JP2011221294A - Apparatus, method and program for focus correction, and microscope - Google Patents

Apparatus, method and program for focus correction, and microscope Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus, method and program for focus correction, and microscope which can stabilize the focus even when non-optical system elements generate a drift in different direction from the direction of a drift caused by optical system.SOLUTION: The temperature is measured using temperature-sensitive element placed on one side, a plane for a preparation to be set as a reference, and then the temperature is measured using temperature-sensitive element placed on the other side, a plane for a preparation to be set as a reference. The displacement to the focus position is calculated based on the measured temperatures.

Description

本発明はフォーカス補正装置、フォーカス補正方法、フォーカス補正プログラム及び顕微鏡に関し、サンプルを観察する場合に好適なものである。   The present invention relates to a focus correction apparatus, a focus correction method, a focus correction program, and a microscope, and is suitable for observing a sample.

一般に、周囲環境等の温度変化によって、フォーカスドリフトと呼ばれるフォーカスのずれが生じる。このフォーカスドリフトに関する技術として、例えば下記の特許文献1がある。   In general, a focus shift called a focus drift occurs due to a temperature change in the surrounding environment or the like. As a technique related to this focus drift, for example, there is Patent Document 1 below.

この特許文献1におけるフォーカス維持装置では、フォーカス検出光学系と、観察光学系が同一の部材で構成される。したがって、温度変化が生じてもおおよそ一様に両光学系が変形することになるため、その変形に関わらずサンプルに対するフォーカスが安定に補正される。   In the focus maintaining apparatus in Patent Document 1, the focus detection optical system and the observation optical system are configured by the same member. Therefore, both optical systems are deformed approximately uniformly even when a temperature change occurs, so that the focus on the sample is stably corrected regardless of the deformation.

特開2005−107302公報JP-A-2005-107302

しかしながら、光学系の変形によって光軸方向にドリフトが生じるが、その光軸方向とは逆の方向にドリフトが生じる場合がある。この場合、主に、プレパラートが配されるステージの熱変形が要因となる。   However, although a drift occurs in the optical axis direction due to the deformation of the optical system, the drift may occur in a direction opposite to the optical axis direction. In this case, the thermal deformation of the stage on which the preparation is arranged is mainly a factor.

したがって特許文献1のフォーカス補正装置では、光学系のドリフト方向とは異なる方向に生じるドリフトによって、フォーカスが誤った位置で補正される場合があるいうことが問題となる。   Therefore, in the focus correction apparatus of Patent Document 1, there is a problem that the focus may be corrected at an incorrect position due to a drift that occurs in a direction different from the drift direction of the optical system.

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、光学系のドリフト方向とは異なる方向にドリフトを生じさせる光学系以外の要素があってもフォーカスを安定化し得るフォーカス補正装置、フォーカス補正方法、フォーカス補正プログラム及び顕微鏡を提案しようとするものである。   The present invention has been made in consideration of the above points, and a focus correction apparatus and a focus correction method capable of stabilizing the focus even if there is an element other than the optical system that causes a drift in a direction different from the drift direction of the optical system. A focus correction program and a microscope are proposed.

かかる課題を解決するため本発明は、フォーカス補正装置であって、プレパラートが配されるべき面を基準として一方側に配される感温素子を用いて温度を測定する第1の測定部と、プレパラートが配されるべき面を基準として他方側に配される感温素子を用いて温度を測定する第2の測定部と、第1の測定部及び第2の測定部で測定される温度を用いて、フォーカス位置に対するずれ量を算出する算出部とを有する。   In order to solve such a problem, the present invention is a focus correction apparatus, a first measurement unit that measures a temperature using a temperature-sensitive element disposed on one side with respect to a surface on which a preparation is disposed, The second measurement unit that measures the temperature using the temperature-sensitive element disposed on the other side with respect to the surface on which the preparation is disposed, and the temperature measured by the first measurement unit and the second measurement unit. And a calculation unit for calculating a shift amount with respect to the focus position.

また本発明は、フォーカス補正方法であって、第1の測定部が、プレパラートが配されるべき面を基準として一方側に配される感温素子を用いて温度を測定するステップと、第2の測定部が、プレパラートが配されるべき面を基準として他方側に配される感温素子を用いて温度を測定するステップと、算出部が、第1の測定部及び第2の測定部で測定される温度を用いて、フォーカス位置に対するずれ量を算出するステップとを有する。   The present invention is also a focus correction method, wherein the first measurement unit measures the temperature using a temperature-sensitive element disposed on one side with respect to the surface on which the preparation is disposed, Measuring the temperature using a temperature-sensitive element disposed on the other side with respect to the surface on which the preparation is to be disposed, and the calculating unit includes the first measuring unit and the second measuring unit. And calculating a deviation amount with respect to the focus position using the measured temperature.

また本発明は、フォーカス補正プログラムであって、コンピュータに対して、プレパラートが配されるべき面を基準として一方側に配される感温素子を用いて温度を測定すること、プレパラートが配されるべき面を基準として他方側に配される感温素子を用いて温度を測定すること、一方側と他方側で測定される温度を用いて、フォーカス位置に対するずれ量を算出することを実行させる。   The present invention is also a focus correction program for measuring a temperature using a temperature-sensitive element disposed on one side with respect to a surface on which a preparation is to be disposed, and the preparation is disposed on a computer. The temperature is measured using a temperature sensing element arranged on the other side with respect to the power plane, and the shift amount with respect to the focus position is calculated using the temperature measured on one side and the other side.

また本発明は、顕微鏡であって、プレパラートが配されるべき面をもち、光軸方向に移動可能なステージと、プレパラートが配されるべき面を基準として一方側に配される感温素子を用いて温度を測定する第1の測定部と、プレパラートが配されるべき面を基準として他方側に配される感温素子を用いて温度を測定する第2の測定部と、第1の測定部及び第2の測定部で測定される温度を用いて、フォーカス位置に対するずれ量を算出する算出部とを有する。   Further, the present invention is a microscope having a surface on which a preparation is to be arranged, a stage movable in the optical axis direction, and a temperature sensing element arranged on one side with respect to the surface on which the preparation is to be arranged. A first measuring unit that measures the temperature using a temperature measuring element that is disposed on the other side with respect to the surface on which the preparation is to be disposed, and a first measuring unit. And a calculation unit that calculates a deviation amount with respect to the focus position using the temperatures measured by the second measurement unit and the second measurement unit.

