JP2010221615A - Laminated structure and manufacturing method therefor - Google Patents

Laminated structure and manufacturing method therefor Download PDF

Info

Publication number
JP2010221615A
JP2010221615A JP2009073347A JP2009073347A JP2010221615A JP 2010221615 A JP2010221615 A JP 2010221615A JP 2009073347 A JP2009073347 A JP 2009073347A JP 2009073347 A JP2009073347 A JP 2009073347A JP 2010221615 A JP2010221615 A JP 2010221615A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
polymer
represented
block
laminated structure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009073347A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5550088B2 (en
Inventor
Tsutomu Yokozawa
勉 横澤
Tomohisa Tenma
知久 天間
Hideyuki Higashimura
秀之 東村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kanagawa University
Sumitomo Chemical Co Ltd
Original Assignee
Kanagawa University
Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kanagawa University, Sumitomo Chemical Co Ltd filed Critical Kanagawa University
Priority to JP2009073347A priority Critical patent/JP5550088B2/en
Publication of JP2010221615A publication Critical patent/JP2010221615A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5550088B2 publication Critical patent/JP5550088B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laminated structure wherein a non-adhesive block is exposed at a higher ratio. <P>SOLUTION: A laminated structure is equipped with a substrate material and a polymer film having a molecular weight distribution of 1.0 to 1.5 which is obtained by using one kind of an adhesive block comprising an adhesive block structure unit containing an adhesive group capable of adhering to a surface of the substrate material and one or two or more kinds of non-adhesive blocks comprising a non-adhesive block structure unit. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、積層構造体及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a laminated structure and a manufacturing method thereof.

これまで、複数種のブロックを含む共重合体からなる高分子であって、基材表面に付着できる特性を有する付着性ブロック構成単位からなる付着性ブロックと、基材表面に付着しにくい特性を有する非付着性ブロック構成単位からなる非付着性ブロックとを含む高分子を備え、付着性ブロックが基材の表面に付着し、かつ非付着性ブロックが最表面に露出する、積層構造体が製造されてきた(特許文献1参照)。   Up to now, it is a polymer composed of a copolymer containing a plurality of types of blocks, and has an adhesive block composed of an adhesive block constitutional unit having a property capable of adhering to the substrate surface, and a property that is difficult to adhere to the substrate surface. A laminated structure having a polymer including a non-adhesive block composed of a non-adhesive block constituent unit and having an adhesive block attached to the surface of the substrate and the non-adhesive block exposed on the outermost surface is manufactured. (See Patent Document 1).

しかしながら、上記従来技術の積層構造体では、非付着性ブロックのみならず、付着性ブロックの一部もかなりの割合で積層構造体の最表面に露出していた。   However, in the above-described conventional laminated structure, not only the non-adhesive block but also a part of the adhesive block is exposed on the outermost surface of the laminated structure.

特開2008−109108号公報JP 2008-109108 A

結果として上記従来の積層構造体において、非付着性ブロックの露出割合が低下してしまうため、基材に形成される膜に求められる物理的、化学的性質が十分には得られなかったり、求められる物理的、化学的性質の均一性が損なわれてしまったりするといった問題があった。   As a result, in the above conventional laminated structure, the exposure rate of the non-adhesive block is reduced, so that the physical and chemical properties required for the film formed on the substrate cannot be obtained sufficiently or obtained. There has been a problem that the uniformity of physical and chemical properties is impaired.

本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであって、本発明の目的は、基材に形成された高分子膜において、非付着性ブロックをより高い割合で最表面に露出させることができる積層構造体を提供することにある。   This invention is made | formed in view of the said problem, Comprising: The objective of this invention can expose a nonadhesive block to the outermost surface in a higher ratio in the polymer film formed in the base material. The object is to provide a laminated structure.

本発明者らは、非付着性ブロック構成単位からなる非付着性ブロックがより高い割合で最表面に露出する積層構造体を得るために鋭意研究を進め、下記本発明を完成するに至った。本発明は、以下の〔1〕〜〔9〕を提供する。
〔1〕基材と、分子量分布が1.0以上、1.5以下であり、前記基材の表面に付着できる付着基を有する付着性ブロック構成単位からなる1種の付着性ブロック、及び非付着性ブロック構成単位からなる1種又は2種以上の非付着性ブロックを有する高分子を用いてなる高分子膜とを備える積層構造体。
〔2〕前記高分子が下記式(1):

Figure 2010221615
(式中、Ar11、Ar12、Ar13、・・・、Arn(nは14以上の整数である)は、同一又は異なり、前記付着性ブロック構成単位又は前記非付着性ブロック構成単位であって、置換基を有していてもよい共役系の2価の基である。前記非付着性ブロック同士、又は前記付着性ブロック及び前記非付着性ブロックは結合基を介して結合されていてもよく、前記非付着性ブロック同士、又は前記付着性ブロック及び前記非付着性ブロックが直接的に結合している場合には、互いに隣接する2個のブロックは異なっている。m11、m12、m13、・・・、mnは、同一又は異なり、3以上の整数である)
で表される構造を有する、〔1〕に記載の積層構造体。
〔3〕前記付着性ブロックが芳香族ポリアミン残基である、〔2〕に記載の積層構造体。
〔4〕前記式(1)で表される構造を有する高分子が、下記式(6):
Figure 2010221615
(式中、Ar1、Ar2及びAr3は、置換基を有していてもよい共役系の2価の基であり、Ar1とAr2とは異なり、Ar2とAr3とは異なる。RX及びRYは、同一又は異なり、末端基である。m1、m2及びm3は、同一又は異なり、0以上の整数であって、m1、m2及びm3のうち、少なくとも2個は3以上の整数である。Ar2が付着基を有する場合には、Ar及びArは同一であり、Ar1及びAr3は付着基を有しない。Ar2が付着基を有しない場合には、Ar1又はAr3が付着基を有する。)
で表される高分子である、〔2〕又は〔3〕に記載の積層構造体。
〔5〕前記式(6)で表される高分子が、下記式(7):
Figure 2010221615
(式中、Ar4及びAr5は、相異なり、置換基を有していてもよい共役系の2価の基である。RX及びRYは、前記と同義である。m4及びm5は、同一又は異なり、3以上の整数である。Ar4又はAr5は付着基を有する。)
で表される高分子である、〔4〕に記載の積層構造体。
〔6〕前記高分子が、下記式:
A−Z<3.5°
(式中、Zは前記高分子の接触角の値であり、ZAは前記高分子が含む付着性ブロック構成単位のみからなる化合物の接触角の値及び前記高分子が含む非付着性ブロック構成単位のみからなる化合物の接触角の値のうちの最大値である。)
又は、下記式:
Z−ZB<3.5°
(式中、Zは前記高分子の接触角の値であり、ZBは前記高分子が含む付着性ブロック構成単位のみからなる化合物の接触角の値及び前記高分子が含む非付着性ブロック構成単位のみからなる化合物の接触角の値のうちの最小値である。)
を満たす、〔5〕に記載の積層構造体。
〔7〕前記Arが置換基を有していてもよいアリーレン残基であり、前記Arが置換基を有していてもよい芳香族アミン残基である〔5〕又は〔6〕に記載の積層構造体。
〔8〕前記基材を前記高分子を含む溶液に浸漬する工程を含む〔1〕〜〔7〕のいずれかに記載の積層構造体の製造方法。
〔9〕前記高分子を含む溶液を前記基材に塗布する工程を含む〔1〕〜〔7〕のいずれかに記載の積層構造体の製造方法。 The inventors of the present invention have made extensive studies to obtain a laminated structure in which non-adhesive blocks composed of non-adhesive block structural units are exposed on the outermost surface at a higher rate, and have completed the present invention described below. The present invention provides the following [1] to [9].
[1] One adhesive block composed of a base material and an adhesive block constituent unit having a molecular weight distribution of 1.0 or more and 1.5 or less and having an adhesive group capable of attaching to the surface of the base material; A laminated structure comprising a polymer film using a polymer having one or more non-adhesive blocks composed of an adhesive block constituent unit.
[2] The polymer is represented by the following formula (1):
Figure 2010221615
(Wherein Ar 11 , Ar 12 , Ar 13 ,..., Ar n (n is an integer of 14 or more) are the same or different, and are the same as the adhesive block structural unit or the non-adhesive block structural unit. A non-adherent block, or the adhering block and the non-adhering block are bonded to each other through a linking group. may, when said non-adherent block each other or the adhesion block and the non-adherent block is directly bind, .m 11, m 12 are different in two blocks adjacent to each other , M 13 ,..., M n are the same or different and are integers of 3 or more)
The laminated structure according to [1], having a structure represented by:
[3] The laminated structure according to [2], wherein the adhesive block is an aromatic polyamine residue.
[4] The polymer having the structure represented by the formula (1) is represented by the following formula (6):
Figure 2010221615
(In the formula, Ar 1 , Ar 2 and Ar 3 are conjugated divalent groups which may have a substituent, and are different from Ar 1 and Ar 2, and different from Ar 2 and Ar 3. R X and R Y are the same or different and are end groups, m 1 , m 2 and m 3 are the same or different and are integers of 0 or more, and m 1 , m 2 and m 3 are At least two are integers greater than or equal to 3. When Ar 2 has an attachment group, Ar 1 and Ar 3 are the same, Ar 1 and Ar 3 have no attachment group, Ar 2 has an attachment group. If not, Ar 1 or Ar 3 has an attachment group.)
The laminated structure according to [2] or [3], which is a polymer represented by:
[5] The polymer represented by the formula (6) is represented by the following formula (7):
Figure 2010221615
(In the formula, Ar 4 and Ar 5 are different and are conjugated divalent groups which may have a substituent. R X and R Y are as defined above. M 4 and m 5 is the same or different and is an integer greater than or equal to 3. Ar 4 or Ar 5 has an attachment group.
The laminated structure according to [4], which is a polymer represented by:
[6] The polymer has the following formula:
Z A -Z <3.5 °
(Wherein, Z is the value of the contact angle of the polymer, Z A is the value of the contact angle of the compound consisting only of the adhesive block constituent unit included in the polymer and the non-adhesive block configuration included in the polymer) (It is the maximum value among the contact angle values of a compound consisting only of units.)
Or the following formula:
Z-Z B <3.5 °
(Wherein, Z is the value of the contact angle of the polymer, Z B is the value of the contact angle of the compound consisting only of the adhesive block constituent unit included in the polymer and the non-adhesive block configuration included in the polymer) (It is the minimum value among the contact angle values of a compound consisting only of units.)
The laminated structure according to [5], wherein
[7] In [5] or [6], Ar 4 is an arylene residue which may have a substituent, and Ar 5 is an aromatic amine residue which may have a substituent. The laminated structure described.
[8] The method for producing a laminated structure according to any one of [1] to [7], including a step of immersing the base material in a solution containing the polymer.
[9] The method for producing a laminated structure according to any one of [1] to [7], including a step of applying a solution containing the polymer to the substrate.

本発明の積層構造体によれば、非付着性ブロック構成単位からなる非付着性ブロックをより高い割合で露出させることができる。結果として、高分子膜に求められる物理的、化学的性質の均一性を全域で高めることができ、ひいてはより高性能な膜(即ち、この膜を備えた積層構造体)とすることができる。   According to the laminated structure of the present invention, a non-adhesive block composed of non-adhesive block constituent units can be exposed at a higher rate. As a result, the uniformity of physical and chemical properties required for the polymer film can be enhanced over the entire area, and as a result, a higher-performance film (that is, a laminated structure including this film) can be obtained.

実施例1で作製した積層構造体の高分子膜及び参考例2で作製した参考用高分子スピンコート膜の蛍光スペクトルを示すグラフである。3 is a graph showing fluorescence spectra of the polymer film of the laminated structure produced in Example 1 and the reference polymer spin coat film produced in Reference Example 2. FIG.

以下、本発明の積層構造体を詳細に説明する。積層構造体は、基材と、ポリスチレン換算の分子量分布(重量平均分子量:Mw/数平均分子量:Mn)が1.0以上、1.5以下であり、基材の表面に付着できる付着基を有する付着性ブロック構成単位(モノマー)からなる1種の付着性ブロック、及び非付着性ブロック構成単位(モノマー)からなる1種又は2種以上の非付着性ブロックを有する高分子(ポリマー)を用いてなる高分子膜とを備える点に特徴を有している。   Hereinafter, the laminated structure of the present invention will be described in detail. The laminated structure has a base and a molecular weight distribution in terms of polystyrene (weight average molecular weight: Mw / number average molecular weight: Mn) of 1.0 or more and 1.5 or less, and an adhesion group that can adhere to the surface of the base. Using a polymer having one type of adhesive block composed of an adhesive block constituent unit (monomer) having one type and two or more types of non-adhesive blocks consisting of a non-adhesive block constituent unit (monomer) And a polymer film.

(積層構造体)
本発明の積層構造体の高分子膜は、基材の表面に付着できる付着部位を有する付着性ブロック構成単位からなる1種の付着性ブロック、及び非付着性ブロック構成単位からなる1種又は2種以上の非付着性ブロックを含む高分子を用いてなる。
(Laminated structure)
The polymer film of the laminated structure of the present invention is composed of one type of adhesive block composed of an adhesive block constitutional unit having an adhesion site capable of adhering to the surface of the substrate, and one type or two composed of a non-adhesive block structural unit. A polymer containing a non-adhesive block of more than one species is used.

ここで、「基材の表面に付着」とは、ある特定のブロック構成単位からなるブロックが、他のブロックに比べて優先的に基材と接して付着していることを意味し、例えば、基材の表面近傍(通常、基材の表面から1nm以内)の空間にあるブロックが占める空間が、他のブロックが占める空間よりも大きいことを意味する。   Here, “adhering to the surface of the base material” means that a block composed of a specific block constituent unit is preferentially contacting and adhering to the base material compared to other blocks, for example, It means that the space occupied by the blocks in the space near the surface of the substrate (usually within 1 nm from the surface of the substrate) is larger than the space occupied by other blocks.

「優先的」とは、本明細書において、ある特定の構成要素が占める空間、面、数量等が他の構成要素よりも多いことを意味し、例えば、付着性ブロックが基材の表面に占める割合が50%を超えることを意味する。   “Preferred” as used herein means that a certain component occupies more space, face, quantity, etc. than other components, for example, an adhesive block occupies the surface of the substrate. It means that the ratio exceeds 50%.

「非付着性ブロック(非付着性ブロック構成単位)が露出」とは、本明細書において、積層構造体を高分子膜が形成された側から見た場合に、最表面近傍(通常、最表面から1nm以内)の空間の性質が、基材及び/又は付着性ブロック(付着性ブロック構成単位)の性質ではなく、非付着性ブロック(非付着性ブロック構成単位)の所定の性質に近い状態となることを意味する。この非付着性ブロックの所定の性質は、積層構造体に求められる所望の性質を得ることができる任意の性質であるが、例えば、接触角、電離エネルギー(イオン化ポテンシャル)、色調、硬度、耐熱性、耐水性、吸着性、耐溶媒性、電気伝導性、発光性、吸光性等が挙げられる。   In this specification, “non-adhesive block (non-adhesive block constituent unit) is exposed” means that the laminated structure is near the outermost surface (usually, the outermost surface when viewed from the side on which the polymer film is formed). The space property within 1 nm from the base material and / or the property of the non-adhesive block (non-adhesive block constituent unit) is close to the predetermined property of the non-adhesive block (non-adhesive block constituent unit). It means to become. The predetermined property of the non-adhesive block is an arbitrary property that can obtain the desired property required for the laminated structure, for example, contact angle, ionization energy (ionization potential), color tone, hardness, heat resistance. , Water resistance, adsorptivity, solvent resistance, electrical conductivity, luminescence, absorbance and the like.

