arithmetic processing unit 223 can obtain the resistance value of the thermistor, that is, the temperature value from the measurement result of the charging time or discharging time. . As the frequency of the clock counted by the timer 222 increases, the measurement accuracy increases, but the power consumption increases. If the clock frequency is kept low, power consumption can be reduced, but the measurement accuracy is reduced. In the present embodiment, by switching the frequency of the clock signal generated by the clock generator 228, measurement accuracy is maintained and power saving is achieved. That is, it is determined whether or not the body temperature is being measured. If the body temperature is being measured, the high frequency clock is used to maintain the measurement accuracy of the transient period by the timer 222. If the body temperature is not being measured, the low frequency clock is Use it to save power. In the above example, as a determination of whether or not the body temperature is being measured, a high frequency clock is used from the start of the predicted temperature calculation (S306) to the end of the predicted temperature calculation (before S311), and other periods are set. Power is saved by operating with a low-frequency clock as a standby state.

なお、クロック周波数の切替方法は、上述した方法に限られるものではない。例えば、図11に示すような演算処理部223によるクロック周波数の切替制御を実行し、図3のS301、S305,S310を省略しても良い。図11に示す処理では、温度計測値と閾値との比較により待機状態か否かを判定し、高周波数クロックを用いるか低周波数クロックを用いるかを決定する。   Note that the clock frequency switching method is not limited to the above-described method. For example, clock frequency switching control by the arithmetic processing unit 223 as shown in FIG. 11 may be executed, and S301, S305, and S310 in FIG. 3 may be omitted. In the process shown in FIG. 11, it is determined whether or not the standby state is established by comparing the temperature measurement value with the threshold value, and it is determined whether to use the high frequency clock or the low frequency clock.

図11のステップS321において、電源ON/OFFスイッチ103の手動操作またはマグネットリードスイッチ(不図示)がON状態になることで、電子体温計の電源がONされると、ステップS322において演算処理部223はクロック発生部228が高い周波数(例えば、1MHz)のクロックを生成するように設定する。なお、このステップでは、クロック発生部228が高い周波数か低い周波数のいずれかで動作するように設定を行えばよく、図示のように高い周波数への設定に限定されるものではない。   In step S321 in FIG. 11, when the power source of the electronic thermometer is turned on by manual operation of the power ON / OFF switch 103 or a magnet reed switch (not shown) being turned on, the arithmetic processing unit 223 is turned on in step S322. The clock generator 228 is set to generate a clock with a high frequency (for example, 1 MHz). In this step, setting may be made so that the clock generator 228 operates at either a high frequency or a low frequency, and the setting is not limited to a high frequency as shown in the figure.

次に、ステップS323において、演算処理部223は、温度計測部210、タイマー222を用いて温度計測値(実測値)を取得する。上述したように、タイマー222は、温度計測部210内のサーミスタと共に積分回路を形成するコンデンサにおける充電時間或いは放電時間を、クロック発生部228が生成したクロックを計数する。演算処理部223は、タイマー222から得られるクロックの計数値と、当該クロックの周波数から充電時間或いは放電時間を算出し、温度計測値を取得する。本実施形態では、コンデンサにおける放電時間が計測される。   Next, in step S 323, the arithmetic processing unit 223 acquires a temperature measurement value (actual measurement value) using the temperature measurement unit 210 and the timer 222. As described above, the timer 222 counts the clock generated by the clock generation unit 228 for the charge time or discharge time of the capacitor forming the integration circuit together with the thermistor in the temperature measurement unit 210. The arithmetic processing unit 223 calculates the charging time or discharging time from the clock count value obtained from the timer 222 and the frequency of the clock, and acquires the temperature measurement value. In this embodiment, the discharge time in the capacitor is measured.

ステップS324において、ステップS323で取得した温度計測値が所定の値(Th1)よりも小さく、且つ、現在のクロックの周波数が高い周波数であった場合、演算処理部223は、体温計測状態から非計測状態へ移行したと判断する。そして、非計測状態へ移行したと判断された場合、演算処理部223は、ステップS326において低い周波数(例えば、100kHz)のクロックを発生させるようクロック発生部228を制御する。また、ステップS325において、ステップS323で取得した温度計測値が所定の値(Th2)よりも大きく、且つ、現在のクロックの周波数が低い周波数であった場合、演算処理部223は、非計測状態から体温計測状態へ移行したと判断する。そして、体温計測状態へ移行したと判断された場合、演算処理部223は、ステップS327において高い周波数のクロックを生成させるようクロック発生部228を制御する。   In step S324, when the temperature measurement value acquired in step S323 is smaller than the predetermined value (Th1) and the current clock frequency is a high frequency, the arithmetic processing unit 223 does not measure from the body temperature measurement state. It is determined that the state has been changed. When it is determined that the state has shifted to the non-measurement state, the arithmetic processing unit 223 controls the clock generation unit 228 to generate a clock having a low frequency (for example, 100 kHz) in step S326. In step S325, when the temperature measurement value acquired in step S323 is larger than the predetermined value (Th2) and the current clock frequency is a low frequency, the arithmetic processing unit 223 moves from the non-measurement state. It is determined that the body temperature measurement state has been entered. If it is determined that the state has shifted to the body temperature measurement state, the arithmetic processing unit 223 controls the clock generation unit 228 to generate a high-frequency clock in step S327.

以上のようなクロック周波数の切替処理を、図3に示した体温計測処理と並行して実行することにより、体温計測中以外におけるクロック周波数を低く抑えることができ、電子体温計の省電力化を図ることができる。また、体温計測結果としての平衡温度値が取得された時点でクロックの周波数を低クロック周波数に設定するようにしてもよい(すなわち、図11の処理とステップS310の処理を併用してもよい)。また、体温計測中は高い周波数のクロックで動作するので、計測精度は維持される。特に手動操作による電源オン/オフのためのスイッチや自動パワーオフ機能を持たないでマグネットリードスイッチを備えた病院用電子体温計に上記の構成を適用すれば、その省電力効果はより顕著なものとなる。以上のように、本実施形態によれば、計測に利用するクロック周波数の切替を制御することにより、計測精度の維持と省電力化を実現することができ、1日当たりの測定頻度が高い病院などで予測検温する場合に、消費電力が10mW程度となり、使い始めから少なくとも10000回程度の体温測定が可能となる。   By executing the clock frequency switching process as described above in parallel with the body temperature measurement process shown in FIG. 3, the clock frequency can be kept low when the body temperature is not being measured, and the power consumption of the electronic thermometer can be reduced. be able to. Further, the clock frequency may be set to a low clock frequency when the equilibrium temperature value as the body temperature measurement result is acquired (that is, the process of FIG. 11 and the process of step S310 may be used in combination). . In addition, the measurement accuracy is maintained because it operates with a high-frequency clock during body temperature measurement. In particular, if the above configuration is applied to an electronic thermometer for hospitals equipped with a magnet reed switch without a power on / off switch by manual operation or an automatic power off function, the power saving effect will be more prominent. Become. As described above, according to the present embodiment, by controlling the switching of the clock frequency used for measurement, it is possible to maintain measurement accuracy and save power, such as hospitals with high daily measurement frequency. In the case of predictive temperature measurement, power consumption is about 10 mW, and body temperature can be measured at least about 10,000 times from the beginning of use.