本発明は、プレパラート配置面を基準として一方側と他方側とにおいて光軸方向に対するフォーカスドリフトが相反しても、双方側で測定される温度から、フォーカス位置に対する光軸方向のずれ量が算出される。   In the present invention, even if the focus drift with respect to the optical axis direction is contradictory on one side and the other side with respect to the preparation arrangement surface, the deviation amount in the optical axis direction with respect to the focus position is calculated from the temperature measured on both sides. The

この結果、本発明は、光学系だけの温度変化に起因するドリフト量を算出する場合に比べて、光学系とそれ以外の要素に起因するフォーカスドリフト量が算出可能であり、正確なデフォーカス量を得ることが可能となる。   As a result, the present invention can calculate the focus drift amount due to the optical system and other elements compared to the case where the drift amount due to the temperature change of the optical system alone is calculated, and the accurate defocus amount. Can be obtained.

顕微鏡の構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of a microscope. 生体サンプルに対する撮影範囲の割り当ての説明に供する概略図である。It is the schematic where it uses for description of allocation of the imaging | photography range with respect to a biological sample. フォーカス補正部の構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of a focus correction | amendment part. フォーカス補正プログラムに基づくCPUの機能的な構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the functional structure of CPU based on a focus correction program. 気温変化に応じたフォーカスドリフト量(1)を示すグラフである。It is a graph which shows focus drift amount (1) according to temperature change. 気温変化に応じたフォーカスドリフト量(2)を示すグラフである。It is a graph which shows focus drift amount (2) according to temperature change. フォーカスドリフトの変位の説明に供する概略図である。It is the schematic where it uses for description of the displacement of a focus drift. フォーカス補正が実行された場合と、未実行の場合とにおける気温変化に応じたフォーカスドリフト量を示すグラフである。It is a graph which shows the amount of focus drift according to the temperature change in the case where focus correction is performed, and the case where it is not performed. フォーカス補正処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows a focus correction processing procedure.

以下、発明を実施するための形態について説明する。なお、説明は以下の順序とする。
<1.実施の形態>
[1−1.顕微鏡の構成]
[1−2.フォーカス補正部の機能的な構成]
[1−3.フォーカス補正処理の具体的内容]
[1−4.フォーカス補正処理手順]
[1−5.効果等]
<2.他の実施の形態>
Hereinafter, modes for carrying out the invention will be described. The description will be in the following order.
<1. Embodiment>
[1-1. Microscope configuration]
[1-2. Functional configuration of focus correction unit]
[1-3. Specific contents of focus correction processing]
[1-4. Focus correction processing procedure]
[1-5. Effect]
<2. Other embodiments>

<1.実施の形態>
[1−1.顕微鏡の構成]
図1において、本一実施の形態である顕微鏡1の構成を示す。この顕微鏡1は、プレパラートPRTを配置可能なステージ(以下、これをプレパラートステージとも呼ぶ)11を有する。
<1. Embodiment>
[1-1. Microscope configuration]
In FIG. 1, the structure of the microscope 1 which is this one Embodiment is shown. The microscope 1 has a stage 11 on which a preparation PRT can be placed (hereinafter also referred to as a preparation stage) 11.

プレパラートPRTは、血液等の結合組織、上皮組織又はそれらの双方の組織などにおけるサンプル(以下、これを生体サンプルとも呼ぶ)を、所定の固定手法によりスライドガラスに固定したものであり、該生体サンプルには必要に応じて染色が施される。染色には、HE(ヘマトキシリン・エオジン)染色、ギムザ染色又はパパニコロウ染色等に代表される一般染色と呼ばれる染色のみならず、FISH(Fluorescence In-Situ Hybridization)や酵素抗体法等の特殊染色と呼ばれる染色が含まれる。   The preparation PRT is obtained by fixing a sample (hereinafter also referred to as a biological sample) in a connective tissue such as blood, epithelial tissue, or both tissues to a slide glass by a predetermined fixing method. Is dyed as necessary. Staining includes not only general staining such as HE (hematoxylin and eosin) staining, Giemsa staining or Papanicolaou staining, but also special staining such as FISH (Fluorescence In-Situ Hybridization) and enzyme antibody method. Is included.

プレパラートステージ11のうち、プレパラートPRTが配されるべき面(以下、これプレパラート配置面をとも呼ぶ)の裏側には光源12が配され、該プレパラートステージ11と光源12との間にはコンデンサレンズ13が配される。このコンデンサレンズ13によって、光源12から照射される光が、プレパラート配置面の所定位置に形成される貫通孔HLを介してプレパラート配置面内に集められる。   A light source 12 is disposed on the back side of the preparation stage 11 on which the preparation PRT is to be disposed (hereinafter also referred to as a preparation arrangement surface), and a condenser lens 13 is provided between the preparation stage 11 and the light source 12. Is arranged. The condenser lens 13 collects the light emitted from the light source 12 in the preparation arrangement surface through the through hole HL formed at a predetermined position on the preparation arrangement surface.

一方、プレパラートステージ11のうちプレパラート配置面側には鏡筒14が配され、該プレパラート配置面と対向される鏡筒14の一端には対物レンズ15が配される。また鏡筒14の他端には撮像素子16が配され、該撮像素子16の撮像面には対物レンズ15のレンズ面に映る像が結像される。   On the other hand, a lens barrel 14 is arranged on the preparation arrangement surface side of the preparation stage 11, and an objective lens 15 is arranged on one end of the lens barrel 14 facing the preparation arrangement surface. An imaging element 16 is disposed at the other end of the lens barrel 14, and an image reflected on the lens surface of the objective lens 15 is formed on the imaging surface of the imaging element 16.

他方、プレパラートステージ11にはステージ駆動機構17が連結される。ステージ駆動機構17は、プレパラート配置面に対して平行となる方向(X方向,Y方向)と直交する方向(Z方向)へ個別にプレパラートステージ11を駆動可能な機構とされる。   On the other hand, a stage drive mechanism 17 is connected to the preparation stage 11. The stage driving mechanism 17 is a mechanism that can individually drive the preparation stage 11 in a direction (Z direction) orthogonal to a direction (X direction, Y direction) parallel to the preparation arrangement surface.

具体的には図2に示すように、プレパラートPRTに配される生体サンプルSPLに対して撮影範囲PRが割り当てられるよう、プレパラート配置面に対して平行となる方向へプレパラートステージ11が走査される。   Specifically, as shown in FIG. 2, the preparation stage 11 is scanned in a direction parallel to the preparation arrangement surface so that the imaging range PR is assigned to the biological sample SPL arranged on the preparation PRT.

