JP2011185935A - 剪断試験装置のためのクランプ機構 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、結合部(302)と基板(300)との間の取付け強度を試験する剪断試験装置(12)に関する。剪断試験装置(12)は、基板(300)が取付けられるX−Yテーブル(13)と、弾性コネクタ(21)を介してベースプレート(20)に取付けられた試験ツール(100)との間の相対移動を行う駆動機構を有する。ベースプレート(20)に対して固定されたクランプ装置(33)は、試験ツール(100)に押付けられない休止位置と、試験ツール(100)を適所に固定する作動位置との間を移動可能である。剪断試験中、試験ツール(100)により結合部(302)を基板(300)から剪断させるとき、当接部(30,31)は追加のクランプ力を試験ツール(100)に付与する、
【選択図】図3
Description
1.結合部と電子基板との間の取付け強度を試験するための剪断試験装置であって、前記基板が取付けられたX−Yテーブルと、試験ツールと、前記X−Yテーブルと前記試験ツールとの間の試験方向の相対移動を行う駆動機構と、ベースプレートと、を有し、前記試験ツールは、弾性コネクタによって前記ベースプレートに取付けられ、前記弾性コネクタは、前記ベースプレートに対する前記試験ツールの、前記試験方向と垂直な軸線方向の移動を可能し、更に、前記ベースプレートに対して剛性的に固定され且つ前記試験ツールと接触する少なくとも1つの当接部と、前記ベースプレートに対して剛性的に固定されたクランプ装置と、を有し、前記クランプ装置は、前記クランプ装置が前記試験ツールに押付けられない休止位置と、前記試験ツールを前記ベースプレートに対して前記軸線方向の適所に固定された状態に維持するように前記クランプ装置が前記試験ツールに押付けられる作動位置との間を移動可能であり、前記駆動機構が、剪断試験中、前記X−Yテーブルと前記試験ツールとの間の前記試験方向の相対移動を行って、前記試験ツールにより前記結合部を前記電子基板から剪断させるとき、前記少なくとも1つの当接部は、追加のクランプ力を前記試験ツールに付与する、剪断試験装置。
3.前記クランプ装置が前記作動位置にあるとき、前記試験ツールは、前記クランプ装置と前記少なくとも1つの当接部の間に保持される、実施形態又は2に記載の剪断試験装置。
4.前記少なくとも1つの当接部は、前記ベースプレートに対して適所に剛性的に固定された第1の当接部及び第2の当接部を含む、実施形態1〜3のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
5.前記第1の当接部と前記第2の当接部は、前記軸線方向において互いに間隔を置いた関係をなして位置決めされる、実施形態4に記載の剪断試験装置。
7.前記剪断試験中、前記駆動機構が前記X−Yテーブルと前記試験ツールとの間の前記試験方向の相対移動を行い、前記試験ツールにより前記結合部を前記基板から剪断させるとき、前記第1の当接部及び前記第2の当接部は、追加のクランプ力を前記試験ツールに付与する、実施形態4〜6のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
8.前記駆動機構は、試験方向軸線に沿った試験方向の前記相対移動を行い、前記第1の当接部及び/又は前記第2の当接部の位置は、前記試験方向軸線と平行な1又は2以上の軸線に沿って調節可能である、実施形態4〜7のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
9.前記クランプ装置は、前記休止位置と前記作動位置との間を空気圧機構によって移動可能である、実施形態1〜8のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
11.前記弾性コネクタは、一対の片持ちアームを有し、その一方の端部が前記ベースプレートに固定され、その一方の側の反対側の端部が前記試験ツールを支持する、実施形態1〜10のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
12.前記剪断試験装置は、更に、前記ベースプレートに対する前記試験ツールの前記軸線方向の移動が検出されたときに信号を発生させるように構成されたセンサと、前記センサと前記クランプ装置に接続された制御装置とを有し、前記制御装置は、前記センサからの信号に応答して前記クランプ装置を前記作動位置に移動させるように構成される、実施形態1〜11のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
13.前記試験ツールは、前記ベースプレートに対して適所に固定されたクランプ支持ブロック内に受入れられる、実施形態1〜12のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
14.前記少なくとも1つの当接部は、前記クランプ支持ブロックに取付けられ、前記クランプ装置は、前記クランプ支持ブロック内に配置される、実施形態13に記載の剪断試験装置。
16.前記剪断試験ツールは、剪断ビーム本体に取付けられたツールホルダ及び前記ツールホルダに固定された試験ヘッドを有する、実施形態1〜15のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
17.更に、前記試験ツールに取付けられたタッチダウンブロックと、前記タッチダウンブロックにねじ込まれたタッチダウンねじと、発光部と、受光部と、を有し、前記タッチダウンねじの端部は、前記発光部と前記受光部との間に位置決めされ、前記試験ツールは、前記ベースプレートに対して適所に固定されたクランプ支持ブロック内に受入れられ、前記発光部と前記受光部は、前記タッチダウンねじの互いに反対側で前記クランプ支持ブロック内に配置される、実施形態1〜16のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
18.前記試験ツールは、前記ベースプレートに対して適所に固定されたクランプ支持ブロック内に受入れられ、前記発光体と前記受光体は、前記タッチダウンねじの互いに反対側で前記クランプ支持ブロック内に設けられる、実施形態17に記載の剪断試験装置。
19.前記結合部は、前記基板に結合されたはんだの球状堆積物である、実施形態1〜18のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
