JP2011210614A - Organic el element and method of manufacturing the same - Google Patents

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Yuki Yasu
祐樹 安
Shingo Kaneda
真吾 金田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an organic EL display and a method of manufacturing the same, which suppresses a leak current and also suppresses disconnection of an electrode formed on an organic film, by devising a shape of a barrier rib for partitioning a pixel.SOLUTION: The barrier rib 103 which partitions a pixel electrode 102 and has an insulation property is arranged on a substrate 101. The barrier rib 103 has at least two layers of a first barrier rib part 103A and a second barrier rib part 103B on the first barrier rib part 103A. The first barrier rib part 103A has a vertical or invert taper shape on the substrate 101. The second barrier rib part 103B has a bottom part of the second barrier part 103B having a width equal to a width of an upper part of the first barrier rib part 103A.

Description

本発明は、表示装置の技術に関し、特に有機EL素子(有機エレクトロルミネッセンス素子)、及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a display device technique, and more particularly to an organic EL element (organic electroluminescence element) and a method for manufacturing the same.

有機EL素子は、導電性の発光媒体層に電圧を印加することにより、発光媒体層中の有機発光層において注入された電子と正孔が再結合する。有機発光層中の有機発光分子は、再結合エネルギーによりいったん励起状態となり、その後、励起状態から基底状態に戻る。この際に放出されるエネルギーを光として取り出すことにより有機EL素子は発光する。有機発光媒体層に電圧を印加するために上記発光媒体層の両側には画素電極と対向電極が設けられており、発光層からの光を外部へ取り出すために少なくとも一方の電極は透光性を有する。このような有機EL素子の構造の一例としては、透光性基板上に、透光性の画素電極、発光媒体層、対向電極を順次積層したものが挙げられる。ここで、基板上に形成される画素電極を陽極とし、発光媒体層上に形成される対向電極を陰極として利用する態様が挙げられる。   In the organic EL element, by applying a voltage to the conductive light emitting medium layer, electrons and holes injected in the organic light emitting layer in the light emitting medium layer are recombined. The organic light emitting molecules in the organic light emitting layer are once excited by the recombination energy, and then return from the excited state to the ground state. The organic EL element emits light by taking out the energy released at this time as light. In order to apply a voltage to the organic light emitting medium layer, a pixel electrode and a counter electrode are provided on both sides of the light emitting medium layer, and at least one of the electrodes has a light transmitting property in order to extract light from the light emitting layer to the outside. Have. As an example of the structure of such an organic EL element, a light-transmitting pixel electrode, a light emitting medium layer, and a counter electrode are sequentially stacked on a light-transmitting substrate. Here, there is an embodiment in which the pixel electrode formed on the substrate is used as an anode, and the counter electrode formed on the light emitting medium layer is used as a cathode.

さらに発光効率を増大させる等の目的から、有機EL素子として、陽極と有機発光層との間に設けられる正孔輸送層、正孔注入層に加え、有機発光層と陰極との間に電子輸送層、電子注入層が適宜選択して設けられることが多い。これら正孔輸送層、正孔注入層、電子輸送層、電子注入層は、キャリア輸送層と呼ばれている。これらキャリア輸送層と有機発光層、さらには正孔ブロック層や電子ブロック層、絶縁層等を合わせて発光媒体層と呼ぶ。   In addition to increasing the luminous efficiency, as an organic EL element, in addition to the hole transport layer and hole injection layer provided between the anode and the organic light emitting layer, electron transport between the organic light emitting layer and the cathode. In many cases, a layer and an electron injection layer are appropriately selected and provided. These hole transport layer, hole injection layer, electron transport layer, and electron injection layer are called carrier transport layers. The carrier transport layer, the organic light emitting layer, the hole blocking layer, the electron blocking layer, the insulating layer, and the like are collectively referred to as a light emitting medium layer.

上述のように発光媒体層を構成し、各機能を発揮する物質(発光媒体材料と呼ぶ)がいずれも低分子化合物の場合には、各層は抵抗加熱方式などの真空蒸着法などによって積層される。   When the light emitting medium layer is configured as described above and each of the substances (referred to as a light emitting medium material) exhibiting each function is a low molecular compound, each layer is laminated by a vacuum evaporation method such as a resistance heating method. .

これに対し、有機発光層として高分子系材料を用いる有機EL素子(以後、高分子有機EL素子という)がある。高分子系材料を溶媒に溶解または分散させることで、塗布法や印刷法と言った湿式法により発光層を製膜することができる。そのため、前述の低分子材料を用いた有機EL素子と比較して、大気圧下での製膜が可能であり、設備コストが安いという利点がある。   On the other hand, there is an organic EL element (hereinafter referred to as a polymer organic EL element) using a polymer material as the organic light emitting layer. By dissolving or dispersing the polymer material in a solvent, the light emitting layer can be formed by a wet method such as a coating method or a printing method. Therefore, compared with the organic EL element using the above-mentioned low molecular weight material, there is an advantage that film formation under atmospheric pressure is possible and equipment cost is low.

画像表示装置を作製する場合は、縦横に並べられている多数の画素によって、画像を表示する。そのためには発光材料や正孔注入材料などを画素電極上に選択的に配し、各画素に独立した有機EL素子を形成する必要がある。その際、材料を各画素に均一に配し、均一に発光させる為、予め各画素を区画する隔壁を設ける手法が一般的に用いられている。   When manufacturing an image display device, an image is displayed by a large number of pixels arranged vertically and horizontally. For this purpose, it is necessary to selectively dispose a light emitting material, a hole injection material, or the like on the pixel electrode and form an independent organic EL element for each pixel. At that time, in order to uniformly distribute the material to each pixel and to uniformly emit light, a method of providing partition walls that partition each pixel in advance is generally used.

現在、上記隔壁構造の形状を工夫することで有機膜の膜厚分布等を改善する手法が盛んに検討されている。例えば、二段隔壁構造(特許文献1)(特許文献3)や逆テーパー構造(特許文献2)、工字型構造(特許文献3)などがある。これらは、陽極上に形成される正孔輸送層の膜厚が厚くなることで発生する膜厚分布による発光ムラを抑制することが目的である。   Currently, methods for improving the film thickness distribution of the organic film by devising the shape of the partition structure are being actively studied. For example, there are a two-stage partition structure (Patent Document 1) (Patent Document 3), a reverse taper structure (Patent Document 2), and a kanji structure (Patent Document 3). The purpose of these is to suppress light emission unevenness due to the film thickness distribution that occurs when the film thickness of the hole transport layer formed on the anode is increased.

特開2006−286309号公報JP 2006-286309 A 特開2007−95630号公報JP 2007-95630 A 特開2007−220656号公報JP 2007-220656 A 特開2008−243545号公報JP 2008-243545 A

しかしながら、膜厚制御を行った場合でも、導電率の高い正孔輸送層を用いた場合、発光現象に寄与しない電流(以下、リーク電流と称する)が隔壁方向に流れ、有機EL素子の性能が低下してしまうという懸念がある。そして、このような有機EL素子によって構成された画像表示装置において、互いに隣接する画素間にリーク電流が流れると、所望の表示を制御することが困難であるという問題がある。   However, even when the film thickness is controlled, when a hole transport layer having high conductivity is used, a current that does not contribute to the light emission phenomenon (hereinafter referred to as a leakage current) flows in the direction of the partition wall, and the performance of the organic EL element is reduced. There is concern that it will decline. And in an image display device constituted by such an organic EL element, there is a problem that it is difficult to control a desired display when a leak current flows between adjacent pixels.

このような問題に対し、特許文献4に記載のように、二段構造にした隔壁構造によって、正孔輸送層を物理的に断線させ、リーク電流を抑制する手法が検討されている。
しかし、この方法では、第1隔壁部の切り立ったエッジにより陰極も同時に断線してしまうおそれがあるという問題がある。断線を防ぐためには、その分陰極を厚く積層する必要があり、このことは、蒸着等の成膜プロセスによるダメージによる特性劣化や、タクトダウン、コストアップなどの原因となる。
In order to solve such a problem, as described in Patent Document 4, a technique for suppressing leakage current by physically disconnecting the hole transport layer by a partition structure having a two-stage structure has been studied.
However, this method has a problem that the cathode may be disconnected at the same time due to the sharp edge of the first partition wall. In order to prevent disconnection, it is necessary to stack the cathode thicker by that amount, which causes deterioration of characteristics due to damage caused by a film forming process such as vapor deposition, tact down, and cost increase.

本発明は、上記のような点に着目してなされたもので、画素を区画する隔壁の形状を工夫することで、リーク電流を抑制し、且つ有機膜上に形成する電極の断線を抑制することができる有機EL表示及びその製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made paying attention to the above points, and by devising the shape of the partition wall that partitions the pixel, the leakage current is suppressed and the disconnection of the electrode formed on the organic film is suppressed. An object of the present invention is to provide an organic EL display and a method for manufacturing the same.

上記の課題を解決するために、本発明のうち請求項1に記載の発明は、基板上に、正孔輸送層及び有機発光層を含む有機発光媒体層を挟んで、画素電極と対向電極とが対向配置して形成された有機EL素子であって、
上記基板上に、上記画素電極を区画し且つ絶縁性を有する隔壁を形成し、上記隔壁は、基板に近い方から、少なくとも第1隔壁部と、その上に形成された第2隔壁部との2つの層を有し、
上記第1隔壁部の壁面は、基板表面と成す角度が90度、若しくは90度未満の角度となっており、
上記第2隔壁部の基板側である底部の幅は、第1隔壁部上部の幅と同一若しくは略同一となっていることを特徴とするものである。
In order to solve the above-described problems, the invention according to claim 1 of the present invention includes a pixel electrode, a counter electrode, and an organic light-emitting medium layer including a hole transport layer and an organic light-emitting layer on a substrate. Is an organic EL element formed so as to face each other,
On the substrate, partition walls having an insulating property are formed to partition the pixel electrode, and the partition wall includes at least a first partition wall portion and a second partition wall portion formed on the partition wall from the side closer to the substrate. Has two layers,
The wall surface of the first partition wall has an angle of 90 degrees or less than 90 degrees with the substrate surface,
The width of the bottom portion on the substrate side of the second partition wall portion is the same as or substantially the same as the width of the upper portion of the first partition wall portion.

次に、請求項2に記載した発明は、請求項1に記載した構成に対し、上記第1隔壁部は、無機絶縁材料であることを特徴とするものである。
次に、請求項3に記載した発明は、請求項1又は請求項2に記載した構成に対し、 上記第1隔壁部の膜厚は、有機発光媒体層の総膜厚と等しいか当該有機発光媒体層の総膜厚よりも厚いことを特徴とするものである。
Next, the invention described in claim 2 is characterized in that, with respect to the configuration described in claim 1, the first partition wall portion is an inorganic insulating material.
Next, the invention described in claim 3 is the structure described in claim 1 or 2, wherein the film thickness of the first partition wall portion is equal to the total film thickness of the organic light emitting medium layer or the organic light emission. It is characterized by being thicker than the total film thickness of the medium layer.

次に、請求項4に記載した発明は、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載した構成に対し、上記画素電極が透明電極であり、
上記正孔輸送層は、有機発光層よりも画素電極側に配置されていることを特徴とするものである。
次に、請求項5に記載した発明は、請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載した構成に対し、上記対向電極が透明電極であり、
上記正孔輸送層は、有機発光層よりも画素電極側に配置されていることを特徴とするものである。
Next, in the invention described in claim 4, the pixel electrode is a transparent electrode with respect to the configuration described in any one of claims 1 to 3,
The hole transport layer is arranged closer to the pixel electrode than the organic light emitting layer.
Next, in the invention described in claim 5, the counter electrode is a transparent electrode with respect to the configuration described in any one of claims 1-4.
The hole transport layer is arranged closer to the pixel electrode than the organic light emitting layer.

次に、請求項6に記載した発明は、基板上に、正孔輸送層及び有機発光層を含む有機発光媒体層を挟んで、画素電極と対向電極とが対向配置して形成された有機EL素子の製造方法であって、
上記基板上に上記画素電極を区画する隔壁を形成する隔壁形成工程に備え、
上記隔壁形成工程は、第1隔壁部を形成する第1の工程と、その第1隔壁部上に第2隔壁部を形成する第2の工程とを備え、
上記第1隔壁部の壁面を、基板表面と成す角度が90度、若しくは90度未満の角度となるように形成し、
上記第2隔壁部の基板側である底部の幅を、第1隔壁部上部の幅と同一若しくは略同一となるように形成することを特徴とするものである。
Next, the invention described in claim 6 is an organic EL device in which a pixel electrode and a counter electrode are arranged to face each other on a substrate with an organic light emitting medium layer including a hole transport layer and an organic light emitting layer interposed therebetween. A method for manufacturing an element, comprising:
In preparation for a partition forming step of forming a partition for partitioning the pixel electrode on the substrate,
The partition wall forming step includes a first step of forming a first partition wall portion and a second step of forming a second partition wall portion on the first partition wall portion,
The wall surface of the first partition wall is formed so that the angle formed with the substrate surface is 90 degrees or less than 90 degrees,
The width of the bottom portion on the substrate side of the second partition wall portion is formed to be the same as or substantially the same as the width of the upper portion of the first partition wall portion.

