JP2010252154A - 劣化箇所推定装置及び劣化箇所推定方法並びにそのプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】リンクとノードを区別して劣化推定できる劣化箇所推定装置を提供する。
【解決手段】トポロジ情報を記憶し、通信ネットワーク内の端末より送出されたパケット情報に基づいて、当該パケット情報が経由するパスを構成する各エレメントを、当該パケット情報とトポロジ情報に基づいて判定する。また、送信元側と送信先側とのそれぞれにおいて取得したパケット情報の対に基づいて、パケット情報が経由するパスの劣化値を判定する。そして、パケット情報が経由した通信ネットワーク内のパス毎に、当該パスを構成する前記各エレメントと、劣化値とを対応付けて劣化情報テーブルに記憶し、劣化または非劣化を判定する劣化判定閾値を用いて、当該劣化判定閾値以下の劣化値に対応付けられて劣化情報テーブルに記録されている全てのエレメントと、当該エレメントに一致する他のパケット情報のパス内のエレメントとを非劣化エレメントと判定する。
【選択図】図１

Description

本発明は、通信ネットワークの劣化箇所を推定する劣化箇所推定装置及び劣化箇所推定方法並びにそのプログラムに関する。

従来、通信ネットワークの劣化箇所を推定する方法として、「パス単位でグルーピングし劣化箇所を推定する方法」および「リンク単位で閾値を基に劣化箇所を推定する方法」が存在する。「パス単位でグルーピングし劣化箇所を推定する方法」として、ワーピングパスを利用してパスをグルーピングする方式が特許文献１に開示されている。また、「リンク単位で閾値を基に劣化箇所を推定する方法」として、ターゲット区間毎に高相関度パスの個数を閾値として推定するものが特許文献２に、また、パスのスループットの分布状況に基づいてリンクにポイントを付与し閾値で推定するものが特許文献３に開示されている。

特開２００８−４２８７９号公報 特開２００６−０７４４４７号公報 特開２００３−０１８２１８号公報

ここで、上述の「パス単位でグルーピングし劣化箇所を推定する方法（特許文献１）」では、劣化パスにグルーピングされた共通区間を劣化区間と推定する方式であり、複数の劣化区間があった場合、劣化パスの共通区間が劣化区間とならないこともあり、推定精度に問題がある。また、推定箇所としてノードを対象とはしていない。よって、「固定・間欠劣化箇所推定」は可能だが、「複数劣化箇所推定」および「リンク・ノードを区別した劣化箇所推定」は困難である。
また、上述の「リンク単位で閾値を基に劣化箇所を推定する方法（特許文献２）」では、複数の劣化区間を推定することができる。しかし、区間劣化状況の判定は、劣化パスの数によって判定する為、間欠劣化のような場合は劣化パス数が少ないため劣化状況を判定できない。また、推定箇所としてノードを対象とはしていない。よって、「複数劣化箇所推定」は可能だが、「間欠劣化箇所推定」および「リンク・ノードを区別した劣化箇所推定」は困難である。
また、上述の「リンク単位で閾値を基に劣化箇所を推定する方法（特許文献３）」では、スループットの分布状況よりポイントを付与し、閾値によって劣化箇所の推定を行うが、間欠劣化では反映されるまでに時間がかかり推定できない可能性がある。また、推定箇所としてノードを対象とはしていない。よって、「固定・間欠劣化箇所推定」および「リンク・ノードを区別した劣化箇所推定」は困難である。

そこでこの発明は、区間（リンク）とノードを区別して劣化推定できる劣化箇所推定装置及び劣化箇所推定方法並びにそのプログラムを提供することを目的としている。

上記目的を達成するために、本発明は、通信ネットワーク内のノードまたはリンクの何れかを示すエレメントそれぞれ接続関係を示すトポロジ情報を記憶するトポロジ情報記憶手段と、前記通信ネットワーク内の端末より送出されたパケット情報に基づいて、当該パケット情報が経由するパスを構成する各エレメントを、当該パケット情報と前記トポロジ情報に基づいて判定するパス内エレメント判定手段と、送信元側と送信先側とのそれぞれにおいて取得した前記パケット情報の対に基づいて、前記パケット情報が経由するパスの劣化値を判定する劣化値判定手段と、前記パケット情報が経由した前記通信ネットワーク内のパス毎に、当該パスを構成する前記各エレメントと、前記劣化値とを対応付けて劣化情報テーブルに記憶する劣化情報テーブル作成手段と、劣化または非劣化を判定する劣化判定閾値を用いて、当該劣化判定閾値以下の劣化値に対応付けられて前記劣化情報テーブルに記録されている全てのエレメントと、当該エレメントに一致する他のパケット情報のパス内のエレメントとを非劣化エレメントと判定する劣化・非劣化判定手段と、を備えることを特徴とする劣化箇所推定装置である。

また本発明は、上述の劣化箇所推定装置が、前記パケット情報のパス毎の劣化値を分類し、同一劣化値となるパス群それぞれのうち、最小の劣化値となるパス群を特定する最小劣化値パス特定手段と、前記最小の劣化値となるパス群内の各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定する最小劣化値重複判定手段と、を備えることを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定装置において、前記最小劣化値重複判定手段は、前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの一つのパスの劣化エレメントを完全に内包し、他のパスの劣化エレメントについては一部のみを内包する場合、前記一部のみを内包する他のパスの劣化エレメントのうちの前記スタックに一時格納されたパスと重複するエレメントのみを非劣化エレメントと判定しなおし、前記スタックに一時格納されたパス内の未判定エレメントを非劣化エレメントと判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定装置において、前記最小劣化値重複判定手段は、前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの全てのパスの劣化エレメントをいずれも内包しない場合、前記スタックに一時格納されたパス内の全ての未判定エレメントを劣化エレメントと判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定装置において、前記最小劣化値重複判定手段は、前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの全てのパスの劣化エレメントを内包する場合であって、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの劣化エレメントが、１つのパス内のエレメントによってのみ構成されるエレメントがある場合、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの劣化エレメントが、複数のパス内のエレメントによって構成される当該劣化エレメントを、非劣化エレメントと判定しなおし、当該複数のパス内のエレメントによって構成される当該劣化エレメントを有する各パスの非劣化エレメントを、劣化エレメントと判定しなおし、さらに、前記スタックに一時格納されたパス内の全ての未判定エレメントを非劣化エレメントと判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定装置において、前記最小劣化値重複判定手段は、前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの全てのパスの劣化エレメントを内包する場合であって、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの劣化エレメントが、全て、複数のパス内のエレメントによって構成される場合、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントと、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントとを、全て、劣化エレメントと判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定装置が、前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、その結果、未だ、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在する場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０以下か０より大きい値かを判定し、前記減算結果が０より大きい場合には、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定として残っているエレメントをそのまま未判定のエレメントと判定し、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算した値を、当該ターゲット情報の示すパスの新たな劣化値と判定する劣化情報テーブル再構築手段と、を備えることを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定装置が、前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、その結果、未だ、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在する場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０以下か０より大きい値かを判定し、前記減算結果が０以下である場合には、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定として残っているエレメントを全て非劣化のエレメントと判定する劣化情報テーブル再構築手段と、を備えることを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定装置が、前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、前記減算結果が０である場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化・非劣化の判定を終了し、次のターゲット情報の示すパスの劣化・非劣化の判定を行う劣化情報テーブル再構築手段と、を備えることを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定装置が、前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、当該ターゲット情報の示すパスについて、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定する第１の劣化・非劣化判定処理を行い、その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、前記減算結果が０より大きい値である場合には、ターゲット情報が示すプローブ間パス内の全てのエレメントと、そのターゲット情報が示すプローブ間パス内のエレメントの劣化・非劣化を判定するために最後に比較した前記判定対象パス内の全てのエレメントとの判定を、未判定エレメントへと戻し、前記判定対象パスの劣化・非劣化の判定に利用した他の前判定対象パスがない場合には、再度、それら戻したプローブ間パスについて、前記第１の劣化・非劣化判定処理において劣化エレメントと判定したエレメントを非劣化エレメントと判定し、また前記第１の劣化・非劣化判定処理において非劣化エレメントと判定したエレメントを劣化エレメントと判定する劣化情報テーブル再構築手段と、を備えることを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定装置が、前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、当該ターゲット情報の示すパスについて、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定する第２の劣化・非劣化判定処理を行い、その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、前記減算結果が０より大きい値である場合には、ターゲット情報が示すプローブ間パス内の全てのエレメントと、そのターゲット情報が示すプローブ間パス内のエレメントの劣化・非劣化を判定するために最後に比較した前記判定対象パス内の全てのエレメントとの判定を、未判定エレメントへと戻し、前記判定対象パスの劣化・非劣化の判定に利用した他の前判定対象パスがある場合には、前記判定対象パス内のエレメントに内包しない前記前判定対象パス内のエレメントのうちの前記判定対象パス内の未判定エレメントと重複するエレメントを非劣化エレメントと判定し、前記判定対象パス内のエレメントの未判定エレメントと、前記ターゲット情報のうち重複するエレメントを劣化エレメント、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定する劣化情報テーブル再構築手段と、を備えることを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定装置が、前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、前記減算結果が０未満である場合には、前記ターゲット情報における減算後の劣化値を、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントの何れかを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値に加えて、それらターゲット情報の示すパス内のエレメントの何れかを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を確定し、前記ターゲット情報において非劣化と判定されているエレメントに、前記ターゲット情報の減算後の劣化値の絶対値を割り当てる劣化情報テーブル再構築手段と、を備えることを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定装置が、前記エレメントそれぞれの識別情報と、前記劣化エレメントと判定したエレメントに対する判定値とを対応付けて記録し、前記最小劣化値重複判定手段と前記劣化情報テーブル再構築手段の各処理を繰り返す毎に、前記劣化エレメントと判定したエレメントに対する判定値に重み付けした値を加算して、各エレメントのトータルの判定値を算出するトータル判定値算出手段と、を備えることを特徴とする。

また本発明は、劣化箇所推定装置のトポロジ情報記憶手段が、通信ネットワーク内のノードまたはリンクの何れかを示すエレメントそれぞれ接続関係を示すトポロジ情報を記憶し、前記劣化箇所推定装置のパス内エレメント判定手段が、前記通信ネットワーク内の端末より送出されたパケット情報に基づいて、当該パケット情報が経由するパスを構成する各エレメントを、当該パケット情報と前記トポロジ情報に基づいて判定し、前記劣化箇所推定装置の劣化値判定手段が、送信元側と送信先側とのそれぞれにおいて取得した前記パケット情報の対に基づいて、前記パケット情報が経由するパスの劣化値を判定し、前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル作成手段が、前記パケット情報が経由した前記通信ネットワーク内のパス毎に、当該パスを構成する前記各エレメントと、前記劣化値とを対応付けて劣化情報テーブルに記憶し、前記劣化箇所推定装置の劣化・非劣化判定手段が、劣化または非劣化を判定する劣化判定閾値を用いて、当該劣化判定閾値以下の劣化値に対応付けられて前記劣化情報テーブルに記録されている全てのエレメントと、当該エレメントに一致する他のパケット情報のパス内のエレメントとを非劣化エレメントと判定することを特徴とする劣化箇所推定方法である。

