JP2011205247A - Method for manufacturing package, method for manufacturing piezoelectric vibrator, oscillator, electronic equipment and radiowave clock - Google Patents

Method for manufacturing package, method for manufacturing piezoelectric vibrator, oscillator, electronic equipment and radiowave clock Download PDF

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陽一 船曳
Satoshi Numata
理志 沼田
Shuichi Fujimoto
修一 藤本
Takashi Ezoe
岳志 江副
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a package, capable of efficiently manufacturing the package.SOLUTION: The method for manufacturing the package includes a through electrode formation step of forming a through electrode which penetrates a first substrate 40 in the thickness direction to conduct the inside of a cavity and the outside of a package, wherein the through electrode formation step includes: a through hole formation step of forming through holes 30, 31 on the first substrate 40; a stud arrangement step of inserting a core material part 7 of a conductive stud 9 having a planar foundation part 8, and a core material part 7 erected on the surface of the foundation part 8 into the through holes 30, 31. The core material part 7 is inserted into the through holes 30, 31 by forming the through holes 30, 31 in the inverse-tapered shape whose diameter is gradually extended from the side of a first surface 40a of the first substrate 40 toward the side of a second surface 40b opposite to the first surface 40a in the through hole formation step, and attracting the stud 9 from the side of the second surface 40b through the through holes 30, 31 while moving the stud 9 on the first surface 40a by turning the first surface 40a of the first substrate 40 upward in the stud arrangement step.

Description

本発明は、パッケージの製造方法、圧電振動子の製造方法、発振器、電子機器および電波時計に関する。   The present invention relates to a package manufacturing method, a piezoelectric vibrator manufacturing method, an oscillator, an electronic device, and a radio timepiece.

近年、携帯電話や携帯情報端末機器には、時刻源や制御信号等のタイミング源、リファレンス信号源等として水晶等を利用した圧電振動子が用いられている。この種の圧電振動子は、様々なものが知られているが、その1つとして、表面実装型の圧電振動子が知られている。この種の圧電振動子として、一般的に圧電振動片が形成された圧電基板を、ベース基板とリッド基板とで上下から挟み込むように接合した3層構造タイプのものが知られている。この場合、圧電振動片は、ベース基板とリッド基板との間に形成されたキャビティ(密閉室)内に収容されている。   2. Description of the Related Art In recent years, a piezoelectric vibrator using a crystal or the like is used as a time source, a timing source such as a control signal, a reference signal source or the like in a mobile phone or a portable information terminal device. Various piezoelectric vibrators of this type are known, and one of them is a surface-mount type piezoelectric vibrator. As this type of piezoelectric vibrator, there is generally known a three-layer structure type in which a piezoelectric substrate on which a piezoelectric vibrating piece is formed is joined so as to be sandwiched between a base substrate and a lid substrate from above and below. In this case, the piezoelectric vibrating piece is accommodated in a cavity (sealed chamber) formed between the base substrate and the lid substrate.

また、近年では、上述した3層構造タイプのものではなく、2層構造タイプのものも開発されている。このタイプの圧電振動子は、ベース基板とリッド基板とが直接接合されることで2層構造になっており、両基板の間に形成されたキャビティ内に圧電振動片が収容されている。この2層構造タイプの圧電振動子は、3層構造のものに比べて薄型化を図ることができる等の点において優れており、好適に使用されている。
このような2層構造タイプの圧電振動子として、ベース基板に形成された貫通電極により、圧電振動片とベース基板に形成された外部電極とを導通させた圧電振動子が知られている(特許文献1参照)。
In recent years, a two-layer structure type has been developed instead of the three-layer structure type described above. This type of piezoelectric vibrator has a two-layer structure in which a base substrate and a lid substrate are directly joined, and a piezoelectric vibrating piece is accommodated in a cavity formed between the two substrates. This two-layer structure type piezoelectric vibrator is excellent in that it can be made thinner than the three-layer structure, and is preferably used.
As such a two-layer structure type piezoelectric vibrator, a piezoelectric vibrator in which a piezoelectric vibrating piece and an external electrode formed on a base substrate are electrically connected by a through electrode formed on the base substrate is known (patent) Reference 1).

特開2002−124845号公報JP 2002-124845 A

ところで特許文献1には、金属からなるピン部材を導電材料として用いることにより貫通電極を形成することが記載されている。そして、貫通電極を形成する具体的な方法としては、後にベース基板となるベース基板用ウエハに断面ストレート形状の貫通孔を形成した後に加熱して、熱軟化状態にあるうちに貫通孔にピン部材を打ち込むことが記載されている。   By the way, Patent Document 1 describes that a through electrode is formed by using a pin member made of metal as a conductive material. A specific method for forming the through electrode is to form a through hole having a straight cross section in a base substrate wafer to be a base substrate later, and then heat the pin to insert the pin member into the through hole while in the thermal softened state. Is described.

しかしながら、ベース基板用ウエハから多数個のベース基板を形成する場合、ベース基板用ウエハにベース基板の取り個数に比例した多数の貫通孔が形成されることとなる。そのため、全ての貫通孔に前記ピン部材を打ち込むために多大な工数が必要となるという問題がある。また、前記ピン部材を打ち込んでいる途中にベース基板用ウエハが硬化してしまった場合には、再度加熱して熱軟化状態にする必要があるため、より多大な工数を要する。   However, when a large number of base substrates are formed from the base substrate wafer, a large number of through-holes proportional to the number of base substrates taken are formed in the base substrate wafer. Therefore, there is a problem that a great number of man-hours are required to drive the pin member into all the through holes. Further, when the base substrate wafer is cured while the pin member is being driven, it is necessary to reheat it to be in a heat softened state.

そこで、このような問題を解決するために、平板状の土台部と、土台部の表面に立設された芯材部と、を備える導電性の鋲体を用いる以下に示すような貫通電極の形成方法が考えられる。すなわち、まず、ベース基板用ウエハの貫通孔に、ベース基板用ウエハの第1面側から鋲体の芯材部を挿入し、ベース基板用ウエハの第1面と鋲体の土台部の表面とを当接させて貫通孔を第1面側から閉塞する。次いで、ベース基板用ウエハの第1面とは反対の第2面側から貫通孔にペースト状の充填材(例えば、ガラスフリットなど)を充填し、その後、充填材を焼成する。
これにより、ピン部材を貫通孔に打ち込まずに貫通電極を形成することが可能になり、製造工数の低減を図ることができる。
Therefore, in order to solve such a problem, a through electrode as shown below using a conductive casing provided with a flat base portion and a core portion standing on the surface of the base portion. A forming method is conceivable. That is, first, the core member of the housing is inserted into the through hole of the base substrate wafer from the first surface side of the base substrate wafer, and the first surface of the base substrate wafer and the surface of the base portion of the housing To close the through hole from the first surface side. Next, the through hole is filled with a paste-like filler (for example, glass frit) from the second surface side opposite to the first surface of the base substrate wafer, and then the filler is fired.
Thereby, it becomes possible to form a penetration electrode, without driving a pin member into a penetration hole, and it can aim at reduction of a manufacturing man-hour.

ここで図18〜図23に示すように、ベース基板用ウエハ200の貫通孔201への芯材部202の挿入方法としては、以下に示すような2つの治具を用いるいわゆる間接方式が考えられる。
すなわち、図18に示すように、まず、鋲体203の芯材部202が挿入される挿入孔204が形成された第1治具205の挿入孔204に、鋲体203の芯材部202を挿入して第1治具205に鋲体203を整列させる(鋲体整列工程)。次いで図19に示すように、第1治具205と、鋲体203が土台部206側から収納される収納孔207が形成された第2治具208と、を位置合わせしながら重ね合わせる(治具合わせ工程)。その後、図20に示すように、第1治具205と第2治具208とを反転させて第2治具208の収納孔207内に鋲体203を収納し(治具反転工程)た後、図21に示すように、第1治具205を第2治具208から取り外し、第2治具208における収納孔207の底部側から、例えば磁石209などで鋲体203を吸着して収納孔207内で保持する(吸着工程)。そして図22に示すように、第2治具208をベース基板用ウエハ200上で反転させ、鋲体203の吸着を解除する(吸着解除工程)ことで、図23に示すように、貫通孔201内に鋲体203の芯材部202を挿入する。
Here, as shown in FIGS. 18 to 23, as a method of inserting the core member 202 into the through hole 201 of the base substrate wafer 200, a so-called indirect method using two jigs as shown below can be considered. .
That is, as shown in FIG. 18, first, the core part 202 of the casing 203 is inserted into the insertion hole 204 of the first jig 205 in which the insertion hole 204 into which the core part 202 of the casing 203 is inserted is formed. The housing 203 is aligned with the first jig 205 by inserting it (a housing aligning step). Next, as shown in FIG. 19, the first jig 205 and the second jig 208 in which the housing hole 207 in which the housing 203 is housed from the base 206 side are formed are overlapped with each other while being aligned (healing). Assembling process). Thereafter, as shown in FIG. 20, after the first jig 205 and the second jig 208 are reversed and the housing 203 is housed in the housing hole 207 of the second jig 208 (jig reversing step). 21, the first jig 205 is removed from the second jig 208, and the housing 203 is adsorbed from the bottom side of the storage hole 207 in the second jig 208 by, for example, a magnet 209 or the like. It is held in 207 (adsorption process). Then, as shown in FIG. 22, the second jig 208 is reversed on the base substrate wafer 200 to release the suction of the housing 203 (suction release process), thereby making the through hole 201 as shown in FIG. 23. The core part 202 of the housing 203 is inserted into the inside.

しかしながら、前記間接方式では、第1治具205および第2治具208を用いており、やはり多大な工数が必要となる。   However, in the indirect method, the first jig 205 and the second jig 208 are used, so that a great number of man-hours are required.

本発明は、前述した事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、パッケージを効率良く製造することができるパッケージの製造方法を提供することである。   This invention is made | formed in view of the situation mentioned above, The objective is to provide the manufacturing method of the package which can manufacture a package efficiently.

前記課題を解決するために、本発明は以下の手段を提案している。
本発明に係るパッケージの製造方法は、互いに接合された複数の基板の間に形成されたキャビティ内に、電子部品を封入可能なパッケージの製造方法であって、前記複数の基板のうち、第1基板を厚さ方向に貫通し、前記キャビティの内側と前記パッケージの外側とを導通する貫通電極を形成する貫通電極形成工程を有し、前記貫通電極形成工程は、前記第1基板に貫通孔を形成する貫通孔形成工程と、平板状の土台部と、前記土台部の表面に立設された芯材部と、を備える導電性の鋲体の前記芯材部を前記貫通孔内に挿入する鋲体配置工程と、を有し、前記貫通孔形成工程の際、前記第1基板の第1面側から、前記第1面とは反対の第2面側に向けて漸次拡径する逆テーパ状に前記貫通孔を形成し、前記鋲体配置工程の際、前記第1基板の前記第1面を上方に向けて前記第1面上で前記鋲体を移動させつつ、前記貫通孔を通して前記第2面側から前記鋲体を吸引することで、前記芯材部を前記貫通孔内に挿入することを特徴とする。
In order to solve the above problems, the present invention proposes the following means.
A method for manufacturing a package according to the present invention is a method for manufacturing a package in which an electronic component can be enclosed in a cavity formed between a plurality of substrates bonded to each other. A through electrode forming step of forming a through electrode that penetrates the substrate in a thickness direction and that conducts between the inside of the cavity and the outside of the package; and the through electrode forming step includes forming a through hole in the first substrate. Inserting into the through hole the core material portion of a conductive casing comprising a through-hole forming step to be formed, a flat base portion, and a core portion standing on the surface of the base portion. An inverse taper that gradually increases in diameter from the first surface side of the first substrate toward the second surface side opposite to the first surface during the through-hole forming step. And forming the through hole in the shape of the first substrate during the housing arrangement step. The core portion is moved through the through hole by sucking the housing from the second surface side through the through hole while moving the housing on the first surface with the first surface facing upward. It is characterized by being inserted into the inside.

