JP2011147615A - X-ray fluoroscopic apparatus - Google Patents

X-ray fluoroscopic apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP2011147615A
JP2011147615A JP2010011423A JP2010011423A JP2011147615A JP 2011147615 A JP2011147615 A JP 2011147615A JP 2010011423 A JP2010011423 A JP 2010011423A JP 2010011423 A JP2010011423 A JP 2010011423A JP 2011147615 A JP2011147615 A JP 2011147615A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fluoroscopic
imaging
mas
tube voltage
mode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010011423A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5596987B2 (en
Inventor
Hisanori Kato
久典 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Canon Medical Systems Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Medical Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Medical Systems Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2010011423A priority Critical patent/JP5596987B2/en
Publication of JP2011147615A publication Critical patent/JP2011147615A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5596987B2 publication Critical patent/JP5596987B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To accurately set conditions for fluoroscopy and conditions for radiography suitable for X-ray examination. <P>SOLUTION: An F-kV-F-mAs line computing part 65 computes an F-kV-F-mAs line representing the correlations between fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs based on prior registered data including the fluoroscopic dose, radiographic dose and fluoroscopic tube voltage suitable for various thickness of subjects and basic data including the relational expression between the fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs (fluoroscopic tube current irradiation time product) with the previously stored thickness of subjects as parameters. A fluoroscopy condition setting part 66 sets the fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs suitable for a fluoroscopic mode by comparing the average pixel value and a prescribed threshold of fluoroscopic image data sequentially generated as the fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs are updated along the F-kV-F-mAs line. A radiography condition setting part 67 sets the radiographic tube voltage and radiographic mAs suitable for a radiographic mode based on the fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs and the prior registered data. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、X線透視撮影装置に係り、特に、撮影モードに先行する透視モードにて設定された透視条件に基づいて撮影条件の設定を行なうX線透視撮影装置に関する。   The present invention relates to an X-ray fluoroscopic apparatus, and more particularly to an X-ray fluoroscopic apparatus that sets an imaging condition based on a fluoroscopic condition set in a fluoroscopic mode preceding an imaging mode.

X線診断装置やMRI装置、あるいは、X線CT装置などを用いた医用画像診断技術は、コンピュータ技術の発展に伴って急速な進歩を遂げ、今日の医療において必要不可欠なものとなっている。   Medical image diagnostic technology using an X-ray diagnostic apparatus, an MRI apparatus, or an X-ray CT apparatus has made rapid progress with the development of computer technology and has become indispensable in today's medical care.

X線診断では、診断に用いる画像データの生成を目的とした撮影モードに先行して、この撮影モードの撮影方向や撮影領域、更には、撮影条件(例えば、撮影管電圧、撮影管電流及び照射時間)の設定を目的とした透視モードのX線照射が当該被検体に対して行なわれる。このような、透視モードと撮影モードのX線照射を連続して行なうことが可能なX線透視撮影装置では、パルス状のX線を所定時間間隔で被検体に照射することにより透視モードの画像データ(透視画像データ)のリアルタイム観察を可能としているが、この透視画像データの輝度を最適化するために自動輝度調整法(ABC法)が通常適用されている(例えば、特許文献1参照。)。   In the X-ray diagnosis, prior to an imaging mode for the purpose of generating image data used for diagnosis, the imaging direction and imaging area of this imaging mode, as well as imaging conditions (for example, imaging tube voltage, imaging tube current and irradiation) X-ray irradiation in a fluoroscopic mode for the purpose of setting (time) is performed on the subject. In such an X-ray fluoroscopic apparatus capable of continuously performing X-ray irradiation in the fluoroscopic mode and the imaging mode, an image in the fluoroscopic mode is obtained by irradiating the subject with pulsed X-rays at predetermined time intervals. Data (perspective image data) can be observed in real time, and an automatic brightness adjustment method (ABC method) is usually applied to optimize the brightness of the perspective image data (see, for example, Patent Document 1). .

この自動輝度調整法では、例えば、透視モードのX線照射によって得られた投影データあるいは画像データの所定関心領域における平均画素と予め設定された輝度値(閾値)とを比較し、この比較結果に基づいて透視条件(透視管電圧、透視管電流及び照射時間)の制御が行なわれる。具体的には、X線透視撮影装置の記憶回路に予め保管された透視管電流と照射時間との積を示す透視mAs(F-mAs)と透視管電圧(F-kV)との対応関係を示すF-kV・F-mAsラインに沿って当該被検体の透視モードにおける好適な透視管電圧(F-kVx)及び透視mAs(F-mAsx)の設定が行なわれ、更に、この透視管電圧(F-kVx)及び透視mAs(F-mAsx)に基づいて前記透視モードに後続する撮影モードの好適な撮影管電圧(R-kVx)及び撮影mAs(R-mAsx)の設定が行なわれてきた。   In this automatic brightness adjustment method, for example, an average pixel in a predetermined region of interest of projection data or image data obtained by X-ray irradiation in a fluoroscopic mode is compared with a preset brightness value (threshold value), and the comparison result is Based on this, control of the fluoroscopic conditions (fluoroscopic tube voltage, fluoroscopic tube current and irradiation time) is performed. Specifically, the correspondence between fluoroscopic mAs (F-mAs) indicating the product of fluoroscopic tube current and irradiation time stored in advance in the storage circuit of the X-ray fluoroscopic apparatus and fluoroscopic tube voltage (F-kV) is shown. A suitable fluoroscopic tube voltage (F-kVx) and fluoroscopic mAs (F-mAsx) in the fluoroscopic mode of the subject are set along the F-kV / F-mAs line shown in FIG. Based on (F-kVx) and fluoroscopic mAs (F-mAsx), a suitable shooting tube voltage (R-kVx) and shooting mAs (R-mAsx) have been set for the shooting mode following the fluoroscopic mode.

特開2003−115399号公報JP 2003-115399 A

上述のように、X線透視撮影装置では、当該被検体の透視モードにおいて得られた2次元的な投影データあるいは透視画像データの所定関心領域における平均画素値と閾値とを比較し、両者の間に差異がある場合には、透視管電圧及び透視mAsを上述のFkV・F-mAsラインに沿って更新しながらこのとき新たに得られる投影データあるいは透視画像データの平均画素値と閾値との比較を繰り返すことにより上述の透視管電圧(F-kVx)及び透視mAs(F-mAsx)が設定される。そして、得られたこれらの透視条件に対応する好適な撮影管電圧(R-kVx)及び撮影mAs(R-mAsx)が透視条件-撮影条件対応表に基づいて設定される。   As described above, in the X-ray fluoroscopic imaging apparatus, the average pixel value in a predetermined region of interest of the two-dimensional projection data or the fluoroscopic image data obtained in the fluoroscopic mode of the subject is compared with a threshold value. If there is a difference, the fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs are updated along the above-mentioned FkV / F-mAs line, and the average pixel value of the projection data or fluoroscopic image data newly obtained at this time is compared with the threshold value. Is repeated to set the above-described fluoroscopic tube voltage (F-kVx) and fluoroscopic mAs (F-mAsx). Then, a suitable photographing tube voltage (R-kVx) and photographing mAs (R-mAsx) corresponding to the obtained fluoroscopic conditions are set based on the fluoroscopic condition-imaging condition correspondence table.

しかしながら、上述の方法は、以下に述べるような問題点を有している。即ち、このような手順によって行なわれる従来の透視条件及び撮影条件の設定では、被検体厚に無関係なF-kV・F-mAsラインによって得られた透視管電圧(F-kVz)及び透視mAs(F-mAsz)であるため画像データにおけるコントラストの主要因である管電圧を被検体厚に対応した値に制御できない。   However, the above method has the following problems. That is, in the setting of the conventional fluoroscopic conditions and imaging conditions performed by such a procedure, the fluoroscopic tube voltage (F-kVz) and fluoroscopic mAs (obtained by the F-kV / F-mAs line irrespective of the subject thickness) F-mAsz), the tube voltage, which is the main factor of contrast in the image data, cannot be controlled to a value corresponding to the subject thickness.

このような透視条件から透視条件-撮影条件対応表による撮影管電圧(R-kVx)及び撮影mAs(R-mAsx)の設定が行なわれたならば、これらの透視条件及び撮影条件を用いた透視画像データや撮影画像データの生成と表示を行なうことによりその妥当性を検証する必要があるため、所望の透視条件及び撮影条件を最終的に決定するまでに多くの時間と労力を要した。   If the tube voltage (R-kVx) and the shooting mAs (R-mAsx) are set based on the fluoroscopy condition-imaging condition correspondence table, the fluoroscopy using these fluoroscopy conditions and the imaging conditions is performed. Since it is necessary to verify the validity by generating and displaying image data and photographed image data, it takes a lot of time and labor to finally determine the desired fluoroscopic conditions and photographing conditions.

本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、撮影モードに先行する透視モードにて設定された透視条件に基づいて撮影条件を設定する際、操作者によって任意に入力される事前登録データ等に基づいて予め算出されたF-kV・F-mAsラインを用いて前記透視条件を設定することにより、良好な画質と感度を有する撮影画像データの収集を正確かつ短時間で行なうことが可能なX線透視撮影装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is to arbitrarily set an imaging condition based on a fluoroscopic condition set in a fluoroscopic mode preceding the imaging mode. By setting the fluoroscopic conditions using the F-kV / F-mAs line calculated in advance based on pre-registered data or the like input to the camera, it is possible to accurately and accurately collect photographed image data having good image quality and sensitivity. An object of the present invention is to provide an X-ray fluoroscopic apparatus capable of performing in a short time.

上記課題を解決するために、請求項1に係る本発明のX線透視撮影装置は、透視モードにて設定された透視条件に基づいて撮影モードの撮影条件を設定するX線透視撮影装置において、透視モードにおいて収集される透視画像データが所定の輝度になるように、前記透視モードにおけるX線管の管電流及び管電圧を制御する透視制御手段と、前記透視モードにおける管電圧と略等しい管電圧で撮影モードの撮影が行なわれるように撮影モードの撮影条件を制御する撮影制御手段とを備えたことを特徴としている。   In order to solve the above-described problem, an X-ray fluoroscopic imaging apparatus according to a first aspect of the present invention is an X-ray fluoroscopic imaging apparatus that sets an imaging condition in an imaging mode based on a fluoroscopic condition set in a fluoroscopic mode. Perspective control means for controlling the tube current and tube voltage of the X-ray tube in the fluoroscopic mode so that the fluoroscopic image data collected in the fluoroscopic mode has a predetermined luminance, and the tube voltage substantially equal to the tube voltage in the fluoroscopic mode And a shooting control means for controlling shooting conditions in the shooting mode so that shooting in shooting mode is performed.