また生体サンプルに割り当てるべき撮影範囲PRが変更されるたびに、該撮影範囲PRに対して検出されるフォーカス位置に対物レンズ15の焦点が合うよう、プレパラート配置面に対して直交する光軸LXの方向へプレパラートステージ11が調整される。   Further, every time the imaging range PR to be assigned to the biological sample is changed, the optical axis LX orthogonal to the preparation arrangement surface is focused so that the objective lens 15 is focused on the focus position detected with respect to the imaging range PR. The preparation stage 11 is adjusted in the direction.

この実施の形態の場合、フォーカス位置は、撮像素子16に接続されるフォーカス検出部18によって検出される。このフォーカス検出部18は、例えば、撮影範囲PRでの奥行位置を所定間隔ごとに変更させ、それら奥行位置での画像のコントラスが最も大きい奥行位置をフォーカス位置として決定する。   In the case of this embodiment, the focus position is detected by a focus detection unit 18 connected to the image sensor 16. For example, the focus detection unit 18 changes the depth position in the imaging range PR at predetermined intervals, and determines the depth position where the image contrast at the depth position is the largest as the focus position.

撮像素子16には画像処理部19も接続される。画像処理部19は、撮像素子16から出力される被写体像のデータに対して各種の画像処理を施す。   An image processing unit 19 is also connected to the image sensor 16. The image processing unit 19 performs various types of image processing on the subject image data output from the image sensor 16.

画像処理には、例えば、生体サンプルに対して割り当てられる撮影範囲PR内に存在するサンプル部位の像を、所定の連結アルゴリズムを用いて連結して生体サンプル像(対物レンズ14の倍率によって拡大された生体サンプル全体の像)を生成する処理がある。   In the image processing, for example, an image of a sample portion existing within an imaging range PR assigned to a biological sample is connected using a predetermined connection algorithm, and the biological sample image (enlarged by the magnification of the objective lens 14). There is a process for generating an image of the entire biological sample.

また画像処理部19は、生体サンプル像を生成した場合、該生体サンプル像を被験者単位で記憶媒体に記憶するようになっている。   Further, when the biological sample image is generated, the image processing unit 19 stores the biological sample image in a storage medium in units of subjects.

かかる構成に加えてこの顕微鏡1では、温度に応じてフォーカス位置を補正するフォーカス補正部20が設けられている。   In addition to this configuration, the microscope 1 is provided with a focus correction unit 20 that corrects the focus position according to the temperature.

[1−2.フォーカス補正部の構成]
フォーカス補正部20は、図3に示すように、CPU(Central Processing Unit)41に対して各種ハードウェアを接続することにより構成される。
[1-2. Configuration of focus correction unit]
As shown in FIG. 3, the focus correction unit 20 is configured by connecting various hardware to a CPU (Central Processing Unit) 41.

具体的には例えばROM(Read Only Memory)22、CPU21のワークメモリとなるRAM(Random Access Memory)23、ユーザの操作に応じた命令を入力する操作入力部24、インターフェイス25、表示部26及び記憶部27がバス28を介して接続される。   Specifically, for example, a ROM (Read Only Memory) 22, a RAM (Random Access Memory) 23 as a work memory of the CPU 21, an operation input unit 24 for inputting a command according to a user operation, an interface 25, a display unit 26, and a memory The unit 27 is connected via the bus 28.

ROM22には、各種の処理を実行させるプログラムが格納される。インターフェイス25には、ステージ駆動機構17、フォーカス検出部18及び画像処理部19がそれぞれ接続される。   The ROM 22 stores programs for executing various processes. A stage driving mechanism 17, a focus detection unit 18, and an image processing unit 19 are connected to the interface 25.

表示部26には、液晶ディスプレイ、EL(Electro Luminescence)ディスプレイ又はプラズマディスプレイ等が適用される。また記憶部27には、HD(Hard Disk)に代表される磁気ディスクもしくは半導体メモリ又は光ディスク等が適用される。USB(Universal Serial Bus)メモリやCF(Compact Flash)メモリ等のように可搬型メモリが適用されてもよい。   A liquid crystal display, an EL (Electro Luminescence) display, a plasma display, or the like is applied to the display unit 26. For the storage unit 27, a magnetic disk represented by HD (Hard Disk), a semiconductor memory, an optical disk, or the like is applied. A portable memory such as a USB (Universal Serial Bus) memory or a CF (Compact Flash) memory may be applied.

CPU21は、ROM22に格納される複数のプログラムのうち、操作入力部24などから与えられる命令に対応付けられるプログラムをRAM23に展開する。またCPU21は、RAM23に展開したプログラムにしたがって、表示部26又は記憶部27を適宜制御する。   The CPU 21 develops, in the RAM 23, a program associated with an instruction given from the operation input unit 24 or the like among a plurality of programs stored in the ROM 22. Further, the CPU 21 appropriately controls the display unit 26 or the storage unit 27 in accordance with the program developed in the RAM 23.

またCPU41は、RAM23に展開したプログラムにしたがって、インターフェイス45を介してステージ駆動機構17、フォーカス検出部18又は画像処理部19と適宜データを授受するようになされている。   In addition, the CPU 41 exchanges data with the stage drive mechanism 17, the focus detection unit 18, or the image processing unit 19 as appropriate through the interface 45 in accordance with a program developed in the RAM 23.

[1−3.フォーカス補正処理の具体的内容]
CPU21は、例えば合焦を探索すべき旨の開始命令が与えられた場合、その命令に対応付けられるフォーカス補正プログラムをRAM23に展開する。そしてCPU21は、フォーカス補正プログラムにしたがって、図4に示すように、ステージ温度測定部31、鏡筒温度測定部32、ドリフト量算出部33及びデフォーカス量算出部34として機能する。
[1-3. Specific contents of focus correction processing]
For example, when a start instruction to search for in-focus is given, the CPU 21 develops a focus correction program associated with the instruction in the RAM 23. The CPU 21 functions as a stage temperature measuring unit 31, a lens barrel temperature measuring unit 32, a drift amount calculating unit 33, and a defocus amount calculating unit 34 as shown in FIG. 4 according to the focus correction program.

ステージ温度測定部31は、プレパラートステージ11の表面に配される感温素子を用いて所定周期ごとに温度を測定し、測定結果をデータとしてドリフト量算出部33に送出する。   The stage temperature measurement unit 31 measures the temperature at predetermined intervals using a temperature sensitive element arranged on the surface of the preparation stage 11 and sends the measurement result as data to the drift amount calculation unit 33.

鏡筒温度測定部32は、鏡筒14の内部に配される感温素子を用いて所定周期ごとに温度を測定し、測定結果をデータとしてドリフト量算出部33に送出する。   The lens barrel temperature measuring unit 32 measures the temperature at predetermined intervals using a temperature sensing element arranged inside the lens barrel 14 and sends the measurement result as data to the drift amount calculating unit 33.