この発明によれば、鋲体の芯材部が土台部の表面に立設されており、鋲体配置工程の際、鋲体を倒した状態、つまり土台部の側面および芯材部の先端が第1面に当接し、芯材部が第1面に対して傾いた状態で第1面上を移動させることができる。このように鋲体が倒れた状態で第1面上を移動させると、鋲体が貫通孔上を通過したときに、芯材部の先端が貫通孔の第1面側の開口部から貫通孔内に振り込まれるようにして挿入される。
ここで、貫通孔が逆テーパ状となっていることから、芯材部が貫通孔内に挿入される際に芯材部の先端が貫通孔の内周面に引っ掛かり難くなっている。したがって、鋲体の芯材部が貫通孔内に円滑に挿入される。しかもこのとき、貫通孔を通して第2面側から鋲体が吸引されているので、吸引力によって鋲体の芯材部が貫通孔内に引き込まれ、芯材部が貫通孔内に更に円滑に挿入される。
以上より、鋲体配置工程の際、第1基板の第1面上で鋲体を移動させつつ、第2面側から貫通孔を通して鋲体を吸引するだけで、鋲体の芯材部を貫通孔内に円滑に挿入することができるので、パッケージを効率良く製造することができる。
According to the present invention, the core part of the frame is erected on the surface of the base part, and in the case of the frame arrangement process, the state in which the case is tilted, that is, the side surface of the base part and the tip of the core part are Abutting on the first surface, the core member can be moved on the first surface with the core member inclined with respect to the first surface. When the casing is moved on the first surface in a state where the casing is collapsed in this way, when the casing passes over the through-hole, the tip of the core member portion extends from the opening on the first plane side of the through-hole to the through-hole. It is inserted as if it was transferred into.
Here, since the through hole has an inversely tapered shape, it is difficult for the tip of the core member to be caught on the inner peripheral surface of the through hole when the core member is inserted into the through hole. Therefore, the core part of the housing is smoothly inserted into the through hole. Moreover, since the housing is sucked from the second surface side through the through hole at this time, the core material portion of the housing is drawn into the through hole by the suction force, and the core material portion is more smoothly inserted into the through hole. Is done.
From the above, during the housing arrangement process, the housing is moved on the first surface of the first substrate, and the core material portion of the housing is penetrated only by sucking the housing through the through hole from the second surface side. Since it can insert smoothly in a hole, a package can be manufactured efficiently.

また、前記鋲体配置工程の際、前記第1基板の前記第1面に平行な揺動軸回りに前記第1基板を揺動させるとともに、前記揺動軸方向に前記第1基板を振動させることで、前記第1基板の前記第1面上で前記鋲体を移動させても良い。   Further, during the housing arrangement step, the first substrate is swung around a swing axis parallel to the first surface of the first substrate, and the first substrate is vibrated in the swing axis direction. Thus, the housing may be moved on the first surface of the first substrate.

この場合、鋲体配置工程の際、前記揺動軸回りに第1基板を揺動させることで、第1基板の第1面が水平面に対して傾斜することとなる。これにより、第1面に沿った下側に鋲体を移動させることができる。   In this case, the first surface of the first substrate is inclined with respect to the horizontal plane by swinging the first substrate around the swing axis during the housing arrangement step. Thereby, the housing can be moved to the lower side along the first surface.

また、このように前記揺動軸回りに第1基板を揺動させるとともに、前記揺動軸方向に第1基板を振動させるので、鋲体が第1基板上に多数個配置されている場合であっても、第1面に沿った下側に各鋲体を移動させつつ、第1面の前記揺動軸方向の全域にわたって多数個の鋲体を拡散させることができる。
また、第1面に沿った下側に鋲体を移動させる過程で、鋲体の芯材部が貫通孔に挿入されずに、第1基板の下側の端部まで鋲体が移動したとしても、第1基板を揺動させて第1基板の傾斜を反転させることで、前記端部を上側に位置させることができる。これにより、貫通孔に芯材部が挿入されていない鋲体を、第1基板の傾斜を反転させる前とは逆方向に第1面上で移動させ、第1面において貫通孔が形成された領域上を往復移動させることができる。
以上より、芯材部を貫通孔内に確実に挿入することができる。
In addition, since the first substrate is swung around the swing axis and the first substrate is vibrated in the swing shaft direction in this way, a large number of housings are arranged on the first substrate. Even if it exists, many housings can be spread | diffused over the whole area of the said rocking-axis direction of a 1st surface, moving each housing to the lower side along a 1st surface.
In addition, in the process of moving the casing to the lower side along the first surface, the casing has moved to the lower end of the first substrate without the core portion of the casing being inserted into the through hole. Alternatively, the end portion can be positioned on the upper side by swinging the first substrate and inverting the inclination of the first substrate. Thereby, the casing in which the core part is not inserted into the through hole is moved on the first surface in the direction opposite to the direction before the inclination of the first substrate is reversed, and the through hole is formed in the first surface. It can be reciprocated over the area.
As described above, the core member can be reliably inserted into the through hole.

また、前記鋲体配置工程の際、前記第2面側からの前記鋲体の吸引を間欠的に繰り返しても良い。   In the case of the housing arrangement step, the suction of the housing from the second surface side may be repeated intermittently.

この場合、鋲体配置工程の際、第2面側からの鋲体の吸引を間欠的に繰り返すので、芯材部を貫通孔内に確実に挿入することができる。
すなわち、鋲体配置工程の際、土台部の裏面が第1面に当接して鋲体が起立した状態で第1面上を移動することがある。そして、貫通孔内に鋲体の芯材部が挿入される前に、起立した状態の鋲体の土台部によって貫通孔が第1面側から覆われると、貫通孔を通した第2面側からの吸引力により鋲体が貫通孔上で保持され続け、芯材部が貫通孔内に挿入されないおそれがある。しかしながら、第2面側からの鋲体の吸引を間欠的に繰り返すことで、仮に起立した状態の鋲体の土台部によって貫通孔が第1面側から覆われたとしても、鋲体が貫通孔上で保持され続けることがない。したがって、貫通孔を覆う鋲体を貫通孔上から移動させ貫通孔を開放することが可能になり、芯材部を貫通孔内に確実に挿入することができる。
In this case, since the suction of the housing from the second surface side is intermittently repeated during the housing arrangement process, the core member can be reliably inserted into the through hole.
That is, in the case of the housing arrangement process, the back surface of the base portion may move on the first surface with the housing standing up with the first surface abutting on the first surface. And if the through hole is covered from the first surface side by the base portion of the standing body before the core part of the housing is inserted into the through hole, the second surface side through the through hole There is a possibility that the casing is continuously held on the through hole by the suction force from and the core member is not inserted into the through hole. However, even if the through hole is covered from the first surface side by the base portion of the casing in a standing state by intermittently repeating the suction of the casing from the second surface side, the casing is the through hole. Will not continue to hold on. Therefore, the casing covering the through hole can be moved from the through hole to open the through hole, and the core member can be reliably inserted into the through hole.

また、本発明に係る圧電振動子の製造方法は、前記パッケージの製造方法を実施する工程と、前記電子部品としての圧電振動片を前記貫通電極に実装しつつ前記キャビティの内部に配置する工程とを有することを特徴とする。   The piezoelectric vibrator manufacturing method according to the present invention includes a step of performing the package manufacturing method, and a step of disposing the piezoelectric vibrating piece as the electronic component inside the cavity while being mounted on the through electrode. It is characterized by having.

この発明によれば、パッケージを効率良く製造することができるパッケージの製造方法を採用しているので、低コストな圧電振動子を提供することができる。   According to the present invention, since the package manufacturing method that can efficiently manufacture the package is employed, a low-cost piezoelectric vibrator can be provided.

また、本発明に係る発振器は、前記圧電振動子の製造方法で製造された圧電振動子が、発振子として集積回路に電気的に接続されていることを特徴とする。
また、本発明に係る電子機器は、前記圧電振動子の製造方法で製造された圧電振動子が、計時部に電気的に接続されていることを特徴とする。
また、本発明に係る電波時計は、前記圧電振動子の製造方法で製造された圧電振動子が、フィルタ部に電気的に接続されていることを特徴とする。
The oscillator according to the present invention is characterized in that the piezoelectric vibrator manufactured by the piezoelectric vibrator manufacturing method is electrically connected to an integrated circuit as an oscillator.
The electronic device according to the present invention is characterized in that the piezoelectric vibrator manufactured by the method for manufacturing a piezoelectric vibrator is electrically connected to a time measuring unit.
The radio timepiece according to the present invention is characterized in that the piezoelectric vibrator manufactured by the method for manufacturing a piezoelectric vibrator is electrically connected to the filter portion.

本発明に係る発振器、電子機器および電波時計によれば、低コストな圧電振動子を用いているため、低コスト化を図ることができる。   According to the oscillator, the electronic device, and the radio timepiece according to the present invention, since the low-cost piezoelectric vibrator is used, the cost can be reduced.

本発明によれば、パッケージを効率良く製造することができる。   According to the present invention, a package can be efficiently manufactured.

本発明の一実施形態に係る圧電振動子を示す外観斜視図である。1 is an external perspective view showing a piezoelectric vibrator according to an embodiment of the present invention. 図1に示す圧電振動子の内部構成図であって、リッド基板を取り外した状態の平面図である。FIG. 2 is an internal configuration diagram of the piezoelectric vibrator shown in FIG. 1, and is a plan view with a lid substrate removed. 図2のA−A線における断面図である。It is sectional drawing in the AA of FIG. 図1に示す圧電振動子の分解斜視図である。FIG. 2 is an exploded perspective view of the piezoelectric vibrator shown in FIG. 1. 圧電振動片の平面図である。It is a top view of a piezoelectric vibrating piece. 圧電振動片の底面図である。It is a bottom view of a piezoelectric vibrating piece. 図5のB−B線における断面図である。It is sectional drawing in the BB line of FIG. 本発明の一実施形態に係る圧電振動子の製造方法のフローチャートである。3 is a flowchart of a method for manufacturing a piezoelectric vibrator according to an embodiment of the present invention. ウエハ体の分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of a wafer body. 鋲体配置工程を表す説明図である。It is explanatory drawing showing a housing arrangement | positioning process. 鋲体配置工程を表す説明図である。It is explanatory drawing showing a housing arrangement | positioning process. 鋲体配置工程を表す説明図である。It is explanatory drawing showing a housing arrangement | positioning process. 鋲体配置工程を表す説明図である。It is explanatory drawing showing a housing arrangement | positioning process. 鋲体配置工程を表す説明図である。It is explanatory drawing showing a housing arrangement | positioning process. 発振器の一実施形態を示す構成図である。It is a block diagram which shows one Embodiment of an oscillator. 電子機器の一実施形態を示す構成図である。It is a lineblock diagram showing one embodiment of electronic equipment. 電波時計の一実施形態を示す構成図である。It is a block diagram which shows one Embodiment of a radio timepiece. 従来のベース基板用ウエハの貫通孔への芯材部の挿入方法の一工程図である。It is one process figure of the insertion method of the core part to the through-hole of the conventional wafer for base substrates. 従来のベース基板用ウエハの貫通孔への芯材部の挿入方法の一工程図である。It is one process figure of the insertion method of the core part to the through-hole of the conventional wafer for base substrates. 従来のベース基板用ウエハの貫通孔への芯材部の挿入方法の一工程図である。It is one process figure of the insertion method of the core part to the through-hole of the conventional wafer for base substrates. 従来のベース基板用ウエハの貫通孔への芯材部の挿入方法の一工程図である。It is one process figure of the insertion method of the core part to the through-hole of the conventional wafer for base substrates. 従来のベース基板用ウエハの貫通孔への芯材部の挿入方法の一工程図である。It is one process figure of the insertion method of the core part to the through-hole of the conventional wafer for base substrates. 従来のベース基板用ウエハの貫通孔への芯材部の挿入方法の一工程図である。It is one process figure of the insertion method of the core part to the through-hole of the conventional wafer for base substrates.

以下、本発明の一実施形態につき図面を参照して説明する。
(圧電振動子)
図1から図4に示すように、本実施形態の圧電振動子1は、互いに接合された複数の基板2、3の間に形成されたキャビティC内に、電子部品としての圧電振動片4が封入されたパッケージ5を備える表面実装型の構成とされている。パッケージ5は、ベース基板(第1基板)2とリッド基板3とで2層に積層された箱状に形成されている。なお、図4においては、図面を見易くするために後述する励振電極15、引き出し電極19、20、マウント電極16、17及び重り金属膜21の図示を省略している。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
(Piezoelectric vibrator)
As shown in FIGS. 1 to 4, the piezoelectric vibrator 1 according to this embodiment includes a piezoelectric vibrating piece 4 as an electronic component in a cavity C formed between a plurality of substrates 2 and 3 bonded to each other. It is a surface mount type configuration including the package 5 enclosed. The package 5 is formed in a box shape in which a base substrate (first substrate) 2 and a lid substrate 3 are laminated in two layers. In FIG. 4, the excitation electrode 15, the extraction electrodes 19 and 20, the mount electrodes 16 and 17, and the weight metal film 21, which will be described later, are omitted for easy understanding of the drawing.

図5から図7に示すように、圧電振動片4は、水晶やタンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム等の圧電材料から形成された音叉型の振動片であり、所定の電圧が印加されたときに振動するものである。   As shown in FIGS. 5 to 7, the piezoelectric vibrating piece 4 is a tuning fork type vibrating piece formed of a piezoelectric material such as crystal, lithium tantalate, or lithium niobate, and when a predetermined voltage is applied. It vibrates.