次に、請求項7に記載した発明は、請求項6に記載した構成に対し、上記第1隔壁部は、無機絶縁材料からなることを特徴とするものである。
次に、請求項8に記載した発明は、請求項6又は請求項7に記載した構成に対し、 上記第1隔壁部の膜厚を、有機発光媒体層の総膜厚と等しいか当該有機発光媒体層の総膜厚よりも厚くなるように形成することを特徴とするものである。
Next, the invention described in claim 7 is characterized in that, in the configuration described in claim 6, the first partition wall portion is made of an inorganic insulating material.
Next, the invention described in claim 8 is directed to the configuration described in claim 6 or claim 7, wherein the film thickness of the first partition wall portion is equal to the total film thickness of the organic light emitting medium layer or the organic light emission. It is formed so as to be thicker than the total film thickness of the medium layer.

次に、請求項9に記載した発明は、請求項6〜請求項8のいずれか1項に記載した構成に対し、上記画素電極が透明電極であり、
上記正孔輸送層を、上記有機発光層よりも画素電極側に配置することを特徴とするものである。
次に、請求項10に記載した発明は、請求項6〜請求項8のいずれか1項に記載した構成に対し、上記対向電極が透明電極であり、
上記正孔輸送層を、上記有機発光層よりも画素電極側に配置することを特徴とするものである。
Next, in the invention described in claim 9, the pixel electrode is a transparent electrode with respect to the configuration described in any one of claims 6 to 8,
The hole transport layer is disposed closer to the pixel electrode than the organic light emitting layer.
Next, in the invention described in claim 10, the counter electrode is a transparent electrode with respect to the configuration described in any one of claims 6 to 8,
The hole transport layer is disposed closer to the pixel electrode than the organic light emitting layer.

本発明によれば、隔壁として、少なくとも第1隔壁部及び第1隔壁部上の第2隔壁部の2つの層を有し、第1隔壁部は、例えば基板に対して垂直か、または逆テーパー形状に設けられる。さらに、上記第2隔壁部は、第1隔壁部上部の幅に対し、第2隔壁部底部が同一幅に設けられる。この結果、有機発光媒体層上に形成する電極の断線及び、隔壁上へのリーク電流を防ぐことが可能になる。   According to the present invention, the partition has at least two layers of the first partition and the second partition on the first partition, and the first partition is, for example, perpendicular to the substrate or inversely tapered. Provided in the shape. Furthermore, the second partition wall portion is provided with the same width at the bottom of the second partition wall portion as compared with the width of the upper portion of the first partition wall portion. As a result, it is possible to prevent disconnection of electrodes formed on the organic light emitting medium layer and leakage current to the partition walls.

すなわち、第1隔壁部を基板上に対し垂直か、または逆テーパー形状に立ち上がるように形成することにより、電極上に成膜する正孔輸送層を、物理的に断線することができて、電極から隔壁上へのリーク電流を防ぐ。これによって、画素電極のみに電流が流れ、発光ムラを抑制することが可能となる。
また、第2隔壁部を第1隔壁部上部の幅に対し、第2隔壁部底部を同一幅に設けることにより、第1隔壁部の切り立ったエッジの影響を抑制し、電極の断線を防ぐことができ表示不良がなく、且つEL特性も良好なEL表示装置を作製することが可能になる。
That is, by forming the first partition wall so as to rise perpendicularly to the substrate or in an inversely tapered shape, the hole transport layer formed on the electrode can be physically disconnected, To prevent leakage current on the barrier ribs. As a result, a current flows only in the pixel electrode, and uneven light emission can be suppressed.
In addition, by providing the second partition wall portion with the same width as the upper portion of the first partition wall portion, the influence of the sharp edge of the first partition wall portion is suppressed and the disconnection of the electrode is prevented. Thus, an EL display device with no display failure and good EL characteristics can be manufactured.

特に、第1隔壁部の膜厚を、有機発光媒体層の総膜厚に対し同等以上に設けることによって、より確実に、有機発光媒体層上に形成する電極の断線及び、隔壁上へのリーク電流を防ぐことが可能になる。   In particular, by providing the first partition wall with a thickness equal to or greater than the total thickness of the organic light emitting medium layer, the disconnection of the electrode formed on the organic light emitting medium layer and the leakage onto the partition are more reliably performed. It becomes possible to prevent current.

本発明の実施形態に係る有機EL表示装置を示した断面模式図である。It is the cross-sectional schematic diagram which showed the organic electroluminescence display which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る断面図である。有機EL表示装置を示した断面模式図である。It is sectional drawing which concerns on embodiment of this invention. It is the cross-sectional schematic diagram which showed the organic electroluminescence display. 本発明の実施形態に係る凸版印刷装置の概略図である。1 is a schematic view of a relief printing apparatus according to an embodiment of the present invention.

以下、本発明の実施形態について図面を参照しつつ説明する。なお、以下の実施形態の説明において参照する図面は、本実施形態の構成を説明するためのものであり、図示される各部の大きさや厚さ、寸法の比率等については、そのまま実施の形態を表すものではない。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The drawings referred to in the following description of the embodiments are for explaining the configuration of the present embodiment, and the size, thickness, ratio of dimensions, etc. of the respective parts shown in the drawings are the same as those in the embodiment. It does not represent.

(有機EL表示装置)
まず。本発明に基づく有機EL素子を用いた有機EL表示装置について説明する。
図1は、本発明の実施形態を説明するための有機EL表示装置の断面図である。
(Organic EL display device)
First. An organic EL display device using the organic EL element according to the present invention will be described.
FIG. 1 is a cross-sectional view of an organic EL display device for explaining an embodiment of the present invention.

本実施形態の有機EL表示装置100は、基板101上に、正孔輸送層104及び有機発光層106を含む有機発光媒体層108を挟んで、画素電極102と対向電極107とが対向配置して形成されている。すなわち、有機EL表示装置100は、図1に示すように、基板101の上に、画素毎に具備された画素電極(陽極)102と、画素電極102の画素間を区画する隔壁103と、画素電極102の上に形成された正孔輸送層104と、この正孔輸送層104の上に形成されたインターレイヤ105と、インターレイヤ105の上に形成された有機発光層106と、有機発光層106上の全面を被覆するように形成された対向電極(陰極)107と、が形成されている。また、上記画素電極102、隔壁103、正孔輸送層104とインターレイヤ105と有機発光層106を含む発光媒体層108、及び対向電極107を覆うようにして、封止体109を備える。   In the organic EL display device 100 of the present embodiment, the pixel electrode 102 and the counter electrode 107 are arranged to face each other on the substrate 101 with the organic light emitting medium layer 108 including the hole transport layer 104 and the organic light emitting layer 106 interposed therebetween. Is formed. That is, as shown in FIG. 1, the organic EL display device 100 includes a pixel electrode (anode) 102 provided for each pixel on a substrate 101, a partition wall 103 that partitions the pixels of the pixel electrode 102, and a pixel A hole transport layer 104 formed on the electrode 102, an interlayer 105 formed on the hole transport layer 104, an organic light emitting layer 106 formed on the interlayer 105, and an organic light emitting layer A counter electrode (cathode) 107 formed so as to cover the entire surface of 106 is formed. Further, a sealing body 109 is provided so as to cover the pixel electrode 102, the partition wall 103, the hole transport layer 104, the interlayer 105, the light emitting medium layer 108 including the organic light emitting layer 106, and the counter electrode 107.

ここで発光媒体層108は、画素電極(陽極)102と対向電極(陰極)107との間に配置された層である。図1の素子では、正孔輸送層104とインターレイヤ105と有機発光層106が、発光媒体層108に相当する。これ以外にも、発光媒体層108として、正孔注入層、電子輸送層、電子注入層等の層を適宜加えても良い。   Here, the light emitting medium layer 108 is a layer disposed between the pixel electrode (anode) 102 and the counter electrode (cathode) 107. In the element of FIG. 1, the hole transport layer 104, the interlayer 105, and the organic light emitting layer 106 correspond to the light emitting medium layer 108. In addition, a layer such as a hole injection layer, an electron transport layer, or an electron injection layer may be added as the light emitting medium layer 108 as appropriate.

図2(a)及び図2(b)は、本実施形態における有機EL素子の積層部分の断面図である。
図2(a)はボトムエミッション型の有機EL素子の例である。この例では、基板101上に透明電極からなる画素電極102、正孔輸送層104、有機発光層106205、対向電極107の順で積層されている。この順番に積層されていれば、インターレイヤ105や、その他の層をそれぞれの間に介挿しても良い。ボトムエミッション型の場合には、対向電極107は光不透過性電極であり、対向電極107側に放出された光は、対向電極107で反射して光透過性電極である画素電極102側から外部へ出射する。
FIG. 2A and FIG. 2B are cross-sectional views of the stacked portion of the organic EL element in the present embodiment.
FIG. 2A shows an example of a bottom emission type organic EL element. In this example, a pixel electrode 102 made of a transparent electrode, a hole transport layer 104, an organic light emitting layer 106205, and a counter electrode 107 are laminated on a substrate 101 in this order. As long as the layers are stacked in this order, the inter layer 105 and other layers may be interposed between the layers. In the case of the bottom emission type, the counter electrode 107 is a light impermeable electrode, and the light emitted to the counter electrode 107 side is reflected by the counter electrode 107 and is externally transmitted from the pixel electrode 102 side which is a light transmissive electrode. To exit.

図2(b)はトップエミッション型の有機EL素子の例である。この例では、基板101上に反射層207、画素電極102、正孔輸送層104、インターレイヤ105、有機発光層106、透明電極からなる対向電極107の順で積層されている。この順番に積層されていれば、その他の層をそれぞれの間に介挿しても良い。ップエミッション型の場合には対向電極107は光透過性電極であり、画素電極102側に放出された光は、画素電極102を透過して反射層207で反射して対向電極107側から外部へ出射する。一方、対向電極107側に放出された光は、同じく対向電極107を透過して外部へ出射する。   FIG. 2B shows an example of a top emission type organic EL element. In this example, the reflective layer 207, the pixel electrode 102, the hole transport layer 104, the interlayer 105, the organic light emitting layer 106, and the counter electrode 107 made of a transparent electrode are stacked in this order on the substrate 101. Other layers may be interposed between the layers as long as they are laminated in this order. In the case of the p-emission type, the counter electrode 107 is a light-transmitting electrode, and light emitted to the pixel electrode 102 side is transmitted through the pixel electrode 102 and reflected by the reflective layer 207 to be emitted from the counter electrode 107 side to the outside. To do. On the other hand, the light emitted to the counter electrode 107 side is transmitted through the counter electrode 107 and emitted to the outside.

以降の説明では、ボトムエミッション型の有機EL素子を代表させて説明を行うが、対向電極107を透明導電膜としたトップエミッション型についても、同様に適用することが出来る。   In the following description, a bottom emission type organic EL element will be described as a representative, but the same applies to a top emission type in which the counter electrode 107 is a transparent conductive film.

(基板)
基板101の材料としては、例えば、ガラスや石英、ポリプロピレン、ポリエーテルサルフォン、ポリカーボネート、シクロオレフィンポリマー、ポリアリレート、ポリアミド、ポリメチルメタクリレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のプラスチックフィルムやシートを例示出来る。トップエミッション型の有機発光電界素子の場合には、これに加えて、上記のプラスチックフィルムやシートに酸化珪素、酸化アルミニウム等の金属酸化物や、弗化アルミニウム、弗化マグネシウム等の金属弗化物、窒化珪素、窒化アルミニウムなどの金属窒化物、酸窒化珪素などの金属酸窒化物、アクリル樹脂やエポキシ樹脂、シリコーン樹脂、ポリエステル樹脂などの高分子樹脂膜を単層もしくは積層させた光透過性基材や、アルミニウムやステンレスなどの金属箔、シート、板、プラスチックフィルムやシートにアルミニウム、銅、ニッケル、ステンレスなどの金属膜を積層させた光不透過性基材などを用いることができる。ただし、本発明はこれらに限定されるわけではない。
(substrate)
Examples of the material of the substrate 101 include plastic films and sheets such as glass, quartz, polypropylene, polyethersulfone, polycarbonate, cycloolefin polymer, polyarylate, polyamide, polymethyl methacrylate, polyethylene terephthalate, and polyethylene naphthalate. . In the case of a top emission type organic light emitting electric field element, in addition to this, metal oxides such as silicon oxide and aluminum oxide, metal fluorides such as aluminum fluoride and magnesium fluoride, etc. on the above plastic film and sheet, A light-transmitting substrate made of a single layer or a laminate of metal nitrides such as silicon nitride and aluminum nitride, metal oxynitrides such as silicon oxynitride, and polymer resin films such as acrylic resin, epoxy resin, silicone resin, and polyester resin Alternatively, a metal foil such as aluminum or stainless steel, a sheet, a plate, a light-impermeable base material in which a metal film such as aluminum, copper, nickel, or stainless steel is laminated on a plastic film or sheet can be used. However, the present invention is not limited to these.

