JP2011075999A - Electrophoretic display device, method of driving the same, and electronic device - Google Patents

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浩 前田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To correct the driving voltage with high accuracy according to the temperature of an electrophoretic element and also achieve cost reduction and miniaturization of the device in an electrophoretic display device. <P>SOLUTION: This electrophoretic display device includes: a pair of first substrate (28) and a second substrate (29); the electrophoretic element (23) held between the first and second substrates; a pixel electrode (21) provided in each pixel on the first substrate; a common electrode (22) provided opposite to the pixel electrode on the second substrate; pixel circuits (24, 25, 110) provided in every pixel on the first substrate and electrically connected to the pixel electrodes; and correction means (221, 222) for detecting a leak current in the off state of at least one transistor constituting the pixel circuit, and correcting the driving voltage to be applied between the pixel electrode and the common electrode according to image data to a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element estimated based on the leak current. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、電気泳動表示装置及びその駆動方法並びに電子機器に係る技術分野に関する。   The present invention relates to an electrophoretic display device, a driving method thereof, and a technical field related to an electronic apparatus.

この種の電気泳動表示装置は、表示領域に配列された複数の画素の各々において、画素電極及び共通電極間に挟持された電気泳動素子に、表示すべき階調に応じて駆動電圧を印加することにより、画像を表示する。このような電気泳動表示装置では、電気泳動素子の光学特性(例えば、光反射率)が温度により変化するため、例えばサーミスター等からなる温度センサーを設け、この温度センサーによって検出された温度に応じて、電気泳動素子に印加する駆動電圧を変更(或いは補正)する技術が知られている。   In this type of electrophoretic display device, in each of a plurality of pixels arranged in a display region, a driving voltage is applied to an electrophoretic element sandwiched between a pixel electrode and a common electrode according to a gradation to be displayed. Thus, an image is displayed. In such an electrophoretic display device, an optical characteristic (for example, light reflectance) of the electrophoretic element changes depending on the temperature. Therefore, a temperature sensor such as a thermistor is provided, and the electrophoretic display device corresponds to the temperature detected by the temperature sensor. A technique for changing (or correcting) the driving voltage applied to the electrophoretic element is known.

例えば特許文献1では、アクティブマトリクス型液晶表示装置において、画素トランジスターのオフ時の光によるリーク電流を検出するトランジスターを有効画素領域の近傍に配置する技術が開示されている。また、例えば特許文献2では、液晶表示装置において、液晶パネル内に液晶材料の温度を検出する半導体素子を形成する技術が開示されている。   For example, Patent Document 1 discloses a technique in an active matrix liquid crystal display device in which a transistor for detecting a leakage current due to light when a pixel transistor is off is disposed in the vicinity of an effective pixel region. For example, Patent Document 2 discloses a technique for forming a semiconductor element for detecting the temperature of a liquid crystal material in a liquid crystal panel in a liquid crystal display device.

特開2005−31164号公報JP 2005-31164 A 特開2000−338518号公報JP 2000-338518 A

しかしながら、上述したような温度センサーを設ける技術によれば、(i)温度センサーを設ける分、製造コストが増大してしまったり、(ii)温度センサーを電気泳動素子の近傍に設けることが困難なため、電気泳動素子の温度を正確に検出することが困難になってしまったりするおそれがあるという技術的問題点がある。   However, according to the technique of providing the temperature sensor as described above, (i) the manufacturing cost increases because the temperature sensor is provided, or (ii) it is difficult to provide the temperature sensor in the vicinity of the electrophoretic element. For this reason, there is a technical problem that it may be difficult to accurately detect the temperature of the electrophoretic element.

本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、電気泳動素子の温度に応じて駆動電圧を高精度に補正可能であり、且つ、装置の低コスト化及び小型化を図ることが可能な電気泳動表示装置及びその駆動方法並びに該電気泳動表示装置を備えた電子機器を提供することを課題とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, for example, and can correct the drive voltage with high accuracy according to the temperature of the electrophoretic element, and can reduce the cost and size of the apparatus. It is an object of the present invention to provide a possible electrophoretic display device, a driving method thereof, and an electronic apparatus including the electrophoretic display device.

本発明の電気泳動表示装置は上記課題を解決するために、複数の画素が配列された表示領域を有する電気泳動表示装置であって、一対の第1及び第2基板と、前記第1及び第2基板間に挟持された電気泳動素子と、前記第1基板上に前記画素毎に設けられた画素電極と、前記第2基板上に前記画素電極に対向するように設けられた共通電極と、前記第1基板上に前記画素毎に設けられ、前記画素電極に電気的に接続された画素回路と、前記画素回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を検出し、前記画素電極及び前記共通電極間に画像データに応じて印加すべき駆動電圧を、前記リーク電流に基づいて推定される前記電気泳動素子の温度に適した電圧に補正する補正手段とを備える。   In order to solve the above problems, an electrophoretic display device of the present invention is an electrophoretic display device having a display region in which a plurality of pixels are arranged, and includes a pair of first and second substrates, and the first and first substrates. An electrophoretic element sandwiched between two substrates, a pixel electrode provided for each pixel on the first substrate, a common electrode provided on the second substrate so as to face the pixel electrode, A pixel circuit provided for each pixel on the first substrate and electrically connected to the pixel electrode; and a leakage current when at least one transistor constituting the pixel circuit is turned off; And correction means for correcting a drive voltage to be applied between the common electrodes in accordance with image data to a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element estimated based on the leakage current.

本発明の電気泳動表示装置によれば、その動作時には、第1基板に画素毎に設けられた画素電極と第2基板に複数の画素に共通して設けられた共通電極との間に挟持された電気泳動素子に、画像データに応じた駆動電圧が印加されることによって、複数の画素が配列された表示領域に画像が表示される。より具体的には、画素電極には画像データに基づく画像電位が画素回路を介して供給され、共通電極には所定電位が供給される。これにより、画素電極及び共通電極間に画像データに応じた駆動電圧が印加される。例えばマイクロカプセルである電気泳動素子の内部には、電気泳動粒子として、例えば、負に帯電された複数の白色粒子と正に帯電された複数の黒色粒子とが含まれている。画素電極及び共通電極間に印加される駆動電圧に応じて、負に帯電された複数の白色粒子及び正に帯電された複数の黒色粒子のうち一方が画素電極側に移動(即ち、泳動)し、他方が共通電極側に移動することにより、共通電極が設けられた第2基板側に画像が表示される。尚、電気泳動素子は、第1及び第2基板間に例えば樹脂からなるバインダーや接着剤によって固定される。   According to the electrophoretic display device of the present invention, during the operation, the electrophoretic display device is sandwiched between the pixel electrode provided for each pixel on the first substrate and the common electrode provided for the plurality of pixels on the second substrate. When an electrophoretic element is applied with a driving voltage corresponding to image data, an image is displayed in a display area in which a plurality of pixels are arranged. More specifically, an image potential based on image data is supplied to the pixel electrode via the pixel circuit, and a predetermined potential is supplied to the common electrode. As a result, a driving voltage corresponding to the image data is applied between the pixel electrode and the common electrode. For example, an electrophoretic element that is a microcapsule includes, as electrophoretic particles, for example, a plurality of negatively charged white particles and a plurality of positively charged black particles. Depending on the driving voltage applied between the pixel electrode and the common electrode, one of the negatively charged white particles and the positively charged black particles moves (ie, migrates) to the pixel electrode side. When the other moves to the common electrode side, an image is displayed on the second substrate side on which the common electrode is provided. The electrophoretic element is fixed between the first and second substrates with, for example, a resin binder or adhesive.

画素回路は、例えば、画素スイッチング用トランジスターや、該画素スイッチング用トランジスターと画素電極との間に電気的に接続され、画素スイッチング用トランジスターを介して供給される画像信号を保持することが可能に構成されたメモリー回路を有しており、少なくとも一のトランジスターを含んで構成される。尚、メモリー回路は、例えばSRAM(Static Random Access Memory)等として構成され、複数のトランジスターを含んでなる。   The pixel circuit, for example, is configured to be able to hold a pixel switching transistor or an image signal that is electrically connected between the pixel switching transistor and the pixel electrode and supplied via the pixel switching transistor. The memory circuit is configured to include at least one transistor. The memory circuit is configured as, for example, an SRAM (Static Random Access Memory) or the like, and includes a plurality of transistors.

本発明では特に、画素回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を検出し、画素電極及び共通電極間に画像データに応じて印加すべき駆動電圧を、リーク電流に基づいて推定される電気泳動素子の温度に適した値に補正する補正手段を備える。補正手段は、例えば、画素電極及び共通電極間に印加すべき駆動電圧を、第1及び第2基板間に電気泳動素子が挟持されてなる電気泳動表示パネルに供給する駆動用IC(Integrated Circuit)の一部として構成される。ここで、画素回路は、第1基板上の表示領域における画素毎に設けられているので、画素回路を構成する少なくとも一のトランジスタの温度は、第1及び第2基板間における表示領域に設けられた電気泳動素子の温度と殆ど或いは実践上完全に同じであるとみなすことができる。よって、補正手段によって、画素回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を検出することにより、該検出されたリーク電流に基づいて電気泳動素子の温度を高精度に推定することができる。更に、補正手段は、画素電極及び共通電極間に印加すべき駆動電圧を、リーク電流に基づいて推定される電気泳動素子の温度に適した電圧に補正する。言い換えれば、補正手段は、検出したリーク電流に基づいて電気泳動素子の温度を推定し、該推定した電気泳動素子の温度に適した駆動電圧が電気泳動素子に印加されるように、駆動電圧を補正する。例えば、補正手段は、電気泳動素子の温度に対する適切な駆動電圧として実験的に或いはシミュレーション等により予め定められた複数の電圧が規定されたテーブルを有しており、該複数の電圧の中から、リーク電流に基づいて推定される電気泳動素子の温度に適した電圧を選択する。よって、補正手段によって、電気泳動素子の温度に応じて駆動電圧を高精度に補正することができる。従って、高品位な表示を行うことが可能となる。加えて、本発明によれば、補正手段によって、画素回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を検出することにより、電気泳動素子の温度を推定することができるので、例えば、第1基板上に、電気泳動素子の温度を検出するための温度センサーを新たに(即ち、画素回路と別個に)設ける必要がなく、当該電気泳動表示装置の低コスト化及び小型化を図ることができる。言い換えれば、本発明によれば、画素回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を、電気泳動素子の温度を検出するための温度センサーとして利用するので、例えばサーミスター等からなる温度センサーを当該電気泳動表示装置に新たに設ける必要がなく、当該電気泳動表示装置の低コスト化及び小型化を実現することができる。   In the present invention, in particular, a leakage current when at least one transistor constituting the pixel circuit is turned off is detected, and a driving voltage to be applied according to image data between the pixel electrode and the common electrode is estimated based on the leakage current. Correction means for correcting to a value suitable for the temperature of the electrophoretic element. For example, the correcting means is a driving IC (Integrated Circuit) that supplies a driving voltage to be applied between the pixel electrode and the common electrode to an electrophoretic display panel in which the electrophoretic element is sandwiched between the first and second substrates. As part of Here, since the pixel circuit is provided for each pixel in the display region on the first substrate, the temperature of at least one transistor constituting the pixel circuit is provided in the display region between the first and second substrates. It can be considered that the temperature of the electrophoretic element is almost the same or practically the same. Therefore, by detecting the leakage current when the at least one transistor constituting the pixel circuit is turned off by the correcting means, the temperature of the electrophoretic element can be estimated with high accuracy based on the detected leakage current. . Further, the correction means corrects the drive voltage to be applied between the pixel electrode and the common electrode to a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element estimated based on the leak current. In other words, the correcting means estimates the temperature of the electrophoretic element based on the detected leakage current, and sets the driving voltage so that a driving voltage suitable for the estimated temperature of the electrophoretic element is applied to the electrophoretic element. to correct. For example, the correction means has a table in which a plurality of voltages determined in advance experimentally or by simulation or the like as appropriate drive voltages with respect to the temperature of the electrophoretic element are defined, and from among the plurality of voltages, A voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element estimated based on the leakage current is selected. Therefore, the driving voltage can be corrected with high accuracy according to the temperature of the electrophoretic element by the correcting means. Therefore, high-quality display can be performed. In addition, according to the present invention, the temperature of the electrophoretic element can be estimated by detecting the leakage current when the at least one transistor constituting the pixel circuit is turned off by the correcting unit. There is no need to provide a new temperature sensor (that is, separately from the pixel circuit) for detecting the temperature of the electrophoretic element on one substrate, and the electrophoretic display device can be reduced in cost and size. it can. In other words, according to the present invention, the leakage current when the at least one transistor constituting the pixel circuit is turned off is used as a temperature sensor for detecting the temperature of the electrophoretic element. There is no need to newly provide a sensor in the electrophoretic display device, and the electrophoretic display device can be reduced in cost and size.

以上説明したように、本発明の電気泳動表示装置によれば、電気泳動素子の温度に応じて駆動電圧を高精度に補正可能であり、高品位な表示を行うことが可能である。更に、装置の低コスト化及び小型化を図ることが可能である。   As described above, according to the electrophoretic display device of the present invention, the drive voltage can be corrected with high accuracy according to the temperature of the electrophoretic element, and high-quality display can be performed. Furthermore, the cost and size of the device can be reduced.

本発明の電気泳動表示装置の一態様では、前記画素回路は、画素スイッチング用トランジスターと、前記画素電極及び前記画素スイッチング用トランジスター間に電気的に接続され、前記画素スイッチング用トランジスターを介して供給される画像信号を保持することが可能なメモリー回路とを有し、前記補正手段は、前記リーク電流として、前記メモリー回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を検出する。   In one aspect of the electrophoretic display device of the present invention, the pixel circuit is electrically connected between a pixel switching transistor, the pixel electrode, and the pixel switching transistor, and is supplied via the pixel switching transistor. A memory circuit capable of holding an image signal, and the correction means detects, as the leakage current, a leakage current when at least one transistor constituting the memory circuit is off.

この態様によれば、例えばSRAM等として構成され、複数のトランジスターを含んでなるメモリー回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流が、補正手段によって検出される。ここで、例えば、メモリー回路がSRAMとして構成される場合には、複数の画素の各々に1つずつ設けられた複数のメモリー回路には、画像信号を保持するための高電位電源電位が供給される高電位電源線、及び該高電位電源電位よりも低い低電位電源電位が供給される低電位電源線が共通して電気的に接続される。このため、複数のメモリー回路の各々を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流は、すべて低電位電源線に流れ込む。よって、複数のメモリー回路の各々における少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を、低電位電源線においてそれらの総和として補正手段によって検出することができるので、電気泳動素子の温度を高精度に推定することができる。従って、補正手段によって、駆動電圧を、電気泳動素子の温度に応じて高精度に補正することができる。   According to this aspect, for example, the leakage current when the at least one transistor constituting the memory circuit configured as an SRAM or the like and including a plurality of transistors is turned off is detected by the correction unit. Here, for example, in the case where the memory circuit is configured as an SRAM, a high potential power supply potential for holding an image signal is supplied to the plurality of memory circuits provided for each of the plurality of pixels. And a low potential power supply line to which a low potential power supply potential lower than the high potential power supply potential is supplied are commonly electrically connected. For this reason, all leakage currents when at least one transistor constituting each of the plurality of memory circuits is turned off flow into the low-potential power line. Therefore, the leakage current when at least one transistor in each of the plurality of memory circuits is off can be detected by the correction means as the sum of them in the low-potential power line, so that the temperature of the electrophoretic element can be estimated with high accuracy. can do. Accordingly, the drive voltage can be corrected with high accuracy according to the temperature of the electrophoretic element by the correcting means.

上述した画素回路が画素スイッチング用トランジスター及びメモリー回路を有する態様では、前記補正手段は、前記リーク電流として、前記画素スイッチング用トランジスターのオフ時のリーク電流を検出してもよい。   In the aspect in which the pixel circuit includes a pixel switching transistor and a memory circuit, the correction unit may detect a leakage current when the pixel switching transistor is off as the leakage current.