この圧電振動片4は、平行に配置された一対の振動腕部10、11と、一対の振動腕部10、11の基端側を一体的に固定する基部12と、一対の振動腕部10、11の外表面上に形成されて一対の振動腕部10、11を振動させる第1の励振電極13と第2の励振電極14とからなる励振電極15と、第1の励振電極13及び第2の励振電極14に電気的に接続されたマウント電極16、17とを有している。
また、本実施形態の圧電振動片4は、一対の振動腕部10、11の両主面上に、振動腕部10、11の長手方向に沿ってそれぞれ形成された溝部18を備えている。この溝部18は、振動腕部10、11の基端側から略中間付近まで形成されている。
The piezoelectric vibrating reed 4 includes a pair of vibrating arm portions 10 and 11 arranged in parallel, a base portion 12 that integrally fixes the base end sides of the pair of vibrating arm portions 10 and 11, and a pair of vibrating arm portions 10. , 11 and the first excitation electrode 13 and the second excitation electrode 14, which are formed on the outer surface of the pair 11 and vibrate the pair of vibrating arm portions 10, 11, the first excitation electrode 13, and the second excitation electrode 13. And two mounting electrodes 16 and 17 electrically connected to the two excitation electrodes 14.
In addition, the piezoelectric vibrating reed 4 according to the present embodiment includes groove portions 18 formed along the longitudinal direction of the vibrating arm portions 10 and 11 on both main surfaces of the pair of vibrating arm portions 10 and 11. The groove portion 18 is formed from the proximal end side of the vibrating arm portions 10 and 11 to the vicinity of the middle.

励振電極13、14は、図5および図6に示すように、一対の振動腕部10、11の主面上に形成される。励振電極13、14は、例えば、クロム(Cr)等の単層の導電性膜により形成される。第1の励振電極13と第2の励振電極14とからなる励振電極15は、一対の振動腕部10、11を互いに接近または離間する方向に所定の共振周波数で振動させる電極であり、一対の振動腕部10、11の外表面に、それぞれ電気的に切り離された状態でパターニングされて形成されている。具体的には、第1の励振電極13が、一方の振動腕部10の溝部18上と他方の振動腕部11の両側面上とに主に形成され、第2の励振電極14が、一方の振動腕部10の両側面上と他方の振動腕部11の溝部18上とに主に形成されている。   As shown in FIGS. 5 and 6, the excitation electrodes 13 and 14 are formed on the main surfaces of the pair of vibrating arm portions 10 and 11. The excitation electrodes 13 and 14 are formed of a single-layer conductive film such as chromium (Cr), for example. The excitation electrode 15 including the first excitation electrode 13 and the second excitation electrode 14 is an electrode that vibrates the pair of vibrating arm portions 10 and 11 at a predetermined resonance frequency in a direction approaching or separating from each other. Patterned on the outer surfaces of the vibrating arm portions 10 and 11 while being electrically separated from each other. Specifically, the first excitation electrode 13 is mainly formed on the groove portion 18 of one vibration arm portion 10 and on both side surfaces of the other vibration arm portion 11, and the second excitation electrode 14 is formed on one side. Are formed mainly on both side surfaces of the vibrating arm portion 10 and on the groove portion 18 of the other vibrating arm portion 11.

また、第1の励振電極13及び第2の励振電極14は、基部12の両主面上において、それぞれ引き出し電極19、20を介してマウント電極16、17に電気的に接続されている。そして圧電振動片4は、このマウント電極16、17を介して電圧が印加されるようになっている。
なお、マウント電極16、17及び引き出し電極19、20は、例えばクロム(Cr)と金(Au)との積層膜であり、水晶と密着性の良いクロム膜を下地として成膜した後に、表面に金の薄膜を施したものである。
Further, the first excitation electrode 13 and the second excitation electrode 14 are electrically connected to the mount electrodes 16 and 17 via the extraction electrodes 19 and 20 on both main surfaces of the base portion 12, respectively. A voltage is applied to the piezoelectric vibrating reed 4 via the mount electrodes 16 and 17.
The mount electrodes 16 and 17 and the lead electrodes 19 and 20 are, for example, a laminated film of chromium (Cr) and gold (Au), and are formed on the surface after forming a chromium film having good adhesion with crystal as a base. A gold thin film is applied.

また、一対の振動腕部10、11の先端には、自身の振動状態を所定の周波数の範囲内で振動するように調整(周波数調整)を行うための重り金属膜21が被膜されている。なお、この重り金属膜21は、周波数を粗く調整する際に使用される粗調膜21aと、微小に調整する際に使用される微調膜21bとに分かれている。これら粗調膜21a及び微調膜21bを利用して周波数調整を行うことで、一対の振動腕部10、11の周波数をデバイスの公称周波数の範囲内に収めることができる。   A weight metal film 21 for adjusting (frequency adjustment) to vibrate its own vibration state within a predetermined frequency range is coated on the tips of the pair of vibrating arm portions 10 and 11. The weight metal film 21 is divided into a coarse adjustment film 21a used when the frequency is roughly adjusted and a fine adjustment film 21b used when the frequency is finely adjusted. By adjusting the frequency using the coarse adjustment film 21a and the fine adjustment film 21b, the frequency of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 can be kept within the range of the nominal frequency of the device.

このように構成された圧電振動片4は、図3および図4に示すように、金等のバンプBを利用して、ベース基板2の内面(上面)にバンプ接合されている。より具体的には、ベース基板2の内面にパターニングされた後述する引き回し電極36、37上に形成された2つのバンプB上に、一対のマウント電極16、17がそれぞれ接触した状態でバンプ接合されている。   As shown in FIGS. 3 and 4, the piezoelectric vibrating reed 4 configured in this manner is bump-bonded to the inner surface (upper surface) of the base substrate 2 using bumps B such as gold. More specifically, bump bonding is performed with a pair of mount electrodes 16 and 17 in contact with two bumps B formed on lead electrodes 36 and 37 (described later) patterned on the inner surface of the base substrate 2. ing.

リッド基板3は、ガラス材料、例えばソーダ石灰ガラスからなる透明の絶縁基板であり、図1、図3および図4に示すように、板状に形成されている。そして、ベース基板2が接合される接合面側には、圧電振動片4が収まる矩形状の凹部3aが形成されている。この凹部3aは、両基板2、3が重ね合わされたときに、圧電振動片4を収容するキャビティCとなるキャビティ用の凹部である。   The lid substrate 3 is a transparent insulating substrate made of a glass material, for example, soda lime glass, and is formed in a plate shape as shown in FIGS. A rectangular recess 3 a in which the piezoelectric vibrating reed 4 is accommodated is formed on the bonding surface side to which the base substrate 2 is bonded. The recess 3 a is a cavity recess that serves as a cavity C that accommodates the piezoelectric vibrating reed 4 when the substrates 2 and 3 are overlapped.

また、図3に示すように、リッド基板3のベース基板2との接合面には、陽極接合用の接合膜35が形成されている。接合膜35は、例えばアルミニウム等の導電性材料からなり、スパッタやCVD等の成膜方法により形成される。なお、凹部3aの内面全体に形成してもよい。これにより、接合膜35のパターニングが不要になり、製造コストを低減することができる。
そして、リッド基板3は、凹部3aをベース基板2側に対向させた状態で、接合膜35を介してベース基板2に陽極接合されている。
As shown in FIG. 3, a bonding film 35 for anodic bonding is formed on the bonding surface of the lid substrate 3 with the base substrate 2. The bonding film 35 is made of a conductive material such as aluminum, and is formed by a film forming method such as sputtering or CVD. In addition, you may form in the whole inner surface of the recessed part 3a. Thereby, the patterning of the bonding film 35 becomes unnecessary, and the manufacturing cost can be reduced.
The lid substrate 3 is anodically bonded to the base substrate 2 via the bonding film 35 with the recess 3a facing the base substrate 2 side.

ベース基板2は、リッド基板3と同様に、ガラス材料、例えばソーダ石灰ガラスからなる透明な絶縁基板であり、図1から図4に示すように、板状に形成されている。
このベース基板2には、ベース基板2を貫通する一対の貫通孔30、31が形成されている。貫通孔30は、ベース基板2の内面から外面(下面)に向けて漸次拡径する逆テーパ状に形成されている。本実施形態の貫通孔30、31は、マウントされた圧電振動片4の基部12側に対応した位置に一方の貫通孔30が形成され、振動腕部10、11の先端側に対応した位置に他方の貫通孔31が形成されている。
Similarly to the lid substrate 3, the base substrate 2 is a transparent insulating substrate made of a glass material, for example, soda lime glass, and is formed in a plate shape as shown in FIGS.
In the base substrate 2, a pair of through holes 30 and 31 that penetrate the base substrate 2 are formed. The through hole 30 is formed in an inversely tapered shape that gradually increases in diameter from the inner surface of the base substrate 2 toward the outer surface (lower surface). In the present embodiment, the through holes 30 and 31 have one through hole 30 formed at a position corresponding to the base 12 side of the mounted piezoelectric vibrating reed 4, and at a position corresponding to the tip side of the vibrating arm sections 10 and 11. The other through hole 31 is formed.

そして、これら一対の貫通孔30、31には、これら貫通孔30、31を埋めるように形成された一対の貫通電極32、33が形成されている。これら貫通電極32、33は、図3に示すように、焼成によって貫通孔30、31に対して一体的に固定された筒体6及び芯材部7によって形成されたものであり、貫通孔30、31を完全に塞いでキャビティC内の気密を維持しているとともに、後述する外部電極38、39と引き回し電極36、37とを導通させる役割を担っている。   The pair of through holes 30 and 31 are formed with a pair of through electrodes 32 and 33 formed so as to fill the through holes 30 and 31. As shown in FIG. 3, the through electrodes 32 and 33 are formed by the cylindrical body 6 and the core member 7 that are integrally fixed to the through holes 30 and 31 by firing. 31 are completely closed to maintain the airtightness in the cavity C, and the external electrodes 38 and 39, which will be described later, and the routing electrodes 36 and 37 are electrically connected.

筒体6は、後述するペースト状のガラスフリットが焼成されたものである。筒体6は、両端が平坦で且つベース基板2と略同じ厚みの円筒状に形成されている。そして、筒体6の中心には、芯材部7が筒体6を貫通するように配されている。筒体6および芯材部7は、貫通孔30、31内に埋め込まれた状態で焼成されており、貫通孔30、31に対して強固に固着されている。   The cylindrical body 6 is obtained by firing a paste-like glass frit described later. The cylindrical body 6 is formed in a cylindrical shape having both ends flat and substantially the same thickness as the base substrate 2. And the core part 7 is distribute | arranged to the center of the cylinder 6 so that the cylinder 6 may be penetrated. The cylindrical body 6 and the core member 7 are fired in a state of being embedded in the through holes 30 and 31 and are firmly fixed to the through holes 30 and 31.

芯材部7は、ステンレスや銀、アルミ等の金属材料により円柱状に形成された導電性の芯材であり、筒体6と同様に両端が平坦で、且つベース基板2の厚みと略同じ厚さとなるように形成されている。この芯材部7は、筒体6の略中心6cに位置しており、筒体6の焼成によって筒体6に対して強固に固着されている。なお、貫通電極32、33は、導電性の芯材部7を通して電気導通性が確保されている。   The core material portion 7 is a conductive core material formed in a cylindrical shape from a metal material such as stainless steel, silver, or aluminum. Both ends are flat like the cylindrical body 6 and substantially the same as the thickness of the base substrate 2. It is formed to have a thickness. The core member 7 is located at the approximate center 6 c of the cylindrical body 6 and is firmly fixed to the cylindrical body 6 by firing the cylindrical body 6. The through electrodes 32 and 33 are ensured to have electrical conductivity through the conductive core portion 7.

また、一対の引き回し電極36、37は、一対の貫通電極32、33のうち、一方の貫通電極32と圧電振動片4の一方のマウント電極16とを電気的に接続するとともに、他方の貫通電極33と圧電振動片4の他方のマウント電極17とを電気的に接続するようにパターニングされている。   The pair of lead electrodes 36 and 37 electrically connect one of the pair of through electrodes 32 and 33 to the one mount electrode 16 of the piezoelectric vibrating reed 4 and the other through electrode. 33 and the other mount electrode 17 of the piezoelectric vibrating reed 4 are patterned so as to be electrically connected.

より詳しく説明すると、一方の引き回し電極36は、圧電振動片4の基部12の真下に位置するように一方の貫通電極32の真上に形成されている。また、他方の引き回し電極37は、一方の引き回し電極36に隣接した位置から、振動腕部10、11に沿って前記振動腕部10、11の先端側に引き回しされた後、他方の貫通電極33の真上に位置するように形成されている。   More specifically, the one lead-out electrode 36 is formed directly above the one through electrode 32 so as to be positioned directly below the base 12 of the piezoelectric vibrating piece 4. The other routing electrode 37 is routed from the position adjacent to the one routing electrode 36 along the vibrating arm portions 10 and 11 to the distal end side of the vibrating arm portions 10 and 11, and then the other through electrode 33. It is formed so that it may be located just above.

