JP2011243137A - Reliability prediction input data generation device and reliability prediction input data generation program and recording medium - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve a reliability setting support system in which a workload of an equipment designer is small by automatically setting input data for reliability prediction as input data of the reliability prediction model of electronic equipment from a use component list of the electronic equipment.SOLUTION: A reliability prediction input data generation device 110 comprises: a stress value table storage part 13 for storing a stress value table in which stress conditions are set by using components to be used for prescribed electronic equipment as objects; and an input data generation part 13 for inputting a use component list 11 including the information of the type of components to be used for the electronic equipment, and for generating input data 62 for reliability prediction as input data of the reliability prediction model of the electronic equipment, the input data 62 for reliability prediction being associated with the type and stress conditions by using the components to be used for the electronic equipment as objects based on the use component list 11 and the stress value table.

Description

この発明は、信頼度予測モデルに入力する入力データを生成する信頼度予測用入力データ生成装置及び信頼度予測用入力データ生成プログラムに関する。   The present invention relates to a reliability prediction input data generation device and a reliability prediction input data generation program for generating input data to be input to a reliability prediction model.

電子機器の信頼性設計においては、MIL−HDBK−217Fに代表される信頼度予測モデルを用いて信頼度予測値(故障率)を算出することで、電子機器の信頼性を定量化し分析する。この信頼性分析では、電子機器の構成部品毎に信頼度予測モデルの種別(例えば、抵抗用モデル、コンデンサ用モデルなど)や、部品に印加されるストレス条件(例えば、使用環境での温度ストレス、回路構成による印加電圧ストレスなど)を設定し、信頼度予測モデルによる計算を行い、信頼度予測値(故障率)を導出する(例えば、特許文献1)。   In the reliability design of an electronic device, the reliability of the electronic device is quantified and analyzed by calculating a reliability prediction value (failure rate) using a reliability prediction model typified by MIL-HDBK-217F. In this reliability analysis, the reliability prediction model type (for example, a resistance model, a capacitor model, etc.) for each component of the electronic device, and stress conditions applied to the component (for example, temperature stress in the usage environment, (Applied voltage stress depending on the circuit configuration) is set, calculation is performed using a reliability prediction model, and a reliability prediction value (failure rate) is derived (for example, Patent Document 1).

図8は、従来の信頼性分析方法を示す構成図である。
図8において、
(1)使用部品リスト60には、対象機器の構成部品や使用数量等が記載されている。
(2)信頼度予測用入力データ62には、機器を構成する部品情報(部品種別、使用数量、ストレス設定値)が記載されている。
(3)信頼度予測モデル63は、信頼度予測値を算出する。
(4)信頼度予測値64は、信頼度予測モデル63によって導出された値(故障率)である。
FIG. 8 is a block diagram showing a conventional reliability analysis method.
In FIG.
(1) The used parts list 60 describes the component parts and the used quantity of the target device.
(2) The reliability prediction input data 62 describes component information (component type, used quantity, stress setting value) constituting the device.
(3) The reliability prediction model 63 calculates a reliability prediction value.
(4) The reliability prediction value 64 is a value (failure rate) derived by the reliability prediction model 63.

従来の信頼性分析では、機器設計者61が使用部品リスト60を参照して信頼度予測用入力データ62を作成する。信頼度予測モデル63は、信頼度予測用入力データ62の記載情報を基に、部品種別に合致した予測モデルを用い、使用数量やストレス設定値から電子機器の信頼度予測値64を導出する。尚、信頼度予測モデル63は、計算用ソフトウェアが市販されており、信頼度予測用入力データ62があれば、計算自体は容易に行うことができる。   In the conventional reliability analysis, the device designer 61 creates the reliability prediction input data 62 by referring to the used parts list 60. The reliability prediction model 63 derives the reliability prediction value 64 of the electronic device from the used quantity and the stress setting value using a prediction model that matches the component type based on the description information of the reliability prediction input data 62. As the reliability prediction model 63, calculation software is commercially available, and if the reliability prediction input data 62 exists, the calculation itself can be easily performed.

特開2006−277370号公報JP 2006-277370 A

一般に電子機器は、例えば数千個といった非常に多くの電子部品にて構成されている。従来の信頼性分析では、前記の様に信頼度予測用入力データ62を機器設計者61が準備する必要があったため、入力作業に伴う負担が非常に大きいという課題があった。   In general, an electronic device is composed of an extremely large number of electronic components, for example, thousands. In the conventional reliability analysis, since the device designer 61 has to prepare the input data 62 for predicting reliability as described above, there is a problem that a burden associated with input work is very large.

この発明は、使用部品リストや回路図から信頼度予測用入力データを自動生成することにより、機器設計者の作業負担の少ない信頼性設計支援システムを実現することを目的とする。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to realize a reliability design support system with less work burden on a device designer by automatically generating input data for predicting reliability from a used parts list or a circuit diagram.

この発明の信頼度予測用入力データ生成装置は、
所定の電子機器に使用される部品を対象としてストレス条件が設定されたストレス情報を記憶するストレス情報記憶部と、
前記電子機器に使用される部品の種別の情報を含む使用部品リストを入力し、入力した前記使用部品リストと前記ストレス情報記憶部の前記ストレス情報とに基づいて、前記電子機器の信頼度予測モデルの入力データとなる信頼度予測用入力データであって、前記電子機器に使用される部品を対象として種別とストレス条件とが対応付けられた信頼度予測用入力データを生成する生成部と
を備えたことを特徴とする。
The input data generation device for reliability prediction according to the present invention includes:
A stress information storage unit that stores stress information in which stress conditions are set for a part used in a predetermined electronic device;
A used component list including information on the type of component used in the electronic device is input, and the reliability prediction model of the electronic device is based on the input used component list and the stress information in the stress information storage unit. And a generation unit that generates reliability prediction input data in which a type and a stress condition are associated with each other for the components used in the electronic device. It is characterized by that.

