JP2010067878A - Substrate processing apparatus - Google Patents

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秀明 宮澤
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a structure capable of improving productivity even when conveying a large number of substrates to be processed. <P>SOLUTION: The substrate processing apparatus includes: a conveyance chamber 50 which is moved along a prescribed movement route 55 to convey a first cassette 54 wherein a plurality of processing object substrates 12 can be stored; a plurality of processing chambers 16 which are disposed around the moving route 55 of the conveyance chamber 50 and process the processing object substrates 12; a buffer chamber 42 which is disposed between the processing chambers 16 and the conveyance chamber 50 and has a second chamber 43 wherein the plurality of processing object substrates 12 can be stored; and a cassette placing part 47 capable of temporarily placing the first cassette 54 between the buffer chamber 42 and the conveyance chamber 50. When processing object substrates 12 are delivered one by one by a substrate delivery robot 44 provided between the first cassette 54 temporarily placed in the cassette placing part 47 from the conveyance chamber 50 and the second cassette 43 disposed in the buffer chamber 42, an inert gas or vacuum atmosphere is produced in the apparatus. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、基板処理装置に関するものである。   The present invention relates to a substrate processing apparatus.

従来、有機EL装置、液晶装置及び半導体装置を製造する際に用いられる基板処理装置は、例えば特許文献1に記載のように、被処理基板に処理を施す複数の処理チャンバを備えている。   2. Description of the Related Art Conventionally, a substrate processing apparatus used when manufacturing an organic EL device, a liquid crystal device, and a semiconductor device includes a plurality of processing chambers that process a substrate to be processed as described in Patent Document 1, for example.

図5は、従来の基板処理装置の配置関係を示す模式図である。基板処理装置1000には、クラスタ方式に処理チャンバ1112が配置された複数の処理ステーション1111が設けられている。この処理チャンバ1112は、例えば水分や酸素等に弱い有機EL素子の機能層の薄膜を形成する場合は、真空や窒素等の大気と異なる雰囲気に設定される。また、処理ステーション1111には、チャンバ1114の中央部に被処理基板1113を各処理チャンバ1112に搬送する搬送ロボット1115が配置されている。ここで、複数の処理ステーション1111は、被処理基板1113に対する処理順に配置されており、基板搬送路1116を経由して被処理基板1113を隣り合う処理ステーション1111に搬送させることができるようになっている。
特開2006−190894号公報
FIG. 5 is a schematic diagram showing the arrangement relationship of a conventional substrate processing apparatus. The substrate processing apparatus 1000 is provided with a plurality of processing stations 1111 in which processing chambers 1112 are arranged in a cluster system. For example, when forming a thin film of a functional layer of an organic EL element that is weak against moisture, oxygen, or the like, the processing chamber 1112 is set to an atmosphere different from the atmosphere such as vacuum or nitrogen. In the processing station 1111, a transfer robot 1115 for transferring the substrate 1113 to be processed to each processing chamber 1112 is disposed at the center of the chamber 1114. Here, the plurality of processing stations 1111 are arranged in the order of processing with respect to the processing target substrate 1113, and the processing target substrate 1113 can be transferred to the adjacent processing station 1111 via the substrate transfer path 1116. Yes.
JP 2006-190894 A

しかしながら、特許文献1では、被処理基板を搬送ロボットによって一枚ずつ搬送する枚葉方式で行っているので、被処理基板の搬送枚数が多くなれば被処理基板一枚あたりの搬送時間が大きくなる。そのため、各チャンバの連結や各チャンバ内部を大気と異なる雰囲気に置換するのに時間がかかり、その結果、生産性が低下するという惧れがある。   However, in Patent Document 1, since the substrate to be processed is transported one by one by a transport robot, the transport time per substrate to be processed increases as the number of substrates to be processed increases. . For this reason, it takes time to connect the chambers and replace the interior of each chamber with an atmosphere different from the atmosphere, and as a result, there is a concern that productivity may be reduced.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、被処理基板の搬送枚数が多い場合でも生産性を高めることが可能な基板処理装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of improving productivity even when the number of substrates to be processed is large.

上記の課題を解決するため、本発明の基板処理装置は、所定の移動経路に沿って移動し複数の被処理基板を収容可能な第1カセットを搬送する搬送チャンバと、該搬送チャンバの移動経路の周囲に配置され前記被処理基板に処理を行う複数の処理チャンバと、該処理チャンバと前記搬送チャンバとの間に配置され複数の前記被処理基板を収容可能な第2カセットを有するバッファチャンバと、該バッファチャンバと前記搬送チャンバとの間に前記第1カセットを仮置き可能なカセット載置部と、を備え、前記搬送チャンバから前記カセット載置部に仮置きされた前記第1カセットと前記バッファチャンバに配置された前記第2カセットとの間に設けられた基板送受ロボットにより1枚ずつ前記被処理基板が受け渡される場合に、内部雰囲気が不活性ガスまたは真空雰囲気とされることを特徴とする。
この構成によれば、被処理基板を第1カセットで複数枚一括して搬送するので、基板一枚当たりの生産時間を短縮することができる。特許文献1に記載された従来の基板処理装置では、被処理基板を一枚ずつ搬送するので各チャンバの連結や各チャンバ内部を不活性ガス雰囲気に置換するのに時間がかかり生産効率が悪かったが、本発明の基板処理装置では、被処理基板を複数枚同時にカセット単位で搬送することでトータルの生産時間が第1カセットに収容された枚数分で頭割りされ短縮するので、格段に生産性を高めることが可能となる。
In order to solve the above-described problems, a substrate processing apparatus of the present invention includes a transfer chamber that transfers a first cassette that moves along a predetermined movement path and can accommodate a plurality of substrates to be processed, and a movement path of the transfer chamber. A plurality of processing chambers disposed around the substrate and processing the substrate to be processed; a buffer chamber having a second cassette disposed between the processing chamber and the transfer chamber and capable of accommodating the plurality of substrates to be processed; A cassette mounting portion that can temporarily place the first cassette between the buffer chamber and the transfer chamber, and the first cassette temporarily placed on the cassette mounting portion from the transfer chamber, When the substrates to be processed are transferred one by one by a substrate transfer robot provided between the second cassette and the second cassette, the internal atmosphere is changed. It characterized in that it is an active gas or vacuum atmosphere.
According to this configuration, since a plurality of substrates to be processed are collectively transported by the first cassette, the production time per substrate can be shortened. In the conventional substrate processing apparatus described in Patent Document 1, since the substrates to be processed are transported one by one, it takes time to connect the chambers and replace the interior of each chamber with an inert gas atmosphere, resulting in poor production efficiency. However, in the substrate processing apparatus of the present invention, since a plurality of substrates to be processed are transported simultaneously in units of cassettes, the total production time is divided and reduced by the number of sheets accommodated in the first cassette. Can be increased.

本発明においては、前記基板収容室は、前記バッファチャンバは、前記基板送受ロボットの前記カセット載置部に仮置きされた前記第1カセットから前記被処理基板が受け渡し可能な位置に、少なくとも2箇所配置されていることが望ましい。
この構成によれば、被処理基板を多く収容することができるとともに、処理チャンバで処理されたものと未処理のものとに分別して収容することができるので、基板一枚当たりの生産時間を格段に短縮することができる。
In the present invention, the substrate storage chamber has at least two buffer chambers at positions where the substrate to be processed can be transferred from the first cassette temporarily placed on the cassette mounting portion of the substrate transfer robot. It is desirable that they are arranged.
According to this configuration, it is possible to accommodate a large number of substrates to be processed, and to separate and accommodate the substrates processed in the processing chamber and the unprocessed substrates, so that the production time per substrate can be greatly reduced. Can be shortened.

