JP2011096800A - Method and apparatus for wet processing - Google Patents

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soluble gas
wet processing
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Yasuto Kinoshita
慶人 木下
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Fuji Electric Co Ltd
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Fuji Electric Holdings Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and apparatus for wet processing, capable of achieving more uniform wet processing, while sufficiently suppressing remaining of air bubbles in pores, in wet processing carried out by dipping a plate-like body having fine pores in a processing liquid. <P>SOLUTION: The wet processing method includes a decompression step of reducing the pressure in a sealed container 11 while the plate-like body 3 is held in the sealed container 11, a soluble gas introduction step of introducing a soluble gas 8 which is soluble in the processing liquid 2 into the sealed container 11 while the pressure in the sealed container 11 is reduced after the decompression process, and a process liquid introduction step of introducing the processing liquid 2 into the sealed container 11 while the sealed container 11 is filled with the soluble gas after the soluble gas 8 introduction process, wherein a substrate 3 is subjected to the wet processing while no air bubble remains in fine pores. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、微細な穴等の複雑形状を有する半導体基板,プリント配線板などの板状体(基板)を処理液に浸漬して行うエッチング,洗浄,めっきなどの湿式処理において、微細な穴等に気泡が滞留し処理液の接触が妨げられることによる不具合を発生させることなく、均一な湿式処理を実現するための湿式処理方法および装置に関する。   The present invention relates to a fine hole or the like in a wet process such as etching, cleaning, or plating performed by immersing a board (substrate) such as a semiconductor substrate having a complicated shape such as a fine hole or a printed wiring board in a processing solution. The present invention relates to a wet processing method and apparatus for realizing uniform wet processing without causing problems due to bubbles remaining in the substrate and hindering contact with the processing liquid.

半導体基板,プリント配線板などの基板に対する湿式処理として、エッチング,洗浄,めっきなどの処理が行われるが、微細な穴等の複雑形状を有する半導体基板,プリント配線板などの基板を処理液に浸漬して行う湿式処理では、微細な穴等に残留する気泡が問題となる。   Etching, cleaning, plating, etc. are performed as wet processing on substrates such as semiconductor substrates and printed wiring boards. Substrates such as semiconductor substrates and printed wiring boards having complicated shapes such as fine holes are immersed in the processing solution. In the wet processing performed, bubbles remaining in fine holes or the like become a problem.

図5は従来の湿式処理装置を示す構成図である。図5(a)に示されるように、湿式処理槽1内に入れられた処理液2に処理対象の板状体(基板)3が浸漬されている。図5(b)は、板状体3(図5(a))におけるC部拡大図であり、板状体3の微細な穴4の部分の断面構造を例示するものである。この穴4は非貫通の穴となっており、穴4の内部に気泡5が残留した状態が示されている。そして、この穴4のような非貫通の穴では特に気泡が残留しやすい。   FIG. 5 is a block diagram showing a conventional wet processing apparatus. As shown in FIG. 5 (a), a plate-like body (substrate) 3 to be processed is immersed in the processing liquid 2 placed in the wet processing tank 1. FIG. 5B is an enlarged view of a portion C in the plate-like body 3 (FIG. 5A), and illustrates a cross-sectional structure of the minute hole 4 portion of the plate-like body 3. This hole 4 is a non-penetrating hole, and a state in which bubbles 5 remain inside the hole 4 is shown. In the non-through hole such as the hole 4, bubbles are likely to remain particularly.

なお、穴の形状としては、例えば穴径0.2mm以下、アスペクト比1以上のものでは、上記のような気泡残留の問題が有る。
このように、基板の湿式処理において微細な穴の内部に気泡が残留していると、気泡が残留している穴の部分で処理液の接触不足が発生することになり、これにより、成膜不良や洗浄残りなどの不良が発生する。
As the shape of the hole, for example, when the hole diameter is 0.2 mm or less and the aspect ratio is 1 or more, there is a problem of remaining bubbles as described above.
In this way, if bubbles remain inside the fine holes in the wet processing of the substrate, insufficient contact of the processing liquid will occur at the hole portions where the bubbles remain, thereby forming a film. Defects such as defects and cleaning residue occur.

そして、上述のような微細な穴等を有する基板を処理液に浸漬して行う湿式処理において微細な穴等に気泡が残留することを抑制する対策(気泡除去対策)として例えば次のような方式が提案されている。   And, as a countermeasure (bubble removal countermeasure) for suppressing bubbles remaining in the fine holes or the like in the wet process performed by immersing the substrate having the fine holes or the like in the processing liquid as described above, for example, the following method Has been proposed.

(従来方式1)
非貫通孔を有する基板を浴槽内に入れためっき液に浸漬して、振動及び揺動を与えると同時に浴槽内を減圧することにより非貫通孔内の気泡を排出して非貫通孔内にめっき液が入り易くするものである(例えば特許文献1参照)。
(Conventional method 1)
A substrate with non-through holes is immersed in a plating solution placed in the bath, giving vibrations and vibrations, and at the same time reducing the pressure in the bath to discharge bubbles in the non-through holes and plating in the non-through holes. This makes it easy for liquid to enter (see, for example, Patent Document 1).

(従来方式2)
微細な穴が形成された基板をめっき槽に入れためっき液に浸漬して、超音波で微細な穴に積極的に気泡を発生させた後、めっき槽ごと減圧して微細な穴内の気泡を除去(脱泡)するものであって、めっき液を微細な穴内部に行き渡らせる攪拌の効果を奏するようにしたものである(例えば特許文献2参照)。
(Conventional method 2)
Immerse the substrate with fine holes in the plating solution in the plating tank, and positively generate bubbles in the fine holes with ultrasonic waves, and then decompress the whole plating tank to remove the bubbles in the fine holes. It removes (degass), and has the effect of stirring that spreads the plating solution into the fine holes (see, for example, Patent Document 2).

(従来方式3)
非貫通穴を有する基板を処理液槽に基板面が処理液面と垂直になるように浸漬して、基板の上下方向の振動に円運動を組み合わせることによって非貫通孔内の気泡を除去するようにしたものである(例えば特許文献3参照)。
(Conventional method 3)
Immerse a substrate with non-through holes in the processing liquid tank so that the substrate surface is perpendicular to the processing liquid surface, and remove bubbles in the non-through holes by combining the vertical motion of the substrate with circular motion (For example, refer to Patent Document 3).

(従来方式4)
基板の非貫通穴の底部に更に小さな脱泡穴を設けて、非貫通穴の底部にたまった気泡が脱泡穴から排出することができるようにしたものである(例えば特許文献4参照)。
(Conventional method 4)
A smaller defoaming hole is provided at the bottom of the non-through hole of the substrate so that bubbles accumulated at the bottom of the non-through hole can be discharged from the defoaming hole (see, for example, Patent Document 4).

特開平05−211384号公報Japanese Patent Laid-Open No. 05-211384 特開2000−101230号公報JP 2000-101230 A 特開平07−326892号公報Japanese Patent Laid-Open No. 07-326892 特開平09−326539号公報JP 09-326539 A

上述のように、微細な穴等を有する基板の湿式処理における気泡除去対策として例えば従来方式1〜4が提案されているが、それぞれ次のような点が問題と考えられる。
(従来方式1における問題)
従来方式1は、非貫通孔を有する基板をめっき液に浸漬した後に減圧することで、非貫通孔内に滞留した気泡を膨張させ非貫通孔内から除去しようとしているものであるが、この方式では、非貫通孔内に滞留した気泡のうち、膨張により非貫通孔からはみ出した部分の気泡は除去されるものの、残りの部分の気泡は残留したままとなる。また、この方式では、減圧したままでめっき処理を実施するため、見かけ上気泡は大きい状態で存在していることとなり、気泡除去対策として大きな効果は期待できない。
As described above, for example, the conventional methods 1 to 4 have been proposed as measures for removing bubbles in a wet process of a substrate having fine holes or the like, but the following points are considered to be problems.
(Problem with conventional method 1)
The conventional method 1 is intended to expand and remove bubbles remaining in the non-through hole by immersing the substrate having the non-through hole in the plating solution and then reducing the pressure. Then, among the bubbles staying in the non-through holes, the bubbles in the portion protruding from the non-through holes due to the expansion are removed, but the remaining bubbles remain. Further, in this method, since the plating process is performed with the pressure reduced, the bubbles are apparently present in a large state, and a great effect cannot be expected as a measure for removing bubbles.