本発明の積層構造体においては、非付着性ブロックが優先的に最表面に露出している。即ち、本発明の積層構造体の最表面の液体に対する接触角の値は、非付着性ブロック(非付着性ブロック構成単位)のみからなる化合物の膜の液体に対する接触角の値に近づくほど、非付着性ブロックの露出の割合が高いといえる。ここで「接触角」とは、固体表面と液滴とが接するときに、液面と固体面とのなす角度であって、液体を含む側の角度をいう。具体的には、高分子膜又は後述する比較用のスピンコート膜といった固体表面と超純水とが接するときの超純水側の角度をいう。   In the laminated structure of the present invention, the non-adhesive block is preferentially exposed on the outermost surface. That is, the value of the contact angle with respect to the liquid on the outermost surface of the laminated structure of the present invention decreases as the value of the contact angle with respect to the liquid of the film of the compound composed only of the non-adhesive block (non-adhesive block constituent unit) increases. It can be said that the exposure rate of the adhesive block is high. Here, the “contact angle” is an angle formed between the liquid surface and the solid surface when the solid surface comes into contact with the liquid droplet, and an angle on the side containing the liquid. Specifically, it refers to the angle on the ultrapure water side when the solid surface such as a polymer film or a comparative spin coat film described later comes into contact with ultrapure water.

ここで、Zを高分子の接触角の値とし、ZAを高分子が含む付着性ブロック構成単位からなる化合物の接触角の値及び高分子が含む非付着性ブロック構成単位からなる化合物の接触角の値のうちの最大値とし、ZBを高分子が含む付着性ブロック構成単位からなる化合物の接触角の値及び高分子が含む非付着性ブロック構成単位からなる化合物の接触角の値のうちの最小値としたとき、積層構造体は、下記式:
A−Z<3.5°
又は下記式:
Z−ZB<3.5°
を満たすことが好ましく、下記式:
A−Z<3°
又は下記式:
Z−ZB<3°
を満たすことがより好ましく、下記式:
A−Z<2.5°
又は下記式:
Z−ZB<2.5°
を満たすことがさらに好ましい。
Here, Z is the contact angle value of the polymer, Z A is the contact angle value of the compound consisting of the adhesive block constituent unit containing the polymer, and the contact of the compound consisting of the non-adhesive block constituent unit containing the polymer The maximum value of the angle values, Z B is the value of the contact angle of the compound consisting of the adhesive block constituent unit containing the polymer and the value of the contact angle of the compound consisting of the non-adhesive block constituent unit containing the polymer When the minimum value is used, the laminated structure has the following formula:
Z A -Z <3.5 °
Or the following formula:
Z-Z B <3.5 °
Preferably satisfying the following formula:
Z A -Z <3 °
Or the following formula:
ZZ B <3 °
More preferably, the following formula:
Z A -Z <2.5 °
Or the following formula:
Z−Z B <2.5 °
It is further preferable to satisfy

(基材)
基材は、高分子が付着して、その表面に高分子膜が形成できればよく、例えば平板の板状体が挙げられる。基材を構成する材料としては、ガラス;サファイア;シリコン等の半導体;樹脂;卑金属;白金、金、パラジウム等の貴金属;酸化シリコン、インジウムスズ酸化物(ITO)、酸化スズ、酸化チタン、酸化モリブデン、酸化タングステン、酸化タンタル、酸化アルミニウム等の酸化物;窒化シリコン、窒化ガリウム等の窒化物;炭化シリコン等の炭化物が挙げられる。
(Base material)
The base material is not limited as long as a polymer adheres to it and a polymer film can be formed on the surface thereof. Materials constituting the base material are: glass; sapphire; semiconductor such as silicon; resin; base metal; noble metal such as platinum, gold, palladium; silicon oxide, indium tin oxide (ITO), tin oxide, titanium oxide, molybdenum oxide And oxides such as tungsten oxide, tantalum oxide, and aluminum oxide; nitrides such as silicon nitride and gallium nitride; and carbides such as silicon carbide.

これらの基材の材料は、1種単独で用いても2種以上を併用してもよい。例えば基材の最表層の材料を内部の材料と異なるものとしてもよい。基材としては、ガラス基板の表面にインジウムスズ酸化物の層を設けた基材等が挙げられる。   These base materials may be used alone or in combination of two or more. For example, the material of the outermost layer of the substrate may be different from the internal material. As a base material, the base material etc. which provided the layer of the indium tin oxide on the surface of the glass substrate are mentioned.

なお、基材が2種以上の材料からなる場合には、基材の表面に現れる材料に、高分子膜を構成する高分子が付着する。基材の表面に現れる材料には、物理的にも化学的にも安定な材料を用いることが好ましい。   In addition, when a base material consists of 2 or more types of materials, the polymer which comprises a polymer film adheres to the material which appears on the surface of a base material. For the material appearing on the surface of the substrate, it is preferable to use a material that is physically and chemically stable.

基材の形状は、用途にもよるが、平滑なものが好ましく、その厚みは1μm〜1mであることが好ましく、0.01mm〜100mmであることがより好ましく、0.1mm〜10mmであることが特に好ましい。なお、基材は平面状の表面を有する必要はなく、その表面が曲面であってもよい。基材全体として、例えば大きさが1nm〜100μmの粒状であってもよく、中でも球状粒子が好ましい。基材が球状粒子である場合の直径は3nm〜5μmが好ましく、5nm〜1μmがさらに好ましく、5nm〜500nmが特に好ましい。   Although the shape of the base material depends on the use, a smooth one is preferable, and the thickness is preferably 1 μm to 1 m, more preferably 0.01 mm to 100 mm, and 0.1 mm to 10 mm. Is particularly preferred. The base material does not need to have a flat surface, and the surface may be a curved surface. The whole base material may be, for example, a particle having a size of 1 nm to 100 μm, and a spherical particle is particularly preferable. When the substrate is a spherical particle, the diameter is preferably 3 nm to 5 μm, more preferably 5 nm to 1 μm, and particularly preferably 5 nm to 500 nm.

(高分子膜)
高分子膜は、後述する高分子を用いてなる、基材の表面に形成される層(薄膜)である。高分子膜の平均的厚さは、通常、0.1nm〜10μmであるが、好ましくは0.2nm〜1μmであり、より好ましくは0.5nm〜500nmであり、さらに好ましくは0.5nm〜200nmである。基材の表面では、基材と、基材に優先的に付着する付着性ブロック構成単位に含まれる付着基とが、相互作用(ファンデルワールス力、イオン結合及び水素結合等の結合力)で接触(結合)していることが好ましい。
(Polymer film)
The polymer film is a layer (thin film) formed on the surface of the base material using a polymer described later. The average thickness of the polymer film is usually from 0.1 nm to 10 μm, preferably from 0.2 nm to 1 μm, more preferably from 0.5 nm to 500 nm, still more preferably from 0.5 nm to 200 nm. It is. On the surface of the base material, the base material and the adhesive group included in the adhesive block constituent unit that preferentially adheres to the base material interact with each other (bonding forces such as van der Waals force, ionic bond and hydrogen bond). It is preferably in contact (bonding).

(高分子)
本実施形態の高分子膜に用いられる高分子について説明する。この高分子は2種以上のブロックを含む所謂ブロック共重合体である。ここでブロックとは、通常、3個以上の単一種類のブロック構成単位(単量体)から構成される、高分子中の部分領域を意味する。このブロックは様々な構造とすることができるが、好ましくは単一種類のブロック構成単位が連結した構造であり、より好ましくは3個以上が連結した構造であり、さらに好ましくは4個以上が連結した構造であり、特に好ましくは5個以上が連結した構造である。
(High molecular)
The polymer used for the polymer film of this embodiment will be described. This polymer is a so-called block copolymer containing two or more types of blocks. Here, the block usually means a partial region in the polymer composed of three or more single types of block structural units (monomers). The block can have various structures, preferably a structure in which a single type of block structural unit is connected, more preferably a structure in which three or more are connected, and further preferably a structure in which four or more are connected. Particularly preferred is a structure in which 5 or more are connected.

高分子の分子量があまりに小さいと再現性よく高分子層を形成することができないことが多く、また分子量が大きすぎると溶媒に対する溶解性が小さくなることが多いので、本実施形態の高分子のポリスチレン換算の数平均分子量は、1×103以上であることが好ましく、1×103以上、1×108以下であることがより好ましく、5×103以上、1×107以下であることが特に好ましい。 When the molecular weight of the polymer is too small, it is often impossible to form a polymer layer with good reproducibility, and when the molecular weight is too large, the solubility in a solvent is often low. the number average molecular weight conversion, it preferably 1 × 10 3 or more, 1 × 10 3 or more, more preferably 1 × 10 8 or less, 5 × 10 3 or more and 1 × 10 7 or less Is particularly preferred.

本実施形態の高分子において、(ポリスチレン換算の重量平均分子量:Mw)/(ポリスチレン換算の数平均分子量:Mn)で規定される分子量分布は、1.00以上、1.50以下である。この分子量分布が、1.50を超える場合、得られる積層構造体において、非付着性ブロックのみならず、付着性ブロックもかなりの割合で表面に露出する傾向がある。この分子量分布は、1.00以上、1.45以下であることが好ましく、1.00以上、1.40以下であることが特に好ましい。   In the polymer of this embodiment, the molecular weight distribution defined by (weight average molecular weight in terms of polystyrene: Mw) / (number average molecular weight in terms of polystyrene: Mn) is 1.00 or more and 1.50 or less. When this molecular weight distribution exceeds 1.50, not only non-adhesive blocks but also adhesive blocks tend to be exposed on the surface in a considerable proportion in the resulting laminated structure. The molecular weight distribution is preferably 1.00 or more and 1.45 or less, and particularly preferably 1.00 or more and 1.40 or less.

分子量分布の値をこのような範囲として高分子の全長を揃えることにより、非付着性ブロック(非付着性ブロック構成単位)をより高い割合で露出させ、かつ付着性ブロック(付着性ブロック構成単位)の露出を抑制することができる。よって付着性ブロックと非付着性ブロックとが積層構造体の厚み方向において精密に相分離された層構造を得ることができる。ここで「相分離」とは、性質が互いに異なる複数のブロックを有する高分子が基材の表面に形成する高分子膜において、同一の性質を有する特定のブロック同士が基材の表面の延在方向に揃うことにより、擬似的に複数の層が形成されているかのような態様をいう。従って非付着性ブロックが有する機能を、高分子膜が形成された全領域においてムラなくほぼ均一に発揮させることができる。   By aligning the entire length of the polymer with the molecular weight distribution within this range, non-adhesive blocks (non-adhesive block constituent units) are exposed at a higher rate, and adhesive blocks (adhesive block constituent units) are exposed. Exposure can be suppressed. Therefore, it is possible to obtain a layer structure in which the adhesive block and the non-adhesive block are accurately phase-separated in the thickness direction of the laminated structure. Here, “phase separation” means that in a polymer film formed on the surface of a substrate by a polymer having a plurality of blocks having different properties, specific blocks having the same property extend from the surface of the substrate. It means an aspect as if a plurality of layers are formed in a pseudo manner by aligning in the direction. Therefore, the function of the non-adhesive block can be exhibited almost uniformly without any unevenness in the entire region where the polymer film is formed.

付着性ブロック、非付着性ブロックを構成する構成単位となり得る「置換基を有していてもよい共役系の2価の基」(Arn等で表される2価の基)としては、芳香環を有する2価の基が挙げられる。 Examples of the “conjugated divalent group optionally having a substituent” (a divalent group represented by Ar n or the like) that can be a structural unit constituting the adhesive block and the non-adhesive block include aromatic Examples thereof include a divalent group having a ring.

芳香環を有する2価の基としては、以下に例示される基を使用することができる。この中では安定性、合成の容易さの観点から、式(C−1)〜(C−20)、(D−1)〜(D−20)、(E−1)〜(E〜2)、(E−7)〜(E−13)、(E−15)〜(E−20)、(E−22)〜(E−26)、(G−1)〜(G−8)及び(J−1)〜(J−3)、(J−5)〜(J−14)、(J−18)〜(J−22)で表される2価の基が好ましく、式(C−1)〜(C−6)、(C−10)、(C−11)、(C−15)、(D−16)〜(D−20)、(E−17)〜(E−20)、(G−1)〜(G−8)、(J−1)〜(J−3)で表される2価の基がより好ましく、式(C−1)〜(C−3)、(C−10)、(C−11)、(C−15)、(D−16)〜(D−19)、(E−17)〜(E−20)、(G−1)〜(G−6)で表される2価の基がさらに好ましく、式(C−1)、(C−11)、(C−15)、(D−16)、(E−20)、(G−1)、(G−2)で表される2価の基が特に好ましい。   As the divalent group having an aromatic ring, the groups exemplified below can be used. Among these, from the viewpoint of stability and ease of synthesis, the formulas (C-1) to (C-20), (D-1) to (D-20), (E-1) to (E-2) , (E-7) to (E-13), (E-15) to (E-20), (E-22) to (E-26), (G-1) to (G-8) and ( Divalent groups represented by J-1) to (J-3), (J-5) to (J-14), and (J-18) to (J-22) are preferred, and are represented by the formula (C-1 ) To (C-6), (C-10), (C-11), (C-15), (D-16) to (D-20), (E-17) to (E-20), Divalent groups represented by (G-1) to (G-8) and (J-1) to (J-3) are more preferable, and the formulas (C-1) to (C-3) and (C -10), (C-11), (C-15), (D-16) to (D-19), (E-17) to (E-20), (G-1) to (G-6) ) Divalent groups are more preferred, and are represented by the formulas (C-1), (C-11), (C-15), (D-16), (E-20), (G-1), (G-2) The bivalent group represented by these is especially preferable.

Figure 2010221615
Figure 2010221615

Figure 2010221615
Figure 2010221615

Figure 2010221615
Figure 2010221615

Figure 2010221615
Figure 2010221615

Figure 2010221615
Figure 2010221615

Figure 2010221615
Figure 2010221615

Figure 2010221615
Figure 2010221615

式中、Rは、水素原子又は置換基であり、安定性や合成のしやすさの観点から、好ましくは水素原子、アルキル基、アリール基、アリールアルキル基、1価の複素環基であり、より好ましくはアルキル基、アリール基、アリールアルキル基、1価の複素環基であり、さらに好ましくはアルキル基、アリール基である。 In the formula, R a is a hydrogen atom or a substituent, and is preferably a hydrogen atom, an alkyl group, an aryl group, an arylalkyl group, or a monovalent heterocyclic group from the viewpoints of stability and ease of synthesis. More preferred are an alkyl group, an aryl group, an arylalkyl group, and a monovalent heterocyclic group, and further preferred are an alkyl group and an aryl group.