又、請求項2に係る本発明のX線透視撮影装置は、撮影モードに先行する透視モードにて設定された透視条件に基づいて撮影モードの撮影条件を設定するX線透視撮影装置において、被検体厚と透視管電圧との関係を示すデータを記憶する記憶手段と、前記データに基づいて透視管電圧と透視mAsに影響するパラメータの対応関係を算出する算出手段と、透視モードにて生成される画像データの画素値と前記算出手段の算出結果とに基づいて透視モードの透視管電圧及び透視mAsに関連するパラメータを設定する透視条件設定手段と、前記透視管電圧又は前記透視mAsに関連するパラメータの少なくとも何れかに基づいて、撮影モードの撮影管電圧及び撮影mAsに関連するパラメータを設定する撮影条件設定手段とを備えたことを特徴としている。   According to a second aspect of the present invention, there is provided an X-ray fluoroscopic imaging apparatus for setting an imaging condition in an imaging mode based on a fluoroscopic condition set in a fluoroscopic mode preceding an imaging mode. A storage means for storing data indicating the relationship between the specimen thickness and the fluoroscopic tube voltage, a calculation means for calculating a correspondence relationship between the fluoroscopic tube voltage and the fluoroscopic mAs based on the data, and a fluoroscopic mode. A fluoroscopy condition voltage setting unit for setting a fluoroscopic tube voltage in a fluoroscopic mode and a parameter related to the fluoroscopic mAs based on a pixel value of image data and a calculation result of the calculating unit; and a parameter relating to the fluoroscopic tube voltage or the fluoroscopic mAs. And an imaging condition setting means for setting parameters related to the imaging tube voltage and imaging mAs in the imaging mode based on at least one of the parameters. It is set to.

本発明によれば、撮影モードに先行する透視モードにて設定された透視条件に基づいて撮影条件を設定する際、操作者によって任意に入力される事前登録データ等に基づいて算出されたF-kV・F-mAsラインを用いて前記透視条件を設定することにより、良好な画質と感度を有する撮影画像データの収集を正確かつ短時間で行なうことが可能となる。このため、診断精度と診断効率を向上させることができる。   According to the present invention, when setting the photographing condition based on the fluoroscopic condition set in the fluoroscopic mode preceding the photographing mode, F− calculated based on pre-registered data or the like arbitrarily input by the operator. By setting the fluoroscopy conditions using the kV · F-mAs line, it is possible to collect photographed image data having good image quality and sensitivity accurately and in a short time. For this reason, diagnostic accuracy and diagnostic efficiency can be improved.

本発明の実施例におけるX線透視撮影装置の全体構成を示すブロック図。1 is a block diagram showing the overall configuration of an X-ray fluoroscopic apparatus in an embodiment of the present invention. 同実施例のX線透視撮影装置が備えるX線発生部、X線検出部及び高電圧発生部の具体的な構成を示すブロック図。The block diagram which shows the specific structure of the X-ray generation part, X-ray detection part, and high voltage generation part with which the X-ray fluoroscope of the Example is provided. 同実施例のX線透視撮影装置が備える平面検出器の構造を示す図。The figure which shows the structure of the flat detector with which the X-ray fluoroscope of the Example is provided. 同実施例の事前登録データにおける被検体厚tと透視管電圧(F-kV)との関係を示す図。The figure which shows the relationship between the object thickness t in the prior registration data of the Example, and fluoroscopic tube voltage (F-kV). 同実施例において算出されるF-kV・F-mAsラインの具体例を示す図。The figure which shows the specific example of the F-kV * F-mAs line calculated in the Example. 同実施例のF-kV・F-mAsラインに沿って行なわれる透視条件の更新を説明するための図。The figure for demonstrating the update of fluoroscopy conditions performed along the F-kV * F-mAs line of the Example. 同実施例における透視条件及び撮影条件の設定手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the setting procedure of fluoroscopy conditions and imaging | photography conditions in the Example.

以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

以下に述べる本実施例のX線透視撮影装置は、当該被検体のX線検査に先立って行なわれる初期設定において入力された透視モード及び撮影モードのX線量(透視線量及び撮影線量)や被検体厚毎に指定する透視管電圧等の事前登録データと、前記X線透視撮影装置にて予め保管された被検体厚をパラメータとする透視モードの管電圧(透視管電圧)と管電流・照射時間積(透視mAs)との関係式を含む基本データに基づき、透視管電圧と透視mAsとの対応関係あるいは透視管電圧と透視mAsに影響するパラメータの対応関係を示すF-kV・F-mAsラインを算出する。そして、このF-kV・F-mAsラインに沿った透視管電圧及び透視mAsの更新に伴って順次生成される透視画像データの画素と所定の閾値αとを比較することにより画素値=αを得る透視管電圧(F-kVx)及び透視mAs(F-mAsx)を設定し、これらの照射条件と上述の事前登録データに基づいて撮影モードに好適な撮影管電圧(R-kVx)及び撮影mAs(R-mAsx)を設定する。   The X-ray fluoroscopic apparatus according to the present embodiment described below includes the fluoroscopic mode and the X-ray dose (fluoroscopic dose and radiographic dose) input in the initial setting performed prior to the X-ray examination of the subject and the subject. Pre-registration data such as fluoroscopic tube voltage specified for each thickness, fluoroscopic mode tube voltage (fluoroscopic tube voltage) and tube current / irradiation time using the object thickness stored in advance in the X-ray fluoroscopic apparatus as parameters. F-kV / F-mAs line indicating the correspondence between fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs, or the relationship between fluoroscopic tube voltage and parameters affecting fluoroscopic mAs, based on the basic data including the relational expression with the product (fluoroscopic mAs) Is calculated. Then, by comparing the fluoroscopic tube voltage along the F-kV / F-mAs line and the pixels of the fluoroscopic image data sequentially generated along with the update of the fluoroscopic mAs, the pixel value = α is obtained. The fluoroscopic tube voltage (F-kVx) and the fluoroscopic mAs (F-mAsx) to be obtained are set, and the photographing tube voltage (R-kVx) and the photographing mAs suitable for the photographing mode are set based on these irradiation conditions and the above pre-registered data. (R-mAsx) is set.

(装置の構成)
本実施例におけるX線透視撮影装置の構成につき図1乃至図6を用いて説明する。尚、図1は、X線透視撮影装置の全体構成を示すブロック図であり、図2は、このX線透視撮影装置が備えるX線発生部、X線検出部及び高電圧発生部の具体的な構成を示すブロック図である。
(Device configuration)
The configuration of the X-ray fluoroscopic apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of the X-ray fluoroscopic apparatus, and FIG. 2 is a specific example of an X-ray generator, an X-ray detector, and a high voltage generator included in the X-ray fluoroscopic apparatus. It is a block diagram which shows a structure.

図1に示すX線透視撮影装置100は、被検体150に対し透視モード及び撮影モードのX線照射を行なうX線発生部1と、被検体150を透過したX線を2次元的に検出すると共にこの検出データに基づいて投影データを生成するX線検出部2と、透視モード及び撮影モードのX線照射に必要な高電圧をX線発生部1に対して供給する高電圧発生部3と、X線検出部2において生成された投影データに基づいて透視モードの画像データ(透視画像データ)及び撮影モードの画像データ(撮影画像データ)を生成する画像データ生成部4と、得られた上述の画像データを表示する表示部5を備えている。   An X-ray fluoroscopic apparatus 100 shown in FIG. 1 two-dimensionally detects an X-ray generation unit 1 that performs X-ray irradiation in a fluoroscopic mode and an imaging mode on a subject 150, and X-rays that have passed through the subject 150. An X-ray detector 2 that generates projection data based on the detection data, and a high-voltage generator 3 that supplies the X-ray generator 1 with a high voltage necessary for X-ray irradiation in the fluoroscopic mode and the imaging mode. The image data generation unit 4 that generates image data in the perspective mode (perspective image data) and image data in the imaging mode (captured image data) based on the projection data generated in the X-ray detection unit 2, and the obtained above-described image data The display unit 5 for displaying the image data is provided.

更に、X線透視撮影装置100は、透視モードの透視条件(即ち、透視管電圧及び透視mAs)の更新に伴って画像データ生成部4がこの透視条件を用いて順次生成する透視画像データと後述の入力部7から入力される事前登録データ、更には、後述の基本データ保管部63に予め保管されている装置基本データ等に基づいて被検体150の透視モードに好適な透視管電圧(F-kVx)及び透視mAs(F-mAsx)を設定し、これらの透視条件と事前登録データとに基づいて撮影管電圧(R-kVx)及び撮影mAs(R-mAsx)を設定する照射条件設定部6と、事前登録データの入力や各種コマンド信号の入力等を行なう入力部7と、上述の各ユニットを統括的に制御するシステム制御部8を備えている。   Further, the X-ray fluoroscopic imaging apparatus 100 includes fluoroscopic image data sequentially generated by the image data generation unit 4 using the fluoroscopic conditions in accordance with the update of the fluoroscopic conditions in the fluoroscopic mode (that is, fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs), and later described. Based on pre-registration data input from the input unit 7 and device basic data stored in advance in a basic data storage unit 63 to be described later, a fluoroscopic tube voltage (F−) suitable for the fluoroscopic mode of the subject 150. kVx) and fluoroscopic mAs (F-mAsx) are set, and the irradiation condition setting unit 6 sets the imaging tube voltage (R-kVx) and imaging mAs (R-mAsx) based on these fluoroscopic conditions and pre-registered data. And an input unit 7 for inputting pre-registration data and various command signals, and a system control unit 8 for comprehensively controlling the above-described units.

次に、X線発生部1、X線検出部2及び高電圧発生部3の具体的な構成につき図2のブロック図を用いて説明する。   Next, specific configurations of the X-ray generator 1, the X-ray detector 2, and the high voltage generator 3 will be described with reference to the block diagram of FIG.

