JP2011134627A - Method for manufacturing organic light-emitting device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、外部接続端子上に形成した保護膜を除去し、外部接続端子を露出させて外部回路と電気接続する構造を有する有機発光装置の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing an organic light emitting device having a structure in which a protective film formed on an external connection terminal is removed, and the external connection terminal is exposed to be electrically connected to an external circuit.
近年、フラットパネルディスプレイとして、自発光型デバイスである有機発光装置が注目され、その開発が活発に行われている。 In recent years, organic light-emitting devices, which are self-luminous devices, have attracted attention as flat panel displays, and their development has been actively conducted.
また、有機発光装置が有する発光特性を生かすために、保護膜に関する技術が研究されている。ここで保護膜は、有機発光装置の主構成要素である有機発光素子の上方及びその周辺の広い範囲に被覆され、外部からの水分、酸素を遮断するという機能を有する。 In addition, in order to make use of the light emission characteristics of an organic light emitting device, a technique relating to a protective film has been studied. Here, the protective film is covered over a wide area above and around the organic light emitting element which is a main component of the organic light emitting device, and has a function of blocking moisture and oxygen from the outside.
この有機発光装置をフレキシブルプリント配線基板(以下、「FPC」という。)等の外部回路へ電気接続するときには、通常、異方性導電フィルム(以下、「ACF」という。)を使用する。具体的には、有機発光装置に備える外部接続端子と、FPC等に備える複数の端子電極との間に、ACFを挟み込んで加熱圧着してこれらを電気接続している。 When this organic light emitting device is electrically connected to an external circuit such as a flexible printed circuit board (hereinafter referred to as “FPC”), an anisotropic conductive film (hereinafter referred to as “ACF”) is usually used. Specifically, an ACF is sandwiched between an external connection terminal provided in the organic light emitting device and a plurality of terminal electrodes provided in an FPC or the like, and these are electrically connected by thermocompression bonding.
このような電気接続を行うときには、通常、外部接続端子上に保護膜が形成されないように、プラズマCVD等により保護膜を形成する際に、この外部接続端子を金属マスク等で覆って保護膜の形成を防止する方法が採用されている。特に、大判基板から多数の有機発光装置を作製する場合には、その大判基板の全面に保護膜を形成する方がコスト低減や時間短縮になるため、外部接続端子上に保護膜が形成されない工夫を施すことが特に重要となる。 When performing such electrical connection, normally, when a protective film is formed by plasma CVD or the like so that the protective film is not formed on the external connection terminal, the external connection terminal is covered with a metal mask or the like to form a protective film. A method for preventing the formation is employed. In particular, when manufacturing a large number of organic light emitting devices from a large-sized substrate, it is possible to reduce the cost and time by forming a protective film on the entire surface of the large-sized substrate, so that a protective film is not formed on the external connection terminals. Is particularly important.
この外部接続端子上への保護膜の形成を防止する方法として、例えば、外部接続端子上にマスキングテープを貼り、保護膜を形成した後にマスキングテープを剥がすことにより、テープごと保護膜を除去する方法が提案されている(特許文献1参照)。 As a method for preventing the formation of the protective film on the external connection terminal, for example, a method of removing the protective film together with the tape by attaching a masking tape on the external connection terminal, forming the protective film and then removing the masking tape Has been proposed (see Patent Document 1).
また、外部接続端子を含む領域にレーザー除去層を形成し、その上に保護膜を形成した後、レーザーを照射してレーザー除去層ごと保護膜を除去する方法が提案されている(特許文献2参照)。 In addition, a method has been proposed in which a laser removal layer is formed in a region including an external connection terminal, a protective film is formed thereon, and then the protective film is removed together with the laser removal layer by irradiating a laser (Patent Document 2). reference).
ところで、特許文献1のように、マスキングテープを用いて保護膜を剥がす方法では、テープ周辺部の保護膜が局所的に基板から浮いてしまう現象が発生する可能性がある。これは、マスキングテープ上の保護膜とテープ周辺部の保護膜とは連続しているため、マスキングテープを上方に引き剥がす際にテープ周辺部の保護膜まで一緒に上方へ持ち上げられてしまうからである。 By the way, in the method of peeling a protective film using a masking tape as in Patent Document 1, there is a possibility that a phenomenon occurs in which the protective film around the tape is locally lifted from the substrate. This is because the protective film on the masking tape and the protective film on the periphery of the tape are continuous, and when the masking tape is peeled upward, the protective film on the periphery of the tape is lifted together. is there.
また、特許文献2のように、レーザー除去層へのレーザー照射により保護膜を除去する方法を用いた場合、レーザー除去層の気化に伴う急激な体積膨張によって保護膜が内側から弾き飛ばされる結果、レーザー除去層外周部の保護膜に同様に膜浮きが発生する可能性がある。膜浮きが発生すると、高温と低温を繰り返す過酷なヒートサイクル環境下に曝された場合、保護膜と素子基板との熱膨張係数の違いにより膜浮き箇所を起点として保護膜の剥離が進行し、防湿性の低下により高品質な表示性能を維持できなくなる。 In addition, as in Patent Document 2, when the method of removing the protective film by laser irradiation to the laser removal layer is used, as a result of the protective film being blown off from the inside by the rapid volume expansion accompanying the vaporization of the laser removal layer, Similarly, film floating may occur in the protective film on the outer periphery of the laser removal layer. When film floating occurs, when exposed to a severe heat cycle environment that repeats high and low temperatures, peeling of the protective film proceeds from the film floating point due to the difference in thermal expansion coefficient between the protective film and the element substrate, It becomes impossible to maintain high-quality display performance due to a decrease in moisture resistance.
しかしながら、特許文献1,2のいずれにも、保護膜除去領域境界部の保護膜の防湿性を担保すべく何らかの処置を施すことについて、全く開示されていない。 However, neither of Patent Documents 1 and 2 discloses any treatment for ensuring the moisture resistance of the protective film at the boundary of the protective film removal region.
本発明は、外部接続端子を覆う保護膜を備え、保護膜から外部接続端子を露出させて外部回路と電気接続する構造を有する有機発光装置において、保護膜除去領域境界部の保護膜の防湿性低下を防止し、有機発光装置の表示性能を長期間に亘って高品質に維持できる有機発光装置の製造方法を提供することを目的とする。 The present invention relates to an organic light emitting device having a protective film covering an external connection terminal and having the structure in which the external connection terminal is exposed from the protective film and electrically connected to an external circuit. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing an organic light emitting device capable of preventing deterioration and maintaining the display performance of the organic light emitting device with high quality over a long period of time.
上記の目的を達成すべく成された本発明の構成は以下の通りである。 The configuration of the present invention made to achieve the above object is as follows.