有機EL表示装置100の光取り出しを行う面は、ボトムエミッション型では基板101と隣接する電極側から行えばよい。トップエミッション型では基板101と対向する電極側から行えばよい。
これらの材料からなる基板101は、有機EL表示装置100内への水分や酸素の浸入を避けるために、基板101の全面もしくは片面に無機膜の形成、樹脂の塗布などにより、防湿処理や疎水性処理を施してあることが好ましい。特に、発光媒体層108への水分の浸入を避けるために、基板101における含水率及びガス透過係数を小さくすることが好ましい。
The bottom surface of the organic EL display device 100 from which light is extracted may be formed from the electrode side adjacent to the substrate 101 in the bottom emission type. In the top emission type, it may be performed from the electrode side facing the substrate 101.
The substrate 101 made of these materials has a moisture-proofing or hydrophobic property by forming an inorganic film on the entire surface or one surface of the substrate 101, applying a resin, or the like in order to avoid intrusion of moisture or oxygen into the organic EL display device 100. It is preferable to have processed. In particular, in order to avoid the intrusion of moisture into the light emitting medium layer 108, it is preferable to reduce the moisture content and the gas permeability coefficient in the substrate 101.

(画素電極)
画素電極102は、基板101上に成膜し、必要に応じてパターニングを行う。画素電極102は、第1隔壁部103Aによって区画され、各画素に対応した画素電極102となる。
(Pixel electrode)
The pixel electrode 102 is formed on the substrate 101 and patterned as necessary. The pixel electrode 102 is partitioned by the first partition wall 103A and becomes the pixel electrode 102 corresponding to each pixel.

画素電極102の材料としては、ITO(インジウムスズ複合酸化物)やIZO(インジウム亜鉛複合酸化物)、AZO(亜鉛アルミニウム複合酸化物)などの金属複合酸化物や、金、白金などの金属材料を使用することが出来る。また、これら金属酸化物や金属材料の微粒子をエポキシ樹脂やアクリル樹脂などに分散した微粒子分散膜を、単層もしくは積層したものを使用することができる。ただし本発明はこれらに限定されるわけではない。   As the material of the pixel electrode 102, metal composite oxides such as ITO (indium tin composite oxide), IZO (indium zinc composite oxide), and AZO (zinc aluminum composite oxide), and metal materials such as gold and platinum are used. Can be used. In addition, a single layer or a laminate of fine particle dispersion films in which fine particles of these metal oxides or metal materials are dispersed in an epoxy resin or an acrylic resin can be used. However, the present invention is not limited to these.

画素電極102を陽極とする場合、ITOなど仕事関数の高い材料を選択することが好ましい。TFT駆動の有機EL表示装置において電極は低抵抗であればよく、シート抵抗で20Ω・sq以下であれば好適に用いることが可能となる。
画素電極102の形成方法としては、材料に応じて、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、反応性蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリング法などの乾式成膜法や、インクジェット印刷法、グラビア印刷法、スクリーン印刷法などの湿式成膜法など既存の成膜法を用いることができる。ただし、本発明はこれらに限定されるわけではない。
When the pixel electrode 102 is used as an anode, it is preferable to select a material having a high work function such as ITO. In the TFT-driven organic EL display device, the electrode only needs to have a low resistance, and a sheet resistance of 20 Ω · sq or less can be suitably used.
As a method for forming the pixel electrode 102, a dry film forming method such as a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a reactive vapor deposition method, an ion plating method, or a sputtering method, an ink jet printing method, or a gravure printing is used. An existing film formation method such as a wet film formation method such as a screen printing method or a screen printing method can be used. However, the present invention is not limited to these.

画素電極102のパターニング方法としては、材料や成膜方法に応じて、マスク蒸着法、フォトリソグラフィ法、ウェットエッチング法、ドライエッチング法などの既存のパターニング法を用いることができる。   As a patterning method of the pixel electrode 102, an existing patterning method such as a mask vapor deposition method, a photolithography method, a wet etching method, or a dry etching method can be used depending on a material or a film forming method.

トップエミッション型の場合、画素電極102の下部に反射層207(図2(b)を参照)を形成することが好ましい。反射層207の材料としては、高反射率かつ低抵抗であることが好ましく、Cr、Mo、Al、Ag、Ta、Cu、Ti、Niを一種以上含んだ単膜および積層膜、合金膜、上記材料を用いた膜にSiO、SiO2、TiO2等の保護膜を形成したものを用いることが出来る。反射率として可視光波長領域の全平均で80%以上あればよく、90%以上であれば好適に用いることが可能となる。発光媒体層108または画素電極102が光不透過性材料である場合はこの限りではない。 In the case of the top emission type, it is preferable to form a reflective layer 207 (see FIG. 2B) below the pixel electrode 102. The material of the reflective layer 207 is preferably high reflectivity and low resistance, single film and laminated film containing one or more of Cr, Mo, Al, Ag, Ta, Cu, Ti, Ni, alloy film, the above A film using a material and a protective film such as SiO, SiO 2 or TiO 2 can be used. The reflectance may be 80% or more as a total average in the visible light wavelength region, and if it is 90% or more, it can be suitably used. This is not the case when the light emitting medium layer 108 or the pixel electrode 102 is a light-impermeable material.

形成方法としては、材料に応じて、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、反応性蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリング法などの乾式成膜法や、インクジェット印刷法、グラビア印刷法、スクリーン印刷法などの湿式成膜法など既存の成膜法を用いることができる。ただし、本発明はこれらに限定されるわけではない。
反射層207のパターニング方法としては、材料や成膜方法に応じて、マスク蒸着法、フォトリソグラフィ法、ウェットエッチング法、ドライエッチング法などの既存のパターニング法を用いることができる。
As the forming method, depending on the material, dry film forming methods such as resistance heating evaporation method, electron beam evaporation method, reactive evaporation method, ion plating method, sputtering method, ink jet printing method, gravure printing method, screen printing, etc. An existing film formation method such as a wet film formation method such as a method can be used. However, the present invention is not limited to these.
As a patterning method for the reflective layer 207, an existing patterning method such as a mask vapor deposition method, a photolithography method, a wet etching method, or a dry etching method can be used depending on the material and the film forming method.

(隔壁)
実施形態に関わる隔壁103は、各画素に対応した発光領域を区画するように形成する。このとき、隔壁103は、画素電極102の端部を覆うように形成することが好ましい。一般的にアクティブ駆動型有機EL表示装置100は、各画素に対して画素電極102が形成され、それぞれの画素ができるだけ広い面積を占有しようとするため、画素電極102の端部を覆うように形成される。平面視における、隔壁103の最も好ましい形状は、各画素電極102を最短距離で区切る格子状を基本とする。
(Partition wall)
The partition wall 103 according to the embodiment is formed so as to partition a light emitting region corresponding to each pixel. At this time, the partition wall 103 is preferably formed so as to cover an end portion of the pixel electrode 102. In general, the active drive type organic EL display device 100 is formed so as to cover the end portion of the pixel electrode 102 because the pixel electrode 102 is formed for each pixel and each pixel tries to occupy as large an area as possible. Is done. The most preferable shape of the partition wall 103 in plan view is basically a lattice shape that divides the pixel electrodes 102 by the shortest distance.

隔壁103は、複数の画素の各々を仕切る仕切り部材として機能する。このため、ウェットコーティング法を用いるパターニングによって発光媒体層108を各画素に配置する場合、上記隔壁103によって、互いに隣接する画素間において混色を防ぐことが可能になる。   The partition wall 103 functions as a partition member that partitions each of the plurality of pixels. For this reason, when the light emitting medium layer 108 is disposed in each pixel by patterning using a wet coating method, the partition wall 103 can prevent color mixing between adjacent pixels.

本実施形態の隔壁103は、断面が逆テーパー形状を有する第1隔壁部103Aと、断面が順テーパー形状を有する第2隔壁部103Bとの2層構造で設けられる。これによって、後述のように表示領域全面に形成される発光媒体層108におけるリーク電流が低減される。   The partition wall 103 of this embodiment is provided with a two-layer structure of a first partition wall portion 103A having a reverse tapered shape in cross section and a second partition wall portion 103B having a forward tapered shape in cross section. As a result, the leakage current in the light emitting medium layer 108 formed on the entire display area as described later is reduced.

第1隔壁部103Aは、断面逆テーパー形状となっていることから、図1のように、第1隔壁部103Aの壁面は、基板101表面と成す角度が90度未満の角度となっている。すなわち、隣り合う第1隔壁部103Aの間の間隔は、基板101から離れるほど小さくなるように設定される。   Since the first partition wall portion 103A has an inversely tapered cross section, the wall surface of the first partition wall portion 103A is at an angle of less than 90 degrees with the surface of the substrate 101 as shown in FIG. That is, the interval between the adjacent first partition walls 103 </ b> A is set so as to decrease as the distance from the substrate 101 increases.

ここで、第1隔壁部103Aは、基板101に対して垂直に立ち上がっていても良い(垂直構造)。この場合には、第1隔壁部103Aの壁面は、基板101表面と成す角度が90度となり、隣り合う第1隔壁部103Aの間の間隔は、基板101から離れる方向に沿って等しい間隔となる。   Here, the first partition wall portion 103 </ b> A may rise vertically with respect to the substrate 101 (vertical structure). In this case, the angle between the wall surface of the first partition wall portion 103A and the surface of the substrate 101 is 90 degrees, and the interval between the adjacent first partition wall portions 103A is equal along the direction away from the substrate 101. .

また、上記第2隔壁部103Bの基板101側の底部の幅は、第1隔壁部103A上部の幅と等しくなるように設定されている。これによって、第1隔壁部103Aと第2隔壁部103Bとの間に段差が形成されない。そして、第2隔壁部103Bは、断面テーパー形状であることから、隣り合う第2隔壁部103Bの間の間隔は、基板101から離れるほど大きくなるように設定される。   The width of the bottom of the second partition 103B on the substrate 101 side is set to be equal to the width of the upper portion of the first partition 103A. Accordingly, no step is formed between the first partition wall portion 103A and the second partition wall portion 103B. And since the 2nd partition part 103B is a cross-sectional taper shape, the space | interval between adjacent 2nd partition part 103B is set so that it may become large, so that it leaves | separates from the board | substrate 101. FIG.

以上のように隔壁103として、少なくとも第1隔壁部103A及び第1隔壁部上の第2隔壁部103Bの2つの層を有し、第1隔壁部103Aは、例えば基板に対して垂直か、または逆テーパー形状に設けられる。さらに、上記第2隔壁部103Bは、第1隔壁部103A上部の幅に対し、第2隔壁部103B底部が同一幅に設けられる。この結果、有機発光媒体層上に形成する電極の断線及び、隔壁上へのリーク電流を防ぐことが可能になる。   As described above, the partition wall 103 includes at least two layers of the first partition wall portion 103A and the second partition wall portion 103B on the first partition wall portion. The first partition wall portion 103A is, for example, perpendicular to the substrate, or A reverse taper shape is provided. Furthermore, the second partition wall 103B is provided with the same width at the bottom of the second partition wall 103B with respect to the width of the upper part of the first partition wall 103A. As a result, it is possible to prevent disconnection of electrodes formed on the organic light emitting medium layer and leakage current to the partition walls.

すなわち、第1隔壁部103Aを基板上に対し垂直か、または逆テーパー形状に立ち上がるように形成することにより、電極上に成膜する正孔輸送層を、物理的に断線することができて、電極から隔壁上へのリーク電流を防ぐ。これによって、画素電極のみに電流が流れ、発光ムラを抑制することが可能となる。   That is, by forming the first partition wall portion 103A so as to rise perpendicularly to the substrate or in an inversely tapered shape, the hole transport layer formed on the electrode can be physically disconnected, Prevent leakage current from the electrode to the barrier rib. As a result, a current flows only in the pixel electrode, and uneven light emission can be suppressed.

