JP2011215098A - 光学式位置検出装置 - Google Patents

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JP2011215098A JP2010085814A JP2010085814A JP2011215098A JP 2011215098 A JP2011215098 A JP 2011215098A JP 2010085814 A JP2010085814 A JP 2010085814A JP 2010085814 A JP2010085814 A JP 2010085814A JP 2011215098 A JP2011215098 A JP 2011215098A
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Setsunai Kiyose
摂内 清瀬
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Abstract

【課題】光検出器の感度指向性の影響を受けにくくすることにより、対象物体の位置にか
かわらず光検出器での受光強度を高いレベルとすることのできる光学式位置検出装置を提
供すること。
【解決手段】光学式位置検出装置10において、光検出装置30は、光検出器31を変位
させて光検出器31の受光部32を検出空間10R内の複数領域10R1、10R2、1
0R3に向かせるアクチュエータ35を備えており、光検出器31は、受光部32が検出
空間10R内の複数の領域10R1、10R2、10R3に向いた状態で、対象物体OB
で反射した検出光を検出する。このため、光検出器31が感度指向性を有する場合でも、
光検出器31の高感度角度範囲Θhのみで検出空間10R全体をカバーすることができる

【選択図】図2

Description

本発明は、検出空間の対象物体の位置を光学的に検出する光学式位置検出装置に関する
ものである。
対象物体の位置検出を光学的に行なう位置検出装置としては、撮像素子を用いたものが
あるが、撮像素子は高価である等の問題点がある。一方、対象物体の位置を光学的に検出
する光学式位置検出装置としては、透光板(光伝播媒体)において対象物体が位置する第
1面側とは反対側の第2面側に配置された光源から対象物体に向けて検出光を出射し、対
象物体で反射して透光板の第2面側に透過してきた検出光を光検出器で検出する技術が提
案されている(特許文献1参照)。
かかる光学式位置検出装置では、2つの光源を交互に点灯させるとともに、2つの光源
が各々、点灯した期間における光検出器での検出結果を利用するため、安価に構成するこ
とができる。
特表2003−534554号公報
しかしながら、特許文献1に記載の光学式位置検出装置では、対象物体の位置によって
光検出器での受光強度が変動するため、対象物体の検出精度が低いという問題点がある。
すなわち、光検出器は所定の角度範囲であれば、高い感度を有するが、中心光軸から大き
く離間した角度方向では感度が低いため、対象物体が光検出器の中心光軸から大きく離間
した角度方向に位置する場合、光検出器での受光強度が低く、対象物体の検出精度が低下
しやすい。
以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、光検出器の感度指向性の影響を受けにくくす
ることにより、対象物体の位置にかかわらず光検出器での受光強度を高いレベルとするこ
とのできる光学式位置検出装置を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明では、対象物体の位置を検出する光学式位置検出装
置であって、検出光を出射して当該検出光の出射側空間に前記検出光の光強度分布を異な
るパターンで順次形成する位置検出用光源装置と、前記対象物体で反射した前記検出光を
受光する光検出器、および該光検出器を変位させて当該光検出器の受光部を前記出射側空
間の複数領域に向かせるアクチュエータを備えた光検出装置と、前記光検出器での受光結
果に基づいて前記対象物体の位置を検出する位置検出部と、を有していることを特徴とす
る。
本発明では、位置検出用光源装置から出射された検出光は、検出空間(検出光の出射側
空間)に光強度分布を形成し、対象物体で反射した検出光は、光検出装置の光検出器で受
光される。このため、検出空間における位置と検出光の強度との関係を予め把握しておけ
ば、位置検出部は、光検出装置の光検出器の受光結果に基づいて対象物体の位置を検出す
ることができる。ここで、光検出装置は、光検出器を変位させて光検出器の受光部を出射
側空間の複数領域に向かせるアクチュエータを備えており、光検出器は、受光部が出射側
空間の複数領域の各々に向いた状態で、対象物体で反射した検出光を検出する。従って、
光検出器が感度指向性を有する場合でも、光検出器の高感度角度範囲のみで検出空間をカ
バーすることができる。それ故、光検出器の感度指向性の影響を受けにくいので、対象物
体の位置にかかわらず光検出器での受光強度が高い。よって、検出空間での検出光の光強
度分布を利用して位置検出を行なう方式を採用した場合でも、対象物体の位置を正確に検
出することができる。
本発明において、前記位置検出部は、前記複数領域のうち、前記光検出器での受光強度
が最大となる領域に前記光検出器の受光部が向いたときの前記光検出器での受光結果に基
づいて前記対象物体の位置を検出することが好ましい。このように構成すると、光検出器
が最適領域に向いた状態での受光結果のみを用いて対象物体の位置を検出することになる
ので、位置検出精度を高めることができる。
本発明において、前記アクチュエータは、前記光検出器を回転させて当該光検出器の前
記受光部を前記出射側空間の複数領域に向かせることが好ましい。このように構成すると
、光検出器の受光部が向く領域の数が少なくても、出射側空間の全体を光検出器の高感度
角度範囲をカバーすることができる。
本発明において、前記アクチュエータは、前記光検出器を直動させて当該光検出器の前
記受光部を前記出射側空間の複数領域に向かせる構成を採用してもよい。
本発明において、前記位置検出用光源装置から前記検出光が出射される方向に対して交
差する2方向をX軸方向およびY軸方向としたとき、前記光検出装置は、前記光検出器と
して、前記Y軸方向に受光部を向ける第1光検出器と、前記X軸方向に受光部を向ける第
2光検出器とを備え、前記位置検出用光源装置は、前記アクチュエータとして、前記第1
光検出器をX軸方向に直動させる第1アクチュエータと、前記第2光検出器をY軸方向に
直動させる第2アクチュエータと、を備えていることが好ましい。
この場合、前記位置検出部は、前記第1光検出器での受光強度が最大となる領域に前記
第1光検出器の受光部が向いたときの前記第1光検出器での受光結果に基づいて前記対象
物体のX軸方向の位置を検出し、前記第2光検出器での受光強度が最大となる領域に前記
第2光検出器の受光部が向いたときの前記第2光検出器での受光結果に基づいて前記対象
物体のY軸方向の位置を検出することが好ましい。このように構成すると、光検出器が最
適領域に向いた状態での受光結果のみを用いて対象物体の位置を検出することになるので
、位置検出精度を高めることができる。
本発明において、前記光検出器は、1つの受光素子を備えている構成を採用することが
できる。
本発明において、前記光検出器は、互いに異なる方向に受光面を向けた複数の受光素子
を備えている構成を採用してもよい。このように構成すると、光検出器の高感度角度範囲
が広いので、光検出器の受光部が向く領域の数が少なくても、出射側空間の全体を光検出