(従来方式2における問題)
従来方式2は、超音波によるキャビティ発生により微細な穴内の気泡を除去し、さらに減圧により気泡を低減しようとしているものであるが、この方式では、キャビティの発生位置にばらつきが生じるので、基板全面で均一な気泡除去効果を奏するようにして気泡を完全に除去することは困難である。
(Problem with conventional method 2)
Conventional method 2 is intended to remove bubbles in fine holes by generating cavities using ultrasonic waves, and further reducing the bubbles by reducing the pressure. Thus, it is difficult to completely remove bubbles so as to obtain a uniform bubble removing effect.

(従来方式3における問題)
従来方式3は、基板の上下方向の振動に円運動を加えた揺動により、非貫通穴内の気泡の除去効果を高めようとしているものであるが、この方式も、気泡残留の程度は低減するものの、完全な除去は困難と考えられ、また、アスペクト比が大きい非貫通穴では気泡が残留する可能性が高い。
(Problem with conventional method 3)
In the conventional method 3, the effect of removing the bubbles in the non-through holes is improved by swinging the vertical vibration of the substrate in addition to the circular motion, but this method also reduces the degree of remaining bubbles. However, complete removal is considered difficult, and there is a high possibility that bubbles remain in a non-through hole having a large aspect ratio.

(従来方式4における問題)
従来方式4は、基板の非貫通穴の底部に更に小さな脱泡穴を設けることで気泡の残留を抑制しようとしているものであるが、この方式では、基板における全ての非貫通穴の底部に脱泡穴を形成しなければならないため、基板設計上の制約が大きいことが難点である。
(Problem with conventional method 4)
Conventional method 4 attempts to suppress residual bubbles by providing a smaller defoaming hole at the bottom of the non-through hole of the substrate. In this method, however, the degassing hole is removed from the bottom of all non-through holes in the substrate. Since the bubble hole must be formed, it is difficult to restrict the board design.

このように、微細な穴等を有する基板の湿式処理における気泡除去対策のうち、湿式処理プロセスの改良を図った従来方式1〜3では気泡除去効果がまだ不十分であり、基板構造の改良を図った従来方式4では特に基板設計上の制約が大きいことが難点である。   As described above, among the measures for removing bubbles in the wet processing of the substrate having a fine hole or the like, the conventional methods 1 to 3 in which the wet processing process is improved are still insufficient, and the improvement of the substrate structure is improved. In the conventional method 4 shown in the figure, the restriction on the board design is particularly difficult.

そして、従来方式4におけるような基板設計上の制約が大きいことは実製品への適用において基本的な問題となることを考慮すると、微細な穴等、そして特に非貫通の微細な穴を有する基板の湿式処理における気泡除去対策としては、湿式処理プロセスの更なる改良により気泡除去効果の向上を図ることが適当と考えられる。   And considering that the restriction on the substrate design as in the conventional method 4 is a fundamental problem in application to an actual product, a substrate having a fine hole or the like, and particularly a non-penetrating fine hole As a countermeasure for removing bubbles in the wet process, it is considered appropriate to improve the effect of removing bubbles by further improving the wet process.

このため、本発明は、上記のような問題点を解決し、例えば気泡が特に残留しやすい非貫通の微細穴などの穴を有する板状体(基板)を処理液に浸漬して行う湿式処理において、穴に気泡が残留することをより十分に抑制し、より均一な湿式処理を実現することが可能な湿式処理方法及び湿式処理装置を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention solves the above-described problems, for example, wet processing performed by immersing a plate-like body (substrate) having holes such as non-penetrating fine holes in which bubbles are particularly likely to remain in a processing solution. The purpose of the present invention is to provide a wet processing method and a wet processing apparatus that can more sufficiently suppress the bubbles from remaining in the holes and realize a more uniform wet processing.

上記目的を達成するために、本発明によれば、穴を有する板状体を処理液に浸漬して湿式処理を行う湿式処理方法において、密閉容器内に板状体を保持した状態で密閉容器内の雰囲気を,処理液に溶解可能な溶解性気体に置換する密閉容器内雰囲気置換工程と、密閉容器内雰囲気置換工程の後,密閉容器内が溶解性気体で充満された状態で密閉容器内へ処理液を導入する処理液導入工程とを備えた構成とする(請求項1の発明)。   In order to achieve the above object, according to the present invention, in a wet processing method of performing wet processing by immersing a plate-like body having holes in a processing liquid, the sealed container with the plate-like body held in the sealed container. After the atmosphere in the sealed container is replaced with a soluble gas that can be dissolved in the processing solution, and after the atmosphere replacement process in the sealed container, the inside of the sealed container is filled with the soluble gas. And a treatment liquid introduction step for introducing the treatment liquid into the substrate (invention of claim 1).

上記請求項1の発明によれば、密閉容器内における板状体(例えば半導体基板、プリント配線板などの基板)の周囲の雰囲気が、湿式処理のための処理液(例えば水を溶媒とした水溶液)に溶解可能な溶解性気体(例えば水溶性気体)に置換されるので、この溶解性気体が板状体の周囲に穴の内部も含めて充満した状態となる。そして、板状体の周囲において気泡発生の原因となる大気中ガス成分が排除されているとともに処理液に溶解可能な溶解性気体が充満している状態で処理液が導入されることにより、溶解性気体を溶解させながら処理液が板状体面に濡れ拡がり、さらに、溶解性気体が充満している穴の内部にも濡れ拡がることになる。このため、例えば気泡が特に残留しやすい非貫通の微細な穴を有する板状体であっても、穴の内部に処理液が行き渡ることになり、穴内に気泡が残留することなく板状体の全面にわたって処理液が接触している状態とすることができ、これにより、部分的な処理液接触不足による不良をなくし、均一な湿式処理を実現することができるようになる。   According to the first aspect of the invention, the atmosphere around the plate-like body (for example, a substrate such as a semiconductor substrate or a printed wiring board) in the sealed container is a treatment liquid for wet processing (for example, an aqueous solution using water as a solvent). ) Is replaced by a soluble gas (for example, a water-soluble gas), so that the soluble gas is filled around the plate-like body including the inside of the hole. The solution is introduced by introducing the treatment liquid in a state in which atmospheric gas components that cause the generation of bubbles around the plate-like body are excluded and the soluble gas that is soluble in the treatment liquid is filled. The treatment liquid wets and spreads on the plate-like body surface while dissolving the soluble gas, and further spreads wet inside the hole filled with the soluble gas. For this reason, for example, even in the case of a plate-like body having non-penetrating fine holes in which bubbles are likely to remain, the treatment liquid will be spread inside the holes, and bubbles will not remain in the holes. The treatment liquid can be brought into contact with the entire surface, thereby eliminating a defect due to partial lack of contact with the treatment liquid and realizing a uniform wet treatment.

また、上記請求項1に記載の湿式処理方法において、前記密閉容器内雰囲気置換工程として、密閉容器内に板状体を保持した状態で密閉容器内を減圧する減圧工程と、減圧工程の後,密閉容器内が減圧された状態で密閉容器内へ溶解性気体を導入する溶解性気体導入工程とを備えた構成とすることができる(請求項2の発明)。   Further, in the wet processing method according to claim 1, as the atmosphere replacement process in the sealed container, a decompression process for decompressing the inside of the sealed container with the plate-like body held in the sealed container, and after the decompression process, It can be set as the structure provided with the soluble gas introduction | transduction process which introduce | transduces soluble gas into an airtight container in the state where the inside of the airtight container was pressure-reduced (invention of Claim 2).