すなわち、本実施形態におけるクロック周波数の切替処理では、サーミスタを用いて計測された温度値から体温計測中か否かを判定し、体温計測中でないと判定された場合にクロック周波数を低く抑えることにより省電力化を図る。なお、演算処理部223における動作クロックの周波数も、上述の計測用のクロックと同じように切替えることで、より省電力化を図ることができる。上述した周波数切替処理は、サーミスタの抵抗値変化を計測して温度値を取得する電子体温計に適用できるが、特に、単一入力積分型A/D変換回路を用いた温度計測のように積分回路の過渡期間を計測するために高周波数のクロックが必要な構成に適用することでより顕著な効果が得られる。以下、本実施形態による単一入力積分型A/D変換回路を用いた温度計測の構成について説明する。   That is, in the clock frequency switching process in the present embodiment, it is determined whether or not the body temperature is being measured from the temperature value measured using the thermistor, and if it is determined that the body temperature is not being measured, the clock frequency is kept low. Reduce power consumption. Note that power consumption can be further reduced by switching the frequency of the operation clock in the arithmetic processing unit 223 in the same manner as the clock for measurement described above. The frequency switching process described above can be applied to an electronic thermometer that acquires a temperature value by measuring a resistance value change of the thermistor. In particular, an integration circuit such as a temperature measurement using a single input integration type A / D conversion circuit. By applying to a configuration that requires a high-frequency clock in order to measure the transition period, a more remarkable effect can be obtained. Hereinafter, the configuration of temperature measurement using the single input integration type A / D conversion circuit according to the present embodiment will be described.

4.温度計測部の詳細構成及び温度計測処理の流れ
次に、温度計測部210の詳細構成及び、ステップS301において開始される温度計測処理の流れについて説明する。なお、温度計測処理の説明にあたっては、本実施形態における温度計測処理の特徴をより明確にするために、はじめに、一般的な温度計測処理の流れを説明する。
4). Detailed Configuration of Temperature Measurement Unit and Flow of Temperature Measurement Processing Next, the detailed configuration of the temperature measurement unit 210 and the flow of the temperature measurement processing started in step S301 will be described. In the description of the temperature measurement process, a general flow of the temperature measurement process will be described first in order to clarify the characteristics of the temperature measurement process in the present embodiment.

4.1 温度計測部の詳細構成
図4は、温度計測部210の詳細構成を示す図である。図4に示すように、温度計測部210では、互いに並列に接続されたサーミスタ401及び基準抵抗素子402が、それぞれ、コンデンサ403に直列に接続されている。すなわち、サーミスタ401とコンデンサ403は積分回路を構成する。また、同様に基準抵抗素子402とコンデンサ403も積分回路を構成しており、基準抵抗素子402とサーミスタ401は並列に接続されている。そして、サーミスタ401とコンデンサ403とを含む系の両端、及び基準抵抗素子402とコンデンサ403とを含む系の両端には、電圧切替部410を介してそれぞれ交互に電圧Vが印加されるように構成されている。すなわち、電圧切替部410は、端子T1に電圧Vを印加してコンデンサ403を充電した後、端子T1を0Vとしてコンデンサ403によるサーミスタ401を介した放電を開始させる。また、電圧切替部410は、端子T2に電圧Vを印加してコンデンサ403を充電した後、端子T2を0Vとしてコンデンサ403による基準抵抗素子402を介した放電を開始させる。なお、コンデンサ403への充電は、端子T1、T2のいずれか一方のみを用いるようにしてもよい。
4.1 Detailed Configuration of Temperature Measuring Unit FIG. 4 is a diagram illustrating a detailed configuration of the temperature measuring unit 210. As shown in FIG. 4, in the temperature measurement unit 210, a thermistor 401 and a reference resistance element 402 connected in parallel with each other are connected in series to a capacitor 403. That is, the thermistor 401 and the capacitor 403 constitute an integrating circuit. Similarly, the reference resistance element 402 and the capacitor 403 constitute an integration circuit, and the reference resistance element 402 and the thermistor 401 are connected in parallel. The voltage V is alternately applied to both ends of the system including the thermistor 401 and the capacitor 403 and to both ends of the system including the reference resistance element 402 and the capacitor 403 via the voltage switching unit 410. Has been. That is, the voltage switching unit 410 applies the voltage V to the terminal T1 to charge the capacitor 403, and then sets the terminal T1 to 0 V and starts discharging the capacitor 403 through the thermistor 401. Further, the voltage switching unit 410 applies the voltage V to the terminal T2 to charge the capacitor 403, and then sets the terminal T2 to 0 V and starts discharging the capacitor 403 through the reference resistance element 402. Note that only one of the terminals T1 and T2 may be used for charging the capacitor 403.

ここで、基準抵抗素子402は、周辺温度の変動に関わらず、抵抗値が一定の抵抗素子である。このため、コンデンサ403における充電電圧Vが一定の場合、基準抵抗素子402を介したコンデンサ403による放電時間は一定となる。   Here, the reference resistance element 402 is a resistance element having a constant resistance value regardless of variations in ambient temperature. For this reason, when the charging voltage V in the capacitor 403 is constant, the discharge time by the capacitor 403 via the reference resistance element 402 is constant.

一方、サーミスタ401は、周辺温度の変動に応じて、抵抗値が変動する抵抗素子である。このため、コンデンサ403に蓄積された電荷をサーミスタ401を介して放電すると、その放電時間は周辺温度に応じて変動することとなる。   On the other hand, the thermistor 401 is a resistance element whose resistance value varies according to variations in ambient temperature. For this reason, when the electric charge accumulated in the capacitor 403 is discharged through the thermistor 401, the discharge time varies depending on the ambient temperature.

つまり、電圧Vが一定の場合、コンデンサ403に蓄積される電荷を放電するのに要する放電時間は、基準抵抗素子402を介した放電の場合にあっては、常に一定となり、サーミスタ401を介した放電の場合にあっては、周辺温度に依存することとなる。   That is, when the voltage V is constant, the discharge time required to discharge the electric charge accumulated in the capacitor 403 is always constant in the case of discharging through the reference resistance element 402, and the voltage V passes through the thermistor 401. In the case of discharge, it depends on the ambient temperature.

A/D変換部420を構成するコンパレータ421は、電圧切替部410を介して印加された電圧Vの所定割合の電圧(ここでは、0.25V)以上の電圧をコンデンサ403が有している間、所定の信号を出力する。これにより、A/D変換部420からは、ディジタル信号として、ON信号が出力される。   The comparator 421 that constitutes the A / D conversion unit 420 is used while the capacitor 403 has a voltage equal to or higher than a voltage (here, 0.25 V) of a predetermined ratio of the voltage V applied via the voltage switching unit 410. , A predetermined signal is output. As a result, the A / D converter 420 outputs an ON signal as a digital signal.

このように、コンデンサ403とA/D変換部420とは、単一入力積分型A/D変換回路を形成する。   As described above, the capacitor 403 and the A / D conversion unit 420 form a single input integration type A / D conversion circuit.

放電により、コンデンサ403両端の電圧は、徐々に低下していき、所定の電圧(0.25V)以下になると、A/D変換部420より出力されるディジタル信号はOFF信号となる。   Due to the discharge, the voltage across the capacitor 403 gradually decreases. When the voltage drops below a predetermined voltage (0.25 V), the digital signal output from the A / D converter 420 is an OFF signal.

より一般化して言えば、コンパレータ421は、積分回路におけるコンデンサ403の電圧と所定電圧との比較結果を示す比較信号を出力する。タイマー222は、積分回路におけるコンデンサ403の放電の開始から、コンパレータ421が出力する比較信号の変化を検出するまでの期間においてクロック発生部228が生成したクロック信号をカウントする。こうして、タイマー222では、コンデンサ403による放電の開始以降の、A/D変換部420より出力されるディジタル信号のON時間(放電時間)を計測する。なお、タイマー222が計数するクロックはクロック発生部228が発生したものであるが、上述したようにその周波数は少なくとも2種類存在する。したがって、放電時間は、タイマー222による計数値とそのときのクロックの周波数とから得られることになる。   More generally, the comparator 421 outputs a comparison signal indicating a comparison result between the voltage of the capacitor 403 and a predetermined voltage in the integration circuit. The timer 222 counts the clock signal generated by the clock generation unit 228 during the period from the start of discharging of the capacitor 403 in the integration circuit to the detection of a change in the comparison signal output from the comparator 421. Thus, the timer 222 measures the ON time (discharge time) of the digital signal output from the A / D conversion unit 420 after the start of discharge by the capacitor 403. The clock counted by the timer 222 is generated by the clock generator 228. As described above, there are at least two types of frequencies. Therefore, the discharge time is obtained from the count value by the timer 222 and the clock frequency at that time.