この場合には、メモリー回路を構成するトランジスターに加えて、画素スイッチング用トランジスターのオフ時のリーク電流が補正手段によって検出される。よって、補正手段によって検出されるリーク電流の電流量を、例えばメモリー回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流のみが検出される場合と比較して大きくすることができるので、電気泳動素子の温度をより一層高精度に推定することができる。従って、補正手段によって、駆動電圧を、電気泳動素子の温度に応じてより一層高精度に補正することができる。   In this case, in addition to the transistors constituting the memory circuit, the leakage current when the pixel switching transistor is off is detected by the correcting means. Therefore, the amount of leakage current detected by the correction means can be increased compared to the case where only the leakage current when at least one transistor constituting the memory circuit is detected, for example. The temperature of the element can be estimated with higher accuracy. Therefore, the drive voltage can be corrected with higher accuracy according to the temperature of the electrophoretic element by the correction means.

上述した画素回路が画素スイッチング用トランジスター及びメモリー回路を有する態様では、前記画素回路は、前記メモリー回路から出力される前記画像信号に基づく出力信号に応じて、第1及び第2の制御線のいずれかを前記画素電極に電気的に接続するスイッチ回路を有し、前記補正手段は、前記リーク電流として、前記スイッチ回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を検出する。   In the aspect in which the above-described pixel circuit includes a pixel switching transistor and a memory circuit, the pixel circuit can select any of the first and second control lines in accordance with an output signal based on the image signal output from the memory circuit. The correction means detects a leakage current when the at least one transistor constituting the switching circuit is turned off as the leakage current.

この場合には、メモリー回路及び画素電極間にはスイッチ回路が設けられている。スイッチ回路は、メモリー回路から画像信号に基づいて出力される出力信号に応じて、互いに異なる電位を供給する第1及び第2の制御線のいずれかを画素電極に電気的に接続する。より具体的には、スイッチ回路は、例えば複数のトランジスターを含んでなり、画素電極に電気的に接続される制御線を、メモリー回路からの出力に応じて、第1の画素電位の供給する第1の制御線及び第1の電位とは異なる第2の画素電位を供給する第2の制御線間で切り替える。これにより、第1の制御線に電気的に接続された画素電極には、第1の制御線を介して第1の画素電位が供給され、第2の制御線に電気的に接続された画素電極には、第2の制御線を介して第2の画素電位が供給される。   In this case, a switch circuit is provided between the memory circuit and the pixel electrode. The switch circuit electrically connects one of the first and second control lines for supplying different potentials to the pixel electrode in accordance with an output signal output from the memory circuit based on the image signal. More specifically, the switch circuit includes, for example, a plurality of transistors, and a control line electrically connected to the pixel electrode is supplied with a first pixel potential according to an output from the memory circuit. Switching is performed between a first control line and a second control line that supplies a second pixel potential different from the first potential. As a result, the pixel electrode electrically connected to the first control line is supplied with the first pixel potential via the first control line, and the pixel electrically connected to the second control line. A second pixel potential is supplied to the electrode through the second control line.

ここで特に、スイッチ回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流が補正手段によって検出される。よって、補正手段によって、電気泳動素子の温度を高精度に推定することができ、駆動電圧を、電気泳動素子の温度に応じて高精度に補正することができる。   In particular, the leakage current when the at least one transistor constituting the switch circuit is turned off is detected by the correcting means. Therefore, the temperature of the electrophoretic element can be estimated with high accuracy by the correcting means, and the drive voltage can be corrected with high accuracy according to the temperature of the electrophoretic element.

本発明の電気泳動表示装置の他の態様では、前記補正手段は、前記電気泳動素子に所定電圧を印加して、前記電気泳動素子に流れる素子電流を検出し、前記駆動電圧を、前記素子電流及び前記リーク電流に基づいて推定される前記電気泳動素子の温度に適した電圧に補正する。   In another aspect of the electrophoretic display device of the present invention, the correction means applies a predetermined voltage to the electrophoretic element, detects an element current flowing through the electrophoretic element, and determines the driving voltage as the element current. And a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element estimated based on the leakage current.

この態様によれば、補正手段は、画素回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流に加えて、電気泳動素子に流れる素子電流を検出する。ここで、素子電流は、電気泳動素子を流れるので、その温度特性は、電気泳動素子の温度特性に殆ど或いは実践上完全に一致する。よって、補正手段によって、画素回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流に加えて、電気泳動素子に流れる素子電流を検出することにより、該検出されたリーク電流及び素子電流に基づいて、電気泳動素子の温度を高精度に推定することができる。従って、補正手段によって、駆動電圧を、電気泳動素子の温度に応じてより一層高精度に補正することが可能となる。   According to this aspect, the correction unit detects the element current flowing through the electrophoretic element in addition to the leakage current when the at least one transistor constituting the pixel circuit is off. Here, since the element current flows through the electrophoretic element, its temperature characteristic almost or completely coincides with the temperature characteristic of the electrophoretic element in practice. Therefore, by detecting the element current flowing through the electrophoretic element in addition to the leakage current when the at least one transistor constituting the pixel circuit is turned off by the correction unit, the correction means detects the element current based on the detected leakage current and element current. The temperature of the electrophoretic element can be estimated with high accuracy. Therefore, it becomes possible to correct the driving voltage with higher accuracy according to the temperature of the electrophoretic element by the correcting means.

上述した補正手段が素子電流を検出する態様では、前記補正手段は、隣り合う前記画素電極間に電位差を生じさせることにより、前記電気泳動素子に前記所定電圧を印加してもよい。   In the aspect in which the correction unit detects the element current, the correction unit may apply the predetermined voltage to the electrophoretic element by generating a potential difference between the adjacent pixel electrodes.

この場合には、隣り合う画素電極間の電位差によって電気泳動素子に素子電流を発生させることができ、素子電流を確実に検出することができる。よって、電気泳動素子の温度をより一層高精度に推定することができる。   In this case, an element current can be generated in the electrophoretic element by a potential difference between adjacent pixel electrodes, and the element current can be detected reliably. Therefore, the temperature of the electrophoretic element can be estimated with higher accuracy.

上述した補正手段が素子電流を測定する態様では、前記補正手段は、前記画素電極及び前記共通電極間に電位差を生じさせることにより、前記電気泳動素子に前記所定電圧を印加してもよい。   In the aspect in which the correction unit measures the element current, the correction unit may apply the predetermined voltage to the electrophoretic element by generating a potential difference between the pixel electrode and the common electrode.

この場合には、画素電極及び共通電極間の電位差によって電気泳動素子に素子電流を発生させることができ、素子電流を確実に検出することができる。よって、電気泳動素子の温度をより一層高精度に推定することができる。   In this case, an element current can be generated in the electrophoretic element due to a potential difference between the pixel electrode and the common electrode, and the element current can be reliably detected. Therefore, the temperature of the electrophoretic element can be estimated with higher accuracy.

上述した補正手段が素子電流を測定する態様では、前記補正手段は、前記表示領域が分割されてなる複数の分割領域の各々に対して、互いに異なるタイミングで前記電気泳動素子に前記所定電圧を印加して、前記分割領域毎に前記素子電流を検出してもよい。   In the aspect in which the correction unit measures the element current, the correction unit applies the predetermined voltage to the electrophoretic element at different timings to each of a plurality of divided regions obtained by dividing the display region. The element current may be detected for each of the divided regions.

この場合には、電気泳動素子の温度を分割領域毎に推定することができる。よって、補正手段によって、分割領域毎に推定された温度に応じて、駆動電圧をより適切に補正することができる。   In this case, the temperature of the electrophoretic element can be estimated for each divided region. Therefore, the drive voltage can be corrected more appropriately by the correction means in accordance with the temperature estimated for each divided region.

本発明に係る電気泳動表示装置の駆動方法は上記課題を解決するために、複数の画素が配列された表示領域を有する電気泳動表示装置であって、一対の第1及び第2基板と、前記第1及び第2基板間に挟持された電気泳動素子と、前記第1基板上に前記画素毎に設けられた画素電極と、前記第2基板上に前記画素電極に対向するように設けられた共通電極と、前記第1基板上に前記画素毎に設けられ、前記画素電極に電気的に接続された画素回路とを備えた電気泳動表示装置を駆動する電気泳動表示装置の駆動方法であって、前記画素回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を検出する検出工程と、前記画素電極及び前記共通電極間に画像データに応じて印加すべき駆動電圧を、前記リーク電流に基づいて推定される前記電気泳動素子の温度に適した電圧に補正する補正工程とを含む。   In order to solve the above problems, a driving method of an electrophoretic display device according to the present invention is an electrophoretic display device having a display region in which a plurality of pixels are arranged, and includes a pair of first and second substrates, An electrophoretic element sandwiched between a first substrate and a second substrate; a pixel electrode provided for each pixel on the first substrate; and a pixel electrode provided on the second substrate so as to face the pixel electrode. An electrophoretic display device driving method for driving an electrophoretic display device comprising a common electrode and a pixel circuit provided for each pixel on the first substrate and electrically connected to the pixel electrode. A detection step of detecting a leakage current when at least one transistor constituting the pixel circuit is turned off, and a drive voltage to be applied according to image data between the pixel electrode and the common electrode based on the leakage current Estimated That corrects the voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element and a correction step.

本発明に係る電気泳動表示装置の駆動方法によれば、検出工程によって、画素回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を検出する。よって、該リーク電流に基づいて、電気泳動素子の温度を高精度に推定することができる。更に、補正工程によって、画素電極及び前記共通電極間に画像データに応じて印加すべき駆動電圧を、検出工程によって検出されたリーク電流に基づいて推定される電気泳動素子の温度に適した電圧に補正する。よって、電気泳動素子の温度に応じて駆動電圧を高精度に補正することができる。従って、高品位な表示を行うことが可能となる。   According to the driving method of the electrophoretic display device of the invention, the leakage current when the at least one transistor constituting the pixel circuit is turned off is detected by the detection step. Therefore, the temperature of the electrophoretic element can be estimated with high accuracy based on the leakage current. Furthermore, the drive voltage to be applied according to the image data between the pixel electrode and the common electrode is corrected to a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element estimated based on the leak current detected in the detection process. to correct. Therefore, the drive voltage can be corrected with high accuracy according to the temperature of the electrophoretic element. Therefore, high-quality display can be performed.

尚、上述した本発明の電気泳動表示装置に係る各種態様と同様の各種態様を、本発明に係る電気泳動表示装置の駆動方法にも適宜適用可能である。   Various aspects similar to the various aspects related to the electrophoretic display device of the present invention described above can be applied as appropriate to the driving method of the electrophoretic display device according to the present invention.

本発明の電子機器は上記課題を解決するために、上述した本発明の電気泳動表示装置(但し、その各種態様も含む)を備える。   In order to solve the above problems, an electronic apparatus of the present invention includes the above-described electrophoretic display device of the present invention (including various aspects thereof).

本発明の電子機器によれば、上述した本発明の電気泳動表示装置を具備してなるので、高品位な表示を行うことが可能な、例えば、腕時計、電子ペーパー、電子ノート、携帯電話、携帯用オーディオ機器などの各種電子機器を実現できる。   According to the electronic apparatus of the present invention, since the electrophoretic display device of the present invention described above is provided, high-quality display can be performed, for example, wristwatch, electronic paper, electronic notebook, mobile phone, mobile phone, etc. Various electronic devices such as audio equipment can be realized.

本発明の作用及び他の利得は次に説明する発明を実施するための形態から明らかにされる。   The effect | action and other gain of this invention are clarified from the form for implementing invention demonstrated below.

第1実施形態に係る電気泳動表示パネルの全体構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the whole structure of the electrophoretic display panel which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る画素の電気的な構成を示す等価回路図である。FIG. 3 is an equivalent circuit diagram illustrating an electrical configuration of a pixel according to the first embodiment. 第1実施形態に係る電気泳動表示パネルの表示領域における部分断面図である。It is a fragmentary sectional view in the display field of the electrophoretic display panel concerning a 1st embodiment. マイクロカプセルの構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of a microcapsule. 第1実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the drive circuit of the electrophoretic display device which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る温度検出回路の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the temperature detection circuit which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作を説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the correction | amendment operation | movement of the drive voltage by the drive circuit of the electrophoretic display device which concerns on 1st Embodiment. 第2実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作を説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the correction | amendment operation | movement of the drive voltage by the drive circuit of the electrophoretic display device which concerns on 2nd Embodiment. 第3実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作を説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the correction | amendment operation | movement of the drive voltage by the drive circuit of the electrophoretic display device which concerns on 3rd Embodiment. 第4実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作を説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the correction | amendment operation | movement of the drive voltage by the drive circuit of the electrophoretic display device which concerns on 4th Embodiment. 第4実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作時の表示領域における表示画像の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the display image in the display area at the time of the drive voltage correction | amendment operation | movement by the drive circuit of the electrophoretic display apparatus which concerns on 4th Embodiment. 第4実施形態の変形例に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作時の表示領域における表示画像の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the display image in the display area at the time of the drive voltage correction | amendment operation | movement by the drive circuit of the electrophoretic display apparatus which concerns on the modification of 4th Embodiment. 第4実施形態の変形例に係る、駆動電圧の補正動作時において、すべての画素が互いに同じ階調を表示する分割領域の互いに隣り合う画素の状態を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the state of the mutually adjacent pixel of the division area which all the pixels display the mutually same gradation at the time of the drive voltage correction | amendment operation | movement based on the modification of 4th Embodiment. 第5実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作を説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the correction | amendment operation | movement of the drive voltage by the drive circuit of the electrophoretic display device which concerns on 5th Embodiment. 電気泳動表示装置を適用した電子機器の一例たる電子ペーパーの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the electronic paper which is an example of the electronic device to which the electrophoretic display apparatus is applied. 電気泳動表示装置を適用した適用した電子機器の一例たる電子ノートの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the electronic notebook which is an example of the electronic device to which the electrophoretic display apparatus is applied.

以下では、本発明の実施形態について図を参照しつつ説明する。以下の実施形態では、本発明の電気泳動表示装置の一例であるアクティブマトリクス駆動方式の電気泳動表示装置を例にとる。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following embodiments, an active matrix driving type electrophoretic display device, which is an example of the electrophoretic display device of the present invention, is taken as an example.

<第1実施形態>
第1実施形態に係る電気泳動表示装置について、図1から図7を参照して説明する。
<First Embodiment>
The electrophoretic display device according to the first embodiment will be described with reference to FIGS.

先ず、本実施形態に係る電気泳動表示装置が備える電気泳動表示パネルの全体構成について、図1及び図2を参照して説明する。   First, the overall configuration of the electrophoretic display panel provided in the electrophoretic display device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2.

図1は、本実施形態に係る電気泳動表示パネルの全体構成を示すブロック図である。   FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of the electrophoretic display panel according to this embodiment.

図1において、本実施形態に係る電気泳動表示パネル1は、m行×n列分の画素20がマトリクス状(二次元平面的)に配列された表示領域3aを有している。表示領域3aには、m本の走査線40(即ち、走査線Y1、Y2、…、Ym)と、n本のデータ線50(即ち、データ線X1、X2、…、Xn)とが互いに交差するように設けられている。具体的には、m本の走査線40は、行方向(即ち、X方向)に延在し、n本のデータ線50は、列方向(即ち、Y方向)に延在している。m本の走査線40とn本のデータ線50との交差に対応して画素20が配置されている。   In FIG. 1, an electrophoretic display panel 1 according to this embodiment has a display region 3a in which pixels 20 of m rows × n columns are arranged in a matrix (two-dimensional plane). In the display area 3a, m scanning lines 40 (that is, scanning lines Y1, Y2,..., Ym) and n data lines 50 (that is, data lines X1, X2,..., Xn) intersect each other. It is provided to do. Specifically, the m scanning lines 40 extend in the row direction (that is, the X direction), and the n data lines 50 extend in the column direction (that is, the Y direction). The pixels 20 are arranged corresponding to the intersections of the m scanning lines 40 and the n data lines 50.

電気泳動表示パネル1は、走査線駆動回路60及びデータ線駆動回路70を備えている。   The electrophoretic display panel 1 includes a scanning line driving circuit 60 and a data line driving circuit 70.

走査線駆動回路60は、タイミング信号に基づいて、走査線Y1、Y2、…、Ymの各々に走査信号をパルス的に順次供給する。データ線駆動回路70は、タイミング信号に基づいて、データ線X1、X2、…、Xnに画像信号を供給する。画像信号は、高電位レベル(以下「ハイレベル」という。例えば5V)又は低電位レベル(以下「ローレベル」という。例えば0V)の2値的なレベルをとる。   The scanning line driving circuit 60 sequentially supplies a scanning signal in a pulse manner to each of the scanning lines Y1, Y2,..., Ym based on the timing signal. The data line driving circuit 70 supplies image signals to the data lines X1, X2,..., Xn based on the timing signal. The image signal takes a binary level of a high potential level (hereinafter referred to as “high level”, for example, 5 V) or a low potential level (hereinafter referred to as “low level”, for example, 0 V).