ドリフト量算出部33は、フォーカス検出部18によって検出されるフォーカス位置を認識し、該フォーカス位置に対する光軸方向のずれ量(以下、これをフォーカスドリフト量とも呼ぶ)を、ステージ温度測定部31及び鏡筒温度測定部32での測定結果を用いて算出する。   The drift amount calculation unit 33 recognizes the focus position detected by the focus detection unit 18 and uses the stage temperature measurement unit 31 and the shift amount in the optical axis direction with respect to the focus position (hereinafter also referred to as a focus drift amount). Calculation is performed using the measurement result of the lens barrel temperature measurement unit 32.

具体的には、ステージ温度測定部31で測定される温度をt1とし、該温度t1に対する係数をk1とし、フォーカスドリフト量をDとし、鏡筒温度測定部32で測定される温度をt2とし、該温度t2に対する係数をk2とし、定数をdとした場合、次式   Specifically, the temperature measured by the stage temperature measurement unit 31 is t1, the coefficient for the temperature t1 is k1, the focus drift amount is D, the temperature measured by the lens barrel temperature measurement unit 32 is t2, When the coefficient for the temperature t2 is k2 and the constant is d,

D=d+(k1×t1)+(k2×t2) ……(1)   D = d + (k1 × t1) + (k2 × t2) (1)

にしたがってフォーカスドリフト量が算出される。なお、係数k1,k2の単位は〔μm/℃〕であり、係数k1は正の値とされ、係数k2は負の値とされる。 Accordingly, the focus drift amount is calculated. The units of the coefficients k1 and k2 are [μm / ° C.], the coefficient k1 is a positive value, and the coefficient k2 is a negative value.

一般に、温度変化に応じてフォーカスドリフト量は変動するものである。ここで、実験結果として、気温変化に応じたフォーカスドリフト量のグラフを図5に示し、該図5の下側のグラフにおける3時間軸を谷折りの折り目として右側と左側を重ねたグラフを図6に示す。これらグラフから分かるように、温度に対する応答速度が他に比べて速い部分(破線で囲まれる部分)があり、温度変化に比例する単純な変動とはならない。   In general, the focus drift amount varies according to the temperature change. Here, as a result of the experiment, a graph of the focus drift amount according to the temperature change is shown in FIG. 5, and a graph in which the right side and the left side are overlapped with the three-time axis in the lower graph of FIG. It is shown in FIG. As can be seen from these graphs, there is a portion where the response speed to temperature is faster than the others (portion surrounded by a broken line), and it is not a simple fluctuation proportional to the temperature change.

この主要因は、フォーカス対象とされるプレパラート配置面を基準として一方側(下側)と他方側(上側)とでは光軸LX方向に対するフォーカスドリフトが相反し、かつ、そのフォーカスドリフトが生じる速度が異なるからである。   The main factor is that the focus drift in the direction of the optical axis LX is contradictory on one side (lower side) and the other side (upper side) with respect to the preparation arrangement surface to be focused, and the speed at which the focus drift occurs is Because it is different.

プレパラート配置面を基準として一方側(下側)においてフォーカスドリフトの要因となる部品は、主にプレパラートステージ11である。また他方側(上側)においてフォーカスドリフトの要因となる部品は、主に光学系を構成する構造体(対物レンズ15及び撮像素子16を含む鏡筒14)である。   A part that causes a focus drift on one side (lower side) with respect to the preparation arrangement surface is mainly the preparation stage 11. In addition, a component that causes a focus drift on the other side (upper side) is a structure (a lens barrel 14 including the objective lens 15 and the image sensor 16) that mainly constitutes an optical system.

プレパラートステージ11を高速に駆動させることが重視されることもあり、プレパラートステージ11は光学系を構成する構造体に比べて熱容量も体積も小さい関係となることが一般的である。このため、図7に示すように、気温が上昇すると、まずプレパラートステージ11が光学系を構成する構造体よりも速く応答して熱膨張し、これに起因してフォーカス面が上側にドリフトする(図7(A))。   It may be important to drive the preparation stage 11 at a high speed, and the preparation stage 11 generally has a smaller heat capacity and volume than the structure constituting the optical system. For this reason, as shown in FIG. 7, when the temperature rises, the preparation stage 11 responds faster than the structure constituting the optical system and thermally expands, and the focus plane drifts upward due to this (see FIG. 7). FIG. 7 (A)).

さらに気温が上昇すると、プレパラートステージ11の熱膨張が落ち着き始める一方で、光学系を構成する構造体の熱膨張が開始して次第に大きくなり、やがてフォーカス面が下側にドリフトする(図7(B))。   As the temperature rises further, the thermal expansion of the preparation stage 11 begins to settle, while the thermal expansion of the structure constituting the optical system starts and gradually increases, and the focus surface drifts downward (FIG. 7B). )).

そして気温が下降すると、まずプレパラートステージ11が収縮してフォーカス面が下側にドリフトし、さらに下降すると、プレパラートステージ11の収縮が落ち着き始める一方で、光学系を構成する構造体の収縮が開始して次第に大きくなり、やがてフォーカス面が上側にドリフトする。   When the temperature falls, the preparation stage 11 first contracts and the focus surface drifts downward. When the temperature further falls, the preparation stage 11 starts to contract, while the structure constituting the optical system starts to contract. The focus surface gradually drifts upward.

ところで、プレパラートステージ11の材質及び大きさなどは製品の種類によって異なり、該プレパラートステージ11に付属される部品の数や構造なども様々となる。一方、光学系を構成する構造体の材質、大きさ及びレンズの枚数なども製品の種類によって異なり、該構造体に付属される部品の数や構造なども様々となる。   By the way, the material and size of the preparation stage 11 vary depending on the type of product, and the number and structure of the parts attached to the preparation stage 11 are various. On the other hand, the material and size of the structure constituting the optical system, the number of lenses, and the like vary depending on the type of product, and the number and structure of components attached to the structure vary.

このため、温度に対するフォーカスドリフトの応答速度は不確定となるが、応答速度に影響を及ぼす代表的な要素は特定できる。したがって、(1)式における係数k1,k2及び定数dは、製品型番などの識別子に対応付け、選択により設定することが可能である。また同じ種類の製品であれば、係数k1,k2及び定数dは固定であっても、算出されるフォーカスドリフト量に実質的な差は生じない。   For this reason, the response speed of the focus drift with respect to the temperature is uncertain, but a representative factor that affects the response speed can be specified. Therefore, the coefficients k1 and k2 and the constant d in the equation (1) can be set by associating with an identifier such as a product model number. For the same type of product, even if the coefficients k1 and k2 and the constant d are fixed, there is no substantial difference in the calculated focus drift amount.

