JP2010117245A - Mass spectrometry - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide mass spectrometry capable of performing high-sensitive mass spectrometry of substances of high molecular weight. <P>SOLUTION: The mass spectrometry is performed using a transparent substrate as a substrate 1, preparing a matrix mixture sample with a matrix agent M mixed, as a sample S, supplying the sample S to the front surface 1a of the substrate 1, generating evanescent light Le on the front surface 1a of the substrate 1 by making exciting light Lo incident on the substrate 1 from the back surface 1b of the substrate 1 in such a manner that the exciting light Lo is totally reflected by the front surface 1a of the substrate 1, separating an analysis target substance A from the substrate 1 by irradiation with the evanescent light Le, ionizing the analysis target substance A, and capturing the ionized analysis target substance A. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、基板表面に接触された試料を、該基板表面から脱離させ、イオン化した、試料中の被分析物質を捕捉して質量分析する質量分析方法に関するものである。   The present invention relates to a mass spectrometry method in which a sample in contact with a substrate surface is desorbed from the substrate surface and ionized, and an analyte in the sample is captured and mass analyzed.

物質の同定等に用いられる分析法において、基板の表面に付着した被分析物質を基板表面から脱離させ、イオン化させてその物質の質量と荷電の比によって物質を同定する、質量分析方法が知られている。例えば、飛行時間型質量分析法(Time of Flight Mass Spectroscopy : TOF-MS)は、イオン化した被分析物質を高電圧電極間で所定距離飛行させて、その飛行時間により物質の質量を分析するものである。   In analysis methods used for material identification, etc., a mass spectrometry method is known in which a substance to be analyzed attached to the surface of a substrate is desorbed from the substrate surface, ionized, and the substance is identified by the ratio of the mass and charge of the substance. It has been. For example, Time of Flight Mass Spectroscopy (TOF-MS) is a method in which an ionized analyte is made to fly a predetermined distance between high-voltage electrodes and the mass of the substance is analyzed based on the time of flight. is there.

このような質量分析法における被分析物質の脱離、イオン化の一つとして、レーザ照射を用いたレーザ脱離イオン化法がある。レーザ光を用いたイオン化法では、微小量の試料での分析が可能である一方、高いパワーのレーザ光を必要とする。高いパワーのレーザ光を用いた場合、被分析物質が損傷する(フラグメント化や変性などを生じる)恐れがあり、特に、高分子量の物質脱離、イオン化が困難であった。これを解決する手段として、マトリクス支援レーザ脱離イオン化法(MALDI)が提案され、広く知られている。   As one of the desorption and ionization of the analyte in such mass spectrometry, there is a laser desorption ionization method using laser irradiation. In the ionization method using laser light, analysis with a very small amount of sample is possible, but high-power laser light is required. When a high-power laser beam is used, the analyte may be damaged (fragmentation or denaturation occurs), and in particular, desorption and ionization of high molecular weight substances are difficult. As means for solving this problem, matrix-assisted laser desorption / ionization (MALDI) has been proposed and widely known.

MALDI法は、被分析物質を含む試料をマトリクス剤と呼ばれるシナピン酸やグリセリン等に混入したマトリクス混合試料を用い、マトリクス剤が吸収した光エネルギーを利用して被分析物質をマトリクス剤と共に気化させるとともに、被分析物質をイオン化させる方法である。MALDI法は、被分析物質に対しフラグメント化や変性等の化学的な影響の少ないソフトイオン化法として、難揮発性の物質や生体分子、合成高分子等の高分子量の物質の質量分析に幅広く用いられている(特許文献1など)。   The MALDI method uses a matrix mixed sample in which a sample containing an analyte is mixed with sinapinic acid or glycerin, which is called a matrix agent, and vaporizes the analyte together with the matrix agent using light energy absorbed by the matrix agent. This is a method of ionizing an analyte. The MALDI method is widely used for mass spectrometry of non-volatile substances, biomolecules, and high molecular weight substances such as synthetic polymers as a soft ionization method with little chemical influence on the analyte, such as fragmentation and denaturation. (Patent Document 1, etc.).

一方で、MALDI法では、試料中にマトリクスと被分析物質が混晶状態を作るために試料中の被分析物質の存在比率が場所によって変化してしまうこと、試料表面が粗く、光侵入長が定義できないなどの理由から、被分析物質を定量することが難しい。   On the other hand, in the MALDI method, since the matrix and the analyte in the sample form a mixed crystal state, the existence ratio of the analyte in the sample changes depending on the location, the sample surface is rough, and the light penetration length is It is difficult to quantify the analyte because it cannot be defined.

定量性を議論するためには、マトリクス剤を用いない試料の脱離、イオン化を図る方法として、基板裏面に配置されたプリズムから、レーザ光を入射させ、基板表面内側で全反射させることにより生じるエバネッセント光を用いる方法および装置が特許文献2において提案されている。
特開平9−320515号公報 特開2007−225395号公報
In order to discuss the quantitativeness, a method of desorbing and ionizing a sample that does not use a matrix agent is caused by making a laser beam incident from a prism arranged on the back surface of the substrate and totally reflecting it inside the substrate surface. A method and apparatus using evanescent light is proposed in Patent Document 2.
JP 9-320515 A JP 2007-225395 A

既述の通り、レーザ光等の照射光を試料に直接照射することにより、試料の脱離、イオン化を図る場合、被分析物質のフラグメント化および変性が生じるという問題がある。   As described above, when the sample is directly irradiated with irradiation light such as a laser beam to desorb and ionize the sample, there is a problem that the analyte is fragmented and denatured.