ここに、各画素20は、高電位電源線91、低電位電源線92、共通電位線93、第1の制御線94及び第2の制御線95に電気的に接続されている。高電位電源線91、低電位電源線92、共通電位線93、第1の制御線94及び第2の制御線95は夫々、典型的には図1中に示すように行方向(X方向)に沿って配列する画素20からなる画素列毎に、画素列に属する画素20に共通に配線される。   Here, each pixel 20 is electrically connected to a high potential power line 91, a low potential power line 92, a common potential line 93, a first control line 94, and a second control line 95. The high potential power supply line 91, the low potential power supply line 92, the common potential line 93, the first control line 94, and the second control line 95 are typically in the row direction (X direction) as shown in FIG. Each pixel column composed of the pixels 20 arranged along the line is wired in common to the pixels 20 belonging to the pixel column.

図2は、画素の電気的な構成を示す等価回路図である。   FIG. 2 is an equivalent circuit diagram illustrating the electrical configuration of the pixel.

図2において、画素20は、画素スイッチング用トランジスター24と、メモリー回路25と、スイッチ回路110と、画素電極21と、共通電極22と、電気泳動素子23とを備えている。尚、画素スイッチング用トランジスター24、メモリー回路25及びスイッチ回路110が、本発明に係る「画素回路」の一例を構成する。   In FIG. 2, the pixel 20 includes a pixel switching transistor 24, a memory circuit 25, a switch circuit 110, a pixel electrode 21, a common electrode 22, and an electrophoretic element 23. The pixel switching transistor 24, the memory circuit 25, and the switch circuit 110 constitute an example of the “pixel circuit” according to the present invention.

画素スイッチング用トランジスター24は、一例としてN型トランジスタで構成されている。画素スイッチング用トランジスター24は、そのゲートが走査線40に電気的に接続されており、そのソースがデータ線50に電気的に接続されており、そのドレインがメモリー回路25の入力端子N1に電気的に接続されている。画素スイッチング用トランジスター24は、データ線駆動回路70(図1参照)からデータ線50を介して供給される画像信号を、走査線駆動回路60(図1参照)から走査線40を介してパルス的に供給される走査信号に応じたタイミングで、メモリー回路25の入力端子N1に出力する。   The pixel switching transistor 24 is configured by an N-type transistor as an example. The pixel switching transistor 24 has its gate electrically connected to the scanning line 40, its source electrically connected to the data line 50, and its drain electrically connected to the input terminal N 1 of the memory circuit 25. It is connected to the. The pixel switching transistor 24 is configured to pulse the image signal supplied from the data line driving circuit 70 (see FIG. 1) via the data line 50 via the scanning line 40 from the scanning line driving circuit 60 (see FIG. 1). Is output to the input terminal N1 of the memory circuit 25 at a timing corresponding to the scanning signal supplied to the memory circuit 25.

メモリー回路25は、インバータ回路25a及び25bを有しており、SRAMとして構成されている。   The memory circuit 25 includes inverter circuits 25a and 25b, and is configured as an SRAM.

インバータ回路25a及び25bは、互いの入力端子に他方の出力端子が電気的に接続されたループ構造を有している。即ち、インバータ回路25aの入力端子とインバータ回路25bの出力端子とが互いに電気的に接続され、インバータ回路25bの入力端子とインバータ回路25aの出力端子とが互いに電気的に接続されている。インバータ回路25aの入力端子が、メモリー回路25の入力端子N1として構成されており、インバータ回路25aの出力端子が、メモリー回路25の出力端子N2として構成されている。   The inverter circuits 25a and 25b have a loop structure in which the other output terminal is electrically connected to the input terminals of each other. That is, the input terminal of the inverter circuit 25a and the output terminal of the inverter circuit 25b are electrically connected to each other, and the input terminal of the inverter circuit 25b and the output terminal of the inverter circuit 25a are electrically connected to each other. The input terminal of the inverter circuit 25a is configured as the input terminal N1 of the memory circuit 25, and the output terminal of the inverter circuit 25a is configured as the output terminal N2 of the memory circuit 25.

インバータ回路25aは、N型トランジスター25a1及びP型トランジスター25a2を有している。N型トランジスター25a1及びP型トランジスター25a2のゲートは、メモリー回路25の入力端子N1に電気的に接続されている。N型トランジスター25a1のソースは、低電位電源電位Vssが供給される低電位電源線92に電気的に接続されている。P型トランジスター25a2のソースは、高電位電源電位Vddが供給される高電位電源線91に電気的に接続されている。N型トランジスター25a1及びP型トランジスター25a2のドレインは、メモリー回路25の出力端子N2に電気的に接続されている。   The inverter circuit 25a has an N-type transistor 25a1 and a P-type transistor 25a2. The gates of the N-type transistor 25 a 1 and the P-type transistor 25 a 2 are electrically connected to the input terminal N 1 of the memory circuit 25. The source of the N-type transistor 25a1 is electrically connected to a low potential power supply line 92 to which a low potential power supply potential Vss is supplied. The source of the P-type transistor 25a2 is electrically connected to a high potential power supply line 91 to which a high potential power supply potential Vdd is supplied. The drains of the N-type transistor 25 a 1 and the P-type transistor 25 a 2 are electrically connected to the output terminal N 2 of the memory circuit 25.

インバータ回路25bは、N型トランジスター25b1及びP型トランジスター25b2を有している。N型トランジスター25b1及びP型トランジスター25b2のゲートは、メモリー回路25の出力端子N2に電気的に接続されている。N型トランジスター25b1のソースは、低電位電源電位Vssが供給される低電位電源線92に電気的に接続されている。P型トランジスター25b2のソースは、高電位電源電位Vddが供給される高電位電源線91に電気的に接続されている。N型トランジスター25b1及びP型トランジスター25b2のドレインは、メモリー回路25の入力端子N1に電気的に接続されている。   The inverter circuit 25b has an N-type transistor 25b1 and a P-type transistor 25b2. The gates of the N-type transistor 25 b 1 and the P-type transistor 25 b 2 are electrically connected to the output terminal N 2 of the memory circuit 25. The source of the N-type transistor 25b1 is electrically connected to a low potential power supply line 92 to which a low potential power supply potential Vss is supplied. The source of the P-type transistor 25b2 is electrically connected to a high potential power supply line 91 to which a high potential power supply potential Vdd is supplied. The drains of the N-type transistor 25 b 1 and the P-type transistor 25 b 2 are electrically connected to the input terminal N 1 of the memory circuit 25.

メモリー回路25は、その入力端子N1にハイレベルの画像信号が入力されると、その出力端子N2から低電位電源電位Vssを出力し、その入力端子N1にローレベルの画像信号が入力されると、その出力端子N2から高電位電源電位Vddを出力する。即ち、メモリー回路25は、入力された画像信号がハイレベルであるかローレベルであるかに応じて、低電位電源電位Vss又は高電位電源電位Vddを出力する。言い換えれば、メモリー回路25は、入力された画像信号を、低電位電源電位Vss又は高電位電源電位Vddとして記憶可能に構成されている。   When a high level image signal is input to the input terminal N1, the memory circuit 25 outputs a low potential power supply potential Vss from the output terminal N2, and when a low level image signal is input to the input terminal N1. The high potential power supply potential Vdd is output from the output terminal N2. That is, the memory circuit 25 outputs the low potential power supply potential Vss or the high potential power supply potential Vdd depending on whether the input image signal is at a high level or a low level. In other words, the memory circuit 25 is configured to be able to store the input image signal as the low potential power supply potential Vss or the high potential power supply potential Vdd.

スイッチ回路110は、第1のトランスミッションゲート111及び第2のトランスミッションゲート112を備えている。   The switch circuit 110 includes a first transmission gate 111 and a second transmission gate 112.

第1のトランスミッションゲート111は、P型トランジスター111p及びN型トランジスター111nを備えている。P型トランジスター111p及びN型トランジスター111nのソースは、第1の制御線94に電気的に接続されている。P型トランジスター111p及びN型トランジスター111nのドレインは、画素電極21に電気的に接続されている。P型トランジスター111pのゲートは、メモリー回路25の入力端子N1に電気的に接続されており、N型トランジスター111nのゲートは、メモリー回路25の出力端子N2に電気的に接続されている。   The first transmission gate 111 includes a P-type transistor 111p and an N-type transistor 111n. The sources of the P-type transistor 111p and the N-type transistor 111n are electrically connected to the first control line 94. The drains of the P-type transistor 111p and the N-type transistor 111n are electrically connected to the pixel electrode 21. The gate of the P-type transistor 111p is electrically connected to the input terminal N1 of the memory circuit 25, and the gate of the N-type transistor 111n is electrically connected to the output terminal N2 of the memory circuit 25.

第2のトランスミッションゲート112は、P型トランジスター112p及びN型トランジスター112nを備えている。P型トランジスター112p及びN型トランジスター112nのソースは、第2の制御線95に電気的に接続されている。P型トランジスター112p及びN型トランジスター112nのドレインは、画素電極21に電気的に接続されている。P型トランジスター112pのゲートは、メモリー回路25の出力端子N2に電気的に接続されており、N型トランジスター112nのゲートは、メモリー回路25の入力端子N1に電気的に接続されている。   The second transmission gate 112 includes a P-type transistor 112p and an N-type transistor 112n. The sources of the P-type transistor 112p and the N-type transistor 112n are electrically connected to the second control line 95. The drains of the P-type transistor 112p and the N-type transistor 112n are electrically connected to the pixel electrode 21. The gate of the P-type transistor 112p is electrically connected to the output terminal N2 of the memory circuit 25, and the gate of the N-type transistor 112n is electrically connected to the input terminal N1 of the memory circuit 25.

スイッチ回路110は、メモリー回路25に入力される画像信号に応じて、第1の制御線94及び第2の制御線95のいずれか一方の制御線を択一的に選択して、その一方の制御線を画素電極21に電気的に接続する。   The switch circuit 110 selectively selects one of the first control line 94 and the second control line 95 in accordance with the image signal input to the memory circuit 25, and selects one of the control lines. The control line is electrically connected to the pixel electrode 21.

具体的には、メモリー回路25の入力端子N1にハイレベルの画像信号が入力されると、メモリー回路25からN型トランジスター111n及びP型トランジスター112pのゲートに低電位電源電位Vssが出力されると共に、P型トランジスター111p及びN型トランジスター112nのゲートに高電位電源電位Vddが出力されることにより、第2のトランスミッションゲート112を構成するP型トランジスター112p及びN型トランジスター112nのみがオン状態となり、第1のトランスミッションゲート111を構成するP型トランジスター111p及びN型トランジスター111nはオフ状態となる。一方、メモリー回路25の入力端子N1にローレベルの画像信号が入力されると、メモリー回路25からN型トランジスター111n及びP型トランジスター112pのゲートに高電位電源電位Vddが出力されると共に、P型トランジスター111p及びN型トランジスター112nのゲートに低電位電源電位Vssが出力されることにより、第1のトランスミッションゲート111を構成するP型トランジスター111p及びN型トランジスター111nのみがオン状態となり、第2のトランスミッションゲート112を構成するP型トランジスター112p及びN型トランジスター112nはオフ状態となる。つまり、メモリー回路25の入力端子N1にハイレベルの画像信号が入力された場合には、第2のトランスミッションゲート112のみがオン状態となり、一方、メモリー回路25の入力端子N1にローレベルの画像信号が入力された場合には、第1のトランスミッションゲート111のみがオン状態となる。   Specifically, when a high-level image signal is input to the input terminal N1 of the memory circuit 25, the low-potential power supply potential Vss is output from the memory circuit 25 to the gates of the N-type transistor 111n and the P-type transistor 112p. Since the high potential power supply potential Vdd is output to the gates of the P-type transistor 111p and the N-type transistor 112n, only the P-type transistor 112p and the N-type transistor 112n constituting the second transmission gate 112 are turned on. The P-type transistor 111p and the N-type transistor 111n constituting one transmission gate 111 are turned off. On the other hand, when a low-level image signal is input to the input terminal N1 of the memory circuit 25, the high potential power supply potential Vdd is output from the memory circuit 25 to the gates of the N-type transistor 111n and the P-type transistor 112p, and the P-type By outputting the low-potential power supply potential Vss to the gates of the transistor 111p and the N-type transistor 112n, only the P-type transistor 111p and the N-type transistor 111n constituting the first transmission gate 111 are turned on, and the second transmission The P-type transistor 112p and the N-type transistor 112n constituting the gate 112 are turned off. That is, when a high-level image signal is input to the input terminal N1 of the memory circuit 25, only the second transmission gate 112 is turned on, while a low-level image signal is input to the input terminal N1 of the memory circuit 25. Is input, only the first transmission gate 111 is turned on.

複数の画素20の各々の画素電極21は、スイッチ回路110によって画像信号に応じて択一的に選択された第1の制御線94又は第2の制御線95に電気的に接続される。その際、複数の画素20の各々の画素電極21は、スイッチ94s又は95sのオンオフ状態に応じて、第1の電位S1又は第2の電位S2が画素電位として供給される、或いはハイインピーダンス状態とされる。   Each pixel electrode 21 of the plurality of pixels 20 is electrically connected to the first control line 94 or the second control line 95 that is alternatively selected according to the image signal by the switch circuit 110. At that time, the pixel electrode 21 of each of the plurality of pixels 20 is supplied with the first potential S1 or the second potential S2 as a pixel potential according to the on / off state of the switch 94s or 95s, or is in a high impedance state. Is done.

より具体的には、ローレベルの画像信号が供給される画素20については、第1のトランスミッションゲート111のみがオン状態となり、その画素20の画素電極21は、第1の制御線94に電気的に接続され、スイッチ94sのオンオフ状態に応じて第1の電位S1が供給され、又は、ハイインピーダンス状態とされる。一方、ハイレベルの画像信号が供給される画素20については、第2のトランスミッションゲート112のみがオン状態となり、その画素20の画素電極21は、第2の制御線95に電気的に接続され、スイッチ95sのオンオフ状態に応じて第2の電位S2が供給され、又は、ハイインピーダンス状態とされる。   More specifically, for the pixel 20 to which the low-level image signal is supplied, only the first transmission gate 111 is turned on, and the pixel electrode 21 of the pixel 20 is electrically connected to the first control line 94. The first potential S1 is supplied in accordance with the on / off state of the switch 94s, or a high impedance state is established. On the other hand, for the pixel 20 to which the high-level image signal is supplied, only the second transmission gate 112 is turned on, and the pixel electrode 21 of the pixel 20 is electrically connected to the second control line 95, The second potential S2 is supplied according to the on / off state of the switch 95s, or the high impedance state is set.

画素電極21は、電気泳動素子23を介して共通電極22と互いに対向するように配置されている。共通電極22は、共通電位Vcomが供給される共通電位線93に電気的に接続されている。   The pixel electrode 21 is disposed so as to face the common electrode 22 through the electrophoretic element 23. The common electrode 22 is electrically connected to a common potential line 93 to which a common potential Vcom is supplied.

電気泳動素子23は、電気泳動粒子をそれぞれ含んでなる複数のマイクロカプセルから構成されている。   The electrophoretic element 23 is composed of a plurality of microcapsules each containing electrophoretic particles.

次に、本実施形態に係る電気泳動表示パネルの具体的な構成について、図3及び図4を参照して説明する。   Next, a specific configuration of the electrophoretic display panel according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 3 and 4.

図3は、本実施形態に係る電気泳動表示パネルの表示領域における部分断面図である。   FIG. 3 is a partial cross-sectional view of the display area of the electrophoretic display panel according to this embodiment.

図3において、電気泳動表示パネル1は、素子基板28と対向基板29との間に電気泳動素子23が挟持される構成となっている。尚、本実施形態では、対向基板29側に画像を表示することを前提として説明する。また、素子基板28は本発明に係る「第1基板」の一例であり、対向基板29は本発明に係る「第2基板」の一例である。   In FIG. 3, the electrophoretic display panel 1 is configured such that an electrophoretic element 23 is sandwiched between an element substrate 28 and a counter substrate 29. In the present embodiment, description will be made on the assumption that an image is displayed on the counter substrate 29 side. The element substrate 28 is an example of a “first substrate” according to the present invention, and the counter substrate 29 is an example of a “second substrate” according to the present invention.