また本発明は、上述の劣化箇所推定方法において、前記劣化箇所推定装置の最小劣化値パス特定手段が、前記パケット情報のパス毎の劣化値を分類し、同一劣化値となるパス群それぞれのうち、最小の劣化値となるパス群を特定し、前記劣化箇所推定装置の最小劣化値重複判定手段が、前記最小の劣化値となるパス群内の各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定方法において、前記劣化箇所推定装置の前記最小劣化値重複判定手段は、前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの一つのパスの劣化エレメントを完全に内包し、他のパスの劣化エレメントについては一部のみを内包する場合、前記一部のみを内包する他のパスの劣化エレメントのうちの前記スタックに一時格納されたパスと重複するエレメントのみを非劣化エレメントと判定しなおし、前記スタックに一時格納されたパス内の未判定エレメントを非劣化エレメントと判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定方法において、前記劣化箇所推定装置の前記最小劣化値重複判定手段は、前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの全てのパスの劣化エレメントをいずれも内包しない場合、前記スタックに一時格納されたパス内の全ての未判定エレメントを劣化エレメントと判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定方法において、前記劣化箇所推定装置の前記最小劣化値重複判定手段は、前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの全てのパスの劣化エレメントを内包する場合であって、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの劣化エレメントが、１つのパス内のエレメントによってのみ構成されるエレメントがある場合、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの劣化エレメントが、複数のパス内のエレメントによって構成される当該劣化エレメントを、非劣化エレメントと判定しなおし、当該複数のパス内のエレメントによって構成される当該劣化エレメントを有する各パスの非劣化エレメントを、劣化エレメントと判定しなおし、
さらに、前記スタックに一時格納されたパス内の全ての未判定エレメントを非劣化エレメントと判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定方法において、前記劣化箇所推定装置の前記最小劣化値重複判定手段は、前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの全てのパスの劣化エレメントを内包する場合であって、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの劣化エレメントが、全て、複数のパス内のエレメントによって構成される場合、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントと、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントとを、全て、劣化エレメントと判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定方法において、前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル再構築手段は、前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、その結果、未だ、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在する場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０以下か０より大きい値かを判定し、前記減算結果が０より大きい場合には、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定として残っているエレメントをそのまま未判定のエレメントと判定し、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算した値を、当該ターゲット情報の示すパスの新たな劣化値と判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定方法において、前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル再構築手段は、前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、その結果、未だ、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在する場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０以下か０より大きい値かを判定し、前記減算結果が０以下である場合には、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定として残っているエレメントを全て非劣化のエレメントと判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定方法において、前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル再構築手段は、前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、前記減算結果が０である場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化・非劣化の判定を終了し、次のターゲット情報の示すパスの劣化・非劣化の判定を行うことを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定方法において、前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル再構築手段は、前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、当該ターゲット情報の示すパスについて、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定する第１の劣化・非劣化判定処理を行い、その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、前記減算結果が０より大きい値である場合には、ターゲット情報が示すプローブ間パス内の全てのエレメントと、そのターゲット情報が示すプローブ間パス内のエレメントの劣化・非劣化を判定するために最後に比較した前記判定対象パス内の全てのエレメントとの判定を、未判定エレメントへと戻し、前記判定対象パスの劣化・非劣化の判定に利用した他の前判定対象パスがない場合には、再度、それら戻したプローブ間パスについて、前記第１の劣化・非劣化判定処理において劣化エレメントと判定したエレメントを非劣化エレメントと判定し、また前記第１の劣化・非劣化判定処理において非劣化エレメントと判定したエレメントを劣化エレメントと判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定方法において、前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル再構築手段は、前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、当該ターゲット情報の示すパスについて、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定する第２の劣化・非劣化判定処理を行い、その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、前記減算結果が０より大きい値である場合には、ターゲット情報が示すプローブ間パス内の全てのエレメントと、そのターゲット情報が示すプローブ間パス内のエレメントの劣化・非劣化を判定するために最後に比較した前記判定対象パス内の全てのエレメントとの判定を、未判定エレメントへと戻し、前記判定対象パスの劣化・非劣化の判定に利用した他の前判定対象パスがある場合には、前記判定対象パス内のエレメントに内包しない前記前判定対象パス内のエレメントのうちの前記判定対象パス内の未判定エレメントと重複するエレメントを非劣化エレメントと判定し、前記判定対象パス内のエレメントの未判定エレメントと、前記ターゲット情報のうち重複するエレメントを劣化エレメント、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定することを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定方法において、前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル再構築手段は、前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、前記減算結果が０未満である場合には、前記ターゲット情報における減算後の劣化値を、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントの何れかを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値に加えて、それらターゲット情報の示すパス内のエレメントの何れかを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を確定し、前記ターゲット情報において非劣化と判定されているエレメントに、前記ターゲット情報の減算後の劣化値の絶対値を割り当てることを特徴とする。

また本発明は、上述の劣化箇所推定方法において、前記劣化箇所推定装置のトータル判定値算出手段は、前記エレメントそれぞれの識別情報と、前記劣化エレメントと判定したエレメントに対する判定値とを対応付けて記録し、前記最小劣化値重複判定手段と前記劣化情報テーブル再構築手段の各処理を繰り返す毎に、前記劣化エレメントと判定したエレメントに対する判定値に重み付けした値を加算して、各エレメントのトータルの判定値を算出することを特徴とする。

また本発明は、上記何れかに記載の劣化箇所推定装置としてコンピュータを機能させることを特徴とするプログラムである。

本発明によれば、動的重み付けを変えることで、間欠劣化（通信遅延やパケットロスの発生頻度が少ない障害）の発生箇所として推定できる。
また、上述の処理によれば、リンクとノードをそれぞれ別のエレメントとして、劣化・非劣化を判定するため、リンクとノードを区別した劣化箇所の推定処理を行うことができる。

劣化箇所推定装置を有する劣化箇所推定システムの構成を示す第１のブロック図である。 劣化箇所推定装置を有する劣化箇所推定システムの構成を示す第２のブロック図である。 劣化箇所推定装置の機能ブロック図である。 劣化情報テーブルのデータ構成を示す図である。 独立グループの分割例を示す図である。 １サイクル分類結果テーブルのデータ構成を示す図である。 トータル推定結果テーブルのデータ構成を示す図である。 ネットワークトポロジ情報のデータ構成を示す図である。 劣化箇所推定装置の処理フローを示す第１の図である。 劣化箇所推定装置のエレメント情報分類の処理フローを示す第２の図である。 独立グループへの分割処理の概要を示す図である。 重複するエレメント群が１つのみ抽出できる場合の劣化・非劣化判定処理の概要を示す図である。 独立グループ内の全てのプローブ間パスにおいて、重複するエレメント群を１つのみ抽出できると判定した場合の処理フローを示す図である。 第１の重複状態判定の処理フローを示す図である。 第１の重複状態判定時の劣化情報テーブルの遷移を示す図である。 第２の重複状態判定の処理フローを示す図である。 第２の重複状態判定時の劣化情報テーブルの遷移を示す図である。 第３の重複状態判定の処理フローを示す図である。 第３の重複状態判定時の処理概要の遷移を示す第１図の図である。 第３の重複状態判定時の劣化情報テーブルの遷移を示す第１の図である。 第３の重複状態判定時の処理概要の遷移を示す第２図のである。 第３の重複状態判定時の劣化情報テーブルの遷移を示す第２の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の処理フローを示す第１の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の処理フローを示す第２の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の処理概要の遷移を示す第１の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第１の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の処理フローを示す第３の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の処理概要の遷移を示す第２の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第２の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の処理フローを示す第４の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第３の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第４の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の処理概要の遷移を示す第３の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第５の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第６の図である。 劣化情報テーブル再構築処理の処理概要の遷移を示す第４の図である。 第４の重複状態判定の処理フローを示す図である。 第４の重複状態判定時の処理概要の遷移を示す図である。 第４の重複状態判定時の劣化情報テーブルの遷移を示す図である。 第４の重複状態判定の処理フローを示す図である。 第４の重複状態判定時の処理概要の遷移を示す図である。 第４の重複状態判定時の劣化情報テーブルの遷移を示す図である。

以下、本発明の一実施形態による劣化箇所推定装置を図面を参照して説明する。
図１は同実施形態による劣化箇所推定装置を有する劣化箇所推定システムの構成を示す第１のブロック図である。
この図において、符号１は通信ネットワークの劣化箇所を推定する劣化箇所推定装置、１０は通信ネットワークのトポロジ（構成）情報を記憶するネットワークトポロジ情報記憶部、２は検出した通信パケットの情報を劣化箇所推定装置１へ送信するプローブ、３は通信ネットワーク内を流れるパケットの通信経路を選択するルータ、４は通信を行う端末である。なお、プローブ２は、劣化箇所推定システムにおいて、各端末４と１対１で存在していても、１対Ｎで接続されていてもよい。また、プローブ２は端末４からネットワーク内への通信パケットや、ネットワークから端末４へ向けて流れるパケット等をキャプチャする。また、プローブ２は推定対象ネットワークと端末間の通信パケットがキャプチャできる位置に設置されていればよい。

図２は同実施形態による劣化箇所推定装置を有する劣化箇所推定システムの構成を示す第２のブロック図である。
この図で示す劣化箇所推定システムは、図１で示したプローブ２の機能を、発着端末５が備える場合の例を示している。その他の構成については、図１と同様である。つまり、劣化箇所推定システムは、図１のようにプローブが劣化箇所推定装置１に対して通信ネットワーク内を流れるパケットの情報をキャプチャしてもよいし、発着端末５が劣化箇所推定装置１に対して通信ネットワーク内を流れるパケットの情報を送信してもよい。なお、以下では、劣化箇所推定システムが図１の構成であることを前提に、説明する。

図３は劣化箇所推定装置の機能ブロック図である。
この図で示すように、劣化箇所推定装置１は、プローブ情報受信部１１、劣化エレメント抽出部１２、劣化エレメント分類部１３、劣化エレメント推定部１４、劣化情報テーブル記憶部１５、１サイクル分類結果テーブル記憶部１６、トータル推定結果テーブル記憶部１７を備えている。
プローブ情報受信部１１は、プローブ２より送られてきた情報と、ネットワークトポロジ情報とから劣化情報テーブルを作成する処理を行う。
また劣化エレメント抽出部１２は、非劣化パスを用いて、劣化パスから劣化エレメントを抽出し、劣化情報テーブルを更新する処理を行う。
また劣化エレメント分類部１３は、劣化値を用いて、劣化情報の類似性を分類判定し、分類毎の重複判定により、劣化エレメント／非劣化エレメントに分類し、劣化情報テーブルを更新する処理を行う。また、分類した結果に基づいて、１サイクル（単位処理毎）分類結果テーブルに情報設定する処理を行う。
また劣化エレメント推定部１４は、１サイクル分類結果テーブルに設定された結果に対して、動的重み付けを行った値を、トータル推定結果テーブルに加算し、トータル値がある閾値以上のエレメントを劣化箇所と推定する処理を行う。
なお、これら各処理部の処理の詳細については後述する。

ここで、エレメントとは、通信ネットワークを構成するプローブ２，ルータ３，ルータ３間のリンク，プローブ２−ルータ３間のリンク、の総称である。
また劣化パスとは、端末間の通信パスが、当該通信において通信パケットが経由するノード（ルータ３）とリンクの中の何れかで通信の遅延やパケットロス等の障害が発生しているパスを示している。
また非劣化パスとは、端末間の通信パスが、当該通信において通信パケットが経由するノードとリンクの中の何れかで通信の遅延やパケットロス等の障害が発生していない通信パスを示している。
また劣化値とは、本実施形態においては、プローブ間における通信の遅延時間（プローブ２がキャプチャした同一通信の各パケットにより計算された時間）を示す。そして劣化値がある閾値以上の場合には、その端末間の通信において利用された通信パスは、劣化パスであると判定される。なお劣化値は、パケットロス率であってもよい。

図４は劣化情報テーブルのデータ構成を示す図である。
図５は独立グループの分割例を示す図である。
図４が示すように、劣化情報テーブルは、独立グループ、プローブ識別情報、劣化値、未判定エレメント、劣化エレメント、非劣化エレメント、判定済みエレメント、重複判定処理１を行ったか否か（図においては判定１）、重複判定処理２を行ったか否か（図においては判定２）、判定対象に用いた他のパスの情報（図においては判定対象）、の項目からなるデータテーブルである。ここで、独立グループとは、プローブ間パス内で保有するエレメントが他のパスと共有されるとともに、それら共有されるパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つのグループである。

つまり、図５で示すように、Ａ〜Ｍのプローブを有する通信ネットワークにおいて、Ａ−Ｃ，Ｂ−Ｃの各プローブ間パスは、共有するリンクを有するため、これらＡ−Ｃ，Ｂ−Ｃの２つのプローブ間パスは、１つの独立グループに属する。また図５（ｂ）で示すようなパスＤ−Ｅ,Ｄ−Ｆ,Ｄ−Ｉ,Ｇ−Ｉ,Ｈ−Ｉの各プローブ間パスは、Ｄ−Ｅ,Ｄ−Ｆ,Ｄ−Ｉが共有するリンクを有し、またＧ−Ｉ,Ｈ−Ｉが共有するリンクを有し、さらにＤ−Ｅ,Ｄ−Ｆのプローブ間パスと、Ｇ−Ｉ,Ｇ−Ｈのプローブ間パスは、共有されるリンク（エレメント）を持つＤ−Ｉのプローブ間パスによって、関係が繋がるため、それらＤ−Ｅ,Ｄ−Ｆ,Ｄ−Ｉ,Ｇ−Ｉ,Ｈ−Ｉの各プローブ間パスは、１つの独立グループに属する。
また、プローブ識別情報とは、プローブ間パスにおける２つのプローブを示している。
また劣化値は、上述したように、２プローブ間における通信の遅延時間を示す。
また未判定エレメントは、プローブ間パスにおいて、劣化か非劣化かを判定していないエレメントを示す。
また劣化エレメントは、プローブ間パスにおいて、一旦劣化と判定したエレメントを示す。
また非劣化エレメントは、プローブ間パスにおいて、一旦、非劣化と判定したエレメントを示す。
また判定済みエレメントとは、プローブ間パスにおいて、劣化または非劣化という判定が確定したエレメントを示す。
また図４において、重複判定処理１の項目（図においては判定１）は、複数のプローブパス間でエレメントが重複しているか否かを判定する重複判定のうち、重複判定処理１という処理に該当するかを記憶しておくための項目である。
また図４において、重複判定処理２の項目（図においては判定２）は、複数のプローブパス間でエレメントが重複しているか否かを判定する重複判定のうち、重複判定処理２という処理に該当するかを記憶しておくための項目である。
また図４において、重複判定処理１の項目（図においては判定１）は、複数のプローブパス間でエレメントが重複しているか否かを判定する重複判定のうち、重複判定処理１という処理に該当するかを記憶しておくための項目である。
また図４において、判定対象の項目は、重複判定処理において、その判定に用いた他のパスがあるときに、その情報を登録しておく項目である。

図６は１サイクル分類結果テーブルのデータ構成を示す図である。
この図が示すように、１サイクル分類結果テーブルは、通信ネットワーク内の各エレメントを特定するエレメントＩＤに対応付けて、１サイクル（単位処理ごと）の各エレメントの劣化または非劣化の判定結果値を記憶している。

図７はトータル推定結果テーブルのデータ構成を示す図である。
この図が示すように、トータル推定結果テーブルは、通信ネットワーク内の各エレメントを特定するエレメントＩＤに対応付けて、トータルの判定結果値を記憶している。