ここで、上述のように、基準抵抗素子402(端子T2)を介して放電された場合にあっては、コンデンサ403に蓄積される電荷量は一定であり、抵抗値も一定となるため、放電時間も一定となる。一方、サーミスタ401(端子T1)を介して放電された場合にあっては、コンデンサ403に蓄積される電荷量一定であるが、抵抗値が周辺温度に応じて変動するため、放電時間も変動する。   Here, as described above, when discharged through the reference resistance element 402 (terminal T2), the amount of charge accumulated in the capacitor 403 is constant and the resistance value is also constant. Time also becomes constant. On the other hand, when discharged through the thermistor 401 (terminal T1), the amount of charge stored in the capacitor 403 is constant, but the resistance value varies depending on the ambient temperature, so the discharge time also varies. .

そこで、電子体温計100では、予め、周辺温度が既知の状態(基準温度)で、サーミスタ401を介してコンデンサ403に蓄積された電荷を放電した場合の放電時間と、基準抵抗素子402を介してコンデンサ403に蓄積された電荷を放電した場合の放電時間とを、それぞれ計測しておく。   Therefore, in the electronic thermometer 100, the discharge time when the charge accumulated in the capacitor 403 is discharged via the thermistor 401 in a state where the ambient temperature is known (reference temperature) in advance, and the capacitor via the reference resistance element 402 The discharge time when the charge accumulated in 403 is discharged is measured.

この結果、基準抵抗素子402を介してコンデンサ403に蓄積された電荷を放電した際の放電時間と、サーミスタ401を介してコンデンサ403に蓄積された電荷を放電した際の放電時間とを比較するだけで、基準温度に対する変動比を算出することが可能となり、周辺温度の温度データを算出することが可能となる。   As a result, only the discharge time when the charge accumulated in the capacitor 403 is discharged via the reference resistance element 402 is compared with the discharge time when the charge accumulated in the capacitor 403 is discharged via the thermistor 401. Thus, it is possible to calculate the fluctuation ratio with respect to the reference temperature, and it is possible to calculate the temperature data of the ambient temperature.

例えば、下式に基づいて、温度データTを算出することができる。   For example, the temperature data T can be calculated based on the following equation.

T=37℃×(Tth/Tref)×(Tref37/Tth37)
なお、上式において、基準温度は37℃としている。
T = 37 ° C. × (Tth / Tref) × (Tref37 / Tth37)
In the above formula, the reference temperature is 37 ° C.

なお、Tref37は、当該基準温度(37℃)において、基準抵抗素子402とコンデンサ403の系の両端に電圧Vを印加してコンデンサ403を充電した後、基準抵抗素子402を介してコンデンサ403の放電を行った場合に計測された放電時間を示している。また、Tth37は、当該基準温度において、サーミスタ401とコンデンサ403の系の両端に電圧Vを印加してコンデンサ403を充電した後、サーミスタ401を解してコンデンサ403の放電を行った場合に計測された放電時間を示している。   Note that Tref37 is obtained by discharging the capacitor 403 through the reference resistance element 402 after charging the capacitor 403 by applying a voltage V across the system of the reference resistance element 402 and the capacitor 403 at the reference temperature (37 ° C.). It shows the discharge time measured when performing. Tth37 is measured when the capacitor 403 is charged by applying the voltage V across the system of the thermistor 401 and the capacitor 403 at the reference temperature, and then the capacitor 403 is discharged through the thermistor 401. The discharge time is shown.

さらに、Trefは、温度計測処理において、基準抵抗素子402とコンデンサ403の系の両端に電圧Vを印加してコンデンサ403を充電した後、基準抵抗素子402を介して放電を行った場合に計測した放電時間を示している。また、Tthは、温度計測処理において、サーミスタ401とコンデンサ403の系の両端に電圧Vを印加してコンデンサ403を充電した後、サーミスタ401を介して放電を行った場合に計測した放電時間を示している。   Further, Tref was measured when the voltage V was applied across the reference resistor element 402 and the capacitor 403 to charge the capacitor 403 and then discharged through the reference resistor element 402 in the temperature measurement process. The discharge time is shown. Tth represents a discharge time measured when the voltage V is applied to both ends of the thermistor 401 and the capacitor 403 to charge the capacitor 403 and then discharged through the thermistor 401 in the temperature measurement process. ing.

4.2 一般的な温度計測処理の流れ
図5は、一般的な温度計測処理の流れを示すフローチャートであり、図6は、コンデンサ403の両端の電圧の時間変化及びA/D変換部420より出力されるディジタル信号の時間変化を示す図である。図5及び図6を用いて、一般的な温度計測処理の流れについて説明する。
4.2 Flow diagram 5 of a general temperature measurement process is a flowchart showing a flow of a general temperature measurement process, FIG. 6, from the time variation and the A / D converter 420 of the voltage across the capacitor 403 It is a figure which shows the time change of the digital signal output. A general flow of temperature measurement processing will be described with reference to FIGS. 5 and 6.

ステップS501では、基準抵抗素子402とコンデンサ403とを含む系の両端に電圧Vを印加する。図6の601は、これにより、コンデンサ403に徐々に電荷が蓄積されていく期間(充電期間)を示している。   In step S501, a voltage V is applied across the system including the reference resistance element 402 and the capacitor 403. Reference numeral 601 in FIG. 6 indicates a period during which charges are gradually accumulated in the capacitor 403 (charging period).

コンデンサ403の充電が完了すると、ステップS502では、基準抵抗素子402を介したコンデンサ403の放電を行う(放電期間602)。なお、本例では、予め設定された充電時間(充電時間は、コンデンサ403の容量、サーミスタ401や基準抵抗素子402の抵抗値から決定できる)だけコンデンサ403に電圧を印加することで、コンデンサ403への充電が完了したものとする。A/D変換部420からは、コンデンサ403の電圧が0.25V以上である間はON信号が出力されるため、タイマー222では、放電期間602におけるON信号(603)の時間を計測する。これにより、放電を開始してからコンデンサ403の電圧が所定の電圧(ここでは、0.25V)以下になるまでの時間(放電時間604)Trefが計測される(図6の602参照)。   When the charging of the capacitor 403 is completed, in step S502, the capacitor 403 is discharged via the reference resistance element 402 (discharge period 602). In this example, voltage is applied to the capacitor 403 by applying a voltage to the capacitor 403 for a preset charging time (the charging time can be determined from the capacitance of the capacitor 403 and the resistance values of the thermistor 401 and the reference resistance element 402). It is assumed that the charging of has been completed. Since the ON signal is output from the A / D converter 420 while the voltage of the capacitor 403 is 0.25 V or higher, the timer 222 measures the time of the ON signal (603) in the discharge period 602. As a result, the time (discharge time 604) Tref from when the discharge is started until the voltage of the capacitor 403 becomes equal to or lower than a predetermined voltage (here, 0.25 V) is measured (see 602 in FIG. 6).

コンデンサ403の放電が完了すると、ステップS503では、サーミスタ401とコンデンサ403とを含む系の両端に電圧Vを印加する。図6の605は、これにより、コンデンサ403に徐々に電荷が蓄積されていく期間(充電期間)を示している。   When the discharge of the capacitor 403 is completed, a voltage V is applied across the system including the thermistor 401 and the capacitor 403 in step S503. Reference numeral 605 in FIG. 6 indicates a period during which charges are gradually accumulated in the capacitor 403 (charging period).