この発明により、機器設計者の作業負担の少ない信頼性設計支援システムを提供できる。   According to the present invention, it is possible to provide a reliability design support system with less work burden on the device designer.

実施の形態1における信頼度予測用入力データ生成装置110の構成図。1 is a configuration diagram of a reliability prediction input data generation device 110 according to Embodiment 1. FIG. 実施の形態1における信頼度予測用入力データ生成装置110の動作を示す図。FIG. 6 is a diagram illustrating an operation of the reliability prediction input data generation device 110 according to the first embodiment. 実施の形態2における信頼度予測用入力データ生成装置120の構成図。The block diagram of the input data generation apparatus 120 for reliability prediction in Embodiment 2. FIG. 実施の形態2における信頼度予測用入力データ生成装置120の動作を示す図。The figure which shows operation | movement of the input data generation apparatus 120 for reliability prediction in Embodiment 2. FIG. 実施の形態3における信頼度予測用入力データ生成装置130の構成図。FIG. 6 is a configuration diagram of a reliability prediction input data generation device 130 in a third embodiment. 実施の形態4における信頼度予測用入力データ生成装置110の外観を示す図。FIG. 10 is a diagram illustrating an appearance of a reliability prediction input data generation device 110 according to a fourth embodiment. 実施の形態4における信頼度予測用入力データ生成装置110のハードウェエア構成を示す図。The figure which shows the hardware constitutions of the input data generation apparatus 110 for reliability prediction in Embodiment 4. FIG. 従来技術を示す図。The figure which shows a prior art.

実施の形態1.
図1は、実施の形態1における信頼性設計支援システム1010(信頼性分析方法)を説明する図である。信頼性設計支援システム1010は、信頼度予測用入力データ生成装置110を備えている。信頼性設計支援システム1010の特徴は、信頼度予測用入力データ生成装置110が、使用部品リスト11を入力し、後述するストレス値テーブル13a(ストレス情報)を参照して、信頼度予測用入力データ62を自動生成する点にある。なお、信頼性設計支援システム1010は一台のコンピュータで実現されても良いし、複数台のコンピュータ(信頼度予測用入力データ生成装置110であるコンピュータと、信頼度予測モデル63を実行するコンピュータ)で実現されても良い。
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is a diagram for explaining a reliability design support system 1010 (reliability analysis method) in the first embodiment. The reliability design support system 1010 includes a reliability prediction input data generation device 110. The reliability design support system 1010 is characterized in that the reliability prediction input data generation apparatus 110 inputs the used component list 11 and refers to a stress value table 13a (stress information) described later to input reliability prediction input data. 62 is automatically generated. The reliability design support system 1010 may be realized by a single computer or a plurality of computers (a computer that is the reliability prediction input data generation device 110 and a computer that executes the reliability prediction model 63). It may be realized with.

図1において、使用部品リスト11は、対象機器の構成部品や使用数量、用途等が記載されている。使用部品リスト11の詳細は動作説明で後述する。   In FIG. 1, the used part list 11 describes the component parts, the used quantity, the usage, and the like of the target device. Details of the used parts list 11 will be described later in the explanation of the operation.

信頼度予測用入力データ生成装置110は、入力データ生成部12(生成部)と、ストレス値テーブル13aを記憶しているストレス値テーブル記憶部13(ストレス情報記憶部)とを備えている。入力データ生成部12は、使用部品リスト11から信頼度予測用入力データ62を生成する。ストレス値テーブル13aは、部品種別・用途に応じたストレス設定が記載されている。ストレス値テーブル13aの詳細は動作説明で後述する。   The reliability prediction input data generation device 110 includes an input data generation unit 12 (generation unit) and a stress value table storage unit 13 (stress information storage unit) that stores a stress value table 13a. The input data generation unit 12 generates reliability prediction input data 62 from the used component list 11. The stress value table 13a describes the stress setting according to the component type and application. Details of the stress value table 13a will be described later in the operation description.

信頼度予測用入力データ62、信頼度予測モデル63、信頼度予測値64の流れは図8で説明した従来技術と同様である。よって、信頼度予測モデル63が信頼度予測用入力データ62から信頼度予測値64を算出する処理の説明は省略する。   The flow of the reliability prediction input data 62, the reliability prediction model 63, and the reliability prediction value 64 is the same as that of the prior art described in FIG. Therefore, description of the process in which the reliability prediction model 63 calculates the reliability prediction value 64 from the reliability prediction input data 62 is omitted.

図2は、信頼度予測用入力データ生成装置110(入力データ生成部12)の動作を示す図である。次に、図2を参照して入力データ生成部12の動作を説明する。   FIG. 2 is a diagram illustrating an operation of the reliability prediction input data generation device 110 (input data generation unit 12). Next, the operation of the input data generation unit 12 will be described with reference to FIG.