図８はネットワークトポロジ情報のデータ構成を示す図である。
ネットワークトポロジ情報記憶部１０は、通信ネットワーク内の各エレメント（プローブ２，ルータ３，ルータ３間のリンク，プローブ２−ルータ３間のリンク）の接続関係を記憶している。例えば、プローブ２であれば、そのプローブ２のＩＤと、当該プローブ２に接続されているリンクのＩＤとを対応付けて記憶している。またルータ３であれば、そのルータ３のＩＤと、当該ルータ３に接続されているリンクのＩＤとを対応付けて記憶している。またリンクであれば、そのリンクのＩＤと、当該リンクに接続されているプローブ２やルータ３の各ノードＩＤが記憶されている。さらにネットワークトポロジ情報記憶部１０は、各ノードの木構造におけるノード順位を記憶している。例えばルートノードであれば、ノード順位１、ルートノードの子ノードであれば１００番台、１００番台のノードの子ノードであれば２００番台の番号を振って、ノードのルートノードからの階層と、同一階層における順位が対応付けて記録されている。例えば１０１番が振られたノードであればルートノードを第１階層として、第２階層の１番目のノード、１０２番が振られたノードであれば第２階層の２番目のノードとなる。

図９は劣化箇所推定装置の処理フローを示す第１の図である。
次に、本実施形態による劣化箇所推定装置の処理フローについて説明する。
まず、劣化箇所推定装置１のプローブ情報受信部１１は、各プローブ２より、当該プローブ２から送信された情報を受信する（ステップＳ１０１）。プローブ２が送信する情報は、当該プローブ２においてキャプチャしたパケット情報、キャプチャ時刻情報、プローブＩＤである。また、パケット情報はパケットそのものであっても良いし、キャプチャしたパケットから抽出した特定の情報のみであってもよい。具体的には、パケットに含まれる送信元ＩＰアドレス、送信先ＩＰアドレス、シーケンス番号等のパケット識別情報が格納された情報である。

そして、プローブ情報受信部１１は、プローブ２から受信した情報に基づいて、１サイクル（単位処理）の処理時間内における２つのプローブ間パスの劣化値（パケット遅延時間）を算出する（ステップＳ１０２）。この算出は、２つのプローブがプローブＡとプローブＢであった場合、プローブＡから受信したパケット情報と、プローブＢから受信した情報のうち、当該受信情報の送信元ＩＰアドレス、送信先ＩＰアドレス、シーケンス番号が同じパケット情報の対を取得し、各受信情報のプローブＡおよびプローブＢにおけるキャプチャ時刻の差によるものである。そして、当該２つのプローブ間パス（プローブＡとプローブＢで取得したパケットが通過した各エレメントにより構成されるパス）を構成する２つのプローブのＩＤと、そのプローブ間パスについて算出した劣化値と、当該プローブ間パス内に含まれる複数のエレメント情報とを未判定エレメントの領域に対応付けた劣化情報テーブルを作成する（ステップＳ１０３）。プローブＡとプローブＢで取得したパケットが通過した各エレメントの特定は、２つのプローブ（プローブＡとプローブＢ）から送られてきた情報を突き合わせ、例えば（端末→）プローブＡ→ネットワーク内→プローブＢ（→端末）のように、２つのプローブを特定し、保持しているネットワークトポロジ情報から２つのプローブ間の経路を特定し、パケットの通過エレメントを特定する。

なお、プローブ間の経路の特定は、例えば、２つのプローブ（プローブＡとプローブＢ）から送られてきた情報に基づいて、ネットワークトポロジ情報から各プローブＡ，Ｂの接続リンクＩＤと親ノードとを抽出する。そして、親ノードが一致していれば処理を終了し、終了していなければ、親ノードの接続リンクＩＤ更なる上位の親ノードを抽出する。そして、この処理を繰り返し、親ノードが一致した場合に、処理を終了する。抽出したノードやリンクの全てのＩＤを、エレメントＩＤとして特定し、２つのプローブのプローブ間パスにおけるエレメントとして劣化情報テーブルに登録する。

次に、劣化エレメント抽出部１２は、作成した劣化情報テーブルにおいて、登録されている劣化値のうち、非劣化と判定するための所定の閾値未満の劣化値に対応付けられて登録されているプローブ間パスがあるかを判定し（ステップＳ１０４）、所定の閾値未満の劣化値に対応付けられて登録されているプローブ間パス内の全てのエレメントＩＤのエレメントを、非劣化エレメントと判断し（ステップＳ１０５）、該非劣化エレメントと判定したエレメントのＩＤを、未判定エレメントの領域から削除し、非劣化エレメントの領域へ書き込む。またその非劣化エレメントへ書き込んだエレメントＩＤを持つ、他のプローブ間パスについての未判定エレメントの中から、既に非劣化エレメントへ書き込んだエレメントＩＤのエレメントを、非劣化エレメントと判断し（ステップＳ１０６）、当該エレメントＩＤを未判定エレメントの領域から削除し、判定済みエレメントの領域へ書き込む。そして、劣化エレメント分類部１３は、所定の閾値未満の劣化値に対応付けられて登録されているプローブ間パス内の全てのエレメントＩＤに、「−１」の結果値を対応付けて、１サイクル分類結果テーブルに登録する（ステップＳ１０７）。なお、全てのプローブ間パスが、所定の閾値未満の劣化値に対応付けられていた場合、全てのプローブ間パス内のエレメントは、非劣化であるため、１サイクルの処理を終了する。これにより、所定の閾値以上の劣化値に対応付けられたプローブ間パス内のエレメントのうち、所定の閾値未満の劣化値に対応付けられたプローブ間パス内のエレメントに一致するものを除いたエレメントが、劣化か非劣化を判定していない未判定エレメントとして劣化情報テーブルに残る。

図１０は劣化箇所推定装置のエレメント情報分類の処理フローを示す第２の図である。
次に、劣化エレメント分類部１３が、劣化情報テーブルにおいて、未判定エレメントとして残っている各エレメントを有するプローブ間パスそれぞれを、劣化値に基づいて分類する。この分類の手順は、まず、劣化値が、最小の値であるプローブ間パスを、抽出する（ステップＳ２０１）。例えば、劣化値の最小の値が１０であり、その劣化値に対応付けられて劣化情報テーブルに登録されているプローブ間パスが１つまたは複数あれば、それらプローブ間パスを抽出する。この最小の劣化値に対応付けられて劣化情報テーブルに登録されているプローブ間パスは、１つの劣化エレメントのみを有するプローブ間パスであるとみなす。なお、本実施形態においては、最小の値の劣化値となるプローブ間パスの劣化値は１０であるとする。

そして、劣化エレメント分類部１３（最小劣化値重複判定手段）は、最小の劣化値に該当するプローブ間パスそれぞれを独立グループ毎に分割する（ステップＳ２０２）。このとき、劣化エレメント分類部１３は、最小の劣化値のプローブ間パス群内の各パスが保有するエレメントを比較して、重複関係があるプローブ間パスを１つのグループとし、また重複関係がないプローブ間パスを別のグループとして分類する。

具体的には、図５で示したように、劣化エレメント分類部１３は、プローブ間パス内のエレメント情報を、異なるプローブ間パス同士で比較し、共有するリンクがあれば、それら異なるプローブ間パス複数を、同じ独立グループに属するものと判定する。また、プローブ間パス同士で共有するリンクがなくとも、他のプローブ間パスの異なるリンクにおいて、それらがそれぞれ共有している場合には、それら３つのプローブ間パスを、独立グループに属するものと判定する。

図１１は独立グループへの分割処理の概要を示す図である。
図１２は独立グループ内のすべてのパスについて重複するエレメントが抽出できる場合の劣化・非劣化判定処理の概要を示す図である。
図１１において、Ａ−Ｃ，Ｂ−Ｃの各プローブ間パスは、共有するリンクを有するため、これらＡ−Ｃ，Ｂ−Ｃの２つのプローブ間パスは、１つの独立グループ（ａ）に属することを示している。
また、図１１において、Ｄ−Ｅ，Ｄ−Ｆ，Ｇ−Ｉ，Ｈ−Ｉ，Ｄ−Ｉの５つの各プローブ間パスは、Ｄ−ＥおよびＤ−Ｆが共有するリンクを有し、またＧ−ＩとＨ−Ｉが共有するリンクを有する。さらにＤ−ＩはＤ−ＥまたはＤ−Ｆと、およびＧ−ＩまたはＨ−Ｉとの間で異なる箇所で共有するリンクを有している。したがって、これらＤ−Ｅ，Ｄ−Ｆ，Ｇ−Ｉ，Ｈ−Ｉ，Ｄ−Ｉの５つの各プローブ間パスは、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がっているため、１つの独立グループ（ｂ）に属することを示している。
また、図１１では、Ｊ−Ｍ,Ｊ−Ｌ、Ｋ−Ｌの３つの各プローブ間パスは、共有するリンクを有するため、これらＪ−Ｍ,Ｊ−Ｌ、Ｋ−Ｌの３つのプローブ間パスは、１つの独立グループ（ｃ）に属することを示している。
なお、全てのプローブ間パスの劣化値は最小の１０である場合を示している。

次に、劣化エレメント分類部１３は、独立グループ内の全てのプローブ間パスにおいて重複するエレメントが抽出できるかを判定する（ステップＳ２０３）。図１１の独立グループ（ａ）では、Ａ−Ｃのプローブ間パスと、Ｂ−Ｃのプローブ間パスでは、独立グループ内の全てのプローブ間パスにおいて重複するエレメント群が１つ抽出できる。つまり、独立グループ（ａ）内のＡ−Ｃのプローブ間パスとＢ−Ｃのプローブ間パスでは、エレメント３,１１,６のエレメント群が１つ抽出できる。そして、劣化エレメント分類部１３は、独立グループ内の全てのプローブ間パスにおいて重複するエレメント群が１つ抽出できる独立グループ（（ａ）と（ｃ））は、その重複するエレメントに劣化があると判定する。つまり、独立グループ（ａ）では、最小の劣化値が同一であるため、保有するエレメントのうちの１つのみ劣化エレメントがあるとみなすことができる。このことから、Ａ−ＣとＢ−Ｃの各プローブ間パスにおいて、異なるエレメントで劣化（遅延、パケットロス等）が発生していることは無い可能性が高い。したがって、独立グループ内の全てのプローブ間パスにおいて重複するエレメントのどこかで劣化が発生しているものと考えることができる。

そして、劣化エレメント分類部１３は、図１２で示すように、独立グループ（ａ）のＡ−Ｃのプローブ間パスにおける未判定エレメント１，２，３，４，６，７，８，９，１１と、Ｂ−Ｃのプローブ間パスにおける未判定エレメント３，５，６，１０，１１のそれぞれにおいて、重複するエレメント群３，６，１１を劣化情報テーブルの未判定エレメントの領域から劣化エレメントへの領域へ書き換え、またその他のエレメントについては、未判定エレメントの領域から非劣化エレメントの領域へと書き換える。つまり、この処理によれば、劣化エレメント分類部１３は、最小の劣化値となるパス群内に残った全てのパスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定する（ステップＳ２０４）。

また劣化エレメント分類部１３は、一時格納したパスのエレメントの情報がスタックに存在するかを判定し（ステップＳ２０６）、なければ１サイクル分の最小劣化値重複判定処理を終了する。またスタックに一時格納したパスのエレメントがある場合には、当該スタックに最後に一時格納した１つのパスのエレメントの情報を読み取って（ステップＳ２０７）、第１の重複状態判定〜第４の重複状態判定の何れを行うかを判定する（ステップＳ２０８）。

なお、劣化エレメント分類部１３は、上述のステップＳ２０３の処理において、独立グループ内の全てのプローブ間パスにおいて重複するエレメント群を抽出できるかの判定において、できないと判定した場合、以下の処理を行う。
この場合の独立グループは、図１１で示す独立グループ（ｂ）に該当する。つまり、独立グループ（ｂ）内のプローブ間パスにおいては、独立グループ内の全てのプローブ間パスにおいて重複するエレメント群を１つも抽出できない。つまり、Ｄ−Ｅ，Ｄ−Ｆのパスと、Ｇ−Ｉ，Ｈ−Ｉのパスは重複するエレメントを有さない。このような場合、まず、ネットワークトポロジ情報から、最も階層の高いノードを有するプローブ間パスを独立グループから外して、スタックに格納（ＰＵＳＨ）し（ステップＳ２０５）、ステップＳ２０３の処理を、重複するエレメント群を１つのみ抽出できる状態になるまで繰り返し、得られた独立グループそれぞれにおいて上述の劣化・非劣化エレメントの判定を行う。

図１３は独立グループ内の全てのプローブ間パスにおいて重複するエレメント群を１つも抽出できないと判定した場合の処理フローを示す図である。
ここで、ステップＳ２０５の処理を繰り返し、結果、上述のステップＳ２０３において、独立グループ内の全てのプローブ間パスにおいて重複するエレメント群を抽出できると判定した場合の詳細について説明する。
劣化エレメント分類部１３は、重複するエレメント群を抽出できる状態になると、得られた独立グループそれぞれで、全てのパスにおいて重複するエレメントがあるかを判定する。図１３で示すように、独立グループ（ｂ）においてＤ−Ｉのプローブ間パスをスタックにプッシュすると、Ｄ−ＥとＤ−Ｆの２つのプローブ間パスを有する独立グループ（ｄ）と、Ｇ−ＩとＨ−Ｉの２つのプローブ間パスを有する独立グループ（ｅ）とに別れ、各独立グループは重複するエレメント群を抽出できる状態となる。このような状態で、劣化エレメント分類部１３は、独立グループ（ｄ）のＤ−ＥとＤ−Ｆの２つのプローブ間パスにおいて重複するエレメント１５,１７,２９と、独立グループ（ｅ）のＧ−ＩとＨ−Ｉの２つのプローブ間パスにおいて重複するエレメント１４,２２,２７,２８を劣化エレメントと判定し、各独立グループにおいて２つのプローブ間パスで重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、劣化情報テーブルにおいて未判定エレメントから劣化エレメントへと一旦書き換える。