コンデンサ403の充電が完了すると、ステップS504では、サーミスタ401を介したコンデンサ403の放電を行う(放電期間606)。A/D変換部420からは、コンデンサ403の電圧が0.25V以上である間はON信号が出力されるため、タイマー222では、放電期間606におけるON信号の時間を計測する。これにより、放電を開始してからコンデンサ403の電圧が所定の電圧(ここでは0.25V)以下になるまでの時間(放電時間608)Tthが計測される。なお、Tthは、サーミスタ401の周辺温度に応じて変動する。   When the charging of the capacitor 403 is completed, in step S504, the capacitor 403 is discharged via the thermistor 401 (discharge period 606). Since the ON signal is output from the A / D converter 420 while the voltage of the capacitor 403 is 0.25 V or higher, the timer 222 measures the time of the ON signal in the discharge period 606. Thereby, the time (discharge time 608) Tth from the start of discharge until the voltage of the capacitor 403 becomes equal to or lower than a predetermined voltage (here, 0.25 V) is measured. Note that Tth varies according to the ambient temperature of the thermistor 401.

コンデンサ403の放電が完了すると、ステップS505では、T=a×Tth/Tref(ただし、aは係数であり、ここでは、a=37℃×(Tref37/Tth37))を計算することで、基準温度に対する変動比を求め、温度を算出する。更に、ステップS506では、算出結果Tを温度測定結果として設定する。   When the discharge of the capacitor 403 is completed, in step S505, T = a × Tth / Tref (where a is a coefficient, where a = 37 ° C. × (Tref37 / Tth37)), thereby calculating the reference temperature. The variation ratio with respect to is calculated, and the temperature is calculated. In step S506, the calculation result T is set as the temperature measurement result.

これにより、1回の温度計測が完了する。当該温度計測処理は、所定のサンプリングタイミングで、温度計測の終了が指示されるまで繰り返し行われる。なお、1回のサンプリングタイミングで上述した計測を複数回行って、得られた計測値の平均値を当該サンプリングタイミングの計測結果とするようにしてもよい。   Thereby, one temperature measurement is completed. The temperature measurement process is repeatedly performed at a predetermined sampling timing until the end of temperature measurement is instructed. The above-described measurement may be performed a plurality of times at one sampling timing, and the average value of the obtained measurement values may be used as the measurement result at the sampling timing.

4.3 一般的な温度計測処理の問題点
ここで、図6の例では、基準抵抗素子402とコンデンサ403の系の両端に印加した電圧と、サーミスタ401とコンデンサ403の系の両端に印加した電圧とが、同じであるとしている。
4.3 Problems of General Temperature Measurement Processing Here, in the example of FIG. 6, the voltage applied to both ends of the system of the reference resistance element 402 and the capacitor 403 and the voltage applied to both ends of the system of the thermistor 401 and the capacitor 403 It is assumed that the voltage is the same.

しかしながら、基準抵抗素子402とコンデンサ403の系の両端に印加した電圧と、サーミスタ401とコンデンサ403の系の両端に印加した電圧とが、同じになるとは限らない。   However, the voltage applied across the reference resistor element 402 and capacitor 403 system and the voltage applied across the thermistor 401 and capacitor 403 system are not necessarily the same.

一般に、電源部250として電池を用いた場合、A/D変換部420が動作することにより生じる消費電流の影響で、電池の内部抵抗が大きくなり、電源部250の電圧が下がるという特性がある。このため、放電時間を繰り返し計測すると、そのたびに電源部250の電圧が低下する(具体的には、1回目の放電時間を計測する際に、電源部250の電圧が大きく低下し、2回目以降は、計測を繰り返すたびに、更に、徐々に電源部250の電圧が低下していき、やがて、所定の電源電圧に収束する)。   In general, when a battery is used as the power supply unit 250, there is a characteristic that the internal resistance of the battery increases and the voltage of the power supply unit 250 decreases due to the influence of current consumption caused by the operation of the A / D conversion unit 420. For this reason, whenever the discharge time is repeatedly measured, the voltage of the power supply unit 250 decreases each time (specifically, when the first discharge time is measured, the voltage of the power supply unit 250 greatly decreases and the second time Thereafter, each time measurement is repeated, the voltage of the power supply unit 250 gradually decreases and eventually converges to a predetermined power supply voltage).

つまり、基準抵抗素子402とコンデンサ403の系の両端に印加した電圧と、サーミスタ401とコンデンサ403の系の両端に印加した電圧とでは、電圧値が異なっており、後から印加した電圧のほうが低くなっている。   That is, the voltage value applied to both ends of the reference resistor element 402 and the capacitor 403 system is different from the voltage applied to both ends of the thermistor 401 and capacitor 403 system, and the voltage applied later is lower. It has become.

この結果、計測される放電時間には、電源部250の電圧低下分が誤差として含まれていることとなる。   As a result, the measured discharge time includes a voltage drop of the power supply unit 250 as an error.

このような事態を回避するためには、レギュレータ等を配し、電源部の電圧を安定化させることが有効である。しかしながら、レギュレータ等を配する構成とした場合、レギュレータのリーク電流により電池の消耗が早まるため、電子体温計の長寿命化が妨げられるという問題がある。また、レギュレータ等を配する構成とすると、電子体温計のコスト上昇は不可避となる。   In order to avoid such a situation, it is effective to provide a regulator or the like to stabilize the voltage of the power supply unit. However, in the case where a regulator or the like is provided, there is a problem in that the life of the electronic thermometer is hindered because the battery drains quickly due to the leakage current of the regulator. Moreover, if it is set as the structure which arrange | positions a regulator etc., the cost rise of an electronic thermometer will be inevitable.

そこで、本実施形態では、レギュレータを使用することなく、計測される放電時間に含まれる、電源部250の電圧低下分の誤差を極力排除する構成とすることで、計測精度の維持と、省電力化による長寿命化を実現することができ、1日当たりの測定頻度が高い病院などで予測検温する場合に、消費電力が10mW程度となり、使い始めから少なくとも10000回程度の体温測定が可能となり、実質的に低価格化を実現する。以下、本実施形態における温度計測処理の詳細を説明する。   Therefore, in this embodiment, by using a configuration that eliminates as much as possible the voltage drop error of the power supply unit 250 included in the measured discharge time without using a regulator, it is possible to maintain measurement accuracy and save power. Longer lifespan can be realized, and when performing predictive temperature measurement in hospitals where daily measurement frequency is high, power consumption is about 10 mW, and body temperature can be measured at least about 10,000 times from the start of use. To achieve low price. Hereinafter, the details of the temperature measurement process in the present embodiment will be described.

4.4 本実施形態における温度計測処理の流れ
図7は、本実施形態における温度計測処理の流れを示すフローチャートであり、図8は、コンデンサ403の両端の電圧の時間変化及びA/D変換部420より出力されるディジタル信号の時間変化を示す図である。図7及び図8を用いて、本実施形態における温度計測処理の流れについて説明する。
Figure flow of temperature measurement process in 4.4 present embodiment 7 is a flowchart showing a flow of a temperature measurement process according to this embodiment, FIG. 8, the time change and the A / D converter of the voltage across the capacitor 403 FIG. 6 is a diagram showing a time change of a digital signal output from 420. The flow of the temperature measurement process in the present embodiment will be described with reference to FIGS.

ステップS701では、基準抵抗素子402とコンデンサ403とを含む系の両端に電圧Vを印加する。図8の801は、これにより、コンデンサ403に徐々に電荷が蓄積されていく期間(充電期間)を示している。   In step S701, the voltage V is applied across the system including the reference resistance element 402 and the capacitor 403. Reference numeral 801 in FIG. 8 indicates a period during which electric charges are gradually accumulated in the capacitor 403 (charging period).

コンデンサ403の充電が完了すると、ステップS702では、基準抵抗素子402を介したコンデンサ403の放電を行う(端子T2を0Vに接続する)。このとき、タイマー222では、放電を開始してからコンデンサ403の電圧が所定の電圧(0.25V)以下になるまでの時間(放電時間802)Tref0を計測する。なお、ステップS702では放電のみを行い、Tref0は計測しなくてもよい。   When the charging of the capacitor 403 is completed, in step S702, the capacitor 403 is discharged via the reference resistance element 402 (terminal T2 is connected to 0V). At this time, the timer 222 measures a time (discharge time 802) Tref0 from the start of discharge until the voltage of the capacitor 403 becomes equal to or lower than a predetermined voltage (0.25V). In step S702, only discharging is performed, and Tref0 need not be measured.

