JP2011040474A - Method for specifying glass substrate position and apparatus used therefor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、予め定められた目標位置付近に配置された方形ガラス基板の位置を正確に特定する方法および装置に関し、特に、ガラス基板上の位置を特定するためのマークを不要のものとすることができ、しかも、正確に位置を特定することができるものに関する。 The present invention relates to a method and an apparatus for accurately specifying the position of a rectangular glass substrate arranged in the vicinity of a predetermined target position, and in particular, a mark for specifying the position on the glass substrate is unnecessary. Further, the present invention relates to a device that can specify the position accurately.
方形をなすガラス基板を高精度に加工する工程において、このガラス基板の位置を正確に特定することは極めて重要であり、従来、ガラス基板の位置を特定する方法として、ガラス基板上の予め定められた位置に刻印され、又は、印刷されたマークを読み取り、読み取ったマークの座標から、ガラス基板の位置を特定することが行われていた(例えば、特許文献1参照。)。 In the process of processing a rectangular glass substrate with high accuracy, it is extremely important to accurately specify the position of the glass substrate. Conventionally, as a method for specifying the position of the glass substrate, a predetermined method on the glass substrate is predetermined. It has been performed to read a mark stamped or printed at a new position and specify the position of the glass substrate from the coordinates of the read mark (see, for example, Patent Document 1).
しかし、この方法では、極めて高精度に刻印、又は、印刷されたマークが必要となり原材料のコストアップを招いてしまうという問題があった。そこで、このようなマークを使用しないでガラス基板の位置を特定する方法として、図1に、ガラス基板をその方形からの変形度合いを誇張して示すように、方形のガラス基板1の1辺3の上の2つの代表点A1、A2をセンサで検知しそれらの位置A1、A2からその辺3の位置と方向とを算出して、ガラス基板1の位置を特定する方法が提案されている(例えば、特許文献2参照。)。
However, this method has a problem in that the marking or the printed mark is required with extremely high accuracy and the cost of the raw material is increased. Therefore, as a method of specifying the position of the glass substrate without using such a mark, one
しかしながら、この方法では、辺3が本来の位置として推定される直線L0に対して、角度θだけずれた直線L1上にあると計算されてしまい、特定された位置の精度が極めて低いという問題があった。
However, in this method, it is calculated that the
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであり、ガラス基板上の位置を特定するためのマークを不要のものとし、しかも、正確に位置を特定することができるガラス基板位置特定方法およびそれに用いられる装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such a problem, and a glass substrate position specifying method that can make a mark for specifying a position on a glass substrate unnecessary and can specify a position accurately. And it aims at providing the apparatus used for it.
<1>は、予め定められた目標位置付近に配置された方形ガラス基板の面内位置を正確に特定する方法において、
ガラス基板の頂点を構成する2辺の、この頂点近傍の位置と向きとを検知してこの頂点の位置を特定し、特定された頂点の位置の少なくとも2つから、ガラス基板の位置と向きとを特定することを特徴とするガラス基板位置特定方法である。
なお、以下、ガラス基板の面内の位置とは、ガラス基板を含む面内の互いに交差する2方向に沿って測った位置以外にその面内の向きを含んだものをいうものとする。
<1> is a method for accurately specifying an in-plane position of a rectangular glass substrate disposed in the vicinity of a predetermined target position,
The position and orientation of the two sides constituting the vertex of the glass substrate are detected near the vertex to identify the position of the vertex, and the position and orientation of the glass substrate are determined from at least two of the identified vertex positions. This is a glass substrate position specifying method characterized by specifying.
Hereinafter, the position in the plane of the glass substrate refers to a position including the direction in the plane other than the position measured along two mutually intersecting directions in the plane including the glass substrate.