即ち、本発明に係る第1の製造方法は、外部接続端子を備える基板と、上記基板上に設けられる有機発光素子と、上記外部接続端子および前記有機発光素子を覆う保護膜と、を備え、上記保護膜から上記外部接続端子を露出させて外部回路と電気接続する構造を有する有機発光装置の製造方法であって、
上記外部接続端子上に設けられている保護膜を除去する保護膜の除去工程と、
上記外部接続端子と前記外部回路を電気接続する実装工程と、
保護膜除去領域境界部を被覆するカバー層の形成工程と、
をこの順で含むことを特徴とする有機発光装置の製造方法である。
That is, a first manufacturing method according to the present invention includes a substrate including an external connection terminal, an organic light emitting element provided on the substrate, and a protective film covering the external connection terminal and the organic light emitting element, A method of manufacturing an organic light emitting device having a structure in which the external connection terminal is exposed from the protective film and electrically connected to an external circuit,
Removing the protective film for removing the protective film provided on the external connection terminal;
A mounting step of electrically connecting the external connection terminal and the external circuit;
Forming a cover layer covering the protective film removal region boundary, and
Are included in this order.
また、本発明に係る第2の製造方法は、外部接続端子を備える基板と、上記基板上に設けられる有機発光素子と、上記外部接続端子および前記有機発光素子を覆う保護膜と、を備え、上記保護膜から上記外部接続端子を露出させて外部回路と電気接続する構造を有する有機発光装置の製造方法であって、
上記外部接続端子上に設けられている保護膜を除去する保護膜の除去工程と、
保護膜除去領域境界部および上記外部接続端子を被覆するように異方性導電フィルムを形成する異方性導電フィルムの形成工程と、
上記異方性導電フィルムを介して、上記外部接続端子と上記外部回路を電気接続する実装工程と、
をこの順で含むことを特徴とする有機発光装置の製造方法である。
Further, a second manufacturing method according to the present invention includes a substrate provided with an external connection terminal, an organic light emitting device provided on the substrate, and a protective film covering the external connection terminal and the organic light emitting device, A method of manufacturing an organic light emitting device having a structure in which the external connection terminal is exposed from the protective film and electrically connected to an external circuit,
Removing the protective film for removing the protective film provided on the external connection terminal;
Forming an anisotropic conductive film so as to cover the protective film removal region boundary and the external connection terminal; and
A mounting step of electrically connecting the external connection terminal and the external circuit via the anisotropic conductive film;
Are included in this order.
本発明によれば、外部接続端子を覆う保護膜を備え、保護膜から外部接続端子を露出させて外部回路と電気接続する構造を有する有機発光装置において、保護膜除去領域境界部の保護膜の防湿性低下を防止し、有機発光装置の表示性能を長期間に亘って高品質に維持できるという優れた効果を奏する。 According to the present invention, in an organic light emitting device that includes a protective film that covers an external connection terminal and that has an external connection terminal exposed from the protective film and that is electrically connected to an external circuit, the protective film at the boundary of the protective film removal region It is possible to prevent a decrease in moisture resistance and to achieve an excellent effect that the display performance of the organic light emitting device can be maintained at high quality over a long period of time.
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明するが、本発明は本実施形態に限定されるものではない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings, but the present invention is not limited to the embodiments.
〔第1の実施形態〕
本発明に係る第1の製造方法は、以下の工程(1)〜(4)をこの順で含んでいる。
(1)外部接続端子を備えた基板上に、有機発光素子及び保護層を形成する工程(有機発光素子及び保護層の形成工程)
(2)外部接続端子上の保護膜を除去する工程(保護膜の除去工程)
(3)保護膜の除去により露出させた外部接続端子と外部回路とを電気接続する工程(実装工程)
(4)保護膜除去領域境界部を被覆するカバー層を形成する工程(カバー層の形成工程)
[First Embodiment]
The first manufacturing method according to the present invention includes the following steps (1) to (4) in this order.
(1) A step of forming an organic light emitting device and a protective layer on a substrate provided with external connection terminals (an organic light emitting device and a protective layer forming step).
(2) Step of removing the protective film on the external connection terminal (Step of removing the protective film)
(3) Step of electrically connecting the external connection terminal exposed by removing the protective film and the external circuit (mounting step)
(4) Step of forming a cover layer that covers the protective film removal region boundary (cover layer forming step)
以下、図1から図4を参照して、第1の実施形態の有機発光装置の製造方法の各工程について具体的に説明する。図1は、第1の実施形態の有機発光装置の製造方法を示す概略断面図である。図2は、第1の実施形態の有機発光装置の製造方法を示す概略平面図である。これらの図面において、1は基板、2はTFT回路、3は絶縁層、4は平坦化層、5は下部電極、6はバンク、7a,7bは有機化合物層、8は上部電極、9は外部接続端子、10は保護膜である。また、11はブラシローラー、12はACF、13はFPC、14は保護樹脂、15はカバー層、16は熱圧着ヘッドである。なお、図1及び図2は、上記工程(1)の有機発光素子及び保護膜形成工程から上記工程(4)のカバー層形成工程までを示している。
Hereinafter, with reference to FIG. 1 to FIG. 4, each step of the manufacturing method of the organic light emitting device of the first embodiment will be specifically described. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the organic light-emitting device of the first embodiment. FIG. 2 is a schematic plan view showing the method for manufacturing the organic light-emitting device of the first embodiment. In these drawings, 1 is a substrate, 2 is a TFT circuit, 3 is an insulating layer, 4 is a planarization layer, 5 is a lower electrode, 6 is a bank, 7a and 7b are organic compound layers, 8 is an upper electrode, and 9 is
本発明に係る製造方法で製造される有機発光装置は、外部接続端子9を備える基板1と、基板1上に設けられる有機発光素子と、有機発光素子を覆う保護膜10と、外部接続端子9を介して有機発光素子と電気接続するFPC13等の外部回路と、を備えている。
An organic light-emitting device manufactured by the manufacturing method according to the present invention includes a substrate 1 provided with external connection terminals 9, an organic light-emitting element provided on the substrate 1, a
<有機発光素子の形成工程>
まず、図1(1)及び図2(1)を参照して、外部接続端子を備えた基板上に、有機発光素子を形成する工程について説明する。図1(1)に示すように、有機発光装置の基板1上にはTFT回路2が形成されている。
<Formation process of organic light emitting device>
First, with reference to FIG. 1 (1) and FIG. 2 (1), the process of forming an organic light emitting element on the board | substrate provided with the external connection terminal is demonstrated. As shown in FIG. 1A, a TFT circuit 2 is formed on a substrate 1 of the organic light emitting device.
基板1としては、例えば、ガラス基板、合成樹脂等からなる絶縁性基板、表面に酸化シリコンや窒化シリコン等の絶縁層を形成した導電性基板若しくは半導体基板等が挙げられるが、これに限定されない。また基板1は、透明であっても不透明であってもよい。 Examples of the substrate 1 include, but are not limited to, an insulating substrate made of a glass substrate, a synthetic resin, or the like, a conductive substrate or a semiconductor substrate on which an insulating layer such as silicon oxide or silicon nitride is formed on the surface, and the like. The substrate 1 may be transparent or opaque.