図2に示したX線発生部1は、後述の高電圧発生部3から供給される高電圧により被検体150に対しX線を発生するX線管11と、X線管11が発生したX線に対してX線錘(コーンビーム)を形成するX線絞り器12を備えている。X線管11は、X線を発生する真空管であり、陰極(フィラメント)より放出された電子を高電圧により加速させてタングステン陽極に衝突させX線を発生させる。X線絞り器12は、X線管11と被検体150の間に位置し、X線管11から発生したX線ビームを所定の照射視野に絞り込む機能を有している。   The X-ray generator 1 shown in FIG. 2 includes an X-ray tube 11 that generates X-rays to the subject 150 by a high voltage supplied from a high-voltage generator 3 described later, and an X-ray generated by the X-ray tube 11. An X-ray restrictor 12 that forms an X-ray weight (cone beam) with respect to the line is provided. The X-ray tube 11 is a vacuum tube that generates X-rays, and accelerates electrons emitted from a cathode (filament) by a high voltage to collide with a tungsten anode to generate X-rays. The X-ray diaphragm 12 is located between the X-ray tube 11 and the subject 150 and has a function of narrowing the X-ray beam generated from the X-ray tube 11 to a predetermined irradiation field.

一方、X線検出部2には、I.I.(イメージインテンシファイア)及びX線TVを用いる方法と平面検出器を用いる方法があり、更に、平面検出器には、X線を直接電荷に変換するものと、一旦光に変換した後電荷に変換するものとがある。ここでは、X線を直接電荷に変換することが可能な平面検出器が設けられたX線検出部2について述べるが、これに限定されない。   On the other hand, the X-ray detector 2 includes I.I. I. (Image intensifier) and X-ray TV method and flat detector method. Furthermore, there are two types of flat detectors: one that converts X-rays directly into electric charge, and one that converts light into light after being converted into light. There is something to convert. Here, although the X-ray detection unit 2 provided with a flat panel detector capable of directly converting X-rays into electric charges will be described, the present invention is not limited to this.

即ち、X線検出部2の平面検出器21は、微小な検出素子を列方向及びライン方向に2次元配列して構成され、検出素子の各々は、X線を感知し入射X線量に応じて電荷を生成する光電膜と、この光電膜に発生した電荷を蓄積する電荷蓄積コンデンサと、電荷蓄積コンデンサに蓄積された電荷を所定のタイミングで読み出すTFT(薄膜トランジスタ)を備えている。以下では説明を簡単にするために、検出素子が列方向及びライン方向に2素子ずつ配列された平面検出器21について説明する。   That is, the flat detector 21 of the X-ray detector 2 is configured by two-dimensionally arranging minute detection elements in the column direction and the line direction, and each of the detection elements senses X-rays and corresponds to the incident X-ray dose. A photoelectric film that generates charge, a charge storage capacitor that stores the charge generated in the photoelectric film, and a TFT (thin film transistor) that reads the charge stored in the charge storage capacitor at a predetermined timing are provided. In the following, for the sake of simplicity, the planar detector 21 in which two detection elements are arranged in the column direction and the line direction will be described.

図3に示した平面検出器21では、光電膜212−11、212−12、212−21及び212−22の第1の端子と、電荷蓄積コンデンサ213−11、213−12、213−21及び213−22の第1の端子とが接続され、更に、その接続点はTFT214−11、214−12、214−21及び214−22のソース端子へ接続される。一方、光電膜212−11、212−12、212−21及び212−22の第2の端子は、図示しないバイアス電源に接続され、電荷蓄積コンデンサ213−11、213−12、213−21及び213−22の第2の端子は接地される。更に、ライン方向(図3の水平方向)に配列されたTFT214−11及びTFT214−21のゲートはゲートドライバ22の出力端子22−1に共通接続され、TFT214−12及びTFT214−22のゲートはゲートドライバ22の出力端子22−2に共通接続される。   In the flat detector 21 shown in FIG. 3, the first terminals of the photoelectric films 212-11, 212-12, 212-21 and 212-22, the charge storage capacitors 213-11, 213-12, 213-21 and 213-22 is connected to the first terminal, and the connection point is connected to the source terminals of TFTs 214-11, 214-12, 214-21, and 214-22. On the other hand, the second terminals of the photoelectric films 212-11, 212-12, 212-21, and 212-22 are connected to a bias power source (not shown), and charge storage capacitors 213-11, 213-12, 213-21, and 213 are connected. The second terminal of -22 is grounded. Furthermore, the gates of the TFTs 214-11 and 214-21 arranged in the line direction (horizontal direction in FIG. 3) are commonly connected to the output terminal 22-1 of the gate driver 22, and the gates of the TFTs 214-12 and 214-21 are gates. The driver 22 is commonly connected to the output terminal 22-2.

一方、列方向(図3の垂直方向)に配列されたTFT214−11及び214−12のドレイン端子は信号出力線219−1に共通接続され、TFT214−21及び214−22のドレイン端子は信号出力線219−2に共通接続される。そして、信号出力線219−1及び219−2は投影データ生成部23に接続されている。一方、ゲートドライバ22は、X線照射によって検出素子211の光電膜212で発生し電荷蓄積コンデンサ213にて蓄積される信号電荷を読み出すために、TFT214のゲート端子に読み出し用の駆動パルスを供給する。   On the other hand, the drain terminals of the TFTs 214-11 and 214-12 arranged in the column direction (vertical direction in FIG. 3) are commonly connected to the signal output line 219-1, and the drain terminals of the TFTs 214-21 and 214-22 are signal output. Commonly connected to line 219-2. The signal output lines 219-1 and 219-2 are connected to the projection data generation unit 23. On the other hand, the gate driver 22 supplies a driving pulse for reading to the gate terminal of the TFT 214 in order to read out signal charges generated in the photoelectric film 212 of the detection element 211 and accumulated in the charge storage capacitor 213 by X-ray irradiation. .

図2へ戻って、投影データ生成部23は、平面検出器21から行単位あるいは列単位でパラレルに読み出された電荷を電圧に変換する電荷・電圧変換器231と、この電荷・電圧変換器231の出力をデジタル信号に変換するA/D変換器232と、デジタル変換されたパラレル信号を時系列的なシリアル信号(投影データ)に変換するパラレル・シリアル変換器233を備えている。   Returning to FIG. 2, the projection data generator 23 includes a charge / voltage converter 231 that converts charges read in parallel from the flat detector 21 in units of rows or columns into voltages, and the charge / voltage converter. An A / D converter 232 that converts the output of 231 into a digital signal and a parallel / serial converter 233 that converts the digitally converted parallel signal into a time-series serial signal (projection data) are provided.

一方、高電圧発生部3は、X線管11の陰極から発生する熱電子を加速するために陽極と陰極の間に印加する高電圧を発生する高電圧発生器32と、図1の照射条件設定部6からシステム制御部8を介して供給される透視モード及び撮影モードの照射条件に基づいて高電圧発生器32における管電流、管電圧、照射時間、照射タイミング等を制御するX線制御部31を備えている。   On the other hand, the high voltage generator 3 includes a high voltage generator 32 that generates a high voltage applied between the anode and the cathode in order to accelerate the thermoelectrons generated from the cathode of the X-ray tube 11, and the irradiation conditions of FIG. An X-ray controller that controls tube current, tube voltage, irradiation time, irradiation timing, etc. in the high voltage generator 32 based on the irradiation conditions of the fluoroscopic mode and the imaging mode supplied from the setting unit 6 via the system control unit 8 31 is provided.

図1へ戻って、画像データ生成部4は、例えば、図示しない投影データ記憶部と画像処理部を備えている。前記投影データ記憶部は、X線検出部2の投影データ生成部23から時系列的に供給される投影データを順次保存して2次元投影データを生成する。一方、前記画像処理部は、演算回路と記憶回路を備え、前記演算回路は、前記投影データ記憶部から読み出した2次元投影データに対し補間処理やフィルタリング処理等の画像処理を行なって2次元の透視画像データ及び撮影画像データを生成する。又、前記投影データ記憶部から読み出した透視画像データは、図1の照射条件設定部6に設けられた後述の画素値演算部61へ供給される。   Returning to FIG. 1, the image data generation unit 4 includes, for example, a projection data storage unit and an image processing unit (not shown). The projection data storage unit sequentially stores the projection data supplied in time series from the projection data generation unit 23 of the X-ray detection unit 2 to generate two-dimensional projection data. On the other hand, the image processing unit includes an arithmetic circuit and a storage circuit, and the arithmetic circuit performs image processing such as interpolation processing and filtering processing on the two-dimensional projection data read from the projection data storage unit to perform two-dimensional processing. Perspective image data and captured image data are generated. Further, the fluoroscopic image data read from the projection data storage unit is supplied to a pixel value calculation unit 61 described later provided in the irradiation condition setting unit 6 of FIG.

表示部5は、図示しない表示データ生成部、データ変換部及びモニタを備え、前記表示データ生成部は、透視モード及び撮影モードにおいて画像データ生成部4の画像処理部が生成した透視画像データ及び撮影画像データを所定の表示フォーマットに変換し、更に、被検体情報や投影データ収集条件等の付帯情報を必要に応じて付加し表示データを生成する。そして、前記データ変換部は、前記表示データ生成部にて得られた表示データに対しD/A変換やテレビフォーマット変換等の変換処理を行なって前記モニタに表示する。   The display unit 5 includes a display data generation unit, a data conversion unit, and a monitor (not shown), and the display data generation unit generates the fluoroscopic image data and the radiography generated by the image processing unit of the image data generation unit 4 in the fluoroscopy mode and the imaging mode. Image data is converted into a predetermined display format, and additional information such as subject information and projection data collection conditions is added as necessary to generate display data. The data conversion unit performs a conversion process such as D / A conversion or television format conversion on the display data obtained by the display data generation unit and displays the display data on the monitor.

次に、照射条件設定部6は、被検体150の透視モードに好適な透視管電圧(F-kVx)及び透視mAs(F-mAsx)と撮影モードに好適な撮影管電圧(R-kVx)及び撮影mAs(R-mAsx)を設定する機能を有し、画素値演算部61、画素値比較部62、基本データ保管部63、登録データ記憶部64、F-kV・F-mAsライン算出部65、透視条件設定部66及び撮影条件設定部67を有している。   Next, the irradiation condition setting unit 6 includes a fluoroscopic tube voltage (F-kVx) and fluoroscopic mAs (F-mAsx) suitable for the fluoroscopic mode of the subject 150, a radiographic tube voltage (R-kVx) suitable for the radiographic mode, and It has a function of setting imaging mAs (R-mAsx), and includes a pixel value calculation unit 61, a pixel value comparison unit 62, a basic data storage unit 63, a registered data storage unit 64, and an F-kV / F-mAs line calculation unit 65. A fluoroscopy condition setting unit 66 and an imaging condition setting unit 67.