(ストレス値テーブル13a)
電子機器のストレス設定は、製造メーカの設計基準として上限値が決められている場合や、電子機器内での部品用途によって一意に決まる場合が多い。そこで、機器メーカや機器用途で共通化したストレス設定を予め取り決め、ストレス値テーブル13aに格納しておく。図2のストレス値テーブル13aの例では、信頼度予測対象となる電子機器に使用される部品の、種別と、用途と、ストレス設定(ストレス条件)とが対応付けられている。
(Stress value table 13a)
In many cases, the stress setting of an electronic device is uniquely determined depending on a case where an upper limit is determined as a design standard of a manufacturer or a component application in the electronic device. Therefore, the stress setting common to the device manufacturer and device application is determined in advance and stored in the stress value table 13a. In the example of the stress value table 13a in FIG. 2, the type, application, and stress setting (stress condition) of the parts used in the electronic device that is the reliability prediction target are associated with each other.

信頼性設計支援システム1010では、まず、使用部品リスト11が入力データ生成部12に入力される。図2の使用部品リスト11の例では、使用部品リスト11は予測対象の電子機器に使用される部品の、種別と、数量と、用途との各情報を含む。なお数量については、図2の使用部品リスト11から、例えば、「用途:プルアップ」の金属被覆抵抗が「数量=2」あることがわかる(部品番号R001,R002に着目した場合)。   In the reliability design support system 1010, first, the used component list 11 is input to the input data generation unit 12. In the example of the used component list 11 in FIG. 2, the used component list 11 includes information on types, quantities, and uses of components used in the electronic device to be predicted. As for the quantity, it can be seen from the used parts list 11 in FIG. 2 that the metal coating resistance of “use: pull-up” is “quantity = 2” (when attention is paid to the part numbers R001 and R002).

図2に示すように、入力データ生成部12は、使用部品リスト11に記載された情報(部品種別、用途)と、ストレス値テーブル13aに記載された情報(用途、ストレス設定)とを参照し、部品種別、数量、ストレス設定が記載された信頼度予測用入力データ62を生成する。なお数量は上記のように抽出される。この信頼度予測用入力データ62を信頼度予測モデル63に入力することにより、信頼度予測値64を得ることができる。   As shown in FIG. 2, the input data generation unit 12 refers to the information (component type and application) described in the used component list 11 and the information (application and stress setting) described in the stress value table 13a. Then, the reliability prediction input data 62 in which the component type, the quantity, and the stress setting are described is generated. The quantity is extracted as described above. The reliability prediction value 64 can be obtained by inputting the reliability prediction input data 62 to the reliability prediction model 63.

図2に示すように、使用部品リスト11には、例えば、部品番号(基板上の装着位置を示す番号)、部品種別、部品型名、メーカ、用途といった情報が記載されている。ストレス値テーブル13aには、部品種別、用途、ストレス設定(信頼度予測モデルに設定するストレスパラメータ)が記載されている。入力データ生成部12は、部品種別、用途を用いて使用部品リスト11とストレス値テーブル13aを関連付け、信頼度予測に必要な情報(部品種別、ストレス設定、使用数量)を抽出し、信頼度予測用入力データ62を生成する。   As illustrated in FIG. 2, the used component list 11 includes information such as a component number (a number indicating a mounting position on the board), a component type, a component model name, a manufacturer, and an application. In the stress value table 13a, the component type, application, and stress setting (stress parameters set in the reliability prediction model) are described. The input data generation unit 12 associates the used component list 11 with the stress value table 13a using the component type and application, extracts information (component type, stress setting, and used quantity) necessary for reliability prediction, and predicts reliability. Input data 62 is generated.

以上の様に、信頼度予測用入力データ生成装置110は、使用部品リスト11を入力として信頼度予測用入力データ62を自動生成する。このため、機器設計者は信頼度予測用入力データ62を作成する必要が無く、信頼性分析の作業負荷低減を図ることができる。   As described above, the reliability prediction input data generation apparatus 110 automatically generates the reliability prediction input data 62 using the used component list 11 as an input. For this reason, it is not necessary for the device designer to create the reliability prediction input data 62, and the workload of the reliability analysis can be reduced.

実施の形態2.
次に、図3、図4を参照して実施の形態2の信頼性設計支援システム1020を説明する。信頼性設計支援システム1020では信頼度予測用入力データ生成装置の構成が実施の形態1と異なる。前記の実施の形態1では、使用部品リスト11から信頼度予測用入力データ62を自動生成した。実施の形態2の信頼度予測用入力データ生成装置120は、回路図(電子的な回路図)から部品の用途情報を抽出し、信頼度予測用入力データ62を生成する構成である。
Embodiment 2. FIG.
Next, a reliability design support system 1020 according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. In the reliability design support system 1020, the configuration of the input data generation device for reliability prediction is different from that of the first embodiment. In the first embodiment, the reliability prediction input data 62 is automatically generated from the used component list 11. The reliability prediction input data generation apparatus 120 according to the second embodiment is configured to extract component usage information from a circuit diagram (electronic circuit diagram) and generate reliability prediction input data 62.

すなわち、実施の形態1では、使用部品リスト11が種別及び用途を含んでいたが、実施の形態2では、使用部品リスト60(用途不記載使用部品リスト)が用途を含んでいない。その代わりに、電子データである回路図31(回路図情報)を入力し、予め設定した用途抽出ルールを参照して回路図31から部品用途を抽出する構成である。   That is, in the first embodiment, the used component list 11 includes the type and the use, but in the second embodiment, the used component list 60 (the use undescribed used component list) does not include the use. Instead, the circuit diagram 31 (circuit diagram information), which is electronic data, is input, and the component usage is extracted from the circuit diagram 31 with reference to a preset usage extraction rule.