で表されるアルキル基は、直鎖状、分岐状、環状のいずれでもよく、その炭素数は通常1〜20であり、好ましくは1〜15であり、より好ましくは1〜10である。アルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、i−プロピル基、ブチル基、i−ブチル基、t−ブチル基、ペンチル基、イソアミル基、ヘキシル基、シクロヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基、ノニル基、デシル基、3,7−ジメチルオクチル基、ラウリル基、1−アダマンチル基、2−アダマンチル基、トリフルオロメチル基、ペンタフルオロエチル基、パーフルオロブチル基、パーフルオロヘキシル基、パーフルオロオクチル基が挙げられ、合成の行いやすさと耐熱性のバランスからは、メチル基、エチル基、プロピル基、i−プロピル基、ブチル基、i−ブチル基、t−ブチル基、ペンチル基、イソアミル基、ヘキシル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基、デシル基、3,7−ジメチルオクチル基が好ましい。Rが複数個存在する場合には、それらのうちの2個のR同士で結合して環を形成してもよい。 The alkyl group represented by Ra may be linear, branched or cyclic, and the carbon number is usually 1-20, preferably 1-15, more preferably 1-10. . Examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, propyl group, i-propyl group, butyl group, i-butyl group, t-butyl group, pentyl group, isoamyl group, hexyl group, cyclohexyl group, heptyl group, octyl group, 2-ethylhexyl group, nonyl group, decyl group, 3,7-dimethyloctyl group, lauryl group, 1-adamantyl group, 2-adamantyl group, trifluoromethyl group, pentafluoroethyl group, perfluorobutyl group, perfluorohexyl Group, perfluorooctyl group. From the balance of easiness of synthesis and heat resistance, methyl group, ethyl group, propyl group, i-propyl group, butyl group, i-butyl group, t-butyl group, pentyl Group, isoamyl group, hexyl group, octyl group, 2-ethylhexyl group, decyl group, 3,7-dimethyloctyl Group is preferred. When a plurality of R a are present, two R a of them may be bonded to each other to form a ring.

で表されるアリール基は、芳香族炭化水素から、水素原子1個を除いた残りの原子団であり、縮合環をもつ基、独立したベンゼン環又は縮合環2個以上が直接的に又はビニレン等の基を介して間接的に結合した基も含まれる。アリール基の炭素数は、通常6〜60であり、好ましくは7〜48である。アリール基としては、フェニル基、1−ナフチル基、2−ナフチル基、1−アントラセニル基、2−アントラセニル基、9−アントラセニル基、ペンタフルオロフェニル基が例示され、これらはさらにアルキル基、アルコキシ基、アルキルオキシカルボニル基、置換アミノ基等の置換基を有していてもよい。有機溶媒への溶解性、合成の行いやすさの観点からは、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基及びアルキルオキシカルボニル基からなる群から選ばれる少なくとも1個の置換基を有するフェニル基が好ましい。 The aryl group represented by R a is an atomic group obtained by removing one hydrogen atom from an aromatic hydrocarbon, and a group having a condensed ring, an independent benzene ring or two or more condensed rings are directly Alternatively, a group indirectly bonded through a group such as vinylene is also included. Carbon number of an aryl group is 6-60 normally, Preferably it is 7-48. Examples of the aryl group include a phenyl group, a 1-naphthyl group, a 2-naphthyl group, a 1-anthracenyl group, a 2-anthracenyl group, a 9-anthracenyl group, and a pentafluorophenyl group, which further include an alkyl group, an alkoxy group, It may have a substituent such as an alkyloxycarbonyl group or a substituted amino group. From the viewpoint of solubility in an organic solvent and ease of synthesis, at least one substitution selected from the group consisting of an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, and an alkyloxycarbonyl group. A phenyl group having a group is preferred.

で表されるアリールアルキル基の炭素数は、通常7〜60であり、好ましくは7〜48である。アリールアルキル基としては、フェニル−C1〜C12アルキル基(「C1〜C12アルキル」は、アルキル部分の炭素数が1〜12であることを意味する。以下、同様である。)、C1〜C12アルコキシフェニル−C1〜C12アルキル基(「C1〜C12アルコキシ」は、アルコキシ部分の炭素数が1〜12であることを意味する。以下、同様である。)、C1〜C12アルキルフェニル−C1〜C12アルキル基、1−ナフチル−C1〜C12アルキル基、2−ナフチル−C1〜C12アルキル基が挙げられ、有機溶媒への溶解性、合成の行いやすさといった観点からは、C1〜C12アルコキシフェニル−C1〜C12アルキル基、C1〜C12アルキルフェニル−C1〜C12アルキル基が好ましい。 The number of carbon atoms of the arylalkyl group represented by R a is usually 7 to 60, preferably from 7 to 48. As the arylalkyl group, a phenyl-C 1 -C 12 alkyl group (“C 1 -C 12 alkyl” means that the alkyl moiety has 1 to 12 carbon atoms. The same shall apply hereinafter). A C 1 -C 12 alkoxyphenyl-C 1 -C 12 alkyl group (“C 1 -C 12 alkoxy” means that the alkoxy moiety has 1 to 12 carbon atoms; the same shall apply hereinafter); C 1 -C 12 alkylphenyl-C 1 -C 12 alkyl group, 1-naphthyl-C 1 -C 12 alkyl group, 2-naphthyl-C 1 -C 12 alkyl group, and solubility in organic solvents, from the viewpoint of easiness of synthesis, C 1 -C 12 alkoxyphenyl -C 1 -C 12 alkyl group, C 1 -C 12 alkylphenyl -C 1 -C 12 alkyl group.

で表される1価の複素環基とは、複素環式化合物から水素原子1個を除いた残りの原子団をいい、その炭素数は通常4〜60であり、好ましくは4〜20である。なお、1価の複素環基の炭素数には、置換基の炭素数は含まない。複素環式化合物とは、環式構造をもつ有機化合物のうち、環を構成する元素が炭素原子だけでなく、酸素、硫黄、窒素、燐、硼素等のヘテロ原子を環内に含む基をいう。具体的には、チエニル基、C1〜C12アルキルチエニル基、ピロリル基、フリル基、ピリジル基、C1〜C12アルキルピリジル基、ピペリジル基、キノリル基、イソキノリル基が例示され、チエニル基、C1〜C12アルキルチエニル基、ピリジル基、C1〜C12アルキルピリジル基が好ましい。 The monovalent heterocyclic group represented by Ra refers to the remaining atomic group obtained by removing one hydrogen atom from a heterocyclic compound, and the carbon number thereof is usually 4 to 60, preferably 4 to 20 It is. The carbon number of the monovalent heterocyclic group does not include the carbon number of the substituent. A heterocyclic compound refers to a group in which an organic compound having a cyclic structure contains not only carbon atoms but also hetero atoms such as oxygen, sulfur, nitrogen, phosphorus and boron in the ring. . Specifically, a thienyl group, C 1 -C 12 alkyl thienyl group, a pyrrolyl group, a furyl group, a pyridyl group, C 1 -C 12 alkyl pyridyl group, piperidyl group, quinolyl group, isoquinolyl group and the like, a thienyl group, C 1 -C 12 alkyl thienyl group, a pyridyl group, a C 1 -C 12 alkyl pyridyl group are preferable.

式中、Rcは、同一又は異なり、水素原子又は置換基である。置換基としては、好ましくは、アルキル基、アルコキシ基、アルキルチオ基、アリール基、アリールオキシ基、アリールチオ基、アリールアルキル基、アリールアルコキシ基、アリールアルキルチオ基、アリールアルケニル基、アリールアルキニル基、アミノ基、置換アミノ基、シリル基、置換シリル基、ハロゲン原子、アシル基、アシルオキシ基、アミド基、イミド残基、1価の複素環基、カルボキシル基、置換カルボキシル基、シアノ基であり、より好ましくはアルキル基、アルコキシ基、アリール基、アリールオキシ基、アリールアルキル基、アリールアルコキシ基、置換アミノ基、置換シリル基、アシル基、置換カルボキシル基、シアノ基であり、さらに好ましくは、アルキル基、アルコキシ基、アリール基、アリールオキシ基、アリールアルキル基、アリールアルコキシ基、置換カルボキシル基であり、特に好ましくはアルキル基、アルコキシ基、アリール基であり、とりわけ好ましくはアルキル基である。 In formula, Rc is the same or different and is a hydrogen atom or a substituent. As the substituent, preferably, an alkyl group, an alkoxy group, an alkylthio group, an aryl group, an aryloxy group, an arylthio group, an arylalkyl group, an arylalkoxy group, an arylalkylthio group, an arylalkenyl group, an arylalkynyl group, an amino group, Substituted amino group, silyl group, substituted silyl group, halogen atom, acyl group, acyloxy group, amide group, imide residue, monovalent heterocyclic group, carboxyl group, substituted carboxyl group, cyano group, more preferably alkyl Group, alkoxy group, aryl group, aryloxy group, arylalkyl group, arylalkoxy group, substituted amino group, substituted silyl group, acyl group, substituted carboxyl group, cyano group, more preferably alkyl group, alkoxy group, Aryl group, aryloxy group, a Ruarukiru group, arylalkoxy group, a substituted carboxyl group, particularly preferably an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, especially preferably an alkyl group.

で表されるアルキル基は、直鎖状、分岐状、環状のいずれでもよく、その炭素数は通常1〜20であり、好ましくは1〜15であり、より好ましくは1〜10である。アルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、i−プロピル基、ブチル基、i−ブチル基、t−ブチル基、ペンチル基、イソアミル基、ヘキシル基、シクロヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基、ノニル基、デシル基、3,7−ジメチルオクチル基、ラウリル基、1−アダマンチル基、2−アダマンチル基、トリフルオロメチル基、ペンタフルオロエチル基、パーフルオロブチル基、パーフルオロヘキシル基、パーフルオロオクチル基が挙げられ、合成の行いやすさと耐熱性のバランスからは、メチル基、エチル基、プロピル基、i−プロピル基、ブチル基、i−ブチル基、t−ブチル基、ペンチル基、イソアミル基、ヘキシル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基、デシル基、3,7−ジメチルオクチル基が好ましい。アルキル基が複数個存在する場合には、それらのうちの2個のアルキル基同士で結合して環を形成してもよい。 The alkyl group represented by R c may be linear, branched or cyclic, and the carbon number is usually 1-20, preferably 1-15, more preferably 1-10. . Examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, propyl group, i-propyl group, butyl group, i-butyl group, t-butyl group, pentyl group, isoamyl group, hexyl group, cyclohexyl group, heptyl group, octyl group, 2-ethylhexyl group, nonyl group, decyl group, 3,7-dimethyloctyl group, lauryl group, 1-adamantyl group, 2-adamantyl group, trifluoromethyl group, pentafluoroethyl group, perfluorobutyl group, perfluorohexyl Group, perfluorooctyl group. From the balance of easiness of synthesis and heat resistance, methyl group, ethyl group, propyl group, i-propyl group, butyl group, i-butyl group, t-butyl group, pentyl Group, isoamyl group, hexyl group, octyl group, 2-ethylhexyl group, decyl group, 3,7-dimethyloctyl Group is preferred. When there are a plurality of alkyl groups, two of them may be bonded to form a ring.

で表されるアルコキシ基は、直鎖状、分岐状、環状のいずれでもよく、その炭素数は通常1〜20であり、好ましくは1〜15である。アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、プロピルオキシ基、i−プロピルオキシ基、ブトキシ基、i−ブトキシ基、t−ブトキシ基、ペンチルオキシ基、ヘキシルオキシ基、シクロヘキシルオキシ基、ヘプチルオキシ基、オクチルオキシ基、2−エチルヘキシルオキシ基、ノニルオキシ基、デシルオキシ基、3,7−ジメチルオクチルオキシ基、ラウリルオキシ基、トリフルオロメトキシ基、ペンタフルオロエトキシ基、パーフルオロブトキシ基、パーフルオロヘキシル基、パーフルオロオクチル基、メトキシメチルオキシ基、2−メトキシエチルオキシ基、2−エトキシエチルオキシ基が挙げられ、有機溶媒への溶解性、合成の行いやすさ、耐熱性のバランスからは、ペンチルオキシ基、ヘキシルオキシ基、オクチルオキシ基、2−エチルヘキシルオキシ基、デシルオキシ基、3,7−ジメチルオクチルオキシ基が好ましい。アルコキシ基が複数個存在する場合には、それらのうちの2個のアルコキシ基同士で結合して環を形成してもよい。 The alkoxy group represented by R c may be linear, branched or cyclic, and the carbon number is usually 1-20, preferably 1-15. Examples of the alkoxy group include methoxy group, ethoxy group, propyloxy group, i-propyloxy group, butoxy group, i-butoxy group, t-butoxy group, pentyloxy group, hexyloxy group, cyclohexyloxy group, heptyloxy group, Octyloxy group, 2-ethylhexyloxy group, nonyloxy group, decyloxy group, 3,7-dimethyloctyloxy group, lauryloxy group, trifluoromethoxy group, pentafluoroethoxy group, perfluorobutoxy group, perfluorohexyl group, perfluorohexyl group Fluorooctyl group, methoxymethyloxy group, 2-methoxyethyloxy group, 2-ethoxyethyloxy group can be mentioned. From the balance of solubility in organic solvent, ease of synthesis, and heat resistance, pentyloxy group, Hexyloxy group, octyloxy group, - ethylhexyloxy group, decyloxy group, 3,7-dimethyl octyloxy group are preferable. When there are a plurality of alkoxy groups, two of them may be bonded to each other to form a ring.

で表されるアルキルチオ基は、直鎖状、分岐状、環状のいずれでもよく、その炭素数は通常1〜20であり、好ましくは3〜20である。 The alkylthio group represented by R c may be linear, branched or cyclic, and the carbon number is usually 1-20, preferably 3-20.

で表されるアリール基は、芳香族炭化水素から、水素原子1個を除いた残りの原子団であり、縮合環をもつ基、独立したベンゼン環又は縮合環2個以上が直接的又はビニレン等の基を介して間接的に結合した基も含まれる。アリール基の炭素数は、通常6〜60であり、好ましくは7〜48である。アリール基としては、フェニル基、1−ナフチル基、2−ナフチル基、1−アントラセニル基、2−アントラセニル基、9−アントラセニル基、ペンタフルオロフェニル基が例示され、これらはさらにアルキル基、アルコキシ基、アルキルオキシカルボニル基等の置換基を有していてもよい。 The aryl group represented by R c is an atomic group obtained by removing one hydrogen atom from an aromatic hydrocarbon, and a group having a condensed ring, an independent benzene ring, or two or more condensed rings are directly or Also included are groups bonded indirectly through groups such as vinylene. Carbon number of an aryl group is 6-60 normally, Preferably it is 7-48. Examples of the aryl group include a phenyl group, a 1-naphthyl group, a 2-naphthyl group, a 1-anthracenyl group, a 2-anthracenyl group, a 9-anthracenyl group, and a pentafluorophenyl group, which further include an alkyl group, an alkoxy group, It may have a substituent such as an alkyloxycarbonyl group.

で表されるアリールオキシ基の炭素数は、通常6〜60であり、好ましくは7〜48である。アリールオキシ基としては、フェノキシ基、C1〜C12アルコキシフェノキシ基、C1〜C12アルキルフェノキシ基、1−ナフチルオキシ基、2−ナフチルオキシ基、ペンタフルオロフェニルオキシ基が例示され、有機溶媒への溶解性、合成の行いやすさの観点からは、C1〜C12アルコキシフェノキシ基、C1〜C12アルキルフェノキシ基が好ましい。 The number of carbon atoms of the aryl group represented by R c is usually 6 to 60, preferably from 7 to 48. The aryloxy group is a phenoxy group, C 1 -C 12 alkoxy phenoxy group, C 1 -C 12 alkylphenoxy group, 1-naphthyloxy group, 2-naphthyloxy group, pentafluorophenyloxy group and the like, organic solvents solubility, from the standpoint of easiness of synthesis, C 1 -C 12 alkoxy phenoxy group, a C 1 -C 12 alkylphenoxy group are preferable.