コンデンサ403の放電が完了すると、ステップS703では、再度、基準抵抗素子402とコンデンサ403とを含む系の両端に電圧Vを印加する。図8の803は、これにより、コンデンサ403に徐々に電荷が蓄積されていく期間(充電期間)を示している。   When the discharge of the capacitor 403 is completed, in step S703, the voltage V is applied to both ends of the system including the reference resistance element 402 and the capacitor 403 again. Reference numeral 803 in FIG. 8 indicates a period during which electric charges are gradually accumulated in the capacitor 403 (charging period).

コンデンサ403の充電が完了すると、ステップS704では、基準抵抗素子402を介したコンデンサ403の放電を行う。このとき、タイマー222では、放電を開始してからコンデンサ403の電圧が所定の電圧(0.25V)以下になるまでの時間(放電時間804)Tref1を計測する。   When the charging of the capacitor 403 is completed, the capacitor 403 is discharged via the reference resistance element 402 in step S704. At this time, the timer 222 measures a time (discharge time 804) Tref1 from the start of discharge until the voltage of the capacitor 403 becomes equal to or lower than a predetermined voltage (0.25 V).

コンデンサ403の放電が完了すると、ステップS705では、サーミスタ401とコンデンサ403とを含む系の両端に電圧Vを印加する。図8の805は、これにより、コンデンサ403に徐々に電荷が蓄積されていく期間(充電期間)を示している。   When the discharge of the capacitor 403 is completed, a voltage V is applied across the system including the thermistor 401 and the capacitor 403 in step S705. Reference numeral 805 in FIG. 8 indicates a period during which charges are gradually accumulated in the capacitor 403 (charging period).

コンデンサ403の充電が完了すると、ステップS706では、サーミスタ401を介したコンデンサ403の放電を行う(端子T1を0Vに接続する)。このとき、放電を開始してからコンデンサ403の電圧が所定の電圧(0.25V)以下になるまでの時間(放電時間806)Tthを計測する。なお、Tthは、サーミスタ401の周辺温度に応じて変動する。   When the charging of the capacitor 403 is completed, in step S706, the capacitor 403 is discharged via the thermistor 401 (terminal T1 is connected to 0V). At this time, the time (discharge time 806) Tth from the start of discharge until the voltage of the capacitor 403 becomes a predetermined voltage (0.25 V) or less is measured. Note that Tth varies according to the ambient temperature of the thermistor 401.

コンデンサ403の放電が完了すると、ステップS707では、再度、基準抵抗素子402とコンデンサ403とを含む系の両端に電圧Vを印加する。図8の807は、これにより、コンデンサ403に徐々に電荷が蓄積されていく期間(充電期間)を示している。   When the discharge of the capacitor 403 is completed, in step S707, the voltage V is applied to both ends of the system including the reference resistance element 402 and the capacitor 403 again. Reference numeral 807 in FIG. 8 indicates a period during which charges are gradually accumulated in the capacitor 403 (charging period).

コンデンサ403の充電が完了すると、ステップS708では、基準抵抗素子402を介したコンデンサ403の放電を行う。このとき、タイマー222では、放電を開始してからコンデンサ403の電圧が所定の電圧(0.25V)以下になるまでの時間(放電時間808)Tref2を計測する。   When the charging of the capacitor 403 is completed, the capacitor 403 is discharged via the reference resistance element 402 in step S708. At this time, the timer 222 measures a time Tref2 (discharge time 808) from when the discharge is started until the voltage of the capacitor 403 becomes equal to or lower than a predetermined voltage (0.25V).

コンデンサ403の放電が完了すると、ステップS709では、Tref=(Tref1+Tref2)/2を計算する。   When the discharge of the capacitor 403 is completed, Tref = (Tref1 + Tref2) / 2 is calculated in step S709.

更にステップS710では、T=a×Tth/Tref(ただし、aは係数)を計算することで、基準温度に対する変動比を求め、温度データを算出する。更に、ステップS711では、計算結果Tを温度計測結果として設定する。   In step S710, T = a × Tth / Tref (where a is a coefficient) is calculated to obtain a variation ratio with respect to the reference temperature, thereby calculating temperature data. In step S711, the calculation result T is set as the temperature measurement result.

これにより、1回の温度計測が完了する。当該温度計測処理は、温度計測の終了が指示されるまで繰り返し行われる。なお、1回のサンプリングタイミングで上述した計測を複数回行って、得られた計測値の平均値を当該サンプリングタイミングの計測結果とするようにしてもよい。   Thereby, one temperature measurement is completed. The temperature measurement process is repeatedly performed until the end of temperature measurement is instructed. The above-described measurement may be performed a plurality of times at one sampling timing, and the average value of the obtained measurement values may be used as the measurement result at the sampling timing.

このように、本実施形態にかかる電子体温計では、各サンプリングタイミングにおける温度計測時の1回目の放電時間Tref0を、温度データの算出に用いない構成とした。この結果、1回目の放電に伴う電源部250の大幅な電圧低下の影響を低減させることが可能となる。なお、1回目の放電を、サーミスタによる放電として、1回目の放電時間Tth0を温度データの算出に用いない構成としてもよいことはいうまでもない。また、上記の例では温度データの算出に用いない充放電は1回だけ行うようにしているが、温度データの算出に用いない充放電を2回以上行う構成としてもよい。   As described above, the electronic thermometer according to the present embodiment is configured such that the first discharge time Tref0 at the time of temperature measurement at each sampling timing is not used for calculation of temperature data. As a result, it is possible to reduce the influence of a significant voltage drop of the power supply unit 250 due to the first discharge. Needless to say, the first discharge may be the discharge by the thermistor, and the first discharge time Tth0 may not be used for the calculation of the temperature data. In the above example, charging / discharging that is not used for calculating the temperature data is performed only once, but charging / discharging that is not used for calculating the temperature data may be performed twice or more.

また、本実施形態にかかる電子体温計では、サーミスタを介してコンデンサに蓄積された電荷を放電する際の放電時間を計測する直前と直後とに、それぞれ、基準抵抗素子を介してコンデンサに電荷を蓄積し、蓄積した電荷を放電する際の放電時間Tref1、Tref2を計測する構成とした。更に、直前と直後にそれぞれ計測された放電時間Tref1、Tref2の平均値を、温度データの算出に用いる構成とした。   In the electronic thermometer according to the present embodiment, the charge is accumulated in the capacitor via the reference resistance element immediately before and immediately after the discharge time when discharging the charge accumulated in the capacitor via the thermistor. The discharge times Tref1 and Tref2 when discharging the accumulated charges are measured. Further, the average value of the discharge times Tref1 and Tref2 measured immediately before and after is used for the calculation of temperature data.

このように、温度データの算出において放電時間の平均値を用いる構成とすることで、放電時間を繰り返し計測することによる電源部の電圧低下の影響を極力低減させることが可能となる。   As described above, by using the average value of the discharge time in the calculation of the temperature data, it is possible to reduce the influence of the voltage drop of the power supply unit due to repeated measurement of the discharge time as much as possible.

つまり、レギュレータを用いない場合であっても、精度の高い温度計測を実現することが可能となる。この結果、長寿命かつ安価で、計測精度の高い電子体温計を提供することが可能となる。また、クロック周波数の切替との協働により、顕著な省電力効果を得ることができる。   That is, even when a regulator is not used, highly accurate temperature measurement can be realized. As a result, it is possible to provide an electronic thermometer with a long lifetime and low cost and high measurement accuracy. Moreover, a remarkable power saving effect can be obtained by cooperation with the switching of the clock frequency.