素子基板28は、例えばガラスやプラスチック等からなる基板である。素子基板28上には、ここでは図示を省略するが、図2を参照して上述した画素スイッチング用トランジスター24、メモリー回路25、スイッチ回路110、走査線40、データ線50、高電位電源線91、低電位電源線92、共通電位線93、第1の制御線94、第2の制御線95等が作り込まれた積層構造が形成されている。この積層構造の上層側に複数の画素電極21がマトリクス状に設けられている。   The element substrate 28 is a substrate made of, for example, glass or plastic. Although not shown here on the element substrate 28, the pixel switching transistor 24, the memory circuit 25, the switch circuit 110, the scanning line 40, the data line 50, and the high potential power supply line 91 described above with reference to FIG. 2. A laminated structure in which the low potential power supply line 92, the common potential line 93, the first control line 94, the second control line 95, and the like are formed is formed. A plurality of pixel electrodes 21 are provided in a matrix on the upper layer side of the stacked structure.

対向基板29は、例えばガラスやプラスチック等からなる透明な基板である。対向基板29における素子基板28との対向面上には、共通電極22が複数の画素電極9aと対向してベタ状に形成されている。共通電極22は、例えばマグネシウム銀(MgAg)、インジウム・スズ酸化物(ITO)、インジウム・亜鉛酸化物(IZO)等の透明導電材料から形成されている。   The counter substrate 29 is a transparent substrate made of, for example, glass or plastic. On the surface of the counter substrate 29 facing the element substrate 28, the common electrode 22 is formed in a solid shape so as to face the plurality of pixel electrodes 9a. The common electrode 22 is formed of a transparent conductive material such as magnesium silver (MgAg), indium / tin oxide (ITO), indium / zinc oxide (IZO), or the like.

電気泳動素子23は、電気泳動粒子をそれぞれ含んでなる複数のマイクロカプセル80から構成されており、例えば樹脂等からなるバインダー30及び接着層31によって素子基板28及び対向基板29間で固定されている。尚、本実施形態に係る電気泳動表示パネル1は、製造プロセスにおいて、電気泳動素子23が予め対向基板29側にバインダー30によって固定されてなる電気泳動シートが、別途製造された、画素電極21等が形成された素子基板28側に接着層31によって接着されている。   The electrophoretic element 23 is composed of a plurality of microcapsules 80 each including electrophoretic particles, and is fixed between the element substrate 28 and the counter substrate 29 by a binder 30 and an adhesive layer 31 made of, for example, resin. . In the electrophoretic display panel 1 according to this embodiment, in the manufacturing process, an electrophoretic sheet in which the electrophoretic element 23 is fixed to the counter substrate 29 side in advance by the binder 30 is separately manufactured. It is bonded to the element substrate 28 side where is formed by an adhesive layer 31.

マイクロカプセル80は、画素電極21及び共通電極22間に挟持され、1つの画素20内に(言い換えれば、1つの画素電極21に対して)1つ又は複数配置されている。   One or a plurality of microcapsules 80 are sandwiched between the pixel electrode 21 and the common electrode 22 and arranged in one pixel 20 (in other words, with respect to one pixel electrode 21).

図4は、マイクロカプセルの構成を示す模式図である。尚、図4では、マイクロカプセルの断面を模式的に示している。   FIG. 4 is a schematic diagram showing the configuration of the microcapsule. In addition, in FIG. 4, the cross section of the microcapsule is shown typically.

図4において、マイクロカプセル80は、被膜85の内部に分散媒81と、複数の白色粒子82と、複数の黒色粒子83とが封入されてなる。マイクロカプセル80は、例えば、50um程度の粒径を有する球状に形成されている。   In FIG. 4, the microcapsule 80 is formed by enclosing a dispersion medium 81, a plurality of white particles 82, and a plurality of black particles 83 inside a coating 85. The microcapsule 80 is formed in a spherical shape having a particle size of about 50 μm, for example.

被膜85は、マイクロカプセル80の外殻として機能し、ポリメタクリル酸メチル、ポリメタクリル酸エチル等のアクリル樹脂、ユリア樹脂、アラビアゴム等の透光性を有する高分子樹脂から形成されている。   The coating 85 functions as an outer shell of the microcapsule 80 and is formed of a translucent polymer resin such as acrylic resin such as polymethyl methacrylate and polyethyl methacrylate, urea resin, and gum arabic.

分散媒81は、白色粒子82及び黒色粒子83をマイクロカプセル80内(言い換えれば、被膜85内)に分散させる媒質である。分散媒81としては、水や、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、オクタノール、メチルセルソルブ等のアルコール系溶媒、酢酸エチル、酢酸ブチル等の各種エステル類、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン類、ペンタン、ヘキサン、オクタン等の脂肪族炭化水素、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサン等の脂環式炭化水素、ベンゼン、トルエンや、キシレン、ヘキシルベンゼン、へブチルベンゼン、オクチルベンゼン、ノニルベンゼン、デシルベンゼン、ウンデシルベンゼン、ドデシルベンゼン、トリデシルベンゼン、テトラデシルベンゼン等の長鎖アルキル基を有するベンゼン類等の芳香族炭化水素、塩化メチレン、クロロホルム、四塩化炭素、1、2−ジクロロエタン等のハロゲン化炭化水素、カルボン酸塩やその他の油類を単独で又は混合して用いることができる。また、分散媒81には、界面活性剤が配合されてもよい。   The dispersion medium 81 is a medium for dispersing the white particles 82 and the black particles 83 in the microcapsules 80 (in other words, in the coating 85). Examples of the dispersion medium 81 include water, alcohol solvents such as methanol, ethanol, isopropanol, butanol, octanol, and methyl cellosolve, various esters such as ethyl acetate and butyl acetate, and ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, and methyl isobutyl ketone. , Aliphatic hydrocarbons such as pentane, hexane and octane, alicyclic hydrocarbons such as cyclohexane and methylcyclohexane, benzene, toluene, xylene, hexylbenzene, hebutylbenzene, octylbenzene, nonylbenzene, decylbenzene, undecyl Aromatic hydrocarbons such as benzenes with long chain alkyl groups such as benzene, dodecylbenzene, tridecylbenzene, tetradecylbenzene, etc., halo such as methylene chloride, chloroform, carbon tetrachloride, 1,2-dichloroethane, etc. Emissions of hydrocarbons, carboxylate or other oils may be used singly or as a mixture. In addition, a surfactant may be added to the dispersion medium 81.

白色粒子82は、例えば、二酸化チタン、亜鉛華(酸化亜鉛)、三酸化アンチモン等の白色顔料からなる粒子(高分子或いはコロイド)であり、例えば負に帯電されている。   The white particles 82 are particles (polymer or colloid) made of a white pigment such as titanium dioxide, zinc white (zinc oxide), and antimony trioxide, and are negatively charged, for example.

黒色粒子83は、例えば、アニリンブラック、カーボンブラック等の黒色顔料からなる粒子(高分子或いはコロイド)であり、例えば正に帯電されている。   The black particles 83 are particles (polymer or colloid) made of a black pigment such as aniline black or carbon black, and are positively charged, for example.

このため、白色粒子82及び黒色粒子83は、画素電極21と共通電極22との間の電位差によって発生する電場によって、分散媒81中を移動することができる。   For this reason, the white particles 82 and the black particles 83 can move in the dispersion medium 81 by the electric field generated by the potential difference between the pixel electrode 21 and the common electrode 22.

これらの顔料には、必要に応じ、電解質、界面活性剤、金属石鹸、樹脂、ゴム、油、ワニス、コンパウンド等の粒子からなる荷電制御剤、チタン系カップリング剤、アルミニウム系カップリング剤、シラン系カップリング剤等の分散剤、潤滑剤、安定化剤等を添加することができる。   These pigments include electrolytes, surfactants, metal soaps, resins, rubbers, oils, varnishes, charge control agents composed of particles such as compounds, titanium-based coupling agents, aluminum-based coupling agents, silanes as necessary. A dispersant such as a system coupling agent, a lubricant, a stabilizer, and the like can be added.

図3及び図4において、画素電極21と共通電極22との間に、相対的に共通電極22の電位が高くなるように電圧が印加された場合には、正に帯電された黒色粒子83はクーロン力によってマイクロカプセル80内で画素電極21側に引き寄せられると共に、負に帯電された白色粒子82はクーロン力によってマイクロカプセル80内で共通電極22側に引き寄せられる。この結果、マイクロカプセル80内の表示面側(即ち、共通電極22側)に白色粒子82が集まることで、表示領域3aにこの白色粒子82の色(即ち、白色)を表示することができる。逆に、画素電極21と共通電極22との間に、相対的に画素電極21の電位が高くなるように電圧が印加された場合には、負に帯電された白色粒子82がクーロン力によって画素電極21側に引き寄せられると共に、正に帯電された黒色粒子83はクーロン力によって共通電極22側に引き寄せられる。この結果、マイクロカプセル80の表示面側に黒色粒子83が集まることで、表示領域3aにこの黒色粒子83の色(即ち、黒色)を表示することができる。   3 and FIG. 4, when a voltage is applied between the pixel electrode 21 and the common electrode 22 so that the potential of the common electrode 22 is relatively high, the positively charged black particles 83 are While being attracted to the pixel electrode 21 side in the microcapsule 80 by the Coulomb force, the negatively charged white particles 82 are attracted to the common electrode 22 side in the microcapsule 80 by the Coulomb force. As a result, the white particles 82 gather on the display surface side (that is, the common electrode 22 side) in the microcapsule 80, so that the color of the white particles 82 (that is, white) can be displayed in the display region 3a. Conversely, when a voltage is applied between the pixel electrode 21 and the common electrode 22 so that the potential of the pixel electrode 21 becomes relatively high, the negatively charged white particles 82 are generated by the Coulomb force. While attracted to the electrode 21 side, the positively charged black particles 83 are attracted to the common electrode 22 side by Coulomb force. As a result, the black particles 83 gather on the display surface side of the microcapsule 80, whereby the color of the black particles 83 (that is, black) can be displayed in the display area 3a.

尚、画素電極21及び共通電極22間における白色粒子82及び黒色粒子83の分布状態によって、白色と黒色との中間階調である、ライトグレー、グレー、ダークグレー等の灰色を表示することも可能である。また、白色粒子82、黒色粒子83に用いる顔料を、例えば赤色、緑色、青色等の顔料に代えることによって、赤色、緑色、青色等を表示することができる。   Depending on the distribution state of the white particles 82 and the black particles 83 between the pixel electrode 21 and the common electrode 22, it is also possible to display gray such as light gray, gray, dark gray and the like, which is an intermediate gradation between white and black. is there. Moreover, red, green, blue, etc. can be displayed by replacing the pigment used for the white particle 82 and the black particle 83 with pigments, such as red, green, and blue, for example.

次に、以上説明した電気泳動表示パネル1を駆動する駆動回路について、図5から図7を参照して説明する。尚、以下に説明する駆動回路は、電気泳動表示パネル1に走査線駆動回路60、データ線駆動回路70等と共に内蔵されて作り込まれてもよいし、例えば外部回路としてパネル外に設けられ電気泳動表示パネル1に実装されるようにしてもよい。また、走査線駆動回路60及びデータ線駆動回路70の少なくとも一方も外部回路として設けられ、電気泳動表示パネル1に実装されるようにしてもよい。   Next, a driving circuit for driving the electrophoretic display panel 1 described above will be described with reference to FIGS. The driving circuit described below may be built in the electrophoretic display panel 1 together with the scanning line driving circuit 60, the data line driving circuit 70, or the like. For example, the driving circuit may be provided outside the panel as an external circuit. You may make it mount in the electrophoresis display panel 1. FIG. Further, at least one of the scanning line driving circuit 60 and the data line driving circuit 70 may be provided as an external circuit and mounted on the electrophoretic display panel 1.

図5は、本実施形態に係る電気泳動表示パネルを駆動する駆動回路の構成を概略的に示すブロック図である。   FIG. 5 is a block diagram schematically showing a configuration of a drive circuit for driving the electrophoretic display panel according to the present embodiment.

図5において、本実施形態に係る電気泳動表示装置は、図1から図4を参照して上述した電気泳動表示パネル1と、駆動回路200とを備えている。   In FIG. 5, the electrophoretic display device according to the present embodiment includes the electrophoretic display panel 1 described above with reference to FIGS. 1 to 4 and a drive circuit 200.

駆動回路200は、コントローラー290と、電源回路210と、駆動電圧制御部220とを備えており、駆動用ICとして構成されている。   The drive circuit 200 includes a controller 290, a power supply circuit 210, and a drive voltage control unit 220, and is configured as a drive IC.

コントローラー290は、電気泳動表示パネル1の駆動制御を行い、走査線駆動回路60及びデータ線駆動回路70(図1参照)、並びに電源回路210及び駆動電圧制御部220の各々の動作を制御する。   The controller 290 controls the operation of the electrophoretic display panel 1 and controls the operations of the scanning line driving circuit 60 and the data line driving circuit 70 (see FIG. 1), the power supply circuit 210, and the driving voltage control unit 220.

電源回路210は、電気泳動表示パネル1を駆動するための各種電源を供給可能なように構成されている。電源回路210は、高電位電源線91に高電位電源電位Vddを供給すると共に低電位電源線92に低電位電源電位Vssを供給し、共通電位線93に共通電位Vcomを供給し、第1の制御線94に第1の電位S1、及び第2の制御線95に第2の電位S2を夫々供給する。また、電源回路210は、走査線駆動回路60やデータ線駆動回路70等を駆動するための電源の供給も行う。   The power supply circuit 210 is configured to be able to supply various power sources for driving the electrophoretic display panel 1. The power supply circuit 210 supplies the high potential power supply line 91 with the high potential power supply potential Vdd, the low potential power supply line 92 with the low potential power supply potential Vss, the common potential line 93 with the common potential Vcom, A first potential S1 is supplied to the control line 94, and a second potential S2 is supplied to the second control line 95, respectively. The power supply circuit 210 also supplies power for driving the scanning line driving circuit 60, the data line driving circuit 70, and the like.

駆動電圧制御部220は、画素電極21及び共通電極22間に画像データに応じて印加すべき駆動電圧を制御する。   The drive voltage controller 220 controls the drive voltage to be applied between the pixel electrode 21 and the common electrode 22 according to the image data.

本実施形態では特に、駆動電圧制御部220は、温度検出回路221及び駆動電圧パラメーターテーブル222を有している。尚、温度検出回路221及び駆動電圧パラメータテーブル222が本発明に係る「補正手段」の一例を構成する。   Particularly in the present embodiment, the drive voltage control unit 220 includes a temperature detection circuit 221 and a drive voltage parameter table 222. The temperature detection circuit 221 and the drive voltage parameter table 222 constitute an example of the “correction unit” according to the present invention.

図6は、本実施形態に係る温度検出回路の構成を示すブロック図である。   FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of the temperature detection circuit according to the present embodiment.

図6において、温度検出回路221は、電流検出回路221a及び信号処理回路221bを有している。   In FIG. 6, the temperature detection circuit 221 has a current detection circuit 221a and a signal processing circuit 221b.