で表されるアリールチオ基の炭素数は、通常3〜60であり、アリールチオ基としては、フェニルチオ基、C1〜C12アルコキシフェニルチオ基、C1〜C12アルキルフェニルチオ基、1−ナフチルチオ基、2−ナフチルチオ基、ペンタフルオロフェニルチオ基が例示される。 The carbon number of the arylthio group represented by R c is usually 3 to 60. Examples of the arylthio group include a phenylthio group, a C 1 to C 12 alkoxyphenylthio group, a C 1 to C 12 alkylphenylthio group, 1- Examples include a naphthylthio group, a 2-naphthylthio group, and a pentafluorophenylthio group.

で表されるアリールアルキル基の炭素数は、通常7〜60であり、好ましくは7〜48である。アリールアルキル基としては、フェニル−C1〜C12アルキル基、C1〜C12アルコキシフェニル−C1〜C12アルキル基、C1〜C12アルキルフェニル−C1〜C12アルキル基、1−ナフチル−C1〜C12アルキル基、2−ナフチル−C1〜C12アルキル基が例示される。 The number of carbon atoms of the arylalkyl group represented by R c is usually 7 to 60, preferably from 7 to 48. The aryl alkyl group, a phenyl -C 1 -C 12 alkyl group, C 1 -C 12 alkoxyphenyl -C 1 -C 12 alkyl group, C 1 -C 12 alkylphenyl -C 1 -C 12 alkyl group, 1- naphthyl -C 1 -C 12 alkyl group, 2-naphthyl -C 1 -C 12 alkyl groups.

で表されるアリールアルコキシ基の炭素数は、通常7〜60であり、好ましくは7〜48である。アリールアルコキシ基としては、フェニルメトキシ基、フェニルエトキシ基、フェニルブトキシ基、フェニルペンチロキシ基、フェニルヘキシロキシ基、フェニルヘプチロキシ基、フェニルオクチロキシ基等のフェニル−C1〜C12アルコキシ基、C1〜C12アルコキシフェニル−C1〜C12アルコキシ基、C1〜C12アルキルフェニル−C1〜C12アルコキシ基、1−ナフチル−C1〜C12アルコキシ基、2−ナフチル−C1〜C12アルコキシ基が例示される。 The number of carbon atoms of the arylalkoxy group represented by R c is usually 7 to 60, preferably from 7 to 48. The arylalkoxy group, phenylmethoxy group, phenylethoxy group, phenylbutoxy group, phenylpentyl b alkoxy group, a phenyl hexyloxy group, a phenyl heptene Ciro alkoxy group, a phenyl -C 1 -C 12 alkoxy group such as a phenyl Ok Ciro alkoxy group, C 1 -C 12 alkoxyphenyl -C 1 -C 12 alkoxy group, C 1 -C 12 alkylphenyl -C 1 -C 12 alkoxy groups, 1-naphthyl -C 1 -C 12 alkoxy groups, 2-naphthyl -C 1 -C 12 alkoxy groups.

で表されるアリールアルキルチオ基の炭素数は、通常7〜60であり、好ましくは7〜48である。 The number of carbon atoms of the arylalkylthio group represented by R c is usually 7 to 60, preferably from 7 to 48.

で表されるアリールアルケニル基の炭素数は、通常8〜60であり、フェニル−C2〜C12アルケニル基、C1〜C12アルコキシフェニル−C2〜C12アルケニル基、C1〜C12アルキルフェニル−C2〜C12アルケニル基、1−ナフチル−C2〜C12アルケニル基、2−ナフチル−C2〜C12アルケニル基が例示される。 Carbon number of the aryl alkenyl group represented by R c is usually 8 to 60, and includes phenyl-C 2 -C 12 alkenyl group, C 1 -C 12 alkoxyphenyl-C 2 -C 12 alkenyl group, C 1- C 12 alkylphenyl -C 2 -C 12 alkenyl group, 1-naphthyl -C 2 -C 12 alkenyl group, 2-naphthyl -C 2 -C 12 alkenyl groups.

で表されるアリールアルキニル基の炭素数は、通常8〜60であり、フェニル−C2〜C12アルキニル基、C1〜C12アルコキシフェニル−C2〜C12アルキニル基、C1〜C12アルキルフェニル−C2〜C12アルキニル基、1−ナフチル−C2〜C12アルキニル基、2−ナフチル−C2〜C12アルキニル基が例示される。 The carbon number of the arylalkynyl group represented by R c is usually 8 to 60, and includes phenyl-C 2 -C 12 alkynyl group, C 1 -C 12 alkoxyphenyl-C 2 -C 12 alkynyl group, C 1- C 12 alkylphenyl -C 2 -C 12 alkynyl group, 1-naphthyl -C 2 -C 12 alkynyl group, 2-naphthyl -C 2 -C 12 alkynyl groups.

で表される置換アミノ基としては、アルキル基、アリール基、アリールアルキル基及び1価の複素環基からなる群から選ばれる1個又は2個の基で置換されたアミノ基が挙げられ、該アルキル基、アリール基、アリールアルキル基又は1価の複素環基は置換基を有していてもよい。置換アミノ基の炭素数は置換基の炭素数を含めないで通常1〜60であり、好ましくは2〜48である。置換アミノ基としては、メチルアミノ基、ジメチルアミノ基、エチルアミノ基、ジエチルアミノ基、プロピルアミノ基、ジプロピルアミノ基、i−プロピルアミノ基、ジイソプロピルアミノ基、ブチルアミノ基、i−ブチルアミノ基、t−ブチルアミノ基、ペンチルアミノ基、ヘキシルアミノ基、シクロヘキシルアミノ基、ヘプチルアミノ基、オクチルアミノ基、2−エチルヘキシルアミノ基、ノニルアミノ基、デシルアミノ基、3,7−ジメチルオクチルアミノ基、ラウリルアミノ基、シクロペンチルアミノ基、ジシクロペンチルアミノ基、シクロヘキシルアミノ基、ジシクロヘキシルアミノ基、ピロリジル基、ピペリジル基、ジトリフルオロメチルアミノ基、フェニルアミノ基、ジフェニルアミノ基、C1〜C12アルコキシフェニルアミノ基、ジ(C1〜C12アルコキシフェニル)アミノ基、ジ(C1〜C12アルキルフェニル)アミノ基、1−ナフチルアミノ基、2−ナフチルアミノ基、ペンタフルオロフェニルアミノ基、ピリジルアミノ基、ピリダジニルアミノ基、ピリミジルアミノ基、ピラジルアミノ基、トリアジルアミノ基、フェニル−C1〜C12アルキルアミノ基、C1〜C12アルコキシフェニル−C1〜C12アルキルアミノ基、C1〜C12アルキルフェニル−C1〜C12アルキルアミノ基、ジ(C1〜C12アルコキシフェニル−C1〜C12アルキル)アミノ基、ジ(C1〜C12アルキルフェニル−C1〜C12アルキル)アミノ基、1−ナフチル−C1〜C12アルキルアミノ基、2−ナフチル−C1〜C12アルキルアミノ基が例示される。 Examples of the substituted amino group represented by R c include an amino group substituted with one or two groups selected from the group consisting of an alkyl group, an aryl group, an arylalkyl group, and a monovalent heterocyclic group. The alkyl group, aryl group, arylalkyl group or monovalent heterocyclic group may have a substituent. Carbon number of a substituted amino group is 1-60 normally without including carbon number of a substituent, Preferably it is 2-48. Examples of the substituted amino group include methylamino group, dimethylamino group, ethylamino group, diethylamino group, propylamino group, dipropylamino group, i-propylamino group, diisopropylamino group, butylamino group, i-butylamino group, t-butylamino group, pentylamino group, hexylamino group, cyclohexylamino group, heptylamino group, octylamino group, 2-ethylhexylamino group, nonylamino group, decylamino group, 3,7-dimethyloctylamino group, laurylamino group , cyclopentylamino group, dicyclopentylamino group, cyclohexylamino group, dicyclohexylamino group, pyrrolidyl group, piperidyl group, ditrifluoromethylamino group, phenylamino group, diphenylamino group, C 1 -C 12 alkoxyphenyl Ami Group, di (C 1 -C 12 alkoxyphenyl) amino group, di (C 1 -C 12 alkylphenyl) amino groups, 1-naphthylamino group, 2-naphthylamino group, pentafluorophenylamino group, pyridylamino group, Dajiniruamino group, pyrimidylamino group, Pirajiruamino group, triazyl amino group, phenyl -C 1 -C 12 alkylamino group, C 1 -C 12 alkoxyphenyl -C 1 -C 12 alkylamino group, C 1 -C 12 alkylphenyl -C 1 -C 12 alkylamino group, di (C 1 -C 12 alkoxyphenyl -C 1 -C 12 alkyl) amino group, di (C 1 -C 12 alkylphenyl -C 1 -C 12 alkyl) amino Group, 1-naphthyl-C 1 -C 12 alkylamino group, 2-naphthyl-C 1 -C 12 alkylamino group are exemplified.

で表される置換シリル基としては、アルキル基、アリール基、アリールアルキル基及び1価の複素環基からなる群から選ばれる1〜3個の基で置換されたシリル基が挙げられる。置換シリル基の炭素数は通常1〜60であり、好ましくは3〜48である。なお、該アルキル基、アリール基、アリールアルキル基又は1価の複素環基は置換基を有していてもよい。 Examples of the substituted silyl group represented by R c include a silyl group substituted with 1 to 3 groups selected from the group consisting of an alkyl group, an aryl group, an arylalkyl group, and a monovalent heterocyclic group. Carbon number of a substituted silyl group is 1-60 normally, Preferably it is 3-48. The alkyl group, aryl group, arylalkyl group or monovalent heterocyclic group may have a substituent.

で表されるハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が例示される。 Examples of the halogen atom represented by R c include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.

で表されるアシル基の炭素数は、通常2〜20であり、好ましくは2〜18である。アシル基としては、アセチル基、プロピオニル基、ブチリル基が挙げられる。 The carbon number of the acyl group represented by R c is usually 2 to 20, preferably 2 to 18. Examples of the acyl group include an acetyl group, a propionyl group, and a butyryl group.

で表されるアシルオキシ基の炭素数は、通常2〜20であり、好ましくは2〜18である。アシルオキシ基としては、アセトキシ基、プロピオニルオキシ基、ブチリルオキシ基が挙げられる。 The carbon number of the acyloxy group represented by R c is usually 2 to 20, preferably 2 to 18. Examples of the acyloxy group include an acetoxy group, a propionyloxy group, and a butyryloxy group.

で表されるアミド基の炭素数は、通常2〜20であり、好ましくは2〜18である。アミド基としては、ホルムアミド基、アセトアミド基、プロピオアミド基、ブチロアミド基、ベンズアミド基、トリフルオロアセトアミド基が挙げられる。 The number of carbon atoms of the amide group represented by R c is usually 2 to 20, preferably from 2 to 18. Examples of the amide group include a formamide group, an acetamide group, a propioamide group, a butyroamide group, a benzamide group, and a trifluoroacetamide group.

で表される1価の複素環基とは、複素環式化合物から水素原子1個を除いた残りの原子団をいい、1価の複素環基の炭素数は通常4〜60であり、好ましくは4〜20である。なお、1価の複素環基の炭素数には、置換基の炭素数は含まない。ここで、複素環式化合物とは、環式構造をもつ有機化合物のうち、環を構成する元素が炭素原子だけでなく、酸素、硫黄、窒素、燐、硼素等のヘテロ原子を環内に含む基をいう。具体的には、チエニル基、C1〜C12アルキルチエニル基、ピロリル基、フリル基、ピリジル基、C1〜C12アルキルピリジル基、ピペリジル基、キノリル基、イソキノリル基が例示され、チエニル基、C1〜C12アルキルチエニル基、ピリジル基、C1〜C12アルキルピリジル基が好ましい。 The monovalent heterocyclic group represented by R c means the remaining atomic group obtained by removing one hydrogen atom from a heterocyclic compound, and the carbon number of the monovalent heterocyclic group is usually 4 to 60. , Preferably 4-20. The carbon number of the monovalent heterocyclic group does not include the carbon number of the substituent. Here, the heterocyclic compound is an organic compound having a cyclic structure, and the elements constituting the ring include not only carbon atoms but also heteroatoms such as oxygen, sulfur, nitrogen, phosphorus and boron in the ring. Refers to the group. Specifically, a thienyl group, C 1 -C 12 alkyl thienyl group, a pyrrolyl group, a furyl group, a pyridyl group, C 1 -C 12 alkyl pyridyl group, piperidyl group, quinolyl group, isoquinolyl group and the like, a thienyl group, C 1 -C 12 alkyl thienyl group, a pyridyl group, a C 1 -C 12 alkyl pyridyl group are preferable.

で表される置換カルボキシル基としては、アルキル基、アリール基、アリールアルキル基又は1価の複素環基で置換されたカルボキシル基が挙げられ、その炭素数は通常2〜60であり、好ましくは2〜48である。置換カルボキシル基としては、メトキシカルボニル基、エトキシカルボニル基、プロポキシカルボニル基、i−プロポキシカルボニル基、ブトキシカルボニル基、i−ブトキシカルボニル基、t−ブトキシカルボニル基、ペンチルオキシカルボニル基、ヘキシロキシカルボニル基、シクロヘキシロキシカルボニル基、ヘプチルオキシカルボニル基、オクチルオキシカルボニル基、2−エチルヘキシロキシカルボニル基、ノニルオキシカルボニル基、デシロキシカルボニル基、3,7−ジメチルオクチルオキシカルボニル基、ドデシルオキシカルボニル基、トリフルオロメトキシカルボニル基、ペンタフルオロエトキシカルボニル基、パーフルオロブトキシカルボニル基、パーフルオロヘキシルオキシカルボニル基、パーフルオロオクチルオキシカルボニル基、フェノキシカルボニル基、ナフトキシカルボニル基、ピリジルオキシカルボニル基が挙げられる。なお、該アルキル基、アリール基、アリールアルキル基又は1価の複素環基はさらに置換基を有していてもよい。置換カルボキシル基の炭素数には置換基の炭素数は含まない。 Examples of the substituted carboxyl group represented by R c include a carboxyl group substituted with an alkyl group, an aryl group, an arylalkyl group or a monovalent heterocyclic group, and the carbon number thereof is usually 2 to 60, preferably Is 2 to 48. Examples of the substituted carboxyl group include methoxycarbonyl group, ethoxycarbonyl group, propoxycarbonyl group, i-propoxycarbonyl group, butoxycarbonyl group, i-butoxycarbonyl group, t-butoxycarbonyl group, pentyloxycarbonyl group, hexyloxycarbonyl group, Cyclohexyloxycarbonyl group, heptyloxycarbonyl group, octyloxycarbonyl group, 2-ethylhexyloxycarbonyl group, nonyloxycarbonyl group, decyloxycarbonyl group, 3,7-dimethyloctyloxycarbonyl group, dodecyloxycarbonyl group, trifluoro Methoxycarbonyl group, pentafluoroethoxycarbonyl group, perfluorobutoxycarbonyl group, perfluorohexyloxycarbonyl group, perfluorooctyloxy Carbonyl group, a phenoxycarbonyl group, naphthoxycarbonyl group, and pyridyloxycarbonyl group. The alkyl group, aryl group, arylalkyl group or monovalent heterocyclic group may further have a substituent. The carbon number of the substituted carboxyl group does not include the carbon number of the substituent.