また、第2隔壁部を第1隔壁部103A上部の幅に対し、第2隔壁部103B底部を同一幅に設けることにより、第1隔壁部103Aの切り立ったエッジの影響を抑制し、電極の断線を防ぐことができ表示不良がなく、且つEL特性も良好なEL表示装置を作製することが可能になる。   Further, by providing the second partition wall portion with the same width as the top of the first partition wall portion 103A and the bottom of the second partition wall portion 103B, the influence of the sharp edge of the first partition wall portion 103A is suppressed, and the electrode is disconnected. Thus, it is possible to manufacture an EL display device with no display failure and good EL characteristics.

特に、第1隔壁部103Aの膜厚を、有機発光媒体層の総膜厚に対し同等以上に設けることによって、より確実に、有機発光媒体層上に形成する電極の断線及び、隔壁上へのリーク電流を防ぐことが可能になる。   In particular, by providing the film thickness of the first partition 103A equal to or greater than the total film thickness of the organic light emitting medium layer, the disconnection of the electrode formed on the organic light emitting medium layer and the connection to the partition are more reliably performed. Leakage current can be prevented.

本実施形態の第1隔壁部103Aは、無機絶縁材料からなる。
第1隔壁部103Aを形成する無機絶縁材料は、スパッタリング法,プラズマCVD法,抵抗加熱蒸着法に代表されるドライコーティング法を用いて形成することが出来る。また、スピンコーター、バーコーター、ロールコーター、ダイコーター、グラビアコーター等の公知の塗布方法を用いて無機絶縁材料が含有されたインキを塗布したのち、大気乾燥、加熱乾燥などの焼成工程で溶剤を除去し無機絶縁膜としても良い。
The first partition 103A of the present embodiment is made of an inorganic insulating material.
The inorganic insulating material that forms the first partition 103A can be formed by a dry coating method typified by a sputtering method, a plasma CVD method, or a resistance heating vapor deposition method. In addition, after applying the ink containing the inorganic insulating material using a known coating method such as a spin coater, bar coater, roll coater, die coater, gravure coater, etc., the solvent is removed in a baking process such as air drying or heat drying. The inorganic insulating film may be removed.

次に、無機絶縁膜上に感光性樹脂を塗工し、露光,現像を行いパターン形成する。感光性樹脂としては、ポジ型レジスト又はネガ型レジストのどちらも用いられる。市販されているレジストを用いてもよい。パターンを形成する工程としては、フォトリソグラフィ法を用いて所定のパターンを得る方法が挙げられる。なお、本発明においては、上記の方法に限定されず、他の方法が用いられてもよい。必要に応じて、無機絶縁膜上にプラズマ照射又はUV照射等の表面処理を施してもよい。   Next, a photosensitive resin is applied on the inorganic insulating film, and exposure and development are performed to form a pattern. As the photosensitive resin, either a positive type resist or a negative type resist is used. A commercially available resist may be used. Examples of the step of forming a pattern include a method of obtaining a predetermined pattern using a photolithography method. In the present invention, the present invention is not limited to the above method, and other methods may be used. If necessary, surface treatment such as plasma irradiation or UV irradiation may be performed on the inorganic insulating film.

第1隔壁部103Aを構成する逆テーパー構造及び、垂直構造を形成するには、反応性イオンビームエッチング,反応性ガスエッチング,反応性イオンエッチングなどに代表されるドライエッチング法を用いることができる。また、腐食溶解する性質を持つ液体の薬品を使ったウェットエッチング法も用いることができる。   In order to form the reverse tapered structure and the vertical structure constituting the first partition wall 103A, a dry etching method represented by reactive ion beam etching, reactive gas etching, reactive ion etching, or the like can be used. In addition, a wet etching method using a liquid chemical having a property of being dissolved by corrosion can be used.

第1隔壁部103Aの好ましい膜厚は、絶縁性を確保するために、50nm以上1000nm以下が好ましい。また、対向電極107(陰極)107の断線を抑制させるために、有機発光媒体層108の高さと同程度であることが好ましく、さらに第1隔壁部103Aの膜厚を有機発光媒体層の膜厚に対し、同等以上にすることで好適に用いることができる。   A preferable film thickness of the first partition wall 103A is preferably 50 nm or more and 1000 nm or less in order to ensure insulation. Further, in order to suppress disconnection of the counter electrode 107 (cathode) 107, it is preferable that the height is the same as the height of the organic light emitting medium layer 108, and the film thickness of the first partition wall portion 103A is set to the film thickness of the organic light emitting medium layer. On the other hand, it can use suitably by making it equivalent or more.

第2隔壁部103Bの材料としては、絶縁性を有する必要があり、感光性材料等を用いることができる。感光性材料としては、ポジ型であってもネガ型であってもよく、光ラジカル重合系、光カチオン重合系の光硬化性樹脂、あるいはアクリロニトリル成分を含有する共重合体、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール、ノボラック樹脂、ポリイミド樹脂、およびシアノエチルプルラン等を用いることができる。また、隔壁103形成材料として、SiO2、TiO2等を用いることもできる。   The material of the second partition wall portion 103B needs to have insulating properties, and a photosensitive material or the like can be used. The photosensitive material may be a positive type or a negative type, a photo-curing resin of a photo radical polymerization system, a photo cationic polymerization system, or a copolymer containing an acrylonitrile component, polyvinyl phenol, polyvinyl alcohol. , Novolac resin, polyimide resin, cyanoethyl pullulan, and the like can be used. In addition, as a material for forming the partition wall 103, SiO2, TiO2, or the like can be used.

第2隔壁部103Bの好ましい高さは0.1μm以上30μm以下であり、より好ましくは0.5μm以上2μm以下程度である。30μmより高すぎると対向電極107(陰極)107の形成及び封止を妨げ、0.1μmより低すぎると画素電極102の端部を覆い切れない、あるいは発光媒体層108形成時に隣接する画素とショートしたり混色したりしてしまうからである。   The preferred height of the second partition wall 103B is not less than 0.1 μm and not more than 30 μm, and more preferably not less than 0.5 μm and not more than 2 μm. If it is higher than 30 μm, the formation and sealing of the counter electrode 107 (cathode) 107 is hindered, and if it is lower than 0.1 μm, the end of the pixel electrode 102 cannot be covered, or a short circuit with an adjacent pixel when the light emitting medium layer 108 is formed This is because they will mix and color.

第2隔壁部103Bの形成方法としては、材料に応じて、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、反応性蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリング法などの乾式成膜法や、インクジェット印刷法、グラビア印刷法、スクリーン印刷法などの湿式成膜法など既存の成膜法を用いることができる。ただし本発明はこれらに限定されるわけではない。   As a method for forming the second partition wall 103B, depending on the material, a dry film forming method such as a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a reactive vapor deposition method, an ion plating method, a sputtering method, an ink jet printing method, Existing film forming methods such as a wet film forming method such as a gravure printing method and a screen printing method can be used. However, the present invention is not limited to these.

第2隔壁部103Bのパターニング方法としては、材料や成膜方法に応じて、基体(基板101及び画素電極102)上に無機膜を一様に形成し、レジストでマスキングした後、ドライエッチングを行う方法や、基体上に感光性樹脂を塗工し、フォトリソグラフィ法により所定のパターンとする方法が挙げられる。フォトリソグラフィ法は、第2隔壁部103Bの底部幅を、第1隔壁部103A上部の幅と同等に形成することが可能となるため好適に用いることが可能となる。なお、本発明はこれらに限定されるわけではなく、第2隔壁部103Bの底部幅を、第1隔壁部103A上部の幅と同等に形成できれば、他の方法をもちいてもかまわない。   As a patterning method for the second partition wall 103B, an inorganic film is uniformly formed on the substrate (the substrate 101 and the pixel electrode 102) according to the material and the film forming method, masked with a resist, and then dry-etched. Examples thereof include a method and a method in which a photosensitive resin is applied on a substrate and a predetermined pattern is formed by a photolithography method. The photolithography method can be preferably used because the bottom width of the second partition wall portion 103B can be formed to be equal to the width of the upper portion of the first partition wall portion 103A. The present invention is not limited to these, and other methods may be used as long as the bottom width of the second partition wall portion 103B can be formed to be equal to the width of the upper portion of the first partition wall portion 103A.

また、必要に応じてレジスト及び感光性樹脂に撥水剤を添加したり、親水性材料と疎水性材料の多層構造にしたり、プラズマやUVを照射したりして形成後に次の成膜材料に対する撥水性または親水性を付与することもできる。   If necessary, add a water repellent to the resist and the photosensitive resin, make a multilayer structure of hydrophilic and hydrophobic materials, or irradiate with plasma or UV to form the next film-forming material. Water repellency or hydrophilicity can also be imparted.

(正孔注入層、正孔輸送層)
次に、正孔注入層は、透明電極(陽極)から正孔を注入する機能を有する層であり、正孔輸送層104は、発光層に正孔を輸送する機能を有する層である。これらの層は、正孔注入機能と正孔輸送機能とを共に有する場合がある。この場合、これらの機能の程度に応じてどちらか一方の名称で、或いは両方の名称で機能層が称されている。本実施形態においては、正孔輸送層104と称されている層は、正孔注入層も含む。
(Hole injection layer, hole transport layer)
Next, the hole injection layer is a layer having a function of injecting holes from the transparent electrode (anode), and the hole transport layer 104 is a layer having a function of transporting holes to the light emitting layer. These layers may have both a hole injection function and a hole transport function. In this case, the functional layer is referred to by either one name or both names depending on the degree of these functions. In the present embodiment, the layer called the hole transport layer 104 also includes a hole injection layer.

正孔輸送層104の物性値としては、画素電極102101の仕事関数と同等以上の仕事関数を有することが好ましい。これは画素電極102からインターレイヤ105へ効率的に正孔注入を行うためである。画素電極102101の材料により異なるが4.5eV以上6.5eV以下を用いることができ、画素電極102101がITOやIZOの場合、5.0eV以上6.0eV以下が好適に用いることが可能である。正孔輸送層104の比抵抗に関しては、膜厚30nm以上の状態で、1×103〜2×106Ω・mであることが好ましく、より好ましくは5×103〜1×106Ω・mである。また、ボトムエミッション構造では画素電極102側から放出光を取り出すため、光透過性が低いと取り出し効率が低下してしまうため、可視光波長領域の全平均で75%以上が好ましく、85%以上ならば好適に用いることが可能である。 The physical property value of the hole transport layer 104 preferably has a work function equal to or higher than that of the pixel electrode 102101. This is because holes are efficiently injected from the pixel electrode 102 to the interlayer 105. Although it varies depending on the material of the pixel electrode 102101, 4.5 eV or more and 6.5 eV or less can be used. When the pixel electrode 102101 is ITO or IZO, 5.0 eV or more and 6.0 eV or less can be suitably used. The specific resistance of the hole transport layer 104 is preferably 1 × 10 3 to 2 × 10 6 Ω · m, more preferably 5 × 10 3 to 1 × 10 6 Ω, with a film thickness of 30 nm or more. -M. Further, in the bottom emission structure, emitted light is extracted from the pixel electrode 102 side. If the light transmittance is low, the extraction efficiency decreases. Therefore, the total average in the visible light wavelength region is preferably 75% or more, and if it is 85% or more. It can be preferably used.

正孔輸送層104を構成する材料としては、例えば、ポリアニリン、ポリチオフェン、ポリビニルカルバゾール、ポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン)とポリスチレンスルホン酸との混合物等の高分子材料を用いることができる。この他にも、導電率が10-2S/cm以上10-6S/cm以下である導電性高分子を好ましく用いることができる。高分子材料は、湿式法による成膜工程に使用可能である。このため、正孔注入層又は正孔輸送層104を形成する際に高分子材料を用いることが好ましい。このような高分子材料は、水又は溶剤によって分散或いは溶解され、分散液又は溶液として使用される。 As a material constituting the hole transport layer 104, for example, a polymer material such as polyaniline, polythiophene, polyvinyl carbazole, a mixture of poly (3,4-ethylenedioxythiophene) and polystyrenesulfonic acid can be used. In addition, a conductive polymer having a conductivity of 10 −2 S / cm or more and 10 −6 S / cm or less can be preferably used. The polymer material can be used in a film forming process by a wet method. Therefore, it is preferable to use a polymer material when forming the hole injection layer or the hole transport layer 104. Such a polymer material is dispersed or dissolved in water or a solvent and used as a dispersion or solution.

