JP2011007600A - Measuring instrument - Google Patents

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Toshiyuki Nakatani
敏之 中谷
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measuring instrument which can perform high-precision measurement.SOLUTION: The measuring instrument 1 includes: a housing 2 which incorporates a measuring circuit 3 having a semiconductor device 32 for performing measurement processing and has a hermetically sealed structure; a fan 6 for stirring the gas within the housing 2; a dehumidifying agent 7 for removing the water within the housing 2; a first heat sink 4 which is provided in close contact with the semiconductor device 32 to radiate the heat of the semiconductor device 32 into the inside of the housing 2; and a second heat sink 5 which is provided on the inner surface of the housing 2 to radiate the heat within the housing 2 into the outside of the housing 2.

Description

本発明は、測定回路を内蔵する測定器に関する。   The present invention relates to a measuring instrument incorporating a measuring circuit.

従来、所定の処理を実施することで発熱する半導体部品(測定回路)等を内蔵する筐体構造が知られている(例えば、特許文献1、2参照)。
特許文献1に記載の筐体構造は、筐体の上方に形成された開口を閉塞するカバーを有し、内蔵する半導体部品に近接するように有底筒体を備えている。カバーには、有底筒体の開口と対向する位置に通気孔が形成されている。これにより、半導体部品から発生する熱が有底筒体から有底筒体内の空気に伝達される。また、カバーに通気孔が設けられているため、有底筒体内の空気は、この通気孔から外部に放出される。以上により、半導体部品の熱を有底筒体、筒体内部、及び通気孔を通して外部に放出することで、過剰な発熱を抑制している。
Conventionally, a housing structure containing a semiconductor component (measurement circuit) or the like that generates heat by performing a predetermined process is known (see, for example, Patent Documents 1 and 2).
The housing structure described in Patent Document 1 includes a cover that closes an opening formed above the housing, and includes a bottomed cylindrical body so as to be close to a built-in semiconductor component. The cover has a vent hole at a position facing the opening of the bottomed cylindrical body. Thereby, the heat generated from the semiconductor component is transmitted from the bottomed cylinder to the air in the bottomed cylinder. Further, since the vent is provided in the cover, the air in the bottomed cylinder is discharged from the vent to the outside. As described above, excessive heat generation is suppressed by releasing the heat of the semiconductor component to the outside through the bottomed cylinder, the inside of the cylinder, and the vent hole.

特許文献2に記載の筐体は、密閉構造を有し、筐体の内外で水分のみを行き来させる吸・放湿材料と、筐体内の空気を循環する送風手段と、筐体内の空気を冷却する冷却器とを備えている。この筐体では、筐体内の湿度に応じて、吸・放湿材料が水分を吸収、または放出して、筐体内の湿度を制御している。また、冷却器により筐体内の温度が高温になることを防止している。   The casing described in Patent Document 2 has a hermetically sealed structure, and absorbs and dehumidifies material that allows only moisture to flow back and forth inside the casing, air blowing means that circulates the air in the casing, and cools the air in the casing And a cooler. In this housing, the moisture in the housing absorbs or releases moisture according to the humidity in the housing to control the humidity in the housing. Moreover, the cooler prevents the temperature in the housing from becoming high.

特開平8−125364号公報JP-A-8-125364 特開平9−138044号公報Japanese Patent Laid-Open No. 9-138044

ここで、半導体部品として、例えば微小な電流を測定する測定回路等があり、このような測定回路は、回路を構成する半導体素子が温度や湿度変化の影響を受けることで、測定結果に誤差を生じ易いものである。
ところで、特許文献1に記載の筐体構造では、半導体部品からの熱が通気孔を介して外部へ放熱されているため、筐体内の温度上昇を抑制できるが、筐体内の湿度を調整する構成を備えていない。カバーが筐体の開口を閉塞しているのみであるため、外部の空気が筐体内に侵入するおそれがあり、外部の空気の湿度環境に影響され、筐体内の湿度を一定に維持することができないという問題がある。したがって、特許文献1のような筐体構造内に測定回路を設ける場合、湿度変化の影響により測定結果に誤差が生じるという問題がある。
また、特許文献2に記載の筐体では、筐体内に冷却器が設けられ、筐体内の空気が冷却されるが、冷却器に結露が発生するおそれがある。また、筐体は密閉構造を有するため、結露が発生すると、筐体内の湿度が高くなり易いという問題がある。したがって、上記特許文献1と同様に、特許文献2のような従来の筐体に測定回路を設ける場合、筐体内の湿度変化の影響により、測定回路の測定結果に誤差が生じるという問題がある。
Here, as a semiconductor component, for example, there is a measurement circuit that measures a minute current, and such a measurement circuit has an error in a measurement result because a semiconductor element constituting the circuit is affected by temperature and humidity changes. It is easy to occur.
By the way, in the housing | casing structure of patent document 1, since the heat | fever from a semiconductor component is thermally radiated outside via a ventilation hole, the temperature rise in a housing | casing can be suppressed, but the structure which adjusts the humidity in a housing | casing Not equipped. Since the cover only blocks the opening of the housing, there is a possibility that external air may enter the housing, and it is affected by the humidity environment of the external air, and the humidity inside the housing can be kept constant. There is a problem that you can not. Therefore, when the measurement circuit is provided in the housing structure as in Patent Document 1, there is a problem that an error occurs in the measurement result due to the influence of the humidity change.
Moreover, in the housing | casing described in patent document 2, although a cooler is provided in a housing | casing and the air in a housing | casing is cooled, there exists a possibility that condensation may generate | occur | produce in a cooler. Further, since the casing has a sealed structure, there is a problem that the humidity in the casing tends to increase when condensation occurs. Therefore, similarly to Patent Document 1, when a measurement circuit is provided in a conventional casing as in Patent Document 2, there is a problem that an error occurs in the measurement result of the measuring circuit due to the influence of humidity change in the casing.

本発明の目的は、高精度な測定を実施可能な測定器を提供することにある。   The objective of this invention is providing the measuring device which can implement a highly accurate measurement.