画素値演算部61は、X線照射により生成され表示部5に表示された透視画像データに対して入力部7が設定した関心領域の位置情報をシステム制御部8を介して受信し、画像データ生成部4の投影データ記憶部から供給される透視画像データに対し前記関心領域を設定する。そして、この関心領域における透視画像データの平均画素値を算出する。更に、透視条件設定部66による透視条件(透視管電圧(F-kV)及び透視mAs(F-mAs))の更新に伴って新たに生成される透視画像データに対しても同様の手順によって前記関心領域を設定し、この関心領域における平均画素値を算出する。   The pixel value calculation unit 61 receives the positional information of the region of interest set by the input unit 7 for the fluoroscopic image data generated by X-ray irradiation and displayed on the display unit 5 via the system control unit 8, and the image data The region of interest is set for the fluoroscopic image data supplied from the projection data storage unit of the generation unit 4. Then, the average pixel value of the fluoroscopic image data in this region of interest is calculated. Further, the fluoroscopic image data newly generated with the update of the fluoroscopic conditions (the fluoroscopic tube voltage (F-kV) and the fluoroscopic mAs (F-mAs)) by the fluoroscopic condition setting unit 66 is also performed by the same procedure. A region of interest is set, and an average pixel value in this region of interest is calculated.

一方、画素値比較部62は、初期設定において設定された閾値αと画素値演算部61から供給される前記関心領域の平均画素値とを比較し、その比較結果を透視条件設定部66へ供給する。   On the other hand, the pixel value comparison unit 62 compares the threshold value α set in the initial setting with the average pixel value of the region of interest supplied from the pixel value calculation unit 61 and supplies the comparison result to the fluoroscopy condition setting unit 66. To do.

一方、基本データ保管部63には、X線透視撮影装置100に対して予め設定された、例えば、次式(1)に示すような被検体厚等をパラメータとする透視管電圧(F-kV)と透視mAs(F-mAs)との関係式が装置基本データとして保存されている。

Figure 2011147615
On the other hand, in the basic data storage unit 63, for example, a fluoroscopic tube voltage (F-kV) that is set in advance for the X-ray fluoroscopic apparatus 100 and has a subject thickness or the like as shown in the following equation (1) as a parameter. ) And fluoroscopic mAs (F-mAs) are stored as device basic data.
Figure 2011147615

但し、式(1)におけるF-doseは、透視モードのX線量(透視線量)であり、SID(Source Image Distance)は、X線管11のX線源から平面検出器21の受像面までの距離を示す。又、tは、被検体150の体厚を、a〜dは、X線透視撮影装置100を用いた事前計測に基づいて設定される係数を示している。   However, F-dose in Equation (1) is the X-ray dose (fluoroscopic dose) in the fluoroscopic mode, and SID (Source Image Distance) is from the X-ray source of the X-ray tube 11 to the image receiving surface of the flat detector 21. Indicates distance. Further, t represents the body thickness of the subject 150, and a to d represent coefficients set based on prior measurement using the X-ray fluoroscopic apparatus 100.

次に、登録データ記憶部64には、X線透視撮影装置100の初期設定において操作者等が任意に登録した透視線量(F-dose)及び撮影線量(R-dose)の値が保存され、同様にして、被検体厚t毎の透視管電圧(F-kV)を指定する各種データが数式、グラフ、ルックアップテーブル等の形式で保存される。図4は、被検体厚tと透視管電圧(F-kV)との関係(F-kV=f(t))がグラフ形式で示された事前登録データの具体例であり、被検体厚tの各々に対して好適な透視管電圧(F-kV)が被検体150のX線検査に先立って登録される。尚、上述のF-dose、R-dose及びF-kV=f(t)等の事前登録データは、通常、操作者の好みや検査内容等に基づいて任意に登録され、X線透視撮影装置100が複数の操作者によって使用される場合、これらの事前登録データが操作者毎に登録され、複数の検査に使用される場合は検査毎に登録される。   Next, in the registration data storage unit 64, values of fluoroscopic dose (F-dose) and radiographic dose (R-dose) arbitrarily registered by an operator or the like in the initial setting of the X-ray fluoroscopic apparatus 100 are stored. Similarly, various data specifying the fluoroscopic tube voltage (F-kV) for each subject thickness t is stored in the form of a mathematical formula, a graph, a lookup table, or the like. FIG. 4 is a specific example of pre-registration data in which the relationship (F-kV = f (t)) between the subject thickness t and the fluoroscopic tube voltage (F-kV) is shown in a graph format. A suitable fluoroscopic tube voltage (F-kV) is registered for each of these before the X-ray examination of the subject 150. Note that the pre-registration data such as F-dose, R-dose, and F-kV = f (t) described above is usually arbitrarily registered based on the operator's preference, inspection contents, etc. When 100 is used by a plurality of operators, these pre-registration data are registered for each operator, and when used for a plurality of tests, they are registered for each test.

次に、透視管電圧と透視mAsとの対応関係あるいは透視管電圧と透視mAsに影響するパラメータの対応関係を算出するF-kV・F-mAsライン算出部65は、基本データ保管部63から読み出した被検体厚tをパラメータとする透視管電圧(F-kV)と透視mAs(F-mAs)との関係式(式(1)参照)及び登録データ記憶部64から読み出した被検体厚tと透視管電圧(F-kV)との関係(図4参照)を用いて透視管電圧(F-kV)と透視-mAs(F-mAs)との対応関係を示すF-kV・F-mAsラインを算出する。   Next, the F-kV / F-mAs line calculation unit 65 for calculating the correspondence between the fluoroscopic tube voltage and the fluoroscopic mAs or the correspondence between the fluoroscopic tube voltage and the parameter affecting the fluoroscopic mAs is read from the basic data storage unit 63. The relationship between the fluoroscopic tube voltage (F-kV) and the fluoroscopic mAs (F-mAs) using the subject thickness t as a parameter (see equation (1)), and the subject thickness t read from the registered data storage unit 64 F-kV / F-mAs line indicating the correspondence between fluoroscopic tube voltage (F-kV) and fluoroscopic-mAs (F-mAs) using the relationship with fluoroscopic tube voltage (F-kV) (see FIG. 4) Is calculated.

図5は、F-kV・F-mAsライン算出部65によって算出されるF-kV・F-mAsラインの具体例を示したものであり、横軸は透視管電圧(F-kV)を、又、縦軸は透視mAs(F-mAs)を夫々示している。そして、F-kV・F-mAsラインQ1上の各点は、式(1)の関係式と図4の関係を同時に満たしている。   FIG. 5 shows a specific example of the F-kV / F-mAs line calculated by the F-kV / F-mAs line calculator 65, and the horizontal axis represents the fluoroscopic tube voltage (F-kV). The vertical axis represents fluoroscopic mAs (F-mAs). Each point on the F-kV / F-mAs line Q1 simultaneously satisfies the relational expression (1) and the relation shown in FIG.

再び図1へ戻って、透視条件設定部66は、F-kV・F-mAsライン算出部65によって算出されたF-kV・F-mAsラインの情報を受信し、このF-kV・F-mAsラインに対して初期透視条件(初期透視管電圧(F-kVo)及び初期透視mAs(F-mAso))を設定する。透視を開始すると、前記初期透視条件によって生成された透視画像データの平均画素値と閾値αとの比較結果を画素値比較部62から受信し、この比較結果に基づいて初期透視条件を更新することにより透視モードに好適な透視条件を設定する。このとき、例えば、初期透視管電圧(F-kVo)をF-kV・F-mAsラインに沿って更新することにより、新たな透視管電圧及び透視mVsが一義的に決定される。   Referring back to FIG. 1 again, the fluoroscopy condition setting unit 66 receives the information on the F-kV / F-mAs line calculated by the F-kV / F-mAs line calculation unit 65 and receives the F-kV / F-mAs line information. Initial fluoroscopic conditions (initial fluoroscopic tube voltage (F-kVo) and initial fluoroscopic mAs (F-mAso)) are set for the mAs line. When fluoroscopy is started, a comparison result between the average pixel value of the fluoroscopic image data generated under the initial fluoroscopic condition and the threshold value α is received from the pixel value comparison unit 62, and the initial fluoroscopic condition is updated based on the comparison result Thus, a fluoroscopic condition suitable for the fluoroscopic mode is set. At this time, for example, the new fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mVs are uniquely determined by updating the initial fluoroscopic tube voltage (F-kVo) along the F-kV / F-mAs line.

次いで、更新後の透視条件によって生成された透視画像データの平均画素値と閾値αとの比較及びその比較結果に基づく透視条件の更新を順次繰り返し、
被検体150の体位変換等により体厚が変化しても略常時閾値αと等しい平均画素値が得られる透視条件(透視管電圧(F-kVx)及び透視mAs(F-mAsx))に更新され続ける。そして、更新された透視管電圧(F-kVx)及び透視mAs(F-mAsx)の情報は、システム制御部8を介して高電圧発生部3のX線制御部31へ供給される。
Next, the comparison of the average pixel value of the fluoroscopic image data generated by the updated fluoroscopic condition and the threshold value α and the update of the fluoroscopic condition based on the comparison result are sequentially repeated,
Even if the body thickness changes due to body posture change or the like of the subject 150, it is updated to fluoroscopic conditions (fluoroscopic tube voltage (F-kVx) and fluoroscopic mAs (F-mAsx)) that can obtain an average pixel value almost equal to the threshold value α. to continue. Then, the updated information on the fluoroscopic tube voltage (F-kVx) and the fluoroscopic mAs (F-mAsx) is supplied to the X-ray control unit 31 of the high voltage generation unit 3 via the system control unit 8.