そして、次に、劣化エレメント分類部１３は、上述のステップＳ２０６により、スタックにデータがあるかを判定する。今、独立グループ（ｂ）を独立グループ（ｄ），（ｅ）に分けた際に処理したＤ−Ｉのプローブ間パスのエレメント情報がスタックに格納されているため、上述のステップＳ２０７においてスタック内のプローブ間パスの情報を１つ読み取る。そして劣化エレメント分類部１３は、スタック内から読み取ったプローブ間パスの各エレメントと、既に劣化エレメントと判定した各エレメントとの間の第１〜第４の重複状態を判定する。ここで、この重複状態判定においては、
（第１の重複状態判定）
既に劣化エレメントと判定した情報の中に、スタックから読み取ったプローブ間パス内のエレメントに完全に内包される劣化エレメントが１つ存在し、他の劣化エレメントはスタックから読み取ったプローブ間パス内のエレメントと一部のみ重複する場合、
（第２の重複状態判定）
スタックから読み取ったプローブ間パス内のエレメントに完全に内包される劣化エレメントが１つも存在しない場合、
（第３の重複状態判定）
全ての劣化エレメントがスタックから読み取ったプローブ間パス内のエレメントに２つ以上内包される場合、
（第４の重複状態判定）
全ての劣化エレメントがスタックから読み取ったプローブ間パス内のエレメントに全く重複しない場合、
の４通りが考えられる。

図１３より、劣化エレメントと判定したエレメントのうち、独立グループ（ｄ）の劣化エレメント１５,１７,２９は、スタックから読み取ったＤ−Ｉのプローブ間パス内の各エレメントに完全に内包され、また独立グループ（ｅ）の劣化エレメント１４,１６,２２,２７,２８は、一部（エレメント１４,２２,２８）のみが、スタックから読み取ったＤ−Ｉのプローブ間パス内の各エレメントに内包される。したがって、この場合、第１の重複状態判定の場合の処理に移行する。

＜第１の重複状態判定＞
図１４は第１の重複状態判定の処理フローを示す図である。
図１５は第１の重複状態判定時の劣化情報テーブルの遷移を示す図である。
第１の重複状態判定の処理においては、まず、劣化エレメント分類部１３は、スタックから読み取ったＤ−Ｉのプローブ間パス内の各エレメントの未判定エレメントから、劣化情報のうちの完全に内包されるエレメント（１５,１７,２９）を削除するため、劣化情報テーブルの未判定エレメントの領域から判定済みエレメント領域へ書き換える（ステップＳ３０１）。そして、劣化エレメント分類部１３は、スタックから読み取ったＤ−Ｉのプローブ間パス内の各エレメントの未判定エレメントのうち、劣化エレメントと判定したエレメントのうちの一部のエレメントのみが重複する劣化エレメントにおける、当該重複エレメント（独立グループ（ｅ）におけるエレメントは１４,２２,２８）を、劣化エレメントから非劣化エレメントに分類しなおす（ステップＳ３０２）。また、劣化エレメント分類部１３は、スタックから読み取ったＤ−Ｉのプローブ間パス内におけるその他の未判定エレメント（１２,１３,２４,２５）を非劣化エレメントと判定する（ステップＳ３０３）。したがって独立グループ（ｄ），（ｅ）においては、劣化エレメントは１５,１７,２９,１６,２７となる。
つまり、この処理によれば、独立グループ（ｂ）を元とする独立グループ（ｄ），（ｅ）における全てのプローブ間パスは劣化値が同じ１０であり、各独立グループの１箇所のみで劣化エレメントを有するとみなすため、異なる２箇所のエレメントで劣化と判定されることはない。したがって、スタックから読み取ったＤ−Ｉのプローブ間パス内のエレメントが、他のプローブ間パス内の劣化エレメントを完全に内包する場合は、そこを劣化エレメントと判定し、スタックから読み取ったＤ−Ｉのプローブ間パス内のエレメントが、他のプローブ間パス内の劣化エレメントの一部のみを内包する場合には、重複しない箇所を劣化エレメントとみなすことが必要である。

＜第２の重複状態判定＞
図１６は第２の重複状態判定の処理フローを示す図である。
図１７は第２の重複状態判定時の劣化情報テーブルの遷移を示す図である。
また、スタックから読み取ったプローブ間パス内のエレメントに完全に内包される劣化エレメントが１つも存在しない、と判定した場合には、第２の重複状態判定による処理を行う。
この第２の重複状態判定の処理については、まず、独立グループが図１７の（ｆ）のような構成であった場合において、Ａ−Ｂのプローブ間パスの全てのエレメントと、Ｄ−Ｅのプローブ間パスの全てのエレメントが、劣化エレメントと判定されている。そしてＡ−Ｅのプローブ間パスがスタックに格納されている場合を考える。当該スタックに格納されているＡ−Ｅのプローブ間パス内の各エレメントに完全に内包される劣化エレメントは１つもない。このような場合、劣化エレメント分類部１３は、スタックから読み取ったプローブ間パス内の未判定エレメントを全て劣化エレメントと分類し（ステップＳ４０１）、劣化情報テーブルの未判定エレメント領域から劣化エレメント領域へと書き換える。また劣化エレメント分類部１３は、スタックから読み取ったプローブ間パス内のエレメントと、重複する劣化エレメントの情報とを１つの独立グループとする（ステップＳ４０２）。
つまり、この処理によれば、独立グループ（ｆ）における全てのプローブ間パスは劣化値が同じ１０であり、１箇所のみで劣化エレメントを有するとみなすため、異なる２箇所のエレメントで劣化と判定されることはない。しかしながら、スタックから読み取ったプローブ間パス内のエレメントによって、完全に内包される劣化エレメントがないため、どこが劣化エレメントであるか不明である。したがって、一旦、スタックから読み取ったプローブ間パス内の全てのエレメントを劣化エレメントの可能性があるものとして分類している。

＜第３の重複状態判定＞
図１８は第３の重複状態判定の処理フローを示す図である。
図１９は第３の重複状態判定時の処理概要の遷移を示す第１の図である。
図２０は第３の重複状態判定時の劣化情報テーブルの遷移を示す第１の図である。
また、２つ以上の劣化エレメントがスタックから読み取ったプローブ間パス内のエレメントに完全に内包される、と判定した場合には、劣化エレメント分類部１３は、第３の重複状態判定による処理を行う。
この第３の重複状態判定の処理については、まず、独立グループが図１９の（ｇ）のような構成であった場合において、図２０の劣化情報テーブルｎ１で示すように、Ａ−Ｂのプローブ間パスまたはＡ−Ｃのプローブ間パスにおける一部のエレメント１,２,３と、Ｅ−Ｆのプローブ間パスにおける一部のエレメント３３,３４が劣化エレメントと判定されている。このときＡ−Ｂのプローブ間パスにおけるエレメント４,５は非劣化エレメント、Ａ−Ｃのプローブ間パスにおけるエレメント６,７,８,９は非劣化エレメントと判定されているとする。またＥ−Ｆのプローブ間パスにおけるエレメント３０,３１,３２が非劣化エレメントと判定されているとする。そして、Ａ−Ｆのプローブ間パスがスタック内に格納されていることを考える。この場合、当該スタック内に格納されているＡ−Ｆのプローブ間パス内のエレメントは、劣化エレメントのすべてを完全に内包する。

このような場合、劣化エレメント分類部１３は、劣化エレメントと判定されたエレメントの中に１つのプローブ間パスによってのみ構成されるエレメントがあるかを判定する（ステップＳ５０１）。そして、劣化エレメント分類部１３は、劣化エレメントと判定されたエレメントの中に１つのプローブ間パスによってのみ構成されるエレメントがある場合には、劣化エレメントと判定されたエレメントが複数のプローブ間パスによって構成される他のエレメントを、一旦、劣化エレメントから未判定エレメントへと戻す処理を行う（ステップＳ５０２）。そして、劣化エレメント分類部１３は、劣化エレメントと判定されたエレメントであって、１つのプローブ間パスによってのみ構成されるエレメント３３,３４を、そのまま劣化エレメントと決定する（ステップＳ５０３）。また、劣化エレメント分類部１３は、劣化情報テーブルｎ２, 劣化情報テーブルｎ３で示すように、複数のプローブ間パスに共通する劣化エレメント１,２,３を非劣化エレメントと分類しなおし（ステップＳ５０４）、複数のプローブ間パスに共通する劣化エレメントを有する各プローブ間パス内の、非劣化エレメント（４,５,６，７，８,９）を一旦未判定エレメントとして（ステップＳ５０５）、その後、そのうちの重複するエレメントを非劣化エレメント、重複しないエレメントを劣化エレメント（４,５,８,９）として分類しなおして（ステップＳ５０６）、また、スタックから読み取ったＡ−Ｆのプローブ間パス内のエレメントのうち、劣化エレメントと判定したエレメント３３,３４以外の、エレメント１,２,３,６,７,２０,２１,２２,３２を非劣化エレメントと判定する（ステップＳ５０７）。また、劣化エレメント分類部１３は、当該スタック内に格納されていたＡ−Ｆは１つの独立グループとする（Ｓ５０８）。

つまり、この処理によれば、独立グループ（１），（２）の元となる独立グループ（ｇ）における全てのプローブ間パスは劣化値が同じ１０であり、それぞれ１箇所のみで劣化エレメントを有するとみなすため、１つのプローブ間パス内の異なる複数箇所のエレメントで劣化エレメントが存在すると判定されることはない。したがって、スタックに格納された、最も階層の高いノードを有するプローブ間パス内のエレメントに完全に内包される劣化エレメントであって、当該劣化エレメントと判定されたエレメントが、１つのプローブ間パスによってのみ構成されるエレメント（エレメント３３,３４）である場合には、それは劣化エレメントと判定できる。したがって、その劣化エレメントと判定されたエレメント以外の、スタックに格納されたプローブ間パス内のエレメントは非劣化エレメントと判定することができる。そして、他方、スタックに格納された、最も階層の高いノードを有するプローブ間パス内のエレメントに完全に内包される劣化エレメントであって、当該劣化エレメントと判定されたエレメントが複数のプローブ間パスに共通するエレメントである場合には、その劣化エレメントを保持するプローブ間パスにおいて、スタックに格納された、最も階層の高いノードを有するプローブ間パス内のエレメントと重複するエレメントを非劣化エレメントへと戻し、内包されていないエレメントを劣化エレメントとしている。

図２１は第３の重複状態判定時の処理概要の遷移を示す第２図である。
図２２は第３の重複状態判定時の劣化情報テーブルの遷移を示す第２の図である。
また、上記ステップＳ５０１の劣化エレメントと判定されたエレメントの中に１つのプローブ間パスによってのみ構成されるエレメントがあるかの判定において、Ｎｏの場合、つまり、劣化エレメントと判定されたエレメント全て（図２１のＡ−Ｂ又はＡ−Ｃのプローブ間パスにおける劣化エレメント１,２,３、および、Ｄ−Ｆ又はＥ−Ｆのプローブ間パスにおける劣化エレメント３４,３５,３６）が複数のプローブ間パスに共通するエレメントである場合、劣化エレメント分類部１３は、劣化エレメントと判定した全てのエレメントを、一旦劣化エレメントから未判定エレメントへと戻す処理を行う（図２２の劣化情報テーブルｎ５；ステップＳ５０９）。そして、劣化エレメント分類部１３は、スタックに格納された、最も階層の高いノードを有するプローブ間パス内のエレメントと、一旦未判定エレメントへと戻した、全ての独立グループのエレメントを、劣化エレメントと判定する（図２２の劣化情報テーブルｎ６；ステップＳ５１０）。また、劣化エレメント分類部１３は、当該スタック内に格納されていたＡ−Ｆは１つの独立グループとする（Ｓ５１１）。

つまり、この処理によれば、各独立グループにおける全てのプローブ間パスは劣化値が同じ１０であり、それぞれ１箇所のみで劣化エレメントを有するとみなすため、１つのプローブ間パス内の異なる複数箇所のエレメントで劣化エレメントが存在すると判定されることはない。したがって、スタックに格納された、最も階層の高いノードを有するプローブ間パス内のエレメントに完全に内包される劣化エレメントであって、当該劣化エレメントと判定されたエレメント全てが複数のプローブ間パスに共通するエレメントである場合には、どこに劣化エレメントが分からないため、独立グループ内全てのエレメントを劣化エレメントの可能性のあるエレメントであるから、一旦、劣化エレメントと判定している。