図3は、実施の形態2の信頼度予測用入力データ生成装置120の構成を示す図である。図3に示すように、信頼度予測用入力データ生成装置120は、さらに、部品用途照合部32と、用途抽出ルール33aを記憶する用途抽出ルール記憶部33を備えている。入力データ生成部12と部品用途照合部32とは、生成部を構成する。その他の構成は、実施の形態1と同一である。   FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of the reliability prediction input data generation device 120 according to the second embodiment. As shown in FIG. 3, the reliability prediction input data generation device 120 further includes a component usage verification unit 32 and a usage extraction rule storage unit 33 that stores a usage extraction rule 33 a. The input data generation unit 12 and the component usage verification unit 32 constitute a generation unit. Other configurations are the same as those of the first embodiment.

(部品用途照合部32)
部品用途照合部32は、回路図31から部品の用途情報を抽出し信頼度予測用部品リスト34を生成する。ここで「回路図31」とは、予測対象の電子機器の電子的な回路図(回路図情報)である。回路図31は、電子機器に使用される各部品の種別を含む属性と、部品間の接続関係(配線情報)とが定義されている。部品の属性とは、例えば、抵抗あるいはコンデンサ等の種別、抵抗値などの特性、部品番号などを含む。回路図31については図4で後述する。
(Part usage verification unit 32)
The component usage verification unit 32 extracts component usage information from the circuit diagram 31 and generates a reliability prediction component list 34. Here, the “circuit diagram 31” is an electronic circuit diagram (circuit diagram information) of the electronic device to be predicted. In the circuit diagram 31, an attribute including the type of each component used in the electronic device and a connection relationship (wiring information) between the components are defined. The component attributes include, for example, the type of a resistor or a capacitor, characteristics such as a resistance value, and a component number. The circuit diagram 31 will be described later with reference to FIG.

(用途抽出ルール33a)
用途抽出ルール33aは、回路図31の配線情報から部品用途を抽出するためのルールが記載されている。用途抽出ルール33aについては図4で後述する。なお、部品用途照合部32が用途を抽出するのは、前述のように、使用部品リスト60に用途が記載されていないからである。
(Usage extraction rule 33a)
The usage extraction rule 33a describes a rule for extracting a component usage from the wiring information of the circuit diagram 31. The usage extraction rule 33a will be described later with reference to FIG. The component usage verification unit 32 extracts the usage because the usage is not described in the used component list 60 as described above.

図4は、信頼度予測用入力データ生成装置120(部品用途照合部32)の動作を示す図である。図4を参照して、動作を説明する。   FIG. 4 is a diagram illustrating an operation of the reliability prediction input data generation device 120 (component application verification unit 32). The operation will be described with reference to FIG.

図4に示すように、使用部品リスト60には用途情報が記載されていない。つまり、使用部品リスト60は図2の使用部品リスト11に対して、「用途」の項目が存在しない。このため、部品用途照合部32が、回路図31の配線情報から部品の用途を抽出し信頼度予測用部品リスト34に付加する。電子機器内で使用されている部品の「用途」は、各部品の配線情報から判定することが可能である。例えば、ある抵抗部品の片方の端子が信号に、別の端子が電源に接続されている場合は、抵抗の用途はプルアップ用と判定できる。この様な判定ルールを予め定義し、用途抽出ルール33aに設定しておく。   As shown in FIG. 4, usage information is not described in the used component list 60. That is, the used component list 60 does not have an item “use” as compared to the used component list 11 of FIG. Therefore, the component usage verification unit 32 extracts the usage of the component from the wiring information of the circuit diagram 31 and adds it to the reliability prediction component list 34. The “use” of the part used in the electronic device can be determined from the wiring information of each part. For example, when one terminal of a certain resistor component is connected to a signal and the other terminal is connected to a power supply, the use of the resistor can be determined to be for pull-up. Such a determination rule is defined in advance and set in the use extraction rule 33a.

(用途抽出処理)
用途抽出処理を以下に説明する。まず、回路図31の配線情報(例えば、回路図CADの信号接続情報ファイル)が部品用途照合部32に入力される。部品用途照合部32は、回路図31の配線情報から各部品の端子接続状態を抽出し、用途抽出ルール33aと照合することにより、各部品の用途を導出する。導出した部品用途と、使用部品リスト60の情報(部品番号、部品種別)から、部品番号、部品種別、用途が記載された信頼度予測用部品リスト34を生成する。信頼度予測用部品リスト34は実施の形態1の使用部品リスト11と同様に部品に関して種別、用途、数量の各情報を含んでいる。この信頼度予測用部品リスト34を入力データ生成部12に入力することにより、信入力データ生成部12が信頼度予測用入力データ62を生成する。
(Use extraction process)
The use extraction process will be described below. First, wiring information of the circuit diagram 31 (for example, a signal connection information file of the circuit diagram CAD) is input to the component application verification unit 32. The component usage verification unit 32 extracts the terminal connection state of each component from the wiring information of the circuit diagram 31 and compares it with the usage extraction rule 33a to derive the usage of each component. From the derived component usage and information (part number, component type) of the used component list 60, a reliability prediction component list 34 in which the component number, component type, and usage are described is generated. Similar to the used component list 11 of the first embodiment, the reliability prediction component list 34 includes information on types, uses, and quantities regarding the components. By inputting the reliability prediction component list 34 to the input data generation unit 12, the confidence input data generation unit 12 generates the reliability prediction input data 62.