図6は、F-kV・F-mAsラインを用いた透視条件の更新を模式的に示したものであり、例えば、透視開始時、透視管電圧F-kVoが初期設定された場合、F-kV=F-kVoを示す縦ラインSoとF-kV・F-mAsラインQ1との交点Poにより初期透視mAs(F-mAso)が決定される。そして、この初期透視条件によって得られた透視画像データの平均画素値が閾値αより小さい場合、初期透視管電圧F-kVoより大きな透視管電圧(F-kVa)に更新され、F-kV=F-kVaの縦ラインSaとF-kV・F-mAsラインQ1との交点Paによって新たな透視mAs(F-mAsa)が決定される。一方、初期透視条件によって得られた透視画像データの平均画素値が閾値αより大きい場合、初期透視管電圧F-kVoより小さな透視管電圧(F-kVb)に更新され、F-kV・F-kVbの縦ラインSbとF-kV・F-mAsラインQ1との交点Pbによって新たな透視mAs(F-mAsb)が決定される。   FIG. 6 schematically shows the update of the fluoroscopic condition using the F-kV / F-mAs line. For example, when the fluoroscopic tube voltage F-kVo is initially set at the start of fluoroscopy, F− The initial perspective mAs (F-mAso) is determined by the intersection Po between the vertical line So indicating kV = F-kVo and the F-kV · F-mAs line Q1. When the average pixel value of the fluoroscopic image data obtained by this initial fluoroscopic condition is smaller than the threshold value α, the fluoroscopic tube voltage (F-kVa) larger than the initial fluoroscopic tube voltage F-kVo is updated, and F-kV = F A new perspective mAs (F-mAsa) is determined by the intersection Pa between the vertical line Sa of −kVa and the F-kV · F-mAs line Q1. On the other hand, when the average pixel value of the fluoroscopic image data obtained by the initial fluoroscopic condition is larger than the threshold value α, the fluoroscopic tube voltage (F-kVb) is updated to be smaller than the initial fluoroscopic tube voltage F-kVo, and F-kV · F- A new perspective mAs (F-mAsb) is determined by the intersection Pb between the vertical line Sb of kVb and the F-kV · F-mAs line Q1.

次に、図1の撮影条件設定部67は、透視条件設定部66が設定した最新の透視条件と登録データ記憶部64から読み出した事前登録データに基づいて撮影モードに好適な撮影条件を設定する。具体的には、下式(2)に示すように透視モードの透視管電圧(F-kVx)と等しい大きさを有する撮影モードの撮影管電圧(R-kVx)を設定し、透視モードの透視mAs(F-mAsx)に前記事前登録データの撮影線量(R-dose)と透過線量(F-dose)との比を乗算することにより撮影モードの撮影mAs(R-mAsx)を設定する。そして、設定された撮影管電圧(R-kVx)及び撮影mAs(R-mAsx)の情報は、システム制御部8を介して高電圧発生部3のX線制御部31へ供給される。

Figure 2011147615
Next, the imaging condition setting unit 67 in FIG. 1 sets imaging conditions suitable for the imaging mode based on the latest fluoroscopic conditions set by the fluoroscopy condition setting unit 66 and the pre-registered data read from the registration data storage unit 64. . Specifically, as shown in the following formula (2), a photographing tube voltage (R-kVx) in the photographing mode having a magnitude equal to the fluoroscopic tube voltage (F-kVx) in the fluoroscopic mode is set, and the fluoroscopy in the fluoroscopic mode is performed. Imaging mAs (R-mAsx) in the imaging mode is set by multiplying mAs (F-mAsx) by the ratio of the imaging dose (R-dose) and the transmitted dose (F-dose) of the pre-registered data. Then, information on the set imaging tube voltage (R-kVx) and imaging mAs (R-mAsx) is supplied to the X-ray control unit 31 of the high voltage generation unit 3 via the system control unit 8.
Figure 2011147615

次に、入力部7は、操作卓上に表示パネルやキーボード、トラックボール、ジョイスティック、マウス、選択ボタン等の入力デバイスを備えたインターラクティブなインターフェイスであり、被検体情報の入力、事前登録データの入力、閾値αの設定、関心領域の設定、投影データ収集条件の設定、画像データ生成条件の設定、画像データ表示条件の設定、更には、各種コマンド信号の入力等を行なう。   Next, the input unit 7 is an interactive interface including an input device such as a display panel, a keyboard, a trackball, a joystick, a mouse, and a selection button on the console, and inputs subject information, pre-registered data, The threshold α is set, the region of interest is set, the projection data collection condition is set, the image data generation condition is set, the image data display condition is set, and various command signals are input.

システム制御部8は、図示しないCPUと記憶回路を備え、入力部7から供給される各種の入力情報及び設定情報は前記記憶回路に保存される。一方、前記CPUは、これらの情報に基づいて透視画像データの生成及び表示、透視条件及び撮影条件の設定、撮影画像データの生成及び表示等を行なうための制御をX線透視撮影装置100が備えた上述の各ユニットに対して行なう。   The system control unit 8 includes a CPU and a storage circuit (not shown), and various input information and setting information supplied from the input unit 7 are stored in the storage circuit. On the other hand, the X-ray fluoroscopic imaging apparatus 100 includes controls for performing generation and display of fluoroscopic image data, setting of fluoroscopic conditions and imaging conditions, generation and display of captured image data, and the like based on such information. For each unit described above.

(透視条件及び撮影条件の設定手順)
次に、本実施例における透視条件及び撮影条件の設定手順につき図7に示したフローチャートに沿って説明する。
(Setting procedure for fluoroscopy and shooting conditions)
Next, the procedure for setting the fluoroscopic conditions and the imaging conditions in this embodiment will be described with reference to the flowchart shown in FIG.

被検体150に対するX線検査に先立ち、X線透視撮影装置100の操作者は、入力部7において被検体情報を入力した後、事前登録データの入力、閾値α及び関心領域の設定、投影データ収集条件、画像データ生成条件及び画像データ表示条件の設定等を行なう。そして、入力あるいは設定されたこれらの情報はシステム制御部8の記憶回路に保存され、更に、上述の事前登録データ(即ち、透視線量(F-dose)、撮影線量(R-dose)及び被検体厚tと透視管電圧(F-kV)との関係を示すデータ)は、登録データ記憶部64に保存される(図7のステップS1)。   Prior to the X-ray examination of the subject 150, the operator of the X-ray fluoroscopic imaging apparatus 100 inputs subject information at the input unit 7, then inputs pre-registered data, sets a threshold value α and a region of interest, and collects projection data. Conditions, image data generation conditions, image data display conditions, etc. are set. The input or set information is stored in the storage circuit of the system control unit 8, and further, the above-described pre-registered data (ie, fluoroscopic dose (F-dose), imaging dose (R-dose), and subject) Data indicating the relationship between the thickness t and the fluoroscopic tube voltage (F-kV)) is stored in the registered data storage unit 64 (step S1 in FIG. 7).

次いで、F-kV・F-mAsライン算出部65は、基本データ保管部63に予め保管されている被検体厚tをパラメータとした透視管電圧(F-kV)と透視mAs(F-mAs)との関係式(式(1)参照)と、登録データ記憶部64に保存された上述の被検体厚tと透視管電圧(F-kV)との関係を示すデータ(図4参照)を読み出し、これらのデータを用いて透視管電圧(F-kV)と透視mAs(F-mAs)との対応関係を示すF-kV・F-mAsラインを算出する(図5参照)(図7のステップS2)。   Next, the F-kV / F-mAs line calculation unit 65 includes a fluoroscopy tube voltage (F-kV) and a fluoroscopy mAs (F-mAs) using the object thickness t stored in advance in the basic data storage unit 63 as a parameter. And the data (see FIG. 4) indicating the relationship between the above-described subject thickness t and fluoroscopic tube voltage (F-kV) stored in the registered data storage unit 64. The F-kV / F-mAs line indicating the correspondence between the fluoroscopic tube voltage (F-kV) and the fluoroscopic mAs (F-mAs) is calculated using these data (see FIG. 5) (step of FIG. 7). S2).

そして、F-kV・F-mAsラインの算出が終了したならば、操作者は、図示しない天板上に載置した被検体150を所定の位置へ移動させた後、入力部7にて透視モードの開始コマンドを入力し(図7のステップS3)、このコマンド信号がシステム制御部8へ供給されることにより透視画像データの生成と表示が開始される。   When the calculation of the F-kV / F-mAs line is completed, the operator moves the subject 150 placed on the top (not shown) to a predetermined position, and then sees through the input unit 7. A mode start command is input (step S3 in FIG. 7), and this command signal is supplied to the system control unit 8 to start generation and display of fluoroscopic image data.

即ち、前記コマンド信号を受信したシステム制御部8は、自己の記憶回路から読み出した初期透視条件(初期透視管電圧(F-kVo)及び初期透視mAs(F-mAso))とX線発生のための指示信号を高電圧発生部3のX線制御部31へ供給し、この指示信号を受信したX線制御部31は、前記初期透視条件に基づいて高電圧発生器32を制御しX線発生部1のX線管11に高電圧を印加する。そして、高電圧が印可されたX線管11は可動絞り器12を介して被検体150に対し透視モードのX線照射を開始し、被検体150を透過したX線は、その後方に設けられたX線検出部2の平面検出器21によって検出される。   That is, the system control unit 8 that has received the command signal generates initial fluoroscopic conditions (initial fluoroscopic tube voltage (F-kVo) and initial fluoroscopic mAs (F-mAso)) read from its memory circuit and X-ray generation. Is supplied to the X-ray control unit 31 of the high-voltage generating unit 3, and the X-ray control unit 31 that has received this instruction signal controls the high-voltage generator 32 based on the initial fluoroscopic condition to generate X-rays. A high voltage is applied to the X-ray tube 11 of the unit 1. Then, the X-ray tube 11 to which a high voltage is applied starts X-ray irradiation in the fluoroscopic mode with respect to the subject 150 via the movable aperture 12, and the X-ray that has passed through the subject 150 is provided behind the X-ray tube 11. Detected by the flat detector 21 of the X-ray detector 2.

このとき、平面検出器21において2次元配列された検出素子211の光電膜212は、被検体150を透過したX線を受信してそのX線透過量に比例した信号電荷を電荷蓄積コンデンサ213に蓄積する。X線照射が終了すると、システム制御部8からクロックパルスが供給されたゲートドライバ22は、平面検出器21のTFT214に対して駆動パルスを供給し電荷蓄積コンデンサ213に蓄積された信号電荷を順次読み出す。   At this time, the photoelectric film 212 of the detection elements 211 arranged two-dimensionally in the flat detector 21 receives the X-ray transmitted through the subject 150 and supplies a signal charge proportional to the X-ray transmission amount to the charge storage capacitor 213. accumulate. When the X-ray irradiation is finished, the gate driver 22 to which the clock pulse is supplied from the system control unit 8 supplies the drive pulse to the TFT 214 of the flat detector 21 and sequentially reads out the signal charges stored in the charge storage capacitor 213. .