電流検出回路221aは、低電位電源線92に電気的に接続されており、低電位電源線92に流れる電流を検出可能に構成されている。具体的には、電流検出回路221aは、オペアンプ310と、抵抗321及び322と、シャント抵抗323とを含んでいる。オペアンプ310の一方の入力端子(即ち、+入力端子)は、低電位電源線92及びシャント抵抗323に電気的に接続されている。オペアンプ310の他方の入力端子(即ち、−入力端子)は、抵抗321及び322に電気的に接続されている。オペアンプ310の出力端子は、信号処理回路221bに電気的に接続されている。抵抗321のオペアンプ310に電気的に接続された一端側と異なる他端側は、接地電位(或いはグランド(GND)電位)に電気的に接続されている。抵抗322のオペアンプ310に電気的に接続された一端側と異なる他端側は、オペアンプ310の出力端に電気的に接続されている。シャント抵抗323のオペアンプ310に電気的に接続された一端側とは異なる他端側は、接地電位に電気的に接続されている。電流検出回路221aは、低電位電源線92から入力される電流Ioutがシャント抵抗323を流れることにより生じる電位をオペアンプ310によって増幅して電位Voutとして信号処理回路221bに出力する。ここで、抵抗321及び322並びにシャント抵抗323の抵抗値をそれぞれ、R1、R2及びRsとすると、電位Voutは、以下の式(1)で表される。   The current detection circuit 221a is electrically connected to the low potential power supply line 92, and is configured to detect a current flowing through the low potential power supply line 92. Specifically, the current detection circuit 221a includes an operational amplifier 310, resistors 321 and 322, and a shunt resistor 323. One input terminal (that is, + input terminal) of the operational amplifier 310 is electrically connected to the low potential power line 92 and the shunt resistor 323. The other input terminal (that is, −input terminal) of the operational amplifier 310 is electrically connected to the resistors 321 and 322. The output terminal of the operational amplifier 310 is electrically connected to the signal processing circuit 221b. The other end side different from the one end side electrically connected to the operational amplifier 310 of the resistor 321 is electrically connected to a ground potential (or a ground (GND) potential). The other end side of the resistor 322 that is different from the one end side that is electrically connected to the operational amplifier 310 is electrically connected to the output end of the operational amplifier 310. The other end side of the shunt resistor 323 different from the one end side electrically connected to the operational amplifier 310 is electrically connected to the ground potential. The current detection circuit 221a amplifies the potential generated when the current Iout input from the low potential power supply line 92 flows through the shunt resistor 323 by the operational amplifier 310, and outputs it as the potential Vout to the signal processing circuit 221b. Here, assuming that the resistance values of the resistors 321 and 322 and the shunt resistor 323 are R1, R2, and Rs, respectively, the potential Vout is expressed by the following equation (1).

Vout=Iout×Rs×(1+R2/R1) ・・・(1)
信号処理回路221bは、後述する駆動電圧パラメーターテーブル222に予め規定された複数の電圧の中から駆動電圧(言い換えれば、画素電位の電位レベル、つまり、画素電極21に画素電位として供給される第1の電位S1及び第2の電位S2の電位レベル)を、電流検出回路221aから入力される電位Voutに応じて選択する。
Vout = Iout × Rs × (1 + R2 / R1) (1)
The signal processing circuit 221b has a driving voltage (in other words, a potential level of the pixel potential, that is, a first potential supplied to the pixel electrode 21 as a pixel potential among a plurality of voltages defined in advance in a driving voltage parameter table 222 described later. Are selected in accordance with the potential Vout input from the current detection circuit 221a.

図5において、駆動電圧パラメーターテーブル222は、電気泳動素子23の温度に対する適切な駆動電圧として実験的に或いはシミュレーション等により予め定められた複数の電圧(具体的には、複数の電圧波形)が規定されたテーブルである。   In FIG. 5, the drive voltage parameter table 222 defines a plurality of voltages (specifically, a plurality of voltage waveforms) determined in advance experimentally or by simulation or the like as appropriate drive voltages with respect to the temperature of the electrophoretic element 23. The table is

次に、上述のように構成された駆動回路200による駆動電圧の補正動作について、図5及び図6に加えて図7を参照して説明する。   Next, a drive voltage correction operation by the drive circuit 200 configured as described above will be described with reference to FIG. 7 in addition to FIGS.

図7は、本実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作を説明するためのブロック図である。   FIG. 7 is a block diagram for explaining a drive voltage correction operation by the drive circuit of the electrophoretic display device according to the present embodiment.

図7において、駆動回路200は、駆動電圧を補正する際には、先ず、メモリー回路25を構成する例えばトランジスター25a1及び25b2のオフ時のリーク電流Iout1を、電流検出回路221aによって検出する。より具体的には、先ず、各画素20のメモリー回路25にローレベル(L)の画像信号が供給されることにより、トランジスター25a1及び25b2がオフ(OFF)状態とされ、トランジスター25a2及び25b1がオン(ON)状態とされる。これにより、高電位電源線91側から低電位電源線92側に向かって、オフ状態とされたトランジスター25a1及び25b2を流れるリーク電流Iout1が発生する。駆動回路200は、このように発生したリーク電流Iout1を電流検出回路221aによって検出する。具体的には、電流検出回路221aは、リーク電流Iout1がシャント抵抗323(図6参照)を流れることにより生じる電位をオペアンプ310によって増幅した電位としてリーク電流Iout1を検出する。   In FIG. 7, when correcting the drive voltage, the drive circuit 200 first detects, for example, a leakage current Iout1 when the transistors 25a1 and 25b2 constituting the memory circuit 25 are turned off by the current detection circuit 221a. More specifically, first, by supplying a low level (L) image signal to the memory circuit 25 of each pixel 20, the transistors 25a1 and 25b2 are turned off, and the transistors 25a2 and 25b1 are turned on. (ON) state. As a result, a leakage current Iout1 flowing through the transistors 25a1 and 25b2 that are turned off is generated from the high potential power supply line 91 side toward the low potential power supply line 92 side. The drive circuit 200 detects the leak current Iout1 generated in this way by the current detection circuit 221a. Specifically, the current detection circuit 221a detects the leak current Iout1 using the potential generated by the leak current Iout1 flowing through the shunt resistor 323 (see FIG. 6) as a potential amplified by the operational amplifier 310.

次に、駆動回路200は、駆動電圧を、電流検出回路221aによって検出したリーク電流Iout1に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧に補正する。具体的には、駆動回路200は、駆動電圧パラメーターテーブル222に電気泳動素子23の温度に対する適切な駆動電圧として規定された複数の電圧の中から、検出したリーク電流Iout1に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧を、信号処理回路221bによって選択する。   Next, the drive circuit 200 corrects the drive voltage to a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element 23 estimated based on the leak current Iout1 detected by the current detection circuit 221a. Specifically, the drive circuit 200 estimates the electric power estimated based on the detected leakage current Iout1 from a plurality of voltages defined in the drive voltage parameter table 222 as appropriate drive voltages with respect to the temperature of the electrophoretic element 23. A voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element 23 is selected by the signal processing circuit 221b.

ここで、メモリー回路25は、素子基板28(図3参照)上の表示領域3aにおける画素20毎に設けられているので、メモリー回路25を構成するトランジスター25a1及び25b2(並びにトランジスター25a2及び25b1)の温度は、素子基板28及び対向基板29間における表示領域3aに設けられた電気泳動素子23の温度と殆ど或いは実践上完全に同じであるとみなすことができる。よって、電流検出回路221aによって、メモリー回路25を構成するトランジスター25a1及び25b2(或いはトランジスター25a2及び25b1)のオフ時のリーク電流Iout1を検出することにより、該検出されたリーク電流Iout1に基づいて電気泳動素子23の温度を高精度に推定することができる。従って、駆動電圧パラメーターテーブル222に規定された複数の電圧の中から、リーク電流Iout1に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧を、信号処理回路221bによって選択することで、電気泳動素子23の温度に応じて駆動電圧を高精度に補正することができる。従って、本実施形態に係る電気泳動表示装置によれば、高品位な表示を行うことが可能となる。   Here, since the memory circuit 25 is provided for each pixel 20 in the display area 3a on the element substrate 28 (see FIG. 3), the transistors 25a1 and 25b2 (and the transistors 25a2 and 25b1) constituting the memory circuit 25 are provided. The temperature can be considered to be almost or completely the same as the temperature of the electrophoretic element 23 provided in the display area 3 a between the element substrate 28 and the counter substrate 29. Therefore, the current detection circuit 221a detects the leakage current Iout1 when the transistors 25a1 and 25b2 (or the transistors 25a2 and 25b1) constituting the memory circuit 25 are turned off, and electrophoresis is performed based on the detected leakage current Iout1. The temperature of the element 23 can be estimated with high accuracy. Accordingly, the signal processing circuit 221b selects a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element 23 estimated based on the leakage current Iout1 from the plurality of voltages defined in the drive voltage parameter table 222, thereby The drive voltage can be corrected with high accuracy according to the temperature of the electrophoretic element 23. Therefore, according to the electrophoretic display device according to this embodiment, high-quality display can be performed.

加えて、本実施形態に係る電気泳動表示装置によれば、駆動回路200によって、各画素20に設けられたメモリー回路25を構成するトランジスターのオフ時のリーク電流Ioutを検出することにより、電気泳動素子23の温度を推定することができるので、例えば、素子基板28上に、電気泳動素子23の温度を検出するための温度センサーを新たに設ける必要がなく、当該電気泳動表示装置の低コスト化及び小型化を図ることができる。言い換えれば、本実施形態に係る電気泳動表示装置によれば、メモリー回路25を構成するトランジスター25a1及び25b2(或いはトランジスター25a2及び25b1)のオフ時のリーク電流Iout1を、電気泳動素子23の温度を検出するための温度センサーとして利用するので、例えばサーミスター等からなる温度センサーを当該電気泳動表示装置に新たに設ける必要がなく、当該電気泳動表示装置の低コスト化及び小型化を実現することができる。   In addition, according to the electrophoretic display device according to the present embodiment, the drive circuit 200 detects the leakage current Iout when the transistors constituting the memory circuit 25 provided in each pixel 20 are turned off, thereby performing electrophoresis. Since the temperature of the element 23 can be estimated, for example, there is no need to newly provide a temperature sensor for detecting the temperature of the electrophoretic element 23 on the element substrate 28, and the cost of the electrophoretic display device can be reduced. And size reduction can be achieved. In other words, according to the electrophoretic display device according to this embodiment, the leakage current Iout1 when the transistors 25a1 and 25b2 (or the transistors 25a2 and 25b1) constituting the memory circuit 25 are turned off is detected, and the temperature of the electrophoretic element 23 is detected. Therefore, it is not necessary to newly provide a temperature sensor such as a thermistor in the electrophoretic display device, and the electrophoretic display device can be reduced in cost and size. .

本実施形態では特に、複数の画素20の各々に1つずつ設けられた複数のメモリー回路25には、高電位電源線91及び低電位電源線92が共通して電気的に接続されている。このため、複数のメモリー回路25の各々を構成するトランジスター25a1及び25b2(或いはトランジスター25a2及び25b1)のオフ時のリーク電流Ioutは、すべて低電位電源線92に流れ込む。よって、複数のメモリー回路25の各々におけるリーク電流Iout1を、低電位電源線92においてそれらの総和として電流検出回路221aによって検出することができるので、電気泳動素子23の温度を高精度に推定することができる。   Particularly in the present embodiment, the high potential power supply line 91 and the low potential power supply line 92 are electrically connected in common to the plurality of memory circuits 25 provided for each of the plurality of pixels 20. For this reason, all of the leakage currents Iout when the transistors 25a1 and 25b2 (or transistors 25a2 and 25b1) constituting each of the plurality of memory circuits 25 are turned off flow into the low-potential power line 92. Therefore, the leakage current Iout1 in each of the plurality of memory circuits 25 can be detected by the current detection circuit 221a as a sum of them in the low-potential power line 92, so that the temperature of the electrophoretic element 23 can be estimated with high accuracy. Can do.

以上説明したように、本実施形態に係る電気泳動表示装置によれば、電気泳動素子23の温度に応じて駆動電圧を高精度に補正可能であり、高品位な表示を行うことが可能である。更に、装置の低コスト化及び小型化を図ることが可能である。   As described above, according to the electrophoretic display device according to the present embodiment, the driving voltage can be corrected with high accuracy in accordance with the temperature of the electrophoretic element 23, and high-quality display can be performed. . Furthermore, the cost and size of the device can be reduced.

<第2実施形態>
第2実施形態に係る電気泳動表示装置について、図8を参照して説明する。
Second Embodiment
An electrophoretic display device according to a second embodiment will be described with reference to FIG.

図8は、第2実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作を説明するためのブロック図である。尚、図8において、図1から図7に示した第1実施形態に係る構成要素と同様の構成要素に同一の参照符合を付し、それらの説明は適宜省略する。また、この点については、図9から図14についても同様である。   FIG. 8 is a block diagram for explaining a drive voltage correction operation by the drive circuit of the electrophoretic display device according to the second embodiment. In FIG. 8, the same components as those in the first embodiment shown in FIGS. 1 to 7 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted as appropriate. This also applies to FIGS. 9 to 14.

図8において、第2実施形態に係る電気泳動表示装置は、第1実施形態における電流検出回路221a及び信号処理回路221bに代えて電流検出回路221a2及び信号処理回路221b2を備える点で、上述した第1実施形態に係る電気泳動表示装置と異なり、その他の点については上述した第1実施形態に係る電気泳動表示装置と概ね同様に構成されている。   In FIG. 8, the electrophoretic display device according to the second embodiment includes the current detection circuit 221a2 and the signal processing circuit 221b2 in place of the current detection circuit 221a and the signal processing circuit 221b according to the first embodiment. Unlike the electrophoretic display device according to the first embodiment, the other configuration is substantially the same as the electrophoretic display device according to the first embodiment described above.

図8において、電流検出回路221a2は、第2の制御線95に電気的に接続されており、第2の制御線95に流れる電流を検出可能に構成されている。電流検出回路221a2は、図6を参照して上述した第1実施形態における電流検出回路221aと概ね同様に構成されているが、オペアンプ310の+入力端子に低電位電源線92に代えて第2の制御線95が電気的に接続されている点で、第1実施形態における電流検出回路221aと異なる。   In FIG. 8, the current detection circuit 221 a 2 is electrically connected to the second control line 95 and configured to be able to detect a current flowing through the second control line 95. The current detection circuit 221a2 is configured in substantially the same manner as the current detection circuit 221a in the first embodiment described above with reference to FIG. 6, but the second input instead of the low-potential power supply line 92 is connected to the + input terminal of the operational amplifier 310. Is different from the current detection circuit 221a in the first embodiment in that the control line 95 is electrically connected.

信号処理回路221b2は、駆動電圧パラメーターテーブル222に予め規定された複数の電圧の中から駆動電圧を、電流検出回路221a2から入力される電位Voutに応じて選択する。   The signal processing circuit 221b2 selects a drive voltage from a plurality of voltages defined in advance in the drive voltage parameter table 222 according to the potential Vout input from the current detection circuit 221a2.

図8において、駆動回路200は、駆動電圧を補正する際には、先ず、スイッチ回路110を構成する例えばトランジスター112p及び112nのオフ時のリーク電流Iout2を、電流検出回路221a2によって検出する。より具体的には、先ず、各画素20のメモリー回路25にローレベル(L)の画像信号が供給されることにより、スイッチ回路110の第1のトランスミッションゲート111を構成するトランジスター111p及び111nがオン(ON)状態とされ、スイッチ回路110の第2のトランスミッションゲート112を構成するトランジスター112p及び112nがオン(ON)状態とされる。この際、第1の制御線94には、電源回路210から第1の電位S1としてハイレベルの電位が供給される。これにより、第1の制御線94側から第2の制御線95側に向かってオフ状態とされたトランジスター112p及び112nを流れるリーク電流Iout2が発生する。駆動回路200は、このように発生したリーク電流Iout2を電流検出回路221a2によって検出する。具体的には、電流検出回路221a2は、リーク電流Iout2がシャント抵抗323(図6参照)を流れることにより生じる電位をオペアンプ310によって増幅した電位としてリーク電流Iout2を検出する。   In FIG. 8, when correcting the drive voltage, the drive circuit 200 first detects a leakage current Iout2 when the transistors 112p and 112n constituting the switch circuit 110 are turned off by the current detection circuit 221a2. More specifically, first, when a low level (L) image signal is supplied to the memory circuit 25 of each pixel 20, the transistors 111p and 111n constituting the first transmission gate 111 of the switch circuit 110 are turned on. The transistors 112p and 112n constituting the second transmission gate 112 of the switch circuit 110 are turned on (ON). At this time, a high level potential is supplied from the power supply circuit 210 to the first control line 94 as the first potential S1. As a result, a leakage current Iout2 that flows through the transistors 112p and 112n turned off from the first control line 94 side toward the second control line 95 side is generated. The drive circuit 200 detects the leak current Iout2 generated in this way by the current detection circuit 221a2. Specifically, the current detection circuit 221a2 detects the leakage current Iout2 using the potential generated by the leakage current Iout2 flowing through the shunt resistor 323 (see FIG. 6) as a potential amplified by the operational amplifier 310.