使用部品リスト60には部品用途が記載されていないため、回路図31から用途を抽出するが、具体的には次のように抽出する。部品用途照合部32は、機器を構成する各部品に対し、回路図31、使用部品リスト60、用途抽出ルール33aを用いて部品用途を特定する。例えば、図4における回路図31中の「R001」の抵抗は片方の端子が信号に、別の端子が電源に接続される接続形態である。また、使用部品リスト60より「R001」は金属皮膜抵抗であることがわかる。部品用途照合部32は、これらの情報を用途抽出ルール33aと照合し、部品種別、接続形態と合致するものを検索する。本例ではNo.2のルールが該当するので、抵抗R001の用途はプルアップと特定できる。この様にして、部品用途照合部32は、機器を構成する全部品の「用途」を特定し、部品番号、部品種別、用途情報を記載した信頼度予測用部品リスト34を生成する。   Since the component usage is not described in the used component list 60, the usage is extracted from the circuit diagram 31. Specifically, the usage is extracted as follows. The component usage verification unit 32 identifies the component usage for each component constituting the device using the circuit diagram 31, the used component list 60, and the usage extraction rule 33a. For example, the resistor “R001” in the circuit diagram 31 in FIG. 4 is a connection form in which one terminal is connected to a signal and the other terminal is connected to a power source. Further, it can be seen from the used parts list 60 that “R001” is a metal film resistance. The component usage collation unit 32 collates this information with the usage extraction rule 33a, and searches for a component that matches the component type and the connection form. In this example, no. Since the rule of 2 is applicable, the use of the resistor R001 can be specified as pull-up. In this way, the component usage collation unit 32 identifies “uses” of all the components that make up the device, and generates a reliability prediction component list 34 that describes the component number, component type, and usage information.

以上の様に、実施の形態2の信頼度予測用入力データ生成装置120は、使用部品リスト60に用途情報が記載されていない場合には、回路図31の部品用途を判別し、信頼度予測用部品リスト34及び信頼度予測用入力データ62を自動生成する。このため、機器設計者は信頼度予測用入力データ62を作成する必要が無く、信頼性分析の作業負荷低減を図ることができる。   As described above, the reliability prediction input data generation apparatus 120 according to the second embodiment determines the component usage of the circuit diagram 31 when the usage information is not described in the used component list 60, and predicts the reliability. Parts list 34 and reliability prediction input data 62 are automatically generated. For this reason, it is not necessary for the device designer to create the reliability prediction input data 62, and the workload of the reliability analysis can be reduced.

実施の形態3.
前記の実施の形態2は、部品用途照合部32と入力データ生成部12とが分かれた構成となっており、回路図31と使用部品リスト60とから信頼度予測用部品リスト34を生成した後、信頼度予測用入力データ62を生成する構成である。これに対して実施の形態3は、部品用途照合部32と入力データ生成部12とを統合し、回路図31及び使用部品リスト60から信頼度予測用入力データ62を直接生成する構成である。
Embodiment 3 FIG.
In the second embodiment, the component application verification unit 32 and the input data generation unit 12 are separated from each other, and after the reliability prediction component list 34 is generated from the circuit diagram 31 and the used component list 60. In this configuration, the reliability prediction input data 62 is generated. On the other hand, the third embodiment is configured to integrate the component usage verification unit 32 and the input data generation unit 12 and directly generate the reliability prediction input data 62 from the circuit diagram 31 and the used component list 60.

図5は、実施の形態3の信頼性設計支援システム1030の構成を示す図である。信頼性設計支援システム1030は信頼度予測用入力データ生成装置130を備える。信頼度予測用入力データ生成装置130は、信頼度予測用入力データ生成装置120の部品用途照合部32と入力データ生成部12とが部品用途照合・入力データ生成部51(生成部)として統合された構成である。   FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration of the reliability design support system 1030 according to the third embodiment. The reliability design support system 1030 includes a reliability prediction input data generation device 130. In the reliability prediction input data generation device 130, the component usage verification unit 32 and the input data generation unit 12 of the reliability prediction input data generation device 120 are integrated as a component usage verification / input data generation unit 51 (generation unit). It is a configuration.

図5において、部品用途照合・入力データ生成部51は、回路図31および使用部品リスト60を入力とし、用途抽出ルール33aおよびストレス値テーブル13aを基に、信頼度予測用入力データ62を生成する。動作は、信頼度予測用入力データ生成装置120と同様である。   In FIG. 5, a component usage collation / input data generation unit 51 receives the circuit diagram 31 and the used component list 60 as input, and generates reliability prediction input data 62 based on the usage extraction rule 33a and the stress value table 13a. . The operation is the same as that of the reliability prediction input data generation device 120.

部品用途照合・入力データ生成部51は、図2および図4に示した処理を実行することによって、回路図31および使用部品リスト60から信頼度予測用入力データ62を生成する。この信頼度予測用入力データ62を信頼度予測モデル63に入力することにより、信頼度予測値64を得ることができる。   The component application verification / input data generation unit 51 generates the reliability prediction input data 62 from the circuit diagram 31 and the used component list 60 by executing the processing shown in FIGS. The reliability prediction value 64 can be obtained by inputting the reliability prediction input data 62 to the reliability prediction model 63.