本発明の測定器は、測定処理を実施する半導体素子が設けられる測定回路を内蔵し、密閉構造を有する筐体と、前記筐体内の気体を攪拌させるファンと、前記筐体内の水分を除去する除湿剤と、前記半導体素子に密着して配設され、前記半導体素子の熱を前記筐体内に放熱する第1の放熱手段と、前記筐体の内面に配設され、前記筐体内の熱を筐体外部に放熱する第2の放熱手段とを備えていることを特徴とする。   The measuring instrument of the present invention has a built-in measurement circuit provided with a semiconductor element for performing measurement processing, removes moisture in the casing, a casing having a sealed structure, a fan for stirring the gas in the casing, and the like. A dehumidifying agent is disposed in close contact with the semiconductor element, a first heat dissipating means for radiating the heat of the semiconductor element into the casing, and an inner surface of the casing to dissipate the heat in the casing. And a second heat radiating means for radiating heat to the outside of the housing.

本発明では、筐体は密閉構造を有するので、外部の空気が筐体内に侵入することがなく、筐体外部の湿度の影響を受けないため、筐体内の湿度変化を防止できる。これに加え、筐体内に除湿剤が設けられているため、筐体内の湿度を低く維持できる。これにより、測定回路への湿度の影響を効果的に低減させることができ、半導体素子における湿度変化による電圧変動などが生じず、測定結果に誤差が生じるなどの不都合を防止できる。
さらに、第1の放熱手段が半導体素子に密着して配設されるので、第1の放熱手段は、半導体素子から発生した熱を筐体内に放熱することができ、筐体内に配設されるファンにより筐体内の気体が攪拌される。これにより、筐体内の温度分布が一様となり、測定回路近傍に高温の気体がこもることがなく、測定回路への温度影響を低減させることができる。そして、筐体の内面に配設される第2の放熱手段が筐体内の熱を筐体の外面に伝達し、当該熱は、筐体の外面から外部に放熱される。これにより、筐体内の温度を一様に低減させることができ、より効果的に温度上昇を抑制することができる。
従って、温度、湿度変化により測定結果に誤差を生じ易い測定回路を備える測定器の測定精度を向上できる。
In the present invention, since the casing has a sealed structure, external air does not enter the casing and is not affected by humidity outside the casing, so that a change in humidity inside the casing can be prevented. In addition, since the dehumidifying agent is provided in the housing, the humidity in the housing can be kept low. As a result, the influence of humidity on the measurement circuit can be effectively reduced, voltage fluctuation due to humidity change in the semiconductor element does not occur, and inconvenience such as an error in the measurement result can be prevented.
Further, since the first heat radiating means is disposed in close contact with the semiconductor element, the first heat radiating means can dissipate heat generated from the semiconductor element into the housing and is disposed within the housing. The gas in the housing is agitated by the fan. As a result, the temperature distribution in the housing becomes uniform, and high-temperature gas is not trapped in the vicinity of the measurement circuit, so that the temperature influence on the measurement circuit can be reduced. And the 2nd thermal radiation means arrange | positioned at the inner surface of a housing | casing transfers the heat | fever in a housing | casing to the outer surface of a housing | casing, and the said heat is radiated | emitted from the outer surface of a housing | casing to the exterior. Thereby, the temperature in a housing | casing can be reduced uniformly and a temperature rise can be suppressed more effectively.
Therefore, it is possible to improve the measurement accuracy of a measuring instrument including a measurement circuit that easily causes an error in measurement results due to temperature and humidity changes.

本発明の測定器では、前記筐体内を、前記第1の放熱手段及び前記測定回路が配設される第1の領域と、前記第2の放熱手段が配設される第2の領域と、に区画するとともに、前記測定回路に対向して設けられる区画板を備え、前記測定回路に対向する前記区画板の中央部分を挟んで、前記第1の領域及び前記第2の領域間を連通する一対の開口部が形成され、前記ファンは、前記第1の領域、一対の開口部のうちの一方、前記第2の領域、及び一対の開口部のうちの他方を通って再び第1の領域に戻る流路を形成し、前記第2の放熱手段は、前記第2の領域内を流れる気体の前記流路中に配設されることが好ましい。   In the measuring instrument of the present invention, in the housing, a first region in which the first heat dissipation unit and the measurement circuit are disposed, a second region in which the second heat dissipation unit is disposed, And a partition plate provided to face the measurement circuit, and communicates between the first region and the second region across a central portion of the partition plate facing the measurement circuit. A pair of openings is formed, and the fan passes through the first region, one of the pair of openings, the second region, and the other of the pair of openings again to return to the first region. Preferably, the second heat radiating means is disposed in the flow path of the gas flowing in the second region.

本発明では、筐体内は、区画板により第1の領域と第2の領域とに区画され、ファンにより第1の領域から第2の領域へ筐体内の気体を循環する流路が形成されるので、筐体内の温度分布をより効果的に一様にできる。
また、第1の領域に配設される第1の放熱手段から放出された熱を吸収した気体は、第2の領域に配設される第2の放熱手段へ向けて流れる。ここで、第2の放熱手段が流路内、すなわち区画板の一対の開口部の間に配設されるので、第1の領域から流れ込んできた気体の熱が確実に第2の放熱手段に吸収されて筐体外に放熱される。
以上により、筐体内の温度をより効果的に一様でき、かつ確実に第2放熱手段から筐体外部に放熱することができるため、温度上昇による測定回路への影響をより抑制することができる。
In the present invention, the inside of the housing is partitioned into a first region and a second region by a partition plate, and a flow path for circulating the gas in the housing from the first region to the second region is formed by a fan. Therefore, the temperature distribution in the housing can be made more effective and uniform.
Further, the gas that has absorbed the heat released from the first heat dissipating means disposed in the first region flows toward the second heat dissipating means disposed in the second region. Here, since the second heat radiating means is disposed in the flow path, that is, between the pair of openings of the partition plate, the heat of the gas flowing in from the first region is reliably supplied to the second heat radiating means. It is absorbed and dissipated outside the housing.
As described above, the temperature inside the housing can be more effectively uniformed and the heat radiation from the second heat radiating means can be surely radiated to the outside of the housing, so that the influence on the measurement circuit due to the temperature rise can be further suppressed. .

