JP2011134798A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】消費電力を抑制することができる半導体集積回路装置を提供する。
【解決手段】半導体集積回路装置100は、差動信号を送信する差動信号送信素子11、差動信号を伝送する一対の第1の差動伝送線路12A、12B、差動信号送信素子11と一対の第1の差動伝送線路12A、12Bとの間に接続された一対の結合コンデンサ14A、14B、一対の第1の差動伝送線路12A、12Bの終端間に接続された終端抵抗13を備えた第1の半導体集積回路素子1と、一対の第1の差動伝送線路12A、12Bと容量性結合及び誘導性結合するように一対の第1の差動伝送線路12A、12Bに予め定めた距離を離して対向配置された一対の第2の差動伝送線路22A、22B、一対の第2の差動伝送線路22A、22Bの終端に接続され且つ差動信号を受信する差動信号受信素子21を備え、第1の半導体集積回路素子1に積層された第2の半導体集積回路素子2と、を備える。
【選択図】図1
【解決手段】半導体集積回路装置100は、差動信号を送信する差動信号送信素子11、差動信号を伝送する一対の第1の差動伝送線路12A、12B、差動信号送信素子11と一対の第1の差動伝送線路12A、12Bとの間に接続された一対の結合コンデンサ14A、14B、一対の第1の差動伝送線路12A、12Bの終端間に接続された終端抵抗13を備えた第1の半導体集積回路素子1と、一対の第1の差動伝送線路12A、12Bと容量性結合及び誘導性結合するように一対の第1の差動伝送線路12A、12Bに予め定めた距離を離して対向配置された一対の第2の差動伝送線路22A、22B、一対の第2の差動伝送線路22A、22Bの終端に接続され且つ差動信号を受信する差動信号受信素子21を備え、第1の半導体集積回路素子1に積層された第2の半導体集積回路素子2と、を備える。
【選択図】図1
Description
本発明は、半導体集積回路装置に関する。
特許文献1には、基板上の配線により形成される第1コイルを有する第1基板と、基板上の配線により前記第1コイルと対応する位置に形成され第1コイルと誘導結合する第2コイルを有する第2基板とを備えることを特徴とする電子回路が開示されている。
特許文献2には、平面インダクタを形成した複数の半導体集積回路チップを積層し、平面インダクタ間の電磁結合でチップ間の情報を伝達することを特徴とする半導体装置が開示されている。
特許文献3には、差動信号送信素子及び前記差動信号送信素子からの信号を伝送すると共に同一平面上に配設された一対の第1の差動伝送線路を備えた第1の半導体集積回路素子と、前記一対の第1の差動伝送線路と互いに容量性結合および誘導性結合による結合線路系をなすように前記一対の第1の差動伝送線路に所定の距離を有して平行に対向配置された一対の第2の差動伝送線路、及び前記一対の第1の差動伝送線路に流れる電流と同一方向に電流が流れる前記一対の第2の差動伝送線路の終端に接続された差動信号受信素子を備えると共に前記第1の半導体集積回路素子に積層された第2の半導体集積回路素子と、を備えたことを特徴とする半導体集積回路装置が開示されている。
非特許文献1には、1個のパッケージに複数のチップを搭載し、これら複数のチップの間の信号伝送を、電極同士を直接接続するのではなく、チップを対面実装で積層してバンプ間の容量性結合により通信を行う方法が開示されている。
"Buried Bump and AC Coupled Interconnection Technology",Stephen Mick, Lei Luo, John Wilson, and Paul Franzon, IEEE TRANSACTIONS ON ADVANCED PACKAGING, VOL. 27, NO. 1, FEBRUARY 2004
本発明は、消費電力を抑制することができる半導体集積回路装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、請求項1記載の発明は、差動信号を送信する差動信号送信素子、前記差動信号送信素子から送信された前記差動信号を伝送する一対の第1の差動伝送線路、一端が前記差動信号送信素子と接続され、他端が前記一対の第1の差動伝送線路の各々の始端と接続された一対の容量性素子、及び前記一対の第1の差動伝送線路の終端間に接続された終端抵抗を備えた第1の半導体集積回路素子と、前記一対の第1の差動伝送線路と容量性結合及び誘導性結合するように前記一対の第1の差動伝送線路に予め定めた距離を離して対向配置された一対の第2の差動伝送線路、及び前記一対の第2の差動伝送線路の終端に接続され且つ前記差動信号を受信する差動信号受信素子を備えると共に前記第1の半導体集積回路素子に積層された第2の半導体集積回路素子と、を備える。