高分子中、各ブロックの両末端は、各々、他のブロックと連結するか、又は末端基と結合している。隣接するブロック同士を連結する部分は、ブロック同士が直接的に結合していてもよいし、連結基(結合基)としてスペーサー(基)を介して間接的に結合していてもよい。連結基としては、例えば、原子数100以下の合成が容易な2価の基を用いることができ、原子数30以下の合成が容易な2価の基が好ましい。このような合成が容易な2価の基としては、アルケニル基、アルコキシアルケニル基が挙げられる。   In the polymer, both ends of each block are linked to other blocks or bonded to end groups. As for the part which connects adjacent blocks, the blocks may couple | bond together directly and may couple | bond together indirectly through a spacer (group) as a coupling group (bonding group). As the linking group, for example, a divalent group having 100 atoms or less and easy synthesis can be used, and a divalent group having 30 atoms or less and easy synthesis is preferable. Examples of such a divalent group that can be easily synthesized include an alkenyl group and an alkoxyalkenyl group.

高分子の末端をなす部分の構造(末端基)としては、水素原子、アルキル基、アルコキシ基、アルキルチオ基、アリール基、アリールオキシ基、アリールチオ基、アリールアルキル基、アリールアルコキシ基、アリールアルキルチオ基、アリールアルケニル基、アリールアルキニル基、アミノ基、置換アミノ基、シリル基、置換シリル基、ハロゲン原子、アシル基、アシルオキシ基、アミド基、イミド残基、1価の複素環基、カルボキシル基、置換カルボキシル基、スルホン酸基、シアノ基、水酸基、リン酸基、チオール基が挙げられる。なお、高分子に複数存在する末端基は、同一であっても異なっていてもよく、基材表面に付着できる付着基を有していてもよい。   As the structure (terminal group) of the terminal portion of the polymer, a hydrogen atom, an alkyl group, an alkoxy group, an alkylthio group, an aryl group, an aryloxy group, an arylthio group, an arylalkyl group, an arylalkoxy group, an arylalkylthio group, Arylalkenyl group, arylalkynyl group, amino group, substituted amino group, silyl group, substituted silyl group, halogen atom, acyl group, acyloxy group, amide group, imide residue, monovalent heterocyclic group, carboxyl group, substituted carboxyl Group, sulfonic acid group, cyano group, hydroxyl group, phosphoric acid group and thiol group. A plurality of terminal groups present in the polymer may be the same or different, and may have an attachment group that can be attached to the substrate surface.

本実施形態の高分子膜では、付着性ブロックが芳香族ポリアミン残基であることが好ましい。また、本実施形態の高分子膜では、非付着性ブロックがポリアリーレン残基であることが好ましい。   In the polymer film of this embodiment, the adhesive block is preferably an aromatic polyamine residue. In the polymer film of this embodiment, the non-adherent block is preferably a polyarylene residue.

1個の高分子を構成するブロックの種類は、高分子の合成の容易さと相分離の精密性の観点から、2〜10種が好ましく、2〜5種がより好ましく、2〜3種がさらに好ましく、2種が特に好ましい。   The types of blocks constituting one polymer are preferably 2 to 10 types, more preferably 2 to 5 types, and more preferably 2 to 3 types, from the viewpoint of ease of polymer synthesis and precision of phase separation. Two are particularly preferred.

前記芳香族ポリアミン残基とは、複素環基及び/又は置換アミノ基を含む共役系の2価の基が3個以上連結してなる2価の基である。芳香族ポリアミン残基としては、上記(D−1)、(D−4)〜(D−10)、(D−16)〜(D−19)、(D−22)、(E−19)〜(E−21)、(E−24)、(G−1)〜(G−8)、(J−7)、(J−10)、(J−20)、(J−21)で表される2価の基が3個以上連結してなる2価の基が挙げられる。   The aromatic polyamine residue is a divalent group formed by linking three or more conjugated divalent groups containing a heterocyclic group and / or a substituted amino group. As an aromatic polyamine residue, the above (D-1), (D-4) to (D-10), (D-16) to (D-19), (D-22), (E-19) ~ (E-21), (E-24), (G-1) ~ (G-8), (J-7), (J-10), (J-20), (J-21) And a divalent group formed by connecting three or more divalent groups.

前記ポリアリーレン残基とは、2価の芳香族炭化水素基が3個以上連結してなる2価の基である。2価の芳香族炭化水素基としては、上記(E−1)〜(E−18)で表される2価の基、置換基を有していてもよいフルオレンジイル基、置換基を有していてもよいベンゾフルオレンジイル基、置換基を有していてもよいフェニレン基、置換基を有していてもよいチエニレン基等が挙げられるが、置換基を有していてもよいフルオレンジイル基、置換基を有していてもよいベンゾフルオレンジイル基が好ましい。置換基としては、前記置換基Rcとして説明し例示したものと同じである。 The polyarylene residue is a divalent group formed by connecting three or more divalent aromatic hydrocarbon groups. Examples of the divalent aromatic hydrocarbon group include a divalent group represented by the above (E-1) to (E-18), a fluorenediyl group which may have a substituent, and a substituent. A benzofluorenediyl group which may have a substituent, a phenylene group which may have a substituent, a thienylene group which may have a substituent, and the like. An orangeyl group and an optionally substituted benzofluorangeyl group are preferred. The substituent is the same as described and exemplified as the substituent R c .

前記高分子において、ブロック構成単位のうちの1種は、優先的に基板に付着する性質を有する付着性ブロック構成単位である。そのため、ブロック構成単位の1種は、基材の表面に付着できる基(即ち、「付着基」である。)を有することが好ましい。付着基は、用いられる基材の表面の材料に合わせて、選択することができる。   In the polymer, one of the block structural units is an adhesive block structural unit having a property of preferentially adhering to the substrate. Therefore, it is preferable that one type of block structural unit has a group that can be attached to the surface of the substrate (that is, an “attaching group”). The attachment group can be selected according to the material of the surface of the substrate to be used.

基材の表面を構成する材料が金属又は金属酸化物の場合、付着基としては、水酸基、リン酸基、スルホン酸基、チオール基、カルボキシル基、エステル基、アミノ基、置換アミノ基、アミド基、アルキルチオ基、アリールオキシ基、アリールチオ基、アリールアルコキシ基、アリールアルキルチオ基、シリル基、置換シリル基、ハロゲン原子、アシル基、アシルオキシ基、イミジル基、1価の複素環基、シアノ基、芳香族アミン残基等が挙げられる。これらの基は、前記で説明し例示したものと同じである。   When the material constituting the surface of the substrate is a metal or metal oxide, the attached group includes a hydroxyl group, a phosphate group, a sulfonate group, a thiol group, a carboxyl group, an ester group, an amino group, a substituted amino group, an amide group. , Alkylthio group, aryloxy group, arylthio group, arylalkoxy group, arylalkylthio group, silyl group, substituted silyl group, halogen atom, acyl group, acyloxy group, imidyl group, monovalent heterocyclic group, cyano group, aromatic An amine residue etc. are mentioned. These groups are the same as described and exemplified above.

これらの中でも、基材の表面を構成する材料が金又は銀の場合、付着基としては、チオール基が好ましい。   Among these, when the material which comprises the surface of a base material is gold or silver, as an adhesion group, a thiol group is preferable.

また、基材の表面を構成する材料がアルミニウム酸化物、インジウムスズ酸化物、ガラス等の金属酸化物である場合、付着基としては、水酸基、リン酸基、スルホン酸基、チオール基、カルボキシル基、アミノ基、置換アミノ基、アミド基、芳香族アミン残基が好ましい。   In addition, when the material constituting the surface of the base material is a metal oxide such as aluminum oxide, indium tin oxide, or glass, the adhering group includes a hydroxyl group, a phosphoric acid group, a sulfonic acid group, a thiol group, and a carboxyl group. An amino group, a substituted amino group, an amide group and an aromatic amine residue are preferred.

前記高分子を安定に有機溶媒に溶解させることができ、かつ、高分子の優先的な付着性の観点から、付着性ブロック構成単位が含む窒素原子の割合は、高分子中の全付着性ブロック構成単位に対して、好ましくは0.05重量%以上であり、より好ましくは0.1重量%以上であり、さらに好ましくは0.2重量%以上である。   From the viewpoint of preferential adhesion of the polymer, the polymer can be stably dissolved in an organic solvent, and the proportion of nitrogen atoms contained in the adhesion block constituent unit is the total adhesion block in the polymer. Preferably it is 0.05 weight% or more with respect to a structural unit, More preferably, it is 0.1 weight% or more, More preferably, it is 0.2 weight% or more.

本実施形態の高分子膜において、高分子膜の均一性、再現性、合成の容易さの観点から、高分子は1種の付着性ブロック構成単位と1〜3種の非付着性ブロック構成単位とから構成されることが好ましく、1種の付着性ブロック構成単位と1種又は2種の非付着性ブロック構成単位とから構成されることがより好ましく、1種の付着性ブロック構成単位と1種の非付着性ブロック構成単位とから構成されることが特に好ましい。   In the polymer film of the present embodiment, from the viewpoint of the uniformity, reproducibility, and ease of synthesis of the polymer film, the polymer is composed of one adhesive block constituent unit and one to three non-adhesive block constituent units. Are preferably composed of one type of adhesive block structural unit and one or two types of non-adhesive block structural units, and one type of adhesive block structural unit and 1 It is particularly preferred that it is composed of a seed non-adherent block constituent unit.

また、本実施形態の高分子膜において、高分子膜の均一性、再現性、合成の容易さの観点から、高分子の分子鎖末端において、一方の分子鎖末端では、付着性ブロックの末端の付着性ブロック構成単位が末端基と結合しており、かつ、他方の分子鎖末端では、非付着性ブロックの末端の非付着性ブロック構成単位が末端基と結合していることが好ましく、高分子が1種の付着性ブロック構成単位からなる付着性ブロック及び1種の非付着性ブロック構成単位からなる非付着性ブロックの2種のブロックからなり、一方の分子鎖末端では付着性ブロックの付着性ブロック構成単位が末端で末端基と結合しており、かつ、他方の分子鎖末端では非付着性ブロックの非付着性ブロック構成単位が末端基と結合していることが特に好ましい。   In addition, in the polymer film of the present embodiment, from the viewpoint of the uniformity, reproducibility, and ease of synthesis of the polymer film, at the molecular chain terminal, at one molecular chain terminal, the end of the adhesive block The adhesive block constituent unit is bonded to the terminal group, and at the other molecular chain end, the non-adhesive block constituent unit at the end of the non-adhesive block is preferably bonded to the terminal group. Consists of two types of blocks, an adhesive block consisting of one type of adhesive block constituent unit and a non-adhesive block consisting of one type of non-adhesive block constituent unit. It is particularly preferred that the block structural unit is bonded to the terminal group at the terminal end, and that the non-adhesive block structural unit of the non-adhesive block is bonded to the terminal group at the other molecular chain terminal.

本発明の好ましい一実施形態は、前記高分子が、下記式(1):

Figure 2010221615
(式中、Ar11、Ar12、Ar13、・・・、Arn(nは14以上の整数である)は、同一又は異なり、前記付着性ブロック構成単位又は前記非付着性ブロック構成単位であって、置換基を有していてもよい共役系の2価の基である。前記非付着性ブロック同士、又は前記付着性ブロック及び前記非付着性ブロックは結合基を介して結合されていてもよく、前記付着性ブロック同士、前記非付着性ブロック同士、又は前記付着性ブロック及び前記非付着性ブロックが直接的に結合している場合には、互いに隣接する2個のブロックは異なっている。m11、m12、m13、・・・、mnは、同一又は異なり、3以上の整数である。)
で表される構造を有する。 In a preferred embodiment of the present invention, the polymer is represented by the following formula (1):
Figure 2010221615
(Wherein Ar 11 , Ar 12 , Ar 13 ,..., Ar n (n is an integer of 14 or more) are the same or different, and are the same as the adhesive block structural unit or the non-adhesive block structural unit. A non-adherent block, or the adhering block and the non-adhering block are bonded to each other through a linking group. If the adhering blocks, the non-adhering blocks, or the adhering block and the non-adhering block are directly bonded, the two adjacent blocks are different. M 11 , m 12 , m 13 ,..., M n are the same or different and are integers of 3 or more.)
It has the structure represented by these.

前記式(1)中、Ar11、Ar12、Ar13、・・・、Arnで表される置換基を有していてもよい共役系の2価の基は、前記で説明し例示したものと同じである。 In the formula (1), the conjugated divalent group which may have a substituent represented by Ar 11 , Ar 12 , Ar 13 ,..., Ar n is explained and exemplified above. Is the same.

前記式(1)中、m11、m12、m13、・・・、mnは、少なくとも2個が3〜1×106の整数であることが好ましく、少なくとも2個が4〜1×104の整数であることがより好ましく、少なくとも2個が5〜1×10の数であることが特に好ましい。 In the formula (1), at least two m 11 , m 12 , m 13 ,..., Mn are preferably an integer of 3 to 1 × 10 6 , and at least two are 4 to 1 ×. It is more preferably an integer of 10 4 , and at least two are particularly preferably 5 to 1 × 10 3 .

本発明のより好ましい実施形態では、前記式(1)で表される構造を有する高分子が、下記式(6):

Figure 2010221615
(式中、Ar1、Ar2及びAr3は、同一又は異なり、置換基を有していてもよい共役系の2価の基であり、Ar1とAr2とは異なり、Ar2とAr3とは異なる。RX及びRYは、同一又は異なり、末端基である。m1、m2及びm3は、同一又は異なり、0以上の整数であって、m1、m2及びm3のうち、少なくとも2個は3以上の整数である。Ar2が付着基を有する場合には、Ar1及びAr3は同一であり、Ar1及びAr3は付着基を有しない。Ar2が付着基を有しない場合には、Ar1又はAr3が付着基を有する。)
で表される高分子である。 In a more preferred embodiment of the present invention, the polymer having the structure represented by the formula (1) is represented by the following formula (6):
Figure 2010221615
(In the formula, Ar 1 , Ar 2 and Ar 3 are the same or different, and are conjugated divalent groups which may have a substituent. Unlike Ar 1 and Ar 2 , Ar 2 and Ar 3 3 different .R X and R Y are the same or different from the, .m 1, m 2 and m 3 is an end group are the same or different, is 0 or an integer, m 1, m 2 and m of the three, the case where a .Ar 2 is attached group of at least two is an integer of 3 or more is, Ar 1 and Ar 3 are identical, Ar 1 and Ar 3 have no adhesion groups .Ar 2 In the case where does not have an attachment group, Ar 1 or Ar 3 has an attachment group.)
It is a polymer represented by

前記式(6)中、Ar1、Ar2及びAr3で表される置換基を有していてもよい共役系の2価の基は、前記で説明し例示したものと同じである。 In the formula (6), the conjugated divalent group which may have a substituent represented by Ar 1 , Ar 2 and Ar 3 is the same as described and exemplified above.

前記式(6)中、m1、m2及びm3は、少なくとも2個が3〜1×106の整数であることが好ましく、少なくとも2個が4〜1×104の整数であることがより好ましく、少なくとも2個が5〜1×103の整数であることが特に好ましい。 In the formula (6), m 1, m 2 and m 3 are preferably at least two are an integer of 3 to 1 × 10 6, an integer of at least two is 4 to 1 × 10 4 It is more preferable that at least two are integers of 5 to 1 × 10 3 .