[第2の実施形態]
上記第1の実施形態では、温度計測処理開始直後から、コンデンサ403の充電/放電を4回繰り返すことにより、1回の温度計測処理を完了する構成としたが、本発明はこれに限定されない。例えば、コンデンサ403の充電/放電を3回繰り返すことにより、1回の温度計測処理を完了する構成としてもよい。
[Second Embodiment]
In the first embodiment, one temperature measurement process is completed by repeating charging / discharging of the capacitor 403 four times immediately after the start of the temperature measurement process. However, the present invention is not limited to this. For example, one temperature measurement process may be completed by repeating charging / discharging of the capacitor 403 three times.

具体的には、放電の順序を、1回目:基準抵抗素子を介した放電、2回目:基準抵抗素子を介した放電、3回目:サーミスタを介した放電とする。そして、1回目の放電時間Tref0を、温度データの算出に用いないこととする一方で、2回目の放電時間Tref1と、3回目の放電時間Tthとを比較することにより、温度データを算出する構成としてもよい。   Specifically, the order of discharge is the first time: discharge through the reference resistance element, the second time: discharge through the reference resistance element, and the third time: discharge through the thermistor. The first discharge time Tref0 is not used for calculating the temperature data, while the second discharge time Tref1 and the third discharge time Tth are compared to calculate the temperature data. It is good.

あるいは、放電の順序を、1回目:基準抵抗素子を介した放電、2回目:サーミスタを介した放電、3回目:基準抵抗素子を介した放電とし、1回目の放電時間Tref0を温度データの算出に用いるようにしてもよい。すなわち、1回目の放電時間Tref0と3回目の放電時間Tref1との平均値、及び、2回目の放電時間Tthを、温度データの算出に用いる構成としてもよい。この手順によれば、各サンプリングタイミングにおける温度計測時の、初期の放電に伴う電源部250の電圧低下がそれほど大きくない構成において、不必要な充放電を行わずに済む。   Alternatively, the first discharge: discharge through the reference resistance element, the second: discharge through the thermistor, the third: discharge through the reference resistance element, and the first discharge time Tref0 is calculated as temperature data. You may make it use for. That is, the average value of the first discharge time Tref0 and the third discharge time Tref1 and the second discharge time Tth may be used for calculating the temperature data. According to this procedure, unnecessary charge / discharge can be avoided in a configuration in which the voltage drop of the power supply unit 250 due to the initial discharge is not so great at the time of temperature measurement at each sampling timing.

[第3の実施形態]
上記第1の実施形態では、温度計測処理開始直後から、コンデンサの充電/放電を、4回繰り返すことにより、1回の温度計測処理が完了する構成としたが、本発明はこれに限定されない。例えば、放電時間を繰り返し計測することによる電源部の電圧低下が、一定の閾値以内に収束した後から、コンデンサの充電/放電を繰り返すことにより、1回の温度計測処理を完了する構成としても良い。
[Third Embodiment]
In the first embodiment, the temperature measurement process is completed once by repeating charging / discharging of the capacitor four times immediately after the start of the temperature measurement process. However, the present invention is not limited to this. For example, a configuration in which one temperature measurement process is completed by repeating charging / discharging of the capacitor after the voltage drop of the power supply unit due to repeated measurement of the discharge time has converged within a certain threshold value. .

図9は、本実施形態における温度計測処理の流れを示すフローチャートであり、図10は、コンデンサ403の両端の電圧の時間変化及びA/D変換部420より出力されるディジタル信号の時間変化を示す図である。図9及び図10を用いて、本実施形態における温度計測処理の流れについて説明する。   FIG. 9 is a flowchart showing the flow of the temperature measurement process in the present embodiment, and FIG. 10 shows the time change of the voltage across the capacitor 403 and the time change of the digital signal output from the A / D converter 420. FIG. The flow of the temperature measurement process in the present embodiment will be described with reference to FIGS.

はじめに、ステップS901ではカウンタnに0を入力する。ステップS902では、基準抵抗素子402とコンデンサ403とを含む系の両端に電圧Vを印加する。図10の1001は、これにより、コンデンサ403に徐々に電荷が蓄積されていく期間(充電期間)を示している。   First, in step S901, 0 is input to the counter n. In step S902, a voltage V is applied across the system including the reference resistance element 402 and the capacitor 403. Reference numeral 1001 in FIG. 10 indicates a period during which charges are gradually accumulated in the capacitor 403 (charging period).

コンデンサ403の充電が完了すると、ステップS903では、コンデンサ403の基準抵抗素子402を介した放電を行う。このとき、タイマー222では、放電を開始してからコンデンサ403の電圧が所定の電圧(0.25V)以下になるまでの時間(放電時間1002)Tref_0を計測する。   When the charging of the capacitor 403 is completed, in step S903, the capacitor 403 is discharged through the reference resistance element 402. At this time, the timer 222 measures a time (discharge time 1002) Tref_0 from when discharge is started until the voltage of the capacitor 403 becomes equal to or lower than a predetermined voltage (0.25 V).

コンデンサ403の放電が完了すると、ステップS904では、再度、基準抵抗素子402とコンデンサ403とを含む系の両端に電圧Vを印加する。図10の1003は、これにより、コンデンサ403に徐々に電荷が蓄積されていく期間(充電期間)を示している。   When the discharge of the capacitor 403 is completed, in step S904, the voltage V is applied to both ends of the system including the reference resistance element 402 and the capacitor 403 again. Reference numeral 1003 in FIG. 10 indicates a period during which charges are gradually accumulated in the capacitor 403 (charging period).

コンデンサ403の充電が完了すると、ステップS905では、再度、コンデンサ403の基準抵抗素子402を介した放電を行う。このとき、タイマー222では、放電を開始してからコンデンサ403の電圧が所定の電圧(0.25V)以下になるまでの時間(放電時間1004)Tref_1を計測する。   When the charging of the capacitor 403 is completed, in step S905, the capacitor 403 is discharged again via the reference resistance element 402. At this time, the timer 222 measures a time (discharge time 1004) Tref_1 from the start of discharge until the voltage of the capacitor 403 becomes equal to or lower than a predetermined voltage (0.25 V).

コンデンサ403の放電が完了すると、ステップS906では、Tref0を計測した際の電圧V0と、Tref1を計測した際の電圧V1とを比較し、電圧V0と電圧V1との差異を計算する(実際にはTref_0とTref_1との差異を計算する)。そして、電圧V0と電圧V1との差異が所定値以下でないと判定された場合には、ステップS907においてnの値をインクリメントした後、ステップS904に戻る。   When the discharge of the capacitor 403 is completed, in step S906, the voltage V0 when Tref0 is measured is compared with the voltage V1 when Tref1 is measured, and the difference between the voltage V0 and the voltage V1 is calculated (actually). Calculate the difference between Tref_0 and Tref_1). If it is determined that the difference between the voltage V0 and the voltage V1 is not less than or equal to the predetermined value, the value n is incremented in step S907, and the process returns to step S904.

S904では、再度、基準抵抗素子402とコンデンサ403とを含む系の両端に電圧Vを印加する。図10の1005は、これにより、コンデンサ403に徐々に電荷が蓄積されていく期間(充電期間)を示している。   In S904, the voltage V is applied to both ends of the system including the reference resistance element 402 and the capacitor 403 again. Reference numeral 1005 in FIG. 10 indicates a period during which charges are gradually accumulated in the capacitor 403 (charging period).

コンデンサ403の充電が完了すると、ステップS905では、コンデンサ403の放電を行う。このとき、タイマー222では、放電を開始してからコンデンサ403の電圧が所定の電圧(0.25V)以下になるまでの期間(放電時間1006)Tref_2を計測する。   When the charging of the capacitor 403 is completed, the capacitor 403 is discharged in step S905. At this time, the timer 222 measures a period (discharge time 1006) Tref_2 from the start of discharge until the voltage of the capacitor 403 becomes equal to or lower than a predetermined voltage (0.25 V).