次に、駆動回路200は、駆動電圧を、電流検出回路221a2によって検出したリーク電流Iout2に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧に補正する。具体的には、駆動回路200は、駆動電圧パラメーターテーブル222に電気泳動素子23の温度に対する適切な駆動電圧として規定された複数の電圧の中から、検出したリーク電流Iout2に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧を、信号処理回路221b2によって選択する。   Next, the drive circuit 200 corrects the drive voltage to a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element 23 estimated based on the leak current Iout2 detected by the current detection circuit 221a2. Specifically, the drive circuit 200 estimates the electric power estimated based on the detected leakage current Iout2 from a plurality of voltages defined in the drive voltage parameter table 222 as appropriate drive voltages with respect to the temperature of the electrophoretic element 23. A voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element 23 is selected by the signal processing circuit 221b2.

ここで、スイッチ回路110は、素子基板28(図3参照)上の表示領域3aにおける画素20毎に設けられているので、スイッチ回路110を構成するトランジスター112p及び112n(並びにトランジスター111p及び111n)の温度は、素子基板28及び対向基板29間における表示領域3aに設けられた電気泳動素子23の温度と殆ど或いは実践上完全に同じであるとみなすことができる。よって、電流検出回路221a2によって、スイッチ回路110を構成するトランジスター112p及び112n(或いはトランジスター111p及び111n)のオフ時のリーク電流Iout2を検出することにより、該検出されたリーク電流Iout2に基づいて電気泳動素子23の温度を高精度に推定することができる。従って、駆動電圧パラメーターテーブル222に規定された複数の電圧の中から、リーク電流Iout2に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧を、信号処理回路221b2によって選択することで、電気泳動素子23の温度に応じて駆動電圧を高精度に補正することができる。従って、本実施形態に係る電気泳動表示装置によれば、高品位な表示を行うことが可能となる。   Here, since the switch circuit 110 is provided for each pixel 20 in the display region 3a on the element substrate 28 (see FIG. 3), the transistors 112p and 112n (and the transistors 111p and 111n) constituting the switch circuit 110 are provided. The temperature can be considered to be almost or completely the same as the temperature of the electrophoretic element 23 provided in the display area 3 a between the element substrate 28 and the counter substrate 29. Therefore, the current detection circuit 221a2 detects the leakage current Iout2 when the transistors 112p and 112n (or the transistors 111p and 111n) included in the switch circuit 110 are off, so that electrophoresis is performed based on the detected leakage current Iout2. The temperature of the element 23 can be estimated with high accuracy. Therefore, the signal processing circuit 221b2 selects a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element 23 estimated based on the leakage current Iout2 from the plurality of voltages defined in the drive voltage parameter table 222, thereby The drive voltage can be corrected with high accuracy according to the temperature of the electrophoretic element 23. Therefore, according to the electrophoretic display device according to this embodiment, high-quality display can be performed.

尚、電流検出回路221a2を、メモリー回路25のリーク電流Iout1及びスイッチ回路110のリーク電流Iout2の両方を検出可能に構成し、信号処理回路221b2を、駆動電圧パラメーターテーブル222に規定された複数の電圧の中から、リーク電流Iout1及びIout2に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧を、信号処理回路221b2によって選択するように構成してもよい。この場合にも、電気泳動素子23の温度に応じて駆動電圧を高精度に補正することができる。   The current detection circuit 221a2 is configured to detect both the leakage current Iout1 of the memory circuit 25 and the leakage current Iout2 of the switch circuit 110, and the signal processing circuit 221b2 includes a plurality of voltages defined in the drive voltage parameter table 222. A voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element 23 estimated based on the leakage currents Iout1 and Iout2 may be selected by the signal processing circuit 221b2. Also in this case, the driving voltage can be corrected with high accuracy according to the temperature of the electrophoretic element 23.

<第3実施形態>
第3実施形態に係る電気泳動表示装置について、図9を参照して説明する。
<Third Embodiment>
An electrophoretic display device according to a third embodiment will be described with reference to FIG.

図9は、第3実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作を説明するためのブロック図である。   FIG. 9 is a block diagram for explaining a drive voltage correction operation by the drive circuit of the electrophoretic display device according to the third embodiment.

図9において、第3実施形態に係る電気泳動表示装置は、第1実施形態における電流検出回路221a及び信号処理回路221bに代えて電流検出回路221a3及び信号処理回路221b3を備える点で、上述した第1実施形態に係る電気泳動表示装置と異なり、その他の点については上述した第1実施形態に係る電気泳動表示装置と概ね同様に構成されている。   In FIG. 9, the electrophoretic display device according to the third embodiment includes the current detection circuit 221a3 and the signal processing circuit 221b3 in place of the current detection circuit 221a and the signal processing circuit 221b in the first embodiment. Unlike the electrophoretic display device according to the first embodiment, the other configuration is substantially the same as the electrophoretic display device according to the first embodiment described above.

図9において、電流検出回路221a3は、低電位電源線92及びデータ線50に電気的に接続可能に構成され、低電位電源線92及びデータ線50に流れる電流を検出可能に構成されている。電流検出回路221a3は、図6を参照して上述した第1実施形態における電流検出回路221aと概ね同様に構成されているが、オペアンプ310の+入力端子に低電位電源線92に加えてデータ線50が電気的に接続可能に構成されている点で、第1実施形態における電流検出回路221aと異なる。   In FIG. 9, the current detection circuit 221a3 is configured to be electrically connectable to the low potential power supply line 92 and the data line 50, and is configured to be able to detect a current flowing through the low potential power supply line 92 and the data line 50. The current detection circuit 221a3 is configured in substantially the same manner as the current detection circuit 221a in the first embodiment described above with reference to FIG. 6, but the data line in addition to the low potential power supply line 92 is connected to the + input terminal of the operational amplifier 310. 50 differs from the current detection circuit 221a in the first embodiment in that it is configured to be electrically connectable.

信号処理回路221b3は、駆動電圧パラメーターテーブル222に予め規定された複数の電圧の中から駆動電圧を、電流検出回路221a3から入力される電位Voutに応じて選択する。   The signal processing circuit 221b3 selects a drive voltage from a plurality of voltages defined in advance in the drive voltage parameter table 222 according to the potential Vout input from the current detection circuit 221a3.

図9において、駆動回路200は、駆動電圧を補正する際には、先ず、メモリー回路25を構成するトランジスター25a2及び25b1のオフ時のリーク電流Iout1、及び画素スイッチング用トランジスター24のオフ時のリーク電流Iout3を、電流検出回路221a3によって検出する。より具体的には、先ず、各画素20のメモリー回路25にデータ線50を介してハイレベル(H)の画像信号が供給されることにより、トランジスター25a2及び25b1がオフ(OFF)状態とされ、トランジスター25a1及び25b2がオン(ON)状態とされる。これにより、高電位電源線91側から低電位電源線92側に向かってオフ状態とされたトランジスター25a1及び25b2を流れるリーク電流Iout1が発生する。一方、メモリー回路25にデータ線50を介してハイレベルの画像信号が供給された後には、駆動回路200によって、画素スイッチング用トランジスター24がオフ状態とされると共にデータ線50がローレベル(L)の電位とされる。これによりハイレベルの画像信号が保持されたメモリ回路25側からデータ線50側に向かってオフ状態とされた画素スイッチング用トランジスター24を流れるリーク電流Iout3が発生する。駆動回路200は、このように発生したリーク電流Iout1及びIout3を電流検出回路221a3によって検出する。具体的には、電流検出回路221a3は、リーク電流Iout1及びIout3がシャント抵抗323(図6参照)を流れることにより生じる電位をオペアンプ310によって増幅した電位としてリーク電流Iout1及びIout3の総和を検出する。   In FIG. 9, when the driving circuit 200 corrects the driving voltage, first, the leakage current Iout1 when the transistors 25a2 and 25b1 constituting the memory circuit 25 are turned off and the leakage current when the pixel switching transistor 24 is turned off. Iout3 is detected by the current detection circuit 221a3. More specifically, first, a high level (H) image signal is supplied to the memory circuit 25 of each pixel 20 via the data line 50, whereby the transistors 25a2 and 25b1 are turned off. The transistors 25a1 and 25b2 are turned on. As a result, a leakage current Iout1 flowing through the transistors 25a1 and 25b2 that are turned off from the high potential power supply line 91 side toward the low potential power supply line 92 side is generated. On the other hand, after the high-level image signal is supplied to the memory circuit 25 via the data line 50, the pixel switching transistor 24 is turned off and the data line 50 is set to the low level (L) by the drive circuit 200. Potential. As a result, a leak current Iout3 flowing through the pixel switching transistor 24 that is turned off from the memory circuit 25 side holding the high-level image signal toward the data line 50 side is generated. The drive circuit 200 detects the leak currents Iout1 and Iout3 generated in this way by the current detection circuit 221a3. Specifically, the current detection circuit 221a3 detects the sum of the leakage currents Iout1 and Iout3 using the potential generated by the leakage currents Iout1 and Iout3 flowing through the shunt resistor 323 (see FIG. 6) as the potential amplified by the operational amplifier 310.

次に、駆動回路200は、駆動電圧を、電流検出回路221a3によって検出したリーク電流Iout1及びIout3に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧に補正する。具体的には、駆動回路200は、駆動電圧パラメーターテーブル222に電気泳動素子23の温度に対する適切な駆動電圧として規定された複数の電圧の中から、検出したリーク電流Iout1及びIout3に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧を、信号処理回路221b3によって選択する。   Next, the drive circuit 200 corrects the drive voltage to a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element 23 estimated based on the leakage currents Iout1 and Iout3 detected by the current detection circuit 221a3. Specifically, the drive circuit 200 is estimated based on the detected leakage currents Iout1 and Iout3 from a plurality of voltages defined in the drive voltage parameter table 222 as appropriate drive voltages with respect to the temperature of the electrophoretic element 23. The voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element 23 is selected by the signal processing circuit 221b3.

本実施形態によれば、メモリー回路25のリーク電流Iout1に加えて画素スイッチング用トランジスター24のリーク電流Iout3を検出するので、例えば、上述した第1実施形態のように、メモリー回路25のリーク電流Iout1のみが検出される場合と比較して、検出するリーク電流の電流量を大きくすることができる。よって、電気泳動素子23の温度をより一層高精度に推定することができ、駆動電圧を、電気泳動素子23の温度に応じてより一層高精度に補正することができる。尚、画素スイッチング用トランジスター24は、素子基板28(図3参照)上の表示領域3aにおける画素20毎に設けられているので、画素スイッチング用トランジスター24の温度は、素子基板28及び対向基板29間における表示領域3aに設けられた電気泳動素子23の温度と殆ど或いは実践上完全に同じであるとみなすことができる。   According to the present embodiment, since the leak current Iout3 of the pixel switching transistor 24 is detected in addition to the leak current Iout1 of the memory circuit 25, for example, as in the first embodiment described above, the leak current Iout1 of the memory circuit 25 is detected. Compared with the case where only the current is detected, the amount of leakage current to be detected can be increased. Therefore, the temperature of the electrophoretic element 23 can be estimated with higher accuracy, and the drive voltage can be corrected with higher accuracy according to the temperature of the electrophoretic element 23. Since the pixel switching transistor 24 is provided for each pixel 20 in the display region 3a on the element substrate 28 (see FIG. 3), the temperature of the pixel switching transistor 24 is between the element substrate 28 and the counter substrate 29. It can be considered that the temperature of the electrophoretic element 23 provided in the display area 3a in FIG.

<第4実施形態>
第4実施形態に係る電気泳動表示装置について、図10及び図11を参照して説明する。
<Fourth embodiment>
An electrophoretic display device according to a fourth embodiment will be described with reference to FIGS. 10 and 11.

図10は、第4実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作を説明するためのブロック図である。   FIG. 10 is a block diagram for explaining a drive voltage correction operation by the drive circuit of the electrophoretic display device according to the fourth embodiment.

図10において、第4実施形態に係る電気泳動表示装置は、第1実施形態における電流検出回路221a及び信号処理回路221bに代えて電流検出回路221a4及び信号処理回路221b4を備える点で、上述した第1実施形態に係る電気泳動表示装置と異なり、その他の点については上述した第1実施形態に係る電気泳動表示装置と概ね同様に構成されている。   In FIG. 10, the electrophoretic display device according to the fourth embodiment includes the current detection circuit 221a4 and the signal processing circuit 221b4 in place of the current detection circuit 221a and the signal processing circuit 221b in the first embodiment. Unlike the electrophoretic display device according to the first embodiment, the other configuration is substantially the same as the electrophoretic display device according to the first embodiment described above.

図10において、電流検出回路221a4は、第2の制御線95に電気的に接続されており、第2の制御線95に流れる電流を検出可能に構成されている。電流検出回路221a4は、図6を参照して上述した第1実施形態における電流検出回路221aと概ね同様に構成されているが、オペアンプ310の+入力端子に低電位電源線92に代えて第2の制御線95が電気的に接続されている点で、第1実施形態における電流検出回路221aと異なる。   In FIG. 10, the current detection circuit 221 a 4 is electrically connected to the second control line 95 and configured to be able to detect a current flowing through the second control line 95. The current detection circuit 221a4 is configured in substantially the same manner as the current detection circuit 221a in the first embodiment described above with reference to FIG. 6, but the second input instead of the low-potential power supply line 92 is connected to the + input terminal of the operational amplifier 310. Is different from the current detection circuit 221a in the first embodiment in that the control line 95 is electrically connected.

信号処理回路221b4は、駆動電圧パラメーターテーブル222に予め規定された複数の電圧の中から駆動電圧を、電流検出回路221a4から入力される電位Voutに応じて選択する。   The signal processing circuit 221b4 selects a drive voltage from a plurality of voltages defined in advance in the drive voltage parameter table 222 according to the potential Vout input from the current detection circuit 221a4.

図10において、駆動回路200は、駆動電圧を補正する際には、互いに隣り合う画素20の画素電極21の電位が互いに異なるように、且つ、共通電極22がハイインピーダンス(Hi−Z)状態となるように、電気泳動表示パネル1を駆動する。   10, when the drive circuit 200 corrects the drive voltage, the potentials of the pixel electrodes 21 of the adjacent pixels 20 are different from each other, and the common electrode 22 is in a high impedance (Hi-Z) state. Thus, the electrophoretic display panel 1 is driven.

図11は、本実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作時の表示領域における表示画像の一例を示す模式図である。   FIG. 11 is a schematic diagram illustrating an example of a display image in the display region during the drive voltage correction operation by the drive circuit of the electrophoretic display device according to the present embodiment.

即ち、図11に示すように、駆動回路200は、駆動電圧を補正する際には、互いに隣り合う画素20において異なる階調が表示されるように(言い換えれば、表示領域3aにおいて、黒色が表示される画素20Bと白色が表示される画素20Wとが交互に並ぶように)、且つ、共通電極22がハイインピーダンス状態となるように、電気泳動表示パネル1を駆動する。   That is, as shown in FIG. 11, when correcting the driving voltage, the driving circuit 200 displays different gray levels in the pixels 20 adjacent to each other (in other words, black is displayed in the display area 3a. The electrophoretic display panel 1 is driven so that the pixels 20B to be displayed and the pixels 20W to display white are alternately arranged) and the common electrode 22 is in a high impedance state.

具体的には、図10に示すように、駆動電圧の補正時には、黒色が表示される画素20Bの画素電極21Bは、メモリー回路25からのローレベルの画像信号に応じて第1のトランスミッションゲート(TG1)111がオン状態とされると共に第2のトランスミッションゲート(TG2)112がオフ状態とされたスイッチ回路110Bを介して、第1の制御線94から第1の電位S1として高電位VHが供給されることにより、高電位VHで一定とされる。一方、白色が表示される画素20Wの画素電極21Wは、メモリー回路25からのハイレベルの画像信号に応じて第1のトランスミッションゲート(TG1)111がオフ状態とされると共に第2のトランスミッションゲート(TG2)112がオン状態とされたスイッチ回路110Wを介して、第2の制御線95から第2の電位S2として低電位VLが供給されることにより、低電位VLで一定とされる。   Specifically, as shown in FIG. 10, when the drive voltage is corrected, the pixel electrode 21 </ b> B of the pixel 20 </ b> B that displays black is in response to the first transmission gate ( The high potential VH is supplied from the first control line 94 as the first potential S1 through the switch circuit 110B in which the TG1) 111 is turned on and the second transmission gate (TG2) 112 is turned off. As a result, the high potential VH is maintained constant. On the other hand, in the pixel electrode 21W of the pixel 20W displaying white, the first transmission gate (TG1) 111 is turned off in response to the high level image signal from the memory circuit 25, and the second transmission gate ( (TG2) The low potential VL is supplied as the second potential S2 from the second control line 95 through the switch circuit 110W in which the 112 is turned on, so that the low potential VL is constant.