また、正孔輸送材料として無機材料を用いる場合、Cu2O、Cr23、Mn23、FeOx(x〜0.1),NiO、CoO、Bi23、SnO2、ThO2、Nb25、Pr23、Ag2O、MoO2、ZnO、TiO2、V25、Nb25、Ta25、MoO3、WO3、MnO2等を用いることができる。 When an inorganic material is used as the hole transport material, Cu 2 O, Cr 2 O 3 , Mn 2 O 3 , FeOx (x to 0.1), NiO, CoO, Bi 2 O 3 , SnO 2 , ThO 2 Nb 2 O 5 , Pr 2 O 3 , Ag 2 O, MoO 2 , ZnO, TiO 2 , V 2 O 5 , Nb 2 O 5 , Ta 2 O 5 , MoO 3 , WO 3 , MnO 2, etc. Can do.

正孔輸送層104を形成する方法としては、基板101上の表示領域全面にスピンコート法,ダイコート法,ディッピング法,又はスリットコート法等の簡便な方法で一括形成する方法が採用される。正孔輸送層104を形成する際には、上記正孔輸送材料が水、有機溶剤、或いはこれらの混合溶剤に溶解されたインキ(液体材料)が用いられる。有機溶剤としては、トルエン、キシレン、アニソール、メシチレン、テトラリン、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール、酢酸エチル、酢酸ブチル等が使用できる。また、インキには、界面活性剤、酸化防止剤、粘度調整剤、紫外線吸収剤等を添加してもよい。正孔輸送層104が無機材料である場合には抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、反応性蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリング法等のドライプロセスを用いて形成することができる。   As a method of forming the hole transport layer 104, a method of forming the hole transport layer 104 on the entire display region on the substrate 101 by a simple method such as a spin coating method, a die coating method, a dipping method, or a slit coating method is employed. In forming the hole transport layer 104, ink (liquid material) in which the hole transport material is dissolved in water, an organic solvent, or a mixed solvent thereof is used. As the organic solvent, toluene, xylene, anisole, mesitylene, tetralin, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, methanol, ethanol, isopropyl alcohol, ethyl acetate, butyl acetate and the like can be used. In addition, surfactants, antioxidants, viscosity modifiers, ultraviolet absorbers and the like may be added to the ink. When the hole transport layer 104 is an inorganic material, it can be formed using a dry process such as a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a reactive vapor deposition method, an ion plating method, or a sputtering method.

(インターレイヤ)
上記インターレイヤ105は、有機発光層106と正孔輸送層104の間に積層することで、素子の発光寿命を向上させる機能を有する。トップエミッション型の素子構造では、正孔輸送層104を形成後に積層することができる。通常は正孔輸送層104を被覆するように形成するが、必要に応じてパターニングを行っても良い。
(Interlayer)
The interlayer 105 has a function of improving the light emission lifetime of the device by being laminated between the organic light emitting layer 106 and the hole transport layer 104. In the top emission type element structure, the hole transport layer 104 can be stacked after being formed. Usually, the hole transport layer 104 is formed so as to cover it, but patterning may be performed as necessary.

インターレイヤ105の材料としては、有機材料ではポリビニルカルバゾール若しくはその誘導体、側鎖若しくは主鎖に芳香族アミンを有するポリアリーレン誘導体、アリールアミン誘導体、トリフェニルジアミン誘導体などの、芳香族アミンを含むポリマーなどが挙げられる。また無機材料では、Cu2O、Cr23、Mn23、NiO、CoO、Pr23、Ag2O、MoO2、ZnO、TiO2、V25、Nb25、Ta25、MoO3、WO3、MnO2等の遷移金属酸化物およびこれらの窒化物、硫化物を一種以上含んだ無機化合物が挙げられる。ただし、本発明はこれらに限定されるわけではない。 Examples of the material of the interlayer 105 include polyvinyl carbazole or derivatives thereof, polyarylene derivatives having an aromatic amine in the side chain or main chain, polymers containing aromatic amines such as arylamine derivatives and triphenyldiamine derivatives, etc. Is mentioned. In the inorganic materials, Cu 2 O, Cr 2 O 3, Mn 2 O 3, NiO, CoO, Pr 2 O 3, Ag 2 O, MoO 2, ZnO, TiO 2, V 2 O 5, Nb 2 O 5, Examples thereof include transition metal oxides such as Ta 2 O 5 , MoO 3 , WO 3 and MnO 2 , and inorganic compounds containing one or more of these nitrides and sulfides. However, the present invention is not limited to these.

これらの有機材料は、溶媒に溶解または安定に分散させ有機インターレイヤのインキとなる。有機インターレイヤ材料を溶解または分散する溶媒としては、トルエン、キシレン、アセトン、アニソール、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノンなどの単独またはこれらの混合溶媒が上げられる。中でもトルエン、キシレン、アニソールといった芳香族有機溶媒が有機インターレイヤ材料の溶解性の面から好適である。また、有機インターレイヤインキには必要に応じて、界面活性剤、酸化防止剤、粘度調整剤、紫外線吸収剤等が添加されてもよい。   These organic materials are dissolved or stably dispersed in a solvent to form an organic interlayer ink. Examples of the solvent for dissolving or dispersing the organic interlayer material include toluene, xylene, acetone, anisole, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone alone or a mixed solvent thereof. Of these, aromatic organic solvents such as toluene, xylene, and anisole are preferable from the viewpoint of solubility of the organic interlayer material. Moreover, surfactant, antioxidant, a viscosity modifier, a ultraviolet absorber, etc. may be added to organic interlayer ink as needed.

これらインターレイヤ材料としては、正孔輸送層104よりも仕事関数が同等以上の材料を選択することが好ましく、更に有機発光層106よりも仕事関数が同等以下であることがより好ましい。これは正孔輸送層104から有機発光層106へのキャリア注入時に不必要な注入障壁を形成しないためである。また有機発光層106から発光に寄与できなかった電荷を閉じ込める効果を得るため、バンドギャップが3.0eV以上であることが好ましく、より好ましくは3.5eV以上であると好適に用いることが出来る。   As these interlayer materials, it is preferable to select a material having a work function equal to or higher than that of the hole transport layer 104, and more preferable to have a work function equal to or lower than that of the organic light emitting layer 106. This is because an unnecessary injection barrier is not formed when carriers are injected from the hole transport layer 104 into the organic light emitting layer 106. Further, in order to obtain an effect of confining charges that could not contribute to light emission from the organic light emitting layer 106, the band gap is preferably 3.0 eV or more, and more preferably 3.5 eV or more.

インターレイヤ105の形成法としては、材料に応じて、インクジェット印刷法、凸版印刷法、グラビア印刷法、スクリーン印刷法などの湿式成膜法など既存の成膜法を用いることができる。   As a method for forming the interlayer 105, an existing film formation method such as a wet film formation method such as an ink jet printing method, a relief printing method, a gravure printing method, or a screen printing method can be used depending on the material.

ここで、凸版印刷法は、例えば図3に示す凸版印刷装置300を使用すればよい。図3中、符号301はステージを、符号302は被印刷基板を、符号303はインキタンクを、符号304はインキチャンバを、符号305はアニロックスロールを、符号306はドクタを、符号307は凸版を、符号308は版胴を、符号309はインキ層をそれぞれ示す。   Here, the relief printing method may use, for example, a relief printing apparatus 300 shown in FIG. In FIG. 3, reference numeral 301 denotes a stage, reference numeral 302 denotes a substrate to be printed, reference numeral 303 denotes an ink tank, reference numeral 304 denotes an ink chamber, reference numeral 305 denotes an anilox roll, reference numeral 306 denotes a doctor, reference numeral 307 denotes a letterpress. , 308 indicates a plate cylinder, and 309 indicates an ink layer.

(有機発光層106)
上記有機発光層106は、トップエミッション型の素子の場合、インターレイヤ105の形成後に積層することが出来る。有機発光層106から放出される表示光が単色の場合、インターレイヤ105を被覆するように形成するが、多色の表示光を得るには必要に応じてパターニングを行うことにより好適に用いることができる。
(Organic light emitting layer 106)
In the case of a top emission type element, the organic light emitting layer 106 can be laminated after the formation of the interlayer 105. When the display light emitted from the organic light emitting layer 106 is monochromatic, it is formed so as to cover the interlayer 105. However, in order to obtain multicolor display light, it is preferably used by performing patterning as necessary. it can.

有機発光層106を形成する有機発光材料は、例えばクマリン系、ペリレン系、ピラン系、アンスロン系、ポルフィレン系、キナクリドン系、N,N’−ジアルキル置換キナクリドン系、ナフタルイミド系、N,N’−ジアリール置換ピロロピロール系、イリジウム錯体系などの発光性色素をポリスチレン、ポリメチルメタクリレート、ポリビニルカルバゾール等の高分子中に分散させたものや、ポリアリーレン系、ポリアリーレンビニレン系やポリフルオレン系の高分子材料が挙げられる。ただし、本発明はこれらに限定されるわけではない。   Examples of the organic light-emitting material forming the organic light-emitting layer 106 include coumarin-based, perylene-based, pyran-based, anthrone-based, porphyrin-based, quinacridone-based, N, N′-dialkyl-substituted quinacridone-based, naphthalimide-based, N, N′-. Diaryl-substituted pyrrolopyrrole, iridium complex, and other luminescent dyes dispersed in polymers such as polystyrene, polymethyl methacrylate, polyvinylcarbazole, and polyarylene, polyarylene vinylene, and polyfluorene polymers Materials. However, the present invention is not limited to these.

これらの有機発光材料は、溶媒に溶解または安定に分散させ有機発光インキとなる。有機発光材料を溶解または分散する溶媒としては、トルエン、キシレン、アセトン、アニソール、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノンなどの単独またはこれらの混合溶媒が挙げられる。中でもトルエン、キシレン、アニソールといった芳香族有機溶媒が、有機発光材料の溶解性の面から好適である。また、有機発光インキには必要に応じて、界面活性剤、酸化防止剤、粘度調整剤、紫外線吸収剤等が添加されてもよい。   These organic light emitting materials are dissolved or stably dispersed in a solvent to form an organic light emitting ink. Examples of the solvent for dissolving or dispersing the organic light-emitting material include toluene, xylene, acetone, anisole, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, or a mixed solvent thereof. Among them, aromatic organic solvents such as toluene, xylene, and anisole are preferable from the viewpoint of solubility of the organic light emitting material. Moreover, surfactant, antioxidant, a viscosity modifier, a ultraviolet absorber, etc. may be added to organic luminescent ink as needed.

上述した高分子材料に加え、9,10−ジアリールアントラセン誘導体、ピレン、コロネン、ペリレン、ルブレン、1,1,4,4−テトラフェニルブタジエン、トリス(8−キノラート)アルミニウム錯体、トリス(4−メチル−8−キノラート)アルミニウム錯体、ビス(8−キノラート)亜鉛錯体、トリス(4−メチル−5−トリフルオロメチル−8−キノラート)アルミニウム錯体、トリス(4−メチル−5−シアノ−8−キノラート)アルミニウム錯体、ビス(2−メチル−5−トリフルオロメチル−8−キノリノラート)[4−(4−シアノフェニル)フェノラート]アルミニウム錯体、ビス(2−メチル−5−シアノー8−キノリノラート)[4−(4−シアノフェニル)フェノラート]アルミニウム錯体、トリス(8−キノリノラート)スカンジウム錯体、ビス[8−(パラ−トシル)アミノキノリン]亜鉛錯体及びカドミウム錯体、1,2,3,4−テトラフェニルシクロペンタジエン、ポリ−2,5−ジヘプチルオキシ−パラ−フェニレンビニレンなどの低分子系発光材料が使用できる。   In addition to the polymer materials described above, 9,10-diarylanthracene derivatives, pyrene, coronene, perylene, rubrene, 1,1,4,4-tetraphenylbutadiene, tris (8-quinolato) aluminum complex, tris (4-methyl) -8-quinolate) aluminum complex, bis (8-quinolate) zinc complex, tris (4-methyl-5-trifluoromethyl-8-quinolate) aluminum complex, tris (4-methyl-5-cyano-8-quinolate) Aluminum complex, bis (2-methyl-5-trifluoromethyl-8-quinolinolato) [4- (4-cyanophenyl) phenolate] aluminum complex, bis (2-methyl-5-cyano-8-quinolinolato) [4- ( 4-cyanophenyl) phenolate] aluminum complex, tris (8-quino) Norato) scandium complex, bis [8- (para-tosyl) aminoquinoline] zinc complex and cadmium complex, 1,2,3,4-tetraphenylcyclopentadiene, poly-2,5-diheptyloxy-para-phenylene vinylene A low molecular weight light emitting material such as can be used.

有機発光層106の形成法としては、材料に応じて、インクジェット印刷法、凸版印刷法、グラビア印刷法、スクリーン印刷法などの湿式成膜法など既存の成膜法を用いることができる。   As a method for forming the organic light emitting layer 106, an existing film formation method such as a wet film formation method such as an ink jet printing method, a relief printing method, a gravure printing method, or a screen printing method can be used depending on the material.

(対向電極)
次に、有機発光層106上に上記対向電極107を形成する。
対向電極107の材料には、例えばMg、Al、Yb等の金属単体を用いたり、発光媒体層108と接する界面にLiや酸化Li、LiF等の化合物を1nm程度挟んで、安定性・導電性の高いAlやCuを積層して用いたりしてもよい。または電子注入効率と安定性とを両立させるため、仕事関数が低いLi、Mg、Ca、Sr、La、Ce、Er、Eu、Sc、Y、Yb等の金属1種以上と、安定なAg、Al、Cu等の金属元素との合金系を用いてもよい。具体的にはMgAg、AlLi、CuLi等の合金を使用することができる。またITO(インジウムスズ複合酸化物)やIZO(インジウム亜鉛複合酸化物)、AZO(亜鉛アルミニウム複合酸化物)などの金属複合酸化物等の透明導電膜を用いることができる。
(Counter electrode)
Next, the counter electrode 107 is formed on the organic light emitting layer 106.
For the material of the counter electrode 107, for example, a single metal such as Mg, Al, or Yb is used, or a compound such as Li, oxidized Li, or LiF is sandwiched by about 1 nm at the interface in contact with the light emitting medium layer 108. High Al or Cu may be laminated and used. Alternatively, in order to achieve both electron injection efficiency and stability, one or more metals such as Li, Mg, Ca, Sr, La, Ce, Er, Eu, Sc, Y, and Yb having a low work function and stable Ag, An alloy system with a metal element such as Al or Cu may be used. Specifically, alloys such as MgAg, AlLi, and CuLi can be used. A transparent conductive film such as a metal composite oxide such as ITO (indium tin composite oxide), IZO (indium zinc composite oxide), or AZO (zinc aluminum composite oxide) can be used.

トップエミッション構造におけるこれらの対向電極107は、発光媒体層108から放出される表示光を透過されるため、可視光波長領域に対して光透過性が必要である。Mg、Al、Yb等の金属単体では20nm以下であることが好ましく、更には2nm以上7nm以下の範囲内であることがより好ましい。透明導電膜においては可視光波長領域の平均光透過性として85%以上を保つように膜厚を調節し好適に用いることができる。   Since these counter electrodes 107 in the top emission structure transmit the display light emitted from the light emitting medium layer 108, the counter electrodes 107 need to have a light transmission property in the visible light wavelength region. In the case of simple metals such as Mg, Al, and Yb, the thickness is preferably 20 nm or less, and more preferably in the range of 2 nm to 7 nm. The transparent conductive film can be suitably used by adjusting the film thickness so that the average light transmittance in the visible light wavelength region is maintained at 85% or more.

対向電極107の形成法としては、材料に応じて、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、反応性蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリング法などの乾式成膜法や、インクジェット印刷法、グラビア印刷法、スクリーン印刷法などの湿式成膜法など既存の成膜法を用いることができるが本発明ではこれらに限定されるわけではない。   As a method of forming the counter electrode 107, depending on the material, a dry film forming method such as a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a reactive vapor deposition method, an ion plating method, a sputtering method, an ink jet printing method, or a gravure printing method. However, in the present invention, the present invention is not limited to these.

(封止体)
封止体109は、例えば画素電極102、隔壁103、発光媒体層108、対向電極107が形成された基板101に対して、その周辺部について封止体109と基板101を接着させることにより封止が行われる。この際、トップエミッション構造では発光媒体層108から基板101側と反対側の封止体109108を通して放射される表示光を取り出すため、可視光波長領域に対して光透過性が必要となる。光透過性として可視光波長領域の平均光透過性として85%以上であることが好ましい
また、封止体109は、例えば画素電極102、隔壁103、発光媒体層108、対向電極107が形成された基板101に対して、封止材110上に樹脂層111を設け、該樹脂層111により封止材110と基板101を貼りあわせることにより行うことも可能である(図1参照)。
(Sealed body)
For example, the sealing body 109 is sealed by bonding the sealing body 109 and the substrate 101 to the periphery of the substrate 101 on which the pixel electrode 102, the partition wall 103, the light emitting medium layer 108, and the counter electrode 107 are formed. Is done. At this time, in the top emission structure, display light radiated from the light emitting medium layer 108 through the sealing body 109108 opposite to the substrate 101 side is extracted, so that light transmittance is required for the visible light wavelength region. The light transmittance is preferably 85% or more as the average light transmittance in the visible light wavelength region. In addition, the sealing body 109 is formed with, for example, the pixel electrode 102, the partition wall 103, the light emitting medium layer 108, and the counter electrode 107. Alternatively, the resin layer 111 may be provided over the sealing material 110 over the substrate 101, and the sealing material 110 and the substrate 101 may be bonded to each other with the resin layer 111 (see FIG. 1).

このとき封止材110の材料として、水分や酸素の光透過性が低い基材である必要がある。また、材料の一例として、アルミナ、窒化ケイ素、窒化ホウ素等のセラミックス、無アルカリガラス、アルカリガラス等のガラス、石英、耐湿性フィルムなどを挙げることができる。耐湿性フィルムの例として、プラスチック基材の両面にSiOxをCVD法で形成したフィルムや、光透過性の小さいフィルムと吸水性のあるフィルムまたは吸水剤を塗布した重合体フィルムなどがあり、耐湿性フィルムの水蒸気光透過性は、10E-6g/m2/day以下であることが好ましい。 At this time, the material of the sealing material 110 needs to be a base material having low light transmittance of moisture and oxygen. Examples of the material include ceramics such as alumina, silicon nitride, and boron nitride, glass such as alkali-free glass and alkali glass, quartz, and moisture resistant film. Examples of moisture-resistant films include films formed by CVD of SiOx on both sides of a plastic substrate, films with low light transmission and water-absorbing films, or polymer films coated with a water-absorbing agent. The water vapor light permeability of the film is preferably 10E −6 g / m 2 / day or less.

樹脂層111としては、エポキシ系樹脂、アクリル系樹脂、シリコーン樹脂などからなる光硬化型接着性樹脂、熱硬化型接着性樹脂、2液硬化型接着性樹脂や、エチレンエチルアクリレート(EEA)ポリマー等のアクリル系樹脂、エチレンビニルアセテート(EVA)等のビニル系樹脂、ポリアミド、合成ゴム等の熱可塑性樹脂や、ポリエチレンやポリプロピレンの酸変性物などの熱可塑性接着性樹脂を挙げることができる。樹脂層111110を封止材110の上に形成する方法の一例として、溶剤溶液法、押出ラミ法、溶融・ホットメルト法、カレンダー法、ノズル塗布法、スクリーン印刷法、真空ラミネート法、熱ロールラミネート法などを挙げることができる。必要に応じて吸湿性や吸酸素性を有する材料を含有させることもできる。封止材110上に形成する樹脂層111の厚みは、封止する有機EL素子の大きさや形状により任意に決定されるが、5μm〜500μm程度が望ましい。   Examples of the resin layer 111 include a photo-curing adhesive resin made of an epoxy resin, an acrylic resin, a silicone resin, a thermosetting adhesive resin, a two-component curable adhesive resin, an ethylene ethyl acrylate (EEA) polymer, and the like. Acrylic resins, vinyl resins such as ethylene vinyl acetate (EVA), thermoplastic resins such as polyamide and synthetic rubber, and thermoplastic adhesive resins such as acid-modified products of polyethylene and polypropylene. Examples of the method for forming the resin layer 111110 on the sealing material 110 include a solvent solution method, an extrusion lamination method, a melting / hot melt method, a calendar method, a nozzle coating method, a screen printing method, a vacuum laminating method, and a hot roll laminating. Law. A material having a hygroscopic property or an oxygen absorbing property may be contained as necessary. The thickness of the resin layer 111 formed on the sealing material 110 is arbitrarily determined depending on the size and shape of the organic EL element to be sealed, but is preferably about 5 μm to 500 μm.

画素電極102、隔壁103、発光媒体層108、対向電極107が形成された基板101と封止体109との貼り合わせは、封止室で行われる。封止体109を、封止材110と樹脂層111の2層構造とし、樹脂層111に熱可塑性樹脂を使用した場合は、加熱したロールで圧着のみ行うことが好ましい。熱硬化型接着樹脂を使用した場合は、加熱したロールで圧着した後、さらに硬化温度で加熱硬化を行うことが好ましい。光硬化性接着樹脂を使用した場合は、ロールで圧着した後、さらに光を照射することで硬化を行うことができる。なお、ここでは封止材110上に樹脂層111を形成したが、基板101上に樹脂層111を形成して封止材110と貼りあわせることも可能である。   The substrate 101 on which the pixel electrode 102, the partition wall 103, the light emitting medium layer 108, and the counter electrode 107 are formed is bonded to the sealing body 109 in a sealing chamber. In the case where the sealing body 109 has a two-layer structure of the sealing material 110 and the resin layer 111 and a thermoplastic resin is used for the resin layer 111, it is preferable to perform only pressure bonding with a heated roll. When a thermosetting adhesive resin is used, it is preferable to perform heat curing at a curing temperature after pressure bonding with a heated roll. In the case where a photocurable adhesive resin is used, curing can be performed by further irradiating light after pressure bonding with a roll. Note that although the resin layer 111 is formed over the sealing material 110 here, the resin layer 111 may be formed over the substrate 101 and bonded to the sealing material 110.

封止材110209を用いて封止を行う前や当該封止材110の代わりに、例えばパッシベーション膜として、EB蒸着法やCVD法などのドライプロセスを用いて、窒化珪素膜など無機薄膜を形成して、封止体109とすることも可能であり、また、これらを組み合わせることも可能である。パシベーション膜の膜厚は、100nm以上500nm以下の範囲とすれば良く、材料の透湿性、水蒸気光透過性などにより異なるが150nm以上300nm以下が好適に用いることができる。トップエミッション型の構造では、上記の特性に加え、光透過性の考慮する必要があり、可視光波長領域の全平均で70%以上であれば好適に用いることが可能である。   An inorganic thin film such as a silicon nitride film is formed using a dry process such as an EB vapor deposition method or a CVD method, for example, as a passivation film instead of the sealing material 110209 or in place of the sealing material 110. Thus, the sealing body 109 can be used, or these can be combined. The thickness of the passivation film may be in the range of 100 nm to 500 nm and varies depending on the moisture permeability of the material, water vapor light permeability, and the like, but a thickness of 150 nm to 300 nm can be preferably used. In the top emission type structure, it is necessary to consider light transmittance in addition to the above characteristics, and it can be suitably used as long as it is 70% or more in the total average in the visible light wavelength region.

なお、本発明の技術範囲は、上記実施形態に限定されることなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。   The technical scope of the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

次に、上述した実施形態に基づき、有機EL表示装置の実施例について説明する。なお、本発明は、下記の実施例によって制限されない。   Next, examples of the organic EL display device will be described based on the above-described embodiment. In addition, this invention is not restrict | limited by the following Example.

[実施例]
まず、対角5インチのガラス基板を準備した。このガラス基板上に、スパッタ法を用いてITO(インジウム―酸化錫)薄膜を50nmの膜厚で形成し、フォトリソグラフィ法によりパターニングを行った。これによって、複数のラインパターンを有する画素電極102を作製した。この複数のラインパターンにおいて、30μmピッチで136μm幅の320本のラインが形成されている。次に、この基板101をアセトン、純水、ブラシ洗浄、超音波洗浄などの従来のウェットプロセスによる洗浄を行い、U V オゾン処理により洗浄を行なった。
[Example]
First, a 5 inch diagonal glass substrate was prepared. On this glass substrate, an ITO (indium-tin oxide) thin film having a thickness of 50 nm was formed by sputtering, and patterning was performed by photolithography. Thus, the pixel electrode 102 having a plurality of line patterns was produced. In the plurality of line patterns, 320 lines with a pitch of 30 μm and a width of 136 μm are formed. Next, this substrate 101 was cleaned by a conventional wet process such as acetone, pure water, brush cleaning, ultrasonic cleaning, etc., and then cleaned by U V ozone treatment.