請求項2記載の発明は、前記一対の容量性素子及び前記終端抵抗によって低域濾過される前記差動信号の濾過周波数が、前記差動信号の立ち上がり部分の立ち上がり周波数よりも低くなるように、前記一対の容量性素子の容量値を設定したものである。
請求項3記載の発明は、前記濾過周波数が、前記立ち上がり周波数の1/10以下となるように、前記一対の容量性素子の容量値を設定したものである。
請求項1記載の発明によれば、一対の容量性素子を設けない場合と比較して、終端抵抗で消費される消費電力を抑制することができる、という効果を有する。
請求項2記載の発明によれば、差動信号の濾過周波数が差動信号の立ち上がり周波数以上になるように一対の容量性素子の容量値が設定された場合と比較して、終端抵抗で消費される消費電力を効果的に抑制することができる、という効果を有する。
請求項3記載の発明によれば、差動信号の濾過周波数が差動信号の立ち上がり周波数に近くなるように一対の容量性素子の容量値が設定された場合と比較して、差動信号の波形の劣化を抑制することができる、という効果を有する。
以下、本発明の実施形態について説明する。
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る半導体集積回路装置を示す斜視図である。同図においては、内部に配置する各部材の配置をわかり易くするため、内部に配置する各部材を実線で示している。
(半導体集積回路装置の構成)
この半導体集積回路装置100は、データを送出する差動信号送信素子11を搭載した第1の半導体集積回路素子1と、データを受信する差動信号受信素子21を搭載すると共に薄厚のシリコン等で構成された誘電体4を介して第1の半導体集積回路素子1に積層された第2の半導体集積回路素子2とを備えて構成されている。
この半導体集積回路装置100は、データを送出する差動信号送信素子11を搭載した第1の半導体集積回路素子1と、データを受信する差動信号受信素子21を搭載すると共に薄厚のシリコン等で構成された誘電体4を介して第1の半導体集積回路素子1に積層された第2の半導体集積回路素子2とを備えて構成されている。
なお、誘電体4を介して第1の半導体集積回路素子1及び第2の半導体集積回路素子2を積層するのではなく、誘電体4に代えて空間としてもよい。
第1の半導体集積回路素子1は、データを送出する差動信号送信素子11と、誘電体4に面して並んで配置された予め定めた長さの一対の第1の差動伝送線路12A,12Bと、第1の差動伝送線路12A,12Bの終端間に接続された終端抵抗13と、一端が差動信号送信素子11の差動出力端子に各々接続されると共に、他端が第1の差動伝送線路12A、12Bの始端に各々接続された結合コンデンサ14A、14Bと、を備えて構成されている。
終端抵抗13は、第1の差動伝送線路12A,12Bの特性インピーダンスに等しい値の抵抗である。これにより、第1の半導体集積回路素子1の差動伝送線路12A,12Bは、擬似空中線のダミーロードと同様の原理で整合終端され、電磁界は近傍界で閉じられ、放射電磁界が生じない構成とされる。
第2の半導体集積回路素子2は、第1の差動伝送線路12A,12Bとほぼ同一の長さを有し、第1の差動伝送線路12A,12Bに誘電体4を介して対向した状態で誘電体4に面して配置され、かつ第1の差動伝送線路12A,12Bの終端側に差動信号受信素子21の差動入力端子が接続された一対の第2の差動伝送線路22A,22Bと、差動信号受信素子21の差動入力端子間に接続された終端抵抗23と、を備えて構成されている。
終端抵抗23は、第2の差動伝送線路22A,22Bの特性インピーダンスに等しい値の抵抗である。これにより、第2の半導体集積回路素子2の差動伝送線路22A,22Bは、擬似空中線のダミーロードと同様の原理で整合終端され、電磁界は近傍界で閉じられ、放射電磁界が生じない構成とされる。
(データ復調回路の構成)
図2は、差動信号受信素子に接続されるデータ復調回路のブロック図である。データ復調回路30は、差動信号受信素子21の出力端に接続された第1,第2のスレッショルド検出手段31,32と、この第1,第2のスレッショルド検出手段31,32の両出力端に接続された論理反転手段33とを備えて構成されている。
図2は、差動信号受信素子に接続されるデータ復調回路のブロック図である。データ復調回路30は、差動信号受信素子21の出力端に接続された第1,第2のスレッショルド検出手段31,32と、この第1,第2のスレッショルド検出手段31,32の両出力端に接続された論理反転手段33とを備えて構成されている。
(データ復調回路の具体的構成)
図3は、図2に示したデータ復調回路の具体的な回路構成を示す回路図である。このデータ復調回路30は、第1,第2のスレッショルド検出手段31,32としてのコンパレータ34,35と、論理反転手段33としてのR-S(リセット・セット)フリップフロップ(RS−FF)回路36とを備えて構成されている。