器の高感度角度範囲をカバーすることができる。
本発明において、前記光検出器には、前記受光部に対する入射角度範囲を規定する入射
角度範囲制限部が設けられていることが好ましい。このように構成すると、光検出器は、
高感度角度範囲内で入射した検出光のみを受光するので、位置検出精度を高めることがで
きる。
本発明において、前記光検出器が変位する複数個所には、前記受光部に対する入射角度
範囲を規定する入射角度範囲制限部が設けられていることが好ましい。このように構成す
ると、光検出器は、高感度角度範囲内で入射した検出光のみを受光するので、位置検出精
度を高めることができる。
本発明の実施の形態1に係る位置検出機能付き表示装置の構成を模式的に示す説明図である。 本発明の実施の形態1に係る光学式位置検出装置の構成を模式的に示す説明図である。 本発明の実施の形態1に係る光学式位置検出装置の位置検出用光源装置等の構成を示す説明図である。 本発明の実施の形態1に係る光学式位置検出装置において位置検出用光源装置から出射された検出光の光強度分布を示す説明図である。 本発明の実施の形態1に係る位置検出機能付き表示装置の光学式位置検出装置で用いた位置検出の原理を示す説明図である。 本発明の実施の形態1に係る光学式位置検出装置の光検出器で用いたフォトダイオードの感度指向性を示す説明図である。 本発明の実施の形態1の改良例1に係る光学式位置検出装置で用いた入射角度範囲制限部材の説明図である。 本発明の実施の形態1の改良例2に係る光学式位置検出装置で用いた入射角度範囲制限部材の説明図である。 本発明の実施の形態1の改良例3に係る光学式位置検出装置で用いた光検出器の説明図である。 本発明の実施の形態2に係る光学式位置検出装置に用いた光検出器の位置等を示す説明図である。 本発明の実施の形態2の改良例2に係る光学式位置検出装置で用いた入射角度範囲制限部材の説明図である。 本発明の実施の形態2の改良例4に係る光学式位置検出装置の構成を模式的に示す説明図である。 本発明の実施の形態3に係る光学式位置検出装置および位置検出機能付き表示装置の構成を模式的に示す説明図である。 本発明の実施の形態4に係る光学式位置検出装置および位置検出機能付き表示装置の構成を模式的に示す説明図である。
次に、添付図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。なお、以下の説
明においては、互いに交差する軸をX軸、Y軸およびZ軸とし、Z軸に沿う方向に画像を
投射するものとして説明する。また、以下に参照する図面では、説明の便宜上、X軸方向
を横方向とし、Y軸方向と縦方向として表してある。また、以下に参照する図面では、X
軸方向の一方側をX1側とし、他方側をX2側とし、Y軸方向の一方側をY1側とし、他
方側をY2側として示してある。また、以下の説明で参照する図においては、各部材を図
面上で認識可能な程度の大きさとするため、各部材毎に縮尺を異ならしめてある。
[実施の形態1]
(位置検出機能付き表示装置の全体構成)
図1は、本発明の実施の形態1に係る位置検出機能付き表示装置の構成を模式的に示す
説明図であり、図1(a)、(b)は、位置検出機能付き表示装置の要部を斜め上からみ
た様子を模式的に示す説明図、および横方向からみた様子を模式的に示す説明図である。
図2は、本発明の実施の形態1に係る光学式位置検出装置の構成を模式的に示す説明図で
あり、図2(a)、(b)は、本発明を適用した光学式位置検出装置に用いた光検出装置
の構成等を示す説明図、および光学式位置検出装置10の電気的構成等を示す説明図であ
る。図3は、本発明の実施の形態1に係る光学式位置検出装置の位置検出用光源装置等の
構成を示す説明図であり、図3(a)、(b)、(c)は、光学式位置検出装置の断面構
成を模式的に示す説明図、光学式位置検出装置に用いた導光板等の構成を示す説明図、お
よび検出光の導光板からの出射強度を示す説明図である。なお、図3では、Z軸方向を上
下方向として表してある。
図1(a)、(b)に示す位置検出機能付き表示装置100は、光学式位置検出装置1
0と画像生成装置250とを備えており、後述するように、光学式位置検出装置10は、
画像生成装置250によって表示された画像に基づいて指等の対象物体Obを検出空間1
0Rに進入させた際、対象物体Obの平面的な位置(X座標位置およびY座標位置)を検
出する。
図1(a)、(b)、図2(a)、図3(a)、(b)に示すように、光学式位置検出
装置10は、赤外光からなる検出光L2を出射する複数の光源12(光源12A〜12D
)を備えた位置検出用光源装置11と、対象物体Obで反射した検出光L3を検出する光
検出装置30とを有しており、位置検出用光源装置11から検出光L2が出射される側の
空間(出射側空間)が検出空間10Rである。光検出装置30は光検出器31を備えてお
り、光検出器31の受光部32は検出空間10Rに向いている。本形態において、位置検
出用光源装置11は、XY平面に平行に配置された導光板13も備えている。光検出器3
1は、フォトダイオードやフォトトランジスター等の受光素子からなり、本形態において
、光検出器31は、1つのフォトダイオードからなる。
再び図1(a)、(b)において、位置検出機能付き表示装置100は、投射型表示装
置であり、画像生成装置250は画像投射装置として構成されている。かかる位置検出機
能付き表示装置100では、画像生成装置250が導光板13の前面側(入力操作側)に
重ねて配置されたスクリーン部材290のスクリーン面290sの側に表示光を拡大投射
する。スクリーン部材290において、表示光が投射される領域が画像表示領域20Rで
あり、本形態において、画像表示領域20Rは、Z軸方向からみたときに検出空間10R
と略重なる領域である。
スクリーン部材290に対して画像生成装置250が位置する側には、光学式位置検出
装置10の検出空間10Rが設定されており、スクリーン部材290の裏面側290tに
導光板13および光源12が配置されている。また、光検出器31は、スクリーン部材2
90のスクリーン面290sの側において、検出空間10Rの外側でスクリーン面290
sに沿う方向に受光部32を向けている。
本形態において、スクリーン部材290としては、以下に説明する各種のものを用いる
ことができるが、いずれの場合も、赤外光を通過可能な材質からなる。まず、スクリーン
部材290としては、表面に白い塗料が塗ってある布地や、エンボス加工された白いビニ
ール素材からなるホワイトスクリーンを用いることができる。また、スクリーン部材29
0としては、光の反射率を高めるために高銀色としたシルバースクリーンを用いることが
できる。さらに、スクリーン部材290としては、布地表面に樹脂加工を行なって光の反
射率を高めたパールスクリーンや、表面に細かいガラス粉末が塗布して光の反射率を高め
たピーススクリーンを用いることもできる。なお、スクリーン部材290では、スクリー
ンに表示される画像の品位を高めることを目的に、スクリーンの裏面側に黒色の遮光層が
形成される場合があり、このような場合、遮光層に、微細な穴からなる透光部を複数形成
しておけば、スクリーン部材290は、赤外光からなる検出光L2に対する透光性を備え
ることになる。
このように構成した光学式位置検出装置10および位置検出機能付き表示装置100に
おいて、光源12が導光板13に向けて検出光L2を出射すると、検出光L2は、導光板
13の光出射面13sからスクリーン部材290に向けて出射され、検出光L2は、スク
リーン部材290を透過して検出空間10Rに出射される。そして、検出空間10Rの対
象物体Obで反射した検出光L3の一部が光検出器31で受光されることになる。従って