また、フォーカス対象とされるプレパラート配置面を基準として一方側(下側)と他方側(上側)で光軸LX方向に生じるフォーカスドリフトが相反するということは、製品の種類が異なったとしても変らない。そして、一方側(下側)として代表されるプレパラートステージ11と、他方側(上側)として代表される鏡筒14は、どの製品でも存在するものである。   Also, the fact that the focus drifts that occur in the optical axis LX direction on one side (lower side) and the other side (upper side) with respect to the preparation arrangement surface that is the focus target is contradictory, even if the type of product is different. Absent. The preparation stage 11 represented as one side (lower side) and the lens barrel 14 represented as the other side (upper side) exist in any product.

したがって、プレパラートステージ11の表面温度t1に正の係数k1を乗算した結果と、鏡筒14の内部温度t2負の係数k2を乗算した結果を加算するという簡素な積和演算によって、光学系とそれ以外の要素に起因するフォーカスドリフト量が算出可能となる。   Therefore, the optical system and the optical system can be obtained by a simple product-sum operation of adding the result of multiplying the surface temperature t1 of the preparation stage 11 by the positive coefficient k1 and the result of multiplying the internal temperature t2 of the lens barrel 14 by the negative coefficient k2. It is possible to calculate the focus drift amount due to other elements.

デフォーカス量算出部34は、ドリフト量算出部33がフォーカスドリフト量を算出した場合、そのフォーカスドリフト量を用いて、当該フォーカスドリフト量の基準であるフォーカス位置を補正する。そしてデフォーカス量算出部34は、補正したフォーカス位置までのプレパラートステージ11の移動量(以下、これをデフォーカス量とも呼ぶ)を算出し、これをステージ駆動機構17に与える。   When the drift amount calculation unit 33 calculates the focus drift amount, the defocus amount calculation unit 34 corrects the focus position that is a reference for the focus drift amount using the focus drift amount. The defocus amount calculation unit 34 calculates the amount of movement of the preparation stage 11 to the corrected focus position (hereinafter also referred to as a defocus amount), and supplies this to the stage drive mechanism 17.

ここで、フォーカス補正が実行された場合と、未実行の場合とにおける気温変化に応じたフォーカスドリフト量を図8に示す。この実験には、係数k1が4.3125〔μm/℃〕とされ、係数k2が−8.6106〔μm/℃〕とされた。図8に示されるように、未実行の場合に比べて、フォーカスドリフト量の変動幅が大幅に軽減される。   Here, FIG. 8 shows a focus drift amount corresponding to a change in temperature when the focus correction is executed and when the focus correction is not executed. In this experiment, the coefficient k1 was set to 4.3125 [μm / ° C.], and the coefficient k2 was set to −8.6106 [μm / ° C.]. As shown in FIG. 8, the fluctuation range of the focus drift amount is greatly reduced as compared with the case of not executing.

なお、図8に示す実験結果では、時間軸の3時間目付近で補正を行った場合のフォーカスドリフト量が−2〔μm〕を超えているが、これは急激な冷却によるものである。しかしながら、現実的にはこの実験のように短時間で急激に温度が変化する環境下での使用は考え難い。通常想定し得る環境下においてフォーカス補正を実行した場合、温度変化に応じたフォーカスドリフト量はおおむね±1〔μm〕以下に抑えることができると考えられる。   In the experimental results shown in FIG. 8, the focus drift amount when correction is performed in the vicinity of the third hour on the time axis exceeds −2 μm, but this is due to rapid cooling. However, in reality, it is difficult to consider use in an environment where the temperature changes rapidly in a short time as in this experiment. When focus correction is performed under an environment that can normally be assumed, it is considered that the focus drift amount corresponding to the temperature change can be suppressed to approximately ± 1 [μm] or less.

[1−4.フォーカス補正処理手順]
次に、CPU21におけるフォーカス補正処理手順を図9に示すフローチャートを用いて説明する。
[1-4. Focus correction processing procedure]
Next, the focus correction processing procedure in the CPU 21 will be described with reference to the flowchart shown in FIG.

CPU21は、例えば合焦を探索すべき旨の開始命令を受けた場合、フォーカス補正処理手順を開始し、第1ステップSP1に進む。CPU21は、第1ステップSP1では、フォーカス位置に対するずれ量(フォーカスドリフト量)の算出に要する設定値として記憶部47に記憶されるパラメータ(係数k1,k2及び定数d)を取得し、第2ステップSP2に進む。   For example, when the CPU 21 receives a start instruction to search for in-focus, the CPU 21 starts the focus correction processing procedure and proceeds to the first step SP1. In the first step SP1, the CPU 21 acquires parameters (coefficients k1, k2 and a constant d) stored in the storage unit 47 as setting values required for calculating a deviation amount (focus drift amount) with respect to the focus position, and the second step Proceed to SP2.

CPU21は、第2ステップSP2では、撮影範囲PRにおけるフォーカス位置が検出されたことを示すデータを待ち受け、該データをフォーカス検出部18から受けた場合、第3ステップSP3に進む。   In the second step SP2, the CPU 21 waits for data indicating that the focus position in the shooting range PR has been detected. When the data is received from the focus detection unit 18, the CPU 21 proceeds to the third step SP3.

CPU21は、第3ステップSP3では、フォーカス検出部18からフォーカス位置を示すデータを取得し、第4ステップSP4に進む。   In the third step SP3, the CPU 21 acquires data indicating the focus position from the focus detection unit 18, and proceeds to the fourth step SP4.

CPU21は、第4ステップSP4では、プレパラートステージ11の表面温度と、鏡筒14の内部温度とを測定し、第5ステップSP5に進む。CPU21は、第5ステップSP5では、第4ステップSP4で測定した温度と、第1ステップSP1で取得したパラメータとを用いて(1)式によりフォーカスドリフト量を算出し、その算出結果に応じたデフォーカス量をステージ駆動機構17に与える。   In the fourth step SP4, the CPU 21 measures the surface temperature of the preparation stage 11 and the internal temperature of the lens barrel 14, and proceeds to the fifth step SP5. In the fifth step SP5, the CPU 21 calculates the focus drift amount by the equation (1) using the temperature measured in the fourth step SP4 and the parameter acquired in the first step SP1, and the CPU 21 calculates the value corresponding to the calculation result. A focus amount is given to the stage drive mechanism 17.