図3は、図2に示したデータ復調回路の具体的な回路構成を示す回路図である。このデータ復調回路30は、第1,第2のスレッショルド検出手段31,32としてのコンパレータ34,35と、論理反転手段33としてのR-S(リセット・セット)フリップフロップ(RS−FF)回路36とを備えて構成されている。
コンパレータ34,35は、差動演算増幅器を用いて構成されており、コンパレータ34の−入力端子には図示しない閾値設定回路から閾値VTH1が入力され、コンパレータ35の+入力端子には上記閾値設定回路から閾値VTH2が入力されている。また、コンパレータ34の出力信号はRSフリップフロップ回路36のS入力端子に入力され、コンパレータ35の出力信号はRSフリップフロップ回路36のR入力端子に入力されている。
なお、データ復調回路30は、上記した回路構成に限定されるものではなく、例えば、結合部分の微分特性を元に戻す積分回路を用いて元の台形波を復調する構成としてもよい。
(半導体集積回路装置及びデータ復調回路の動作)
図4は、差動信号受信素子の動作を示す波形図である。図1〜図4を参照して、半導体集積回路装置及びデータ復調回路の動作を説明する。
図4は、差動信号受信素子の動作を示す波形図である。図1〜図4を参照して、半導体集積回路装置及びデータ復調回路の動作を説明する。
差動信号送信素子11から差動データ信号が出力されると、この差動データ信号は結合コンデンサ14A、14Bを介して第1の差動伝送線路12A,12Bに出力され、その終端に向かって進行し、整合負荷となる終端抵抗13に到達する。
このとき、結合コンデンサ14A、14Bの容量と終端抵抗13による分圧によって、第1の差動伝送線路12A、12Bの差動電圧は、低域濾過される。このため、結合コンデンサ14A、14Bの容量は、当該容量値をC、終端抵抗13の抵抗値の1/2をR(シングルエンド、すなわち1本の差動伝送線路として換算するため)、カットオフ周波数をfc(=1/2πCR)とした場合、カットオフ周波数fcが、伝送する信号のエッジの周波数fe(信号の立ち上がり時間をτとした場合、fe=0.35/τ)より小さいことが好ましい。
ただし、上記のfcは、電力が3dB低下する場合の条件であり、カットオフ周波数fcがエッジ周波数feに近すぎると波形劣化が生じる場合があるので、fc=fe/10程度となるように、結合コンデンサ14A、14Bの容量を設定することが好ましい。
また、差動データ信号は、第1の差動伝送線路12A,12Bを伝送する過程で、誘電体4により第2の差動伝送線路22A,22Bとの間に主として存在している静電容量を介して第2の差動伝送線路22A,22Bに伝達し、第2の差動伝送線路22A,22Bを介して差動信号受信素子21に入力すると共に、終端抵抗23により終端される。
差動信号受信素子21に入力された差動データ信号は差動信号受信素子21で増幅された後、第1,第2のスレッショルド検出手段31,32に入力される。また、第1,第2のスレッショルド検出手段31,32には、閾値VTH1,VTH2が入力される。
図3の構成では、コンパレータ31の+入力端子及びコンパレータ32の−入力端子に差動データ信号が入力され、コンパレータ31の−入力端子及びコンパレータ32の+入力端子に閾値VTH1,VTH2が入力される。
差動信号受信素子21が受信する信号は、半導体集積回路素子1,2間を結合する差動伝送線路12A,12B,22A,22Bの特性から、送信側からの信号の台形波を微分した形状になる。
このため、論理Lから論理Hへの変化点を第1のスレッショルド検出手段31で閾値VTH1を超えたことを検出し、また、論理Hから論理Lへの変化点を第2のスレッショルド検出手段32でVTH2を超えたことを検出し、論理反転手段33(RSフリップフロップ回路36)の出力を論理Lから論理Hへの変化点でHに、また、論理Hから論理Lへの変化点でLに変化させることにより、図4に示すように、元の2値論理(送信信号)を復調している。
(実施例)
図5(A)には、第1の差動伝送線路12A、12Bの線路幅及び間隔を20μm、第1の差動伝送線路12A、12Bと第2の差動伝送線路122A、22Bとの間隔を6.5nmとし、第1の差動伝送線路12A、12B及び第2の差動伝送線路22A、22Bの長さを200μmとし、第1の差動伝送線路12A、12Bに容量が2pFの結合コンデンサ14A、14Bを接続した本実施形態に係る線路構造において、振幅が1V、周波数が5GHz、信号の立ち上がり時間が20psの矩形波信号を伝送させた場合の受信波形(図中破線で示す)及び電力波形(図中実線で示す)を示した。