<2>は、<1>のガラス基板位置特定方法に用いられる装置であって、前記ガラス基板の少なくとも2つの頂点を含む所定面内範囲を撮影するカメラと、これらのカメラで撮像された画像からそれぞれの頂点の位置を計算して特定する頂点位置特定手段とを具え、この頂点位置特定手段は、それぞれの画像内での頂点の位置をローカル座標位置として特定するローカル座標頂点位置特定部と、このローカル座標位置情報および絶対座標におけるカメラの位置情報に基づいて頂点の絶対座標位置を求める絶対座標頂点位置特定部とより構成されていることを特徴とするガラス基板位置特定装置である。 <2> is an apparatus used in the glass substrate position specifying method of <1>, and a camera that captures a predetermined in-plane range including at least two vertices of the glass substrate, and images captured by these cameras A vertex position specifying means for calculating and specifying the position of each vertex from the local coordinate vertex position specifying unit for specifying the position of the vertex in each image as a local coordinate position; The glass substrate position specifying device comprises an absolute coordinate vertex position specifying unit for obtaining an absolute coordinate position of a vertex based on the local coordinate position information and the camera position information in absolute coordinates.
<1>によれば、ガラス基板の頂点を構成する2辺の、この頂点近傍の位置と向きとを検知してこの頂点の位置を特定するので、ガラス基板の頂点が丸くてもその位置を正確に特定することができ、また、このようにして特定された頂点の位置の少なくとも2つから、ガラス基板の位置と向きとを特定するので、ガラス基板上の位置を特定するためのマークを不要のものとし、しかも、ガラス基板の位置を正確に特定することができる。 According to <1>, the positions and directions of the two sides constituting the vertex of the glass substrate are detected in the vicinity of the vertex and the position of the vertex is specified. Therefore, even if the vertex of the glass substrate is round, the position is determined. Since the position and orientation of the glass substrate are specified from at least two of the vertex positions specified in this manner, a mark for specifying the position on the glass substrate can be provided. In addition, the position of the glass substrate can be specified accurately.
<2>によれば、前記ガラス基板の少なくとも2つの頂点を含む所定面内範囲を撮影するカメラと、これらのカメラで撮像された画像からそれぞれの頂点の位置を計算して特定する頂点位置特定手段とを具えるので、<1>の方法を簡易に実現することができ、しかも、この頂点位置特定手段は、それぞれの画像内での頂点の位置をローカル座標位置として特定するローカル座標頂点位置特定部と、このローカル座標位置情報および絶対座標におけるカメラの位置情報に基づいて頂点の絶対座標位置を求める絶対座標頂点位置特定部とより構成されているので、ガラス基板の絶対座標値を知ることができ、この情報に基づいて、ガラス基板に対して加工を加える装置の動作を簡易に調整することができる。 According to <2>, a camera that captures a predetermined in-plane range including at least two vertices of the glass substrate, and a vertex position specification that calculates and specifies the position of each vertex from an image captured by these cameras The method <1> can be easily realized, and the vertex position specifying means specifies the position of the vertex in each image as the local coordinate position. Because it consists of a specific part and an absolute coordinate vertex position specifying part that calculates the absolute coordinate position of the vertex based on the local coordinate position information and the camera position information in absolute coordinates, know the absolute coordinate value of the glass substrate Based on this information, the operation of the apparatus for processing the glass substrate can be easily adjusted.
本発明に係る実施形態のガラス基板位置特定方法およびそれに用いられるガラス基板位置特定装置について図を参照して以下に説明する。図2は、本発明に係るガラス基板位置特定装置の構成を示す概念図であり、ガラス基板位置特定装置10は、作業ステーション10の目標位置付近に載置されたガラス基板1の少なくとも2つの頂点(図示の場合4つ)11、12、13、14を含む所定面内範囲(視野)21、22、23、24を撮影するカメラC1、C2、C3、C4と、これらのカメラC1、C2、C3、C4で撮像された画像からそれぞれの頂点の位置を計算して特定する頂点位置特定手段7とを具える。
A glass substrate position specifying method and a glass substrate position specifying apparatus used in the glass substrate position specifying method according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 2 is a conceptual diagram showing the configuration of the glass substrate position specifying device according to the present invention. The glass substrate
ここで、目標位置付近とは、ガラス基板の形状が正確に仕様通りであり、搬送装置が予め定められた位置に正確に載置された場合には、ガラス基板は正しく目標位置に配置されるべきところ、実際には僅かながらずれて載置されるが、そのずれは、ガラス基板のそれぞれの頂点11、12、13、14が、カメラC1、C2、C3、C4の視野として設定した所定面内範囲21、22、23、24の範囲内には十分入っている程度に小さいことを意味する。
Here, the vicinity of the target position means that the shape of the glass substrate is exactly as specified, and the glass substrate is correctly placed at the target position when the transport device is accurately placed at a predetermined position. Although it should be placed slightly deviated in practice, the deviation is caused by the predetermined surfaces set by the
また、頂点位置特定手段7は、具体的には、CPU、メモリを具えたハードウエアに、頂点位置を特定するためのソフトウエアをインストールしたもので構成することができる。そして、頂点位置特定手段7は、図2における頂点14を例にとると、図3に概念図で示すように、カメラC4で撮影された画像をもとに頂点14の位置Pを、カメラC4の座標(x,y)を基準にしたローカル座標位置(x1,y1)として特定するローカル座標頂点位置特定部8と、このローカル座標位置(x1,y1)の情報および絶対座標[X,Y]におけるカメラの位置情報(原点位置[X1,Y1]および座標の傾きφ)に基づいて頂点14の絶対座標位置を求める絶対座標頂点位置特定部9と、により構成されている。
In addition, the vertex position specifying means 7 can be specifically configured by installing software for specifying the vertex position in hardware including a CPU and a memory. Then, taking the
図4は、カメラC4によって撮影された画像を例示する模式図であり、ローカル座標頂点位置特定部8は、カメラC4によって撮影された画像を画像処理して、頂点14付近のガラス基板1の2つ縁31、34を特定し、次いで、予め定められたアルゴリズムに基づいてそれぞれの縁上の2点(例えば、傾きの変化が所定の値以下となる2点)を選択し、各縁について選択した2点を結ぶ直線の交点を頂点14の位置Pであると特定するように構成されている。すなわち、図示の場合、縁31上の2点P1、P2から求められた直線と、縁34上の2点P3、P4から求められた直線との交点として、頂点14の位置Pが求まるのである。
FIG. 4 is a schematic diagram illustrating an image photographed by the camera C4. The local coordinate vertex
本願の発明は、このようにして2つ以上の頂点について絶対位置を求め、それらの絶対位置からガラス基板1全体の位置(向きを含む)を特定するものであり、ガラス基板1の位置とは、例えば、ガラス基板中心の位置と、傾きとである。 In the invention of the present application, the absolute position is obtained for two or more vertices in this way, and the position (including the orientation) of the entire glass substrate 1 is specified from the absolute position. What is the position of the glass substrate 1? For example, the position of the center of the glass substrate and the inclination.
1 ガラス基板
3 辺
7 頂点位置特定手段
8 ローカル座標頂点位置特定部
9 絶対座標頂点位置特定部
10 作業ステーション
11、12、13、14 頂点
21、22、23、24 所定面内範囲(視野)
31、34 縁
C1、C2、C3、C4 カメラ
P1、P2、P3、P4 縁上の点
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
31, 34 Edge C1, C2, C3, C4 Camera P1, P2, P3, P4 Point on the edge
Claims (2)
ガラス基板の頂点を構成する2辺の、この頂点近傍の位置と向きとを検知してこの頂点の位置を特定し、特定された頂点の位置の少なくとも2つから、ガラス基板の位置と向きとを特定することを特徴とするガラス基板位置特定方法。 In a method for accurately identifying the in-plane position of a rectangular glass substrate disposed in the vicinity of a predetermined target position,
The position and orientation of the two sides constituting the vertex of the glass substrate are detected near the vertex to identify the position of the vertex, and the position and orientation of the glass substrate are determined from at least two of the identified vertex positions. The glass substrate position specifying method characterized by specifying.
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CN103659812A (en) * | 2012-09-20 | 2014-03-26 | 株式会社安川电机 | Robot system and article manufacturing method |
KR20170023788A (en) | 2014-06-27 | 2017-03-06 | 니폰 제온 가부시키가이샤 | Composition for nonaqueous secondary cell functional layer, functional layer for nonaqueous secondary cell, and nonaqueous secondary cell |
KR20170129125A (en) | 2015-03-20 | 2017-11-24 | 니폰 제온 가부시키가이샤 | Compositions for non-aqueous secondary battery functional layer, functional layer for non-aqueous secondary battery, and non-aqueous secondary battery |
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