そしてCPU21は、第6ステップSP6に進んで、前回の測定時期から規定間隔を経たか否かを判断し、該規定間隔を経た場合には第4ステップSP4に戻る。一方CPU21は、未だ規定間隔を経ていない場合には第7ステップSP7に進んで、現在の撮影範囲PRにおける像を保存したことを示すデータを受けたか否か判断する。   Then, the CPU 21 proceeds to the sixth step SP6, determines whether or not a specified interval has passed since the previous measurement time, and returns to the fourth step SP4 when the specified interval has passed. On the other hand, if the specified interval has not yet passed, the CPU 21 proceeds to the seventh step SP7 and determines whether or not data indicating that the image in the current shooting range PR has been received has been received.

このようにCPU21は、現在の撮影範囲PRにおける像が保存されるまで、規定間隔ごとに、フォーカスドリフト量に応じたデフォーカス量をステージ駆動機構17に与え続けて、フォーカス位置を調整する。   In this manner, the CPU 21 adjusts the focus position by continuously giving the defocus amount corresponding to the focus drift amount to the stage driving mechanism 17 at every predetermined interval until the image in the current shooting range PR is stored.

これに対してCPU21は、生現在の撮影範囲PRにおける像を保存したことを示すデータを画像処理部19から受けた場合、第8ステップSP8に進む。CPU21は、第8ステップSP8では、新たな撮影範囲PRの像の保存を開始することを示すデータ又は生体サンプルSPLに割り当てられる全ての像を保存し終えたことを示すデータを待ち受ける。   On the other hand, when the CPU 21 receives data indicating that the image in the current shooting range PR is stored from the image processing unit 19, the CPU 21 proceeds to the eighth step SP8. In the eighth step SP8, the CPU 21 waits for data indicating that storage of an image of a new imaging range PR is started or data indicating that all images assigned to the biological sample SPL have been stored.

ここで、新たな撮影範囲PRの像の保存を開始することを示すデータが画像処理部19から与えられた場合、CPU21は、第2ステップSP2に戻って上述の処理を繰り返す。   Here, when data indicating that storage of an image of a new photographing range PR is started is given from the image processing unit 19, the CPU 21 returns to the second step SP2 and repeats the above-described processing.

一方、生体サンプルSPLに割り当てられる全ての像を保存し終えたことを示すデータが画像処理部19から与えられた場合、CPU21は、このフォーカス補正処理手順を終了する。   On the other hand, when data indicating that all the images assigned to the biological sample SPL have been stored is given from the image processing unit 19, the CPU 21 ends the focus correction processing procedure.

[1−5.効果等]
以上の構成において、この顕微鏡1は、プレパラート配置面を基準として一方側(下側)においてフォーカスドリフトの主要因となるプレパラートステージ11の表面温度を測定する。またこの顕微鏡1は、プレパラート配置面を基準として他方側(上側)においてフォーカスドリフトの主要因となる光学系を構成する構造体(対物レンズ15及び撮像素子16を含む鏡筒14)の内部温度を測定する。
[1-5. Effect]
In the above configuration, the microscope 1 measures the surface temperature of the preparation stage 11 which is a main factor of focus drift on one side (lower side) with the preparation arrangement surface as a reference. The microscope 1 also measures the internal temperature of the structure (the lens barrel 14 including the objective lens 15 and the imaging element 16) that constitutes the optical system that is a main factor of focus drift on the other side (upper side) with respect to the preparation arrangement surface. taking measurement.

そして顕微鏡1は、これら測定結果を用いて、フォーカス位置に対する光軸方向のずれ量を算出する。   Then, the microscope 1 calculates a deviation amount in the optical axis direction with respect to the focus position using these measurement results.

したがってこの顕微鏡1では、プレパラート配置面を基準として一方側(下側)と他方側(上側)とにおいて光軸LX方向に対するフォーカスドリフトが相反しても、双方側で測定される温度から、フォーカス位置に対する光軸方向のずれ量が算出される。   Therefore, in this microscope 1, even if the focus drift in the optical axis LX direction is contradictory on one side (lower side) and the other side (upper side) with respect to the preparation arrangement surface, the focus position is determined from the temperature measured on both sides. The amount of deviation in the optical axis direction with respect to is calculated.

この結果、この顕微鏡1は、光学系だけの温度変化に起因するドリフト量を算出する場合に比べて、光学系とそれ以外の要素に起因するフォーカスドリフト量が算出可能であり、正確なデフォーカス量を得ることが可能となる。   As a result, the microscope 1 can calculate the focus drift amount due to the optical system and other elements compared to the case where the drift amount due to the temperature change of the optical system alone is calculated, and the accurate defocus can be calculated. An amount can be obtained.

ところで、プレパラートステージ11を高速に駆動させることが重視されることもあり、プレパラートステージ11は光学系を構成する構造体に比べて熱容量も体積も小さい関係となることが一般的である。したがって、光軸LX方向に対するフォーカスドリフトが相反する場合、そのフォーカスドリフトが生じる速度が異なり、温度変化に比例する単純な変動とはならない(図5,図6)。   By the way, it may be important to drive the preparation stage 11 at high speed. In general, the preparation stage 11 has a smaller heat capacity and volume than the structure constituting the optical system. Therefore, when the focus drifts in the direction of the optical axis LX are contradictory, the speed at which the focus drift occurs is different and does not result in a simple fluctuation proportional to the temperature change (FIGS. 5 and 6).

しかしながらこの顕微鏡1では、フォーカス位置に対する光軸方向のずれ量が、一方側(下側)で測定される温度に正の係数を乗算した結果と、他方側(上側)で測定される温度に負の係数を乗算した結果とを加算することで算出される。このため、光軸LX方向において相反するドリフトの速度が異なって温度変化に比例する単純な変動とはならない場合であっても、光学系とそれ以外の要素に起因するフォーカスドリフト量が算出可能となる。   However, in this microscope 1, the amount of deviation in the optical axis direction with respect to the focus position is negative for the temperature measured on one side (lower side) multiplied by a positive coefficient and the temperature measured on the other side (upper side). It is calculated by adding the result obtained by multiplying the coefficient. For this reason, even when the drift speeds contradictory to each other in the optical axis LX direction are different and the fluctuation is not proportional to the temperature change, the focus drift amount caused by the optical system and other elements can be calculated. Become.