本発明のさらに好ましい実施形態では、前記式(6)で表される高分子が、下記式(7):

Figure 2010221615
(式中、Ar4及びAr5は、同一又は異なり、置換基を有していてもよい共役系の2価の基であり、Ar4とAr5とは異なる。RX及びRYは、前記と同義である。m4及びm5は、同一又は異なり、3以上の整数である。Ar4又はAr5は付着基を有する。)
で表される高分子である。 In a further preferred embodiment of the present invention, the polymer represented by the formula (6) is represented by the following formula (7):
Figure 2010221615
(In the formula, Ar 4 and Ar 5 are the same or different and are a conjugated divalent group which may have a substituent, and are different from Ar 4 and Ar 5. R X and R Y are (M 4 and m 5 are the same or different and are an integer of 3 or more. Ar 4 or Ar 5 has an attachment group.)
It is a polymer represented by

前記式(7)中、Ar4及びAr5で表される置換基を有していてもよい共役系の2価の基は、前記で説明し例示したものと同じである。その中でも、Arが置換基を有していてもよいアリーレン残基であり、Arが置換基を有していてもよい芳香族アミン残基であることが好ましい。 In the formula (7), the conjugated divalent group which may have a substituent represented by Ar 4 and Ar 5 is the same as described and exemplified above. Among them, Ar 4 is an arylene residue which may have a substituent group, it is preferably Ar 5 is optionally substituted aromatic amine residue.

前記式(7)中、m4及びm5は、3〜1×106の整数であることが好ましく、4〜1×104の整数であることがより好ましく、5〜1×103の整数であることが特に好ましい。 In the formula (7), m 4 and m 5 is preferably an integer of 3 to 1 × 10 6, more preferably an integer of 4 to 1 × 10 4, the 5 to 1 × 10 3 Particularly preferred is an integer.

前記式(7)で表される高分子としては、以下の式(L−1)〜(L−6)で表される高分子が好ましく、式(K−1)〜(K−6)で表される高分子がより好ましい。これらの高分子において、m及びnは、m4及びm5と同義である。RDは、水素原子、アルキル基、アリール基、又はアリールアルキル基である。ここで、アルキル基、アリール基、アリールアルキル基は、前記で説明し例示したものと同じである。RF及びRGは、同一又は異なり、末端基を表す。これらの末端基は、RX及びRYと同義である。 As the polymer represented by the formula (7), polymers represented by the following formulas (L-1) to (L-6) are preferable, and in the formulas (K-1) to (K-6): The polymer represented is more preferred. In these polymers, m and n are synonymous with m 4 and m 5 . R D is a hydrogen atom, an alkyl group, an aryl group, or an arylalkyl group. Here, the alkyl group, aryl group, and arylalkyl group are the same as those described and exemplified above. R F and R G are the same or different and represent a terminal group. These end groups are synonymous with R X and R Y.

Figure 2010221615
Figure 2010221615

Figure 2010221615
Figure 2010221615

前記高分子のポリスチレン換算の数平均分子量Mnは、通常、1×103〜1×108であり、好ましくは2×103〜1×107であり、より好ましくは3×10〜1×106であり、さらに好ましくは5×10〜5×105である。これらの数平均分子量は、高分子のサイズ排除クロマトグラフィー(以下、「SEC」という)によって測定できる。 The number average molecular weight Mn in terms of polystyrene of the polymer is usually 1 × 10 3 to 1 × 10 8 , preferably 2 × 10 3 to 1 × 10 7 , more preferably 3 × 10 3 to 1. × 10 6 , more preferably 5 × 10 3 to 5 × 10 5 . These number average molecular weights can be measured by polymer size exclusion chromatography (hereinafter referred to as “SEC”).

前記高分子は、如何なる製造方法によって得られた高分子でもよいが、例えば、下記式(b)で表される化合物2種類以上を、P(Bu)Pd(Ph)Br等の適切な触媒の存在下で縮合重合させることにより製造することができる。

Figure 2010221615
(式中、Arは、置換基を有していてもよい共役系の2価の基である。X1は、ハロゲン原子、下記式(c)で表されるスルホネート基、又はメトキシ基である。M1は、ホウ酸エステル残基、ホウ酸残基、下記式(d)で表される基、下記式(e)で表される基、又は下記式(f)で表される基である。)
Figure 2010221615
(式中、RPは、置換基を有していてもよいアルキル基又は置換基を有していてもよいアリール基である。)
Figure 2010221615
(式中、Xは、塩素原子、臭素原子又はヨウ素原子である。)
Figure 2010221615
(式中、Xは、塩素原子、臭素原子又はヨウ素原子である。)
Figure 2010221615
(式中、RQ、RR及びRSは、同一又は異なり、置換基を有していてもよいアルキル基又は置換基を有していてもよいアリール基である。) The polymer may be a polymer obtained by any production process. For example, two or more compounds represented by the below formula (b), P (t Bu ) suitable for such 3 Pd (Ph) Br It can be produced by condensation polymerization in the presence of a catalyst.
Figure 2010221615
(In the formula, Ar is a conjugated divalent group which may have a substituent. X 1 is a halogen atom, a sulfonate group represented by the following formula (c), or a methoxy group. M 1 is a boric acid ester residue, a boric acid residue, a group represented by the following formula (d), a group represented by the following formula (e), or a group represented by the following formula (f). is there.)
Figure 2010221615
(In the formula, R P represents an alkyl group which may have a substituent or an aryl group which may have a substituent.)
Figure 2010221615
(In the formula, X A is a chlorine atom, a bromine atom or an iodine atom.)
Figure 2010221615
(In the formula, X A is a chlorine atom, a bromine atom or an iodine atom.)
Figure 2010221615
(In the formula, R Q , R R and R S are the same or different and are an alkyl group which may have a substituent or an aryl group which may have a substituent.)

前記式(b)中、X1で表されるハロゲン原子としては、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が挙げられる。 In the formula (b), examples of the halogen atom represented by X 1 include a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.

前記式(c)中、RPで表される置換基を有していてもよいアルキル基、置換基を有していてもよいアリール基を構成するアルキル基、アリール基は、前記で説明し例示したものと同じである。 In the formula (c), the alkyl group which may have a substituent represented by R P , the alkyl group constituting the aryl group which may have a substituent, and the aryl group are as described above. It is the same as illustrated.

前記式(c)で表されるスルホネート基としては、メタンスルホネート基、トリフルオロメタンスルホネート基、フェニルスルホネート基、4−メチルフェニルスルホネート基等が挙げられる。   Examples of the sulfonate group represented by the formula (c) include a methanesulfonate group, a trifluoromethanesulfonate group, a phenylsulfonate group, and a 4-methylphenylsulfonate group.

前記式(b)中、M1で表されるホウ酸エステル残基としては、下記式で表される基が挙げられる。

Figure 2010221615
In the formula (b), examples of the boric acid ester residue represented by M 1 include groups represented by the following formula.
Figure 2010221615

前記高分子の製造方法としては、特開2008−223015号公報、特開2008−109108号公報に記載の方法を参考にすることができる。   As methods for producing the polymer, methods described in JP-A-2008-2223015 and JP-A-2008-109108 can be referred to.

<製造方法>
次に、本発明の積層構造体の製造方法を説明する。積層構造体は、高分子を適切な基材に適切な条件で付着させることにより作製することができる。
<Manufacturing method>
Next, the manufacturing method of the laminated structure of this invention is demonstrated. A laminated structure can be produced by attaching a polymer to an appropriate substrate under appropriate conditions.

高分子の基材への付着方法は、高分子の種類及び分子量にもよるが、気相、液相、又は固相で行うことができ、取り扱いの容易さの観点から、液相で行うことが好ましい。気相で行う場合は、高分子を、蒸着等の方法によって真空中で清浄な基材上に堆積させて形成することができる。固相で行う場合は、高分子を清浄な基材上に擦りつける方法を用いることができる。液相で行う場合は、適切な基材を準備し、高分子を含む溶液に浸漬して付着させる方法、高分子を含む溶液を塗布する方法等が挙げられる。   The method of attaching the polymer to the substrate depends on the type and molecular weight of the polymer, but can be performed in the gas phase, liquid phase, or solid phase, and in the liquid phase from the viewpoint of ease of handling. Is preferred. When performed in the gas phase, the polymer can be formed by being deposited on a clean substrate in a vacuum by a method such as vapor deposition. When performed in a solid phase, a method of rubbing the polymer on a clean substrate can be used. In the case of performing in a liquid phase, a method of preparing an appropriate base material and immersing it in a solution containing a polymer and applying a solution containing a polymer can be used.

高分子の基材への付着方法としては、高分子を含む溶液に基材を浸漬して高分子を基材の表面に付着させる方法、基材に高分子を含む溶液を塗布する方法が好適である。   As a method for attaching the polymer to the substrate, a method in which the substrate is immersed in a solution containing the polymer to attach the polymer to the surface of the substrate, or a method in which the solution containing the polymer is applied to the substrate is suitable. It is.

即ち、本発明の積層構造体の好ましい製造方法は、(1)基材を高分子を含む溶液に浸漬する工程、又は(2)高分子を含む溶液を基材に塗布する工程を含む。   That is, the preferable manufacturing method of the laminated structure of the present invention includes (1) a step of immersing the substrate in a solution containing a polymer, or (2) a step of applying a solution containing a polymer to the substrate.

これら(1)又は(2)の工程によって形成された高分子の層を、高分子の良溶媒と接触させる工程や、後述の除去工程をさらに含むことが好ましい。   Preferably, the method further includes a step of bringing the polymer layer formed by the step (1) or (2) into contact with a good solvent for the polymer, and a removal step described later.

いずれの方法を用いる場合でも、基材の表面は予め清浄にしておくことが好ましい。ここで、基材表面に汚れ、ゴミが付着していると高分子膜に欠陥が生じるおそれがある。そのため、付着工程の直前に基材の洗浄を終えて、直ちに付着工程に入ることが好ましい。洗浄方法は、公知の方法を用いることができる。欠陥の少ない高分子膜を形成するためには、洗浄の最終工程で、オゾン、プラズマ等で表面処理することが好ましく、オゾン、酸素プラズマ等の活性酸素種で処理することがさらに好ましく、簡便さの観点から、オゾンで処理することが特に好ましい。   Whichever method is used, it is preferable to clean the surface of the substrate in advance. Here, if the surface of the base material is contaminated or dusty, the polymer film may be defective. Therefore, it is preferable to finish the cleaning of the substrate immediately before the attaching step and immediately enter the attaching step. A known method can be used as the cleaning method. In order to form a polymer film with few defects, it is preferable to perform surface treatment with ozone, plasma, etc. in the final cleaning step, more preferably with active oxygen species such as ozone, oxygen plasma, etc. In view of the above, it is particularly preferable to treat with ozone.

ここで、特に好ましい実施形態である、基材を高分子を含む溶液に浸漬する工程について説明する。高分子の溶液の濃度は、高分子を安定に溶解させることができる濃度範囲で調整することができる。高分子膜の再現性の観点からは、高分子の溶液の濃度は、好ましくは0.001〜1000g/Lであり、より好ましくは0.01〜100g/Lであり、特に好ましくは0.01〜10g/Lである。基材を、高分子を含む溶液に浸漬する時間は、通常、200時間以内である。   Here, the process of immersing the substrate in a solution containing a polymer, which is a particularly preferred embodiment, will be described. The concentration of the polymer solution can be adjusted within a concentration range in which the polymer can be stably dissolved. From the viewpoint of reproducibility of the polymer membrane, the concentration of the polymer solution is preferably 0.001 to 1000 g / L, more preferably 0.01 to 100 g / L, and particularly preferably 0.01. -10 g / L. The time for immersing the substrate in the solution containing the polymer is usually within 200 hours.

また、使用する高分子を含む溶液は、不純物を極力除去した溶液を用いることが好ましい。ゴミ、基材の表面に吸着する性質の他の分子が溶液に混入していると、得られる高分子膜に欠陥が生じるおそれがある。   The solution containing the polymer to be used is preferably a solution from which impurities are removed as much as possible. If dust or other molecules adsorbing on the surface of the substrate are mixed in the solution, the resulting polymer film may be defective.

さらに、浸漬後の基材から、余分な高分子を除去する工程(即ち、除去工程である。)を行うことが好ましい。この除去工程では、浸漬に使用する溶媒により洗浄すればよい。   Furthermore, it is preferable to perform a step of removing excess polymer from the substrate after immersion (that is, a removal step). In this removal step, washing may be performed with a solvent used for immersion.

以下、実施例によって本発明を更に詳細に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples.

ポリスチレン換算の数平均分子量(Mn)及びポリスチレン換算の重量平均分子量(Mw)は、サイズ排除クロマトグラフィー(SEC)により、次の条件で求めた。
装置 :東ソー製HLC−8220GPC
カラム:以下の4本を直列に繋げた。
TSKguard column SuperH−H(東ソー製)1本
TSKgel SuperHM−H(東ソー製)2本
TSKgel SuperH2000(東ソー製)1本
移動相:テトラヒドロフラン
検出器:示差屈折率検出器
The number average molecular weight (Mn) in terms of polystyrene and the weight average molecular weight (Mw) in terms of polystyrene were determined by size exclusion chromatography (SEC) under the following conditions.
Equipment: Tosoh HLC-8220GPC
Column: The following four were connected in series.
One TSK guard column SuperH-H (manufactured by Tosoh)
Two TSKgel SuperHM-H (Tosoh products)
One TSKgel SuperH2000 (manufactured by Tosoh) Mobile phase: Tetrahydrofuran Detector: Differential refractive index detector

<合成例1>−分子量分布の狭いブロック共重合体Aの合成−
(i) 2−ブロモ−9,9−ジオクチルフルオレン−7−ボロン酸ピナコールエステルを、J. Am. Chem. Soc. 126, 7041(2004)を参考にして合成した。
<Synthesis Example 1> -Synthesis of a block copolymer A having a narrow molecular weight distribution-
(i) 2-Bromo-9,9-dioctylfluorene-7-boronic acid pinacol ester was synthesized with reference to J. Am. Chem. Soc. 126, 7041 (2004).

(ii) (4−ブロモフェニル)−(4−メトキシフェニル)−[4−(4,4,5,5−テトラメチル−[1,3,2]ジオキサボロラン−2−イル)フェニル]アミン(化合物(c))を、特開2007−211237号公報を参考にして合成した。 (ii) (4-Bromophenyl)-(4-methoxyphenyl)-[4- (4,4,5,5-tetramethyl- [1,3,2] dioxaborolan-2-yl) phenyl] amine (compound (C)) was synthesized with reference to JP-A No. 2007-211237.

(iii) P(Bu)Pd(Ph)Brを、J. Am. Chem. Soc. 126, 1184(2004)を参考にして、アルゴン雰囲気下、ビス(トリ−t−ブチルホスフィン)パラジウム(0)とブロモベンゼンを反応させることにより合成した。 The (iii) P (t Bu) 3 Pd (Ph) Br, J. Am. Chem. Soc. 126, 1184 (2004) and with reference, under argon, bis (tri -t- butylphosphine) palladium ( It was synthesized by reacting 0) with bromobenzene.

(iv) アルゴンガス雰囲気下、フラスコに、2−ブロモ−9,9−ジオクチルフルオレン−7−ボロン酸ピナコールエステル149mg(0.25mmol)、オクチルベンゼン(内部標準物質、100μL)を加えてアルゴン置換した。そこに、乾燥テトラヒドロフラン(THF)38mLを加えて溶解させた後に、2M 炭酸ナトリウム(aq)5mLを添加して、モノマー溶液を調製した。別途、アルゴングローブボックスにて、P(Bu)Pd(Ph)Br5.83mg(0.0013mmol、5.0mol%)をテトラヒドロフラン2mLに溶解させた黄色溶液を、アルゴンガス雰囲気下で、上記モノマー溶液中へ添加し、室温にて30分間攪拌したところ、高速液体クロマトグラフィーにて2−ブロモ−9,9−ジオクチルフルオレン−7−ボロン酸ピナコールエステルの消失を確認した。ここで、SECにおけるピークトップのポリスチレン換算の分子量が1.6×10であることを確認した。 (iv) Under an argon gas atmosphere, the flask was purged with argon by adding 149 mg (0.25 mmol) of 2-bromo-9,9-dioctylfluorene-7-boronic acid pinacol ester and octylbenzene (internal standard, 100 μL). . Thereto, 38 mL of dry tetrahydrofuran (THF) was added and dissolved, and then 5 mL of 2M sodium carbonate (aq) was added to prepare a monomer solution. Separately, in an argon glove box, P (t Bu) 3 Pd (Ph) Br5.83mg (0.0013mmol, 5.0mol%) a yellow solution was dissolved in tetrahydrofuran 2 mL, in an argon gas atmosphere, the monomer When added to the solution and stirred at room temperature for 30 minutes, disappearance of 2-bromo-9,9-dioctylfluorene-7-boronic acid pinacol ester was confirmed by high performance liquid chromatography. Here, it was confirmed that the molecular weight in terms of polystyrene at the peak top in SEC was 1.6 × 10 4 .