そして、上記請求項1または2に記載の湿式処理方法においては、処理液を入れた処理液槽を設けるとともに密閉容器に開閉可能な扉部を設け、処理液導入工程では、密閉容器および扉部のうち少なくとも扉部の部分を処理液槽内の処理液に浸漬させ、この状態で扉部を開放することにより密閉容器内に処理液が導入されるようにした構成とするとよい(請求項3の発明)。   In the wet processing method according to claim 1 or 2, in the processing liquid introduction step, a sealed liquid container and a door part are provided in a sealed liquid container provided with a processing liquid tank containing a processing liquid and an openable / closable door. It is good to set it as the structure which the process liquid was introduce | transduced in the airtight container by immersing at least the part of a door part in the process liquid in a process liquid tank, and opening a door part in this state (Claim 3). Invention).

また、上記請求項1ないし3のいずれか1項に記載の湿式処理方法において、処理液は,水または水を溶媒とした水溶液であり、溶解性気体は,水溶性気体である構成とすることができる(請求項4の発明)。   The wet processing method according to any one of claims 1 to 3, wherein the processing liquid is water or an aqueous solution using water as a solvent, and the soluble gas is a water-soluble gas. (Invention of claim 4).

また、さらに、上記請求項4に記載の湿式処理方法においては、水溶性気体は,アンモニアまたは塩化水素である構成とすることができる(請求項5の発明)。
上記請求項5の発明において、アンモニアまたは塩化水素は、水に対する溶解度が大きいことから、水溶性気体として特に好適である。
Furthermore, in the wet processing method according to claim 4, the water-soluble gas may be ammonia or hydrogen chloride (invention of claim 5).
In the invention of claim 5 above, ammonia or hydrogen chloride is particularly suitable as a water-soluble gas because of its high solubility in water.

次に、本発明によれば、穴を有する板状体を処理液に浸漬して湿式処理を行う湿式処理装置において、内部に板状体を保持する板状体保持機構部を有するとともに板状体が保持された状態で密閉状態とすることのできる密閉容器と、密閉容器内の雰囲気を処理液に溶解可能な溶解性気体に置換することのできる密閉容器内雰囲気置換手段と、密閉容器内が溶解性気体で充満された状態で密閉容器内へ処理液を導入することのできる処理液供給手段とを備えた構成とする(請求項6の発明)。   Next, according to the present invention, in a wet processing apparatus that performs wet processing by immersing a plate-like body having holes in a processing solution, the plate-like body holding mechanism portion that holds the plate-like body is provided and the plate shape A sealed container that can be sealed with the body held therein, an atmosphere replacement means in the sealed container that can replace the atmosphere in the sealed container with a soluble gas that can be dissolved in the treatment liquid, and the sealed container And a processing liquid supply means capable of introducing the processing liquid into the sealed container in a state where the gas is filled with the soluble gas (invention of claim 6).

上記請求項6の発明によれば、密閉容器内における板状体(例えば半導体基板、プリント配線板などの基板)の周囲の雰囲気を、密閉容器内雰囲気置換手段により、湿式処理のための処理液(例えば水を溶媒とした水溶液)に溶解可能な溶解性気体(例えば水溶性気体)に置換して、この溶解性気体が板状体の周囲に穴の内部も含めて充満した状態となるようにすることができる。そして、処理液供給手段により、板状体の周囲において気泡発生の原因となる大気中ガス成分が排除されているとともに処理液に溶解可能な溶解性気体が充満している状態で処理液を導入することにより、溶解性気体を溶解させながら処理液が板状体面に濡れ拡がり、さらに、溶解性気体が充満している穴の内部にも濡れ拡がるようにすることができる。このため、例えば気泡が特に残留しやすい非貫通の微細な穴を有する板状体であっても、穴の内部に処理液が行き渡ることになり、穴内に気泡が残留することなく板状体の全面にわたって処理液が接触している状態とすることができ、これにより、部分的な処理液接触不足による不良をなくし、均一な湿式処理を実現することができるようになる。   According to the sixth aspect of the present invention, the atmosphere around the plate-like body (for example, a substrate such as a semiconductor substrate or a printed wiring board) in the sealed container is treated with the treatment liquid for wet processing by the atmosphere replacement means in the sealed container. It is replaced with a soluble gas (for example, a water-soluble gas) that can be dissolved in an aqueous solution (for example, water as a solvent) so that the soluble gas is filled around the plate body including the inside of the hole. Can be. Then, the treatment liquid is introduced in a state in which the gas component in the atmosphere that causes the generation of bubbles around the plate-like body is eliminated and the soluble gas that is soluble in the treatment liquid is filled by the treatment liquid supply means. By doing so, it is possible to allow the treatment liquid to wet and spread on the plate-like body surface while dissolving the soluble gas, and further to wet and spread inside the hole filled with the soluble gas. For this reason, for example, even in the case of a plate-like body having non-penetrating fine holes in which bubbles are likely to remain, the treatment liquid will be spread inside the holes, and bubbles will not remain in the holes. The treatment liquid can be brought into contact with the entire surface, thereby eliminating a defect due to partial lack of contact with the treatment liquid and realizing a uniform wet treatment.

上記請求項6に記載の湿式処理装置において、前記密閉容器内雰囲気置換手段として、密閉容器内を減圧することのできる真空排気手段と、密閉容器内が減圧された状態で密閉容器内へ溶解性気体を導入することのできる溶解性気体供給手段とを備えた構成とすることができる(請求項7の発明)。   The wet processing apparatus according to claim 6, wherein the atmosphere replacement means in the sealed container is a vacuum exhaust means capable of depressurizing the inside of the sealed container, and is soluble in the sealed container in a state where the inside of the sealed container is decompressed. It can be set as the structure provided with the soluble gas supply means which can introduce | transduce gas (invention of Claim 7).

そして、上記請求項6または7に記載の湿式処理装置においては、前記処理液供給手段として、処理液を入れた処理液槽を備えるとともに、密閉容器に配設された開閉可能な扉部と、密閉容器を上昇および下降させることができ,下降時には密閉容器を処理液槽内の処理液に浸漬することのできる密閉容器駆動部とを設け、密閉容器駆動部により密閉容器および扉部のうち少なくとも扉部の部分を処理液槽内の処理液に浸漬させた状態で扉部を開放することにより密閉容器内に処理液が導入されるようにした構成とすることができる(請求項8の発明)。   In the wet processing apparatus according to claim 6 or 7, as the processing liquid supply means, a processing liquid tank containing a processing liquid is provided, and an openable / closable door disposed in a sealed container; A hermetic container can be moved up and down, and when it is lowered, a hermetic container driving unit capable of immersing the hermetic container in the processing liquid in the processing liquid tank is provided, and the hermetic container driving unit at least of the hermetic container and the door part is provided. The treatment liquid can be introduced into the sealed container by opening the door in a state where the door portion is immersed in the treatment liquid in the treatment liquid tank (Invention of Claim 8). ).

また、上記請求項6ないし8のいずれか1項に記載の湿式処理装置において、処理液は,水または水を溶媒とした水溶液であり、溶解性気体は,水溶性気体である構成とすることができる(請求項9の発明)。   The wet processing apparatus according to any one of claims 6 to 8, wherein the processing liquid is water or an aqueous solution using water as a solvent, and the soluble gas is a water-soluble gas. (Invention of claim 9).