実施の形態4.
実施の形態4は、コンピュータである信頼度予測用入力データ生成装置110のハードウェア構成を説明する。
図6は、コンピュータである信頼度予測用入力データ生成装置110の外観の一例を示す図である。なお、実施の形態2,3の信頼度予測用入力データ生成装置120、130も信頼度予測用入力データ生成装置110と同様の外観及びハードウェア構成のコンピュータであるので、信頼度予測用入力データ生成装置120、130には信頼度予測用入力データ生成装置110の説明がそのまま当てはまる。
Embodiment 4 FIG.
In the fourth embodiment, a hardware configuration of a reliability prediction input data generation apparatus 110 that is a computer will be described.
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of the appearance of the reliability prediction input data generation device 110 that is a computer. Since the reliability prediction input data generation devices 120 and 130 of the second and third embodiments are also computers having the same appearance and hardware configuration as the reliability prediction input data generation device 110, the reliability prediction input data The description of the reliability prediction input data generation device 110 is applied to the generation devices 120 and 130 as they are.

図6において、信頼度予測用入力データ生成装置110は、システムユニット830、CRT(Cathode・Ray・Tube)やLCD(液晶)の表示画面を有する表示装置813、キーボード814(Key・Board:K/B)、マウス815、FDD817(Flexible・Disk・ Drive)、コンパクトディスク装置818(CDD:Compact Disk Drive)、プリンタ819などのハードウェア資源を備え、これらはケーブルや信号線で接続されている。システムユニット30はネットワークを介して、ネットワークに接続している。   In FIG. 6, the reliability prediction input data generation device 110 includes a system unit 830, a display device 813 having a CRT (Cathode / Ray / Tube) or LCD (liquid crystal) display screen, a keyboard 814 (Key / Board: K / B), hardware resources such as a mouse 815, an FDD 817 (Flexible Disk Drive), a compact disk device 818 (CDD: Compact Disk Drive), a printer 819, and the like, which are connected by cables and signal lines. The system unit 30 is connected to the network via the network.

図7は、信頼度予測用入力データ生成装置110のハードウェア資源を示す図である。
信頼度予測用入力データ生成装置110は、プログラムを実行するCPU810(Central Processing Unit)を備えている。CPU810は、バス825を介してROM(Read Only Memory)811、RAM(Random Access Memory)812、表示装置813、キーボード814、マウス815、通信ボード816、FDD817、CDD818、プリンタ装置819、磁気ディスク装置820と接続され、これらのハードウェアデバイスを制御する。磁気ディスク装置820の代わりに、光ディスク装置、フラッシュメモリなどの記憶装置でもよい。
FIG. 7 is a diagram illustrating hardware resources of the reliability prediction input data generation apparatus 110.
The reliability prediction input data generation device 110 includes a CPU 810 (Central Processing Unit) that executes a program. The CPU 810 is connected to a ROM (Read Only Memory) 811, a RAM (Random Access Memory) 812, a display device 813, a keyboard 814, a mouse 815, a communication board 816, an FDD 817, a CDD 818, a printer device 819, and a magnetic disk device 820 via a bus 825. And control these hardware devices. Instead of the magnetic disk device 820, a storage device such as an optical disk device or a flash memory may be used.

RAM812は、揮発性メモリの一例である。ROM811、FDD817、CDD818、磁気ディスク装置820等の記憶媒体は、不揮発性メモリの一例である。これらは、「記憶装置」あるいは記憶部、格納部、バッファの一例である。通信ボード816、キーボード814、FDD817などは、入力部、入力装置の一例である。また、通信ボード816、表示装置813、プリンタ装置819などは、出力部、出力装置の一例である。   The RAM 812 is an example of a volatile memory. Storage media such as the ROM 811, the FDD 817, the CDD 818, and the magnetic disk device 820 are examples of nonvolatile memories. These are examples of a “storage device” or a storage unit, a storage unit, and a buffer. The communication board 816, the keyboard 814, the FDD 817, and the like are examples of an input unit and an input device. The communication board 816, the display device 813, the printer device 819, and the like are examples of an output unit and an output device.

通信ボード816は、ネットワーク(LAN等)に接続されている。通信ボード816は、LANに限らず、インターネット、ISDN等のWAN(ワイドエリアネットワーク)などに接続されていても構わない。   The communication board 816 is connected to a network (such as a LAN). The communication board 816 may be connected not only to the LAN but also to a WAN (wide area network) such as the Internet or ISDN.

磁気ディスク装置820には、オペレーティングシステム821(OS)、ウィンドウシステム822、プログラム群823、ファイル群824が記憶されている。プログラム群823のプログラムは、CPU810、オペレーティングシステム821、ウィンドウシステム822により実行される。   The magnetic disk device 820 stores an operating system 821 (OS), a window system 822, a program group 823, and a file group 824. The programs in the program group 823 are executed by the CPU 810, the operating system 821, and the window system 822.

上記プログラム群823には、以上の実施の形態の説明において「〜部」として説明した機能を実行するプログラムが記憶されている。プログラムは、CPU810により読み出され実行される。   The program group 823 stores programs that execute the functions described as “˜units” in the description of the above embodiments. The program is read and executed by the CPU 810.