図5はMALDI法による試料の基板51からの脱離、イオン化を模式的に示す図である。図5に示すように、MALDI法によれば、被分析物質Aがマトリクス剤Mと混合されており、レーザ光Lの直接照射の影響を一部和らげることはできるが、レーザ光Lはマトリクス剤Mだけでなく、同時に被分析物質Aにも照射されるため、被分析物質Aへのレーザ光直接照射によるダメージ抑制は未だ十分とは言えず、被分析物質Aの一部は、フラグメント化、変性等を生じた状態(図中符号aで示す。)で脱離、イオン化される。   FIG. 5 is a diagram schematically showing desorption and ionization of the sample from the substrate 51 by the MALDI method. As shown in FIG. 5, according to the MALDI method, the substance A to be analyzed is mixed with the matrix agent M, and the influence of the direct irradiation of the laser beam L can be partially mitigated. Since not only M but also the analyte A is irradiated at the same time, it cannot be said that the damage suppression by direct irradiation of the analyte A with the laser beam is still sufficient, and a part of the analyte A is fragmented, Desorption and ionization are performed in a state in which denaturation or the like has occurred (indicated by symbol a in the figure).

図6は、特許文献2に開示されている、エバネッセント光を用いて試料の脱離、イオン化をさせる形態を模式的に示す図である。図6に示すように、プリズム61の一面(試料面)61aに付着させた試料に対し、レーザ光Lをプリズム61の他の一面61bから、試料面61aで全反射するように入射させ、試料面61a上にエバネッセント光Leを生じさせ、このエバネッセント光Leの照射により被分析物質Aを脱離させ、イオン化させる。この方法によれば、レーザ光を直接照射する場合と比較して、被分析物質Aのフラグメント化および変性は抑制できると考えられる。しかしながら、特許文献2のように定量分析を前提とし、マトリクス剤を用いない分析方法においては、エバネッセント光Leが直接被分析物質Aに照射されることとなるために、やはり被分析物質Aの一部は、フラグメント化、変性等を生じた状態(図中aで示す。)で脱離、イオン化され、光の直接照射による被分析物質の損傷についての問題は未だ残されている。   FIG. 6 is a diagram schematically showing a form of desorption and ionization of a sample using evanescent light, which is disclosed in Patent Document 2. As shown in FIG. 6, the laser beam L is incident on the sample attached to one surface (sample surface) 61a of the prism 61 so as to be totally reflected by the sample surface 61a from the other surface 61b of the prism 61. Evanescent light Le is generated on the surface 61a, and the analyte A is desorbed and ionized by irradiation with the evanescent light Le. According to this method, it is considered that fragmentation and denaturation of the analyte A can be suppressed as compared with the case of direct irradiation with laser light. However, in the analysis method that presupposes quantitative analysis as in Patent Document 2 and does not use a matrix agent, the evanescent light Le is directly irradiated to the analyte A, and therefore, one of the analytes A is also used. The part is desorbed and ionized in a state in which fragmentation, denaturation, etc. have occurred (indicated by a in the figure), and the problem of damage to the analyte due to direct irradiation of light still remains.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、被分析物質への照射光による損傷を従来以上に抑制し、高分子量の物質の質量分析が可能な質量分析方法を提供することを目的とするものである。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a mass spectrometry method capable of suppressing the damage to the analyte by irradiation light more than before and capable of mass spectrometry of a high molecular weight substance. It is what.

本発明の質量分析方法は、質量分析用基板の表面に供給され、該基板に付着した試料に光を照射することにより、該試料中の被分析物質を前記基板から脱離させ、イオン化し、該イオン化した前記被分析物質を捕捉して質量分析を行う質量分析方法において、
前記基板として、透明基板を用い、
前記試料として、マトリクス剤が混合されたマトリクス混合試料を用意し、
前記試料を前記基板の表面に供給し、
前記基板の裏面側から、該基板の表面で全反射するように、該基板に励起光を入射させることにより、該基板の表面にエバネッセント光を生じさせ、
該エバネッセント光の照射により、前記被分析物質を前記基板から脱離させることを特徴とする。
In the mass spectrometry method of the present invention, the analyte in the sample is desorbed from the substrate by being irradiated with light, which is supplied to the surface of the substrate for mass spectrometry and attached to the substrate, and is ionized. In a mass spectrometry method for capturing the ionized analyte and performing mass spectrometry,
As the substrate, a transparent substrate is used,
As the sample, a matrix mixed sample mixed with a matrix agent is prepared,
Supplying the sample to the surface of the substrate;
By causing excitation light to enter the substrate so as to be totally reflected from the back surface side of the substrate, the evanescent light is generated on the surface of the substrate,
The analyte is desorbed from the substrate by irradiation with the evanescent light.

前記基板として、該基板の表面に、光吸収材料、電場増強材料および/または脱離促進剤を備えた基板を用いることが望ましい。特に、前記脱離促進剤としては、ニトロ化合物を用いることが望ましい。ニトロ化合物としては、例えば、ニトロセルロース、トリニトロトルエン(TNT)、ジニトロトルエン(DNT)、ニトロナフタレン、硝酸エステル、アルキルニトラトエチルニトラミン、ニトログアニジン、ヘキソゲン、3−ニトロ−1,2,4−トリアゾール−5−オンおよびヘキサニトロヘキサアザイソウルチタンなどが挙げられる。   As the substrate, it is desirable to use a substrate having a light absorbing material, an electric field enhancing material and / or a desorption promoter on the surface of the substrate. In particular, it is desirable to use a nitro compound as the elimination accelerator. Examples of the nitro compound include nitrocellulose, trinitrotoluene (TNT), dinitrotoluene (DNT), nitronaphthalene, nitrate ester, alkylnitratoethylnitramine, nitroguanidine, hexogen, 3-nitro-1,2,4- Examples include triazol-5-one and hexanitrohexazayl soul titanium.

本発明の質量分析方法は、試料として、マトリクス剤混合試料を用いており、かつ、励起光の全反射に伴い生じるエバネッセント光により被分析物質の脱離、イオン化を行うものである。かかる構成により、レーザ光を直接、マトリクス剤混合試料に照射する場合と比較して、試料への光照射によるダメージ(被分析物質の損傷、フラグメント化など)を抑制することができ、マトリクス剤を用いずエバネッセント光を被分析物質に照射する場合と比較しても、光によるダメージをよりよく抑制することができる。本発明の質量分析方法によれば、試料への光によるダメージを従来よりも効果的に抑制することができるため、従来と比較して精度の高い測定が可能となると共に、光によるダメージが大きい分子量の大きな被測定物質の測定が可能となる。   The mass spectrometric method of the present invention uses a matrix agent mixed sample as a sample, and desorbs and ionizes an analyte by evanescent light generated by total reflection of excitation light. Such a configuration can suppress damage (damage of the analyte, fragmentation, etc.) due to light irradiation to the sample as compared with the case of directly irradiating the matrix agent mixed sample with laser light. Compared with the case where the analyte is irradiated with evanescent light without using it, damage due to light can be suppressed more effectively. According to the mass spectrometric method of the present invention, damage to the sample due to light can be suppressed more effectively than before, so that measurement with higher accuracy than before can be performed and damage due to light is large. Measurement of a substance to be measured having a large molecular weight becomes possible.

以下、図面を参照して本発明の実施形態の質量分析方法について説明する。   Hereinafter, a mass spectrometry method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

まず、図1を参照して、質量分析方法を実施するための質量分析装置の一実施形態について説明する。本実施形態の質量分析装置は飛行時間型質量分析装置(TOF−MS)である。図1は本実施形態の質量分析装置10の構成を示す概略図である。   First, an embodiment of a mass spectrometer for carrying out a mass spectrometry method will be described with reference to FIG. The mass spectrometer of this embodiment is a time-of-flight mass spectrometer (TOF-MS). FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a mass spectrometer 10 of the present embodiment.

図示されるように、質量分析装置10は、真空に保たれたボックス11内に、質量分析用基板1の裏面1b側から、該基板1の表面1aで全反射するように、該基板1に励起光Loを入射させることにより、該基板1の表面1aにエバネッセント光Leを生じさせるためのプリズム21および光源22からなる励起光照射手段20と、エバネッセント光Leの照射により基板1から脱離した被分析物質Aを検出して被分析物質Aの質量を分析する分析手段14とを備え、質量分析用基板1と分析手段14との間に、基板1の表面1aに対向する位置に配された引き出しグリッド15と、引き出しグリッド15の質量分析用基板1側の面と反対側の面に対向して配されたエンドプレート16を備えた構成としている。   As shown in the figure, the mass spectrometer 10 is applied to the substrate 1 so that it is totally reflected by the surface 1a of the substrate 1 from the back surface 1b side of the substrate 1 for mass analysis in the box 11 kept in a vacuum. By making the excitation light Lo incident, the excitation light irradiation means 20 including the prism 21 and the light source 22 for generating the evanescent light Le on the surface 1a of the substrate 1, and the substrate 1 is detached from the substrate 1 by the irradiation of the evanescent light Le. An analysis means for detecting the analyte A and analyzing the mass of the analyte A, and disposed between the mass analysis substrate 1 and the analysis means 14 at a position facing the surface 1a of the substrate 1; The lead grid 15 and the end plate 16 disposed to face the surface of the lead grid 15 opposite to the surface on the mass analysis substrate 1 side are provided.

質量分析用基板1は透光部材から構成されており、測定対象となる試料Sが表面1aに供給され、該表面1aに試料Sが付着した状態で、プリズム21の一面21a上に載置されるものである。   The substrate 1 for mass spectrometry is composed of a translucent member, and the sample S to be measured is supplied to the surface 1a, and is placed on the one surface 21a of the prism 21 with the sample S attached to the surface 1a. Is.

励起光照射手段20において、プリズム21は、基板1と試料Sとの界面1aで励起光Loを全反射させるように基板1内に励起光Loを入射させるための導光部材であり、光源22は、プリズム21の他の一面21bから基板1の表面1a(基板と試料との界面)で励起光Loであるレーザ光が全反射するように配置構成されている。光源22としては、例えば、波長337nm、パルス幅50ps〜50ns程度のパルスレーザ光源を用いる。光源22とプリズム21との間には、必要に応じて、光源22から出射される励起光Loを導光するミラー、レンズなどの導光系を備えていてもよい。プリズム21上には、屈折率マッチングオイルが塗布されており、プリズム21と基板1とは、屈折率マッチングオイルを介して接触される。なお、プリズム21と基板1とが一体的に形成されたセンサチップとして質量分析装置に挿入出されるように構成されていてもよい。   In the excitation light irradiation means 20, the prism 21 is a light guide member for causing the excitation light Lo to enter the substrate 1 so as to totally reflect the excitation light Lo at the interface 1 a between the substrate 1 and the sample S, and a light source 22. Is arranged and configured so that the laser light as the excitation light Lo is totally reflected from the other surface 21b of the prism 21 at the surface 1a of the substrate 1 (interface between the substrate and the sample). As the light source 22, for example, a pulse laser light source having a wavelength of 337 nm and a pulse width of about 50 ps to 50 ns is used. A light guide system such as a mirror or a lens for guiding the excitation light Lo emitted from the light source 22 may be provided between the light source 22 and the prism 21 as necessary. Refractive index matching oil is applied on the prism 21, and the prism 21 and the substrate 1 are in contact with each other through the refractive index matching oil. The prism 21 and the substrate 1 may be configured to be inserted into and removed from the mass spectrometer as a sensor chip formed integrally.

分析手段14は、エバネッセント光Leの照射により質量分析用基板1の表面1aから脱離され、引き出しグリッド15およびエンドプレート16の中央の孔を通過して飛行してきた被分析物質Aを検出する検出器17と、検出器17の出力を増幅させるアンプ18と、アンプ18からの出力信号を処理するデータ処理部19により概略構成されている。   The analysis means 14 detects the analyte A that has been desorbed from the surface 1a of the mass analysis substrate 1 by irradiation with the evanescent light Le, and has flown through the central holes of the extraction grid 15 and the end plate 16. And a data processor 19 for processing an output signal from the amplifier 18. The amplifier 17 amplifies the output of the detector 17.