コンデンサ403の放電が完了すると、ステップS906では、Tref_1を計測した際の電圧V1と、Tref_2を計測した際の電圧V2とを比較し、電圧V1と電圧V2との差異を計算する(実際には、Tref_1とTref_2との差異を計算する)。そして、電圧V1と電圧V2との差異が所定値以下でないと判定された場合には、ステップS907においてnの値をインクリメントした後、ステップS904に戻る。   When the discharge of the capacitor 403 is completed, in step S906, the voltage V1 when Tref_1 is measured is compared with the voltage V2 when Tref_2 is measured, and the difference between the voltage V1 and the voltage V2 is calculated (actually, , Calculate the difference between Tref_1 and Tref_2). If it is determined that the difference between the voltage V1 and the voltage V2 is not less than or equal to the predetermined value, the value n is incremented in step S907, and the process returns to step S904.

以降、放電時間を繰り返し計測することによる電圧低下(Tref_nとTref_n+1との差)が、所定値以下になるまで、基準抵抗素子402とコンデンサ403とを含む系の両端に電圧Vを印加する処理と、基準抵抗素子402を介してコンデンサ403に蓄積された電荷を放電する処理とを繰り返す(S904〜S907)。   Thereafter, the voltage V is applied to both ends of the system including the reference resistance element 402 and the capacitor 403 until the voltage drop (difference between Tref_n and Tref_n + 1) due to repeated measurement of the discharge time becomes a predetermined value or less. The process and the process of discharging the electric charge accumulated in the capacitor 403 via the reference resistance element 402 are repeated (S904 to S907).

そして、放電時間を繰り返し計測することによる電圧低下(1007)が、所定値以下になったと判定された場合には、ステップS908に進む。   If it is determined that the voltage drop (1007) due to repeated measurement of the discharge time has become a predetermined value or less, the process proceeds to step S908.

ステップS908では、サーミスタ401とコンデンサ403とを含む系の両端に電圧Vを印加する。図10の1008は、これにより、コンデンサ403に徐々に電荷が蓄積されていく期間(充電期間)を示している。   In step S908, a voltage V is applied across the system including the thermistor 401 and the capacitor 403. Reference numeral 1008 in FIG. 10 indicates a period during which charges are gradually accumulated in the capacitor 403 (charging period).

コンデンサ403の充電が完了すると、ステップS909では、サーミスタ401を介したコンデンサ403の放電を行う。このとき、放電を開始してからコンデンサ403の電圧が所定の電圧(0.25V)以下になるまでの時間(放電時間1009)Tthを計測する。   When the charging of the capacitor 403 is completed, the capacitor 403 is discharged via the thermistor 401 in step S909. At this time, the time (discharge time 1009) Tth from the start of discharge until the voltage of the capacitor 403 becomes equal to or lower than a predetermined voltage (0.25 V) is measured.

コンデンサ403の放電が完了すると、ステップS910では、再度、基準抵抗素子402とコンデンサ403とを含む系の両端に電圧Vを印加する。図10の1010は、これにより、コンデンサ403に徐々に電荷が蓄積されていく期間(充電期間)を示している。   When the discharge of the capacitor 403 is completed, in step S910, the voltage V is applied to both ends of the system including the reference resistance element 402 and the capacitor 403 again. 1010 in FIG. 10 shows a period (charge period) in which charges are gradually accumulated in the capacitor 403.

コンデンサ403の充電が完了すると、ステップS911では、基準抵抗素子402を介したコンデンサ403の放電を行う。このとき、タイマー222では、放電を開始してからコンデンサ403の電圧が所定の電圧(0.25V)以下になるまでの時間(放電時間1011)Tref_n+2を計測する。   When the charging of the capacitor 403 is completed, the capacitor 403 is discharged via the reference resistance element 402 in step S911. At this time, the timer 222 measures a time (discharge time 1011) Tref_n + 2 from the start of discharge until the voltage of the capacitor 403 becomes equal to or lower than a predetermined voltage (0.25 V).

コンデンサ403の放電が完了すると、ステップS912では、Tref=(Tref_n+1+Tref_n+2)/2を計算する。   When the discharge of the capacitor 403 is completed, Tref = (Tref_n + 1 + Tref_n + 2) / 2 is calculated in step S912.

更にステップS913では、T=a×Tth/Tref(ただし、aは係数)を計算することで、基準温度に対する変動比を求め、温度データを算出する。更に、ステップS914では、算出結果Tを温度計測結果として設定する。   In step S913, T = a × Tth / Tref (where a is a coefficient) is calculated to obtain a variation ratio with respect to the reference temperature, and temperature data is calculated. In step S914, the calculation result T is set as the temperature measurement result.

これにより、1回の温度計測が完了する。当該温度計測処理は、温度計測の終了が指示されるまで繰り返し行われる。   Thereby, one temperature measurement is completed. The temperature measurement process is repeatedly performed until the end of temperature measurement is instructed.

このように、本実施形態にかかる電子体温計では、放電時間を繰り返し計測することによる電圧部の電圧低下が、一定の閾値以内に収束するまで、基準抵抗素子を介してのコンデンサへの充電/放電を繰り返す構成とした。これにより、放電に伴う電源部の大幅な電圧低下の影響を低減させることが可能となる。   As described above, in the electronic thermometer according to the present embodiment, charging / discharging of the capacitor through the reference resistance element until the voltage drop of the voltage unit due to repeated measurement of the discharge time converges within a certain threshold value. It was set as the structure which repeats. Thereby, it becomes possible to reduce the influence of the significant voltage drop of the power supply part accompanying discharge.

また、本実施形態にかかる電子体温計では、サーミスタを介してコンデンサに蓄積された電荷を放電する際の放電時間を計測する直前と直後とに、それぞれ、基準抵抗素子を介してコンデンサに電荷を蓄積し、蓄積した電荷を放電する際の放電時間Tref_n+1、Tref_n+2を計測する構成とした。更に、直前と直後にそれぞれ計測された放電時間Tref_n+1、Tref_n+2の平均値を、温度の計測に用いる構成とした。   In the electronic thermometer according to the present embodiment, the charge is accumulated in the capacitor via the reference resistance element immediately before and immediately after the discharge time when discharging the charge accumulated in the capacitor via the thermistor. The discharge times Tref_n + 1 and Tref_n + 2 when discharging the accumulated charges are measured. Further, the average values of the discharge times Tref_n + 1 and Tref_n + 2 measured immediately before and after are used for temperature measurement.

このように、放電時間の平均値を用いる構成とすることで、放電時間を繰り返し計測することによる電源部の電圧低下の影響を極力低減させることが可能となる。   As described above, by using the average value of the discharge time, it is possible to reduce the influence of the voltage drop of the power supply unit by repeatedly measuring the discharge time as much as possible.

つまり、レギュレータを用いない場合であっても、精度の高い温度計測を実現することが可能となる。この結果、長寿命かつ安価で、計測精度の高い電子体温計を提供することが可能となる。また、クロック周波数の切替との協働により、顕著な省電力効果を得ることができる。   That is, even when a regulator is not used, highly accurate temperature measurement can be realized. As a result, it is possible to provide an electronic thermometer with a long lifetime and low cost and high measurement accuracy. Moreover, a remarkable power saving effect can be obtained by cooperation with the switching of the clock frequency.

なお、上記実施形態では、コンデンサ403への充電に際して、Trefを測定する場合には基準抵抗素子を介した充電、Tthを測定する場合にはサーミスタを介した充電を用いているが、これに限られるものではない。例えば、コンデンサ403への充電は、常に基準抵抗素子またはサーミスタのいずれか一方を介して行うようにしても良いし、基準抵抗素子とサーミスタの両方を介して行うようにしても良い。   In the above embodiment, when charging the capacitor 403, charging through a reference resistance element is used when measuring Tref, and charging via a thermistor is used when measuring Tth. Is not something For example, charging of the capacitor 403 may always be performed via either the reference resistance element or the thermistor, or may be performed via both the reference resistance element and the thermistor.