ファイル群824には、以上の実施の形態の説明において、ストレス値テーブル、用途抽出ルールとして説明した情報や、「〜の判定結果」、「〜の算出結果」、「〜の抽出結果」、「〜の生成結果」、「〜の処理結果」として説明した情報や、データや信号値や変数値やパラメータなどが、「〜ファイル」や「〜データベース」(DB)の各項目として記憶されている。「〜ファイル」や「〜データベース」は、ディスクやメモリなどの記録媒体に記憶される。ディスクやメモリなどの記憶媒体に記憶された情報やデータや信号値や変数値やパラメータは、読み書き回路を介してCPU810によりメインメモリやキャッシュメモリに読み出され、抽出・検索・参照・比較・演算・計算・処理・出力・印刷・表示などのCPUの動作に用いられる。抽出・検索・参照・比較・演算・計算・処理・出力・印刷・表示のCPUの動作の間、情報やデータや信号値や変数値やパラメータは、メインメモリやキャッシュメモリやバッファメモリに一時的に記憶される。   In the file group 824, the information described as the stress value table and the use extraction rule in the description of the above embodiment, “determination result”, “calculation result”, “extraction result”, “ Information described as “generation results of” and “processing results of”, data, signal values, variable values, parameters, and the like are stored as items of “˜file” and “˜database” (DB). . The “˜file” and “˜database” are stored in a recording medium such as a disk or a memory. Information, data, signal values, variable values, and parameters stored in a storage medium such as a disk or memory are read out to the main memory or cache memory by the CPU 810 via a read / write circuit, and extracted, searched, referenced, compared, and calculated. Used for CPU operations such as calculation, processing, output, printing, and display. Information, data, signal values, variable values, and parameters are temporarily stored in the main memory, cache memory, and buffer memory during the CPU operations of extraction, search, reference, comparison, operation, calculation, processing, output, printing, and display. Is remembered.

また、以上に述べた実施の形態の説明において、データや信号値は、RAM812のメモリ、FDD817のフレキシブルディスク、CDD818のコンパクトディスク、磁気ディスク装置820の磁気ディスク、その他光ディスク、ミニディスク、DVD(Digital・Versatile・Disk)等の記録媒体に記録される。また、データや信号は、バス825や信号線やケーブルその他の伝送媒体によりオンライン伝送される。   In the description of the embodiment described above, data and signal values are stored in the memory of the RAM 812, the flexible disk of the FDD 817, the compact disk of the CDD 818, the magnetic disk of the magnetic disk device 820, other optical disks, mini disks, DVDs (Digital). -It records on recording media, such as Versatile and Disk. Data and signals are transmitted on-line via the bus 825, signal lines, cables, and other transmission media.

また、以上の実施の形態の説明において、「〜部」として説明したものは、「〜手段」、「〜回路」、「〜機器」であってもよく、また、「〜ステップ」、「〜手順」、「〜処理」であってもよい。すなわち、「〜部」として説明したものは、ROM811に記憶されたファームウェアで実現されていても構わない。或いは、ソフトウェアのみ、或いは、素子・デバイス・基板・配線などのハードウェアのみ、或いは、ソフトウェアとハードウェアとの組み合わせ、さらには、ファームウェアとの組み合わせで実施されても構わない。ファームウェアとソフトウェアは、プログラムとして、磁気ディスク、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ミニディスク、DVD等の記録媒体に記憶される。プログラムはCPU810により読み出され、CPU810により実行される。すなわち、プログラムは、以上に述べた「〜部」としてコンピュータを機能させる。あるいは、プログラムは、以上に述べた「〜部」の手順や方法をコンピュータに実行させるものである。   In the above description of the embodiment, what has been described as “to part” may be “to means”, “to circuit”, and “to device”, and “to step” and “to”. “Procedure” and “˜Process” may be used. That is, what has been described as “˜unit” may be realized by firmware stored in the ROM 811. Alternatively, it may be implemented only by software, or only by hardware such as elements, devices, substrates, and wirings, by a combination of software and hardware, or by a combination of firmware. Firmware and software are stored as programs in a recording medium such as a magnetic disk, a flexible disk, an optical disk, a compact disk, a mini disk, and a DVD. The program is read by the CPU 810 and executed by the CPU 810. That is, the program causes the computer to function as the “˜unit” described above. Or a program makes a computer perform the procedure and method of "to part" described above.

なお、以上の実施の形態では、信頼度予測用入力データ生成装置を説明したが、信頼度予測用入力データ生成装置の動作を、信頼度予測用入力データ生成方法あるいは信頼度予測用入力データ生成プログラム、あるいは信頼度予測用入力データ生成プログラムを記録した記録媒体として把握することも可能である。   In the above embodiment, the reliability prediction input data generation device has been described. However, the operation of the reliability prediction input data generation device is performed in accordance with the reliability prediction input data generation method or the reliability prediction input data generation. It can also be grasped as a recording medium on which a program or a reliability prediction input data generation program is recorded.

1010,1020,1030 信頼性設計支援システム、110,120,130 信頼度予測用入力データ生成装置、11 使用部品リスト、12 入力データ生成部、13 ストレス値テーブル記憶部、13a ストレス値テーブル、31 回路図、32 部品用途照合部、33 用途抽出ルール記憶部、33a 用途抽出ルール、34 信頼度予測用部品リスト、51 部品用途照合・入力データ生成部、60 使用部品リスト、61 機器設計者、62 信頼度予測用入力データ、63 信頼度予測モデル、64 信頼度予測値。   1010, 1020, 1030 Reliability design support system, 110, 120, 130 Reliability prediction input data generation device, 11 Used component list, 12 Input data generation unit, 13 Stress value table storage unit, 13a Stress value table, 31 circuit Figure, 32 Component usage verification unit, 33 Usage extraction rule storage unit, 33a Usage extraction rule, 34 Reliability prediction component list, 51 Component usage verification / input data generation unit, 60 Used component list, 61 Device designer, 62 Trust Degree prediction input data, 63 reliability prediction model, 64 reliability prediction value.