、光学式位置検出装置10では、後述するように、光検出器31での受光結果に基づいて
、対象物体ObのXY座標を検出することができる。それ故、本形態の位置検出機能付き
表示装置100では、かかる対象物体ObのXY座標を投射された画像の一部等を指定す
る入力情報として扱い、かかる入力情報に基づいて画像の切り換え等を行なうことができ
る。
(光学式位置検出装置10の電気的構成)
図1(a)、(b)、図2(a)および図3(a)、(b)に示すように、本形態の光
学式位置検出装置10において、位置検出用光源装置11は4つの光源12(光源12A
〜12D)を備えている、このため、図2(b)に示すように、光学式位置検出装置10
において、位置検出用光源装置11は、4つの光源12を駆動する光源駆動部14を有し
ており、光源駆動部14は、光源12を駆動する光源駆動回路140と、光源駆動回路1
40を介して複数の光源12の各々の点灯パターンを制御する光源制御部145とを備え
ている。光源駆動回路140は、光源12Aを駆動する第1光源駆動回路140aと、光
源12Bを駆動する第2光源駆動回路140bと、光源12Cを駆動する第3光源駆動回
路140cと、光源12Dを駆動する第4光源駆動回路140dとを備えている。光源制
御部145は、第1光源駆動回路140a、第2光源駆動回路140b、第3光源駆動回
路140cおよび第4光源駆動回路140dの全てを制御する。
また、光学式位置検出装置10は、光検出器31での検出結果に基づいて対象物体Ob
の位置を検出する位置検出部50を備えており、位置検出部50と光源駆動部14とは、
共通の半導体集積回路500に構成されている。光源制御部145と位置検出部50とは
、信号線で接続されており、光源12に対する駆動と、位置検出部50での検出動作とは
、連動して行われる。
位置検出部50は、光検出器31から信号が入力される信号処理部52と、かかる信号
処理部52での処理結果に基づいて対象物体Obの位置を算出する位置検出部53とを備
えており、本形態において、位置検出部53は、対象物体ObのX座標を算出するX座標
検出部531と、対象物体ObのY座標を算出するY座標検出部532と、対象物体Ob
のZ座標を算出するZ座標検出部533とを備えている。
さらに、本形態の光学式位置検出装置10において、位置検出部50は、信号処理部5
2の前段で光検出器31から信号処理部52への信号入力を制御する入力制御部51を備
えている。また、本形態の光学式位置検出装置10において、光検出装置30は、光検出
器31を変位させるアクチュエータ35と、アクチュエータ35に対するアクチュエータ
駆動部38とを備えている。かかる入力制御部51、アクチュエータ35、アクチュエー
タ駆動部38の機能等については後述する。
(位置検出用光源装置11の構成)
図4は、本発明の実施の形態1に係る光学式位置検出装置10において位置検出用光源
装置11から出射された検出光L2の光強度分布を示す説明図である。
図3(a)、(b)に示すように、本形態の光学式位置検出装置10において、位置検
出用光源装置11は、略長方形の平面形状を有する導光板13を備えており、導光板13
の側端面13mでは、長辺に相当する辺部分13k、13l同士がY軸方向で対向し、短
辺に相当する辺部分13i、13j同士がX軸方向で対向している。かかる導光板13の
形状に対応して、光学式位置検出装置10は、検出光L2a〜L2dを出射する4つの光
源12A〜12D(図1に示す光源12)を有しており、導光板13は、側端面13mに
、検出光L2a〜L2dが入射する4つの光入射部13a〜13dを備えている。導光板
13は、内部を伝播した検出光L2a〜L2dを出射する光出射面13sを一方の表面(
図示上面)に備えており、かかる光出射面13sと側端面13mとは直交している。
本形態において、4つの光源12A〜12Dおよび4つの光入射部13a〜13dはい
ずれも、導光板13の角部分13e、13f、13g、13hに設けられている。光源1
2A〜12Dは光入射部13a〜13dと対向するように配置され、好ましくは光入射部
13a〜13dと密接するように配置されている。
導光板13は、ポリカーボネートやアクリル樹脂等の透明な樹脂板で構成されている。
導光板13において、光出射面13s、または光出射面13sの反対側の背面13tには
、表面凹凸構造、プリズム構造、散乱層(図示せず)等が設けられており、このような光
散乱構造によって、光入射部13a〜13dから入射して内部を伝播する光は、その伝播
方向に進むに従って徐々に偏向されて光出射面13sより出射される。なお、導光板13
の光出射側には、必要に応じて、検出光L2a〜L2dの均―化を図るために、プリズム
シートや光散乱板等の光学シートが配置される場合もある。
光源12(光源12A〜12D)は、例えばLED(発光ダイオード)等の発光素子で
構成され、赤外光からなる検出光L2(検出光L2a〜L2d)を発散光として出射する
。検出光L2の種類は、特に限定されないが、可視光とは波長分布が異なるか、点滅等の
変調が加えられることで発光態様が異なればよい。また、検出光L2は、指やタッチペン
等の対象物体Obにより効率的に反射される波長域を有することが好ましい。従って、対
象物体Obが指等の人体であれば、人体の表面で反射率の高い赤外線(特に可視光領域に
近い近赤外線、例えば波長で850nm付近)、あるいは950nmであることが望まし
い。
検出空間10Rは、検出光L2が視認側(操作側)に出射される領域であり、対象物体
Obによる反射光が生じうる領域である。本形態において、検出空間10RをZ軸方向か
らみたときの形状は、矩形状であり、四つの角部分10Ra、10Rb、10Rc、10
Rdと、四つの辺部分10Re、10Rf、10Rg、10Rhとを備えている。本形態
では、辺部分10Rhの長さ方向の略中央部分に光検出器31が配置されている。検出空
間10Rにおいて、隣接する各辺の角部分の内角は90度となっており、かかる内角は、
導光板13の角部分13e〜13hの内角と同一の角度とされている。
このように構成した位置検出機能付き表示装置100において、光源12Aから出射さ
れた検出光L2aと、光源12Bから出射された検出光L2bは、導光板13の内部では
、矢印Aで示す方向において互いに逆向きに伝播しながら、光出射面13sから出射され
る。また、光源12Cから出射された検出光L2cと、光源12Dから出射された検出光
L2dは、矢印Aで示す方向に対して交差する方向(矢印Bで示す方向)において互いに
逆向きに伝播しながら光出射面13sから出射される。ここで、導光板13から検出空間
10Rに出射される検出光L2aの光量は、図2(c)に実線で示すように、光源12A
からの距離に伴って直線的に減衰する光強度分布を有することになる。また、検出空間1
0Rに出射される検出光L2bの光量は、図2(c)に点線で示すように、光源12Bか
らの距離に伴って直線的に減衰する光強度分布を有することになる。
ここで、光源12A、12Dと光源12B、12CとはX軸方向で離間し、光源12A
、12Cと光源12B、12DとはY軸方向で離間している。従って、X座標検出用第1
期間において、光源12A、12Dを点灯させる一方、光源12B、12Cを消灯させれ
ば、図4(a)に示すように、検出空間10Rには、X軸方向の一方側X1から他方側X
2に向けて強度が低下していくX座標検出用第1光強度分布L2Xa(X座標検出用光強
度分布)が形成される。かかるX座標検出用第1光強度分布L2Xaでは、Y軸方向にお
いて強度が一定である。
また、X座標検出用第2期間において、光源12A、12Dを消灯させる一方、光源1