そして、これら一対の引き回し電極36、37上にそれぞれバンプBが形成されており、バンプBを利用して圧電振動片4がマウントされている。これにより、圧電振動片4の一方のマウント電極16が、一方の引き回し電極36を介して一方の貫通電極32に導通し、他方のマウント電極17が、他方の引き回し電極37を介して他方の貫通電極33に導通するようになっている。   Bumps B are formed on the pair of lead-out electrodes 36 and 37, and the piezoelectric vibrating reed 4 is mounted using the bumps B. Thereby, one mount electrode 16 of the piezoelectric vibrating reed 4 is electrically connected to one through electrode 32 through one routing electrode 36, and the other mount electrode 17 is passed through the other routing electrode 37 to the other penetration electrode. The electrode 33 is electrically connected.

また、ベース基板2の外面には、図1、図3および図4に示すように、一対の貫通電極32、33に対してそれぞれ電気的に接続される外部電極38、39が形成されている。つまり、一方の外部電極38は、一方の貫通電極32及び一方の引き回し電極36を介して圧電振動片4の第1の励振電極13に電気的に接続されている。また、他方の外部電極39は、他方の貫通電極33及び他方の引き回し電極37を介して、圧電振動片4の第2の励振電極14に電気的に接続されている。   Further, as shown in FIGS. 1, 3 and 4, external electrodes 38 and 39 are formed on the outer surface of the base substrate 2 so as to be electrically connected to the pair of through electrodes 32 and 33, respectively. . That is, one external electrode 38 is electrically connected to the first excitation electrode 13 of the piezoelectric vibrating reed 4 via one through electrode 32 and one routing electrode 36. The other external electrode 39 is electrically connected to the second excitation electrode 14 of the piezoelectric vibrating reed 4 via the other through electrode 33 and the other routing electrode 37.

このように構成された圧電振動子1を作動させる場合には、ベース基板2に形成された外部電極38、39に対して、所定の駆動電圧を印加する。これにより、圧電振動片4の第1の励振電極13及び第2の励振電極14からなる励振電極15に電圧を印加することで、一対の振動腕部10、11を接近・離間させる方向に所定の周波数で振動させることができる。そして、この一対の振動腕部10、11の振動を利用して、時刻源や制御信号のタイミング源、リファレンス信号源等として利用することができる。   When the piezoelectric vibrator 1 configured as described above is operated, a predetermined drive voltage is applied to the external electrodes 38 and 39 formed on the base substrate 2. As a result, a voltage is applied to the excitation electrode 15 including the first excitation electrode 13 and the second excitation electrode 14 of the piezoelectric vibrating reed 4 so that the pair of vibrating arm portions 10 and 11 are moved in a predetermined direction in the direction of approaching and separating. Can be vibrated at a frequency of The vibration of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 can be used as a time source, a timing source for control signals, a reference signal source, and the like.

(圧電振動子の製造方法)
次に、本実施形態における圧電振動子1の製造方法(パッケージの製造方法)について、図8に示すフローチャートに基づいて説明する。
初めに、圧電振動片作製工程S10を行って図5から図7に示す圧電振動片4を作製する。具体的には、まず水晶のランバート原石を所定の角度でスライスして一定の厚みのウエハとする。続いて、このウエハをラッピングして粗加工した後、加工変質層をエッチングで取り除き、その後ポリッシュ等の鏡面研磨加工を行って、所定の厚みのウエハとする。続いて、ウエハに洗浄等の適切な処理を施した後、ウエハをフォトリソグラフィ技術によって圧電振動片4の外形形状でパターニングするとともに、金属膜の成膜及びパターニングを行って、励振電極15、引き出し電極19、20、マウント電極16、17、重り金属膜21を形成する。これにより、複数の圧電振動片4を作製することができる。
(Piezoelectric vibrator manufacturing method)
Next, a method for manufacturing the piezoelectric vibrator 1 (a method for manufacturing a package) in the present embodiment will be described based on a flowchart shown in FIG.
First, the piezoelectric vibrating reed manufacturing step S10 is performed to manufacture the piezoelectric vibrating reed 4 shown in FIGS. Specifically, a quartz Lambert rough is first sliced at a predetermined angle to obtain a wafer having a constant thickness. Subsequently, the wafer is lapped and roughly processed, and then the work-affected layer is removed by etching, and then mirror polishing such as polishing is performed to obtain a wafer having a predetermined thickness. Subsequently, after appropriate processing such as cleaning is performed on the wafer, the wafer is patterned with the outer shape of the piezoelectric vibrating reed 4 by a photolithography technique, and a metal film is formed and patterned, and the excitation electrode 15 and the extraction electrode 15 are extracted. Electrodes 19 and 20, mount electrodes 16 and 17, and weight metal film 21 are formed. Thereby, the some piezoelectric vibrating piece 4 is producible.

また、圧電振動片4を作製した後、共振周波数の粗調を行っておく。これは、重り金属膜21の粗調膜21aにレーザ光を照射して一部を蒸発させ、重量を変化させることで行う。なお、共振周波数をより高精度に調整する微調に関しては、マウント後に行う。   Further, after the piezoelectric vibrating reed 4 is manufactured, the resonance frequency is coarsely adjusted. This is done by irradiating the coarse adjustment film 21a of the weight metal film 21 with laser light to evaporate a part thereof and changing the weight. Note that fine adjustment for adjusting the resonance frequency with higher accuracy is performed after mounting.

次に図9に示すように、上記工程と同時或いは前後のタイミングで、後にリッド基板3(図3参照)となるリッド基板用ウエハ50を、陽極接合を行う直前の状態まで作製する第1のウエハ作製工程S20を行う。具体的には、ソーダ石灰ガラスを所定の厚さまで研磨加工して洗浄した後に、エッチング等により最表面の加工変質層を除去した円板状のリッド基板用ウエハ50を形成する(S21)。次いで、リッド基板用ウエハ50の接合面に、エッチング等により行列方向にキャビティ用の凹部3aを複数形成する凹部形成工程S22を行う。次に、ベース基板用ウエハ40との接合面を研磨する接合面研磨工程S23を行う。   Next, as shown in FIG. 9, a lid substrate wafer 50 that will later become the lid substrate 3 (see FIG. 3) is prepared at the same time as or before and after the above-described steps until the state just before anodic bonding is performed. A wafer manufacturing step S20 is performed. Specifically, after polishing and cleaning soda-lime glass to a predetermined thickness, a disk-shaped lid substrate wafer 50 is formed by removing the outermost work-affected layer by etching or the like (S21). Next, a recess forming step S22 is performed in which a plurality of cavity recesses 3a are formed in the matrix direction on the bonding surface of the lid substrate wafer 50 by etching or the like. Next, a bonding surface polishing step S23 for polishing the bonding surface with the base substrate wafer 40 is performed.

次に、ベース基板用ウエハ40との接合面に接合膜35を形成する接合膜形成工程S24を行う。接合膜35は、ベース基板用ウエハ40との接合面に加えて、凹部3aの内面全体に形成してもよい。これにより、接合膜35のパターニングが不要になり、製造コストを低減することができる。接合膜35の形成は、スパッタやCVD等の成膜方法によって行うことができる。なお、接合膜形成工程S24の前に接合面研磨工程S23を行っているので、接合膜35の表面の平面度が確保され、ベース基板用ウエハ40との安定した接合を実現することができる。   Next, a bonding film forming step S24 for forming the bonding film 35 on the bonding surface with the base substrate wafer 40 is performed. The bonding film 35 may be formed on the entire inner surface of the recess 3 a in addition to the bonding surface with the base substrate wafer 40. Thereby, the patterning of the bonding film 35 becomes unnecessary, and the manufacturing cost can be reduced. The bonding film 35 can be formed by a film forming method such as sputtering or CVD. In addition, since the bonding surface polishing step S23 is performed before the bonding film forming step S24, the flatness of the surface of the bonding film 35 is ensured, and stable bonding with the base substrate wafer 40 can be realized.

次に、上記工程と同時或いは前後のタイミングで、後にベース基板2(図3参照)となるベース基板用ウエハ(第1基板)40を、陽極接合を行う直前の状態まで作製する第2のウエハ作製工程S30を行う。まず、ソーダ石灰ガラスを所定の厚さまで研磨加工して洗浄した後に、エッチング等により最表面の加工変質層を除去した円板状のベース基板用ウエハ40を形成する(S31)。このベース基板用ウエハ40の厚さは、例えば500μmとなっている。   Next, a second wafer for producing a base substrate wafer (first substrate) 40, which will later become the base substrate 2 (see FIG. 3), up to the state immediately before anodic bonding, at the same time as the above process or before and after. Manufacturing process S30 is performed. First, after polishing and washing soda-lime glass to a predetermined thickness, a disk-shaped base substrate wafer 40 is formed by removing the outermost work-affected layer by etching or the like (S31). The thickness of the base substrate wafer 40 is, for example, 500 μm.

次に、図3に示すように、ベース基板2を厚さ方向に貫通し、キャビティCの内側と圧電振動子1の外側とを導通する貫通電極32、33を形成する貫通電極形成工程S32を行う。以下に、貫通電極形成工程S32について詳細を説明する。   Next, as shown in FIG. 3, a through electrode forming step S <b> 32 for forming through electrodes 32 and 33 that penetrate the base substrate 2 in the thickness direction and conduct the inside of the cavity C and the outside of the piezoelectric vibrator 1 is performed. Do. Details of the through electrode forming step S32 will be described below.

貫通電極形成工程S32では、まず図10に示すように、ベース基板用ウエハ40の中央部に位置する孔形成領域R1に、ベース基板用ウエハ40の厚さ方向に貫通する貫通孔30、31を、例えばサンドブラスト法等により形成する貫通孔形成工程S32Aを行う。このとき本実施形態では、ベース基板用ウエハ40の内面(第1面)40a側から、内面40aとは反対の外面(第2面)40b側に向けて漸次拡径する逆テーパ状に貫通孔30、31を形成する。なお、ベース基板用ウエハ40の外面40bおよび内面40aはそれぞれ、後のベース基板2の外面および内面となる。   In the through electrode forming step S32, first, as shown in FIG. 10, through holes 30 and 31 penetrating in the thickness direction of the base substrate wafer 40 are formed in the hole forming region R1 located at the center of the base substrate wafer 40. For example, a through-hole forming step S32A formed by a sandblast method or the like is performed. At this time, in this embodiment, the through hole is formed in a reverse taper shape that gradually increases in diameter from the inner surface (first surface) 40a side of the base substrate wafer 40 toward the outer surface (second surface) 40b side opposite to the inner surface 40a. 30 and 31 are formed. The outer surface 40b and the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 are the outer surface and the inner surface of the subsequent base substrate 2, respectively.

ここで、ベース基板用ウエハ40の内面40a側における貫通孔30、31の開口部の内径は、例えば200μmとなっている。また、貫通孔30、31のテーパ角θ(図12参照)は、例えば20度となっている。
なお図10、並びに以下に示す図11および図14では、図面を見易くするために、貫通孔30、31の数を省略するとともに、大きさ等を誇張して図示しており、貫通孔30、31の数や大きさ等は図示の例に限られない。
Here, the inner diameter of the openings of the through holes 30 and 31 on the inner surface 40a side of the base substrate wafer 40 is, for example, 200 μm. Further, the taper angle θ (see FIG. 12) of the through holes 30 and 31 is, for example, 20 degrees.
10 and FIG. 11 and FIG. 14 shown below, the number of the through holes 30 and 31 is omitted and the size and the like are exaggerated for easy understanding of the drawings. The number, size, etc. of 31 are not limited to the illustrated example.

次いで、貫通電極32、33の一部を構成する芯材部7と、表面に芯材部7が立設された土台部8と、を備える導電性の鋲体9の芯材部7を貫通孔30、31内に挿入する鋲体配置工程S32Bを行う。
なお図示の例では、鋲体9の芯材部7は、円柱状に形成されるとともに、土台部8は円盤状に形成されている。また芯材部7の長さは、例えば480μmであり、芯材部7の直径は150μmであり、土台部8の直径は300μmである。さらに芯材部7は、土台部8の表面の中央部に土台部8の法線D方向(図12参照)に沿って立設されている。
Next, the core material portion 7 of the conductive casing 9 including the core material portion 7 constituting a part of the through electrodes 32 and 33 and the base portion 8 on which the core material portion 7 is erected is penetrated. A housing arrangement process S32B to be inserted into the holes 30 and 31 is performed.
In the illustrated example, the core portion 7 of the housing 9 is formed in a columnar shape, and the base portion 8 is formed in a disk shape. Moreover, the length of the core part 7 is 480 micrometers, for example, the diameter of the core part 7 is 150 micrometers, and the diameter of the base part 8 is 300 micrometers. Furthermore, the core part 7 is erected along the normal D direction (see FIG. 12) of the base part 8 at the center of the surface of the base part 8.