このように、隣り合う画素電極21のうち一方(即ち、画素電極21B)が高電位VLとされ、他方(即ち、画素電極21W)が低電位VLとされることで、隣り合う画素電極21間の電位差によって電気泳動素子23を流れる素子電流Iout4が発生する。素子電流Iout4は、高電位VLとされた画素電極21B側から低電位VLとされた画素電極21W側に向かって電気泳動素子23を流れ、スイッチ回路110Wを介して第2の制御線95に流れ込む。   As described above, one of the adjacent pixel electrodes 21 (that is, the pixel electrode 21B) is set to the high potential VL, and the other (that is, the pixel electrode 21W) is set to the low potential VL. An element current Iout4 flowing through the electrophoretic element 23 is generated by the potential difference. The element current Iout4 flows from the pixel electrode 21B side having the high potential VL toward the pixel electrode 21W side having the low potential VL, and then flows into the second control line 95 via the switch circuit 110W. .

他方で、スイッチ回路110Bでは、上述した第2実施形態と同様に、第1の制御線94側から第2の制御線95側に向かって、オフ状態とされたトランジスター112p及び112nを流れるリーク電流Iout2Bが発生する。また、スイッチ回路110Wでは、上述した第2実施形態と同様に、第1の制御線94側から第2の制御線95側に向かって、オフ状態とされたトランジスター111p及び111nを流れるリーク電流Iout2Wが発生する。リーク電流Iout2B及びIout2Wは、第2の制御線95に流れ込む。   On the other hand, in the switch circuit 110B, as in the second embodiment described above, the leakage current flowing through the transistors 112p and 112n turned off from the first control line 94 side to the second control line 95 side. Iout2B is generated. In the switch circuit 110W, as in the second embodiment described above, the leakage current Iout2W flowing through the transistors 111p and 111n turned off from the first control line 94 side to the second control line 95 side. Will occur. The leak currents Iout2B and Iout2W flow into the second control line 95.

駆動回路200は、このように発生したリーク電流Iout2を電流検出回路221a4によって検出する。具体的には、電流検出回路221a4は、リーク電流Iout2B及びIout2W並びに素子電流Iout4がシャント抵抗323(図6参照)を流れることにより生じる電位をオペアンプ310によって増幅した電位としてリーク電流Iout2B及びIout2W並びに素子電流Iout4の総和を検出する。   The drive circuit 200 detects the leak current Iout2 generated in this way by the current detection circuit 221a4. Specifically, the current detection circuit 221a4 includes the leakage currents Iout2B and Iout2W and the elements as potentials obtained by amplifying the potential generated by the leakage of currents Iout2B and Iout2W and the element current Iout4 through the shunt resistor 323 (see FIG. 6) by the operational amplifier 310. The sum total of the current Iout4 is detected.

次に、駆動回路200は、駆動電圧を、電流検出回路221a4によって検出したリーク電流Iout2B及びIout2W並びに素子電流Iout4に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧に補正する。具体的には、駆動回路200は、駆動電圧パラメーターテーブル222に電気泳動素子23の温度に対する適切な駆動電圧として規定された複数の電圧の中から、検出したリーク電流Iout2B及びIout2W並びに素子電流Iout4に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧を、信号処理回路221b4によって選択する。   Next, the drive circuit 200 corrects the drive voltage to a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element 23 estimated based on the leakage currents Iout2B and Iout2W and the element current Iout4 detected by the current detection circuit 221a4. Specifically, the driving circuit 200 converts the detected leakage currents Iout2B and Iout2W and the element current Iout4 from a plurality of voltages defined as appropriate driving voltages with respect to the temperature of the electrophoretic element 23 in the driving voltage parameter table 222. The signal processing circuit 221b4 selects a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element 23 estimated based on the signal processing circuit 221b4.

本実施形態によれば、メモリー回路25のリーク電流Iout2(即ち、リーク電流Iout2B及びIout2W)に加えて、電気泳動素子23を流れる素子電流Iout4を検出する。素子電流Iout4は、電気泳動素子23を流れるので、その温度特性は、電気泳動素子23の温度特性に殆ど或いは実践上完全に一致する。よって、本実施形態によれば、電気泳動素子23の温度をより一層高精度に推定することができ、駆動電圧を、電気泳動素子23の温度に応じてより一層高精度に補正することができる。   According to this embodiment, in addition to the leakage current Iout2 (that is, leakage currents Iout2B and Iout2W) of the memory circuit 25, the element current Iout4 flowing through the electrophoretic element 23 is detected. Since the element current Iout4 flows through the electrophoretic element 23, its temperature characteristic almost or completely coincides with the temperature characteristic of the electrophoretic element 23 in practice. Therefore, according to this embodiment, the temperature of the electrophoretic element 23 can be estimated with higher accuracy, and the drive voltage can be corrected with higher accuracy according to the temperature of the electrophoretic element 23. .

次に、本実施形態の変形例について、図12及び図13を参照して説明する。   Next, a modification of the present embodiment will be described with reference to FIGS.

図12は、本実施形態の変形例に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作時の表示領域における表示画像の一例を示す模式図である。   FIG. 12 is a schematic diagram illustrating an example of a display image in the display region during the drive voltage correction operation by the drive circuit of the electrophoretic display device according to the modification of the present embodiment.

図12に示すように、駆動回路200は、駆動電圧を補正する際、表示領域3aが分割されてなる複数(本実施形態では、4つ)の分割領域3a1、3a2、3a3及び3a4の各々に対して、互いに異なるタイミングで、互いに隣り合う画素20において異なる階調が表示されるように(言い換えれば、黒色が表示される画素20Bと白色が表示される画素20Wとが交互に並ぶように)、且つ、共通電極22がハイインピーダンス状態となるように、電気泳動表示パネル1を駆動してもよい。   As shown in FIG. 12, when the drive circuit 200 corrects the drive voltage, each of the plurality of (four in this embodiment) divided regions 3a1, 3a2, 3a3, and 3a4 formed by dividing the display region 3a is provided. On the other hand, at different timings, different gradations are displayed in adjacent pixels 20 (in other words, pixels 20B displaying black and pixels 20W displaying white are alternately arranged). In addition, the electrophoretic display panel 1 may be driven so that the common electrode 22 is in a high impedance state.

例えば、駆動電圧を補正する際、駆動回路200は、4つの分割領域3a1、3a2、3a3及び3a4のうち、先ず、一の分割領域3a1において、互いに隣り合う画素20において異なる階調が表示されると共に、他の分割領域3a2、3a3及び3a4において、すべての画素20が互いに同じ階調が表示されるように、且つ、共通電極22がハイインピーダンス状態となるように、電気泳動表示パネル1を駆動する。これにより、一の分割領域3a1については、上述した本実施形態と同様に、リーク電流Iout2及び素子電流Iout4が発生して、第2の制御線95に流れ込む。他方、他の分割領域3a2、3a3及び3a4については、素子電流Iout4は発生せず、スイッチ回路25のリーク電流Iout2が発生し、第2の制御線95に流れ込む。   For example, when correcting the drive voltage, the drive circuit 200 first displays different gradations in the adjacent pixels 20 in one divided region 3a1 among the four divided regions 3a1, 3a2, 3a3, and 3a4. In addition, in the other divided regions 3a2, 3a3, and 3a4, the electrophoretic display panel 1 is driven so that all the pixels 20 display the same gradation and the common electrode 22 is in a high impedance state. To do. As a result, the leakage current Iout2 and the element current Iout4 are generated and flow into the second control line 95 in the same divided region 3a1 as in the above-described embodiment. On the other hand, in the other divided regions 3 a 2, 3 a 3 and 3 a 4, the element current Iout 4 is not generated, but the leakage current Iout 2 of the switch circuit 25 is generated and flows into the second control line 95.

図13は、本実施形態の変形例に係る、駆動電圧の補正動作時において、すべての画素が互いに同じ階調を表示する分割領域の互いに隣り合う画素の状態を説明するための模式図である。   FIG. 13 is a schematic diagram for explaining a state of pixels adjacent to each other in a divided region where all pixels display the same gradation in a driving voltage correction operation according to a modification of the present embodiment. .

図13に示すように、他の分割領域3a2、3a3及び3a4のすべての画素20が互いに同じ階調を表示する場合(本変形例では、黒色を表示する場合)、他の分割領域3a2、3a3及び3a4のすべての画素20について、画素電極21は、メモリー回路25からのローレベルの画像信号に応じて第1のトランスミッションゲート(TG1)111がオン状態とされると共に第2のトランスミッションゲート(TG2)112がオフ状態とされたスイッチ回路110を介して、第1の制御線94から第1の電位S1として高電位VHが供給されることにより、高電位VHで一定とされる。この際、共通電極22に共通電位線93を介して共通電位Vcomとして低電位VLが供給されることで、他の分割領域3a2、3a3及び3a4に黒色が表示され、その後、共通電極22は、ハイインピーダンス状態とされる。よって、この場合、他の分割領域3a2、3a3及び3a4では、隣り合う画素電極21の電位が同じであるので、素子電流Iout4は発生しない。他方、スイッチ回路25を構成するオフ状態とされた第2のトランスミッションゲート112を流れるリーク電流Iout2が発生する。   As shown in FIG. 13, when all the pixels 20 in the other divided areas 3a2, 3a3 and 3a4 display the same gradation (in this modification, when displaying black), the other divided areas 3a2, 3a3 3a4, the pixel electrode 21 has the first transmission gate (TG1) 111 turned on and the second transmission gate (TG2) according to the low-level image signal from the memory circuit 25. The high potential VH is supplied as the first potential S1 from the first control line 94 through the switch circuit 110 in which 112) is turned off, so that the high potential VH is kept constant. At this time, the common electrode 22 is supplied with the low potential VL as the common potential Vcom through the common potential line 93, whereby black is displayed in the other divided regions 3a2, 3a3, and 3a4. High impedance state. Therefore, in this case, the element current Iout4 is not generated in the other divided regions 3a2, 3a3, and 3a4 because the potentials of the adjacent pixel electrodes 21 are the same. On the other hand, a leakage current Iout2 that flows through the second transmission gate 112 that is turned off and that constitutes the switch circuit 25 is generated.

図13において、駆動回路200は、一の分割領域3a1で発生して第2の制御線95に流れ込むリーク電流Iout2及び素子電流Iout4と、他の分割領域3a2、3a3及び3a4で発生して第2の制御線95に流れ込むリーク電流Iout2とを電流検出回路221a4によって検出する。具体的には、電流検出回路221a4は、一の分割領域3a1で発生したリーク電流Iout2及び素子電流Iout4と他の分割領域3a2、3a2及び3a3で発生したリーク電流Iout2とがシャント抵抗323(図6参照)を流れることにより生じる電位をオペアンプ310によって増幅した電位として、一の分割領域3a1で発生したリーク電流Iout2及び素子電流Iout4と他の分割領域3a2、3a2及び3a3で発生したリーク電流Iout2との総和を検出する。   In FIG. 13, the driving circuit 200 generates a leakage current Iout2 and a device current Iout4 that are generated in one divided region 3a1 and flow into the second control line 95, and are generated in the other divided regions 3a2, 3a3, and 3a4. The leakage current Iout2 flowing into the control line 95 is detected by the current detection circuit 221a4. Specifically, in the current detection circuit 221a4, the leakage current Iout2 and element current Iout4 generated in one divided region 3a1 and the leakage current Iout2 generated in the other divided regions 3a2, 3a2, and 3a3 are shunt resistors 323 (FIG. 6). As a potential amplified by the operational amplifier 310, the leakage current Iout2 and the element current Iout4 generated in one divided region 3a1 and the leakage current Iout2 generated in the other divided regions 3a2, 3a2, and 3a3 Detect the sum.

次に、駆動回路200は、4つの分割領域3a1、3a2、3a3及び3a4のうち、一の分割領域3a2において、互いに隣り合う画素20において異なる階調が表示されると共に、他の分割領域3a1、3a3及び3a4において、すべての画素20が互いに同じ階調が表示されるように、且つ、共通電極22がハイインピーダンス状態となるように、電気泳動表示パネル1を駆動する。そして、駆動回路200は、一の分割領域3a2で発生して第2の制御線95に流れ込むリーク電流Iout2及び素子電流Iout4と、他の分割領域3a1、3a3及び3a4で発生して第2の制御線95に流れ込むリーク電流Iout2とを電流検出回路221a4によって検出する。このような動作を、分割領域3a3及び3a4についても同様に繰り返すことにより、一の分割領域3a3及び3a4で発生するリーク電流Iout2及び素子電流Iout4を電流検出回路221a4によって検出する。   Next, the drive circuit 200 displays different gradations in the pixels 20 adjacent to each other in one divided region 3a2 among the four divided regions 3a1, 3a2, 3a3, and 3a4. In 3a3 and 3a4, the electrophoretic display panel 1 is driven so that all the pixels 20 can display the same gradation and the common electrode 22 is in a high impedance state. Then, the drive circuit 200 generates the second control by generating the leakage current Iout2 and the device current Iout4 generated in one divided region 3a2 and flowing into the second control line 95, and in the other divided regions 3a1, 3a3, and 3a4. The leak current Iout2 flowing into the line 95 is detected by the current detection circuit 221a4. By repeating this operation for the divided regions 3a3 and 3a4 in the same manner, the leakage current Iout2 and the element current Iout4 generated in the one divided region 3a3 and 3a4 are detected by the current detection circuit 221a4.

このように、本変形例では、分割領域3a1、3a2、3a3及び3a4の各々毎に、互いに異なるタイミングで素子電流Iout4を検出する。よって、電気泳動素子23の温度を分割領域3a1、3a2、3a3及び3a4の各々毎に推定することができ、駆動電圧をより適切に補正することができる。   As described above, in this modification, the element current Iout4 is detected at different timings for each of the divided regions 3a1, 3a2, 3a3, and 3a4. Therefore, the temperature of the electrophoretic element 23 can be estimated for each of the divided regions 3a1, 3a2, 3a3, and 3a4, and the drive voltage can be corrected more appropriately.

<第5実施形態>
第5実施形態に係る電気泳動表示装置について、図14を参照して説明する。
<Fifth Embodiment>
An electrophoretic display device according to a fifth embodiment will be described with reference to FIG.

図14は、第5実施形態に係る電気泳動表示装置の駆動回路による駆動電圧の補正動作を説明するためのブロック図である。   FIG. 14 is a block diagram for explaining a drive voltage correction operation by the drive circuit of the electrophoretic display device according to the fifth embodiment.

図14において、第5実施形態に係る電気泳動表示装置は、第1実施形態における電流検出回路221a及び信号処理回路221bに代えて電流検出回路221a5及び信号処理回路221b5を備える点で、上述した第1実施形態に係る電気泳動表示装置と異なり、その他の点については上述した第1実施形態に係る電気泳動表示装置と概ね同様に構成されている。   In FIG. 14, the electrophoretic display device according to the fifth embodiment includes the current detection circuit 221a5 and the signal processing circuit 221b5 in place of the current detection circuit 221a and the signal processing circuit 221b in the first embodiment. Unlike the electrophoretic display device according to the first embodiment, the other configuration is substantially the same as the electrophoretic display device according to the first embodiment described above.

図14において、電流検出回路221a5は、共通電位線93に電気的に接続可能に構成され、共通電位線93に流れる電流を検出可能に構成されている。電流検出回路221a5は、図6を参照して上述した第1実施形態における電流検出回路221aと概ね同様に構成されているが、オペアンプ310の+入力端子に低電位電源線92に代えて第2の制御線95及び共通電位線93が電気的に接続可能に構成されている点で、第1実施形態における電流検出回路221aと異なる。   In FIG. 14, the current detection circuit 221 a 5 is configured to be electrically connectable to the common potential line 93 and configured to be able to detect a current flowing through the common potential line 93. The current detection circuit 221a5 is configured in substantially the same manner as the current detection circuit 221a in the first embodiment described above with reference to FIG. 6, but the second input instead of the low-potential power line 92 is added to the + input terminal of the operational amplifier 310. The control line 95 and the common potential line 93 are configured to be electrically connectable with each other, and are different from the current detection circuit 221a in the first embodiment.