読み出された上述の信号電荷は、投影データ生成部23の電荷・電圧変換器231において電圧に変換され、更に、A/D変換器232においてデジタル信号に変換された後パラレル・シリアル変換器233のバッファメモリに1ライン分の投影データとして一旦保存される。そして、パラレル・シリアル変換器233は、自己のバッファメモリに保存された投影データをライン単位でシリアルに読み出し、画像データ生成部4の投影データ記憶部に順次保存して2次元投影データを生成する。   The read signal charge is converted into a voltage by the charge / voltage converter 231 of the projection data generator 23, and further converted into a digital signal by the A / D converter 232, and then the parallel / serial converter 233. Are temporarily stored as projection data for one line in the buffer memory. Then, the parallel / serial converter 233 reads the projection data stored in its own buffer memory serially in line units and sequentially stores them in the projection data storage unit of the image data generation unit 4 to generate two-dimensional projection data. .

次いで、画像データ生成部4の画像処理部は、前記投影データ記憶部において生成された2次元投影データに対し補間処理やフィルタリング処理等の画像処理を行なって初期透視条件における2次元画像データ(初期透視画像データ)を生成し、表示部5のモニタに表示する(図7のステップS4)。   Next, the image processing unit of the image data generation unit 4 performs image processing such as interpolation processing and filtering processing on the two-dimensional projection data generated in the projection data storage unit to perform two-dimensional image data (initial Fluoroscopic image data) is generated and displayed on the monitor of the display unit 5 (step S4 in FIG. 7).

一方、照射条件設定部6の画素値演算部61は、上述の初期透視画像データに対して入力部7が設定した関心領域の位置情報をシステム制御部8を介して受信し、画像データ生成部4の投影データ記憶部から供給される前記初期透視画像データに対して上述の関心領域を設定する(図7のステップS5)。そして、この関心領域に含まれた初期透視画像データの平均画素値を算出する(図7のステップS6)。   On the other hand, the pixel value calculation unit 61 of the irradiation condition setting unit 6 receives the position information of the region of interest set by the input unit 7 for the above-described initial fluoroscopic image data via the system control unit 8, and receives the image data generation unit. The region of interest described above is set for the initial fluoroscopic image data supplied from the projection data storage unit 4 (step S5 in FIG. 7). Then, the average pixel value of the initial fluoroscopic image data included in the region of interest is calculated (step S6 in FIG. 7).

次いで、画素値比較部62は、上述のステップS1にて設定された閾値αと画素値演算部61から供給される前記関心領域の平均画素値とを比較し、その比較結果を透視条件設定部66へ供給する(図7のステップS7)。   Next, the pixel value comparison unit 62 compares the threshold value α set in step S1 described above with the average pixel value of the region of interest supplied from the pixel value calculation unit 61, and the comparison result is a perspective condition setting unit. 66 (step S7 in FIG. 7).

一方、透視条件設定部66は、F-kV・F-mAsライン算出部65によって算出されたF-kV・F-mAsラインの情報を受信し、このF-kV・F-mAsラインに対して初期透視条件(初期透視管電圧(F-kVo)及び初期透視mAs(F-mAso))を設定する(図6参照)。次いで、前記初期透視条件によって生成された透視画像データの平均画素値と閾値αとの比較結果を画素値比較部62から受信し、この比較結果に基づく初期透視条件の更新をF-kV・F-mAsラインに沿って行なうことにより新たな透視条件を設定する(図7のステップS8)。   On the other hand, the fluoroscopy condition setting unit 66 receives the information on the F-kV / F-mAs line calculated by the F-kV / F-mAs line calculation unit 65 and outputs the F-kV / F-mAs line to the F-kV / F-mAs line. Initial fluoroscopic conditions (initial fluoroscopic tube voltage (F-kVo) and initial fluoroscopic mAs (F-mAso)) are set (see FIG. 6). Next, a comparison result between the average pixel value of the fluoroscopic image data generated under the initial fluoroscopic condition and the threshold value α is received from the pixel value comparing unit 62, and the update of the initial fluoroscopic condition based on the comparison result is F-kV · F. A new fluoroscopic condition is set by performing along the -mAs line (step S8 in FIG. 7).

そして、更新された透視条件による透視画像データの生成、得られた透視画像データに対する関心領域の設定、関心領域における平均画素値の算出、算出された平均画素値と閾値αとの比較、F-kV・F-mAsラインに基づく透視条件の更新を、透視中、平均画素値と閾値αとが常に等しくなるよう繰り返し行ない続ける(図7のステップS4乃至ステップS8)。   Then, generation of fluoroscopic image data based on the updated fluoroscopic conditions, setting of a region of interest for the obtained fluoroscopic image data, calculation of an average pixel value in the region of interest, comparison of the calculated average pixel value and a threshold value α, F − The fluoroscopy conditions based on the kV · F-mAs line are repeatedly updated so that the average pixel value and the threshold α are always equal during fluoroscopy (steps S4 to S8 in FIG. 7).

一方、撮影条件設定部67は、透視条件設定部66が更新した最新の透視管電圧(F-kVx)と等しい値を有する撮影管電圧(R-kVx)を設定し、透視mAs(F-mAsx)に事前登録データの撮影線量(R-dose)と透過線量(F-dose)との比を乗算することにより撮影モードに好適な撮影mAs(R-mAsx)を設定する(式(2)参照)。そして、更新された最新の撮影管電圧(R-kVx)及び撮影mAs(R-mAsx))の情報は、システム制御部8の記憶回路に一旦保存される(図7のステップS9)。   On the other hand, the imaging condition setting unit 67 sets an imaging tube voltage (R-kVx) having a value equal to the latest fluoroscopic tube voltage (F-kVx) updated by the fluoroscopy condition setting unit 66, and the fluoroscopic mAs (F-mAsx). ) Is multiplied by the ratio of the imaging dose (R-dose) and the transmitted dose (F-dose) in the pre-registration data to set the imaging mAs (R-mAsx) suitable for the imaging mode (see Equation (2)). ). The updated latest tube voltage (R-kVx) and imaging mAs (R-mAsx) information are temporarily stored in the storage circuit of the system control unit 8 (step S9 in FIG. 7).

次いで、操作者は、透視画像データで被検体の位置、体位及び造影剤が撮影に適した状態にあることを確認したならば、入力部7にて撮影モードの開始コマンドを入力する(図7のステップS10)。そして、このコマンド信号を受信したシステム制御部8は、自己の記憶回路から読み出した最新の撮影管電圧(R-kVx)及び撮影mAs(R-mAsx)とX線発生のための指示信号を高電圧発生部3のX線制御部31へ供給し、上述のステップS4と同様の手順により撮影画像データの生成と表示を行なう(図7のステップS11)。   Next, if the operator confirms that the position, body position, and contrast medium of the subject are in a state suitable for imaging with the fluoroscopic image data, the operator inputs an imaging mode start command at the input unit 7 (FIG. 7). Step S10). Upon receiving this command signal, the system control unit 8 increases the latest imaging tube voltage (R-kVx) and imaging mAs (R-mAsx) read from its storage circuit and an instruction signal for X-ray generation. The image data is supplied to the X-ray control unit 31 of the voltage generation unit 3 and the captured image data is generated and displayed in the same procedure as in step S4 described above (step S11 in FIG. 7).

以上述べた本発明の実施例によれば、撮影モードに先行して行なわれる透視モードのX線検査にて設定された透視条件に基づいて撮影条件を設定する際、操作者によって任意に入力される事前登録データ等に基づいて算出されたFkV−FmAsラインを用いて前記透視条件を設定することにより、良好な画質と感度を有する撮影画像データの収集を正確かつ短時間で行なうことが可能となる。このため、診断精度と診断効率を向上させることができる。   According to the embodiment of the present invention described above, when setting the imaging condition based on the fluoroscopic condition set in the X-ray inspection in the fluoroscopic mode performed prior to the imaging mode, it is arbitrarily input by the operator. By setting the fluoroscopic condition using the FkV-FmAs line calculated based on pre-registered data, it is possible to collect captured image data having good image quality and sensitivity in a short time. Become. For this reason, diagnostic accuracy and diagnostic efficiency can be improved.

特に、上述のF-kV・F-mAsラインは、操作者の好みや検査内容に合わせて任意に登録された事前登録データの被検体厚と透視管電圧との関係等に基づいて設定されるため、画像コントラストの主要因である管電圧を要求通りに実現できる。即ち、従来のような被検体厚に無関係なF-kV・F-mAsラインに基づいて制御した透視管電圧(F-kVz)及び透視mAs(F-mAsz)と異なる。   In particular, the above-described F-kV / F-mAs line is set based on the relationship between the subject thickness of the pre-registration data arbitrarily registered according to the operator's preference and examination content, and the fluoroscopic tube voltage. Therefore, the tube voltage, which is the main factor of image contrast, can be realized as required. That is, it differs from the conventional fluoroscopic tube voltage (F-kVz) and fluoroscopic mAs (F-mAsz) controlled based on the F-kV / F-mAs line unrelated to the subject thickness.

又、撮影モードに好適な撮影管電圧(R-kVx)及び撮影mAs(R-mAsx)は、透視モードにて設定された透視管電圧(F-kVx)及び透視mAs(F-mAsx)と事前登録データの透視線量及び撮影線量によって一義的に決定され、しかも、透視管電圧(F-kVx)と等しい撮影管電圧(R-kVx)が設定されるため、所望の画質を有した撮影画像データを安定して収集することができる。即ち、撮影画像データと同じコントラストを有する透視画像データは表示部において容易に観察することができるため、撮影画像データのコントラストを確認しながら当該被検体のX線検査を行なうことができる。   In addition, the photographing tube voltage (R-kVx) and the photographing mAs (R-mAsx) suitable for the photographing mode are set in advance with the fluoroscopic tube voltage (F-kVx) and the fluoroscopic mAs (F-mAsx) set in the fluoroscopic mode. Since the photographing tube voltage (R-kVx) which is uniquely determined by the fluoroscopic dose and the photographing dose of the registered data and which is equal to the fluoroscopic tube voltage (F-kVx) is set, photographed image data having a desired image quality Can be collected stably. That is, the fluoroscopic image data having the same contrast as the captured image data can be easily observed on the display unit, so that the X-ray examination of the subject can be performed while confirming the contrast of the captured image data.