本発明の測定器では、前記ファンは、前記第2の領域に配設され、前記第2の放熱手段は、前記ファンを挟んで、少なくとも一対配設されていることが好ましい。   In the measuring instrument of the present invention, it is preferable that the fan is disposed in the second region, and at least one pair of the second heat radiation means is disposed with the fan interposed therebetween.

本発明では、第2の放熱手段が一対配設されているので、筐体内の熱を外部により効率的に放熱できる。また、第2の放熱手段間にファンが配設されているため、第2の領域内において、一方の第2の放熱手段を辿った気体がファンを通過する際、区画板が壁面の役割を果たすため、当該気体を他方の第2の放熱手段へ向かわせる流路を確実に形成することができ、筐体内の温度をより一様にできる。   In the present invention, since a pair of the second heat radiating means are disposed, the heat in the housing can be radiated efficiently from the outside. In addition, since the fan is disposed between the second heat radiating means, when the gas that has traced one of the second heat radiating means passes through the fan in the second region, the partition plate serves as a wall surface. Therefore, the flow path for directing the gas to the other second heat radiating means can be formed reliably, and the temperature in the housing can be made more uniform.

本発明の測定器では、前記筐体内には、比重が前記筐体外の空気よりも大きいガスが封入されていることが好ましい。
本発明では、筐体内には、比重が筐体外の空気の比重よりも大きいガスが封入されているので、筐体内外の比重差により、筐体外から筐体内への空気侵入をより確実に抑制することができる。従って、筐体内の気体の湿度変化をより確実に抑制でき、測定回路への湿度の影響を効果的になくし、測定精度を向上させることができる。
In the measuring instrument of the present invention, it is preferable that a gas having a specific gravity larger than that of the air outside the casing is enclosed in the casing.
In the present invention, a gas whose specific gravity is larger than the specific gravity of the air outside the housing is sealed in the housing, so air intrusion from outside the housing into the housing can be more reliably suppressed due to a difference in specific gravity inside and outside the housing. can do. Therefore, the humidity change of the gas in the housing can be more reliably suppressed, the influence of the humidity on the measurement circuit can be effectively eliminated, and the measurement accuracy can be improved.

本発明の一実施形態に係る測定器の内部を模式的に示す図。The figure which shows typically the inside of the measuring device which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の変形例に係る測定器の内部を模式的に示す図。The figure which shows typically the inside of the measuring device which concerns on the modification of this invention.

以下、本発明に係る一実施形態を図面に基づいて説明する。
[測定器の構成]
図1は、測定器1の内部を模式的に示す図である。
本実施形態での測定器1は、微小な電流、電圧等を検出する小型測定器であり、例えば、携帯型電流電圧測定器などに用いることができる。また、測定器1としては、これに限定されるものではなく、微弱電流や電圧を測定することで他の物理量を測定するいかなる測定器にも適用でき、例えば光電交換素子を用いた光量計などにも適用できる。なお、以下で記載する「上」、「下」、「左」、「右」は、図1の図面視において、上下左右に相当するものである。
この測定器1は、図1に示すように、筐体2と、筐体2内に内蔵される測定回路3と、第1の放熱手段である第1のヒートシンク4と、第2の放熱手段である第2のヒートシンク5と、ファン6と、除湿剤7とを備えている。なお、測定回路3等へ電力を供給するボタン電池等の電源、測定回路3に接続されファン6等を制御する制御基板等については、特に図示を省略する。
Hereinafter, an embodiment according to the present invention will be described with reference to the drawings.
[Configuration of measuring instrument]
FIG. 1 is a diagram schematically showing the inside of the measuring instrument 1.
The measuring instrument 1 in this embodiment is a small measuring instrument that detects a minute current, voltage, and the like, and can be used for, for example, a portable current-voltage measuring instrument. The measuring device 1 is not limited to this, and can be applied to any measuring device that measures other physical quantities by measuring a weak current or voltage, such as a light meter using a photoelectric exchange element. It can also be applied to. Note that “upper”, “lower”, “left”, and “right” described below correspond to upper, lower, left, and right in the view of FIG.
As shown in FIG. 1, the measuring instrument 1 includes a housing 2, a measurement circuit 3 built in the housing 2, a first heat sink 4 as a first heat radiating means, and a second heat radiating means. The second heat sink 5, the fan 6, and the dehumidifying agent 7 are provided. The power supply such as a button battery that supplies power to the measurement circuit 3 and the like, and the control board that is connected to the measurement circuit 3 and controls the fan 6 and the like are not particularly illustrated.

筐体2は、測定器1の外装を構成し、外部の空気を遮断する密閉構造を有している。また、筐体2の上面の内面側に配設される一対の第2のヒートシンク5の裏面(外面)側には、第3のヒートシンク8がそれぞれ配設されている。この第3のヒートシンク8は、筐体2の外面に伝達された筐体2内の熱を外部に放熱するものである。なお、本実施形態では、第3のヒートシンク8は、筐体2と一体構成としたが、熱伝導率の高いグリース等を介して筐体2へ取り付けられてもよい。また、筐体2に第3のヒートシンク8が設けられる例を示したが、筐体に伝達される熱を外部に放熱するいかなる放熱手段であってもよく、例えば、放熱シートやヒートパイプなどの放熱手段が設けられる構成、これらに放熱シート、ヒートパイプ、ヒートシンクなどを組み合わせて構成されるものであってもよい。
なお、特に図示を省略したが、筐体2は、蓋体と、蓋体により閉塞される本体とを備え、蓋体と本体とは、例えば、Oリング等の密封用のシール材で密閉されている。
The housing 2 constitutes the exterior of the measuring instrument 1 and has a sealed structure that blocks outside air. Further, third heat sinks 8 are respectively disposed on the back surfaces (outer surface) of the pair of second heat sinks 5 disposed on the inner surface side of the upper surface of the housing 2. The third heat sink 8 radiates the heat in the housing 2 transmitted to the outer surface of the housing 2 to the outside. In the present embodiment, the third heat sink 8 is integrated with the housing 2, but may be attached to the housing 2 via grease having high thermal conductivity. Moreover, although the example where the housing 2 is provided with the third heat sink 8 is shown, any heat radiating means for radiating the heat transmitted to the housing to the outside may be used. For example, a heat radiating sheet, a heat pipe, etc. A configuration in which heat dissipation means is provided, or a combination of these with a heat dissipation sheet, a heat pipe, a heat sink, or the like may be used.
Although not particularly illustrated, the housing 2 includes a lid and a main body closed by the lid, and the lid and the main body are sealed with a sealing material such as an O-ring, for example. ing.

