JP2010050342A - 非晶質基材 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】パルスレーザー蒸着法によって、非晶質基材としての溶融石英ガラス基板上に、導電性の酸化亜鉛薄膜を合成する。ターゲットとしてアルミニウムを1%添加した酸化亜鉛焼結体を用いて、高濃度のアルミニウム成分が亜鉛面の表面となる酸化亜鉛の核形成を促すことによって、表面が平坦な亜鉛表面を有する酸化亜鉛薄膜が得られる。この膜はウルツ鉱型の結晶構造を有し、かつ、その表面が亜鉛極性である(0001)面である。
【選択図】図2
Description
なお、単結晶酸化亜鉛表面とアクセプターとなる窒素との反応性を調べた結果、より効率よく窒素を取り込ませるためには、酸素表面を有する結晶面である(000−1)面ではなく、亜鉛表面を有する(0001)面から取り込ませることが有効であることが、(非特許文献3)に示され知られていることから類推すると、本発明の有用性は容易に理解しえる。
ガラス基板の組成としては、下記するAl等の添加物が高濃度に析出する温度で溶融・反応しない組成であれば良い。以下の実施例では溶融石英基板とサファイヤ基板での結果を示したが、カルコゲンガラスや有機物系などは融点や反応性の点から適用が難しいと考えられるものを除いたものであれば、あえて排除する理由はない。なお、ケイ酸塩系がもっとも一般的なものである。
このような考察からすれば、酸化亜鉛にガリウムやインジウムを添加した場合にも同様な現象が発現され、自発的に亜鉛表面を持った酸化亜鉛の核生成が起こると推察される。
この無添加の酸化亜鉛による膜も、その表面が亜鉛極性の(0001)面であることは、光子エネルギーが6KeVの放射光を用いた硬X線光電子分光による解析により確認できる(図4)。この表面に、さらにショットキー電極と、(特許文献3)に示すようなインジウムオーミック電極を形成する。すると、図6の様な、透明電極層を下部電極として用いたショットキーダイオードが得られる。ここでは、パルスレーザー蒸着を用いた結晶成長を行うことで本発明を実施する例を示したが、この結晶成長手段をはじめ、本実施例の示すところは、あくまで例であって、本発明の適用範囲を限定するものではない。
〔比較例1〕
Claims (1)
- 酸化亜鉛基薄膜層を有する非晶質基材であって、前記酸化亜鉛基薄膜層がウルツ鉱型の結晶構造を有し、かつ、その表面が亜鉛極性である(0001)面であることを特徴とする非晶質基材。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09255491A (ja) * | 1995-12-30 | 1997-09-30 | Samsung Display Devices Co Ltd | 多結晶酸化薄膜の酸素最密充填面を用いたZnO薄膜電極構造体及びその製造方法 |
| JP2004296459A (ja) * | 2003-03-25 | 2004-10-21 | Sharp Corp | 酸化物半導体発光素子およびその製造方法 |
| JP2005056940A (ja) * | 2003-08-07 | 2005-03-03 | Tdk Corp | 電子デバイス用基板、電子デバイスおよびそれらの製造方法 |
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Patent Citations (3)
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|---|---|---|---|---|
| JPH09255491A (ja) * | 1995-12-30 | 1997-09-30 | Samsung Display Devices Co Ltd | 多結晶酸化薄膜の酸素最密充填面を用いたZnO薄膜電極構造体及びその製造方法 |
| JP2004296459A (ja) * | 2003-03-25 | 2004-10-21 | Sharp Corp | 酸化物半導体発光素子およびその製造方法 |
| JP2005056940A (ja) * | 2003-08-07 | 2005-03-03 | Tdk Corp | 電子デバイス用基板、電子デバイスおよびそれらの製造方法 |
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