次いで、そこに、脱水THF2mLに溶解させた下記式:

Figure 2010221615
で表される化合物(c)30mg(0.063mmol)を加えて室温で30分間攪拌した。ここで、SECにおけるピークトップのポリスチレン換算の分子量は2.1×10であり、共重合により分子量が増加したことを確認した。次いで、室温にて水層を分液した。また、油層中へ2規定塩酸10mLを加えて攪拌した後、得られた溶液をメタノールに注加して攪拌したところ、沈殿が析出した。この沈殿をろ過して減圧乾燥したところ、分子量分布の狭いブロック共重合体A(Mn=14600、Mw/Mn=1.34)を得た。ブロック共重合体Aは、H NMRの結果から、下記式:
Figure 2010221615
で表される構成単位(A)と、下記式:
Figure 2010221615
で表される構成単位(B)とを、82:18のモル比で有するものであると認められた。 Next, the following formula dissolved in dehydrated THF 2 mL:
Figure 2010221615
30 mg (0.063 mmol) of the compound represented by formula (c) was added and stirred at room temperature for 30 minutes. Here, the molecular weight in terms of polystyrene at the peak top in SEC was 2.1 × 10 4 , and it was confirmed that the molecular weight was increased by copolymerization. Next, the aqueous layer was separated at room temperature. In addition, 10 mL of 2N hydrochloric acid was added to the oil layer and stirred, and then the resulting solution was poured into methanol and stirred to precipitate a precipitate. When this precipitate was filtered and dried under reduced pressure, a block copolymer A (Mn = 14600, Mw / Mn = 1.34) having a narrow molecular weight distribution was obtained. From the result of 1 H NMR, the block copolymer A has the following formula:
Figure 2010221615
And a structural unit (A) represented by the following formula:
Figure 2010221615
It was recognized that it has a structural unit (B) represented by a molar ratio of 82:18.

<合成例2>−ブロック共重合体Bの合成−
300mL3口フラスコに下記式:

Figure 2010221615
で表される化合物(b)125mg(0.21mmol)を入れ、フラスコ内をアルゴンガスで置換した。そこに、4−t−ブチルブロモベンゼン2.3mg(0.011mmol)及びトルエン10mLを添加し、45℃で5分間攪拌した。次いで、そこに、トリス(ジベンジリデンアセトン)ジパラジウム0.29mg(0.0003mmol)及びトリス(2−メトキシフェニル)ホスフィン0.9mg(0.0026mmol)を加え、45℃で10分間攪拌し、33重量%炭酸セシウム水溶液1.0mLを加えた後、45℃で5分間攪拌した。 <Synthesis Example 2> -Synthesis of Block Copolymer B-
In a 300 mL 3-neck flask the following formula:
Figure 2010221615
125 mg (0.21 mmol) of the compound (b) represented by the formula was added, and the inside of the flask was replaced with argon gas. 4-t-butyl bromobenzene 2.3 mg (0.011 mmol) and toluene 10mL were added there, and it stirred at 45 degreeC for 5 minute (s). Next, 0.29 mg (0.0003 mmol) of tris (dibenzylideneacetone) dipalladium and 0.9 mg (0.0026 mmol) of tris (2-methoxyphenyl) phosphine were added thereto, and the mixture was stirred at 45 ° C. for 10 minutes. After adding 1.0 mL of a weight% aqueous cesium carbonate solution, the mixture was stirred at 45 ° C. for 5 minutes.

その後、110℃で1時間攪拌し、高速液体クロマトグラフィーにて化合物(b)の消失を確認した。ここで、SECにおけるピークトップのポリスチレン換算の分子量が2.2×104であることを確認した。 Then, it stirred at 110 degreeC for 1 hour, and the loss | disappearance of the compound (b) was confirmed by the high performance liquid chromatography. Here, it was confirmed that the molecular weight in terms of polystyrene at the peak top in SEC was 2.2 × 10 4 .

次いで、そこに、化合物(c)67.4mg(0.14mmol)、トリス(ジベンジリデンアセトン)ジパラジウム0.19mg(0.0002mmol)、トリス(2−メトキシフェニル)ホスフィン0.59mg(0.0016mmol)、33重量%炭酸セシウム水溶液0.6mL及びトルエン1mLを加え、110℃にて26時間攪拌した。その後、高速液体クロマトグラフィーにて化合物(c)の消失を確認した。ここで、SECにおけるピークトップのポリスチレン換算の分子量は2.8×104であり、共重合により分子量が増加したことを確認した。 Then, there were 67.4 mg (0.14 mmol) of compound (c), 0.19 mg (0.0002 mmol) of tris (dibenzylideneacetone) dipalladium, 0.59 mg (0.0016 mmol) of tris (2-methoxyphenyl) phosphine. ), 33 mL of a 33 wt% aqueous cesium carbonate solution and 1 mL of toluene were added, and the mixture was stirred at 110 ° C. for 26 hours. Thereafter, disappearance of the compound (c) was confirmed by high performance liquid chromatography. Here, the molecular weight in terms of polystyrene of the peak top in SEC is 2.8 × 10 4, a molecular weight was confirmed to have increased by copolymerization.

次いで、そこに、4−(4,4,5,5−テトラメチル−1,3,2−ジオキサボロラン−2−イル)トルエン27.9mg(0.13mmol)及びトルエン1mLを加え、110℃にて2.5時間攪拌した。室温まで冷却した後、得られた反応溶液の有機層と水層とを分離した。そして、この有機層をメタノール45mLに滴下したところ、沈殿が析出した。得られた沈殿を濾過し、乾燥したところ、黄色固体を得た。この黄色固体をトルエン25mLに溶解させ、シリカゲルと活性アルミナのカラムクロマトグラフィーを行い、濃縮乾固した。得られた固体をテトラヒドロフランに溶解させ、メタノールへ溶液を滴下したところ、沈殿が析出した。この沈殿を濾過、乾燥する操作を3回繰り返し、固体を得た。   Then, 27.9 mg (0.13 mmol) of 4- (4,4,5,5-tetramethyl-1,3,2-dioxaborolan-2-yl) toluene and 1 mL of toluene were added thereto at 110 ° C. Stir for 2.5 hours. After cooling to room temperature, the organic layer and aqueous layer of the obtained reaction solution were separated. And when this organic layer was dripped at methanol 45mL, precipitation precipitated. The resulting precipitate was filtered and dried to obtain a yellow solid. This yellow solid was dissolved in 25 mL of toluene, subjected to column chromatography on silica gel and activated alumina, and concentrated to dryness. When the obtained solid was dissolved in tetrahydrofuran and the solution was added dropwise to methanol, a precipitate was deposited. The operation of filtering and drying this precipitate was repeated three times to obtain a solid.

さらに、この固体をトルエンに溶解させ、得られた溶液をメタノールに滴下して沈殿を析出させ、この沈殿を濾過、乾燥することにより、ブロック共重合体B(Mn=14300,Mw/Mn=2.44)を得た。   Further, this solid was dissolved in toluene, and the resulting solution was added dropwise to methanol to precipitate a precipitate. The precipitate was filtered and dried, whereby block copolymer B (Mn = 14300, Mw / Mn = 2). .44) was obtained.

ブロック共重合体Bは、H NMRの結果から、構成単位(A)と構成単位(B)とを、80:20のモル比で有するものであると認められた。 From the result of 1 H NMR, the block copolymer B was recognized to have the structural unit (A) and the structural unit (B) at a molar ratio of 80:20.

<合成例3>−重合体Cの合成−
300mL3口フラスコに下記式:

Figure 2010221615
で表される化合物(c)540mg(1.12mmol)を仕込み、フラスコ内をアルゴンガスで置換した。そこに、4−t−ブチルブロモベンゼン9.39mg(0.044mmol)及びトルエン7.4mLを添加し、45℃で5分間攪拌した。次いで、そこに、トリス(ジベンジリデンアセトン)ジパラジウム1.49mg(0.0016mmol)及びトリス(2−メトキシフェニル)ホスフィン4.59mg(0.013mmol)を加え45℃で10分間攪拌し、33重量%炭酸セシウム水溶液5mLを加えた後、110℃で3時間攪拌し、室温まで冷却した。その後、得られた反応溶液をメタノール47mLに滴下したところ、沈殿が析出した。この沈殿を濾過することにより、固体を得た。この固体にクロロホルム6.2mLを加え、得られた溶液をメタノールに滴下したところ、沈殿が析出した。この沈殿を濾過、乾燥し、構成単位(B)のみからなる重合体(以下、「重合体C」という。)を得た。重合体Cのポリスチレン換算の数平均分子量Mnは3.4×10であり、分子量分布Mw/Mnは2.06であった。 <Synthesis Example 3> -Synthesis of Polymer C-
In a 300 mL 3-neck flask the following formula:
Figure 2010221615
540 mg (1.12 mmol) of the compound (c) represented by formula (1) was charged, and the inside of the flask was replaced with argon gas. 4-tert-butylbromobenzene 9.39 mg (0.044 mmol) and toluene 7.4 mL were added there, and it stirred at 45 degreeC for 5 minutes. Next, 1.49 mg (0.0016 mmol) of tris (dibenzylideneacetone) dipalladium and 4.59 mg (0.013 mmol) of tris (2-methoxyphenyl) phosphine were added thereto and stirred at 45 ° C. for 10 minutes, 5% aqueous cesium carbonate solution was added, and the mixture was stirred at 110 ° C. for 3 hours and cooled to room temperature. Then, when the obtained reaction solution was dripped at methanol 47mL, precipitation precipitated. The precipitate was filtered to obtain a solid. When 6.2 mL of chloroform was added to this solid and the resulting solution was added dropwise to methanol, a precipitate was deposited. This precipitate was filtered and dried to obtain a polymer consisting only of the structural unit (B) (hereinafter referred to as “polymer C”). The polystyrene equivalent number average molecular weight Mn of the polymer C was 3.4 × 10 3 , and the molecular weight distribution Mw / Mn was 2.06.

<合成例4>−重合体Dの合成−
構成単位(A)のみからなる重合体(以下、「重合体D」という。)は市販品(Aldrich製)を用いた。重合体Dのポリスチレン換算の数平均分子量Mnは1.5×10であり、分子量分布Mw/Mnは2.80であった。
<Synthesis Example 4> -Synthesis of Polymer D-
A commercially available product (manufactured by Aldrich) was used as the polymer consisting only of the structural unit (A) (hereinafter referred to as “polymer D”). The polystyrene equivalent number average molecular weight Mn of the polymer D was 1.5 × 10 4 , and the molecular weight distribution Mw / Mn was 2.80.

<参考例1>−参考用高分子スピンコート膜の作製−
重合体CのTHF溶液(2.5g/L)を用いてガラス基板上にスピンコート膜を作製し、得られた膜の接触角を測定したところ77.7°であった。得られた結果を表1に示す。また、得られた膜のイオン化ポテンシャルを大気中光電子分光装置(理研計器株式会社製、商品名:AC2)で測定したところ、5.18eVであった。得られた結果を表1に示す。また、高分子膜の膜厚を触針式の膜厚計(小坂研究所製、商品名:Surfcorder ET3000)で測定したところ、15nm〜20nmであった。
<Reference Example 1> -Preparation of Reference Polymer Spin Coat Film-
A spin coat film was prepared on a glass substrate using a THF solution (2.5 g / L) of polymer C, and the contact angle of the obtained film was measured to be 77.7 °. The obtained results are shown in Table 1. The ionization potential of the obtained film was measured with an atmospheric photoelectron spectrometer (trade name: AC2 manufactured by Riken Keiki Co., Ltd.) and found to be 5.18 eV. The obtained results are shown in Table 1. Moreover, when the film thickness of the polymer film was measured with a stylus-type film thickness meter (trade name: Surfcorder ET3000, manufactured by Kosaka Laboratory Ltd.), it was 15 nm to 20 nm.

<参考例2>−参考用高分子スピンコート膜の作製−
参考例1において、重合体Cの代わりに重合体Dを用いた以外は、参考例1と同様にして、スピンコート膜を作製し、得られたスピンコート膜の接触角、イオン化ポテンシャル及び膜厚を測定したところ、スピンコート膜の接触角は88.8°であり、イオン化ポテンシャルは5.78eVであり、膜厚は15nm〜20nmであった。得られた結果を表1に示す。また、励起光波長を350nmとして、蛍光スペクトルを測定した。こうして得られた蛍光スペクトルを図1に示す。
Reference Example 2-Preparation of Reference Polymer Spin Coat Film-
In Reference Example 1, except that the polymer D was used instead of the polymer C, a spin coat film was produced in the same manner as in Reference Example 1, and the contact angle, ionization potential, and film thickness of the obtained spin coat film were obtained. Was measured, the contact angle of the spin coat film was 88.8 °, the ionization potential was 5.78 eV, and the film thickness was 15 nm to 20 nm. The obtained results are shown in Table 1. Further, the fluorescence spectrum was measured with the excitation light wavelength set at 350 nm. The fluorescence spectrum thus obtained is shown in FIG.

<実施例1>−積層構造体の作製−
基材であるガラス基板を有機溶剤(クロロホルム及びメタノール)、アルカリ性洗剤の水溶液及び蒸留水で洗浄した後にオゾンガスに15分間曝露することで、ガラス基板の表面の付着物を取り除いた。こうして得られたガラス基板をブロック共重合体Aのトルエン溶液(2.5g/L)に浸漬し、3日間静置した後に引き上げ、トルエンを吹きかけて洗浄した。
<Example 1> -Production of laminated structure-
The glass substrate as a base material was washed with an organic solvent (chloroform and methanol), an aqueous solution of an alkaline detergent and distilled water, and then exposed to ozone gas for 15 minutes to remove deposits on the surface of the glass substrate. The glass substrate thus obtained was immersed in a toluene solution (2.5 g / L) of the block copolymer A, left standing for 3 days, then pulled up and washed with toluene.

得られたガラス基板に紫外線を当てたところ、肉眼で蛍光を確認した。さらに、励起光波長を350nmとして、蛍光スペクトルを測定した。こうして得られた蛍光スペクトルを図1に示す。この蛍光スペクトルの特徴から、先に確認した蛍光発光が、ブロック共重合体Aに含まれる構成単位(A)に起因する蛍光発光であることを確認した。即ち、ブロック共重合体Aがガラス基板上に付着していることが判明した。   When the obtained glass substrate was irradiated with ultraviolet rays, fluorescence was confirmed with the naked eye. Furthermore, the fluorescence spectrum was measured by setting the excitation light wavelength to 350 nm. The fluorescence spectrum thus obtained is shown in FIG. From the characteristics of this fluorescence spectrum, it was confirmed that the previously confirmed fluorescence emission was fluorescence emission caused by the structural unit (A) contained in the block copolymer A. That is, it was found that the block copolymer A was adhered on the glass substrate.