またこの顕微鏡1では、一方側(下側)で温度を測定すべき部分が、該一方側においてフォーカスドリフトの主要因となるプレパラートステージ11の表面とされる。そして他方側(下側)で温度を測定すべき部分が、該他方側においてフォーカスドリフトの主要因となる鏡筒14内とされる。   Further, in this microscope 1, the part whose temperature is to be measured on one side (lower side) is the surface of the preparation stage 11 that becomes the main factor of focus drift on the one side. The part whose temperature is to be measured on the other side (lower side) is in the lens barrel 14 which is the main factor of focus drift on the other side.

したがって、この顕微鏡1では、係数の特定が簡易かつ明瞭となることもあり、側温場所をプレパラートステージ11付近及び鏡筒14内以外とする場合に比べて、正確に、光学系とそれ以外の要素に起因するフォーカスドリフト量が算出可能となる。   Therefore, in this microscope 1, the identification of the coefficient may be simple and clear, and the optical system and other parts are more accurately compared to the case where the side temperature place is not near the preparation stage 11 and the inside of the lens barrel 14. The amount of focus drift due to the element can be calculated.

以上の構成によれば、光学系のドリフト方向とは異なる方向にドリフトを生じさせる光学系以外の要素があってもフォーカスを安定化し得る顕微鏡1が実現される。   According to the above configuration, the microscope 1 that can stabilize the focus even if there is an element other than the optical system that causes drift in a direction different from the drift direction of the optical system is realized.

<2.他の実施の形態>
上述の実施の形態では組織切片が生体サンプルとされた。しかしながら生体サンプルはこの実施の形態に限定されるものではない。例えば塗抹細胞や染色体等が生体サンプルとして適用可能である。また例えば半導体素子等のように、生体(生物体)以外のサンプルであってもよい。
<2. Other embodiments>
In the above-described embodiment, the tissue section is a biological sample. However, the biological sample is not limited to this embodiment. For example, smear cells or chromosomes can be applied as the biological sample. Further, for example, a sample other than a living body (organism) such as a semiconductor element may be used.

上述の実施の形態では、プレパラートステージ11の表面に配される感温素子を用いてプレパラートステージ11表面の温度が測定された。しかしながら感温素子を配すべき場所はプレパラートステージ11の表面に限定されるものではない。例えば、プレパラートステージ11を支持する部材や、プレパラート配置面の所定位置にプレパラートPRTを位置決めする部材の表面に配するようにしてもよい。要は、プレパラートステージ11付近に配されていればよい。なお、感温素子を配すべき場所の数(測定すべき箇所)は複数であってもよい。   In the above-described embodiment, the temperature of the surface of the preparation stage 11 is measured using the temperature sensitive element arranged on the surface of the preparation stage 11. However, the place where the temperature sensitive element is to be arranged is not limited to the surface of the preparation stage 11. For example, it may be arranged on the surface of a member that supports the preparation stage 11 or a member that positions the preparation PRT at a predetermined position on the preparation arrangement surface. In short, it may be arranged near the preparation stage 11. In addition, the number (location to be measured) where the temperature sensitive element should be arranged may be plural.

上述の実施の形態では、鏡筒14の内部に配される感温素子を用いて鏡筒内の温度が測定された。しかしながら感温素子を配すべき場所は鏡筒14内に限定されるものではない。例えば、鏡筒14の全部又は一部を感温素子としてもよい。なお、感温素子を配すべき場所の数(測定すべき箇所)は複数であってもよい。   In the above-described embodiment, the temperature in the lens barrel is measured using the temperature sensitive element arranged inside the lens barrel 14. However, the place where the temperature sensitive element is to be arranged is not limited to the inside of the lens barrel 14. For example, all or part of the lens barrel 14 may be a temperature sensitive element. In addition, the number (location to be measured) where the temperature sensitive element should be arranged may be plural.

また上述の実施の形態では、撮影用の像を得るための撮像素子と、焦点探索用の像を得るための撮像素子とが共用された。しかしながら撮影用の像を得るための撮像素子と、焦点探索用の像を得るための撮像素子とが別々に設けられた形態であってもよい。   In the above-described embodiment, the image sensor for obtaining an image for photographing and the image sensor for obtaining an image for focus search are shared. However, an image sensor for obtaining an image for photographing and an image sensor for obtaining an image for focus search may be provided separately.

この形態の場合、焦点探索用の像を得るための撮像素子に像を結像する光学系を構成する構造体に対して測定される温度がt2とされ、(1)式よりフォーカスドリフト量を算出すれば、フォーカスを安定化させ得る。これに加えて、撮影用の像を得るための撮像素子に像を結像する光学系を構成する構造体に対する温度も考慮すれば、より一段とフォーカスを安定化させ得る。具体的には、考慮すべき温度をt3とし、該温度t3に対する負の係数をk3とすると、次式   In this embodiment, the temperature measured for the structure constituting the optical system that forms an image on the image sensor for obtaining the image for focus search is t2, and the focus drift amount is calculated from the equation (1). If calculated, the focus can be stabilized. In addition to this, the focus can be further stabilized by considering the temperature of the structure constituting the optical system that forms an image on the image sensor for obtaining an image for photographing. Specifically, if the temperature to be considered is t3 and the negative coefficient for the temperature t3 is k3,

D=d+(k1×t1)+(k2×t2)+(k3×t3) ……(2)   D = d + (k1 * t1) + (k2 * t2) + (k3 * t3) (2)

となる。 It becomes.

また上述の実施の形態では、フォーカス位置が、撮影範囲PRでの奥行位置を所定間隔ごとに変更させ、それら奥行位置での画像のコントラスが最も大きい奥行位置として決定された。しかしながらフォーカス位置の決定手法はこの実施の形態に限定されるものではない。例えば、撮影用の撮像素子とは別に焦点探索用の撮像素子と、その撮像素子に対して、視点の異なる2つの被写体像(以下、これを位相差像とも呼ぶ)を結像させる光学系とが設けられる場合、その位相差像の視差から決定することができる。もちろん、これ以外の決定手法であってもよい。   Further, in the above-described embodiment, the focus position is determined as the depth position where the depth position in the imaging range PR is changed at predetermined intervals and the image contrast at the depth position is the largest. However, the method for determining the focus position is not limited to this embodiment. For example, an image sensor for focus search separately from an image sensor for photographing, and an optical system that forms two subject images with different viewpoints (hereinafter also referred to as phase difference images) on the image sensor Can be determined from the parallax of the phase difference image. Of course, other determination methods may be used.

また上述の実施の形態では、サンプルを透過する光の像が結像されたが、サンプルを反射する光の像が結像されてもよい。   In the above-described embodiment, an image of light that passes through the sample is formed, but an image of light that reflects the sample may be formed.

また上述の実施の形態では、本発明が顕微鏡1に適用された。しかしながら本発明を適用される装置は顕微鏡1に限定されるものではない。サンプルが配され、光軸方向に移動可能なステージを有する様々な装置に適用可能である。   In the embodiment described above, the present invention is applied to the microscope 1. However, the apparatus to which the present invention is applied is not limited to the microscope 1. The present invention can be applied to various apparatuses having a stage on which a sample is arranged and movable in the optical axis direction.

なお、他の実施の形態として述べた事項以外であっても、本発明の趣旨を逸脱しない程度において様々な形態を幅広く採用することができる。   It should be noted that various forms can be widely adopted without departing from the spirit of the present invention, even if other than the matters described as other embodiments.

本発明は、遺伝子実験、医薬の創製又は患者の経過観察などのバイオ産業上において利用することができる。   The present invention can be used in the bio-industry such as genetic experiments, creation of medicines, or patient follow-up.

1……顕微鏡、11……プレパラートステージ、12……光源、13……コンデンサレンズ、14……鏡筒、15……対物レンズ、16……撮像素子、17……ステージ駆動機構、18……フォーカス検出部、20……フォーカス補正部、31……ステージ温度測定部、32……鏡筒温度測定部、33……ドリフト量算出部、34……デフォーカス量算出部、LX……光軸、PR……撮影範囲、PRT……プレパラート、SPL……生体サンプル。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Microscope, 11 ... Preparation stage, 12 ... Light source, 13 ... Condenser lens, 14 ... Lens barrel, 15 ... Objective lens, 16 ... Imaging element, 17 ... Stage drive mechanism, 18 ... Focus detection unit, 20 ... focus correction unit, 31 ... stage temperature measurement unit, 32 ... lens barrel temperature measurement unit, 33 ... drift amount calculation unit, 34 ... defocus amount calculation unit, LX ... optical axis , PR: Shooting range, PRT: Preparation, SPL: Biological sample.

Claims (7)

プレパラートが配されるべき面を基準として一方側に配される感温素子を用いて温度を測定する第1の測定部と、
上記プレパラートが配されるべき面を基準として他方側に配される感温素子を用いて温度を測定する第2の測定部と、
上記第1の測定部及び上記第2の測定部で測定される温度を用いて、フォーカス位置に対するずれ量を算出する算出部と
を有するフォーカス補正装置。
A first measurement unit that measures a temperature using a temperature-sensitive element disposed on one side with respect to the surface on which the preparation is to be disposed;
A second measuring unit that measures the temperature using a temperature sensing element disposed on the other side with respect to the surface on which the preparation is to be disposed;
A focus correction apparatus comprising: a calculation unit that calculates a deviation amount with respect to a focus position using the temperatures measured by the first measurement unit and the second measurement unit.
上記算出部は、
上記第1の測定部で測定される温度に正の係数を乗算した結果と、上記第2の測定部で測定される温度に負の係数を乗算した結果とを加算する
請求項1に記載のフォーカス補正装置。
The calculation unit is
The result obtained by multiplying the temperature measured by the first measurement unit by a positive coefficient and the result obtained by multiplying the temperature measured by the second measurement unit by a negative coefficient are added. Focus correction device.
上記第1の測定部は、
上記プレパラートが配されるべき面をもつステージ付近の温度を測定し、
上記第2の測定部は、
鏡筒内の温度を測定する
請求項2に記載のフォーカス補正装置。
The first measurement unit includes:
Measure the temperature near the stage with the surface on which the preparation is to be placed,
The second measuring unit is
The focus correction apparatus according to claim 2, wherein the temperature in the lens barrel is measured.
上記第1の測定部は、
上記プレパラートが配されるべき面をもつステージ付近に配される感温素子を用いて温度を測定し、
上記第2の測定部は、
鏡筒内に配される感温素子を用いて温度を測定する
請求項2に記載のフォーカス補正装置。
The first measurement unit includes:
Measure the temperature using a temperature sensing element placed near the stage with the surface where the preparation should be placed,
The second measuring unit is
The focus correction apparatus according to claim 2, wherein the temperature is measured using a temperature sensitive element arranged in the lens barrel.
第1の測定部が、プレパラートが配されるべき面を基準として一方側に配される感温素子を用いて温度を測定するステップと、
第2の測定部が、上記プレパラートが配されるべき面を基準として他方側に配される感温素子を用いて温度を測定するステップと、
算出部が、上記第1の測定部及び上記第2の測定部で測定される温度を用いて、フォーカス位置に対するずれ量を算出するステップと
を有するフォーカス補正方法。
A step of measuring a temperature using a temperature sensing element disposed on one side with respect to a surface on which a preparation is to be disposed;
A step of measuring a temperature using a temperature sensing element disposed on the other side with respect to a surface on which the preparation is to be disposed,
A calculation unit having a step of calculating a deviation amount with respect to a focus position using temperatures measured by the first measurement unit and the second measurement unit.
コンピュータに対して、
プレパラートが配されるべき面を基準として一方側に配される感温素子を用いて温度を測定すること、
上記プレパラートが配されるべき面を基準として他方側に配される感温素子を用いて温度を測定すること、
一方側と他方側で測定される温度を用いて、フォーカス位置に対するずれ量を算出すること
を実行させるフォーカス補正プログラム。
Against the computer,
Measuring the temperature using a temperature sensitive element arranged on one side with respect to the surface on which the preparation is to be arranged,
Measuring the temperature using a temperature sensitive element disposed on the other side with respect to the surface on which the preparation is to be disposed;
A focus correction program for executing a calculation of a deviation amount with respect to a focus position using temperatures measured on one side and the other side.
プレパラートが配されるべき面をもち、光軸方向に移動可能なステージと、
上記プレパラートが配されるべき面を基準として一方側に配される感温素子を用いて温度を測定する第1の測定部と、
上記プレパラートが配されるべき面を基準として他方側に配される感温素子を用いて温度を測定する第2の測定部と、
上記第1の測定部及び上記第2の測定部で測定される温度を用いて、フォーカス位置に対するずれ量を算出する算出部と
を有する顕微鏡。
A stage having a surface on which the preparation should be arranged and movable in the optical axis direction;
A first measurement unit that measures temperature using a temperature-sensitive element disposed on one side with respect to the surface on which the preparation is to be disposed;
A second measuring unit that measures the temperature using a temperature sensing element disposed on the other side with respect to the surface on which the preparation is to be disposed;
A microscope having a calculation unit that calculates a deviation amount with respect to a focus position using temperatures measured by the first measurement unit and the second measurement unit.
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