筐体2内には、第1のヒートシンク4及び測定回路3が配設される下方の第1の領域SP1と、第2のヒートシンク5が配設される上方の第2の領域SP2とに区画する区画板9が配設されている。
区画板9は、筐体2の上面及び下面に沿うように、側面視において筐体2内の中央部分に配設されている。この区画板9は、ファン6及び除湿剤7を支持する他、ファン6に吸い込まれる気体、及びファン6から吐出される気体が区画板9の下方に流れ出ることを防止している。また、区画板9の左右両端部分と筐体2の左右の壁面との間には、開口部としての隙間10が設けられている。
隙間10は、後述する気体の流路を確保するために設けられたスペースである。
The housing 2 is divided into a lower first region SP1 in which the first heat sink 4 and the measurement circuit 3 are disposed, and an upper second region SP2 in which the second heat sink 5 is disposed. A partition plate 9 is disposed.
The partition plate 9 is disposed at a central portion in the housing 2 in a side view so as to follow the upper surface and the lower surface of the housing 2. In addition to supporting the fan 6 and the dehumidifying agent 7, the partition plate 9 prevents the gas sucked into the fan 6 and the gas discharged from the fan 6 from flowing out below the partition plate 9. Further, a gap 10 as an opening is provided between the left and right end portions of the partition plate 9 and the left and right wall surfaces of the housing 2.
The gap 10 is a space provided for securing a gas flow path, which will be described later.

筐体2内には、比重が筐体2外の空気よりも大きい不活性ガスが封入されており、本実施形態では、アルゴンガスが用いられている。なお、この他に、例えば、窒素ガスや二酸化炭素ガス等を用いてもよい。また、この不活性ガスは、大気圧よりも高い圧力にて筐体2内に封入されることが好ましい。これにより、筐体2外の空気が筐体2内に侵入することをより確実に抑制できる。   An inert gas having a specific gravity larger than that of the air outside the housing 2 is enclosed in the housing 2, and argon gas is used in the present embodiment. In addition, for example, nitrogen gas or carbon dioxide gas may be used. The inert gas is preferably enclosed in the housing 2 at a pressure higher than atmospheric pressure. Thereby, it can suppress more reliably that the air outside the housing | casing 2 penetrate | invades in the housing | casing 2. FIG.

測定回路3は、図示しない端子を有し、当該端子に接続されたプローブを測定対象物に接続して、電源電圧を測定するものである。この測定回路3は、筐体2の下面に配設される回路基板31と、回路基板31の上面の2箇所に実装される半導体素子32とを備えている他、上述した図示しない制御基板等を備えている。
回路基板31は、図示しない電源からの電力供給により起動する。回路基板31の裏面には、筐体2内の温度及び湿度を計測するセンサーSが取り付けられている。
センサーSは、回路基板31に電力が供給されると起動し、温度、湿度の値に応じた信号を図示しない制御基板に出力する。そして、制御基板は、出力された信号に応じて、ファン6の回転数を制御する。また、筐体2内の温度、または湿度が所定の値を超えた場合には、制御基板により測定器1の起動が停止される。
半導体素子32は、回路基板31上に配置され、回路基板31に電力が供給されることで起動する。この半導体素子32としては、測定器1の全体動作を制御するCPU(Central Processing Unit)や、CPUの処理をサポートするRAMやROMなどのメモリ、その他各種集積回路を例示でき、これらの半導体素子32により、前記端子から入力される微弱電流を計測する処理が実施される。そして、これらの半導体素子32には、第1のヒートシンク4がそれぞれ密着して配設されている。なお、この第1のヒートシンク4は、例えば配設される全ての半導体素子32に対して配設されるものであってもよく、例えば電子処理により特に温度上昇が大きくなるCPUなど、所定温度以上に発熱する半導体素子32にのみ配設される構成であってもよい。このような第1のヒートシンク4により、電流測定の実施に伴って半導体素子32が発熱した場合でも、その熱を効果的に筐体2内に放熱することが可能となる。
The measurement circuit 3 has a terminal (not shown), and connects a probe connected to the terminal to a measurement object to measure a power supply voltage. The measurement circuit 3 includes a circuit board 31 disposed on the lower surface of the housing 2 and semiconductor elements 32 mounted at two locations on the upper surface of the circuit board 31, and a control board (not shown) described above. It has.
The circuit board 31 is activated by power supply from a power source (not shown). A sensor S for measuring the temperature and humidity in the housing 2 is attached to the back surface of the circuit board 31.
The sensor S is activated when power is supplied to the circuit board 31 and outputs a signal corresponding to the temperature and humidity values to a control board (not shown). And a control board controls the rotation speed of the fan 6 according to the output signal. Further, when the temperature or humidity in the housing 2 exceeds a predetermined value, the start of the measuring instrument 1 is stopped by the control board.
The semiconductor element 32 is disposed on the circuit board 31 and is activated when power is supplied to the circuit board 31. Examples of the semiconductor element 32 include a CPU (Central Processing Unit) that controls the overall operation of the measuring instrument 1, a memory such as a RAM and a ROM that supports the processing of the CPU, and other various integrated circuits. Thus, the process of measuring the weak current input from the terminal is performed. The first heat sinks 4 are arranged in close contact with these semiconductor elements 32. The first heat sink 4 may be provided, for example, with respect to all the semiconductor elements 32 to be provided. For example, a CPU whose temperature rise is particularly increased by electronic processing, for example, a predetermined temperature or higher. Alternatively, it may be arranged only in the semiconductor element 32 that generates heat. With such a first heat sink 4, even when the semiconductor element 32 generates heat as a result of current measurement, the heat can be effectively radiated into the housing 2.