＜第４の重複状態判定＞
図４０は第４の重複状態判定の処理フローを示す図である。
図４１は第４の重複状態判定時の処理概要の遷移を示す図である。
図４２は第４の重複状態判定時の劣化情報テーブルの遷移を示す図である。
この第４の重複状態判定の処理については、まず、独立グループが図４１のような構成であった場合において、図４２の劣化情報テーブルで示すように、Ａ−Ｃのプローブ間パスまたはＢ−Ｃのプローブ間パスにおける一部のエレメント４,１７,８と、Ｄ−Ｅのプローブ間パスまたはＤ−Ｆのプローブ間パスにおける一部のエレメント５,１９,９が劣化エレメントと判定されている。
このときＡ−Ｃのプローブ間パスにおけるエレメント６,１４,２,１５は非劣化エレメント、Ｂ−Ｃのプローブ間パスにおけるエレメント７,１６と、Ｄ−Ｆのプローブ間パスにおけるエレメント１８，３，２１，１１は非劣化エレメント、Ｄ−Ｅのプローブ間パスにおけるエレメント２０，１０は非劣化エレメントと判定されているとする。
そして、Ａ−Ｆのプローブ間パスがスタック内に格納されていることを考える。
この場合、当該スタック内に格納されているＡ−Ｆのプローブ間パス内のエレメントは、劣化エレメントのすべてに重複しない。
よって、劣化エレメント分類部１３は、Ａ−Ｃ,Ｂ−Ｃ，Ｄ−Ｅ，Ｄ−Ｆの各プローブ間パスの劣化情報テーブルはそのままで、Ａ−Ｆのプローブ間パスにおける未判定エレメントのうち、エレメント１２，１，１３を劣化エレメントと判定し、エレメント６，１４，２，３，２１，１１を非劣化エレメントと判定する（ステップＳ１１０１）。つまり、ステップＳ１１０１では、スタックから読み取ったプローブ間パス内の未判定エレメントのうち、重複する部分を非劣化エレメントとし、重複しないエレメントを全て劣化とする。
また、劣化エレメント分類部１３は、当該スタック内に格納されていたＡ−Ｆは１つの独立グループとする（Ｓ１１０２）。

以上の処理により、最小の劣化値に該当するプローブ間パスそれぞれのエレメントについて、劣化エレメントまたは非劣化エレメントの分類を終える。

図２３は、劣化情報テーブル再構築処理の処理フローを示す第１の図である。
次に、未判定エレメントが残っている他の劣化値（本実施形態においては劣化値１０以外の劣化値）を有するプローブ間パス内のエレメントの劣化・非劣化の判定を行う。
この判定においては、まず、劣化エレメント分類部１３は、未判定エレメントが残っているプローブ間パスのうち、劣化値が最小のプローブ間パス（本実施形態においては劣化値２０のプローブ間パス）を、劣化情報テーブルから抽出する（ステップＳ６０１）。この抽出したプローブ間パスの情報をターゲット情報と呼ぶこととする。そして劣化エレメント分類部１３は、ターゲット情報のエレメントのうち、既に劣化エレメントと判定されたエレメントを劣化情報テーブルにおいて、判定済みエレメントの領域へと書き換える（ステップＳ６０２）。
また劣化エレメント分類部１３は、ターゲット情報のエレメントのうち、既に非劣化エレメントと判定されたエレメントについては、劣化情報テーブルにおいて、未判定エレメントから非劣化エレメントの領域へと書き換える（ステップＳ６０３）。
そして、劣化エレメント分類部１３は、以上の処理によってターゲット情報のエレメントのうち、未判定エレメントが残っているかを判定する（ステップＳ６０４）。そして劣化エレメント分類部１３は、未判定エレメントが残っている場合、および未判定エレメントが残っていない場合のそれぞれにおいて、ターゲット情報で示されるプローブ間パスの劣化値から、当該ターゲット情報で示されるプローブ間パスのエレメントのうちの何れかを劣化エレメントとして有する、他のプローブ間パスの劣化値を減算する（ステップＳ６０５）。そして、劣化エレメント分類部１３は、ステップＳ６０４、ステップＳ６０５の判定結果によって、（１）未判定エレメントが残っており、減算結果≦０の場合、（２）未判定エレメントが残っており、減算結果＞０の場合、（３）未判定エレメントが残っておらず、減算結果＝０の場合、（４）未判定エレメントが残っておらず、減算結果＞０の場合、（５）未判定エレメントが残っておらず、減算結果＜０の場合、の何れかの処理を行う。
なお、テーブル再構築処理における劣化値の減算は、独立グループ単位で実施される。つまり、独立グループが１つ存在し、そのグループに含まれる劣化エレメントに対し、非連続的に何度も重複するパスが存在した場合、減算は１回しか行われない。異なる独立グループが複数存在し、それぞれに重複するパスが存在した場合、各独立グループが保持する劣化値をそれぞれ減算することとなる。

図２４は、劣化情報テーブル再構築処理の処理フローを示す第２の図である。
図２５は、劣化情報テーブル再構築処理の処理概要の遷移を示す第１の図である。
図２６は、劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第１の図である。
未判定エレメントが残っている場合について以下説明する。
［未判定エレメントが残っており、減算結果≦０の場合］
今、図２５、図２６より、エレメント１,２,３を有する独立グループ、およびエレメント１０,１１,１２,１３を有する独立グループが、それらのエレメントについて劣化エレメントと判定されている場合において、ターゲット情報のエレメントが１,２,３,４,５,６,１１,１２,１３を有するとする。このとき、ターゲット情報の劣化値が２０であり、エレメント１,２,３を有する独立グループの劣化値が１０、エレメント１０,１１,１２,１３を有する独立グループの劣化値が１０であるとすると、ターゲット情報の劣化値から、当該ターゲット情報のエレメントのうちの何れかを劣化エレメントとして保有する、他の独立グループの劣化値を減算する処理すると（２０−１０−１０）＝０（減算結果≦０）となる（ステップＳ７０１）。
この場合、ターゲット情報の劣化値と、当該ターゲット情報の何れかのエレメントであって既に劣化エレメントと判定されエレメントを保有する独立グループの劣化値が一致するため、ターゲット情報で示されるプローブ間パスにおける劣化箇所は、既に判定済みであると考えることができる。劣化エレメント分類部１３は、ターゲット情報で示されるプローブ間パス内の未判定エレメントのうち、劣化エレメントと判定されたものについては、劣化情報テーブルにおいて未判定エレメントから判定済みエレメント（エレメント１,２,３,１１,１２,１３）へと書き換え（ステップＳ７０２）、残りの未判定エレメント（エレメント４,５,６）について全て非劣化エレメントへと書き換える（ステップＳ７０３）。

図２７は、劣化情報テーブル再構築処理の処理フローを示す第３の図である。
図２８は、劣化情報テーブル再構築処理の処理概要の遷移を示す第２の図である。
図２９は、劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第２の図である。
［未判定エレメントが残っており、減算結果＞０の場合］
また、上述の処理では、ターゲット情報の劣化値から、当該ターゲット情報のエレメントのうちの何れかを劣化エレメントとして有する、他の独立グループの劣化値を減算した値が０以下（減算結果≦０）である場合の例であるが、減算結果＞０である場合の可能性もある。この場合の処理を、図２７、図２８、図２９を用いて説明する。
今、図２８、図２９より、エレメント１,２,３を有する独立グループ、およびエレメント１０,１１,１２,１３を有する独立グループにおいて、それらエレメントが劣化エレメントと判定されている。この場合において、ターゲット情報のエレメントが１,２,３,２０,２１,２２,２３,２４,２５,２６,１１,１２,１３を有するとする。このとき、ターゲット情報の劣化値が３０であり、エレメント１,２,３を有する独立グループの劣化値が１０、エレメント１０,１１,１２,１３を有する独立グループの劣化値が１０であるとすると、ターゲット情報で示されるプローブ間パスの劣化値から、当該ターゲット情報のエレメントのうちの何れかを劣化エレメントとして有する、他の独立グループの劣化値を減算する処理は、（３０−１０−１０）＝１０となり、減算結果＞０となる（ステップＳ８０１）。

この場合、ターゲット情報の劣化値が、当該ターゲット情報のエレメントを劣化エレメントとして一部保有する他の１つまたは複数の独立グループの劣化値の合計よりも大きいため、ターゲット情報のエレメントのうちの既に劣化と判定されたエレメント以外のエレメントにおいて、さらに劣化値１０となる他の劣化箇所が存在する可能性があると推定できる。したがって、劣化エレメント分類部１３は、劣化情報テーブルにおいて、ターゲット情報の劣化値を１０に変更し（ステップＳ８０２）、また、劣化エレメント分類部１３は、ターゲット情報における、既に劣化エレメントと判定されたエレメントを判定済みエレメントへと書き換え（ステップＳ８０３）、また、ターゲット情報におけるエレメントのうち、他の独立グループにおいて非劣化エレメントと判定済みのエレメントを非劣化エレメントへと書き換える（ステップＳ８０４）。これにより、ターゲット情報において幾つかの未判定エレメントが残る。この未判定エレメントは、ターゲット情報の劣化値を変更したことにより、次のサイクルで、再度、劣化情報テーブル再構築処理が行われる。
つまり、テーブル再構築が一旦終了した場合、テーブルに残っている情報の中で最小の劣化値を持つパスを抽出し、それらの重複関係を判定して独立グループを生成し、必要であればパスをスタックに格納する処理の実施も含め、各独立グループにおける１つの重複箇所を劣化と判定する、上述の「最小劣化値重複判定」を実施する。その後、更にテーブルの再構築を実施する。全てのパスが終了状態になるまでこの２つの処理を繰り返す。

図３０は、劣化情報テーブル再構築処理の処理フローを示す第４の図である。
次に、上述のターゲット情報のエレメントのうち、未判定エレメントが残っているかの判定において、未判定エレメントが残っていない場合について以下、説明する。
［未判定エレメントが残っておらず、減算結果＝０の場合］
この場合、未判定エレメントが残っている場合と同様に、ターゲット情報の劣化値から、当該ターゲット情報のエレメントのうちの何れかを劣化エレメントとして有する、他の独立グループの劣化値を減算する。その減算結果が０である場合には（ステップＳ９０１）、ターゲット情報の劣化値と、当該ターゲット情報のエレメントのうちの何れかを劣化エレメントとして有する、他の独立グループの劣化値が一致していることを示すため、ターゲット情報で示されるプローブ間パス内には他の劣化箇所がないとみなすことができるため、劣化エレメント分類部１３は、処理を終了する（ステップＳ９０２）。そして、劣化エレメント分類部１３は、他の劣化値のターゲット情報を用いて上述の処理を繰り返す。

図３１は、劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第３の図である。
図３２は、劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第４の図である。
図３３は、劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第５の図である。
［未判定エレメントが残っておらず、減算結果＞０の場合（１）］

図３１に示すように、プローブ間パスＡ−Ｃの劣化値が１０、プローブ間パスＢ−Ｃの劣化値が１０、プローブ間パスＡ−Ｂの劣化値が２０である場合（劣化情報テーブルｐ１）、上述の最小劣化値重複判定処理においては、最小値の劣化値「１０」のプローブ間パスを抽出する（劣化情報テーブルｐ２）。そして、そのプローブ間パスＡ−Ｃとプローブ間パスＢ−Ｃにおいてはエレメント１，４を重複するエレメントとしてそれぞれ保持するため、それら２つのパスの独立グループ（１）を生成する（劣化情報テーブルｐ３）。そして、独立グループ（１）にいて重複するエレメント１，４を劣化エレメントと判定し、それ以外のエレメント２，３を非劣化エレメントと判定する（劣化情報テーブルｐ４）。ここで、判定対象の各プローブ間パスの劣化値が同じ値で、それらのパスのうちの何れかが重複する場合にはそのエレメントを劣化エレメント、重複しない場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定する処理を、重複判定処理１と呼ぶこととする。そして、重複判定処理１を行った場合には、劣化情報テーブルにおいて、重複判定処理１を行ったことを示す識別情報を対応付けて記憶しておく（図３１の判定１に該当）。

そして、最小劣化値重複判定処理の次に、劣化情報テーブル再構築処理が開始されるが、劣化エレメント分類部１３は、図３２の劣化情報テーブルｐ５で示すように、残っている情報の中で最も劣化値が小さいプローブ間パスＡ−Ｂをターゲット情報と決定する。そして、独立グループ（１）に属する各プローブ間パスの劣化エレメントと、ターゲット情報が示すプローブ間パスＡ−Ｂのエレメントとの重複判定を行い、ターゲット情報のエレメント１，２，４のうち既に劣化エレメントと判定されているエレメント１を判定済みエレメントとし、既に非劣化エレメントと判定されているエレメント２，３非劣化エレメントとする。したがって、この状態で、ターゲット情報において未判定エレメントが存在しない状態となる（図３２の劣化情報テーブルｐ６）。このとき、ターゲット情報の劣化値が２０である。ターゲット情報で示されるプローブ間パスと、独立グループ（１）に属するプローブ間パスＡ−Ｃおよびプローブ間パスＢ−Ｃは、共通する劣化エレメントを有し、さらにプローブ間パスＡ−Ｃおよびプローブ間パスＢ−Ｃは最小の劣化値「１０」であるため、劣化エレメント１，４のうちの一方のみが劣化エレメントであると考えることができる。したがって、劣化エレメント分類部１３は、ターゲット情報のプローブ間パスと、独立グループ（１）の各プローブ間パスでは、共通する１つのエレメントが劣化エレメントとなる可能性があると考えることができるため、ターゲット情報の劣化値から、独立グループの各プローブ間パスに共通する劣化値「１０」を減算する（図３２の劣化情報テーブルｐ６）。つまり、独立グループ内の各プローブ間パス内の劣化エレメントそれぞれに共通するものがあれば、この場合ターゲット情報の劣化値「２０」から、独立グループ内の各プローブ間パスに共通する劣化値「１０」の値のみを減算する。すると、この減算結果は「１０」となるため、減算結果＞０となる。