ここで、鋲体配置工程S32Bの詳細な説明の前に、鋲体配置工程S32Bに用いる挿入装置70について説明する。図10に示すように、挿入装置70は、ベース基板用ウエハ40を保持する皿状の保持部材71と、保持部材71が組み付けられ、かつ保持部材71の底壁部71aとともに吸引室72を画成する基台部材73と、吸引室72内を真空吸引する吸引ポンプ74と、基台部材73を揺動させる揺動手段75と、基台部材73を振動させる振動手段76と、を備えている。   Here, before the detailed description of the housing arrangement step S32B, the insertion device 70 used in the housing arrangement step S32B will be described. As shown in FIG. 10, the insertion device 70 includes a dish-shaped holding member 71 that holds the base substrate wafer 40 and the holding member 71, and defines the suction chamber 72 together with the bottom wall portion 71 a of the holding member 71. A base member 73, a suction pump 74 that vacuum-sucks the inside of the suction chamber 72, a swing means 75 that swings the base member 73, and a vibration means 76 that vibrates the base member 73. Yes.

保持部材71の底壁部71aの表面71cは、平坦であるとともに上方を向いており、前記表面71cの中央部には、ベース基板用ウエハ40を保持する保持凹部77が形成されている。この保持凹部77内に、ベース基板用ウエハ40が内面40aを上方に向けて保持されたウエハ保持状態で、ベース基板用ウエハ40の内面40aと、保持部材71の底壁部71aの表面71cと、は面一になる。なお図示の例では、前記ウエハ保持状態で、ベース基板用ウエハ40の側面と、保持凹部77の内周面と、の間には隙間があいているが、この隙間はなくても良い。   A surface 71c of the bottom wall portion 71a of the holding member 71 is flat and faces upward, and a holding recess 77 for holding the base substrate wafer 40 is formed at the center of the surface 71c. In the holding recess 77, the base substrate wafer 40 is held with the inner surface 40a facing upward, and the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 and the surface 71c of the bottom wall portion 71a of the holding member 71 , Will be the same. In the illustrated example, there is a gap between the side surface of the base substrate wafer 40 and the inner peripheral surface of the holding recess 77 in the wafer holding state, but this gap may not be present.

保持凹部77の底面には、保持部材71の底壁部71aの裏面71d側に向けて開口し、保持凹部77と吸引室72とを連通する吸引孔78が複数形成されている。これらの吸引孔78は、ベース基板用ウエハ40の貫通孔30、31に対応して形成されており、前記ウエハ保持状態で、全ての貫通孔30、31は、互いに異なる吸引孔78に連通する。これにより、吸引室72は、ベース基板用ウエハ40の外面40b側から吸引孔78を通して貫通孔30、31に連通することとなる。   A plurality of suction holes 78 that open toward the back surface 71 d side of the bottom wall 71 a of the holding member 71 and communicate with the holding recess 77 and the suction chamber 72 are formed on the bottom surface of the holding recess 77. These suction holes 78 are formed corresponding to the through holes 30 and 31 of the base substrate wafer 40, and all the through holes 30 and 31 communicate with different suction holes 78 in the wafer holding state. . As a result, the suction chamber 72 communicates with the through holes 30 and 31 through the suction hole 78 from the outer surface 40b side of the base substrate wafer 40.

揺動手段75は、前記ウエハ保持状態で、ベース基板用ウエハ40の内面40aに平行な揺動軸O回りに基台部材73を揺動させ、ベース基板用ウエハ40を揺動軸O回りに揺動させる。ここで図示の例では、前記ウエハ保持状態で、ベース基板用ウエハ40の内面40aと、保持部材71の底壁部71aの表面71cと、が面一なので、揺動軸Oは、保持部材71の底壁部71aの表面71cに平行となっている。
また振動手段76は、基台部材73を揺動軸O方向に揺動(往復動)させる。
The swinging means 75 swings the base member 73 around the swing axis O parallel to the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 while holding the wafer, and moves the base substrate wafer 40 around the swing axis O. Rock. In the example shown here, since the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 and the surface 71c of the bottom wall portion 71a of the holding member 71 are flush with each other in the wafer holding state, the swing axis O is the holding member 71. Is parallel to the surface 71c of the bottom wall 71a.
The vibration means 76 swings (reciprocates) the base member 73 in the swing axis O direction.

以上に示した挿入装置70を用いた鋲体配置工程S32Bでは、ベース基板用ウエハ40の内面40aを上方に向けて内面40a上で鋲体9を移動させつつ、貫通孔30、31を通して外面40b側から鋲体9を吸引することで、芯材部7を貫通孔30、31内に挿入する。このとき本実施形態では、ベース基板用ウエハ40を揺動軸O回りに揺動させるとともに、揺動軸O方向にベース基板用ウエハ40を振動させることで、ベース基板用ウエハ40の内面40a上で鋲体9を移動させる。   In the housing arrangement step S32B using the insertion device 70 described above, the outer surface 40b is passed through the through holes 30 and 31 while the housing 9 is moved on the inner surface 40a with the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 facing upward. The core member 7 is inserted into the through holes 30 and 31 by sucking the housing 9 from the side. At this time, in the present embodiment, the base substrate wafer 40 is swung around the swing axis O, and the base substrate wafer 40 is vibrated in the swing axis O direction, whereby the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 is moved. To move the housing 9.

詳しく説明すると、まず、内面40aを上方に向けたベース基板用ウエハ40を挿入装置70の保持凹部77に保持させる。また、鋲体9を多数個まとめた鋲体群90を、保持部材71の底壁部71aにおいて、保持凹部77が形成された中央部よりも周壁部71b側の外周部に配置する。このとき、底壁部71aの外周部のうち、底壁部71aの表面71cに平行で、かつ揺動軸O方向に直交する方向に延びる仮想軸と交差する部分に、鋲体群90を配置する。なお鋲体群90における鋲体9の総数は、ベース基板用ウエハ40の貫通孔30、31の総数より多くても良い。   More specifically, first, the base substrate wafer 40 with the inner surface 40 a facing upward is held in the holding recess 77 of the insertion device 70. Further, the housing group 90 in which a large number of housings 9 are gathered is arranged on the outer peripheral portion of the bottom wall portion 71a of the holding member 71 on the peripheral wall portion 71b side with respect to the central portion where the holding concave portion 77 is formed. At this time, the housing group 90 is arranged in a portion of the outer peripheral portion of the bottom wall portion 71a that intersects a virtual axis extending in a direction parallel to the surface 71c of the bottom wall portion 71a and perpendicular to the swing axis O direction. To do. The total number of the casings 9 in the casing group 90 may be larger than the total number of the through holes 30 and 31 of the base substrate wafer 40.

次いで図11に示すように、底壁部71aの外周部のうち、鋲体群90が配置された部分が上方に向けて移動するように、揺動手段75によって基台部材73を揺動軸O回りに揺動させる。このとき、ベース基板用ウエハ40の内面40aが、例えば水平面に対して4度傾斜するようにベース基板用ウエハ40を揺動させることが好ましい。これにより、保持部材71の底壁部71aの表面71c、およびベース基板用ウエハ40の内面40aに沿った下側に、鋲体9を移動させることができる。   Next, as shown in FIG. 11, the base member 73 is pivoted by the swinging means 75 so that the portion of the outer peripheral portion of the bottom wall portion 71a where the housing group 90 is disposed moves upward. Swing around O. At this time, the base substrate wafer 40 is preferably swung so that the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 is inclined, for example, by 4 degrees with respect to a horizontal plane. Thereby, the housing 9 can be moved to the lower side along the surface 71 c of the bottom wall portion 71 a of the holding member 71 and the inner surface 40 a of the base substrate wafer 40.

またこのとき、振動手段76によって基台部材73を揺動軸O方向に振動させ、揺動軸O方向にベース基板用ウエハ40を振動させる。なお、振動手段76によるベース基板用ウエハ40の振動は、例えば振幅が約3mm、振動数が5〜20Hzであることが好ましい。これにより、本実施形態のように、鋲体9がベース基板用ウエハ40上に鋲体群90として多数個配置されている場合であっても、内面40aに沿った下側に各鋲体9を移動させつつ、内面40aの揺動軸O方向の全域にわたって多数個の鋲体9を拡散させることができる。   At this time, the base member 73 is vibrated in the direction of the swing axis O by the vibration means 76, and the base substrate wafer 40 is vibrated in the direction of the swing axis O. The vibration of the base substrate wafer 40 by the vibration means 76 is preferably, for example, an amplitude of about 3 mm and a frequency of 5 to 20 Hz. Thereby, even when a large number of the casings 9 are arranged as the casing group 90 on the base substrate wafer 40 as in the present embodiment, the casings 9 are arranged on the lower side along the inner surface 40a. The plurality of housings 9 can be diffused over the entire area of the inner surface 40a in the direction of the swing axis O.

さらにこのとき、図12に示すように、鋲体9を倒した状態、つまり土台部8の側面8aおよび芯材部7の先端7aがベース基板用ウエハ40の内面40aに当接し、芯材部7が内面40aに対して傾いた状態で内面40a上を移動させることができる。このように鋲体9が倒れた状態で内面40a上を移動させると、図13に示すように、鋲体9が貫通孔30、31上を通過したときに、芯材部7の先端7aが貫通孔30、31の内面40a側の開口部から貫通孔30、31内に振り込まれるようにして挿入される。   Further, at this time, as shown in FIG. 12, the side surface 8a of the base portion 8 and the tip 7a of the core portion 7 are brought into contact with the inner surface 40a of the base substrate wafer 40, as shown in FIG. 7 can be moved on the inner surface 40a in a state of being inclined with respect to the inner surface 40a. When the casing 9 is moved on the inner surface 40a in a state where the casing 9 is collapsed, as shown in FIG. 13, when the casing 9 passes over the through holes 30 and 31, the tip 7a of the core portion 7 is moved. The through holes 30 and 31 are inserted into the through holes 30 and 31 through the openings on the inner surface 40a side.

ここで、貫通孔30、31が逆テーパ状となっていることから、芯材部7が貫通孔30、31内に挿入される際に、芯材部7の先端7aが貫通孔30、31の内周面に引っ掛かり難くなっている。したがって、鋲体9の芯材部7が貫通孔30、31内に円滑に挿入される。   Here, since the through holes 30 and 31 are inversely tapered, when the core member 7 is inserted into the through holes 30 and 31, the tip 7 a of the core member 7 is inserted into the through holes 30 and 31. It is difficult to get caught on the inner peripheral surface of. Therefore, the core member 7 of the housing 9 is smoothly inserted into the through holes 30 and 31.

ところで、図11に示す2点鎖線のように、ベース基板用ウエハ40の内面40aに沿った下側に鋲体9を移動させる過程で、鋲体9の芯材部7が貫通孔30、31に挿入されずに、鋲体9がベース基板用ウエハ40の孔形成領域R1上を通過し、ベース基板用ウエハ40の下側の端部まで移動することが考えられる。   By the way, in the process of moving the housing 9 downward along the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 as indicated by a two-dot chain line shown in FIG. It is conceivable that the housing 9 passes over the hole forming region R1 of the base substrate wafer 40 and moves to the lower end of the base substrate wafer 40 without being inserted into the base substrate wafer 40.

この場合には、図14に示すように、揺動軸O回りの反対側にベース基板用ウエハ40を揺動させてベース基板用ウエハ40の傾斜を反転させることで、前記端部を上側に位置させる。これにより、貫通孔30、31に芯材部7が挿入されていない鋲体9を、ベース基板用ウエハ40の傾斜を反転させる前とは逆方向に内面40a上で移動させ、内面40aにおける孔形成領域R1上を往復移動させることができる。なお、このようにベース基板用ウエハ40の傾斜を反転させる際には、ベース基板用ウエハ40の内面40aが、例えば水平面に対して2度傾斜するようにベース基板用ウエハ40を揺動させることが好ましい。   In this case, as shown in FIG. 14, the base substrate wafer 40 is swung to the opposite side around the swing axis O, and the inclination of the base substrate wafer 40 is reversed, so that the end portion is turned upward. Position. As a result, the casing 9 in which the core member 7 is not inserted into the through holes 30 and 31 is moved on the inner surface 40a in the direction opposite to the direction before reversing the inclination of the base substrate wafer 40, and the holes in the inner surface 40a are moved. It can be reciprocated on the formation region R1. When the inclination of the base substrate wafer 40 is reversed in this way, the base substrate wafer 40 is swung so that the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 is inclined, for example, by 2 degrees with respect to the horizontal plane. Is preferred.

ところで図11に示すように、本実施形態では、前述のようなベース基板用ウエハ40の揺動、振動とあわせて、吸引ポンプ74によって吸引室72内を真空吸引する。ここで吸引室72は、吸引孔78を通して貫通孔30、31にベース基板用ウエハ40の外面40b側から連通しているので、ベース基板用ウエハ40の内面40a上の鋲体9は、吸引ポンプ74の真空吸引によって貫通孔30、31を通してベース基板用ウエハ40の外面40b側から吸引されることとなる。   As shown in FIG. 11, in this embodiment, the suction chamber 72 is vacuum-sucked by the suction pump 74 in conjunction with the swing and vibration of the base substrate wafer 40 as described above. Here, since the suction chamber 72 communicates with the through holes 30 and 31 from the outer surface 40b side of the base substrate wafer 40 through the suction holes 78, the housing 9 on the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 is provided with a suction pump. By vacuum suction 74, the suction is performed from the outer surface 40 b side of the base substrate wafer 40 through the through holes 30 and 31.