2B、12Cを点灯させれば、図4(b)に示すように、検出空間10Rには、X軸方向
の他方側X2から一方側X1に向けて強度が低下していくX座標検出用第2光強度分布L
2Xb(X座標検出用光強度分布)が形成される。かかるX座標検出用第2光強度分布L
2Xbでは、Y軸方向において強度が一定である。
また、Y座標検出用第1期間において、光源12B、12Dを点灯させる一方、光源1
2A、12Cを消灯させれば、図4(c)に示すように、検出空間10Rには、Y軸方向
の一方側Y1から他方側Y2に向けて強度が低下していくY座標検出用第1光強度分布L
2Ya(Y座標検出用光強度分布)が形成される。かかるY座標検出用第1光強度分布L
2Yaでは、X軸方向において強度が一定である。
さらに、Y座標検出用第2期間において、光源12B、12Dを消灯させる一方、光源
12A、12Cを点灯させれば、図4(d)に示すように、検出空間10Rには、Y軸方
向の他方側Y2から一方側Y1に向けて強度が低下していくY座標検出用第2光強度分布
L2Yb(Y座標検出用光強度分布)が形成される。かかるY座標検出用第2光強度分布
L2Ybでは、X軸方向において強度が一定である。
(XY座標検出の基本原理)
本形態の光学式位置検出装置10においては、図4を参照して説明した検出光の光強度
分布を利用して、位置検出部50は、検出空間10R内の対象物体Obの位置を検出する
。そこで、図5を参照して、光強度分布の構成およびXY座標検出の原理を説明する。
図5は、本発明の実施の形態1に係る位置検出機能付き表示装置100の光学式位置検
出装置10で用いた位置検出の原理を示す説明図であり、図5(a)、(b)、(c)は
、検出光L2のX軸方向の光強度分布を示す説明図、対象物体Obで反射した検出光L3
の光検出器31での検出値を示す説明図、対象物体Obで反射した検出光L3の光検出器
31での検出値が等しくなるように検出光L2の光強度分布を調整する様子を示す説明図
である。
光学式位置検出装置10においては、位置検出用光源装置11から検出光L2を出射す
ると、検出空間10Rに検出光L2の光強度分布が形成される。例えば、X座標を検出す
る際には、図5(a)、(b)に示すように、まず、X座標検出用第1期間において、X
軸方向の一方側X1から他方側X2に向かって強度が単調減少していくX座標検出用第1
光強度分布L2Xaを形成した後、X座標検出用第2期間において、X軸方向の他方側X
2から一方側X1に向かって強度が単調減少していくX座標検出用第2光強度分布L2X
bを形成する。好ましくは、X座標検出用第1期間において、X軸方向の一方側X1から
他方側X2に向かって強度が直線的に減少していくX座標検出用第1光強度分布L2Xa
を形成した後、X座標検出用第2期間において、X軸方向の他方側X2から一方側X1に
向かって強度が直線的に減少していくX座標検出用第2光強度分布L2Xbを形成する。
従って、検出空間10Rに対象物体Obが配置されると、対象物体Obにより検出光L2
が反射され、その反射光の一部が光検出器31により検出される。その際、光検出器31
での受光結果は、対象物体Obが位置する領域の光強度に対応する。従って、X座標検出
用第1期間に形成するX座標検出用第1光強度分布L2Xa、およびX座標検出用第2期
間に形成するX座標検出用第2光強度分布L2Xbを予め、設定した分布としておけば、
以下の方法等により、光検出器31での検出結果に基づいて、対象物体ObのX座標を検
出することができる。
例えば、第1の方法では、図5(b)に示すX座標検出用第1光強度分布L2Xaと、
X座標検出用第2光強度分布L2Xbとの差を利用する。より具体的には、X座標検出用
第1光強度分布L2Xa、およびX座標検出用第2光強度分布L2Xbは予め、設定した
分布になっているので、X座標検出用第1光強度分布L2XaとX座標検出用第2光強度
分布L2Xbとの差も予め、設定した関数になっている。従って、X座標検出用第1期間
においてX座標検出用第1光強度分布L2Xaを形成した際の光検出器31での検出値L
Xaと、X座標検出用第2期間においてX座標検出用第2光強度分布L2Xbを形成した
際の光検出器31での検出値LXbとの差を求めれば、対象物体ObのX座標を検出する
ことができる。かかる方法によれば、検出光L2以外の環境光、例えば、外光に含まれる
赤外成分が光検出器31に入射した場合でも、検出値LXa、LXbの差を求める際、環
境光に含まれる赤外成分の強度が相殺されるので、環境光に含まれる赤外成分が検出精度
に影響を及ぼすことがない。なお、光検出器31での検出値LXa、LXbとの差に基づ
いて対象物体ObのX座標を検出することもできる。
次に、第2の方法では、X座標検出用第1期間においてX座標検出用第1光強度分布L
2Xaを形成した際の光検出器31での検出値LXaと、X座標検出用第2期間において
X座標検出用第2光強度分布L2Xbを形成した際の光検出器31での検出値LXbとが
等しくなるように、光源12に対する制御量(駆動電流)を調整した際の調整量に基づい
て対象物体ObのX座標を検出する方法である。かかる方法は、図5(b)に示すX座標
検出用第1光強度分布L2XaおよびX座標検出用第2光強度分布L2XbがX座標に対
して直線的に変化する場合に適用でき、本形態では、ここで説明する方法が採用されてい
る。
まず、図5(b)に示すように、X座標検出用第1期間およびX座標検出用第2期間に
おいてX座標検出用第1光強度分布L2XaとX座標検出用第2光強度分布L2Xbを絶
対値が等しく、X軸方向で逆向きに形成する。この状態で、X座標検出用第1期間におけ
る光検出器31での検出値LXaと、X座標検出用第2期間における光検出器31での検
出値LXbとが等しければ、対象物体ObがX軸方向の中央に位置することが分る。
これに対して、X座標検出用第1期間における光検出器31での検出値LXaと、X座
標検出用第2期間における光検出器31での検出値LXbとが相違している場合、検出値
LXa、LXbが等しくなるように、光源12に対する制御量(駆動電流)を調整して、
図5(c)に示すように、再度、X座標検出用第1期間においてX座標検出用第1光強度
分布L2Xaを形成し、X座標検出用第2期間においてX座標検出用第2光強度分布L2
Xbを形成する。その結果、X座標検出用第1期間における光検出器31での検出値LX
aと、X座標検出用第2期間における光検出器31での検出値LXbとが等しくなれば、
X座標検出用第1期間での光源12に対する制御量の調整量ΔLXaと、X座標検出用第
2期間での光源12に対する制御量の調整量ΔLXbとの比あるいは差等により、対象物
体ObのX座標を検出することができる。かかる方法によれば、検出光L2以外の環境光
、例えば、外光に含まれる赤外成分が光検出器31に入射した場合でも、検出値LXa、
LXbが等しくなるように光源12に対する制御量の調整を行なう際、環境光に含まれる
赤外成分の強度が相殺されるので、環境光に含まれる赤外成分が検出精度に影響を及ぼす
ことがない。
上記の方法のいずれを採用する場合でも、同様に、Y座標検出用第1期間において、Y
軸方向の一方側Y1から他方側Y2に向かって強度が単調減少していくY座標検出用第1
光強度分布を形成した後、Y座標検出用第2期間において、Y軸方向の他方側Y2から一
方側Y1に向かって強度が単調減少していくY座標検出用第2光強度分布を形成すれば、
対象物体ObのY座標を検出することができる。
上記のように、光検出器31での検出結果に基づいて対象物体Obの検出空間10R内
の位置情報を取得するにあたって、例えば、位置検出部50としてマイクロプロセッサー
ユニット(MPU)を用い、これにより所定のソフトウェア(動作プログラム)を実行す
ることに従って処理を行う構成を採用することができる。また、位置検出部50として論
理回路等のハードウェアを用いた処理を行う構成を採用することもできる。
(Z座標検出動作)
本形態の光学式位置検出装置10において、図4に示すX座標検出用第1光強度分布L
2Xa、X座標検出用第2光強度分布L2Xb、Y座標検出用第1光強度分布L2Ya、
Y座標検出用第2光強度分布L2Ybを合成すると、Z軸方向において検出光L2の強度
が単調減少するZ座標検出用光強度分布が形成される。かかるZ座標検出用光強度分布で
は、Z軸方向における位置と検出光L2の強度とが一定の関係を有している。このため、
対象物体Obで反射して光検出器31で検出される光量は、Z座標検出用光強度分布にお
ける検出光L2の強度と比例し、対象物体Obの位置によって規定される値である。従っ
て、Z座標検出期間における光検出器31の検出結果に基づいて、対象物体ObのZ座標
を検出することができる。なお、図4に示すX座標検出用第1光強度分布L2Xa、X座
標検出用第2光強度分布L2Xb、Y座標検出用第1光強度分布L2Ya、Y座標検出用
第2光強度分布L2Ybを順次形成した際の光検出器31の検出結果を合計してもZ座標
を検出することは可能である。
(光検出器31の感度指向性対策)
図6は、本発明の実施の形態1に係る光学式位置検出装置10の光検出器31で用いた
フォトダイオードの感度指向性を示す説明図である。
本形態の光検出器31に用いたフォトダイオードは、図6に示すような感度指向性を有
している。図6には、光検出器31の中心光軸に対して成す角度Φと感度f(Φ)との関
係が示されており、光検出器31の中心光軸の側(正面)での感度f(Φ)を1.0とし
て示してある。図6に示すように、光検出器31の感度f(Φ)は、中心光軸の側(正面
)で最高であり、光検出器31の中心光軸となす角度Φが大きくなるに伴って感度f(Φ
)は低下している。このような光検出器31の感度指向性において、中心光軸に対して成
す角度Φが小さい範囲は、感度f(Φ)が高い高感度角度範囲Θhである。本形態では、
光検出器31が中心光軸の側(正面)に位置するときの感度(1.0)に対して1/2以
上の感度が得られる半値幅、例えば、光検出器31の中心光軸に対して片側30°の角度
範囲を高感度角度範囲Θhと設定され、光検出器31において片側30°の高感度角度範
囲Θhでの受光結果に基づいて対象物体Obの位置を検出する。
より具体的には、本形態では、図1(a)、(b)および図3(b)に示すように、光
検出装置30は、光検出器31を変位させて光検出器31の受光部32を検出空間10R
内の複数領域に向かせるアクチュエータ35を備えている。かかるアクチュエータ35は
、図2(a)に示すように、検出光L2の出射方向(Z軸方向)と平行に延在する中心軸
線Lc周りに光検出器31を回転させ、光検出器31を、一点鎖線で示す第1の向き、図
3に実線で示す第2の向き、および図3に二点鎖線で示す第3の向きに変位させる。その
結果、光検出器31の受光部32および中心光軸L31も変位するので、光検出器31の
高感度角度範囲Θhも、検出空間10Rのうち、図3に一点鎖線で示す範囲(領域10R
1)、図3に実線で示す範囲(領域10R2)、および図3に二点鎖線で示す範囲(領域
10R3)に変位する。ここで、3つの領域10R1、10R2、10R3は、わずかに
重なっている。
また、本形態では、図3(b)に示すように、半導体集積回路500には、アクチュエ
ータ35に対するアクチュエータ駆動部38に加えて、信号処理部52の前段で光検出器
31から信号処理部52への信号入力を制御する入力制御部51が構成されている。従っ
て、位置検出部50は、図2(a)を参照して説明した複数の領域10R1、10R2、
10R3のうち、光検出器31での受光強度が最大となる領域に光検出器31の受光部3
2が向いたときの光検出器31での受光結果に基づいて対象物体Obの位置(X座標、Y
座標およびZ座標)を検出する。
より具体的には、対象物体Obの位置(X座標、Y座標およびZ座標)を検出する際、
アクチュエータ駆動部38は、アクチュエータ35を介して光検出器31を変位させ、光
検出器31の受光部32を複数の領域10R1、10R2、10R3に順次向かせる。そ
の間、位置検出部50において、入力制御部51は、光検出器31の受光部32を領域1
0R1、10R2、10R3に向いた時点での受光強度を監視する。また、入力制御部5
1は、かかる監視結果において、光検出器31での受光強度が最大となる領域に光検出器
31の受光部32が向いたときの光検出器31での受光結果を信号処理部52に出力する
。例えば、図2(a)に示すように、対象物体Obが領域10R1に位置している場合、
光検出器31での受光強度が最大となるのは、光検出器31の受光部32が領域10R1
に向いた期間である。それ故、入力制御部51は、アクチュエータ駆動部38に指令し、
光検出器31の受光部32を複数の領域10R1に向かせるとともに、光検出器31の受
光部32が複数の領域10R1に向いた以降、光検出器31での検出結果を信号処理部5
2に入力させる。それ故、座標検出部53は、光検出器31の受光部32が領域10R2
に向いた状態での光検出器31での検出結果に基づいて、図5を参照して説明した方法に
より対象物体Obの位置(X座標、Y座標、Z座標)を検出する。
(本形態の主な効果)
以上説明したように、本形態の光学式位置検出装置10および位置検出機能付き表示装
置100では、検出空間10Rに向けて赤外光からなる検出光L2を出射し、検出空間1
0Rで対象物体Obにより反射した検出光を光検出器31によって検出する。ここで、検
出光L2は、検出空間10Rに光強度分布を形成するため、検出空間10R内における位
置と検出光L2の強度との関係を予め把握しておけば、位置検出部50は、光検出器31
の受光結果に基づいて対象物体ObのXYZ座標を検出することができる。また、検出光
L2は、赤外光からなるため、検出光L2が視認されることがない。それ故、検出光L2
が画像の表示を妨げることがない。
また、本形態の光学式位置検出装置10および位置検出機能付き表示装置100では、
光検出装置30は、光検出器31を変位させて光検出器31の受光部32を検出空間10
R内の複数領域10R1、10R2、10R3に向かせるアクチュエータ35を備えてお
り、光検出器31は、受光部32が検出空間10R内の複数の領域10R1、10R2、
10R3に向いた状態で、対象物体OBで反射した検出光を検出する。このため、光検出
器31が感度指向性を有する場合でも、光検出器31の高感度角度範囲Θhのみで検出空
間10R全体をカバーすることができる。また、位置検出部50は、複数領域10R1、
10R2、10R3のうち、光検出器31での受光強度が最大となる領域10R1、10
R2、10R3に光検出器31の受光部32が向いたときの光検出器31での受光結果に
基づいて対象物体Obの位置を検出する。従って、光検出器31が最適領域に向いた状態
での受光結果のみを用いて対象物体Obの位置を検出する。それ故、光検出器31の感度
指向性の影響を受けにくいので、対象物体Obの位置にかかわらず光検出器31での受光
強度が高い。よって、検出空間10Rでの検出光の光強度分布を利用して位置検出を行な
う方式を採用した場合でも、対象物体Obの位置を正確に検出することができる。
さらに、位置検出用光源装置11は、X座標検出用光強度分布およびY座標検出用光強
度分布を異なるタイミングで形成する。また、位置検出用光源装置11は、X座標検出用
光強度分布として、X軸方向の一方側X1から他方側X2に向けて光量が減少するX座標