Claims (6)

所定の電子機器に使用される部品を対象としてストレス条件が設定されたストレス情報を記憶するストレス情報記憶部と、
前記電子機器に使用される部品の種別の情報を含む使用部品リストを入力し、入力した前記使用部品リストと前記ストレス情報記憶部の前記ストレス情報とに基づいて、前記電子機器の信頼度予測モデルの入力データとなる信頼度予測用入力データであって、前記電子機器に使用される部品を対象として種別とストレス条件とが対応付けられた信頼度予測用入力データを生成する生成部と
を備えたことを特徴とする信頼度予測用入力データ生成装置。
A stress information storage unit that stores stress information in which stress conditions are set for a part used in a predetermined electronic device;
A used component list including information on the type of component used in the electronic device is input, and the reliability prediction model of the electronic device is based on the input used component list and the stress information in the stress information storage unit. And a generation unit that generates reliability prediction input data in which a type and a stress condition are associated with each other for the components used in the electronic device. A reliability prediction input data generation apparatus characterized by the above.
前記ストレス情報記憶部は、
前記電子機器に使用される部品の種別と用途とストレス条件とが対応付けられた前記ストレス情報を記憶し、
前記生成部は、
前記電子機器に使用される部品の種別と数量と用途との情報を含む前記使用部品リストを入力し、入力した前記使用部品リストと前記ストレス情報記憶部の前記ストレス情報とに基づいて、種別とストレス条件と数量とが対応付けられた前記信頼度予測用入力データを生成することを特徴とする請求項1記載の信頼度予測用入力データ生成装置。
The stress information storage unit
Storing the stress information in which the type, application, and stress condition of the component used in the electronic device are associated;
The generator is
Input the used parts list including information on the type, quantity and usage of parts used in the electronic device, and based on the input used parts list and the stress information in the stress information storage unit, 2. The reliability prediction input data generation apparatus according to claim 1, wherein the reliability prediction input data in which a stress condition and a quantity are associated with each other is generated.
前記信頼度予測用入力データ生成装置は、さらに、
前記電子機器の電子的な回路図を示す回路図情報であって前記電子機器に使用される各部品の種別を含む属性と部品間の接続関係とが定義された回路図情報から、前記部品の用途を抽出する用途抽出ルールを記憶する用途抽出ルール記憶部を備え、
前記生成部は、
前記電子機器に使用される部品の種別と数量との情報を含み、かつ、用途の情報を含まない用途不記載使用部品リストと、前記電子機器の前記回路図情報とを入力し、前記用途抽出ルール記憶部の前記用途抽出ルールを参照することにより前記回路図情報から部品の用途を抽出し、抽出した用途と、入力した前記用途不記載使用部品リストと、前記ストレス情報記憶部のストレス情報とに基づいて、前記信頼度予測用入力データを生成することを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載の信頼度予測用入力データ生成装置。
The input data generating device for predicting reliability further includes:
Circuit diagram information indicating an electronic circuit diagram of the electronic device, wherein the attribute including the type of each component used in the electronic device and the connection relationship between the components are defined from the circuit diagram information. A use extraction rule storage unit for storing a use extraction rule for extracting a use;
The generator is
The application extraction includes the information on the type and quantity of the parts used in the electronic device, and the application unusable used component list not including the application information, and the circuit diagram information of the electronic device, and the application extraction By extracting the usage of the component from the circuit diagram information by referring to the usage extraction rule of the rule storage unit, the extracted usage, the input usage-unused used component list, the stress information of the stress information storage unit, The reliability prediction input data generation device according to claim 1, wherein the reliability prediction input data is generated based on the data.
前記用途抽出ルール記憶部は、
部品の種別と接続形態と用途とが対応付けられた前記用途抽出ルールを記憶し、
前記生成部は、
前記用途抽出ルールの前記接続形態をキーとすることにより、前記回路図情報の部品間の前記接続関係から部品の用途を抽出することを特徴とする請求項3記載の信頼度予測用入力データ生成装置。
The usage extraction rule storage unit is
Storing the use extraction rule in which the type of component, the connection form, and the use are associated;
The generator is
4. The reliability prediction input data generation according to claim 3, wherein the use of the component is extracted from the connection relation between the components in the circuit diagram information by using the connection form of the use extraction rule as a key. apparatus.
コンピュータを、
所定の電子機器に使用される部品を対象としてストレス条件が設定されたストレス情報を記憶するストレス情報記憶部、
前記電子機器に使用される部品の種別の情報を含む使用部品リストを入力し、入力した前記使用部品リストと前記ストレス情報記憶部の前記ストレス情報とに基づいて、前記電子機器の信頼度予測モデルの入力データとなる信頼度予測用入力データであって、前記電子機器に使用される部品を対象として種別とストレス条件とが対応付けられた信頼度予測用入力データを生成する生成部、
として機能させることを特徴とする信頼度予測用入力データ生成プログラム。
Computer
A stress information storage unit for storing stress information in which stress conditions are set for a part used in a predetermined electronic device;
A used component list including information on the type of component used in the electronic device is input, and the reliability prediction model of the electronic device is based on the input used component list and the stress information in the stress information storage unit. A generation unit that generates reliability prediction input data in which a type and a stress condition are associated with each other for a component used in the electronic device,
An input data generation program for predicting reliability, which is characterized by functioning as:
請求項5の信頼度予測用入力データ生成プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。   A computer-readable recording medium on which the reliability prediction input data generation program according to claim 5 is recorded.
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