信号処理回路221b5は、駆動電圧パラメーターテーブル222に予め規定された複数の電圧の中から駆動電圧を、電流検出回路221a5から入力される電位Voutに応じて選択する。   The signal processing circuit 221b5 selects a drive voltage from a plurality of voltages defined in advance in the drive voltage parameter table 222 according to the potential Vout input from the current detection circuit 221a5.

図14において、駆動回路200は、駆動電圧を補正する際には、表示領域3aのすべての画素20において同じ階調が表示されるように(言い換えれば、例えば、表示領域3aにおいて全黒画像(或いは全白画像)が表示されるように)、且つ、共通電極22が低電位VLとなるように、電気泳動表示パネル1を駆動する。   In FIG. 14, when the drive circuit 200 corrects the drive voltage, the same gradation is displayed in all the pixels 20 in the display area 3 a (in other words, for example, an all black image ( Or the electrophoretic display panel 1 is driven so that the common electrode 22 is at a low potential VL.

具体的には、駆動電圧の補正時には、各画素20の画素電極21は、メモリー回路25からのローレベルの画像信号に応じて第1のトランスミッションゲート(TG1)111がオン状態とされると共に第2のトランスミッションゲート(TG2)112がオフ状態とされたスイッチ回路110を介して、第1の制御線94から第1の電位S1として高電位VHが供給されることにより、高電位VHで一定とされる。一方、共通電極22は、共通電位線93を介して共通電位Vcomとして低電位VLが供給される。   Specifically, at the time of correcting the driving voltage, the pixel electrode 21 of each pixel 20 is turned on in response to the first transmission gate (TG1) 111 being turned on in accordance with the low-level image signal from the memory circuit 25. The high potential VH is supplied as the first potential S1 from the first control line 94 via the switch circuit 110 in which the second transmission gate (TG2) 112 is turned off. Is done. On the other hand, the common electrode 22 is supplied with the low potential VL as the common potential Vcom through the common potential line 93.

このように、画素電極21が高電位VHとされ、共通電極22が低電位VLとされることで、画素電極21及び共通電極22間の電位差によって電気泳動素子23を流れる素子電流Iout5が発生する。素子電流Iout5は、高電位VLとされた画素電極21側から低電位VLとされた共通電極22側に向かって電気泳動素子23を流れ、共通電位線93に流れ込む。   As described above, when the pixel electrode 21 is set to the high potential VH and the common electrode 22 is set to the low potential VL, the element current Iout5 flowing through the electrophoretic element 23 is generated by the potential difference between the pixel electrode 21 and the common electrode 22. . The element current Iout5 flows through the electrophoretic element 23 from the pixel electrode 21 side at the high potential VL toward the common electrode 22 side at the low potential VL, and flows into the common potential line 93.

他方で、スイッチ回路110では、上述した第2実施形態と同様に、第1の制御線94側から第2の制御線95側に向かって、オフ状態とされら第2のトランスミッションゲート112(即ち、オフ状態とされたトランジスター112p及び112n)を流れるリーク電流Iout2が発生する。リーク電流Iout2は、第2の制御線95に流れ込む。   On the other hand, in the switch circuit 110, as in the second embodiment described above, the second transmission gate 112 (ie, the second transmission gate 112 (ie, the second control gate 95) is turned off from the first control line 94 side toward the second control line 95 side. , A leakage current Iout2 flowing through the transistors 112p and 112n) turned off is generated. The leak current Iout2 flows into the second control line 95.

駆動回路200は、このように発生した素子電流Iout5及びリーク電流Iout2を電流検出回路221a5によって検出する。具体的には、電流検出回路221a5は、素子電流Iout5及びリーク電流Iout2がシャント抵抗323(図6参照)を流れることにより生じる電位をオペアンプ310によって増幅した電位として素子電流Iout5及びリーク電流Iout2の総和を検出する。   The drive circuit 200 detects the element current Iout5 and the leak current Iout2 generated in this way by the current detection circuit 221a5. Specifically, the current detection circuit 221a5 uses the sum of the element current Iout5 and the leakage current Iout2 as a potential amplified by the operational amplifier 310 by the potential generated by the element current Iout5 and the leakage current Iout2 flowing through the shunt resistor 323 (see FIG. 6). Is detected.

次に、駆動回路200は、駆動電圧を、電流検出回路221a5によって検出したリーク電流Iout2及び素子電流Iout5に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧に補正する。具体的には、駆動回路200は、駆動電圧パラメーターテーブル222に電気泳動素子23の温度に対する適切な駆動電圧として規定された複数の電圧の中から、検出したリーク電流Iout2及び素子電流Iout5に基づいて推定される電気泳動素子23の温度に適した電圧を、信号処理回路221b5によって選択する。   Next, the drive circuit 200 corrects the drive voltage to a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element 23 estimated based on the leakage current Iout2 and the element current Iout5 detected by the current detection circuit 221a5. Specifically, the drive circuit 200 is based on the detected leak current Iout2 and element current Iout5 from among a plurality of voltages defined as appropriate drive voltages for the temperature of the electrophoretic element 23 in the drive voltage parameter table 222. A voltage suitable for the estimated temperature of the electrophoretic element 23 is selected by the signal processing circuit 221b5.

本実施形態によれば、メモリー回路25のリーク電流Iout2に加えて、電気泳動素子23を流れる素子電流Iout5を検出する。素子電流Iout5は、電気泳動素子23を流れるので、その温度特性は、電気泳動素子23の温度特性に殆ど或いは実践上完全に一致する。よって、本実施形態によれば、電気泳動素子23の温度をより一層高精度に推定することができ、駆動電圧を、電気泳動素子23の温度に応じてより一層高精度に補正することができる。   According to this embodiment, in addition to the leakage current Iout2 of the memory circuit 25, the element current Iout5 flowing through the electrophoretic element 23 is detected. Since the element current Iout5 flows through the electrophoretic element 23, the temperature characteristic thereof almost or completely coincides with the temperature characteristic of the electrophoretic element 23 in practice. Therefore, according to this embodiment, the temperature of the electrophoretic element 23 can be estimated with higher accuracy, and the drive voltage can be corrected with higher accuracy according to the temperature of the electrophoretic element 23. .

<電子機器>
次に、上述した電気泳動表示装置を適用した電子機器について、図15及び図16を参照して説明する。以下では、上述した電気泳動表示装置を電子ペーパー及び電子ノートに適用した場合を例にとる。
<Electronic equipment>
Next, electronic devices to which the above-described electrophoretic display device is applied will be described with reference to FIGS. Below, the case where the electrophoretic display device described above is applied to electronic paper and an electronic notebook is taken as an example.

図15は、電子ペーパー1400の構成を示す斜視図である。   FIG. 15 is a perspective view illustrating a configuration of the electronic paper 1400.

図15に示すように、電子ペーパー1400は、上述した実施形態に係る電気泳動表示装置1を表示部1401として備えている。電子ペーパー1400は可撓性を有し、従来の紙と同様の質感及び柔軟性を有する書き換え可能なシートからなる本体1402を備えて構成されている。   As illustrated in FIG. 15, the electronic paper 1400 includes the electrophoretic display device 1 according to the above-described embodiment as a display unit 1401. The electronic paper 1400 has flexibility, and includes a main body 1402 formed of a rewritable sheet having the same texture and flexibility as conventional paper.

図16は、電子ノート1500の構成を示す斜視図である。   FIG. 16 is a perspective view showing the configuration of the electronic notebook 1500.

図16に示すように、電子ノート1500は、図15で示した電子ペーパー1400が複数枚束ねられ、カバー1501に挟まれているものである。カバー1501は、例えば外部の装置から送られる表示データを入力するための表示データ入力手段(図示せず)を備える。これにより、その表示データに応じて、電子ペーパーが束ねられた状態のまま、表示内容の変更や更新を行うことができる。   As shown in FIG. 16, an electronic notebook 1500 is obtained by bundling a plurality of electronic papers 1400 shown in FIG. 15 and sandwiching them between covers 1501. The cover 1501 includes display data input means (not shown) for inputting display data sent from an external device, for example. Thereby, according to the display data, the display content can be changed or updated while the electronic paper is bundled.

上述した電子ペーパー1400及び電子ノート1500は、上述した実施形態に係る電気泳動表示装置を備えるので、高品質な画像表示を行うことが可能である。   Since the electronic paper 1400 and the electronic notebook 1500 described above include the electrophoretic display device according to the above-described embodiment, high-quality image display can be performed.

本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、特許請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う電気泳動表示装置、電気泳動表示装置の駆動方法及び該電気泳動表示装置を備えてなる電子機器もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be appropriately changed without departing from the gist or concept of the invention that can be read from the claims and the entire specification, and an electrophoretic display with such a change. The apparatus, the driving method of the electrophoretic display device, and the electronic apparatus provided with the electrophoretic display device are also included in the technical scope of the present invention.

21…画素電極、22…共通電極、23…電気泳動素子、24…画素スイッチング用トランジスター、25…メモリー回路、25a1、25a2、25b1、25b2…トランジスター、28…素子基板、29…対向基板、60…走査線駆動回路、70…データ線駆動回路、80…マイクロカプセル、94、95…制御線、110…スイッチ回路、111、112…トランスミッションゲート、111p、111n、112p、112n…トランジスター、200…駆動回路、210…電源回路、220…駆動電圧制御部、290…コントローラー   DESCRIPTION OF SYMBOLS 21 ... Pixel electrode, 22 ... Common electrode, 23 ... Electrophoretic element, 24 ... Pixel switching transistor, 25 ... Memory circuit, 25a1, 25a2, 25b1, 25b2 ... Transistor, 28 ... Element substrate, 29 ... Opposite substrate, 60 ... Scanning line drive circuit, 70 ... Data line drive circuit, 80 ... Microcapsule, 94, 95 ... Control line, 110 ... Switch circuit, 111, 112 ... Transmission gate, 111p, 111n, 112p, 112n ... Transistor, 200 ... Drive circuit , 210... Power supply circuit, 220... Drive voltage controller, 290.

Claims (10)

複数の画素が配列された表示領域を有する電気泳動表示装置であって、
一対の第1及び第2基板と、
前記第1及び第2基板間に挟持された電気泳動素子と、
前記第1基板上に前記画素毎に設けられた画素電極と、
前記第2基板上に前記画素電極に対向するように設けられた共通電極と、
前記第1基板上に前記画素毎に設けられ、前記画素電極に電気的に接続された画素回路と、
前記画素回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を検出し、前記画素電極及び前記共通電極間に画像データに応じて印加すべき駆動電圧を、前記リーク電流に基づいて推定される前記電気泳動素子の温度に適した電圧に補正する補正手段と
を備えることを特徴とする電気泳動表示装置。
An electrophoretic display device having a display area in which a plurality of pixels are arranged,
A pair of first and second substrates;
An electrophoretic element sandwiched between the first and second substrates;
A pixel electrode provided for each of the pixels on the first substrate;
A common electrode provided on the second substrate so as to face the pixel electrode;
A pixel circuit provided for each pixel on the first substrate and electrically connected to the pixel electrode;
A leakage current when at least one transistor constituting the pixel circuit is turned off is detected, and a driving voltage to be applied according to image data between the pixel electrode and the common electrode is estimated based on the leakage current. An electrophoretic display device comprising: correction means for correcting to a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element.
前記画素回路は、
画素スイッチング用トランジスターと、
前記画素電極及び前記画素スイッチング用トランジスター間に電気的に接続され、前記画素スイッチング用トランジスターを介して供給される画像信号を保持することが可能なメモリー回路と
を有し、
前記補正手段は、前記リーク電流として、前記メモリー回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を検出する
ことを特徴とする請求項1に記載の電気泳動表示装置。
The pixel circuit includes:
A pixel switching transistor;
A memory circuit electrically connected between the pixel electrode and the pixel switching transistor and capable of holding an image signal supplied via the pixel switching transistor;
The electrophoretic display device according to claim 1, wherein the correction unit detects a leakage current when at least one transistor included in the memory circuit is turned off as the leakage current.
前記補正手段は、前記リーク電流として、前記画素スイッチング用トランジスターのオフ時のリーク電流を検出することを特徴とする請求項2に記載の電気泳動表示装置。   The electrophoretic display device according to claim 2, wherein the correction unit detects a leak current when the pixel switching transistor is off as the leak current. 前記画素回路は、前記メモリー回路から出力される前記画像信号に基づく出力信号に応じて、第1及び第2の制御線のいずれかを前記画素電極に電気的に接続するスイッチ回路を有し、
前記補正手段は、前記リーク電流として、前記スイッチ回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を検出する
ことを特徴とする請求項2又は3に記載の電気泳動表示装置。
The pixel circuit includes a switch circuit that electrically connects one of the first and second control lines to the pixel electrode in response to an output signal based on the image signal output from the memory circuit.
The electrophoretic display device according to claim 2, wherein the correction unit detects, as the leakage current, a leakage current when at least one transistor constituting the switch circuit is off.
前記補正手段は、前記電気泳動素子に所定電圧を印加して、前記電気泳動素子に流れる素子電流を検出し、前記駆動電圧を、前記素子電流及び前記リーク電流に基づいて推定される前記電気泳動素子の温度に適した電圧に補正することを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の電気泳動表示装置。   The correction means applies a predetermined voltage to the electrophoretic element, detects an element current flowing through the electrophoretic element, and estimates the driving voltage based on the element current and the leakage current. The electrophoretic display device according to claim 1, wherein the voltage is corrected to a voltage suitable for the temperature of the element. 前記補正手段は、隣り合う前記画素電極間に電位差を生じさせることにより、前記電気泳動素子に前記所定電圧を印加することを特徴する請求項5に記載の電気泳動表示装置。   The electrophoretic display device according to claim 5, wherein the correcting unit applies the predetermined voltage to the electrophoretic element by generating a potential difference between the adjacent pixel electrodes. 前記補正手段は、前記画素電極及び前記共通電極間に電位差を生じさせることにより、前記電気泳動素子に前記所定電圧を印加することを特徴とする請求項5又は6に記載の電気泳動表示装置。   The electrophoretic display device according to claim 5, wherein the correcting unit applies the predetermined voltage to the electrophoretic element by generating a potential difference between the pixel electrode and the common electrode. 前記補正手段は、前記表示領域が分割されてなる複数の分割領域の各々に対して、互いに異なるタイミングで前記電気泳動素子に前記所定電圧を印加して、前記分割領域毎に前記素子電流を検出することを特徴とする請求項5から7のいずれか一項に記載の電気泳動表示装置。   The correction means applies the predetermined voltage to the electrophoretic element at different timings to each of a plurality of divided areas obtained by dividing the display area, and detects the element current for each divided area. The electrophoretic display device according to claim 5, wherein the electrophoretic display device is a display device. 複数の画素が配列された表示領域を有する電気泳動表示装置であって、一対の第1及び第2基板と、前記第1及び第2基板間に挟持された電気泳動素子と、前記第1基板上に前記画素毎に設けられた画素電極と、前記第2基板上に前記画素電極に対向するように設けられた共通電極と、前記第1基板上に前記画素毎に設けられ、前記画素電極に電気的に接続された画素回路とを備えた電気泳動表示装置を駆動する電気泳動表示装置の駆動方法であって、
前記画素回路を構成する少なくとも一のトランジスターのオフ時のリーク電流を検出する検出工程と、
前記画素電極及び前記共通電極間に画像データに応じて印加すべき駆動電圧を、前記リーク電流に基づいて推定される前記電気泳動素子の温度に適した電圧に補正する補正工程と
を含むことを特徴とする電気泳動表示装置の駆動方法。
An electrophoretic display device having a display area in which a plurality of pixels are arranged, a pair of first and second substrates, an electrophoretic element sandwiched between the first and second substrates, and the first substrate A pixel electrode provided for each pixel; a common electrode provided on the second substrate so as to face the pixel electrode; and a pixel electrode provided on the first substrate for each pixel. An electrophoretic display device driving method for driving an electrophoretic display device comprising a pixel circuit electrically connected to
A detection step of detecting a leakage current when the at least one transistor constituting the pixel circuit is off;
And a correction step of correcting a drive voltage to be applied according to image data between the pixel electrode and the common electrode to a voltage suitable for the temperature of the electrophoretic element estimated based on the leak current. A method for driving an electrophoretic display device.
請求項1から8のいずれか一項に記載の電気泳動表示装置を備えることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the electrophoretic display device according to claim 1.
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