すると、前述のようにベース基板用ウエハ40の内面40a上を移動する鋲体9の芯材部7が、吸引力によって貫通孔30、31内に引き込まれ、芯材部7が貫通孔30、31内に更に円滑に挿入される。
なお本実施形態では、吸引ポンプ74による吸引を間欠的に繰り返す。このとき例えば、吸引ポンプ74を作動させ吸引室72の内圧を0.8秒間0.5MPaにした後、吸引ポンプ74の作動を停止し吸引室72の内圧を0.4秒間、大気圧に戻し、その後これらを繰り返す。
Then, as described above, the core portion 7 of the housing 9 that moves on the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 is drawn into the through holes 30 and 31 by the suction force, and the core portion 7 becomes the through hole 30. It is more smoothly inserted into 31.
In the present embodiment, the suction by the suction pump 74 is repeated intermittently. At this time, for example, after operating the suction pump 74 to set the internal pressure of the suction chamber 72 to 0.5 MPa for 0.8 seconds, the operation of the suction pump 74 is stopped and the internal pressure of the suction chamber 72 is returned to atmospheric pressure for 0.4 seconds. Then repeat these.

以上に示したベース基板用ウエハ40の揺動、振動、並びに貫通孔30、31を通した鋲体9の吸引を、芯材部7が全ての貫通孔30、31内に挿入されるまで行う。なお、ベース基板用ウエハ40の内面40aから鋲体9の芯材部7が挿入されることで、ベース基板用ウエハ40の内面40aと鋲体9の土台部8の表面とが当接し、貫通孔30、31が内面40a側から閉塞される。   The above-described oscillation and vibration of the base substrate wafer 40 and suction of the housing 9 through the through holes 30 and 31 are performed until the core member 7 is inserted into all the through holes 30 and 31. . In addition, by inserting the core part 7 of the housing 9 from the inner surface 40a of the base substrate wafer 40, the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 and the surface of the base portion 8 of the housing 9 are brought into contact with each other and penetrated. The holes 30 and 31 are closed from the inner surface 40a side.

次いで、貫通電極32、33の一部を構成するペースト状の図示しないガラスフリットを貫通孔30、31内に充填する充填工程S32Dを行う。このとき、ベース基板用ウエハ40の外面40b側から貫通孔30、31に前記ガラスフリットを充填する。ここで、貫通孔30、31がベース基板用ウエハ40の内面40a側から閉塞されているので、前記ガラスフリットが貫通孔30、31の内面40a側から漏出するのが抑制される。   Next, a filling step S <b> 32 </ b> D for filling the through holes 30 and 31 with a paste-like glass frit (not shown) constituting a part of the through electrodes 32 and 33 is performed. At this time, the glass frit is filled into the through holes 30 and 31 from the outer surface 40 b side of the base substrate wafer 40. Here, since the through holes 30 and 31 are closed from the inner surface 40 a side of the base substrate wafer 40, the glass frit is suppressed from leaking from the inner surface 40 a side of the through holes 30 and 31.

なおガラスフリット充填工程S32Dを終えた後、ベース基板用ウエハ40の外面40b上に前記ガラスフリットが残存することがある。この場合、外面40b上の前記ガラスフリットは後述する焼成後の研磨工程S32Iによって除去されるため、別途前記ガラスフリットを除去する工程を行なう必要はない。但し、別途前記ガラスフリットを除去する工程を追加することで、後述する焼成工程S32Hにおいて、前記ガラスフリットの焼成時間を短縮できるとともに、研磨工程S32Iの研磨に要する時間も短縮することができる。   After the glass frit filling step S32D, the glass frit may remain on the outer surface 40b of the base substrate wafer 40. In this case, since the glass frit on the outer surface 40b is removed by a polishing step S32I after firing, which will be described later, it is not necessary to perform a separate step of removing the glass frit. However, by adding a separate step of removing the glass frit, the firing time of the glass frit can be shortened in the firing step S32H described later, and the time required for polishing in the polishing step S32I can be shortened.

続いて、貫通孔30、31内に充填された前記ガラスフリットを焼成して硬化させる焼成工程S32Hを行う。焼成工程S32Hでは、貫通孔30、31に充填した前記ガラスフリットを所定の温度で焼成して硬化させる。この焼成工程S32Hを行うことで、貫通孔30、31および芯材部7に前記ガラスフリットが強固に固着して筒体6となり、貫通電極32、33が形成される。   Subsequently, a firing step S32H is performed in which the glass frit filled in the through holes 30 and 31 is fired and cured. In the firing step S32H, the glass frit filled in the through holes 30 and 31 is fired and cured at a predetermined temperature. By performing this firing step S32H, the glass frit is firmly fixed to the through holes 30 and 31 and the core member 7 to form the cylindrical body 6, and the through electrodes 32 and 33 are formed.

最後に、ベース基板用ウエハ40および鋲体9の土台部8を研磨する研磨工程S32Iを行う。具体的には、ベース基板用ウエハ40の外面40b側を研磨し、芯材部7の先端7aを露出させるとともに、鋲体9の土台部8を研磨して除去する。その結果、図3に示すように、筒体6と芯材部7とが一体的に固定された貫通電極32、33を複数得ることができる。
以上で貫通電極形成工程S32が終了する。
Finally, a polishing step S32I for polishing the base substrate wafer 40 and the base portion 8 of the housing 9 is performed. Specifically, the outer surface 40b side of the base substrate wafer 40 is polished to expose the tip 7a of the core portion 7, and the base portion 8 of the housing 9 is polished and removed. As a result, as shown in FIG. 3, it is possible to obtain a plurality of through electrodes 32 and 33 in which the cylindrical body 6 and the core member 7 are integrally fixed.
Thus, the through electrode forming step S32 is completed.

次に図9に示すように、引き回し電極形成工程S33として、貫通電極にそれぞれ電気的に接続された引き回し電極36、37を複数形成する。そして、引き回し電極36、37上に、それぞれ金等からなる尖塔形状のバンプを形成する。なお、図9では、図面の見易さのためバンプの図示を省略している。この時点で第2のウエハ作製工程が終了する。   Next, as shown in FIG. 9, a plurality of lead electrodes 36 and 37 that are electrically connected to the through electrodes are formed as a lead electrode forming step S33. Then, spire-shaped bumps made of gold or the like are formed on the routing electrodes 36 and 37, respectively. In FIG. 9, the illustration of the bumps is omitted for easy viewing of the drawing. At this point, the second wafer manufacturing process is completed.

次に、ベース基板用ウエハ40の引き回し電極36、37上に、バンプBを介して圧電振動片4を接合する実装工程S40を行い、その後、ベース基板用ウエハ40に対してリッド基板用ウエハ50を重ね合わせる重ね合わせ工程S50を行う。   Next, a mounting process S40 is performed in which the piezoelectric vibrating reed 4 is bonded onto the lead electrodes 36 and 37 of the base substrate wafer 40 via the bumps B. Thereafter, the lid substrate wafer 50 is bonded to the base substrate wafer 40. A superimposition step S50 for superimposing is performed.

そして、重ね合わせ工程S50の後、重ね合わせた2枚のウエハを図示しない陽極接合装置に入れ、所定の温度雰囲気で所定の電圧を印加して陽極接合し、ウエハ体60を形成する接合工程S60を行う。ところで、陽極接合を行う際、図3に示すように、ベース基板用ウエハ40に形成された貫通孔30、31は、貫通電極32、33によって完全に塞がれているため、キャビティC内の真空状態が貫通孔30、31を通じて損なわれることがない。しかも、焼成によって筒体6と芯材部7とが一体的に固定されているとともに、これらが貫通孔30、31に対して強固に固着されているため、キャビティC内の真空状態を確実に維持することができる。   Then, after the superposition step S50, the two superposed wafers are put into an anodic bonding apparatus (not shown), and a predetermined voltage is applied in a predetermined temperature atmosphere to perform anodic bonding to form a wafer body 60. I do. By the way, when performing anodic bonding, as shown in FIG. 3, the through holes 30 and 31 formed in the base substrate wafer 40 are completely closed by the through electrodes 32 and 33. The vacuum state is not impaired through the through holes 30 and 31. In addition, since the cylindrical body 6 and the core member 7 are integrally fixed by firing and these are firmly fixed to the through holes 30 and 31, the vacuum state in the cavity C is reliably ensured. Can be maintained.

そして、上述した陽極接合が終了した後、ベース基板用ウエハ40の外面40bに導電性材料をパターニングして、一対の貫通電極32、33にそれぞれ電気的に接続された一対の外部電極38、39(図3参照)を複数形成する外部電極形成工程S70を行う。   After the anodic bonding described above is completed, a conductive material is patterned on the outer surface 40b of the base substrate wafer 40, and a pair of external electrodes 38, 39 electrically connected to the pair of through electrodes 32, 33, respectively. An external electrode forming step S70 for forming a plurality of (see FIG. 3) is performed.

次に、ウエハ体60の状態で、キャビティC内に封止された個々の圧電振動子1の周波数を微調整して所定の範囲内に収める微調工程を行う(S80)。
周波数の微調が終了後、接合されたウエハ体60を切断線Mに沿って切断して小片化する切断工程を行う(S90)。
その後、内部の電気特性検査(S100)を行うことで、圧電振動子1の製造が終了する。
Next, in the state of the wafer body 60, a fine adjustment step of finely adjusting the frequency of each piezoelectric vibrator 1 sealed in the cavity C to be within a predetermined range is performed (S80).
After the fine adjustment of the frequency is completed, a cutting process is performed in which the bonded wafer body 60 is cut along the cutting line M to make pieces (S90).
Thereafter, the internal electrical characteristic inspection (S100) is performed, whereby the manufacture of the piezoelectric vibrator 1 is completed.

以上説明したように、本実施形態に係る圧電振動子の製造方法によれば、鋲体配置工程S32Bの際、ベース基板用ウエハ40の内面40a上で鋲体9を移動させつつ、外面40b側から貫通孔30、31を通して鋲体9を吸引するだけで、鋲体9の芯材部7を貫通孔30、31内に円滑に挿入することができるので、パッケージ5を効率良く製造し、圧電振動子1の低コスト化を図ることができる。   As described above, according to the piezoelectric vibrator manufacturing method according to the present embodiment, the outer surface 40b side is moved while moving the housing 9 on the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 in the housing arrangement step S32B. Since the core part 7 of the housing 9 can be smoothly inserted into the through holes 30 and 31 simply by sucking the housing 9 through the through holes 30 and 31, the package 5 can be manufactured efficiently and piezoelectric The cost of the vibrator 1 can be reduced.

また、鋲体配置工程S32Bの際、外面40b側からの鋲体9の吸引を間欠的に繰り返すので、芯材部7を貫通孔30、31内に確実に挿入することができる。
すなわち、鋲体配置工程S32Bの際、図14に示す2点鎖線のように、土台部8の裏面が内面40aに当接して鋲体9が起立した状態で内面40a上を移動することがある。そして、貫通孔30、31内に鋲体9の芯材部7が挿入される前に、起立した状態の鋲体9の土台部8によって貫通孔30、31が内面40a側から覆われると、貫通孔30、31を通した外面40b側からの吸引力により鋲体9が貫通孔30、31上で保持され続け、芯材部7が貫通孔30、31内に挿入されないおそれがある。しかしながら、外面40b側からの鋲体9の吸引を間欠的に繰り返すことで、仮に起立した状態の鋲体9の土台部8によって貫通孔30、31が内面40a側から覆われたとしても、鋲体9が貫通孔30、31上で保持され続けることがない。したがって、貫通孔30、31を覆う鋲体9を貫通孔30、31上から移動させ貫通孔30、31を開放することが可能になり、芯材部7を貫通孔30、31内に確実に挿入することができる。
In addition, since the suction of the housing 9 from the outer surface 40b side is repeated intermittently during the housing arrangement step S32B, the core member 7 can be reliably inserted into the through holes 30 and 31.
That is, at the time of the housing arrangement step S32B, as shown by a two-dot chain line shown in FIG. 14, the back surface of the base portion 8 may contact the inner surface 40a and move on the inner surface 40a with the housing 9 standing up. . And before the core part 7 of the housing 9 is inserted into the through holes 30 and 31, when the through holes 30 and 31 are covered from the inner surface 40a side by the base portion 8 of the housing 9 in an upright state, The housing 9 is held on the through holes 30 and 31 by the suction force from the outer surface 40b through the through holes 30 and 31, and the core member 7 may not be inserted into the through holes 30 and 31. However, even if the through holes 30 and 31 are covered from the inner surface 40a side by the base portion 8 of the casing 9 in a standing state by intermittently repeating the suction of the casing 9 from the outer surface 40b side, The body 9 does not continue to be held on the through holes 30 and 31. Therefore, the housing 9 covering the through holes 30 and 31 can be moved from above the through holes 30 and 31 to open the through holes 30 and 31, and the core portion 7 can be reliably placed in the through holes 30 and 31. Can be inserted.