本発明においては、前記カセット載置部は、前記搬送チャンバから前記第1カセットが搬送される側の端部に、該搬送される方向に伸縮可能であり、かつ、前記カセット載置部と前記搬送チャンバとを接続することで内部を気密にするシール部材を備えていることが望ましい。
この構成によれば、第1カセットが配置されるカセット載置部を移動させることなく搬送チャンバと気密に接続されるので、生産効率が良く、確実に第1カセットの移し替えを行うことができる。
In this invention, the said cassette mounting part can be expanded-contracted in the said conveyance direction to the edge part by which the said 1st cassette is conveyed from the said conveyance chamber, and the said cassette mounting part and the said It is desirable to provide a seal member that is hermetically sealed by connecting the transfer chamber.
According to this configuration, since the cassette mounting portion in which the first cassette is disposed is hermetically connected to the transfer chamber without moving, the production efficiency is good and the first cassette can be reliably transferred. .

本発明においては、前記搬送チャンバと前記処理チャンバと前記バッファチャンバと前記カセット載置部との間の前記被処理基板または前記第1カセットの受け渡し口には、前記被処理基板または前記第1カセットのうち少なくとも一つが受け渡される空間を気密にするゲートバルブを備えていることが望ましい。
この構成によれば、各チャンバの雰囲気を所定の雰囲気に維持できるとともに、新たなチャンバを追加したり、既存のチャンバを外したりすることを容易に行うことが可能となる。また、不活性ガス雰囲気を維持したまま、被処理基板または第1カセットを受け渡すことができる。
In the present invention, the substrate to be processed or the first cassette is provided at a transfer port of the substrate to be processed or the first cassette between the transfer chamber, the processing chamber, the buffer chamber, and the cassette mounting portion. It is desirable to provide a gate valve that hermetically seals a space to which at least one of them is delivered.
According to this configuration, the atmosphere of each chamber can be maintained at a predetermined atmosphere, and it is possible to easily add a new chamber or remove an existing chamber. Further, the substrate to be processed or the first cassette can be delivered while maintaining the inert gas atmosphere.

本発明においては、前記搬送チャンバは、前記第1カセットを少なくとも2つ配置可能なスライダを備え、該スライダは前記搬送チャンバの内部を該搬送チャンバの移動経路に沿う方向と、該搬送チャンバの移動経路に沿う方向と直交する方向と、に移動可能であることが望ましい。
この構成によれば、第1カセットを一度に多く搬送することができるとともに、被処理基板の収容されていない空の第1カセットや、処理チャンバで処理された被処理基板を収容する第1カセット、さらには未処理の被処理基板を収容する第1カセットと、に分別して載置することができるので、基板一枚当たりの生産時間を格段に短縮することができる。
In the present invention, the transfer chamber includes a slider on which at least two of the first cassettes can be arranged, and the slider moves in the transfer chamber in a direction along the transfer path of the transfer chamber and the movement of the transfer chamber. It is desirable to be able to move in a direction perpendicular to the direction along the route.
According to this configuration, the first cassette can transport a large number of the first cassettes at the same time, and can accommodate an empty first cassette that does not contain a substrate to be processed and a substrate that has been processed in the processing chamber. Furthermore, since it can be placed separately in the first cassette that accommodates unprocessed substrates, the production time per substrate can be significantly shortened.

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。かかる実施の形態は、本発明の一態様を示すものであり、この発明を限定するものではなく、本発明の技術的思想の範囲内で任意に変更可能である。また、以下の図面においては、各構成をわかりやすくするために、実際の構造と各構造における縮尺や数等が異なっている。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. This embodiment shows one aspect of the present invention, and does not limit the present invention, and can be arbitrarily changed within the scope of the technical idea of the present invention. Moreover, in the following drawings, in order to make each structure easy to understand, an actual structure and a scale, a number, and the like in each structure are different.

図1は、本発明の基板処理装置の一実施形態である基板処理装置1の概略構成平面図である。基板処理装置1は、被処理基板12を備えた有機EL装置、液晶装置及び半導体装置等の製造に用いられる装置である。この基板処理装置1は、クラスタ型の複数の処理ステーション13a〜13fと、これら複数の処理ステーション13a〜13fと連通可能に接続された複数の送受ユニット40a〜40fと、これら複数の送受ユニット40a〜40fと連通可能に接続されたカセット搬送室14と、を備えている。   FIG. 1 is a schematic configuration plan view of a substrate processing apparatus 1 which is an embodiment of the substrate processing apparatus of the present invention. The substrate processing apparatus 1 is an apparatus used for manufacturing an organic EL device, a liquid crystal device, a semiconductor device and the like provided with a substrate 12 to be processed. The substrate processing apparatus 1 includes a plurality of cluster-type processing stations 13a to 13f, a plurality of transmission / reception units 40a to 40f connected to the plurality of processing stations 13a to 13f, and a plurality of the transmission / reception units 40a to 40f. And a cassette transfer chamber 14 connected to be able to communicate with 40f.

従って、例えば有機EL装置を製造する場合、被処理基板12としての素子基板に対して、真空雰囲気下でのCVD法、スパッタ法、蒸着法を用いた各膜の形成工程、フォトリソグラフィ技術を利用したパターニング工程、窒素雰囲気下での有機膜の封止工程、窒素雰囲気下でのインクジェット法を利用した塗布工程などの処理を行うことができる。   Therefore, for example, when manufacturing an organic EL device, a film forming process using a CVD method, a sputtering method, and a vapor deposition method in a vacuum atmosphere is applied to the element substrate as the substrate 12 to be processed, and a photolithography technique is used. Such a patterning process, an organic film sealing process in a nitrogen atmosphere, and a coating process using an inkjet method in a nitrogen atmosphere can be performed.

以下、複数の処理ステーション13a〜13fのうち、第1処理ステーション13aを中心に、また、複数の送受ユニット40a〜40fのうち第1送受ユニット40aを中心に詳細に説明する。   Hereinafter, the first processing station 13a among the plurality of processing stations 13a to 13f will be mainly described, and the first transmission / reception unit 40a among the plurality of transmission / reception units 40a to 40f will be described in detail.

第1処理ステーション13aは、不活性ガス雰囲気に保持された第1固定チャンバ15aを備えている。第1固定チャンバ15aの周囲には、不活性ガス雰囲気中で被処理基板12に所望の処理を施すための処理チャンバ16が複数配置されている。被処理基板12は、不活性ガス雰囲気での処理が連続的に行われるため、複数の処理チャンバ16間や複数の処理ステーション13a〜13f間で搬送される、その他の処理ステーション13b〜13fも同様な構成を備えている。   The first processing station 13a includes a first fixed chamber 15a maintained in an inert gas atmosphere. Around the first fixed chamber 15a, a plurality of processing chambers 16 for performing desired processing on the substrate 12 to be processed in an inert gas atmosphere are arranged. Since the substrate 12 is continuously processed in an inert gas atmosphere, the other processing stations 13b to 13f are also transported between the processing chambers 16 and the processing stations 13a to 13f. It has a simple configuration.

第1固定チャンバ15aの中央部には、基板搬送ロボット17が配置されている。基板搬送ロボット17は、被処理基板12の搬送、取り上げ、載置を行うアーム18を備えている。また、第1固定チャンバ15aや処理チャンバ16には、不活性ガス雰囲気にするための真空ポンプ等の真空引き装置(図示略)や窒素ガス供給装置(図示略)が接続されている。   A substrate transfer robot 17 is disposed at the center of the first fixed chamber 15a. The substrate transport robot 17 includes an arm 18 that transports, picks up, and places the substrate 12 to be processed. The first fixed chamber 15a and the processing chamber 16 are connected to a vacuuming device (not shown) such as a vacuum pump and a nitrogen gas supply device (not shown) for creating an inert gas atmosphere.

また、第1固定チャンバ15aの8つの辺部20のうちの1つの辺部20には、例えば被処理基板12を外部から基板処理装置1内に搬入するロード室19が接続されている。また、8つの辺部20のうちの4つの辺部20には、処理チャンバ16が接続されている。4つの辺部20には、辺部20を開状態または閉状態に切り換えるゲートバルブ(図示略)が設けられている。また、8つの辺部20のうち第1送受ユニット40a側の1つの辺部20(被処理基板12の受け渡し口)は、ゲートバルブ21aを介して搬送経路23と連通可能に接続されている。また、搬送経路23は、ゲートバルブ21bを介して第1送受ユニット40aと連通可能に接続されている。   Further, for example, a load chamber 19 for carrying the substrate 12 to be processed into the substrate processing apparatus 1 from the outside is connected to one of the eight sides 20 of the first fixed chamber 15a. Further, the processing chamber 16 is connected to four of the eight sides 20. The four side portions 20 are provided with gate valves (not shown) that switch the side portions 20 to an open state or a closed state. Of the eight sides 20, one side 20 on the first transmission / reception unit 40a side (the transfer port for the substrate 12 to be processed) is connected to the transport path 23 via the gate valve 21a. The transport path 23 is connected to the first transmission / reception unit 40a via the gate valve 21b.