以下に上記構成の質量分析装置10を用いた、本発明の実施形態にかかる質量分析方法について説明する。   A mass spectrometry method according to an embodiment of the present invention using the mass spectrometer 10 having the above configuration will be described below.

まず、試料Sとして、被分析物質Aを含む試料とマトリクス剤Mとの混合試料を用意する。マトリクス剤Mとしては、従来のMALDI法で用いられている既知のマトリクス剤を用いることができる。具体的には、ニコチン酸、ピコリン酸、3-ヒドロキシピコリン酸、3-アミノピコリン酸、2,5-ジヒドロキシ安息香酸、α-シアノ-4-ヒドロキシ桂皮酸、シナピン酸、2-(4-ヒドロキシフェニルアゾ)安息香酸、2-メルカプトベンゾチアゾール、5-クロロ-2-メルカプトベンゾチアゾール、2,6-ジヒドロキシアセトフェノン、2,4,6-トリヒドロキシアセトフェノン、ジスラノール、ベンゾ[a]ピレン、9-ニトロアントラセン、2-[(2E)-3-(4-tret-ブチルフェニル)-2-メチルプロプ-2-エニリデン]マロノ二トリルなどをマトリクス剤Mとして用いることができる。   First, as the sample S, a mixed sample of the sample containing the analyte A and the matrix agent M is prepared. As the matrix agent M, a known matrix agent used in the conventional MALDI method can be used. Specifically, nicotinic acid, picolinic acid, 3-hydroxypicolinic acid, 3-aminopicolinic acid, 2,5-dihydroxybenzoic acid, α-cyano-4-hydroxycinnamic acid, sinapinic acid, 2- (4-hydroxy Phenylazo) benzoic acid, 2-mercaptobenzothiazole, 5-chloro-2-mercaptobenzothiazole, 2,6-dihydroxyacetophenone, 2,4,6-trihydroxyacetophenone, disranol, benzo [a] pyrene, 9-nitro Anthracene, 2-[(2E) -3- (4-tret-butylphenyl) -2-methylprop-2-enylidene] malononitryl and the like can be used as the matrix agent M.

試料Sが表面1aに供給された基板1を装置10のプリズム21の一面21a上に載置する。その後、質量分析用基板1に電圧Vsが印加され、所定のスタート信号により光源22から特定波長のレーザ光である励起光Loが出力され、プリズム21を介して質量分析用基板1の裏面1bから入射される。励起光Loは基板1の表面1a(基板と試料Sとの界面)に全反射以上の角度で入射し、該表面1aで全反射する。これにより、基板1の表面1a上にエバネッセント光Leが生じ、試料Sに照射される。試料S内のマトリクス剤Mがエバネッセント光Leの光エネルギーを吸収して熱エネルギーに変換し、この熱エネルギーにより、被分析物質Aはマトリクス剤Mと共に気化され、基板表面1aから脱離され、同時にイオン化される。   The substrate 1 on which the sample S is supplied to the front surface 1 a is placed on the one surface 21 a of the prism 21 of the apparatus 10. Thereafter, a voltage Vs is applied to the mass analysis substrate 1, and excitation light Lo that is laser light of a specific wavelength is output from the light source 22 by a predetermined start signal, and from the back surface 1 b of the mass analysis substrate 1 through the prism 21. Incident. The excitation light Lo is incident on the surface 1a of the substrate 1 (interface between the substrate and the sample S) at an angle greater than or equal to total reflection, and is totally reflected on the surface 1a. As a result, evanescent light Le is generated on the surface 1a of the substrate 1, and the sample S is irradiated with the evanescent light Le. The matrix agent M in the sample S absorbs the light energy of the evanescent light Le and converts it into thermal energy. By this thermal energy, the analyte A is vaporized together with the matrix agent M, desorbed from the substrate surface 1a, and at the same time. Ionized.

脱離され、イオン化された被分析物質Aは、質量分析用基板1と引き出しグリッド15との電位差Vsにより引き出しグリッド15の方向に引き出されて加速し、中央の孔を通ってエンドプレート16の方向にほぼ直進して飛行し、更にエンドプレート16の孔を通過して検出器17に到達して検出される。   The desorbed and ionized analyte A is extracted and accelerated in the direction of the extraction grid 15 by the potential difference Vs between the mass spectrometry substrate 1 and the extraction grid 15, and passes through the central hole in the direction of the end plate 16. The air travels almost straight and then passes through the hole of the end plate 16 and reaches the detector 17 to be detected.

検出器17からの出力信号は、アンプ18により所定レベルに増幅され、その後データ処理部19に入力される。データ処理部19では、上記スタート信号と同期する同期信号が入力されており、この同期信号とアンプ18からの出力信号とに基づいて被分析物質Aの飛行時間を求めることができるので、その飛行時間から質量を導出して質量スペクトルを得ることができる。   The output signal from the detector 17 is amplified to a predetermined level by the amplifier 18 and then input to the data processing unit 19. In the data processing unit 19, a synchronization signal synchronized with the start signal is input, and the flight time of the analyte A can be obtained based on the synchronization signal and the output signal from the amplifier 18. A mass spectrum can be obtained by deriving mass from time.

本実施形態では、ボックス11内に、すべてが備えられた構成について説明したが、少なくとも、引き出しグリッド15、エンドプレート16および検出器17がボックス11内に配置されていれば、他はボックス外に配置されていてもよい。   In the present embodiment, the configuration in which everything is provided in the box 11 has been described. However, at least if the drawer grid 15, the end plate 16, and the detector 17 are arranged in the box 11, the others are outside the box. It may be arranged.

本実施形態では、質量分析装置10がTOF−MSである場合を例に説明したが、イオン化された試料イオンの質量分析を行う装置としては、TOF型のものに限らず、IT(Ion Trap;イオントラップ型)、FT(ICR)(Fourier-Transform Ion Cyclotron Resonance;フーリエ変換型)、また複数の質量分析手法を組み合わせた手法であるQqTOF(Quadrupole-TOF;四重極-TOF型)、TOF−TOF(TOF連結型)などの質量分析装置を用いることができる。   In the present embodiment, the case where the mass spectrometer 10 is TOF-MS has been described as an example. However, the apparatus for performing mass analysis of ionized sample ions is not limited to the TOF type, but IT (Ion Trap; Ion trap type), FT (ICR) (Fourier-Transform Ion Cyclotron Resonance; Fourier transform type), and QqTOF (Quadrupole-TOF; Quadrupole-TOF type), TOF- A mass spectrometer such as TOF (TOF connection type) can be used.

また、本発明の質量分析法としては、上記実施形態において用いた質量分析用基板に代えて、図2〜4に示す質量分析用基板2〜4を用いてもよい。図2〜4は、本発明の質量分析方法に適用可能な、他の質量分析用基板を用いた場合の被分析物質の脱離方法を示す模式図である。   Moreover, as mass spectrometry of this invention, it may replace with the substrate for mass spectrometry used in the said embodiment, and may use the substrates for mass spectrometry 2-4 shown in FIGS. 2 to 4 are schematic diagrams showing a method for desorbing an analyte when another mass analysis substrate is used, which is applicable to the mass spectrometry method of the present invention.

図2に示す質量分析用基板2は、透明基板31の表面に、電場増強材料である金属薄膜32を備えたものである。金属薄膜32の材料としては、自由電子を有する任意の金属でよく、Au,Ag,Cu,Pt,Ni,Ti等が挙げられ、電場増強効果の高いAu,Ag等が特に好ましい。測定される試料Sは金属薄膜32上に供給される。図2に示す質量分析用基板2を用いる場合には、励起光Loとして、金属薄膜32に表面プラズモンが生じる特定の角度でp偏光として入射させる。このような質量分析用基板2を用いれば、励起光Loの照射により表面プラズモンSPが発生し、これに伴い基板2表面上の電場が増強されることから、光エネルギーが増強されてこれを吸収して熱変換するマトリクス剤の作用も増強されるため、被分析物質Aの脱離、イオン化を効果的に行うことができる。   The mass spectrometric substrate 2 shown in FIG. 2 includes a metal thin film 32 that is an electric field enhancing material on the surface of a transparent substrate 31. The material of the metal thin film 32 may be any metal having free electrons, and examples thereof include Au, Ag, Cu, Pt, Ni, and Ti. Au, Ag, and the like having a high electric field enhancing effect are particularly preferable. A sample S to be measured is supplied onto the metal thin film 32. When the mass spectrometry substrate 2 shown in FIG. 2 is used, the excitation light Lo is incident as p-polarized light at a specific angle at which surface plasmons are generated on the metal thin film 32. If such a substrate for mass spectrometry 2 is used, surface plasmon SP is generated by the irradiation of the excitation light Lo, and the electric field on the surface of the substrate 2 is enhanced accordingly, so that the light energy is enhanced and absorbed. Since the action of the matrix agent that converts heat is also enhanced, the analyte A can be effectively desorbed and ionized.

なお、電場増強材料としては、光の照射により局在プラズモンを生じる金属ナノ構造体を備えていてもよい。このような金属ナノ構造体として、金属メッシュ、金属ナノ粒子、金属ナノロッドなどが透明基板31上に固着された質量分析用基板も、基板表面上の電場増強効果を得ることができ好ましい。メッシュ、粒子、ロッドの配列はランダムなものであっても、規則的なものであってもよいが、配列ピッチは、励起光Loの波長より小さいことが好ましい。これらの金属材料としても、自由電子を有する任意の金属でよく、Au,Ag,Cu,Pt,Ni,Ti等が挙げられ、電場増強効果の高いAu,Ag等が特に好ましい。   Note that the electric field enhancing material may include a metal nanostructure that generates localized plasmons when irradiated with light. As such a metal nanostructure, a substrate for mass spectrometry in which a metal mesh, metal nanoparticles, metal nanorods and the like are fixed on the transparent substrate 31 is also preferable because an electric field enhancing effect on the substrate surface can be obtained. The arrangement of the meshes, particles, and rods may be random or regular, but the arrangement pitch is preferably smaller than the wavelength of the excitation light Lo. These metal materials may be any metal having free electrons, and examples thereof include Au, Ag, Cu, Pt, Ni, and Ti. Au, Ag, and the like that have a high electric field enhancing effect are particularly preferable.

図3に示す質量分析用基板3は、透明基板33の表面に脱離促進剤34が塗布されてなるものである。脱離促進剤34は、エバネッセント光Leの照射により、爆発を生じてその上に付着している試料Sの脱離を補助する(促進させる)ものであればよく、具体的には、ニトロセルロース、トリニトロトルエン(TNT)、ジニトロトルエン(DNT)、ニトロナフタレン、硝酸エステル、アルキルニトラトエチルニトラミン、ニトログアニジン、ヘキソゲン、3−ニトロ−1,2,4−トリアゾール−5−オンおよびヘキサニトロヘキサアザイソウルチタンなどのニトロ化合物が挙げられる。試料S内のマトリクス剤Mがエバネッセント光Leの光エネルギーを吸収して熱エネルギーに変換し、この熱エネルギーにより、被分析物質Aはマトリクス剤Mと共に気化され、基板表面1aから脱離される際に、同時にバネッセント光の発生により、脱離促進剤34が爆発し、被分析物質の脱離を促進することができる。   The mass spectrometric substrate 3 shown in FIG. 3 is obtained by applying a desorption accelerator 34 to the surface of a transparent substrate 33. The desorption accelerator 34 may be any agent that assists (promotes) the desorption of the sample S adhering to the explosion caused by the irradiation with the evanescent light Le, and specifically, nitrocellulose. , Trinitrotoluene (TNT), dinitrotoluene (DNT), nitronaphthalene, nitrate ester, alkylnitratoethylnitramine, nitroguanidine, hexogen, 3-nitro-1,2,4-triazol-5-one and hexanitrohexa Nitro compounds such as Azai Soul Titanium. When the matrix agent M in the sample S absorbs the light energy of the evanescent light Le and converts it into thermal energy, the analyte A is vaporized together with the matrix agent M and desorbed from the substrate surface 1a by this thermal energy. At the same time, due to the generation of vanescent light, the desorption promoter 34 explodes, and the desorption of the analyte can be promoted.

図4に示す質量分析用基板4は、透明基板35の表面に光吸収と電場増強の性質を有する金ナノ粒子36が固着され、さらに脱離促進剤37が塗布されてなるものである。このような質量分析用基板4を用いれば、エバネッセント光により局在プラズモンが生じ、局在プラズモンの発生に伴い、基板表面上の電場が増強されることから、光エネルギーが増強されてこれを吸収して熱変換するマトリクス剤の作用も増強されるため、被分析物質Aの脱離、イオン化を効果的に行うことができると共に、エバネッセント光の照射により、脱離促進剤37の爆発が生じてその上に付着している試料の脱離をさらに促進することができる。なお、光吸収材料であれば、光熱変換に伴う熱により脱離促進剤の効果をより増強させることができる。
なお、光吸収材料としては、金ナノ粒子のほか、色素(あるいは、染料、顔料)、具体的には、カーボンブラック、アゾ染料、金属錯塩アゾ染料、ピラゾロンアゾ染料、アントラキノン染料、フタロシアニン染料、カルボニウム染料、キノンイミン染料、ポリメチン染料、シアニン染料、他の金属ナノ粒子などが挙げられ、他の電場増強材料と共に、あるいは単独で基板表面に塗布あるいは固着して用いてもよい。
The mass spectrometric substrate 4 shown in FIG. 4 is obtained by fixing gold nanoparticles 36 having light absorption and electric field enhancing properties to the surface of a transparent substrate 35 and further applying a desorption accelerator 37. When such a mass analysis substrate 4 is used, localized plasmons are generated by the evanescent light, and the electric field on the substrate surface is enhanced with the generation of localized plasmons, so that the optical energy is enhanced and absorbed. Since the action of the matrix agent that converts heat is also enhanced, the analyte A can be desorbed and ionized effectively, and the desorption promoter 37 is exploded by irradiation with the evanescent light. It is possible to further accelerate the detachment of the sample adhering thereto. In addition, if it is a light absorption material, the effect of a desorption promoter can be further strengthened with the heat | fever accompanying photothermal conversion.
In addition to gold nanoparticles, light absorbing materials include pigments (or dyes, pigments), specifically carbon black, azo dyes, metal complex azo dyes, pyrazolone azo dyes, anthraquinone dyes, phthalocyanine dyes, carbonium. Examples thereof include dyes, quinoneimine dyes, polymethine dyes, cyanine dyes, and other metal nanoparticles, which may be used together with other electric field enhancing materials or by being applied or fixed to the substrate surface alone.

本発明の質量分析方法によれば、マトリックス剤によるエバネッセント光の光エネルギーの吸収を利用して被分析物質の脱離、イオン化を行っているため、被分析物質の損傷(フラグメント化、変性など)が効果的に抑制され、被分析物質が難揮発性の物質や高分子量の物質であっても、被分析物質のフラグメント化や変性が従来と比較して抑制され、高感度に質量分析することができる。   According to the mass spectrometric method of the present invention, the analyte is desorbed and ionized using absorption of the light energy of the evanescent light by the matrix agent, so that the analyte is damaged (fragmentation, denaturation, etc.). Can be effectively suppressed, and even if the analyte is a hardly volatile substance or a high molecular weight substance, fragmentation or denaturation of the analyte is suppressed compared to the conventional method, and mass spectrometry is performed with high sensitivity. Can do.

ポリペプチドの一種であるアンジオテンシン(angiotensin)を被分析物質として、以下に示す実施例1、2および比較例1の方法で質量分析を行い、それぞれのマススペクトルを測定した。それぞれのマススペクトルを図7A,図8Aおよび図9に示す。なお、図7B,図8Bはそれぞれ図7A,図8Aの一部(図中点線で囲む部分)を拡大して示した図である。各図において、横軸はm/z値(ここで、mはイオンの質量を統一原子質量単位で割って得られた無次元量、zはイオン化された被分析物質の電荷の価数である。)、縦軸はイオン量を示す信号値(a.u.)である。このマススペクトルから、アンジオテンシンイオン(フラグメント化されていないイオン化被分析物質)信号の強度(m/z≒1294.5における信号強度)を求め、その強度および割合を比較した。
実施例1、2および比較例1についてのいずれの例においても、被分析物質をマトリックス剤と混合させた混合試料を用意し、質量分析装置(BRUKER製 autoflex(TM) III MALDI-TOF-MS )を用いてマススペクトルを取得した。マトリックス剤としてはα-シアノ-4-ヒドロキシ桂皮酸を用いた。測定サンプルである被分析物質Angiotensin Iの濃度が1μMになるようにマトリックス剤と混合し、混合試料とした。
Mass spectrometry was performed by the methods of Examples 1 and 2 and Comparative Example 1 shown below using angiotensin, which is a type of polypeptide, as an analyte, and the respective mass spectra were measured. The respective mass spectra are shown in FIG. 7A, FIG. 8A and FIG. FIGS. 7B and 8B are enlarged views of parts (parts surrounded by a dotted line in the figure) of FIGS. 7A and 8A, respectively. In each figure, the horizontal axis is the m / z value (where m is the dimensionless quantity obtained by dividing the mass of the ion by the unit of unified atomic mass, z is the valence of the charge of the ionized analyte) The vertical axis represents the signal value (au) indicating the amount of ions. From this mass spectrum, the intensity (signal intensity at m / z≈1294.5) of angiotensin ion (non-fragmented ionized analyte) signal was determined, and the intensity and ratio were compared.
In each of Examples 1 and 2 and Comparative Example 1, a mixed sample in which an analyte is mixed with a matrix agent is prepared, and a mass spectrometer (autoflex (TM) III MALDI-TOF-MS manufactured by BRUKER) is prepared. A mass spectrum was obtained using. Α-Cyano-4-hydroxycinnamic acid was used as the matrix agent. It mixed with the matrix agent so that the density | concentration of the to-be-analyzed substance Angiotensin I which is a measurement sample might be set to 1 micromol, and it was set as the mixed sample.

(実施例1)図1に示すように、透明基板上にマトリックス混合試料を供給し、裏面側から励起光を全反射条件で入射させることにより、エバネッセント光を生じさせ、混合試料にエバネッセント光を照射した。
(実施例2)図3に示すように、脱離促進剤を塗布した透明基板上にマトリックス混合試料を供給し、実施例と同様にして混合試料にエバネッセント光を照射した。
(比較例)図5に示すように、基板上にマトリックス混合試料を供給し、混合試料に直接レーザ光を照射した。
(Embodiment 1) As shown in FIG. 1, a matrix mixed sample is supplied onto a transparent substrate, and excitation light is incident from the back side under total reflection conditions to generate evanescent light, and evanescent light is applied to the mixed sample. Irradiated.
Example 2 As shown in FIG. 3, a matrix mixed sample was supplied onto a transparent substrate coated with a desorption accelerator, and the mixed sample was irradiated with evanescent light in the same manner as in the example.
(Comparative example) As shown in FIG. 5, the matrix mixed sample was supplied on the board | substrate, and the laser beam was directly irradiated to the mixed sample.

比較例の場合、図9に示すように、アンジオテンシンイオン量が実施例1および実施例2と比較して極めて小さかった。これは試料のフラグメント化が実施例1および実施例2と比較して非常に多かったことに起因する。
図7Aおよび図8Aの横軸における領域Fはフラグメント化された成分による信号である。実施例1は比較例と比較するとアンジオテンシンイオン信号が倍増しており、フラグメント化が従来例よりも抑制されていると考えられる。実施例2は実施例1と比較してもアンジオテンシンイオン信号値が高く、フラグメント化も非常に効果的に抑制されていた。これは、脱離促進剤の付加により、フラグメント化を抑制することができることを示すものである。実施例1および2は直接レーザ光を照射する比較例と異なり、エバネセント光を照射光として用いているため、従来例と比較してフラグメント化が抑制され、さらに、実施例2は、脱離促進剤の付加により、エバネセント光のパワーも小さくすることができることからさらなるフラグメント化の抑制効果を得ることができたと考えられる。
In the case of the comparative example, as shown in FIG. 9, the amount of angiotensin ions was extremely small as compared with Example 1 and Example 2. This is due to the fact that the sample was much more fragmented compared to Example 1 and Example 2.
A region F on the horizontal axis in FIGS. 7A and 8A is a signal due to fragmented components. In Example 1, the angiotensin ion signal is doubled as compared with the comparative example, and fragmentation is considered to be suppressed as compared with the conventional example. Example 2 also had a high angiotensin ion signal value compared to Example 1, and fragmentation was very effectively suppressed. This indicates that fragmentation can be suppressed by adding a desorption accelerator. In the first and second embodiments, unlike the comparative example in which the laser beam is directly irradiated, since evanescent light is used as the irradiation light, fragmentation is suppressed as compared with the conventional example. By adding the agent, the power of the evanescent light can be reduced, so that it is considered that a further fragmentation suppressing effect could be obtained.

本発明に係る実施形態の質量分析方法を実施するための質量分析装置の概略構成図Schematic configuration diagram of a mass spectrometer for carrying out a mass spectrometry method according to an embodiment of the present invention 第2の質量分析用基板を用いた場合の被分析物質の脱離方法を示す模式図Schematic diagram showing the method for desorbing the analyte when using the second mass spectrometry substrate 第3の質量分析用基板を用いた場合の被分析物質の脱離方法を示す模式図Schematic diagram showing a method for desorbing an analyte when a third mass spectrometry substrate is used 第4の質量分析用基板を用いた場合の被分析物質の脱離方法を示す模式図Schematic diagram showing a method for desorbing an analyte when a fourth mass spectrometry substrate is used 従来のマトリクス支援レーザ脱離方法を示す模式図Schematic diagram showing a conventional matrix-assisted laser desorption method 従来のエバネッセント光による脱離方法を示す模式図Schematic diagram showing a conventional desorption method using evanescent light 実施例1のマススペクトルMass spectrum of Example 1 図7Aに示す実施例1のマススペクトルの一部拡大図Partial enlarged view of the mass spectrum of Example 1 shown in FIG. 7A 実施例2のマススペクトルMass spectrum of Example 2 図8Aに示す実施例2のマススペクトルの一部拡大図Partial enlarged view of the mass spectrum of Example 2 shown in FIG. 8A 比較例のマススペクトルMass spectrum of comparative example

符号の説明Explanation of symbols

1、2、3、4 質量分析用基板
10 質量分析装置
11 筐体
14 分析手段
17 検出手段
31、33、35 透明基板
32 金属薄膜
34、37 脱離促進剤
36 金ナノ粒子
A 被分析物質
a フラグメント化(あるいは変性)した被分析物質
M マトリクス剤
S 試料
L レーザ光
Lo 励起光
Le エバネッセント光
1, 2, 3, 4 Mass analysis substrate 10 Mass spectrometer 11 Case 14 Analysis means 17 Detection means 31, 33, 35 Transparent substrate 32 Metal thin film 34, 37 Desorption accelerator 36 Gold nanoparticle A Analyte a Fragmented (or denatured) analyte M matrix agent S sample L laser light Lo excitation light Le evanescent light

Claims (3)

質量分析用基板の表面に供給され、該基板に付着した試料に光を照射することにより、該試料中の被分析物質を前記基板から脱離させ、イオン化し、該イオン化した前記被分析物質を捕捉して質量分析を行う質量分析方法において、
前記基板として、透明基板を用い、
前記試料として、マトリクス剤が混合されたマトリクス混合試料を用意し、
前記試料を前記基板の表面に供給し、
前記基板の裏面側から、該基板の表面で全反射するように、該基板に励起光を入射させることにより、該基板の表面にエバネッセント光を生じさせ、
該エバネッセント光の照射により、前記被分析物質を前記基板から脱離させることを特徴とする質量分析方法。
By irradiating the sample supplied to the surface of the substrate for mass spectrometry with light, the analyte in the sample is desorbed from the substrate, ionized, and the ionized analyte is In a mass spectrometry method for capturing and performing mass spectrometry,
As the substrate, a transparent substrate is used,
As the sample, a matrix mixed sample mixed with a matrix agent is prepared,
Supplying the sample to the surface of the substrate;
By causing excitation light to enter the substrate so as to be totally reflected from the back surface side of the substrate, the evanescent light is generated on the surface of the substrate,
A mass spectrometry method, wherein the analyte is desorbed from the substrate by irradiation with the evanescent light.
前記基板として、該基板の表面に、光吸収材料、電場増強材料および/または脱離促進剤を備えた基板を用いることを特徴とする請求項1記載の質量分析方法。   The mass spectrometric method according to claim 1, wherein a substrate having a light absorbing material, an electric field enhancing material and / or a desorption promoter is used on the surface of the substrate. 前記脱離促進剤としてニトロ化合物を用いることを特徴とする請求項2記載の質量分析方法。   The mass spectrometry method according to claim 2, wherein a nitro compound is used as the desorption accelerator.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012207954A (en) * 2011-03-29 2012-10-25 Yasuro Niitome Substrate for multiple analysis, manufacturing method thereof, and analytical method
WO2014027447A1 (en) * 2012-08-14 2014-02-20 富士フイルム株式会社 Mass spectrometer

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004264043A (en) * 2003-01-31 2004-09-24 National Institute Of Advanced Industrial & Technology Ionizing device, and micro-area analyzer
JP2005098909A (en) * 2003-09-26 2005-04-14 Shimadzu Corp Ionizing device and mass spectrometer using the same
JP2006010672A (en) * 2004-05-24 2006-01-12 Shimadzu Corp Method of selectively measuring specified substance from mixture by maldi mass spectrometry
JP2006504971A (en) * 2002-11-01 2006-02-09 ザ・リージェンツ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・コロラド,ア・ボディー・コーポレイト Quantitative analysis of protein isoforms by matrix-assisted laser desorption ionization-time-of-flight mass spectrometry
JP2007171003A (en) * 2005-12-22 2007-07-05 Fujifilm Corp Substrate for mass spectrometry, analytical method, and apparatus
JP2007170870A (en) * 2005-12-19 2007-07-05 Protosera Inc Insitu detection method using mass analysis
JP2007225395A (en) * 2006-02-22 2007-09-06 Tokyo Metropolitan Univ Quantification of mass spectrometry using total reflection laser irradiation method
JP2008102117A (en) * 2006-09-21 2008-05-01 Fujifilm Corp Surface plasmon enhanced fluorescence sensor and fluorescence detecting method
JP2008204654A (en) * 2007-02-16 2008-09-04 Univ Of Tokyo Ldi plate, laser desorption ionization mass spectroscope, laser desorption ionization mass spectrometry, and ldi plate manufacturing method

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006504971A (en) * 2002-11-01 2006-02-09 ザ・リージェンツ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・コロラド,ア・ボディー・コーポレイト Quantitative analysis of protein isoforms by matrix-assisted laser desorption ionization-time-of-flight mass spectrometry
JP2004264043A (en) * 2003-01-31 2004-09-24 National Institute Of Advanced Industrial & Technology Ionizing device, and micro-area analyzer
JP2005098909A (en) * 2003-09-26 2005-04-14 Shimadzu Corp Ionizing device and mass spectrometer using the same
JP2006010672A (en) * 2004-05-24 2006-01-12 Shimadzu Corp Method of selectively measuring specified substance from mixture by maldi mass spectrometry
JP2007170870A (en) * 2005-12-19 2007-07-05 Protosera Inc Insitu detection method using mass analysis
JP2007171003A (en) * 2005-12-22 2007-07-05 Fujifilm Corp Substrate for mass spectrometry, analytical method, and apparatus
JP2007225395A (en) * 2006-02-22 2007-09-06 Tokyo Metropolitan Univ Quantification of mass spectrometry using total reflection laser irradiation method
JP2008102117A (en) * 2006-09-21 2008-05-01 Fujifilm Corp Surface plasmon enhanced fluorescence sensor and fluorescence detecting method
JP2008204654A (en) * 2007-02-16 2008-09-04 Univ Of Tokyo Ldi plate, laser desorption ionization mass spectroscope, laser desorption ionization mass spectrometry, and ldi plate manufacturing method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012207954A (en) * 2011-03-29 2012-10-25 Yasuro Niitome Substrate for multiple analysis, manufacturing method thereof, and analytical method
WO2014027447A1 (en) * 2012-08-14 2014-02-20 富士フイルム株式会社 Mass spectrometer
JP2014038752A (en) * 2012-08-14 2014-02-27 Fujifilm Corp Mass spectrometer

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