(発振器)
次に、本発明に係る発振器の一実施形態について、図15を参照しながら説明する。
本実施形態の発振器110は、図15に示すように、圧電振動子1を、集積回路111に電気的に接続された発振子として構成したものである。この発振器110は、コンデンサ等の電子素子部品112が実装された基板113を備えている。基板113には、発振器用の前記集積回路111が実装されており、この集積回路111の近傍に、圧電振動子1の圧電振動片4が実装されている。これら電子素子部品112、集積回路111及び圧電振動子1は、図示しない配線パターンによってそれぞれ電気的に接続されている。なお、各構成部品は、図示しない樹脂によりモールドされている。
(Oscillator)
Next, an embodiment of an oscillator according to the present invention will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 15, the oscillator 110 according to the present embodiment is configured such that the piezoelectric vibrator 1 is an oscillator electrically connected to an integrated circuit 111. The oscillator 110 includes a substrate 113 on which an electronic element component 112 such as a capacitor is mounted. An integrated circuit 111 for an oscillator is mounted on the substrate 113, and the piezoelectric vibrating piece 4 of the piezoelectric vibrator 1 is mounted in the vicinity of the integrated circuit 111. The electronic element component 112, the integrated circuit 111, and the piezoelectric vibrator 1 are electrically connected by a wiring pattern (not shown). Each component is molded with a resin (not shown).

このように構成された発振器110において、圧電振動子1に電圧を印加すると、圧電振動子1内の圧電振動片4が振動する。この振動は、圧電振動片4が有する圧電特性により電気信号に変換されて、集積回路111に電気信号として入力される。入力された電気信号は、集積回路111によって各種処理がなされ、周波数信号として出力される。これにより、圧電振動子1が発振子として機能する。
また、集積回路111の構成を、例えば、RTC(リアルタイムクロック)モジュール等を要求に応じて選択的に設定することで、時計用単機能発振器等の他、当該機器や外部機器の動作日や時刻を制御したり、時刻やカレンダー等を提供したりする機能を付加することができる。
In the oscillator 110 configured as described above, when a voltage is applied to the piezoelectric vibrator 1, the piezoelectric vibrating reed 4 in the piezoelectric vibrator 1 vibrates. This vibration is converted into an electric signal by the piezoelectric characteristics of the piezoelectric vibrating piece 4 and input to the integrated circuit 111 as an electric signal. The input electrical signal is subjected to various processes by the integrated circuit 111 and output as a frequency signal. Thereby, the piezoelectric vibrator 1 functions as an oscillator.
In addition, by selectively setting the configuration of the integrated circuit 111, for example, an RTC (real-time clock) module or the like as required, the operation date and time of the device or external device in addition to a single-function oscillator for a clock, etc. A function for controlling the time, providing a time, a calendar, and the like can be added.

このような本実施形態の発振器110によれば、低コストな圧電振動子1を備えているので、低コスト化を図ることができる。   According to the oscillator 110 of this embodiment, since the low-cost piezoelectric vibrator 1 is provided, the cost can be reduced.

(電子機器)
次に、本発明に係る電子機器の一実施形態について、図16を参照して説明する。なお電子機器として、前述した圧電振動子1を有する携帯情報機器120を例にして説明する。
始めに本実施形態の携帯情報機器120は、例えば、携帯電話に代表されるものであり、従来技術における腕時計を発展、改良したものである。外観は腕時計に類似し、文字盤に相当する部分に液晶ディスプレイを配し、この画面上に現在の時刻等を表示させることができるものである。また、通信機として利用する場合には、手首から外し、バンドの内側部分に内蔵されたスピーカ及びマイクロフォンによって、従来技術の携帯電話と同様の通信を行うことが可能である。しかしながら、従来の携帯電話と比較して、格段に小型化及び軽量化されている。
(Electronics)
Next, an embodiment of an electronic apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. Note that a portable information device 120 having the above-described piezoelectric vibrator 1 will be described as an example of the electronic device.
First, the portable information device 120 of this embodiment is represented by, for example, a mobile phone, and is a development and improvement of a wrist watch in the prior art. The appearance is similar to that of a wristwatch, and a liquid crystal display is arranged in a portion corresponding to a dial so that the current time and the like can be displayed on this screen. Further, when used as a communication device, it is possible to perform communication similar to that of a conventional mobile phone by using a speaker and a microphone that are removed from the wrist and incorporated in the inner portion of the band. However, it is much smaller and lighter than conventional mobile phones.

次に、本実施形態の携帯情報機器120の構成について説明する。この携帯情報機器120は、図16に示すように、圧電振動子1と、電力を供給するための電源部121とを備えている。電源部121は、例えば、リチウム二次電池からなっている。この電源部121には、各種制御を行う制御部122と、時刻等のカウントを行う計時部123と、外部との通信を行う通信部124と、各種情報を表示する表示部125と、それぞれの機能部の電圧を検出する電圧検出部126とが並列に接続されている。そして、電源部121によって、各機能部に電力が供給されるようになっている。   Next, the configuration of the portable information device 120 of this embodiment will be described. As shown in FIG. 16, the portable information device 120 includes the piezoelectric vibrator 1 and a power supply unit 121 for supplying power. The power supply unit 121 is made of, for example, a lithium secondary battery. The power supply unit 121 includes a control unit 122 that performs various controls, a clock unit 123 that counts time, a communication unit 124 that communicates with the outside, a display unit 125 that displays various information, and the like. A voltage detection unit 126 that detects the voltage of the functional unit is connected in parallel. Power is supplied to each functional unit by the power supply unit 121.

制御部122は、各機能部を制御して音声データの送信や受信、現在時刻の計測、表示等、システム全体の動作制御を行う。また、制御部122は、予めプログラムが書き込まれたROMと、該ROMに書き込まれたプログラムを読み出して実行するCPUと、該CPUのワークエリアとして使用されるRAM等とを備えている。   The control unit 122 controls each function unit to control operation of the entire system such as transmission and reception of audio data, measurement and display of the current time, and the like. The control unit 122 includes a ROM in which a program is written in advance, a CPU that reads and executes the program written in the ROM, and a RAM that is used as a work area for the CPU.

計時部123は、発振回路やレジスタ回路、カウンタ回路、インターフェース回路等を内蔵する集積回路と、圧電振動子1とを備えている。圧電振動子1に電圧を印加すると圧電振動片4が振動し、該振動が水晶の有する圧電特性により電気信号に変換されて、発振回路に電気信号として入力される。発振回路の出力は二値化され、レジスタ回路とカウンタ回路とにより計数される。そして、インターフェース回路を介して、制御部122と信号の送受信が行われ、表示部125に、現在時刻や現在日付、カレンダー情報等が表示される。   The timer unit 123 includes an integrated circuit including an oscillation circuit, a register circuit, a counter circuit, an interface circuit, and the like, and the piezoelectric vibrator 1. When a voltage is applied to the piezoelectric vibrator 1, the piezoelectric vibrating reed 4 vibrates, and the vibration is converted into an electric signal by the piezoelectric characteristics of the crystal and is input to the oscillation circuit as an electric signal. The output of the oscillation circuit is binarized and counted by a register circuit and a counter circuit. Then, signals are transmitted to and received from the control unit 122 via the interface circuit, and the current time, current date, calendar information, and the like are displayed on the display unit 125.

通信部124は、従来の携帯電話と同様の機能を有し、無線部127、音声処理部128、切替部129、増幅部130、音声入出力部131、電話番号入力部132、着信音発生部133及び呼制御メモリ部134を備えている。
無線部127は、音声データ等の各種データを、アンテナ135を介して基地局と送受信のやりとりを行う。音声処理部128は、無線部127又は増幅部130から入力された音声信号を符号化及び複号化する。増幅部130は、音声処理部128又は音声入出力部131から入力された信号を、所定のレベルまで増幅する。音声入出力部131は、スピーカやマイクロフォン等からなり、着信音や受話音声を拡声したり、音声を集音したりする。
The communication unit 124 has functions similar to those of a conventional mobile phone, and includes a radio unit 127, a voice processing unit 128, a switching unit 129, an amplification unit 130, a voice input / output unit 131, a telephone number input unit 132, a ring tone generation unit. 133 and a call control memory unit 134.
The radio unit 127 exchanges various data such as audio data with the base station via the antenna 135. The audio processing unit 128 encodes and decodes the audio signal input from the radio unit 127 or the amplification unit 130. The amplifying unit 130 amplifies the signal input from the audio processing unit 128 or the audio input / output unit 131 to a predetermined level. The voice input / output unit 131 includes a speaker, a microphone, and the like, and amplifies a ringtone and a received voice or collects a voice.

また、着信音発生部133は、基地局からの呼び出しに応じて着信音を生成する。切替部129は、着信時に限って、音声処理部128に接続されている増幅部130を着信音発生部133に切り替えることによって、着信音発生部133において生成された着信音が増幅部130を介して音声入出力部131に出力される。
なお、呼制御メモリ部134は、通信の発着呼制御に係るプログラムを格納する。また、電話番号入力部132は、例えば、0から9の番号キー及びその他のキーを備えており、これら番号キー等を押下することにより、通話先の電話番号等が入力される。
In addition, the ring tone generator 133 generates a ring tone in response to a call from the base station. The switching unit 129 switches the amplifying unit 130 connected to the voice processing unit 128 to the ringing tone generating unit 133 only when an incoming call is received, so that the ringing tone generated by the ringing tone generating unit 133 passes through the amplifying unit 130. To the audio input / output unit 131.
Note that the call control memory unit 134 stores a program related to incoming / outgoing call control of communication. The telephone number input unit 132 includes, for example, number keys from 0 to 9 and other keys. By pressing these number keys and the like, a telephone number of a call destination is input.

電圧検出部126は、電源部121によって制御部122等の各機能部に対して加えられている電圧が、所定の値を下回った場合に、その電圧降下を検出して制御部122に通知する。このときの所定の電圧値は、通信部124を安定して動作させるために必要な最低限の電圧として予め設定されている値であり、例えば、3V程度となる。電圧検出部126から電圧降下の通知を受けた制御部122は、無線部127、音声処理部128、切替部129及び着信音発生部133の動作を禁止する。特に、消費電力の大きな無線部127の動作停止は、必須となる。更に、表示部125に、通信部124が電池残量の不足により使用不能になった旨が表示される。   The voltage detection unit 126 detects the voltage drop and notifies the control unit 122 when the voltage applied to each functional unit such as the control unit 122 by the power supply unit 121 falls below a predetermined value. . The predetermined voltage value at this time is a value set in advance as a minimum voltage necessary to stably operate the communication unit 124, and is, for example, about 3V. Upon receiving the voltage drop notification from the voltage detection unit 126, the control unit 122 prohibits the operations of the radio unit 127, the voice processing unit 128, the switching unit 129, and the ring tone generation unit 133. In particular, it is essential to stop the operation of the wireless unit 127 with high power consumption. Further, the display unit 125 displays that the communication unit 124 has become unusable due to insufficient battery power.

すなわち、電圧検出部126と制御部122とによって、通信部124の動作を禁止し、その旨を表示部125に表示することができる。この表示は、文字メッセージであっても良いが、より直感的な表示として、表示部125の表示面の上部に表示された電話アイコンに、×(バツ)印を付けるようにしても良い。
なお、通信部124の機能に係る部分の電源を、選択的に遮断することができる電源遮断部136を備えることで、通信部124の機能をより確実に停止することができる。
That is, the operation of the communication unit 124 can be prohibited by the voltage detection unit 126 and the control unit 122, and that effect can be displayed on the display unit 125. This display may be a text message, but as a more intuitive display, a x (X) mark may be attached to the telephone icon displayed at the top of the display surface of the display unit 125.
In addition, the function of the communication part 124 can be stopped more reliably by providing the power supply cutoff part 136 that can selectively cut off the power of the part related to the function of the communication part 124.

本実施形態の携帯情報機器120によれば、低コストな圧電振動子1を備えているので、低コスト化を図ることができる。   According to the portable information device 120 of the present embodiment, since the low-cost piezoelectric vibrator 1 is provided, the cost can be reduced.