検出用第1光強度分布L2Xaと、X座標検出用第1光強度分布L2Xaとは逆方向に強
度が変化するX座標検出用第2光強度分布L2Xbとを異なるタイミングで形成する。こ
のため、X座標検出用第1光強度分布L2Xaを形成した際の光検出器31での検出結果
と、X座標検出用第2光強度分布L2Xbを形成した際の光検出器31での検出結果との
比較結果からX座標を検出することができる。従って、外光等に含まれる赤外光の影響を
相殺することができるので、X座標を精度よく検出することができる。また、位置検出用
光源装置11は、Y座標検出用光強度分布として、Y軸方向の一方側Y1から他方側Y2
に向けて光量が減少するY座標検出用第1光強度分布L2Yaと、Y座標検出用第1光強
度分布L2Yaとは逆方向に強度が変化するY座標検出用第2光強度分布L2Ybとを異
なるタイミングで形成する。このため、Y座標検出用第1光強度分布L2Yaを形成した
際の光検出器31での検出結果と、Y座標検出用第2光強度分布L2Ybを形成した際の
光検出器31での検出結果との比較結果からY座標を検出することができる。従って、外
光等に含まれる赤外光の影響を相殺することができるので、Y座標を精度よく検出するこ
とができる。
[実施の形態1の改良例1]
図7は、本発明の実施の形態1の改良例1に係る光学式位置検出装置10で用いた入射
角度範囲制限部材(入射角度範囲制限部)の説明図であり、図7(a)、(b)は、入射
角度範囲制限部材の正面図、およびその断面図である。なお、本形態の基本的な構成は、
実施の形態1と略同様であるため、共通する部分には同一の符号を付してそれらの説明を
省略する。
上記実施の形態1では、光検出器31をそのまま用いたが、本形態では、図7(a)、
(b)に示すように、光検出器31に対して、受光部32に対する入射角度範囲を規定す
る入射角度範囲制限部材40(入射角度範囲制限部)が設けられており、かかる入射角度
範囲制限部材40は、光検出器31と一体で変位する。
本形態において、入射角度範囲制限部材40は、光検出器31の周りを遮光する箱状の
遮光カバー41を備えており、遮光カバー41の前板部40aには、受光部32への光路
を形成する穴40bが形成されている。このため、光検出器31には、図6に示す高感度
角度範囲Θhのみから光が入射し、高感度角度範囲Θhから外れた光は、光検出器31に
入射しないことになる。
ここで、図7に示すように、遮光カバー41の穴40bに集光レンズ43を配置したも
のを入射角度範囲制限部材40として用いれば、図6に示す高感度角度範囲Θhを拡大し
た効果を得ることができる。従って、図2(a)において、領域10R1〜10R3の各
々の角度範囲を拡張できるので、検出空間10Rがさらに広くなった場合でも、検出空間
10Rの全体を光検出器31の高感度角度範囲Θhでカバーするために光検出器31を向
かせる方向の数が少なくて済む。それ故、光検出器31での受光強度が最大となる領域を
特定するための時間が短く済むという利点がある。
[実施の形態1の改良例2]
図8は、本発明の実施の形態1の改良例2に係る光学式位置検出装置10で用いた入射
角度範囲制限部材(入射角度範囲制限部)の説明図である。なお、本形態の基本的な構成
は、実施の形態1と略同様であるため、共通する部分には同一の符号を付してそれらの説
明を省略する。
本形態では、図8に示すように、光検出器31が回転して3つの領域10R1〜10R
3に向いた際に、受光部32に対する入射角度範囲を規定する入射角度範囲制限部材45
(入射角度範囲制限部)が設けられており、かかる入射角度範囲制限部材45は、光検出
器31と違って固定されている。ここで、入射角度範囲制限部材45は、光検出器31の
回転中心位置から3つの領域10R1〜10R3の各々が位置する方向に配置されており
、いずれの入射角度範囲制限部材45も、4つの遮光性側板部47を備えた角筒形状を有
している。また、入射角度範囲制限部材45の両側の開口部46、48のうち、奥側の開
口部46と重なる位置に光検出器31の受光部32が到達するようになっている。なお、
本形態において、遮光性側板部47は、手前側の開口部48が奥側の開口部46よりもサ
イズが大となるように傾斜している。
このように構成した入射角度範囲制限部材45を用いると、入射角度範囲制限部材45
の開口部46と重なる位置に光検出器31の受光部32が到達した際、図6に示す高感度
角度範囲Θhから外れた方向から入射しようとする光を遮断することができる。このため
、光検出器31が3つの領域10R1〜10R3のいずれの方向に向いたときでも、光検
出器31には、図6に示す高感度角度範囲Θhのみから光が入射することになる。
[実施の形態1の改良例3]
図9は、本発明の実施の形態1の改良例3に係る光学式位置検出装置10で用いた光検
出器31の説明図である。なお、本形態の基本的な構成は、実施の形態1と略同様である
ため、共通する部分には同一の符号を付してそれらの説明を省略する。
実施の形態1では、1つの受光素子によって光検出器31を構成したが、本形態では、
図9に示すように、互いに異なる方向に受光面330を向けた複数の受光素子33、例え
ば3つの受光素子33によって光検出器31が構成されており、かかる複数の受光素子3
3は、1つの光検出器31として一体に変位する。
このように構成した光検出器31では、複数の受光素子33の受光面330によって光
検出器31の受光部32が構成されているので、光検出器31の高感度角度範囲Θhを拡
大した効果を得ることができる。従って、図2(a)において、領域10R1〜10R3
の各々の範囲を拡張できるので、検出空間10Rがさらに広くなった場合でも、検出空間
10Rの全体を光検出器31の高感度角度範囲Θhでカバーするために光検出器31を向
かせる方向の数が少なくて済む。それ故、光検出器31での受光強度が最大となる領域を
特定するための時間が短く済むという利点がある。
[実施の形態1の改良例4]
実施の形態1では、検出空間10RをZ軸方向からみたときの辺部分10Rhの略中央
部分で光検出器31を回転させたが、検出空間10Rの角部分10Ra〜10Rdの何れ
かで光検出器31を回転させてもよい。このように構成すると、検出空間10Rの全体を
光検出器31の高感度角度範囲Θhでカバーするために光検出器31を向かせる方向の数
が少なくて済む。それ故、光検出器31での受光強度が最大となる領域を特定するための
時間が短く済むという利点がある。
[実施の形態2]
図10は、本発明の実施の形態2に係る光学式位置検出装置10に用いた光検出器31
の位置等を示す説明図である。なお、本形態の基本的な構成は、実施の形態1と略同様で
あるため、共通する部分には同一の符号を付してそれらの説明を省略する。
図10に示すように、本形態の光学式位置検出装置10でも、実施の形態1と同様、光
検出装置30は、光検出器31を変位させて光検出器31の受光部32を検出空間10R
内の複数領域に向かせるアクチュエータ35を備えている。
ここで、アクチュエータ35は、検出空間10RをZ軸方向からみたときの辺部分10
Rhに沿うように光検出器31を直動させて、光検出器31を、図10に一点鎖線で示す
第1の位置、図10に実線で示す第2の位置、および図10に二点鎖線で示す第3の位置
に変位させる。その結果、光検出器31の受光部32および中心光軸L31も変位するの
で、光検出器31の高感度角度範囲Θhも、検出空間10Rのうち、図10に一点鎖線で
示す範囲(領域10R1)、図10に実線で示す範囲(領域10R2)、および図10に
二点鎖線で示す範囲(領域10R3)に変位する。ここで、3つの領域10R1、10R