第1のヒートシンク4は、第1の領域SP1において、半導体素子32に直接、密着して取り付けられる。この第1のヒートシンク4は、複数の図示略の放熱フィンを有し、半導体素子32から発生する熱をこれらの放熱フィンから筐体2内に放熱している。なお、第1のヒートシンク4は、熱伝導率の高い放熱グリースや放熱シート等を介して半導体素子32に取り付けられてもよい。
第2のヒートシンク5は、第2の領域SP2において、筐体2の上面の内面側に筐体2内に向けてファン6を挟んで、一対配設され、気体の流路中(図1中の白抜き矢印)に位置している。この第2のヒートシンク5は、第1のヒートシンク4と同様に複数の図示略の放熱フィンを備え、これらの放熱フィンにより筐体内の熱を吸収させ、筐体2の外面に伝達する。筐体2の外面に伝達された熱は、上述したように、第3のヒートシンク8により外部に放熱される。なお、本実施形態では、第2のヒートシンク5は、筐体2と一体構成としたが、第1のヒートシンク4と同様に、熱伝導率の高い放熱グリースや放熱シート等を介して筐体2へ取り付けられてもよい。
上述した各ヒートシンク4,5,8は、複数の板状の放熱フィンを備えるものであるが、表面積を多く確保できる他の形状であってもよい。また、第1のヒートシンク4及び第2のヒートシンク5をそれぞれ単体で放熱手段として機能させる構成の他、上記のように、放熱シートや放熱グリースと、第1のヒートシンク4及び第2のヒートシンク5との組み合わせた放熱手段としてもよく、さらに、例えば放熱手段として、放熱シートや放熱グリースのみが設けられる構成、放熱パイプを用いる構成であってもよい。さらには、上述のように、放熱シートや放熱グリースを介してヒートシンクを設け、ヒートシンクにヒートパイプを連結させる構成などとしてもよく、ヒートシンク上に放熱効率を向上させる放熱ファンを設ける構成などとしてもよい。
The first heat sink 4 is attached in close contact with the semiconductor element 32 in the first region SP1. The first heat sink 4 has a plurality of unillustrated radiating fins, and radiates heat generated from the semiconductor element 32 into the housing 2 from these radiating fins. Note that the first heat sink 4 may be attached to the semiconductor element 32 via a heat dissipation grease, a heat dissipation sheet, or the like having high thermal conductivity.
In the second region SP2, a pair of the second heat sinks 5 are disposed on the inner surface side of the upper surface of the housing 2 with the fan 6 sandwiched in the housing 2, and in a gas flow path (in FIG. 1). The white arrow). Similar to the first heat sink 4, the second heat sink 5 includes a plurality of heat-dissipating fins (not shown), absorbs heat in the housing by the heat-radiating fins, and transmits the heat to the outer surface of the housing 2. The heat transmitted to the outer surface of the housing 2 is radiated to the outside by the third heat sink 8 as described above. In the present embodiment, the second heat sink 5 is configured integrally with the housing 2. However, as with the first heat sink 4, the housing 2 is disposed via a heat radiation grease, a heat radiation sheet, or the like having high thermal conductivity. It may be attached to.
Each of the heat sinks 4, 5, and 8 described above includes a plurality of plate-like heat radiation fins, but may have other shapes that can secure a large surface area. In addition to the configuration in which each of the first heat sink 4 and the second heat sink 5 functions as a heat radiating unit, the heat radiating sheet, the heat radiating grease, the first heat sink 4 and the second heat sink 5 In addition, for example, the heat dissipating means may have a structure in which only a heat dissipating sheet or heat dissipating grease is provided, or a structure using a heat dissipating pipe. Furthermore, as described above, a heat sink may be provided via a heat radiating sheet or heat radiating grease, and a heat pipe may be connected to the heat sink, or a heat radiating fan may be provided on the heat sink to improve heat dissipation efficiency. .

ファン6は、筐体2内の空気を図1に示すような流路に沿って循環させることで攪拌させるものであり、吸込口61と、吐出口62とを備えている。このファン6は、一対の第2のヒートシンク5A,5Bの間に位置し、筐体2の上面と、区画板9とで支持されている。
除湿剤7は、筐体2内の水分を除去するものである。この除湿剤7としては、例えば、シリカゲル等を用いることができる。この除湿剤7は、ファン6の吸込口61側及び吐出口62側にそれぞれ配設され、区画板9上に取り付けられている。なお、除湿剤7は、一定期間を経過すると、除湿効果が失われるため、筐体2の蓋体を取り外して、適宜交換される。
The fan 6 is agitated by circulating the air in the housing 2 along a flow path as shown in FIG. 1, and includes a suction port 61 and a discharge port 62. The fan 6 is located between the pair of second heat sinks 5 </ b> A and 5 </ b> B and is supported by the upper surface of the housing 2 and the partition plate 9.
The dehumidifying agent 7 removes moisture in the housing 2. As this dehumidifier 7, silica gel etc. can be used, for example. The dehumidifying agent 7 is disposed on the suction port 61 side and the discharge port 62 side of the fan 6, and is attached on the partition plate 9. Note that the dehumidifying agent 7 loses its dehumidifying effect after a certain period of time, so that the lid of the housing 2 is removed and replaced as appropriate.