(電波時計)
次に、本発明に係る電波時計の一実施形態について、図17を参照して説明する。
本実施形態の電波時計140は、図17に示すように、フィルタ部141に電気的に接続された圧電振動子1を備えたものであり、時計情報を含む標準の電波を受信して、正確な時刻に自動修正して表示する機能を備えた時計である。
日本国内には、福島県(40kHz)と佐賀県(60kHz)とに、標準の電波を送信する送信所(送信局)があり、それぞれ標準電波を送信している。40kHz若しくは60kHzのような長波は、地表を伝播する性質と、電離層と地表とを反射しながら伝播する性質とを併せもつため、伝播範囲が広く、前述した2つの送信所で日本国内を全て網羅している。
(Radio watch)
Next, an embodiment of a radio timepiece according to the present invention will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 17, the radio-controlled timepiece 140 according to the present embodiment includes the piezoelectric vibrator 1 electrically connected to the filter unit 141, and receives a standard radio wave including timepiece information to accurately It is a clock with a function of automatically correcting and displaying the correct time.
In Japan, there are transmitting stations (transmitting stations) that transmit standard radio waves in Fukushima Prefecture (40 kHz) and Saga Prefecture (60 kHz), each transmitting standard radio waves. Long waves such as 40 kHz or 60 kHz have both the property of propagating the ground surface and the property of propagating while reflecting the ionosphere and the ground surface, so the propagation range is wide, and the above two transmitting stations cover all of Japan. is doing.

以下、電波時計140の機能的構成について詳細に説明する。
アンテナ142は、40kHz若しくは60kHzの長波の標準電波を受信する。長波の標準電波は、タイムコードと呼ばれる時刻情報を、40kHz若しくは60kHzの搬送波にAM変調をかけたものである。受信された長波の標準電波は、アンプ143によって増幅され、複数の圧電振動子1を有するフィルタ部141によって濾波、同調される。
本実施形態における圧電振動子1は、前記搬送周波数と同一の40kHz及び60kHzの共振周波数を有する水晶振動子部148、149をそれぞれ備えている。
Hereinafter, the functional configuration of the radio timepiece 140 will be described in detail.
The antenna 142 receives a long standard wave of 40 kHz or 60 kHz. The long-wave standard radio wave is obtained by subjecting time information called a time code to AM modulation on a 40 kHz or 60 kHz carrier wave. The received long standard wave is amplified by the amplifier 143 and filtered and tuned by the filter unit 141 having the plurality of piezoelectric vibrators 1.
The piezoelectric vibrator 1 according to this embodiment includes crystal vibrator portions 148 and 149 having resonance frequencies of 40 kHz and 60 kHz that are the same as the carrier frequency.

更に、濾波された所定周波数の信号は、検波、整流回路144により検波復調される。
続いて、波形整形回路145を介してタイムコードが取り出され、CPU146でカウントされる。CPU146では、現在の年や積算日、曜日、時刻等の情報を読み取る。読み取られた情報は、RTC148に反映され、正確な時刻情報が表示される。
搬送波は、40kHz若しくは60kHzであるから、水晶振動子部148、149は、前述した音叉型の構造を持つ振動子が好適である。
Further, the filtered signal having a predetermined frequency is detected and demodulated by the detection and rectification circuit 144.
Subsequently, the time code is taken out via the waveform shaping circuit 145 and counted by the CPU 146. The CPU 146 reads information such as the current year, accumulated date, day of the week, and time. The read information is reflected in the RTC 148, and accurate time information is displayed.
Since the carrier wave is 40 kHz or 60 kHz, the crystal vibrator portions 148 and 149 are preferably vibrators having the tuning fork type structure described above.

なお、前述の説明は、日本国内の例で示したが、長波の標準電波の周波数は、海外では異なっている。例えば、ドイツでは77.5KHzの標準電波が用いられている。従って、海外でも対応可能な電波時計140を携帯機器に組み込む場合には、さらに日本の場合とは異なる周波数の圧電振動子1を必要とする。   In addition, although the above-mentioned description was shown in the example in Japan, the frequency of the long standard wave is different overseas. For example, in Germany, a standard radio wave of 77.5 KHz is used. Therefore, when the radio timepiece 140 that can be used overseas is incorporated in a portable device, the piezoelectric vibrator 1 having a frequency different from that in Japan is required.

本実施形態の電波時計140によれば、低コストな圧電振動子1を備えているので、低コスト化を図ることができる。   According to the radio-controlled timepiece 140 of this embodiment, since the low-cost piezoelectric vibrator 1 is provided, the cost can be reduced.

なお、本発明の技術的範囲は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、前記実施形態では、リッド基板用ウエハ50に接合膜35を形成したが、これとは逆に、ベース基板用ウエハ40の内面40aに接合膜35を形成してもよい。この場合は、引き回し電極36、37と接合膜35とが接触しないように、ベース基板用ウエハ40におけるリッド基板用ウエハ50との接合面のみに形成することが好ましい。
The technical scope of the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
For example, in the above embodiment, the bonding film 35 is formed on the lid substrate wafer 50, but conversely, the bonding film 35 may be formed on the inner surface 40 a of the base substrate wafer 40. In this case, it is preferable that the lead electrodes 36 and 37 and the bonding film 35 be formed only on the bonding surface of the base substrate wafer 40 with the lid substrate wafer 50 so that the lead electrodes 36 and 37 do not contact with each other.

また前記実施形態では、鋲体配置工程S32Bの際、ベース基板用ウエハ40の内面40aに平行な揺動軸O回りにベース基板用ウエハ40を揺動させるとともに、揺動軸O方向にベース基板用ウエハ40を振動させることで、ベース基板用ウエハ40の内面40a上で鋲体9を移動させるものとしたが、これに限られない。
また前記実施形態では、鋲体配置工程S32Bの際、外面40b側からの鋲体9の吸引を間欠的に繰り返すものとしたが、これに限られない。
In the above-described embodiment, the base substrate wafer 40 is swung around the swing axis O parallel to the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 and the base substrate is moved in the swing axis O direction during the housing arrangement step S32B. Although the housing 9 is moved on the inner surface 40a of the base substrate wafer 40 by vibrating the wafer 40, the present invention is not limited to this.
In the above embodiment, the suction of the housing 9 from the outer surface 40b side is intermittently repeated during the housing arrangement step S32B. However, the present invention is not limited to this.

また前記実施形態では、貫通孔30、31内に充填される充填材がペースト状の前記ガラスフリットであるものとしたが、これに限られるものではない。例えば、導電性のペースト(例えば銀ペーストなど)であっても良い。   Moreover, in the said embodiment, although the filler filled in the through-holes 30 and 31 shall be the said paste-like glass frit, it is not restricted to this. For example, a conductive paste (for example, a silver paste) may be used.

また前記実施形態では、本発明に係るパッケージの製造方法を使用しつつ、パッケージ5の内部に圧電振動片4を封入して圧電振動子1を製造したが、パッケージ5の内部に圧電振動片4以外の電子部品を封入して、圧電振動子以外のデバイスを製造することも可能である。
さらに前記実施形態では、ベース基板2とリッド基板3との間にキャビティCを形成した2層構造タイプの圧電振動子1に本発明を適用した場合について説明したが、これに限らず、圧電基板をベース基板とリッド基板とで上下から挟み込むように接合した3層構造タイプの圧電振動子に適用しても構わない。
In the above embodiment, the piezoelectric vibrator 1 is manufactured by enclosing the piezoelectric vibrating reed 4 inside the package 5 while using the package manufacturing method according to the present invention. However, the piezoelectric vibrating reed 4 inside the package 5 is manufactured. It is also possible to manufacture devices other than piezoelectric vibrators by enclosing other electronic components.
Further, in the above-described embodiment, the case where the present invention is applied to the two-layer structure type piezoelectric vibrator 1 in which the cavity C is formed between the base substrate 2 and the lid substrate 3 has been described. May be applied to a three-layer structure type piezoelectric vibrator in which a base substrate and a lid substrate are joined so as to be sandwiched from above and below.

その他、本発明の趣旨に逸脱しない範囲で、前記実施形態における構成要素を周知の構成要素に置き換えることは適宜可能であり、また、前記した変形例を適宜組み合わせてもよい。   In addition, it is possible to appropriately replace the constituent elements in the embodiment with known constituent elements without departing from the spirit of the present invention, and the above-described modified examples may be appropriately combined.

1 圧電振動子
2 ベース基板(第1基板)
3 リッド基板(基板)
4 圧電振動片(電子部品)
7 芯材部
8 土台部
9 鋲体
30、31 貫通孔
32、33 貫通電極
40 ベース基板用ウエハ(第1基板)
40a 内面(第1面)
40b 外面(第2面)
110 発振器
120 携帯情報機器(電子機器)
140 電波時計
C キャビティ
1 Piezoelectric vibrator 2 Base substrate (first substrate)
3 Lid substrate (substrate)
4 Piezoelectric vibrating piece (electronic component)
7 Core material part 8 Base part 9 Housing 30, 31 Through hole 32, 33 Through electrode 40 Base substrate wafer (first substrate)
40a Inner surface (first surface)
40b Outer surface (second surface)
110 Oscillator 120 Portable information device (electronic device)
140 radio clock C cavity

Claims (7)

互いに接合された複数の基板の間に形成されたキャビティ内に、電子部品を封入可能なパッケージの製造方法であって、
前記複数の基板のうち、第1基板を厚さ方向に貫通し、前記キャビティの内側と前記パッケージの外側とを導通する貫通電極を形成する貫通電極形成工程を有し、
前記貫通電極形成工程は、
前記第1基板に貫通孔を形成する貫通孔形成工程と、
平板状の土台部と、前記土台部の表面に立設された芯材部と、を備える導電性の鋲体の前記芯材部を前記貫通孔内に挿入する鋲体配置工程と、
を有し、
前記貫通孔形成工程の際、前記第1基板の第1面側から、前記第1面とは反対の第2面側に向けて漸次拡径する逆テーパ状に前記貫通孔を形成し、
前記鋲体配置工程の際、前記第1基板の前記第1面を上方に向けて前記第1面上で前記鋲体を移動させつつ、前記貫通孔を通して前記第2面側から前記鋲体を吸引することで、前記芯材部を前記貫通孔内に挿入することを特徴とするパッケージの製造方法。
A method of manufacturing a package in which an electronic component can be enclosed in a cavity formed between a plurality of substrates bonded together,
A through electrode forming step of forming a through electrode that penetrates the first substrate in the thickness direction among the plurality of substrates and electrically connects the inside of the cavity and the outside of the package;
The through electrode forming step includes:
A through hole forming step of forming a through hole in the first substrate;
A housing arrangement step of inserting the core portion of a conductive housing comprising a flat base portion and a core portion standing on the surface of the base portion into the through hole,
Have
During the through hole forming step, the through hole is formed in a reverse taper shape that gradually increases in diameter from the first surface side of the first substrate toward the second surface side opposite to the first surface;
During the housing arrangement step, the housing is moved from the second surface side through the through-hole while moving the housing on the first surface with the first surface of the first substrate facing upward. The package manufacturing method, wherein the core member is inserted into the through hole by suction.
請求項1記載のパッケージの製造方法であって、
前記鋲体配置工程の際、前記第1基板の前記第1面に平行な揺動軸回りに前記第1基板を揺動させるとともに、前記揺動軸方向に前記第1基板を振動させることで、前記第1基板の前記第1面上で前記鋲体を移動させることを特徴とするパッケージの製造方法。
A method of manufacturing a package according to claim 1,
During the housing arrangement step, the first substrate is swung around a swing axis parallel to the first surface of the first substrate, and the first substrate is vibrated in the swing axis direction. A method for manufacturing a package, wherein the casing is moved on the first surface of the first substrate.
請求項1又は2記載のパッケージの製造方法であって、
前記鋲体配置工程の際、前記第2面側からの前記鋲体の吸引を間欠的に繰り返すことを特徴とするパッケージの製造方法。
A method of manufacturing a package according to claim 1 or 2,
In the case of the housing arrangement process, the suction of the housing from the second surface side is intermittently repeated.
請求項1から3のいずれか1項に記載のパッケージの製造方法を実施する工程と、前記電子部品としての圧電振動片を前記貫通電極に実装しつつ前記キャビティの内部に配置する工程とを有することを特徴とする圧電振動子の製造方法。   4. A step of performing the package manufacturing method according to claim 1, and a step of disposing the piezoelectric vibrating piece as the electronic component inside the cavity while being mounted on the through electrode. A method of manufacturing a piezoelectric vibrator. 請求項4に記載の方法で製造された圧電振動子が、発振子として集積回路に電気的に接続されていることを特徴とする発振器。   An oscillator, wherein the piezoelectric vibrator manufactured by the method according to claim 4 is electrically connected to an integrated circuit as an oscillator. 請求項4に記載の方法で製造された圧電振動子が、計時部に電気的に接続されていることを特徴とする電子機器。   5. An electronic apparatus, wherein the piezoelectric vibrator manufactured by the method according to claim 4 is electrically connected to a time measuring unit. 請求項4に記載の方法で製造された圧電振動子が、フィルタ部に電気的に接続されていることを特徴とする電波時計。   A radio-controlled timepiece, wherein the piezoelectric vibrator manufactured by the method according to claim 4 is electrically connected to a filter portion.
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