2、10R3は、一部が重なっている。その他の構成は実施の形態1と同様である。
このように構成した場合も、実施の形態1と同様、対象物体Obの位置(X座標、Y座
標およびZ座標)を検出する際、図2(b)を参照して説明したアクチュエータ駆動部3
8は、アクチュエータ35を介して光検出器31を変位させ、光検出器31の受光部32
を複数の領域10R1、10R2、10R3に順次向かせる。その間、位置検出部50に
おいて、入力制御部51は、光検出器31の受光部32を領域10R1、10R2、10
R3に向いた時点での受光強度を監視する。また、入力制御部51は、かかる監視結果に
おいて、光検出器31での受光強度が最大となる領域に光検出器31の受光部32が向い
たときの光検出器31での受光結果を信号処理部52に出力する。例えば、図10に示す
ように、対象物体Obが領域10R1に位置している場合、光検出器31での受光強度が
最大となるのは、光検出器31の受光部32が領域10R1に向いた期間である。それ故
、入力制御部51は、アクチュエータ駆動部38に指令し、光検出器31の受光部32を
複数の領域10R1に向かせるとともに、光検出器31の受光部32が複数の領域10R
1に向いた以降、光検出器31での検出結果を信号処理部52に入力させる。それ故、座
標検出部53は、光検出器31の受光部32が領域10R2に向いた状態での光検出器3
1での検出結果に基づいて、図5を参照して説明した方法により対象物体Obの位置(X
座標、Y座標、Z座標)を検出する。それ故、対象物体Obの位置にかかわらず光検出器
31での受光強度が高いので、検出空間10Rでの検出光の光強度分布を利用して位置検
出を行なう方式を採用した場合でも、対象物体Obの位置を正確に検出することができる
等、実施の形態1と同様な効果を奏する。
なお、図10に示す構成では、検出空間10Rの端部(一部)が光検出器31の高感度
角度範囲Θhでカバーされていないが、かかる領域に対象物体Obが位置する場合でも、
光検出器31には対象物体Obで反射した光は入射する。また、検出空間10Rの端部(
一部)は、位置検出に高い精度が求められない位置であるので、大きな問題は発生しない
また、図10に示す構成では、光検出器31を3箇所に変位させる構成であったが、光
検出器31が変位する位置を増やせば、検出空間10Rの全体を光検出器31の高感度角
度範囲Θhでカバーすることは可能である。
[実施の形態2の改良例1]
実施の形態2に係る光学式位置検出装置10でも、実施の形態1の改良例1のように、
図7を参照して説明した入射角度範囲制限部材40を設けてもよい。
[実施の形態2の改良例2]
図11は、本発明の実施の形態2の改良例2に係る光学式位置検出装置10で用いた入
射角度範囲制限部材(入射角度範囲制限部)の説明図である。なお、本形態の基本的な構
成は、実施の形態1と略同様であるため、共通する部分には同一の符号を付してそれらの
説明を省略する。
実施の形態2に係る光学式位置検出装置10でも、実施の形態1の改良例2のように、
図8を参照して説明した入射角度範囲制限部材45を設けてもよい。この場合、入射角度
範囲制限部材45は、検出空間10RをZ軸方向からみたときの辺部分10Rhに沿って
離間した位置に固定した状態で配置される。
[実施の形態2の改良例3]
実施の形態2に係る光学式位置検出装置10でも、実施の形態1の改良例3のように、
図9を参照して説明した複数の受光素子33によって1つの光検出器31を構成してもよ
い。
[実施の形態2の改良例4]
図12は、本発明の実施の形態2の改良例4に係る光学式位置検出装置の構成を模式的
に示す説明図であり、図12(a)、(b)は、本発明を適用した光学式位置検出装置に
用いた光検出装置等を示す説明図、および光学式位置検出装置10の電気的構成等を示す
説明図である。なお、本形態の基本的な構成は、実施の形態1、2と略同様であるため、
共通する部分には同一の符号を付してそれらの説明を省略する。
図12(a)に示すように、本形態の光学式位置検出装置10でも、実施の形態1と同
様、光検出装置30は、光検出器31を変位させて光検出器31の受光部32を検出空間
10R内の複数領域に向かせるアクチュエータ35を備えている。
ここで、光検出装置30は、光検出器31として、Y軸方向に受光部32を向ける第1
光検出器31Xと、X軸方向に受光部32を向ける第2光検出器31Yとを備え、アクチ
ュエータ35として、第1光検出器31XをX軸方向に直動させる第1アクチュエータ3
5Xと、第2光検出器31YをY軸方向に直動させる第2アクチュエータ35Yとを備え
ている。このため、図12(b)に示すように、半導体集積回路500には、第1アクチ
ュエータ35Xに対する第1アクチュエータ駆動部38Xと、第2アクチュエータ35Y
に対する第2アクチュエータ駆動部38Yとが構成されている。
このように構成した光学式位置検出装置10において、X座標を検出する際、第1アク
チュエータ35Xは、検出空間10RをZ軸方向からみたときの辺部分10Rhに沿うよ
うに第1光検出器31Xを直動させて、第1光検出器31Xを、図12に一点鎖線で示す
第1の位置、図12に実線で示す第2の位置、および図12に二点鎖線で示す第3の位置
に変位させる。その結果、第1光検出器31Xの受光部32および中心光軸も変位するの
で、第1光検出器31Xの高感度角度範囲Θhも変位する。その間、位置検出部50にお
いて、入力制御部51は、第1光検出器31Xの受光部32が各領域に向いた時点での受
光強度を監視する。また、入力制御部51は、かかる監視結果において、第1光検出器3
1Xでの受光強度が最大となる領域に第1光検出器31Xの受光部32が向いたときの光
検出器31での受光結果を信号処理部52に出力し、座標検出部53のX座標検出部53
1は対象物体ObのX座標を検出する。
また、Y座標を検出する際、第2アクチュエータ35Yは、検出空間10RをZ軸方向
からみたときの辺部分10Rfに沿うように第2検出器31Yを直動させて、第2光検出
器31Yを、図12に一点鎖線で示す第1の位置、図12に実線で示す第2の位置、およ
び図12に二点鎖線で示す第3の位置に変位させる。その結果、第2光検出器31の受光
部32および中心光軸も変位するので、第2光検出器31Yの高感度角度範囲Θhも変位
する。その間、位置検出部50において、入力制御部51は、第2光検出器31Yの受光
部32が各領域に向いた時点での受光強度を監視する。また、入力制御部51は、かかる
監視結果において、第2光検出器31Yでの受光強度が最大となる領域に第2光検出器3
1Yの受光部32が向いたときの第2光検出器31Yでの受光結果を信号処理部52に出
力し、座標検出部53のY座標検出部532は対象物体ObのY座標を検出する。
なお、Z座標の検出については、第1光検出器31Xでの受光強度が最大となる領域に
第1光検出器31Xの受光部32が向いたときの第1光検出器31Xでの受光結果、ある
いは第2光検出器31Yでの受光強度が最大となる領域に第2光検出器31Yの受光部3
2が向いたときの第2光検出器31Yでの受光結果を用いればよい。
[実施の形態3]
図13は、本発明の実施の形態3に係る光学式位置検出装置10および位置検出機能付
き表示装置100の構成を模式的に示す説明図であり、図13(a)、(b)は、位置検
出機能付き表示装置の要部を斜め上からみた様子を模式的に示す説明図、および横方向か
らみた様子を模式的に示す説明図である。なお、本形態の基本的な構成は、実施の形態1
と同様であるため、共通する部分には同一の符号を付して図示し、それらの説明を省略す
る。
実施の形態1、2では、スクリーン部材290の裏面側290tに光学式位置検出装置