[筐体内の気体の流路]
次に、筐体2内の気体の流路について、図1を参照してより詳細に説明する。図1中の白抜き矢印は、気体の流路を示している。なお、本実施形態では、筐体2内の気体を反時計回りに循環させているが、これに限定されるものではなく、例えば、筐体2内を時計回りに循環させる構成としてもよい。
測定器1を起動すると、電源から回路基板31に電力が供給されるとともに、ファン6が駆動する。
そして、筐体2内の気体は、第2の領域SP2に配設されるファン6の吸込口61に向けて吸い込まれるため、吸込口61と対向する位置に配設される上流側の第2のヒートシンク5Aを辿って、吐出口62と対向する位置に配設される下流側の第2のヒートシンク5Bに向けて吐出される。この際、一方の第2のヒートシンク5Aを辿った気体は、ファン6が支持される区画板9に沿って、除湿剤7で水分が除去されながら、下流側の第2のヒートシンク5Bに向けて流れる。
次に、他方の第2のヒートシンク5Bを辿った気体は、再び、吸込口61に向かうため、区画板9の下方側を辿って、第1のヒートシンク4から放出される熱を吸収して、上流側の第2のヒートシンク5Aに向けて流れる。
[Gas flow path in the housing]
Next, the gas flow path in the housing 2 will be described in more detail with reference to FIG. A white arrow in FIG. 1 indicates a gas flow path. In the present embodiment, the gas in the housing 2 is circulated counterclockwise. However, the present invention is not limited to this. For example, a configuration in which the inside of the housing 2 is circulated clockwise may be employed.
When the measuring instrument 1 is activated, power is supplied from the power source to the circuit board 31 and the fan 6 is driven.
And since the gas in the housing | casing 2 is sucked toward the suction inlet 61 of the fan 6 arrange | positioned in 2nd area | region SP2, the 2nd upstream of the arrangement | positioning arrange | positioned in the position facing the suction inlet 61 is carried out. The heat sink 5 </ b> A is traced and discharged toward the second heat sink 5 </ b> B on the downstream side disposed at a position facing the discharge port 62. At this time, the gas that has followed one of the second heat sinks 5A travels toward the second heat sink 5B on the downstream side while moisture is removed by the dehumidifying agent 7 along the partition plate 9 on which the fan 6 is supported. Flowing.
Next, since the gas that has traced the other second heat sink 5B is directed again to the suction port 61, it follows the lower side of the partition plate 9 to absorb the heat released from the first heat sink 4, It flows toward the second heat sink 5A on the upstream side.

上述した本実施形態の測定器1によれば、以下の効果がある。
本実施形態では、筐体2は密閉構造を有するので、外部の空気が筐体2内に侵入することがなく、外部の空気に含まれる水分によって筐体2内の湿度が変化することを防止できる。また、密閉構造の筐体2内に除湿剤7が設けられているため、除湿剤7により筐体2内の湿度を低く維持できる。このため、測定回路3の半導体素子32が湿度の影響を受けることなく、測定誤差を防止でき、精度の高い測定を実施することができる。
さらに、第1のヒートシンク4が半導体素子32に密着して配設されるので、第1のヒートシンク4は、半導体素子32から発生した熱を筐体2内に放熱することとなる。そして、筐体2内に配設されるファンが筐体2内の気体を攪拌するとともに、筐体2の内面に配設される第2のヒートシンク5が筐体2内の熱を筐体2の外面に伝達し、当該熱は、筐体2の外面から外部に放熱される。これにより、筐体2内の温度上昇を抑制しつつ、筐体2内の温度を一様にすることができる。
以上により、温度、湿度変化による測定結果の誤差を防止でき、測定器1の測定精度を向上できる。
According to the measuring instrument 1 of this embodiment mentioned above, there exist the following effects.
In the present embodiment, since the housing 2 has a sealed structure, external air does not enter the housing 2 and the humidity in the housing 2 is prevented from changing due to moisture contained in the external air. it can. Moreover, since the dehumidifying agent 7 is provided in the case 2 having a sealed structure, the humidity in the case 2 can be kept low by the dehumidifying agent 7. For this reason, the semiconductor element 32 of the measurement circuit 3 can be prevented from being affected by humidity, so that measurement errors can be prevented, and highly accurate measurement can be performed.
Furthermore, since the first heat sink 4 is disposed in close contact with the semiconductor element 32, the first heat sink 4 radiates heat generated from the semiconductor element 32 into the housing 2. The fan disposed in the housing 2 agitates the gas in the housing 2 and the second heat sink 5 disposed on the inner surface of the housing 2 heats the housing 2. The heat is transferred to the outer surface of the housing 2 and the heat is radiated from the outer surface of the housing 2 to the outside. Thereby, the temperature in the housing | casing 2 can be made uniform, suppressing the temperature rise in the housing | casing 2. FIG.
As described above, errors in measurement results due to temperature and humidity changes can be prevented, and the measurement accuracy of the measuring instrument 1 can be improved.

また、筐体2内は、区画板9により第1の領域SP1と第2の領域SP2とに区画され、ファン6により第1の領域SP1から第2の領域SP2へ筐体内の気体を循環する流路が形成されるので、筐体2内の温度分布をより効果的に一様にできる。
さらに、第1の領域SP1に配設される第1のヒートシンク4から放出された熱を吸収した気体は、第2の領域SP2に配設される第2のヒートシンク5へ向けて流れる。ここで、第2のヒートシンク5は、筐体2内の気体の流路内に配設されるので、第1の領域SP1から流れ込んできた気体の熱が確実に第2のヒートシンク5に吸収されて筐体外に放熱される。以上により、筐体2内の温度をより効果的に一様にでき、かつ確実に第2のヒートシンク5から筐体2外部に放熱することができるため、温度上昇による測定回路への影響をより抑制することができる。
Moreover, the inside of the housing | casing 2 is divided into 1st area | region SP1 and 2nd area | region SP2 by the division board 9, and the gas in a housing | casing is circulated from 1st area | region SP1 to 2nd area | region SP2 with the fan 6. FIG. Since the flow path is formed, the temperature distribution in the housing 2 can be made more effective and uniform.
Further, the gas that has absorbed the heat released from the first heat sink 4 disposed in the first region SP1 flows toward the second heat sink 5 disposed in the second region SP2. Here, since the second heat sink 5 is disposed in the gas flow path in the housing 2, the heat of the gas flowing in from the first region SP1 is reliably absorbed by the second heat sink 5. To dissipate heat outside the housing. As described above, the temperature in the housing 2 can be made more effective and uniform, and the heat can be reliably radiated from the second heat sink 5 to the outside of the housing 2. Can be suppressed.