このような理由により、本実施例によれば、診断効率が向上するのみならず被検体や操作者の負担を軽減することができる。特に、撮影画像データの画質不良に伴うX線検査のやり直し頻度は大幅に低減するため、当該被検体に対する無駄な被曝を防止することが可能となる。   For this reason, according to the present embodiment, not only the diagnostic efficiency is improved, but also the burden on the subject and the operator can be reduced. In particular, the frequency of redoing X-ray examinations associated with poor image quality of captured image data is greatly reduced, so that unnecessary exposure to the subject can be prevented.

又、撮影管電圧(R-Kvx)及び撮影mAs(R-mAsx)は、既に述べたように透視管電圧(F-Kvx)及び透視mAs(F-mAsx)と事前登録データの透視線量及び撮影線量に基づいて容易に決定されるため、専用のX線センサを必要とする従来の自動露出制御法(ACE法)を用いる必要が無くなり、特に、前記X線センサの設置が困難な平面検出器を用いたX線透視撮影装置に対して好適な方法となり得る。又、上述の事前登録データを更新することにより透視画像データ及び撮影画像データの画質や感度を容易に制御することが可能となる。   The tube voltage (R-Kvx) and the imaging mAs (R-mAsx) are the fluoroscopic tube voltage (F-Kvx) and the fluoroscopic mAs (F-mAsx), the fluoroscopic dose of the pre-registered data and the imaging as described above. Since it is easily determined based on the dose, it is not necessary to use a conventional automatic exposure control method (ACE method) that requires a dedicated X-ray sensor, and in particular, a flat detector in which the installation of the X-ray sensor is difficult. This can be a suitable method for an X-ray fluoroscopic imaging apparatus using the. In addition, the image quality and sensitivity of the fluoroscopic image data and the captured image data can be easily controlled by updating the above-described pre-registration data.

以上、本発明の実施例について述べてきたが、本発明は上述の実施例に限定されるものでは無く、変形して実施することが可能である。例えば、上述の実施例では、透視モードにおける2次元投影データの平均画素値と閾値αとの比較結果に基づいて透視管電圧(F-Kvx)及び透視mAs(F-mAsx)を設定する場合について述べたが、2次元投影データを用いて生成した透視画像データの平均画素値と所定の閾値との比較結果に基づいて上述の透視条件を設定してもよい。   As mentioned above, although the Example of this invention has been described, this invention is not limited to the above-mentioned Example, It can change and implement. For example, in the above-described embodiment, the case where the fluoroscopic tube voltage (F-Kvx) and the fluoroscopic mAs (F-mAsx) are set based on the comparison result between the average pixel value of the two-dimensional projection data in the fluoroscopic mode and the threshold value α. As described above, the above-described fluoroscopic conditions may be set based on a comparison result between an average pixel value of fluoroscopic image data generated using two-dimensional projection data and a predetermined threshold value.

又、透視画像データに設定された関心領域における画素値の平均値と閾値αとを比較する場合について述べたが、これに限定されるものではなく、例えば、画素値の最大値や中央値(メディアン)であっても構わない。   Moreover, although the case where the average value of the pixel value in the region of interest set in the fluoroscopic image data is compared with the threshold value α is described, the present invention is not limited to this. For example, the maximum value or the median value ( Median).

更に、上述の実施例における基本データ保管部63には、式(1)に示した被検体厚tをパラメータとする透視管電圧(F-kV)と透視mAs(F-mAs)との関係式が予め保管されている場合について述べたが、グリッドの有無等によって透視画像データの画質や感度が著しく異なる場合、基本データ保管部63にはこれらの投影データ収集条件に対応した複数の数式が識別情報を付帯情報として保存され、収集条件を自動判別することによってこれらの数式の中からF-kV・F-mAsラインの算出に好適な数式を自動的に選択してもよい。   Further, in the basic data storage unit 63 in the above-described embodiment, the relational expression between the fluoroscopic tube voltage (F-kV) and the fluoroscopic mAs (F-mAs) using the subject thickness t shown in the equation (1) as a parameter. However, when the image quality and sensitivity of the fluoroscopic image data are significantly different depending on the presence or absence of a grid, the basic data storage unit 63 identifies a plurality of mathematical expressions corresponding to these projection data collection conditions. Information may be stored as incidental information, and a mathematical formula suitable for calculating the F-kV / F-mAs line may be automatically selected from these mathematical formulas by automatically determining the collection conditions.

又、上述の実施例において、透視管電圧と透視mAsとの対応関係あるいは透視管電圧と透視mAsに影響するパラメータの対応関係を示すF-kV・F-mAsラインを算出するF-kV・F-mAsライン算出部65は、図5に示すようなグラフ形式のF-kV・F-mAsラインを算出する場合について述べたが、これに限定されるものではなく、数式やルックアップテーブル等の形式によるF-kV・F-mAsラインを算出してもよい。   In the above-described embodiment, F-kV · F for calculating the F-kV · F-mAs line indicating the correspondence between the fluoroscopic tube voltage and the fluoroscopic mAs or the correspondence between the fluoroscopic tube voltage and the parameter affecting the fluoroscopic mAs. Although the -mAs line calculation unit 65 has described the case of calculating the F-kV / F-mAs line in the graph format as shown in FIG. 5, the present invention is not limited to this, and formulas, lookup tables, etc. The F-kV / F-mAs line according to the format may be calculated.

更に、上述の透視mAsに影響するパラメータは、透視mAs、透視管電流、照射時間(透視パルス幅)の何れであってもよい。又、撮影条件設定部67は、透視管電圧又は透視mAsに関連するパラメータの少なくとも何れかに基づいて、撮影モードの撮影管電圧及び撮影mAsあるいは撮影管電圧及び撮影mAsに関連するパラメータを設定してもよい。   Further, the parameter affecting the above-described fluoroscopic mAs may be any of fluoroscopic mAs, fluoroscopic tube current, and irradiation time (fluoroscopic pulse width). The imaging condition setting unit 67 sets the imaging tube voltage and imaging mAs in the imaging mode or the parameters related to imaging tube voltage and imaging mAs based on at least one of the parameters related to the imaging tube voltage or the imaging mAs. May be.

1…X線発生部
11…X線管
12…X線絞り器
2…X線検出部
21…平面検出器
22…ゲートドライバ
23…投影データ生成部
231…電荷・電圧変換器
232…A/D変換器
233…パラレル・シリアル変換器
3…高電圧発生部
31…X線制御部
32…高電圧発生器
4…画像データ生成部
5…表示部
6…照射条件設定部
61…画素値演算部
62…画素値比較部
63…基本データ保管部
64…登録データ記憶部
65…F-kV・F-mAsライン算出部
66…透視条件設定部
67…撮影条件設定部
7…入力部
8…システム制御部
100…X線透視撮影装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... X-ray generation part 11 ... X-ray tube 12 ... X-ray aperture 2 ... X-ray detection part 21 ... Planar detector 22 ... Gate driver 23 ... Projection data generation part 231 ... Charge-voltage converter 232 ... A / D Converter 233 ... Parallel / serial converter 3 ... High voltage generator 31 ... X-ray controller 32 ... High voltage generator 4 ... Image data generator 5 ... Display unit 6 ... Irradiation condition setting unit 61 ... Pixel value calculator 62 ... Pixel value comparison unit 63 ... Basic data storage unit 64 ... Registered data storage unit 65 ... F-kV / F-mAs line calculation unit 66 ... Perspective condition setting unit 67 ... Imaging condition setting unit 7 ... Input unit 8 ... System control unit 100 ... X-ray fluoroscopic apparatus

Claims (6)

透視モードにて設定された透視条件に基づいて撮影モードの撮影条件を設定するX線透視撮影装置において、
透視モードにおいて収集される透視画像データが所定の輝度になるように、前記透視モードにおけるX線管の管電流及び管電圧を制御する透視制御手段と、
前記透視モードにおける管電圧と略等しい管電圧で撮影モードの撮影が行なわれるように撮影モードの撮影条件を制御する撮影制御手段とを
備えたことを特徴とするX線透視撮影装置。
In the X-ray fluoroscopic imaging apparatus that sets the imaging conditions in the imaging mode based on the fluoroscopic conditions set in the fluoroscopic mode,
Fluoroscopy control means for controlling the tube current and the tube voltage of the X-ray tube in the fluoroscopic mode so that the fluoroscopic image data collected in the fluoroscopic mode has a predetermined luminance;
An X-ray fluoroscopic imaging apparatus comprising: an imaging control unit that controls imaging conditions in an imaging mode so that imaging in an imaging mode is performed at a tube voltage substantially equal to a tube voltage in the fluoroscopic mode.
撮影モードに先行する透視モードにて設定された透視条件に基づいて撮影モードの撮影条件を設定するX線透視撮影装置において、
被検体厚と透視管電圧との関係を示すデータを記憶する記憶手段と、
前記データに基づいて透視管電圧と透視mAsに影響するパラメータの対応関係を算出する算出手段と、
透視モードにて生成される画像データの画素値と前記算出手段の算出結果とに基づいて透視モードの透視管電圧及び透視mAsに関連するパラメータを設定する透視条件設定手段と、
前記透視管電圧あるいは前記透視mAsに関連するパラメータの少なくとも何れかに基づいて撮影モードの撮影管電圧及び撮影mAsに関連するパラメータを設定する撮影条件設定手段とを
備えたことを特徴とするX線透視撮影装置。
In the X-ray fluoroscopic imaging apparatus that sets the imaging condition of the imaging mode based on the fluoroscopic condition set in the fluoroscopic mode preceding the imaging mode,
Storage means for storing data indicating the relationship between the subject thickness and the fluoroscopic tube voltage;
Calculating means for calculating a correspondence relationship between the fluoroscopic tube voltage and the parameters affecting the fluoroscopic mAs based on the data;
Fluoroscopy condition setting means for setting parameters related to the fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs in the fluoroscopic mode based on the pixel value of the image data generated in the fluoroscopic mode and the calculation result of the calculation means;
X-ray comprising: an imaging condition setting means for setting an imaging tube voltage in an imaging mode and a parameter related to imaging mAs based on at least one of the fluoroscopic tube voltage and parameters related to the fluoroscopic mAs. Perspective imaging device.
前記透視モードにて生成される画像データの画素値を算出する画素値演算手段と、算出された画素値と所定の閾値とを比較する画素値比較手段を備え、前記透視条件設定手段は、前記画素値と前記閾値との比較結果及び前記算出手段の算出結果に基づいて前記透視モードの透視管電圧及び透視mAsに関連するパラメータを設定することを特徴とする請求項2記載のX線透視撮影装置。   A pixel value calculation unit that calculates a pixel value of image data generated in the perspective mode; and a pixel value comparison unit that compares the calculated pixel value with a predetermined threshold value, and the perspective condition setting unit includes: 3. The X-ray fluoroscopic imaging according to claim 2, wherein parameters relating to the fluoroscopic tube voltage and the fluoroscopic mAs in the fluoroscopic mode are set based on a comparison result between a pixel value and the threshold value and a calculation result of the calculation means. apparatus. 前記画素値演算手段は、前記透視モードにて生成される画像データに対して設定された関心領域の平均画素値、最大画素値あるいは中央画素値の何れかを算出することを特徴とする請求項3記載のX線透視撮影装置。   The pixel value calculation means calculates one of an average pixel value, a maximum pixel value, and a central pixel value of a region of interest set for image data generated in the perspective mode. The X-ray fluoroscopic apparatus according to 3. 前記撮影条件設定手段は、前記透視管電圧と略等しい撮影管電圧を設定することを特徴とする請求項2記載のX線透視撮影装置。   The X-ray fluoroscopic imaging apparatus according to claim 2, wherein the imaging condition setting unit sets an imaging tube voltage substantially equal to the fluoroscopic tube voltage. 前記撮影条件設定手段は、前記透視mAsに予め登録された撮影線量と透過線量との比を乗算することにより前記撮影mAsを設定することを特徴とする請求項2記載のX線透視撮影装置。   The X-ray fluoroscopic imaging apparatus according to claim 2, wherein the imaging condition setting unit sets the imaging mAs by multiplying a ratio of an imaging dose and a transmission dose registered in advance to the fluoroscopic mAs.
JP2010011423A 2010-01-21 2010-01-21 X-ray fluoroscopic equipment Active JP5596987B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010011423A JP5596987B2 (en) 2010-01-21 2010-01-21 X-ray fluoroscopic equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010011423A JP5596987B2 (en) 2010-01-21 2010-01-21 X-ray fluoroscopic equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011147615A true JP2011147615A (en) 2011-08-04
JP5596987B2 JP5596987B2 (en) 2014-10-01