図5(A)には、第1の差動伝送線路12A、12Bの線路幅及び間隔を20μm、第1の差動伝送線路12A、12Bと第2の差動伝送線路122A、22Bとの間隔を6.5nmとし、第1の差動伝送線路12A、12B及び第2の差動伝送線路22A、22Bの長さを200μmとし、第1の差動伝送線路12A、12Bに容量が2pFの結合コンデンサ14A、14Bを接続した本実施形態に係る線路構造において、振幅が1V、周波数が5GHz、信号の立ち上がり時間が20psの矩形波信号を伝送させた場合の受信波形(図中破線で示す)及び電力波形(図中実線で示す)を示した。
また、図5(B)には、第1の差動伝送線路12A、12Bに結合コンデンサ14A、14Bを接続しない場合の従来の線路構造において、前記矩形波信号を伝送させた場合の受信波形(図中破線で示す)及び電力波形(図中実線で示す)を示した。
図5(B)に示すように、従来の線路構造においては、結合コンデンサがないので第1の差動伝送線路12A、12Bの差動電圧が低域濾過されないが、同図(A)に示すように、本実施形態に係る線路構造においては、結合コンデンサ14A、14Bによって第1の差動伝送線路12A、12Bの差動電圧が低域濾過され、従来の線路構造と比較して電力が低減されているのが判る。
また、図6には、ビット長が31ビットのM系列符号のディジタル信号(擬似ランダム信号)を前記本実施形態に係る線路構造に伝送させた場合の平均電力(図中実線で示す)と、前記ディジタル信号を前記従来の線路構造に伝送させた場合の平均電力(図中破線で示す)と、の結果を示した。
図6に示すように、前記従来の線路構造の場合の平均電力が約20mWであったのに対し、本実施形態に係る線路構造の平均電力は、約9mWであった。なお、M系列符号は、‘0’または‘1’の連続する数が4個以下に制限されているが、他の一般的なディジタル信号の場合、‘0’または‘1’が連続する数の制約がないので、一般的なディジタル信号の場合、平均的には、‘0’または‘1’の連続する数は、M系列符号の数倍程度となる。すなわち、一般のディジタル信号の伝送の場合、本実施形態に係る線路構造における消費電力は、従来の線路構造と比較して、約1/4以下に低減されると考えられる。
また、図7には、前記M系列符号のディジタル信号を前記本実施形態に係る線路構造に伝送させた場合の受信波形を、図8には、前記ディジタル信号を前記従来の線路構造に伝送させた場合の受信波形を示した。
図7に示すように、本実施形態に係る線路構造の場合、図8の従来に係る線路構造の場合と比較して、ベースライン(0mV付近の波形)が波打った波形となっているものの、信号を復調するには特に問題のない波形となっているのが判る。
1 第1の半導体集積回路素子
2 第2の半導体集積回路素子
4 誘電体
11 差動信号送信素子
12A,12B 第1の差動伝送線路
13 終端抵抗
14A、14B 結合コンデンサ
21 差動信号受信素子
22A,22B 第2の差動伝送線路
23 終端抵抗
30 データ復調回路
31 第1のスレッショルド検出手段
32 第2のスレッショルド検出手段
33 論理反転手段
34 第1のコンパレータ
35 第2のコンパレータ
36 RS−FF回路
100 半導体集積回路装置
2 第2の半導体集積回路素子
4 誘電体
11 差動信号送信素子
12A,12B 第1の差動伝送線路
13 終端抵抗
14A、14B 結合コンデンサ
21 差動信号受信素子
22A,22B 第2の差動伝送線路
23 終端抵抗
30 データ復調回路
31 第1のスレッショルド検出手段
32 第2のスレッショルド検出手段
33 論理反転手段
34 第1のコンパレータ
35 第2のコンパレータ
36 RS−FF回路
100 半導体集積回路装置
Claims (3)
- 差動信号を送信する差動信号送信素子、前記差動信号送信素子から送信された前記差動信号を伝送する一対の第1の差動伝送線路、一端が前記差動信号送信素子と接続され、他端が前記一対の第1の差動伝送線路の各々の始端と接続された一対の容量性素子、及び前記一対の第1の差動伝送線路の終端間に接続された終端抵抗を備えた第1の半導体集積回路素子と、
前記一対の第1の差動伝送線路と容量性結合及び誘導性結合するように前記一対の第1の差動伝送線路に予め定めた距離を離して対向配置された一対の第2の差動伝送線路、及び前記一対の第2の差動伝送線路の終端に接続され且つ前記差動信号を受信する差動信号受信素子を備えると共に前記第1の半導体集積回路素子に積層された第2の半導体集積回路素子と、
を備えた半導体集積回路装置。 - 前記一対の容量性素子及び前記終端抵抗によって低域濾過される前記差動信号の濾過周波数が、前記差動信号の立ち上がり部分の立ち上がり周波数よりも低くなるように、前記一対の容量性素子の容量値を設定した
請求項1記載の半導体集積回路装置。 - 前記濾過周波数が、前記立ち上がり周波数の1/10以下となるように、前記一対の容量性素子の容量値を設定した
請求項2記載の半導体集積回路装置。
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