次に、第1隔壁部103Aを以下のように形成した。表示領域の全面が成膜されるように、CVD法を用いてSiNを成膜した。CVD法においては、純度99.9999のSiH4,NH3,H2ガスを用いた。チャンバー内で基板101はホットプレートにより加熱を行い、基板101表面が130℃になるように調節を行い、プラズマ電力を1.5kWで200秒間成膜して600nmの膜厚を得た。この時、真空度は150PaとなるようにSiH4,NH3,H2を1:2:10の比率で供給した。形成されたSiN膜は、ITOと基板101表面の段差により凹凸となっている為、表面研磨を行い基板101面から200nmまで平坦化処理を行った。 Next, the first partition wall 103A was formed as follows. SiN was deposited using the CVD method so that the entire display area was deposited. In the CVD method, SiH 4 , NH 3 , H 2 gas having a purity of 99.9999 was used. In the chamber, the substrate 101 was heated by a hot plate, adjusted so that the surface of the substrate 101 was 130 ° C., and formed into a film with a plasma power of 1.5 kW for 200 seconds to obtain a film thickness of 600 nm. At this time, SiH 4 , NH 3 , and H 2 were supplied at a ratio of 1: 2: 10 so that the degree of vacuum was 150 Pa. Since the formed SiN film was uneven due to the step between the ITO and the surface of the substrate 101, the surface was polished and planarized from the surface of the substrate 101 to 200 nm.

次に第1隔壁部103A上にボジ型感光性レジスト(日本ゼオン製,ZEP520A)を全面にスピンコートした。スピンコート条件として、4000rpmで50秒間回転させた後、ホットプレートにより180℃で5分間ベーキングを行い薄膜とした。レジスト膜形成後に、第1隔壁部103Aとなる部分のみを残して露光、現像、洗浄を行いレジストパターンを形成した。   Next, a body type photosensitive resist (manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd., ZEP520A) was spin coated on the first partition wall 103A. As spin coating conditions, the film was rotated at 4000 rpm for 50 seconds, and then baked on a hot plate at 180 ° C. for 5 minutes to form a thin film. After the resist film was formed, the resist pattern was formed by performing exposure, development, and washing, leaving only the portion to be the first partition wall 103A.

レジストパターン形成後、反応性イオンエッチングにより第1隔壁部103Aの逆テーパー形状を形成する。反応性ガスはフッ素と酸素を用い、フッ素ガスおよび酸素ガスの混合ガスをチャンバー内に導入した。各流量を調整し、フッ素ガスの流量を100sccmとし、酸素ガスの流量を400sccmとし、チャンバー内の圧力が10Paになるように調節を行った。また、高周波電源ら13.56MHzの高周波電力700Wを印加した。隔壁103部以外の窒化シリコン膜がドライエッチングにより除去され、基板101からのテーパー角度が150度となり、上部が30μm、底部が27μmの逆テーパー形状の第1隔壁部103Aが形成された。ドライエッチングの後、レジストの剥離を行った。   After the resist pattern is formed, the reverse tapered shape of the first partition wall 103A is formed by reactive ion etching. As the reactive gas, fluorine and oxygen were used, and a mixed gas of fluorine gas and oxygen gas was introduced into the chamber. Each flow rate was adjusted, the flow rate of fluorine gas was 100 sccm, the flow rate of oxygen gas was 400 sccm, and the pressure in the chamber was adjusted to 10 Pa. Moreover, high frequency power 700W of 13.56 MHz was applied from the high frequency power supply. The silicon nitride film other than the partition wall 103 was removed by dry etching, and the taper angle from the substrate 101 was 150 degrees, and the first partition wall 103A having a reverse taper shape with an upper portion of 30 μm and a bottom portion of 27 μm was formed. After dry etching, the resist was peeled off.

次に、第2隔壁部103Bを以下のように形成した。第1隔壁部103Aを覆うように、基板101全面にポジ型感光性ポリイミド(東レ社製フォトニース,DL−1000)をスピンコートした。スピンコートの条件として、ガラス基板を110rpmで5秒間回転させた後に、ガラス基板を400rpmで20秒間回転させた。ポジ型感光性ポリイミドの膜厚は1.5μmである。第1隔壁部103A上のみ隠されたフォトマスクを準備し、フォトリソグラフィ法を用いて基板101の全面に塗布された感光性材料の第1隔壁部103A部以外をi線ステッパーにより180mJ/cm2露光した。露光した後現像を行い、オーブンを用いて、230℃で30分の条件で焼成し第1隔壁部103A上に第2隔壁部103Bを得た。こうして形成された第2隔壁部103Bは、第1隔壁部103A上部からのテーパー角度が50度となり、底部が上記第1隔壁部103Aの上部に対し同一幅の30μm、上部が15μmとなった。次に、ITOの表面処理として、紫外線照射を行った。 Next, the second partition 103B was formed as follows. A positive photosensitive polyimide (Photo Nice, DL-1000 manufactured by Toray Industries Inc.) was spin coated on the entire surface of the substrate 101 so as to cover the first partition wall 103A. As conditions for spin coating, the glass substrate was rotated at 110 rpm for 5 seconds, and then the glass substrate was rotated at 400 rpm for 20 seconds. The film thickness of the positive photosensitive polyimide is 1.5 μm. A photomask hidden only on the first partition wall portion 103A is prepared, and a portion other than the first partition wall portion 103A portion of the photosensitive material applied to the entire surface of the substrate 101 by using a photolithography method is 180 mJ / cm 2 using an i-line stepper. Exposed. After the exposure, development was performed, and baking was performed at 230 ° C. for 30 minutes using an oven to obtain a second partition wall portion 103B on the first partition wall portion 103A. The second partition wall portion 103B thus formed had a taper angle of 50 degrees from the top of the first partition wall portion 103A, the bottom was 30 μm and the top was 15 μm, which was the same width as the top of the first partition wall 103A. Next, ultraviolet irradiation was performed as a surface treatment of ITO.

次に、正孔輸送層104を形成した。正孔輸送層104を構成する無機材料として酸化モリブデンを用いた。表示領域の全面が成膜されるように、スパッタリング法を用いて無機材料を50nm成膜した。スパッタリング法おいては、純度99.9%のモリブデン金属ターゲットを用い、DCマグネトロンスパッタ法を用いて酸化モリブデンを基板101上に成膜した。ターゲットの電力密度は、1.3W/cm2である。チャンバ内に供給される混合ガスの比率としては、アルゴンが2であるのに対して、酸素が1である。スパッタリング時の真空度が0.5Paとなるように、チャンバに設けられた排気バルブを調整し、チャンバに供給されるガスの量を調節した。酸化モリブデンの膜厚は、スパッタリング時間を調整することにより、制御した。パターニング工程においては、120mm×300mmの開口を有するメタルマスクを用いた。 Next, the hole transport layer 104 was formed. Molybdenum oxide was used as an inorganic material constituting the hole transport layer 104. An inorganic material was deposited to a thickness of 50 nm using a sputtering method so that the entire surface of the display region was deposited. In the sputtering method, a molybdenum metal target having a purity of 99.9% was used, and a molybdenum oxide film was formed on the substrate 101 by a DC magnetron sputtering method. The power density of the target is 1.3 W / cm 2 . The ratio of the mixed gas supplied into the chamber is 2 for argon and 1 for oxygen. The exhaust valve provided in the chamber was adjusted so that the degree of vacuum during sputtering was 0.5 Pa, and the amount of gas supplied to the chamber was adjusted. The film thickness of molybdenum oxide was controlled by adjusting the sputtering time. In the patterning process, a metal mask having an opening of 120 mm × 300 mm was used.

この時、隔壁103上に形成された酸化モリブデンの膜は、第1隔壁部103Aの逆テーパー形状によって分断された。   At this time, the molybdenum oxide film formed on the partition wall 103 was divided by the inverse tapered shape of the first partition wall portion 103A.

次に、インターレイヤ105の材料であるポリビニルカルバゾール誘導体を濃度0.5%になるようにトルエンに溶解させたインキを用い、隔壁103に挟まれた正孔輸送層104の真上にインターレイヤ105を、画素電極102のラインパターンに一致するように、凸版印刷法で印刷を行った。印刷、乾燥後のインターレイヤ105の膜厚は20nmとなった。   Next, an ink in which a polyvinyl carbazole derivative, which is a material of the interlayer 105, is dissolved in toluene so as to have a concentration of 0.5% is used, and the interlayer 105 is directly above the hole transport layer 104 sandwiched between the partition walls 103. Was printed by a relief printing method so as to match the line pattern of the pixel electrode 102. The film thickness of the interlayer 105 after printing and drying was 20 nm.

次に、有機発光材料として、ポリフェニレンビニレン誘導体を採用し、この材料の濃度が1%になるように、この材料がトルエンに溶解された有機発光インキを準備した。このインキを用いて、隔壁103に挟まれた画素電極102上に、画素電極102のラインパターンに一致するように、凸版印刷法を用いて発光層106を印刷した。印刷工程の後に乾燥された発光層の膜厚は、80nmであり、正孔輸送層104、インターレイヤ105、発光層の合計膜厚が第1隔壁部103Aの高さと同等になるように成膜した。
次に、発光層上にカルシウム膜と、アルミニウム膜からなる陰極層(対向電極107)をメタルマスクを用いてラインパターン状に形成した。具体的には、陰極層のラインパターンと画素電極102のラインパターンとが直交するように、抵抗加熱蒸着法を用い、膜厚は100nmとなった。
Next, a polyphenylene vinylene derivative was employed as the organic light emitting material, and an organic light emitting ink in which this material was dissolved in toluene was prepared so that the concentration of this material was 1%. Using this ink, the light emitting layer 106 was printed on the pixel electrode 102 sandwiched between the partition walls 103 by using a relief printing method so as to match the line pattern of the pixel electrode 102. The film thickness of the light emitting layer dried after the printing step is 80 nm, and the film is formed so that the total film thickness of the hole transport layer 104, the interlayer 105, and the light emitting layer is equal to the height of the first partition wall portion 103A. did.
Next, a calcium film and a cathode layer (counter electrode 107) made of an aluminum film were formed on the light emitting layer in a line pattern using a metal mask. Specifically, the resistance heating vapor deposition method was used so that the line pattern of the cathode layer and the line pattern of the pixel electrode 102 were orthogonal, and the film thickness was 100 nm.

その後、封止体109として陰極の上部を覆うように厚めのガラス中央部を凹状に加工したガラスを用いて封止を行った。ガラスの凹部には吸湿剤を設置し、封止環境による劣化を低減させた。   Thereafter, sealing was performed using a glass in which a thick glass central portion was processed into a concave shape so as to cover the upper portion of the cathode as the sealing body 109. A hygroscopic agent was installed in the concave portion of the glass to reduce deterioration due to the sealing environment.

このように得られた有機ELディスプレイパネルの表示部の周辺部においては、画素電極102毎に接続されている陽極側の取り出し電極と、陰極層に接続されている陰極側の取り出し電極とが設けられている。これら取り出し電極を電源に接続し、有機EL表示素子を点灯かつ表示させ、点灯状態及び表示状態を確認した。   In the peripheral portion of the display portion of the organic EL display panel obtained in this way, an anode-side extraction electrode connected to each pixel electrode 102 and a cathode-side extraction electrode connected to the cathode layer are provided. It has been. These extraction electrodes were connected to a power source, the organic EL display element was turned on and displayed, and the lighting state and the display state were confirmed.

得られた有機EL表示素子を駆動し、表示確認を行ったところ、7Vの駆動電圧で、600cd/cm2の輝度が得られ、リーク電流によるクロストークは見られず、発光状態は良好であった。 When the obtained organic EL display element was driven and display was confirmed, a luminance of 600 cd / cm 2 was obtained at a driving voltage of 7 V, no crosstalk due to leakage current was observed, and the light emission state was good. It was.

[比較例1]
まず、上記実施例と同一の方法で、画素電極102を形成した。
次に、第1隔壁部を形成せずに、基板前面にポジ型感光ポリイミド(東レ社製フォトニース、DL−1000)をスピンコートした。スピンコートの条件として、ガラス基板を110rpmで5秒間回転させた跡に、ガラス基板を300rpmで20秒間回転させた。ポジ型感光性ポリイミドの膜厚は1.8μmである。実施形態と同一の方法で、露光、現像、焼成を行い、第2隔壁部103Bを形成した。こうして形成された隔壁は、基板とのテーパー角度が45度となり、頭頂部が15μm、底部が35μmとなった。
[Comparative Example 1]
First, the pixel electrode 102 was formed by the same method as in the above embodiment.
Next, positive type photosensitive polyimide (Photo Nice, DL-1000 manufactured by Toray Industries, Inc.) was spin coated on the front surface of the substrate without forming the first partition wall. As conditions for spin coating, the glass substrate was rotated at 300 rpm for 20 seconds after the glass substrate was rotated at 110 rpm for 5 seconds. The film thickness of the positive photosensitive polyimide is 1.8 μm. Exposure, development, and baking were performed by the same method as in the embodiment to form the second partition wall 103B. The partition wall formed in this manner had a taper angle of 45 degrees with the substrate, the top of the head was 15 μm, and the bottom was 35 μm.