Family

ID=44535186

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010011423A Active JP5596987B2 (en) 2010-01-21 2010-01-21 X-ray fluoroscopic equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5596987B2 (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014054323A (en) * 2012-09-11 2014-03-27 Toshiba Corp Fluoroscope, x-ray ct apparatus and x-ray output control program
JP2014087513A (en) * 2012-10-31 2014-05-15 Konica Minolta Inc Radiological imaging system
JP2016073449A (en) * 2014-10-06 2016-05-12 株式会社東芝 X-ray diagnostic apparatus
CN108827920A (en) * 2018-03-21 2018-11-16 苏州国科医疗科技发展有限公司 A kind of low Poison bleaching co-focusing imaging method and system
US10342503B2 (en) 2013-09-05 2019-07-09 Toshiba Medical Systems Corporation Medical image processing apparatus, X-ray diagnostic apparatus, and X-ray computed tomography apparatus
CN111323436A (en) * 2020-02-26 2020-06-23 彭晟 Method for intelligently adjusting X-ray exposure parameters
CN112602381A (en) * 2018-09-11 2021-04-02 株式会社岛津制作所 X-ray device

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61288586A (en) * 1985-06-15 1986-12-18 Toshiba Corp Digital fluorographic device
JPS63213298A (en) * 1987-02-27 1988-09-06 Shimadzu Corp X-ray cinematographic equipment
JPH0266898A (en) * 1988-08-31 1990-03-06 Shimadzu Corp X-ray cinema photographing device
JPH0440645Y2 (en) * 1986-03-27 1992-09-24
JPH07336597A (en) * 1994-06-09 1995-12-22 Hitachi Medical Corp Fluoroscopic and radiographic device
JP2597588B2 (en) * 1987-07-16 1997-04-09 株式会社東芝 X-ray fluoroscope
JPH11299765A (en) * 1998-04-17 1999-11-02 Hitachi Medical Corp X-ray device
JP2000012280A (en) * 1998-06-24 2000-01-14 Shimadzu Corp X-ray cineradiographic device
JP2000261724A (en) * 1999-03-10 2000-09-22 Toshiba Corp X-ray device and photographing condition setting method
JP2003115399A (en) * 2001-10-02 2003-04-18 Toshiba Corp X-ray diagnostic equipment
JP2005000369A (en) * 2003-06-11 2005-01-06 Canon Inc X-ray irradiating condition controller
JP3670439B2 (en) * 1997-05-09 2005-07-13 株式会社日立メディコ X-ray equipment
JP2006334154A (en) * 2005-06-02 2006-12-14 Toshiba Corp Automatic exposure controller for radiography
JP2009119133A (en) * 2007-11-16 2009-06-04 Canon Inc Image processing apparatus, image processing method, and program

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61288586A (en) * 1985-06-15 1986-12-18 Toshiba Corp Digital fluorographic device
JPH0440645Y2 (en) * 1986-03-27 1992-09-24
JPS63213298A (en) * 1987-02-27 1988-09-06 Shimadzu Corp X-ray cinematographic equipment
JP2597588B2 (en) * 1987-07-16 1997-04-09 株式会社東芝 X-ray fluoroscope
JPH0266898A (en) * 1988-08-31 1990-03-06 Shimadzu Corp X-ray cinema photographing device
JPH07336597A (en) * 1994-06-09 1995-12-22 Hitachi Medical Corp Fluoroscopic and radiographic device
JP3670439B2 (en) * 1997-05-09 2005-07-13 株式会社日立メディコ X-ray equipment
JPH11299765A (en) * 1998-04-17 1999-11-02 Hitachi Medical Corp X-ray device
JP2000012280A (en) * 1998-06-24 2000-01-14 Shimadzu Corp X-ray cineradiographic device
JP2000261724A (en) * 1999-03-10 2000-09-22 Toshiba Corp X-ray device and photographing condition setting method
JP2003115399A (en) * 2001-10-02 2003-04-18 Toshiba Corp X-ray diagnostic equipment
JP2005000369A (en) * 2003-06-11 2005-01-06 Canon Inc X-ray irradiating condition controller
JP2006334154A (en) * 2005-06-02 2006-12-14 Toshiba Corp Automatic exposure controller for radiography
JP2009119133A (en) * 2007-11-16 2009-06-04 Canon Inc Image processing apparatus, image processing method, and program

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014054323A (en) * 2012-09-11 2014-03-27 Toshiba Corp Fluoroscope, x-ray ct apparatus and x-ray output control program
JP2014087513A (en) * 2012-10-31 2014-05-15 Konica Minolta Inc Radiological imaging system
US10342503B2 (en) 2013-09-05 2019-07-09 Toshiba Medical Systems Corporation Medical image processing apparatus, X-ray diagnostic apparatus, and X-ray computed tomography apparatus
JP2016073449A (en) * 2014-10-06 2016-05-12 株式会社東芝 X-ray diagnostic apparatus
US10159455B2 (en) 2014-10-06 2018-12-25 Toshiba Medical Systems Corporation X-ray diagnosis apparatus comprising judging circuitry to judge whether a voltage should be applied to a grid of an X-ray tube and grid controlling circuitry
CN108827920A (en) * 2018-03-21 2018-11-16 苏州国科医疗科技发展有限公司 A kind of low Poison bleaching co-focusing imaging method and system
CN108827920B (en) * 2018-03-21 2022-05-27 苏州国科医工科技发展(集团)有限公司 Low-fluorescence bleaching confocal imaging method and system
CN112602381A (en) * 2018-09-11 2021-04-02 株式会社岛津制作所 X-ray device
CN112602381B (en) * 2018-09-11 2024-02-20 株式会社岛津制作所 X-ray apparatus
CN111323436A (en) * 2020-02-26 2020-06-23 彭晟 Method for intelligently adjusting X-ray exposure parameters
CN111323436B (en) * 2020-02-26 2023-06-02 彭晟 Method for intelligently adjusting X-ray exposure parameters

Also Published As

Publication number Publication date
JP5596987B2 (en) 2014-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5596987B2 (en) X-ray fluoroscopic equipment
US6944265B2 (en) Image pasting using geometry measurement and a flat-panel detector
US8175357B2 (en) X-ray diagnostic apparatus, image processing apparatus, and image processing method
US9615811B2 (en) Radiation imaging apparatus and method for controlling the same
WO2003057039A1 (en) X-ray diagnosis apparatus
JP2008229270A (en) Radiography equipment, radiographic method, and radiogram displaying method
JP5550209B2 (en) X-ray equipment
WO2014129443A1 (en) Radiation image analysis device and method, and radiation imaging device
JP2007105345A (en) X-ray diagonostic imaging device
WO2002078546A1 (en) X-ray diagnosing apparatus
US8905636B2 (en) X-ray diagnostic apparatus
EP1987771A1 (en) Radiation image pickup device and method of processing radiation detecting signal
JP6377102B2 (en) Radiography system, dose index management method and program
JP2004105643A (en) X-ray diagnostic equipment
CN113397577B (en) Dynamic quality management device and method, computer readable recording medium
JP4744831B2 (en) X-ray diagnostic equipment
JP2001340321A (en) Radiodiagnostic system
JP6026171B2 (en) Medical image photographing apparatus and medical image photographing method
JP2017189240A (en) X-ray detector and X-ray diagnostic apparatus
JP2017202043A (en) Image analysis system
JP5319984B2 (en) X-ray diagnostic apparatus and X-ray image processing apparatus
JP2004202026A (en) X-ray diagnostic apparatus and x-ray photographing method
JP2014012216A (en) X-ray image diagnostic apparatus
JP5534648B2 (en) X-ray diagnostic apparatus, image data processing apparatus, and image data processing method
JP7115584B2 (en) Dynamic quality control device, dynamic quality control program and dynamic quality control method

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20111128

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20111206

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20121227

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131018

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131018

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131217

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140711

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140808

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5596987

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350