TFT回路2を備える基板1上には、図1(1)に示すように、例えば、アクリル樹脂、ポリイミド系樹脂、ノルボルネン系樹脂、フッ素系樹脂等からなる平坦化膜4がフォトリソグラフィー法等によって所望のパターンにて形成されている。ここで平坦化層4は、TFT回路2を設けることで生じる凹凸を平坦化するための層である。また平坦化層4は、TFT回路2を設置による凹凸を平坦化できるものであれば、材料、製法は特に限定されない。なお、図1(1)に示すように、平坦化膜4とTFT回路2との間に、例えば、窒化シリコン、酸化窒化シリコン、酸化シリコン等の無機材料からなる絶縁層3を形成してもよい。
As shown in FIG. 1A, a planarizing film 4 made of, for example, an acrylic resin, a polyimide resin, a norbornene resin, a fluorine resin, or the like is formed on the substrate 1 including the TFT circuit 2 by a photolithography method or the like. It is formed in a desired pattern. Here, the flattening layer 4 is a layer for flattening unevenness caused by providing the TFT circuit 2. The material and manufacturing method of the planarizing layer 4 are not particularly limited as long as the unevenness due to the installation of the TFT circuit 2 can be planarized. As shown in FIG. 1A, an insulating
平坦化層4上に設けられTFT回路2の一部と電気接続する下部電極5は、透明電極であってもよいし、反射電極であってもよい。下部電極5が透明電極である場合の構成材料としては、例えば、ITO(酸化インジウム−酸化スズ)、IZO(酸化インジウム−酸化亜鉛)等が挙げられる。下部電極5が反射電極である場合の構成材料としては、例えば、Au、Ag、Al、Pt、Cr、Pd、SeもしくはIr等の金属単体、これら金属単体を複数組み合わせた合金、またはヨウ化銅等の金属化合物等が挙げられる。下部電極5の膜厚は、0.1μm〜1μmの範囲が好ましいが、この範囲に限定されない。 The lower electrode 5 provided on the planarizing layer 4 and electrically connected to a part of the TFT circuit 2 may be a transparent electrode or a reflective electrode. Examples of the constituent material in the case where the lower electrode 5 is a transparent electrode include ITO (indium oxide-tin oxide), IZO (indium oxide-zinc oxide), and the like. As the constituent material when the lower electrode 5 is a reflective electrode, for example, a single metal such as Au, Ag, Al, Pt, Cr, Pd, Se or Ir, an alloy obtained by combining a plurality of these single metals, or copper iodide And the like, and the like. The thickness of the lower electrode 5 is preferably in the range of 0.1 μm to 1 μm, but is not limited to this range.
図1(1)に示すように、下部電極5の周縁部にはバンク6が設けられている。このバンク6の構成材料としては、例えば、窒化シリコン、酸化窒化シリコン、酸化シリコン等からなる無機絶縁層やアクリル系樹脂、ポリイミド系樹脂、またはノボラック系樹脂等が挙げられる。バンク6の膜厚は、1μm〜5μmの範囲が好ましいが、この範囲に限定されない。 As shown in FIG. 1 (1), a bank 6 is provided on the peripheral edge of the lower electrode 5. Examples of the constituent material of the bank 6 include an inorganic insulating layer made of silicon nitride, silicon oxynitride, silicon oxide or the like, an acrylic resin, a polyimide resin, or a novolac resin. The film thickness of the bank 6 is preferably in the range of 1 μm to 5 μm, but is not limited to this range.
次に、図1(1)に示すように、下部電極5上には有機化合物層7aが設けられる。有機化合物層7aは、一層で構成されてもよいし、複数の層で構成されてもよく、有機発光素子の発光機能を考慮して適宜選択することができる。具体的には、有機化合物層7aを構成する層として、ホール注入層、ホール輸送層、発光層、電子輸送層及び電子注入層等が挙げられる。また、これらの層の構成材料としては、公知の化合物を使用することができる。なお、有機化合物層7aは、発光する領域が特定の層内であってもよいし、隣接する層同士の界面であってもよい。有機化合物層7aは、例えば、真空蒸着法、インクジェット法等により形成される。蒸着法等の場合は高精細マスク、インクジェット法等の場合は高精度吐出を用いて発光エリアに有機化合物層を形成する。 Next, as shown in FIG. 1A, an organic compound layer 7 a is provided on the lower electrode 5. The organic compound layer 7a may be composed of a single layer or a plurality of layers, and can be appropriately selected in consideration of the light emitting function of the organic light emitting element. Specifically, examples of the layer constituting the organic compound layer 7a include a hole injection layer, a hole transport layer, a light emitting layer, an electron transport layer, and an electron injection layer. Moreover, a well-known compound can be used as a constituent material of these layers. The organic compound layer 7a may have a light emitting region in a specific layer or an interface between adjacent layers. The organic compound layer 7a is formed by, for example, a vacuum deposition method, an inkjet method, or the like. In the case of vapor deposition or the like, an organic compound layer is formed in the light-emitting area using a high-definition mask, and in the case of an inkjet method or the like, high-precision discharge is used.
なお、図1(1)及び図2(1)に示すように、外部接続端子9上にも有機化合物層7bを設けておくことが望ましい。有機化合物層7bには、有機化合物層7aと同等の材料を用いることができる。外部接続端子9上に有機化合物層7bを設けておくことで、後述するように保護膜10と有機化合物層7bとの吸水率の差を利用して保護膜10を除去する場合に、保護膜10を外部接続端子9上から除去するのが容易になり、プロセス時間を短縮できると共に、電気接続不良を低減できるので好適である。
As shown in FIGS. 1 (1) and 2 (1), it is desirable to provide an organic compound layer 7b on the external connection terminal 9 as well. A material equivalent to that of the organic compound layer 7a can be used for the organic compound layer 7b. By providing the organic compound layer 7b on the external connection terminal 9, the
そして、図1(1)に示すように、有機化合物層7a上に上部電極8を形成することにより、基板1上に有機発光素子が形成される。上部電極8側から発光を取り出す場合、上部電極8は透明であることが望ましく、例えば、上記ITOやIZO等の透明電極を使用することができる。また、上部電極8としてAg、Au、Al等の金属電極を用いる場合、金属電極の光線透過率の観点から、膜厚は50nm以下であることが好ましく、さらに20nm以下であることがより好ましい。なお、有機発光素子ごとに一つ存在する外部接続端子9は、下部電極5を形成する際に、この下部電極5と同時に形成されるものである。
Then, as shown in FIG. 1A, an organic light emitting element is formed on the substrate 1 by forming the
<保護膜の形成工程>
次に、図1(1)及び図2(1)を参照して、保護膜10の形成工程について説明する。図(1)及び図2(1)に示すように、基板1上に形成された有機発光素子及び外部接続端子9の全面を被覆するように保護膜10を形成する。保護膜10の構成材料は、電気絶縁性と気密性を有し、有機発光素子の劣化を防止することができる材料であれば、特に限定されないが、保護膜10と有機化合物層7bとの吸水率の差を利用して保護膜10を除去する場合には、有機化合物と吸水率の差がある材料が好ましい。具体的には、窒化シリコン、酸化シリコン、窒化酸化シリコン等の無機材料が挙げられる。また、保護膜10の形成方法としては、例えば、真空蒸着法、プラズマCVD法、スパッタ法等を採用することができるが、成膜速度やパーティクルに対するカバレージ性を考慮すると、プラズマCVD法が好ましい。なお、保護膜10は、高温高湿条件下(例えば、温度60℃湿度90%の条件下)での耐久試験において、水分等の浸入がないと確認された膜を使用するのがよい。
<Protective film formation process>
Next, with reference to FIG. 1A and FIG. 2A, a process of forming the
<大判基板の切断・分割工程>
通常は、基板1上に単一の有機発光素子を有する有機発光装置を作製するのではなく、複数の有機発光素子がマトリクス状に配列された大判基板を作製した後、この大判基板21をスクライバーにより切断し、装置1基ごとに分割する。
<Large-size substrate cutting and dividing process>
Usually, an organic light-emitting device having a single organic light-emitting element is not manufactured on the substrate 1, but a large-sized substrate in which a plurality of organic light-emitting elements are arranged in a matrix is manufactured, and then the large-
図3は、基板を切断するときのスクライブラインを示す平面模式図である。図4は、図3のA−A’線における断面模式図である。図3及び図4において、21は大判基板、30はスクライブラインである。
FIG. 3 is a schematic plan view showing a scribe line when cutting the substrate. FIG. 4 is a schematic cross-sectional view taken along the line A-A ′ of FIG. 3. 3 and 4,
図3及び図4に示すように、大判基板21をスクライブライン30で切断すれば、外部接続端子9上に形成した有機化合物層7bの断面が露出され、保護膜除去工程が、保護膜10と有機化合物層7bとの吸水率の差を利用して保護膜10を除去する工程である場合には、外部接続端子9上から有機化合物層7b及び保護膜10を剥離除去し易くなる。
As shown in FIGS. 3 and 4, if the
<保護膜の除去工程>
次に、図1(2)及び図2(2)を参照して、上記工程(2)の保護膜10の除去工程について説明する。図1(2)に示すように、大判基板21から切断・分割して得られる装置1基を、純水又は水溶液をかけながらブラシローラー11等を用いてブラッシングを行う。露出された有機化合物層7bが純水又は水溶液に曝露され、所望の圧力でブラッシングされることで、外部接続端子9上に設けられている保護膜10は、有機化合物層7bとの界面から剥離する。使用される水溶液としては、例えば、オゾン水、有機アルカリ洗浄液、希フッ酸(DHF)、または界面活性剤添加水溶液等が挙げられる。
<Protection film removal process>
Next, with reference to FIG. 1 (2) and FIG. 2 (2), the removal process of the
純水又は水溶液に接触させることにより、有機化合物層7bから保護膜10が剥離するのは、無機材料で構成される保護膜10と、有機化合物層7bとの吸水率の差によるものである。保護膜10を構成する無機材料は吸水率がほぼ0%であるのに対し、有機化合物層7bは吸水率が10-1%から数%である。このため、純水又は水溶液に切断露出部を接触させることにより、有機化合物層7bのみが膨張することで、有機化合物層7b上に設けられている保護膜10が剥れることになる。また、有機化合物層7bは蒸着法で形成されるため外部接続端子9に対する密着性が低く、ブラッシングによって外部接続端子9から容易に剥離させることができる。こうして外部接続端子9上には、保護膜10も有機化合物層7bも形成されていない状態となる。
The reason why the
なお、保護膜除去方法は、上述の様な保護膜と有機化合物層との吸水率の差を利用して保護膜を除去する方法に限定されるものではない。例えば、特許文献1に記載のマスキングテープを用いて剥離する方法や特許文献2に記載のレーザー除去層毎レーザーで剥離する方法を用いてもよい。 The method for removing the protective film is not limited to the method for removing the protective film using the difference in water absorption between the protective film and the organic compound layer as described above. For example, a method of peeling using a masking tape described in Patent Document 1 or a method of peeling with a laser for each laser removal layer described in Patent Document 2 may be used.
<実装工程>
次に、図1(3)及び図2(3)を参照して、上記工程(3)の実装工程について説明する。この工程を行うに際して、まずイソプロピルアルコール(IPA)等の溶剤を染み込ませた不織紙等で有機発光装置の外部接続端子9の洗浄を行う。外部接続端子9上に有機化合物層7bが残っている場合に、IPAを染み込ませた不織紙で洗浄することにより残渣を取り去ることができると共に、外部接続端子9を露出させることができる。
<Mounting process>
Next, with reference to FIG. 1 (3) and FIG. 2 (3), the mounting process of the said process (3) is demonstrated. In performing this step, first, the external connection terminal 9 of the organic light emitting device is washed with a nonwoven paper or the like soaked with a solvent such as isopropyl alcohol (IPA). When the organic compound layer 7b remains on the external connection terminal 9, the residue can be removed by washing with a non-woven paper soaked with IPA, and the external connection terminal 9 can be exposed.
続いて、異方性導電フィルム(ACF)12を外部接続端子9上に仮圧着し、フレキシブルプリント配線基板(FPC)13と外部接続端子9との位置合わせを行う。仮圧着を行う際は、100℃以下の低温で圧着を行うことが好ましい。 Subsequently, the anisotropic conductive film (ACF) 12 is temporarily pressure-bonded on the external connection terminal 9, and the flexible printed wiring board (FPC) 13 and the external connection terminal 9 are aligned. When performing temporary pressure bonding, it is preferable to perform pressure bonding at a low temperature of 100 ° C. or lower.
使用するACF12は、フィルムに含まれる導電粒子が金属粉末を含むものであってもよいし、樹脂に金属をコーティングしたものであってもよい。また、安価で劣化しにくいカーボン等を導電粒子として使用してもよい。導電粒子の直径は、有機化合物層の膜厚にもよるが、一般的には10nm以下のものが使用される。
The
仮圧着を行った後、熱圧着ヘッド16により熱圧着を行う。なお、熱圧着を行う際に必要な圧力、温度及び時間は、外部接続端子9とFPC13の電極端子との電気接続が確保できれば、特に限定されるものではない。
After performing the temporary pressure bonding, the heat
通常は、外部接続端子9とFPC13の電極端子とを電気接続した後に、その接続部分に保護樹脂14を塗布する。保護樹脂14には、一般にシリコン樹脂等が用いられ、接続部分に水分が侵入するのを防止すると共に、イオンマイグレーションの発生を押さえる役割を果たす。また、ACF12だけでは接着力が強くない場合には、接着力補強という観点からも保護樹脂14を塗布することが好ましい。保護樹脂14の形成方法としては、例えば、各種印刷法を用いることができるが、FPC13と基板との間には大きな段差が存在するため、ディスペンス法が好適である。
Normally, after the external connection terminal 9 and the electrode terminal of the
<カバー層の形成工程>
次に、図1(4)及び図2(4)を参照して、上記工程(4)のカバー層15の形成工程について説明する。
<Cover layer formation process>
Next, with reference to FIG. 1 (4) and FIG. 2 (4), the formation process of the
図1(4)及び図2(4)に示すように、保護膜除去領域境界部を被覆するようにカバー層15を形成する。カバー層15の形成方法としては、上記保護樹脂14に関して説明したのと同等の理由により、ディスペンス法が好適である。カバー層15の材料としては、基板1と密着性のよい樹脂であれば任意の樹脂を用いることができるが、具体的には、シリコン樹脂、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ウレタン樹脂、またはポリアミド樹脂等が挙げられる。特に、シリコン樹脂、エポキシ樹脂は封止性能の高いので好適である。カバー層15の厚さは、例えば、5μm〜50μm程度で十分に保護膜10の剥れを抑制する効果が得られる。なお、カバー層15として前述の保護樹脂14と同等の材料を用いることで、保護樹脂14の形成時に、カバー層15も同時に形成することができるので好適である。その場合、保護樹脂14の形成領域とカバー層15の形成領域を分離する必要はなく、連続した一領域に形成することもできる。
As shown in FIGS. 1 (4) and 2 (4), a
以上の製造工程を経て、有機発光装置が製造される。第1の実施形態の製造方法によれば、外部接続端子9上の保護膜10を除去し外部接続端子9を露出させて外部回路と電気接続する場合に、無機材料である保護膜10と有機化合物層7bとの吸水率の差を利用して有機化合物層7bと共に保護膜10を除去する。即ち、外部接続端子9上の有機化合物層7bに含水させて、この有機化合物層7bごと保護膜10を機械的に除去する。したがって、保護膜10を除去する際に保護膜除去領域境界部に剥がれが生じ難く、さらにカバー層で保護膜除去領域境界部を覆うので保護膜10の防湿性を低下せず、有機発光装置の表示性能を長期間に亘って高品質に維持することができる。
An organic light emitting device is manufactured through the above manufacturing steps. According to the manufacturing method of the first embodiment, when the
〔第2の実施形態〕
本発明に係る第2の製造方法は、以下の工程(1)〜(4)をこの順で含んでいる。
(1)外部接続端子を備えた基板上に、有機発光素子及び保護層を形成する工程(有機発光素子及び保護層の形成工程)
(2)外部接続端子上の保護膜を除去する工程(保護膜の除去工程)
(3)保護膜除去領域境界部及び外部接続端子上を覆うように異方性導電フィルム(ACF)を形成する工程(ACFの形成工程)
(4)ACFを介して、外部接続端子と外部回路(FPC)とを電気接続する工程(実装工程)
[Second Embodiment]
The second manufacturing method according to the present invention includes the following steps (1) to (4) in this order.
(1) A step of forming an organic light emitting device and a protective layer on a substrate provided with external connection terminals (an organic light emitting device and a protective layer forming step).
(2) Step of removing the protective film on the external connection terminal (Step of removing the protective film)
(3) Step of forming an anisotropic conductive film (ACF) so as to cover the protective film removal region boundary and the external connection terminal (ACF forming step)
(4) Step of electrically connecting the external connection terminal and the external circuit (FPC) via the ACF (mounting step)
以下、図5及び図6を参照して、第2の実施形態の有機発光装置の製造方法の各工程について具体的に説明する。図5は、第2の実施形態の有機発光装置の製造方法を示す概略断面図である。図6は、第2の実施形態の有機発光装置の製造方法を示す概略平面図である。これらの図面において、第1の実施形態と同一の部材については同一の符号を付し、第1の実施形態と同一の製造方法については適宜説明を省略する。なお、図5及び図6は、上記工程(1)の有機発光素子及び保護膜形成工程から上記工程(4)の実装工程までを示している。 Hereinafter, with reference to FIG.5 and FIG.6, each process of the manufacturing method of the organic light-emitting device of 2nd Embodiment is demonstrated concretely. FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the organic light emitting device of the second embodiment. FIG. 6 is a schematic plan view showing a method for manufacturing the organic light emitting device of the second embodiment. In these drawings, the same members as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description of the same manufacturing method as that of the first embodiment will be omitted as appropriate. 5 and 6 show the steps from the organic light emitting element and protective film forming step in the step (1) to the mounting step in the step (4).
前述したように、有機発光装置は、外部接続端子9を備える基板1と、基板1上に設けられる有機発光素子と、有機発光素子を覆う保護膜10と、外部接続端子9を介して有機発光素子と電気接続するFPC13等の外部回路と、を備えている。
As described above, the organic light emitting device includes the substrate 1 including the external connection terminal 9, the organic light emitting element provided on the substrate 1, the
<有機発光素子の形成工程>
第2の実施形態では、図5(1)及び図6(1)に示すように、基板1上に有機発光素子及び外部接続端子9が第1の実施形態と同様の製造方法で形成される。
<Formation process of organic light emitting device>
In the second embodiment, as shown in FIGS. 5 (1) and 6 (1), the organic light emitting element and the external connection terminal 9 are formed on the substrate 1 by the same manufacturing method as in the first embodiment. .
<保護膜の形成工程、大判基板の切断・分割工程>
第1の実施形態と同様の製造方法で保護膜10を全面に形成した後、大判基板21を第1の実施形態と同様の方法によりスクライバーライン6で切断し、装置1基ごとに分割する。この分割によって、外部接続端子9上に形成した有機化合物層7bの断面が露出される。
<Protective film formation process, large-size substrate cutting and dividing process>
After the
<保護膜の除去工程>
次に、図5(2)及び図6(2)に示すように、上記工程(2)の保護膜10の除去工程により、外部接続端子9上の保護膜10を有機化合物層7bごと剥離する。この工程も第1の実施形態と同様の製造方法を用いることができる。
<Protection film removal process>
Next, as shown in FIGS. 5 (2) and 6 (2), the
<異方性導電フィルムの形成工程>
次に、図5(3)及び図6(3)を参照して、上記工程(3)の異方性導電フィルム(ACF)12の形成工程について説明する。まず、イソプロピルアルコール(IPA)等の溶剤を染み込ませた不織紙等で外部接続端子9の洗浄を行った後に、図5(3)及び図6(3)に示すように、保護膜除去領域境界部及び外部接続端子9を完全に被覆するようにACF12を仮圧着する。このようにACF12を外部接続端子9上だけでなく、保護膜除去領域境界部をも完全に覆うように広めに形成することで、カバー層15の形成工程を別途追加することなく、保護膜除去領域境界部の保護膜10を保護することができる。なお、仮圧着を行う際は、100℃以下の低温で圧着を行うことが好ましい。ACF12に含まれる導電粒子に関しては第1の実施形態において説明したものと同様のものを用いることができる。
<Formation process of anisotropic conductive film>
Next, with reference to FIG. 5 (3) and FIG. 6 (3), the formation process of the anisotropic conductive film (ACF) 12 of the said process (3) is demonstrated. First, after cleaning the external connection terminals 9 with a nonwoven paper or the like soaked with a solvent such as isopropyl alcohol (IPA), as shown in FIGS. 5 (3) and 6 (3), the protective film removal region The
<実装工程>
次に、図5(4)及び図6(4)に示すように、上記工程(4)の実装工程において、外部接続端子9とFPC13とを電気接続する。その具体的な製造方法は、第1の実施形態と同様である。
<Mounting process>
Next, as shown in FIGS. 5 (4) and 6 (4), in the mounting step (4), the external connection terminal 9 and the
以上の製造工程を経て、有機発光装置が製造される。第2の実施形態の製造方法は、第1の実施形態の製造方法と基本的には同様の作用効果を奏する。特に、ACF12の形成工程第2の実施形態の製造方法では、FPC13を熱圧着するためのACF12を外部接続端子9上だけでなく、保護膜除去領域境界部をも完全に覆うように広めに形成している。したがって、第2の実施形態の製造方法は、熱圧着に使用するACF12の拡大形成により保護膜除去領域境界部の保護膜10をも保護することができ、上記カバー層15の形成工程を省略できるという特有の効果を奏する。
An organic light emitting device is manufactured through the above manufacturing steps. The manufacturing method of the second embodiment has basically the same effects as the manufacturing method of the first embodiment. In particular, in the manufacturing method according to the second embodiment, the
以上、本発明の好適な実施形態を説明したが、これは本発明の説明のための例示であり、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、上記実施形態とは異なる種々の態様で実施することができる。 The preferred embodiment of the present invention has been described above. However, this is merely an example for explaining the present invention, and various embodiments different from the above-described embodiment may be implemented without departing from the gist of the present invention. Can do.
例えば、上記実施形態では、一例としてアクティブ型の有機発光装置を例示したが、パッシブ型の有機発光装置でもよい。また、本実施形態で作製される有機発光装置は、外部接続端子9が1辺にのみ設けられているが、2辺以上の複数箇所に外部接続端子9が設けられていてもよい。 For example, in the above embodiment, an active organic light emitting device is illustrated as an example, but a passive organic light emitting device may be used. In the organic light emitting device manufactured in this embodiment, the external connection terminals 9 are provided only on one side, but the external connection terminals 9 may be provided at a plurality of locations on two or more sides.
以下、実施例を挙げて、本発明に係る有機発光装置の製造方法をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。 EXAMPLES Hereinafter, although an Example is given and the manufacturing method of the organic light-emitting device concerning this invention is demonstrated further in detail, this invention is not limited to these Examples.
〔実施例1〕
実施例1は、本発明に係る第1の製造方法を用いて有機発光装置を作製したものであり、以下に各工程について詳述する。
[Example 1]
In Example 1, an organic light-emitting device was manufactured using the first manufacturing method according to the present invention, and each step will be described in detail below.
<TFTアレイ基板の作製工程>
LTPS(低温ポリSi TFT)プロセスで形成したTFT基板に、ポジ型の感光性アクリル樹脂からなる平坦化膜を約2μmの厚さに形成した後、このTFT基板を220℃に加熱して加熱処理を行った。
<TFT array substrate fabrication process>
A flat film made of a positive photosensitive acrylic resin is formed on a TFT substrate formed by an LTPS (low-temperature poly-Si TFT) process to a thickness of about 2 μm, and then this TFT substrate is heated to 220 ° C. for heat treatment. Went.
次に、TFTと後述する下部電極とを電気接続するコンタクトホール及び外部接続端子に相当する部分に所望のパターンを形成するためのフォトマスクを用いて、UV露光、現像処理、加熱UV処理を順番に行った。これらの処理により、所望のパターンが形成された平坦化膜を得た。このとき、表示部(後述する有機発光素子が形成される部分)と外周部との間に、平坦化膜のない帯状の部分を設けてTFT基板の配線が露出されるようにした。なお、このTFT基板の配線が露出されている部分は水分遮断構造を形成するものであり、平坦化膜を介して外周部から表示部へ水分が浸入するのを防ぐ役割がある。 Next, UV exposure, development processing, and heating UV processing are sequentially performed using a photomask for forming a desired pattern in a portion corresponding to a contact hole and an external connection terminal for electrically connecting the TFT and a lower electrode to be described later. Went to. By these treatments, a flattened film on which a desired pattern was formed was obtained. At this time, a strip-shaped portion without a planarizing film was provided between the display portion (a portion where an organic light-emitting element to be described later is formed) and the outer peripheral portion so that the wiring of the TFT substrate was exposed. The portion where the wiring of the TFT substrate is exposed forms a moisture blocking structure, and has a role of preventing moisture from entering the display portion from the outer peripheral portion through the planarization film.
次に、スパッタ法により、Al及びIZOを順次積層し、下部電極及び外部接続端子をそれぞれ形成した。このとき、Al及びIZOの膜厚をそれぞれ200nm、50nmとした。次に、フォトリソグラフィ工程により、画素を形成する部分の周辺にポジ型のポリイミド樹脂(商品名:フォトニース DL−1000)からなるバンクを所望のパターンで形成した。このときバンクの膜厚は2μmであった。以上のようにして、TFTアレイ基板を作製した。 Next, Al and IZO were sequentially stacked by sputtering to form a lower electrode and an external connection terminal, respectively. At this time, the film thicknesses of Al and IZO were 200 nm and 50 nm, respectively. Next, a bank made of a positive polyimide resin (trade name: Photonice DL-1000) was formed in a desired pattern around a portion where a pixel was to be formed by a photolithography process. At this time, the bank thickness was 2 μm. A TFT array substrate was produced as described above.
<有機発光素子の形成工程>
次に、真空蒸着法により、有機化合物層を構成する正孔輸送層、発光層、電子輸送層及び電子注入層を、この順で形成した。具体的には、まず、下部電極上及び外部接続端子上にαNPDを成膜し正孔輸送層を形成した。このとき正孔輸送層の膜厚は50nmであった。
<Formation process of organic light emitting device>
Next, a hole transport layer, a light emitting layer, an electron transport layer, and an electron injection layer constituting the organic compound layer were formed in this order by a vacuum deposition method. Specifically, first, αNPD was formed on the lower electrode and the external connection terminal to form a hole transport layer. At this time, the thickness of the hole transport layer was 50 nm.
次に、下部電極の正孔輸送層上に、ホストであるアルミキレート錯体(Alq3)と、ゲストであるクマリン6とを、重量比で100:6となるように共蒸着し発光層を形成した。このとき発光層の膜厚を50nmとした。 Next, an aluminum chelate complex (Alq 3 ) as a host and coumarin 6 as a guest are co-evaporated to a weight ratio of 100: 6 on the hole transport layer of the lower electrode to form a light emitting layer. did. At this time, the thickness of the light emitting layer was set to 50 nm.
次に、発光層上に、フェナントロリン化合物(Bphen)を成膜し電子輸送層を形成した。このとき電子輸送層の膜厚を10nmとした。次に、電子輸送層上に、フェナントロリン化合物(Bphen)と炭酸セシウム(Cs2CO3)とを、重量比で100:1となるように共蒸着して電子注入層を形成した。このとき電子注入層の膜厚を30nmとした。 Next, a phenanthroline compound (Bphen) was formed on the light emitting layer to form an electron transport layer. At this time, the thickness of the electron transport layer was 10 nm. Next, on the electron transport layer, a phenanthroline compound (Bphen) and cesium carbonate (Cs 2 CO 3 ) were co-evaporated to a weight ratio of 100: 1 to form an electron injection layer. At this time, the thickness of the electron injection layer was set to 30 nm.
次に、電子注入層上に、スパッタリング法によりIZOを成膜し上部電極を形成した。このとき上部電極の膜厚を100nmとした。以上のようにして、有機発光素子を作製した。 Next, an IZO film was formed on the electron injection layer by sputtering to form an upper electrode. At this time, the film thickness of the upper electrode was 100 nm. As described above, an organic light emitting device was produced.
<保護膜の形成工程>
上部電極形成後、大判基板をCVD室に移動し、プラズマCVD法により大判基板全面に保護膜を形成した。保護膜を形成するときは、材料ガスとして、SiH4ガス及びN2ガスを使用し、それぞれ4sccm及び200sccmの流量で流した。また、保護膜を形成するときは、高周波電力40W、圧力70Paの条件の下で行った。このとき保護膜の膜厚を3μmとした。保護膜を形成した後、大判基板を成膜装置から前室に移動した後、ベント(真空の解除)を開始し、ベント完了後にチャンバーの蓋を開けて保護膜が形成されている基板を外に取り出した。
<Protective film formation process>
After the formation of the upper electrode, the large substrate was moved to the CVD chamber, and a protective film was formed on the entire large substrate by plasma CVD. When forming the protective film, SiH 4 gas and N 2 gas were used as material gases and flowed at a flow rate of 4 sccm and 200 sccm, respectively. The protective film was formed under the conditions of high frequency power 40 W and pressure 70 Pa. At this time, the thickness of the protective film was 3 μm. After forming the protective film, move the large format substrate from the deposition system to the front chamber, start venting (release the vacuum), open the chamber lid after venting is completed, and remove the substrate on which the protective film is formed. Took out.
<基板の切断・分割工程と保護膜の除去工程>
次に、有機発光装置がマトリックス状に形成されている大判基板を、スクライバーで装置1基ごとに切断した。切断後、装置1基ごとに50℃の温水によるブラシスピン洗浄(保持回転数3000rpm、保持時間45秒)を行って、保護膜を除去した。
<Substrate cutting and dividing process and protective film removing process>
Next, the large format substrate in which the organic light emitting devices were formed in a matrix was cut with a scriber for each device. After cutting, each device was subjected to brush spin cleaning with hot water at 50 ° C. (holding rotation speed 3000 rpm, holding time 45 seconds) to remove the protective film.
<外部回路の実装工程>
次に、有機発光装置を駆動させるための駆動回路と外部回路とを電気接続するのに必要なFPCの実装を行った。まず、IPAを含ませた不織布にて基板上の外部接続端子上を洗浄することで、外部接続端子表面を清浄した。
<External circuit mounting process>
Next, the FPC necessary for electrically connecting the driving circuit for driving the organic light emitting device and the external circuit was mounted. First, the surface of the external connection terminal was cleaned by washing the external connection terminal on the substrate with a nonwoven fabric containing IPA.
次に、外部接続端子上にACFを80℃で1秒程度の条件で仮圧着した後、ACF上の保護シートを除去し、基板位置合わせマークとFPCのFPC位置合わせマークとの位置合わせを行った。マーク位置が合った後、熱圧着ヘッドの下にセットし、ACFの融解温度(250℃)までヒーターヘッドを加熱し、圧着圧力3MPa、圧着時間12秒で圧着を完了した。 Next, after ACF is temporarily pressure-bonded on the external connection terminal at 80 ° C. for about 1 second, the protective sheet on the ACF is removed, and alignment between the substrate alignment mark and the FPC alignment mark of the FPC is performed. It was. After the mark position was matched, it was set under the thermocompression bonding head, the heater head was heated to the melting temperature of ACF (250 ° C.), and the compression was completed in a pressure bonding pressure of 3 MPa and a pressure bonding time of 12 seconds.
<保護樹脂及びカバー層の形成工程>
次に、有機発光装置の外部接続端子とFPCとの接合部に保護樹脂を形成し、FPC端面を完全に被覆した。また、保護膜除去領域境界部を完全に被覆するようにカバー層を形成した。保護樹脂及びカバー層は、共に1液室温硬化性シリコン樹脂(Dow Corning(登録商標) JSR6224)を使用し、ディスペンサーによって同時に塗布形成した。カバー層の膜厚は50μmとし、保護樹脂の厚さは300μmとした。以上の工程により、有機発光装置を10基作製した。
<Process for forming protective resin and cover layer>
Next, a protective resin was formed at the joint between the external connection terminal of the organic light emitting device and the FPC, and the FPC end face was completely covered. Further, a cover layer was formed so as to completely cover the protective film removal region boundary. Both the protective resin and the cover layer were formed by applying a one-part room temperature curable silicone resin (Dow Corning (registered trademark) JSR6224) simultaneously by a dispenser. The thickness of the cover layer was 50 μm, and the thickness of the protective resin was 300 μm. Ten organic light-emitting devices were produced by the above process.
<有機発光装置の評価>
実施例1で作製した有機発光装置について、ヒートサイクル(−35℃〜80℃)を100回繰り返した後に、温度80℃湿度90%の条件下で1000時間耐久試験を実施した。試験後の有機発光装置10基を点灯して表示欠陥の有無を確認した結果、10基全て保護膜除去領域境界部からの表示欠陥の発生・進行は見られず、表示品質を維持できていることが確認された。
<Evaluation of organic light emitting device>
About the organic light-emitting device produced in Example 1, after repeating a heat cycle (-35 degreeC-80 degreeC) 100 times, the endurance test was implemented for 1000 hours on the conditions of temperature 80 degreeC humidity 90%. As a result of confirming the presence or absence of display defects by lighting up 10 organic light emitting devices after the test, the generation and progression of display defects from the boundary of the protective film removal region are not seen, and the display quality can be maintained. It was confirmed.
〔実施例2〕
実施例2は、本発明に係る第2の製造方法を用いて有機発光装置を作製したものであり、以下に各工程について詳述する。
[Example 2]
In Example 2, an organic light-emitting device was manufactured using the second manufacturing method according to the present invention, and each step will be described in detail below.
<TFTアレイ基板作製工程から基板の切断及び保護膜除去工程まで)
TFTアレイ基板作製工程、有機発光素子の作製、保護膜の形成と基板取り出し工程、基板の切断及び保護膜除去工程は、実施例1と同様にして、この順序で行った。
<From TFT array substrate fabrication process to substrate cutting and protective film removal process>
The TFT array substrate preparation process, the organic light emitting device preparation, the protective film formation and substrate removal process, the substrate cutting and the protective film removal process were performed in this order in the same manner as in Example 1.
<ACFの形成工程>
次に、ACFを外部接続端子上及び保護膜除去領域境界部の保護膜を完全に被覆するようにACFを形成し、温度80℃、1秒という条件で仮圧着した。その後、ACFの保護フィルムを剥離した。なお、使用したACFは実施例1と同一のものとした。
<ACF formation process>
Next, the ACF was formed so as to completely cover the protective film at the boundary between the external connection terminal and the protective film removal region, and was temporarily pressure-bonded at a temperature of 80 ° C. for 1 second. Thereafter, the ACF protective film was peeled off. The ACF used was the same as in Example 1.
<外部回路の実装工程>
実施例1と同様にして、外部回路の実装工程を行った。以上の工程により、有機発光装置を10基作製した。
<External circuit mounting process>
In the same manner as in Example 1, an external circuit mounting process was performed. Ten organic light-emitting devices were produced by the above process.
<有機発光装置の評価>
実施例2で作製した有機発光装置について、実施例1と同様にヒートサイクル(−35℃〜80℃)を100回繰り返した後に、温度80℃、湿度90%の条件下で1000時間耐久試験を実施した。試験後の有機発光装置10基を点灯して表示欠陥の有無を確認した結果、10基全て保護膜除去領域境界部からの表示欠陥の発生・進行は見られず、表示品質を維持できていることが確認された。
<Evaluation of organic light emitting device>
About the organic light-emitting device produced in Example 2, after repeating a heat cycle (-35 degreeC-80 degreeC) 100 times similarly to Example 1, a 1000-hour endurance test is carried out on the conditions of temperature 80 degreeC and humidity 90%. Carried out. As a result of confirming the presence or absence of display defects by lighting up 10 organic light emitting devices after the test, the generation and progression of display defects from the boundary of the protective film removal region are not seen, and the display quality can be maintained. It was confirmed.
〔比較例〕
上記実施例1に記載の方法で実装までを行い、保護膜除去領域境界部にカバー層を形成していない有機発光装置を10基作製した。
[Comparative Example]
Up to mounting was performed by the method described in Example 1 above, and 10 organic light emitting devices in which the cover layer was not formed at the boundary portion of the protective film removal region were produced.
実施例1と同様にヒートサイクル(−35℃〜80℃)を100回繰り返した後に、温度80℃、湿度90%の条件下で1000時間耐久試験を実施した。試験後の有機発光装置10基を点灯して表示欠陥の発生を確認した結果、10基全てに保護膜除去領域の存在する辺からのみ表示欠陥(非表示エリア)の進行が確認された。有機発光装置を点灯させずに光学顕微鏡で観察したところ、保護膜除去領域境界部から表示エリアの方向に保護膜の膜剥れが延伸しているのが確認された。 The heat cycle (-35 ° C. to 80 ° C.) was repeated 100 times in the same manner as in Example 1, and then a 1000 hour durability test was performed under the conditions of a temperature of 80 ° C. and a humidity of 90%. As a result of confirming the occurrence of display defects by lighting 10 organic light emitting devices after the test, the progress of display defects (non-display areas) was confirmed only from the side where the protective film removal region was present in all 10 groups. Observation with an optical microscope without turning on the organic light emitting device confirmed that the film peeling of the protective film extends from the boundary of the protective film removal region to the display area.
以上の結果から、本発明の製造方法を用いることで、過酷な環境下における保護膜除去領域境界部の保護膜の防湿性低下を防止し、長期間に亘り高品質な表示品質を維持できることが判った。 From the above results, by using the manufacturing method of the present invention, it is possible to prevent a decrease in moisture resistance of the protective film at the boundary of the protective film removal region in a harsh environment, and to maintain a high quality display quality for a long period of time. understood.
1 基板、5 下部電極、7a 有機化合物層、7b 有機化合物層、8 上部電極、9 外部接続端子、10 保護膜、12 異方導電フィルム(ACF)、13 フレキシブルプリント基板(FPC)、15 カバー層、21 大判基板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Board | substrate, 5 Lower electrode, 7a Organic compound layer, 7b Organic compound layer, 8 Upper electrode, 9 External connection terminal, 10 Protective film, 12 Anisotropic conductive film (ACF), 13 Flexible printed circuit board (FPC), 15 Cover layer , 21 Large format board
Claims (5)
前記外部接続端子上に設けられている保護膜を除去する保護膜の除去工程と、
前記外部接続端子と前記外部回路を電気接続する実装工程と、
保護膜除去領域境界部を被覆するカバー層の形成工程と、
をこの順で含むことを特徴とする有機発光装置の製造方法。 A substrate including an external connection terminal; an organic light-emitting element provided on the substrate; and a protective film covering the external connection terminal and the organic light-emitting element. The external connection terminal is exposed from the protective film and externally provided. A method of manufacturing an organic light emitting device having a structure that is electrically connected to a circuit,
A protective film removing step for removing the protective film provided on the external connection terminal;
A mounting step of electrically connecting the external connection terminal and the external circuit;
Forming a cover layer covering the protective film removal region boundary, and
The organic light-emitting device manufacturing method characterized by including this in this order.
前記外部接続端子上に設けられている保護膜を除去する保護膜の除去工程と、
保護膜除去領域境界部および前記外部接続端子を被覆するように異方性導電フィルムを形成する異方性導電フィルムの形成工程と、
前記異方性導電フィルムを介して、前記外部接続端子と前記外部回路を電気接続する実装工程と、
をこの順で含むことを特徴とする有機発光装置の製造方法。 A substrate including an external connection terminal; an organic light-emitting element provided on the substrate; and a protective film covering the external connection terminal and the organic light-emitting element. The external connection terminal is exposed from the protective film and externally provided. A method of manufacturing an organic light emitting device having a structure that is electrically connected to a circuit,
A protective film removing step for removing the protective film provided on the external connection terminal;
Forming an anisotropic conductive film so as to cover the protective film removal region boundary and the external connection terminal; and
A mounting step of electrically connecting the external connection terminal and the external circuit via the anisotropic conductive film;
The organic light-emitting device manufacturing method characterized by including this in this order.
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