この場合、ターゲット情報が示すプローブ間パス内のエレメント２，３は非劣化エレメントと判定され、エレメント１は劣化エレメントと判定されているため、未判定エレメントがないにもかかわらず、減算結果（＝１０）＞０となり、つまりターゲット情報の示すプローブ間パス内のエレメントに対して余った劣化値を割り当てることが出来ず、劣化・非劣化の判定が矛盾する。したがって、ターゲット情報についての劣化・非劣化の前の判定処理が誤っていると考えることが出来る。よって、劣化エレメント分類部１３は、一旦、ターゲット情報が示すプローブ間パス内の全てのエレメントを未判定エレメントへと戻し、また劣化情報テーブルで管理する劣化値も２０へと戻す（図３２の劣化情報テーブルｐ７）。また、劣化エレメント分類部１３は、ターゲット情報と比較した独立グループ（１）内のエレメントの劣化・非劣化の判定が誤っている可能性があるため、当該独立グループ（１）の各プローブ間パス内のエレメント全てについて、未判定エレメントへと戻す（図３２の劣化情報テーブルｐ８）。

そして、このように、劣化・非劣化の判定に矛盾が生じた結果、その矛盾を生じた劣化・非劣化の判定を行った各エレメントについてその判定を戻した場合には、劣化エレメント分類部１３は、ターゲット情報と比較した独立グループ（１）の各エレメントがどのような重複判定処理によって劣化・非劣化が判定されたのかを判定する。つまり、劣化情報テーブルにおいて独立グループ（１）の情報として登録されている重複判定処理の種別を確認する。今、図３２の劣化情報テーブルｐ７においては、独立グループ（１）の情報に重複判定処理１が登録されている（図３１の判定１の項目）。この重複判定処理１は、独立グループ（１）の劣化・非劣化の判定に用いた他のパス（前判定対象パス）が登録されていない。そして、劣化エレメント分類部１３は、重複判定処理１の場合には、独立グループ（１）の劣化・非劣化の判定のみに、誤りがあると判定する。したがって、劣化エレメント分類部１３は、重複判定処理１が誤っている可能性があるため、その重複判定処理１の処理とは逆の劣化・非劣化の判定を行う。つまり劣化エレメント分類部１３は、前回の重複判定処理１において劣化エレメントと判定した独立グループ（１）内のエレメント１，４を、今度は非劣化エレメントと判定し、また前回の重複判定処理１において非劣化エレメントと判定した独立グループ（１）内のエレメント２，３を劣化エレメントと判定し、２つの独立グループ（１）（２）に分割する（図３３の劣化情報テーブルｐ９）。そして、劣化エレメント分類部１３は、再度、劣化情報テーブル再構築処理を行い、ターゲット情報が示すプローブ間パス内のエレメントと、独立グループ（１）（２）が示す各プローブ間パス内のエレメントとの重複判定を行う。劣化情報テーブルｐ９においてエレメント１，４が非劣化エレメント、エレメント２，３が劣化エレメントと判定されている。したがって、劣化エレメント分類部１３は、ターゲット情報が示すプローブ間パス内のエレメントのうち、既に劣化エレメントと判定されているエレメント２，３を、劣化情報テーブルにおける判定済みエレメントの欄へ書き換え、また既に非劣化エレメントと判定されているエレメント１を、劣化情報テーブルにおける非劣化エレメントの欄へ書き換える。

このとき、ターゲット情報の劣化値が２０である。ターゲット情報で示されるプローブ間パスと、独立グループ（１）に属するプローブ間パスＡ−Ｃおよび独立グループ（２）に属するプローブ間パスＢ−Ｃは、異なる劣化エレメントを有し、さらにプローブ間パスＡ−Ｃおよびプローブ間パスＢ−Ｃは最小の劣化値「１０」であるため、判定済みの劣化エレメント２，３はそれぞれ別々に劣化エレメントであると確定することができる。したがって、劣化エレメント分類部１３は、ターゲット情報のプローブ間パスと、独立グループ（１）（２）の各プローブ間パスでは、異なる２つのエレメントが劣化エレメントであると考えることができるため、ターゲット情報の劣化値「１０」から、各独立グループの劣化値「１０」をそれぞれ減算する。つまり、独立グループがそれぞれに異なれば、この場合ターゲット情報の劣化値「２０」から、各独立グループの劣化値「１０」をそれぞれ減算する。すると、（ターゲット情報の劣化値２０）−（独立グループ（１）の劣化値１０）−（独立グループ（２）の劣化値１０）＝０となる。これにより、劣化・非劣化の矛盾が解消する。したがって、劣化エレメント分類部１３は、処理を終了する（ステップＳ９０２）。そして、劣化エレメント分類部１３は、他の劣化値のターゲット情報を用いて上述の処理を繰り返す。

図３４は、劣化情報テーブル再構築処理の処理概要の遷移を示す第３の図である。
図３５は、劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第６の図である。
図３６は、劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第７の図である。
図３７は、劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第８の図である。
図３８は、劣化情報テーブル再構築処理の劣化情報テーブルの遷移を示す第９の図である。
［未判定エレメントが残っておらず、減算結果＞０の場合（２）］
次に、上述のターゲット情報内のエレメントのうち、未判定エレメントが残っているかの判定において、未判定エレメントが残っていない場合であり、ターゲット情報の劣化値から、当該ターゲット情報のエレメントのうちの何れかを劣化エレメントとして有する、他の独立グループの劣化値を減算した結果が、０をより大きい場合、つまり、減算結果＞０である場合の、他の例について図３４〜３８を用いて説明する。
今、図３４、図３５より、エレメント１，２２を有する独立グループ（１）、およびエレメント１０,１１,１２を有する独立グループ（２）それぞれは、保有する全てのエレメントを劣化エレメントと判定されており、エレメント１,２２，２３，２４，２５，１１,１２を有するプローブ間パスと、エレメント１,２２，２３，２４，２５，１１,１０を有するプローブ間パスに含まれる全てのエレメントが未判定エレメントであるとする（図３５の劣化情報テーブルｑ１）。またこのような状況において、劣化エレメント分類部１３が劣化情報テーブル再構築処理を開始し、エレメント１,２２，２３，２４，２５，１１,１２を有するプローブ間パスを第１のターゲット情報と決定したとする（図３５の劣化情報テーブルｑ２）。なお、独立グループ（１）の判定が、重複判定処理１の重複判定であるとする。

劣化エレメント分類部１３は、第１のターゲット情報のエレメントのうち、独立グループ（１），（２）内で既に劣化エレメントと判定されたエレメント（１,２２，１１,１２）を、劣化情報テーブルにおいて、未判定エレメントの欄から判定済みエレメントの欄へと書き換える（図３５の劣化情報テーブルｑ３）。また、ターゲット情報の劣化値２０から、判定対象として独立グループ（１），（２）の劣化値をそれぞれ減算して、ターゲット情報の劣化値を０と更新する。また、この判定は劣化値の異なるターゲット情報と、独立グループ（１）（２）とを比較しているので、この判定を重複判定処理２として劣化情報テーブルｐ３のターゲット情報に対応付けて登録しておく（図３５の判定の項目）。またターゲット情報内のエレメントの劣化・非劣化を判定するにあたり判定対象に用いたエレメントを含む独立グループ（１）および独立グループ（２）の情報を、ターゲット情報に対応付けて劣化情報テーブルに登録しておく（劣化情報テーブルｑ３）。そして、劣化エレメント分類部１３は、第１のターゲット情報の劣化値が０と更新されたため、第１のターゲット情報のエレメントのうち、劣化エレメントと判定されずに残ったエレメント（２３,２４,２５）を劣化エレメントとは判定できない。したがって、それらエレメント２３，２４，２５を非劣化エレメントと判定し、未判定エレメントの欄から非劣化エレメントの欄へと書き換える（劣化情報テーブルｑ３）。

また次に、劣化エレメント分類部１３は、次の劣化情報テーブル再構築処理として、劣化情報テーブルの未判定エレメントに残っているエレメント１，２２，２３，２４，２５，１１，１０を有するプローブ間パスを第２のターゲット情報として決定する（劣化情報テーブルｑ４）。この第２のターゲット情報が示すプローブ間パスの劣化値は「３０」である。そして、劣化エレメント分類部１３は、第２のターゲット情報のエレメントのうち、劣化情報テーブル内の他のプローブ間パスのエレメントで、既に劣化エレメントと判定されたエレメント（１,２２，１１，１０）を、未判定エレメントの欄から判定済みエレメントの欄へと書き換える（図３６の劣化情報テーブルｑ５）。また、劣化エレメント分類部１３は、第２のターゲット情報内のエレメントのうち、劣化エレメントと判定されずに残ったエレメント（２３,２４,２５）を、非劣化エレメントと判定し、未判定エレメントの欄から非劣化エレメントの欄へと書き換える（図３６の劣化情報テーブルｑ５）。

以上の処理によって第２のターゲット情報内のエレメントのうち、未判定エレメントが残っているかを判定すると、未判定エレメントが残っていない場合となる。

このとき、第２のターゲット情報の劣化値が３０であり、劣化エレメントであるエレメント１，２２を有する独立グループ（１）の劣化値が１０、劣化エレメントであるエレメント１０,１１,１２を有する独立グループ（２）の劣化値が１０であるため、第２のターゲット情報の劣化値から、当該第２のターゲット情報のエレメントのうちの何れかを劣化エレメントとして有する、他のプローブ間パスの劣化値を減算する処理を行うと（３０−１０−１０）＝１０となる（図３６の劣化情報テーブルｑ５の最下行）。つまり、ターゲット情報のエレメントのうち、未判定エレメントが残っているかの判定において、未判定エレメントが残っていない場合であり、ターゲット情報の劣化値から、当該ターゲット情報で示されるプローブ間パスのエレメントのうちの何れかを劣化エレメントとして有する、他のプローブ間パスの劣化値を減算した結果が減算結果＞０となる。

この場合、第２のターゲット情報が示すプローブ間パス内のエレメント２３，２４，２５は非劣化エレメントと判定され、エレメント１，２２，１１，１０は劣化エレメントと判定されているため、未判定エレメントがないにもかかわらず、減算結果（＝１０）＞０となり、つまり第２のターゲット情報の示すプローブ間パス内のエレメントに対して余った劣化値を割り当てることが出来ず、劣化・非劣化の判定が矛盾する。したがって、第２のターゲット情報についての劣化・非劣化の前の判定処理が誤っていると考えることが出来る。よって、劣化エレメント分類部１３は、一旦、第２のターゲット情報が示すプローブ間パス内の全てのエレメントを未判定エレメントへと戻し、また劣化情報テーブルで管理する第２のターゲット情報の劣化値も３０へと戻す（劣化情報テーブルｑ６）。そして、劣化エレメント分類部１３は、第２のターゲット情報の劣化値の残りについて劣化・非劣化の判定が矛盾するプローブ間パスを判定する。この判定は、第２のターゲット情報のエレメントの劣化・非劣化を判定するにあたり、最近で判定対象とした他のプローブ間パスを矛盾するものと判定すればよい。そして、この、第２のターゲット情報と矛盾のあるエレメント１，２２，２３，２４，２５，１１，１２を有するプローブ間パス内の当該各エレメントの劣化・非劣化の判定が誤っている可能性があると判断する。そのため、劣化エレメント分類部１３は、そのプローブ間パス内のエレメント全てについて、未判定エレメントへと戻す（図３６の劣化情報テーブルｑ７）。

そして、このように、劣化・非劣化の判定に矛盾が生じた結果、その矛盾を生じた劣化・非劣化の判定を行った各エレメントについてその判定を戻すと、劣化エレメント分類部１３は、その矛盾を生じたエレメント１，２２，２３，２４，２５，１１，１２を有するプローブ間パス内の各エレメントの、劣化・非劣化の判定において判定対象とした他のプローブ間パス（前判定対象パス）があるかを判定する。劣化情報テーブルには、判定対象の項目に、前判定対象パスとして、独立グループ（１），（２）が登録されている。したがって、劣化エレメント分類部１３は、矛盾を生じたエレメント１，２２，２３，２４，２５，１１，１２を有するプローブ間パス内の各エレメントと、独立グループ（１），（２）とを比較し、エレメント１，２２，２３，２４，２５，１１，１２を有するプローブ間パスに内包しないプローブ間パスの独立グループ（２）を抽出する。そしてこの独立グループ（２）の示すプローブ間パス内のエレメントについて、矛盾を生じたエレメント１，２２，２３，２４，２５，１１，１２を有するプローブ間パスと、を比較して、独立グループ（２）の示すプローブ間パス内のエレメントの中で、劣化エレメントと判定したエレメント１０，１１，１２のうち、矛盾を生じたエレメント１，２２，２３，２４，２５，１１，１２を有するプローブ間パスに重複するエレメント１１，１２を非劣化エレメントと判定しなおす（図３７の劣化情報テーブルｑ８）。

次に、劣化エレメント分類部１３は、再度、矛盾を生じたエレメント１，２２，２３，２４，２５，１１，１２を有するプローブ間パスと、独立グループ（１），（２）との重複判定を行い、矛盾を生じたエレメント１，２２，２３，２４，２５，１１，１２を有するプローブ間パスの劣化情報テーブル再構築処理を行う。このとき、矛盾を生じたエレメント１，２２，２３，２４，２５，１１，１２のうち、エレメント１，２２は既に劣化エレメントと判定されているため、それらエレメント１，２２を判定済みエレメントの欄に書き換え、またエレメント１１，１２は既に非劣化エレメントと判定されているため、それらエレメント１１，１２を非劣化エレメントの欄に書き換える（図３７の劣化情報テーブルｑ９）。なお、判定済みと判定したエレメント１，２２を有する独立グループは（１）のみであるため、独立グループ（１）の劣化値を、矛盾を生じたエレメント１，２２，２３，２４，２５，１１，１２のプローブ間パスの劣化値から減じて、２０−１０＝１０の劣化値が、矛盾を生じたエレメント１，２２，２３，２４，２５，１１，１２のプローブ間パスの、残りのエレメント２３，２４，２５の劣化値として登録される。