得られた積層構造体における高分子膜に超純水0.5μLを付着させ、接触角測定を行ったところ88.0°であった。得られた結果を表1に示す。また、この高分子膜のイオン化ポテンシャルを大気中光電子分光装置(理研計器株式会社製、商品名:AC2)で測定したところ、5.54eVであった。得られた結果を表1に示す。また、高分子膜の膜厚を触針式の膜厚計(小坂研究所製、商品名:Surfcorder ET3000)で測定したところ、5nm〜10nmであった。   When 0.5 μL of ultrapure water was adhered to the polymer film in the obtained laminated structure and the contact angle was measured, it was 88.0 °. The obtained results are shown in Table 1. The ionization potential of the polymer film was measured with an atmospheric photoelectron spectrometer (trade name: AC2 manufactured by Riken Keiki Co., Ltd.) and found to be 5.54 eV. The obtained results are shown in Table 1. Moreover, when the film thickness of the polymer film was measured with a stylus type film thickness meter (trade name: Surfcorder ET3000, manufactured by Kosaka Laboratory Ltd.), it was 5 nm to 10 nm.

<比較例1>−比較用積層構造体の作製−
実施例1において、ブロック共重合体Aの代わりにブロック共重合体Bを用いた以外は、実施例1と同様にして、積層構造体を作製し、得られた積層構造体における高分子膜の接触角、イオン化ポテンシャル及び膜厚を測定したところ、高分子膜の接触角は85.0°であり、イオン化ポテンシャルは5.25eVであり、膜厚は5nm〜10nmであった。
<Comparative Example 1> -Preparation of a laminated structure for comparison-
In Example 1, except that the block copolymer B was used instead of the block copolymer A, a laminated structure was produced in the same manner as in Example 1, and the polymer film in the obtained laminated structure was When the contact angle, ionization potential, and film thickness were measured, the contact angle of the polymer film was 85.0 °, the ionization potential was 5.25 eV, and the film thickness was 5 nm to 10 nm.

Figure 2010221615
Figure 2010221615

<評価>
参考例1と参考例2より、構成単位(A)のみからなる重合体Dの膜の最表面の接触角は88.8°であり、構成単位(B)のみからなる重合体Cの膜の最表面の接触角は77.7°であった。これに対して、分子量分布の狭いブロック共重合体Aの高分子膜(実施例1)の接触角は88.0°であり、ブロック共重合体Bの高分子膜(比較例1)の接触角は85.0°であることから、ブロック共重合体Aの高分子膜の接触角は、重合体Cの膜の接触角よりも重合体Dの膜の接触角に近い値であった。
また、参考例1と参考例2より、構成単位(A)のみからなる重合体Dの膜のイオン化ポテンシャルは5.78eVであり、構成単位(B)のみからなる重合体Cの膜のイオン化ポテンシャルは5.18eVであった。これに対して、分子量分布の狭いブロック共重合体Aの高分子膜(実施例1)のイオン化ポテンシャルは5.54eVであり、ブロック共重合体Bの高分子膜(比較例1)のイオン化ポテンシャルは5.25eVであることから、ブロック共重合体Aの高分子膜のイオン化ポテンシャルは、重合体Cの膜のイオン化ポテンシャルよりも重合体Dの膜の接触角に近い値であった。
このことより、共重合体Aの高分子膜は、共重合体Bの高分子膜よりも、非付着性ブロック構成単位である構成単位(A)からなる非付着性ブロックを高い割合で表面に露出していることが認められる。
<Evaluation>
From Reference Example 1 and Reference Example 2, the contact angle of the outermost surface of the polymer D film consisting only of the structural unit (A) is 88.8 °, and the polymer C film consisting only of the structural unit (B) The contact angle of the outermost surface was 77.7 °. In contrast, the contact angle of the polymer film (Example 1) of the block copolymer A having a narrow molecular weight distribution is 88.0 °, and the contact angle of the polymer film of the block copolymer B (Comparative Example 1). Since the angle was 85.0 °, the contact angle of the polymer film of the block copolymer A was closer to the contact angle of the polymer D film than the contact angle of the polymer C film.
Further, from Reference Example 1 and Reference Example 2, the ionization potential of the polymer D film consisting only of the structural unit (A) is 5.78 eV, and the ionization potential of the polymer C film consisting only of the structural unit (B). Was 5.18 eV. In contrast, the ionization potential of the polymer film (Example 1) of the block copolymer A having a narrow molecular weight distribution is 5.54 eV, and the ionization potential of the polymer film of the block copolymer B (Comparative Example 1). Is 5.25 eV, the ionization potential of the polymer film of the block copolymer A was closer to the contact angle of the polymer D film than the ionization potential of the polymer C film.
From this, the polymer film of the copolymer A has a higher proportion of non-adhesive blocks composed of the structural unit (A) which is a non-adhesive block structural unit on the surface than the polymer film of the copolymer B. It is recognized that it is exposed.

本発明にかかる積層構造体及びその製造方法は、例えば、電気伝導性の高い非付着性ブロックを高い割合で露出させることができる。そのため、製造した積層構造体上に基材等を設けると、基材等との間で効率よく電気を流すことが可能であり、電気的に優れた特性を示す。そのため、光電変換素子、発光材料、電池用材料、電子部品材料等の先端機能材料の機能層及びその製造方法に好適に適用することができる。   The laminated structure and the manufacturing method thereof according to the present invention can expose, for example, non-adhesive blocks having high electrical conductivity at a high rate. Therefore, when a base material or the like is provided on the manufactured laminated structure, it is possible to efficiently pass electricity between the base material and the like, and electrically excellent characteristics are exhibited. Therefore, it can be suitably applied to functional layers of advanced functional materials such as photoelectric conversion elements, light emitting materials, battery materials, electronic component materials, and the production method thereof.

Claims (9)

基材と、
分子量分布が1.0以上、1.5以下であり、前記基材の表面に付着できる付着基を有する付着性ブロック構成単位からなる1種の付着性ブロック、及び非付着性ブロック構成単位からなる1種又は2種以上の非付着性ブロックを有する高分子を用いてなる高分子膜と
を備える積層構造体。
A substrate;
The molecular weight distribution is 1.0 or more and 1.5 or less, and it is composed of one kind of adhesive block constituent unit having an adhesive group capable of attaching to the surface of the substrate and a non-adhesive block constituent unit. A laminated structure comprising a polymer film using a polymer having one or two or more non-adhesive blocks.
前記高分子が下記式(1):
Figure 2010221615
(式中、Ar11、Ar12、Ar13、・・・、Arn(nは14以上の整数である。)は、同一又は異なり、前記付着性ブロック構成単位又は前記非付着性ブロック構成単位であって、置換基を有していてもよい共役系の2価の基である。前記非付着性ブロック同士、又は前記付着性ブロック及び前記非付着性ブロックは結合基を介して結合されていてもよく、前記非付着性ブロック同士、又は前記付着性ブロック及び前記非付着性ブロックが直接的に結合している場合には、互いに隣接する2個のブロックは異なっている。m11、m12、m13、・・・、mnは、同一又は異なり、3以上の整数である)
で表される構造を有する、請求項1に記載の積層構造体。
The polymer is represented by the following formula (1):
Figure 2010221615
(In the formula, Ar 11 , Ar 12 , Ar 13 ,..., Ar n (n is an integer of 14 or more) are the same or different, and the adhesive block constituent unit or the non-adhesive block constituent unit. A non-adherent block, or the adhering block and the non-adhering block are bonded via a linking group. at best, when said non-adherent block each other or the adhesion block and the non-adherent block is directly bind, .m 11 be different from two blocks adjacent to each other, m 12 , m 13 ,..., Mn are the same or different and are integers of 3 or more)
The laminated structure according to claim 1, having a structure represented by:
前記付着性ブロックが芳香族ポリアミン残基である、請求項2に記載の積層構造体。   The laminated structure according to claim 2, wherein the adhesive block is an aromatic polyamine residue. 前記式(1)で表される構造を有する高分子が、下記式(6):
Figure 2010221615
(式中、Ar1、Ar2及びAr3は、置換基を有していてもよい共役系の2価の基であり、Ar1とAr2とは異なり、Ar2とAr3とは異なる。RX及びRYは、同一又は異なり、末端基である。m1、m2及びm3は、同一又は異なり、0以上の整数であって、m1、m2及びm3のうち、少なくとも2個は3以上の整数である。Ar2が付着基を有する場合には、Ar1及びAr3は同一であり、RX、RY、Ar1及びAr3は付着基を有しない。Ar2が付着基を有しない場合には、Ar1又はAr3が付着基を有する。)
で表される高分子である、請求項2又は3に記載の積層構造体。
The polymer having the structure represented by the formula (1) is represented by the following formula (6):
Figure 2010221615
(In the formula, Ar 1 , Ar 2 and Ar 3 are conjugated divalent groups which may have a substituent, and are different from Ar 1 and Ar 2, and different from Ar 2 and Ar 3. R X and R Y are the same or different and are end groups, m 1 , m 2 and m 3 are the same or different and are integers of 0 or more, and m 1 , m 2 and m 3 are At least two are integers greater than or equal to 3. When Ar 2 has an attachment group, Ar 1 and Ar 3 are the same, and R X , R Y , Ar 1 and Ar 3 do not have an attachment group. When Ar 2 does not have an attachment group, Ar 1 or Ar 3 has an attachment group.)
The laminated structure according to claim 2, which is a polymer represented by:
前記式(6)で表される高分子が、下記式(7):
Figure 2010221615
(式中、Ar4及びAr5は、相異なり、置換基を有していてもよい共役系の2価の基である。RX及びRYは、前記と同義である。m4及びm5は、同一又は異なり、3以上の整数である。Ar4又はAr5は付着基を有する。)
で表される高分子である、請求項4に記載の積層構造体。
The polymer represented by the formula (6) is represented by the following formula (7):
Figure 2010221615
(In the formula, Ar 4 and Ar 5 are different and are conjugated divalent groups which may have a substituent. R X and R Y are as defined above. M 4 and m 5 is the same or different and is an integer greater than or equal to 3. Ar 4 or Ar 5 has an attachment group.
The laminated structure according to claim 4, which is a polymer represented by:
前記高分子が、下記式:
A−Z<3.5°
(式中、Zは前記高分子の接触角の値であり、ZAは前記高分子が含む付着性ブロック構成単位のみからなる化合物の接触角の値及び前記高分子が含む非付着性ブロック構成単位のみからなる化合物の接触角の値のうちの最大値である。)
又は、下記式:
Z−ZB<3.5°
(式中、Zは前記高分子の接触角の値であり、ZBは前記高分子が含む付着性ブロック構成単位のみからなる化合物の接触角の値及び前記高分子が含む非付着性ブロック構成単位のみからなる化合物の接触角の値のうちの最小値である。)
を満たす、請求項5に記載の積層構造体。
The polymer has the following formula:
Z A -Z <3.5 °
(Wherein, Z is the value of the contact angle of the polymer, Z A is the value of the contact angle of the compound consisting only of the adhesive block constituent unit included in the polymer and the non-adhesive block configuration included in the polymer) (It is the maximum value among the contact angle values of a compound consisting only of units.)
Or the following formula:
Z-Z B <3.5 °
(Wherein, Z is the value of the contact angle of the polymer, Z B is the value of the contact angle of the compound consisting only of the adhesive block constituent unit included in the polymer and the non-adhesive block configuration included in the polymer) (It is the minimum value among the contact angle values of a compound consisting only of units.)
The laminated structure according to claim 5, wherein:
前記Arが置換基を有していてもよいアリーレン残基であり、前記Arが置換基を有していてもよい芳香族アミン残基である、請求項5又は6に記載の積層構造体。 The laminated structure according to claim 5 or 6, wherein Ar 4 is an arylene residue which may have a substituent, and Ar 5 is an aromatic amine residue which may have a substituent. body. 前記基材を前記高分子を含む溶液に浸漬する工程を含む、請求項1から7のいずれか一項に記載の積層構造体の製造方法。   The manufacturing method of the laminated structure as described in any one of Claim 1 to 7 including the process of immersing the said base material in the solution containing the said polymer | macromolecule. 前記基材に前記高分子を含む溶液を塗布する工程を含む、請求項1から7のいずれか一項に記載の積層構造体の製造方法。   The manufacturing method of the laminated structure as described in any one of Claim 1 to 7 including the process of apply | coating the solution containing the said polymer to the said base material.
JP2009073347A 2009-03-25 2009-03-25 Laminated structure and manufacturing method thereof Expired - Fee Related JP5550088B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009073347A JP5550088B2 (en) 2009-03-25 2009-03-25 Laminated structure and manufacturing method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009073347A JP5550088B2 (en) 2009-03-25 2009-03-25 Laminated structure and manufacturing method thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010221615A true JP2010221615A (en) 2010-10-07
JP5550088B2 JP5550088B2 (en) 2014-07-16

Family

ID=43039309

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009073347A Expired - Fee Related JP5550088B2 (en) 2009-03-25 2009-03-25 Laminated structure and manufacturing method thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5550088B2 (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008038814A1 (en) * 2006-09-26 2008-04-03 Sumitomo Chemical Company, Limited Polymeric adsorption films and processes for producing these
JP2008109108A (en) * 2006-09-26 2008-05-08 Sumitomo Chemical Co Ltd Polymeric adsorption film and method of manufacturing the same

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008038814A1 (en) * 2006-09-26 2008-04-03 Sumitomo Chemical Company, Limited Polymeric adsorption films and processes for producing these
JP2008109108A (en) * 2006-09-26 2008-05-08 Sumitomo Chemical Co Ltd Polymeric adsorption film and method of manufacturing the same

Also Published As

Publication number Publication date
JP5550088B2 (en) 2014-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5867489B2 (en) Polymer material and element using the same
TWI280973B (en) Polymer compound and polymer light-emitting device using the same
JP4788334B2 (en) Polymer compound and device using the same
KR101294988B1 (en) Polymeric material and element employing the same
KR101235971B1 (en) Polymer compound and polymer light-emitting device using same
JP2010031246A (en) Composition, and light-emitting element using the same
JP4168737B2 (en) Copolymer, polymer composition and polymer light emitting device
JP5927903B2 (en) Polymer compound and organic EL device using the same
TW201241035A (en) Polymer compound containing carbon cluster structure and organic device using same
WO2004005379A1 (en) Polymer thin film and polymer thin film device using same
JP2009149846A (en) Composition containing amine compound and acceptor compound
WO2005026289A1 (en) Luminescent material and luminescent element comprising the same
KR101278894B1 (en) Block copolymer and polymeric luminescent element
US20100133476A1 (en) Polymeric adsorption films and processes for producing these
DE112006003570T5 (en) block copolymer
JP2003147347A (en) Polymer phosphor and polymeric luminescent element made by using it
JP5550088B2 (en) Laminated structure and manufacturing method thereof
JP2007162008A (en) Polymer compound and polymer light-emitting device
WO2008016090A1 (en) Method for producing polymer compound
JP2008109108A (en) Polymeric adsorption film and method of manufacturing the same
WO2019235857A1 (en) Compound for organic optoelectronic element, composition for organic optoelectronic element, organic optoelectronic element, and display device
JP5513039B2 (en) electrode
JP4488680B2 (en) Charge transporting polymer compound
JP5405797B2 (en) Method for producing polymer compound
CN113372536A (en) Triarylamine polymer, preparation method and application thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120203

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20120203

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130228

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130402

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140204

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140319

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20140408

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140430

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20140509

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140515

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5550088

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees