JP2010087308A - Solid electrolytic capacitor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、外装樹脂体を有する固体電解コンデンサに関する。 The present invention relates to a solid electrolytic capacitor having an exterior resin body.
従来の固体電解コンデンサの断面構成を図5に示す。 A cross-sectional configuration of a conventional solid electrolytic capacitor is shown in FIG.
同図の固体電解コンデンサ20は、陽極リード1が埋設された弁作用金属からなる陽極2と、陽極2を陽極酸化することにより形成した誘電体層3と、誘電体層3上に形成された陰極層4とからなるコンデンサ素子10を有する。同図に示すように、固体電解コンデンサ20は、露出した陽極リード1の端部に陽極端子7の一端が取り付けられ、陰極層4上の一部に配された導電性接着材5により陰極端子6の一端が取り付けられている。コンデンサ素子10の周囲は外装樹脂体8により封止されている。このとき固体電解コンデンサ20の下面及び側面において外装樹脂体8から陽極端子の他端7a及び陰極端子の他端6aが露出するようにコンデンサ素子は外装樹脂体8により封止されている。
The solid
固体電解コンデンサ20には、基板実装時のリフロー処理の際に250度以上の熱が加わる。この影響により、外装樹脂体8は一時的に膨張することになる。このリフロー後に、外装樹脂体8は常温に冷却されるので、このとき収縮することになる。このような膨張と収縮とによって、この固体電解コンデンサ20内に応力が発生する。そこで、近年、外装樹脂体8と陰極端子6との間に発生した応力を緩和する中間層を形成することが提案されている(特許文献1)。
上記特許文献1に記載の中間層は、固体電解コンデンサ内部における各材料の熱膨張率の差により発生した歪に応じて変形するように設けられたものであり、このように歪に応じて変形させることにより応力を緩和している。しかしながら、上記のような中間層を有する従来の固体電解コンデンサでは、中間層は応力に応じて変形するものに過ぎない。即ち、外装樹脂体が膨張した場合に、この膨張に応じて中間層が柔軟に変形するに過ぎなかった。このため、中間層は陰極端子とコンデンサ素子との接着強度を高めるように働くものではないため、陰極端子とコンデンサ素子との剥離を抑制するには限界があった。
The intermediate layer described in
従って、上述のような中間層を備えた従来の固体電解コンデンサでは、長期間使用の際に、陰極端子とコンデンサ素子の接続部の一部又は全部が剥離する不都合が解消されておらず、これによって等価直列抵抗(ESR)が上昇する虞があった。 Therefore, in the conventional solid electrolytic capacitor provided with the intermediate layer as described above, the inconvenience that a part or all of the connection portion between the cathode terminal and the capacitor element peels off during long-term use has not been solved. This may increase the equivalent series resistance (ESR).
そこで、本発明は、長期間使用後においてもESRの上昇を抑制できる固体電解コンデンサを提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a solid electrolytic capacitor that can suppress an increase in ESR even after long-term use.
本発明にかかる固体電解コンデンサは、陽極、陽極表面に形成された誘電体層、及び誘電体層上に形成された陰極層を有するコンデンサ素子と、陰極層と電気的に接続するための陰極端子と、コンデンサ素子を被覆するための外装樹脂体と、を備え、陰極端子の所定部分が陰極層と接続され、陰極端子の所定部分と外装樹脂体との間には熱硬化性樹脂からなる中間樹脂層が設けられており、中間樹脂層の熱膨張係数は1.0×10−5/℃以上、且つ、5.0×10−5/℃以下であることを特徴とする。 A solid electrolytic capacitor according to the present invention includes a capacitor element having an anode, a dielectric layer formed on the surface of the anode, and a cathode layer formed on the dielectric layer, and a cathode terminal for electrically connecting to the cathode layer And an exterior resin body for covering the capacitor element, wherein a predetermined portion of the cathode terminal is connected to the cathode layer, and an intermediate made of a thermosetting resin is provided between the predetermined portion of the cathode terminal and the exterior resin body. A resin layer is provided, and the thermal expansion coefficient of the intermediate resin layer is 1.0 × 10 −5 / ° C. or more and 5.0 × 10 −5 / ° C. or less.
尚、上記所定部分とは、陰極端子と陰極層とを接続する部分を含む部分である。 The predetermined portion is a portion including a portion connecting the cathode terminal and the cathode layer.
このような固体電解コンデンサでは、高温試験やリフローや高温環境での使用などにより固体電解コンデンサに熱が加えられたとしても、中間樹脂層が膨張することにより陰極端子に圧力を印加するので、この陰極端子がコンデンサ素子の陰極層に圧着することになる。これにより、陰極端子とコンデンサ素子との間の接着力を高めることが可能であるため、陰極端子とコンデンサ素子とが剥離することを抑制することができる。よって、長時間使用後においてもESRの上昇を抑制することができる。 In such a solid electrolytic capacitor, even if heat is applied to the solid electrolytic capacitor due to a high temperature test, reflow, or use in a high temperature environment, the intermediate resin layer expands and pressure is applied to the cathode terminal. The cathode terminal is pressure-bonded to the cathode layer of the capacitor element. Thereby, since it is possible to improve the adhesive force between a cathode terminal and a capacitor | condenser element, it can suppress that a cathode terminal and a capacitor | condenser element peel. Therefore, an increase in ESR can be suppressed even after long-term use.
本発明においては、中間樹脂層の熱膨張係数は外装樹脂体の熱膨張係数よりも大きいことが好ましい。 In the present invention, the thermal expansion coefficient of the intermediate resin layer is preferably larger than the thermal expansion coefficient of the exterior resin body.
また、本発明においては、陰極端子の前記所定部分と陰極層とは導電性接着材により接続されていることが好ましい。 In the present invention, the predetermined portion of the cathode terminal and the cathode layer are preferably connected by a conductive adhesive.
また、本発明においては、中間樹脂層は陰極層に接続された前記陰極端子の前記所定部分を覆うように形成されていることが好ましい。 In the present invention, the intermediate resin layer is preferably formed so as to cover the predetermined portion of the cathode terminal connected to the cathode layer.
また、本発明における中間樹脂層及び外装樹脂体は、同一の成分の樹脂を主成分とすることが好ましい。 Moreover, it is preferable that the intermediate resin layer and the exterior resin body in the present invention have the same component resin as a main component.
また、本発明における中間樹脂層及び外装樹脂体は、エポキシ樹脂を主成分とすることが好ましい。 Moreover, it is preferable that the intermediate | middle resin layer and exterior resin body in this invention have an epoxy resin as a main component.
本発明によれば、長時間使用後において、ESRの上昇を抑制することが可能な固体電解コンデンサを提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the solid electrolytic capacitor which can suppress the raise of ESR after a long time use can be provided.
次に、図面を用いて、本発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には、同一又は類似の符号を付している。ただし、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは異なることに留意すべきである。従って、具体的な寸法等は以下の説明を参酌して判断すべきものである。又、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。 Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following description of the drawings, the same or similar parts are denoted by the same or similar reference numerals. However, it should be noted that the drawings are schematic and ratios of dimensions and the like are different from actual ones. Accordingly, specific dimensions and the like should be determined in consideration of the following description. Moreover, it is a matter of course that portions having different dimensional relationships and ratios are included between the drawings.
図1は、本実施形態における固体電解コンデンサの内部を模式的に示す斜視図である。図2は、図1に示すX−X間における断面図である。 FIG. 1 is a perspective view schematically showing the inside of the solid electrolytic capacitor in the present embodiment. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line XX shown in FIG.
図1に示すように、本実施形態における固体電解コンデンサ20は、直方体の外形を有しており、基本的には、コンデンサ素子10、陰極端子6、陽極端子7、外装樹脂体8(破線)及び中間樹脂層9を備えている。外装樹脂体8は、コンデンサ素子10、中間樹脂層9、陰極端子6及び陽極端子7を覆うものであるが、陰極端子6の端部6a及び陽極端子7の端部7aは露出している。中間樹脂層9は、コンデンサ素子10の陰極層部分と電気的に接続された陰極端子6の所定部分である接続部α(中間樹脂層9で覆われた部分は一点鎖線で記載)と外装樹脂体8との間に配される。尚、本実施形態において、接続部αは本発明の「所定部分」の一例であり、この場合の所定部分とは、コンデンサ素子10の陰極層4と接続されている陰極端子6の一端部分である。
As shown in FIG. 1, the solid
そして、図2に示すように、コンデンサ素子10は、線状の陽極リード1の一端側を埋設する弁作用金属からなる陽極2と、陽極2を陽極酸化することにより形成した誘電体層3と、誘電体層3上に形成された陰極層4とを有する。陰極層4は、誘電体層3側から電解質層4a、カーボン層4b、及び銀ペースト層4cが順次、形成された積層構成を備えている。
As shown in FIG. 2, the
図1に示すように、この実施形態の場合の陰極端子6は、帯状の金属板を折り曲げて形成されており、その一端部の下面が略直方体をなすコンデンサ素子の上面に接合(後述するように、導電性接着剤5によって機械的及び電気的に接続されている)されている。そして、図1及び図2に示すように、陰極端子6の端部6aは外装樹脂体8の側面から下面にかけて露出しており、この露出箇所(特に下面)が基板との半田接続に用いられる。
As shown in FIG. 1, the
また、図1及び図2に示すように、上記の陽極2から露出した陽極リード線1の他端側には、陽極端子7が取り付けられている。具体的には、この陽極端子7は、前述の陰極端子6と同様に、帯状の金属板を折り曲げて形成されており、その一端部の下面に、線状の陽極リードが溶接等により接続されている。尚、陽極端子7の端部7aは、前述の陰極端子6の場合と同様に、外装樹脂体8の側面から下面にかけて露出しており、この露出箇所(特に下面)が基板との半田接続に用いられる。
As shown in FIGS. 1 and 2, an
本実施形態の固体電解コンデンサ20が特徴とする中間樹脂層8について、以下に、詳述する。
The
斯かる中間樹脂層8が設けられる位置は、コンデンサ素子10の外周を形成している陰極層4と陰極端子6との接続をなす陰極端子6の接続部αを覆う位置であり、陰極層4と外装樹脂体8との層間に設けられる。そして、その材質の特性としては、中間樹脂層8の熱膨張係数(α1)が1.0×10-5/℃以上、5.0×10-5/℃以下の範囲である。加えて、中間樹脂層9の熱膨張係数(α1)は外装樹脂体8の熱膨張係数(α1)よりも大きくなる条件を満たすものがこのましい。中間樹脂層8の材質としては、たとえば、上記の熱膨張係数(α1)の条件を満たすような熱硬化性樹脂を選んで使用することができる。
The position where the
そして、本実施形態では図1及び図2に示すように接続部αと外装樹脂体8との間の中間樹脂層9は、陰極層4に接続された陰極端子6の所定部分を覆うように形成されている。尚、接続部αの一部しか中間樹脂層9で覆われていない場合であっても、この中間樹脂層9の膨張により陰極端子6とコンデンサ素子10との接着を高めることができる程度の領域に中間樹脂層9が配されていればいい。
In the present embodiment, as shown in FIGS. 1 and 2, the
以下に、図1、図2を用いて、具体的な固体電解コンデンサの構成を説明する。 Hereinafter, a specific configuration of the solid electrolytic capacitor will be described with reference to FIGS. 1 and 2.
陽極2は、弁作用金属からなる金属粒子を成形し、それを焼結することにより形成した多孔質体で構成され、その内部に弁作用金属からなる陽極リード1の一部が埋設されている。陽極リード1は、陽極2と同種の金属を用いてもよいし、異なる弁作用金属を用いてもよい。ここで、陽極リード1及び陽極2を構成する弁作用金属としては、例えば、ニオブ(Nb)、タンタル(Ta)、アルミニウム(Al)、チタン(Ti)などある。また、上述の弁作用金属を主成分とする合金を用いてもよい。
The
誘電体層3は、陽極2を陽極酸化することにより形成することができる。図2では陽極2表面に形成された誘電体層3を図示しているが、陽極2は上述のように多孔質体であるので、実際には多孔質体の内部の表面にも誘電体層3が形成されている。
The
電解質層4aは、誘電体層3の表面上に形成されている。電解質層4aには、化学重合法や、電解重合法などにより形成した導電性高分子を用いることができる。電解質層4aは、単一の層で形成しても良いし、複数の層で形成してもよい。導電性高分子の材料としては、ポリピロール、ポリチオフェン、ポリアニリン及びポリフランなどが挙げられる。
The
電解質層4a上に形成されたカーボン層4bは、カーボン粒子を含む層により形成されている。カーボン層上に形成された銀ペースト層4cは、銀粒子を含む層により形成されている。
The
本実施形態において陰極層4は、電解質層4a、カーボン層4b及び銀ペースト層4c層から構成されている。尚、陰極層4の構成は、陰極として機能する構成であれば、これ以外の構成であってもよい。例えば、陰極層4をカーボン層4b及び銀ペースト層4cの2層から構成しても良い。
In the present embodiment, the cathode layer 4 includes an
陰極端子6と陰極層4とは、陰極端子6の接続部αと陰極層4との間に配された導電性接着材5により機械的及び電気的に接続されている。導電性接着材5としては、導電性を有する樹脂系の導電性接着材5を用いた。具体的な導電性接着材5の材料としては、銀とエポキシ樹脂とが混合された銀ペーストなどの材料が挙げられる。陽極端子7は、陽極リード1とスポット溶接などにより電気的に接続されている。陽極端子7及び陰極端子6の材料としては、銅、銅合金及び鉄‐ニッケル合金(42アロイ)などが挙げられる。
The
中間樹脂層9は、熱膨張係数(α1)が1.0×10-5/℃以上、5.0×10-5/℃以下のエポキシ樹脂からなる熱硬化性樹脂から形成されている。エポキシ樹脂以外の材料としては、シリコーン樹脂やフッ素樹脂などが挙げられる。中間樹脂層9は、主剤、硬化剤及びフィラーを適宜配合することにより調整された樹脂を硬化することにより形成することができる。そして、中間樹脂層9の熱膨張係数(α1)は、フィラーの量を適宜配合することにより所望の熱膨張係数(α1)を得ることがきる。
The
外装樹脂体8は、中間樹脂層9の熱膨張係数よりも小さな熱膨張係数を有するよう形成されている。外装樹脂体8の材料としては、封止材として機能する材料が用いられ、具体的にはエポキシ樹脂やシリコーン樹脂などが挙げられる。外装樹脂体8は主剤、硬化剤及びフィラーを適宜配合することにより調整された樹脂を硬化することにより形成することができる。そして、外装樹脂体8の熱膨張係数(α1)は、フィラーの量を適宜配合することにより所望の熱膨張係数(α1)を得ることがきる。
The
また、中間樹脂層9及び外装樹脂体8は同一成分の樹脂を含むことが好ましい。ここで同一成分の樹脂とは、例えば、樹脂の主剤として用いる材料がビフェニル型エポキシ樹脂やクレゾールノボラック型エポキシ樹脂など、主剤がエポキシ系樹脂であれば同一成分の樹脂となる。そして、さらに好ましくは、中間樹脂層9及び外装樹脂体8はエポキシ樹脂からなるほうがよい。
Moreover, it is preferable that the
(作用及び効果)
本実施形態における固体電解コンデンサでは、陰極端子の一部である接続部α上に中間樹脂層9が形成されている。そして、中間樹脂層9の熱膨張係数(α1)は1.0×10-5/℃、以上5.0×10-5/℃以下で形成されている。
(Function and effect)
In the solid electrolytic capacitor in the present embodiment, an
よって、高温試験やリフローや高温環境での使用などにより固体電解コンデンサ20に熱が加えられたとしても、中間樹脂層9が膨張することにより陰極端子6に圧力を印加するので、この陰極端子6がコンデンサ素子10の陰極層4に圧着することになる。従って、陰極端子6とコンデンサ素子10との間に導電性接着材5を使用して、これらを接着する場合には、この導電性接着材5による接着力を高めることができるため、陰極端子6とコンデンサ素子10とが剥離することを抑制することができる。従って、長時間使用後においてもESRの上昇を抑制することができる。
Therefore, even if heat is applied to the solid
また、固体電解コンデンサの陰極端子の端部6a及び陽極端子の端部7aを基板に実装する際、リフロー時における熱は、金属製の陰極端子6及び陽極端子7の端部6a、7aからコンデンサ素子10へ伝わりやすくなる。特に、陰極端子6は前述のようにコンデンサ素子10と接触する面積が大きく、それだけ熱が加わりやすくなる。このような場合、熱により陰極端子6が膨張収縮し陰極端子6とコンデンサ素子10との間の接着力が弱まる虞がある。本実施形態では、接続部α上に中間樹脂層9が形成されているので、陰極端子6から伝わった熱により中間樹脂層9が膨張し、陰極端子6とコンデンサ素子10との間の接着力を効率よく高めることができる。
Further, when the
また、接続部αと陰極層4とは接続部αに配された導電性接着材5により接着されている。よって、中間樹脂層9の膨張による圧力は、より導電性接着材5へ加わり易くなる。従って、陰極端子6とコンデンサ素子10との間に形成されている導電性接着材5の接着力を効率よく高めることができるため、陰極端子6とコンデンサ素子10とが剥離することをより抑制できる。よって、長時間使用後においてもESRの上昇をさらに抑制できる。
Further, the connection portion α and the cathode layer 4 are bonded by a
また、本実施形態においては、接続部α上から陰極層上に跨る領域にかけて中間樹脂層9が形成されているため、陰極端子6とコンデンサ素子の接着力をより高めることができる。
In the present embodiment, since the
また、熱膨張係数(α1)が1.0×10-5/℃以上、5.0×10-5/℃以下の中間樹脂層9を用いているため、中間樹脂層9の過度な膨張収縮により陰極端子6からコンデンサ素子10に圧力が加わりすぎることを抑制することができる。もし、過度な膨張収縮が陰極端子6の接続部αに加わると、導電性接着材5及び陰極端子6の間や、導電性接着材5とコンデンサ素子10の間の接着力が弱まる虞がある。本実施形態において熱膨張係数を5.0×10-5/℃以下としているため、このような接着力の低下を抑制することができ、長時間使用後においてもESRの上昇をさらに抑制することができる。また、中間樹脂層9の過度な膨張により、接続部α近傍の誘電体層3にクラック(亀裂)などの欠陥が発生することを抑制でき、長時間使用時において漏れ電流を低減することができる。
Further, since the
また、中間樹脂層9は、陰極端子6の接続部α及び接続部αの近傍のコンデンサ素子上に形成され、コンデンサ素子10の表面のその他の領域には形成されていない。よって、中間樹脂層9が膨張することによる圧力をコンデンサ素子全体に加わることを抑制することができる。従って、誘電体層3にクラックが発生することを抑制できるので、長時間使用時において漏れ電流を低減することができる。
Further, the
加えて、中間樹脂層9の熱膨張係数は、外装樹脂体8の熱膨張係数よりも大きくなる条件を満たすものが好ましい。中間樹脂層9の熱膨張係数が、外装樹脂体8の熱膨張係数よりも大きい場合、中間樹脂層8が外部(外装樹脂体側)に膨張するのを外装樹脂体8がくいとめて、その膨張の圧力を陰極端子6に向かわせることができる。よって、導電性接着材5の接着力を効率よく高めることができ、長時間使用後においてもESRの上昇をさらに抑制できる。
In addition, it is preferable that the thermal expansion coefficient of the
加えて、中間樹脂層9及び外装樹脂体8は同一成分の樹脂からなることが好ましい。同一成分の樹脂を用いることで、中間樹脂層9及び外装樹脂体8の間の接着強度を高めることができる。これにより、中間樹脂層9が膨張した際に外部に膨張することをくいとめて、その膨張の圧力を陰極端子に向かわせることができ、中間樹脂層9と外装樹脂体8との間の接着力が低下することを抑制できる。よって、中間樹脂層9の膨張を効率よく導電性接着材5に伝えることができるため、導電性接着材5の接着力を高めることができる。従って、陰極端子6とコンデンサ素子10との剥離をより抑制でき、長時間使用後においてもESRが上昇することをさらに抑制できる。
In addition, the
また、さらに好ましくは、中間樹脂層9及び外装樹脂体8はエポキシ樹脂からなるほうがよい。エポキシ樹脂を用いることにより、中間樹脂層9及び外装樹脂体8の間の接着強度を更に高めることができる。
More preferably, the
(変形例1)
次に、本実施形態における変形例1について以下に説明する。尚、上述の実施形態と同様の部分については説明を省略する。
(Modification 1)
Next,
図3は変形例1に係る固体電解コンデンサ20を説明するための模式図である。図3(a)は、本変形例における固体電解コンデンサの内部を模式的に示す斜視図である。図3(b)は、図3(a)に示すY−Y間における断面図である。図3(a)及び図3(b)に示すように、中間樹脂層8が設けられる位置は、コンデンサ素子10の外周を形成している陰極層4と陰極端子6との接続をなす陰極端子6の接続部αの略全面を覆う位置であり、陰極層4と外装樹脂体8との層間に設けられる。本変形例では、接続部α上の一部が中間樹脂層9により被覆されていない。また、中間樹脂層9は、陰極端子6の接続部α上らか接続部α近傍の陰極層4上にかけて跨る領域の一部をなす所定部分に形成されている。
FIG. 3 is a schematic diagram for explaining the solid
このように接続部αの全面が中間樹脂層9で覆われていない場合でも、接続部αの略全面が中間樹脂層9で覆われていれば、実施形態と同様の効果を奏することができる。
Thus, even when the entire surface of the connection portion α is not covered with the
また、中間樹脂層9は、陰極端子6の接続部α上から接続部α近傍の陰極層4上にかけて跨る領域の一部にも形成されている。よって、陰極端子6とコンデンサ素子の接着力をより高めることができる。尚、陰極端子6の接続部α上から接続部α近傍の陰極層4上にかけて跨る領域に形成されている中間樹脂層9は陰極端子6とコンデンサ素子の接着力を高める程度に塗布されていれば良い。
Further, the
(変形例2)
次に、本実施形態における変形例2を説明するための模式図である。尚、上述の実施形態と同様の部分については説明を省略する。
(Modification 2)
Next, it is a schematic diagram for demonstrating the
図4は変形例2に係る固体電解コンデンサ20を示す模式図である。図4(a)は、本変形例における固体電解コンデンサの内部を模式的に示す斜視図である。図4(b)は、図4(a)に示すZ−Z間における断面図である。図4(a)及び図4(b)に示すように、中間樹脂層8が設けられる位置は、コンデンサ素子10の外周を形成している陰極層4と陰極端子6との接続をなす陰極端子6の接続部αの一部分を覆う位置であり、陰極層4と外装樹脂体8との層間に設けられる。本変形例では、中間樹脂層9は、陰極端子6の接続部α上の一部にのみ形成されている。
FIG. 4 is a schematic diagram showing a solid
このように接続部αの全面が中間樹脂層9で覆われていない場合でも、接続部αの略全面が中間樹脂層9で覆われていれば、実施形態と同様の効果を奏することができる。尚、中間樹脂層9は、中間樹脂層9が膨張することにより陰極端子6とコンデンサ素子10との接着を高めることができる位置に配されていればよい。
Thus, even when the entire surface of the connection portion α is not covered with the
尚、接続部αの一部しか中間樹脂層9で覆われていない場合であっても、この中間樹脂層9の膨張により陰極端子6とコンデンサ素子10との接着を高めることができる程度の領域に中間樹脂層9が配されていればいい。
Even when only a part of the connecting portion α is covered with the
<実施例1>
(ステップ1)陽極の作製
1次粒子径が約0.5μmのタンタル金属の粉末を用い、陽極リード1の一部を埋め込むように成型し、真空中で焼結することにより、高さ約4.4mm×幅約3.3mm×奥行き約1.0mmの直方体からなるタンタル多孔質焼結体からなる陽極2を形成した。
<Example 1>
(Step 1) Production of anode A tantalum metal powder having a primary particle diameter of about 0.5 μm is molded so as to embed part of the
(ステップ2)誘電体層の形成
上記の陽極2を、約60℃に保持した約0.01重量%の燐酸水溶液中において、約20Vの定電圧で約10時間陽極酸化を行うことによって誘電体層3を形成した。
(Step 2) Formation of dielectric layer The
(ステップ3)陰極層の形成及び端子の接続
陰極層4は電解質層4a、カーボン層4b及び銀ペースト層4cから構成されている。まず、上記の誘電体層3の表面にポリピロールからなる電解質層4aを化学重合法等により形成した。その後、電解質層4a上にカーボンペーストによりカーボン層4bを、銀ペーストにより銀ペースト層4cを順次形成した。
(Step 3) Formation of cathode layer and connection of terminals The cathode layer 4 is composed of an
さらに、陰極端子6が導電性接着材5により陰極端子6の接続部αで接着されることにより、陰極端子6と陰極層4とは電気的に接続されている。陽極端子7は、陽極リード1とスポット溶接等により電気的に接続されている。
Further, the
(ステップ4)中間樹脂層の形成
ステップ3において接続された陰極端子6の接続部βの略全域から陰極層4に跨る領域にかけて、熱膨張係数(α1)が1.2×10-5/℃のエポキシ樹脂からなる中間樹脂層9を形成した。
(Step 4) Formation of Intermediate Resin Layer The thermal expansion coefficient (α1) is 1.2 × 10 −5 / ° C. from the substantially entire region of the connecting portion β of the
以下に本実施例にかかる中間樹脂層9のより詳細な作製方法について説明する。
Hereinafter, a more detailed method for producing the
中間樹脂層9を構成するエポキシ樹脂は、主剤と、フィラー及び硬化剤により配合される。本実施例では、主剤としてビフェニル型エポキシ樹脂を100重量部、フィラーとして約1.0μmの球状シリカを200重量部、硬化剤としてメチルテトラヒドロ無水フタル酸10重量部を配合した液状のエポキシ樹脂を作製した。そして、上記液状のエポキシ樹脂を陰極端子6の接続部αの略全域から陰極層4に跨る領域にかけて塗布した。その後、エポキシ樹脂を100℃30分間の硬化処理を施すことにより硬化し、エポキシ樹脂からなる中間樹脂層9を形成した。この際、図2に示す接続部α上に形成された中間樹脂層9の厚みAは硬化後150〜200μmとなるように形成した。
The epoxy resin constituting the
中間樹脂層9の熱膨張係数(α1)は、TMA法(Thermo‐mechanical analysis)から求めることができる。本実施例における中間樹脂層9の熱膨張係数(α1)は、TMA法を用いてBruker AXS社製TMA4000SAにより測定した。
The thermal expansion coefficient (α1) of the
上記の測定を行うために、まず、厚さが1.0mm程度、直径が5.0mm以内となるような円柱状の測定用サンプルを作製した。この時、厚み方向における厚みの分布が均一となるよう測定用サンプルを作製した。 In order to perform the above measurement, first, a cylindrical measurement sample having a thickness of about 1.0 mm and a diameter of 5.0 mm or less was prepared. At this time, a measurement sample was prepared so that the thickness distribution in the thickness direction was uniform.
次に、測定用サンプルを装置に設置し、室温から10℃/分の割合で上昇させ、厚さ方向の熱膨張(熱収縮)量を測定し、横軸に温度、縦軸に熱膨張(熱収縮)量として各測定点をプロットした図を作成する。熱膨張係数(α1)を求めるにあたって、まず、各測定点をプロットした図において、温度に対して最も低い温度で熱膨張量が変曲した点の前後において曲線に接線を引き、その交点からガラス転移点Tgを求める。そして、ガラス転移点以下の温度領域における前述の接線の傾きから熱膨張係数(α1)を算出した。 Next, a measurement sample is placed in the apparatus, and the temperature is increased from room temperature at a rate of 10 ° C./min. The amount of thermal expansion (thermal contraction) in the thickness direction is measured. A diagram in which each measurement point is plotted as a heat shrinkage amount is created. In obtaining the coefficient of thermal expansion (α1), first, in the figure in which each measurement point is plotted, a tangent line is drawn on the curve before and after the point at which the thermal expansion amount is inflected at the lowest temperature with respect to the temperature. A transition point Tg is obtained. And the thermal expansion coefficient ((alpha) 1) was computed from the inclination of the above-mentioned tangent in the temperature range below a glass transition point.
(ステップ5)外装樹脂体の形成
ステップ4まで行ったコンデンサ素子10の露出した表面、中間樹脂層9の露出した表面を覆うように外装樹脂体8を形成した。尚、この際、外装樹脂体8は、外装樹脂体8から陽極端子7及び陰極端子6の一部6a、7aが露出するように形成されている。外装樹脂体8としては、主剤としてビフェニル型エポキシ樹脂100重量部、フィラーとして約1.0μmの球状シリカを800重量部、硬化剤としてキシリレン型フェノール樹脂50重量部を配合した封止材を用いた。外装樹脂体8は、この封止材をトランスファーモールド法により金型に注入し硬化することにより形成される。具体的には温度160℃にて予備加熱した上記封止材を圧力80kg/cm2で金型に注入し、金型内で温度が160℃、時間が90秒の条件で硬化させることにより熱膨張係数(α1)が0.7×10-5/℃となる外装樹脂体8を形成した。この際、図2に示すコンデンサ素子10上の外装樹脂体8の厚みBは硬化後約500μmとなるように形成した。また、図2に示す接続部α上に形成された外装樹脂体8の厚みCは硬化後約150〜200μmとなるように形成した。
(Step 5) Formation of Exterior Resin Body The
尚、中間樹脂層9及び外装樹脂体8の熱膨張係数(α1)はフィラーの量を適宜調節することにより所望の範囲とするとこができる。例えば、熱膨張係数(α1)を小さくする場合は、フィラーの量を増やすことにより調整することができる。また、熱膨張係数(α1)を大きくする場合は、フィラーの量を減らすことにより調整することができる。
The thermal expansion coefficient (α1) of the
以上の工程により、実施形態に係る実施例1の固体電解コンデンサを作製した。 Through the above process, the solid electrolytic capacitor of Example 1 according to the embodiment was produced.
<実施例2〜13>
上記ステップ4において、熱膨張係数(α1)が夫々1.4×10-5/℃、1.6×10-5/℃、1.8×10-5/℃、2.0×10-5/℃、1.0×10-5/℃、2.2×10-5/℃、2.5×10-5/℃、3.0×10-5/℃、3.5×10-5/℃、4.0×10-5/℃、4.5×10-5/℃、5.0×10-5/℃となるエポキシ樹脂からなる中間樹脂層9を用いる以外は実施例1と同様の方法で実施例2〜13の固体電解コンデンサを作製した。
<Examples 2 to 13>
In step 4, the thermal expansion coefficient ([alpha] 1) is respectively 1.4 × 10 -5 /℃,1.6×10 -5 /℃,1.8×10 -5 /℃,2.0×10 -5 /℃,1.0×10 -5 /℃,2.2×10 -5 /℃,2.5×10 -5 /℃,3.0×10 -5 /℃,3.5×10 -5 /℃,4.0×10 -5 /℃,4.5×10 -5 /℃,5.0×10 but using
<実施例14>
上記ステップ5において、熱膨張係数(α1)が1.2×10-5/℃のエポキシ樹脂からなる外装樹脂体8を用いる以外は実施例1と同様の方法で実施例14の固体電解コンデンサを作製した。
<Example 14>
In the
<実施例15>
上記ステップ5において熱膨張係数(α1)が1.6×10-5/℃のエポキシ樹脂からなる外装樹脂体8を用いる以外は実施例1と同様の方法で実施例15の固体電解コンデンサを作製した。
<Example 15>
A solid electrolytic capacitor of Example 15 was produced in the same manner as in Example 1 except that the
<実施例16>
上記ステップ4において、熱膨張係数(α1)が4.0×10-5/℃となるエポキシ樹脂からなる中間樹脂層9を用い、且つ、上記ステップ5において熱膨張係数(α1)が1.6×10-5/℃のエポキシ樹脂からなる外装樹脂体8を用いる以外は実施例1と同様の方法で実施例16の固体電解コンデンサを作製した。
<Example 16>
In Step 4, the
<比較例1>
上記ステップ4において、熱膨張係数(α1)が5.5×10-5/℃となるエポキシ樹脂からなる中間樹脂層9を用いる以外は実施例1と同様の方法で比較例1の固体電解コンデンサを作製した。
<Comparative Example 1>
The solid electrolytic capacitor of Comparative Example 1 in the same manner as in Example 1 except that the
<比較例2>
上記ステップ4において、熱膨張係数(α1)が6.0×10-5/℃となるエポキシ樹脂からなる中間樹脂層9を用いる以外は実施例1と同様の方法で比較例2の固体電解コンデンサを作製した。
<Comparative example 2>
The solid electrolytic capacitor of Comparative Example 2 in the same manner as in Example 1 except that the
<比較例3>
上記ステップ4において、熱膨張係数(α1)が0.8×10-5/℃となるエポキシ樹脂からなる中間樹脂層9を用いる以外は実施例1と同様の方法で比較例3の固体電解コンデンサを作製した。
<Comparative Example 3>
The solid electrolytic capacitor of Comparative Example 3 in the same manner as in Example 1 except that the
<比較例4>
上記ステップ4において、熱膨張係数(α1)が0.7×10-5/℃となるエポキシ樹脂からなる中間樹脂層9を用いる以外は実施例1と同様の方法で比較例4の固体電解コンデンサを作製した。
<Comparative example 4>
The solid electrolytic capacitor of Comparative Example 4 in the same manner as in Example 1 except that the
<比較例5>
上記ステップ4において、熱膨張係数(α1)が0.6×10-5/℃となるエポキシ樹脂からなる中間樹脂層9を用いる以外は実施例1と同様の方法で比較例5の固体電解コンデンサを作製した。
<Comparative Example 5>
The solid electrolytic capacitor of Comparative Example 5 in the same manner as in Example 1 except that the
<比較例6>
上記ステップ4を実施しない以外は実施例1と同様の方法で比較例6の固体電解コンデンサを作製した。
<Comparative Example 6>
A solid electrolytic capacitor of Comparative Example 6 was produced in the same manner as in Example 1 except that Step 4 was not performed.
<比較例7>
上記ステップ4において、熱膨張係数(α1)が20.0×10-5/℃となるポリエチレン樹脂からなる中間樹脂層9を用いる以外は実施例1と同様の方法で比較例7の固体電解コンデンサを作製した
<実施例17>
上記ステップ4において、熱膨張係数(α1)が4.0×10-5/℃となるシリコーン樹脂からなる中間樹脂層9を用いる以外は実施例1と同様の方法で実施例17の固体電解コンデンサを作製した。
<Comparative Example 7>
The solid electrolytic capacitor of Comparative Example 7 in the same manner as in Example 1 except that the
The solid electrolytic capacitor of Example 17 in the same manner as in Example 1 except that the
<実施例18>
上記ステップ4において、熱膨張係数(α1)が4.0×10-5/℃となるシリコーン樹脂からなる中間樹脂層9を用い、且つ、上記ステップ5において熱膨張係数(α1)が1.6×10-5/℃のシリコーン樹脂からなる外装樹脂体8を用いる以外は実施例1と同様の方法で実施例18の固体電解コンデンサを作製した。
<Example 18>
In Step 4, the
<実施例19>
上記ステップ4において、熱膨張係数(α1)が4.0×10-5/℃となるエポキシ樹脂からなる中間樹脂層9を用い、且つ、上記ステップ5において熱膨張係数(α1)が1.6×10-5/℃のシリコーン樹脂からなる外装樹脂体8を用いる以外は実施例1と同様の方法で実施例19の固体電解コンデンサを作製した。
<Example 19>
In Step 4, the
(長期信頼性試験)
上記実施例及び比較例に係る固体電解コンデンサに対して、長期信頼性試験として熱サイクル試験を実施した。熱サイクル試験では、−55℃で30分間維持後に105℃で30分間維持する処理を1サイクルとし、1000サイクル実施した。
(Long-term reliability test)
A thermal cycle test was performed as a long-term reliability test on the solid electrolytic capacitors according to the above Examples and Comparative Examples. In the thermal cycle test, the treatment of maintaining at −55 ° C. for 30 minutes and then maintaining at 105 ° C. for 30 minutes was defined as 1 cycle, and 1000 cycles were performed.
(ESRの測定)
熱サイクル試験実施前後において上記実施例及び比較例に係る固体電解コンデンサに対して100kHzにおけるESRの測定を行った。
(Measurement of ESR)
Before and after the thermal cycle test, the ESR was measured at 100 kHz for the solid electrolytic capacitors according to the above examples and comparative examples.
(漏れ電流の測定)
熱サイクル試験実施前後において上記実施例及び比較例に係る固体電解コンデンサに対して2.5Vの電圧を印加し、20秒後の電流値を漏れ電流としその測定を行った。
(Measurement of leakage current)
Before and after the thermal cycle test, a voltage of 2.5 V was applied to the solid electrolytic capacitors according to the examples and comparative examples, and the current value after 20 seconds was measured as a leakage current and measured.
(結果)
表1に熱サイクル試験後のESR及び漏れ電流の評価結果を示す。熱サイクル試験後のESR及び漏れ電流の値は、熱サイクル試験前の値を100とした相対値で示している。
(result)
Table 1 shows the evaluation results of ESR and leakage current after the thermal cycle test. The values of ESR and leakage current after the thermal cycle test are shown as relative values with the value before the thermal cycle test as 100.
表1に示すように、実施例の固体電解コンデンサは比較例の固体電解コンデンサと比べ、ESRの増大が抑制された。
As shown in Table 1, the increase in ESR was suppressed in the solid electrolytic capacitor of the example as compared with the solid electrolytic capacitor of the comparative example.
中間樹脂層の熱膨張係数(α1)が5.0×10-5/℃より大きい比較例1及び2、中間樹脂層の熱膨張係数(α1)が1.0×10-5/℃未満である比較例3〜5の固体電解コンデンサでは、熱サイクル試験後のESRが3倍以上増大した。比較例1及び2においては、中間樹脂層の熱膨張係数(α1)が5.0×10-5/℃より大きいため、熱サイクル試験時の加熱冷却による過度な膨張収縮が導電性接着材と陰極端子の間や、導電性接着材とコンデンサ素子の間に加わることにより接着力が低下し、熱サイクル後のESRが上昇したと考えられる。比較例3〜5では中間樹脂層の熱膨張係数(α1)が1.0×10-5/℃より小さいため、中間樹脂層の膨張量が十分でなく陰極端子とコンデンサ素子との接着力を高めることができなかったため熱サイクル後のESRが上昇したと考えられる。 Comparative Examples 1 and 2 in which the thermal expansion coefficient (α1) of the intermediate resin layer is greater than 5.0 × 10 −5 / ° C., and the thermal expansion coefficient (α1) of the intermediate resin layer is less than 1.0 × 10 −5 / ° C. In the solid electrolytic capacitors of certain Comparative Examples 3 to 5, ESR after the thermal cycle test increased by 3 times or more. In Comparative Examples 1 and 2, since the thermal expansion coefficient (α1) of the intermediate resin layer is larger than 5.0 × 10 −5 / ° C., excessive expansion and contraction due to heating and cooling during the thermal cycle test is caused by the conductive adhesive. It is considered that the adhesion force is reduced by applying between the cathode terminals or between the conductive adhesive and the capacitor element, and the ESR after the thermal cycle is increased. In Comparative Examples 3 to 5, since the thermal expansion coefficient (α1) of the intermediate resin layer is smaller than 1.0 × 10 −5 / ° C., the expansion amount of the intermediate resin layer is not sufficient, and the adhesive force between the cathode terminal and the capacitor element is increased. It was considered that the ESR after the thermal cycle increased because it could not be increased.
また、中間樹脂層を設けない比較例6において、熱サイクル試験後のESRが更に増大した。比較例6においては、中間樹脂層が設けられていないため、導電性接着材の接着力を高めることができず、ESRが著しく上昇したと考えられる。 Further, in Comparative Example 6 in which no intermediate resin layer was provided, ESR after the thermal cycle test was further increased. In Comparative Example 6, since the intermediate resin layer is not provided, it is considered that the adhesive strength of the conductive adhesive cannot be increased and the ESR is remarkably increased.
また、比較例7においては、中間樹脂層の熱膨張係数(α1)は20.0×10-5/℃であり5.0×10-5/℃より極めて大きい中間樹脂層を用いたことで、熱サイクル試験後のESRの増大に加えて、漏れ電流の増大が確認された。ESRの増大については、中間樹脂層の膨張収縮量が過度に大きすぎたため、陰極端子と導電性接着材の剥離が発生し、ESRが増大したと考えられる。また、漏れ電流の増大については、熱膨張係数の大きい中間樹脂層の膨張収縮により誘電体層にクラック等が発生し漏れ電流が増大したと考えられる。 In Comparative Example 7, the thermal expansion coefficient (α1) of the intermediate resin layer was 20.0 × 10 −5 / ° C., and an intermediate resin layer extremely larger than 5.0 × 10 −5 / ° C. was used. In addition to the increase in ESR after the thermal cycle test, an increase in leakage current was confirmed. Regarding the increase in ESR, the expansion and contraction amount of the intermediate resin layer was excessively large, so that the cathode terminal and the conductive adhesive were peeled off, and it was considered that the ESR increased. In addition, regarding the increase in the leakage current, it is considered that the leakage current increased due to the occurrence of cracks or the like in the dielectric layer due to the expansion and contraction of the intermediate resin layer having a large thermal expansion coefficient.
一方、実施例1〜13においては、熱膨張係数(α1)が1.0×10-5/℃以上、5.0×10-5/℃以下となるよう中間樹脂層が形成されている。よって、高温試験やリフローや高温環境での使用などにより固体電解コンデンサ20に熱が加えられたとしても、中間樹脂層9が膨張することにより陰極端子6に圧力を印加するので、この陰極端子6がコンデンサ素子10の陰極層4に圧着できる。よって、陰極端子6とコンデンサ素子10との間に形成されている導電性接着材5の接着力を高めることができるため、陰極端子6とコンデンサ素子10とが剥離することを抑制できる。よって、長時間使用後においてもESRの上昇を抑制することができた。
On the other hand, in Examples 1 to 13, the intermediate resin layer is formed so that the thermal expansion coefficient (α1) is 1.0 × 10 −5 / ° C. or higher and 5.0 × 10 −5 / ° C. or lower. Therefore, even if heat is applied to the solid
また、中間樹脂層の熱膨張係数(α1)が1.0×10-5/℃以上、5.0×10-5/℃以下であるが、外装樹脂体の熱膨張係数が中間樹脂層の熱膨張係数より大きい又は等しい実施例14及び15の固体電解コンデンサでは、熱サイクル試験後のESRが3倍以下に抑制することができたが、漏れ電流が実施例1〜13と比較し増大した。実施例14及び15は、外装樹脂体の熱膨張係数が中間樹脂層の熱膨張係数より大きい又は等しいため、外装樹脂体からコンデンサ素子に加わる応力が実施例1〜13と比べ大きくなる。よって、実施例14及び15は、実施例1〜13より漏れ電流が大きくなったと考えられる。この結果から、中間樹脂層の熱膨張係数は外装樹脂体の熱膨張係数よりも大きいことが好ましいことが確認できた。 Further, the thermal expansion coefficient (α1) of the intermediate resin layer is 1.0 × 10 −5 / ° C. or more and 5.0 × 10 −5 / ° C. or less, but the thermal expansion coefficient of the exterior resin body is that of the intermediate resin layer. In the solid electrolytic capacitors of Examples 14 and 15 that were larger than or equal to the thermal expansion coefficient, the ESR after the thermal cycle test could be suppressed to 3 times or less, but the leakage current increased compared to Examples 1-13. . In Examples 14 and 15, since the thermal expansion coefficient of the exterior resin body is greater than or equal to the thermal expansion coefficient of the intermediate resin layer, the stress applied to the capacitor element from the exterior resin body is larger than in Examples 1-13. Therefore, it is thought that Example 14 and 15 had a larger leakage current than Examples 1-13. From this result, it was confirmed that the thermal expansion coefficient of the intermediate resin layer is preferably larger than the thermal expansion coefficient of the exterior resin body.
また、実施例11の熱サイクル試験前後のESRの相対値は、実施例17と比べて約90低減した。また、実施例18の熱サイクル試験前後のESRの相対値は実施例19と比べて24低減した。実施例11及び18では、中間樹脂層9及び外装樹脂体8を同一成分の樹脂で形成している。これにより、実施例11及び18では、実施例17及び19と比較し、中間樹脂層9と外装樹脂体8との間の接着強度を高めることができた。よって、実施例11及び18では、実施例17及び19よりも中間樹脂層が膨張した際に外部に膨張することをくいとめて、その膨張の圧力を陰極端子に向かわせることができ、中間樹脂層と外装樹脂体との間の接着力が低下することを抑制できた。よって、中間樹脂層が膨張を効率よく導電性接着材5に伝えることができたため、長時間使用後においてもESRの上昇を抑制することができた。この結果から、中間樹脂層及び外装樹脂体は同一成分の樹脂で形成されていることが好ましいことが確認できた。
Further, the relative value of ESR before and after the thermal cycle test of Example 11 was reduced by about 90 compared with Example 17. Further, the relative value of ESR before and after the thermal cycle test of Example 18 was reduced by 24 compared with Example 19. In Examples 11 and 18, the
また、実施例18の熱サイクル試験前後のESRの相対値は、実施例16と比べ36低減した。これは、中間樹脂層及び外装樹脂体にシリコーン樹脂を用いるよりも、エポキシ樹脂を用いた方が、中間樹脂層及び外装樹脂体の接着力を高めることができるため、中間樹脂層が膨張を効率よく導電性接着材に伝えることができた。よって、導電性接着材の接着力を高めることができ、長時間使用後においてもESRの上昇を抑制することができたと考えられる。この結果から、中間樹脂層及び外装樹脂体はエポキシ樹脂で形成することが好ましいことが確認できた。 The relative value of ESR before and after the thermal cycle test of Example 18 was reduced by 36 compared to Example 16. This is because the use of an epoxy resin can increase the adhesive force between the intermediate resin layer and the exterior resin body rather than using a silicone resin for the intermediate resin layer and the exterior resin body, so that the intermediate resin layer efficiently expands. I was able to tell the conductive adhesive well. Therefore, it is considered that the adhesive strength of the conductive adhesive could be increased and the increase in ESR could be suppressed even after long-time use. From this result, it was confirmed that the intermediate resin layer and the exterior resin body are preferably formed of an epoxy resin.
1 陽極リード
2 陽極
3 誘電体層
4 陰極層
4a 電解質層
4b カーボン層
4c 銀ペースト層
5 導電性接着材
6 陰極端子
7 陽極端子
8 外装樹脂体
9 中間樹脂層
10 コンデンサ素子
20 固体電解コンデンサ
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記陰極層と電気的に接続するための陰極端子と、
前記コンデンサ素子を被覆するための外装樹脂体と、を備え、
前記陰極端子の所定部分が前記陰極層と接続され、
前記陰極端子の前記所定部分と前記外装樹脂体との間には熱硬化性樹脂からなる中間樹脂層が設けられており、前記中間樹脂層の熱膨張係数は1.0×10−5/℃以上、5.0×10−5/℃以下であることを特徴とする固体電解コンデンサ。 A capacitor element having an anode, a dielectric layer formed on the surface of the anode, and a cathode layer formed on the dielectric layer;
A cathode terminal for electrical connection with the cathode layer;
An exterior resin body for covering the capacitor element,
A predetermined portion of the cathode terminal is connected to the cathode layer;
An intermediate resin layer made of a thermosetting resin is provided between the predetermined portion of the cathode terminal and the exterior resin body, and the thermal expansion coefficient of the intermediate resin layer is 1.0 × 10 −5 / ° C. The solid electrolytic capacitor is characterized by being 5.0 × 10 −5 / ° C. or less.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011096723A (en) * | 2009-10-27 | 2011-05-12 | San Denshi Kogyo Kk | Solid electrolytic capacitor and method of manufacturing the same |
WO2023234342A1 (en) * | 2022-05-31 | 2023-12-07 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Solid electrolytic capacitor |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001196277A (en) * | 1999-10-29 | 2001-07-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Solid electrolytic capacitor |
JP2002286957A (en) * | 2001-03-28 | 2002-10-03 | Ntt Advanced Technology Corp | Substrate with light guide and method for producing the same |
JP2003234251A (en) * | 2002-02-07 | 2003-08-22 | Nec Tokin Corp | Chip type electrolytic capacitor |
JP2003257798A (en) * | 2002-03-01 | 2003-09-12 | Rohm Co Ltd | Resin package type electronic component and its producing method |
JP2006503142A (en) * | 2002-10-16 | 2006-01-26 | ダウ・コ−ニング・コ−ポレ−ション | Silicone resin |
JP2006261660A (en) * | 2005-02-17 | 2006-09-28 | Sanyo Electric Co Ltd | Solid electrolytic capacitor and manufacturing method therefor |
JP2007180440A (en) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Sanyo Electric Co Ltd | Solid electrolytic capacitor and manufacturing method thereof |
-
2008
- 2008-09-30 JP JP2008255762A patent/JP2010087308A/en active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001196277A (en) * | 1999-10-29 | 2001-07-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Solid electrolytic capacitor |
JP2002286957A (en) * | 2001-03-28 | 2002-10-03 | Ntt Advanced Technology Corp | Substrate with light guide and method for producing the same |
JP2003234251A (en) * | 2002-02-07 | 2003-08-22 | Nec Tokin Corp | Chip type electrolytic capacitor |
JP2003257798A (en) * | 2002-03-01 | 2003-09-12 | Rohm Co Ltd | Resin package type electronic component and its producing method |
JP2006503142A (en) * | 2002-10-16 | 2006-01-26 | ダウ・コ−ニング・コ−ポレ−ション | Silicone resin |
JP2006261660A (en) * | 2005-02-17 | 2006-09-28 | Sanyo Electric Co Ltd | Solid electrolytic capacitor and manufacturing method therefor |
JP2007180440A (en) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Sanyo Electric Co Ltd | Solid electrolytic capacitor and manufacturing method thereof |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011096723A (en) * | 2009-10-27 | 2011-05-12 | San Denshi Kogyo Kk | Solid electrolytic capacitor and method of manufacturing the same |
WO2023234342A1 (en) * | 2022-05-31 | 2023-12-07 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Solid electrolytic capacitor |
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