次に、劣化エレメント分類部１３は、第２のターゲット情報で示されるプローブ間パス内のエレメントについて、劣化情報テーブル内の他のプローブ間パスとの重複判定を実施する。これにより、劣化エレメント分類部１３は、第２のターゲット情報で示されるエレメントのうち、既に劣化エレメントと判定されたエレメント１，２２，１０を、未判定エレメントの欄から判定済みエレメントの欄へと書き換え、また非劣化エレメントと既に判定されたエレメント１１，１２を、未判定エレメントの欄から非劣化エレメントの欄へと書き換える（図３７の劣化情報テーブルｑ１０）。なお、判定済みと判定したエレメント１，２２，１０を有する独立グループは（１），（２）の２つであるため、独立グループ（１），（２）の劣化値それぞれを、第２のターゲット情報のプローブ間パスの劣化値から減じて、３０−１０−１０＝１０の劣化値が、第２のターゲット情報のプローブ間パスの、残りのエレメント２３，２４，２５の劣化値として登録される。

次に、劣化エレメント分類部１３は、独立グループになっていない劣化情報テーブル内の情報を特定し（図３８の劣化情報テーブルｑ１１）、それら情報に対して、最小劣化値重複判定処理を実施する。このとき、劣化情報テーブルにおいて独立グループとなっていない２つのプローブ間パスの情報においては、共通のエレメントを持つので、それら２つのプローブ間パスの情報を独立グループ（３）と設定する（図３８の劣化情報テーブルｑ１２）。そして、独立グループ（３）内の未判定エレメントのうち、重複するエレメント２３，２４，２５を、未判定エレメントの欄から劣化エレメントの欄へ書き換える。このとき、重複しないエレメントがあれば、未判定エレメントの欄から非劣化エレメントの欄へと書き換える処理を行う（図３８の劣化情報テーブルｑ１３）。

これにより、各独立グループの劣化値の合計と、元の各プローブ間パスの劣化値の関係に矛盾が解消する。したがって、劣化エレメント分類部１３は、処理を終了する（ステップＳ９０２）。そして、劣化エレメント分類部１３は、他の劣化値のターゲット情報を用いて上述の処理を繰り返す。

図３９は、劣化情報テーブル再構築処理の処理概要の遷移を示す第４の図である。
［未判定エレメントが残っておらず、減算結果＜０の場合］
次に、上述のターゲット情報のエレメントのうち、未判定エレメントが残っているかの判定において、未判定エレメントが残っていない場合であり、ターゲット情報の劣化値から、当該ターゲット情報のエレメントのうちの何れかを劣化エレメントとして有する、他の独立グループの劣化値を減算した結果が、０をより小さい場合、つまり、減算結果＜０である場合について図３９を用いて説明する。

今、図３９の（１）のトポロジで示すような、エレメント１,２,４を有し、劣化値が３０となるグループ（Ｌ）、およびエレメント１,３,４を有し、劣化値が５０となるグループ（Ｍ）、およびエレメント１,２,３を有し、劣化値が６０となるグループ（Ｎ）が劣化情報テーブルに登録されており、これらグループのエレメントが未判定エレメントであるとする。その場合、グループ（Ｌ）の劣化値が最も小さいため、このグループ（Ｌ）のみで最小劣化値重複判定が行われる。劣化値が最も小さいグループがこのグループ（Ｌ）のみであるため、一旦、グループ（Ｌ）の全てのエレメント（１,２,４）について劣化エレメントと判定する。そしてグループ（Ｌ）の全てのエレメント（１,２,４）が劣化エレメントと判定されたためにグループ（Ｌ）の劣化値３０が確定し、これにより、劣化情報テーブルの再構築処理において、グループ（Ｍ）の劣化値が、劣化情報テーブルにおいて、５０−３０により２０と更新される（図３９の（５））。また同様にグループ（Ｎ）の劣化値が、劣化情報テーブルにおいて、６０−３０により３０と更新される（図３９の（４））。

次に、未判定エレメントが残っており、劣化情報テーブルにおいて劣化値が最小（２０）となったグループ（Ｍ）では、エレメント１,４は既に劣化エレメントと判定されているため、判定済みエレメントへ書き換えられ、これにより、グループ（Ｍ）におけるエレメント３が劣化値２０の劣化エレメントと一旦判定される（図３９の（８））。また、これにより、グループ（Ｎ）の劣化値が、劣化情報テーブルにおいて６０−３０−２０により１０と更新される（図３９の（９））。しかしながら、グループ（Ｎ）の元々の未判定エレメント１,２,３のエレメントは既に全て劣化エレメントとして判定済みであり、したがって、グループ（Ｎ）の未判定エレメントの領域に格納されている劣化値１０のエレメント２の情報は、他のグループ（Ｌ）やグループ（Ｍ）の判定結果と矛盾する。したがって、図３９における一つ前の劣化情報テーブル再構築処理（６）,（７）が誤っていると判断し、グループ（Ｍ）とグループ（Ｎ）の劣化値を元の５０,６０にそれぞれに戻して、グループ（Ｍ）とグループ（Ｌ）の劣化情報テーブル再判定処理を行う。このとき、重複するエレメント（１,４）を非劣化エレメント、重複しないエレメント（３）を劣化エレメントとする。つまり、グループ（Ｍ）においては、劣化値５０でその劣化エレメントは３、非劣化エレメントを１,４と判定する（図３９の（１５））。

次に、グループ（Ｎ）をターゲット情報と特定し、このグループ（Ｎ）について、劣化情報テーブル再構築処理を行う。このターゲット情報となるグループ（Ｎ）内のエレメントにおいて既に劣化エレメントと判定されたエレメント１,２,３を、劣化情報テーブルにおいて判定済みエレメントへと書き換える。つまり、グループ（Ｎ）の未判定エレメントは残らない状態となる。またターゲット情報のグループ（Ｎ）の劣化値６０から、当該グループ（Ｎ）内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のグループ（Ｌ）,（Ｍ）の劣化値を減算する。すると、グループ（Ｎ）の劣化値６０−グループ（Ｌ）の劣化値３０−グループ（Ｍ）の劣化値５０＝−２０となる。つまり、これにより、ターゲット情報で示されるグループ内のエレメントのうち、未判定エレメントが残っているかの判定において、未判定エレメントが残っていない場合であり、ターゲット情報で示されるグループの劣化値から、当該ターゲット情報で示されるグループのエレメントのうちの何れかを劣化エレメントとして有する、他のグループの劣化値を減算した結果が、０をより小さい場合、つまり、減算結果＜０の状況となる。

このような場合には、次に、劣化情報テーブル再構築処理において、減算結果（−２０）を、ターゲット情報で示されるグループ（Ｎ）のエレメントのうちの何れかを劣化エレメントとして有する他のグループ（Ｌ）,（Ｍ）の劣化値に加えて、グループ（Ｌ）の劣化値を１０（図３９の（１９））、グループ（Ｍ）の劣化値を３０（図３９の（１９））と判定し、また減算結果（−２０）の絶対値２０を、ターゲット情報で示されるグループ（Ｎ）において非劣化と判定されているエレメント１に割り当てる（図３９の（１９））。以上の処理により、元々のグループ（Ｌ）の劣化値３０、グループ（Ｍ）の劣化値５０、グループ（Ｎ）の劣化値６０が、図３９の（１９）の図のように割り当てられ、これにより、矛盾なく、各グループ（Ｌ）,（Ｍ）,（Ｎ）の判定処理が終了する。

そして、各グループの未判定エレメントがなくなるまで、上述の最小劣化値重複判定及び劣化情報テーブル再構築処理を繰り返して、各グループの劣化情報ごとに劣化エレメント／非劣化エレメントの分類を行う。そして、上述の１サイクルの処理は、所定の間隔で繰り返される。劣化エレメント分類部１３は、劣化エレメントと判定したエレメントについては、１サイクル分類結果テーブルにおいて「１」の値（判定値）を対応付けて登録し、非劣化エレメントと判定したエレメントについては、１サイクル分類結果テーブル「−１」の値を対応付けて登録する。そして、劣化エレメント推定部１４は、１サイクルの処理が終了するごとに、１サイクル分類結果テーブルの各エレメントの値を、トータル推定結果テーブル（図７）に加算していく。このとき、劣化エレメント推定部１４は、1サイクル分類結果テーブル内の各エレメントに割り当てられた「１」に対して整数値αを、また「−１」に対してある整数値β（α＞β）をそれぞれに対して積算（動的重み付けを実施）し、トータル推定結果テーブル内の該当エレメントの箇所に加算する。なお、減算（−β値の加算）処理の結果、トータル判定値が負値となった場合は、「０」と変更する。

これにより、動的重み付けを変えることで、間欠劣化（通信遅延やパケットロスの発生頻度が少ない障害）の発生箇所として推定できる。
また、上述の処理によれば、リンクとノードをそれぞれ別のエレメントとして、劣化・非劣化を判定するため、リンクとノードを区別した劣化箇所の推定処理を行うことができる。

なお、上述の劣化箇所推定装置１は内部に、コンピュータシステムを有している。そして、上述した各処理の過程は、プログラムの形式でコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータが読み出して実行することによって、上記処理が行われる。ここでコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしても良い。

また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。

１・・・劣化箇所推定装置
２・・・プローブ
３・・・ルータ
４，５・・・端末
１０・・・ネットワークトポロジ情報記憶部
１１・・・プローブ情報受信部
１２・・・劣化エレメント抽出部
１３・・・劣化エレメント分類部
１４・・・劣化エレメント推定部
１５・・・劣化情報テーブル記憶部
１６・・・１サイクル分類結果テーブル記憶部
１７・・・トータル推定結果テーブル

Claims (27)

1. 通信ネットワーク内のノードまたはリンクの何れかを示すエレメントそれぞれの接続関係を示すトポロジ情報を記憶するトポロジ情報記憶手段と、
   前記通信ネットワーク内の端末より送出されたパケット情報に基づいて、当該パケット情報が経由するパスを構成する各エレメントを、当該パケット情報と前記トポロジ情報に基づいて判定するパス内エレメント判定手段と、
   送信元側と送信先側とのそれぞれにおいて取得した前記パケット情報の対に基づいて、前記パケット情報が経由するパスの劣化値を判定する劣化値判定手段と、
   前記パケット情報が経由した前記通信ネットワーク内のパス毎に、当該パスを構成する前記各エレメントと、前記劣化値とを対応付けて劣化情報テーブルに記憶する劣化情報テーブル作成手段と、
   劣化または非劣化を判定する劣化判定閾値を用いて、当該劣化判定閾値以下の劣化値に対応付けられて前記劣化情報テーブルに記録されている全てのエレメントと、当該エレメントに一致する他のパケット情報のパス内のエレメントとを非劣化エレメントと判定する劣化・非劣化判定手段と、
   を備えることを特徴とする劣化箇所推定装置。
2. 前記パケット情報のパス毎の劣化値を分類し、同一劣化値となるパス群それぞれのうち、最小の劣化値となるパス群を特定する最小劣化値パス特定手段と、
   前記最小の劣化値となるパス群内の各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定する最小劣化値重複判定手段と、
   を備えることを特徴とする請求項１に記載の劣化箇所推定装置。
3. 前記最小劣化値重複判定手段は、
   前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、
   その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、
   前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの一つのパスの劣化エレメントを完全に内包し、他のパスの劣化エレメントについては一部のみを内包する場合、前記一部のみを内包する他のパスの劣化エレメントのうちの前記スタックに一時格納されたパスと重複するエレメントのみを非劣化エレメントと判定しなおし、前記スタックに一時格納されたパス内の未判定エレメントを非劣化エレメントと判定する
   ことを特徴とする請求項２に記載の劣化箇所推定装置。
4. 前記最小劣化値重複判定手段は、
   前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、
   その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、
   前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの全てのパスの劣化エレメントをいずれも内包しない場合、前記スタックに一時格納されたパス内の全ての未判定エレメントを劣化エレメントと判定する
   ことを特徴とする請求項２に記載の劣化箇所推定装置。
5. 前記最小劣化値重複判定手段は、
   前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、
   その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、
   前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの全てのパスの劣化エレメントを内包する場合であって、
   前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの劣化エレメントが、１つのパス内のエレメントによってのみ構成されるエレメントがある場合、
   前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの劣化エレメントが、複数のパス内のエレメントによって構成される当該劣化エレメントを、非劣化エレメントと判定しなおし、当該複数のパス内のエレメントによって構成される当該劣化エレメントを有する各パスの非劣化エレメントを、劣化エレメントと判定しなおし、
   さらに、前記スタックに一時格納されたパス内の全ての未判定エレメントを非劣化エレメントと判定する
   ことを特徴とする請求項２に記載の劣化箇所推定装置。
6. 前記最小劣化値重複判定手段は、
   前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、
   その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、
   前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの全てのパスの劣化エレメントを内包する場合であって、
   前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの劣化エレメントが、全て、複数のパス内のエレメントによって構成される場合、
   前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントと、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントとを、全て、劣化エレメントと判定する
   ことを特徴とする請求項２に記載の劣化箇所推定装置。
7. 前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、
   当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、
   その結果、未だ、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在する場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０以下か０より大きい値かを判定し、
   前記減算結果が０より大きい場合には、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定として残っているエレメントをそのまま未判定のエレメントと判定し、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算した値を、当該ターゲット情報の示すパスの新たな劣化値と判定する劣化情報テーブル再構築手段と、
   を備えることを特徴とする請求項２から請求項６の何れかに記載の劣化箇所推定装置。
8. 前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、
   当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、
   その結果、未だ、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在する場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０以下か０より大きい値かを判定し、
   前記減算結果が０以下である場合には、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定として残っているエレメントを全て非劣化のエレメントと判定する劣化情報テーブル再構築手段と、
   を備えることを特徴とする請求項２から請求項６の何れかに記載の劣化箇所推定装置。
9. 前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、
   当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、
   その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、
   前記減算結果が０である場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化・非劣化の判定を終了し、次のターゲット情報の示すパスの劣化・非劣化の判定を行う劣化情報テーブル再構築手段と、
   を備えることを特徴とする請求項２から請求項６の何れかに記載の劣化箇所推定装置。
10. 前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、
    当該ターゲット情報の示すパスについて、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定する第１の劣化・非劣化判定処理を行い、
    その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、
    前記減算結果が０より大きい値である場合には、ターゲット情報が示すプローブ間パス内の全てのエレメントと、そのターゲット情報が示すプローブ間パス内のエレメントの劣化・非劣化を判定するために最後に比較した前記判定対象パス内の全てのエレメントとの判定を、未判定エレメントへと戻し、
    前記判定対象パスの劣化・非劣化の判定に利用した他の前判定対象パスがない場合には、再度、それら戻したプローブ間パスについて、前記第１の劣化・非劣化判定処理において劣化エレメントと判定したエレメントを非劣化エレメントと判定し、また前記第１の劣化・非劣化判定処理において非劣化エレメントと判定したエレメントを劣化エレメントと判定する劣化情報テーブル再構築手段と、
    を備えることを特徴とする請求項２から請求項６の何れかに記載の劣化箇所推定装置。
11. 前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、
    当該ターゲット情報の示すパスについて、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定する第２の劣化・非劣化判定処理を行い、
    その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、
    前記減算結果が０より大きい値である場合には、ターゲット情報が示すプローブ間パス内の全てのエレメントと、そのターゲット情報が示すプローブ間パス内のエレメントの劣化・非劣化を判定するために最後に比較した前記判定対象パス内の全てのエレメントとの判定を、未判定エレメントへと戻し、
    前記判定対象パスの劣化・非劣化の判定に利用した他の前判定対象パスがある場合には、前記判定対象パス内のエレメントに内包しない前記前判定対象パス内のエレメントのうちの前記判定対象パス内の未判定エレメントと重複するエレメントを非劣化エレメントと判定し、
    前記判定対象パス内のエレメントの未判定エレメントと、前記ターゲット情報のうち重複するエレメントを劣化エレメント、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定する劣化情報テーブル再構築手段と、
    を備えることを特徴とする請求項２から請求項６の何れかに記載の劣化箇所推定装置。
12. 前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、
    当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、
    その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、
    前記減算結果が０未満である場合には、前記ターゲット情報における減算後の劣化値を、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントの何れかを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値に加えて、それらターゲット情報の示すパス内のエレメントの何れかを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を確定し、前記ターゲット情報において非劣化と判定されているエレメントに、前記ターゲット情報の減算後の劣化値の絶対値を割り当てる劣化情報テーブル再構築手段と、
    を備えることを特徴とする請求項２から請求項６の何れかに記載の劣化箇所推定装置。
13. 前記エレメントそれぞれの識別情報と、前記劣化エレメントと判定したエレメントに対する判定値とを対応付けて記録し、前記最小劣化値重複判定手段と前記劣化情報テーブル再構築手段の各処理を繰り返す毎に、前記劣化エレメントと判定したエレメントに対する判定値に重み付けした値を加算して、各エレメントのトータルの判定値を算出するトータル判定値算出手段と、
    を備えることを特徴とする請求項７から請求項１２の何れかに記載の劣化箇所推定装置。
14. 劣化箇所推定装置のトポロジ情報記憶手段が、通信ネットワーク内のノードまたはリンクの何れかを示すエレメントそれぞれ接続関係を示すトポロジ情報を記憶し、
    前記劣化箇所推定装置のパス内エレメント判定手段が、前記通信ネットワーク内の端末より送出されたパケット情報に基づいて、当該パケット情報が経由するパスを構成する各エレメントを、当該パケット情報と前記トポロジ情報に基づいて判定し、
    前記劣化箇所推定装置の劣化値判定手段が、送信元側と送信先側とのそれぞれにおいて取得した前記パケット情報の対に基づいて、前記パケット情報が経由するパスの劣化値を判定し、
    前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル作成手段が、前記パケット情報が経由した前記通信ネットワーク内のパス毎に、当該パスを構成する前記各エレメントと、前記劣化値とを対応付けて劣化情報テーブルに記憶し、
    前記劣化箇所推定装置の劣化・非劣化判定手段が、劣化または非劣化を判定する劣化判定閾値を用いて、当該劣化判定閾値以下の劣化値に対応付けられて前記劣化情報テーブルに記録されている全てのエレメントと、当該エレメントに一致する他のパケット情報のパス内のエレメントとを非劣化エレメントと判定する
    ことを特徴とする劣化箇所推定方法。
15. 前記劣化箇所推定装置の最小劣化値パス特定手段が、前記パケット情報のパス毎の劣化値を分類し、同一劣化値となるパス群それぞれのうち、最小の劣化値となるパス群を特定し、
    前記劣化箇所推定装置の最小劣化値重複判定手段が、前記最小の劣化値となるパス群内の各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定する
    ことを特徴とする請求項１４に記載の劣化箇所推定方法。
16. 前記劣化箇所推定装置の前記最小劣化値重複判定手段は、
    前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、
    その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、
    前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの一つのパスの劣化エレメントを完全に内包し、他のパスの劣化エレメントについては一部のみを内包する場合、前記一部のみを内包する他のパスの劣化エレメントのうちの前記スタックに一時格納されたパスと重複するエレメントのみを非劣化エレメントと判定しなおし、前記スタックに一時格納されたパス内の未判定エレメントを非劣化エレメントと判定する
    ことを特徴とする請求項１５に記載の劣化箇所推定方法。
17. 前記劣化箇所推定装置の前記最小劣化値重複判定手段は、
    前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、
    その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、
    前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの全てのパスの劣化エレメントをいずれも内包しない場合、前記スタックに一時格納されたパス内の全ての未判定エレメントを劣化エレメントと判定する
    ことを特徴とする請求項１５に記載の劣化箇所推定方法。
18. 前記劣化箇所推定装置の前記最小劣化値重複判定手段は、
    前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、
    その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、
    前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの全てのパスの劣化エレメントを内包する場合であって、
    前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの劣化エレメントが、１つのパス内のエレメントによってのみ構成されるエレメントがある場合、
    前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの劣化エレメントが、複数のパス内のエレメントによって構成される当該劣化エレメントを、非劣化エレメントと判定しなおし、当該複数のパス内のエレメントによって構成される当該劣化エレメントを有する各パスの非劣化エレメントを、劣化エレメントと判定しなおし、
    さらに、前記スタックに一時格納されたパス内の全ての未判定エレメントを非劣化エレメントと判定する
    ことを特徴とする請求項１５に記載の劣化箇所推定方法。
19. 前記劣化箇所推定装置の前記最小劣化値重複判定手段は、
    前記最小の劣化値となるパス群内の各パスのうち、保有するエレメントを他のパスと共有するとともに、それら共有するパスによって関係が繋がる複数のパスからなる１つの独立グループが特定できるまで、前記トポロジ情報で示される木構造において最もルートに近いノードを有するパスを、順次前記最小の劣化値となるパス群から除いてスタックに一時格納し、
    その後、前記最小の劣化値となるパス群内に残った各パスそれぞれに重複するエレメントを劣化エレメントと判定し、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定し、
    前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記劣化エレメントと判定した前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントを内包するかを、最後にスタックに一時格納したパスから順に判定して、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントが、前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの全てのパスの劣化エレメントを内包する場合であって、
    前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントのうちの劣化エレメントが、全て、複数のパス内のエレメントによって構成される場合、
    前記パス群内に残った各パスそれぞれのエレメントと、前記スタックに一時格納したパス内のエレメントとを、全て、劣化エレメントと判定する
    ことを特徴とする請求項１５に記載の劣化箇所推定方法。
20. 前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル再構築手段は、
    前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、
    当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、
    その結果、未だ、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在する場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０以下か０より大きい値かを判定し、
    前記減算結果が０より大きい場合には、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定として残っているエレメントをそのまま未判定のエレメントと判定し、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算した値を、当該ターゲット情報の示すパスの新たな劣化値と判定する
    ことを特徴とする請求項１５から請求項１９の何れかに記載の劣化箇所推定方法。
21. 前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル再構築手段は、
    前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、
    当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、
    その結果、未だ、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在する場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０以下か０より大きい値かを判定し、
    前記減算結果が０以下である場合には、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定として残っているエレメントを全て非劣化のエレメントと判定する
    ことを特徴とする請求項１５から請求項１９の何れかに記載の劣化箇所推定方法。
22. 前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル再構築手段は、
    前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、
    当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、
    その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、
    前記減算結果が０である場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化・非劣化の判定を終了し、次のターゲット情報の示すパスの劣化・非劣化の判定を行う
    ことを特徴とする請求項１５から請求項１９の何れかに記載の劣化箇所推定方法。
23. 前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル再構築手段は、
    前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、
    当該ターゲット情報の示すパスについて、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定する第１の劣化・非劣化判定処理を行い、
    その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、
    前記減算結果が０より大きい値である場合には、ターゲット情報が示すプローブ間パス内の全てのエレメントと、そのターゲット情報が示すプローブ間パス内のエレメントの劣化・非劣化を判定するために最後に比較した前記判定対象パス内の全てのエレメントとの判定を、未判定エレメントへと戻し、
    前記判定対象パスの劣化・非劣化の判定に利用した他の前判定対象パスがない場合には、再度、それら戻したプローブ間パスについて、前記第１の劣化・非劣化判定処理において劣化エレメントと判定したエレメントを非劣化エレメントと判定し、また前記第１の劣化・非劣化判定処理において非劣化エレメントと判定したエレメントを劣化エレメントと判定する
    ことを特徴とする請求項１５から請求項１９の何れかに記載の劣化箇所推定方法。
24. 前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル再構築手段は、
    前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、
    当該ターゲット情報の示すパスについて、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、他の前記劣化情報テーブル内の判定対象パスにおいて既に非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定する第２の劣化・非劣化判定処理を行い、
    その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、
    前記減算結果が０より大きい値である場合には、ターゲット情報が示すプローブ間パス内の全てのエレメントと、そのターゲット情報が示すプローブ間パス内のエレメントの劣化・非劣化を判定するために最後に比較した前記判定対象パス内の全てのエレメントとの判定を、未判定エレメントへと戻し、
    前記判定対象パスの劣化・非劣化の判定に利用した他の前判定対象パスがある場合には、前記判定対象パス内のエレメントに内包しない前記前判定対象パス内のエレメントのうちの前記判定対象パス内の未判定エレメントと重複するエレメントを非劣化エレメントと判定し、
    前記判定対象パス内のエレメントの未判定エレメントと、前記ターゲット情報のうち重複するエレメントを劣化エレメント、重複しないエレメントを非劣化エレメントと判定する
    ことを特徴とする請求項１５から請求項１９の何れかに記載の劣化箇所推定方法。
25. 前記劣化箇所推定装置の劣化情報テーブル再構築手段は、
    前記劣化情報テーブルにおいて劣化または非劣化の判定が未判定のエレメントを有するパスであって、前記劣化値が小さいパスをターゲット情報として取得し、
    当該ターゲット情報の示すパスについて、既に他のパスにおいて劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを劣化エレメントと判定し、既に他のパスにおいて非劣化エレメントと判定されたエレメントを有する場合にはそのエレメントを非劣化エレメントと判定し、
    その結果、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントのうち未判定のエレメントが存在しなくなった場合には、前記ターゲット情報の示すパスの劣化値から、当該ターゲット情報の示すパス内のエレメントを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を減算して、当該減算結果が０か、０未満の値か、０より大きい値かを判定し、
    前記減算結果が０未満である場合には、前記ターゲット情報における減算後の劣化値を、前記ターゲット情報の示すパス内のエレメントの何れかを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値に加えて、それらターゲット情報の示すパス内のエレメントの何れかを劣化エレメントとして保有する他のパスの劣化値を確定し、前記ターゲット情報において非劣化と判定されているエレメントに、前記ターゲット情報の減算後の劣化値の絶対値を割り当てる
    ことを特徴とする請求項１５から請求項１９の何れかに記載の劣化箇所推定方法。
26. 前記劣化箇所推定装置のトータル判定値算出手段は、
    前記エレメントそれぞれの識別情報と、前記劣化エレメントと判定したエレメントに対する判定値とを対応付けて記録し、前記最小劣化値重複判定手段と前記劣化情報テーブル再構築手段の各処理を繰り返す毎に、前記劣化エレメントと判定したエレメントに対する判定値に重み付けした値を加算して、各エレメントのトータルの判定値を算出する
    ことを特徴とする請求項２０から請求項２５の何れかに記載の劣化箇所推定方法。
27. 請求項１から請求項１３の何れかに記載の劣化箇所推定装置としてコンピュータを機能させることを特徴とするプログラム。

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