また、第2のヒートシンク5が一対配設されているので、筐体2内の熱を外部により効率的に放熱できる。また、ファン6は、第2の領域SP2に配設されて、区画板9に取り付けられている。これによれば、一方の第2のヒートシンク5Aを辿った気体がファン6を通過する際、区画板9が壁面の役割を果たすため、区画板9の下方へ流れ出ることを防止できる。そして、気体を他方の第2のヒートシンク5Bへ向かわせる流路を確実に形成することができ、筐体2内の温度をより一様にできる。
さらに、筐体2内には、比重が筐体2外の空気の比重よりも大きいアルゴンガスが封入されているので、筐体2内外の比重差により、筐体2外から筐体2内への空気侵入を抑制することができる。従って、筐体2内の気体の湿度変化をより確実に抑制できる。
In addition, since a pair of the second heat sinks 5 are provided, the heat in the housing 2 can be efficiently radiated from the outside. The fan 6 is disposed in the second region SP2 and is attached to the partition plate 9. According to this, when the gas which followed one 2nd heat sink 5A passes the fan 6, since the division board 9 plays the role of a wall surface, it can prevent flowing out below the division board 9. FIG. And the flow path which makes gas go to the other 2nd heat sink 5B can be formed reliably, and the temperature in the housing | casing 2 can be made more uniform.
Furthermore, since argon gas whose specific gravity is larger than the specific gravity of air outside the housing 2 is sealed in the housing 2, the housing 2 moves from the outside of the housing 2 into the housing 2 due to the difference in specific gravity inside and outside the housing 2. Intrusion of air can be suppressed. Therefore, the humidity change of the gas in the housing | casing 2 can be suppressed more reliably.

また、筐体2の外面に第3のヒートシンク8を備えるので、第3のヒートシンク8は、第2のヒートシンク5により筐体2の外面に伝達された筐体2内の熱を効率的に外部に放熱することができる。従って、筐体2内の温度上昇をより抑制することができる。
さらに、除湿剤7がファン6を挟む位置に一対配設されているので、第1領域SP1を辿った気体は、ファン6の上流側に配設される除湿剤7で水分が除去され、当該除去された気体が吐出口62から吐出されて、ファン6の下流側に配設される除湿剤7で水分がさらに除去される。従って、乾燥した気体が第2領域SP2から第1領域SP1に流れるため、測定回路3に対して、常に乾燥した気体を流すことができ、湿度変化により生じる測定回路3の測定結果の誤差をより確実に防止できる。
Further, since the third heat sink 8 is provided on the outer surface of the housing 2, the third heat sink 8 efficiently externally transfers the heat in the housing 2 transferred to the outer surface of the housing 2 by the second heat sink 5. Can dissipate heat. Therefore, the temperature rise in the housing 2 can be further suppressed.
Further, since a pair of the dehumidifying agents 7 are disposed at positions sandwiching the fan 6, the gas that has traced the first region SP1 is dehydrated by the dehumidifying agent 7 disposed on the upstream side of the fan 6, The removed gas is discharged from the discharge port 62, and moisture is further removed by the dehumidifying agent 7 disposed on the downstream side of the fan 6. Therefore, since the dried gas flows from the second region SP2 to the first region SP1, the dried gas can always be flowed to the measurement circuit 3, and the error in the measurement result of the measurement circuit 3 caused by the humidity change can be further increased. It can be surely prevented.

[実施形態の変形]
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
ここで、図2は、前記実施形態の変形例に係る測定器1の内部を示す模式図である。
図2に示すように、前記実施形態の測定器1の筐体2内に光測定回路11を備える構成であってもよい。
光測定回路11は、光検出器として動作する半導体素子のフォトダイオード111と、フォトダイオード111を実装する回路基板112と、外部からの入射光を透過させるレンズアレイ113と、レンズアレイ113を透過した入射光の周波数を増幅等する光学フィルタ114とを備えている。
この構成においても前記実施形態と同様に、筐体2内の湿度を低く維持できるため、湿度により劣化し易い光学フィルタ114の劣化を防止できる。
また、光学フィルタ114の他、温度、湿度変化により影響を受ける他の光学部品を備える構成であってもよい。
[Modification of Embodiment]
It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and modifications, improvements, and the like within the scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.
Here, FIG. 2 is a schematic diagram showing the inside of the measuring instrument 1 according to a modification of the embodiment.
As shown in FIG. 2, the optical measurement circuit 11 may be provided in the housing 2 of the measuring instrument 1 of the embodiment.
The light measurement circuit 11 transmits a photodiode 111 of a semiconductor element that operates as a photodetector, a circuit board 112 on which the photodiode 111 is mounted, a lens array 113 that transmits incident light from the outside, and the lens array 113. And an optical filter 114 that amplifies the frequency of incident light.
In this configuration as well, the humidity in the housing 2 can be kept low as in the above-described embodiment, so that the optical filter 114 that easily deteriorates due to humidity can be prevented from being deteriorated.
In addition to the optical filter 114, another optical component that is affected by changes in temperature and humidity may be provided.

前記実施形態では、筐体2内に区画板9を配設していたが、区画板9を配設しない構成を採用してもよい。この構成においても、ファン6により筐体2内の気体が攪拌されて、筐体2内の温度分布を一様にすることができる。
前記実施形態では、筐体2の外面に第3のヒートシンク8を配設していたが、第3のヒートシンク8を配設しない構成にしてもよい。この場合には、筐体2内の熱は、第2のヒートシンク5から筐体2の外面に伝達されて、外部に放熱される。
In the embodiment, the partition plate 9 is disposed in the housing 2, but a configuration in which the partition plate 9 is not disposed may be employed. Also in this structure, the gas in the housing | casing 2 is stirred by the fan 6, and the temperature distribution in the housing | casing 2 can be made uniform.
In the embodiment, the third heat sink 8 is disposed on the outer surface of the housing 2, but the third heat sink 8 may not be disposed. In this case, the heat in the housing 2 is transmitted from the second heat sink 5 to the outer surface of the housing 2 and is radiated to the outside.