次に、上記実施形態と同様に、ITOの表面処理,正孔輸送層,発光層,及び陰極層を形成した。このように得られた有機EL表示素子を駆動したところ、7Vの駆動電圧で250cd/cm2の輝度が得られ、リーク電流によるクロストークが発生していた。 Next, as in the above embodiment, an ITO surface treatment, a hole transport layer, a light emitting layer, and a cathode layer were formed. When the organic EL display device thus obtained was driven, a luminance of 250 cd / cm 2 was obtained with a driving voltage of 7 V, and crosstalk due to leakage current occurred.

比較例1の評価結果から、隔壁に第1隔壁部の逆テーパー形状が含まれていないため、リーク電流が発生し、クロストーク又は発光輝度の低下が生じた。上記実施例においては、第1隔壁部の逆テーパー形状によって正孔輸送層が分断されるため、リーク電流が低減又は抑制され、クロストークを生じることがなく、発光輝度の高い有機EL表示素子が得られた。   From the evaluation result of the comparative example 1, since the reverse taper shape of the 1st partition part was not contained in the partition, the leakage current generate | occur | produced and the crosstalk or the fall of the light emission luminance occurred. In the above embodiment, since the hole transport layer is divided by the inverse tapered shape of the first partition wall portion, the leakage current is reduced or suppressed, crosstalk is not generated, and an organic EL display element with high emission luminance is obtained. Obtained.

[比較例2]
上記実施例と同一の方法で作製し、但し、第1隔壁部の表面研磨を行う段階で、段差を基板面から400nmとし、また、第2隔壁部103Bを第1隔壁部上部の幅に対し、第2隔壁部底部を5nmほど狭くし、正孔輸送層、インターレイヤ、発光層の合計膜厚が第1隔壁部の高さに対し、200nm低い状態とした。
[Comparative Example 2]
Produced by the same method as in the above embodiment, except that the step is 400 nm from the substrate surface in the stage of polishing the surface of the first partition wall, and the second partition wall 103B is set to the width of the upper part of the first partition wall. The bottom of the second partition wall portion was narrowed by about 5 nm, and the total film thickness of the hole transport layer, the interlayer, and the light emitting layer was 200 nm lower than the height of the first partition wall portion.

次に、上記実施例と同様に、ITOの表面処理,正孔輸送層,発光層,及び陰極層を形成した。このように得られた有機EL表示素子を駆動したところ、数箇所で非発光画素が確認された。   Next, as in the above example, an ITO surface treatment, a hole transport layer, a light emitting layer, and a cathode layer were formed. When the organic EL display device thus obtained was driven, non-light emitting pixels were confirmed in several places.

比較例2の評価結果から、第1隔壁部の切り立ったエッジの影響により、陰極の断線が発生したため、表示不良となった。上記実施例においては、第2隔壁部を第1隔壁部上部の幅に対し、第2隔壁部底部を同一幅に設けること、及び、上記第1隔壁部の膜厚を有機発光媒体層の総膜厚に対し、同等以上に設けることにより、第1隔壁部の切り立ったエッジの影響を抑制し、電極の断線を防ぐことができ表示不良がなく、且つEL特性も良好なEL表示装置を得られた。   From the evaluation result of Comparative Example 2, the cathode was disconnected due to the sharp edge of the first partition wall, resulting in a display failure. In the above embodiment, the second partition wall portion has the same width as the top of the first partition wall portion, and the bottom of the second partition wall portion has the same width, and the thickness of the first partition wall portion is the total thickness of the organic light emitting medium layer. By providing the film thickness equal to or greater than the film thickness, it is possible to suppress the influence of the sharp edges of the first partition wall, prevent disconnection of the electrodes, and obtain an EL display device having no display failure and good EL characteristics. It was.

[比較例3]
上記比較例2と同一の方法で作製し、但し、陰極層の膜厚を断線を防ぐために、100nmから300nmと厚膜とした。このように得られた有機EL表示素子を駆動したところ、7Vの駆動電圧で150cd/cm2の輝度が得られ、非発光画素はなかったものの、実施例と比較し、100cd/cm2ほど低い輝度が得られた。
[Comparative Example 3]
It was produced by the same method as in Comparative Example 2 except that the thickness of the cathode layer was 100 to 300 nm in order to prevent disconnection. When the organic EL display element thus obtained was driven, a luminance of 150 cd / cm 2 was obtained at a driving voltage of 7 V, and there was no non-light emitting pixel, but it was about 100 cd / cm 2 lower than that of the example. Brightness was obtained.

比較例3の評価結果から、断線を防ぐために、陰極を厚く積層する必要があり、抵抗加熱蒸着時の熱履歴のダメージによる特性劣化のため、輝度が低下した。上記実施例においては、第2隔壁部を第1隔壁部上部の幅に対し、第2隔壁部底部を同一幅に設けること、及び、上記第1隔壁部の膜厚を有機発光媒体層の総膜厚に対し、同等以上に設けることにより、第1隔壁部の切り立ったエッジの影響を抑制できるため、陰極を厚く積層する必要がなく、且つEL特性も良好なEL表示装置を得られた。   From the evaluation results of Comparative Example 3, it was necessary to laminate the cathode thickly in order to prevent disconnection, and the luminance was lowered due to characteristic deterioration due to thermal history damage during resistance heating vapor deposition. In the above embodiment, the second partition wall portion has the same width as the top of the first partition wall portion, and the bottom of the second partition wall portion has the same width, and the thickness of the first partition wall portion is the total thickness of the organic light emitting medium layer. Since the influence of the sharp edge of the first partition wall portion can be suppressed by providing the film thickness equal to or greater than the film thickness, it is not necessary to laminate the cathode thickly, and an EL display device with favorable EL characteristics can be obtained.

本発明は、リーク電流を低減又は抑制することのでき、且つEL特性も良好な有機EL表示装置及びその製造方法に有用である。また、本発明は、リーク電流を低減させ、素子特性を向上させた有機EL素子,画像表示装置,及び画像表示装置の製造方法に有用である。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is useful for an organic EL display device that can reduce or suppress leakage current and that has good EL characteristics, and a method for manufacturing the same. In addition, the present invention is useful for an organic EL element, an image display apparatus, and an image display apparatus manufacturing method in which leakage current is reduced and element characteristics are improved.

100 有機EL表示装置
101 基板
102 画素電極
103 隔壁
103A 第1隔壁部
103B 第2隔壁部
104 正孔輸送層
105 インターレイヤ
106 有機発光層
107 対向電極
108 有機発光媒体層
109 封止体
110 封止材
111 樹脂層
207 反射層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Organic EL display device 101 Substrate 102 Pixel electrode 103 Partition 103A First partition part 103B Second partition part 104 Hole transport layer 105 Inter layer 106 Organic light emitting layer 107 Counter electrode 108 Organic light emitting medium layer 109 Sealing body 110 Sealing material 111 Resin layer 207 Reflective layer

Claims (10)

基板上に、正孔輸送層及び有機発光層を含む有機発光媒体層を挟んで、画素電極と対向電極とが対向配置して形成された有機EL素子であって、
上記基板上に、上記画素電極を区画し且つ絶縁性を有する隔壁を形成し、上記隔壁は、基板に近い方から、少なくとも第1隔壁部と、その上に形成された第2隔壁部との2つの層を有し、
上記第1隔壁部の壁面は、基板表面と成す角度が90度、若しくは90度未満の角度となっており、
上記第2隔壁部の基板側である底部の幅は、第1隔壁部上部の幅と同一若しくは略同一となっていることを特徴とする有機EL素子。
An organic EL element formed by placing a pixel electrode and a counter electrode facing each other on a substrate with an organic light emitting medium layer including a hole transport layer and an organic light emitting layer interposed therebetween,
On the substrate, partition walls having an insulating property are formed to partition the pixel electrode, and the partition wall includes at least a first partition wall portion and a second partition wall portion formed on the partition wall from the side closer to the substrate. Has two layers,
The wall surface of the first partition wall has an angle of 90 degrees or less than 90 degrees with the substrate surface,
An organic EL element, wherein a width of a bottom portion on the substrate side of the second partition wall portion is the same as or substantially the same as a width of an upper portion of the first partition wall portion.
上記第1隔壁部は、無機絶縁材料であることを特徴とする請求項1に記載した有機EL素子。   The organic EL element according to claim 1, wherein the first partition wall portion is an inorganic insulating material. 上記第1隔壁部の膜厚は、有機発光媒体層の総膜厚と等しいか当該有機発光媒体層の総膜厚よりも厚いことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載した有機EL素子。   3. The organic EL according to claim 1, wherein a thickness of the first partition wall portion is equal to or greater than a total thickness of the organic light emitting medium layer. element. 上記画素電極が透明電極であり、
上記正孔輸送層は、有機発光層よりも画素電極側に配置されていることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載した有機EL素子。
The pixel electrode is a transparent electrode;
The organic EL element according to claim 1, wherein the hole transport layer is disposed closer to the pixel electrode than the organic light emitting layer.
上記対向電極が透明電極であり、
上記正孔輸送層は、有機発光層よりも画素電極側に配置されていることを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載した有機EL素子。
The counter electrode is a transparent electrode;
The organic EL element according to claim 1, wherein the hole transport layer is disposed closer to the pixel electrode than the organic light emitting layer.
基板上に、正孔輸送層及び有機発光層を含む有機発光媒体層を挟んで、画素電極と対向電極とが対向配置して形成された有機EL素子の製造方法であって、
上記基板上に上記画素電極を区画する隔壁を形成する隔壁形成工程に備え、
上記隔壁形成工程は、第1隔壁部を形成する第1の工程と、その第1隔壁部上に第2隔壁部を形成する第2の工程とを備え、
上記第1隔壁部の壁面を、基板表面と成す角度が90度、若しくは90度未満の角度となるように形成し、
上記第2隔壁部の基板側である底部の幅を、第1隔壁部上部の幅と同一若しくは略同一となるように形成することを特徴とする有機EL素子の製造方法。
A method for producing an organic EL device, wherein a pixel electrode and a counter electrode are arranged opposite to each other on a substrate with an organic light emitting medium layer including a hole transport layer and an organic light emitting layer interposed therebetween,
In preparation for a partition forming step of forming a partition for partitioning the pixel electrode on the substrate,
The partition wall forming step includes a first step of forming a first partition wall portion and a second step of forming a second partition wall portion on the first partition wall portion,
The wall surface of the first partition wall is formed so that the angle formed with the substrate surface is 90 degrees or less than 90 degrees,
A method of manufacturing an organic EL element, wherein the width of the bottom portion on the substrate side of the second partition wall portion is formed to be the same as or substantially the same as the width of the upper portion of the first partition wall portion.
上記第1隔壁部は、無機絶縁材料からなることを特徴とする請求項6に記載した有機EL素子の製造方法。   The method of manufacturing an organic EL element according to claim 6, wherein the first partition wall portion is made of an inorganic insulating material. 上記第1隔壁部の膜厚を、有機発光媒体層の総膜厚と等しいか当該有機発光媒体層の総膜厚よりも厚くなるように形成することを特徴とする請求項6又は請求項7に記載した有機EL素子の製造方法。   The film thickness of the said 1st partition part is formed so that it may become equal to the total film thickness of an organic light emitting medium layer, or it may become thicker than the total film thickness of the said organic light emitting medium layer. The manufacturing method of the organic EL element described in 2. 上記画素電極が透明電極であり、
上記正孔輸送層を、上記有機発光層よりも画素電極側に配置することを特徴とする請求項6〜請求項8のいずれか1項に記載した有機EL素子。
The pixel electrode is a transparent electrode;
The organic EL device according to any one of claims 6 to 8, wherein the hole transport layer is disposed closer to the pixel electrode than the organic light emitting layer.
上記対向電極が透明電極であり、
上記正孔輸送層を、上記有機発光層よりも画素電極側に配置することを特徴とする請求項6〜請求項8のいずれか1項に記載した有機EL素子。
The counter electrode is a transparent electrode;
The organic EL device according to any one of claims 6 to 8, wherein the hole transport layer is disposed closer to the pixel electrode than the organic light emitting layer.
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