また、さらに、上記請求項9に記載の湿式処理装置においては、水溶性気体は,アンモニアまたは塩化水素である構成とすることができる(請求項10の発明)。
上記請求項10の発明において、アンモニアまたは塩化水素は、水に対する溶解度が大きいことから、水溶性気体として特に好適である。
Furthermore, in the wet processing apparatus according to claim 9, the water-soluble gas may be ammonia or hydrogen chloride (invention of claim 10).
In the invention of claim 10 above, ammonia or hydrogen chloride is particularly suitable as a water-soluble gas because of its high solubility in water.

本発明によれば、例えば気泡が特に残留しやすい非貫通の微細穴などの穴を有する板状体を処理液に浸漬して行う洗浄、エッチング、めっきなどの湿式処理において穴に気泡が残留することにより発生する不具合を防止し、板状体全面に均一な湿式処理を施すことができるようになる。   According to the present invention, for example, bubbles remain in the holes in a wet process such as cleaning, etching, and plating performed by immersing a plate-like body having holes such as non-penetrating fine holes in which bubbles are particularly likely to remain in the processing liquid. The problem which generate | occur | produces by this can be prevented, and a uniform wet process can be given now to the plate-shaped body whole surface.

本発明の実施例1による湿式処理装置を示す構成図The block diagram which shows the wet processing apparatus by Example 1 of this invention 図1の湿式処理装置による湿式処理方法を示す工程図Process drawing which shows the wet processing method by the wet processing apparatus of FIG. 本発明の実施例2による湿式処理装置を示す構成図The block diagram which shows the wet processing apparatus by Example 2 of this invention 図3の湿式処理装置による湿式処理方法を示す工程図Process drawing which shows the wet processing method by the wet processing apparatus of FIG. 従来の湿式処理装置を示す構成図Configuration diagram showing conventional wet processing equipment

以下、本発明の実施形態を図1〜図4に示す実施例に基づいて説明する。同一の構成要素については、同一の符号を付け、重複する説明は省略する。なお、本発明は、下記の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲内で適宜変形して実施することができるものである。
[本発明の実施形態]
本発明は、微細な穴を有する(例えば半導体基板、プリント配線板などの)板状体(基板)を(水を溶媒とした水溶液などの)処理液に浸漬して行う(例えばエッチング、洗浄、めっきなどの)湿式処理において微細な穴に気泡が残留することを抑制するための対策として、密閉容器内に板状体を保持した状態で密閉容器内の雰囲気を,処理液に溶解可能な(例えば水溶性気体などの)溶解性気体に置換し、密閉容器内が溶解性気体で充満された状態で密閉容器内へ処理液を導入するようにしたものである。これにより、本発明では、穴を有する板状体の周囲に処理液に溶解可能な溶解性気体が充満した状態で処理液が導入されることによって、溶解性気体を溶解させながら処理液が板状体面に濡れ拡がるとともに、溶解性気体が充満している穴の内部にも濡れ拡がることになるので、穴内に気泡が残留することなく板状体の全面にわたって処理液が接触している状態とすることができ、均一な湿式処理を実現することができるようになる。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described based on examples shown in FIGS. About the same component, the same code | symbol is attached | subjected and the overlapping description is abbreviate | omitted. In addition, this invention is not limited to the following embodiment, In the range which does not change the summary, it can implement suitably.
Embodiment of the present invention
The present invention is performed by immersing a plate-like body (substrate) (for example, a semiconductor substrate or a printed wiring board) having fine holes in a processing solution (for example, an aqueous solution using water as a solvent) (for example, etching, cleaning, As a measure to prevent bubbles from remaining in fine holes during wet processing (such as plating), the atmosphere in the sealed container can be dissolved in the processing solution while the plate-like body is held in the sealed container ( For example, the liquid is replaced with a soluble gas (such as a water-soluble gas), and the processing liquid is introduced into the sealed container in a state where the sealed container is filled with the soluble gas. Thus, in the present invention, the treatment liquid is introduced into the plate while dissolving the soluble gas by introducing the treatment liquid in a state where the soluble gas that can be dissolved in the treatment liquid is filled around the plate-like body having holes. Since the surface of the plate-like body wets and spreads, and the inside of the hole filled with the soluble gas also wets and spreads, the treatment liquid is in contact with the entire surface of the plate-like body without bubbles remaining in the hole. And a uniform wet process can be realized.

図1は実施例1による湿式処理装置を示す構造図であり、図2は実施例1による湿式処理方法における処理プロセスの一例を示す工程図である。
本発明の実施例1は、処理液2を入れた処理液槽13を設けるとともに、密閉容器11に開閉可能な開閉扉14を設け、密閉容器11および開閉扉14のうち少なくとも開閉扉14の部分を処理液槽13内の処理液2の液面下に浸漬させ、この状態で開閉扉14を開放することにより、溶解性気体8で充満された状態の密閉容器11内へ処理液2が導入されるようにしたものである。
FIG. 1 is a structural diagram illustrating a wet processing apparatus according to the first embodiment, and FIG. 2 is a process diagram illustrating an example of a processing process in the wet processing method according to the first embodiment.
In the first embodiment of the present invention, a treatment liquid tank 13 containing a treatment liquid 2 is provided, and an openable / closable door 14 is provided in the sealed container 11, and at least a part of the openable / closable door 14 among the sealed container 11 and the openable door 14. Is immersed under the liquid level of the processing liquid 2 in the processing liquid tank 13, and the opening / closing door 14 is opened in this state, whereby the processing liquid 2 is introduced into the sealed container 11 filled with the soluble gas 8. It is made to be done.

(イ)実施例1における湿式処理装置の構成:
図1の湿式処理装置は、図1(a)に示されているように、処理液2が入れられた処理液槽13、板状体(基板)3を保持するための板状体保持機構16が内部に配設されているとともに板状体3を保持した状態で密閉構造とすることのできる密閉容器11、真空排気配管44を介して密閉容器11に接続された真空排気手段41、および溶解性気体供給配管34を介して密閉容器11に接続された溶解性気体供給手段31を備えている。
(A) Configuration of wet processing apparatus in Example 1
As shown in FIG. 1A, the wet processing apparatus of FIG. 1 has a plate-like body holding mechanism for holding a processing liquid tank 13 and a plate-like body (substrate) 3 in which a processing liquid 2 is placed. 16 is disposed inside, and the hermetically sealed container 11 that can have a sealed structure with the plate-like body 3 held therein, the vacuum exhaust means 41 connected to the hermetic container 11 via the vacuum exhaust pipe 44, and Dissolvable gas supply means 31 connected to the hermetic container 11 via a soluble gas supply pipe 34 is provided.

密閉容器11の下方端部には密閉容器11内の空間を開放状態および密閉状態とすることのできる開閉扉14が設けられているとともに、密閉容器11を矢印Bで示されるように上昇および下降させることのできる密閉容器駆動部15が設けられている。   An open / close door 14 that can open and close the space in the sealed container 11 is provided at the lower end of the sealed container 11, and the sealed container 11 is raised and lowered as indicated by an arrow B. An airtight container drive unit 15 that can be operated is provided.

そして、真空排気手段41としては、真空ポンプ42がバルブ43を介して真空排気配管44に接続されている。ここで、バルブ43は、常時は閉状態であり、真空排気時のみ開状態とする。   As the vacuum exhaust means 41, a vacuum pump 42 is connected to a vacuum exhaust pipe 44 through a valve 43. Here, the valve 43 is normally closed and is opened only during vacuum exhaust.

また、溶解性気体供給手段31としては、例えば溶解性気体8が貯留されたガスボンベなどの溶解性気体供給源32がバルブ33を介して溶解性気体供給配管34に接続されている。ここで、バルブ33は、常時は閉状態であり、溶解性気体供給時のみ開状態とする。   Further, as the soluble gas supply means 31, for example, a soluble gas supply source 32 such as a gas cylinder in which the soluble gas 8 is stored is connected to the soluble gas supply pipe 34 via a valve 33. Here, the valve 33 is normally closed, and is opened only when the soluble gas is supplied.