前記実施形態では、区画板9の左右両端部分と筐体2の壁面との間に隙間10を有する構成としたが、区画板9に直接、開口部を設けて、区画板9の左右両端部分を壁面に支持させる構成としてもよい。この構成によっても、筐体2内の気体が開口部を流れることができ、筐体2内に気体の流路を確保できる。
前記実施形態では、ファン6は、各第2のヒートシンク5の間に配設されていたが、測定回路3の近傍に配設してもよい。この構成によれば、最も温度の高くなる測定回路3付近の気体の流速を高めることができ、第1のヒートシンク4の熱を効率よく放熱させることができる。したがって、測定回路3の近傍での熱のこもりをより確実に防止することができ、半導体素子32の熱の影響をより確実に低減させることができる。
In the embodiment, the gap 10 is provided between the left and right end portions of the partition plate 9 and the wall surface of the housing 2. However, the opening portions are provided directly in the partition plate 9, and the left and right end portions of the partition plate 9 are provided. It is good also as a structure which supports a wall surface. Also with this configuration, the gas in the housing 2 can flow through the opening, and a gas flow path can be secured in the housing 2.
In the above embodiment, the fan 6 is disposed between the second heat sinks 5, but may be disposed in the vicinity of the measurement circuit 3. According to this configuration, the flow velocity of the gas in the vicinity of the measurement circuit 3 where the temperature is highest can be increased, and the heat of the first heat sink 4 can be efficiently radiated. Therefore, heat accumulation in the vicinity of the measurement circuit 3 can be more reliably prevented, and the influence of heat on the semiconductor element 32 can be more reliably reduced.

前記実施形態では、ファン6が1つのみ配設されたが、筐体2内のスペースに応じて、複数配設してもよく、この構成によれば、筐体2内を流れる気体の流速を高めることができ、筐体2内の温度分布をより一様にできる。
前記実施形態では、除湿剤7がファン6を挟む位置に配設されたが、これに限定されず、気体の流路中の任意の位置に配設してもよい。
In the above embodiment, only one fan 6 is provided, but a plurality of fans 6 may be provided according to the space in the housing 2, and according to this configuration, the flow velocity of the gas flowing in the housing 2 The temperature distribution in the housing 2 can be made more uniform.
In the above-described embodiment, the dehumidifying agent 7 is disposed at a position sandwiching the fan 6. However, the present invention is not limited to this, and the dehumidifying agent 7 may be disposed at an arbitrary position in the gas flow path.

1…測定器、2…筐体、3…測定回路、4…第1のヒートシンク(第1の放熱手段)、5,5A,5B…第2のヒートシンク(第2の放熱手段)、6…ファン、7…除湿剤、9…区画板、10…隙間(開口部)、32…半導体素子、SP1…第1の領域、SP2…第2の領域。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Measuring device, 2 ... Housing | casing, 3 ... Measurement circuit, 4 ... 1st heat sink (1st heat radiating means), 5, 5A, 5B ... 2nd heat sink (2nd heat radiating means), 6 ... Fan , 7 ... Dehumidifying agent, 9 ... Partition plate, 10 ... Gap (opening), 32 ... Semiconductor element, SP1 ... First region, SP2 ... Second region.

Claims (4)

測定処理を実施する半導体素子が設けられる測定回路を内蔵し、密閉構造を有する筐体と、
前記筐体内の気体を攪拌させるファンと、
前記筐体内の水分を除去する除湿剤と、
前記半導体素子に密着して配設され、前記半導体素子の熱を前記筐体内に放熱する第1の放熱手段と、
前記筐体の内面に配設され、前記筐体内の熱を筐体外部に放熱する第2の放熱手段とを備えている
ことを特徴とする測定器。
A housing having a built-in measurement circuit provided with a semiconductor element for performing measurement processing, and having a sealed structure;
A fan that stirs the gas in the housing;
A dehumidifying agent for removing moisture in the housing;
A first heat dissipating means disposed in close contact with the semiconductor element and dissipating heat of the semiconductor element into the housing;
A measuring instrument, comprising: a second heat dissipating means disposed on an inner surface of the housing and dissipating heat inside the housing to the outside of the housing.
請求項1に記載の測定器において、
前記筐体内を、前記第1の放熱手段及び前記測定回路が配設される第1の領域と、前記第2の放熱手段が配設される第2の領域と、に区画するとともに、前記測定回路に対向して設けられる区画板を備え、
前記測定回路に対向する前記区画板の中央部分を挟んで、前記第1の領域及び前記第2の領域間を連通する一対の開口部が形成され、
前記ファンは、前記第1の領域、一対の開口部のうちの一方、前記第2の領域、及び一対の開口部のうちの他方を通って再び第1の領域に戻る流路を形成し、
前記第2の放熱手段は、前記第2の領域内を流れる気体の前記流路中に配設される
ことを特徴とする測定器。
The measuring instrument according to claim 1, wherein
The housing is partitioned into a first region in which the first heat radiating means and the measurement circuit are disposed and a second region in which the second heat radiating means is disposed, and the measurement is performed. Comprising a partition plate provided facing the circuit;
A pair of openings are formed to communicate between the first region and the second region across the central portion of the partition plate facing the measurement circuit,
The fan forms a flow path that returns to the first region again through the first region, one of the pair of openings, the second region, and the other of the pair of openings,
The measuring device, wherein the second heat radiating means is disposed in the flow path of the gas flowing in the second region.
請求項2に記載の測定器において、
前記ファンは、前記第2の領域に配設され、
前記第2の放熱手段は、前記ファンを挟んで、少なくとも一対配設されている
ことを特徴とする測定器。
The measuring instrument according to claim 2,
The fan is disposed in the second region;
At least one pair of the second heat dissipating means is disposed across the fan.
請求項1から請求項3のいずれかに記載の測定器において、
前記筐体内には、比重が前記筐体外の空気よりも大きいガスが封入されている
ことを特徴とする測定器。
The measuring instrument according to any one of claims 1 to 3,
A gas having a specific gravity greater than that of air outside the casing is enclosed in the casing.
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