JP2011232111A - 検査装置及び検査装置の用いた欠陥検出方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】内視鏡装置3は、1の条件に基づいて、画像から複数の被写体のうち少なくとも2つの被写体の第1の特徴部を検出する特徴検出部と、少なくとも2つの被写体の第1の特徴部に基づいて、第1の被写体の第1の特徴部と第2の被写体の第1の特徴部とを判別する特徴判別部と、第1の被写体の第1の特徴部、及び第2の被写体の第1の特徴部に基づいて、第1の被写体の第1の欠陥部、及び第2の被写体の第1の欠陥部を検出する欠陥検出部と、第1の被写体の第1の欠陥部を示す情報、及び第2の被写体の第1の欠陥部を示す情報を、画像と共に表示する表示部とを有する。
【選択図】図2
Description
Y=0.299×R+0.587 ×G+0.114×B ・・・(式1)
(変形例)
Claims (14)
- 複数の被写体を撮像して画像を得る検査装置であって、
第1の条件に基づいて、前記画像から前記複数の被写体のうち少なくとも2つの被写体の第1の特徴部を検出する特徴検出部と、
前記少なくとも2つの被写体の前記第1の特徴部に基づいて、第1の被写体の前記第1の特徴部と第2の被写体の前記第1の特徴部とを判別する特徴判別部と、
前記第1の被写体の前記第1の特徴部、及び前記第2の被写体の前記第1の特徴部に基づいて、前記第1の被写体の第1の欠陥部、及び前記第2の被写体の第1の欠陥部を検出する欠陥検出部と、
前記第1の被写体の第1の欠陥部を示す情報、及び前記第2の被写体の第1の欠陥部を示す情報を、前記画像と共に表示する表示部と、
を有することを特徴とする検査装置。 - 前記特徴検出部は、第2の条件に基づいて、前記画像から前記少なくとも2つの被写体の第2の特徴部を検出し、
前記特徴判別部は、前記少なくとも2つの被写体の前記第2の特徴部に基づいて、前記第1の被写体の前記第2の特徴部と前記第2の被写体の前記第2の特徴部とを判別し、
前記欠陥検出部は、前記第1の被写体の前記第2の特徴部、及び前記第2の被写体の前記第2の特徴部に基づいて、前記第1の被写体の第2の欠陥部、及び前記第2の被写体の第2の欠陥部を検出し、
前記表示部は、前記第1の被写体の第2の欠陥部を示す情報、及び前記第2の被写体の第2の欠陥部を示す情報を、前記画像と共に表示することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。 - 前記表示部は、前記第1及び前記第2の被写体の前記第1の欠陥部を示す情報及び前記第1及び前記第2の被写体の前記第2の欠陥部を示す情報を、前記画像と共に表示することを特徴とする請求項2に記載の検査装置。
- 前記第1及び前記第2の被写体の前記第1の欠陥部を示す情報は、前記画像が記録されるファイルとは異なるファイルに記録されることを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
- 前記第1及び前記第2の被写体の前記第2の欠陥部を示す情報は、前記画像が記録されるファイルとは異なるファイルに記録されることを特徴とする請求項2に記載の検査装置。
- 前記第1の被写体の前記第1の欠陥部を示す情報と前記第2の被写体の前記第1の欠陥部を示す情報とを、互いに識別可能に表示することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
- 前記第1の被写体の前記第2の欠陥部を示す情報と前記第2の被写体の前記第2の欠陥部を示す情報とを、互いに識別可能に表示することを特徴とする請求項2に記載の検査装置。
- 複数の被写体を撮像して画像を得る検査装置を用いた欠陥検出方法であって、
第1の条件に基づいて、前記画像前記複数の被写体のうち少なくとも2つの被写体の第1の特徴部を検出し、
前記少なくとも2つの被写体の前記第1の特徴部に基づいて、第1の被写体の前記第1の特徴部と第2の被写体の前記第1の特徴部とを判別し、
前記第1の被写体の前記第1の特徴部、及び前記第2の被写体の前記第1の特徴部に基づいて、前記第1の被写体の第1の欠陥部、及び前記第2の被写体の第1の欠陥部を検出し、
前記第1の被写体の第1の欠陥部を示す情報、及び前記第2の被写体の第1の欠陥部を示す情報を、前記画像と共に表示することを特徴とする検査装置を用いた欠陥検出方法。 - 第2の条件に基づいて、前記画像から前記少なくとも2つの被写体の第2の特徴部を検出し、
前記少なくとも2つの被写体の前記第2の特徴部に基づいて、前記第1の被写体の前記第2の特徴部と前記第2の被写体の前記第2の特徴部とを判別し、
前記第1の被写体の前記第2の特徴部、及び前記第2の被写体の前記第2の特徴部に基づいて、前記第1の被写体の第2の欠陥部、及び前記第2の被写体の第2の欠陥部を検出し、
前記第1の被写体の第2の欠陥部を示す情報、及び前記第2の被写体の第2の欠陥部を示す情報を、前記画像と共に表示することを特徴とする請求項8に記載の検査装置を用いた欠陥検出方法。 - 前記第1及び前記第2の被写体の前記第1の欠陥部を示す情報及び前記第1及び前記第2の被写体の前記第2の欠陥部を示す情報を、前記画像と共に表示することを特徴とする請求項9に記載の検査装置を用いた欠陥検出方法。
- 前記第1及び前記第2の被写体の前記第1の欠陥部を示す情報は、前記画像が記録されるファイルとは異なるファイルに記録されることを特徴とする請求項8に記載の検査装置を用いた欠陥検出方法。
- 前記第1及び前記第2の被写体の前記第2の欠陥部を示す情報は、前記画像が記録されるファイルとは異なるファイルに記録されることを特徴とする請求項9に記載の検査装置を用いた欠陥検出方法。
- 前記第1の被写体の前記第1の欠陥部を示す情報と前記第2の被写体の前記第1の欠陥部を示す情報とを、互いに識別可能に表示することを特徴とする請求項8に記載の検査装置を用いた欠陥検出方法。
- 前記第1の被写体の前記第2の欠陥部を示す情報と前記第2の被写体の前記第2の欠陥部を示す情報とを、互いに識別可能に表示することを特徴とする請求項9に記載の検査装置を用いた欠陥検出方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010101475A JP2011232111A (ja) | 2010-04-26 | 2010-04-26 | 検査装置及び検査装置の用いた欠陥検出方法 |
US13/091,291 US20110262026A1 (en) | 2010-04-26 | 2011-04-21 | Inspection apparatus and defect detection method using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010101475A JP2011232111A (ja) | 2010-04-26 | 2010-04-26 | 検査装置及び検査装置の用いた欠陥検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011232111A true JP2011232111A (ja) | 2011-11-17 |
JP2011232111A5 JP2011232111A5 (ja) | 2013-06-06 |
Family
ID=44815827
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010101475A Pending JP2011232111A (ja) | 2010-04-26 | 2010-04-26 | 検査装置及び検査装置の用いた欠陥検出方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20110262026A1 (ja) |
JP (1) | JP2011232111A (ja) |
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