10の光源12や導光板13が配置されていたが、図13に示すように、本形態では、ス
クリーン部材290のスクリーン面290s側に光源12(光源12A〜12D)が配置
されており、かかる光源12は、検出空間10Rの外側でスクリーン面290sに沿う方
向に発光部を向けている。従って、本形態では、導光板が用いられていない。なお、光検
出器31は、実施の形態1と同様、スクリーン部材290のスクリーン面290s側にお
いて、検出空間10Rの外側でスクリーン面290sに沿う方向に受光部32を向けてい
る。なお、図13には、光検出器31を回転させるアクチュエータ35を示したが、光検
出器31を直動させるアクチュエータ35を設けてもよい。
[実施の形態4]
図14は、本発明の実施の形態4に係る光学式位置検出装置10および位置検出機能付
き表示装置100の構成を模式的に示す説明図であり、図14(a)、(b)は、位置検
出機能付き表示装置の要部を斜め上からみた様子を模式的に示す説明図、および横方向か
らみた様子を模式的に示す説明図である。なお、本形態の基本的な構成は、実施の形態1
と同様であるため、共通する部分には同一の符号を付して図示し、それらの説明を省略す
る。
実施の形態1、2では、スクリーン部材290の裏面側290tに光学式位置検出装置
10の光源12や導光板13が配置されていたが、本形態の光学式位置検出装置10の位
置検出用光源装置11では、図14に示すように、スクリーン部材290の裏面側290
tにおいて、検出空間10Rに対してZ軸方向で対向する位置に、複数の光源12が配列
された基板120を設けてある。このため、導光板を備えていない。なお、図14には、
光検出器31を回転させるアクチュエータ35を示したが、光検出器31を直動させるア
クチュエータ35を設けてもよい。
[他の実施の形態]
上記実施の形態では、位置検出機能付き表示装置100として投射型表示装置に光学式
位置検出装置10を設けたが、位置検出機能付き表示装置100としては、スクリーン部
材を備えた電子黒板に光学式位置検出装置10を設けて位置検出機能付き表示装置100
を構成してもよい。また、上記実施の形態では位置検出機能付き表示装置100を投射型
表示装置に適用した例であったが、直視型の表示装置を画像生成装置250として用いて
もよい。より具体的には、液晶装置、有機エレクトロルミネッセンス装置やプラズマ表示
装置等といった直視型の画像生成装置250に対して表示光の出射側に検出空間10Rを
設け、直視型の位置検出機能付き表示装置100を構成してもよい。かかる位置検出機能
付き表示装置100を構成するにあたって、画像生成装置250として透過型の液晶装置
を用いた場合には、位置検出用光源装置11については、液晶装置に対して表示光の出射
側あるいは表示光の出射側とは反対側に設けることができる。これに対して、有機エレク
トロルミネッセンス装置やプラズマ表示装置等を画像生成装置250として用いた場合、
位置検出用光源装置11については、有機エレクトロルミネッセンス装置やプラズマ表示
装置に対して表示光の出射側に設けることになる。
さらに、光学式位置検出装置10については画像生成装置250と位置検出機能付き表
示装置100を構成するのに用いることができる他、光学式位置検出装置10単独で用い
てもよい。
10・・光学式位置検出装置、10R・・検出空間、11・・位置検出用光源装置、12
A、12B、12C、12D・・光源、13・・導光板、30・・光検出装置、31・・
光検出器、31X・・第1光検出器、31Y・・第2光検出器、32・・受光部、40、
45・・入射角度範囲制限部材、50・・位置検出部、100・・位置検出機能付き表示
装置、250・・画像生成装置、L2、L2a、L2b、L2c、L2d・・検出光

Claims (10)

  1. 対象物体の位置を検出する光学式位置検出装置であって、
    検出光を出射して当該検出光の出射側空間に前記検出光の光強度分布を異なるパターン
    で順次形成する位置検出用光源装置と、
    前記対象物体で反射した前記検出光を受光する光検出器、および該光検出器を変位させ
    て当該光検出器の受光部を前記出射側空間の複数領域に向かせるアクチュエータを備えた
    光検出装置と、
    前記光検出器での受光結果に基づいて前記対象物体の位置を検出する位置検出部と、
    を有していることを特徴とする光学式位置検出装置。
  2. 前記位置検出部は、前記複数領域のうち、前記光検出器での受光強度が最大となる領域
    に前記光検出器の受光部が向いたときの前記光検出器での受光結果に基づいて前記対象物
    体の位置を検出することを特徴とする請求項1に記載の光学式位置検出装置。
  3. 前記アクチュエータは、前記光検出器を回転させて当該光検出器の前記受光部を前記出
    射側空間の複数領域に向かせることを特徴とする請求項1または2に記載の光学式位置検
    出装置。
  4. 前記アクチュエータは、前記光検出器を直動させて当該光検出器の前記受光部を前記出
    射側空間の複数領域に向かせることを特徴とする請求項1または2に記載の光学式位置検
    出装置。
  5. 前記位置検出用光源装置から前記検出光が出射される方向に対して交差する2方向をX
    軸方向およびY軸方向としたとき、
    前記光検出装置は、前記光検出器として、前記Y軸方向に受光部を向ける第1光検出器
    と、前記X軸方向に受光部を向ける第2光検出器とを備え、前記アクチュエータとして、
    前記第1光検出器をX軸方向に直動させる第1アクチュエータと、前記第2光検出器をY
    軸方向に直動させる第2アクチュエータと、を備えていることを特徴とする請求項4に記
    載の光学式位置検出装置。
  6. 前記位置検出部は、前記第1光検出器での受光強度が最大となる領域に前記第1光検出
    器の受光部が向いたときの前記第1光検出器での受光結果に基づいて前記対象物体のX軸
    方向の位置を検出し、前記第2光検出器での受光強度が最大となる領域に前記第2光検出
    器の受光部が向いたときの前記第2光検出器での受光結果に基づいて前記対象物体のY軸
    方向の位置を検出することを特徴とする請求項5に記載の光学式位置検出装置。
  7. 前記光検出器は、1つの受光素子を備えていることを特徴とする請求項1乃至6の何れ
    か一項に記載の光学式位置検出装置。
  8. 前記光検出器は、互いに異なる方向に受光面を向けた複数の受光素子を備えていること
    を特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の光学式位置検出装置。
  9. 前記光検出器には、前記受光部に対する入射角度範囲を規定する入射角度範囲制限部が
    設けられていることを特徴とする請求項1乃至8の何れか一項に記載の光学式位置検出装
    置。
  10. 前記光検出器が変位する複数個所には、前記受光部に対する入射角度範囲を規定する入
    射角度範囲制限部が設けられていることを特徴とする請求項1乃至8の何れか一項に記載
    の光学式位置検出装置。
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US9255980B2 (en) 2011-06-30 2016-02-09 Seiko Epson Corporation Optical position detection device and display system with input function

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