JP2010211327A - 画像解析装置、画像解析方法、撮像装置、画像解析プログラムおよび記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】タッチ位置検出装置1は、光センサ12によって撮像した撮像画像を解析した結果に基づいて、例えば日光などの外光の影響で指示物体の位置を判定することが困難な状況であることを検出すると、その旨をユーザに報知する光センサ内蔵LCD11を備えている。ユーザは使用場所を変えたり、周囲の光環境を変更することで対処が可能となる。
【選択図】図1
Description
図1は、本実施形態のタッチ位置検出装置1の構成を示すブロック図である。図1に示すように、タッチ位置検出装置(画像解析装置、撮像装置)1は、タッチパネル部(撮像部、報知部)10、主制御部(画像解析装置)9および記憶部40を備えている。タッチ位置検出装置1は、タッチパネル部10の撮像画面に接触した指示物体(撮像対象)を、タッチパネル部10が備える光センサ(撮像素子、撮像装置)12によって撮像した撮像画像を解析することにより、当該撮像画像における、上記指示物体の像の位置を判定する。
次に、タッチパネル部10の構成を説明する。タッチパネル部10は、撮像素子としての光センサ12を内蔵した光センサ内蔵LCD(液晶パネル/ディスプレイ)11、およびAD(analog/digital)コンバータ13を備えている。また、図2に示すように、タッチパネル部10は、バックライト15を備えている。
次に、主制御部9の構成を説明する。主制御部9は、画像調整部2、画素数算出部(画素数算出手段)3、画素数判定部(画素数判定手段)4、特徴量抽出部5およびタッチ位置判定部6、タッチパネル制御部7、およびアプリケーション実行部8を備えている。
次に、図3〜5を参照しつつ、画素数算出部3および画素数判定部4における処理について詳細に説明する。
(反射光認識モード)
まず、反射光認識モードにおける画素数算出部3の処理について、図3を参照しつつ詳細に説明する。
(影認識モード)
(第1の例)
次に、影認識モードにおける画素数算出部3および画素数判定部4の処理の第1の例について図4を参照しつつ詳細に説明する。
(第2の例)
次に、影認識モードにおける画素数算出部3および画素数判定部4の処理の第2の例について図5を参照しつつ詳細に説明する。
(指およびタッチペンの検出困難状態を同時に判定する例)
上述の説明では、撮像対象(指示物体)が指であるという前提で説明しており、上記明るさ閾値は指の位置を判定するためのものである。ここでは、撮像対象が指であってもタッチペンであっても適用できる明るさ閾値を用いる例について説明する。なお、タッチペンとは、ペン先にバックライト光を反射するような部材を設けたペンである。タッチペンの触れた位置の検出は、ペン先でバックライトを反射した光を撮像することによって行う。
次に、メッセージの表示例を、図7を参照しつつ説明する。図7は、指の位置が正確に検出できないことを報知するためのメッセージおよびアイコンの一例を示す図である。
次に、図8を参照しつつタッチ位置検出装置1における処理の流れの一例について説明する。図8は、タッチ位置検出装置1におけるタッチ位置検出処理の流れの一例を示すフローチャートである。
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
3 画素数算出部(画素数算出手段)
4 画素数判定部(画素数判定手段)
9 主制御部(画像解析装置)
10 タッチパネル部(撮像部)
11 センサ内蔵LCD(撮像画面、報知部)
12 光センサ
50 指(撮像対象)
Claims (10)
- 撮像画面に接触した撮像対象を撮像した撮像画像を解析することにより、当該撮像画像における、上記撮像対象の像の位置を判定する画像解析装置であって、
上記撮像画像を解析した結果に基づいて、上記位置を判定することが困難である旨を報知する報知部を備えることを特徴とする画像解析装置。 - 上記撮像画像において所定の画素値の範囲から外れた画素値を有する画素の数を算出する画素数算出手段と、
上記画素数算出手段が算出した画素数が所定の画素数を超えているかどうかを判定する画素数判定手段とをさらに備え、
上記報知部は、上記画素数が上記所定の画素数を超えていると上記画素数判定手段が判定した場合に、上記位置を判定することが困難である旨を報知することを特徴とする請求項1に記載の画像解析装置。 - 上記撮像画像は、上記撮像対象に対して出射された光が当該撮像対象に反射した光の像を含むものであり、
上記画素数算出手段は、上記撮像画像において所定の閾値よりも大きい画素値を有する画素の数を算出し、
上記所定の閾値は、上記撮像画像が、上記位置を適切に判定できる光環境において撮像されたと見なすことができる画素の画素値の範囲の上限値であることを特徴とする請求項1または2に記載の画像解析装置。 - 上記撮像画像は、上記撮像画面に入射する外光が上記撮像対象によって遮られることによって生じる影を含むものであり、
上記画素数算出手段は、上記撮像画像において第1の閾値よりも小さい画素値を有する画素の数を算出し、
上記第1の閾値は、上記撮像画像が、上記位置を適切に判定できる光環境において撮像されたと見なすことができる画素値の範囲の下限値であることを特徴とする請求項1または2に記載の画像解析装置。 - 上記画素数算出手段は、上記撮像画像において上記第1の閾値よりも小さく第2の閾値よりも大きい画素値を有する画素の数を算出し、
上記第2の閾値は、上記撮像画像に含まれる撮像対象の像が1つの場合のみ上記位置を適切に判定できる光環境において当該撮像画像が撮像されたと見なすことができる画素値の範囲の下限値であることを特徴とする請求項4に記載の画像解析装置。 - 上記画素数算出手段は、上記撮像対象の種類に対応した上記閾値を用いて画素の数の算出を行うことを特徴とする請求項3〜5のいずれか1項に記載の画像解析装置。
- 請求項2〜6のいずれか1項に記載の画像解析装置を動作させるための画像解析プログラムであって、コンピュータを上記各手段として機能させるための画像解析プログラム。
- 請求項7に記載の画像解析プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
- 撮像画面に接触した撮像対象を撮像した撮像画像を解析することにより、当該撮像画像における、上記撮像対象の像の位置を判定する画像解析装置における画像解析方法であって、
上記撮像画像を解析した結果に基づいて、上記位置を判定することが困難である旨を報知する報知工程を含むことを特徴とする画像解析方法。 - 請求項1〜6のいずれか1項に記載の画像解析装置を備える撮像装置であって、
上記撮像画像を撮像する撮像部を備え、
上記画像解析装置は、上記撮像部が撮像した撮像画像を解析することを特徴とする撮像装置。
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