また、処理液槽13、開閉扉14および密閉容器駆動部15は、後述するように、処理液導入工程では処理液供給手段12として機能する。
なお、実施例1における真空排気配管44および溶解性気体供給配管34は、それぞれ、密閉容器11の上下動に対応できるようにするため、可とう性を備えたものとなっている。
Further, as will be described later, the processing liquid tank 13, the opening / closing door 14, and the hermetic container driving unit 15 function as the processing liquid supply unit 12 in the processing liquid introduction process.
Note that the vacuum exhaust pipe 44 and the soluble gas supply pipe 34 in the first embodiment are flexible so as to be able to cope with the vertical movement of the sealed container 11.

次に、図1(b)は、湿式処理の対象となる板状体(基板)3(図1(a))におけるA部拡大図であり、微細な穴4の部分の断面構造を例示するものである。この穴4は非貫通の穴となっており、特に気泡が残留しやすいものとなっている。   Next, FIG.1 (b) is an A section enlarged view in the plate-shaped body (board | substrate) 3 (FIG.1 (a)) used as the object of a wet process, and illustrates the cross-section of the part of the fine hole 4 Is. This hole 4 is a non-penetrating hole, and bubbles are particularly likely to remain.

(ロ)実施例1における湿式処理方法の構成:
図2により、実施例1による湿式処理方法における処理プロセスの一例をその工程順に説明する。なお、図2では、密閉容器11に接続された真空排気手段41、溶解性気体供給手段31などの図示は省略している。
(B) Configuration of wet processing method in Example 1:
An example of the treatment process in the wet treatment method according to the first embodiment will be described with reference to FIG. 2, illustration of the vacuum exhaust means 41, the soluble gas supply means 31, etc. which were connected to the airtight container 11 is abbreviate | omitted.

(板状体装着工程)(図2(a))
密閉容器11に処理対象の板状体(基板)3を入れて板状体保持機構16で板状体3を保持した状態とする。なお、板状体3は、開閉扉14を開放して密閉容器11内に入れるようにしてもよく、また、開閉扉14とは別に、密閉処理可能な板状体3用の(図示されない)挿入機構部を設けて、この挿入機構部から密閉容器11内に入れるようにしてもよい。また、この板状体装着工程では、密閉容器11内の雰囲気は大気6となっている。
(Plate-shaped body mounting step) (FIG. 2 (a))
The plate-like body (substrate) 3 to be processed is put in the sealed container 11 and the plate-like body 3 is held by the plate-like body holding mechanism 16. The plate-like body 3 may be opened in the sealed container 11 with the opening / closing door 14 open, and is separate from the opening / closing door 14 for the plate-like body 3 that can be sealed (not shown). An insertion mechanism portion may be provided, and the insertion mechanism portion may be inserted into the sealed container 11. Moreover, in this plate-shaped body mounting step, the atmosphere in the sealed container 11 is the atmosphere 6.

(減圧工程)(図2(b))
板状体装着工程の後、密閉容器11内に板状体3を保持し、開閉扉14を閉じて密閉容器11を密閉した状態で、真空排気手段41により密閉容器11内を減圧して、減圧雰囲気7(真空雰囲気)とする。なお、減圧工程で減圧された密閉容器11内の真空度は常圧の1000分の1程度(約1〜10Pa)以下であればよい。
(Decompression step) (FIG. 2B)
After the plate-like body mounting step, the plate-like body 3 is held in the hermetic container 11, the inside of the hermetic container 11 is depressurized by the vacuum evacuation means 41 with the open / close door 14 closed and the hermetic container 11 sealed. A reduced pressure atmosphere 7 (vacuum atmosphere) is set. In addition, the vacuum degree in the airtight container 11 pressure-reduced by the pressure reduction process should just be about 1/1000 (about 1-10 Pa) or less of a normal pressure.

(溶解性気体導入工程)(図2(b))
減圧工程の後,密閉容器11内が減圧された状態で、溶解性気体供給手段31により密閉容器11内へ処理液2に溶解可能な溶解性気体8を導入し、これにより、密閉容器11内の雰囲気を溶解性気体8に置換する。なお、溶解性気体導入工程で溶解性気体8を充満した後の密閉容器11内の圧力は常圧でよい。
(Soluble gas introduction step) (FIG. 2B)
After the depressurization step, in a state where the inside of the sealed container 11 is decompressed, the soluble gas 8 that is soluble in the treatment liquid 2 is introduced into the sealed container 11 by the soluble gas supply means 31, thereby The atmosphere is replaced with the soluble gas 8. In addition, the pressure in the airtight container 11 after filling the soluble gas 8 in the soluble gas introduction process may be a normal pressure.

(処理液導入工程)(図2(c)〜(d))
溶解性気体導入工程の後、密閉容器11内が溶解性気体8で充満された状態で、密閉容器駆動部15によって、密閉容器11および開閉扉14のうち少なくとも開閉扉14の部分が処理液2中の液面下に浸漬するように密封容器11を処理液槽13内に下降させ、この浸漬状態で開閉扉14を開放することにより、密閉容器11内へ処理液2を導入する。このとき、密閉容器11内の溶解性気体8は処理液2中に溶解していき、溶解性気体8の溶解により密閉容器11内が減圧され、処理液2は密閉容器11内へ吸引されるようにして導入されていく。これに伴い、処理液2が密閉容器11内の隅々まで行き渡るとともに、板状体3の面に沿って濡れ拡がることになる。そして、板状体3における穴4の内部に充満していた溶解性気体8も穴4部まで濡れ広がってきた処理液2に溶解する。これにより、気泡が特に残留しやすい非貫通の微細な穴4を有する基板であっても、穴4の内部に処理液2が行き渡ることになり、穴4の内部に気泡5が残留しない状態で、板状体3に対する処理液2による均一な湿式処理を行うことが可能となる。
(Processing liquid introduction process) (FIGS. 2C to 2D)
After the soluble gas introduction step, at least the part of the open / close door 14 of the closed container 11 and the open / close door 14 is treated with the processing liquid 2 by the closed container driving unit 15 in a state where the inside of the closed container 11 is filled with the soluble gas 8. The processing container 2 is introduced into the sealed container 11 by lowering the sealed container 11 into the processing liquid tank 13 so as to be immersed below the liquid level therein and opening the open / close door 14 in this immersed state. At this time, the soluble gas 8 in the sealed container 11 is dissolved in the treatment liquid 2, the inside of the sealed container 11 is decompressed by the dissolution of the soluble gas 8, and the treatment liquid 2 is sucked into the sealed container 11. In this way it will be introduced. As a result, the processing liquid 2 spreads to every corner of the sealed container 11 and spreads along the surface of the plate-like body 3. And the soluble gas 8 which filled the inside of the hole 4 in the plate-shaped body 3 also melt | dissolves in the process liquid 2 which has spread to the hole 4 part. As a result, even in the case of a substrate having non-penetrating fine holes 4 in which bubbles are particularly likely to remain, the processing liquid 2 spreads inside the holes 4 and no bubbles 5 remain inside the holes 4. It becomes possible to perform a uniform wet process with the treatment liquid 2 on the plate-like body 3.

なお、処理液導入工程において密閉容器11を処理液2中の液面下に浸漬させる深さとして、密閉容器11の全部を浸漬させるものとしてもよい。
また、この処理液導入工程では上述のように処理液槽13、開閉扉14および密閉容器駆動部15が処理液供給手段12として機能する。
In addition, it is good also as what immerses the whole airtight container 11 as the depth which the airtight container 11 is immersed under the liquid level in the process liquid 2 in a process liquid introduction | transduction process.
Further, in this process liquid introduction step, the process liquid tank 13, the opening / closing door 14 and the hermetic container driving unit 15 function as the process liquid supply means 12 as described above.

(ハ)溶解性気体の種類:
なお、処理液2として水または水を溶媒とした水溶液を用いる場合、溶解性気体8としては水溶性気体を用いることになる。そして、水溶性気体としてはアンモニア、塩化水素、二酸化硫黄などが適用可能であり、特に水に対する溶解度が大きいという点でアンモニア、塩化水素が好適である。
(C) Types of soluble gases:
When water or an aqueous solution using water as a solvent is used as the treatment liquid 2, a water-soluble gas is used as the soluble gas 8. As the water-soluble gas, ammonia, hydrogen chloride, sulfur dioxide and the like can be applied, and ammonia and hydrogen chloride are particularly preferable in terms of high solubility in water.

(ニ)処理液導入工程後の湿式処理:
実施例1における処理液導入工程(図2(d))の後における(エッチング、洗浄、めっきなどの)湿式処理は、例えば、次のようにして行うことができるが、これらに限定されるものではない。
(D) Wet treatment after treatment liquid introduction process:
The wet process (etching, cleaning, plating, etc.) after the process liquid introducing step (FIG. 2D) in Example 1 can be performed as follows, for example, but is not limited thereto. is not.

(a)密閉容器11自体に例えば(図示されない)めっき用電極部などの湿式処理機構部を設けておき、板状体3が密閉容器11内に装着された状態のままで湿式処理を行う。     (A) A wet processing mechanism such as a plating electrode unit (not shown) is provided in the sealed container 11 itself, and wet processing is performed with the plate-like body 3 mounted in the sealed container 11.

(b)(図示されない)移送機構により板状体3を密閉容器11下方端の開口部から処理液槽13内の処理液2中に引き出し、処理液槽13内に設けられた例えば(図示されない)めっき用電極部などの湿式処理機構部に装着して湿式処理を行う。     (B) The plate-like body 3 is pulled out from the opening at the lower end of the hermetic container 11 into the processing liquid 2 in the processing liquid tank 13 by a transfer mechanism (not shown), and provided in the processing liquid tank 13 (not shown) ) Wet processing is performed by mounting on a wet processing mechanism such as an electrode for plating.

図3は実施例2による湿式処理装置を示す構成図であり、図4は実施例2による湿式処理方法における処理プロセスの一例を示す工程図である。
本発明の実施例2は、上述の実施例1とは異なり、処理液供給手段22により処理液供給配管25を介して、溶解性気体8で充満された状態の密閉容器21内へ処理液2を導入するようにしたものである。
FIG. 3 is a configuration diagram illustrating a wet processing apparatus according to the second embodiment, and FIG. 4 is a process diagram illustrating an example of a processing process in the wet processing method according to the second embodiment.
The second embodiment of the present invention is different from the first embodiment described above in that the processing liquid 2 is filled into the sealed container 21 filled with the soluble gas 8 by the processing liquid supply means 22 through the processing liquid supply pipe 25. Is to be introduced.

(イ)実施例2における湿式処理装置の構成:
図3の湿式処理装置は、板状体(基板)3を保持するための板状体保持機構26が内部に配設されているとともに板状体3を保持した状態で密閉構造とすることのできる密閉容器21、真空排気配管44Aを介して密閉容器21に接続された真空排気手段41、溶解性気体供給配管34Aを介して密閉容器21に接続された溶解性気体供給手段31、および処理液供給配管25を介して密閉容器21に接続された処理液供給手段22を備えている。
(A) Configuration of wet processing apparatus in Example 2
The wet processing apparatus of FIG. 3 has a plate-like body holding mechanism 26 for holding the plate-like body (substrate) 3 and has a sealed structure with the plate-like body 3 held therein. A sealed container 21, a vacuum exhaust means 41 connected to the sealed container 21 via a vacuum exhaust pipe 44A, a soluble gas supply means 31 connected to the sealed container 21 via a soluble gas supply pipe 34A, and a processing liquid A treatment liquid supply means 22 connected to the sealed container 21 via a supply pipe 25 is provided.

また、密閉容器21の上蓋部には大気導入バルブ27が接続されている。そして、密閉容器21の底部には処理液排出配管52が接続され、さらにバルブ51を介して処理液排出系統に接続されている。これによって、密閉容器21内が処理液2で満たされている状態で大気導入バルブ27を開放するとともにバルブ51を開放することにより、処理液2を処理液排出配管52から排出することができるようになっているが、処理液2を排出するための構成は上記構成に限定されるものではない。   An air introduction valve 27 is connected to the upper lid portion of the sealed container 21. And the process liquid discharge piping 52 is connected to the bottom part of the airtight container 21, and is further connected to the process liquid discharge system via the valve | bulb 51. FIG. Accordingly, the processing liquid 2 can be discharged from the processing liquid discharge pipe 52 by opening the air introduction valve 27 and opening the valve 51 in a state where the sealed container 21 is filled with the processing liquid 2. However, the configuration for discharging the processing liquid 2 is not limited to the above configuration.

そして、真空排気手段41としては、真空ポンプ42がバルブ43を介して真空排気配管44Aに接続されている。ここで、バルブ43は、常時は閉状態であり、真空排気時のみ開状態とする。   As the vacuum exhaust means 41, a vacuum pump 42 is connected to the vacuum exhaust pipe 44 </ b> A via a valve 43. Here, the valve 43 is normally closed and is opened only during vacuum exhaust.

また、溶解性気体供給手段31としては、例えば溶解性気体8が貯留されたガスボンベなどの溶解性気体供給源32がバルブ33を介して溶解性気体供給配管34Aに接続されている。ここで、バルブ33は、常時は閉状態であり、溶解性気体供給時のみ開状態とする。   Further, as the soluble gas supply means 31, for example, a soluble gas supply source 32 such as a gas cylinder in which the soluble gas 8 is stored is connected to the soluble gas supply pipe 34 </ b> A via a valve 33. Here, the valve 33 is normally closed, and is opened only when the soluble gas is supplied.

また、処理液供給手段22としては、処理液2が貯留された処理液槽23がバルブ24を介して処理液供給配管25に接続されている。ここで、バルブ24は、常時は閉状態であり、処理液供給時のみ開状態とする。   Further, as the processing liquid supply means 22, a processing liquid tank 23 in which the processing liquid 2 is stored is connected to a processing liquid supply pipe 25 through a valve 24. Here, the valve 24 is normally closed and is opened only when the processing liquid is supplied.

なお、実施例2における密閉容器21は、(図示されない)めっき用電極部などの湿式処理機構部を備え、湿式処理槽として機能することができるものとなっている。
(ロ)実施例2における湿式処理方法の構成
図4により、実施例2による湿式処理方法における処理プロセスの一例をその工程順に説明する。なお、図4では、密閉容器21に接続された真空排気手段41、溶解性気体供給手段31、処理液供給手段22などの図示は省略している。
In addition, the airtight container 21 in Example 2 is provided with wet processing mechanism parts, such as the electrode part for plating (not shown), and can function as a wet processing tank.
(B) Configuration of Wet Processing Method in Example 2 With reference to FIG. 4, an example of a processing process in the wet processing method according to Example 2 will be described in the order of the steps. In FIG. 4, illustration of the vacuum exhaust means 41, the soluble gas supply means 31, the processing liquid supply means 22 and the like connected to the sealed container 21 is omitted.

(板状体装着工程)(図4(a))
密閉容器21内に処理対象の板状体(基板)3を入れて板状体保持機構26で板状体3を保持した状態とした上で、大気導入バルブ27および処理液排出用のバルブ51は閉じて密閉容器21を密閉状態とする。なお、この板状体装着工程では、密閉容器21内の雰囲気は大気6となっている。
(Plate-shaped body mounting step) (FIG. 4 (a))
After the plate-like body (substrate) 3 to be processed is placed in the sealed container 21 and the plate-like body 3 is held by the plate-like body holding mechanism 26, the air introduction valve 27 and the processing liquid discharge valve 51 are placed. Is closed to bring the sealed container 21 into a sealed state. In this plate-like body mounting step, the atmosphere in the sealed container 21 is the atmosphere 6.

(減圧工程)(図4(b))
板状体装着工程の後、真空排気手段41により密閉容器21内を減圧して、減圧雰囲気7(真空雰囲気)とする。なお、実施例1と同様に、減圧工程で減圧された密閉容器21内の真空度は常圧の1000分の1程度(約1〜10Pa)以下であればよい。
(Decompression step) (FIG. 4B)
After the plate-like body mounting step, the inside of the sealed container 21 is depressurized by the vacuum evacuation means 41 to obtain a reduced pressure atmosphere 7 (vacuum atmosphere). As in the first embodiment, the degree of vacuum in the sealed container 21 depressurized in the depressurization step may be about 1/1000 of normal pressure (about 1 to 10 Pa) or less.

(溶解性気体導入工程)(図4(c))
減圧工程の後,密閉容器21内が減圧された状態で、溶解性気体供給手段31により密閉容器21内へ処理液2に溶解可能な溶解性気体8を導入し、これにより、密閉容器21内の雰囲気を溶解性気体8に置換する。なお、実施例1と同様に、溶解性気体導入工程で溶解性気体8を充満した後の密閉容器21内の圧力は常圧でよい。
(Soluble gas introduction step) (FIG. 4C)
After the depressurization step, in a state where the inside of the sealed container 21 is depressurized, the soluble gas 8 that is soluble in the treatment liquid 2 is introduced into the sealed container 21 by the soluble gas supply means 31. The atmosphere is replaced with the soluble gas 8. Note that, as in Example 1, the pressure in the sealed container 21 after the soluble gas 8 is filled in the soluble gas introduction step may be normal pressure.

(処理液導入工程)(図4(d)〜(e))
溶解性気体導入工程の後、密閉容器21内が溶解性気体8で充満された状態で、処理液供給手段22により処理液供給配管25を介して密閉容器21内へ処理液2を導入する。このとき、密閉容器21内の溶解性気体8は処理液2中に溶解していき、溶解性気体8の溶解により密閉容器21内が減圧され、処理液2は密閉容器21内へ吸引されるようにして導入されていく。これに伴い、処理液2が密閉容器21内の隅々まで行き渡るとともに、板状体3の面に沿って濡れ拡がることになる。そして、板状体3における穴4の内部に充満していた溶解性気体8も穴4部まで濡れ広がってきた処理液2に溶解する。これにより、気泡が特に残留しやすい非貫通の微細な穴4を有する基板であっても、穴4の内部に処理液2が行き渡ることになり、穴4の内部に気泡5が残留しない状態で、板状体3に対する処理液2による均一な湿式処理を行うことが可能となる。
(Processing liquid introduction step) (FIGS. 4D to 4E)
After the soluble gas introduction step, the processing liquid 2 is introduced into the sealed container 21 through the processing liquid supply pipe 25 by the processing liquid supply means 22 in a state where the inside of the sealed container 21 is filled with the soluble gas 8. At this time, the soluble gas 8 in the sealed container 21 is dissolved in the treatment liquid 2, the inside of the sealed container 21 is decompressed by the dissolution of the soluble gas 8, and the treatment liquid 2 is sucked into the sealed container 21. In this way it will be introduced. As a result, the treatment liquid 2 spreads to every corner of the sealed container 21 and spreads along the surface of the plate-like body 3. And the soluble gas 8 which filled the inside of the hole 4 in the plate-shaped body 3 also melt | dissolves in the process liquid 2 which has spread to the hole 4 part. As a result, even in the case of a substrate having non-penetrating fine holes 4 in which bubbles are particularly likely to remain, the processing liquid 2 spreads inside the holes 4 and no bubbles 5 remain inside the holes 4. It becomes possible to perform a uniform wet process with the treatment liquid 2 on the plate-like body 3.

(ハ)溶解性気体の種類:
なお、実施例1と同様に、処理液2として水または水を溶媒とした水溶液を用いる場合、溶解性気体8としては水溶性気体を用いることになる。そして、水溶性気体としてはアンモニア、塩化水素、二酸化硫黄などが適用可能であり、特に水に対する溶解度が大きいという点でアンモニア、塩化水素が好適である。
(C) Types of soluble gases:
As in Example 1, when water or an aqueous solution using water as a solvent is used as the treatment liquid 2, a water-soluble gas is used as the soluble gas 8. As the water-soluble gas, ammonia, hydrogen chloride, sulfur dioxide and the like can be applied, and ammonia and hydrogen chloride are particularly preferable in terms of high solubility in water.

(ニ)処理液導入工程後の湿式処理:
実施例2における処理液導入工程(図4(e))の後における(エッチング、洗浄、めっきなどの)湿式処理は、例えば密閉容器21に設けられた(図示されない)めっき用電極部などの湿式処理機構部により行うことができる。
[本発明の適用対象]
(イ)本発明を適用可能な湿式処理としては、半導体基板、プリント配線板などの板状体(基板)に対するエッチング、洗浄、めっきなどが有り、さらに、めっきでは、電解めっき、無電解のいずれにも適用可能である。
(D) Wet treatment after treatment liquid introduction process:
The wet processing (etching, cleaning, plating, etc.) after the processing liquid introduction step (FIG. 4E) in Example 2 is performed, for example, on a wet electrode such as a plating electrode portion (not shown) provided in the sealed container 21. This can be done by the processing mechanism.
[Applicable objects of the present invention]
(A) As wet processing to which the present invention can be applied, there are etching, washing, plating, etc. for plate-like bodies (substrates) such as semiconductor substrates and printed wiring boards. It is also applicable to.

(ロ)上述の実施形態では、本発明による気泡残留抑制効果について、特に非貫通の微細な穴4(図1(b)参照))を有する板状体(基板)3を例として説明したが、貫通構造の微細な穴、その他の複雑形状を有する(半導体基板、プリント配線板などの)板状体(基板)に対する湿式処理においても気泡残留の問題は有り、本発明を有効に適用することができる。   (B) In the above-described embodiment, the bubble residual suppression effect according to the present invention has been described by taking, as an example, the plate-like body (substrate) 3 having the non-penetrating fine holes 4 (see FIG. 1B). In addition, there is a problem of remaining bubbles even in wet processing for a plate-like body (substrate) (such as a semiconductor substrate or a printed wiring board) having fine holes in a penetrating structure or other complicated shapes, and the present invention is effectively applied. Can do.

1・・・湿式処理槽、2・・・処理液、3・・・板状体(基板)、4・・・穴、5・・・気泡、6・・・大気、7・・・減圧雰囲気(真空雰囲気)、8・・・溶解性気体(水溶性気体)
11・・・密閉容器、12・・・処理液供給手段、13・・・処理液槽、14・・・開閉扉、15・・・密閉容器駆動部、16・・・板状体保持機構
21・・・密封容器、22・・・処理液供給手段、23・・・処理液槽、24・・・バルブ、25・・・処理液供給配管、26・・・板状体保持機構、27・・・大気導入バルブ
31・・・溶解性気体供給手段、32・・・溶解性気体供給源、33・・・バルブ、34、34A・・・溶解性気体供給配管
41・・・真空排気手段、42・・・真空ポンプ、43・・・バルブ、44、44A・・・真空排気配管
51・・・バルブ、51・・・処理液排出配管
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Wet processing tank, 2 ... Treatment liquid, 3 ... Plate body (substrate), 4 ... Hole, 5 ... Bubble, 6 ... Air | atmosphere, 7 ... Depressurized atmosphere (Vacuum atmosphere), 8 ... soluble gas (water-soluble gas)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Sealed container, 12 ... Process liquid supply means, 13 ... Process liquid tank, 14 ... Opening / closing door, 15 ... Sealed container drive part, 16 ... Plate-shaped body holding mechanism 21 ... Sealed container, 22 ... Processing liquid supply means, 23 ... Processing liquid tank, 24 ... Valve, 25 ... Processing liquid supply piping, 26 ... Plate body holding mechanism, 27. ..Air introduction valve 31 ... Soluble gas supply means, 32 ... Soluble gas supply source, 33 ... Valve, 34, 34A ... Soluble gas supply piping 41 ... Vacuum exhaust means, 42 ... Vacuum pump, 43 ... Valve, 44, 44A ... Vacuum exhaust pipe 51 ... Valve, 51 ... Processing liquid discharge pipe

Claims (10)

穴を有する板状体を処理液に浸漬して湿式処理を行う湿式処理方法において、
密閉容器内に板状体を保持した状態で密閉容器内の雰囲気を,処理液に溶解可能な溶解性気体に置換する密閉容器内雰囲気置換工程と、
密閉容器内雰囲気置換工程の後,密閉容器内が溶解性気体で充満された状態で密閉容器内へ処理液を導入する処理液導入工程とを備えた
ことを特徴とする湿式処理方法。
In a wet processing method of performing wet processing by immersing a plate-like body having holes in a processing liquid,
An atmosphere replacement process in the sealed container in which the atmosphere in the sealed container is replaced with a soluble gas that can be dissolved in the processing liquid while the plate-like body is held in the sealed container;
A wet processing method comprising a treatment liquid introduction step of introducing a treatment liquid into the sealed container in a state where the inside of the sealed container is filled with a soluble gas after the atmosphere replacement process in the sealed container.
前記密閉容器内雰囲気置換工程として、
密閉容器内に板状体を保持した状態で密閉容器内を減圧する減圧工程と、
減圧工程の後,密閉容器内が減圧された状態で密閉容器内へ溶解性気体を導入する溶解性気体導入工程とを備えた
ことを特徴とする請求項1に記載の湿式処理方法。
As the atmosphere replacement process in the sealed container,
A depressurization step of depressurizing the inside of the sealed container while holding the plate-like body in the sealed container;
The wet processing method according to claim 1, further comprising a soluble gas introduction step of introducing a soluble gas into the sealed container in a state where the pressure in the sealed container is reduced after the decompression process.
処理液を入れた処理液槽を設けるとともに密閉容器に開閉可能な扉部を設け、
処理液導入工程では、密閉容器および扉部のうち少なくとも扉部の部分を処理液槽内の処理液に浸漬させ、この状態で扉部を開放することにより密閉容器内に処理液が導入されるようにした
ことを特徴とする請求項1または2に記載の湿式処理方法。
Provide a treatment liquid tank containing treatment liquid and a door that can be opened and closed in an airtight container.
In the treatment liquid introduction step, at least the door portion of the sealed container and the door is immersed in the treatment liquid in the treatment liquid tank, and the treatment liquid is introduced into the sealed container by opening the door in this state. The wet processing method according to claim 1, wherein the wet processing method is performed.
処理液は,水または水を溶媒とした水溶液であり、
溶解性気体は,水溶性気体である
ことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の湿式処理方法。
The treatment liquid is water or an aqueous solution using water as a solvent,
The wet processing method according to any one of claims 1 to 3, wherein the soluble gas is a water-soluble gas.
水溶性気体は,アンモニアまたは塩化水素である
ことを特徴とする請求項4に記載の湿式処理方法。
The wet processing method according to claim 4, wherein the water-soluble gas is ammonia or hydrogen chloride.
穴を有する板状体を処理液に浸漬して湿式処理を行う湿式処理装置において、
内部に板状体を保持する板状体保持機構部を有するとともに板状体が保持された状態で密閉状態とすることのできる密閉容器と、
密閉容器内の雰囲気を処理液に溶解可能な溶解性気体に置換することのできる密閉容器内雰囲気置換手段と、
密閉容器内が溶解性気体で充満された状態で密閉容器内へ処理液を導入することのできる処理液供給手段とを備えた
ことを特徴とする湿式処理装置。
In a wet processing apparatus that performs wet processing by immersing a plate-like body having holes in a processing liquid,
A sealed container that has a plate-like body holding mechanism portion that holds the plate-like body inside and can be sealed in a state where the plate-like body is held;
An atmosphere replacement means in the sealed container capable of replacing the atmosphere in the sealed container with a soluble gas that can be dissolved in the treatment liquid;
A wet processing apparatus comprising: a processing liquid supply means capable of introducing a processing liquid into the sealed container in a state where the sealed container is filled with a soluble gas.
前記密閉容器内雰囲気置換手段として、
密閉容器内を減圧することのできる真空排気手段と、
密閉容器内が減圧された状態で密閉容器内へ溶解性気体を導入することのできる溶解性気体供給手段とを備えた
ことを特徴とする請求項6に記載の湿式処理装置。
As the atmosphere replacement means in the sealed container,
Vacuum evacuation means capable of reducing the pressure in the sealed container;
The wet processing apparatus according to claim 6, further comprising a soluble gas supply unit capable of introducing a soluble gas into the sealed container in a state where the pressure in the sealed container is reduced.
前記処理液供給手段として、処理液を入れた処理液槽を備えるとともに、密閉容器に配設された開閉可能な扉部と、密閉容器を上昇および下降させることができ,下降時には密閉容器を処理液槽内の処理液に浸漬することのできる密閉容器駆動部とを設け、
密閉容器駆動部により密閉容器および扉部のうち少なくとも扉部の部分を処理液槽内の処理液に浸漬させた状態で扉部を開放することにより密閉容器内に処理液が導入されるようにした
ことを特徴とする請求項6または7に記載の湿式処理装置。
As the processing liquid supply means, a processing liquid tank containing a processing liquid is provided, and an openable / closable door disposed in the hermetic container and the hermetic container can be raised and lowered. Provided with a sealed container drive that can be immersed in the treatment liquid in the liquid tank,
The processing liquid is introduced into the hermetic container by opening the door in a state where at least the door part of the hermetic container and the door part is immersed in the processing liquid in the processing liquid tank by the hermetic container driving unit. The wet processing apparatus according to claim 6 or 7, characterized in that:
処理液は,水または水を溶媒とした水溶液であり、
溶解性気体は、水溶性気体である
ことを特徴とする請求項6ないし8のいずれか1項に記載の湿式処理装置。
The treatment liquid is water or an aqueous solution using water as a solvent,
The wet processing apparatus according to any one of claims 6 to 8, wherein the soluble gas is a water-soluble gas.
水溶性気体は,アンモニアまたは塩化水素である
ことを特徴とする請求項9に記載の湿式処理装置。
The wet processing apparatus according to claim 9, wherein the water-soluble gas is ammonia or hydrogen chloride.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN110079843A (en) * 2018-01-25 2019-08-02 胜思科技有限公司 Methods, devices and systems for the recess in plated substrate

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110079843A (en) * 2018-01-25 2019-08-02 胜思科技有限公司 Methods, devices and systems for the recess in plated substrate
JP2019137916A (en) * 2018-01-25 2019-08-22 セムシスコ ゲーエムベーハーSemsysco GmbH Method and device for plating recessed part of substrate
EP3517656A3 (en) * 2018-01-25 2019-10-16 Semsysco GmbH Method and device for plating a recess in a substrate
GB2574177B (en) * 2018-01-25 2021-07-14 Semsysco Gmbh Method and device for plating a recess in a substrate
US11164748B2 (en) 2018-01-25 2021-11-02 Semsyso GMBH Method and device for plating a recess in a substrate
JP7299025B2 (en) 2018-01-25 2023-06-27 セムシスコ ゲーエムベーハー Method and device for plating recesses in substrates
CN110079843B (en) * 2018-01-25 2023-12-15 胜思科技有限公司 Methods, apparatus and systems for plating recesses in a substrate
US11908698B2 (en) 2018-01-25 2024-02-20 Semsysco Gmbh Method and device for plating a recess in a substrate

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