以上説明したように、上記各実施形態によれば、サーミスタと積分回路により計測値を得る電子体温計において、温度の実測値に基づいて温度計測用のクロックの周波数を切り替えるようにした。このため、予測温度演算を行わない待機期間において低周波数クロックを用いて省電力化を図るとともに、予測温度演算を行う計測期間においては高周波数クロックによる高精度な計測を実現することができる。また、計測期間を、予測温度演算の開始から終了まで(予測温度値が表示されるまで)とすれば、予測温度演算の終了とともにクロックが低周波数に切り替わるので、より効果的に省電力を達成できる。更に、予測温度演算において、初期の実測値から適切な予測式を選定することで、予測温度演算の時間短縮が図られる。そのため、計測期間を短縮でき、より効果的な省電力を達成できる。   As described above, according to each of the above embodiments, the frequency of the clock for temperature measurement is switched based on the measured value of the temperature in the electronic thermometer that obtains the measured value by the thermistor and the integrating circuit. For this reason, it is possible to achieve power saving by using a low-frequency clock in a standby period in which the predicted temperature calculation is not performed, and it is possible to realize highly accurate measurement using the high-frequency clock in a measurement period in which the predicted temperature calculation is performed. Also, if the measurement period is from the start to the end of the predicted temperature calculation (until the predicted temperature value is displayed), the clock is switched to a lower frequency as the predicted temperature calculation ends, thus achieving more effective power saving. it can. Further, in the predicted temperature calculation, the time required for the predicted temperature calculation can be shortened by selecting an appropriate prediction formula from the initial actual measurement values. Therefore, the measurement period can be shortened, and more effective power saving can be achieved.

100:電子体温計 101:本体ケース 102:金座億キャップ 103:電源ON/OFFスイッチ 104:液晶表示器 105:スピーカ   DESCRIPTION OF SYMBOLS 100: Electronic thermometer 101: Main body case 102: Gold cap 100: Power ON / OFF switch 104: Liquid crystal display 105: Speaker

Claims (7)

サーミスタとコンデンサとが直列に接続された積分回路と、
クロック信号を生成するクロック手段と、
前記積分回路において定常状態から過渡状態に移行した際の過渡期間を前記クロック信号をカウントすることにより計測する計測手段と、
前記計測手段で計測された前記過渡期間に基づいて温度値を算出する算出手段と、
前記算出手段で算出された温度値から複数の予測式にしたがって複数の予測値を導出する予測値導出手段と、
前記複数の予測値のそれぞれの経時変化に基づいて、前記複数の予測式から一つの予測式を選択する選択手段と、
前記選択手段により選択された予測式を用いて体温計測結果としての平衡温度値を取得し、表示する表示出力手段とを備え、
前記クロック手段は、前記算出手段で算出された温度値に基づいて、前記クロック信号の周波数を切り替えることを特徴とする電子体温計。
An integrating circuit in which a thermistor and a capacitor are connected in series;
Clock means for generating a clock signal;
A measuring means for measuring a transient period when transitioning from a steady state to a transient state in the integration circuit by counting the clock signal;
Calculating means for calculating a temperature value based on the transient period measured by the measuring means;
Predicted value deriving means for deriving a plurality of predicted values from the temperature values calculated by the calculating means according to a plurality of prediction formulas;
A selection unit that selects one prediction formula from the plurality of prediction formulas based on each time-dependent change of the plurality of prediction values;
A display output means for acquiring and displaying an equilibrium temperature value as a body temperature measurement result using the prediction formula selected by the selection means;
The electronic thermometer characterized in that the clock means switches the frequency of the clock signal based on the temperature value calculated by the calculating means.
前記クロック手段は、前記算出手段で算出された温度値が所定の温度またはそれ以上である場合に前記クロックの周波数を第1の周波数に設定し、前記温度値が所定の温度よりも低い場合に前記クロックの周波数を第2の周波数に設定し、前記第1の周波数は前記第2の周波数よりも高いことを特徴とする請求項1に記載の電子体温計。   The clock means sets the frequency of the clock to the first frequency when the temperature value calculated by the calculating means is a predetermined temperature or higher, and when the temperature value is lower than the predetermined temperature. The electronic thermometer according to claim 1, wherein the frequency of the clock is set to a second frequency, and the first frequency is higher than the second frequency. 前記クロック手段は、体温計測結果としての前記平衡温度値が取得されると、前記クロックの周波数を前記第2の周波数に設定することを特徴とする請求項2に記載の電子体温計。   3. The electronic thermometer according to claim 2, wherein the clock means sets the frequency of the clock to the second frequency when the equilibrium temperature value as a body temperature measurement result is acquired. 前記予測値導出手段は、前記算出手段で算出された温度値が所定の温度以上であり、且つ、温度変化の度合いが所定値以上である場合に前記複数の予測値の導出を開始し、
前記クロック手段は、前記予測値導出手段による前記導出の開始から前記表示出力手段が前記平衡温度値を取得するまでの期間において前記クロックの周波数を第1の周波数に設定し、他の期間では前記クロックの周波数を第2の周波数に設定し、前記第1の周波数は前記第2の周波数よりも高いことを特徴とする請求項1に記載の電子体温計。
The predicted value deriving unit starts derivation of the plurality of predicted values when the temperature value calculated by the calculating unit is equal to or higher than a predetermined temperature and the degree of temperature change is equal to or higher than a predetermined value.
The clock means sets the frequency of the clock to a first frequency in a period from the start of the derivation by the predicted value derivation means until the display output means obtains the equilibrium temperature value, and in other periods, the clock frequency The electronic thermometer according to claim 1, wherein a clock frequency is set to a second frequency, and the first frequency is higher than the second frequency.
前記電子体温計の各部に電源を供給する電源部と、
前記電源部から前記各部への電源供給のオン、オフを行うマグネットリードスイッチとを備える請求項1乃至4のいずれか1項に記載の電子体温計。
A power supply for supplying power to each part of the electronic thermometer;
The electronic thermometer according to any one of claims 1 to 4, further comprising a magnet reed switch that turns on and off power supply from the power supply unit to each unit.
液密に形成されていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の電子体温計。   The electronic thermometer according to claim 1, wherein the electronic thermometer is liquid-tight. サーミスタとコンデンサとが直列に接続された積分回路と、
クロック信号を生成するクロック手段とを備えた電子体温計の制御方法であって、
前記積分回路において定常状態から過渡状態に移行した際の過渡期間を前記クロック信号をカウントすることにより計測する計測工程と、
前記計測工程で計測された前記過渡期間に基づいて温度値を算出する算出工程と、
前記算出工程で算出された温度値から複数の予測式にしたがって複数の予測値を導出する予測値導出工程と、
前記複数の予測値のそれぞれの経時変化に基づいて、前記複数の予測式から一つの予測式を選択する選択工程と、
前記選択工程で選択された予測式を用いて体温計測結果としての平衡温度値を取得し、表示する表示出力工程と、
前記算出工程で算出された温度値に基づいて、前記クロック手段が発生する前記クロック信号の周波数を切り替える切替工程とを有することを特徴とする電子体温計の制御方法。
An integrating circuit in which a thermistor and a capacitor are connected in series;
A method for controlling an electronic thermometer comprising clock means for generating a clock signal,
A measuring step of measuring the transition period by counting the clock signal when transitioning from the steady state to the transient state in the integration circuit;
A calculation step of calculating a temperature value based on the transient period measured in the measurement step;
A predicted value deriving step of deriving a plurality of predicted values from the temperature value calculated in the calculating step according to a plurality of prediction formulas;
A selection step of selecting one prediction formula from the plurality of prediction formulas based on each time-dependent change of the plurality of prediction values;
A display output step of acquiring and displaying an equilibrium temperature value as a body temperature measurement result using the prediction formula selected in the selection step;
And a switching step of switching a frequency of the clock signal generated by the clock means based on the temperature value calculated in the calculation step.
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