他の処理ステーション13b〜13fは、上記した第1処理ステーション13aと同様の構成となっている。なお、第6処理ステーション13fは、例えば第6固定チャンバ15fの8つの辺部20のうちの1つの辺部20に、被処理基板12を基板処理装置1から外部に搬出するアンロード室22が接続されている。   The other processing stations 13b to 13f have the same configuration as the first processing station 13a. In the sixth processing station 13f, for example, an unload chamber 22 for carrying out the substrate 12 to be processed from the substrate processing apparatus 1 to the outside of one of the eight sides 20 of the sixth fixed chamber 15f. It is connected.

第1送受ユニット40aは、不活性ガス雰囲気に保持された第1固定送受室41aを備えている。第1固定送受室41aの中央部には、基板送受ロボット44が配置されている。基板送受ロボット44は、被処理基板12の搬送、取り上げ、載置を行うアーム45を備えている。   The first transmission / reception unit 40a includes a first fixed transmission / reception chamber 41a maintained in an inert gas atmosphere. A substrate transmission / reception robot 44 is disposed in the center of the first fixed transmission / reception chamber 41a. The substrate sending / receiving robot 44 includes an arm 45 that carries, picks up, and places the substrate 12 to be processed.

第1固定送受室41aの4つの辺部のうち第1固定チャンバ15a側の1つの辺部(被処理基板12の受け渡し口)は、ゲートバルブ21bを介して搬送経路23と連通可能に接続されている。また、第1固定送受室41aの4つの辺部のうちカセット搬送室14側の1つの辺部(被処理基板12の受け渡し口)は、ゲートバルブ21dを介してカセット載置部47と連通可能に接続されている。また、カセット載置部47のカセット搬送室14側には、第1カセット54の搬送方向に伸縮可能であり、かつ、カセット載置部47と搬送チャンバ50とを接続することで内部を気密にするシール部材48が設けられている。また、シール部材48のカセット搬送室14側には、ゲートバルブ21eが設けられている。   Of the four sides of the first fixed delivery chamber 41a, one side on the first fixed chamber 15a side (the transfer port of the substrate 12 to be processed) is connected to the transfer path 23 via the gate valve 21b. ing. In addition, one of the four sides of the first fixed delivery chamber 41a on the cassette transfer chamber 14 side (the transfer port for the substrate 12 to be processed) can communicate with the cassette mounting portion 47 via the gate valve 21d. It is connected to the. Further, the cassette mounting section 47 can be expanded and contracted in the transport direction of the first cassette 54 on the cassette transport chamber 14 side, and the cassette mounting section 47 and the transport chamber 50 are connected to make the inside airtight. A sealing member 48 is provided. A gate valve 21e is provided on the cassette conveying chamber 14 side of the seal member 48.

また、第1固定送受室41aの4つの辺部のうち2つの辺部(被処理基板12の受け渡し口を除く部位)は、バッファチャンバ(基板収容室)42と連通可能に接続されている。バッファチャンバ42は、ゲートバルブ21cを介して第1固定送受室41aと対向するように少なくとも2箇所配置されている。なお、本実施形態では、バッファチャンバ42は2箇所配置されている。バッファチャンバ42の内部には、複数の被処理基板12を収容可能な第2カセット43が配置されている。バッファチャンバ42の詳細な説明については後述する。(図2参照)   In addition, two of the four sides of the first fixed transmission / reception chamber 41 a (portions other than the transfer port of the substrate 12 to be processed) are connected to the buffer chamber (substrate housing chamber) 42 so as to communicate therewith. At least two buffer chambers 42 are arranged to face the first fixed transmission / reception chamber 41a via the gate valve 21c. In the present embodiment, two buffer chambers 42 are arranged. Inside the buffer chamber 42, a second cassette 43 capable of accommodating a plurality of substrates to be processed 12 is disposed. A detailed description of the buffer chamber 42 will be described later. (See Figure 2)

カセット搬送室14は、基板送受ロボット44によってカセット載置部47との間で被処理基板12の受け渡される方向と直交する方向に延在して設けられている。カセット搬送室14を挟む両側で、固定送受室41a〜41fの4つの辺部のうちの1つの辺部が接続するようになっている。ここで、カセット搬送室14には、第1カセット54を搬送する搬送チャンバ50と、搬送チャンバ50を移動させる搬送基台51と、搬送基台51をカセット搬送室14の延在する方向に沿って案内する搬送レールとしての搬送ガイド(移動経路)55と、が配置されている。この搬送ガイド55によって、搬送チャンバ50を延在方向に往復移動させることができる。搬送チャンバ50において、カセット載置部47との第1カセット54の受け渡し口にはゲートバルブ21fが取り付けられている。   The cassette transfer chamber 14 is provided so as to extend in a direction orthogonal to the direction in which the substrate to be processed 12 is transferred to and from the cassette mounting portion 47 by the substrate transfer robot 44. One side of the four sides of the fixed transmission / reception chambers 41 a to 41 f is connected to both sides of the cassette transfer chamber 14. Here, in the cassette transfer chamber 14, a transfer chamber 50 for transferring the first cassette 54, a transfer base 51 for moving the transfer chamber 50, and the transfer base 51 along the direction in which the cassette transfer chamber 14 extends. And a conveyance guide (movement path) 55 as a conveyance rail to be guided. By this transfer guide 55, the transfer chamber 50 can be reciprocated in the extending direction. In the transfer chamber 50, a gate valve 21 f is attached to the transfer port of the first cassette 54 with the cassette mounting portion 47.

カセット搬送室14は、搬送チャンバ50にゴミが付着しないように、クリーン度の高い雰囲気に設定されている。これにより、カセット搬送室14内へのゴミの侵入を抑え、搬送チャンバ50とカセット載置部47とがゲートバルブ21e,21fを介して密着した場合でも、ゴミを巻き込むようなことを防ぐことができる。   The cassette transfer chamber 14 is set in a high clean atmosphere so that dust does not adhere to the transfer chamber 50. Accordingly, it is possible to prevent dust from entering the cassette transfer chamber 14 and prevent the dust from being caught even when the transfer chamber 50 and the cassette mounting portion 47 are in close contact with each other via the gate valves 21e and 21f. it can.

搬送チャンバ50は、内部が真空雰囲気や窒素雰囲気等の不活性ガス雰囲気に設定されており、被処理基板12を載置するテーブルとしてのスライダ53を備えている。スライダ53は、第1カセット54を少なくとも2つ配置可能となっている。なお、本実施形態では、スライダ53は、第1カセット54を2つ配置可能となっている。また、スライダ53は、搬送ガイド55に沿う方向と、この搬送ガイド55に沿う方向と直交する方向と、に不図示の駆動機構により移動可能となっている。   The inside of the transfer chamber 50 is set to an inert gas atmosphere such as a vacuum atmosphere or a nitrogen atmosphere, and includes a slider 53 as a table on which the substrate 12 to be processed is placed. The slider 53 can arrange at least two first cassettes 54. In the present embodiment, the slider 53 can be arranged with two first cassettes 54. The slider 53 is movable by a drive mechanism (not shown) in a direction along the conveyance guide 55 and in a direction perpendicular to the direction along the conveyance guide 55.

搬送基台51には、搬送チャンバ50の中を真空雰囲気や窒素雰囲気等の不活性ガス雰囲気にするための真空ポンプ52(例えば、ドライポンプ)や窒素ガス供給装置(図示略)が取り付けられている。但し、搬送チャンバ50の中を真空雰囲気にするための真空ポンプ52のみが取付けられることもある。   A vacuum pump 52 (for example, a dry pump) or a nitrogen gas supply device (not shown) for making the inside of the transfer chamber 50 an inert gas atmosphere such as a vacuum atmosphere or a nitrogen atmosphere is attached to the transfer base 51. Yes. However, only the vacuum pump 52 for making the inside of the transfer chamber 50 a vacuum atmosphere may be attached.

搬送ガイド55は、例えば、凸状に形成されており、第1送受ユニット40a側から第5送受ユニット40e側に延びて形成されている。また、搬送基台51には、凹状の窪みが形成されており、凸状の搬送ガイド55と凹状の搬送基台51とが摺動可能に合わさって配置されている。つまり、搬送ガイド55を案内にして搬送基台51を移動させることにより、搬送チャンバ50を容易に固定送受室41a〜41fの位置に移動させることができる。   The conveyance guide 55 is formed in a convex shape, for example, and extends from the first transmission / reception unit 40a side to the fifth transmission / reception unit 40e side. The transport base 51 is formed with a concave recess, and the convex transport guide 55 and the concave transport base 51 are slidably arranged. That is, by moving the transport base 51 with the transport guide 55 as a guide, the transport chamber 50 can be easily moved to the positions of the fixed transmission / reception chambers 41a to 41f.

第1固定チャンバ15aと第1固定送受室41aとの位置関係は、第1固定チャンバ15aのゲートバルブ21aと第1固定送受室41aのゲートバルブ21b(第1固定送受室41aの上側)をそれぞれ開状態にして連通できるとともに、不活性ガス雰囲気中で被処理基板12を搬送できればよく、例えば第1固定送受室41aから第1固定チャンバ15aが離れていてもよい。   The positional relationship between the first fixed chamber 15a and the first fixed transmission / reception chamber 41a is such that the gate valve 21a of the first fixed chamber 15a and the gate valve 21b of the first fixed transmission / reception chamber 41a (upper side of the first fixed transmission / reception chamber 41a) respectively. The first fixed chamber 15a may be separated from the first fixed transmission / reception chamber 41a, for example, as long as the substrate 12 can be communicated in an open state and can be transported in the inert gas atmosphere.

また、第1固定送受室41aとカセット載置部47との位置関係は、第1固定送受室41aのゲートバルブ21d(第1固定送受室41aの下側)を介してカセット載置部47に接続できるとともに、不活性ガス雰囲気中で被処理基板12を搬送できればよい。   In addition, the positional relationship between the first fixed transmission / reception chamber 41a and the cassette mounting portion 47 is determined by the cassette mounting portion 47 via the gate valve 21d (below the first fixed transmission / reception chamber 41a) of the first fixed transmission / reception chamber 41a. It is only necessary that the substrate to be processed 12 can be transported in an inert gas atmosphere while being connectable.

また、カセット載置部47とカセット搬送室14の位置関係は、カセット載置部47のゲートバルブ21eがシール部材48の伸縮によりカセット搬送室14のゲートバルブ21f(カセット搬送室14の上側)と接続できるとともに、不活性ガス雰囲気中で第1カセット54を搬送できればよく、例えばカセット載置部47からカセット搬送室14が離れていてもよい。   In addition, the positional relationship between the cassette mounting portion 47 and the cassette transport chamber 14 is such that the gate valve 21e of the cassette mounting portion 47 and the gate valve 21f of the cassette transport chamber 14 (upper side of the cassette transport chamber 14) are expanded and contracted by the seal member 48. As long as it can be connected and the first cassette 54 can be transported in an inert gas atmosphere, for example, the cassette transport chamber 14 may be separated from the cassette mounting portion 47.

つまり、接続部分だけ規定の精度で密着できるようにしておけばよい。また、ゲートバルブ21a,21b,21d,21e,21fが上記した位置関係を満足していれば、固定チャンバ15a〜15f、固定送受室41a〜41fの位置が互いにずれていてもよい。   In other words, it is sufficient that only the connection portion can be brought into close contact with a specified accuracy. Further, as long as the gate valves 21a, 21b, 21d, 21e, and 21f satisfy the above-described positional relationship, the positions of the fixed chambers 15a to 15f and the fixed transmission / reception chambers 41a to 41f may be shifted from each other.

図2は、第1固定送受室41aと対向するように配置されるバッファチャンバ42の概略構成斜視図である。バッファチャンバ42は、被処理基板12を複数収容可能な第2カセット43と、上下移動手段65と、を備えている。また、バッファチャンバ42には、第1固定送受室41aとの間で被処理基板12の搬送を行う搬送口44が設けられている。さらに、バッファチャンバ42と第1固定送受室41aとの間には、搬送口44の開閉を切り換えるゲートバルブ21c(図1参照)が設けられている。   FIG. 2 is a schematic configuration perspective view of the buffer chamber 42 arranged to face the first fixed transmission / reception chamber 41a. The buffer chamber 42 includes a second cassette 43 that can accommodate a plurality of substrates 12 to be processed, and a vertical movement means 65. Further, the buffer chamber 42 is provided with a transfer port 44 for transferring the substrate 12 to be processed between the first fixed transmission / reception chamber 41a. Furthermore, a gate valve 21c (see FIG. 1) for switching opening and closing of the transfer port 44 is provided between the buffer chamber 42 and the first fixed transmission / reception chamber 41a.

第2カセット43は、支持基台61と、支持基台61から突出して設けられた複数の支柱62と、を備えている。第2カセット43は、上下移動手段65によって上下方向に移動可能になっている。支持基台61は、水平面と略平行に配置された板状部材であって、上下移動手段65に接続されている。支柱62は、支持基台61の上面から支持基台61に対する直交方向に突出して複数設けられている。   The second cassette 43 includes a support base 61 and a plurality of support columns 62 provided to protrude from the support base 61. The second cassette 43 can be moved in the vertical direction by the vertical movement means 65. The support base 61 is a plate-like member disposed substantially parallel to the horizontal plane, and is connected to the vertical movement means 65. A plurality of support columns 62 are provided so as to protrude from the upper surface of the support base 61 in a direction perpendicular to the support base 61.

そして、支柱62のそれぞれには、第2カセット43の内側に向けて突出する複数の収容用凸部63が等間隔に形成されている。これら各支柱62に設けられた収容用凸部63により形成された空間により、上下方向に積み重ねられた複数のチャンバ用スロット64が形成される。すなわち、被処理基板12は、その縁部の複数個所を収容用凸部63で支えるようにして水平面と略平行な面でチャンバ用スロット64内に収容される。これにより、被処理基板12は、上下方向で間隔をあけて重ねて収容される。   Each of the support columns 62 is formed with a plurality of accommodating convex portions 63 protruding toward the inside of the second cassette 43 at equal intervals. A plurality of chamber slots 64 stacked in the vertical direction are formed by the space formed by the accommodating convex portions 63 provided in each of the columns 62. That is, the substrate 12 to be processed is accommodated in the chamber slot 64 in a plane substantially parallel to the horizontal plane so that a plurality of edge portions are supported by the accommodating convex portions 63. Thereby, the to-be-processed substrate 12 is piled up and accommodated at intervals in the up-down direction.

なお、図示はしないが第1カセット54の構成についても、上記した第2カセット43の構成と同様になっている。すなわち、第2カセット43はバッファチャンバ42の内部に固定して配置されているのに対して、カセット54は所定の位置に固定されずに自在に移動可能になっている。   Although not shown, the configuration of the first cassette 54 is the same as the configuration of the second cassette 43 described above. That is, the second cassette 43 is fixedly disposed inside the buffer chamber 42, whereas the cassette 54 is freely movable without being fixed at a predetermined position.

(搬送動作)
図3及び図4は、基板処理装置1の搬送動作についてカセット搬送室14の周辺を示した説明図である。基板処理装置1の全体の搬送動作については図1を参照しながら、特にカセット搬送室14の周辺の搬送動作については図3及び図4を参照しながら説明する。なお、本実施形態の基板処理装置1は、例えば第1処理ステーション13aから、まず第3処理ステーション13cに処理を行い、次いで第6処理ステーション13fまで順に処理を行っていくものとする。
(Transport operation)
3 and 4 are explanatory views showing the periphery of the cassette transfer chamber 14 in the transfer operation of the substrate processing apparatus 1. The overall transfer operation of the substrate processing apparatus 1 will be described with reference to FIG. 1, and in particular, the transfer operation around the cassette transfer chamber 14 will be described with reference to FIGS. 3 and 4. Note that the substrate processing apparatus 1 according to the present embodiment performs, for example, processing from the first processing station 13a to the third processing station 13c first, and then sequentially to the sixth processing station 13f.

まず、図1に示すように、被処理基板12をロード室19を介して基板処理装置1内に搬入する。次に、第1処理ステーション13aにおいては、不活性ガス雰囲気中で被処理基板12に所望の処理を施す。被処理基板12は、基板搬送ロボット17によって、ロード室19から処理チャンバ16に搬送される。また、各処理チャンバ16間の搬送も基板搬送ロボット17が行う。   First, as shown in FIG. 1, the substrate 12 to be processed is carried into the substrate processing apparatus 1 through the load chamber 19. Next, in the first processing station 13a, a desired process is performed on the substrate 12 to be processed in an inert gas atmosphere. The substrate 12 to be processed is transferred from the load chamber 19 to the processing chamber 16 by the substrate transfer robot 17. Further, the substrate transfer robot 17 also transfers between the processing chambers 16.

次に、被処理基板12を、第1処理ステーション13aから第1送受ユニット40aに搬送する。まず、ゲートバルブ21a、21bを閉状態から開状態にして、第1固定チャンバ15aと第1固定送受室41aとを連通させる。そして、基板搬送ロボット17を用いて、第1固定チャンバ15aから搬送経路23に処理が施された被処理基板12を搬送する。次に、この被処理基板12を基板送受ロボット44を用いて、搬送経路23から第1固定送受室41aに搬送した後、ゲートバルブ21a,21bを開状態から閉状態にする。   Next, the substrate 12 to be processed is transferred from the first processing station 13a to the first transmission / reception unit 40a. First, the gate valves 21a and 21b are changed from the closed state to the open state, and the first fixed chamber 15a and the first fixed transmission / reception chamber 41a are communicated with each other. Then, the substrate 12 to be processed is transferred from the first fixed chamber 15 a to the transfer path 23 using the substrate transfer robot 17. Next, the substrate 12 is transferred from the transfer path 23 to the first fixed transfer chamber 41a using the substrate transfer robot 44, and then the gate valves 21a and 21b are changed from the open state to the closed state.

次に、図3(a)に示すように、第1固定送受室41aとバッファチャンバ42の間のゲートバルブ21cを閉状態から開状態にして、第1固定送受室41aとバッファチャンバ42とを連通させる。そして、基板送受ロボット44を用いて、第1固定送受室41aからバッファチャンバ42内部の第2カセット43に被処理基板12を収容する。以上の工程を繰り返すことにより、第2カセット43に所望の枚数の被処理基板12を収容することができる。また、バッファチャンバ42が2箇所設けられているので、被処理基板12の枚数に応じて少なくとも一方のバッファチャンバ42を用いることができる。本実施形態では、一方のバッファチャンバ42を用いる。   Next, as shown in FIG. 3A, the gate valve 21c between the first fixed transmission / reception chamber 41a and the buffer chamber 42 is changed from the closed state to the open state, and the first fixed transmission / reception chamber 41a and the buffer chamber 42 are connected. Communicate. Then, the substrate 12 is accommodated in the second cassette 43 inside the buffer chamber 42 from the first fixed transmission / reception chamber 41 a by using the substrate transmission / reception robot 44. By repeating the above steps, a desired number of substrates to be processed 12 can be accommodated in the second cassette 43. Further, since two buffer chambers 42 are provided, at least one buffer chamber 42 can be used according to the number of substrates 12 to be processed. In the present embodiment, one buffer chamber 42 is used.

次に、搬送チャンバ50内のスライダ53をカセット載置部47に近い位置まで移動させる。この、スライダ53には、被処理基板12が収容されていない空のカセット54aと、被処理基板12が収容されたカセット54bと、が並列に載置されている。すなわち、スライダ53の空のカセット54aの載置された位置をカセット載置部47に近い位置まで移動させる。なお、予めスライダ53をカセット載置部47に近い位置に待機させておくようにしてもよい。また、カセット載置部47は不活性ガス雰囲気になっているので、搬送チャンバ50内を不活性ガス雰囲気にしておく。   Next, the slider 53 in the transfer chamber 50 is moved to a position close to the cassette mounting portion 47. On the slider 53, an empty cassette 54a in which the substrate 12 to be processed is not accommodated and a cassette 54b in which the substrate 12 to be processed are accommodated are placed in parallel. That is, the position where the empty cassette 54 a of the slider 53 is placed is moved to a position close to the cassette placement portion 47. Note that the slider 53 may be made to wait in advance at a position close to the cassette mounting portion 47. Further, since the cassette mounting portion 47 is in an inert gas atmosphere, the inside of the transfer chamber 50 is kept in an inert gas atmosphere.

次に、カセット載置部47の端部のシール部材48を縮状態から伸状態にして、カセット載置部47のカセット搬送室14側のゲートバルブ21eと、搬送チャンバ50に設けられたゲートバルブ21fとを密着させる。次に、ゲートバルブ21e,21fを閉状態から開状態にして、カセット載置部47と搬送チャンバ50とを連通させる。そして、搬送チャンバ50の内部に設けられたスライダ53からカセット載置部47に空のカセット54aが配置される。空のカセット54aを配置した後、ゲートバルブ21e,21fを開状態から閉状態にする。   Next, the seal member 48 at the end of the cassette mounting portion 47 is changed from the contracted state to the extended state, and the gate valve 21e on the cassette transfer chamber 14 side of the cassette mounting portion 47 and the gate valve provided in the transfer chamber 50 are used. 21f is adhered. Next, the gate valves 21e and 21f are changed from the closed state to the open state, and the cassette mounting portion 47 and the transfer chamber 50 are communicated with each other. Then, an empty cassette 54 a is disposed on the cassette mounting portion 47 from the slider 53 provided inside the transfer chamber 50. After disposing the empty cassette 54a, the gate valves 21e and 21f are changed from the open state to the closed state.

次に、第1固定送受室41aのゲートバルブ21dを閉状態から開状態にして、第1固定送受室41aとカセット載置部47とを連通させる。次に、第1固定送受室41aと、前記した被処理基板12が収容された一方のバッファチャンバ42と、の間のゲートバルブ21cを閉状態から開状態にして、第1固定送受室41aと一方のバッファチャンバ42とを連通させる。なお、予め第1固定送受室41aと一方のバッファチャンバ42とを連通させておくようにしてもよい。   Next, the gate valve 21d of the first fixed transmission / reception chamber 41a is changed from the closed state to the open state, and the first fixed transmission / reception chamber 41a and the cassette mounting portion 47 are communicated with each other. Next, the gate valve 21c between the first fixed transmission / reception chamber 41a and the one buffer chamber 42 in which the substrate 12 to be processed is accommodated is changed from the closed state to the open state, and the first fixed transmission / reception chamber 41a One buffer chamber 42 is communicated. The first fixed transmission / reception chamber 41a and one buffer chamber 42 may be communicated in advance.

次に、被処理基板12を、一方のバッファチャンバ42からカセット載置部47に搬送する。つまり、基板送受ロボット44を用いて、一方の第2カセット43から空のカセット54aに、被処理基板12を移し変える。ここで、第1固定送受室41a内部とバッファチャンバ42内部は、不活性ガス雰囲気に保持されているので、複数の被処理基板12を連続して空のカセット54aに移し変えることができる。そして、所望の数の被処理基板12を移し変えた後、第1固定送受室41aと一方のバッファチャンバ42との間のゲートバルブ21cと、第1固定送受室41aのゲートバルブ21dと、を開状態から閉状態にする。次に、ゲートバルブ21e,21fを閉状態から開状態にして、カセット載置部47と搬送チャンバ50とを連通させる。   Next, the substrate 12 to be processed is transferred from the one buffer chamber 42 to the cassette mounting portion 47. That is, the substrate 12 is transferred from one second cassette 43 to an empty cassette 54a using the substrate transmission / reception robot 44. Here, since the inside of the first fixed transmission / reception chamber 41a and the inside of the buffer chamber 42 are maintained in an inert gas atmosphere, the plurality of substrates to be processed 12 can be transferred continuously to the empty cassette 54a. Then, after transferring the desired number of substrates 12 to be processed, the gate valve 21c between the first fixed transmission / reception chamber 41a and one buffer chamber 42, and the gate valve 21d of the first fixed transmission / reception chamber 41a, Change from open to closed. Next, the gate valves 21e and 21f are changed from the closed state to the open state, and the cassette mounting portion 47 and the transfer chamber 50 are communicated with each other.

次に、図3(b)に示すように、スライダ53に所望の数の被処理基板12を移し変えたカセット54cを配置した後、ゲートバルブ21e,21fを開状態から閉状態にし、次いでシール部材48を伸状態から縮状態にして、ゲートバルブ21e,21fを離間する(密着を解除する)。次に、スライダ53をカセット載置部47に近い位置からもとの位置まで移動させる。ここで、スライダ53には、被処理基板12が収容されたカセット54bと、所望の数の被処理基板12が移し変えられたカセット54cと、が並列に載置されている。   Next, as shown in FIG. 3B, after a cassette 54c in which a desired number of substrates to be processed 12 are transferred is arranged on the slider 53, the gate valves 21e and 21f are changed from the open state to the closed state, and then the seal is formed. The member 48 is changed from the extended state to the contracted state, and the gate valves 21e and 21f are separated (close contact is released). Next, the slider 53 is moved from a position close to the cassette mounting portion 47 to the original position. Here, on the slider 53, a cassette 54b in which the substrate to be processed 12 is accommodated and a cassette 54c in which a desired number of substrates to be processed 12 are transferred are placed in parallel.

次に、図4(a)に示すように、カセット54cを第3送受ユニット40cに搬送する。まず、搬送チャンバ50を第3固定送受室41c側に移動させ、その後、スライダ53をカセット載置部47に近い位置まで移動させる。ここでは、所望の数の被処理基板12が移し変えられた第1カセット54cの載置された位置をカセット載置部47に近い位置まで移動させている。なお、スライダ53を予めカセット載置部47に近い位置に待機させておくようにしてもよい。また、カセット載置部47は不活性ガス雰囲気になっているので、搬送チャンバ50内を不活性ガス雰囲気にしておく。   Next, as shown in FIG. 4A, the cassette 54c is conveyed to the third transmission / reception unit 40c. First, the transfer chamber 50 is moved to the third fixed transmission / reception chamber 41 c side, and then the slider 53 is moved to a position close to the cassette mounting portion 47. Here, the position on which the first cassette 54 c where the desired number of substrates 12 to be processed has been moved is moved to a position close to the cassette mounting portion 47. It should be noted that the slider 53 may be placed on standby at a position close to the cassette placement portion 47 in advance. Further, since the cassette mounting portion 47 is in an inert gas atmosphere, the inside of the transfer chamber 50 is kept in an inert gas atmosphere.

次に、カセット載置部47の端部のシール部材48を縮状態から伸状態にして、カセット載置部47のゲートバルブ21eと、搬送チャンバ50のゲートバルブ21fとを密着させる。次に、ゲートバルブ21e,21fを閉状態から開状態にして、カセット載置部47と搬送チャンバ50とを連通させる。そして、搬送チャンバ50のスライダ53からカセット載置部47に第1カセット54cが配置される。第1カセット54cを配置した後、ゲートバルブ21e,21fを開状態から閉状態にする。   Next, the seal member 48 at the end of the cassette mounting portion 47 is changed from the contracted state to the extended state, and the gate valve 21e of the cassette mounting portion 47 and the gate valve 21f of the transfer chamber 50 are brought into close contact with each other. Next, the gate valves 21e and 21f are changed from the closed state to the open state, and the cassette mounting portion 47 and the transfer chamber 50 are communicated with each other. Then, the first cassette 54 c is arranged from the slider 53 of the transfer chamber 50 to the cassette mounting portion 47. After the first cassette 54c is arranged, the gate valves 21e and 21f are changed from the open state to the closed state.

次に、第3固定送受室41cのゲートバルブ21dを閉状態から開状態にして、第3固定送受室41cとカセット載置部47とを連通させる。次に、第3固定送受室41cと、被処理基板12が収容されていない空のバッファチャンバ42と、の間のゲートバルブ21cを閉状態から開状態にして、第3固定送受室41cとバッファチャンバ42とを連通させる。なお、予め第3固定送受室41cと空のバッファチャンバ42とを連通させておくようにしてもよい。   Next, the gate valve 21d of the third fixed transmission / reception chamber 41c is changed from the closed state to the open state, and the third fixed transmission / reception chamber 41c and the cassette mounting portion 47 are communicated with each other. Next, the gate valve 21c between the third fixed transmission / reception chamber 41c and the empty buffer chamber 42 in which the substrate 12 to be processed is not accommodated is changed from the closed state to the open state, so that the third fixed transmission / reception chamber 41c and the buffer The chamber 42 is communicated. The third fixed transmission / reception chamber 41c and the empty buffer chamber 42 may be communicated in advance.

次に、被処理基板12を、カセット載置部47から空のバッファチャンバ42に搬送する。つまり、基板送受ロボット44を用いて、第1カセット54cから空の第2カセット43に、被処理基板12を移し変える。ここで、第3固定送受室41c内部とバッファチャンバ42内部は、不活性ガス雰囲気に保持されているので、複数の被処理基板12を連続して空の第2カセット43に移し変えることができる。そして、所望の数の被処理基板12を移し変えた後、第3固定送受室41cとバッファチャンバ42との間のゲートバルブ21cと、第3固定送受室41cのゲートバルブ21dと、を開状態から閉状態にする。   Next, the substrate 12 to be processed is transferred from the cassette mounting portion 47 to the empty buffer chamber 42. That is, the substrate to be processed 12 is transferred from the first cassette 54 c to the empty second cassette 43 using the substrate transmission / reception robot 44. Here, since the inside of the third fixed transmission / reception chamber 41c and the inside of the buffer chamber 42 are maintained in an inert gas atmosphere, the plurality of substrates to be processed 12 can be transferred continuously to the empty second cassette 43. . After the desired number of substrates to be processed 12 are transferred, the gate valve 21c between the third fixed transmission / reception chamber 41c and the buffer chamber 42 and the gate valve 21d of the third fixed transmission / reception chamber 41c are opened. To the closed state.

次に、被処理基板12を、バッファチャンバ42から搬送経路23に搬送する。まず、第3固定送受室41cとバッファチャンバ42との間のゲートバルブ21cと、第3固定送受室41cのゲートバルブ21b(第3固定送受室41cの上側)と、を閉状態から開状態にして、バッファチャンバ42と搬送経路23とを連通する。そして、基板送受ロボット44を用いて、被処理基板12をバッファチャンバ42から搬送経路23に搬送する。この被処理基板12を搬送した後、ゲートバルブ21c,21bを開状態から閉状態にする。   Next, the substrate 12 to be processed is transferred from the buffer chamber 42 to the transfer path 23. First, the gate valve 21c between the third fixed transmission / reception chamber 41c and the buffer chamber 42 and the gate valve 21b (upper side of the third fixed transmission / reception chamber 41c) of the third fixed transmission / reception chamber 41c are changed from the closed state to the open state. Thus, the buffer chamber 42 and the transfer path 23 are communicated with each other. Then, the substrate to be processed 12 is transferred from the buffer chamber 42 to the transfer path 23 using the substrate sending / receiving robot 44. After the substrate 12 is transferred, the gate valves 21c and 21b are changed from the open state to the closed state.

次に、図1に示すように、被処理基板12を、搬送経路23から第3処理ステーション13cに搬送する。まず、ゲートバルブ21aを閉状態から開状態にして、搬送経路23と第3固定チャンバ15cとを連通させる。そして、基板搬送ロボット17を用いて、搬送経路23から第3固定チャンバ15cに被処理基板12を搬送する。この被処理基板12を搬送した後、ゲートバルブ21aを開状態から閉状態にする。そして、第3処理ステーション13cにおいて、被処理基板12は、基板搬送ロボット17によって、各処理チャンバ16間に搬送され、処理が施される。   Next, as shown in FIG. 1, the substrate 12 to be processed is transferred from the transfer path 23 to the third processing station 13c. First, the gate valve 21a is changed from the closed state to the open state, and the transfer path 23 and the third fixed chamber 15c are communicated. Then, the substrate to be processed 12 is transferred from the transfer path 23 to the third fixed chamber 15 c using the substrate transfer robot 17. After the substrate 12 is transferred, the gate valve 21a is changed from the open state to the closed state. In the third processing station 13c, the substrate 12 to be processed is transferred between the processing chambers 16 by the substrate transfer robot 17 and processed.

以下、同様の方法によって、第2処理ステーション13bから第6処理ステーション13fまで被処理基板12を搬送し、被処理基板12に処理を施す。そして、第6処理ステーション13fの処理が終了した後、アンロード室22から被処理基板12を取り出す。   Thereafter, the substrate to be processed 12 is transported from the second processing station 13b to the sixth processing station 13f by the same method, and the substrate to be processed 12 is processed. Then, after the processing of the sixth processing station 13f is completed, the substrate 12 to be processed is taken out from the unload chamber 22.

なお、本実施形態では、まず第1処理ステーション13aから第3処理ステーション13cに被処理基板12を搬送する搬送動作を説明したが、まず第1処理ステーション13aから第2処理ステーション13bに被処理基板12を搬送してもよい。   In this embodiment, the transport operation for transporting the substrate 12 to be processed from the first processing station 13a to the third processing station 13c has been described. First, the substrate to be processed is transferred from the first processing station 13a to the second processing station 13b. 12 may be conveyed.

図1に示すように、第2処理ステーション13bの第2固定チャンバ15bにおいて、8つの辺部20のうち1つの辺部20には、被処理基板12を第2処理ステーション13bから第4処理ステーション13dに直接搬送する直通搬送路32が接続されている。この直通搬送路32は、第4処理ステーション13dにおいて、第4固定チャンバ15dの8つの辺部20のうち1つの辺部20に接続されている。固定チャンバ15b,15dにおいて、直通搬送路32と接続されている辺部20には、ゲートバルブ(図示略)が設けられており、このゲートバルブを閉状態から開状態にすることにより、被処理基板12を第2固定チャンバ15bから第4固定チャンバ15dに直接搬送することができる。   As shown in FIG. 1, in the second fixed chamber 15b of the second processing station 13b, the substrate 12 is transferred from the second processing station 13b to the fourth processing station on one side 20 of the eight sides 20. A direct conveyance path 32 is directly connected to 13d. This direct conveyance path 32 is connected to one side 20 of the eight sides 20 of the fourth fixed chamber 15d in the fourth processing station 13d. In the fixed chambers 15b and 15d, a side valve 20 (not shown) connected to the direct conveyance path 32 is provided with a gate valve (not shown). The substrate 12 can be directly transferred from the second fixed chamber 15b to the fourth fixed chamber 15d.

このように構成した基板処理装置1では、直通搬送路32が設けられているため、処理の内容によっては、例えば第2固定チャンバ15bに被処理基板12を搬送するときは搬送チャンバ50を使用し、第2固定チャンバ15bから第4固定チャンバ15dに被処理基板12を搬出するときには直通搬送路32を使用することができる。よって、直通搬送路32で搬送している被処理基板12とは別の被処理基板12を、搬送チャンバ50によって他の固定チャンバ15に搬送することができる。また、処理の内容によっては、第4固定チャンバ15dにアンロード室33を配置し、アンロード室33から被処理基板12を直接外部に搬出するようにしてもよい。その他の構成は、上記した実施形態と同様であるので、説明を省略する。   In the substrate processing apparatus 1 configured as described above, since the direct transfer path 32 is provided, the transfer chamber 50 is used to transfer the substrate 12 to be processed to the second fixed chamber 15b, for example, depending on the processing contents. When the substrate 12 is unloaded from the second fixed chamber 15b to the fourth fixed chamber 15d, the direct transfer path 32 can be used. Therefore, the substrate 12 to be processed, which is different from the substrate 12 to be transferred by the direct transfer path 32, can be transferred to the other fixed chamber 15 by the transfer chamber 50. Further, depending on the contents of processing, the unload chamber 33 may be disposed in the fourth fixed chamber 15d, and the substrate 12 to be processed may be directly carried out of the unload chamber 33 to the outside. Other configurations are the same as those of the above-described embodiment, and thus description thereof is omitted.

なお、本実施形態では、カセット54を第3送受ユニット40cに搬送する場合に、所望の数の被処理基板12が移し変えられた第1カセット54cの載置された位置をカセット載置部47に近い位置まで移動させているが、図4(b)に示すように、予め被処理基板12が収容された第1カセット54bの載置された位置をカセット載置部47に近い位置まで移動させてもよい。   In the present embodiment, when the cassette 54 is transported to the third transmission / reception unit 40c, the cassette placement section 47 indicates the placement position of the first cassette 54c to which a desired number of substrates to be processed 12 have been transferred. However, as shown in FIG. 4B, the position where the first cassette 54b in which the substrate 12 to be processed is previously stored is moved to a position close to the cassette mounting portion 47. You may let them.

本実施形態の基板処理装置1によれば、第1カセット54と第2カセット43との間で被処理基板12が一枚ずつ受け渡され、被処理基板12を第1カセット54で複数枚一括して搬送するので、基板一枚当たりの生産時間を短縮することができる。特許文献1に記載された従来の基板処理装置1000(図5参照)では、被処理基板12を一枚ずつ搬送するので各チャンバの連結や各チャンバ内部を不活性ガス雰囲気に置換するのに時間がかかり生産効率が悪かったが、本発明の基板処理装置1では、被処理基板12を複数枚同時にカセット単位で搬送することでトータルの生産時間が第1カセットに収容された枚数分で頭割りされ短縮するので、格段に生産性を高めることが可能となる。   According to the substrate processing apparatus 1 of the present embodiment, the substrates to be processed 12 are transferred one by one between the first cassette 54 and the second cassette 43, and a plurality of substrates to be processed 12 are batched in the first cassette 54. Therefore, the production time per substrate can be shortened. In the conventional substrate processing apparatus 1000 (see FIG. 5) described in Patent Document 1, since the substrate to be processed 12 is transferred one by one, it takes time to connect the chambers and replace the interior of each chamber with an inert gas atmosphere. However, in the substrate processing apparatus 1 of the present invention, the total production time is divided by the number of sheets accommodated in the first cassette by simultaneously transferring a plurality of substrates to be processed 12 in units of cassettes. Therefore, productivity can be significantly improved.

ここで、格段に生産性を高めることが可能な点について説明する。一例として、第2カセット43に被処理基板12が10枚収容されており、それら10枚の被処理基板12を全て空のカセット54aに移し変えた場合を挙げて説明する。従来技術では、被処理基板12を一枚処理するのに、各チャンバの連結や各チャンバ内部を不活性ガス雰囲気に置換する時間を含めて、10分かかっていた。本発明では、カセット単位で複数の被処理基板12の搬送を可能にしているが、送受ユニット40やカセット載置部47を配置しているので、各チャンバの連結や各チャンバ内部を不活性ガス雰囲気に置換する時間を含めた処理時間が長くなり、40分かかってしまう。しかしながら、この40分の処理時間は、第2カセット43から空のカセット54aに移し変えた10枚の被処理基板12の枚数で割ると4分となり、結果的に基板一枚当たりに換算すると、従来技術のように被処理基板12を一枚ずつ処理するよりも本発明のようにカセット単位で処理するほうが生産効率はよくなる。   Here, the point which can raise productivity remarkably is demonstrated. As an example, a case will be described in which ten substrates to be processed 12 are accommodated in the second cassette 43, and all the ten substrates to be processed 12 are transferred to empty cassettes 54a. In the prior art, it took 10 minutes to process one substrate 12 to be processed, including the time for connecting the chambers and replacing the interior of each chamber with an inert gas atmosphere. In the present invention, a plurality of substrates to be processed 12 can be transported in units of cassettes. However, since the transmission / reception unit 40 and the cassette mounting portion 47 are disposed, the connection of the chambers and the interior of the chambers are inert gas. The processing time including the time for replacing the atmosphere becomes longer, and it takes 40 minutes. However, the processing time of 40 minutes is 4 minutes when divided by the number of the 10 substrates to be processed 12 transferred from the second cassette 43 to the empty cassette 54a. As a result, when converted into one substrate, The production efficiency is improved by processing in units of cassettes as in the present invention, rather than processing the substrates 12 to be processed one by one as in the prior art.

また、この構成によれば、バッファチャンバ42は、ゲートバルブ21cを介して固定送受室41と対向するように少なくとも2箇所配置されているので、被処理基板12を多く収容することができるとともに、処理チャンバ16で処理されたものと未処理のものとに分別して収容することができるので、基板一枚当たりの生産時間を格段に短縮することができる。   Further, according to this configuration, since the buffer chamber 42 is disposed at least two locations so as to face the fixed transmission / reception chamber 41 via the gate valve 21c, the buffer chamber 42 can accommodate a large amount of the substrate 12 to be processed. Since it can be stored separately in the processing chamber 16 and unprocessed one, the production time per substrate can be remarkably shortened.

また、この構成によれば、シール部材48を備えているので、第1カセット54が配置されるカセット載置部47を移動させることなく搬送チャンバ50と気密に接続されるので、生産効率が良く、確実に第1カセット54の移し替えを行うことができる。   In addition, according to this configuration, since the seal member 48 is provided, the cassette mounting portion 47 in which the first cassette 54 is disposed is hermetically connected to the transfer chamber 50 without being moved. The first cassette 54 can be reliably transferred.

また、この構成によれば、ゲートバルブ21を備えているので、各チャンバの雰囲気を所定の雰囲気に維持できるとともに、新たなチャンバを追加したり、既存のチャンバを外したりすることを容易に行うことが可能となる。また、不活性ガス雰囲気を維持したまま、被処理基板12または第1カセット54を受け渡すことができる。   Further, according to this configuration, since the gate valve 21 is provided, the atmosphere of each chamber can be maintained at a predetermined atmosphere, and a new chamber can be easily added or an existing chamber can be easily removed. It becomes possible. Moreover, the to-be-processed substrate 12 or the 1st cassette 54 can be delivered, maintaining an inert gas atmosphere.

また、この構成によれば、スライダ53を備えているので、第1カセット54を一度に多く搬送することができるとともに、被処理基板12の収容されていない空の第1カセット54aや、処理チャンバ16で処理された被処理基板12を収容する第1カセット54c、さらには未処理の被処理基板12を収容する第1カセット54bと、に分別して載置することができるので、基板一枚当たりの生産時間を格段に短縮することができる。   In addition, according to this configuration, since the slider 53 is provided, the first cassette 54 can be transported many times at the same time, and the empty first cassette 54a in which the substrate 12 to be processed is not accommodated, or the processing chamber 16 can be placed separately into the first cassette 54c that accommodates the substrate to be processed 12 processed in 16 and the first cassette 54b that accommodates the unprocessed substrate 12 to be processed. Production time can be significantly reduced.

本発明の基板処理装置の概略構成平面図である。1 is a schematic plan view of a substrate processing apparatus of the present invention. バッファチャンバの概略構成斜視図である。It is a schematic structure perspective view of a buffer chamber. 基板処理装置の搬送動作の説明図である。It is explanatory drawing of the conveyance operation of a substrate processing apparatus. 図3に続く基板処理装置の搬送動作の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a transport operation of the substrate processing apparatus subsequent to FIG. 3. 従来の基板処理装置の概略構成平面図である。It is a schematic plan view of a conventional substrate processing apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1…基板処理装置、12…被処理基板、16…処理チャンバ、21…ゲートバルブ、42…バッファチャンバ、43…第2カセット、44…基板送受ロボット、47…カセット載置部、48…シール部材、50…搬送チャンバ、53…スライダ、54…第1カセット、55…搬送ガイド(移動経路) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Substrate processing apparatus, 12 ... Substrate to be processed, 16 ... Processing chamber, 21 ... Gate valve, 42 ... Buffer chamber, 43 ... Second cassette, 44 ... Substrate sending / receiving robot, 47 ... Cassette mounting part, 48 ... Sealing member , 50 ... transfer chamber, 53 ... slider, 54 ... first cassette, 55 ... transfer guide (movement path)

Claims (5)

所定の移動経路に沿って移動し複数の被処理基板を収容可能な第1カセットを搬送する搬送チャンバと、該搬送チャンバの移動経路の周囲に配置され前記被処理基板に処理を行う複数の処理チャンバと、該処理チャンバと前記搬送チャンバとの間に配置され複数の前記被処理基板を収容可能な第2カセットを有するバッファチャンバと、該バッファチャンバと前記搬送チャンバとの間に前記第1カセットを仮置き可能なカセット載置部と、を備え、
前記搬送チャンバから前記カセット載置部に仮置きされた前記第1カセットと前記バッファチャンバに配置された前記第2カセットとの間に設けられた基板送受ロボットにより1枚ずつ前記被処理基板が受け渡される場合に、内部雰囲気が不活性ガスまたは真空雰囲気とされることを特徴とする基板処理装置。
A transport chamber that transports a first cassette that moves along a predetermined movement path and can accommodate a plurality of substrates to be processed, and a plurality of processes that are arranged around the movement path of the transport chamber and that process the substrate to be processed A buffer chamber having a second cassette disposed between the processing chamber and the transfer chamber and capable of accommodating a plurality of substrates to be processed; and the first cassette between the buffer chamber and the transfer chamber A cassette placement section that can be temporarily placed,
The substrate to be processed is received one by one by a substrate transmission / reception robot provided between the first cassette temporarily placed on the cassette placement section from the transfer chamber and the second cassette arranged in the buffer chamber. A substrate processing apparatus, wherein the internal atmosphere is an inert gas or a vacuum atmosphere when delivered.
前記バッファチャンバは、前記基板送受ロボットの前記カセット載置部に仮置きされた前記第1カセットから前記被処理基板が受け渡し可能な位置に、少なくとも2箇所配置されていることを特徴とする請求項1に記載の基板処理装置。   The buffer chamber is arranged at least at two positions at which the substrate to be processed can be delivered from the first cassette temporarily placed on the cassette mounting portion of the substrate sending / receiving robot. 2. The substrate processing apparatus according to 1. 前記カセット載置部は、前記搬送チャンバから前記第1カセットが搬送される側の端部に、該搬送される方向に伸縮可能であり、かつ、前記カセット載置部と前記搬送チャンバとを接続することで内部を気密にするシール部材を備えていることを特徴とする請求項1又は2に記載の基板処理装置。   The cassette mounting portion can be expanded and contracted in the direction in which the first cassette is transferred from the transfer chamber in the transfer direction, and the cassette mounting portion and the transfer chamber are connected to each other. The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising: a sealing member that hermetically seals the inside. 前記搬送チャンバと前記処理チャンバと前記バッファチャンバと前記カセット載置部との間の前記被処理基板または前記第1カセットの受け渡し口には、前記被処理基板または前記第1カセットのうち少なくとも一つが受け渡される空間を気密にするゲートバルブを備えていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の基板処理装置。   At least one of the substrate to be processed or the first cassette is provided at a transfer port of the substrate to be processed or the first cassette between the transfer chamber, the processing chamber, the buffer chamber, and the cassette mounting unit. The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising a gate valve that hermetically seals a delivered space. 前記搬送チャンバは、前記第1カセットを少なくとも2つ配置可能なスライダを備え、該スライダは前記搬送チャンバの内部を該搬送チャンバの移動経路に沿う方向と、該搬送チャンバの移動経路に沿う方向と直交する方向と、に移動可能であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の基板処理装置。   The transfer chamber includes a slider capable of disposing at least two of the first cassettes, and the slider has a direction along the transfer path of the transfer chamber inside the transfer chamber and a direction along the transfer path of the transfer chamber. The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the substrate processing apparatus is movable in a direction orthogonal to each other.
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