22.更に、前記停止ステップに続いて、前記試験ツールをクランプ留めして、前記試験ツールの位置を前記ベースプレートに対して固定するステップを有する、実施形態21に記載の方法。
23.更に、前記クランプ留めステップに続いて、前記試験ツール及び前記ベースプレートを前記基板から所定の距離だけ遠ざけるステップを有する、実施形態22に記載の方法。
24.更に、前記記録ステップに続いて、前記試験ツールを前記ベースプレートに対してクランプ解除するステップを有する、実施形態22又は23に記載の方法。
11 カートリッジ
12 剪断試験装置
13 ステージデーブル(X−Yテーブル)
20 バックプレート(ベースプレート)
21 片持ち支持アーム(弾性コネクタ)
23 クランプ支持ブロック
30 後側クランプねじ(当接部)
31 前側クランプねじ(当接部)
33 クランプ用ピストン(クランプ装置;単一の要素)
36 試験方向
43 一次クランプ用ピストン(クランプ装置)
44 タッチダウン用電子機器
46 タッチダウンセンサ(センサ)
47 移動制御用電子機器
100 剪断試験ツール(試験ツール)
120 タッチダウン調節ねじ(タッチダウンねじ)
122 タッチダウンブロック
202 光学センサ(センサ)
204 発光部
206 受光部
300 基板(電子基板)
302 球状堆積物(結合部)
Claims (15)
- 結合部と電子基板との間の取付け強度を試験するための剪断試験装置であって、
前記基板が取付けられたX−Yテーブルと、
試験ツールと、
前記X−Yテーブルと前記試験ツールとの間の試験方向の相対移動を行う駆動機構と、
ベースプレートと、を有し、前記試験ツールは、弾性コネクタによって前記ベースプレートに取付けられ、前記弾性コネクタは、前記ベースプレートに対する前記試験ツールの、前記試験方向と垂直な軸線方向の移動を可能し、
更に、前記ベースプレートに対して剛性的に固定され且つ前記試験ツールと接触する少なくとも1つの当接部と、
前記ベースプレートに対して剛性的に固定されたクランプ装置と、を有し、
前記クランプ装置は、前記クランプ装置が前記試験ツールに押付けられない休止位置と、前記試験ツールを前記ベースプレートに対して前記軸線方向の適所に固定された状態に維持するように前記クランプ装置が前記試験ツールに押付けられる作動位置との間を移動可能であり、
前記駆動機構が、剪断試験中、前記X−Yテーブルと前記試験ツールとの間の前記試験方向の相対移動を行って、前記試験ツールにより前記結合部を前記電子基板から剪断させるとき、前記少なくとも1つの当接部は、追加のクランプ力を前記試験ツールに付与する、剪断試験装置。 - 前記クランプ装置は、前記作動位置において前記試験ツールに押付けられる単一の要素を有する、請求項1に記載の剪断試験装置。
- 前記クランプ装置が前記作動位置にあるとき、前記試験ツールは、前記クランプ装置と前記少なくとも1つの当接部の間に保持される、請求項1又は2に記載の剪断試験装置。
- 前記少なくとも1つの当接部は、前記ベースプレートに対して適所に剛性的に固定された第1の当接部及び第2の当接部を含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
- 前記第1の当接部と前記第2の当接部は、前記軸線方向において互いに間隔を置いた関係をなして位置決めされる、請求項4に記載の剪断試験装置。
- 前記第1の当接部と前記第2の当接部は、前記試験ツールの互いに反対側に配置される、請求項4又は5に記載の剪断試験装置。
- 前記剪断試験中、前記駆動機構が前記X−Yテーブルと前記試験ツールとの間の前記試験方向の相対移動を行い、前記試験ツールにより前記結合部を前記基板から剪断させるとき、前記第1の当接部及び前記第2の当接部は、追加のクランプ力を前記試験ツールに付与する、請求項4〜6のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
- 前記駆動機構は、試験方向軸線に沿った試験方向の前記相対移動を行い、前記第1の当接部及び/又は前記第2の当接部の位置は、前記試験方向軸線と平行な1又は2以上の軸線に沿って調節可能である、請求項4〜7のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
- 前記クランプ装置は、前記休止位置と前記作動位置との間を空気圧機構によって移動可能である、請求項1〜8のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
- 前記クランプ装置は、空気圧作動式ピストンである、請求項9に記載の剪断試験装置。
- 前記剪断試験装置は、更に、前記ベースプレートに対する前記試験ツールの前記軸線方向の移動が検出されたときに信号を発生させるように構成されたセンサと、前記センサと前記クランプ装置に接続された制御装置とを有し、
前記制御装置は、前記センサからの信号に応答して前記クランプ装置を前記作動位置に移動させるように構成される、請求項1〜10のいずれか1項に記載の剪断試験装置。 - 前記試験ツールは、前記ベースプレートに対して適所に固定されたクランプ支持ブロック内に受入れられる、請求項1〜11のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
- 前記少なくとも1つの当接部は、前記クランプ支持ブロックに取付けられ、前記クランプ装置は、前記クランプ支持ブロック内に配置される、請求項12に記載の剪断試験装置。
- 前記クランプ装置は、前記クランプ支持ブロック内に配置された空気圧作動式ピストンである、請求項12又は13に記載の剪断試験装置。
- 更に、前記試験ツールに取付けられたタッチダウンブロックと、
前記タッチダウンブロックにねじ込まれたタッチダウンねじと、
発光部と、
受光部と、を有し、
前記タッチダウンねじの端部は、前記発光部と前記受光部との間に位置決めされ、前記試験ツールは、前記ベースプレートに対して適所に固定されたクランプ支持ブロック内に受入れられ、前記発光部と前記受光部は、前記タッチダウンねじの互いに反対側で前記クランプ支持ブロック内に配置される、請求項1〜14のいずれか1項に記載の剪断試験装置。
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